JPH10104215A - 吸光度検出器，クロマトグラフ装置，吸光度検出方法、及びクロマトグラフ分析方法 - Google Patents
吸光度検出器，クロマトグラフ装置，吸光度検出方法、及びクロマトグラフ分析方法Info
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- JPH10104215A JPH10104215A JP8255811A JP25581196A JPH10104215A JP H10104215 A JPH10104215 A JP H10104215A JP 8255811 A JP8255811 A JP 8255811A JP 25581196 A JP25581196 A JP 25581196A JP H10104215 A JPH10104215 A JP H10104215A
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N30/00—Investigating or analysing materials by separation into components using adsorption, absorption or similar phenomena or using ion-exchange, e.g. chromatography or field flow fractionation
- G01N30/02—Column chromatography
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- G01N30/74—Optical detectors
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Abstract
(57)【要約】
【課題】光源変動によるベースラインのドリフトを抑
え、待ち時間の少ない分析開始を行うとともに、分析の
定量精度をあげる。 【解決手段】光源の光強度を変化させ、任意の各光強度
点において測定波長の検出信号と、参照波長の検出信号
を測定、その両波長の対応関係を記憶する。この記憶し
たデータを元に参照波長の検出信号から測定波長の入射
光強度を推定する。 【効果】これにより、光源の光強度が変動しても、それ
による吸光度への影響を抑えることができる。
え、待ち時間の少ない分析開始を行うとともに、分析の
定量精度をあげる。 【解決手段】光源の光強度を変化させ、任意の各光強度
点において測定波長の検出信号と、参照波長の検出信号
を測定、その両波長の対応関係を記憶する。この記憶し
たデータを元に参照波長の検出信号から測定波長の入射
光強度を推定する。 【効果】これにより、光源の光強度が変動しても、それ
による吸光度への影響を抑えることができる。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は吸光度検出器，クロ
マトグラフ装置，吸光度検出方法、及びクロマトグラフ
分析方法に関する。
マトグラフ装置，吸光度検出方法、及びクロマトグラフ
分析方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】液体クロマトグラフ装置の検出器等とし
て吸光度検出器が多く用いられている。この吸光度検出
器は、試料が特定波長の光を吸収する現象を利用したも
のであり、特定波長（以下サンプル測定波長と称す）に
おける吸収された光量を検出することにより、試料特性
を検出するものである。すなわち、入射した光量と通過
した光量を比較することにより試料量等を検出するもの
である。このような技術は、例えば、特開平3−226632
号公報に記載されている。
て吸光度検出器が多く用いられている。この吸光度検出
器は、試料が特定波長の光を吸収する現象を利用したも
のであり、特定波長（以下サンプル測定波長と称す）に
おける吸収された光量を検出することにより、試料特性
を検出するものである。すなわち、入射した光量と通過
した光量を比較することにより試料量等を検出するもの
である。このような技術は、例えば、特開平3−226632
号公報に記載されている。
【０００３】このような技術において、光源から発され
る光量が試料に入射される光量と一致しないことが知ら
れている。この理由は、光が試料を通過するとき、及
び、光が光学系の各要素を通過するときに、屈折率等の
変化の影響を受けるからである。そのために、試料に吸
収されにくい波長の光（以下参照波長と称す）を用い、
