JPH1012517A - 基板熱処理装置 - Google Patents
基板熱処理装置Info
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- JPH1012517A JPH1012517A JP15986096A JP15986096A JPH1012517A JP H1012517 A JPH1012517 A JP H1012517A JP 15986096 A JP15986096 A JP 15986096A JP 15986096 A JP15986096 A JP 15986096A JP H1012517 A JPH1012517 A JP H1012517A
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Landscapes
- Cooling Or The Like Of Semiconductors Or Solid State Devices (AREA)
- Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】 熱処理空間内の気流の乱れによる処理むらや
異物の付着が生じることのない基板熱処理装置を提供す
る。 【解決手段】 上部カバー2には、プレートに載置され
る基板の上方に給排気部7が形成されている。給排気部
7は隔壁6bにより仕切られた櫛歯状の給気通路8aと
排気通路8bとを備える。ガス供給口4から供給された
ガスは櫛歯状の給気通路8aに均等に流れ込み、給気孔
10aを通して基板の表面に向かって均等に供給され
る。また、供給されたガスによって混合された基板上の
気体は排気孔10bから吸い込まれ排気通路8bを通り
排気口5から外部へ排出される。
異物の付着が生じることのない基板熱処理装置を提供す
る。 【解決手段】 上部カバー2には、プレートに載置され
る基板の上方に給排気部7が形成されている。給排気部
7は隔壁6bにより仕切られた櫛歯状の給気通路8aと
排気通路8bとを備える。ガス供給口4から供給された
ガスは櫛歯状の給気通路8aに均等に流れ込み、給気孔
10aを通して基板の表面に向かって均等に供給され
る。また、供給されたガスによって混合された基板上の
気体は排気孔10bから吸い込まれ排気通路8bを通り
排気口5から外部へ排出される。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、基板に対して加熱
あるいは冷却処理を行う基板熱処理装置に関する。
あるいは冷却処理を行う基板熱処理装置に関する。
【0002】
【従来の技術】図6は、従来の基板熱処理装置の正面断
面図である。基板熱処理装置は、半導体ウエハなどの基
板Wを載置するプレート20と、プレート20の上方に
被せられる上部カバー21とを備える。プレート20に
はヒータ、冷却管あるいはペルチェ素子などの加熱また
は冷却手段が埋め込まれている。そして、プレート20
の上面に近接して配置される基板Wは、プレート20に
埋め込まれた加熱または冷却手段により加熱あるいは冷
却されることにより所定の熱処理が行われる。
面図である。基板熱処理装置は、半導体ウエハなどの基
板Wを載置するプレート20と、プレート20の上方に
被せられる上部カバー21とを備える。プレート20に
はヒータ、冷却管あるいはペルチェ素子などの加熱また
は冷却手段が埋め込まれている。そして、プレート20
の上面に近接して配置される基板Wは、プレート20に
埋め込まれた加熱または冷却手段により加熱あるいは冷
却されることにより所定の熱処理が行われる。
【0003】例えば、レジストのベーク処理では、レジ
ストが塗布された基板Wをプレート20上に載置し、上
部カバー21で覆った後、プレート20の加熱手段によ
り加熱してベーク処理を行う。基板Wが加熱されると、
基板W上のレジスト中の余分な溶媒分等が蒸発し、上部
カバー21の内部に充満する。ここで、外部から外気が
侵入するなどして温度変動が生じると、レジストからの
昇華物が再び凝結してレジストの表面に付着する場合が
生じ、好ましくない。
ストが塗布された基板Wをプレート20上に載置し、上
部カバー21で覆った後、プレート20の加熱手段によ
り加熱してベーク処理を行う。基板Wが加熱されると、
基板W上のレジスト中の余分な溶媒分等が蒸発し、上部
カバー21の内部に充満する。ここで、外部から外気が
