JPH10116760A - 露光装置及び基板保持装置 - Google Patents
露光装置及び基板保持装置Info
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- JPH10116760A JPH10116760A JP26702396A JP26702396A JPH10116760A JP H10116760 A JPH10116760 A JP H10116760A JP 26702396 A JP26702396 A JP 26702396A JP 26702396 A JP26702396 A JP 26702396A JP H10116760 A JPH10116760 A JP H10116760A
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- G03F7/00—Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
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Abstract
うことのできる露光装置を提供する。 【解決手段】 感光基板15と同程度の厚みと形状を有
し、表面に基板保持面を形成した基板保持用アダプター
18を別部材として用意する。基板ステージのベースス
テージ17上に基板保持用アダプター18を真空吸着
し、その上に感光基板15を真空吸着保持する。基板保
持用アダプター18は基板搬送系によってベースステー
ジ17から取り外して露光装置内を搬送し、露光装置内
の洗浄部もしくは基板収納ボックス内に搬送収納する。
洗浄部で洗浄されて異物が除去された基板保持用アダプ
ター、又は洗浄ののち基板収納ボックスに戻された基板
保持用アダプター18は、再び基板搬送系によってベー
スステージ17上に戻される。
Description
表示装置の製造工程においてマスクに形成されたパター
ンを感光基板に露光するのに用いられる露光装置及び基
板保持装置に関する。
においては、ステッパー等の露光装置を用いてフォトマ
スク又はレチクル(以下、マスクという)に形成された
パターンを半導体ウエハ又はガラスプレート等の感光基
板上に投影露光することが行われる。
面内を2次元的に移動する基板ステージ上に真空吸着保
持される。基板ステージの概略平面図である図14
(a)及びその断面図である図14(b)を用いて、従
来の基板ステージの構造及び基板ステージ上への感光基
板の受け渡しの方法を説明する。リニアガイド101に
沿って矢印E方向に直線移動するスライダー102に
は、2本のフォーク部103a,103bが設けられ、
水平面内で一次元的に感光基板Wを搬送する。フォーク
部103a,103bの上面には感光基板を載置して固
定する吸着孔104a,104bが形成されている。2
次元的に移動する基板ステージSTは予め図14(a)
に示したローディング位置に位置決めされる。フォーク
部103a,103b上の感光基板Wは、基板ステージ
STの上に設けられた基板ホルダーWHの真上の位置ま
で運ばれる。
溝106が環状に複数本形成され、この細い溝106は
感光基板Wの裏面を吸着するために真空源によって減圧
される。さらに、基板ホルダーWHの載置面105の中
央部には、センターアップ部107が上下動可能に設け
られている。フォーク部103a,103bが所定の位
置に来ると、図14(b)に示すようにセンターアップ
部107が載置面105、及びフォーク部103a,1
03bよりも上方に移動し、感光基板Wを受け取る。
基板Wの裏面を真空吸着し、フォーク部103a,10
3bは再び図14(a)の位置まで戻る。そして、最後
にセンターアップ部107を載置面105よりも下方に
移動させ、感光基板Wを基板ホルダーWHの載置面10
5に受け渡し、溝106を減圧して感光基板Wを真空吸
着保持する。これによって、感光基板Wは載置面105