この波長の検出値と検出波長の検出値を比較して吸収度
を検出するようにしている。
る光量が試料に入射される光量と一致しないことが知ら
れている。この理由は、光が試料を通過するとき、及
び、光が光学系の各要素を通過するときに、屈折率等の
変化の影響を受けるからである。そのために、試料に吸
収されにくい波長の光（以下参照波長と称す）を用い、
この波長の検出値と検出波長の検出値を比較して吸収度
を検出するようにしている。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、光源と
光量が安定しないと、吸光度が正確に測定できないとい
う問題が発見された。一般に、光源強度は安定するのに
時間がかかる。また、安定後も細かな変動は避け得られ
ない。例えば、液体クロマトグラフ装置では数分間から
長いときには数時間にわたり連続測定するのであり、光
源の光量のふらつきによる影響は大きい。
光量が安定しないと、吸光度が正確に測定できないとい
う問題が発見された。一般に、光源強度は安定するのに
時間がかかる。また、安定後も細かな変動は避け得られ
ない。例えば、液体クロマトグラフ装置では数分間から
長いときには数時間にわたり連続測定するのであり、光
源の光量のふらつきによる影響は大きい。
【０００５】本発明の目的は、光源の光量変化が生じて
も、検出精度が維持可能な吸光度検出器，クロマトグラ
フ装置，吸光度検出方法、及びクロクトグラフ検出方法
を提供することにある。
も、検出精度が維持可能な吸光度検出器，クロマトグラ
フ装置，吸光度検出方法、及びクロクトグラフ検出方法
を提供することにある。
【０００６】
【課題を解決するための手段】具体的な手段を説明する
前に、まず、発明者の意図を説明する。発明者は光源の
光量が変化すると放射スペクトルが変化し、これが検出
精度に影響を与えることを見い出した。すなわち、光源
温度が変化し、波長間の強度変動率が異なってくるので
ある。もう少し詳細に説明すると、光源の光量が変化し
たときに、サンプル測定波長の強度変化は参照波長の強
度変化と必ずしも一致しない。この波長間の光強度変動
率の差によって、いわゆるベースラインドリフトが発生
し、吸光度が正確に検出できなくなるのである。
前に、まず、発明者の意図を説明する。発明者は光源の
光量が変化すると放射スペクトルが変化し、これが検出
精度に影響を与えることを見い出した。すなわち、光源
温度が変化し、波長間の強度変動率が異なってくるので
ある。もう少し詳細に説明すると、光源の光量が変化し
たときに、サンプル測定波長の強度変化は参照波長の強
度変化と必ずしも一致しない。この波長間の光強度変動
率の差によって、いわゆるベースラインドリフトが発生
し、吸光度が正確に検出できなくなるのである。
【０００７】次に具体的な手段について、本発明は、少
なくとも第１の波長（サンプル測定波長）及び第２の波
長（参照波長）を含んだ光を発する光源から試料に光を
照射し、この光源の光量変動に伴って生じるスペクトル
分布変動を補正する補正値を求め、補正値、第１の波長
における検出値及び第２の波長における検出値に基づい
て試料の吸光度を求めるように構成した。
なくとも第１の波長（サンプル測定波長）及び第２の波
長（参照波長）を含んだ光を発する光源から試料に光を
照射し、この光源の光量変動に伴って生じるスペクトル
分布変動を補正する補正値を求め、補正値、第１の波長
における検出値及び第２の波長における検出値に基づい
て試料の吸光度を求めるように構成した。
【０００８】このように構成することによって、光源の
光量変動によって、測定波長と参照波長との間の強度変
動率が異なったとしても、補正値により補正が可能とな
り、正確に吸光度の検出ができる。
光量変動によって、測定波長と参照波長との間の強度変
動率が異なったとしても、補正値により補正が可能とな
り、正確に吸光度の検出ができる。
【０００９】
【発明の実施の形態】本発明の実施例を図を用いて説明
する。図２はクロマトグラフ装置（アミノ酸分析計）の
全体構成図である。緩衝液１〜４又はカラム再生液５の
いずれか１つが電磁弁シリーズ６によって選択される。
選択された緩衝液１〜４（又は再生液５）は緩衝液ポン
プ７で加圧され、さらに、アンモニアフィルタカラム８
を介してオートサンプラ９に供給される。オートサンプ
ラ８によりアミノ酸試料が混合されると、この混合液は
分離カラム１０で分離される。一方、ニンヒドリン試薬
１１とニンヒドリン用緩衝液１７が混合し、ニンヒドリ
