JPH10132743A - 蛍光測定装置 - Google Patents
蛍光測定装置Info
- Publication number
- JPH10132743A JPH10132743A JP30363796A JP30363796A JPH10132743A JP H10132743 A JPH10132743 A JP H10132743A JP 30363796 A JP30363796 A JP 30363796A JP 30363796 A JP30363796 A JP 30363796A JP H10132743 A JPH10132743 A JP H10132743A
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 波長正確さを求めるために低圧水銀ランプな
どの別の光源を用いることを不要にする。 【解決手段】 フィルタ波長特性記憶部２は光学フィル
タの波長特性を記憶している。励起光を散乱又は反射す
る光学素子を試料に代えて試料部に設置した状態で、割
算部４はその光学フィルタが光路に挿入されて測定され
たスペクトルとその光学フィルタが光路に挿入されずに
測定されたスペクトルとの比を求めることによりその光
学フィルタの波長特性を求める。比較部６は、割算部４
で求められたその光学フィルタの波長特性のピーク波長
値をフィルタ波長特性記憶部２に記憶されている波長特
性のピーク波長値と比較することにより、その蛍光測定
装置の波長正確さを求める。
どの別の光源を用いることを不要にする。 【解決手段】 フィルタ波長特性記憶部２は光学フィル
タの波長特性を記憶している。励起光を散乱又は反射す
る光学素子を試料に代えて試料部に設置した状態で、割
算部４はその光学フィルタが光路に挿入されて測定され
たスペクトルとその光学フィルタが光路に挿入されずに
測定されたスペクトルとの比を求めることによりその光
学フィルタの波長特性を求める。比較部６は、割算部４
で求められたその光学フィルタの波長特性のピーク波長
値をフィルタ波長特性記憶部２に記憶されている波長特
性のピーク波長値と比較することにより、その蛍光測定
装置の波長正確さを求める。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、連続波長光を発生
する光源、その光源からの光を分光して試料部の試料に
照射する励起光学系、試料から発生した蛍光を分光する
蛍光分光系、及びその蛍光分光系により分光された蛍光
を検出する検出器を備えた蛍光測定装置に関するもので
ある。このような蛍光測定装置は、単独の分光蛍光光度
計として、又は液体クロマトグラフ、電気泳動装置、フ
ローインジェクション装置などの計測装置の検出装置と
して利用されている。
する光源、その光源からの光を分光して試料部の試料に
照射する励起光学系、試料から発生した蛍光を分光する
蛍光分光系、及びその蛍光分光系により分光された蛍光
を検出する検出器を備えた蛍光測定装置に関するもので
ある。このような蛍光測定装置は、単独の分光蛍光光度
計として、又は液体クロマトグラフ、電気泳動装置、フ
ローインジェクション装置などの計測装置の検出装置と
して利用されている。
【０００２】
【従来の技術】蛍光測定装置では励起分光器の波長走査
又は蛍光分光器の波長走査を行なって蛍光スペクトルを
測定する。励起分光器と蛍光分光器は分光素子としてグ
レーティングを備え、そのグレーティングを回転させる
ことによって波長走査を行なう。そして、グレーティン
グの回転角と分光された波長との間には一定の関係があ
るため、グレーティング回転角に対応した波長値が表示
される。蛍光測定装置では、その装置が表示している波
長がどの程度正確であるかを求める波長正確さの検査
や、その検査結果によりグレーティング回転角と表示波
長との関係を修正する校正を行なう必要がある。
又は蛍光分光器の波長走査を行なって蛍光スペクトルを
測定する。励起分光器と蛍光分光器は分光素子としてグ
レーティングを備え、そのグレーティングを回転させる
ことによって波長走査を行なう。そして、グレーティン
グの回転角と分光された波長との間には一定の関係があ
るため、グレーティング回転角に対応した波長値が表示
される。蛍光測定装置では、その装置が表示している波
