JPH0990137A - 光分岐モジュール収容架 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【目的】 本発明は、光分岐モジュールの増設が容易な
光分岐モジュール収容架を提供することを目的とする。 【構成】 複数の光分岐モジュール２１と、複数段の収
容棚２とを備えており、光分岐モジュール２２を並設さ
せた光分岐モジュール群２１と、試験用分岐心線２２と
マスター側光ファイバ３１とを選択的に光結合させる光
スイッチ３０と、光結合調整用データを記憶する記憶部
５０とからなる光分岐ユニット２０を収容棚２に収納さ
せている。そして、記憶部５０に記憶された光結合調整
用データに基づいて、光結合時に光スイッチ３０の調整
を行うことにより、光結合による結合損失を低減させる
ことができる。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、光分岐モジュール
収容架に関し、特に、各段毎に並設させた光分岐モジュ
ールを有する光分岐モジュール収容架に関するものであ
る。

【０００２】

【従来の技術】従来から存在する光分岐モジュール収容
架（いわゆるＦＴＭ（Fiber Termina-tion Module ）
架）の一例として、１９９５年電子情報通信学会総合大
会講演論文集、通信Ｎｏ. ２、第４９２頁に記載されて
いる。図６に示すように、このＦＴＭ架１００は、複数
段の収容棚１００ａを有しており、最下段の収容棚１０
０ａを除く各収容棚１００ａには、複数の光分岐モジュ
ール１０１を並設した光分岐モジュール群１０２が収容
されている。各光分岐モジュール１０１は、例えば加入
者側光ケーブル心線１０３と局側光ケーブル心線１０４
とを接続するための装置であり、この光分岐モジュール
１０１内には、合分波機能をもった光カプラ（図示せ
ず）が収容され、この光カプラから試験用分岐心線１０
５が引き出されている。

【０００３】また、ＦＴＭ架１００の最下段の収容棚１
００ａは、光分岐モジュール１０１から引き出された全
ての試験用分岐心線１０５が接続された光スイッチ１０
６と、この光スイッチ１０６を制御する制御部１０７と
を収容させている。この光スイッチ１０６としては、特
開平６−６７１０１号公報に開示された光スイッチが利
用され、積層して配列した光ファイバ配列部材（光ファ
イバアレイ）のＶ溝に各試験用分岐心線１０５を並設し
ている。さらに、制御部１０７には、光ファイバ配列部
材のＶ溝に並設された試験用分岐心線１０５毎の結合調
整用データを記憶するメモリ１０７ａが設けられてい
る。

【０００４】また、光スイッチ１０６からは、マスター
側光ファイバ１０８が導出され、このマスター側光ファ
イバ１０８は、試験架（いわゆるＴＥＭ（Test Equipme
nt Module ）架）１０９まで導かれている。なお、この
ＴＥＭ架１０９内には、保守点検のために、光ファイバ
の支障点を検出するための試験器（図示せず）が配置さ
れている。

【０００５】

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、従来の
光分岐モジュール収容架は、上述したように構成されて
いるため、次のような課題が存在していた。

【０００６】すなわち、各段から引き出された全ての試
験用分岐心線１０５は、光分岐モジュール収容架１００
の最下段に収容した一基の光スイッチ１０６に一括して
接続されている。このため、光分岐モジュール１０１を
増設する場合には、この光分岐モジュール１０１から引
き出された試験用分岐心線１０５を、光スイッチ１０６
が有する光ファイバ配列部材のＶ溝に配設しなければな
らなかった。そして、この配設に伴って、制御部１０７
のメモリ１０７ａに記憶された結合調整用データに、新
たに配設した試験用分岐心線１０５についての情報を追
加しなければならず、手間がかかり問題であった。

【０００７】本発明は、このような問題を解決し、光分
岐モジュールの増設が容易な光分岐モジュール収容架を
提供することを目的とする。

【０００８】

【課題を解決するための手段】上記課題を解決するため
に、本発明の光分岐モジュール収容架は、複数心の光フ
ァイバを個別的に収容し且つ内部に光カプラを有する複
数の光分岐モジュールと、複数段の収容棚とを備えた収
容架であって、光分岐モジュールを並設させた光分岐モ
ジュール群と、この光分岐モジュール群内の各光カプラ
から分岐させた試験用分岐心線を並列固定させた光ファ
イバ配列部材にマスター側光ファイバを導入させて、試
験用分岐心線とマスター側光ファイバとを選択的に光結
合させる光スイッチと、各光スイッチ固有の光結合調整
用データを記憶する記憶部とからなる光分岐ユニットを
収容棚に収納させたことを特徴とする。

