JPH1010062A - ガラス容器及び／又は缶のための非破壊ｘ線検査装置 - Google Patents

ガラス容器及び／又は缶のための非破壊ｘ線検査装置

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Abstract

(57)【要約】 【課題】 食品産業界におけるガラス容器の非破壊Ｘ線
検査は被検査容器の列の片側に配置された単独の装置に
よって実行され、この装置は実質的にＸ線放射装置とセ
ンサーとを装備しており、その間を被検査容器が移動す
るようになっている。かかる単独の装置では内部に収容
されている製品の９０〜９５％の検査が可能であって、
その不足分は、重要なことであるが、大体は、容器底部
に存在する凹みによって生じている影部分によるもので
ある。 【解決手段】 食品産業用のガラス容器及び／又は缶の
ための非破壊Ｘ線検査装置であって、該容器の供給ライ
ンに関して４５°に配置した２つのモジュラーユニット
を相互に９０°に配置した静的構造体からなり、この２
つのモジュラーユニットの一方はセミパノラマ状の放射
装置と、センサーと、を有しており、この２つのモジュ
ラーユニットの他方は前記一方のユニットのセンサーと
同様の単一のセンサーを有している。この単一の放射装
置と２つのセンサーとを備えた静的構造体は１００％の
検査が出来る。

