JPH10104050A - 電子天びん - Google Patents
電子天びんInfo
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- JPH10104050A JPH10104050A JP25885696A JP25885696A JPH10104050A JP H10104050 A JPH10104050 A JP H10104050A JP 25885696 A JP25885696 A JP 25885696A JP 25885696 A JP25885696 A JP 25885696A JP H10104050 A JPH10104050 A JP H10104050A
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- beams
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- Measurement Of Force In General (AREA)
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Abstract
安定した偏置性能を奏し得る構造を持つ電子天びんを提
供する。 【解決手段】 可動柱13を2本の梁11,12を介し
て支承し、一端部に天びんビーム30の支点バネ31を
固定したフレーム14のその支点バネ31の固定端に、
支点バネ31を挟んで左右対称位置で、かつ、梁11,
12の固定部Fの内側にスリット状の切欠14a,14
bを設け、その各スリット14a,14bによって、支
点バネ31を介してフレーム14に伝達する皿上荷重に
よるフレーム14の歪みの伝播を阻止して梁11,12
の固定部Fの変位を防止することで、大秤量でも小型の
フレーム14の使用をして良好な偏置性能を得る。
Description
更に詳しくは、パラレルガイドを備えた電子天びんに関
する。
側面図(A)および平面図(B)を例示するように、パ
ラレルガイド(ロバーバル機構とも称される)10を介
して試料皿20を支承することにより、試料皿20が水
平を保ったまま上下に変位するように規制し、これによ
って試料皿20に対する試料の偏置に伴う誤差、いわゆ
る偏置誤差(四隅誤差)が生じないように考慮されてい
る。
部となる可撓部Eを備えた互いに平行な上下の梁11お
よび12を介して、可動柱13を固定部たるフレーム1
4に連結した構造を持ち、試料皿20は可動柱13に支
承される。試料皿20に作用する荷重は、可動柱13に
連結されたビーム30を介して電磁力発生装置40のフ
ォースコイル41に伝達される。ビーム30はフレーム
14に取り付けられた支点バネ31によってその回りを
回動自在に支承されており、このビーム30の回動変位
を変位センサ(図示せず)によって検出し、その検出結
果が0となるように、つまりビーム30が常に水平の平
衡状態を維持するように、電磁力発生装置40のフォー
スコイル41に流れる電流が制御され、その平衡状態に
おいてフォースコイル41に流れる電流の大きさから、
試料皿20に作用する荷重の大きさが求められる。
0においては、一般に、上下の梁11と12の平行度が
重要であり、これらの上下の梁11と12が正確に平行
になっている条件下で、はじめて試料皿20上の荷重の
偏置誤差が解消される。すなわち、図4(A)における
寸法HとH′が一致するように厳密に調整しなければ偏
置誤差が生じる。この調整は、特に精密な電子天びんに
おいてはμmオーダー以下の精度が必要となるなど、H
とH′の寸法を測定して両者を一致させることで実行し
得る程度のものではなく、実際の調整作業では、試料皿
20上に載せた荷重を移動させつつ、各位置で計量値が
変化しないように梁11と12の平行度の調整を行って
いる。
するために、従来、図5に例示するように、一端が他部
に比して鉛直方向に撓みやすい可撓部eを介してフレー
ム14に固定され、他端が自由端となった調整用アーム
51を設け、その調整用アーム51の自由端近傍には、
フレーム14にねじ込まれた調整ネジ52の胴部を貫通
させるとともに、調整用アーム51の固定端近傍には上
下いずれかの梁(この例では上方の梁11)の一端を固
着し、調整ネジ52の回動によって生じる上下方向への
変位DをL2 /L1 に縮小して梁11の固定部位Fを微
動させるようにした平行度調整機構5が設けられること
が多い。なお、このような平行度調整機構5は、図4に
例示したように、梁11がフレーム14に対してビーム
30を挟んでその左右両側の2箇所において固着されて
いる場合には、その梁11のフレーム14への2箇所の
固定部位Fのそれぞれに設けられる。また、この例では
調整用アーム51の下端面とフレーム14との間に圧縮
コイルバネ53を挿入して、アーム51を上方に付勢し
ている。
な平行度調整機構5を設けて上下の梁11と12の平行
度の微調整を可能としても、秤量の大きな電子天びんに
あっては、天びんメカニズムをそれに比例させて大きく
し、剛性を高くしなければ偏置誤差が解消されない。
化の要求が次第に高まりつつある状況下で、大秤量の電
子天びんについても、偏置誤差に対する性能、つまり偏
置性能の安定性を含む各種性能を低下させることなく、
小型で安価な構成のものが要求されている。
もので、小型で比較的簡単な構成のもとに、大秤量でし
かも安定した偏置性能を奏し得る構造を持つ電子天びん
の提供を目的としている。