長がどの程度正確であるかを求める波長正確さの検査
や、その検査結果によりグレーティング回転角と表示波
長との関係を修正する校正を行なう必要がある。
【０００３】一般に、蛍光測定装置の光源としては連続
波長光を発生するキセノンランプが広く用いられている
ため、波長正確さの検査や波長校正のためには低圧水銀
ランプの輝線スペクトルを測定し、ある輝線についてそ
の測定装置が表示した波長値とその輝線の真の波長値と
の差を測定することにより波長正確さを求め、また波長
校正はその差が規格値内に収まるようにグレーティング
回転角と波長表示値との関係を調整することにより行な
っている。
波長光を発生するキセノンランプが広く用いられている
ため、波長正確さの検査や波長校正のためには低圧水銀
ランプの輝線スペクトルを測定し、ある輝線についてそ
の測定装置が表示した波長値とその輝線の真の波長値と
の差を測定することにより波長正確さを求め、また波長
校正はその差が規格値内に収まるようにグレーティング
回転角と波長表示値との関係を調整することにより行な
っている。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】波長正確さの検査や波
長校正のために、その都度、低圧水銀灯を取り付ける場
合には煩雑な作業が必要になる。もしその作業を簡略化
しようとすれば、予め低圧水銀ランプとその電源とをキ
セノンランプとは別に蛍光測定装置内に組み込んでおく
ことが必要になり、さらにキセノンランプと低圧水銀ラ
ンプとを切り換えて光源の位置に設置するための切換え
機構も必要になり、光源装置が複雑化し、大型化する問
題が生じる。そこで、本発明は波長正確さを求めるため
に低圧水銀ランプなどの別の光源を用いることを不要に
することを目的とするものである。
長校正のために、その都度、低圧水銀灯を取り付ける場
合には煩雑な作業が必要になる。もしその作業を簡略化
しようとすれば、予め低圧水銀ランプとその電源とをキ
セノンランプとは別に蛍光測定装置内に組み込んでおく
ことが必要になり、さらにキセノンランプと低圧水銀ラ
ンプとを切り換えて光源の位置に設置するための切換え
機構も必要になり、光源装置が複雑化し、大型化する問
題が生じる。そこで、本発明は波長正確さを求めるため
に低圧水銀ランプなどの別の光源を用いることを不要に
することを目的とするものである。
【０００５】
【課題を解決するための手段】本発明では、連続波長光
を発生する光源、その光源からの光を分光して試料部の
試料に照射する励起光学系、試料から発生した蛍光を分
光する蛍光分光系、及びその蛍光分光系により分光され
た蛍光を検出する検出器を備えた蛍光測定装置におい
て、吸収ピークを持つ波長特性の光学フィルタを励起光
又は蛍光の光路に挿入する機構を備え、さらに、図１に
示されるように、その光学フィルタの波長特性を記憶し
ているフィルタ波長特性記憶部２と、励起光を散乱又は
反射する光学素子を試料に代えて試料部に設置した状態
で、その光学フィルタが光路に挿入されて測定されたス
ペクトルとその光学フィルタが光路に挿入されずに測定
されたスペクトルとの比を求めることによりその光学フ
ィルタの波長特性を求める割算部４と、割算部４で求め
られたその光学フィルタの波長特性のピーク波長値をフ
ィルタ波長特性記憶部２に記憶されている波長特性のピ
ーク波長値と比較することによりこの蛍光測定装置の波
長正確さを求める比較部６とを備えている。
を発生する光源、その光源からの光を分光して試料部の
試料に照射する励起光学系、試料から発生した蛍光を分
光する蛍光分光系、及びその蛍光分光系により分光され
た蛍光を検出する検出器を備えた蛍光測定装置におい
て、吸収ピークを持つ波長特性の光学フィルタを励起光
又は蛍光の光路に挿入する機構を備え、さらに、図１に
示されるように、その光学フィルタの波長特性を記憶し
ているフィルタ波長特性記憶部２と、励起光を散乱又は
反射する光学素子を試料に代えて試料部に設置した状態
で、その光学フィルタが光路に挿入されて測定されたス
ペクトルとその光学フィルタが光路に挿入されずに測定
されたスペクトルとの比を求めることによりその光学フ
ィルタの波長特性を求める割算部４と、割算部４で求め
られたその光学フィルタの波長特性のピーク波長値をフ
ィルタ波長特性記憶部２に記憶されている波長特性のピ
