JPH10125670A - 薄膜気相成長装置 - Google Patents
薄膜気相成長装置Info
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- JPH10125670A JPH10125670A JP24332997A JP24332997A JPH10125670A JP H10125670 A JPH10125670 A JP H10125670A JP 24332997 A JP24332997 A JP 24332997A JP 24332997 A JP24332997 A JP 24332997A JP H10125670 A JPH10125670 A JP H10125670A
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 コンパクトな構成で、各処理工程室の独立性
を維持しつつ迅速な基板搬送を行い、稼働効率が高い高
誘電体、強誘電体用の薄膜気相成長装置を提供する。 【解決手段】 基板Wに高誘電体又は強誘電体の薄膜を
気相成長させるための薄膜気相成長装置であって、プロ
セスガス供給手段と、原料ガス供給手段と、基板を保持
する保持手段52と基板に原料ガスを噴射する原料ガス
噴射ノズル54とを備えた気密な成膜室14と、外部と
の間で基板の出し入れを行なうためのロードロック室1
6と、成膜室14、ロードロック室16にそれぞれ開閉
弁20,22,24を有する搬送路26,28,30を
介して連絡された搬送ロボット室12とを有する。
を維持しつつ迅速な基板搬送を行い、稼働効率が高い高
誘電体、強誘電体用の薄膜気相成長装置を提供する。 【解決手段】 基板Wに高誘電体又は強誘電体の薄膜を
気相成長させるための薄膜気相成長装置であって、プロ
セスガス供給手段と、原料ガス供給手段と、基板を保持
する保持手段52と基板に原料ガスを噴射する原料ガス
噴射ノズル54とを備えた気密な成膜室14と、外部と
の間で基板の出し入れを行なうためのロードロック室1
6と、成膜室14、ロードロック室16にそれぞれ開閉
弁20,22,24を有する搬送路26,28,30を
介して連絡された搬送ロボット室12とを有する。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、薄膜気相成長装置
に係り、特に、チタン酸バリウム/ストロンチウム等の
高誘電体又は強誘電体薄膜を気相成長させるのに好適な
薄膜気相成長装置に関する。
に係り、特に、チタン酸バリウム/ストロンチウム等の
高誘電体又は強誘電体薄膜を気相成長させるのに好適な
薄膜気相成長装置に関する。
【0002】
【従来の技術】近年、半導体産業における集積回路の集
積度の向上はめざましく、現状のメガビットオーダか
ら、将来のギガビットオーダを睨んだDRAMの研究開
発が行われている。かかるDRAMの製造のためには、
小さな面積で大容量が得られるキャパシタ素子が必要で
ある。このような大容量素子の製造に用いる誘電体薄膜
として、誘電率が10以下であるシリコン酸化膜やシリ
コン窒化膜に替えて、誘電率が20程度である五酸化タ
ンタル(Ta2O5 )薄膜、あるいは誘電率が300程度
であるチタン酸バリウム(BaTiO3 )、チタン酸スト
ロンチウム(SrTiO3 )又はこれらの混合物であるチ
タン酸バリウムストロンチウム等の金属酸化物薄膜材料
が有望視されている。
積度の向上はめざましく、現状のメガビットオーダか
ら、将来のギガビットオーダを睨んだDRAMの研究開
発が行われている。かかるDRAMの製造のためには、
小さな面積で大容量が得られるキャパシタ素子が必要で
ある。このような大容量素子の製造に用いる誘電体薄膜
として、誘電率が10以下であるシリコン酸化膜やシリ
コン窒化膜に替えて、誘電率が20程度である五酸化タ
ンタル(Ta2O5 )薄膜、あるいは誘電率が300程度
であるチタン酸バリウム(BaTiO3 )、チタン酸スト
ロンチウム(SrTiO3 )又はこれらの混合物であるチ
タン酸バリウムストロンチウム等の金属酸化物薄膜材料
が有望視されている。
【0003】このような金属酸化物薄膜を気相成長させ
る際には、1又は複数の有機金属化合物のガス原料と酸
素含有ガスとを混合し、一定の温度に加熱した基板に噴
射する。一般に、有機金属化合物ガスと酸素含有ガスの
