JPH10132853A - プローブ組立体およびプローブ - Google Patents
プローブ組立体およびプローブInfo
- Publication number
- JPH10132853A JPH10132853A JP8300835A JP30083596A JPH10132853A JP H10132853 A JPH10132853 A JP H10132853A JP 8300835 A JP8300835 A JP 8300835A JP 30083596 A JP30083596 A JP 30083596A JP H10132853 A JPH10132853 A JP H10132853A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- probe
- block
- guide
- central region
- needle
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R1/00—Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
- G01R1/02—General constructional details
- G01R1/06—Measuring leads; Measuring probes
- G01R1/067—Measuring probes
- G01R1/073—Multiple probes
- G01R1/07307—Multiple probes with individual probe elements, e.g. needles, cantilever beams or bump contacts, fixed in relation to each other, e.g. bed of nails fixture or probe card
- G01R1/07314—Multiple probes with individual probe elements, e.g. needles, cantilever beams or bump contacts, fixed in relation to each other, e.g. bed of nails fixture or probe card the body of the probe being perpendicular to test object, e.g. bed of nails or probe with bump contacts on a rigid support
- G01R1/07328—Multiple probes with individual probe elements, e.g. needles, cantilever beams or bump contacts, fixed in relation to each other, e.g. bed of nails fixture or probe card the body of the probe being perpendicular to test object, e.g. bed of nails or probe with bump contacts on a rigid support for testing printed circuit boards
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R1/00—Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
- G01R1/02—General constructional details
- G01R1/06—Measuring leads; Measuring probes
- G01R1/067—Measuring probes
- G01R1/06794—Devices for sensing when probes are in contact, or in position to contact, with measured object
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R1/00—Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
- G01R1/02—General constructional details
- G01R1/06—Measuring leads; Measuring probes
- G01R1/067—Measuring probes
- G01R1/073—Multiple probes