侵入するなどして温度変動が生じると、レジストからの
昇華物が再び凝結してレジストの表面に付着する場合が
生じ、好ましくない。
【0004】そこで、基板熱処理装置の内部に充満する
溶媒分(揮発分)等を外部に排出しながら熱処理を行う
ことが行われている。図6に示す基板熱処理装置では、
上部カバー21の上部の開口部22から多孔板23を通
して窒素(N2 )などの不活性ガスあるいは酸素
(O2 )などのガス25を基板W表面に吹きつけるとと
もに、プレート20に設けられた排気口24を通して外
部に排出している。
溶媒分(揮発分)等を外部に排出しながら熱処理を行う
ことが行われている。図6に示す基板熱処理装置では、
上部カバー21の上部の開口部22から多孔板23を通
して窒素(N2 )などの不活性ガスあるいは酸素
(O2 )などのガス25を基板W表面に吹きつけるとと
もに、プレート20に設けられた排気口24を通して外
部に排出している。
【0005】ところが、上記の基板熱処理装置では、気
流(ガス流)の速度が基板Wの表面で不均一となる。す
なわち、上部カバー21の上方から供給されるガス25
は基板Wの中央部から外周側へ向かうにしたがって流速
が大きくなる。しかも、基板Wの外周縁を外れる部分で
は気流に乱れが生じる。このような気流の速度の不均一
によって基板Wのレジスト表面に温度分布の不均一が生
じ、これによって処理むらが発生するという問題があっ
た。
流(ガス流)の速度が基板Wの表面で不均一となる。す
なわち、上部カバー21の上方から供給されるガス25
は基板Wの中央部から外周側へ向かうにしたがって流速
が大きくなる。しかも、基板Wの外周縁を外れる部分で
は気流に乱れが生じる。このような気流の速度の不均一
によって基板Wのレジスト表面に温度分布の不均一が生
じ、これによって処理むらが発生するという問題があっ
た。
【0006】一方、基板熱処理装置の側面からガスを供
給し、基板熱処理装置の上方から排気する方法も考案さ
れている。図7は、このような基板熱処理装置の断面構
造図である。この基板熱処理装置は、プレート30と上
部カバー31の境界部近傍に設けられた給気口34から
ガスを処理空間32内に供給し、上部カバー31の中央
に設けられた排気口33から排気するように構成されて
いる。
給し、基板熱処理装置の上方から排気する方法も考案さ
れている。図7は、このような基板熱処理装置の断面構
造図である。この基板熱処理装置は、プレート30と上
部カバー31の境界部近傍に設けられた給気口34から
ガスを処理空間32内に供給し、上部カバー31の中央
に設けられた排気口33から排気するように構成されて
いる。
【0007】このような構成においては、気流が基板W
の外方から基板Wの表面にほぼ平行に供給されるため、
基板Wの表面での気流の乱れが少ない。このため、気流
の乱れによる処理むらの発生が抑制される。
の外方から基板Wの表面にほぼ平行に供給されるため、
基板Wの表面での気流の乱れが少ない。このため、気流
の乱れによる処理むらの発生が抑制される。
【0008】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、図7に
示す基板熱処理装置では、処理空間32内の気流が基板
Wの外方から中央側に向かいかつ上方に巻き上げられる
ように流動するため、基板熱処理装置の内部の異物が基
板Wの表面上に巻き上げられ、基板Wを汚染するという
問題があった。
示す基板熱処理装置では、処理空間32内の気流が基板
Wの外方から中央側に向かいかつ上方に巻き上げられる
ように流動するため、基板熱処理装置の内部の異物が基
板Wの表面上に巻き上げられ、基板Wを汚染するという
問題があった。
【0009】本発明の目的は、熱処理空間内の気流の乱
れによる処理むらや異物の付着が生じることのない基板
熱処理装置を提供することである。
れによる処理むらや異物の付着が生じることのない基板
熱処理装置を提供することである。
【0010】
【課題を解決するための手段および発明の効果】第1の
発明に係る基板熱処理装置は、基台の上方が上部カバー
で覆われ、基台と上部カバーとの間に形成された熱処理
空間の内部に基板を保持して所定の熱処理を行う基板熱
処理装置において、基板の上方の上部カバーの下面に、
熱処理空間内に気体を供給するための複数の気体吹き出
し孔と、熱処理空間の内部の気体を排出するための複数
の排気孔とが混在して形成されたものである。
発明に係る基板熱処理装置は、基台の上方が上部カバー