混合ガスは反応抑制温度域が狭く、温度が高過ぎると反
応してしまい、温度が低すぎると原料ガスが凝結してし
まうので、成膜室壁と基板保持部では厳密な温度制御が
行われる。成膜された基板は、成膜処理の後に種々の目
的のために熱処理が行われ、そのために後処理室が設け
られている。
る際には、1又は複数の有機金属化合物のガス原料と酸
素含有ガスとを混合し、一定の温度に加熱した基板に噴
射する。一般に、有機金属化合物ガスと酸素含有ガスの
混合ガスは反応抑制温度域が狭く、温度が高過ぎると反
応してしまい、温度が低すぎると原料ガスが凝結してし
まうので、成膜室壁と基板保持部では厳密な温度制御が
行われる。成膜された基板は、成膜処理の後に種々の目
的のために熱処理が行われ、そのために後処理室が設け
られている。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】このような装置におい
ては、成膜室や後処理室は、それぞれ所定の雰囲気、温
度に維持されており、これら相互に、及びこれらと外部
の環境はできるだけ独立であることが好ましい。一方、
装置の稼働効率を考慮すると、処理した又は処理すべき
基板を迅速に各部に搬送する必要があり、しかも、装置
全体としての床面積を小さくする必要もある。
ては、成膜室や後処理室は、それぞれ所定の雰囲気、温
度に維持されており、これら相互に、及びこれらと外部
の環境はできるだけ独立であることが好ましい。一方、
装置の稼働効率を考慮すると、処理した又は処理すべき
基板を迅速に各部に搬送する必要があり、しかも、装置
全体としての床面積を小さくする必要もある。
【0005】この発明は、上記の課題に鑑み、コンパク
トな構成で、各処理工程室の独立性を維持しつつ迅速な
基板搬送を行い、稼働効率が高い高誘電体、強誘電体用
の薄膜気相成長装置を提供することを目的とする。
トな構成で、各処理工程室の独立性を維持しつつ迅速な
基板搬送を行い、稼働効率が高い高誘電体、強誘電体用
の薄膜気相成長装置を提供することを目的とする。
【0006】
【課題を解決するための手段】請求項1に記載の発明
は、基板に高誘電体又は強誘電体の薄膜を気相成長させ
るための薄膜気相成長装置であって、プロセスガス供給
手段と、原料ガス供給手段と、前記基板を保持する保持
手段と該基板に原料ガスを噴射する原料ガス噴射ノズル
とを備えた気密な成膜室と、外部との間で基板の出し入
れを行なうためのロードロック室と、前記成膜室、ロー
ドロック室にそれぞれ開閉弁を有する搬送路を介して連
絡された搬送ロボット室とを有することを特徴とする薄
膜気相成長装置である。
は、基板に高誘電体又は強誘電体の薄膜を気相成長させ
るための薄膜気相成長装置であって、プロセスガス供給
手段と、原料ガス供給手段と、前記基板を保持する保持
手段と該基板に原料ガスを噴射する原料ガス噴射ノズル
とを備えた気密な成膜室と、外部との間で基板の出し入
れを行なうためのロードロック室と、前記成膜室、ロー
ドロック室にそれぞれ開閉弁を有する搬送路を介して連
絡された搬送ロボット室とを有することを特徴とする薄
膜気相成長装置である。
【0007】これにより、構成が複雑な成膜室との間で
の基板の授受が簡単な機構で効率良く行われる。また、
他の処理工程室との基板の授受も効率的に行なうことが
でき、全体の装置構成も簡単であり、設置のための床面
積も少なくて良い。
の基板の授受が簡単な機構で効率良く行われる。また、
他の処理工程室との基板の授受も効率的に行なうことが
でき、全体の装置構成も簡単であり、設置のための床面
積も少なくて良い。
【0008】請求項2に記載の発明は、常温で液体であ
るか又は溶剤に溶解して液状とした固体である原料を用
い、前記液体又は溶剤に溶解した固体原料を前記原料ガ
スとする気化器を備えたことを特徴とする請求項1に記
載の薄膜気相成長装置である。
るか又は溶剤に溶解して液状とした固体である原料を用
い、前記液体又は溶剤に溶解した固体原料を前記原料ガ
スとする気化器を備えたことを特徴とする請求項1に記
載の薄膜気相成長装置である。
【0009】請求項3に記載の発明は、前記成膜室には
該成膜室の壁と前記基板とを加熱する手段が設けられ、
該成膜室とロボット室の間には前者の熱膨張による相対
位置変化を吸収する機構が設けられていることを特徴と
する請求項1に記載の薄膜気相成長装置である。これに
