JPH10125278A - イオントラップ型質量分析計 - Google Patents
イオントラップ型質量分析計Info
- Publication number
- JPH10125278A JPH10125278A JP8273273A JP27327396A JPH10125278A JP H10125278 A JPH10125278 A JP H10125278A JP 8273273 A JP8273273 A JP 8273273A JP 27327396 A JP27327396 A JP 27327396A JP H10125278 A JPH10125278 A JP H10125278A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- ions
- signal
- ion
- field
- signal generator
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
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- Electron Tubes For Measurement (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】イオントラップ型質量分析計ではトラップ場に
印加した信号をスキャンするスピードによって、得られ
るマススペクトルの感度が変化するため、予備スキャン
で高速スキャンすると、正確なイオン導入時間を計算出
来ない。 【解決手段】予備スキャンで、注目するピークの近くの
質量数範囲のみに限定してスキャンする。
印加した信号をスキャンするスピードによって、得られ
るマススペクトルの感度が変化するため、予備スキャン
で高速スキャンすると、正確なイオン導入時間を計算出
来ない。 【解決手段】予備スキャンで、注目するピークの近くの
質量数範囲のみに限定してスキャンする。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明はイオントラップ型質
量分析計に関する。
量分析計に関する。
【０００２】
【従来の技術】イオントラップ型質量分析計では、イオ
ン化した試料を、一定の信号を印加して形成されたトラ
ップ場内に導入してトラップする。この状態でトラップ
場に印加している信号の強度を変化させるとその強度に
対応した特定質量数のイオンのみがトラップ場内から排
出されるので、１段階の質量分析（ＭＳ）では、この信
号を任意の範囲でスキャンすることで対応する質量範囲
のマススペクトルが得られる。２段階以上の質量分析法
（ＭＳ／ＭＳ）では、１段回目で、ある質量範囲におけ
るイオンをトラップ場内に導入する。２段回目で注目す
る質量数のイオンのみをトラップ場内に残し、このイオ
ンをある一定の信号を印加することで分解し、その派生
イオンを発生させるという操作を必要回数繰返し、最後
にトラップ場に残ったイオンをトラップ場に印加した信
号をスキャンし、マススペクトルを得る方法である。
ン化した試料を、一定の信号を印加して形成されたトラ
ップ場内に導入してトラップする。この状態でトラップ
場に印加している信号の強度を変化させるとその強度に
対応した特定質量数のイオンのみがトラップ場内から排
出されるので、１段階の質量分析（ＭＳ）では、この信
号を任意の範囲でスキャンすることで対応する質量範囲
のマススペクトルが得られる。２段階以上の質量分析法
（ＭＳ／ＭＳ）では、１段回目で、ある質量範囲におけ
るイオンをトラップ場内に導入する。２段回目で注目す
る質量数のイオンのみをトラップ場内に残し、このイオ
ンをある一定の信号を印加することで分解し、その派生
イオンを発生させるという操作を必要回数繰返し、最後
にトラップ場に残ったイオンをトラップ場に印加した信
号をスキャンし、マススペクトルを得る方法である。
【０００３】複数段階の測定では、２段目以降で注目す
るピークのイオン以外のイオンをトラップ場内から排除
していくため、最後にスキャンして得られるマススペク
トルの強度を向上させるためにはイオン導入時に出来る
だけ多くのイオンをトラップ場内に導入する必要があ
る。しかし、トラップ場内に内包しうるイオン量には限
界があり、それを越える多量のイオンがトラップ場内に
導入された場合にトラップ場内でイオンが飽和していま
い、ある信号をトラップ場に印加した際に得られる対応
した質量数のイオンがトラップ場内から排出されなくな
り、正しいマススペクトルが得られなくなるという問題
点がある。そのため飽和せずにトラップ場内にトラップ
し得る最大のイオン量から、試料のイオン化の効率に応
じてイオンをトラップ場内に導入する時間を制限し、ト
ラップ場内でイオンが飽和しないよう調整する必要があ
る。
