JPH1010203A - フィクスチャレス・インサーキットテスタにおける被検査ボード矯正機構 - Google Patents
フィクスチャレス・インサーキットテスタにおける被検査ボード矯正機構Info
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- JPH1010203A JPH1010203A JP8181127A JP18112796A JPH1010203A JP H1010203 A JPH1010203 A JP H1010203A JP 8181127 A JP8181127 A JP 8181127A JP 18112796 A JP18112796 A JP 18112796A JP H1010203 A JPH1010203 A JP H1010203A
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- Supply And Installment Of Electrical Components (AREA)
- Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)
- Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】プリント基板の上反りに対して、所望位置で矯
正押圧でき、かつ容易に着脱自在な構造とする被検査ボ
ード矯正機構を実現する。 【解決手段】ボード搬送レール１０上の所定の位置に被
検査ボード５を保持するボードキャリア４と、ボードキ
ャリア４上に設けた矯正バーガイドレール１と、ボード
キャリア４によって保持されている被検査ボード５のデ
ッドスペース９部を上方から押さえ込み、その両端に設
けた取り付け金具３を矯正バーガイドレール１に差し込
んで所定の位置に固定する矯正バー２の構成。
正押圧でき、かつ容易に着脱自在な構造とする被検査ボ
ード矯正機構を実現する。 【解決手段】ボード搬送レール１０上の所定の位置に被
検査ボード５を保持するボードキャリア４と、ボードキ
ャリア４上に設けた矯正バーガイドレール１と、ボード
キャリア４によって保持されている被検査ボード５のデ
ッドスペース９部を上方から押さえ込み、その両端に設
けた取り付け金具３を矯正バーガイドレール１に差し込
んで所定の位置に固定する矯正バー２の構成。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、ボード検査装置で
あるフィクスチャレス・インサーキットテスタにおける
被検査ボードの上反りを矯正する機構に関する。
あるフィクスチャレス・インサーキットテスタにおける
被検査ボードの上反りを矯正する機構に関する。
【０００２】
【従来の技術】部品実装されたプリント基板の電気試験
検査は、ボード検査装置であるインサーキットテスタを
用いて行われる。従来技術のボード検査装置であるイン
サーキットテスタの中でもフィクスチャレスのインサー
キットテスタにおいては、図３に示すように、通常、ボ
ード５の上面からプローブピン６を、Ｘ−Ｙ軸方向に所
定量移動させて、プリント基板による個別回路基板１６
上に搭載された搭載部品１５又は部品搭載用のランド７
でありテストパッドでもある個所に接触させて検査し、
ポード５全体を検査するものである。
検査は、ボード検査装置であるインサーキットテスタを
用いて行われる。従来技術のボード検査装置であるイン
サーキットテスタの中でもフィクスチャレスのインサー
キットテスタにおいては、図３に示すように、通常、ボ
ード５の上面からプローブピン６を、Ｘ−Ｙ軸方向に所
定量移動させて、プリント基板による個別回路基板１６
上に搭載された搭載部品１５又は部品搭載用のランド７
でありテストパッドでもある個所に接触させて検査し、
ポード５全体を検査するものである。
【０００３】このとき、例えば図５に示すような、個別
回路基板１６が複数個形成された多面取りのボード５を
検査する場合においても、上記フィクスチャレスのイン
サーキットテスタが用いる。このとき、プリント基板が
薄い場合、反りが発生し易い。
回路基板１６が複数個形成された多面取りのボード５を
検査する場合においても、上記フィクスチャレスのイン
サーキットテスタが用いる。このとき、プリント基板が
薄い場合、反りが発生し易い。
【０００４】図３の被検査ボードの反りとプローブピン
との側断面関係図に示すように、ボード５が下反り状態
１２の場合には、ボード支持棒１４により水平位置１３
に矯正されるが、上反り状態１１では実装部品の関係で
容易に矯正できない。この為、プローブピン６とランド
７との接触ミスや、位置ずれを生じる実用上の難点があ
った。特に最近の微細パターンや電極ランドでは図３に
示す上反り量１７が大きいと、図４に示すプローブピン
６の先端がテストパッドであるランド７に正しく接触で
きなくなってしまう可能性が増えてきた。ここで、通常
プローブピン６は約１５°傾いて設置しているため、例
えばボード５の上反り量１７がΔｄ８分反った高さとな
るとプローブピン６の先端が、ランド７との接触スレス
レとなり、また２×Δｄ７分が反った高さとなれば、プ
