JPH10108222A - 画像処理装置の検査方法 - Google Patents
画像処理装置の検査方法Info
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- JPH10108222A JPH10108222A JP8257897A JP25789796A JPH10108222A JP H10108222 A JPH10108222 A JP H10108222A JP 8257897 A JP8257897 A JP 8257897A JP 25789796 A JP25789796 A JP 25789796A JP H10108222 A JPH10108222 A JP H10108222A
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- Japan
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- signal
- memory
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 再現性よく高精度で検査できる画像処理装置
の検査方法を提供する。 【解決手段】 カメラ２の出力画像を制御する水平同期
信号及び垂直同期信号を発生する同期信号発生器１１
と、同期信号に同期した出力画像のビデオ信号をデジタ
ル信号に変換するＡ／Ｄ変換器１２と、出力画像の画像
データを記憶する画像メモリ１３と、アプリケーション
メモリ１４と、画像データを演算処理する中央演算処理
装置１５とを備えた画像処理装置１であって、テストパ
ターンの画像信号を発生するテストパターン信号発生器
３が前記ビデオ信号に同期したパターン画像信号を出力
するようにし、前記パターン画像信号のパターン画像デ
ータを前記画像メモリ１３に記憶せしめ、前記テストパ
ターンの画像を構成する各画素の画素情報を画素情報メ
モリに記憶させ、前記中央演算処理装置１５が前記各画
素データと前記画素情報とを比較照合して検査するよう
にした構成にしてある。
の検査方法を提供する。 【解決手段】 カメラ２の出力画像を制御する水平同期
信号及び垂直同期信号を発生する同期信号発生器１１
と、同期信号に同期した出力画像のビデオ信号をデジタ
ル信号に変換するＡ／Ｄ変換器１２と、出力画像の画像
データを記憶する画像メモリ１３と、アプリケーション
メモリ１４と、画像データを演算処理する中央演算処理
装置１５とを備えた画像処理装置１であって、テストパ
ターンの画像信号を発生するテストパターン信号発生器
３が前記ビデオ信号に同期したパターン画像信号を出力
するようにし、前記パターン画像信号のパターン画像デ
ータを前記画像メモリ１３に記憶せしめ、前記テストパ
ターンの画像を構成する各画素の画素情報を画素情報メ
モリに記憶させ、前記中央演算処理装置１５が前記各画
素データと前記画素情報とを比較照合して検査するよう
にした構成にしてある。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、画像を制御する同
期信号を画像処理装置から出力する外部同期方式でカメ
ラを接続する画像処理装置の検査方法に関するものであ
る。
期信号を画像処理装置から出力する外部同期方式でカメ
ラを接続する画像処理装置の検査方法に関するものであ
る。
【０００２】
【従来の技術】従来、この種の画像処理装置の検査方法
として、次に述べる方法が存在する。カメラを接続して
テストパターンを実際に撮像し、画像メモリの内容をモ
ニタに表示し目視で確認して、アナログのビデオ信号を
デジタル信号に変換するＡ／Ｄ変換器、デジタル信号が
入力されて出力画像の画像データを記憶する画像メモリ
及び画像処理装置のシステム全体を検査していた。
として、次に述べる方法が存在する。カメラを接続して
テストパターンを実際に撮像し、画像メモリの内容をモ
ニタに表示し目視で確認して、アナログのビデオ信号を
デジタル信号に変換するＡ／Ｄ変換器、デジタル信号が
入力されて出力画像の画像データを記憶する画像メモリ
及び画像処理装置のシステム全体を検査していた。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】上記した従来の画像処
理装置の検査方法では、撮像されたテストパターンを記