Description

【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、食品産業特にガラ
ス容器及び／又は金属缶のための非破壊Ｘ線検査装置に
関する。
【０００２】
【従来の技術】ほとんどの場合、食品産業界におけるガ
ラス容器の非破壊Ｘ線検査は被検査容器の列の片側に配
置された単独の装置によって実行され、そしてこの装置
は実質的にＸ線放射装置とセンサーとを装備しており、
その間を被検査容器が移動するようになっていることは
知られている。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】かかる単独の装置では
内部に収容されている製品の９０〜９５％の検査が可能
であって、その不足分は、重要なことであるが、大体
は、容器底部に存在する凹みによって生じている影部分
によるものであることも知られている。
【０００４】より正確には、ジャム又は同様な製品を収
容しているガラス容器に関連して述べると、このような
有害な凹みはこれらの容器の底部にある凹みである。こ
の凹み即ち容器内方への突出部分は、汚染物質と重なり
それらを隠し、それら汚染物質の識別を不可能としてい
る。
【０００５】この結果は、多くの場合、非常に不正確で
あった。なぜなら、検査の有効性は単に９５％であった
からである。このことは多くの課題を提供しており、そ
してこれらの課題を解消するための幾つかの試みがなさ
れた。しかしながらそれらはかなり複雑で高価であり、
決して満足なものではない。
【０００６】上述の試みの中には、垂直配置の放射装置
をパイプ面に４５°に傾斜して配置することが出来るこ
とが述べられているものがある。この方法は片側に配置
された公知の検査装置に関して別の点における別の影部
分の発生をもたらした。その上、更にこの方法は、その
影部分を緩和しても高い容器間隔のためにこの問題を解
消しなかった。更にまたこの方法は缶には適用出来な
い。
【０００７】別の解決方法が英国において検討されてい
る。この方法では垂直面に互いに９０°に配置した２つ
の検査装置を使用するものである。
【０００８】この後者の方法は影部分の部分的な減少を
もたらしているように思えるが、この方法は２つの検査
装置を使用しており、そのシステム全体の寸法がかなり
大きくなる。更に２つの装置のためのコストが高くな
り、維持費等が無視出来ないほどのコストになってい
る。
【０００９】そこで本件発明の目的は、充填された容器
を検査するときに影部分を除去するための上記問題を解
消し、改良された簡単な実用的な装置で封止された容器
の完全な検査目的を容易になし得ることである。
【００１０】
【課題を解決するための手段】本件発明の検査装置は、
検査されるべき容器即ち被検査容器の供給ラインに関し
て４５°に配置した２つのモジュラーユニットを相互に
９０°に配置した静的構造体からなり、この２つのモジ
ュラーユニットの一方はセミパノラマ状のＸ線放射装置
と、Ｘ線リニアーセンサーと、を有しており、この２つ
のモジュラーユニットの他方は前記一方のユニットのセ
ンサーと同様の単一のセンサーを有しており、この単一
の放射装置と２つのセンサーとを備えた検査装置が容器
内に充填されている製品の検査を１００％可能とする装
置を提供するのである。
【００１１】本件発明の特徴及び利点は添付の図面（限
定的な例ではない）を参照して述べている本件発明の下
記実施例に関する下記の詳細な記載から明らかとなろ
う。
【００１２】
【発明の実施の形態】図１及び図３から明らかなよう
に、公知の検査装置はその下を被検査ガラス容器３の列
が移動するように跨いでいる構造体１から構成されてい
る。
【００１３】この構造体１は、Ｘ線放射装置５と、セン
サー７と、を含んでおり、該センサー７がＸ線放射装置
５によって放射されたＸ線を集積し検査された情報を表
示している。
【００１４】もしガラス容器を考慮した場合、明らかに
分かることは、該容器３の底部の凹み９が容器内の製品
の完全な検査を損なわせるということである。もしこの
凹み即ち内方への突出部９が無ければ明らかに問題はな
いのである。
【００１５】一方、図４に示す本件発明の検査装置によ
れば、静的構造体１１が設けてあり、これが被検査容器
３の供給ライン即ち容器の流れ線に関して４５°の角度
をなすように互いに９０°に配置した２つのモジュラー
ユニット１３により構成されている。
【００１６】これら２つのモジュラーユニットの一方
は、セミパノラマ状のＸ線放射装置１５と、通常のセン
サー７と、を有しており、他方のモジュラーユニットは
前記一方のものと同じセンサーのみを有している。
【００１７】図５に示す実施例の検査装置においては、
両方のモジュラーユニット１３がそれぞれ標準のＸ線放
射装置５とセンサー７とを有している。
【００１８】このようにすることにより被検査容器の凹
み９によって発生する影部分が除去されることが分か
る。それは１つのセンサーによって検査されない部分
が、該１つのセンサーに対して９０°に配置された別の
センサーによって検査されるからである。
【００１９】ここにおける本件発明においては好ましい
実施例について述べたが、この発明は更に種々の変形及
び改変が可能であるがその結果は本件発明の範囲内に帰
着するであろう。
【００２０】
【発明の効果】本件発明装置の特徴は以下の通りであ
る。
【００２１】モジュール式であるため、単一モジュール
のための初期価格と同一の実績を標準価格よりも安い価
格で達成出来る。そのため製品市場を広げることが出来
るのであります。
【００２２】２つのセンサーを使用しているので、その
同時的不首尾は統計的に不可能であり、そのため使用者
は２つのセンサーの１つが（製品の９５％の検査を行う
ような）不首尾なものであっても実稼働出来る。
【００２３】関連する価格についての据え付けに関する
問題な実際的には存在しない。
【００２４】機械的なスペア部品に対するコストがかか
らず、構造体が実質的に静的であり、明らかに保全費が
有利である。
【００２５】スペースの問題が存在せず、食品産業界の
要求に応じ、それらのラインをほとんど常に満たしてお
り、組立時に装置のための空間を設ける必要は無い。
【図面の簡単な説明】
【図１】検査されるべき容器の流れ線に対して９０°に
配置されている公知の検査装置の概略平面図である。
【図２】検査されるべき容器の流れ線に対して４５°に
配置されている公知の検査装置の概略平面図である。
【図３】図１の装置の概略断面図である。
【図４】本件発明の第１実施例による検査装置の概略平
面図である。
【図５】本件発明の第２実施例による検査装置の概略平
面図である。
【図６】標準的な底凹部を有するガラス容器の断面図で
ある。
【符号の説明】
１：検査装置 ３：被検査容
器 ５：Ｘ線放射装置 ７：センサー ９：凹み １１：静的構造
体 １３：モジュラーユニット １５：Ｘ線放
射装置
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (71)出願人 597035816 Ｃｏｒｓｏ Ｂｒａｍａｎｔｅ 53, 10126 Ｔｕｒｉｎ，Ｉｔａｌｙ