めの構成を、実施の形態を表す図1,図2を参照しつつ
説明すると、本発明の電子天びんは、両端に可撓部Eを
備えた互いに平行な上下の梁11,12を備えてなるパ
ラレルガイド10を介して可動柱13がフレーム14に
連結され、かつ、その可動柱13に試料皿20が支承さ
れ、その可動柱13が、フレーム14の一端部に取り付
けられた支点バネ31により回動自在に支承された天び
んビーム30を介して電磁力発生装置40のフォースコ
イル41に連結されるとともに、パラレルガイド10の
上下の梁11,12は、それぞれフレーム14に対して
ビーム30を挟んでその左右両側の2箇所で固定された
電子天びんにおいて、フレーム14の支点バネ31の取
り付け側の端部に、当該支点バネ31の取り付け部位を
挟んで左右対称の位置で、かつ、各梁11,12の上記
の左右両側の2箇所の固定部位Fよりも内側に、それぞ
れスリット状の切欠14a,14bが形成されているこ
とによって特徴づけられる。
14a,14bとは、フレームの歪みが当該切欠によっ
て実質的にその伝播を阻止されればよく、図3(A)に
断面図を示すようにフレーム14を完全に切り欠く場合
のほか、製造上の都合等に起因して、同図(B),
(C)に断面図を例示するように、切欠14a,14b
を挟んでその両側が互いに若干繋がっていてもよい。
のである。すなわち、大秤量の電子天びんでは天びんメ
カニズムを大きくして剛性を高くしなければ偏置誤差を
解消できない理由は、試料皿に作用する荷重が可動柱〜
天びんビーム〜支点バネを介してフレームに伝達され、
これによってフレームに歪みを生じさせ、そのフレーム
の歪みが、パラレルガイドの上下の梁のフレームへの取
り付け部位を相対的に変位させる原因となって、これら
の梁の平行度を狂わせるためである。このフレームの歪
みは、フレーム剛性を高くすることによって減少させる
ことができるが、そのためには天びんメカニズムを大型
化・高剛性化する必要がある、というのが従来の電子天
びんにおける設計思想である。
14の支点バネ31の取り付け部位を挟んでその両側に
設けられたスリット状の切欠14a,14bは、皿上荷
重によってフレーム14に歪みが生じても、その歪みに
起因して上下の梁11,12のフレーム14への固定部
位Fが相対的に変位することを防止する。
可動柱13〜ビーム30〜支点バネ31を介してフレー
ム14に伝達されてフレーム14を歪ませるが、その歪
みの伝播が、フレーム14の支点バネ31の取り付け側
の端部にその支点バネ31を挟んで左右対称に形成さ
れ、かつ、梁11,12の左右両側のフレーム14への
固定部位Fの内側に位置するスリット状の切欠14a,
14bによって遮断され、上下の梁11,12のフレー
ム14への固定部位Fにまでは到らない。
びんメカニズム部分を、試料皿20を除去した状態で示
す平面図で、図2は同じくその天びんメカニズム部分
を、試料皿20を装着した状態で示す側面図である。
端に可撓部Eを備えた上下の梁11と12によって、可
動柱13をフレーム14に連結した構造を持ち、フレー
ム14はその裏面側に設けられた固定部14cにおいて
天びんベース15に対して固定される。
ム14の一端部に固着された2つの支点バネ31によっ
て支承されているとともに、このビーム30の一端部は
力点バネ32を介して可動柱13に連結されている。力
点バネ32はビーム30の軸線上に位置しており、2つ
の支点バネ31は、ビーム30の軸線を中心としてその
左右両側に対称に設けられている。また、ビーム30の
他端部側には電磁力発生装置40のフォースコイル41
が固着されており、このビーム30の変位は変位センサ
(図示せず)によって検出される。電磁力発生装置40
は、磁気回路42が作る静磁場中にフォースコイル41
を可動に配置したもので、そこに電流が流れることによ
って発生する電磁力によって、試料皿20に作用する荷
重に抗して、ビーム30を平衡状態に維持する。すなわ
ち、変位センサによるビーム30の変位検出結果が0と
なるように、フォースコイル41に流れる電流の大きさ
が制御される。
をしており、それぞれ、フレーム14に対してビーム3
0を挟んでその左右両側の2箇所において固定されてお
り、その各梁11,12のうち、上側の梁11のフレー
ム14への2箇所の固定部Fには、前記した図5に示し
たものと同等の平行度調整機構5、すなわち、一端が可
撓部eを介してフレーム14に固定され、他端が自由端
となった調整用アーム51、その調整用アーム51の自
由端近傍を胴部が貫通した状態でフレーム14にねじ込
まれた調整用ネジ52、および圧縮コイルバネ53から
なる平行度調整機構5が設けられており、梁11のフレ
ーム14への左右2箇所の固定部Fは、それぞれに対応
する調整用アーム51の固定端近傍の上面に設けられて
いる。
1の固定側の端部に、2つの支点バネ31のそれぞれに
近接してビーム30を挟んで左右対称な位置で、かつ、
梁11のフレーム14への左右両側の固定部Fの内側
に、それぞれスリット状の切欠14a,14bが設けら
れている。この各切欠14a,14bは、図3(A)〜
(C)にその切欠14a,14bに直交する方向へのフ
レーム14の要部縦断面図の例を示すように、切欠14
a,14bの形成位置においてフレーム14を完全に分
離する構造(A)のほか、フレーム14が切欠14a,
14bの形成位置においてその両側が適宜箇所において
若干量だけ繋がっていてもよい。
皿20に作用する荷重は、可動柱13〜力点バネ32を
介してビーム30を回動変位させ、その変位が0となる