憶した画像メモリの内容をモニタに表示し目視で確認し
て、画像処理装置を検査することができる。
理装置の検査方法では、撮像されたテストパターンを記
憶した画像メモリの内容をモニタに表示し目視で確認し
て、画像処理装置を検査することができる。
【０００４】しかしながら、同一のテストパターンを撮
像しても、照明系の変動やカメラの感度やレンズの絞り
のばらつき等でもって、カメラから出力される出力画像
が変動する。従って、テストパターンをカメラで実際に
撮像する検査方法は、再現性及び精度に問題があった。
像しても、照明系の変動やカメラの感度やレンズの絞り
のばらつき等でもって、カメラから出力される出力画像
が変動する。従って、テストパターンをカメラで実際に
撮像する検査方法は、再現性及び精度に問題があった。
【０００５】一方、テストパターンの画像信号を発生す
るテストパターン信号発生器があって、ブラウン管等の
検査に使用される。カメラで撮像されたテストパターン
に比べて、そのテストパターン信号発生器から発生する
テストパターンの画像信号は、再現性がよく検査の基準
として適している。しかし、外部から同期信号を与えら
れてその同期信号に合わせて画像信号を発生する外部同
期方式のものは少なく、また、外部同期方式のものは有
っても与える同期信号はビデオ信号であって、水平同期
信号及び垂直同期信号を与えて使用できるものは皆無で
ある。
るテストパターン信号発生器があって、ブラウン管等の
検査に使用される。カメラで撮像されたテストパターン
に比べて、そのテストパターン信号発生器から発生する
テストパターンの画像信号は、再現性がよく検査の基準
として適している。しかし、外部から同期信号を与えら
れてその同期信号に合わせて画像信号を発生する外部同
期方式のものは少なく、また、外部同期方式のものは有
っても与える同期信号はビデオ信号であって、水平同期
信号及び垂直同期信号を与えて使用できるものは皆無で
ある。
【０００６】従って、テストパターン信号発生器を画像
処理装置に接続しても、そこから出力される画像信号
は、画像処理装置が出力する水平同期信号及び垂直同期
信号と同期を取ることができず、テストパターン信号発
生器を検査の基準として使用できない。
処理装置に接続しても、そこから出力される画像信号
は、画像処理装置が出力する水平同期信号及び垂直同期
信号と同期を取ることができず、テストパターン信号発
生器を検査の基準として使用できない。
【０００７】本発明は、上記事由に鑑みてなしたもの
で、その目的とするところは、テストパターン信号発生
器を使用して、画像処理装置を再現性よくかつ高精度で
検査することができる画像処理装置の検査方法を提供す
ることにある。
で、その目的とするところは、テストパターン信号発生
器を使用して、画像処理装置を再現性よくかつ高精度で
検査することができる画像処理装置の検査方法を提供す
ることにある。
【０００８】
【課題を解決するための手段】上記した課題を解決する
ために、請求項１記載の画像処理装置の検査方法は、接
続されるカメラの出力画像を制御する水平同期信号及び
垂直同期信号を発生する同期信号発生器と、同期信号に
同期した出力画像のビデオ信号をデジタル信号に変換す
るＡ／Ｄ変換器と、デジタル信号が入力されて出力画像
の画像データを記憶する画像メモリと、画像の処理手順
が記載されたアプリケーションプログラムを格納したア
プリケーションメモリと、アプリケーションプログラム
に基づいて画像データを演算処理するとともに全体を制
御する中央演算処理装置と、を備えた画像処理装置であ
って、前記カメラと前記Ａ／Ｄ変換器との間に接続され
てテストパターンの画像信号を発生するテストパターン
信号発生器が、前記ビデオ信号に同期したパターン画像
信号を出力するようにし、前記Ａ／Ｄ変換器でデジタル
信号に変換された前記パターン画像信号のパターン画像
データを前記画像メモリに記憶せしめ、前記テストパタ
ーンの画像を構成する各画素の画素情報を画素情報メモ
リに記憶させ、前記中央演算処理装置が、前記パターン
画像データの各画素データと、前記画素情報とを比較照
合して検査するようにした構成にしてある。
ために、請求項１記載の画像処理装置の検査方法は、接
続されるカメラの出力画像を制御する水平同期信号及び
垂直同期信号を発生する同期信号発生器と、同期信号に
同期した出力画像のビデオ信号をデジタル信号に変換す
