JPH10130864A - 電子基板上にセラミックコーティングを形成する方法 - Google Patents
電子基板上にセラミックコーティングを形成する方法Info
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- H10P14/6681—Formation of materials, e.g. in the shape of layers or pillars of insulating materials characterised by the type of materials the materials being characterised by the deposition precursor materials the precursor containing a compound comprising Si
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- H10P14/6686—Formation of materials, e.g. in the shape of layers or pillars of insulating materials characterised by the type of materials the materials being characterised by the deposition precursor materials the precursor containing a compound comprising Si the compound comprising silicon and oxygen the compound being a molecule comprising at least one silicon-oxygen bond and the compound having hydrogen or an organic group attached to the silicon or oxygen, e.g. a siloxane
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- H10P14/6921—Inorganic materials composed of oxides, glassy oxides or oxide-based glasses containing silicon
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- H10P14/6921—Inorganic materials composed of oxides, glassy oxides or oxide-based glasses containing silicon
- H10P14/6922—Inorganic materials composed of oxides, glassy oxides or oxide-based glasses containing silicon the material containing Si, O and at least one of H, N, C, F or other non-metal elements, e.g. SiOC, SiOC:H or SiONC
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 湿式エッチング工法に対して耐性を有するコ
ーティングを提供すること。 【解決手段】 電子基板上にセラミックコーティングを
形成する方法であって、コロイドシリカとRSi(O
H)3 (式中、Rは、その少なくとも70%がメチルで
あるという条件で、炭素原子数1〜3のアルキル基、ビ
ニル基、3,3,3−トリフルオロプロピル基、γ−グ
リシドキシプロピル基およびγ−メタクリロキシプロピ
ル基からなる群から選ばれる)の部分縮合物との水性ア
ルカノール分散液を含むコーティング組成物を電子基板
上に適用すること、およびコーティングされた電子基板
を200〜1000℃の温度で加熱して前記コーティン
グ組成物をセラミックコーティングに転化させることを
含む方法。
ーティングを提供すること。 【解決手段】 電子基板上にセラミックコーティングを
形成する方法であって、コロイドシリカとRSi(O
H)3 (式中、Rは、その少なくとも70%がメチルで
あるという条件で、炭素原子数1〜3のアルキル基、ビ
ニル基、3,3,3−トリフルオロプロピル基、γ−グ
リシドキシプロピル基およびγ−メタクリロキシプロピ
ル基からなる群から選ばれる)の部分縮合物との水性ア
ルカノール分散液を含むコーティング組成物を電子基板
上に適用すること、およびコーティングされた電子基板
を200〜1000℃の温度で加熱して前記コーティン
グ組成物をセラミックコーティングに転化させることを
含む方法。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、メチルシルセスキ
オキサン樹脂、コロイドシリカおよび/または特定の他
の不透明材料および/または遮蔽剤(obstructing agen
t )を含む組成物を使用して電子デバイス用のコーティ
ングとしてのコーティングを形成する方法である。
オキサン樹脂、コロイドシリカおよび/または特定の他
の不透明材料および/または遮蔽剤(obstructing agen
t )を含む組成物を使用して電子デバイス用のコーティ
ングとしてのコーティングを形成する方法である。
【0002】
【従来の技術および発明が解決しようとする課題】シル
セスキオキサン水素樹脂(HSiO3/2 )n から得られ
るセラミックコーティングを電子デバイスのような基板
に使用することは公知である。米国特許第4,756,
977号明細書には、電子基板上にシルセスキオキサン
水素樹脂の溶液を適用し、その後に、被覆された基板を
200〜1,000℃の範囲内の温度で空気中で加熱す
ることにより電子基板上にシリカコーティングを形成す
る方法が開示されている。しかしながら、シルセスキオ
キサン水素樹脂から厚い平坦化コーティングを形成する
ことはできない。しかしながら、米国特許第4,75
6,977号明細書には、不透明材料または遮蔽剤をコ
ーティング中に使用することは開示されておらず、また
(HSiO3/2 )n 樹脂から得られるセラミックコーテ
ィングが湿式エッチング工法に対して耐性を有するもの
であるということも教示されていない。
セスキオキサン水素樹脂(HSiO3/2 )n から得られ
るセラミックコーティングを電子デバイスのような基板
に使用することは公知である。米国特許第4,756,
977号明細書には、電子基板上にシルセスキオキサン
水素樹脂の溶液を適用し、その後に、被覆された基板を
200〜1,000℃の範囲内の温度で空気中で加熱す
ることにより電子基板上にシリカコーティングを形成す
る方法が開示されている。しかしながら、シルセスキオ
キサン水素樹脂から厚い平坦化コーティングを形成する
ことはできない。しかしながら、米国特許第4,75
6,977号明細書には、不透明材料または遮蔽剤をコ
ーティング中に使用することは開示されておらず、また
(HSiO3/2 )n 樹脂から得られるセラミックコーテ
ィングが湿式エッチング工法に対して耐性を有するもの
であるということも教示されていない。
【0003】加水分解または部分加水分解したケイ酸エ
ステルから得られるセラミックコーティングを電子デバ
イスのような基板に対して使用することは公知である。
米国特許第4,749,631号明細書には、電子基板
に加水分解または部分加水分解したケイ酸エステルの溶
液を適用し、その後に、被覆された基板を200〜1,
000℃の範囲内の温度で加熱することにより電子基板
上にシリカコーティングを形成する方法が開示されてい
る。
ステルから得られるセラミックコーティングを電子デバ
イスのような基板に対して使用することは公知である。
米国特許第4,749,631号明細書には、電子基板
に加水分解または部分加水分解したケイ酸エステルの溶
液を適用し、その後に、被覆された基板を200〜1,
000℃の範囲内の温度で加熱することにより電子基板
上にシリカコーティングを形成する方法が開示されてい
る。
【0004】コロイドシリカとRSi(OH)3 の部分
縮合物との酸性分散液を使用して耐摩耗性コーティング
を形成することは公知である。Clark に付与された米国
特許第3,986,997号明細書には、アルコール−
水媒体中のコロイドシリカとメチルシラントリオールの
部分縮合物との酸性分散液を含むコーティング組成物が
開示されている。このコーティング組成物は、種々の基
材に耐摩耗性透明コーティングを適用するのに使用する
ことができる。しかしながら、米国特許第3,986,
997号明細書には、酸性分散液からセラミックもしく
はセラミック様コーティングを形成することまたは電子
基板上に平坦化コーティングを形成するために酸性分散
液を使用することは教示されていない。また、不透明材
料または遮蔽剤として炭化タングステン、タングステン
金属または無水リン酸を使用することは記載されておら
ず、また湿式エッチングに対する耐性を付与する目的で
電子基板上にコーティングを適用することも記載されて
いない。
縮合物との酸性分散液を使用して耐摩耗性コーティング
を形成することは公知である。Clark に付与された米国
特許第3,986,997号明細書には、アルコール−
水媒体中のコロイドシリカとメチルシラントリオールの
部分縮合物との酸性分散液を含むコーティング組成物が
開示されている。このコーティング組成物は、種々の基
材に耐摩耗性透明コーティングを適用するのに使用する
ことができる。しかしながら、米国特許第3,986,
997号明細書には、酸性分散液からセラミックもしく
はセラミック様コーティングを形成することまたは電子
基板上に平坦化コーティングを形成するために酸性分散
液を使用することは教示されていない。また、不透明材
料または遮蔽剤として炭化タングステン、タングステン
金属または無水リン酸を使用することは記載されておら
ず、また湿式エッチングに対する耐性を付与する目的で
電子基板上にコーティングを適用することも記載されて
いない。
【0005】
【課題を解決するための手段】コロイドシリカとメチル
シラントリオールの部分縮合物と特定の他の追加の不透
明材料または遮蔽剤を含む組成物から有用なコーティン
グを形成することができ、これらのコーティングが種々
の侵食工法、特に湿式エッチングに対する保護および耐
性を提供することが見出された。
シラントリオールの部分縮合物と特定の他の追加の不透
明材料または遮蔽剤を含む組成物から有用なコーティン
グを形成することができ、これらのコーティングが種々
の侵食工法、特に湿式エッチングに対する保護および耐
性を提供することが見出された。
【0006】本発明は、電子基板上にコーティングを形
成する方法およびそれによってコーティングされた電子
基板に関する。この方法は、コロイドシリカとRSi
(OH)3 (式中、Rは、その少なくとも70%がメチ
ルであるという条件で、炭素原子数1〜3のアルキル
基、ビニル基、3,3,3−トリフルオロプロピル基、
