JPH10116869A - ウエハ検査装置 - Google Patents

ウエハ検査装置

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JPH10116869A
JPH10116869A JP8269734A JP26973496A JPH10116869A JP H10116869 A JPH10116869 A JP H10116869A JP 8269734 A JP8269734 A JP 8269734A JP 26973496 A JP26973496 A JP 26973496A JP H10116869 A JPH10116869 A JP H10116869A
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JP
Japan
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wafer
holding arm
wafer holding
inspection
rotating
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Pending
Application number
JP8269734A
Other languages
English (en)
Inventor
Fusao Shimizu
房生 清水
Yasuo Suzuki
康夫 鈴木
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Nikon Corp
Original Assignee
Nikon Corp
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Publication date
Application filed by Nikon Corp filed Critical Nikon Corp
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Publication of JPH10116869A publication Critical patent/JPH10116869A/ja
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Abstract

(57)【要約】 【課題】検査員が各マクロ検査毎に視点を変える必要が
なく、且つウエハ周縁部やウエハ表面を傷つけることが
ないウエハ検査装置を提供する。 【解決手段】表面を上側にして載置されたウエハを保持
するウエハ保持アームと、ウエハの平面上に与えられた
回転軸を中心にウエハ保持アームを回転させる回転手段
と、ウエハ保持アームを上昇させる上昇手段とを備え、
ウエハ保持アームが上昇しながら回転軸を中心に回転す
ることを特徴とするウエハ検査装置が提供される。ま
た、前記回転手段は、前記上昇手段によって上昇され、
前記回転手段の上昇を前記ウエハ保持アームの回転運動
に変換する変換手段を有していてもよい。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、半導体装置の製造
工程などにおいて半導体ウエハの表面と裏面を検査する
ウエハ検査装置に関する。
【0002】
【従来の技術】表面に所定のパターンが形成された半導
体ウエハは、検査員の目視によって、ウエハの表面の色
むらやゴミの付着を検査するマクロ検査と、顕微鏡によ
って表面パターンの形成状態を検査するミクロ検査によ
り検査される。
【0003】また、最近は、ウエハの不良率を下げるた
めに、ウエハ表面の検査だけでなく裏面の検査も重要視
されてきており、そのためのウエハ検査装置として、例
えば特開平6−349908号に記載されている検査装
置などが知られている。この従来の装置は、ウエハの周
縁部を挟み込むウエハ保持腕と、ウエハと前記ウエハ保
持腕全体を煽り上げる揺動腕とから構成される構造であ
り、揺動腕の回転による円弧軌跡中でウエハ保持腕によ
るウエハ周縁部の挟み込み動作や裏面マクロ検査を行
う。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記の
従来技術では、裏面マクロ検査機構がウエハと前記ウエ
ハ保持腕全体を煽り上げる揺動腕構造であるため、裏面
マクロ検査時のウエハ位置と表面マクロ検査時のウエハ
位置とが、検査員に対して異なるため、検査員が各マク
ロ検査毎に視点を変えなければならないという問題点が
あった。
【0005】また、ウエハの周縁部を挟み込むウエハ保
持腕であるため、ウエハ周縁部やウエハ表面を傷つける
という欠点を有していた。
【0006】また、揺動腕の回転による円弧軌跡中でウ
エハ保持腕によるウエハ周縁部の挟み込み動作を行うた
め、ウエハ受け渡し時のウエハとウエハ保持腕( 揺動
腕) の平行度を保つことが困難である。従って、ウエハ
がウエハ保持腕の溝に入り込まない状態でウエハを挟み
込んでしまったり、ウエハを傾けて挟み込もうとしてウ
エハを滑らしてしまったりして、ウエハを傷つける危険
性が高いという問題点があった。
【0007】また、上記の従来技術を実現させるために
は、複数の駆動源を有した複雑な機構を採用しなければ
ならないという問題点があった。
【0008】そこで、本発明は、このような従来の問題
点を解決し、検査員が各マクロ検査毎に視点を変える必
要がなく、且つウエハ周縁部やウエハ表面を傷つけるこ
とがない、構造が簡単で、低コスト、省スペースなウエ
ハ検査装置を提供することを目的とする。
【0009】
【課題を解決するための手段】上記問題点を解決するた
めに、本発明は、表面を上側にして載置されたウエハを
保持するウエハ保持アームと、該ウエハの平面上に与え
られた回転軸を中心に前記ウエハ保持アームを回転させ