ーク波長値と比較することによりこの蛍光測定装置の波
長正確さを求める比較部６とを備えている。
【０００６】光学フィルタが光路に挿入された状態のス
ペクトルは、装置の波長特性と光学フィルタの波長特性
とが掛け合わされたものであるため、光学フィルタが挿
入された状態でのスペクトルを光学フィルタが光路から
外された状態でのスペクトルで割り算をすることによ
り、光学フィルタのスペクトルを求めることができる。
そして、そのスペクトルの吸収ピークについて表示され
た波長値とフィルタ波長特性記憶部２に記憶されていた
その吸収ピークの正しい波長値とを比較することによ
り、その測定装置の波長表示値がどの程度正確であるか
の検査と、それに基づく波長校正を行なうことができ
る。光学フィルタを光路に挿入する機構は比較的簡単な
機構とすることができるため、小型で単純な装置で波長
正確さの測定作業を行なうことができ、また、その作業
の簡略化を実現することもできる。
ペクトルは、装置の波長特性と光学フィルタの波長特性
とが掛け合わされたものであるため、光学フィルタが挿
入された状態でのスペクトルを光学フィルタが光路から
外された状態でのスペクトルで割り算をすることによ
り、光学フィルタのスペクトルを求めることができる。
そして、そのスペクトルの吸収ピークについて表示され
た波長値とフィルタ波長特性記憶部２に記憶されていた
その吸収ピークの正しい波長値とを比較することによ
り、その測定装置の波長表示値がどの程度正確であるか
の検査と、それに基づく波長校正を行なうことができ
る。光学フィルタを光路に挿入する機構は比較的簡単な
機構とすることができるため、小型で単純な装置で波長
正確さの測定作業を行なうことができ、また、その作業
の簡略化を実現することもできる。
【０００７】
【実施例】図２は本発明を分光蛍光光度計に適用した一
実施例を表わしたものである。光源１２は連続波長光を
発生する光源であり、例えばキセノンランプである。光
源１２からの光はレンズ１４等の光学系で励起分光器１
６に集光される。励起分光器１６は光源光を分光し、コ
ントロール部１８で指示された波長の光を出射したり、
コントロール部１８からの指示により、出射する波長を
走査することもできる。励起分光器１６で分光された光
は、レンズ１７などにより試料部のセル２０に集光され
る。
実施例を表わしたものである。光源１２は連続波長光を
発生する光源であり、例えばキセノンランプである。光
源１２からの光はレンズ１４等の光学系で励起分光器１
６に集光される。励起分光器１６は光源光を分光し、コ
ントロール部１８で指示された波長の光を出射したり、
コントロール部１８からの指示により、出射する波長を
走査することもできる。励起分光器１６で分光された光
は、レンズ１７などにより試料部のセル２０に集光され
る。
【０００８】セル２０内の試料が励起光により励起され
て蛍光が発生し、その蛍光はレンズなどの光学系２２に
より集光されて蛍光分光器２４に入射する。蛍光分光器
２４は入射した蛍光を分光し、コントロール部１８で指
示された波長の蛍光を出射したり、コントロール部１８
からの指示により、出射する蛍光波長を走査することも
できる。
て蛍光が発生し、その蛍光はレンズなどの光学系２２に
より集光されて蛍光分光器２４に入射する。蛍光分光器
２４は入射した蛍光を分光し、コントロール部１８で指
示された波長の蛍光を出射したり、コントロール部１８
からの指示により、出射する蛍光波長を走査することも
できる。
【０００９】蛍光分光器２４からの出射光は、光電子増
倍管などの光検出器２６に入射して検出される。光検出
器２６で検出された蛍光は、電気信号に変換され、デー
タ処理部２８で所定の信号処理が行なわれる。その信号
処理には波長正確さの測定や波長校正も含まれる。
倍管などの光検出器２６に入射して検出される。光検出
器２６で検出された蛍光は、電気信号に変換され、デー
タ処理部２８で所定の信号処理が行なわれる。その信号
処理には波長正確さの測定や波長校正も含まれる。
【００１０】セル２０が設置されている試料部と励起分
光器１６との間には、吸収波長特性が予めわかっている
光学フィルタ３０を光路に挿入したり、光路から外した
りするための機構が設けられている。フィルタ３０の光
路への出し入れもコントロール部１８により制御され