ローブピン６の先端は、所定のランド７と接触困難にな
ってしまう。
との側断面関係図に示すように、ボード５が下反り状態
１２の場合には、ボード支持棒１４により水平位置１３
に矯正されるが、上反り状態１１では実装部品の関係で
容易に矯正できない。この為、プローブピン６とランド
７との接触ミスや、位置ずれを生じる実用上の難点があ
った。特に最近の微細パターンや電極ランドでは図３に
示す上反り量１７が大きいと、図４に示すプローブピン
６の先端がテストパッドであるランド７に正しく接触で
きなくなってしまう可能性が増えてきた。ここで、通常
プローブピン６は約１５°傾いて設置しているため、例
えばボード５の上反り量１７がΔｄ８分反った高さとな
るとプローブピン６の先端が、ランド７との接触スレス
レとなり、また２×Δｄ７分が反った高さとなれば、プ
ローブピン６の先端は、所定のランド７と接触困難にな
ってしまう。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】本発明が解決しようと
する課題は、主に個別回路基板１６が複数個の多面付け
で構成されるプリント基板の上反り状態１１に対して、
所望位置で矯正押圧でき、かつ容易に着脱自在な構造と
するフィクスチャレス・インサーキットテスタにおける
被検査ボード矯正機構を実現する。
する課題は、主に個別回路基板１６が複数個の多面付け
で構成されるプリント基板の上反り状態１１に対して、
所望位置で矯正押圧でき、かつ容易に着脱自在な構造と
するフィクスチャレス・インサーキットテスタにおける
被検査ボード矯正機構を実現する。
【０００６】
【課題を解決するための手段】上記課題を解決するため
に、本発明の構成では、ボード搬送レール１０上の所定
の位置に被検査ボード５を保持するボードキャリア４
と、ボードキャリア４上に設けた矯正バーガイドレール
１と、ボードキャリア４によって保持されている被検査
ボード５のデッドスペース９部を上方から押さえ込み、
その両端に設けた取り付け金具３を矯正バーガイドレー
ル１に差し込んで所定の位置に固定する矯正バー２との
構成手段とする。これにより、プリント基板の上反りを
所望位置で矯正押圧し、かつ容易に着脱自在とする被検
査ボード矯正機構を実現する。
に、本発明の構成では、ボード搬送レール１０上の所定
の位置に被検査ボード５を保持するボードキャリア４
と、ボードキャリア４上に設けた矯正バーガイドレール
１と、ボードキャリア４によって保持されている被検査
ボード５のデッドスペース９部を上方から押さえ込み、
その両端に設けた取り付け金具３を矯正バーガイドレー
ル１に差し込んで所定の位置に固定する矯正バー２との
構成手段とする。これにより、プリント基板の上反りを
所望位置で矯正押圧し、かつ容易に着脱自在とする被検
査ボード矯正機構を実現する。
【０００７】また上記課題を解決するために、本発明の
構成では、被検査ボード５のボードの上反り湾曲に対し
て、部品空きエリア上面から押さえ込む矯正バー２と、
矯正バー２の両端部に、矯正バーガイドレール１のレー
ル状溝に引っ掛けて着脱自在に支持固定する取り付け金
具３を形成し、前記矯正バー２の取り付け金具３に対応
して、任意位置で支持固定可能としたレール溝構造を形
成した矯正バーガイドレール１を設けてボードキャリア
４に固定する構成手段とする。
構成では、被検査ボード５のボードの上反り湾曲に対し
て、部品空きエリア上面から押さえ込む矯正バー２と、
矯正バー２の両端部に、矯正バーガイドレール１のレー
ル状溝に引っ掛けて着脱自在に支持固定する取り付け金
具３を形成し、前記矯正バー２の取り付け金具３に対応
して、任意位置で支持固定可能としたレール溝構造を形
成した矯正バーガイドレール１を設けてボードキャリア
４に固定する構成手段とする。
【０００８】
【発明の実施の形態】以下に、本発明の実施の形態を実
施例と共に詳細に説明する。
施例と共に詳細に説明する。
【０００９】
【実施例】本発明について、図１及び図２を示して説明
する。図１（Ａ）は矯正バーと取り付け金具及びボード
キャリア状の矯正バーガイドレールとの関係を示す斜視
図であり、図１（Ｂ）は前記側断面図であり、図１
（Ｃ）は前記係合関係を示す側断面拡大図である。図２
は、本発明のフィクスチャレス・インサーキットテスタ
における被検査ボードの上反り矯正機構を示す斜視図で
ある。
する。図１（Ａ）は矯正バーと取り付け金具及びボード
キャリア状の矯正バーガイドレールとの関係を示す斜視
図であり、図１（Ｂ）は前記側断面図であり、図１
（Ｃ）は前記係合関係を示す側断面拡大図である。図２
は、本発明のフィクスチャレス・インサーキットテスタ
における被検査ボードの上反り矯正機構を示す斜視図で
ある。
【００１０】本発明の要部構成は、図１に示すように、
被検査ボード５を搬送保持するボードキャリア４と、ボ
ードキャリア４上に設けて矯正バー２を押さえ込んで支
持する矯正バーガイドレール１と、被検査ボード５を上
から押圧矯正する矯正バー２とで成る。ここで矯正バー
ガイドレール１と矯正バー２以外は従来と共通の技術手
段要素である。
被検査ボード５を搬送保持するボードキャリア４と、ボ