るピークのイオン以外のイオンをトラップ場内から排除
していくため、最後にスキャンして得られるマススペク
トルの強度を向上させるためにはイオン導入時に出来る
だけ多くのイオンをトラップ場内に導入する必要があ
る。しかし、トラップ場内に内包しうるイオン量には限
界があり、それを越える多量のイオンがトラップ場内に
導入された場合にトラップ場内でイオンが飽和していま
い、ある信号をトラップ場に印加した際に得られる対応
した質量数のイオンがトラップ場内から排出されなくな
り、正しいマススペクトルが得られなくなるという問題
点がある。そのため飽和せずにトラップ場内にトラップ
し得る最大のイオン量から、試料のイオン化の効率に応
じてイオンをトラップ場内に導入する時間を制限し、ト
ラップ場内でイオンが飽和しないよう調整する必要があ
る。
【０００４】この方法の一つに、１段階の質量分析法
（ＭＳ）では、データを取得するスキャンの直前に、微
小な一定の導入時間でトラップ場内にイオンを導入し、
データを取得するスキャンと同じ質量範囲で高速にスキ
ャンする予備スキャンを行う方法がある。ここで得られ
るデータのイオン強度の総量を求め、この値からデータ
を取得するスキャンのための飽和せず最大のイオン量を
得るためのイオン導入時間を求めることが出来る。この
際、指定質量範囲以外のデータは、トラップ場に一定の
信号をかけることがトラップ場内から排除する。
（ＭＳ）では、データを取得するスキャンの直前に、微
小な一定の導入時間でトラップ場内にイオンを導入し、
データを取得するスキャンと同じ質量範囲で高速にスキ
ャンする予備スキャンを行う方法がある。ここで得られ
るデータのイオン強度の総量を求め、この値からデータ
を取得するスキャンのための飽和せず最大のイオン量を
得るためのイオン導入時間を求めることが出来る。この
際、指定質量範囲以外のデータは、トラップ場に一定の
信号をかけることがトラップ場内から排除する。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】イオントラップ型質量
分析計ではトラップ場に印加した信号をスキャンするス
ピードによって、得られるマススペクトルの感度が低下
するため、データを取得するスキャンより高速にスキャ
ンを行うときに得られたイオン量は、データ取得時のス
ピードでスキャンした際に得られる量に比べ誤差が生じ
てしまう。ここで得られたデータを基にイオン導入時間
を計算しスキャンを行った場合、最大強度のスペクトル
を得ることが出来ない。また、予備スキャンは、データ
を取得するスキャンのイオン導入時間の計算のためであ
りマススペクトルを取得しないため、データを取得する
スキャンに比べて短時間である必要がある。
分析計ではトラップ場に印加した信号をスキャンするス
ピードによって、得られるマススペクトルの感度が低下
するため、データを取得するスキャンより高速にスキャ
ンを行うときに得られたイオン量は、データ取得時のス
ピードでスキャンした際に得られる量に比べ誤差が生じ
てしまう。ここで得られたデータを基にイオン導入時間
を計算しスキャンを行った場合、最大強度のスペクトル
を得ることが出来ない。また、予備スキャンは、データ
を取得するスキャンのイオン導入時間の計算のためであ
りマススペクトルを取得しないため、データを取得する
スキャンに比べて短時間である必要がある。
【０００６】１段階のみの質量分析法（ＭＳ）では、そ
の全質量範囲のイオンが測定結果として得られるマスス
ペクトルの対象となるためにスキャンして得られるイオ
ン強度の総量は大きく、予備スキャンで高速スキャンし
て得たイオンの総量を知る事で、十分な感度を得るため
のイオンを導入しうる時間を計算することが出来る。複
数段階の質量分析（ＭＳ／ＭＳ）でも同様の手段が考え
らるが、複数段階の分析では２段階目以降の各段階で、
注目するピークのイオン以外の全でのイオンを排除して
いくためにイオン強度の総量は下がるため、最後に取得
するマススペクトルで十分な感度を得るためには一段目
でより多くのイオンを導入する必要がある。
の全質量範囲のイオンが測定結果として得られるマスス
ペクトルの対象となるためにスキャンして得られるイオ
ン強度の総量は大きく、予備スキャンで高速スキャンし
て得たイオンの総量を知る事で、十分な感度を得るため
のイオンを導入しうる時間を計算することが出来る。複
数段階の質量分析（ＭＳ／ＭＳ）でも同様の手段が考え
らるが、複数段階の分析では２段階目以降の各段階で、
注目するピークのイオン以外の全でのイオンを排除して
いくためにイオン強度の総量は下がるため、最後に取得
するマススペクトルで十分な感度を得るためには一段目
でより多くのイオンを導入する必要がある。
【０００７】
【課題を解決するための手段】複数段階質量分析を行う
測定で、あらかじめ予備スキャンする際のスキャン範囲
に関して、２段回目の質量分析時で注目するピークの近