るＡ／Ｄ変換器と、デジタル信号が入力されて出力画像
の画像データを記憶する画像メモリと、画像の処理手順
が記載されたアプリケーションプログラムを格納したア
プリケーションメモリと、アプリケーションプログラム
に基づいて画像データを演算処理するとともに全体を制
御する中央演算処理装置と、を備えた画像処理装置であ
って、前記カメラと前記Ａ／Ｄ変換器との間に接続され
てテストパターンの画像信号を発生するテストパターン
信号発生器が、前記ビデオ信号に同期したパターン画像
信号を出力するようにし、前記Ａ／Ｄ変換器でデジタル
信号に変換された前記パターン画像信号のパターン画像
データを前記画像メモリに記憶せしめ、前記テストパタ
ーンの画像を構成する各画素の画素情報を画素情報メモ
リに記憶させ、前記中央演算処理装置が、前記パターン
画像データの各画素データと、前記画素情報とを比較照
合して検査するようにした構成にしてある。
【０００９】請求項２記載の画像処理装置の検査方法
は、請求項１記載の検査方法において、前記画素情報メ
モリが前記アプリケーションメモリである構成にしてあ
る。
は、請求項１記載の検査方法において、前記画素情報メ
モリが前記アプリケーションメモリである構成にしてあ
る。
【００１０】
【発明の実施の形態】本発明の一実施形態を図１に基づ
いて以下に説明する。先ず、画像処理装置の構成につい
て説明する。
いて以下に説明する。先ず、画像処理装置の構成につい
て説明する。
【００１１】１は画像処理装置で、同期信号発生器１１
とＡ／Ｄ変換器１２と画像メモリ１３とアプリケーショ
ンメモリ１４と中央演算処理装置１５（ＣＰＵ）と画像
処理用ハードウェア１６と、を備えて構成されている。
とＡ／Ｄ変換器１２と画像メモリ１３とアプリケーショ
ンメモリ１４と中央演算処理装置１５（ＣＰＵ）と画像
処理用ハードウェア１６と、を備えて構成されている。
【００１２】同期信号発生器１１は、水平同期信号（Ｈ
Ｄ）及び垂直同期信号（ＶＤ）の同期信号を発生し、後
述するカメラ２が接続されて、そのカメラ２の出力画像
が同期信号に同期するよう制御する。Ａ／Ｄ変換器１２
は、アナログ信号をデジタル信号に変換し、カメラ２と
接続されて、カメラ２からの出力画像のビデオ信号をデ
ジタル信号に変換する。
Ｄ）及び垂直同期信号（ＶＤ）の同期信号を発生し、後
述するカメラ２が接続されて、そのカメラ２の出力画像
が同期信号に同期するよう制御する。Ａ／Ｄ変換器１２
は、アナログ信号をデジタル信号に変換し、カメラ２と
接続されて、カメラ２からの出力画像のビデオ信号をデ
ジタル信号に変換する。
【００１３】画像メモリ１３は、Ａ／Ｄ変換器１２と接
続され、デジタル信号が入力されて出力画像の画像デー
タを記憶する。アプリケーションメモリ１４は、ＳＲＡ
Ｍにより、画像の処理手順が記載されたアプリケーショ
ンプログラムを格納する。
続され、デジタル信号が入力されて出力画像の画像デー
タを記憶する。アプリケーションメモリ１４は、ＳＲＡ
Ｍにより、画像の処理手順が記載されたアプリケーショ
ンプログラムを格納する。
【００１４】中央演算処理装置１５は、いわゆるＣＰＵ
であり、マイクロコンピュータにより、画像メモリ１３
とアプリケーションメモリ１４とに接続され、アプリケ
ーションプログラムに基づいて画像メモリ１３に記憶さ
れた画像データを演算処理するとともに、全体を制御す
る。
であり、マイクロコンピュータにより、画像メモリ１３
とアプリケーションメモリ１４とに接続され、アプリケ
ーションプログラムに基づいて画像メモリ１３に記憶さ
れた画像データを演算処理するとともに、全体を制御す
る。
【００１５】画像処理用ハードウェア１６は、画像メモ
リ１３と中央演算処理装置１５とに接続されて、画像メ
モリ１３に記憶された画像データを取り込んで画像処理
し、その結果を中央演算処理装置１５に出力する。
リ１３と中央演算処理装置１５とに接続されて、画像メ
モリ１３に記憶された画像データを取り込んで画像処理
し、その結果を中央演算処理装置１５に出力する。
【００１６】カメラ２は、電荷結合素子、いわゆるＣＣ
Ｄを内蔵し、画像処理装置１の同期信号発生器１１と接
続されて画像を出力し、その出力画像が同期信号発生器
１１からの水平同期信号及び垂直同期信号の同期信号に
同期するよう制御されて、同期した出力画像のビデオ信
号が出力される。
Ｄを内蔵し、画像処理装置１の同期信号発生器１１と接