より、温度差による歪みや変形及びこれに伴う装置寿命
の短縮やリークの発生を防止することができる。
該成膜室の壁と前記基板とを加熱する手段が設けられ、
該成膜室とロボット室の間には前者の熱膨張による相対
位置変化を吸収する機構が設けられていることを特徴と
する請求項1に記載の薄膜気相成長装置である。これに
より、温度差による歪みや変形及びこれに伴う装置寿命
の短縮やリークの発生を防止することができる。
【0010】請求項4に記載の発明は、前記気化器と成
膜室をつなぐ原料ガス供給配管及び成膜室の内壁の温度
を原料の気化温度以上かつ反応温度以下に維持し、前記
ロボット室及びロードロック室は室温程度に維持するこ
とを特徴とする請求項2に記載の薄膜気相成長装置であ
る。これにより、各部分の温度範囲を明確にしてそれぞ
れが他の部分の熱影響を受けないようにし、各部の機能
を発揮させる。
膜室をつなぐ原料ガス供給配管及び成膜室の内壁の温度
を原料の気化温度以上かつ反応温度以下に維持し、前記
ロボット室及びロードロック室は室温程度に維持するこ
とを特徴とする請求項2に記載の薄膜気相成長装置であ
る。これにより、各部分の温度範囲を明確にしてそれぞ
れが他の部分の熱影響を受けないようにし、各部の機能
を発揮させる。
【0011】請求項5に記載の発明は、前記原料ガス供
給配管及び成膜室内壁には、熱媒体循環装置から供給さ
れる熱媒体を流通させるための加熱流路が形成されてい
ることを特徴とする請求項1に記載の薄膜気相成長装置
である。これにより、原料ガス供給配管及び成膜室の壁
の温度を厳密に制御することができ、これらの箇所での
原料が反応したり析出することを防止する。
給配管及び成膜室内壁には、熱媒体循環装置から供給さ
れる熱媒体を流通させるための加熱流路が形成されてい
ることを特徴とする請求項1に記載の薄膜気相成長装置
である。これにより、原料ガス供給配管及び成膜室の壁
の温度を厳密に制御することができ、これらの箇所での
原料が反応したり析出することを防止する。
【0012】請求項6に記載の発明は、前記ロボット室
と成膜室を接続する搬送路に不活性ガス供給口が設けら
れ、該不活性ガスの流れにより成膜室内に残留する反応
ガス及び反応生成物が前記ロボット室及びロードロック
室に流入しないようにしたことを特徴とする請求項1に
記載の薄膜気相成長装置である。
と成膜室を接続する搬送路に不活性ガス供給口が設けら
れ、該不活性ガスの流れにより成膜室内に残留する反応
ガス及び反応生成物が前記ロボット室及びロードロック
室に流入しないようにしたことを特徴とする請求項1に
記載の薄膜気相成長装置である。
【0013】請求項7に記載の発明は、前記ロボット室
を介して成膜室と接続した後工程室を有し、ここで成膜
が終了した基板に熱処理等の後工程を行なうことを特徴
とする請求項1に記載の薄膜気相成長装置である。
を介して成膜室と接続した後工程室を有し、ここで成膜
が終了した基板に熱処理等の後工程を行なうことを特徴
とする請求項1に記載の薄膜気相成長装置である。
【0014】
【発明の実施の形態】以下、本発明の一つの実施の形態
について添付図面を参照しながら説明する。図1は、本
発明の薄膜気相成長装置の全体の構成を示す平面図で、
内部に搬送ロボット10を備えたロボット室(搬送室)
12を中心に、これを取り巻くように成膜室14、ロー
ドロック室16、及び付属工程室18が配置され、それ
ぞれがロボット室12とゲートバルブ20,22,24
を有する気密通路26,28,30で連絡されている。
これらの各室は、排気制御弁32,34,36,38を
介して排気ポンプ40,42,44に接続され、所定の
真空度に維持されている。
について添付図面を参照しながら説明する。図1は、本
発明の薄膜気相成長装置の全体の構成を示す平面図で、
内部に搬送ロボット10を備えたロボット室(搬送室)
12を中心に、これを取り巻くように成膜室14、ロー
ドロック室16、及び付属工程室18が配置され、それ
ぞれがロボット室12とゲートバルブ20,22,24
を有する気密通路26,28,30で連絡されている。
これらの各室は、排気制御弁32,34,36,38を
介して排気ポンプ40,42,44に接続され、所定の
真空度に維持されている。
【0015】成膜室14、ロボット室12、付属工程室
18については、図2に断面図が示されている。成膜室