γ−グリシドキシプロピル基およびγ−メタクリロキシ
プロピル基から選ばれる)の部分縮合物との水性アルカ
ノール分散液を含むコーティング組成物を電子基板に適
用し、その後に、被膜を200〜1,000℃で加熱す
ることによりセラミック質にすることを含む。コロイド
シリカとRSi(OH)3 の部分縮合物との水性アルカ
ノール分散液を含むコーティング組成物を使用すること
によって、電子基板上に厚い平坦化コーティングを形成
することが可能となる。
成する方法およびそれによってコーティングされた電子
基板に関する。この方法は、コロイドシリカとRSi
(OH)3 (式中、Rは、その少なくとも70%がメチ
ルであるという条件で、炭素原子数1〜3のアルキル
基、ビニル基、3,3,3−トリフルオロプロピル基、
γ−グリシドキシプロピル基およびγ−メタクリロキシ
プロピル基から選ばれる)の部分縮合物との水性アルカ
ノール分散液を含むコーティング組成物を電子基板に適
用し、その後に、被膜を200〜1,000℃で加熱す
ることによりセラミック質にすることを含む。コロイド
シリカとRSi(OH)3 の部分縮合物との水性アルカ
ノール分散液を含むコーティング組成物を使用すること
によって、電子基板上に厚い平坦化コーティングを形成
することが可能となる。
【0007】本発明は、コロイドシリカとメチルシラン
トリオールの部分縮合物との水性アルカノール分散液中
に分散した不透明材料または遮蔽剤を含むコーティング
組成物を基板上に塗布することを含む方法にも関する。
コーティングされた基板を、次いで被膜をセラミックコ
ーティングに転化(熱分解)させるのに十分な温度で加
熱する。この方法は、種々の電子デバイス上に保護コー
ティングを形成するのに特に有用である。
トリオールの部分縮合物との水性アルカノール分散液中
に分散した不透明材料または遮蔽剤を含むコーティング
組成物を基板上に塗布することを含む方法にも関する。
コーティングされた基板を、次いで被膜をセラミックコ
ーティングに転化(熱分解)させるのに十分な温度で加
熱する。この方法は、種々の電子デバイス上に保護コー
ティングを形成するのに特に有用である。
【0008】本発明は、コロイドシリカとメチルシラン
トリオールの部分縮合物との水性アルカノール分散液中
に分散した不透明材料または遮蔽剤を含むコーティング
組成物にも関する。
トリオールの部分縮合物との水性アルカノール分散液中
に分散した不透明材料または遮蔽剤を含むコーティング
組成物にも関する。
【0009】この厚い不透明保護セラミックコーティン
グは、種々の形態のエネルギーに対して有効であり、集
積回路の調査を妨げる阻害物質である固形反応性物質を
含む。このコーティングはオゾン、UV−オゾン、気体
状遊離基およびイオン、ならびにいかなる蒸気または液
体から発生した反応性種またはプラズマに対しても有効
である。さらに、このコーティングは耐摩耗性であり、
放射線および光に対して不透明である。
グは、種々の形態のエネルギーに対して有効であり、集
積回路の調査を妨げる阻害物質である固形反応性物質を
含む。このコーティングはオゾン、UV−オゾン、気体
状遊離基およびイオン、ならびにいかなる蒸気または液
体から発生した反応性種またはプラズマに対しても有効
である。さらに、このコーティングは耐摩耗性であり、
放射線および光に対して不透明である。
【0010】前記コーティングは、コロイドシリカとメ
チルシラントリオールの部分縮合物との組み合わせを含
み、このコーティングは酸または塩基を用いての湿式化
学エッチングに対してシルセスキオキサン水素樹脂より
も高い耐性を有する。なぜならこのコーティングはシル
セスキオキサン水素樹脂よりも疎水性の表面を提供する
からである。このことによって、コーティングのピルフ
ァープルーフ(tamper-proof)特性が高められる。この
コーティングは、湿式エッチング工法によるいかなるそ
の後の露出をも妨げ、そのような露出に対して抑止剤と
して作用する固形P2 O5 も含む。固形P2 O5 は、集
積回路およびそのメモリーを容易に破壊するリン酸を発
生することによりその役割を果たす。
チルシラントリオールの部分縮合物との組み合わせを含
み、このコーティングは酸または塩基を用いての湿式化
学エッチングに対してシルセスキオキサン水素樹脂より
も高い耐性を有する。なぜならこのコーティングはシル
セスキオキサン水素樹脂よりも疎水性の表面を提供する
からである。このことによって、コーティングのピルフ
ァープルーフ(tamper-proof)特性が高められる。この
コーティングは、湿式エッチング工法によるいかなるそ
の後の露出をも妨げ、そのような露出に対して抑止剤と
して作用する固形P2 O5 も含む。固形P2 O5 は、集
積回路およびそのメモリーを容易に破壊するリン酸を発
生することによりその役割を果たす。
【0011】
【発明の実施の形態】ある態様のコーティングは、コロ
イドシリカ、メチルシラントリオールの部分縮合物、炭
化タングステン(WC)、タングステン金属(W)およ
び固形P2 O 5 の組み合わせから調製される。前記コー
ティング組成物のこれらの成分は、いかなる微小形電子
デバイスにも適する保護を提供し、ガリウム−ヒ素(G
aAs)、シリコン、金属電子基板または他の電子基
板、デバイスまたはパターン化されたウェハーへの適用
に有用である。所望であれば、気密性を付与するために
PECVD炭化ケイ素、ダイアモンドまたは窒化ケイ素
のような第2の気密コーティングを適用することができ
る。
イドシリカ、メチルシラントリオールの部分縮合物、炭
化タングステン(WC)、タングステン金属(W)およ
び固形P2 O 5 の組み合わせから調製される。前記コー
ティング組成物のこれらの成分は、いかなる微小形電子
デバイスにも適する保護を提供し、ガリウム−ヒ素(G
aAs)、シリコン、金属電子基板または他の電子基
板、デバイスまたはパターン化されたウェハーへの適用
に有用である。所望であれば、気密性を付与するために
PECVD炭化ケイ素、ダイアモンドまたは窒化ケイ素
のような第2の気密コーティングを適用することができ
る。
【0012】「電子基板」なる用語は、フォーカルプレ
ーンアレー(focal plane array)、光電子デバイス、光
起電力形素子、光デバイス、トランジスター様デバイ
ス、3−Dデバイス、絶縁体上にシリコンが存在するデ
バイスおよび超格子デバイスを含む半導体部材の製造用
のシリコンをベースとするデバイスおよびガリウム−ヒ
素をベースとするデバイスを包含することを意味する。
電子基板には、集積回路および半導体デバイスの製造に
より得られるウェハーが含まれる。典型的には、デバイ
スは、依然としてウェハー段階にある内部連結系(inte
rconnect system)、通常はボンドパッド(bond pad)と
いってもよい程度まで完全に組み立てられる。電子デバ
イスが電子基板としてウェハー段階にある間に電子デバ
イスにこれらのコーティングを適用することが望まし
く、経済的である。そのようなコーティングされたデバ
イスを互いに分離し、次いで実装および組立段階に移
す。代わりに、電子アセンブリーに内部連結を適用する
前後に、電子基板は事実上個々に分離された半導体デバ
イスまたは集積回路であってもよい。
ーンアレー(focal plane array)、光電子デバイス、光
起電力形素子、光デバイス、トランジスター様デバイ
ス、3−Dデバイス、絶縁体上にシリコンが存在するデ
バイスおよび超格子デバイスを含む半導体部材の製造用
のシリコンをベースとするデバイスおよびガリウム−ヒ
素をベースとするデバイスを包含することを意味する。
電子基板には、集積回路および半導体デバイスの製造に
より得られるウェハーが含まれる。典型的には、デバイ
スは、依然としてウェハー段階にある内部連結系(inte
rconnect system)、通常はボンドパッド(bond pad)と
いってもよい程度まで完全に組み立てられる。電子デバ
イスが電子基板としてウェハー段階にある間に電子デバ
イスにこれらのコーティングを適用することが望まし
く、経済的である。そのようなコーティングされたデバ
イスを互いに分離し、次いで実装および組立段階に移
す。代わりに、電子アセンブリーに内部連結を適用する
前後に、電子基板は事実上個々に分離された半導体デバ
イスまたは集積回路であってもよい。
【0013】コロイドシリカとRSi(OH)3 の部分
縮合物との水性アルカノール分散液を含むコーティング
組成物を基板上に適用し、次いでコーティング組成物を
セラミックコーティングに転化させるのに十分な温度に
コーティングされた基板を加熱することにより基板上に
形成される。
縮合物との水性アルカノール分散液を含むコーティング
組成物を基板上に適用し、次いでコーティング組成物を
セラミックコーティングに転化させるのに十分な温度に
コーティングされた基板を加熱することにより基板上に
形成される。
【0014】「セラミックコーティング」なる表現は、
当該コーティング組成物を加熱するかまたは熱分解させ
た後に得られる硬質コーティングを意味する。このセラ
ミックコーティングは、非晶質シリカ(SiO2 )物質
と、残留炭素およびシラノール(≡SiOH)を完全に
含まないわけではない非晶質シリカ様物質の両方を含ん
でもよい。前記残留炭素およびシラノールは当該コーテ
ィング組成物を加熱することによって得られる。
当該コーティング組成物を加熱するかまたは熱分解させ
た後に得られる硬質コーティングを意味する。このセラ
ミックコーティングは、非晶質シリカ(SiO2 )物質
と、残留炭素およびシラノール(≡SiOH)を完全に
含まないわけではない非晶質シリカ様物質の両方を含ん
でもよい。前記残留炭素およびシラノールは当該コーテ
ィング組成物を加熱することによって得られる。
【0015】コロイドシリカとRSi(OH)3 (式
中、Rは上記の通りのものである)の部分縮合物との水
性アルカノール分散液は当該技術分野において周知であ
り、米国特許第3,986,997号明細書に記載され
ている。この特許明細書には、コロイドシリカとメチル
シラントリオールの部分縮合物とを含む分散液を含むコ
ーティング組成物が教示されている。
中、Rは上記の通りのものである)の部分縮合物との水
性アルカノール分散液は当該技術分野において周知であ
り、米国特許第3,986,997号明細書に記載され
ている。この特許明細書には、コロイドシリカとメチル
シラントリオールの部分縮合物とを含む分散液を含むコ
ーティング組成物が教示されている。
【0016】本発明のコーティング組成物のシリカ成分
は5〜150ミリミクロン(ナノメートル)の粒径を有
する水性コロイドシリカ分散体として存在する。当該コ
ーティング組成物の部分縮合物成分は主にメチルシラン
トリオールから得られるものであるが、式:RSi(O
H)3 (式中、Rは炭素原子数2または3のアルキル
基、ビニル基(CH2 =CH−);3,3,3−トリフ
ルオロプロピル基(CF 3 CH2 CH2 −);3−グリ
シドキシプロピル基または3−メタクリロキシプロピル
基(CH2 =C(CH3 )COOCH2 CH2 CH
2 −)である)により表される他のシラノールを含んで
もよい。シラノールの少なくとも70重量%はCH3 S
i(OH)3 である。