くの質量数範囲のみに限定してスキャンすることで、短
時間にデータを取得するスキャンと同様のスキャンスピ
ードでスキャンすることができる。またイオンを導入す
る際にトラップ場に一定の信号を印加し注目するピーク
のイオン以外のイオンを排除することによって注目する
ピークの質量数近くのイオン総量のみが得られ、この値
を基にデータを取得するスキャンのためのイオン導入時
間を計算することで、飽和せずに１段回目で十分なイオ
ン量を得るための適切なイオンの導入時間を求めること
が出来る。
測定で、あらかじめ予備スキャンする際のスキャン範囲
に関して、２段回目の質量分析時で注目するピークの近
くの質量数範囲のみに限定してスキャンすることで、短
時間にデータを取得するスキャンと同様のスキャンスピ
ードでスキャンすることができる。またイオンを導入す
る際にトラップ場に一定の信号を印加し注目するピーク
のイオン以外のイオンを排除することによって注目する
ピークの質量数近くのイオン総量のみが得られ、この値
を基にデータを取得するスキャンのためのイオン導入時
間を計算することで、飽和せずに１段回目で十分なイオ
ン量を得るための適切なイオンの導入時間を求めること
が出来る。
【０００８】
【発明の実施の形態】図１に本発明の実施例における構
成を示す。イオン化装置１によりイオン化されたイオン
は、トラップ場にイオンを導入するための信号発生装置
２により、トラップ場３に導入される。この際にトラッ
プ場３には信号発生装置４によって印加される信号によ
りトラップ場が形成され、導入されたイオンがトラップ
される。ここで信号発生装置５により信号を印加するこ
とで、必要な質量範囲のイオンだけに限定しそれ以外の
イオンを排除する。この後、信号発生装置４により注目
するピークのイオンを壊して、信号発生装置４でトラッ
プ場に印加された信号をスキャンすることで、トラップ
場から注目するピークの派生イオンが排出される。この
イオンをイオンの検出手段６により検出し、マススペク
トルが得られる。また、これらの信号のタイミングを制
御装置７により制御する。
成を示す。イオン化装置１によりイオン化されたイオン
は、トラップ場にイオンを導入するための信号発生装置
２により、トラップ場３に導入される。この際にトラッ
プ場３には信号発生装置４によって印加される信号によ
りトラップ場が形成され、導入されたイオンがトラップ
される。ここで信号発生装置５により信号を印加するこ
とで、必要な質量範囲のイオンだけに限定しそれ以外の
イオンを排除する。この後、信号発生装置４により注目
するピークのイオンを壊して、信号発生装置４でトラッ
プ場に印加された信号をスキャンすることで、トラップ
場から注目するピークの派生イオンが排出される。この
イオンをイオンの検出手段６により検出し、マススペク
トルが得られる。また、これらの信号のタイミングを制
御装置７により制御する。
【０００９】図２に本発明の実施例におけるイオン導入
信号，ＲＦ信号，ＦＦ信号のタイムチャートを示す。複
数段階の質量分析を行う際に、データを取得するための
スキャンの前に一定の微小時間トラップ場にイオン導入
４を行う。この時、ＦＦ信号発生装置でトラップ場に一
定の信号５を印加することで注目するピークの質量数近
くのイオンのみがトラップ場に入るようにする。そし
て、注目するピークの質量数近くの範囲でのみＲＦ信号
発生装置で信号６を印加しスキャンする。このスキャン
によって排出されたイオンを検出装置によって検知し、
得られたイオンの総量を基にトラップ場内でイオンが飽
和しないようにイオンの導入時間を決定し、これに従い
データを取得するためのイオン導入７を行う。このとき
イオン導入４と同様に、ＦＦ信号発生装置でトラップ場
に一定の信号８を印加することで注目するピークの質量
数近くのイオンのみがトラップ場に入るようにする。こ
の後、ＲＦ信号発生装置によって信号６を、ＦＦ信号発
生装置によって信号１０を印加することにより、注目す
るピークのイオン以外はトラップ場から排出される。こ
の後、ＦＦ信号発生装置によって一定の信号１１を印加
することにより注目するピークのイオンが壊されて、ト
ラップ場内にこのイオンの派生イオンが発生する。この
操作を必要な回数分繰返し、最後にトラップ場内に残っ
たイオンをＲＦ信号発生装置でトラップ場に信号１２を
印加しスキャンする。このとき排出されるイオンを検出
装置で検出することによりマススペクトルが得られる。
信号，ＲＦ信号，ＦＦ信号のタイムチャートを示す。複
数段階の質量分析を行う際に、データを取得するための
スキャンの前に一定の微小時間トラップ場にイオン導入
４を行う。この時、ＦＦ信号発生装置でトラップ場に一
定の信号５を印加することで注目するピークの質量数近
くのイオンのみがトラップ場に入るようにする。そし
て、注目するピークの質量数近くの範囲でのみＲＦ信号