ンポンプ１２によって加圧され、ミキサ１３に供給され
る。ここで、分離された試料とニンヒドリン試薬１１が
混合され、反応コイル１４で反応が促進され、発色す
る。発色したアミノ酸は光度計１５内のフローセル１８
に供給される。そこでは、光源１９の光が発色したアミ
ノ酸を通過し、通過した光がデータ処理装置１６により
検出及び処理され、クロマトグラムとして出力（表示）
されると共に、記録，保存される。
する。図２はクロマトグラフ装置（アミノ酸分析計）の
全体構成図である。緩衝液１〜４又はカラム再生液５の
いずれか１つが電磁弁シリーズ６によって選択される。
選択された緩衝液１〜４（又は再生液５）は緩衝液ポン
プ７で加圧され、さらに、アンモニアフィルタカラム８
を介してオートサンプラ９に供給される。オートサンプ
ラ８によりアミノ酸試料が混合されると、この混合液は
分離カラム１０で分離される。一方、ニンヒドリン試薬
１１とニンヒドリン用緩衝液１７が混合し、ニンヒドリ
ンポンプ１２によって加圧され、ミキサ１３に供給され
る。ここで、分離された試料とニンヒドリン試薬１１が
混合され、反応コイル１４で反応が促進され、発色す
る。発色したアミノ酸は光度計１５内のフローセル１８
に供給される。そこでは、光源１９の光が発色したアミ
ノ酸を通過し、通過した光がデータ処理装置１６により
検出及び処理され、クロマトグラムとして出力（表示）
されると共に、記録，保存される。
【００１０】次に、光度計１５の詳細を図５を用いて説
明する。光源１９より射出された白色光がフローセル１
８に入射する。入射した白色光はフローセル１８内に流
れる発色したアミノ酸により波長５７０ｎｍ付近の光が
吸収を受け、減光する。吸収を受け減光した白色光はグ
レーティング２０により波長ごとの光に分光され、検知
素子２１，２２によりサンプル測定波長（サンプル吸収
の影響を受ける波長。本例では５７０ｎｍ）の光強度Ｉ
t （５７０ｎｍ）と参照波長（サンプル吸収の影響を受
けない波長。本例では７００ｎｍ）の光強度Ｉi （７０
０ｎｍ）を検出する。サンプル測定波長及び参照波長の
検出信号をコンピュータ２３へ送り、吸光度を出力す
る。なお、サンプル波長５７０ｎｍを４４０ｎｍに代え
ても同様に吸光度が求められる。
明する。光源１９より射出された白色光がフローセル１
８に入射する。入射した白色光はフローセル１８内に流
れる発色したアミノ酸により波長５７０ｎｍ付近の光が
吸収を受け、減光する。吸収を受け減光した白色光はグ
レーティング２０により波長ごとの光に分光され、検知
素子２１，２２によりサンプル測定波長（サンプル吸収
の影響を受ける波長。本例では５７０ｎｍ）の光強度Ｉ
t （５７０ｎｍ）と参照波長（サンプル吸収の影響を受
けない波長。本例では７００ｎｍ）の光強度Ｉi （７０
０ｎｍ）を検出する。サンプル測定波長及び参照波長の
検出信号をコンピュータ２３へ送り、吸光度を出力す
る。なお、サンプル波長５７０ｎｍを４４０ｎｍに代え
ても同様に吸光度が求められる。
【００１１】具体的に、７００ｎｍの透過光強度Ｉ
t （７００ｎｍ）に基づいて、次のように吸光度Ａ（５
７０ｎｍ）を求める。このことを、図１を用いて説明す
る。Ｉt（７００ｎｍ）からＩi （５７０ｎｍ）へ任意
の関数により変換し、吸光度を求める。つまり Ｉi（５７０ｎｍ）＝ｆ｛Ｉt（７００ｎｍ）｝ …式１ という変換を実施し、 Ａ（５７０ｎｍ）＝−log10[{Ｉt(５７０ｎｍ)／ｆ{Ｉt(７００ｎｍ)}] …式２ を用いて計算する。
t （７００ｎｍ）に基づいて、次のように吸光度Ａ（５
７０ｎｍ）を求める。このことを、図１を用いて説明す
る。Ｉt（７００ｎｍ）からＩi （５７０ｎｍ）へ任意
の関数により変換し、吸光度を求める。つまり Ｉi（５７０ｎｍ）＝ｆ｛Ｉt（７００ｎｍ）｝ …式１ という変換を実施し、 Ａ（５７０ｎｍ）＝−log10[{Ｉt(５７０ｎｍ)／ｆ{Ｉt(７００ｎｍ)}] …式２ を用いて計算する。
【００１２】ｆ（ｘ）のプロファイルは次のようなもの
が選択できる。
が選択できる。
【００１３】 直線の式 ｆ（ｘ）＝ａｘ＋ｂ …式３ ｂ≠０の時に原点を通らない直線的な変換ができる。
【００１４】 ２次式 ｆ（ｘ）＝ａｘ2＋ｂｘ＋ｃ …式４ 曲線時は振舞いを精度よく実現できる。
【００１５】 高式多項式（３次以上） ｆ（ｘ）＝ａｘn＋ｂｘn-1＋ｃｘn-2…＋… …式５ より細かな振舞いを実現できる。
【００１６】ここで、本実施例の理解が容易になるよう
に、吸光度検出の基本概念を説明する。すなわち、ま
ず、単波長（サンプル測定波長）による吸光度検出を説
