JPH0997761A - ウエハの周辺部露光装置 - Google Patents

ウエハの周辺部露光装置

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JPH0997761A
JPH0997761A JP27637495A JP27637495A JPH0997761A JP H0997761 A JPH0997761 A JP H0997761A JP 27637495 A JP27637495 A JP 27637495A JP 27637495 A JP27637495 A JP 27637495A JP H0997761 A JPH0997761 A JP H0997761A
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JP
Japan
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wafer
exposure beam
exposure
rotating
peripheral portion
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Application number
JP27637495A
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English (en)
Inventor
Yukihiko Inagaki
幸彦 稲垣
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Dainippon Screen Manufacturing Co Ltd
Original Assignee
Dainippon Screen Manufacturing Co Ltd
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Publication date
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  • Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)
  • Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 露光ビーム照射手段とウエハとの露光ビーム
照射方向の位置関係を遠隔的に調節することにより、そ
の焦点調節を安全に、かつ、容易に行なうことができる
ウエハの周辺部露光装置を提供する。 【解決手段】 レンズユニット47は、所定の焦点距離
を有する集光レンズなどから構成され、レンズホルダ4
6とともにリニアガイド45に沿って昇降可能に構成さ
れている。レンズホルダ46の当接部材の下方には、パ
ルスモータであるZ軸モータ50により回転駆動される
螺軸51が配設されており、この螺軸51が回転上昇さ
れるに従ってその先端の先細り部分が当接部材の下部を
押し上げる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、半導体ウエハやセ
ラミックスウエハなどのウエハの表面に形成されたフォ
トレジスト被膜のうち、ウエハの周辺部のフォトレジス
ト被膜を除去するためにウエハ周辺部を露光するウエハ
の周辺部露光装置に係り、特に、露光ビームの焦点調整
を行なう技術に関する。
【0002】
【従来の技術】フォトレジスト被膜が形成されたウエハ
を取り扱う際に、例えば、ウエハの周辺部のフォトレジ
スト被膜がウエハ収納具(ウエハキャリア)や処理装置
等に触れて付着したり飛散することにより、ウエハキャ
リアや処理装置等を汚染したり、あるいは自身の表面に
付着したり他のウエハに付着して汚染する恐れがあるこ
とは周知の通りである。そこで、フォトレジスト、特に
ポジ型のフォトレジスト液が塗布されて形成されたフォ
トレジスト被膜に所定のパターンを形成する前、あるい
は形成した後にウエハの周辺部を露光して、その部分の
フォトレジスト被膜だけを除去するようにしている。
【0003】このような処理を行なう装置がウエハの周
辺部露光装置であり、この種の装置の要部を図9に示
す。図中、符号Wは、フォトレジスト被膜をその表面に
形成されたウエハ(図中に二点鎖線で示す)である。ウ
エハWの周囲にはベース1が立設され、このベース1の
ウエハW側の側面には、レール2を含む一軸ステージ3
が取り付けられている。この一軸ステージ3は、マイク
ロメーター4を手動で回転させることによりウエハWに
対して昇降可能に構成されている。その一軸ステージ3
の可動側には、レンズホルダ5が配設されており、フォ
トレジスト被膜を露光するための露光ビームを照射す
る、所定の焦点距離を有する集光レンズを含む光学系を
内蔵するレンズユニット6(露光ビーム照射手段)が取