【０００９】本発明の光分岐モジュール収容架によれ
ば、ＴＥＭ架等から出力された試験光は、各収容棚の任
意の光スイッチのマスター側光ファイバから入射され
る。そして、この試験光は、光スイッチ内で選択された
試験用分岐心線を通って、光カプラに導入された後に、
測定対象となる光ファイバに導入されることになる。そ
こで、レーリー散乱によって戻ってくる光を利用して、
被測定光ファイバの支障点を測定することができる。

【００１０】特に、本発明の光分岐モジュール収容架で
は、光分岐ユニットを増設単位として、光分岐モジュー
ルの増設が行われるので、光スイッチと記憶部とはセッ
トで増設されることになる。上述のように記憶部には、
予め、この光スイッチについての光結合調整用データが
記憶されている。このため、この光結合調整用データを
用いて、光結合時に光スイッチの補正を行うことによ
り、光結合による結合損失を低減させることができる。

【００１１】ここで、好適には、結合調整用データは、
光ファイバ配列部材に並設された前記各試験用分岐心線
の位置アドレスデータであるとよい。

【００１２】また、好適には、結合調整用データは、光
スイッチの結合損失データであるとよい。

【００１３】さらに、好適には、記憶部として、書替え
可能なメモリ媒体を用いるとよい。

【００１４】

【発明の実施の形態】以下、本発明の好適な実施形態に
ついて、添付図面を参照して説明する。図１は、本発明
の実施形態における光分岐モジュール収容架の構成を示
す概略図であり、図２は、この光分岐モジュール収容架
の外観を示す正面図である。図１及び図２に示すよう
に、光分岐モジュール収容架（以下、ＦＴＭ架という）
１は、複数段の収容棚２を備えている。そして、この収
容棚２の最下段以外の各段には、光分岐ユニット１０が
収容されている。

【００１５】光分岐ユニット１０は、複数個の光分岐モ
ジュール２１を並設させた光分岐モジュール群２０と、
光分岐モジュール群２０から分岐した複数の試験用分岐
心線２２とマスター側光ファイバ３１とを選択的に光結
合させる光スイッチ３０と、この光スイッチ３０固有の
結合調整用データを記憶する個別メモリ（記憶部）５０
とを備えている。なお、個別メモリ５０には、書替え可
能なメモリ媒体であるシリアルＥＥＰＲＯＭ（electric
ally erasable PROM）などが用いられる。また、図１及
び図２には、光スイッチ３０と個別メモリ５０とが独立
した構成として記載されているが、光スイッチ３０に個
別メモリ５０が内蔵された構成であってもよい。

【００１６】また、図３に示すように、各光分岐モジュ
ール２１は、例えば加入者側のケーブル心線Ａと局側の
ケーブル心線Ｂとを接続するための装置であり、ＦＴＭ
架１の内部に吊るされた状態で配置されている。そし
て、各光分岐モジュール２１内には、合分波機能をもっ
た光カプラ２３が収容され、この光カプラ２３から二本
の試験用分岐心線２２が引き出されている。すなわち、
光分岐モジュール２１内に導かれた一本のケーブル心線
Ａに対して二本の試験用分岐心線２２が引き出されるこ
とになる。

【００１７】ここで、ＦＴＭ架１の各収容棚２に４００
心分のケーブル心線Ａを収容した場合、８心のケーブル
心線Ａを収容する各光分岐モジュール２１が各収容棚２
に５０個必要となる。そして、８心の心線を収容した各
光分岐モジュール２１からは１６本の試験用分岐心線２
２が引き出される。このため、ＦＴＭ架１の各収容棚２
において、８００本の試験用分岐心線２２が引き出され
ることになる。

【００１８】ここで、図１及び図２に示すように、ＦＴ
Ｍ架１の各収容棚２において、この一端部には、光スイ
ッチ３０及び個別メモリ５０が配置され、光スイッチ３
０及び個別メモリ５０は、図３に示すように、対向する
一対の縦枠１ｂの間の横枠１ａ上に固定されている。そ
して、各光スイッチ３０には、同じ収容棚２内の複数の
光分岐モジュール２１から引き出された試験用分岐心線
２２が接続されている。また、ＦＴＭ架１の最下段の収
容棚２には、制御部６０が設けられ、制御部６０には、
各光スイッチ３０から延びる信号線６２が接続されてい
る。このため、この信号線６２を介して、制御部６０か
ら各光スイッチ３０に対して制御信号が送られる。従っ
て、各光スイッチ３０は、制御部６０によって駆動させ
ることができる。

【００１９】さらに、制御部６０には、各光スイッチ３
０に共通する結合調整用データを記憶する共通メモリ６
１が設けられている。このため、制御部６０では、共通
メモリ６１に記憶された結合調整用データに基づいて、
各光スイッチ３０を制御することができる。よって、各
光スイッチ３０に共通な駆動特性を考慮した駆動制御を
制御部６０で行うことが可能になる。