- G01R1/07307—Multiple probes with individual probe elements, e.g. needles, cantilever beams or bump contacts, fixed in relation to each other, e.g. bed of nails fixture or probe card
- G01R1/07364—Multiple probes with individual probe elements, e.g. needles, cantilever beams or bump contacts, fixed in relation to each other, e.g. bed of nails fixture or probe card with provisions for altering position, number or connection of probe tips; Adapting to differences in pitch
- G01R1/07371—Multiple probes with individual probe elements, e.g. needles, cantilever beams or bump contacts, fixed in relation to each other, e.g. bed of nails fixture or probe card with provisions for altering position, number or connection of probe tips; Adapting to differences in pitch using an intermediate card or back card with apertures through which the probes pass
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Measuring Leads Or Probes (AREA)
- Liquid Crystal (AREA)
Abstract
を電極に確実に接触させることができ、プローブの交換
を容易にすることにある。 【解決手段】 プローブ組立体は、ブロックと、帯状の
中央領域ならびに該中央領域の先端および後端からそれ
ぞれさらに前方および後方へ伸びる第1および第2の針
先領域を備える複数のプローブを中央領域の幅方向が上
下方向となる状態に中央領域を対向させてブロックの下
側に並列的に配置し、それらのプローブをそれらのブロ
ックを貫通する細長い1以上のガイドバーを介してブロ
ックに支持させたことを特徴とする。
Description
ような平板状被検査体の検査に用いるプローブ組立体お
よびプローブに関する。
組立体として、現在では、先端部(針先部)をテーパ状
に形成して先端(針先)の直径寸法を小さくした多数の
金属細線を液晶表示パネルの電極の配置パターンに対応
させてブロックに配置し、接着剤で固定したニードルタ
イプのもの(特開平7−225245号公報)と、多数
の穴を液晶表示パネルの電極の配置パターンに対応させ
てブロックに千鳥状に形成し、各穴にスプリングピンを
配置したスプリングピンタイプのものとが販売されてい
る。
晶表示パネルの電極を擦るいわゆるスクラッチ作用によ
り針先と電極とが電気的に確実に接触し、また針先と電
極との接触状態を目で確認することができる、という利
点を有する反面、製作煩雑で高価になり、またプローブ
の交換が難しい、という課題を有する。これに対し、ス
プリングピンタイプのものは、製作が容易で廉価であ
り、またプローブの交換が容易になる、という利点を有
する反面、針先と電極との接触状態を目で確認すること
ができず、またスプリングピンを千鳥状に配置するだけ
では電極の配置ピッチが小さい場合に対応することがで
きない、という課題を有する。
廉価に製作することができ、針先を電極に確実に接触さ
せることができ、プローブの交換を容易にすることにあ
る。
ブロックと、帯状の中央領域ならびに該中央領域の先端
および後端からそれぞれさらに前方および後方へ伸びる
第1および第2の針先領域を備える複数のプローブであ
って中央領域の幅方向が上下方向となる状態に中央領域
を対向させてブロックの下側に並列的に配置された複数
のプローブと、プローブの中央領域を貫通して伸びかつ
ブロックに支持された細長い1以上のガイドバーとを含
む。
ド穴を中央領域に有し、また第1および第2の針先領域
の端部を針先として用いられる。このようなプローブ
は、たとえば、薄い金属板にエッチング加工をすること
により製作することができる。このため、プローブ自体