る。
光器１６との間には、吸収波長特性が予めわかっている
光学フィルタ３０を光路に挿入したり、光路から外した
りするための機構が設けられている。フィルタ３０の光
路への出し入れもコントロール部１８により制御され
る。
【００１１】光学フィルタ３０は、例えばホルミウムフ
ィルタやネオジウムフィルタである。ホルミウムフィル
タの吸収スペクトルは、279.3，287.6，333.8，360.8，
385.8，418.5，453.4，536.4 及び 637.5ｎｍの９波長
に明確な吸収ピークを持っており、そのピークの先端は
０.１ｎｍまで読み取れる程度の鋭いピークである。光
学フィルタとしてホルミウムフィルタを用いる場合に
は、それらのいずれかのピーク波長と蛍光測定装置が表
示した波長との差を求めることによって、波長正確さを
求めることができる。
ィルタやネオジウムフィルタである。ホルミウムフィル
タの吸収スペクトルは、279.3，287.6，333.8，360.8，
385.8，418.5，453.4，536.4 及び 637.5ｎｍの９波長
に明確な吸収ピークを持っており、そのピークの先端は
０.１ｎｍまで読み取れる程度の鋭いピークである。光
学フィルタとしてホルミウムフィルタを用いる場合に
は、それらのいずれかのピーク波長と蛍光測定装置が表
示した波長との差を求めることによって、波長正確さを
求めることができる。
【００１２】次に、図２の実施例の動作として、蛍光分
光器２４の波長正確さを測定する場合を図３に示す。試
料部に励起光を散乱又は反射する素子、例えば硫酸バリ
ウム粉末を固めた板状のものなどを設置する。そして励
起分光器の波長を０ｎｍ（分光しない）に設定する。
光器２４の波長正確さを測定する場合を図３に示す。試
料部に励起光を散乱又は反射する素子、例えば硫酸バリ
ウム粉末を固めた板状のものなどを設置する。そして励
起分光器の波長を０ｎｍ（分光しない）に設定する。
【００１３】光学フィルタ３０を光路に挿入し、蛍光分
光器２４の波長を走査しながら光検出器２６からの信号
をデータ処理部２８に取り込んでそのスペクトルデータ
を記憶する。
光器２４の波長を走査しながら光検出器２６からの信号
をデータ処理部２８に取り込んでそのスペクトルデータ
を記憶する。
【００１４】次に、光学フィルタ３０を光路から外し、
同じように蛍光波長を走査してスペクトルデータを記憶
する。その後、先に測定した光学フィルタ３０が光路上
にある状態でのスペクトルデータを、後で測定した光学
フィルタが光路上にない状態でのスペクトルデータで割
り算をする。その結果、光学フィルタ３０の波長特性が
求められる。その波長特性の吸収ピークの極小波長表示
値とその光学フィルタの既知の正確な波長値とを比較
し、その差からその蛍光分光器の波長正確さを求め、そ
れを表示する。
同じように蛍光波長を走査してスペクトルデータを記憶
する。その後、先に測定した光学フィルタ３０が光路上
にある状態でのスペクトルデータを、後で測定した光学
フィルタが光路上にない状態でのスペクトルデータで割
り算をする。その結果、光学フィルタ３０の波長特性が
求められる。その波長特性の吸収ピークの極小波長表示
値とその光学フィルタの既知の正確な波長値とを比較
し、その差からその蛍光分光器の波長正確さを求め、そ
れを表示する。
【００１５】次に、図２の実施例の他の動作として、励
起分光器１６の波長正確さを測定する場合を図４に示
す。この場合も、試料部に励起光を散乱又は反射する素
子を設置する。そして蛍光分光器の波長を０ｎｍ（分光
しない）に設定する。光学フィルタ３０を光路に挿入
し、励起分光器１６の波長を走査しながら光検出器２６
からの信号をデータ処理部２８に取り込んでそのスペク
トルデータを記憶する。
起分光器１６の波長正確さを測定する場合を図４に示
す。この場合も、試料部に励起光を散乱又は反射する素
子を設置する。そして蛍光分光器の波長を０ｎｍ（分光
しない）に設定する。光学フィルタ３０を光路に挿入
し、励起分光器１６の波長を走査しながら光検出器２６
からの信号をデータ処理部２８に取り込んでそのスペク
トルデータを記憶する。
【００１６】次に、光学フィルタ３０を光路から外し、
同じように励起波長を走査してスペクトルデータを記憶
する。その後、図３と同じように、先に測定した光学フ