【００２０】さらにまた、制御部６０には、各個別メモ
リ５０から延びる信号線６３が接続されている。このた
め、制御部６０では、各個別メモリ５０に記憶された各
光スイッチ３０に固有の結合調整用データに基づいて、
各光スイッチ３０を制御することができる。よって、各
光スイッチ３０毎の駆動特性を考慮した駆動制御を制御
部６０で行うことが可能になる。

【００２１】また、光スイッチ３０からは、二本のマス
ター側光ファイバ３１が引き出され、各マスター側光フ
ァイバ３１は、試験架（いわゆるＴＥＭ（Test Equipme
nt Module）架）７０まで導かれる。なお、このＴＥＭ
架７０内には、保守点検のために、光ファイバの支障点
を検出するための試験器（図示せず）が配置されてい
る。

【００２２】図４に示すように、光スイッチ３０は、直
方体の筺体Ｋを備えている。この筺体Ｋ内において、光
スイッチ３０まで延ばされた４００心の試験用分岐心線
２２を並設させるための板状の光ファイバ配列部材３２
と、可動アーム３３を配設したブロック状のヘッドベー
ス３４とを収容するためのケース３５が設けられてい
る。そして、図５に示すように、各光ファイバ配列部材
３２の表面には、光ファイバ結合方向に一直線状に延在
する所定数のＶ溝３２ａが形成されている。

【００２３】また、Ｖ溝３２ａに接着固定された４００
心の試験用分岐心線２２は、筺体Ｋに設けられた分岐心
線引出し部３６を介して外部にそれぞれ導き出される。
更に、可動アーム３３の先端部に固定された二心のマス
ター側光ファイバ３１は、筺体Ｋに設けられたマスター
側光ファイバ引出し部３７を介して外部に導き出され
る。

【００２４】更に、筺体Ｋ内には、ヘッドベース３４を
試験用分岐心線２２の配列方向（Ｘ方向）に駆動させる
結合位置選択機構Ｃが設けられている。この結合位置選
択機構Ｃは、ヘッドベース３４及び光ファイバ配列部材
３２を収容したケース３５内で配列方向（Ｘ方向）に延
在するねじシャフト３８と、ヘッドベース３４に設けて
ねじシャフト３８に螺合する雌ネジ部３９と、ねじシャ
フト３８を駆動させる駆動源としてのエンコーダ４０ａ
付きのモータ４０と、ねじシャフト３８を支持するため
にケース３５に固定された軸受４１とを備えている。な
お、符号４２は、モータ４０を回転制御する制御部であ
る。

【００２５】次に、ＦＴＭ架１を用いて行う加入者側光
ケーブルの検査について説明する。まず、ＴＥＭ架７０
から試験光が出力されると、この試験光は、マスター側
光ファイバ３１を通って、所望の光スイッチ３０に到達
する。このとき、光スイッチ３０では、既に、試験用分
岐心線２２とマスター側光ファイバ３１との光結合が完
了している。このため、光スイッチ３０に到達した試験
光は、光スイッチ３０によって選択された試験用分岐心
線２２を通って、光カプラ２３に導入された後、測定対
象となる加入者側光ケーブルに導入されることとなる。
そこで、レーリー散乱によって戻ってくる光を利用し
て、加入者側光ケーブルの支障点を測定することができ
る。

【００２６】本実施形態において、ＦＴＭ架１は、光分
岐ユニット１０を増設単位として、光分岐モジュール２
１を増設することができるので、極めて簡単に増設作業
を行うことができる。特に、光スイッチ３０と、この光
スイッチ３０固有の結合調整用データが記憶された個別
メモリ５０とはセットで増設されるので、増設後に、結
合調整用データの登録を新たに行う必要がない。このよ
うに、光分岐モジュール２１の増設に際して、制御部６
０の共通メモリ６１に結合調整用データを追加するとい
ったような余分な作業が発生することがなく、迅速な増
設作業を実現することができる。なお、光分岐モジュー
ル２１の交換作業も、光分岐ユニット１０を交換単位と
することにより、迅速に行うことができる。

【００２７】また、光スイッチ３０及び個別メモリ５０
はセットで増設されるので、増設後に行われる光スイッ
チ３０のスイッチ動作では、この結合調整用データに基
づく調整が行われる。このように、光スイッチ３０毎の
駆動特性を考慮した駆動制御が行われるので、高精度の
光結合が可能となる。