り付けられている。
【0004】このように構成されている装置では、ま
ず、図示しない支持回転部にフォトレジスト被膜が形成
されたウエハWを支持させる。そして支持回転部を回転
させつつ、レンズユニット6から露光ビームを照射し
て、ウエハWの周辺部だけを露光するようになってい
る。
【0005】ところで、レンズユニット6は所定の焦点
距離を有する集光レンズを含む光学系を内蔵している
が、レンズユニット6をレンズホルダ5に取り付ける際
に(例えば、メンテナンスによりレンズユニット6を交
換した場合)取り付け誤差が生じたりしてレンズユニッ
ト6からウエハWの周辺部に照射された露光ビームの焦
点がずれた状態(非合焦状態)で露光される場合があ
る。このように非合焦状態で露光を行なうと、フォトレ
ジスト被膜の除去したい部分を完全に除去することがで
きない。したがって、装置の立ち上げ時や、メンテナン
スによりレンズユニット6を交換した場合などにおいて
は、一般的に、その後レンズユニット6の位置を調整す
ることによって焦点調整を行なって露光ビームを合焦状
態でウエハWに照射できるようにする。
【0006】このレンズユニット6の焦点調整は、以下
のようにして行なわれている。まず、製品ウエハとは異
なる〔製品ウエハと同じ厚みを有する〕ダミーウエハ
に、製品ウエハと同種のフォトレジスト液を塗布して同
膜厚のフォトレジスト被膜を形成し、このウエハWを図
示しない支持回転部に支持させる。そして、装置のオペ
レータがマイクロメーター4を回転させてある一定距離
だけレンズユニット6を上昇(あるいは下降)させる。
この状態でウエハWを回転させつつ、レンズユニット6
から露光ビームを照射させる。次いで、ウエハWの回転
を停止させるとともに露光ビームの照射を停止し、この
状態で再度マイクロメーター4を回転させてある一定距
離だけさらにレンズユニット6を上昇(あるいは下降)
させる。そして、上述したマイクロメーター4の調整を
数回繰り返し行なった後、図示しない支持回転部からウ
エハWを取り外して現像を行い、露光を行なったウエハ
Wの周辺部分のフォトレジスト被膜の除去状態を確認す
る。なお、このとき、マイクロメーター4の目盛り位置
はその調整順序にしたがってメモなどに記載しておく。
【0007】フォトレジスト被膜の除去状態の確認は、
例えば、フォトレジスト被膜表面とウエハW表面の段差
部分の膜厚変位を計測する段差計や、非接触でフォトレ
ジスト被膜の段差近辺の干渉縞を観察することにより段
差部分の膜厚変位状態を確認する〔CCDなどを内蔵す
る〕デジタルリーダなどにより行なわれる。そして、そ
の確認の結果、最も段差状態が良い、すなわち、フォト
レジスト被膜のエッジのキレが最もよい(エッジがシャ
ープである)場合のウエハW上の露光領域を決定し、予
め調整時にメモに記載したマイクロメーター4の目盛り
位置を参照してその位置にマイクロメーター4を調整す
る。その後、製品ウエハWの周辺部露光を行なうように
なっている。これによりレンズユニット6からの露光ビ
ームが合焦状態でウエハW上に照射されることになる。
【0008】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、このよ
うな構成を有する従来例の場合には、次のような問題が
ある。すなわち、レンズユニット6の焦点調節を行なう
には、マイクロメーター4を回転調整する必要がある
が、このマイクロメーター4は図9に示すように、回転
駆動されるウエハWの近辺に配設されているので、この
付近にまでオペレータが手を差し入れてマイクロメータ
ー4を調節する必要があり、〔インターロックなどの危
険防止対策が施されていても〕危険であるという問題が
ある。また、ウエハに熱処理を施すベークユニットやウ
エハを回転させつつフォトレジスト被膜を形成するスピ
ンコートユニットなどを含む複数個のユニットを内蔵す
るプロセス装置では、ウエハの周辺部露光装置がオペレ
ータの手が装置周囲から届きにくい場所(例えば、プロ
セス装置の上方や奥側)に配置されることがあり、この
場合には焦点調節が非常に困難か、あるいは全く行なう
ことができないという問題点がある。
【0009】また、合焦状態となるマイクロメーター4
の目盛り位置を露光・現像後に判断するためには、マイ
クロメーター4を調節する毎に、その目盛り位置および
その順序をメモなどに記載しておく必要があるので、手
間がかかり煩雑であるという問題点もある。
【0010】本発明は、このような事情に鑑みてなされ
たものであって、露光ビーム照射手段とウエハとの露光
ビーム照射方向の位置関係を遠隔的に調節することによ
り、その焦点調節を安全に、かつ、容易に行なうことが
できるウエハの周辺部露光装置を提供することを目的と
する。
【0011】
【課題を解決するための手段】本発明は、このような目
的を達成するために、次のような構成をとる。すなわ