の製作が容易であり、廉価になる。
ーブを液晶表示パネルのような平板状被検査体の電極の
配置パターンに応じたパターンにブロックに並列的に配
置し、ガイドバーをプローブのガイド穴に通し、その後
ガイドバーをブロックに支持させることにより、組み立
てることができる。このため、プローブ組立体の組立が
容易になり、廉価になる。
れをTAB(Tape Automated Bonding)テープに、第2の
鉢先領域の先端(針先)がTABテープに設けられた駆
動用集積回路の電極に接触した状態に組み付けることに
より、検査用ヘッドに組み立てることができる。組み立
てられた検査用ヘッドは、第1の針先領域の針先が被検
査体の電極に対向するように試験装置に組み付けられ
る。
域の針先を平板状被検査体の電極にわずかの過剰に押圧
される。これにより、第1の針先領域がオーバードライ
ブにより弧状に反るから、第1の針先領域の針先が被検
査体の電極に対して滑る。このため、各プローブと電極
とは電気的に確実に接触する。
を抜き、交換すべきプローブを取り去り、その代わりに
新たなプローブをブロックに配置し、ガイドバーを再度
プローブに指し通し、ガイドバーをブロックに支持させ
ることにより、行うことができる。このため、プローブ
の交換が容易になる。
ブロックの下側にプローブの中央領域の幅方向が上下方
向となる状態に中央領域を対向させて並列的に配置し、
ガイドバーをプローブを貫通させてブロックに支持させ
たから、製作が容易で廉価になり、針先が電極に確実に
接触し、プローブの交換が容易になる。
それぞれ配置されてガイドバーの長手方向へ伸びる第1
および第2のスリットバーであってプローブの先端側お
よび後端側の部位をそれぞれ受け入れるべく長手方向に
間隔をおいた複数のスリットをそれぞれ有する第1およ
び第2のスリットバーを含むことができる。これによ
り、プローブがスリットバーによりガイドバーの長手方
向における所定の位置に維持されるから、組立作業がよ
り容易になり、より廉価になる。また、組立後において
も、ガイドバーの長手方向へのプローブの変位がプロー
ブの両端部においてスリットバーにより阻止されるか
ら、ガイドバーの長手方向における両針先領域の位置が
安定し、各プローブの針先が所定の電極に確実に接触す
る。
受け入れる板状の一対のサイドカバーであってそれぞれ
がブロックの側部に取り外し可能に組み付けられた一対
のサイドカバーを含むことができる。これにより、サイ
ドバーを介してガイドバーをブロックに支持させること
ができる。
いた部位、好ましくは先端部および後端部を貫通して伸
びる一対のガイドバーを設けることができる。これによ
り、ブロックに対する各プローブの姿勢が安定する。
2の針先領域の針先は、それぞれ、その先端部および後
端部から下方および上方へ突出する。
態にブロックの後端に組み付けられた長い板状のガイド
部材であって第2の針先領域の針先が貫通する複数の穴
を有するガイド部材を含むことができる。これにより、
第2の針先領域の針先がガイド部材によりガイドバーの
長手方向における所定の位置に維持されるから、第2の
針先領域の針先の位置がより安定する。
該中央領域の一端に続く第1の針先領域と、中央領域の
他端に続く第2の針先領域と、中央領域に形成されたガ
イド穴とを備える。第1および第2の針先領域の針先
は、中央領域の幅方向の外側におよび互いに反対の側に
突出されている。このため、前記したようにガイドバー
によりブロックに組み付けることにより前記したプロー
ブ組立体を製作することができる。
その長手方向へ伸びる1以上の長穴を有することができ
る。これにより、複数のプローブを前記したようにブロ
ックに組み付けても、隣り合うプローブ間の静電容量ま
たは浮遊容量が小さくなり、電気信号の漏洩が小さくな
る。
2の針先領域は、それぞれ、中央領域の幅方向における
一方の縁部の側および他方の縁部の側から伸びている。
小さい幅寸法とすることができる。これにより、針先が
被検査体の電極に押圧されたとき、第1の針先領域が弧
状に確実に反り、針先と電極とが確実に接触する。
領域の長手方向に間隔をおいた箇所のそれぞれに、好ま
しくは先端部と後端部とに形成することができる。これ
により、複数のプローブをガイドバーによりブロックに
組み付けた状態において、ブロックに対する各プローブ
の姿勢が安定する。
ブ組立体10は、ブロック12と、ブロック12の下側
に並列的に配置された帯状の複数のプローブ14と、プ
ローブ14を貫通する細長い一対のガイドバー16と、
プローブ14の一部を受け入れる一対のスリットバー1
8と、プローブ14の後端側に針先の位置を安定化させ
る長尺のガイド部材20と、ガイドバー16をブロック
12に支持させる一対のサイドカバー22とを含む。