14は、釜状の容器本体46により形成され、容器底部
48の中央に開口する筒状部50内を昇降可能なサセプ
タ(基板保持手段)52と、容器本体46の頂部に取り
付けられたシャワヘッド(原料ガス噴射ノズル)54と
を備えている。これら容器本体46、底部48及び筒状
部50とシャワヘッド54には、オイルのような熱媒体
を流通させる流路56,58,60,62が形成され、
この流路は外部配管64を介して、ポンプ等の抽送手段
66、及びヒータ等の加熱手段68からなる熱媒体ユニ
ット70に連通している。また、成膜室14の必要箇所
を冷却するために冷却水循環ユニット72が設けられて
いる。容器底部48には、生成ガスを排気する排気孔7
4が開口し、これは真空ポンプ42に連結している。
18については、図2に断面図が示されている。成膜室
14は、釜状の容器本体46により形成され、容器底部
48の中央に開口する筒状部50内を昇降可能なサセプ
タ(基板保持手段)52と、容器本体46の頂部に取り
付けられたシャワヘッド(原料ガス噴射ノズル)54と
を備えている。これら容器本体46、底部48及び筒状
部50とシャワヘッド54には、オイルのような熱媒体
を流通させる流路56,58,60,62が形成され、
この流路は外部配管64を介して、ポンプ等の抽送手段
66、及びヒータ等の加熱手段68からなる熱媒体ユニ
ット70に連通している。また、成膜室14の必要箇所
を冷却するために冷却水循環ユニット72が設けられて
いる。容器底部48には、生成ガスを排気する排気孔7
4が開口し、これは真空ポンプ42に連結している。
【0016】上記シャワヘッド54は基板Wよりやや大
きめの径の円板状をなし、その最下層は多数のノズル孔
76を有するノズル板78であり、その上部が有機金属
ガスを含む原料ガスと酸素等の酸化ガスを混合するため
の混合室80となっている。この混合室80は上側の同
軸多重のガス供給管82に連通しており、これにより原
料ガスや酸化ガスが供給される。
きめの径の円板状をなし、その最下層は多数のノズル孔
76を有するノズル板78であり、その上部が有機金属
ガスを含む原料ガスと酸素等の酸化ガスを混合するため
の混合室80となっている。この混合室80は上側の同
軸多重のガス供給管82に連通しており、これにより原
料ガスや酸化ガスが供給される。
【0017】サセプタ52は支持軸84を介して成膜室
14の下方に配置された昇降装置86に連結され、これ
により筒状部50の中を昇降する。筒状部50の所定高
さには、ロボット室12に向かう位置に基板搬送口88
が開口しており、これはベローズ(通路)26を介して
ロボット室12のゲートバルブ20に接続されている。
この基板搬送口88にはパージガス供給口90が開口し
ている。サセプタ52には基板を加熱するためのヒータ
92が設けられ、所定位置に取り付けられた基板温度セ
ンサの検出値に基づいて該ヒータ92への電力を調整し
て基板温度を一定に維持するようにしている。
14の下方に配置された昇降装置86に連結され、これ
により筒状部50の中を昇降する。筒状部50の所定高
さには、ロボット室12に向かう位置に基板搬送口88
が開口しており、これはベローズ(通路)26を介して
ロボット室12のゲートバルブ20に接続されている。
この基板搬送口88にはパージガス供給口90が開口し
ている。サセプタ52には基板を加熱するためのヒータ
92が設けられ、所定位置に取り付けられた基板温度セ
ンサの検出値に基づいて該ヒータ92への電力を調整し
て基板温度を一定に維持するようにしている。
【0018】ロボット室12は、平面視において各壁面
を各工程室14,16,18に向けた多角形(この例で
は四方形)をなし、各壁面にゲートバルブ(開閉弁)2
0,22,24を有する開口部が形成され、各工程室と
通路26,28,30で連絡されている。ロボット室1
2内部に配置された搬送ロボット10は、この例では、
先端にロボットフィンガー94を備えた多関節アーム9
6として構成され、下部の昇降装置98により昇降自在
となっている。
を各工程室14,16,18に向けた多角形(この例で
は四方形)をなし、各壁面にゲートバルブ(開閉弁)2
0,22,24を有する開口部が形成され、各工程室と
通路26,28,30で連絡されている。ロボット室1
2内部に配置された搬送ロボット10は、この例では、