る回転手段と、前記ウエハ保持アームを上昇させる上昇
手段とを備え、前記ウエハ保持アームが上昇しながら前
記回転軸を中心に回転することを特徴とするウエハ検査
装置が提供される。
【0010】また、上記ウエハの平面上に与えられた回
転軸は、前記ウエハの直径であってもよく、また、ウエ
ハの弦であってよい。
【0011】さらに、前記回転手段は、前記上昇手段に
よって上昇され、前記回転手段の上昇を前記ウエハ保持
アームの回転運動に変換する変換手段を有していてもよ
い。
【0012】また、前記回転軸は、検査位置の検査員の
前記ウエハ保持アームの方向に向けた視線方向に対して
ほぼ直角に配置されることが好ましい。
【0013】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態につい
て図面に従って説明する。しかしながら、本発明の技術
的範囲がその実施の形態に限定されるものではない。
【0014】図1は、本発明の実施の形態にかかるウエ
ハ検査装置の全体概略構成図である。基台2の左側に複
数の半導体ウエハを収容したウエハキャリア3が上下動
自在に設置され、図示しない取り出し機構により矢印a
の方向に取り出され、ウエハ待機部6上に載置される。
そして、ウエハ1の表面の状態が目視検査されてから、
後述する本発明にかかるウエハ裏面検査機構5によりウ
エハ1の裏面を検査員に露見させ、ウエハ1の裏面の目
視検査が行われる。
【0015】ウエハ1は、再びウエハ待機部6上に戻さ
れ、図示しない移動機構により矢印cに従って顕微鏡9
のステージ7上に載せられる。そして、その光学系8に
よってウエハ1の表面のミクロ検査が行われる。ミクロ
検査が終了すると、矢印c、aに沿ってウエハキャリア
3内にウエハ1が戻される。その後、ウエハキャリア3
が上下動して次のウエハは取り出されて、上記と同様の
マクロ検査とミクロ検査が行われる。
【0016】図2は、上記裏面マクロ検査機構5の上面
図である。また、図3は同正面図、図4は同左側面図、
図5は同右側面図である。図2に示す通り、裏面マクロ
検査機構5は、ウエハ1を保持するウエハ保持アーム2
0を有し、後述するように、ウエハ保持アーム20が上
昇し、ウエハ1と係合するとき、ウエハ1は、ウエハ保
持アーム20に設けられた真空吸着部22によってその
裏面が真空吸着され、ウエハ保持アーム20に保持され
る。本実施の形態においては、ウエハ保持アーム20の
先端部にウエハ待機部6を囲むような形状で、3カ所に
真空吸着部が設けられ、ウエハ保持アーム20内の図示
しない流路を介して図示しない真空ポンプに接続され、
ウエハ1の裏面側を吸着できるようになっている。
【0017】また、ウエハ保持アーム20は、図2にお
ける一点鎖線Aで示されるウエハ1の直径を回転軸とし
て回転する。さらに、この回転軸は、図2における二点
鎖線Bで示されるウエハ1の直径と平行で且つ直径から
わずかにずれた軸であってもよい。これは、回転軸を直
径からわずかにずらすことによって、後述するように、
ウエハ保持アーム20を上昇させ、さらに回転させると
き、ウエハ保持アーム20の上昇距離を短くすることが
でき、また、ウエハ1の裏面が検査員に露出されたとき
のウエハ1の中心の上下のずれを小さくすることができ
るので、検査員の視点の移動が少なくなるという理由に
よるものである。
【0018】図3は、裏面マクロ検査機構5の正面図で
ある。図3によれば、ウエハ保持アーム20は、それを
上下動させる上下動可動部26の上端部に取り付けら
れ、さらに、上下動可動部26の上端部には、ウエハ保
持アーム20と同軸であるウエハ保持アームプーリ24
が取り付けられている。さらに、ウエハ保持アームプー
リ24は、タイミングベルト28を介し、上下動可動部
26の下端部に取り付けられているカムプーリ30と連
動するようになっている。
【0019】上下動可動部26を駆動する駆動部32
は、駆動プーリ44,従動プーリ46及びタイミングベ
ルト38を有し、モータ40の回転力がカップリング5
0を介して駆動プーリ44に伝えられる。そして、駆動
プーリ44の回転に従ってタイミングベルト38が動
く。
【0020】本実施の形態においては、駆動部32には
タイミングベルト38と回転モータ40が使用されてい
るが、上下動可動部26を直線運動させる手段として、
送りネジと回転モータ、ラックピニオンと回転モータ、
空気圧シリンダ、あるいは、リニアモータが用いられて
もよい。
【0021】図4は、裏面マクロ検査機構5の左側面図
である。図4によれば、駆動部32には直動ガイド34
が取り付けられており、上下動可動部26は、連結部4
2によって、直道ガイド34とスライド可能に連結され
ている。さらに、連結部42はタイミングベルト38に
固定されているので、上下動可動部26は、タイミング
ベルト38の移動に伴って、直動ガイド34沿って上下
動する。
【0022】図5は、裏面マクロ検査機構5の右側面図
である。図5によれば、カムプーリ30に偏心して取り
付けられているカムフォロワ52が勘合する溝カム36
を有するカム部37が設けられている。上下動可動部2
6が直動ガイド34に沿って上下方向に移動すると、カ
ムフォロワ52は溝カム36の溝カム形状に沿ってカム
プーリ30を回転させ、その回転運動がタイミングベル
ト28を介してウエハ保持アームプーリ24を回転さ
せ、さらには、ウエハ保持アーム20を回転させること
となる。
【0023】次に、裏面マクロ検査機構5の基本的な動
作について説明する。初期状態では、図5に示すよう
に、裏面マクロ検査機構5のウエハ保持アーム20のウ
エハ吸着部22が、図1に示す表面マクロ検査機構4上
のウエハ待機部6面よりも下に位置するように待機して
いる。
【0024】モータ40の駆動により、上下動可動部2
6が上昇すると、それに取り付けられたウエハ保持アー
ム20もウエハ待機部6面に対して平行を保ったまま上