厚さ方向(図1において上下の方向)を上下方向とい
い、プローブの伸長方向すなわち長手方向(図1におい
て左右方向)を前後方向といい、ガイドバー16の伸長
方向すなわち長手方向(図1において左上から右下およ
びその逆の方向)を左右方向という。
ガイド穴26を上面の側に有するとともに、一対のガイ
ド穴28を各側面の側に有する。ブロック12の下面
は、図4に示すように、複数の段部により階段状に形成
されている。ブロック12は、電気を通さないいわゆる
非導電性の、金属材料、セラミックまたは合成樹脂から
製作することができる。
に、帯状の中央領域30と、該中央領域の前端すなわち
先端および後端からそれぞれからさらに前方および後方
へ伸びる一対の針先領域32および34とを備える。中
央領域30は、ガイドバー16が貫通するガイド穴36
を各端部に有するとともに、中央領域30の長手方向に
間隔をおいた部位を貫通する複数の長穴38をガイド穴
36の間の部位に有する。各長穴38は、中央領域30
の長手方向へ伸びているとともに、中央領域30の長手
方向に間隔をおいている。
あるが、ガイドバー16の断面形状に対応した形状とす
ることができる。また、ガイド穴36を、中央領域30
の長手方向に間隔をおいた他の箇所に形成してもよい
し、中央領域30の長手方向へ伸びる長穴としてもよ
く、この場合長穴38に続く長い穴としてもよい。
央領域30の幅方向における一方の縁部の側および他方
の縁部の側から前方および後方へ伸びており、また中央
領域30の幅寸法より小さい幅寸法を有する。針先領域
32および34の針先32aおよび34aは、それぞ
れ、針先領域32および34の先端部および後端部から
下方および上方へ突出している。プローブ14をその厚
さ方向から見たとき、針先32aは半円形の形状を有す
るが、針先34aは三角形の形状を有する。
ッチング加工をしてプローブを作成し、次いでポリイミ
ド材のような電気絶縁性材料によるコーティングをプロ
ーブの針先となる部分を除いて形成することにより、製
作することができる。
上下方向となる状態に、中央領域30、ガイド穴36お
よび長穴38を対向させて、ブロック12の下側に並列
的に配置されている。
の断面形状を有しており、また非導電性の金属材料によ
り形成されている。各ガイドバー16は、プローブ14
のガイド穴36に押し込まれ、各端部がサイドカバー2
2を貫通することにより、両サイドカバー22によりブ
ロック12に組み付けられる。
40が長手方向に所定のピッチで形成されている。各ス
リット40は、プローブ14の厚さ寸法とほぼ同じ幅寸
法を有しており、またスリットバー18の幅方向全体に
わたって伸びている。スリットバー18はセラミックの
ような非導電性材料から製作することができる。また、
各スリット40は、スリットバー18をブロック12に
装着する前または装着した後に、形成することができ
る。
ブ14の配列方向へ伸びてスリット40が下方に向く状
態にブロック12の前端下面に接着される。他方のスリ
ットバー18は、これがプローブ14の配列方向へ伸び
てスリット40が下方に向く状態にブロック12の後端
下面に接着される。しかし、各スリットバー18をブロ
ック12に、1以上のねじ部材によりまたは嵌合により
取り付けてもよい。
リットバー18から前方および下方へ突出するように、
針先領域32を一方のスリットバー18のスリット40
に受け入れられており、また針先34aが他方のスリッ
トバー18から後方および上方へ突出するように、中央
領域30と針先領域34との境界近傍を他方のスリット
バー18のスリット40に受け入れられている。
しており、またガイド部材20の長手方向に間隔をおい
た複数の貫通穴42(図6参照)をL字の一方の辺部分
に有する。ガイド部材20はポリイミド材のような非導
電性のフィルムから製作することができ、また穴42は
エッチング加工により形成することができる。
を貫通するように、L字の他方の辺部分おいてプローブ
14の配列方向へ伸びる状態に複数のねじ部材44によ
りブロック12の後端面下部に取り外し可能に取り付け
られている。しかし、ガイド部材20をブロック12
に、嵌合によりまたは接着により取り付けてもよい。
面と対応した形状の板部材から形成されており、また一
対のガイドピン46と複数のねじ部材48とによりブロ
ック12の側面に取り外し可能に取り付けられている。
各ガイドピン46は、ブロック12に形成されたガイド
穴28に脱出不能に嵌合されており、端部をサイドカバ
ー22形成されたガイド穴に嵌合される。しかし、ガイ
ドピン46をサイドカバー22に固定してもよい。サイ
ドカバー22は、両ガイドバー16の端部を受け入れる
貫通穴を有する。
きく間隔をおいているように示しているが、実際にはプ