続されて画像を出力し、その出力画像が同期信号発生器
１１からの水平同期信号及び垂直同期信号の同期信号に
同期するよう制御されて、同期した出力画像のビデオ信
号が出力される。
【００１７】画像処理装置１の検査方法について説明す
る。先ず、テストパターンの画像信号を発生するテスト
パターン信号発生器３が、カメラ２とＡ／Ｄ変換器１２
との間に接続されて、カメラ２からのビデオ信号に同期
したパターン画像信号をアナログで出力する。すなわ
ち、ビデオ信号が同期信号発生器１１からの同期信号に
同期しているので、テストパターン信号発生器３３から
出力されるパターン画像信号もまたその同期信号に同期
する。
る。先ず、テストパターンの画像信号を発生するテスト
パターン信号発生器３が、カメラ２とＡ／Ｄ変換器１２
との間に接続されて、カメラ２からのビデオ信号に同期
したパターン画像信号をアナログで出力する。すなわ
ち、ビデオ信号が同期信号発生器１１からの同期信号に
同期しているので、テストパターン信号発生器３３から
出力されるパターン画像信号もまたその同期信号に同期
する。
【００１８】次いで、パターン画像信号がＡ／Ｄ変換器
１２でデジタル信号に変換され、パターン画像信号のパ
ターン画像データが画像メモリ１３に記憶される。ここ
で、パターン画像信号が同期信号に同期しているので、
画像処理装置１は正しいタイミングでテストパターンを
画像メモリ１３に書き込むことが可能になる。
１２でデジタル信号に変換され、パターン画像信号のパ
ターン画像データが画像メモリ１３に記憶される。ここ
で、パターン画像信号が同期信号に同期しているので、
画像処理装置１は正しいタイミングでテストパターンを
画像メモリ１３に書き込むことが可能になる。
【００１９】次いで、テストパターン信号発生器３は検
査すべき内容に応じてテストパターンを設定するパター
ン設定装置３１を内蔵し、設定されたテストパターンの
画像を構成する各画素の画素情報が、パターン設定装置
３１から画素情報メモリに出力されて、画素情報メモリ
がその各画素の画素情報を記憶する。ここで、画素情報
メモリは、画像処理装置１に設けられたアプリケーショ
ンメモリ１４が兼用されて使用される。
査すべき内容に応じてテストパターンを設定するパター
ン設定装置３１を内蔵し、設定されたテストパターンの
画像を構成する各画素の画素情報が、パターン設定装置
３１から画素情報メモリに出力されて、画素情報メモリ
がその各画素の画素情報を記憶する。ここで、画素情報
メモリは、画像処理装置１に設けられたアプリケーショ
ンメモリ１４が兼用されて使用される。
【００２０】次いで、中央演算処理装置１５が画像メモ
リ１３に記憶されたパターン画像データの各画素データ
を画像メモリ１３から取り込んで、その各画素データ
と、アプリケーションメモリ１４に記憶された画素情報
とを比較照合して、Ａ／Ｄ変換器１２、画像メモリ１３
及び画像処理装置１のシステム全体を検査する。
リ１３に記憶されたパターン画像データの各画素データ
を画像メモリ１３から取り込んで、その各画素データ
と、アプリケーションメモリ１４に記憶された画素情報
とを比較照合して、Ａ／Ｄ変換器１２、画像メモリ１３
及び画像処理装置１のシステム全体を検査する。
【００２１】かかる一実施形態の画像処理装置の検査方
法にあっては、上記したように、テストパターン信号発
生器３が、カメラ２を介して同期信号発生器１１と接続
されているので、同期信号発生器１１からの水平同期信
号及び垂直同期信号と同期したパターン画像信号を出力
し、画像メモリ１３が同期したパターン画像信号のパタ
ーン画像データを記憶し、中央演算処理装置１５がパタ
ーン画像データの各画素データと、アプリケーションメ
モリ１４に記憶されたテストパターンの各画素の画素情
報とを比較照合して検査するから、外部同期方式でカメ
ラ２を使用する画像処理装置１にテストパターン信号発
生器３を接続して、撮像されたテストパターンをモニタ
に表示し目視で確認する従来に検査方法に比較して、照
明系の変動、カメラ２の感度及びレンズの絞り等の撮像
条件に起因するテストパターンの出力画像の変動がな
く、再現性よくかつ高精度で画像処理装置１を検査でき
るとともに、自動化を容易に行うことができる。
法にあっては、上記したように、テストパターン信号発
生器３が、カメラ２を介して同期信号発生器１１と接続
されているので、同期信号発生器１１からの水平同期信