明する。
に、吸光度検出の基本概念を説明する。すなわち、ま
ず、単波長（サンプル測定波長）による吸光度検出を説
明する。
【００１７】サンプル測定波長５７０ｎｍの吸光度Ａ
（５７０ｎｍ）は以下の式６である。 Ａ(５７０ｎｍ)＝−log10{Ｉt(５７０ｎｍ）／Ｉi(５７０ｎｍ）} …式６ ここでＩt（５７０ｎｍ）は透過光強度、Ｉi（５７０ｎ
ｍ）は入射光強度である。本来Ｉt（５７０ｎｍ）とＩi
（５７０ｎｍ）は同じ波長を用いる。
（５７０ｎｍ）は以下の式６である。 Ａ(５７０ｎｍ)＝−log10{Ｉt(５７０ｎｍ）／Ｉi(５７０ｎｍ）} …式６ ここでＩt（５７０ｎｍ）は透過光強度、Ｉi（５７０ｎ
ｍ）は入射光強度である。本来Ｉt（５７０ｎｍ）とＩi
（５７０ｎｍ）は同じ波長を用いる。
【００１８】次に、本実施例について、２波長（サンプ
ル測定波長５７０ｎｍ及び参照波長７００ｎｍ）による
吸光度検出を説明する。
ル測定波長５７０ｎｍ及び参照波長７００ｎｍ）による
吸光度検出を説明する。
【００１９】図４に波長に対する吸収特性を示す。図４
に示されるように、波長５７０ｎｍでは試料による吸収
がなされるが、一方、波長７００ｎｍでは試料による吸
収がほとんどない。すなわち、７００ｎｍはほとんど試
料により吸収されない波長であり、屈折率の影響のみ５
７０ｎｍとほぼ同様に受けている。また、スリットやマ
スクなどでカットされる光の像の大きさ及びレンズやグ
レーティングなどを透過してきた光の経路は５７０ｎｍ
と７００ｎｍはほぼ同一である。このため、単純に７０
０ｎｍの透過光が５７０ｎｍの入射光と比例すると仮定
できる。
に示されるように、波長５７０ｎｍでは試料による吸収
がなされるが、一方、波長７００ｎｍでは試料による吸
収がほとんどない。すなわち、７００ｎｍはほとんど試
料により吸収されない波長であり、屈折率の影響のみ５
７０ｎｍとほぼ同様に受けている。また、スリットやマ
スクなどでカットされる光の像の大きさ及びレンズやグ
レーティングなどを透過してきた光の経路は５７０ｎｍ
と７００ｎｍはほぼ同一である。このため、単純に７０
０ｎｍの透過光が５７０ｎｍの入射光と比例すると仮定
できる。
【００２０】このようにＩi（５７０ｎｍ）をＩt（７０
０ｎｍ）から変換して求めた理由を説明する。本来Ｉt
（５７０ｎｍ）とＩi（５７０ｎｍ）は同じ波長の強度
を用いるべきである。しかし実際は、検出器フローセル
内では、吸光度変化だけではなく屈折率の変化も起こる
場合があり、また、真にフローセルに入射する光の強度
を、フローセルに入射する以前に測定することは困難で
ある。この２つの理由から、フローセル透過光の波長と
異なる参照光の強度（本例では７００ｎｍ）を入射光強
度に代用する。
０ｎｍ）から変換して求めた理由を説明する。本来Ｉt
（５７０ｎｍ）とＩi（５７０ｎｍ）は同じ波長の強度
を用いるべきである。しかし実際は、検出器フローセル
内では、吸光度変化だけではなく屈折率の変化も起こる
場合があり、また、真にフローセルに入射する光の強度
を、フローセルに入射する以前に測定することは困難で
ある。この２つの理由から、フローセル透過光の波長と
異なる参照光の強度（本例では７００ｎｍ）を入射光強
度に代用する。
【００２１】一方、図５に示すように、相対値Ｅλは波
長に対して変化するものである。具体的に、波長５７０
ｎｍ及び波長７００ｎｍについて検出した例を図６に示
す。すなわち、光源強度変動による参照波長の強度変動
率と測定波長の強度変動率が比例関係でなく、そのため
光源光強度が変動した場合、フローセル内のサンプル吸
収が変化しなくても光源変動に対する波長間の変動率の
差により、吸光度が変り、ベースラインドリフトを引き
起こす。
長に対して変化するものである。具体的に、波長５７０
ｎｍ及び波長７００ｎｍについて検出した例を図６に示
す。すなわち、光源強度変動による参照波長の強度変動
率と測定波長の強度変動率が比例関係でなく、そのため
光源光強度が変動した場合、フローセル内のサンプル吸
収が変化しなくても光源変動に対する波長間の変動率の
差により、吸光度が変り、ベースラインドリフトを引き
起こす。
【００２２】そのため、図６に示すような光源強度変動
による参照波長の強度変動と測定波長の強度変動の関係
を得て、最小２乗法を用いて式３，式４又は式５に示す
係数を演算するのである。
による参照波長の強度変動と測定波長の強度変動の関係
を得て、最小２乗法を用いて式３，式４又は式５に示す
係数を演算するのである。