ち、請求項1に係るウエハの周辺部露光装置は、フォト
レジスト被膜が形成されたウエハを回転させつつ、その
周辺部を露光するウエハの周辺部露光装置であって、フ
ォトレジスト被膜が形成されたウエハを支持して回転駆
動する支持回転手段と、前記支持回転手段に支持された
ウエハの周辺部に対して露光ビームを照射する、所定の
焦点距離を有する露光ビーム照射手段と、前記露光ビー
ム照射手段と前記ウエハとの露光ビーム照射方向の位置
関係を相対的に変位させる変位手段と、前記変位手段を
介して前記位置関係を所定距離だけ変位させるととも
に、前記支持回転手段を所定角度だけ回転させつつ前記
露光ビーム照射手段から露光ビームを照射させ、前記位
置関係をさらに所定距離だけ変えるとともに前記支持回
転手段をさらに所定角度だけ回転させつつ露光ビームの
照射を所定回数繰り返す制御手段と、前記露光ビームが
照射されたウエハの現像後、ウエハ周辺部の各領域のう
ちどの領域が露光ビームの合焦状態であるかに基づいて
当該領域(合焦領域)に関連する値を指示する指示手段
と、前記指示された値に基づいて、前記変位手段を前記
合焦領域に対応する位置関係となるように設定する変位
設定手段と、を備えていることを特徴とするものであ
る。
【0012】また、請求項2に係るウエハの周辺部露光
装置は、請求項1に記載のウエハの周辺部露光装置にお
いて、前記各構成に加えて、前記所定距離および所定角
度で露光されたウエハ周辺部の隣接する各領域がそれぞ
れ識別可能となるように露光ビームを照射する識別照射
手段を備えていることを特徴とするものである。
【0013】
【作用】請求項1に記載の発明の作用は次のとおりであ
る。表面にフォトレジスト被膜を形成されたウエハは、
支持回転手段に支持され、所定の焦点距離を有する露光
ビーム照射手段により周辺部を露光される。このとき制
御手段は、露光ビーム照射手段とウエハとの露光ビーム
照射方向の位置関係を相対的に変位させる変位手段を介
して前記位置関係を所定距離だけ相対的に変位させると
ともに、支持回転手段を所定角度だけ回転させつつ露光
ビーム照射手段から露光ビームを照射させる。これによ
りウエハの周辺部の、前記所定角度に対応する領域にの
み、前記位置関係を所定距離だけ変位させた間隔で露光
ビームが照射される。次に、前記位置関係をさらに所定
距離だけ変位させるとともに支持回転手段をさらに所定
角度だけ回転させつつ露光ビームの照射を所定回数だけ
繰り返す。これによりウエハ周辺部の所定角度に対応す
る各領域には、位置関係がそれぞれ所定距離だけ異なる
各間隔で露光ビームが照射されたことになる。
【0014】このように露光ビーム照射手段とウエハの
位置関係を手動で変位させるのではなく、制御手段によ
り変位手段を介して所定距離ごとに遠隔変位させるの
で、オペレータが装置内部に手を差し入れることなく露
光ビーム照射手段とウエハの位置関係を変位させること
ができる。すなわち、露光ビームの照射状態を変えつつ
ウエハ周辺部の複数箇所の領域を露光させることができ
る。したがって、複数箇所の露光領域のうち少なくとも
1つの領域は、露光ビームの状態が合焦状態となって照
射されており、また、各領域と各位置関係とは一対一の
関係になっている。
【0015】このようにして複数箇所の周辺部を露光し
た後、ウエハの現像処理を行ってフォトレジスト被膜と
ウエハの段差状態を計測あるいは観察し、エッジがシャ
ープに形成されている領域を特定する。すなわち、ウエ
ハ周辺部の複数箇所の露光領域のうち、どの領域が露光
ビームの合焦状態になっているかを判断し、その領域
(合焦領域)に関連する値、例えば、複数箇所の領域の
うちの第何番目であるかを指示手段を介して指示する。
そして、この領域に〔一対一に〕対応する露光ビーム照
射手段とウエハの位置関係となるように変位設定手段に
より変位手段が設定されるので、露光ビーム照射手段か
ら照射される露光ビームはウエハ上に合焦状態で照射さ
れる。したがって、指示手段を介して合焦領域に関連す
る値を指示することにより、変位手段が変位設定手段に
より合焦位置となるように設定されるので、従来例のよ
うにマイクロメーターを調節するたびにメモなどにその
目盛り位置を記載する必要がない。
【0016】また、請求項2に記載の発明の作用は次の
とおりである。ウエハ周辺部の複数箇所の領域を露光す
る際、変位手段により位置関係を変え、その度ごとに支
持回転手段により所定角度だけ回転させつつ露光ビーム
の照射を行なうので、各位置関係と各領域とを一対一の
関係に対応付けすることができる。したがって、現像後
の合焦領域の特定に基づき、変位設定手段により合焦領
域の位置関係となるように変位手段を設定することによ
り、露光ビーム照射手段からウエハに照射される露光ビ
ームを合焦状態とすることができる。しかし、現像後に
露光ビームが合焦状態で照射された場所が特定できて
も、露光された領域が複数個ある場合には、その場所が