ローブ14の配列ピッチは小さい。プローブ14の厚さ
寸法および配列ピッチ、ならびに、スリット40の配置
ピッチおよび幅寸法は、被検査体の種類、特に電極の配
置ピッチと幅寸法により異なる。
よび幅寸法がそれぞれ55μmおよび40μmである場
合、プローブ14およびスリット40の配置ピッチを5
5μm、スリット40の幅寸法を35μm、プローブ1
4用の薄い金属板素材の厚さ寸法を30μmとすること
ができる。
バー18とガイド部材20とを上記した状態にブロック
12に取り付けた状態で、各プローブ14の両端部をス
リットバー18のスリット40に挿し込むとともに針先
34aをガイド部材20の穴40に通し、次いでガイド
バー16をプローブ14のガイド穴36に挿し通し、次
いでガイドピン46をサイドカバー22とブロック12
とに挿し通すとともにガイドバー16の端部をサイドカ
バー22に挿し通し、その後サイドカバー22をねじ部
材48でブロック12に取り付けることにより、組み立
てることができる。これにより、プローブ14およびガ
イドバー16は、サイドカバー22を介してブロック1
2に支持される。
ローブ14は液晶表示パネルのような平板状被検査体の
電極の配置パターンに応じたパターンにブロック12の
下側に並列的に配置され、針先32aはスリットバー1
8から前方および下方へ突出し、針先34aはスリット
バー18から後方および上方へ突出してガイド部材20
から上方へ突出しており、針先領域32のスリット40
の底面との間に空間が形成されている。
ーブ組立体10は、図5および図6に示すように、針先
34aがTABテープ52に設けられた駆動用集積回路
54の電極に接触し、かつ、針先34aが駆動用集積回
路54の電極にわずかに過剰に押圧された状態に、検査
用ヘッド50の取付体56に組み付けられる。これによ
り、各プローブ14は針先領域34の幅寸法が中央領域
30のそれより小さいから弧状に反り、各針先34aは
電極に確実に接触する。駆動用集積回路54は、可撓性
の配線基板58に形成された配線に接続されている。
小な複数のガイド穴62を有するガイドフィルム60を
駆動用集積回路54の電極の下面に貼着することが好ま
しい。これにより、針先34aが駆動用集積回路54の
電極に押圧されたときに針先34aが電極に対して滑る
ことに起因する針先34aと電極との接触位置ずれがガ
イド穴62により防止される。
けるとき、プローブ組立体10は、図1に示すガイド穴
26に差し込まれるガイドピンにより取付体56に対す
る位置決めをされ、またねじ穴24に螺合されるねじ部
材により取付体56に取り外し可能に組み付けられる。
プローブ組立体10を取付体56に組み付けるとき、上
下方向における針先34aの位置に多少のずれがある
と、そのようなずれは、プローブ14がガイドバー16
に対し、針先領域34側のガイドバー16とガイド穴3
6との間のわずかな間隙の間内で変位することにより吸
収される。
が被検査体70(図6参照)の電極に対向するように図
示しない試験装置に組み付けられる。検査時、プローブ
組立体10は、針先32aを被検査体70の電極にわず
かに過剰に押圧される。このとき、上下方向における針
先32a相互間の位置に多少のずれがあると、そのよう
なずれは、プローブ14がガイドバー16に対し、針先
領域32側のガイドバー16とガイド穴36との間のわ
ずかな間隙の間内で変位することにより吸収される。
に過剰に押圧されると、針先領域32の上方に空間を有
することとあいまって、針先領域32が図6に示すよう
に弧状に反るから、針先32aが被検査体の電極に対し
てわずかに滑る。そのような擦り作用により、針先32
aは、電極表面の酸化膜を掻き取るか、または電極内に
わずかに食い込む。このため、各プローブと電極とは電
気的に確実に接触する。プローブの反り量および滑り量
を図6にそれぞれL1 およびL2 で示す。
ったとき、針先32aが半円形の形状を有すると、被検
査体の電極への針先32a当接部位が変位するから、電
極に対する針先32aの滑り量L2 が小さくなり、電極
の削り屑が少なくなる。しかし、針先32aを、三角
形、平坦面等、他の形状に形成してもよい。
の通電用として用いられるか、被検査体70からの電気
信号の取出し用として用いられる。いずれの場合も、隣
り合うプローブ間の静電容量または浮遊容量が長穴38
により小さく押えられ、プローブ14からの電気信号の
漏洩が小さくなる。
0を取付体56から外し、サイドカバー22をブロック
12から外し、ガイドバー16を抜き、交換すべきプロ
ーブを取り去り、その代わりに新たなプローブをブロッ
ク12に配置し、その後既に述べた手法で、プローブ組
立体10を組み立て、そのプローブ組立体10を取付体
56に取り付ければよい。このため、プローブの交換が
容易になる。