号及び垂直同期信号と同期したパターン画像信号を出力
し、画像メモリ１３が同期したパターン画像信号のパタ
ーン画像データを記憶し、中央演算処理装置１５がパタ
ーン画像データの各画素データと、アプリケーションメ
モリ１４に記憶されたテストパターンの各画素の画素情
報とを比較照合して検査するから、外部同期方式でカメ
ラ２を使用する画像処理装置１にテストパターン信号発
生器３を接続して、撮像されたテストパターンをモニタ
に表示し目視で確認する従来に検査方法に比較して、照
明系の変動、カメラ２の感度及びレンズの絞り等の撮像
条件に起因するテストパターンの出力画像の変動がな
く、再現性よくかつ高精度で画像処理装置１を検査でき
るとともに、自動化を容易に行うことができる。
【００２２】また、画素情報メモリがアプリケーション
メモリ１４であるから、アプリケーションメモリ１４が
テストパターンの各画素の画素情報を記憶して、新規に
画素情報メモリを設けることなく画像処理装置１に予め
設けられたメモリを兼用して、安価に検査することがで
きる。
メモリ１４であるから、アプリケーションメモリ１４が
テストパターンの各画素の画素情報を記憶して、新規に
画素情報メモリを設けることなく画像処理装置１に予め
設けられたメモリを兼用して、安価に検査することがで
きる。
【００２３】なお、本実施形態では、中央演算処理装置
１５が直接画像メモリ１３から各画素データを取り込ん
で、その各画素データと、アプリケーションメモリ１４
に記憶された画素情報とを比較照合して検査したが、画
像処理用ハードウェア１６を介して画像メモリ１３から
各画素データを取り込んでもよく、限定されない。
１５が直接画像メモリ１３から各画素データを取り込ん
で、その各画素データと、アプリケーションメモリ１４
に記憶された画素情報とを比較照合して検査したが、画
像処理用ハードウェア１６を介して画像メモリ１３から
各画素データを取り込んでもよく、限定されない。
【００２４】また、本実施形態では、テストパターンの
各画素の画素情報を記憶する画素情報メモリをアプリケ
ーションメモリ１４と兼用したが、画素情報メモリを画
像処理装置１の外部に別に設けてもよく、限定されな
い。
各画素の画素情報を記憶する画素情報メモリをアプリケ
ーションメモリ１４と兼用したが、画素情報メモリを画
像処理装置１の外部に別に設けてもよく、限定されな
い。
【００２５】
【発明の効果】請求項１記載の画像処理装置の検査方法
は、テストパターン信号発生器が、カメラを介して同期
信号発生器と接続されているので、同期信号発生器から
の水平同期信号及び垂直同期信号と同期したパターン画
像信号を出力し、画像メモリが同期したパターン画像信
号のパターン画像データを記憶し、中央演算処理装置が
パターン画像データの各画素データと、画素情報メモリ
に記憶されたテストパターンの各画素の画素情報とを比
較照合して検査するから、外部同期方式でカメラを使用
する画像処理装置にテストパターン信号発生器を接続し
て、撮像されたテストパターンをモニタに表示し目視で
確認する従来に検査方法に比較して、再現性よくかつ高
精度で画像処理装置を検査することができるとともに、
自動化を容易に行うことができる。
は、テストパターン信号発生器が、カメラを介して同期
信号発生器と接続されているので、同期信号発生器から
の水平同期信号及び垂直同期信号と同期したパターン画
像信号を出力し、画像メモリが同期したパターン画像信
号のパターン画像データを記憶し、中央演算処理装置が
パターン画像データの各画素データと、画素情報メモリ
に記憶されたテストパターンの各画素の画素情報とを比
較照合して検査するから、外部同期方式でカメラを使用
する画像処理装置にテストパターン信号発生器を接続し
て、撮像されたテストパターンをモニタに表示し目視で
確認する従来に検査方法に比較して、再現性よくかつ高
精度で画像処理装置を検査することができるとともに、
自動化を容易に行うことができる。
【００２６】請求項２記載の画像処理装置の検査方法
は、請求項１記載の検査方法の効果に加えて、画素情報
メモリがアプリケーションメモリであるから、アプリケ
ーションメモリがテストパターンの各画素の画素情報を
記憶して、新規に画素情報メモリを設けることなく画像
処理装置に予め設けられたメモリを兼用して、安価に検
査することができる。
は、請求項１記載の検査方法の効果に加えて、画素情報