【００２８】ここで、結合調整用データとしては、光フ
ァイバ配列部材３２に並設された各試験用分岐心線２２
の位置アドレスデータや、光スイッチ３０の結合損失デ
ータなどがある。位置アドレスデータは、試験用分岐心
線２２毎に設定されるデータで、各試験用分岐心線２２
が配設される光ファイバ配列部材３２表面のＶ溝３２ａ
の位置等を反映したデータである。従って、Ｖ溝３２ａ
を形成する位置に設計値からの差異が生じている場合で
も、位置アドレスデータを用いて、補正することができ
る。このため、試験用分岐心線２２とマスター側光ファ
イバ３１とを最適な位置で光結合することができ、結合
損失を低減させることができる。同様に、光スイッチ結
合損失データも、試験用分岐心線２２毎に設定されるデ
ータで、各試験用分岐心線２２の結合損失値を示すデー
タである。このため、各試験用分岐心線２２での結合損
失値を算出することが容易となる。なお、その他の結合
調整用データには、光スイッチ３０駆動用のモータ４０
の速度、加速度、サーボ制御パラメータや、光スイッチ
３０の切替回数等の動作履歴などがある。

【００２９】

【発明の効果】以上詳細に説明したように、本発明の光
分岐モジュール収容架は、複数の光分岐モジュールと、
複数段の収容棚とを備えており、光分岐モジュールを並
設させた光分岐モジュール群と、試験用分岐心線とマス
ター側光ファイバとを選択的に光結合させる光スイッチ
と、光結合調整用データを記憶する記憶部とからなる光
分岐ユニットを収容棚に収納させている。このため、光
分岐ユニットを増設単位として、光分岐モジュールの増
設を行うことができ、光スイッチと記憶部とはセットで
増設されることになる。上述のように、記憶部には、予
め、この光スイッチについての光結合調整用データが記
憶されているので、この光結合調整用データを用いて、
光結合時に光スイッチの調整を行うことにより、光結合
による結合損失を低減させることができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の実施形態における光分岐モジュール収
容架の構成を示す概略図である。

【図２】光分岐モジュール収容架の外観を示す正面図で
ある。

【図３】本発明の要部をなす光分岐モジュールと光スイ
ッチとの位置関係を示す断面図である。

【図４】光分岐モジュール収容架に適用させる光スイッ
チを示す断面図である。

【図５】光スイッチが有する光ファイバ配列部材を示す
斜視図である。

【図６】従来の光分岐モジュール収容架の構成を示す概
略図である。

【符号の説明】

１…光分岐モジュール収容架、２…収容棚、１０…光分
岐ユニット、２０…光分岐モジュール群、２１…光分岐
モジュール、２２…試験用分岐心線、２３…光カプラ、
３０…光スイッチ、３１…マスター側光ファイバ、３２
…光ファイバ配列部材、５０…個別メモリ（記憶部）。

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 高橋 健一郎 神奈川県横浜市栄区田谷町１番地 住友電 気工業株式会社横浜製作所内 (72)発明者 海老原 孝 東京都千代田区内幸町一丁目１番６号 日 本電信電話株式会社内 (72)発明者 美馬 隆司 東京都千代田区内幸町一丁目１番６号 日 本電信電話株式会社内 (72)発明者 中尾 直樹 東京都千代田区内幸町一丁目１番６号 日 本電信電話株式会社内 (72)発明者 跡部 直之 東京都千代田区内幸町一丁目１番６号 日 本電信電話株式会社内

Claims (4)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 複数心の光ファイバを個別的に収容し且
   つ内部に光カプラを有する複数の光分岐モジュールと、
   複数段の収容棚とを備えた光分岐モジュール収容架にお
   いて、 前記光分岐モジュールを並設させた光分岐モジュール群
   と、前記光分岐モジュール群内の前記各光カプラから分
   岐させた試験用分岐心線を並列固定させた光ファイバ配
   列部材にマスター側光ファイバを導入させて、前記試験
   用分岐心線と前記マスター側光ファイバとを選択的に光
   結合させる光スイッチと、前記光スイッチ固有の光結合
   調整用データを記憶する記憶部とからなる光分岐ユニッ
   トを前記収容棚に収納させたことを特徴とする光分岐モ
   ジュール収容架。
2. 【請求項２】 前記光結合調整用データは、前記光ファ
   イバ配列部材に並設された前記各試験用分岐心線の位置
   アドレスデータであることを特徴とする請求項１記載の
   光分岐モジュール収容架。
3. 【請求項３】 前記光結合調整用データは、前記光スイ
   ッチの結合損失データであることを特徴とする請求項１
   記載の光分岐モジュール収容架。
4. 【請求項４】 前記記憶部としては、書替え可能なメモ
   リ媒体が用いられていることを特徴とする請求項１記載
   の光分岐モジュール収容架。