属する領域を特定することができないと、指示手段を介
して合焦領域に関連する値を指示することが困難となる
場合が生じる。そこで、識別照射手段により、ウエハ周
辺部の隣接する各領域がそれぞれ識別可能となるように
露光ビームを照射することにより、現像後に、合焦状態
で露光ビームが照射された場所の特定により合焦領域が
容易に特定できる。
【0017】上記のような識別照射手段としては、例え
ば、次のような未露光領域形成手段が挙げられる。すな
わち、支持回転手段を所定角度だけ回転させつつ露光し
た後、露光ビーム照射手段からの露光ビームの照射を停
止した状態で支持回転手段を微小角度だけ回転させる。
そして、変位手段の位置関係を所定距離だけ変え、支持
回転手段を所定角度だけ回転させつつ露光を行なうこと
を繰り返し行なう。これにより露光された各領域の間に
露光されていない領域(未露光領域)を形成する。した
がって、現像後には各領域の間にフォトレジスト被膜が
残った未露光領域が形成されることになり、この各未露
光領域により各領域を識別することができる。
【0018】また、識別手段としては、次のような露光
領域幅変位手段も考えられる。すなわち、支持回転手段
を所定角度だけ回転させつつ露光した後、露光ビーム照
射手段からの露光ビームの照射位置をウエハの回転中心
側に所定距離だけ移動させる。そして、変位手段の位置
関係を所定距離だけ変え、支持回転手段を所定角度だけ
回転させつつ露光を行なうことを繰り返し行なう。これ
により所定角度に対応して順次に露光された各領域の幅
を、ウエハの中心部に向かって順次に広いものとするこ
とができる。したがって、現像後には各領域の、ウエハ
中心部側への幅がそれぞれ異なることになり、この幅に
より各領域を識別することができる。
【0019】
【発明の実施の形態】以下、図面を参照して本発明の一
実施例を説明する。図1ないし図3を参照して、本発明
に係るウエハの周辺部露光装置について説明する。な
お、図1は実施例装置の全体概略構成を示す斜視図であ
り、図2は要部の概略構成を示す斜視図であり、図3は
概略構成を示すブロック図である。
【0020】図中、二点鎖線でその形状を示した符号W
は、その表面にフォトレジスト被膜を形成されたウエハ
であり、このウエハWは装置フレームFの前側付近に回
転可能に配設された吸引式スピンチャック10によって
吸着支持される。吸引式スピンチャック10は、θ軸モ
ータ11の回転をその下方に突出形成された回転軸10
a(図3を参照)を介して回転駆動されるようになって
いる。なお、吸引式スピンチャック10と、θ軸モータ
11は、本発明における支持回転手段に相当するもので
ある。
【0021】平面視でウエハWの周縁部分付近には、ウ
エハWの周縁部の位置を検出するためのエッジセンサ1
3が立設されている。このエッジセンサ13は、ウエハ
Wの中心位置と回転中心位置とがずれた状態で吸引式ス
ピンチャック10に吸着された場合には、その状態で回
転させると偏心して回転するので、この偏心量を検出す
るためのものである。この検出された偏心量に基づい
て、後述する露光ビームの照射位置を回転中心方向にず
らすことによりウエハWの周縁部から均等な幅を有する
領域を露光することができるようになっている。
【0022】装置フレームFの奥側には、図中のX/Y
/Zの3方向に移動可能に構成された移動ステージ20
が配設されている。この移動ステージ20は、Lの字状
を呈した移動部材20aと、その移動部材20aの下面
と装置フレームFの上面との間に配設されたガイドレー
ル20bと、移動部材20aをガイドレール20bに沿
って移動させるためのY軸モータ20cとにより構成さ
れている。移動部材20aは、Y軸モータ20cの回転
軸である螺軸20dが回転されることによりY軸方向に
沿って移動される。
【0023】移動部材20aの立設された部分には、ベ
ース30が、図示しないガイドレールに沿ってX軸方向
に沿って移動可能に配設されている。ベース30は、移
動部材20aの立設された部分に配設されたX軸モータ
30aの回転を駆動ベルトにより伝達された移動するよ
うになっている。このX軸方向への移動は、ウエハWの
円弧の一部分に直線的に形成されたオリエンテーション
・フラット(以下、オリフラと称する)の露光を行なう
ために行なわれるものである。
【0024】X軸方向およびY軸方向への移動は、後述
する制御回路により制御されるようになっており、移動
部材20aの立設部材の側面に取り付けられた複数個の
位置固定のフォトセンサと、装置フレームFの底部に配
設された複数個の位置固定のフォトセンサなどによりそ
の移動上限や下限が設定されている。
【0025】装置フレームFの下方には、後述する露光
ビームを形成するための光源や電源などを含むランプハ
ウス40が配設されており、ここから光ファイバ41を
介して露光ビームを形成する光が導出されるようになっ