は5〜150ミリミクロン(ナノメートル)の粒径を有
する水性コロイドシリカ分散体として存在する。当該コ
ーティング組成物の部分縮合物成分は主にメチルシラン
トリオールから得られるものであるが、式:RSi(O
H)3 (式中、Rは炭素原子数2または3のアルキル
基、ビニル基(CH2 =CH−);3,3,3−トリフ
ルオロプロピル基(CF 3 CH2 CH2 −);3−グリ
シドキシプロピル基または3−メタクリロキシプロピル
基(CH2 =C(CH3 )COOCH2 CH2 CH
2 −)である)により表される他のシラノールを含んで
もよい。シラノールの少なくとも70重量%はCH3 S
i(OH)3 である。
【0017】好ましくは、コロイドシリカとRSi(O
H)3 の部分縮合物との水性アルカノール分散液は固形
物を10〜50重量%含む。この固形物の内訳は10〜
70重量%のコロイドシリカと30〜90重量%の前記
部分縮合物である。部分縮合物成分は、低級脂肪族アル
コール−水溶媒、すなわちメタノール、エタノール、イ
ソプロパノール、n−ブチルアルコールまたはこれらの
混合物中に分散される。
H)3 の部分縮合物との水性アルカノール分散液は固形
物を10〜50重量%含む。この固形物の内訳は10〜
70重量%のコロイドシリカと30〜90重量%の前記
部分縮合物である。部分縮合物成分は、低級脂肪族アル
コール−水溶媒、すなわちメタノール、エタノール、イ
ソプロパノール、n−ブチルアルコールまたはこれらの
混合物中に分散される。
【0018】コロシドシリカとRSi(OH)3 (式
中、Rは上記の通りである)の部分縮合物との前記水性
アルカノール分散液は、トリアルコキシシランRSi
(OCH 3 )3 をコロイドシリカヒドロゾルに加え、酢
酸のような有機酸を用いてpHを3〜6に調節すること
により調製される。トリシラノールは、トリアルキルシ
ランをコロイドシリカの酸性水分散液に加えることによ
りin situ で生成する。酸性の水性媒体中でのシラノー
ルの生成時に、ヒドロキシル置換基の部分縮合が起こっ
て≡Si−O−Si≡結合が形成される。シランのアル
コキシ置換基の加水分解によりアルコールが生成する。
所望の固形分に依存して、追加のアルコール、水または
水混和性溶剤を加えて当該コーティング組成物の固形分
を調節することができる。このコーティング組成物は数
日間安定な透明または僅かに曇った低粘度流体である
が、≡SiOHの縮合は非常に遅い速度で続き、コーテ
ィング組成物は次第にゲル構造を形成していく。
中、Rは上記の通りである)の部分縮合物との前記水性
アルカノール分散液は、トリアルコキシシランRSi
(OCH 3 )3 をコロイドシリカヒドロゾルに加え、酢
酸のような有機酸を用いてpHを3〜6に調節すること
により調製される。トリシラノールは、トリアルキルシ
ランをコロイドシリカの酸性水分散液に加えることによ
りin situ で生成する。酸性の水性媒体中でのシラノー
ルの生成時に、ヒドロキシル置換基の部分縮合が起こっ
て≡Si−O−Si≡結合が形成される。シランのアル
コキシ置換基の加水分解によりアルコールが生成する。
所望の固形分に依存して、追加のアルコール、水または
水混和性溶剤を加えて当該コーティング組成物の固形分
を調節することができる。このコーティング組成物は数
日間安定な透明または僅かに曇った低粘度流体である
が、≡SiOHの縮合は非常に遅い速度で続き、コーテ
ィング組成物は次第にゲル構造を形成していく。
【0019】本発明のコーティング組成物は、タングス
テン、炭化タングステンおよびP2O5 に加えて、他の
不透明材料または遮蔽剤を場合に応じて含んでもよい。
本発明の目的に対し、不透明材料または遮蔽剤なる用語
は、樹脂および最終的なセラミックコーティング中に分
散され、デバイスの(i) 調査の阻止、(ii)調査の妨害ま
たは(iii) リバースエンジニアリング(reverse engine
ering)を防止するのに役立つ微粉固体相を示すために用
いる。
テン、炭化タングステンおよびP2O5 に加えて、他の
不透明材料または遮蔽剤を場合に応じて含んでもよい。
本発明の目的に対し、不透明材料または遮蔽剤なる用語
は、樹脂および最終的なセラミックコーティング中に分
散され、デバイスの(i) 調査の阻止、(ii)調査の妨害ま
たは(iii) リバースエンジニアリング(reverse engine
ering)を防止するのに役立つ微粉固体相を示すために用
いる。
【0020】本発明に有用な特定の材料には、限定する
わけではないが、光学的に不透明な材料、ラジオパク材
料(radiopaque material )、発光材料、酸化力のある
材料、耐摩耗性材料、磁性材料および伝導性材料が含ま
れる。種々の無機および有機種の材料を、限定するわけ
ではないが、粉末、粒子、フレークおよび微小中空球を
含む種々の形態で使用することができる。
わけではないが、光学的に不透明な材料、ラジオパク材
料(radiopaque material )、発光材料、酸化力のある
材料、耐摩耗性材料、磁性材料および伝導性材料が含ま
れる。種々の無機および有機種の材料を、限定するわけ
ではないが、粉末、粒子、フレークおよび微小中空球を
含む種々の形態で使用することができる。
【0021】光学的に不透明な材料は、前記プレセラミ
ックケイ素含有材料と混合された場合に、結果として得
られるコーティングを可視光に対して不透過性にするも
のである。光学的に不透明な材料には、限定するわけで
はないが、ケイ素の酸化物、窒化物および炭化物、アル
ミナ、金属および無機顔料が含まれる。ある好ましい任
意の光学的に不透明な材料は、6ミクロンの平均粒度を
有するプラズマアルミナ微小中空球、5〜40ミクロン
の平均粒度を有するシリカ微小中空球、窒化ケイ素(S
i3 N4 )粉末またはホイスカー、炭化ケイ素(Si
C)粉末またはホイスカー、窒化アルミナ(AlN)粉
末、および0.4ミクロンの平均粒度を有するブラック
フェロ(black Ferro )(商標)F6331のような黒
色無機顔料である。
ックケイ素含有材料と混合された場合に、結果として得
られるコーティングを可視光に対して不透過性にするも
のである。光学的に不透明な材料には、限定するわけで
はないが、ケイ素の酸化物、窒化物および炭化物、アル
ミナ、金属および無機顔料が含まれる。ある好ましい任
意の光学的に不透明な材料は、6ミクロンの平均粒度を
有するプラズマアルミナ微小中空球、5〜40ミクロン
の平均粒度を有するシリカ微小中空球、窒化ケイ素(S
i3 N4 )粉末またはホイスカー、炭化ケイ素(Si
C)粉末またはホイスカー、窒化アルミナ(AlN)粉
末、および0.4ミクロンの平均粒度を有するブラック
フェロ(black Ferro )(商標)F6331のような黒
色無機顔料である。
【0022】ラジオパク材料は、前記プレセラミックケ
イ素含有材料と混合された場合に、結果として得られる
コーティングをX線、紫外線、赤外線および可視光のよ
うな放射線ならびに音波に対して不透過性にするもので
ある。ラジオパク材料には、限定するわけではないが、
鉛のような重金属ならびにバリウム、鉛、銀、金、カド
ミウム、アンチモン、錫、パラジウム、ストロンチウム
およびビスマスのような重金属の不溶性塩が含まれる。
前記塩には、例えば炭酸塩、硫酸塩および酸化物も含ま
れる。
イ素含有材料と混合された場合に、結果として得られる
コーティングをX線、紫外線、赤外線および可視光のよ
うな放射線ならびに音波に対して不透過性にするもので
ある。ラジオパク材料には、限定するわけではないが、
鉛のような重金属ならびにバリウム、鉛、銀、金、カド
ミウム、アンチモン、錫、パラジウム、ストロンチウム
およびビスマスのような重金属の不溶性塩が含まれる。
前記塩には、例えば炭酸塩、硫酸塩および酸化物も含ま
れる。
【0023】発光材料は、前記プレセラミックケイ素含
有材料と混合された場合に、エネルギーを吸収し、熱輻
射よりも多くの電磁線を放射するものである。これらの
材料は、典型的には燐光物質、例えば硫化物(すなわ
ち、硫化亜鉛および硫化カドミウム);セレン化物;ス
ルホセレン化物;オキシ硫化物;ボレート、アルミネー
ト、ガレートおよびシリケートのような酸素含有率の高
い燐光物質;ならびにアルカリ金属ハロゲン化物;アル
カリ土類金属ハロゲン化物およびオキシハロゲン化物の
ようなハロゲン化物燐光物質である。硫化物が好まし
く、硫化亜鉛が最も好ましい。燐光化合物(phosphor c
ompound )は、活性剤と共にドープされてもよい。活性
剤には、限定するわけではないが、マンガン、銀および
銅;ならびにハロゲン化物の形態にある希土類イオンが
含まれる。前記活性剤は、燐光物質の重量に基づいて概
して0.1〜10モル%の量で存在する。
有材料と混合された場合に、エネルギーを吸収し、熱輻
射よりも多くの電磁線を放射するものである。これらの
材料は、典型的には燐光物質、例えば硫化物(すなわ
ち、硫化亜鉛および硫化カドミウム);セレン化物;ス
ルホセレン化物;オキシ硫化物;ボレート、アルミネー
ト、ガレートおよびシリケートのような酸素含有率の高
い燐光物質;ならびにアルカリ金属ハロゲン化物;アル
カリ土類金属ハロゲン化物およびオキシハロゲン化物の
ようなハロゲン化物燐光物質である。硫化物が好まし
く、硫化亜鉛が最も好ましい。燐光化合物(phosphor c
ompound )は、活性剤と共にドープされてもよい。活性
剤には、限定するわけではないが、マンガン、銀および
銅;ならびにハロゲン化物の形態にある希土類イオンが
含まれる。前記活性剤は、燐光物質の重量に基づいて概
して0.1〜10モル%の量で存在する。
【0024】耐摩耗性材料は、前記プレセラミックケイ
素含有材料と混合された場合に、結果として得られるコ
ーティングを引っ掻くことのような摩擦手段による脱離
に耐えられるものにするものである。耐摩耗性材料をダ
イヤモンド、ダイヤモンドダスト、窒化チタン(Ti
N)、炭化タンタル(TaC)、グラファイト繊維、K
EVLAR(芳香族ポリアミド繊維に対するDuPontの登
録商標)、NEXTEL(ボリアにより改質されたアル
ミナ−シリカ繊維に対する3M Company(ミネソタ州セン
トポール所在)の登録商標)および酸化アルミニウム
(Al2 O3 )により例示するが、これらに限定される
わけではない。上記のように、炭化タングステンが最も
好ましい耐摩耗性材料である。
素含有材料と混合された場合に、結果として得られるコ
ーティングを引っ掻くことのような摩擦手段による脱離
に耐えられるものにするものである。耐摩耗性材料をダ
イヤモンド、ダイヤモンドダスト、窒化チタン(Ti
N)、炭化タンタル(TaC)、グラファイト繊維、K
EVLAR(芳香族ポリアミド繊維に対するDuPontの登
録商標)、NEXTEL(ボリアにより改質されたアル
ミナ−シリカ繊維に対する3M Company(ミネソタ州セン
トポール所在)の登録商標)および酸化アルミニウム
(Al2 O3 )により例示するが、これらに限定される
わけではない。上記のように、炭化タングステンが最も
好ましい耐摩耗性材料である。
【0025】耐エネルギー性材料は、前記プレセラミッ
クケイ素含有材料と混合された場合に、オゾン、UV−
オゾン、気体状遊離基およびイオン、いかなる蒸気また