ィルタ３０が光路上にある状態でのスペクトルデータ
を、後で測定した光学フィルタが光路上にない状態での
スペクトルデータで割り算をして、光学フィルタ３０の
波長特性を求め、その波長特性の吸収ピークの極小波長
表示値とその光学フィルタの既知の正確な波長値とを比
較し、その差からその励起分光器の波長正確さを求め、
それを表示する。
同じように励起波長を走査してスペクトルデータを記憶
する。その後、図３と同じように、先に測定した光学フ
ィルタ３０が光路上にある状態でのスペクトルデータ
を、後で測定した光学フィルタが光路上にない状態での
スペクトルデータで割り算をして、光学フィルタ３０の
波長特性を求め、その波長特性の吸収ピークの極小波長
表示値とその光学フィルタの既知の正確な波長値とを比
較し、その差からその励起分光器の波長正確さを求め、
それを表示する。
【００１７】図３や図４の工程は、オペレータから波長
正確さ測定のためのキー走査により自動で実行する。分
光器の分散素子にはグレーティングが使用されており、
波長とグレーティングの回転角との関係は装置に記憶さ
れ、オペレータから指示された波長に相当するグレーテ
ィングの回転角になるようにコントローラがグレーティ
ングを駆動するモータを回転させる。波長校正の実行を
オペレータがキー走査により指定したときに、波長正確
さの測定、グレーティング回転角と波長表示値との関係
の修正を自動で行なうようにしておく。
正確さ測定のためのキー走査により自動で実行する。分
光器の分散素子にはグレーティングが使用されており、
波長とグレーティングの回転角との関係は装置に記憶さ
れ、オペレータから指示された波長に相当するグレーテ
ィングの回転角になるようにコントローラがグレーティ
ングを駆動するモータを回転させる。波長校正の実行を
オペレータがキー走査により指定したときに、波長正確
さの測定、グレーティング回転角と波長表示値との関係
の修正を自動で行なうようにしておく。
【００１８】実施例では光学フィルタ３０は励起分光器
１６と試料部の間に挿入されるようになっているが、試
料部と蛍光分光器２４のあいだの光路上に挿入できるよ
うにするなど、光学フィルタ３０の挿入位置はランプ１
２から光検出器２６までの光路上のいずれの位置でもよ
い。また、実施例では本発明を単独の分光蛍光光度計に
適用しているが、液体クロマトグラフ、電気泳動装置、
フローインジェクション装置などの計測装置の検出装置
に適用する場合も全く同じである。その場合、図２のセ
ル２０の位置にそれらの計測装置の検出装置のセルがく
ることになる。
１６と試料部の間に挿入されるようになっているが、試
料部と蛍光分光器２４のあいだの光路上に挿入できるよ
うにするなど、光学フィルタ３０の挿入位置はランプ１
２から光検出器２６までの光路上のいずれの位置でもよ
い。また、実施例では本発明を単独の分光蛍光光度計に
適用しているが、液体クロマトグラフ、電気泳動装置、
フローインジェクション装置などの計測装置の検出装置
に適用する場合も全く同じである。その場合、図２のセ
ル２０の位置にそれらの計測装置の検出装置のセルがく
ることになる。
【００１９】
【発明の効果】本発明では低圧水銀ランプのような輝線
スペクトルをもつ光源を使用しなくても、フィルタを光
路に出し入れするだけで波長正確さの測定や波長校正を
行なうことができるため、これらの操作が容易になり、
頻度を上げることができる。その結果、正しい波長での
測定を行なうことが容易になり、データの信頼性を向上
させることができる。また、低圧水銀ランプのような測
定用の光源以外の光源を必要としないため、装置の構成
が複雑化しない。
スペクトルをもつ光源を使用しなくても、フィルタを光
路に出し入れするだけで波長正確さの測定や波長校正を
行なうことができるため、これらの操作が容易になり、
頻度を上げることができる。その結果、正しい波長での
測定を行なうことが容易になり、データの信頼性を向上
させることができる。また、低圧水銀ランプのような測
定用の光源以外の光源を必要としないため、装置の構成
が複雑化しない。
【図１】本発明を概略的に示すブロック図である。
【図２】一実施例を示すブロック図である。
【図３】実施例の動作の一例を示すフローチャート図で
ある。
ある。
【図４】実施例の他の動作を示すフローチャート図であ