【００２３】このような式３，式４又は式５の係数は以
下の〜により演算することができる。
下の〜により演算することができる。
【００２４】 黒体放射のプランク公式 Ｉt（５７０ｎｍ）とＩi（７００ｎｍ）の変動相関は、
黒体放射のプランク公式を用いて、温度を変化パラメー
タとして求めるのが基本的である。
黒体放射のプランク公式を用いて、温度を変化パラメー
タとして求めるのが基本的である。
【００２５】 実測（屈折率無視） モデル以外に実測によっても可能である。実測により求
めるほうが、黒体放射モデルからの修正ができ、実際の
光学系を反映している。例えばよう素等のハロゲンラン
プを用いる場合は、実測値を用いることが望ましい。実
測方法は、フローセルに空気か水か満たし液体を静止さ
せ、屈折率の変化をなくする。次に光源への印加電圧を
変化させ、光源温度を変化させる。
めるほうが、黒体放射モデルからの修正ができ、実際の
光学系を反映している。例えばよう素等のハロゲンラン
プを用いる場合は、実測値を用いることが望ましい。実
測方法は、フローセルに空気か水か満たし液体を静止さ
せ、屈折率の変化をなくする。次に光源への印加電圧を
変化させ、光源温度を変化させる。
【００２６】この結果得られた２波長の透過光を図６の
ようにそれぞれ縦軸横軸にプロットする。この散布図
（図６）から１次式，２次式または高次式へ回帰し、変
換関数を得る。具体的には、コンピュータ２３内の各プ
ロットを記憶し、コンピュータ２３内のＣＰＵで演算処
理することによって式３〜５の各係数を求める。
ようにそれぞれ縦軸横軸にプロットする。この散布図
（図６）から１次式，２次式または高次式へ回帰し、変
換関数を得る。具体的には、コンピュータ２３内の各プ
ロットを記憶し、コンピュータ２３内のＣＰＵで演算処
理することによって式３〜５の各係数を求める。
【００２７】 実測（屈折率考慮） Ｉt（５７０ｎｍ）及びＩi（７００ｎｍ）実測法ではフ
ローセル内の空気または水を静止させているため屈折率
の変化は起こっていない。式３，４，５を屈折率の影響
を考慮した方法として利用することができる。この場合
は光源の印加電圧は一定のまま（つまりランプ温度一
定）、アミノ酸分析計のポンプ７及びポンプ１２を運転
し、溶離液と反応液をフローセル内に流す。この状態は
サンプルを注入していないため、ベースラインを測定し
ていることに対応する。ここでＩt（５７０ｎｍ）とＩ
t （７００ｎｍ）の関係のプロットを測定すると、液の
吸光度および屈折率の変化を反越したプロットになって
いる。実際はＩt （７００ｎｍ）の関係のプロットを測
定すると、液の吸光度および屈折率の変化を反映したプ
ロットになっている。実際はＩt（５７０ｎｍ）の吸光
度変化はＩt（７００ｎｍ）変化には反映されず主に屈
折率の変化が散布図のフィッティングカーブとして描か
れる。このフィッティングカーブを関数ｆ（ｘ）として
利用できる。
ローセル内の空気または水を静止させているため屈折率
の変化は起こっていない。式３，４，５を屈折率の影響
を考慮した方法として利用することができる。この場合
は光源の印加電圧は一定のまま（つまりランプ温度一
定）、アミノ酸分析計のポンプ７及びポンプ１２を運転
し、溶離液と反応液をフローセル内に流す。この状態は
サンプルを注入していないため、ベースラインを測定し
ていることに対応する。ここでＩt（５７０ｎｍ）とＩ
t （７００ｎｍ）の関係のプロットを測定すると、液の
吸光度および屈折率の変化を反越したプロットになって
いる。実際はＩt （７００ｎｍ）の関係のプロットを測
定すると、液の吸光度および屈折率の変化を反映したプ
ロットになっている。実際はＩt（５７０ｎｍ）の吸光
度変化はＩt（７００ｎｍ）変化には反映されず主に屈
折率の変化が散布図のフィッティングカーブとして描か
れる。このフィッティングカーブを関数ｆ（ｘ）として
利用できる。
【００２８】また、実際にはポンプで送る反応液中のニ
ンヒドリン成分を除去しニンヒドリン用緩衝液１７だけ
を流し吸光度変化をなくし屈折率変化だけを測定するこ
とも可能である。
ンヒドリン成分を除去しニンヒドリン用緩衝液１７だけ
を流し吸光度変化をなくし屈折率変化だけを測定するこ
とも可能である。
【００２９】次に、他の実測例として図８のように、デ
ータ処理装置１６のコンピュータ画面２４に従っての動
作を説明する。ユーザは本装置の搭載機能を用いて、画
面２４に従い、ノイズ・ドリフトサプレス機能を動作す
ることができる。まず、シュミレーションのタイプを選
択しＯＫする。これに従ってコンピュータ２３が次の