の平面度にならって平坦化矯正される。また、載置面1
05上の感光基板Wを取り出すときは、全く逆のシーケ
ンスが行われる。
のなかに設置され、ボディ構造には露光前に感光基板W
を位置決めするためのアライメントセンサーや、感光基
板の表面を投影光学系の結像面に合わせるための焦点検
出センサーが基板ステージ上部に面して取り付けられて
いる。また、露光装置の内部には、マスク収納ボックス
や基板収納ボックスが配置され、マスク搬送系、基板搬
送系等も配置されている。装置全体はチャンバーの中に
設置されて、温度を厳密に制御されている。
高集積化に伴って感光基板上の露光領域(ショット領
域)に露光されるパターンの微細化が進み、露光装置は
解像度を上げるために開口数の大きな投影光学系を使用
するようになっている。開口数の大きな投影光学系では
焦点深度が浅くなるため、露光領域を正確に投影光学系
の焦点位置(焦点深度内)に位置づけることが望まれて
いる。また、一方では露光装置による露光領域の大面積
が進んでおり、それによって大型の素子の製造を可能に
したり、1回の露光で複数の素子のパターン露光を行っ
て装置のスループットの向上を図ることが行われてい
る。そのため、大型化する露光領域全体をより正確に投
影光学系の焦点位置に位置づけることが望まれている。
光装置の焦点位置に確実に位置づけるためには感光基板
表面の平坦性を確保することが必要である。感光基板の
表面が曲面を描いていれば、露光領域の全体を投影光学
系の焦点面内に位置づけることが困難だからである。
基板ホルダーの基板保持面にゴミ等の異物が付着するこ
とがある。基板ホルダーの基板保持面に異物が付着する
と、その上に感光基板を載置して真空吸着したとき、異
物のために感光基板が変形してフォーカスずれを生じて
しまう。異物の侵入を完全に防ぐことは現状では困難で
あるため、基板ホルダーの基板保持面を定期的に清掃す
る必要がある。現在、この清掃は人手によって行われて
いる。しかし、基板ホルダーは露光装置の中央部に位置
し、前述のように基板ステージの周囲には種々のユニッ
トが配置されていてスペースがないため手が届きにく
く、完全に清掃することが困難であった。また、完全に
清掃するために基板ホルダーを取り外そうとすると、周
囲のユニットを取り外したりする等の大がかりな作業が
必要となり、その間、装置の運転を停止しなければなら
ないため露光装置のスループットが低下してしまうとい
う問題があった。本発明はこのような従来技術の問題点
に鑑みてなされたもので、基板ホルダーの基板保持面の
清掃を容易に行うことのできる露光装置を提供すること
を目的とする。
に本発明では、感光基板と同程度の厚みと形状を有し、
表面に基板保持面を形成した基板保持用アダプターを別
部材として用意する。そして、基板ステージ上に基板保
持用アダプターを保持して真空吸着し、基板保持用アダ
プターの上に感光基板を載置して真空吸着保持するよう
にする。基板保持用アダプターは感光基板と同様の形状
を有し感光基板と同様に取り扱うことができるので、露
光装置に備わっている基板搬送系によって基板ステージ
から取り外して露光装置内を自動搬送することができ
る。基板搬送系は、基板保持用アダプターを露光装置内
に設けられた洗浄部もしくは基板収納ボックス内に搬送
収納する。洗浄部で洗浄されて異物が除去された基板保
持用アダプター、又は基板収納ボックスごと装置外部に
取り出されて洗浄された基板保持用アダプターは、再び
基板搬送系によって自動的に基板ステージ上に戻され
る。
パターンを感光基板上に投影する投影光学系と、感光基
板を載置する基板ステージとを含む露光装置において、
基板ステージは、感光基板を保持する着脱自在な基板保
持用アダプターと、基板保持用アダプターを固定する保
持部とを備えていることを特徴とする。基板ステージの
保持部は、多数の微小突起と排気手段に連通する開口と
を備え、多数の微小突起上に感光基板を載置した状態で