ている。
【0026】図2を参照する。ベース30の装置前面側
の一側面には、リニアガイド45の固定部45aが配設
され、この固定部45aに沿って可動部45bが摺動可
能に取り付けられている。可動部45bには、アルミニ
ウム製のレンズホルダ46が取り付けられており、この
レンズホルダ46には本発明における露光ビーム照射手
段に相当するレンズユニット47が配設されている。こ
のレンズユニット47には、光ファイバ41が接続され
ており、これを介してランプハウス40からの光が導入
されるようになっている。レンズユニット47は、例え
ば、500μm程度の焦点深度を有し、所定の焦点距離
を有する集光レンズなどから構成され、レンズホルダ4
6とともにリニアガイド45に沿って昇降可能に構成さ
れている。レンズホルダ46の右側方に突出形成された
部分には、その下部から〔アルミニウムに比較して硬度
が大きい〕ステンレス合金製の当接部材48(図3を参
照)が埋設されている。この当接部材48の下方には、
パルスモータであるZ軸モータ50により回転駆動され
る螺軸51が配設されており、この螺軸51が回転上昇
されるに従ってその先端の先細り部分が当接部材48の
下部を押し上げるようになっている。また、レンズホル
ダ46は、図示しない引張バネ等により下方に付勢され
ており、Z軸モータ50の回転駆動により螺軸51の先
端部が下方に移動されると、レンズホルダ46もその移
動に追従して下降するように構成されている。なお、Z
軸モータ50は、本発明における変位手段に相当するも
のである。なお、Z軸モータ50は、パルスモータでな
くとも、例えば、DCモータとロータリーエンコーダと
の組合せであってもよい。
【0027】図3を参照する。なお、図1に示すように
移動ステージ20とベース30とはY軸方向の移動は同
期することになるので、この図においては、説明の都合
上、X軸方向の移動に係る機構は省略して図示し、同一
の図形(符号20a,30)により表している。
【0028】ウエハWを回転駆動するθ軸モータ11、
移動部材20a(ベース30)をY軸方向に移動するY
軸モータ20c、レンズユニット47をZ軸方向に昇降
するZ軸モータ50は、制御回路100からの制御信号
(回転方向や移動距離)を入力されてパルス列に変換す
るためのモータドライバ(θ軸101,Y軸102,Z
軸103)を介して制御される。また、制御回路100
には、θ軸モータ101を回転駆動する際の所定角度
や、Z軸モータ50を回転駆動する際の所定距離などを
記憶するメモリ104が接続されており、さらにオペレ
ータが種々の指示を行なうためのコントロールパネル1
05が接続されている。なお、コントロールパネル10
5は、本発明における指示手段に相当するものである。
【0029】次に、図4の焦点調節処理を示すフローチ
ャートを参照しつつ、上述したように構成された装置に
おける焦点調節処理について説明する。なお、既にウエ
ハWの表面には所定膜厚のフォトレジスト被膜が形成さ
れており、そのウエハWは吸引式スピンチャック10に
吸着支持された状態にあるものとして説明する。また、
ウエハWのオリフラ部分は、図1において移動ステージ
20側に向けられ、θ軸モータ11とY軸モータ20c
とは制御回路100により予め駆動されて、レンズユニ
ット47から照射される露光ビームが、平面視にてウエ
ハWのオリフラの左側部分に照射されるようになってい
るものとする。
【0030】なお、この焦点調節処理は、装置設置後に
おける立ち上げ時や、メンテナンスによりレンズユニッ
ト47を交換したような場合に実施される処理であり、
この処理の実行はオペレータなどによりコントロールパ
ネル105から指示を与えられてから実行されるように
なっている。また、この処理が実行されると、まず、Z
軸モータ50を回転駆動してレンズホルダ46を原点位
置(図3のZ0 の位置)から最大上昇位置にまで上昇さ
せた後に、原点位置にまで下降させるイニシャライズ動
作を実行することにより、螺軸51のバックラッシュに
起因する移動誤差を抑制するようにしている。これはレ
ンズユニット47の焦点調節が微妙な調節であるために
行なわれるものである。また、原点位置Z0 は、レンズ
ユニット47の焦点距離や焦点深度およびレンズユニッ
ト47のレンズホルダ46への取り付け状態などを勘案
して設定されるものであり、一般的には、それらを勘案
して、設計上、ウエハW表面にレンズユニット47から
の露光ビームが合焦状態となる位置である。
【0031】ステップS1では、Z軸のステップ移動量
を入力する。このステップ移動量は、レンズユニット4
7(レンズホルダ46)をZ軸方向に順次移動させて露
光する際の移動量ΔZを示し(図3を参照)、具体的に
は、コントロールパネル105を介してオペレータによ
り入力指示される値である。例えば、この例ではステッ
プ移動量ΔZとして100μmが指示されたものとす