〜のように動作する。
ータ処理装置１６のコンピュータ画面２４に従っての動
作を説明する。ユーザは本装置の搭載機能を用いて、画
面２４に従い、ノイズ・ドリフトサプレス機能を動作す
ることができる。まず、シュミレーションのタイプを選
択しＯＫする。これに従ってコンピュータ２３が次の
〜のように動作する。
【００３０】 光源電圧変動を選択した場合 光度計１５フローセル１８内にポンプ７により第１緩衝
液１のみを送り、満たす。次に光源１９の印加電圧を１
１Ｖから１３Ｖまで自動的に１分間で変化させる。その
時の参照波長強度とサンプル波長強解の散布図（図６）
を作成し、２次式（式４）に回帰して回帰係数を求め
る。ここで動作を終了する。
液１のみを送り、満たす。次に光源１９の印加電圧を１
１Ｖから１３Ｖまで自動的に１分間で変化させる。その
時の参照波長強度とサンプル波長強解の散布図（図６）
を作成し、２次式（式４）に回帰して回帰係数を求め
る。ここで動作を終了する。
【００３１】以降、この係数を持つ変換関数を用いて、
図１のように吸光度を出力する。
図１のように吸光度を出力する。
【００３２】２次式（式４）は１次式（式３）または原
点通過する１次式（比例式）に変更することができる。
点通過する１次式（比例式）に変更することができる。
【００３３】 屈折率変動を選択した場合 光源電圧を一定に保ち、ポンプ７により緩衝液１を、ポ
ンプ１２によりニンヒドリン試用緩衝液１７を流す。こ
の時の流量は、最新の設定された分析条件の値を用い
る。変更する場合はいったん分析条件を変更してから本
機能を動作させる。以下光源電圧変動と同様に散布図を
作成し、回帰係数を求め動作を終了する。 吸光度変動を選択した場合 光源電圧を一定に保ち、ポンプ７により緩衝液１を、ポ
ンプ１２によりニンヒドリン試薬１１およびニンヒドリ
ン用緩衝液１７を流す。この時の流量は、最新の設定さ
れた分析条件の値を用いる。変更する場合はいったん分
析条件を変更してから本機能を動作させる。以下光源電
圧変動と同様に散布図を作成し、回帰係数を求め動作を
終了する。また、屈折率変動を実際の分析条件により近
づけるためには、ニンヒドリン試薬１１の代わりに吸収
のない水か緩衝液を流すこともできる。
ンプ１２によりニンヒドリン試用緩衝液１７を流す。こ
の時の流量は、最新の設定された分析条件の値を用い
る。変更する場合はいったん分析条件を変更してから本
機能を動作させる。以下光源電圧変動と同様に散布図を
作成し、回帰係数を求め動作を終了する。 吸光度変動を選択した場合 光源電圧を一定に保ち、ポンプ７により緩衝液１を、ポ
ンプ１２によりニンヒドリン試薬１１およびニンヒドリ
ン用緩衝液１７を流す。この時の流量は、最新の設定さ
れた分析条件の値を用いる。変更する場合はいったん分
析条件を変更してから本機能を動作させる。以下光源電
圧変動と同様に散布図を作成し、回帰係数を求め動作を
終了する。また、屈折率変動を実際の分析条件により近
づけるためには、ニンヒドリン試薬１１の代わりに吸収
のない水か緩衝液を流すこともできる。
【００３４】本実施例では、次のような効果が得られ
る。
る。
【００３５】(1）光源の光強度の変動による吸光度の変
動を抑えられ、長時間安定した測定が行える。
動を抑えられ、長時間安定した測定が行える。
【００３６】(2）光源点灯時から、必要なレベルに安定
化するまでの数時間、ウォームアップを要していたもの
が、大幅に短縮でき、光源点灯から短時間で分析が開始
できる。
化するまでの数時間、ウォームアップを要していたもの
が、大幅に短縮でき、光源点灯から短時間で分析が開始
できる。
【００３７】(3）検出器において、個々の光源ランプの
光強度の違いによる測定値の変動を抑えることができ
る。
光強度の違いによる測定値の変動を抑えることができ
る。
【００３８】
【発明の効果】以上説明したように本発明によれば、光
源の光量変化が生じても吸光度の検出精度が維持可能と
なる。
源の光量変化が生じても吸光度の検出精度が維持可能と
なる。
【図面の簡単な説明】
【図１】吸光度演算のブロック図である。
【図２】クロマトグラフ装置の全体構成図である。
【図３】検出器の詳細説明図である。
【図４】波長に対する吸収特性を示す図である。
【図５】波長の相対値を示す図である。
【図６】測定波長（５７０ｎｍ）と参照波長（７００ｎ
ｍ）の相関を示す図である。
ｍ）の相関を示す図である。
【図７】屈折率の変化を示す図である。
【図８】コンピュータディスプレイ画面を示す図であ
る。
る。