昇する。そして、図6に示すように、上昇の途中で、ウ
エハ待機部6面からウエハ1を受け取る。続いて、ウエ
ハ保持アーム20の真空吸着部22の平行度が保たれた
所定の位置にて、ウエハ1は真空吸着によってウエハ保
持アーム20に保持される。
【0025】図7に示すように、ウエハ保持アーム20
と上下動可動部26が、直動ガイド34に沿ってさらに
上昇を続けると、溝カム36の形状に倣ってカムフォロ
ワ52が移動即ちカムプーリ30が回転を始める。カム
プーリ30の回転によって、タイミングベルト28を介
して連結されているウエハ保持アーム20のウエハ保持
アームプーリ24が連動回転し、ウエハ保持アームプー
リ24と同軸な回転軸を有するウエハ保持アーム20は
ウエハ1と共に回転する。
【0026】図7は、溝カム36の形状に沿ってカムフ
ォロワ52が移動し、カムプーリ30が時計方向に90
度回転したときの図である。カムプーリ30の回転はタ
イミングベルト28によってウエハ保持アームプーリ2
4に伝えられ、ウエハ保持アームプーリ24及びウエハ
保持アーム20の回転に伴って、それに保持されたウエ
ハ1は図に示すような直立状態に達する。このとき、ウ
エハ保持アーム20の回転軸を、例えば、顕微鏡9の正
面の図示しない検査員のウエハ保持アームの方向に向け
た視線方向に対してほぼ直角にすることにより、検査員
はウエハ1の裏面を正面から目視することができる。
【0027】図8に示すように、カムフォロワ52が図
に示す位置に移動すると、カムプーリ30は180度回
転する。この状態では、ウエハ1は下向きに保持され、
検査員はウエハ1の裏面を真上から見ることができる。
このように、カムフォロワ52の位置を適当に定めるこ
とによりウエハ1の裏面を所望のウエハ回転角度にて、
検査することができる。
【0028】ウエハの回転角度を制御するには、例え
ば、ウエハ1の回転角度と上下動可動部26の上下動位
置とが相関関係をもっているため、上下動可動部26の
上下動位置を制御すれば所望のウエハ回転角度が得られ
る。上下動位置を制御する方法としては、所定の上下移
動量分のパルス数を出力してパルスモータを回転させる
オープンループ制御、ポテンショメータやロータリーエ
ンコーダによってDCモータの回転量を検出することに
よるセミクローズドループ、あるいは、上下動可動部2
6の移動方向に沿って取り付けるリニアエンコーダなど
によって上下動可動部26の位置を検出することによる
クローズドループ制御などがある。
【0029】裏面マクロ検査が終了した後、上下動可動
部26は降下を始める。上下動可動部26の降下に伴っ
て、カムプーリ30は上記と逆の反時計方向に回転し、
図6の状態を経て、上記同様の所定の位置にて、ウエハ
保持アーム20の真空吸着を切り、ウエハ1を自由状態
にする。さらに図5に示すように、降下の途中でウエハ
待機部6上にウエハ1を受け渡し、図5に示す待機位置
まで下がる。
【0030】このように、本発明によるウエハ検査装置
の裏面マクロ検査機構5では、図5の点線Cに示される
ウエハ1が回転する前のウエハ1の中心軸と図8の点線
C’で示されるウエハ1が回転し、裏面が露出されたと
きのウエハ1の中心軸とがほぼ同軸に配置されるので、
ウエハ検査装置全体の省スペースに寄与する。
【0031】上記説明では、ウエハ1の回転角度と上下
動可動部26の上下動位置との相関関係を明確にするた
めに、ウエハの回転角度に対して上下動量を大きくとっ
た。しかし、実用上は、ウエハ回転角度に応じて検査員
の視線を上下させることを避けるために、上下動量に対
するウエハ1の回転角度の比率を大きく取るような溝カ
ム形状やウエハ保持アームプーリとカムプーリの直径比
を選択することが望ましい。即ち、ウエハ1の上昇中は
極力回転させず、所定の位置まで上昇させてからすばや
く回転させることが好ましい。
【0032】
【発明の効果】以上説明した通り、本発明によれば、単
一の回転駆動源によりウエハ保持アームの上昇、ウエハ
の保持、回転を行うことができ、構造が簡単で低コス
ト、省スペースである。
【0033】さらに、ウエハの回転軸をウエハの直径と
し、その回転軸が検査員の視線に対して直角になるよう
に配置されることにより、検査員は、表面マクロ検査時
と裏面マクロ検査時において焦点位置と水平・垂直方向
の視線位置をほとんど動かすことなく作業することが可
能になる。したがって、従来のウエハ検査における検査
員の目の疲労を軽減することが可能になり、検査効率や
不良品検出の正確度の向上が図れる。
【0034】また、ウエハに対して平行に保たれたウエ
ハ保持アームにより持ち上げられて保持されるので、ウ
エハ保持アームがウエハが片当たりしてウエハを滑らせ
るようなことがなく、ウエハを傷つけることなく確実に
保持することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の実施の形態にかかるウエハ検査装置の
全体概略構成図である。
【図2】本発明の実施の形態にかかる裏面マクロ検査機
構の上面図である。
【図3】本発明の実施の形態にかかる裏面マクロ検査機
構の正面図である。
【図4】本発明の実施の形態にかかる裏面マクロ検査機
構の左側面図である。
【図5】本発明の実施の形態にかかる裏面マクロ検査機
構の右側面図である。
【図6】ウエハ保持アーム20が上昇し、ウエハ1を吸
着保持した状態を示す裏面マクロ検査機構の右側面図で
ある。
【図7】ウエハ1が上昇しながら90度回転し、ウエハ
1が直立状態で裏面を検査員に対して露出した状態を示
す裏面マクロ検査機構の右側面図である。
【図8】ウエハ1がさらに回転し、ウエハ1の裏面が上
側を向いて検査員に対して露出された状態を示す裏面マ
クロ検査機構の右側面図である。
【符号の説明】
1 ウエハ 20 ウエハ保持アーム 26 上下動可動部 32 駆動部 36 溝カム 37 カム部