立体10およびその部品の製作が従来のプローブ組立体
に比べ著しく容易であるから、プローブ組立体10が廉
価になり、また針先32aが被検査体の電極に確実に接
触し、さらにプローブ14の交換が従来のプローブ組立
体に比べ著しく容易になる。
4がスリットバー18によりガイドバー16の長手方向
における所定の位置に維持されるから、組立作業が容易
になり、廉価になる。また、組立後においても、ガイド
バー16の長手方向へのプローブ12の変位がプローブ
14の両端部においてスリットバー18により阻止され
るから、ガイドバー16の長手方向における針先領域3
2,34の位置が安定し、各プローブ12の針先32
a,34aが所定の電極に確実に接触する。しかし、ス
リットバー18を設けなくてもよい。
領域30の長手方向に間隔をおいた部位、好ましくは先
端部および後端部を貫通して伸びる一対のガイドバー1
6を設けるならば、ブロック12に対する各プローブ1
2の姿勢が安定する。しかし、1つのガイドバー16を
用いてもよい。
を有するガイド部材20を備えるならば、針先34aが
ガイド部材20によりガイドバー16の長手方向におけ
る所定の位置に維持されるから、針先34aの位置がよ
り安定する。しかし、ガイド部材20を備えなくてもよ
い。
プローブおよびプローブ組立体のみならず、集積回路の
ような他の平板状被検査体の検査に用いるプローブおよ
びプローブ組立体にも適用することができる。
図である。
る。
付体に取り付けた状態の一実施例を示す図である。
Claims (12)
- 【請求項1】 ブロックと、帯状の中央領域ならびに該
中央領域の先端および後端からそれぞれさらに前方およ
び後方へ伸びる第1および第2の針先領域を備える複数
のプローブであって前記中央領域の幅方向が上下方向と
なる状態に前記ブロックの下側に前記中央領域を対向さ
せて並列的に配置された複数のプローブと、前記プロー
ブの中央領域を貫通して伸びかつ前記ブロックに支持さ
れた細長い1以上のガイドバーとを含む、プローブ組立
体。 - 【請求項2】 さらに、前記ブロックの先端側および後
端側にそれぞれ配置されて前記ガイドバーの長手方向へ
伸びる第1および第2のスリットバーであって前記プロ
ーブの先端側および後端側の部位をそれぞれ受け入れる
べく長手方向に間隔をおいた複数のスリットをそれぞれ
有する第1および第2のスリットバーを含む、請求項1
に記載のプローブ組立体。 - 【請求項3】 前記ガイドバーの長手方向の端部を受け
入れる板状の一対のサイドカバーであって前記ブロック
の側部に取り外し可能に組み付けられた一対のサイドカ
バーを含む、請求項1または2に記載のプローブ組立
体。 - 【請求項4】 一対の前記ガイドバーが設けられてお
り、両ガイドバーは前記中央領域の長手方向に間隔をお
いた部位を貫通して伸びる、請求項1,2または3に記
載のプローブ組立体。 - 【請求項5】 前記第1および第2の針先領域は、それ
ぞれ、その先端部および後端部から下方および上方へ突
出する針先を有する、請求項2に記載のプローブ組立
体。 - 【請求項6】 さらに、前記ブロックの後端に前記ガイ
ドバーの長手方向へ伸びる状態に組み付けられた長い板
状のガイド部材であって前記第2の針先領域の針先が貫
通する複数の穴を有するガイド部材を含む、請求項5に
記載のプローブ組立体。 - 【請求項7】 帯状の中央領域と、該中央領域の一端に
続く第1の針先領域と、前記中央領域の他端に続く第2
の針先領域と、前記中央領域に形成されたガイド穴とを
備え、前記第1および第2の針先領域の針先は、前記中
央領域の幅方向の外側におよび互いに反対の側に突出さ
れている、プローブ。 - 【請求項8】 さらに、前記中央領域に形成されて前記
中央領域をその長手方向へ伸びる1以上の長穴を有す
る、請求項7に記載のプローブ。 - 【請求項9】 前記第1および第2の針先領域は、それ
ぞれ、前記中央領域の幅方向における一方の縁部の側お
よび他方の縁部の側から伸びている、請求項7または8
に記載のプローブ。 - 【請求項10】 前記第1の針先領域は、前記中央領域
の幅寸法より小さい幅寸法を有する、請求項7,8また
は9に記載のプローブ。 - 【請求項11】 前記中央領域の長手方向に間隔をおい
た箇所のそれぞれに前記ガイド穴が形成されている、請
求項7〜10のいずれか1項に記載のプローブ。 - 【請求項12】 前記ガイド穴は、前記中央領域の先端
部と後端部とに形成されている、請求項11に記載のプ
ローブ。
Priority Applications (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP30083596A JP3750831B2 (ja) | 1996-10-28 | 1996-10-28 | プローブ組立体 |