は液体から発生した反応性種およびプラズマのようなエ
ネルギー源と反応し、回路およびメモリーの破壊を効率
的に引き起こすものである。耐エネルギー性材料を鉛、
タングステン、タンタルおよびアンチモンのような重金
属により例示するが、これらに限定されるわけではな
い。
クケイ素含有材料と混合された場合に、オゾン、UV−
オゾン、気体状遊離基およびイオン、いかなる蒸気また
は液体から発生した反応性種およびプラズマのようなエ
ネルギー源と反応し、回路およびメモリーの破壊を効率
的に引き起こすものである。耐エネルギー性材料を鉛、
タングステン、タンタルおよびアンチモンのような重金
属により例示するが、これらに限定されるわけではな
い。
【0026】磁性材料は、前記プレセラミックケイ素含
有材料と混合された場合に、結果として得られる被覆を
磁性を帯びうるもの(すなわち、実効磁気モーメントを
有する磁場により磁化されるもの)にするものである。
磁性材料を炭素合金フェライト、鉄カルボニル、ならび
に鉄、マンガン、コバルト、ニッケル、銅、チタン、バ
ナジウム、モリブデン、マグネシウム、アルミニウム、
クロム、ジルコニウム、鉛および亜鉛のような金属の合
金により例示する。ある特定の磁性材料はFe 2 O3 、
MnZn、NiZnおよびCuZnである。
有材料と混合された場合に、結果として得られる被覆を
磁性を帯びうるもの(すなわち、実効磁気モーメントを
有する磁場により磁化されるもの)にするものである。
磁性材料を炭素合金フェライト、鉄カルボニル、ならび
に鉄、マンガン、コバルト、ニッケル、銅、チタン、バ
ナジウム、モリブデン、マグネシウム、アルミニウム、
クロム、ジルコニウム、鉛および亜鉛のような金属の合
金により例示する。ある特定の磁性材料はFe 2 O3 、
MnZn、NiZnおよびCuZnである。
【0027】伝導性材料は、前記プレセラミックケイ素
含有材料と混合された場合に、結果として得られる被覆
を電気的にまたは熱的に伝導性にするものである。伝導
性材料を金、銀、銅、アルミニウム、ニッケル、亜鉛、
クロム、コバルトおよびダイヤモンドにより例示する。
含有材料と混合された場合に、結果として得られる被覆
を電気的にまたは熱的に伝導性にするものである。伝導
性材料を金、銀、銅、アルミニウム、ニッケル、亜鉛、
クロム、コバルトおよびダイヤモンドにより例示する。
【0028】本発明に有用な他の不透明材料または遮蔽
剤には、種々の金属の酸化物、窒化物、硼化物および炭
化物ならびに非金属、例えばガラス、リンオキシ窒化物
(PON)、アルミナ、二酸化チタン、酸化亜鉛、酸化
ジルコニウム(ZrO2 )および酸化ルテニウム(Ru
O2 );チタン酸カリウムおよびチタン酸バリウムのよ
うなチタン酸塩;ニオブ酸リチウム(LiNbO3 )お
よびニオブ酸鉛Pb(NbO3 )2 のようなニオブ酸
塩;硫酸バリウム;炭酸カルシウム;沈降ダイアトマイ
ト;ケイ酸アルミニウムまたは他のケイ酸塩;クリスタ
ルバイオレット(C25H30N3 Cl)およびシアニンの
ような顔料および染料;燐光物質;銀、アルミニウムま
たは銅のような金属;ウォラストナイト(CaSi
O3 );マイカ;カオリン;クレー;タルク;セルロー
ス、ポリイミド、フェノール樹脂、エポキシ樹脂、ポリ
ベンゾシクロブタンのような有機物質;ポリテトラフル
オロエチレン(C2 F4 )n 、フッ化ビニリデンH2 C
=CF2 およびヘキサフルオロプロピレンCF3 CF:
CF2 のようなフルオロカーボンポリマー;ストロンチ
ウム、ジルコニウム、バリウム、鉛、ランタン、鉄、亜
鉛およびマグネシウムのような金属のチタン酸塩、ニオ
ブ酸塩またはタングステン酸塩、すなわち、チタン酸バ
リウム(BaTiO3 )、チタン酸カリウム(K2 Ti
O3 )、ニオブ酸鉛、チタン酸リチウム、チタン酸スト
ロンチウム、チタン酸バリウムストロンチウム、チタン
酸鉛ランタンジルコニウム、チタン酸鉛ジルコニウムお
よびタングステン酸鉛のような高誘電率材料のような合
成物質および天然物質が含まれる。
剤には、種々の金属の酸化物、窒化物、硼化物および炭
化物ならびに非金属、例えばガラス、リンオキシ窒化物
(PON)、アルミナ、二酸化チタン、酸化亜鉛、酸化
ジルコニウム(ZrO2 )および酸化ルテニウム(Ru
O2 );チタン酸カリウムおよびチタン酸バリウムのよ
うなチタン酸塩;ニオブ酸リチウム(LiNbO3 )お
よびニオブ酸鉛Pb(NbO3 )2 のようなニオブ酸
塩;硫酸バリウム;炭酸カルシウム;沈降ダイアトマイ
ト;ケイ酸アルミニウムまたは他のケイ酸塩;クリスタ
ルバイオレット(C25H30N3 Cl)およびシアニンの
ような顔料および染料;燐光物質;銀、アルミニウムま
たは銅のような金属;ウォラストナイト(CaSi
O3 );マイカ;カオリン;クレー;タルク;セルロー
ス、ポリイミド、フェノール樹脂、エポキシ樹脂、ポリ
ベンゾシクロブタンのような有機物質;ポリテトラフル
オロエチレン(C2 F4 )n 、フッ化ビニリデンH2 C
=CF2 およびヘキサフルオロプロピレンCF3 CF:
CF2 のようなフルオロカーボンポリマー;ストロンチ
ウム、ジルコニウム、バリウム、鉛、ランタン、鉄、亜
鉛およびマグネシウムのような金属のチタン酸塩、ニオ
ブ酸塩またはタングステン酸塩、すなわち、チタン酸バ
リウム(BaTiO3 )、チタン酸カリウム(K2 Ti
O3 )、ニオブ酸鉛、チタン酸リチウム、チタン酸スト
ロンチウム、チタン酸バリウムストロンチウム、チタン
酸鉛ランタンジルコニウム、チタン酸鉛ジルコニウムお
よびタングステン酸鉛のような高誘電率材料のような合
成物質および天然物質が含まれる。
【0029】使用される任意の不透明材料または遮蔽剤
の種類は、当該コーティングの意図する用途に依存す
る。従って、中間層誘電体として当該コーティングを使
用する場合に、当該コーティングが低い誘電率(DK)
を有するには、アルミナのような材料が望ましい。高い
DKを有するコーティングが望ましい場合には、チタン
酸バリウムまたはニオブ酸鉛のような材料を使用すべき
である。導電性コーティングが望ましい場合には、他の
種類の金属を添加することができる。
の種類は、当該コーティングの意図する用途に依存す
る。従って、中間層誘電体として当該コーティングを使
用する場合に、当該コーティングが低い誘電率(DK)
を有するには、アルミナのような材料が望ましい。高い
DKを有するコーティングが望ましい場合には、チタン
酸バリウムまたはニオブ酸鉛のような材料を使用すべき
である。導電性コーティングが望ましい場合には、他の
種類の金属を添加することができる。
【0030】不透明材料または遮蔽剤の粒度および形状
は、当該コーティングの材料の種類および望ましい厚さ
のような因子に依存して広い範囲で変わりうる。本発明
のコーティングは厚さが好ましくは500ミクロン(マ
イクロメートル)未満であり、そのため100ミクロン
(マイクロメートル)以上〜500ミクロン(マイクロ
メートル)未満の粒度が概して十分である。50〜10
0ミクロン(マイクロメートル)、さらにはサブミクロ
ン(すなわち、5〜150ミリミクロン(nm))〜1
0ミクロン(マイクロメートル)の粒度のより小さい粒
度のものを使用することができる。
は、当該コーティングの材料の種類および望ましい厚さ
のような因子に依存して広い範囲で変わりうる。本発明
のコーティングは厚さが好ましくは500ミクロン(マ
イクロメートル)未満であり、そのため100ミクロン
(マイクロメートル)以上〜500ミクロン(マイクロ
メートル)未満の粒度が概して十分である。50〜10
0ミクロン(マイクロメートル)、さらにはサブミクロ
ン(すなわち、5〜150ミリミクロン(nm))〜1
0ミクロン(マイクロメートル)の粒度のより小さい粒
度のものを使用することができる。
【0031】不透明材料または遮蔽剤の量は、最終的な
コーティングに望まれる品質および電気的特性に依存し
て変わりうる。概して、不透明材料または遮蔽剤は、コ
ロイドシリカとメチルシラントリオールの部分縮合物と
の重量に基づいて1重量%以上94重量%未満の量で使
用される。不透明材料または遮蔽剤を結合させるのに十
分な量の樹脂が存在するように、十分な樹脂を使用しな
くてはならない。より少ない量、すなわち1〜5重量%
の不透明材料または遮蔽剤を使用することもできる。
コーティングに望まれる品質および電気的特性に依存し
て変わりうる。概して、不透明材料または遮蔽剤は、コ
ロイドシリカとメチルシラントリオールの部分縮合物と
の重量に基づいて1重量%以上94重量%未満の量で使
用される。不透明材料または遮蔽剤を結合させるのに十
分な量の樹脂が存在するように、十分な樹脂を使用しな
くてはならない。より少ない量、すなわち1〜5重量%
の不透明材料または遮蔽剤を使用することもできる。
【0032】所望であれば、当該コーティング組成物
に、良好に接着するように不透明材料または遮蔽剤の表
面を改質するためのシランカップリング剤を含めること
ができる。概して、シランカップリング剤は式:A
(4-n) SiYn (式中、Aは一価有機基、例えばアルキ
ル基、アリール基またはメタクリル、メタクリロキシ、
エポキシ、ビニルもしくはアリルのような官能基であ
り;Yは加水分解可能な基、例えば炭素原子数1〜6の
アルコキシ基、炭素原子数2〜8のアルコキシアルコキ
シ基またはアセトキシ基であり;nは1、2または3、
好ましくは3である)により表される。
に、良好に接着するように不透明材料または遮蔽剤の表
面を改質するためのシランカップリング剤を含めること
ができる。概して、シランカップリング剤は式:A
(4-n) SiYn (式中、Aは一価有機基、例えばアルキ
ル基、アリール基またはメタクリル、メタクリロキシ、
エポキシ、ビニルもしくはアリルのような官能基であ
り;Yは加水分解可能な基、例えば炭素原子数1〜6の
アルコキシ基、炭素原子数2〜8のアルコキシアルコキ
シ基またはアセトキシ基であり;nは1、2または3、
好ましくは3である)により表される。
【0033】適切なシランカップリング剤の幾つかの例
には、式:CH2 =C(CH3 )COO(CH2 )3 S
i(OCH3 )3 により表される3−メタクリロキシプ
ロピルトリメトキシシラン;3−グリシドキシプロピル
トリメトキシシラン;式:HSCH2 CH2 CH2 Si
(OCH3 )3 により表される3−メルカプトプロピル
トリメトキシシラン;式:CH2 =CHSi(OOCC
H3 )3 により表されるビニルトリアセトキシシラン;
式:CH2 =CHSi(OC2 H5 )3 により表される
ビニルトリエトキシシラン;式:CH2 =CHSi(O
CH2 CH2 OCH3 )3 により表されるビニル−トリ
ス(2−メトキシエトキシ)シラン;および2−(3,
4−エポキシシクロヘキシル)エチルトリメトキシシラ
ンがある。米国特許第4,689,085号明細書に
は、これら適切なシランカップリング剤および他の適切
なシランカップリング剤が記載されている。
には、式:CH2 =C(CH3 )COO(CH2 )3 S
i(OCH3 )3 により表される3−メタクリロキシプ
ロピルトリメトキシシラン;3−グリシドキシプロピル
トリメトキシシラン;式:HSCH2 CH2 CH2 Si
(OCH3 )3 により表される3−メルカプトプロピル