先端にロボットフィンガー94を備えた多関節アーム9
6として構成され、下部の昇降装置98により昇降自在
となっている。
【0019】付属工程室18は、この例では頂部に石英
窓100が設けられ、昇降装置102により昇降可能な
保持台104を備え、プロセスガス雰囲気中で、基板W
に紫外線ランプ106による照射を行って内部の酸素欠
損を補充するものである。保持台104には基板Wを加
熱するヒータ108が設けられている。付属工程室18
では、この他に他の成膜工程やエッチング、あるいは成
膜の前工程等の任意の付属工程を必要に応じて行う。ま
た、この例では、ロボット室12の一方の壁面は拡張用
として将来の必要に備えている。これは、第2の成膜
室、あるいは他の任意の処理室を必要に応じて併用しあ
るいは予備室として接続することができ、場合に応じて
他のロボット室と接続しても良い。
窓100が設けられ、昇降装置102により昇降可能な
保持台104を備え、プロセスガス雰囲気中で、基板W
に紫外線ランプ106による照射を行って内部の酸素欠
損を補充するものである。保持台104には基板Wを加
熱するヒータ108が設けられている。付属工程室18
では、この他に他の成膜工程やエッチング、あるいは成
膜の前工程等の任意の付属工程を必要に応じて行う。ま
た、この例では、ロボット室12の一方の壁面は拡張用
として将来の必要に備えている。これは、第2の成膜
室、あるいは他の任意の処理室を必要に応じて併用しあ
るいは予備室として接続することができ、場合に応じて
他のロボット室と接続しても良い。
【0020】以下に、この薄膜気相成長装置の付属装置
としての原料供給装置110とプロセスガス供給装置1
12を説明する。原料供給装置110は、高誘電体又は
強誘電体を形成すべき金属の有機化合物を含む原料ガス
を供給するもので、これらの原料を適当な溶剤に溶かし
て液体原料として気化させるが、原料によっては固体原
料を昇華させて気化する。この例では、Ba,Sr,T
i又はその化合物をDPM(ジビバロイメタン)の化合
物とし、これをTHF(テトラヒドロフラン)に溶解し
て液体原料114,116,118とする。これを必要
な割合に応じてミキシングマニホールド120で混合
し、気化器122で加熱して気化する。
としての原料供給装置110とプロセスガス供給装置1
12を説明する。原料供給装置110は、高誘電体又は
強誘電体を形成すべき金属の有機化合物を含む原料ガス
を供給するもので、これらの原料を適当な溶剤に溶かし
て液体原料として気化させるが、原料によっては固体原
料を昇華させて気化する。この例では、Ba,Sr,T
i又はその化合物をDPM(ジビバロイメタン)の化合
物とし、これをTHF(テトラヒドロフラン)に溶解し
て液体原料114,116,118とする。これを必要
な割合に応じてミキシングマニホールド120で混合
し、気化器122で加熱して気化する。
【0021】このような原料は、室温と気化温度の間の
所定温度で溶剤のみが気化してしまうので、このような
領域をできるだけ迅速に通過するように原料に熱変化を
与える必要がある。従って、気化器122としては、液
体を多孔質の加熱体に吸収させる、液体を微小液滴や霧
状にしてから加熱体の表面に供給する、あるいは、加熱
した壁の微小隙間に毛管現象を利用して押し込む等の種
々の形式のものが用いられる。原料ガスを成膜室14に
供給する原料ガス配管124はガス供給管82に接続さ
れ、これらは原料ガスの気化温度以上に保熱している。
所定温度で溶剤のみが気化してしまうので、このような
領域をできるだけ迅速に通過するように原料に熱変化を
与える必要がある。従って、気化器122としては、液
体を多孔質の加熱体に吸収させる、液体を微小液滴や霧
状にしてから加熱体の表面に供給する、あるいは、加熱
した壁の微小隙間に毛管現象を利用して押し込む等の種
々の形式のものが用いられる。原料ガスを成膜室14に
供給する原料ガス配管124はガス供給管82に接続さ
れ、これらは原料ガスの気化温度以上に保熱している。
【0022】プロセスガス供給装置112は、種々の目
的に用いるガスを貯留するボンベ126,128,13
0、流量調整器132,134,136、配管138、
開閉又は調整弁140,142,144から構成され、
プロセスガスの種類としては、原料の一部である酸化ガ
ス(O2,N2O,H2O等)、有機金属原料ガスの搬送