発生装置で信号６を印加しスキャンする。このスキャン
によって排出されたイオンを検出装置によって検知し、
得られたイオンの総量を基にトラップ場内でイオンが飽
和しないようにイオンの導入時間を決定し、これに従い
データを取得するためのイオン導入７を行う。このとき
イオン導入４と同様に、ＦＦ信号発生装置でトラップ場
に一定の信号８を印加することで注目するピークの質量
数近くのイオンのみがトラップ場に入るようにする。こ
の後、ＲＦ信号発生装置によって信号６を、ＦＦ信号発
生装置によって信号１０を印加することにより、注目す
るピークのイオン以外はトラップ場から排出される。こ
の後、ＦＦ信号発生装置によって一定の信号１１を印加
することにより注目するピークのイオンが壊されて、ト
ラップ場内にこのイオンの派生イオンが発生する。この
操作を必要な回数分繰返し、最後にトラップ場内に残っ
たイオンをＲＦ信号発生装置でトラップ場に信号１２を
印加しスキャンする。このとき排出されるイオンを検出
装置で検出することによりマススペクトルが得られる。
【００１０】
【発明の効果】本発明により複数段階の質量分析（ＭＳ
／ＭＳ）で、飽和せずに十分なイオン量を得る為の適切
なイオン化時間を求めることが出来る。
／ＭＳ）で、飽和せずに十分なイオン量を得る為の適切
なイオン化時間を求めることが出来る。
【図１】本発明装置の実施例のブロック図。
【図２】本発明装置の実施例のタイミングチャート。
１…イオン化装置、２…導入信号発生装置、３…トラッ
プ場、４…ＲＦ信号発生装置、５…ＦＦ信号発生装置、
６…イオン検出装置、７…制御装置。
プ場、４…ＲＦ信号発生装置、５…ＦＦ信号発生装置、
６…イオン検出装置、７…制御装置。
Claims (1)
- 【請求項１】試料をイオン化するイオン化手段と、イオ
ンをトラップ場に導く導入手段と、上記イオンをトラッ
プするためのトラップ場と、上記トラップ場にトラップ
された上記イオンを排出する手段と、上記トラップ場か
ら排出されたイオン量を検出する手段を持つイオントラ
ップ型質量分析計において、複数段階の質量分析を行う
測定装置において、測定時のイオン導入時間を適切に求
めるための手段を有することを特徴とするイオントラッ
プ型質量分析計。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8273273A JPH10125278A (ja) | 1996-10-16 | 1996-10-16 | イオントラップ型質量分析計 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8273273A JPH10125278A (ja) | 1996-10-16 | 1996-10-16 | イオントラップ型質量分析計 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH10125278A true JPH10125278A (ja) | 1998-05-15 |
Family
ID=17525549
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP8273273A Pending JPH10125278A (ja) | 1996-10-16 | 1996-10-16 | イオントラップ型質量分析計 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH10125278A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2006517723A (ja) * | 2003-01-24 | 2006-07-27 | サーモ フィニガン エルエルシー | 質量分析器におけるイオン集団の制御 |
| JP2011523172A (ja) * | 2008-06-09 | 2011-08-04 | ディーエイチ テクノロジーズ デベロップメント プライベート リミテッド | タンデムイオントラップを操作する方法 |
-
1996
- 1996-10-16 JP JP8273273A patent/JPH10125278A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2006517723A (ja) * | 2003-01-24 | 2006-07-27 | サーモ フィニガン エルエルシー | 質量分析器におけるイオン集団の制御 |
| JP2011523172A (ja) * | 2008-06-09 | 2011-08-04 | ディーエイチ テクノロジーズ デベロップメント プライベート リミテッド | タンデムイオントラップを操作する方法 |
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