で覆われ、基台と上部カバーとの間に形成された熱処理
空間の内部に基板を保持して所定の熱処理を行う基板熱
処理装置において、基板の上方の上部カバーの下面に、
熱処理空間内に気体を供給するための複数の気体吹き出
し孔と、熱処理空間の内部の気体を排出するための複数
の排気孔とが混在して形成されたものである。
【0011】第2の発明に係る基板熱処理装置は、第1
の発明に係る基板熱処理装置の構成において、上部カバ
ーの内部に、複数の気体吹き出し孔に連なる気体供給通
路と複数の排気孔に連なる排気通路とが設けられたもの
である。
の発明に係る基板熱処理装置の構成において、上部カバ
ーの内部に、複数の気体吹き出し孔に連なる気体供給通
路と複数の排気孔に連なる排気通路とが設けられたもの
である。
【0012】第3の発明に係る基板熱処理装置は、第2
の発明に係る基板熱処理装置の構成において、気体供給
通路が、気体が導入される導入口と導入口側から分岐し
て延びる複数の分岐路とを有し、導入口の内側近傍に、
複数の分岐路のそれぞれに気体を分散させて導くための
整流板が配設されたものである。
の発明に係る基板熱処理装置の構成において、気体供給
通路が、気体が導入される導入口と導入口側から分岐し
て延びる複数の分岐路とを有し、導入口の内側近傍に、
複数の分岐路のそれぞれに気体を分散させて導くための
整流板が配設されたものである。
【0013】第4の発明に係る基板熱処理装置は、第2
の発明に係る基板熱処理装置の構成において、気体供給
通路が、気体が導入される導入口と導入口側から分岐し
て延びる複数の分岐路とを有し、排気通路が、気体供給
通路の複数の分岐路にそれぞれ間挿される複数の分岐路
を有しており、複数の気体吹き出し孔は気体供給通路の
各分岐路に沿って配置され、複数の排気孔は排気通路の
各分岐通路に沿って配置されているものである。
の発明に係る基板熱処理装置の構成において、気体供給
通路が、気体が導入される導入口と導入口側から分岐し
て延びる複数の分岐路とを有し、排気通路が、気体供給
通路の複数の分岐路にそれぞれ間挿される複数の分岐路
を有しており、複数の気体吹き出し孔は気体供給通路の
各分岐路に沿って配置され、複数の排気孔は排気通路の
各分岐通路に沿って配置されているものである。
【0014】第1〜第4の発明に係る基板熱処理装置に
おいては、熱処理空間内に複数の気体吹き出し孔から気
体が供給され、基板の上方で処理液から揮発した溶媒分
等と均一に混合される。さらに混合された気体が複数の
気体吹き出し孔の中に混在して形成された複数の排気孔
から速やかに外部に排出される。これにより、気体の局
所的な対流を基板上方の全面に亘って生じさせて熱処理
空間内の温度分布を均一化することができる。その結
果、温度分布の不均一に起因する処理むらの発生を防止
することができる。
おいては、熱処理空間内に複数の気体吹き出し孔から気
体が供給され、基板の上方で処理液から揮発した溶媒分
等と均一に混合される。さらに混合された気体が複数の
気体吹き出し孔の中に混在して形成された複数の排気孔
から速やかに外部に排出される。これにより、気体の局
所的な対流を基板上方の全面に亘って生じさせて熱処理
空間内の温度分布を均一化することができる。その結
果、温度分布の不均一に起因する処理むらの発生を防止
することができる。
【0015】特に、第2の発明に係る基板熱処理装置に
おいては、上部カバーの内部に設けた気体供給通路を通
して複数の気体吹き出し孔から均等に気体を熱処理空間
内に供給することができる。さらに、複数の排気孔に連
なる排気通路を通して熱処理空間内の処理液の揮発分等
を含む気体を速やかに外部に排出することができる。
おいては、上部カバーの内部に設けた気体供給通路を通
して複数の気体吹き出し孔から均等に気体を熱処理空間
内に供給することができる。さらに、複数の排気孔に連
なる排気通路を通して熱処理空間内の処理液の揮発分等
を含む気体を速やかに外部に排出することができる。
【0016】特に、第3の発明に係る基板熱処理装置に
おいては、気体供給通路の複数の分岐路を基板の上方に
分散して配置し、整流板を用いてこれらの分岐路に均等
に気体を導くことにより、基板の上方に均一に気体を供
給することができる。
おいては、気体供給通路の複数の分岐路を基板の上方に
分散して配置し、整流板を用いてこれらの分岐路に均等
に気体を導くことにより、基板の上方に均一に気体を供
給することができる。