に用いられるキャリアガス(Ar等)、及び各工程室1
2,14,16,18内の雰囲気を無害化して工程を迅
速化するパージガス(N2,Ar)等がある。これら
は、目的に応じて単体で又は混合して所定の配管経路で
各工程室の所定箇所に供給される。
的に用いるガスを貯留するボンベ126,128,13
0、流量調整器132,134,136、配管138、
開閉又は調整弁140,142,144から構成され、
プロセスガスの種類としては、原料の一部である酸化ガ
ス(O2,N2O,H2O等)、有機金属原料ガスの搬送
に用いられるキャリアガス(Ar等)、及び各工程室1
2,14,16,18内の雰囲気を無害化して工程を迅
速化するパージガス(N2,Ar)等がある。これら
は、目的に応じて単体で又は混合して所定の配管経路で
各工程室の所定箇所に供給される。
【0023】以上のように構成された薄膜気相成長装置
の作用を説明する。原料供給装置110から供給された
原料ガス及びプロセスガス供給装置112からの酸化ガ
スは、それぞれ原料ガス配管124及びプロセスガス導
入配管138からガス供給管82を介してシャワーヘッ
ド54に供給され、混合室80で混合されてノズル板7
8のノズル孔76から基板Wに噴射される。基板Wはサ
セプタ52のヒータ92で反応温度以上の所定温度に維
持されており、酸化ガスを含む原料ガスはここで反応
し、基板W上に成膜する。成膜室14及びシャワヘッド
54は壁内の流路56,58,60,62を流れる熱媒
体により、反応温度以下で凝結温度以上の所定温度に加
熱されており、従って、未反応ガスや反応生成物が壁に
堆積することが防止される。
の作用を説明する。原料供給装置110から供給された
原料ガス及びプロセスガス供給装置112からの酸化ガ
スは、それぞれ原料ガス配管124及びプロセスガス導
入配管138からガス供給管82を介してシャワーヘッ
ド54に供給され、混合室80で混合されてノズル板7
8のノズル孔76から基板Wに噴射される。基板Wはサ
セプタ52のヒータ92で反応温度以上の所定温度に維
持されており、酸化ガスを含む原料ガスはここで反応
し、基板W上に成膜する。成膜室14及びシャワヘッド
54は壁内の流路56,58,60,62を流れる熱媒
体により、反応温度以下で凝結温度以上の所定温度に加
熱されており、従って、未反応ガスや反応生成物が壁に
堆積することが防止される。
【0024】次に、各工程室間の基板Wの搬送を説明す
る。ロードロック室16には、基板Wを搭載したカセッ
ト(搬送容器)が載置されている。成膜が終わった基板
Wを取り出すには、成膜室14の昇降装置86を作動さ
せてサセプタ52を基板搬送口88まで下降させてお
き、ロボット室12の成膜室側ゲートバルブ20を開い
てベローズ26内の通路を介してロボットアーム96に
より基板Wを取り出す。その後、ロボット室12の成膜
室側ゲートバルブ20を閉じ、付属処理室18側のゲー
トバルブ24を開いて基板Wを保持台104上に載せ、
ゲートバルブ24を閉じて後工程処理を行なう。
る。ロードロック室16には、基板Wを搭載したカセッ
ト(搬送容器)が載置されている。成膜が終わった基板
Wを取り出すには、成膜室14の昇降装置86を作動さ
せてサセプタ52を基板搬送口88まで下降させてお
き、ロボット室12の成膜室側ゲートバルブ20を開い
てベローズ26内の通路を介してロボットアーム96に
より基板Wを取り出す。その後、ロボット室12の成膜
室側ゲートバルブ20を閉じ、付属処理室18側のゲー
トバルブ24を開いて基板Wを保持台104上に載せ、
ゲートバルブ24を閉じて後工程処理を行なう。
【0025】次に、ロードロック室16側のゲートバル
ブ22を開いて未処理基板Wをカセットから取り出し、
ロボット室12に搬入し、取り出しと逆の工程で成膜室
14に搬入して成膜処理を行なう。後工程処理が終わっ
た基板Wは同様の工程によりロボット室12からロード
ロック室16に搬送され、カセットに収容される。成膜
室14の雰囲気がロボット室12側に流入するのを防止
するために、パージガス供給口90よりパージガスを供
給しながら搬入又は搬出を行っても良い。
ブ22を開いて未処理基板Wをカセットから取り出し、
ロボット室12に搬入し、取り出しと逆の工程で成膜室
14に搬入して成膜処理を行なう。後工程処理が終わっ