る。なお、このステップ移動量は、本発明における制御
手段により変位される変位手段の所定距離に相当するも
のである。
【0032】ステップS2では、Z軸モータ50を初期
位置に移動する。具体的には、上述した原点位置Z0
レンズホルダ46の下端部が移動されるようになってお
り、ここでは既にイニシャライズ動作によって原点位置
0 に移動されているので、実際には移動はされない。
しかし、レンズユニット47のレンズホルダ46への取
り付け自由度が大きな場合には、合焦状態となる位置が
原点位置Z0 からかなり離れた位置になるときがあるの
で、このステップS2において予め設定された距離だけ
Z軸方向に上昇あるいは下降させ、ステップS1で入力
したステップ移動量ΔZで所定回数上昇あるいは下降さ
せてレンズユニット47を移動させることによりウエハ
W上に合焦状態となるようにする。
【0033】ステップS3では、露光しつつθ軸モータ
11を所定角度だけ回転させる。露光は、図示しないシ
ャッターを開放することによりランプハウス40から光
ファイバ41を介してレンズユニット47からウエハW
の周辺部に向けて露光ビームを照射させることにより行
なわれ、このとき図5に示すように、θ軸モータ11を
所定角度θ1 だけ回転させ、この角度の回転が完了した
時点において露光ビームの照射を図示しないシャッター
を閉止することにより停止する(ステップS4)。この
ステップS3,S4により、図5に示す領域R1が露光
ビームにより露光されることになる。
【0034】次のステップS5においては、θ軸モータ
11を微小角度回転させる。この微小角度θ2 は、図5
に一例として示すように、所定角度θ1 よりも小さな回
転角度θ2 である。この露光ビームが照射されない領域
は、当然のことながら、現像後にフォトレジスト被膜が
残ったままとなる部分である。
【0035】ステップS6では、所定回数露光したか否
かにより処理をステップS7あるいは終了に分岐する。
この所定回数は、オペレータによりコントロールパネル
105を介して処理の実行時に指示するようにしてもよ
いが、例えば、メモリ104に予め所定値が設定されて
いてもよく、ここでは予めメモリ104に所定回数とし
て『10』が記憶されているものとして説明する。した
がって、このステップS6からステップS7に処理を分
岐する。
【0036】ステップS7では、Z軸モータ50をステ
ップ移動量ΔZだけ上昇(あるいは下降)させる。そし
て、ステップS3に戻って露光しつつθ軸モータ11を
所定角度θ1 だけさらに回転させ、ステップS4で露光
を停止して、ステップS5でθ軸モータ11を微小角度
θ2 だけさらに回転させる。これにより、図5の領域R
2が露光ビームにより露光され、次に露光される領域R
3との間に未露光領域を形成した状態となる。このよう
にステップS3ないしステップS7を所定回数(ここで
は10回)実行すると、図5に示すように、ウエハWの
周辺部の領域R1〜R10の10個の領域が露光ビーム
により露光され、それぞれの間には露光ビームが照射さ
れていない9個の未露光領域が形成されることになる。
なお、この例では、所定角度θ1 は約26°であり、微
小角度は約5°に設定されている。なお、露光ビームを
照射しない状態で微小角度θ2 だけθ軸モータ11を回
転駆動させることにより各領域R1〜R10を識別可能
にするので、θ軸モータ11は本発明における識別照射
手段に相当する。
【0037】このような焦点調節処理が実行されると、
上述したウエハWを吸引式スピンチャック10から自動
あるいは手動により取り外して、現像処理を行なう。こ
の現像処理は、再現性の観点から実際に製品ウエハを現
像する装置を用いて同じ条件で現像処理するのが好まし
い。
【0038】現像が終了したウエハWは、オペレータに
より段差計やデジタルリーダにセットされ、各領域R1
〜R10のフォトレジスト被膜とウエハWのエッジの状
態が観察される。このエッジの状態を図6の模式的な断
面図に示す。
【0039】図中、ハッチングで示した部分はフォトレ
ジスト被膜を示し、エッジがシャープな状態、すなわ
ち、露光ビームが合焦状態で照射されたことを示してい
る。一方、図中に二点鎖線で示した部分は、非合焦状態
で露光ビームが照射されたことを示し、その結果、エッ
ジがシャープに形成されないことを示している。このよ
うにフォトレジスト被膜のエッジ部分を観察、具体的に
は、図中のΔlを計測して露光ビームの合焦/非合焦を
オペレータが判断する。この例では、領域R2に、露光
ビームが合焦状態で照射されたもの(合焦領域)として
説明する。
【0040】領域R1〜R10のうち合焦領域が特定さ
れると、次いで図7のフローチャートに示す焦点設定処
理を実行する。
【0041】まず、ステップT1では、上述した合焦領
域の番号R2がコントロールパネル105を介してオペ
レータにより入力される。この番号R2が入力される