開口から保持部と感光基板の間の空間を排気することに
より感光基板を真空吸着して保持するタイプのもの、あ
るいは多孔質部材と、その多孔質部材と排気手段とを連
通する流路とを有し、多孔質部材上に感光基板を載置し
た状態で多孔質部材内を排気することにより感光基板を
真空吸着して保持するタイプのものとすることができ
る。
のガラスプレート等、種類によって外形が異なるものが
あり、また寸法も種々のものがある。露光装置の基板ス
テージは、これら形状の異なる感光基板を保持する必要
があるため、基板保持用アダプターも感光基板の形状に
応じたものを複数種類用意しておき、露光する感光基板
の形状に合わせたものを使用するのがよい。また、基板
ステージの保持部を複数の領域に分割しておき、排気す
る領域を基板保持用アダプターの形状に応じて選択可能
とするのが好ましい。
下動機構により基板ステージ上で別々に上下動させるこ
とができる。感光基板は、この上下動機構を用いること
により、基板ステージ上の保持部に固定された基板保持
用アダプター上にロードしたり、アンロードしたりする
ことができる。同様に、基板保持用アダプターは、この
上下動機構により、基板ステージの保持部にロードした
り、アンロードしたりすることができる。また、本発明
による基板保持装置は、基板を保持する着脱自在な基板
保持用アダプターと、基板保持用アダプターを固定する
保持部とを備えることを特徴とする。この基板保持装置
は、前記露光装置に装着して用いられる。
感光基板と同じような形状をしているので、清掃時に基
板保持用アダプターの真空吸着保持を解除し、感光基板
を搬送する基板搬送系をそのまま利用して基板保持用ア
ダプターを基板収納ボックスに回収できる。そのまま基
板洗浄装置にかけ、清掃後、元の位置に戻せば、基板搬
送系が自動的に基板保持用アダプターを基板ステージ上
に搬送してくれる。あるいは、基板ステージから取り外
した基板保持用アダプターを露光装置内に設けられた洗
浄部に搬送し、洗浄した後、再び基板搬送系によって基
板ステージ上に戻すこともできる。基板保持部アダプタ
ーを再度基板ステージ上に真空吸着保持すれば、その上
に感光基板を堅固に保持することが可能になる。
ニットを取り外したり、人手を介したりすることなく、
基板ステージの基板保持面を清掃することができる。ま
た、基板保持用アダプターを基板洗浄装置で清掃するこ
とができるので、異物の除去効果も大きく、デバイス製
造の歩留まりも向上する。
施の形態を説明する。図1は、本発明による露光装置の
一例を模式的に示した略図である。露光装置は、露光光
でマスク12を照射する照明系11、所定位置にマスク
11を保持するマスクステージ13、感光基板15を保
持する基板ステージ16、マスク12に形成されたパタ
ーンを感光基板15上に投影するための投影光学系14
等を含む。感光基板15は、ベースステージ17と基板
保持用アダプター18を備える基板ステージ16上に真
空吸着保持されている。基板ステージ16に設けられた
ベースステージ17と基板保持用アダプター18の詳細
については後述する。
1によって投影光学系14の光軸と直交する方向に2次
的に移動可能になっている。また、基板ステージ16に
は移動鏡22が固定されていて、この移動鏡22との間
の距離をレーザ干渉計23で計測することにより、基板
ステージ16の2次元座標位置が検出される。基板ステ
ージ16は剛性の高いボディ構造25のなかに設置さ
れ、ボディ構造25には露光前に感光基板15を位置決
めするためのアライメントセンサー26や、感光基板1
5の表面を投影光学系14の結像面に合わせるための焦
点検出センサー27が基板ステージ上部に面して取り付
けられている。
類のマスクを保管するマスク収納ボックス31、マスク
収納ボックス31から次に使用するマスクを取り出して
マスクステージ13上に搬送したり、マスクステージ1
3上のマスク12をマスク収納ボックス31に戻すため
のマスク搬送系32、複数枚の感光基板を収納した基板