た基板Wは同様の工程によりロボット室12からロード
ロック室16に搬送され、カセットに収容される。成膜
室14の雰囲気がロボット室12側に流入するのを防止
するために、パージガス供給口90よりパージガスを供
給しながら搬入又は搬出を行っても良い。
【0026】このように、この装置ではロボット室12
を中心に、成膜室14を含む各処理工程室がこれを取り
巻くように配置されているので、各工程室14,16,
18間の基板Wの搬送が簡単な装置と経路によって行わ
れる。また、工程室14,16,18間への通路26,
28,30にゲートバルブ20,22,24が設けられ
ているとともに、これらがロボット室12を介して接続
されているので、室間の雰囲気の流通が確実に防止さ
れ、処理を始めるために雰囲気を形成するための時間が
短縮される。
を中心に、成膜室14を含む各処理工程室がこれを取り
巻くように配置されているので、各工程室14,16,
18間の基板Wの搬送が簡単な装置と経路によって行わ
れる。また、工程室14,16,18間への通路26,
28,30にゲートバルブ20,22,24が設けられ
ているとともに、これらがロボット室12を介して接続
されているので、室間の雰囲気の流通が確実に防止さ
れ、処理を始めるために雰囲気を形成するための時間が
短縮される。
【0027】また、この装置では、成膜室14が高温
(200℃以上)に加熱されるので、昇温と冷却に伴
い、ロボット室12と成膜室14の間に相対変位が生じ
る。しかしながら、成膜室14とロボット室12の間を
ベローズ26によって連絡して搬送路を形成しているの
で、これが熱膨張又は収縮による相対変位を吸収し、成
膜室14とロボット室12の軸間距離に変化をもたらさ
ず、ロボット搬送の信頼性を向上させるとともに、各装
置に歪み応力や変形を起こすことが防止される。
(200℃以上)に加熱されるので、昇温と冷却に伴
い、ロボット室12と成膜室14の間に相対変位が生じ
る。しかしながら、成膜室14とロボット室12の間を
ベローズ26によって連絡して搬送路を形成しているの
で、これが熱膨張又は収縮による相対変位を吸収し、成
膜室14とロボット室12の軸間距離に変化をもたらさ
ず、ロボット搬送の信頼性を向上させるとともに、各装
置に歪み応力や変形を起こすことが防止される。
【0028】なお、この発明の実施は上記の形態に限定
されるものではなく、発明の趣旨の範囲内で種々の変形
が可能である。例えば、気化原料として液体を用いた
が、固体を昇華させる方法でもよい。また、成膜室14
とロボット室12の相対位置変化を吸収する機構として
は、ダイヤフラムやテフロン等の弾性体材料による配管
の採用も可能である。
されるものではなく、発明の趣旨の範囲内で種々の変形
が可能である。例えば、気化原料として液体を用いた
が、固体を昇華させる方法でもよい。また、成膜室14
とロボット室12の相対位置変化を吸収する機構として
は、ダイヤフラムやテフロン等の弾性体材料による配管
の採用も可能である。
【0029】
【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
構成が複雑で原料気化温度以上の高温内壁を有する成膜
室と搬送室の間での基板の授受が簡単な機構で効率良く
行われ、他の工程室との基板の授受も効率的に行なうこ
とができ、全体の装置構成も簡単で設置のための床面積
も少なくて良い。従って、各処理工程室の独立性を維持
しつつ迅速な基板搬送を行って稼働効率が高い薄膜気相
成長装置を提供することができる。
構成が複雑で原料気化温度以上の高温内壁を有する成膜
室と搬送室の間での基板の授受が簡単な機構で効率良く
行われ、他の工程室との基板の授受も効率的に行なうこ
とができ、全体の装置構成も簡単で設置のための床面積
も少なくて良い。従って、各処理工程室の独立性を維持
しつつ迅速な基板搬送を行って稼働効率が高い薄膜気相
成長装置を提供することができる。
【図1】本発明の実施の形態の薄膜気相成長装置の概略
を示す平面図である。
を示す平面図である。
【図2】図1の薄膜気相成長装置のA−A矢視の断面図
である。
である。
W 基板 12 ロボット室 14 成膜室 16 ロードロック室 18 付属工程室 20,22,24 開閉弁 26,28,30 搬送路 26 ベローズ 52 基板保持手段 54 原料ガス噴射ノズル 70 熱媒体ユニット