１…第１緩衝液、２…第２緩衝液、３…第３緩衝液、４
…第４緩衝液、５…カラム再生液、６…電磁弁シリー
ズ、７…緩衝液ポンプ、８…アンモニアフィルタカラ
ム、９…オートサンプラ、１０…分離カラム、１１…ニ
ンヒドリン試薬、１２…ニンヒドリンポンプ、１３…ミ
キサ、１４…反応コイル、１５…光度計、１６…データ
処理装置、１７…ニンヒドリン用緩衝液、１８…フロー
セル、１９…光源、２０…グレーティング、２１…参照
波長強度検知素子、２２…サンプル測定波長強度検知素
子、２３…コンピュータ。
…第４緩衝液、５…カラム再生液、６…電磁弁シリー
ズ、７…緩衝液ポンプ、８…アンモニアフィルタカラ
ム、９…オートサンプラ、１０…分離カラム、１１…ニ
ンヒドリン試薬、１２…ニンヒドリンポンプ、１３…ミ
キサ、１４…反応コイル、１５…光度計、１６…データ
処理装置、１７…ニンヒドリン用緩衝液、１８…フロー
セル、１９…光源、２０…グレーティング、２１…参照
波長強度検知素子、２２…サンプル測定波長強度検知素
子、２３…コンピュータ。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 松井 繁 茨城県ひたちなか市大字市毛882番地 株 式会社日立製作所計測器事業部内
Claims (11)
- 【請求項１】少なくとも第１の波長及び第２の波長を含
んだ光を発する光源と、試料を通過した光源からの光を
検出する検出器と、前記光源の光量変動に伴って生じる
スペクトル分布変動に応じた補正値を出力する補正値出
力手段と、前記補正値、前記第１の波長における検出値
及び前記第２の波長における検出値に基づいて吸光度を
検出する吸光度検出手段を有することを特徴とする吸光
度検出器。 - 【請求項２】請求項１において、前記第１の波長はサン
プル測定波長であり、前記第２の波長は参照波長である
ことを特徴とする吸光度検出器。 - 【請求項３】請求項２において、前記参照波長における
検出値から前記サンプル測定波長における入射光強度を
推定することを特徴とする吸光度検出器。 - 【請求項４】請求項１において、前記補正値は黒体放射
のプランク公式に基づいて求められることを特徴とする
吸光度検出器。 - 【請求項５】請求項１において、前記第１の波長におけ
る検出値及び前記第２の波長における検出値に基づいて
補正値を求めることを特徴とする吸光度検出器。 - 【請求項６】請求項５において、試料を移動して前記第
１の波長及び前記第２の波長における検出を行うことを
特徴とする吸光度検出器。 - 【請求項７】請求項５において、移動流体について前記
第１の波長及び前記第２の波長における検出を行うこと
を特徴とする吸光度検出器。 - 【請求項８】請求項１において、前記分離カラムと前記
検出器の間の流路又は前記分離カラムと前記混合器の間
に反応試薬と反応させる反応部を配置したことを特徴と
する吸光度検出器。 - 【請求項９】試料を移動相と混合する混合器と、前記混
合液を分離してフローセルに供給する分離カラムと、少
なくとも第１の波長及び第２の波長を含んだ光を発する
光源と、前記フローセルを通過した光源からの光を検出
する検出器と、前記光源の光量変動に伴って生じるスペ
クトル分布変動に応じた補正値を出力する補正値出力手
段と、前記補正値、前記第１の波長における検出値及び
前記第２の波長における検出値に基づいて吸光度を検出
する吸光度検出手段を有することを特徴とするクロマト
グラフ装置。 - 【請求項１０】少なくとも第１の波長及び第２の波長を
含んだ光を発する光源からの光を試料に通過させ、前記
第１の波長及び前記第２の波長における前記通過した光
を検出し、前記光源の光量変動に伴って生じるスペクト
ルの分布変動を補正する補正値を求め、この補正値及び
前記第１の波長における検出値及び前記第２の波長にお
ける検出値に基づいて吸光度を求めることを特徴とする
吸光度検出方法。 - 【請求項１１】試料を移動相と混合し、この混合物を分
離カラムで分離し、この分離されたものをフローセルに
供給し、少なくとも第１の波長及び第２の波長を含んだ
光を発する光源からの光を前記フローセルを通過させ、
前記第１の波長及び前記第２の波長における前記通過し
た光を検出し、前記光源の光量変動に伴って生じるスペ
クトルの分布変動を補正する補正値を求め、この補正値
及び前記第１の波長における検出値及び前記第２の波長
における検出値に基づいて吸光度を求めることを特徴と
するクロマトグラフの分析方法。