収納ボックス34、基板収納ボックス34から未露光の
感光基板を取り出して基板ステージ16上に載置し、ま
た露光済みの感光基板を基板収納ボックス34の所定位
置に戻すための基板搬送系35、超音波洗浄装置などを
備えた洗浄部36等が配置されている。洗浄部36への
基板等の搬送は基板搬送系35によって行われる。装置
全体はチャンバー10の中に設置されて、厳密な温度制
御がなされている。
り、図は感光基板15が基板ステージ16の上方で基板
搬送系の搬送アーム45によって保持されている状態を
示す。基板ステージ16はXY平面内を2次元方向に移
動可能であり、上部にベースステージ17と基板保持用
アダプター18を備える。感光基板15は、基板保持用
アダプター18の上に載置され、真空吸引保持される。
基板ステージ16はX駆動手段21XによってX方向に
駆動されるとともに、Y駆動手段21YによってY方向
に駆動される。駆動手段21X,21Yは、基板ステー
ジ駆動制御装置41によって制御される。
反射面を有する移動鏡22Xと、Y方向に垂直な反射面
を有する移動鏡22Yとがそれぞれ固設されている。レ
ーザ干渉計23Xは移動鏡22Xにレーザ光を投射し、
その反射鏡を受光して基板ステージ16のX方向の位置
を検出し、レーザ干渉計23Yは移動鏡22Yにレーザ
光を投射し、その反射光を受光して基板ステージのY方
向の位置を検出するように構成されている。レーザ干渉
計23X,23Yによって検出された基板ステージ16
の2次元位置検出信号は主制御系42に供給される。主
制御系42はステージ駆動制御装置41を介してX駆動
装置21X及びY駆動装置21Yを駆動し、基板ステー
ジ16の位置を制御する。
51a,51b,51cが設けられている。基板上下ピ
ン51a,51b,51cは基板保持用アダプター18
に設けられた円形開口62a,62b,62cに遊嵌
し、図示しない伸縮機構により基板保持用アダプター1
8に接触することなく上下動することができる。3本の
基板上下ピン51a,51b,51cの先端にはそれぞ
れ真空吸着用の吸着孔が設けられ、それらの先端は感光
基板15の受け渡し時には搬送アーム45との間で受け
渡しのできる高さまで上昇し、感光基板15を基板保持
用アダプター18の基板保持面に載置する際には、基板
保持面より低い位置まで下降する。このとき基板上下ピ
ン51a,51b,51cの先端を真空吸引することに
より、基板上下ピンの上に保持した感光基板15がずれ
ないようにされる。
持用アダプター18の基板保持面上に受け取るとき、主
制御系42は図示しない伸縮機構を介して基板上下ピン
51a,51b,51cを上方に移動させる。そして、
基板上下ピン51a,51b,51cが搬送アーム45
から感光基板15を受け取ると、搬送アーム45を基板
ステージ16の上方から退避させる。基板上下ピン51
a,51b,51cは感光基板15を受け取ると下方へ
下がり、感光基板15を基板保持用アダプター18の基
板保持面上に載置する。基板ステージ16が基板保持用
アダプター18の基板保持面に感光基板15を受け取る
と、真空吸着によって基板保持面に感光基板15を吸着
して保持する。感光基板15が基板ステージ16上に載
置されると、主制御系42は基板ステージ16を投影光
学系14の下方に移動して、アライメント動作やフォー
カス動作、及び露光動作を行う。
り、図3(a)は全体の斜視図、図3(b)は図3
(a)のA−A断面図、図3(c)は図3(a)のB−
B断面図である。基板保持用アダプター18は感光基板
15と同程度の厚みと形状を有する、例えばセラミック
製の部材からなり、その表面の基板保持面に感光基板を
真空吸着保持するものである。基板保持面には複数の真
空吸着用の溝60が設けられ、さらに3本の基板上下ピ
ン51a,51b,51cを遊嵌する3個の円形開口6
2a,62b,62cが設けられている。真空吸着用の
溝60には各々1箇所又は数箇所の真空吸引孔61が裏
面まで貫通して設けられている。