ードキャリア４上に設けて矯正バー２を押さえ込んで支
持する矯正バーガイドレール１と、被検査ボード５を上
から押圧矯正する矯正バー２とで成る。ここで矯正バー
ガイドレール１と矯正バー２以外は従来と共通の技術手
段要素である。
【００１１】矯正バーガイドレール１は、矯正バー２を
所望位置で矯正押圧固定でき、かつ容易に着脱自在な構
造とするものであり、ボードキャリア４と矯正バーガイ
ドレール１間にレール溝となるように形成固定してお
く。
所望位置で矯正押圧固定でき、かつ容易に着脱自在な構
造とするものであり、ボードキャリア４と矯正バーガイ
ドレール１間にレール溝となるように形成固定してお
く。
【００１２】矯正バー２は、被検査ボード５の上反りを
押圧矯正するものであり、被検査ボード５の非部品実装
部分（デッドスペース９部）を押圧する底面部分には線
状押圧部（あるいは所望間隔の点状押圧部）を設け、両
端部には取り付け金具３により上記矯正バーガイドレー
ル１に形成されたレール溝に差し込んで上反り支持固定
する爪部構造を設ける。この爪部の一方は短くし、他方
は長くしておく。この矯正バー２差し込み装着は、図１
（Ｃ）の拡大図に示すように、一方の長い爪部側を先に
レール溝に差し込み、他方の短い爪部は被検査ボード５
を押圧しながら矯正バー２を短い爪部方向に移動させて
引っ掛け支持固定する。この場合は線状のデッドスペー
ス９部が有る場合適用できる。図には無いが、他の応用
構造例として、点状に散在するデッドスペース９部に対
応する為に、矯正バー２下側の押圧部分は複数点状の押
圧構造を形成し、更に爪部は出し入れ可能なスライド爪
部構造を形成して、矯正バー２の移動無用とする構造と
しても良い。
押圧矯正するものであり、被検査ボード５の非部品実装
部分（デッドスペース９部）を押圧する底面部分には線
状押圧部（あるいは所望間隔の点状押圧部）を設け、両
端部には取り付け金具３により上記矯正バーガイドレー
ル１に形成されたレール溝に差し込んで上反り支持固定
する爪部構造を設ける。この爪部の一方は短くし、他方
は長くしておく。この矯正バー２差し込み装着は、図１
（Ｃ）の拡大図に示すように、一方の長い爪部側を先に
レール溝に差し込み、他方の短い爪部は被検査ボード５
を押圧しながら矯正バー２を短い爪部方向に移動させて
引っ掛け支持固定する。この場合は線状のデッドスペー
ス９部が有る場合適用できる。図には無いが、他の応用
構造例として、点状に散在するデッドスペース９部に対
応する為に、矯正バー２下側の押圧部分は複数点状の押
圧構造を形成し、更に爪部は出し入れ可能なスライド爪
部構造を形成して、矯正バー２の移動無用とする構造と
しても良い。
【００１３】これにより、被検査ボード５を水平位置１
３まで押圧矯正可能となり、安定した位置状態でボード
検査をすることが可能となり、従来のようなプローブピ
ンと電極ランドとの接触ミスや、位置ずれを生じる実用
上の難点が解消できることとなった。更に多面取り付け
されるボード５の種類によりデッドスペース９部の位置
はまちまちであるが、これに対しても任意位置に矯正バ
ー２を所望複数装着できる為、殆どの多面取りボードに
使用可能である。無論非多面取りボードに適用しても良
い。
３まで押圧矯正可能となり、安定した位置状態でボード
検査をすることが可能となり、従来のようなプローブピ
ンと電極ランドとの接触ミスや、位置ずれを生じる実用
上の難点が解消できることとなった。更に多面取り付け
されるボード５の種類によりデッドスペース９部の位置
はまちまちであるが、これに対しても任意位置に矯正バ
ー２を所望複数装着できる為、殆どの多面取りボードに
使用可能である。無論非多面取りボードに適用しても良
い。
【００１４】本発明のフィクスチャレス・インサーキッ
トテスタにおける被検査ボードの上反り矯正機構は、他
の外観検査装置等の接触及び非接触方式の検査装置に用
いても良い。
トテスタにおける被検査ボードの上反り矯正機構は、他
の外観検査装置等の接触及び非接触方式の検査装置に用
いても良い。
【００１５】
【発明の効果】本発明によれば、被検査ボードが上反り
状態をデッドスペース９部のある任意の位置で矯正バー
２により容易に押圧矯正できる効果が得られ、この結
果、プローブピンと電極ランドとの接触ミスや、位置ず
れを生じて試験ミスが解消可能となり、その効果は大で
ある。
状態をデッドスペース９部のある任意の位置で矯正バー
２により容易に押圧矯正できる効果が得られ、この結
果、プローブピンと電極ランドとの接触ミスや、位置ず
れを生じて試験ミスが解消可能となり、その効果は大で
ある。
【図１】本発明の、（Ａ）矯正バーと取り付け金具及び
ボードキャリア状の矯正バーガイドレールとの関係を示
す斜視図と、（Ｂ）前記側断面図と、（Ｃ）前記係合関
係を示す側断面拡大図である。
ボードキャリア状の矯正バーガイドレールとの関係を示
す斜視図と、（Ｂ）前記側断面図と、（Ｃ）前記係合関
係を示す側断面拡大図である。
【図２】本発明のフィクスチャレス・インサーキットテ
スタにおける被検査ボードの上反り矯正機構を示す斜視
図である。
スタにおける被検査ボードの上反り矯正機構を示す斜視