【0017】特に、第4の発明に係る基板熱処理装置に
おいては、気体供給通路の複数の分岐路に排気通路の複
数の分岐路を間挿することにより、気体供給通路の分岐
路に沿った複数の気体吹き出し孔と排気通路の分岐路に
沿った複数の排気孔とが交互に隣接して配置される。こ
のため、基板上方において、気体の吹き出し部と排気部
とが近接することにより局所的な対流が生じ、熱処理空
間内の温度分布が均一化するとともに、基板上の処理液
からの揮発分が均等に混合されかつ速やかに外部に排出
される。これにより、基板の処理むらの発生が防止され
る。
おいては、気体供給通路の複数の分岐路に排気通路の複
数の分岐路を間挿することにより、気体供給通路の分岐
路に沿った複数の気体吹き出し孔と排気通路の分岐路に
沿った複数の排気孔とが交互に隣接して配置される。こ
のため、基板上方において、気体の吹き出し部と排気部
とが近接することにより局所的な対流が生じ、熱処理空
間内の温度分布が均一化するとともに、基板上の処理液
からの揮発分が均等に混合されかつ速やかに外部に排出
される。これにより、基板の処理むらの発生が防止され
る。
【0018】
【発明の実施の形態】図1は、本発明の第1の実施例に
よる基板熱処理装置の正面断面図であり、図2は、基板
熱処理装置の平面断面図であり、さらに図3は、基板熱
処理装置の側部断面図である。なお、図1は図2中のY
−Y線断面を示し、図2は図1中のX−X線断面を示
し、さらに図3は図2中のZ−Z線断面図を示してい
る。
よる基板熱処理装置の正面断面図であり、図2は、基板
熱処理装置の平面断面図であり、さらに図3は、基板熱
処理装置の側部断面図である。なお、図1は図2中のY
−Y線断面を示し、図2は図1中のX−X線断面を示
し、さらに図3は図2中のZ−Z線断面図を示してい
る。
【0019】図1〜図3において、基板熱処理装置は加
熱あるいは冷却手段が埋め込まれた金属製のプレート1
と、プレート1に被せられる上部カバー2とを備えてい
る。上部カバー2は熱処理空間3を構成する凹部を有す
る蓋状に形成されており、軽量化のために中空構造が用
いられている。上部カバー2の内側には、熱処理空間3
に対してガスを供給しあるいは熱処理空間3内の気体
(以下、内部気体と称する)を排出するための給排気部
7が形成されている。
熱あるいは冷却手段が埋め込まれた金属製のプレート1
と、プレート1に被せられる上部カバー2とを備えてい
る。上部カバー2は熱処理空間3を構成する凹部を有す
る蓋状に形成されており、軽量化のために中空構造が用
いられている。上部カバー2の内側には、熱処理空間3
に対してガスを供給しあるいは熱処理空間3内の気体
(以下、内部気体と称する)を排出するための給排気部
7が形成されている。
【0020】給排気部7は、図2に示すように隔壁6b
によって仕切られた複数の給気通路8aと複数の排気通
路8bとを有している。複数の給気通路8aおよび排気
通路8bは櫛歯状に形成され、交互に隣接して配置され
ている。また、給気通路8aは、上部カバー2の一方の
側面に形成されたガス供給口4および隔壁6aに囲まれ
た入口空間4aに連通しており、排気通路8bは、他方
の側面に形成された排気口5および隔壁6cに囲まれた
出口空間5aに連通している。
によって仕切られた複数の給気通路8aと複数の排気通
路8bとを有している。複数の給気通路8aおよび排気
通路8bは櫛歯状に形成され、交互に隣接して配置され
ている。また、給気通路8aは、上部カバー2の一方の
側面に形成されたガス供給口4および隔壁6aに囲まれ
た入口空間4aに連通しており、排気通路8bは、他方
の側面に形成された排気口5および隔壁6cに囲まれた
出口空間5aに連通している。
【0021】ガス供給口4に連なる入口空間4aには、
複数の給気通路8aに均等にガスを供給するための複数
の整流板9が設けられている。複数の整流板9は各給気
通路8aに対応して設けられ、ガス供給口4から供給さ
れるガスを各給気通路8aに均等に分配する。
複数の給気通路8aに均等にガスを供給するための複数
の整流板9が設けられている。複数の整流板9は各給気
通路8aに対応して設けられ、ガス供給口4から供給さ
れるガスを各給気通路8aに均等に分配する。
【0022】図1に示すように、各給気通路8aおよび
各排気通路8bは、上部カバー2の内壁面2a、隔壁6
bおよび多孔板11により取り囲まれている。また、図
2に示すように、多孔板11には、給気通路8aに対応