図である。ベースステージ17の上面、すなわち基板保
持用アダプター18を載置して真空吸着により固定する
保持部は、一面に多数の突起70が設けられ、この多数
の突起70によって基板保持用アダプター18の下面を
多点支持することで、基板保持用アダプター18を平面
性を保った状態で保持する。また、ベースステージ17
には3本の基板上下ピンを通す3箇所の貫通孔72a,
72b,72cと、基板保持用アダプター18の真空吸
引孔61に接続される複数の小孔71が設けられてい
る。基板上下ピンを通す貫通孔72a,72b,72c
の各々は、ベースステージ17の中心に対して例えば3
0°の角度を張るように円周方向に延びた細長い形状を
している。保持部の外周部分74、3箇所の貫通孔72
a,72b,72cの周壁部分73a,73b,73
c、及び複数の小孔71の周囲部分75は、多数の突起
70が設けられたベースステージ17の保持部に基板保
持用アダプター18を真空吸引したとき、それらの箇所
から空気漏れが生じないように気密な壁部で囲まれてい
る。
ージ17上に位置決めされて載置される。すなわち、図
5に示すように、基板保持用アダプター18の3つの開
口62a,62b,62cの位置をベースステージ17
の保持部に設けられた3箇所の貫通孔72a,72b,
72cの位置にそれぞれ一致させ、また、基板保持用ア
ダプター18の基板保持面に設けられた真空吸着用の溝
60に連通する複数の真空吸引孔61を各々ベースステ
ージ17の保持面に設けられた複数の小孔71にそれぞ
れ位置合わせした状態で載置される。
ースステージ17上面の保持部に基板保持用アダプター
18を真空吸着保持し、さらに基板保持用アダプター1
8の基板保持面に感光基板15を真空吸着保持している
状態を模式的に示した断面図である。3本(図には2本
のみ図示)の基板上下ピン51a,51bは下方位置に
ある。ベースステージ17上面の保持部には、一面に設
けられた多数の突起70の上に基板保持用アダプター1
8が平面性を保って多点支持されている。このとき、ベ
ースステージ17の保持部と基板保持用アダプター18
の下面との間に形成される空間は閉じた空間となり、外
部の真空排気ポンプに連通する排気通路76からこの空
間を真空排気することで、基板保持用アダプター18は
ベースステージ17の保持部に真空吸着保持される。ま
た、外部の真空排気ポンプに連通する他の排気通路77
から、ベースプレート17の小孔71及び基板保持用ア
ダプター18の真空吸引孔61を介して基板保持用アダ
プター18の基板保持面の溝60を真空排気すること
で、基板保持用アダプター18の基板保持面に感光基板
15が真空吸着保持される。
保持用アダプター18を支持すると、仮に基板保持用ア
ダプター18の下面や突起70の上に異物が付着してい
たとしても、異物が基板保持用アダプター18の下面と
突起70の頂部の間に挟まって基板保持用アダプター1
8を変形させる可能性が小さくなる。3本の基板上下ピ
ン51a,51b,51cは一体として、ベースプレー
ト18の中心の回りに約30度回動可能になっている。
そして、基板上下ピンの回転方向位置を選択することに
より、基板上下ピン51a,51b,51cと基板搬送
系の搬送アーム45との間に感光基板15の受け渡しを
行ったり、基板保持用アダプター18の受け渡しを行っ
たりすることができる。
図8を用いて、基板保持用アダプター18の着脱方法に
ついて説明する。図7は感光基板15の受け渡しを行う
ように基板上下ピンの位置が設定された基板ステージの
上面図であり、図8は基板保持用アダプターの受け渡し
を行うように基板上下ピンの位置が設定された基板ステ
ージの上面図である。感光基板15の受け渡しを行うと
きは、図7に示したように、3本の基板上下ピン51
a,51b,51cの回転方向位置が円周方向に細長い
貫通孔72a,72b,72cの例えば右端部分に設定
されており、基板上下ピン51a,51b,51cの位