図である。
【図３】従来技術による被検査ボードの反りとプローブ
ピンとの側断面関係を示す図である。
ピンとの側断面関係を示す図である。
【図４】ボードの反り量によるプローブピンとテストパ
ッドであるランドとの位置関係を説明するための断面図
である。
ッドであるランドとの位置関係を説明するための断面図
である。
【図５】被検査ボードのうち多面取りボードを示す平面
図である。
図である。
１ 矯正バーガイドレール ２ 矯正バー ３ 金具 ４ ボードキャリア ５ 被検査ボード ６ プローブピン ７ ランド ９ デッドスペース １０ ボード搬送レール １１ 上反り状態 １２ 下反り状態 １３ 水平位置 １４ ボード支持棒 １５ 搭載部品 １６ 個別回路基板 １７ 上反り量
Claims (3)
- 【請求項１】 ボード搬送レール（１０）上の所定の位
置に被検査ボード（５）を保持するボードキャリア
（４）と、 ボードキャリア（４）上に設けた矯正バーガイドレール
（１）と、 ボードキャリア（４）によって保持されている被検査ボ
ード（５）のデッドスペース（９）部を上方から押さえ
込み、その両端に設けた取り付け金具（３）を矯正バー
ガイドレール（１）に差し込んで所定の位置に固定する
矯正バー（２）と、 以上を具備することを特徴としたフィクスチャレス・イ
ンサーキットテスタにおける被検査ボード矯正機構。 - 【請求項２】 矯正バー（２）を複数個設けた請求項１
記載のフィクスチャレス・インサーキットテスタにおけ
る被検査ボード矯正機構。 - 【請求項３】 部品実装された基板を検査するボード検
査装置において、 被検査ボード（５）の当該ボードの上反り湾曲に対し
て、部品空きエリア上面から押さえ込む矯正バー（２）
と、 該矯正バー（２）の両端部に、矯正バーガイドレール
（１）のレール状溝に引っ掛けて着脱自在に支持固定す
る取り付け金具（３）を形成し、 前記該矯正バー（２）の取り付け金具（３）に対応し
て、任意位置で支持固定可能としたレール溝構造を形成
した矯正バーガイドレール（１）を設けてボードキャリ
ア（４）に固定し、 以上を具備してボード検査時のボード上反りによる電気
接触プローブの安定接触と位置決め精度向上を実現した
ことを特徴としたフィクスチャレス・インサーキットテ
スタにおける被検査ボード矯正機構。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8181127A JPH1010203A (ja) | 1996-06-21 | 1996-06-21 | フィクスチャレス・インサーキットテスタにおける被検査ボード矯正機構 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8181127A JPH1010203A (ja) | 1996-06-21 | 1996-06-21 | フィクスチャレス・インサーキットテスタにおける被検査ボード矯正機構 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH1010203A true JPH1010203A (ja) | 1998-01-16 |
Family
ID=16095347
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP8181127A Withdrawn JPH1010203A (ja) | 1996-06-21 | 1996-06-21 | フィクスチャレス・インサーキットテスタにおける被検査ボード矯正機構 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH1010203A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP1245962A1 (en) * | 2001-03-26 | 2002-10-02 | M.E.I.- Technologies Ltd | Improved connection interface system |
-
1996
- 1996-06-21 JP JP8181127A patent/JPH1010203A/ja not_active Withdrawn
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP1245962A1 (en) * | 2001-03-26 | 2002-10-02 | M.E.I.- Technologies Ltd | Improved connection interface system |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A300 | Application deemed to be withdrawn because no request for examination was validly filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300 Effective date: 20030902 |