する位置に複数の給気孔10aが形成され、また排気通
路8bに対応する位置に複数の排気孔10bが形成され
ている。給気孔10aおよび排気孔10bは好ましくは
均等なピッチで配置される。
各排気通路8bは、上部カバー2の内壁面2a、隔壁6
bおよび多孔板11により取り囲まれている。また、図
2に示すように、多孔板11には、給気通路8aに対応
する位置に複数の給気孔10aが形成され、また排気通
路8bに対応する位置に複数の排気孔10bが形成され
ている。給気孔10aおよび排気孔10bは好ましくは
均等なピッチで配置される。
【0023】上記のような構造を有する基板熱処理装置
を用いた基板の熱処理工程においては、プレート1上の
球状体スペーサ1aに基板Wを載置した後、上部カバー
2が被せられる。そして、上部カバー2の側面に形成さ
れたガス供給口4を通して、給気通路8aに窒素
(N2 )あるいは酸素(O2 )などのガスが供給され
る。ガスは、入口空間4aに配置された整流板9の働き
により櫛歯状の給気通路8aのそれぞれにほぼ均等に分
配されて流れ込む。そして、多孔板11に形成された給
気孔10aを通して熱処理空間3内に吹き出される。
を用いた基板の熱処理工程においては、プレート1上の
球状体スペーサ1aに基板Wを載置した後、上部カバー
2が被せられる。そして、上部カバー2の側面に形成さ
れたガス供給口4を通して、給気通路8aに窒素
(N2 )あるいは酸素(O2 )などのガスが供給され
る。ガスは、入口空間4aに配置された整流板9の働き
により櫛歯状の給気通路8aのそれぞれにほぼ均等に分
配されて流れ込む。そして、多孔板11に形成された給
気孔10aを通して熱処理空間3内に吹き出される。
【0024】一方、上部カバー2の他方の側面に形成さ
れた排気口5からは排気通路8bを通して排気が行われ
る。すなわち、給気通路8aから吸気孔10aを通して
熱処理空間3内に供給されたガスは、基板Wの表面上の
処理液、例えばレジストからの揮発した溶媒分と混合さ
れ、この混合した内部気体が排気孔10bから排気通路
8bを通り排気口5から外部へ排出される。
れた排気口5からは排気通路8bを通して排気が行われ
る。すなわち、給気通路8aから吸気孔10aを通して
熱処理空間3内に供給されたガスは、基板Wの表面上の
処理液、例えばレジストからの揮発した溶媒分と混合さ
れ、この混合した内部気体が排気孔10bから排気通路
8bを通り排気口5から外部へ排出される。
【0025】上記の基板熱処理装置においては、基板W
の表面上に複数の給気孔8aが均等に配置されている。
このため、複数の給気孔8aから供給されたガスは、各
給気孔10aの周辺でそれぞれ熱処理空間3内の内部気
体と混合される。このため、基板Wの表面上では、全面
に亘ってほぼ均等に内部気体の混合が行われ、内部気体
に含まれる処理液からの揮発分の濃度が均一化する。ま
た、複数の排気孔10bも基板Wの表面上に均等に配置
されている。したがって、基板Wの表面上で均等に混合
された内部気体を複数の排気孔10bを通して速やかに
排出することができる。
の表面上に複数の給気孔8aが均等に配置されている。
このため、複数の給気孔8aから供給されたガスは、各
給気孔10aの周辺でそれぞれ熱処理空間3内の内部気
体と混合される。このため、基板Wの表面上では、全面
に亘ってほぼ均等に内部気体の混合が行われ、内部気体
に含まれる処理液からの揮発分の濃度が均一化する。ま
た、複数の排気孔10bも基板Wの表面上に均等に配置
されている。したがって、基板Wの表面上で均等に混合
された内部気体を複数の排気孔10bを通して速やかに
排出することができる。
【0026】このように、基板Wの表面上では、各給気
孔10aおよび各排気孔10bの周辺で局所的な対流が
生じて気流の流動状態が均一になるため、加熱処理が均
一に行われ、処理むらの発生が防止される。
孔10aおよび各排気孔10bの周辺で局所的な対流が
生じて気流の流動状態が均一になるため、加熱処理が均
一に行われ、処理むらの発生が防止される。
【0027】なお、熱処理空間3内のガスの供給量と内
部気体の排気量とはほぼ同等であるかあるいは排気量を
わずかに少なくすることが熱処理空間3内を清浄に保つ
上で好ましい。
部気体の排気量とはほぼ同等であるかあるいは排気量を
わずかに少なくすることが熱処理空間3内を清浄に保つ
上で好ましい。
【0028】また、図4は、本発明の第2の実施例によ
る基板熱処理装置の正面断面図である。図4に示す基板