置が基板保持用アダプター18の開口62a,62b,
62cの位置と一致している。この状態では、基板上下
ピン51a,51b,51cは基板ステージ16のベー
スステージ17及び基板保持用アダプター18を貫通し
て上下動することができ、図2に示したように、基板搬
送系の搬送アーム45との間で感光基板15の受け渡し
を行うことができる。
ピン51a,51b,51cが反時計回りに回転して、
基板上下ピンの位置が円周方向に細長い貫通孔72a,
72b,72cの例えば左端部分に設定されている。こ
の状態では、基板上下ピン51a,51b,51cの位
置は基板保持用アダプター18に設けられた開口62
a,62b,62cの位置と一致せず、基板上下ピンを
上昇させたとき先端が基板保持用アダプターの下面と衝
突する。したがって、ベースプレート17と基板保持用
アダプター18との間の真空吸着を解除したうえで基板
上下ピン51a,51b,51cを上昇させると、図9
に示すように、基板上下ピン51a,51b,51c
(図9には51a及び51bのみを図示)によって基板
保持用アダプター18を持ち上げ、基板搬送系の搬送ア
ーム45に受け渡すことができる。
板ステージ16の上方で基板搬送系の搬送アーム45に
よって保持されている状態を示す斜視図である。基板保
持用アダプター18は感光基板と同様の厚さ及び形状を
有するため、露光装置内で感光基板と同様に取り扱うこ
とができ、図10に示すように、基板搬送系のアーム4
5によって搬送することが可能である。基板ステージ1
6のベースステージ17上面の保持部から除去された基
板保持用アダプター18は、基板搬送系35のアーム4
5に載置されて露光装置内の洗浄部36(図1参照)に
搬送され、そこで例えば超音波洗浄などによって付着し
た異物の洗浄除去が行われる。異物除去が終了した基板
保持用アダプター18は、再び基板搬送系35の搬送ア
ーム45によって基板ステージ上に搬送され、図2に示
した感光基板の受け渡しと同様の手順によって基板ステ
ージ16のベースステージ17上に載置され、前述のよ
うに保持部に真空吸着保持される。このように、感光基
板と同様の形状の基板保持アダプター18を用いること
により、人手を介することなく基板保持面を清掃するこ
とができる。
板保持用アダプター18は、露光装置内の洗浄部36に
搬送せず、図1に示した基板収納ボックス34内に回収
することも可能である。その後、露光装置から基板収納
ボックス34を取り出し、その中に納められた基板保持
用アダプターを装置外部に設置された基板洗浄機にかけ
る。基板洗浄機で洗浄して異物が除去された基板保持用
アダプター18を再び基板収納ボックス34に収納し、
その基板収納ボックス34を露光装置の元の位置に設置
すれば、その後は感光基板を基板ステージに搬送するの
と同様の手順で、基板搬送系35により基板保持用アダ
プター18を基板ステージ16のベースステージ17上
面の保持部に搬送することができる。
する斜視図である。この例においては、基板保持用アダ
プターを載置して真空吸着により固定するベースステー
ジ17Aの保持部は、一定の厚さの多孔質セラミックス
80で構成されている。ベースステージ17Aには3本
の基板上下ピン51a,51b,51cを通す3箇所の
貫通孔82a,82b,82cと、基板保持用アダプタ
ー18の真空吸引孔61に接続される複数の小孔81が
設けられている。基板上下ピンを通す貫通孔82a,8
2b,82cは、ベースステージ17Aの中心に対して
例えば30°の角度をなすように各々円周方向に延びた
細長い形状をしている。ベースステージ17Aの保持部
の外周部分84、3箇所の貫通孔82a,82b,82
cの周壁83a,83b,83c、及び複数の小孔81
の周囲部分85は、保持部に基板保持用アダプター18
を真空吸引したときそれらの箇所から空気漏れが生じな
いように、例えば多孔質セラミックスに樹脂を充填して
空気の透過を防止する処理を施したり、あるいは空気を