ようにフォースコイル41に流れる電流の大きさが制御
されて、そのビーム30を平衡させるに要する電流の大
きさから試料皿20に作用する荷重の大きさが求められ
るのであるが、その荷重は、可動柱13〜力点バネ32
〜ビーム30〜2つの支点バネ31を介してフレーム1
4に伝達される。この各支点バネ31の固定部位に伝達
される荷重によりフレーム14は歪むが、その歪みは、
各支点バネ31を挟んでその左右両側に対称に設けられ
た切欠14a,14bによって伝播が阻止される結果、
切欠14a,14bの両外側に位置する左右の平行度調
整機構5並びに梁11の固定部Fには伝わらない。従っ
て梁11の左右の固定部Fは、試料皿20に比較的大き
な荷重が作用しても変位せず、これら両固定部Fは下側
の梁12のフレーム14への固定部をも含めて相対的に
変位することがない。すなわち、上下の梁11,12の
平行度は、試料皿20に作用する荷重によって狂うこと
がなく、大秤量の電子天びんにあっても、試料皿20上
への荷重の負荷位置を順次変更しつつ、各負荷位置にお
ける計量値が一定となるように平行度調整機構5を調整
することにより、容易に偏置誤差を解消することが可能
となる。
ムの支点バネ取り付け側の端部に、支点バネを挟んで左
右対称位置で、かつ、梁のフレームへの2箇所の固定部
の内側に、それぞれスリット状の切欠を設け、その各ス
リットによって、試料皿に作用して支点バネを介してフ
レームに伝達される荷重によるフレームの歪みが梁の固
定部に伝播することを阻止するから、大秤量の電子天び
んにおいて、フレームを含む天びんメカニズムをコンパ
クト化しても、試料皿に作用する荷重によってパラレル
ガイドの平行度が狂うことがなく、公知の平行度調整機
構を用いて容易に偏置誤差を解消させることができる。
その結果、偏置性能が良好で、しかも小型で安価な大秤
量の電子天びんを得ることができる。
を、試料皿20を除去した状態で示す平面図
0を装着した状態で示す側面図
14a,14bが取り得る断面形状の説明図で、(A)
〜(C)はいずれも、切欠14a,14bに直交する方
向に切断して示すフレーム14の要部縦断面図
メカニズムの構成を示す側面図(A)とその平面図
(B)
平行度調整機構の説明図
Claims (1)
- 【請求項1】 両端に可撓部を備えた互いに平行な上下
の梁を備えてなるパラレルガイドを介して可動柱がフレ
ームに連結され、かつ、その可動柱に試料皿が支承さ
れ、その可動柱が、上記フレームの一端部に取り付けら
れた支点バネにより回動自在に支承された天びんビーム
を介して電磁力発生装置のフォースコイルに連結される
とともに、上記パラレルガイドの上下の梁は、それぞれ
フレームに対して上記ビームを挟んでその左右両側の2
箇所で固定された電子天びんにおいて、上記フレームの
支点バネの取り付け側の端部に、当該支点バネの取り付
け部位を挟んで左右対称の位置で、かつ、上記各梁の左
右両側の2箇所の固定部位よりも内側に、それぞれスリ
ット状の切欠が形成されていることを特徴とする電子天
びん。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP25885696A JP3620169B2 (ja) | 1996-09-30 | 1996-09-30 | 電子天びん |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP25885696A JP3620169B2 (ja) | 1996-09-30 | 1996-09-30 | 電子天びん |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH10104050A true JPH10104050A (ja) | 1998-04-24 |
| JP3620169B2 JP3620169B2 (ja) | 2005-02-16 |
Family
ID=17325992
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP25885696A Expired - Fee Related JP3620169B2 (ja) | 1996-09-30 | 1996-09-30 | 電子天びん |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3620169B2 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2007315774A (ja) * | 2006-05-23 | 2007-12-06 | A & D Co Ltd | 質量センサ |
-
1996
- 1996-09-30 JP JP25885696A patent/JP3620169B2/ja not_active Expired - Fee Related
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2007315774A (ja) * | 2006-05-23 | 2007-12-06 | A & D Co Ltd | 質量センサ |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP3620169B2 (ja) | 2005-02-16 |
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