熱処理装置は、図1〜図3に示す基板熱処理装置に対
し、給排気部7へのガスの供給路および内部気体の排出
路の構成が異なっている。すなわち、プレート1には、
上部カバー2にガスを供給するためのガス供給路15と
熱処理空間3内の内部気体を排出するための排気路18
とが形成されている。ガス供給路15および排気路18
は、それぞれプレート1を貫通してプレート1の上面に
開口している。
る基板熱処理装置の正面断面図である。図4に示す基板
熱処理装置は、図1〜図3に示す基板熱処理装置に対
し、給排気部7へのガスの供給路および内部気体の排出
路の構成が異なっている。すなわち、プレート1には、
上部カバー2にガスを供給するためのガス供給路15と
熱処理空間3内の内部気体を排出するための排気路18
とが形成されている。ガス供給路15および排気路18
は、それぞれプレート1を貫通してプレート1の上面に
開口している。
【0029】上部カバー2には、ガス供給路15に対応
する位置にガス導入路16が形成される。また、排気路
18に対応する位置に排気路17が形成されている。な
お、図示を省略しているが、ガス導入路16および排気
路17には、上部カバー2がプレート1から離間された
際にガス導入路16および導出路17を閉塞し、上部カ
バー2がプレート1上に被せられた際にガス導入路16
および排気路17を開放してそれぞれプレート1のガス
供給路15および排気路18に連通させる開閉部材が配
置されている。
する位置にガス導入路16が形成される。また、排気路
18に対応する位置に排気路17が形成されている。な
お、図示を省略しているが、ガス導入路16および排気
路17には、上部カバー2がプレート1から離間された
際にガス導入路16および導出路17を閉塞し、上部カ
バー2がプレート1上に被せられた際にガス導入路16
および排気路17を開放してそれぞれプレート1のガス
供給路15および排気路18に連通させる開閉部材が配
置されている。
【0030】ガス導入路16の一端は給排気部7の給気
通路8aに連通しており、プレート1のガス供給路15
を通って供給されるガスを給排気部7の給気通路8aに
供給する。また、導出路17の一端は給排気部7の排気
通路8bに連通している。そして、熱処理空間3内から
排気通路8bを通り排出された内部気体をプレート1の
排気路18を通して外部へ排出する。
通路8aに連通しており、プレート1のガス供給路15
を通って供給されるガスを給排気部7の給気通路8aに
供給する。また、導出路17の一端は給排気部7の排気
通路8bに連通している。そして、熱処理空間3内から
排気通路8bを通り排出された内部気体をプレート1の
排気路18を通して外部へ排出する。
【0031】なお、この実施例では、給排気部7の構造
は第1の実施例と同様である。したがって、熱処理空間
3内に均等にガスを供給し、処理液からの揮発分を基板
W表面上において均一に混合して速やかに外部に排出す
ることができる。
は第1の実施例と同様である。したがって、熱処理空間
3内に均等にガスを供給し、処理液からの揮発分を基板
W表面上において均一に混合して速やかに外部に排出す
ることができる。
【0032】また、図5(a)は、図2に示す整流板と
異なる他の整流板を用いた上部カバー2の部分平面断面
図であり、図5(b)は整流板の平面図である。図5
(b)に示す整流板12は、長尺板状部材の表面に気流
を通過させるための複数の孔13が形成されている。整
流板12は、ガス供給口4から外側の給気通路8aに向
う方向に沿って配置され、ガス供給口4から供給される
ガスを整流板12に沿ってより外側の給気通路8aにガ
スを供給するとともに、整流板12の孔13を通して各
給気通路8aに均等にガスを供給するように作用する。
異なる他の整流板を用いた上部カバー2の部分平面断面
図であり、図5(b)は整流板の平面図である。図5
(b)に示す整流板12は、長尺板状部材の表面に気流
を通過させるための複数の孔13が形成されている。整
流板12は、ガス供給口4から外側の給気通路8aに向
う方向に沿って配置され、ガス供給口4から供給される
ガスを整流板12に沿ってより外側の給気通路8aにガ
スを供給するとともに、整流板12の孔13を通して各
給気通路8aに均等にガスを供給するように作用する。
【0033】なお、整流板としては図2に示す整流板9
および図5に示す整流板12のみならず、他の整流板を