トリメトキシシラン;式:CH2 =CHSi(OOCC
H3 )3 により表されるビニルトリアセトキシシラン;
式:CH2 =CHSi(OC2 H5 )3 により表される
ビニルトリエトキシシラン;式:CH2 =CHSi(O
CH2 CH2 OCH3 )3 により表されるビニル−トリ
ス(2−メトキシエトキシ)シラン;および2−(3,
4−エポキシシクロヘキシル)エチルトリメトキシシラ
ンがある。米国特許第4,689,085号明細書に
は、これら適切なシランカップリング剤および他の適切
なシランカップリング剤が記載されている。
【0034】本発明の方法によると、前記コーティング
組成物を、電子デバイスのような基板の表面に適用す
る。不透明材料または遮蔽剤をコーティング組成物基剤
中に溶解または分散させ、より均質なコーティング溶液
を得るために攪拌および加熱のような種々の容易な手段
を用いることができる。例えば、電子デバイスの表面に
適用するのに適するコーティング溶液を得るために、ホ
モジナイザー、音波プローブ(sonic probe )またはコ
ロイドミルを使用し、樹脂、不透明材料または遮蔽剤、
溶剤およびシランカップリング剤を混合することにより
調製することができる。
組成物を、電子デバイスのような基板の表面に適用す
る。不透明材料または遮蔽剤をコーティング組成物基剤
中に溶解または分散させ、より均質なコーティング溶液
を得るために攪拌および加熱のような種々の容易な手段
を用いることができる。例えば、電子デバイスの表面に
適用するのに適するコーティング溶液を得るために、ホ
モジナイザー、音波プローブ(sonic probe )またはコ
ロイドミルを使用し、樹脂、不透明材料または遮蔽剤、
溶剤およびシランカップリング剤を混合することにより
調製することができる。
【0035】使用することができる溶剤には、樹脂およ
び不透明材料を分散させ、結果として得られるコーティ
ングに悪影響を及ぼさずに均一な液体混合物を形成する
薬品または薬品の混合物が含まれる。これらの溶剤に
は、例えばエチルアルコール、イソプロピルアルコール
およびn−ブタノールのようなアルコール;ケトン;エ
ステル;およびグリコールエーテルが含まれる。溶剤
は、塗布するのに望ましい濃度に材料を溶解または分散
させるのに十分な量で存在すべきである。概して、十分
な量の溶剤を、混合物の0.1〜80重量%、好ましく
は1〜50重量%を構成するように使用する。
び不透明材料を分散させ、結果として得られるコーティ
ングに悪影響を及ぼさずに均一な液体混合物を形成する
薬品または薬品の混合物が含まれる。これらの溶剤に
は、例えばエチルアルコール、イソプロピルアルコール
およびn−ブタノールのようなアルコール;ケトン;エ
ステル;およびグリコールエーテルが含まれる。溶剤
は、塗布するのに望ましい濃度に材料を溶解または分散
させるのに十分な量で存在すべきである。概して、十分
な量の溶剤を、混合物の0.1〜80重量%、好ましく
は1〜50重量%を構成するように使用する。
【0036】当該コーティング組成物は、他のセラミッ
ク酸化物前駆体を含んでもよい。そのようなセラミック
酸化物前駆体の例には、アルミニウム、チタン、ジルコ
ニウム、タンタル、ニオブまたはバナジウムのような種
々の金属およびホウ素またはリンのような非金属の化合
物があり、これらのいずれも溶液中に溶解され、加水分
解され、続いて熱分解されてセラミック酸化物コーティ
ングを形成することができる。
ク酸化物前駆体を含んでもよい。そのようなセラミック
酸化物前駆体の例には、アルミニウム、チタン、ジルコ
ニウム、タンタル、ニオブまたはバナジウムのような種
々の金属およびホウ素またはリンのような非金属の化合
物があり、これらのいずれも溶液中に溶解され、加水分
解され、続いて熱分解されてセラミック酸化物コーティ
ングを形成することができる。
【0037】これらのセラミック酸化物前駆体化合物
は、概して、金属の価数に依存して金属または非金属に
結合した1個以上の加水分解可能な基を有する。そのよ
うな化合物中に含まれる加水分解可能な基の数は、その
化合物が溶剤に可溶である限りは厳密ではない。また、
加水分解可能な基は加水分解または熱分解のいずれかに
よりその系から消失するため、的確な加水分解可能な置
換基の選択は厳密ではない。
は、概して、金属の価数に依存して金属または非金属に
結合した1個以上の加水分解可能な基を有する。そのよ
うな化合物中に含まれる加水分解可能な基の数は、その
化合物が溶剤に可溶である限りは厳密ではない。また、
加水分解可能な基は加水分解または熱分解のいずれかに
よりその系から消失するため、的確な加水分解可能な置
換基の選択は厳密ではない。
【0038】典型的な加水分解可能な置換基には、メト
キシ、プロポキシ、ブトキシおよびヘキソキシのような
アルコキシ基;アセトキシのようなアシルオキシ基;お
よびアセチルアセトンのような酸素原子を介して金属ま
たは非金属に結合した他の有機基が含まれる。使用する
ことができるある特定の化合物はジルコニウムテトラア
セチルアセトナート、チタンジブトキシジアセチルアセ
トナート、アルミニウムトリアセチルアセトナートおよ
びテトライソブトキシチタンである。
キシ、プロポキシ、ブトキシおよびヘキソキシのような
アルコキシ基;アセトキシのようなアシルオキシ基;お
よびアセチルアセトンのような酸素原子を介して金属ま
たは非金属に結合した他の有機基が含まれる。使用する
ことができるある特定の化合物はジルコニウムテトラア
セチルアセトナート、チタンジブトキシジアセチルアセ
トナート、アルミニウムトリアセチルアセトナートおよ
びテトライソブトキシチタンである。
【0039】前記コーティング組成物がこれらのセラミ
ック酸化物前駆体のうちの1つと組み合わされる場合に
は、概して、最終的なセラミックコーティングが0.1
〜30重量%の改質セラミック酸化物前駆体を含むよう
な量で使用される。
ック酸化物前駆体のうちの1つと組み合わされる場合に
は、概して、最終的なセラミックコーティングが0.1
〜30重量%の改質セラミック酸化物前駆体を含むよう
な量で使用される。
【0040】シリカへの前記前駆体の転化の速度および
程度を増加させるために、本発明のコーティング組成物
に、白金、ロジウムまたは銅触媒を含めることができ
る。概して、白金アセチルアセトナート、ロジウム触媒
RhCl3 [S(CH2 CH2CH2 CH3 )2 ]
3 (ミシガン州ミッドランド所在のDow Corning Corpor
ation の製品)または銅(II)ナフテナートのよう
な、可溶化することができる白金、ロジウムまたは銅化
合物または錯体が適切である。当該コーティング組成物
の重量に基づいて白金、ロジウムまたは銅が5〜1,0
00ppmの量で存在するようにこれらの触媒を添加す
る。
程度を増加させるために、本発明のコーティング組成物
に、白金、ロジウムまたは銅触媒を含めることができ
る。概して、白金アセチルアセトナート、ロジウム触媒
RhCl3 [S(CH2 CH2CH2 CH3 )2 ]
3 (ミシガン州ミッドランド所在のDow Corning Corpor
ation の製品)または銅(II)ナフテナートのよう
な、可溶化することができる白金、ロジウムまたは銅化
合物または錯体が適切である。当該コーティング組成物
の重量に基づいて白金、ロジウムまたは銅が5〜1,0
00ppmの量で存在するようにこれらの触媒を添加す
る。
【0041】次いで、コーティング混合物を基板上に適
用する。このコーティング組成物は、スピンコーティン
グ、漬け塗、吹付塗または流し塗により適用することが
できる。シルクスクリーニング、スクリーン印刷、メニ
スカスコーティング(meniscus coating)またはウェー
ブソルダーコーティング(wave solder coating )によ
り当該コーティング組成物を基板またはデバイス上に適
用することのような他の等価なコーティング方法を使用
することもできる。
用する。このコーティング組成物は、スピンコーティン
グ、漬け塗、吹付塗または流し塗により適用することが
できる。シルクスクリーニング、スクリーン印刷、メニ
スカスコーティング(meniscus coating)またはウェー
ブソルダーコーティング(wave solder coating )によ
り当該コーティング組成物を基板またはデバイス上に適
用することのような他の等価なコーティング方法を使用
することもできる。
【0042】被覆された基板から溶剤を蒸発させ、コー
ティング組成物を付着させる。例えば周囲環境への暴露
によるような風乾または加熱処理の初期段階中に真空も
しくは中温(すなわち、50℃未満)にすることによる
いかなる蒸発手段を使用してもよい。スピンコーティン
グを使用する場合には、回転により溶剤がある程度除去
されるため、追加の乾燥時間が短縮される。
ティング組成物を付着させる。例えば周囲環境への暴露
によるような風乾または加熱処理の初期段階中に真空も
しくは中温(すなわち、50℃未満)にすることによる
いかなる蒸発手段を使用してもよい。スピンコーティン
グを使用する場合には、回転により溶剤がある程度除去
されるため、追加の乾燥時間が短縮される。
【0043】溶剤の除去に続き、コーティング組成物
を、熱分解、すなわち当該コーティング組成物をセラミ
ック質にするのに十分な温度に加熱することによりセラ
ミックコーティングに転化させる。概して、この温度
は、熱分解雰囲気に依存して200〜1,000℃の範
囲内にある。好ましい温度は200〜800℃の範囲内
にある。当該コーティング組成物が不透明材料を含む場
合に好ましい温度は400〜800℃である。加熱は、
当該コーティング組成物をセラミック質にするのに十分
な時間を要して実施する。概して、加熱は1〜6時間を
要し、典型的には3時間未満が適切である。
を、熱分解、すなわち当該コーティング組成物をセラミ
ック質にするのに十分な温度に加熱することによりセラ
ミックコーティングに転化させる。概して、この温度
は、熱分解雰囲気に依存して200〜1,000℃の範
囲内にある。好ましい温度は200〜800℃の範囲内
にある。当該コーティング組成物が不透明材料を含む場
合に好ましい温度は400〜800℃である。加熱は、
当該コーティング組成物をセラミック質にするのに十分
な時間を要して実施する。概して、加熱は1〜6時間を
要し、典型的には3時間未満が適切である。
【0044】当該コーティング組成物をセラミック質に
するための加熱は、空気、酸素、窒素のような不活性気
体、アンモニア、アミン、水分または亜酸化窒素のよう
な酸化性または非酸化性気体中で真空から過圧に及ぶ気
圧下で実施することができる。加熱は、熱対流炉、急速
熱加工、熱板、輻射エネルギーまたはマイクロ波エネル
ギーを使用して実施することができる。加熱速度は厳密
ではないが、当該コーティング組成物をできるかぎり急
速に加熱することが実際的である。
するための加熱は、空気、酸素、窒素のような不活性気
体、アンモニア、アミン、水分または亜酸化窒素のよう
な酸化性または非酸化性気体中で真空から過圧に及ぶ気
圧下で実施することができる。加熱は、熱対流炉、急速
熱加工、熱板、輻射エネルギーまたはマイクロ波エネル
ギーを使用して実施することができる。加熱速度は厳密