と、ステップT2において、制御回路100は、メモリ
104を参照してZ軸モータ50を領域の番号R2に相
当する量だけ回転させる。つまり、各領域R1〜R10
とレンズホルダ46のZ軸方向の位置とは一対一に対応
しているので、露光ビームが合焦状態で照射されたと特
定された領域の番号を入力されることにより、この番号
に基づきレンズホルダ46のZ軸方向の位置が算出され
る。具体的には、領域の番号R2と、原点位置Z0 と、
ステップ移動量ΔZにより、Z軸モータ50の回転量と
しては、原点位置Z0 からステップ移動量ΔZの距離だ
け変位した位置に相当する量である。なお、各領域R1
〜R10とZ軸方向の距離は一対一に対応しているの
で、各領域の番号の他に、領域の順位(1〜10)を入
力したり、Z軸モータ50に入力されるパルス数を入力
するようにしてもよい。すなわち、ウエハ周辺部の各領
域R1〜R10のうち、露光ビームが合焦状態で照射さ
れた領域に関連する値であれば何でも良い。
【0042】なお、制御回路100とZ軸モータ50と
は、本発明における変位設定手段に相当するものであ
る。
【0043】ステップT3では、上述したステップT2
での入力値でよいか否かにより処理を分岐する。よい場
合には処理を終了し、誤って番号を入力した場合には、
ステップT1に戻って領域の番号を入力し直す。
【0044】このようにして、露光ビームが合焦状態で
入力さた領域に関連する値に基づいて、Z軸モータ50
が回転され、その領域のZ軸方向の位置にレンズホルダ
46が移動されるので、この状態においてレンズユニッ
ト47から照射される露光ビームはウエハWの周辺部に
焦点が合った状態に設定されることになる。そして、こ
の後に製品ウエハを処理して、ウエハWのオリフラ部を
含む周辺部全周にわたって露光を行なうようにする。
【0045】上述した焦点調節処理および焦点設定処理
は、オペレータが周辺部露光装置の内部に一切手を差し
入れることなく実行されるものであり、従来装置のよう
に、回転されるウエハWの近辺に配設されたマイクロメ
ータを手で調節する必要がないので、安全に焦点調節を
行なうことができる。また、従来はマイクロメータを調
節する度にその目盛り位置をメモなどに順に記載する必
要があったが、本発明によると、Z軸方向の位置に一対
一に対応している各領域の番号をに関連する値を入力す
ることにより、この領域に対応するZ軸方向の位置にレ
ンズホルダ46が移動されるので、メモをとる手間を省
くことができて容易に焦点調節を行なうことができる。
【0046】なお、上述した実施例では、複数個の露光
領域をそれぞれ識別可能にするために、θ軸モータ11
による微小角度θ2 の回転を識別照射手段として利用し
たが、次のようにしてもよい。この識別照射手段の変形
例を図8の模式図を参照して説明する。
【0047】まず、露光しつつθ軸モータ11を所定角
度θ3 (例えば、約30°)だけ回転させて、領域R1
を露光させる。次いで、Y軸モータ20cを、移動部材
20aがY軸方向に微小距離ΔY(例えば約1mm)だ
け移動するように、つまり、ウエハWの中心部に向けて
微小距離ΔYだけ移動させるとともに、Z軸方向に所定
距離ΔZだけ上昇させてさらに所定角度θ3 だけθ軸モ
ータ11を回転させる動作を繰り返し実行する。このよ
うにしても露光された各領域R1〜R10の各々を識別
可能である。また、Z軸モータ50とは別のY軸モータ
20cを用いるので、所定角度θ3 と微小距離ΔYとの
移動を並行して行なうことができるので、露光ビームの
照射を制御するシャッターの開閉を制御する必要がなく
制御回路100の負荷を軽減することができる。
【0048】なお、図8に示したように、順次に微小距
離ΔYだけウエハWの中心部に向けて移動させることな
く、微小距離ΔYだけ移動して露光した後、次の領域の
露光の前に微小距離ΔYだけY軸方向に戻すようにして
もよい。すなわち、各領域R1〜R10は、平面視にて
凹凸を繰り返すように露光されることになる。このよう
にしても複数個の領域R1〜R10のうち隣接する領域
同士を識別することが可能である。
【0049】なお、上記の実施例では、レンズホルダ4
6をZ軸モータ50で昇降させるようにしたが、レンズ
ホルダ46を固定して、吸引式スピンチャック10を昇
降させるように構成してもよい。
【0050】また、図4に示した焦点調節処理では、ス
テップS1においてステップ移動量ΔZを入力させるよ
うにしたが、メモリ104に予めステップ移動量ΔZと
所定回数とを記憶させておき、コントロールパネル10
5を介してこの処理が指示された場合には、それらに基
づいて焦点調節処理を実行するようにしてもよい。例え
ば、レンズユニット46の焦点深度が大きな場合などに
は、このように簡易的に焦点調節処理を実行するように
しても複数個の露光領域のうちいずれか1つは合焦状態
となるからである。
【0051】