用いても構わない。また、取付け方向が可動のものであ
っても構わない。
および図5に示す整流板12のみならず、他の整流板を
用いても構わない。また、取付け方向が可動のものであ
っても構わない。
【0034】また、上記の第1および第2の実施例にお
ける給排気部7は、櫛歯状の給気通路8aおよび排気路
8bを相互に組み合わせて構成されているが、給気通路
8aおよび排気通路8bの形状はこれに限定されるもの
ではない。すなわち、本発明においては、基板Wの表面
上にガスを供給するための給気孔10aおよび内部気体
を外部に排出するための排気孔10bを均等に近接して
配置すればよい。このため、例えば給気路8aと排気通
路8bとを交互に渦巻状に配置してもよい。
ける給排気部7は、櫛歯状の給気通路8aおよび排気路
8bを相互に組み合わせて構成されているが、給気通路
8aおよび排気通路8bの形状はこれに限定されるもの
ではない。すなわち、本発明においては、基板Wの表面
上にガスを供給するための給気孔10aおよび内部気体
を外部に排出するための排気孔10bを均等に近接して
配置すればよい。このため、例えば給気路8aと排気通
路8bとを交互に渦巻状に配置してもよい。
【0035】さらに、本実施例の給排気部7が適用可能
な基板熱処理装置としては、いわゆるホットプレートの
みならずクーリングプレートも含まれる。
な基板熱処理装置としては、いわゆるホットプレートの
みならずクーリングプレートも含まれる。
【図1】本発明の第1の実施例による基板熱処理装置の
正面断面図(図2中のY−Y線断面図)である。
正面断面図(図2中のY−Y線断面図)である。
【図2】図1中のX−X線断面図である。
【図3】図2中のZ−Z線断面図である。
【図4】本発明の第2の実施例による基板熱処理装置の
正面断面図である。
正面断面図である。
【図5】(a)は整流板の他の例を用いた基板熱処理装
置の部分平面断面図であり、(b)は整流板の平面図で
ある。
置の部分平面断面図であり、(b)は整流板の平面図で
ある。
【図6】従来の基板熱処理装置の正面断面図である。
【図7】従来の他の例による基板熱処理装置の正面断面
図である。
図である。
1 プレート 2 上部カバー 3 熱処理空間 4 ガス供給口 5 排気口 6a,6b 隔壁 7 給排気部 8a 給気通路 8b 排気通路 9,12 整流板 10a 給気孔 10b 排気孔 11 多孔板 15 ガス供給路 16 ガス導入路 17 導出路
Claims (4)
- 【請求項1】 基台の上方が上部カバーで覆われ、前記
基台と前記上部カバーとの間に形成された熱処理空間の
内部に基板を保持して所定の熱処理を行う基板熱処理装
置において、 前記基板の上方の前記上部カバーの下面に、前記熱処理
空間内に気体を供給するための複数の気体吹き出し孔
と、前記熱処理空間の内部の気体を排出するための複数
の排気孔とが混在して形成されたことを特徴とする基板
熱処理装置。 - 【請求項2】 前記上部カバーの内部に、前記複数の気
体吹き出し孔に連なる気体供給通路と前記複数の排気孔
に連なる排気通路とが設けられたことを特徴とする請求
項1記載の基板熱処理装置。 - 【請求項3】 前記気体供給通路は、前記気体が導入さ
れる導入口と、前記導入口側から分岐して延びる複数の
分岐路とを有し、 前記導入口の内側近傍に、前記複数の分岐路のそれぞれ
に気体を分散させて導くための整流板が配設されたこと
を特徴とする請求項2記載の基板熱処理装置。 - 【請求項4】 前記気体供給通路は、前記気体が導入さ
れる導入口と、前記導入口側から分岐して延びる複数の
分岐路とを有し、 前記排気通路は、前記気体供給通路の複数の分岐路にそ
れぞれ間挿される複数の分岐路を有しており、 前記複数の気体吹き出し孔は前記気体供給通路の各分岐
路に沿って配置され、前記複数の排気孔は前記排気通路
の各分岐路に沿って配置されていることを特徴とする請
求項2記載の基板熱処理装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP15986096A JPH1012517A (ja) | 1996-06-20 | 1996-06-20 | 基板熱処理装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP15986096A JPH1012517A (ja) | 1996-06-20 | 1996-06-20 | 基板熱処理装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH1012517A true JPH1012517A (ja) | 1998-01-16 |