メモリがアプリケーションメモリであるから、アプリケ
ーションメモリがテストパターンの各画素の画素情報を
記憶して、新規に画素情報メモリを設けることなく画像
処理装置に予め設けられたメモリを兼用して、安価に検
査することができる。
【図１】本発明の一実施形態を示す構成図である。
１ 画像処理装置 １１ 同期信号発生器 ＨＤ 水平同期信号 ＶＤ 垂直同期信号 １２ Ａ／Ｄ変換器 １３ 画像メモリ １４ アプリケーションメモリ（画素情報メモリ） １５ 中央演算処理装置（ＣＰＵ） ２ カメラ ３ テストパターン信号発生器
Claims (2)
- 【請求項１】 接続されるカメラの出力画像を制御する
水平同期信号及び垂直同期信号を発生する同期信号発生
器と、同期信号に同期した出力画像のビデオ信号をデジ
タル信号に変換するＡ／Ｄ変換器と、デジタル信号が入
力されて出力画像の画像データを記憶する画像メモリ
と、画像の処理手順が記載されたアプリケーションプロ
グラムを格納したアプリケーションメモリと、アプリケ
ーションプログラムに基づいて画像データを演算処理す
るとともに全体を制御する中央演算処理装置と、を備え
た画像処理装置であって、 前記カメラと前記Ａ／Ｄ変換器との間に接続されてテス
トパターンの画像信号を発生するテストパターン信号発
生器が、前記ビデオ信号に同期したパターン画像信号を
出力するようにし、 前記Ａ／Ｄ変換器でデジタル信号に変換された前記パタ
ーン画像信号のパターン画像データを前記画像メモリに
記憶せしめ、 前記テストパターンの画像を構成する各画素の画素情報
を画素情報メモリに記憶させ、 前記中央演算処理装置が、前記パターン画像データの各
画素データと、前記画素情報とを比較照合して検査する
ようにしたことを特徴とする画像処理装置の検査方法。 - 【請求項２】 前記画素情報メモリが前記アプリケーシ
ョンメモリであることを特徴とする請求項１記載の画像
処理装置の検査方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8257897A JPH10108222A (ja) | 1996-09-30 | 1996-09-30 | 画像処理装置の検査方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8257897A JPH10108222A (ja) | 1996-09-30 | 1996-09-30 | 画像処理装置の検査方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH10108222A true JPH10108222A (ja) | 1998-04-24 |
Family
ID=17312716
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP8257897A Pending JPH10108222A (ja) | 1996-09-30 | 1996-09-30 | 画像処理装置の検査方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH10108222A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2013146744A1 (ja) * | 2012-03-30 | 2013-10-03 | 株式会社デンソー | 撮像装置 |
-
1996
- 1996-09-30 JP JP8257897A patent/JPH10108222A/ja active Pending
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2013146744A1 (ja) * | 2012-03-30 | 2013-10-03 | 株式会社デンソー | 撮像装置 |
| JP2013211756A (ja) * | 2012-03-30 | 2013-10-10 | Denso Corp | 撮像装置 |
| US9241157B2 (en) | 2012-03-30 | 2016-01-19 | Denso Corporation | Imaging apparatus |
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