ではないが、当該コーティング組成物をできるかぎり急
速に加熱することが実際的である。
【0045】熱分解によって有機置換基の脱離および酸
素による置換基の置換が起こる。この方法により、概し
て以下のスキームに従って、セラミックコーティングが
基板上で形成される。
素による置換基の置換が起こる。この方法により、概し
て以下のスキームに従って、セラミックコーティングが
基板上で形成される。
【0046】
【化1】
【0047】米国特許第3,986,997号明細書に
記載されている発明と本発明のことなる点は、本発明で
はCH3 SiO3/2 のメチル基を酸化させてSiO2 に
転化させる点である。コーティング組成物の厚さのため
に酸化は完了せず、そのためケイ素上の若干のメチル基
が残存する。一方、米国特許第3,986,997号で
は、全てのメチル基がケイ素上に残り、50〜150℃
の温度でのシラノールとメトキシ基の縮合を通じて樹脂
の硬化が起こる。従って、米国特許第3,986,99
7号は縮合硬化を用いる。一方、本発明では、酸化およ
び熱転位反応を用いるが、加熱中に若干の縮合が起こ
る。
記載されている発明と本発明のことなる点は、本発明で
はCH3 SiO3/2 のメチル基を酸化させてSiO2 に
転化させる点である。コーティング組成物の厚さのため
に酸化は完了せず、そのためケイ素上の若干のメチル基
が残存する。一方、米国特許第3,986,997号で
は、全てのメチル基がケイ素上に残り、50〜150℃
の温度でのシラノールとメトキシ基の縮合を通じて樹脂
の硬化が起こる。従って、米国特許第3,986,99
7号は縮合硬化を用いる。一方、本発明では、酸化およ
び熱転位反応を用いるが、加熱中に若干の縮合が起こ
る。
【0048】セラミックコーティングの厚さは広範囲に
わたって変わりうるが、典型的には1〜500ミクロン
(マイクロメートル)である。これらのセラミックコー
ティングは、種々の基材のでこぼこの表面を滑らかにす
ることができる。このコーティングは、(i)欠陥が比
較的少なく、(ii)優れた接着特性を有し、(iii) 種々
の電気的特性を有するもの(すなわち4未満のDKを有
するコーティングから導電性コーティング)である。そ
のため、そのようなコーティングは誘電層、保護層およ
び導電性層のような電気的用途に特に有用である。
わたって変わりうるが、典型的には1〜500ミクロン
(マイクロメートル)である。これらのセラミックコー
ティングは、種々の基材のでこぼこの表面を滑らかにす
ることができる。このコーティングは、(i)欠陥が比
較的少なく、(ii)優れた接着特性を有し、(iii) 種々
の電気的特性を有するもの(すなわち4未満のDKを有
するコーティングから導電性コーティング)である。そ
のため、そのようなコーティングは誘電層、保護層およ
び導電性層のような電気的用途に特に有用である。
【0049】所望であれば、追加のコーティングをセラ
ミックコーティング上に施してもよい。これらの追加の
コーティングには、SiO2 コーティング、SiO2 /
セラミック酸化物層、ケイ素を含有するコーティング、
ケイ素と炭素を含有するコーティング、ケイ素と窒素を
含有するコーティング、ケイ素と酸素と窒素を含有する
コーティング、ケイ素と窒素と炭素を含有するコーティ
ングおよびダイアモンド状炭素コーティングが含まれ
る。そのようなコーティングを適用する方法は米国特許
第4,756,977号明細書に記載されている。特に
好ましい追加のコーティングは炭化ケイ素である。
ミックコーティング上に施してもよい。これらの追加の
コーティングには、SiO2 コーティング、SiO2 /
セラミック酸化物層、ケイ素を含有するコーティング、
ケイ素と炭素を含有するコーティング、ケイ素と窒素を
含有するコーティング、ケイ素と酸素と窒素を含有する
コーティング、ケイ素と窒素と炭素を含有するコーティ
ングおよびダイアモンド状炭素コーティングが含まれ
る。そのようなコーティングを適用する方法は米国特許
第4,756,977号明細書に記載されている。特に
好ましい追加のコーティングは炭化ケイ素である。
【0050】炭化ケイ素のような追加のコーティングを
適用する方法は厳密ではなく、そのようなコーティング
は、熱化学蒸着(TCVD)、光化学蒸着、プラズマに
より促進される化学蒸着(plasma enhanced chemical v
apor deposition )(PECVD)、電子サイクロトロ
ン共鳴(ECR)およびジェット蒸着のような化学的蒸
着技術によって適用することができる。追加のコーティ
ングは、スパッタリングまた電子ビーム蒸発のような物
理的蒸着技術によっても適用することができる。これら
の方法は、蒸発した化学種に熱またはプラズマの形態に
あるエネルギーを加えて望ましい反応を引き起こすか、
またはエネルギーを原料の固体試料に集中させてその付
着を引き起こすことを伴う。
適用する方法は厳密ではなく、そのようなコーティング
は、熱化学蒸着(TCVD)、光化学蒸着、プラズマに
より促進される化学蒸着(plasma enhanced chemical v
apor deposition )(PECVD)、電子サイクロトロ
ン共鳴(ECR)およびジェット蒸着のような化学的蒸
着技術によって適用することができる。追加のコーティ
ングは、スパッタリングまた電子ビーム蒸発のような物
理的蒸着技術によっても適用することができる。これら
の方法は、蒸発した化学種に熱またはプラズマの形態に
あるエネルギーを加えて望ましい反応を引き起こすか、
またはエネルギーを原料の固体試料に集中させてその付
着を引き起こすことを伴う。
【0051】例えば、TCVDにおいて、加熱した基板
上に望ましい前駆体ガスの流れを通過させることにより
コーティングを付着させる。前駆体ガスが熱い表面と接
触すると、前駆体ガスが反応し、コーティングが付着す
る。前駆体ガスおよびコーティングの厚さに依存して、
25〜1,000℃の範囲内にある基板温度がこれらの
コーティングを数分から数時間で形成させるのに十分で
ある。蒸着を促進するためにそのような方法において反
応性金属を使用することができる。
上に望ましい前駆体ガスの流れを通過させることにより
コーティングを付着させる。前駆体ガスが熱い表面と接
触すると、前駆体ガスが反応し、コーティングが付着す
る。前駆体ガスおよびコーティングの厚さに依存して、
25〜1,000℃の範囲内にある基板温度がこれらの
コーティングを数分から数時間で形成させるのに十分で
ある。蒸着を促進するためにそのような方法において反
応性金属を使用することができる。
【0052】PECVD技術において、前駆体ガスは、
プラズマ域を通過することによって反応する。反応性種
を形成させ、基板に反応性種を集中させると、反応性種
は基板に容易に付着する。TCVD法に対するPECV
D法の利点は、PECVD法ではより低い基板温度およ
び加工温度、すなわ25〜600℃を使用することであ
る。
プラズマ域を通過することによって反応する。反応性種
を形成させ、基板に反応性種を集中させると、反応性種
は基板に容易に付着する。TCVD法に対するPECV
D法の利点は、PECVD法ではより低い基板温度およ
び加工温度、すなわ25〜600℃を使用することであ
る。
【0053】PECVD法において使用するプラズマ
は、放電、ラジオ周波数もしくはマイクロ波域内の電磁
場、レーザーまたは粒子ビームにより発生するエネルギ
ーであることができる。殆どのプラズマ蒸着法におい
て、中程度の出力密度(すなわち、0.1〜5ワット/
cm2 )でラジオ周波数(すなわち、10kHz〜10
2MHz)またはマイクロ波エネルギー(すなわち、
0.1〜10GHzまたは109 Hz)を使用すること
が望ましい。使用される前駆体ガスおよび装置に合わせ
て周波数、出力および圧力を調整する。
は、放電、ラジオ周波数もしくはマイクロ波域内の電磁
場、レーザーまたは粒子ビームにより発生するエネルギ
ーであることができる。殆どのプラズマ蒸着法におい
て、中程度の出力密度(すなわち、0.1〜5ワット/
cm2 )でラジオ周波数(すなわち、10kHz〜10
2MHz)またはマイクロ波エネルギー(すなわち、
0.1〜10GHzまたは109 Hz)を使用すること
が望ましい。使用される前駆体ガスおよび装置に合わせ
て周波数、出力および圧力を調整する。
【0054】使用することができる幾つかの前駆体ガス
には、(1)メタン、エタンおよびプロパンのような炭
素原子数1〜6のアルカンの存在下で、シランまたはト
リクロロシラン(HSiCl3 )のようなハロシランの
混合物;(2)メチルシラン(CH3 SiH3 )、ジメ
チルシラン((CH3 )2 SiH2 )、トリメチルシラ
ン((CH3 )3 SiH)およびヘキサメチルシラン
(CH3 )3 Si−Si(CH3 )3 のようなアルキル
シラン;または(3)米国特許第5,011,706号
明細書に記載されている種類のシラシクロブタンもしく
はジシラシクロブタンが含まれる。
には、(1)メタン、エタンおよびプロパンのような炭
素原子数1〜6のアルカンの存在下で、シランまたはト
リクロロシラン(HSiCl3 )のようなハロシランの
混合物;(2)メチルシラン(CH3 SiH3 )、ジメ
チルシラン((CH3 )2 SiH2 )、トリメチルシラ
ン((CH3 )3 SiH)およびヘキサメチルシラン
(CH3 )3 Si−Si(CH3 )3 のようなアルキル
シラン;または(3)米国特許第5,011,706号
明細書に記載されている種類のシラシクロブタンもしく
はジシラシクロブタンが含まれる。
【0055】そのようなシラシクロブタン(1)および
ジシラシクロブタン(2)の例を以下に示す。下記式
中、R1は水素、フッ素または炭素原子数1〜4の炭化
水素基である。R2は水素また炭素原子数1〜4の炭化
水素基である。好ましいジシラシクロブタンは下記式
(3)により表される1,3−ジメチル−1,3−ジシ
ラシクロブタンである。
ジシラシクロブタン(2)の例を以下に示す。下記式
中、R1は水素、フッ素または炭素原子数1〜4の炭化
水素基である。R2は水素また炭素原子数1〜4の炭化
水素基である。好ましいジシラシクロブタンは下記式
(3)により表される1,3−ジメチル−1,3−ジシ
ラシクロブタンである。
【化2】
【0056】炭化ケイ素をコーティング層として使用す
る場合には、電子デバイス上のシリカ含有セラミック層
の表面上に気密性の電気バリヤーを形成し、化学物質お
よび機械的手段から受ける損傷を防止することができ
る。
る場合には、電子デバイス上のシリカ含有セラミック層
の表面上に気密性の電気バリヤーを形成し、化学物質お
よび機械的手段から受ける損傷を防止することができ
る。
【0057】本発明に係る好ましいコーティング組成物
において、マトリックス樹脂はコロイドシリカおよびメ
チルシランの部分縮合物である。当該コーティング組成
物に適する不透明材料または遮蔽剤は、炭化タングステ
ン、タングステン、P2 O5およびこれらの混合物であ
る。タングステン金属はエネルギーバリヤーとして作用
する材料である。タングステン金属および炭化タングス
テンはそれぞれ放射線および光に対して有効である。炭
化タングステンは、9.5より大きいモース硬度(Mohs
hardness )を有し、タングステン金属は6.5〜7.