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項１】 食品産業用のガラス容器及び／又は缶の
    ための非破壊Ｘ線検査装置であって、検査されるべき容
    器の供給ラインに関して４５°に配置した２つのモジュ
    ラーユニットを相互に９０°に配置した静的構造体から
    なり、この２つのモジュラーユニットの一方はセミパノ
    ラマ状の放射装置と、センサーと、を有しており、この
    ２つのモジュラーユニットの他方は前記一方のユニット
    のセンサーと同様の単一のセンサーを有しており、この
    単一の放射装置と２つのセンサーとを備えた静的構造体
    が容器内に充填されている製品の検査を１００％可能と
    する装置を提供していることを特徴とするガラス容器及
    び／又は缶のための非破壊Ｘ線検査装置。
  2. 【請求項２】 ２つのユニットのそれぞれが放射装置及
    びセンサーを備えていることを特徴とする請求項１に記
    載のガラス容器及び／又は缶のための非破壊Ｘ線検査装
    置。
  3. 【請求項３】 被検査容器の移動通路に関して９０°
    （又は４５°）に配置した、前記放射装置及び単一のセ
    ンサを使用している、単一のモジュラーユニットを使用
    して９５％検出をなす通常の単一構造として使用される
    ことが出来ることを特徴とする請求項１又は２に記載の
    ガラス容器及び／又は缶のための非破壊Ｘ線検査装置。
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Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006346856A (ja) * 2005-06-16 2006-12-28 Rohm & Haas Electronic Materials Cmp Holdings Inc 二次研磨媒体容積制御溝を有するケミカルメカニカル研磨パッド
JP2009236633A (ja) * 2008-03-26 2009-10-15 Panasonic Electric Works Co Ltd Ｘ線異物検査装置
JP2009236632A (ja) * 2008-03-26 2009-10-15 Panasonic Electric Works Co Ltd Ｘ線異物検査装置
WO2010104107A1 (ja) * 2009-03-13 2010-09-16 ポニー工業株式会社 Ｘ線検査装置及びｘ線検査方法
JP2020020593A (ja) * 2018-07-30 2020-02-06 高嶋技研株式会社 放射線検査装置及び放射線検査方法

Families Citing this family (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
IT1320201B1 (it) * 2000-06-09 2003-11-26 Dylog Italia Spa Dispositivo di ispezione a raggi x per prodotti alimentari.
DE10062214B4 (de) 2000-12-13 2013-01-24 Smiths Heimann Gmbh Vorrichtungen zur Durchleuchtung von Objekten
DE20217559U1 (de) 2002-11-12 2003-01-16 Heuft Systemtechnik Gmbh Vorrichtung zur Untersuchung von gefüllten Behältern mittels Röntgenstrahlen
CN101655466B (zh) * 2009-09-22 2011-10-26 江苏联众肠衣有限公司 一种异物在线检测仪
CN104541159B (zh) * 2012-06-13 2017-03-22 威尔科股份公司 在容器中和/或在其内含物中的瑕疵的x射线检测
DE102012019851B4 (de) 2012-10-10 2018-03-22 Seidenader Maschinenbau Gmbh Inspektionssystem zum Erstellen von wenigstens zwei Aufnahmen eines Guts
CN104458778A (zh) * 2014-12-19 2015-03-25 山东明佳包装检测科技有限公司 用于密闭容器中食品的检测设备
CN107328798B (zh) * 2017-06-21 2020-02-11 重庆大学 一种新型icl系统及实现方法

Family Cites Families (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3958078A (en) * 1974-08-30 1976-05-18 Ithaco, Inc. X-ray inspection method and apparatus
US4392237A (en) * 1980-08-25 1983-07-05 General Electric Company Scanning x-ray inspection system
CA2002133A1 (en) * 1988-11-28 1990-05-28 Nigel J. King On-line x-ray inspection system
DE4137510C2 (de) * 1991-11-14 1994-08-25 Heimann Systems Gmbh & Co Scanner zur Untersuchung von Prüfobjekten
US5442672A (en) * 1993-03-31 1995-08-15 Bjorkholm; Paul J. Three-dimensional reconstruction based on a limited number of X-ray projections

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006346856A (ja) * 2005-06-16 2006-12-28 Rohm & Haas Electronic Materials Cmp Holdings Inc 二次研磨媒体容積制御溝を有するケミカルメカニカル研磨パッド
JP2009236633A (ja) * 2008-03-26 2009-10-15 Panasonic Electric Works Co Ltd Ｘ線異物検査装置
JP2009236632A (ja) * 2008-03-26 2009-10-15 Panasonic Electric Works Co Ltd Ｘ線異物検査装置
WO2010104107A1 (ja) * 2009-03-13 2010-09-16 ポニー工業株式会社 Ｘ線検査装置及びｘ線検査方法
JP2020020593A (ja) * 2018-07-30 2020-02-06 高嶋技研株式会社 放射線検査装置及び放射線検査方法

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DE69729497D1 (de) 2004-07-22
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CN1295498C (zh) 2007-01-17
ITTO960203A1 (it) 1997-09-15
JP3041249B2 (ja) 2000-05-15
CN1566932A (zh) 2005-01-19

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