る。
る。
２ フィルタ波長特性記憶部 ４ 割算部 ６ 比較部 １２ 光源 １６ 励起分光器 １８ コントロール部 ２０ セル ２４ 蛍光分光器 ２６ 光検出器 ２８ データ処理部 ３０ 光学フィルタ
Claims (1)
- 【請求項１】 連続波長光を発生する光源、その光源か
らの光を分光して試料部の試料に照射する励起光学系、
試料から発生した蛍光を分光する蛍光分光系、及びその
蛍光分光系により分光された蛍光を検出する検出器を備
えた蛍光測定装置において、 吸収ピークを持つ波長特性の光学フィルタを励起光又は
蛍光の光路に挿入する機構と、 前記光学フィルタの波長特性を記憶しているフィルタ波
長特性記憶部と、 励起光を散乱又は反射する光学素子を試料に代えて前記
試料部に設置した状態で、前記光学フィルタが光路に挿
入されて測定されたスペクトルと前記光学フィルタが光
路に挿入されずに測定されたスペクトルとの比を求める
ことにより前記光学フィルタの波長特性を求める割算部
と、 前記割算部で求められた光学フィルタの波長特性のピー
ク波長値を前記フィルタ波長特性記憶部に記憶されてい
る波長特性のピーク波長値と比較することによりこの蛍
光測定装置の波長正確さを求める比較部と、を備えたこ
とを特徴とする蛍光測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP30363796A JP3624587B2 (ja) | 1996-10-28 | 1996-10-28 | 蛍光測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP30363796A JP3624587B2 (ja) | 1996-10-28 | 1996-10-28 | 蛍光測定装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH10132743A true JPH10132743A (ja) | 1998-05-22 |
| JP3624587B2 JP3624587B2 (ja) | 2005-03-02 |
Family
ID=17923397
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP30363796A Expired - Fee Related JP3624587B2 (ja) | 1996-10-28 | 1996-10-28 | 蛍光測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3624587B2 (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2002538427A (ja) * | 1999-02-26 | 2002-11-12 | ジェネラル・スキャンニング・インコーポレイテッド | 光学式スキャナ較正装置 |
| WO2011102377A1 (ja) * | 2010-02-18 | 2011-08-25 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | 分光光度計、及びその性能測定方法 |
-
1996
- 1996-10-28 JP JP30363796A patent/JP3624587B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2002538427A (ja) * | 1999-02-26 | 2002-11-12 | ジェネラル・スキャンニング・インコーポレイテッド | 光学式スキャナ較正装置 |
| WO2011102377A1 (ja) * | 2010-02-18 | 2011-08-25 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | 分光光度計、及びその性能測定方法 |
| JP2011169718A (ja) * | 2010-02-18 | 2011-09-01 | Hitachi High-Technologies Corp | 分光光度計、及びその性能測定方法 |
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