透過しないように多孔質ではない材料によって構成され
ている。
62a,62b,62cの位置をベースステージ17A
の保持部に設けられた3箇所の貫通孔82a,82b,
82cの位置にそれぞれ一致させ、また、基板保持用ア
ダプター18の基板保持面に設けられた真空吸着用の溝
60に連通する複数の真空吸引孔61を保持部に設けら
れた複数の小孔81にそれぞれ位置合わせした状態でベ
ースステージ17Aの保持部に載置される。
17Aの保持部に基板保持用アダプター18を真空吸着
保持し、さらにその上に感光基板15を真空吸着保持し
ている状態を模式的に示した断面図である。基板上下ピ
ン51a,51bは下方位置にある。ベースステージ1
7A上面の多孔質セラミックス80かならる保持部に
は、基板保持用アダプター18が平面性を保って支持さ
れている。このとき、上部の開放面を基板保持用アダプ
ター18によって塞がれたベースステージ17Aの多孔
質セラミックス80を外部の真空排気ポンプに連通する
排気通路86から真空排気することで、基板保持用アダ
プター18はベースステージ17Aの保持面に真空吸着
保持される。また、外部の真空排気ポンプに連通する他
の排気通路87から、ベースプレート17Aの小孔81
及び基板保持用アダプター18の真空吸引孔61を介し
て基板保持用アダプター18の基板保持面の溝60を真
空排気することで、基板保持用アダプター18の基板保
持面に感光基板15が真空吸着保持される。
の下面やベースステージ17Aの保持面に付着した異物
が保持面と基板保持用アダプター18の下面との間に挟
まって、基板保持用アダプター18を変形させる可能性
が小さくなる。基板保持用アダプター18を清掃する時
の一連の動作は先の例と同じである。ところで露光装置
で扱う感光基板には、円形をしたウエハーや矩形のガラ
スプレート等、種類によって外形が異なるものがある。
その寸法も3インチ、6インチ、8インチ、12インチ
などと種々のものがある。露光装置の基板ステージ16
は、これら形状の異なる感光基板を保持する必要がある
ため、基板保持用アダプター18も感光基板の形状に応
じたものを複数種類用意しておき、露光する感光基板の
形状に合わせたものを使用するのがよい。
交換して使用する場合に好適なベースステージを説明す
る上面図である。図は、基板保持用アダプターとして直
径の異なる2種類の円形のものを使用する場合のベース
ステージを示す。ベースステージ90保持部は気密な境
界壁96によって複数の領域、図の場合は内側領域97
と外側領域98の2つの領域に分割され、この2つの領
域97,98は各々独立して真空排気手段に接続される
ようになっている。基板上下ピンを貫通させる貫通孔9
2a,92b,92cは保持部の内側領域97に設けら
れている。小径の基板保持用アダプター18aを用いる
場合は、保持部の内側領域97のみを使用する。すなわ
ち、基板保持用アダプター18aをその周辺部が境界壁
96の上に乗るようにしてベースステージ90の保持部
に載置し、保持部の内側領域97のみを排気して基板保
持用アダプター18aを真空吸着保持する。
を使用するときは、保持部の内側領域97及び外側領域
18bの2つの領域を同時に排気してベースステージ9
0の保持部の全面に基板保持用アダプター18bを真空
吸着保持する。このようにベースステージ上面の保持部
を複数の領域に分割しておき、排気する領域を基板保持
用アダプターの形状に応じて選択可能とすることで、大
きさの異なる基板保持用アダプターを交換して使用する
ことができる。
基板保持用アダプターもベースステージも円形である場
合について説明した。しかし、本発明は円形の感光基板
に対してだけでなく、矩形等他の形状の感光基板に対し
ても適用することができる。その場合、基板保持用アダ
プターやベースステージの形状は感光基板の形状と相似
形にするのが好都合である。
ニットを取り外したり、人手を介したりすることなく基
板ステージの基板保持面を清掃することができる。ま