Family
ID=15702812
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP15986096A Pending JPH1012517A (ja) | 1996-06-20 | 1996-06-20 | 基板熱処理装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH1012517A (ja) |
Cited By (10)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2003068725A (ja) * | 2001-08-23 | 2003-03-07 | Tokyo Electron Ltd | 加熱処理装置 |
| WO2005069359A1 (ja) * | 2004-01-13 | 2005-07-28 | Hitachi Kokusai Electric Inc. | 基板処理装置および半導体装置の製造方法 |
| JP2007324168A (ja) * | 2006-05-30 | 2007-12-13 | Tokyo Electron Ltd | 熱処理装置 |
| JP2010028133A (ja) * | 2009-10-27 | 2010-02-04 | Oki Semiconductor Co Ltd | 被処理体の加熱処理装置及びその排気方法 |
| JP2010034574A (ja) * | 2009-10-27 | 2010-02-12 | Oki Semiconductor Co Ltd | 被処理体の加熱処理装置及びその排気方法 |
| US7909087B2 (en) | 2006-07-26 | 2011-03-22 | Furukawa-Sky Aluminum Corp. | Heat exchanger |
| US7980003B2 (en) * | 2006-01-25 | 2011-07-19 | Tokyo Electron Limited | Heat processing apparatus and heat processing method |
| JP2012089840A (ja) * | 2010-10-19 | 2012-05-10 | Asml Netherlands Bv | ガスマニホールド、リソグラフィ装置用モジュール、リソグラフィ装置、及びデバイス製造方法 |
| WO2020065765A1 (ja) * | 2018-09-26 | 2020-04-02 | シャープ株式会社 | 加熱装置 |
| CN112490102A (zh) * | 2019-09-11 | 2021-03-12 | 东京毅力科创株式会社 | 热介质循环系统和基板处理装置 |
-
1996
- 1996-06-20 JP JP15986096A patent/JPH1012517A/ja active Pending
Cited By (13)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
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| JPWO2005069359A1 (ja) * | 2004-01-13 | 2007-12-27 | 株式会社日立国際電気 | 基板処理装置および半導体装置の製造方法 |
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| US8675169B2 (en) | 2010-10-19 | 2014-03-18 | Asml Netherlands B.V. | Gas manifold, module for a lithographic apparatus, lithographic apparatus and device manufacturing method |
| WO2020065765A1 (ja) * | 2018-09-26 | 2020-04-02 | シャープ株式会社 | 加熱装置 |
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