5のモース硬度を有する。従って、炭化タングステンが
摩耗に対してより有効であるが、それぞれを当該コーテ
ィング組成物中に含めると耐摩耗性を提供するように作
用する。
において、マトリックス樹脂はコロイドシリカおよびメ
チルシランの部分縮合物である。当該コーティング組成
物に適する不透明材料または遮蔽剤は、炭化タングステ
ン、タングステン、P2 O5およびこれらの混合物であ
る。タングステン金属はエネルギーバリヤーとして作用
する材料である。タングステン金属および炭化タングス
テンはそれぞれ放射線および光に対して有効である。炭
化タングステンは、9.5より大きいモース硬度(Mohs
hardness )を有し、タングステン金属は6.5〜7.
5のモース硬度を有する。従って、炭化タングステンが
摩耗に対してより有効であるが、それぞれを当該コーテ
ィング組成物中に含めると耐摩耗性を提供するように作
用する。
【0058】モース硬度は、既知材料の他の既知の材料
を引っ掻くことができる能力に基づいて相対的な順位付
けをすることを伴う比較試験であることを注記してお
く。1〜10に等級付けされるモース硬度スケールを有
する幾つかの例としては、1のモース硬度を有するグラ
ファイト、5のモース硬度を有するマンガン、7のモー
ス硬度を有する石英、および10のモース硬度を有する
ダイアモンドがある。
を引っ掻くことができる能力に基づいて相対的な順位付
けをすることを伴う比較試験であることを注記してお
く。1〜10に等級付けされるモース硬度スケールを有
する幾つかの例としては、1のモース硬度を有するグラ
ファイト、5のモース硬度を有するマンガン、7のモー
ス硬度を有する石英、および10のモース硬度を有する
ダイアモンドがある。
【0059】上記のように、P2 O5 は、湿式エッチン
グ工法による侵食から集積回路およびそのメモリーを保
護する。電子デバイスに対するコーティングの接着性を
改良するために当該コーティング組成物にシランカップ
リング剤を含めることができる。
グ工法による侵食から集積回路およびそのメモリーを保
護する。電子デバイスに対するコーティングの接着性を
改良するために当該コーティング組成物にシランカップ
リング剤を含めることができる。
【0060】本発明を例示するために次の実施例を示
す。これらの実施例は特許請求の範囲に記載の本発明の
範囲を限定するものではない。
す。これらの実施例は特許請求の範囲に記載の本発明の
範囲を限定するものではない。
【0061】
実施例1 Silvue(商標)101(カリフォルニア州アナハ
イム所在のSDC Coatings、メタノールおよびイソプロパ
ノール中にSiOが40%およびCH3 Si(OH)3
の部分縮合物が60重量%存在する固形分31重量%)
を10.16cm(4インチ)のシリコンウェハーに1
500rpmで20秒間を要してスピンコーティングし
た。樹脂溶液の2層のコーティングをウェハーに適用
し、次いでコーティングされたウェハーを1時間を要し
て窒素雰囲気中400℃で熱分解させた。3.3μmの
厚さのコーティングが得られた。このコーティングは
6.333eダイン/cm2 の引張応力値を有してい
た。
イム所在のSDC Coatings、メタノールおよびイソプロパ
ノール中にSiOが40%およびCH3 Si(OH)3
の部分縮合物が60重量%存在する固形分31重量%)
を10.16cm(4インチ)のシリコンウェハーに1
500rpmで20秒間を要してスピンコーティングし
た。樹脂溶液の2層のコーティングをウェハーに適用
し、次いでコーティングされたウェハーを1時間を要し
て窒素雰囲気中400℃で熱分解させた。3.3μmの
厚さのコーティングが得られた。このコーティングは
6.333eダイン/cm2 の引張応力値を有してい
た。
【0062】実施例2 Silvue(商標)101(カリフォルニア州アナハ
イム所在のSDC Coatings、メタノールおよびイソプロパ
ノール中の固形分は31重量%)を10.16cm(4
インチ)のシリコンウェハーに1500rpmで20秒
間を要してスピンコーティングした。樹脂溶液の2層の
コーティングをウェハーに適用し、次いでコーティング
されたウェハーを1時間を要して酸素雰囲気中400℃
で熱分解させた。3.3μmの厚さのコーティングが得
られた。このコーティングは7.093eダイン/cm
2 の引張応力値を有していた。
イム所在のSDC Coatings、メタノールおよびイソプロパ
ノール中の固形分は31重量%)を10.16cm(4
インチ)のシリコンウェハーに1500rpmで20秒
間を要してスピンコーティングした。樹脂溶液の2層の
コーティングをウェハーに適用し、次いでコーティング
されたウェハーを1時間を要して酸素雰囲気中400℃
で熱分解させた。3.3μmの厚さのコーティングが得
られた。このコーティングは7.093eダイン/cm
2 の引張応力値を有していた。
【0063】実施例3 以下に示す材料を容器内で20秒間×4回を要して音波
プローブにより混合し、コーティング組成物として有用
な溶液を調製した。
プローブにより混合し、コーティング組成物として有用
な溶液を調製した。
【0064】
【表1】
【0065】このコーティング組成物の樹脂成分は、概
して米国特許第3,986,997号明細書の実施例1
に記載の手順に従って調製した溶液であった。この成分
は固形分を31重量%含む、この固形分の40%はSi
O2 であり、60%はCH3Si(OH)3 の部分縮合
物であった。樹脂成分の残りの69%は、水、酢酸、イ
ソプロパノールおよびn−ブタノールを含む混合物であ
った。
して米国特許第3,986,997号明細書の実施例1
に記載の手順に従って調製した溶液であった。この成分
は固形分を31重量%含む、この固形分の40%はSi
O2 であり、60%はCH3Si(OH)3 の部分縮合
物であった。樹脂成分の残りの69%は、水、酢酸、イ
ソプロパノールおよびn−ブタノールを含む混合物であ
った。
【0066】厚さ1mm(40ミル)の11.43cm
(4.5インチ)四方のアルミナパネルに0.05mm
(2ミル)の引落棒(drawdown bar)を使用して前記溶
液を適用した。被覆されたアルミナパネルを50分間風
乾させた。次いでコーティングを空気中400℃で1時
間を要して熱分解させた。倍率1000倍の顕微鏡を使
用してコーティングを調べた結果、亀裂は観察されなか
った。コーティングの厚さは7.2μmであった。コー
ティングは6Hの鉛筆硬度、633N/mm2のビッカ
ーズ(Vickers )硬度および23.6GPa(ギガパス
カルまたは10 9 パスカル)のモジュラスを有してい
た。
(4.5インチ)四方のアルミナパネルに0.05mm
(2ミル)の引落棒(drawdown bar)を使用して前記溶
液を適用した。被覆されたアルミナパネルを50分間風
乾させた。次いでコーティングを空気中400℃で1時
間を要して熱分解させた。倍率1000倍の顕微鏡を使
用してコーティングを調べた結果、亀裂は観察されなか
った。コーティングの厚さは7.2μmであった。コー
ティングは6Hの鉛筆硬度、633N/mm2のビッカ
ーズ(Vickers )硬度および23.6GPa(ギガパス
カルまたは10 9 パスカル)のモジュラスを有してい
た。
【0067】コーティングの硬度を測定するために用い
る鉛筆試験は、コーティングの引掻抵抗を決定するため
の標準的な定量的方法である。この試験方法によると、
被覆されたパネルを安定した水平面上に置く。試験を行
う技術者から遠い方に向かってコーティングに対して4
5°の角度を向くように鉛筆をしっかりと固定する。技
術者が鉛筆を押しやって1/4インチ(6.5mm)の
長さの線を引く。技術者が最も硬い鉛筆、すなわち9H
の鉛筆を使用して前記過程を開始し、コーティングを切
断または彫り削らなくなるまで6Bの鉛筆まで鉛筆硬度
のスケールを下げて繰り返す。下記のベロールスケール
(Berol scale ;テネシー州ブレントウッド所在のBero
l Corporation ):
る鉛筆試験は、コーティングの引掻抵抗を決定するため
の標準的な定量的方法である。この試験方法によると、
被覆されたパネルを安定した水平面上に置く。試験を行
う技術者から遠い方に向かってコーティングに対して4
5°の角度を向くように鉛筆をしっかりと固定する。技
術者が鉛筆を押しやって1/4インチ(6.5mm)の
長さの線を引く。技術者が最も硬い鉛筆、すなわち9H
の鉛筆を使用して前記過程を開始し、コーティングを切
断または彫り削らなくなるまで6Bの鉛筆まで鉛筆硬度
のスケールを下げて繰り返す。下記のベロールスケール
(Berol scale ;テネシー州ブレントウッド所在のBero
l Corporation ):
【表2】 を使用し、少なくとも1/8インチ(3mm)の距離、
基板にいたるほどコーティングを切断しなかった最も硬
い鉛筆を記録する。
基板にいたるほどコーティングを切断しなかった最も硬
い鉛筆を記録する。
【0068】コーティングの評価に用いたビッカーズ
(Vickers )試験は、材料の変形抵抗の測定方法であ
る。この試験の手順は、American Society for Testing
and Materials(ペンシルヴェニア州フィラデルフィア
所在)(ASTM)標準試験E92に記載されている。
この試験手順によると、圧子として四角錐のダイアモン
ドを使用する。平らな試験片を使用し、この試験片に圧
子を液圧により押し込んで試験を実施した。上記の回数
の押込みを行い、試験片を取り出し、較正した顕微鏡を
使用して押込みの斜行する線を測定し、次いで値を平均
化した。ビッカーズ硬度数(VHN)を計算するか、ま
たは予め計算された押込みサイズ対ビッカーズ硬度数の
表からVHNを得ることができる。VHNに対するビッ
カーズスケールは、最も軟らかい測定値である100の
小さな値から最も硬い測定値である900の大きな値に
およぶ。
(Vickers )試験は、材料の変形抵抗の測定方法であ
る。この試験の手順は、American Society for Testing
and Materials(ペンシルヴェニア州フィラデルフィア
所在)(ASTM)標準試験E92に記載されている。
この試験手順によると、圧子として四角錐のダイアモン
ドを使用する。平らな試験片を使用し、この試験片に圧
子を液圧により押し込んで試験を実施した。上記の回数
の押込みを行い、試験片を取り出し、較正した顕微鏡を
使用して押込みの斜行する線を測定し、次いで値を平均
化した。ビッカーズ硬度数(VHN)を計算するか、ま
たは予め計算された押込みサイズ対ビッカーズ硬度数の
表からVHNを得ることができる。VHNに対するビッ
カーズスケールは、最も軟らかい測定値である100の
小さな値から最も硬い測定値である900の大きな値に
およぶ。
【0069】本発明に係る用途に最も適する不透明材料
を含有するコーティング組成物は、コロイドシリカとメ
チルシラントリオールの部分縮合物との組み合わせ0.