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| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP25581196A JP3314630B2 (ja) | 1996-09-27 | 1996-09-27 | クロマトグラフ装置，及びクロマトグラフ分析方法 |
| DE69739308T DE69739308D1 (de) | 1996-09-27 | 1997-09-10 | Chromatographievorrichtung und Chromatographieverfahren |
| EP97115769A EP0837326B1 (en) | 1996-09-27 | 1997-09-10 | Chromatographic apparatus and method of chromatography |
| US08/936,242 US5892581A (en) | 1996-09-27 | 1997-09-24 | Absorptivity detecting apparatus, chromatographic apparatus, method of detecting absorptivity and method of chromatography |
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| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP25581196A JP3314630B2 (ja) | 1996-09-27 | 1996-09-27 | クロマトグラフ装置，及びクロマトグラフ分析方法 |
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| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH10104215A true JPH10104215A (ja) | 1998-04-24 |
| JP3314630B2 JP3314630B2 (ja) | 2002-08-12 |
Family
ID=17283960
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP25581196A Expired - Fee Related JP3314630B2 (ja) | 1996-09-27 | 1996-09-27 | クロマトグラフ装置，及びクロマトグラフ分析方法 |
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|---|---|
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| JP (1) | JP3314630B2 (ja) |
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-
1996
- 1996-09-27 JP JP25581196A patent/JP3314630B2/ja not_active Expired - Fee Related
-
1997
- 1997-09-10 DE DE69739308T patent/DE69739308D1/de not_active Expired - Lifetime
- 1997-09-10 EP EP97115769A patent/EP0837326B1/en not_active Expired - Lifetime
- 1997-09-24 US US08/936,242 patent/US5892581A/en not_active Expired - Lifetime
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|---|---|
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| DE69739308D1 (de) | 2009-04-30 |
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| US5892581A (en) | 1999-04-06 |
| EP0837326A1 (en) | 1998-04-22 |
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