Claims (7)
- 【請求項1】 基板に高誘電体又は強誘電体の薄膜を気
相成長させるための薄膜気相成長装置であって、 プロセスガス供給手段と、 原料ガス供給手段と、 前記基板を保持する保持手段と該基板に原料ガスを噴射
する原料ガス噴射ノズルとを備えた気密な成膜室と、 外部との間で基板の出し入れを行なうためのロードロッ
ク室と、 前記成膜室、ロードロック室にそれぞれ開閉弁を有する
搬送路を介して連絡された搬送ロボット室とを有するこ
とを特徴とする薄膜気相成長装置。 - 【請求項2】 常温で液体であるか又は溶剤に溶解して
液状とした固体である原料を用い、前記液体又は溶剤に
溶解した固体原料を前記原料ガスとする気化器を備えた
ことを特徴とする請求項1に記載の薄膜気相成長装置。 - 【請求項3】 前記成膜室には該成膜室の壁と前記基板
とを加熱する手段が設けられ、該成膜室とロボット室の
間には前者の熱膨張による相対位置変化を吸収する機構
が設けられていることを特徴とする請求項1に記載の薄
膜気相成長装置。 - 【請求項4】 前記気化器と成膜室をつなぐ原料ガス供
給配管及び成膜室の内壁の温度を原料の気化温度以上か
つ反応温度以下に維持し、前記ロボット室及びロードロ
ック室は室温程度に維持することを特徴とする請求項2
に記載の薄膜気相成長装置。 - 【請求項5】 前記原料ガス供給配管及び成膜室内壁に
は、熱媒体循環装置から供給される熱媒体を流通させる
ための加熱流路が形成されていることを特徴とする請求
項1に記載の薄膜気相成長装置。 - 【請求項6】 前記ロボット室と成膜室を接続する搬送
路に不活性ガス供給口が設けられ、該不活性ガスの流れ
により成膜室内に残留する反応ガス及び反応生成物が前
記ロボット室及びロードロック室に流入しないようにし
たことを特徴とする請求項1に記載の薄膜気相成長装
置。 - 【請求項7】 前記ロボット室を介して成膜室と接続し
た後工程室を有し、ここで成膜が終了した基板に熱処理
等の後工程を行なうことを特徴とする請求項1に記載の
薄膜気相成長装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP24332997A JPH10125670A (ja) | 1996-08-27 | 1997-08-25 | 薄膜気相成長装置 |
Applications Claiming Priority (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8-244100 | 1996-08-27 | ||
| JP24410096 | 1996-08-27 | ||
| JP24332997A JPH10125670A (ja) | 1996-08-27 | 1997-08-25 | 薄膜気相成長装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH10125670A true JPH10125670A (ja) | 1998-05-15 |
Family
ID=26536204
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP24332997A Pending JPH10125670A (ja) | 1996-08-27 | 1997-08-25 | 薄膜気相成長装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH10125670A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2008177380A (ja) * | 2007-01-19 | 2008-07-31 | Taiyo Nippon Sanso Corp | 気相成長装置 |
-
1997
- 1997-08-25 JP JP24332997A patent/JPH10125670A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2008177380A (ja) * | 2007-01-19 | 2008-07-31 | Taiyo Nippon Sanso Corp | 気相成長装置 |
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