05〜20重量%、タングステン金属5〜30重量%、
炭化タングステン30〜80重量%、無水リン酸0.1
〜5重量%、およびシランカップリング剤1〜5重量%
を含み、このコーティング組成物の残りは溶剤である。
を含有するコーティング組成物は、コロイドシリカとメ
チルシラントリオールの部分縮合物との組み合わせ0.
05〜20重量%、タングステン金属5〜30重量%、
炭化タングステン30〜80重量%、無水リン酸0.1
〜5重量%、およびシランカップリング剤1〜5重量%
を含み、このコーティング組成物の残りは溶剤である。
【0070】炭化タングステンの量は1〜91体積%の
範囲内で変わりうる。また、タングステン金属の量は1
〜91体積%から炭化タングステンの体積%を差し引い
た量の範囲内で変わりうる。さらに無水リン酸の量は、
炭化タングステンとタングステン金属の合計体積%を差
し引いた1〜30体積%の範囲で変わりうる。
範囲内で変わりうる。また、タングステン金属の量は1
〜91体積%から炭化タングステンの体積%を差し引い
た量の範囲内で変わりうる。さらに無水リン酸の量は、
炭化タングステンとタングステン金属の合計体積%を差
し引いた1〜30体積%の範囲で変わりうる。
フロントページの続き (72)発明者 キース ウィントン マイケル アメリカ合衆国,ミシガン 48640,ミッ ドランド,シーバート 2715
Claims (4)
- 【請求項1】 電子基板上にセラミックコーティングを
形成する方法であって、コロイドシリカとRSi(O
H)3 (式中、Rは、その少なくとも70%がメチルで
あるという条件で、炭素原子数1〜3のアルキル基、ビ
ニル基、3,3,3−トリフルオロプロピル基、γ−グ
リシドキシプロピル基およびγ−メタクリロキシプロピ
ル基からなる群から選ばれる)の部分縮合物との水性ア
ルカノール分散液を含むコーティング組成物を電子基板
上に適用すること;およびコーティングされた電子基板
を200〜1000℃の温度で加熱して前記コーティン
グ組成物をセラミックコーティングに転化させることを
含む方法。 - 【請求項2】 コーティング組成物がその重量に基づい
て0.1〜30重量%のセラミック酸化物前駆体をさら
に含み、前記セラミック酸化物前駆体が(1)アルミニ
ウム、チタン、ジルコニウム、タンタル、ニオブ、バナ
ジウムおよびホウ素からなる群から選ばれる元素ならび
に(2)アルコキシおよびアシルオキシからなる群から
選ばれる少なくとも1個の加水分解可能な置換基を含む
化合物から選ばれる請求項1記載の方法。 - 【請求項3】 コーティング組成物がコロイドシリカと
メチルシラントリオールの部分縮合物との水性アルカノ
ール分散液中に分散された不透明材料をさらに含み、電
子デバイスの表面上のコーティング組成物を400〜
1,000℃の範囲内の温度で熱分解させて前記コーテ
ィング組成物をセラミックSiO2 含有コーティングに
転化させる請求項1記載の方法。 - 【請求項4】 コーティング組成物が、良好に接着する
よう不透明材料の表面を改質する式:A(4-n) SiYn
(式中、Aはアルキル基、アリール基またはメタクリ
ル、メタクリロキシ、エポキシ、ビニルもしくはアリル
からなる群から選ばれる官能基であり、Yは炭素原子数
1〜6のアルコキシ基、炭素原子数2〜8のアルコキシ
アルコキシ基またはアセトキシ基からなる群から選ばれ
る加水分解可能な基であり、nは1、2または3であ
る)により表されるシランカップリング剤をさらに含む
請求項1記載の方法。
Applications Claiming Priority (4)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| US08/725,791 US5730792A (en) | 1996-10-04 | 1996-10-04 | Opaque ceramic coatings |
| US08/780,946 US5863595A (en) | 1996-10-04 | 1997-01-10 | Thick ceramic coatings for electronic devices |
| US08/780946 | 1997-01-10 | ||
| US08/725791 | 1997-01-10 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH10130864A true JPH10130864A (ja) | 1998-05-19 |
Family
ID=27111222
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP9272844A Withdrawn JPH10130864A (ja) | 1996-10-04 | 1997-10-06 | 電子基板上にセラミックコーティングを形成する方法 |
Country Status (6)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US5863595A (ja) |
| EP (1) | EP0834911B1 (ja) |
| JP (1) | JPH10130864A (ja) |
| KR (1) | KR19980032484A (ja) |
| DE (1) | DE69709597T2 (ja) |
| TW (1) | TW362239B (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2011511457A (ja) * | 2008-01-30 | 2011-04-07 | ダウ・コーニング・コーポレイション | プリンタブルエレクトロニクス用の剥離コーティングとしてのガラス状シリコーン系ハードコーティングの使用 |
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6319551B1 (en) * | 1995-12-19 | 2001-11-20 | William M. Risen, Jr. | Methods and compositions for forming silica, germanosilicate and metal silicate films, patterns and multilayers |
| US6653718B2 (en) | 2001-01-11 | 2003-11-25 | Honeywell International, Inc. | Dielectric films for narrow gap-fill applications |
| US6444495B1 (en) * | 2001-01-11 | 2002-09-03 | Honeywell International, Inc. | Dielectric films for narrow gap-fill applications |
| US6967172B2 (en) | 2002-07-03 | 2005-11-22 | Honeywell International Inc. | Colloidal silica composite films for premetal dielectric applications |
| US20070099005A1 (en) * | 2005-10-31 | 2007-05-03 | Honeywell International Inc. | Thick crack-free silica film by colloidal silica incorporation |
| US7857905B2 (en) * | 2007-03-05 | 2010-12-28 | Momentive Performance Materials Inc. | Flexible thermal cure silicone hardcoats |
| DE102007023557B4 (de) * | 2007-05-21 | 2010-11-25 | Siemens Ag | Schutzbeschichtung und Verwendung davon für Fahrleitungsisolatoren |
| KR101066092B1 (ko) * | 2009-03-27 | 2011-09-20 | 정재헌 | 수용성 방청코팅조성물을 이용한 강재의 표면처리방법 및 그 방법에 의해 표면처리된 강재 |
| EP3642270A1 (en) * | 2017-06-23 | 2020-04-29 | Toray Films Europe | Method for producing a multilayer film using core-shell polymeric particles |
| DE102018214641B4 (de) * | 2018-08-29 | 2022-09-22 | Robert Bosch Gmbh | Vergussmasse, Verfahren zum elektrischen Isolieren eines elektrischen oder elektronischen Bauteils unter Verwendung der Vergussmasse, elektrisch isoliertes Bauteil, hergestellt über ein solches Verfahren und Verwendung der Vergussmasse |
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US3986997A (en) * | 1974-06-25 | 1976-10-19 | Dow Corning Corporation | Pigment-free coating compositions |
| US4689085A (en) * | 1986-06-30 | 1987-08-25 | Dow Corning Corporation | Coupling agent compositions |
| US4756977A (en) * | 1986-12-03 | 1988-07-12 | Dow Corning Corporation | Multilayer ceramics from hydrogen silsesquioxane |
| US4911992A (en) * | 1986-12-04 | 1990-03-27 | Dow Corning Corporation | Platinum or rhodium catalyzed multilayer ceramic coatings from hydrogen silsesquioxane resin and metal oxides |
| US4749631B1 (en) * | 1986-12-04 | 1993-03-23 | Multilayer ceramics from silicate esters | |
| US5011706A (en) * | 1989-04-12 | 1991-04-30 | Dow Corning Corporation | Method of forming coatings containing amorphous silicon carbide |
| US4973526A (en) * | 1990-02-15 | 1990-11-27 | Dow Corning Corporation | Method of forming ceramic coatings and resulting articles |
| US5258334A (en) * | 1993-01-15 | 1993-11-02 | The U.S. Government As Represented By The Director, National Security Agency | Process of preventing visual access to a semiconductor device by applying an opaque ceramic coating to integrated circuit devices |
| US5369299A (en) * | 1993-07-22 | 1994-11-29 | National Semiconductor Corporation | Tamper resistant integrated circuit structure |
| US5468990A (en) * | 1993-07-22 | 1995-11-21 | National Semiconductor Corp. | Structures for preventing reverse engineering of integrated circuits |
| US5436084A (en) * | 1994-04-05 | 1995-07-25 | Dow Corning Corporation | Electronic coatings using filled borosilazanes |
| US5399441A (en) * | 1994-04-12 | 1995-03-21 | Dow Corning Corporation | Method of applying opaque coatings |
| US5711987A (en) * | 1996-10-04 | 1998-01-27 | Dow Corning Corporation | Electronic coatings |
-
1997
- 1997-01-10 US US08/780,946 patent/US5863595A/en not_active Expired - Fee Related
- 1997-09-25 EP EP97307505A patent/EP0834911B1/en not_active Expired - Lifetime
- 1997-09-25 DE DE69709597T patent/DE69709597T2/de not_active Expired - Fee Related
- 1997-09-27 TW TW086114137A patent/TW362239B/zh active
- 1997-10-02 KR KR1019970050846A patent/KR19980032484A/ko not_active Ceased
- 1997-10-06 JP JP9272844A patent/JPH10130864A/ja not_active Withdrawn
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2011511457A (ja) * | 2008-01-30 | 2011-04-07 | ダウ・コーニング・コーポレイション | プリンタブルエレクトロニクス用の剥離コーティングとしてのガラス状シリコーン系ハードコーティングの使用 |
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| Publication number | Publication date |
|---|---|
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| KR19980032484A (ko) | 1998-07-25 |
| DE69709597T2 (de) | 2002-09-05 |
| DE69709597D1 (de) | 2002-02-21 |
| EP0834911B1 (en) | 2002-01-16 |
| EP0834911A2 (en) | 1998-04-08 |
| EP0834911A3 (en) | 1998-12-30 |
| US5863595A (en) | 1999-01-26 |
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| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A300 | Application deemed to be withdrawn because no request for examination was validly filed |
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