Claims (4)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】ウエハを保持するウエハ保持アームと、 該ウエハの平面上に与えられた回転軸を中心に前記ウエ
    ハ保持アームを回転させる回転手段と、 前記ウエハ保持アームを上昇させる上昇手段とを備え、 前記ウエハ保持アームが上昇しながら前記回転軸を中心
    に回転することを特徴とするウエハ検査装置。
  2. 【請求項2】請求項1において、 前記回転手段は、前記ウエハ保持アームを前記ウエハの
    直径を回転軸として回転させることを特徴とするウエハ
    検査装置。
  3. 【請求項3】請求項1又は2において、 前記回転手段は、前記上昇手段によって上昇され、前記
    回転手段の上昇を前記ウエハ保持アームの回転運動に変
    換する変換手段を有することを特徴とするウエハ検査装
    置。
  4. 【請求項4】請求項1乃至3において、 前記回転軸は、検査位置の検査員の前記ウエハ保持アー
    ムの方向に向けた視線方向に対してほぼ直角に配置され
    ることを特徴とするウエハ検査装置。
JP8269734A 1996-10-11 1996-10-11 ウエハ検査装置 Pending JPH10116869A (ja)

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JP8269734A JPH10116869A (ja) 1996-10-11 1996-10-11 ウエハ検査装置

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JP8269734A JPH10116869A (ja) 1996-10-11 1996-10-11 ウエハ検査装置

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JPH10116869A true JPH10116869A (ja) 1998-05-06

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JP8269734A Pending JPH10116869A (ja) 1996-10-11 1996-10-11 ウエハ検査装置

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