た、基板保持用アダプターを基板洗浄装置で清掃するこ
とができるので、異物の除去効果も大きく、半導体製造
の歩留まりを向上させることができる。
略図。
よって保持されている状態を示す基板ステージの周辺の
斜視図。
は全体の斜視図、(b)はA−A断面図、(c)はB−
B断面図。
合わせを説明する図。
ーを真空吸着保持し、その上に感光基板を真空吸着保持
している状態を模式的に示した断面図。
の位置が設定された基板ステージの上面図。
基板法下ピンの位置が設定された基板ステージの上面
図。
持ち上げた状態を示す略断面図。
で搬送アームによって保持されている状態を示す斜視
図。
ターを真空吸着保持し、その上に感光基板を真空吸着保
持している状態を模式的に示した断面図。
する場合に好適なベースステージを説明する上面図。
(b)はその断面図。
14…投影光学系、15…感光基板、16…基板ステー
ジ、17…ベースステージ、18…基板保持用アダプタ
ー、21…駆動手段、22…移動鏡、23…レーザ干渉
計、25…ボディ構造、26…アライメントセンサー、
27…焦点検出センサー、31…マスク収納ボックス、
32…マスク搬送系、34…基板収納ボックス、35…
基板搬送系、36…基板洗浄部、41…ステージ駆動制
御装置、42…主制御系、45…搬送アーム、51a,
51b,51c…基板上下ピン、60…溝、61…真空
吸引孔、62a,62b,62c…円形開口、70…突
起、71…小孔、72a,72b,72c…貫通孔、7
6,77…排気通路、80…多孔質セラミックス、81
…小孔、82a,82b,82c…貫通孔、86,87
…排気通路、90…ベースステージ、92a,92b,
92c…貫通孔、96…境界壁、97…内側領域、98
…外側領域、101…リニアガイド、102…スライダ
ー、103a,103b…フォーク部、105…載置
面、106…溝、107…センターアップ部、ST…基
板ステージ、W…感光基板、WH…基板ホルダー
Claims (7)
- 【請求項1】 マスクに形成されたパターンを感光基板
上に投影する投影光学系と、前記感光基板を載置する基
板ステージとを含む露光装置において、 前記基板ステージは、前記感光基板を保持する着脱自在
な基板保持用アダプターと、前記基板保持用アダプター
を固定する保持部とを備えたことを特徴とする露光装
置。 - 【請求項2】 前記保持部は、多数の微小突起と排気手
段に連通する開口とを備え、前記多数の微小突起上に前
記感光基板を載置した状態で前記開口から前記保持部と
前記感光基板の間の空間を排気することにより前記感光
基板を真空吸着して保持することを特徴とする請求項1
記載の露光装置。 - 【請求項3】 前記保持部は、多孔質部材と、該多孔質
部材と排気手段とを連通する流路とを有し、前記多孔質
部材上に前記感光基板を載置した状態で前記多孔質部材
内を排気することにより前記感光基板を真空吸着して保
持することを特徴とする請求項1記載の露光装置。 - 【請求項4】 前記基板保持用アダプターは、前記感光
基板の形状に応じたものが複数種類用意されていること
を特徴とする請求項1、2又は3記載の露光装置。 - 【請求項5】 前記保持部は複数の領域に分割されてお
り、排気する領域を前記基板保持用アダプターの形状に
応じて選択可能であることを特徴とする請求項2、3又
は4記載の露光装置。 - 【請求項6】 前記感光基板と前記基板保持用アダプタ
ーとを別々に上下動する上下動機構を備えることを特徴
とする請求項1〜5のいずれか1項記載の露光装置。 - 【請求項7】 基板を保持する着脱自在な基板保持用ア
ダプターと、前記基板保持用アダプターを固定する保持
部とを備えることを特徴とする基板保持装置。
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|---|---|---|---|
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