【発明の効果】以上の説明から明らかなように、請求項
1に記載の発明によれば、露光ビーム照射手段とウエハ
の位置関係を手動で変位させるのではなく、制御手段に
より変位手段を介して所定距離ごとに遠隔変位させるの
で、オペレータが装置内部に手を差し入れることなく露
光ビーム照射手段とウエハの位置関係を遠隔的に変位さ
せることができ、焦点調節を安全に行なうことができ
る。
【0052】露光ビームが合焦状態で照射された合焦領
域に関連する値を指示手段を介して指示することによ
り、変位手段が変位設定手段により合焦位置となるよう
に設定されるので、従来例のようにマイクロメーターを
調節するたびにメモなどにその目盛り位置を記載してお
く手間が省けて、容易に焦点調節処理を行なうことがで
きる。
【0053】また、省スペースのプロセス装置などのよ
うに、オペレータの手が届きにくい位置にウエハの周辺
露光装置が設置されたとしても、遠隔的に焦点調節を行
なって合焦位置に設定することができるので、焦点調節
のメンテナンスを容易に行なうことが可能となる。
【0054】また、請求項2に記載の発明によれば、識
別照射手段により、ウエハ周辺部の隣接する各領域がそ
れぞれ識別可能となるように露光ビームを照射すること
により、現像後に、合焦状態で露光ビームが照射された
場所、すなわち、合焦領域が容易に特定できるので、合
焦領域に関連する値の指示が容易に行なえ、その結果、
焦点調節を容易に行なうことができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】実施例装置の全体概略構成を示す斜視図であ
る。
【図2】要部の概略構成を示す斜視図である。
【図3】概略構成を示すブロック図である。
【図4】焦点調節処理を示すフローチャートである。
【図5】ウエハ周辺部への露光の態様を示す模式図であ
る。
【図6】現像後のフォトレジスト被膜のエッジの状態を
示す模式図である。
【図7】焦点設定処理を示すフローチャートである。
【図8】ウエハ周辺部への露光の態様を示す模式図であ
る。
【図9】従来装置の要部を示す斜視図である。
【符号の説明】
W … ウエハ 10 … 吸引式スピンチャック(支持回転手段) 11 … θ軸モータ(支持回転手段,識別照射手段) 20 … 移動ステージ 20a … 移動部材 20c … Y軸モータ(識別照射手段) 30a … X軸モータ 41 … 光ファイバ 45 … リニアガイド 46 … レンズホルダ 47 … レンズユニット(露光ビーム照射手段) 50 … Z軸モータ(変位手段,変位設定手段) 100 … 制御回路(変位設定手段) 105 … コントローラパネル(指示手段) R1〜R10 … 露光領域 ΔZ … ステップ移動量(所定距離) θ1 … 所定角度 θ2 … 微小角度

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 フォトレジスト被膜が形成されたウエハ
    を回転させつつ、その周辺部を露光するウエハの周辺部
    露光装置であって、 フォトレジスト被膜が形成されたウエハを支持して回転
    駆動する支持回転手段と、 前記支持回転手段に支持されたウエハの周辺部に対して
    露光ビームを照射する、所定の焦点距離を有する露光ビ
    ーム照射手段と、 前記露光ビーム照射手段と前記ウエハとの露光ビーム照
    射方向の位置関係を相対的に変位させる変位手段と、 前記変位手段を介して前記位置関係を所定距離だけ変位
    させるとともに、前記支持回転手段を所定角度だけ回転
    させつつ前記露光ビーム照射手段から露光ビームを照射
    させ、前記位置関係をさらに所定距離だけ変えるととも
    に前記支持回転手段をさらに所定角度だけ回転させつつ
    露光ビームの照射を所定回数繰り返す制御手段と、 前記露光ビームが照射されたウエハの現像後、ウエハ周
    辺部の各領域のうちどの領域が露光ビームの合焦状態で
    あるかに基づいて当該領域(合焦領域)に関連する値を
    指示する指示手段と、 前記指示された値に基づいて、前記変位手段を前記合焦
    領域に対応する位置関係となるように設定する変位設定
    手段と、 を備えていることを特徴とするウエハの周辺部露光装
    置。
  2. 【請求項2】 請求項1に記載のウエハの周辺部露光装
    置において、前記各構成に加えて、前記所定距離および
    所定角度で露光されたウエハ周辺部の隣接する各領域が
    それぞれ識別可能となるように露光ビームを照射する識
    別照射手段を備えていることを特徴とするウエハの周辺
    部露光装置。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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