| KR1019970034959A KR100252566B1 (ko) | 1996-10-28 | 1997-07-25 | 프로브조립체및프로브 |
| TW087105403A TW392073B (en) | 1996-10-28 | 1998-04-10 | Probe assembly and probe |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP30083596A JP3750831B2 (ja) | 1996-10-28 | 1996-10-28 | プローブ組立体 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH10132853A true JPH10132853A (ja) | 1998-05-22 |
| JP3750831B2 JP3750831B2 (ja) | 2006-03-01 |
Family
ID=17889693
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP30083596A Expired - Lifetime JP3750831B2 (ja) | 1996-10-28 | 1996-10-28 | プローブ組立体 |
Country Status (3)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3750831B2 (ja) |
| KR (1) | KR100252566B1 (ja) |
| TW (1) | TW392073B (ja) |
Cited By (14)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2001050858A (ja) * | 1999-08-04 | 2001-02-23 | Micronics Japan Co Ltd | 表示用パネル基板の検査装置 |
| JP2005274488A (ja) * | 2004-03-26 | 2005-10-06 | Micronics Japan Co Ltd | プローブ組立体 |
| JP2006145514A (ja) * | 2004-10-19 | 2006-06-08 | Micronics Japan Co Ltd | プローブ組立体 |
| KR100610889B1 (ko) | 2005-10-10 | 2006-08-08 | (주)엠씨티코리아 | 초미세 피치를 갖는 평판형 디스플레이장치 검사용프로브유니트 |
| KR100692179B1 (ko) * | 2006-05-01 | 2007-03-12 | 주식회사 코디에스 | 평판디스플레이 검사를 위한 프로브 조립체 |
| JP2007303834A (ja) * | 2006-05-08 | 2007-11-22 | Micronics Japan Co Ltd | プローブ組立体 |
| JP2007303969A (ja) * | 2006-05-11 | 2007-11-22 | Micronics Japan Co Ltd | プローブおよびプローブ組立体 |
| JP2008256410A (ja) * | 2007-04-02 | 2008-10-23 | Micronics Japan Co Ltd | プローブ組立体 |
| JP2008286601A (ja) * | 2007-05-16 | 2008-11-27 | Micronics Japan Co Ltd | プローブ組立体及び検査装置 |
| US7789707B2 (en) | 2006-03-03 | 2010-09-07 | Nhk Spring Co., Ltd. | Conductive contact unit |
| JP2010256255A (ja) * | 2009-04-28 | 2010-11-11 | Kiyota Seisakusho:Kk | 積層型プローブ |
| US7955122B2 (en) | 2006-03-03 | 2011-06-07 | Nhk Spring Co., Ltd. | Conductive contact unit |
| JP2011203275A (ja) * | 2011-07-05 | 2011-10-13 | Micronics Japan Co Ltd | プローブおよびプローブ組立体 |
| JP2019219341A (ja) * | 2018-06-22 | 2019-12-26 | 株式会社日本マイクロニクス | プローブ組立体 |
Families Citing this family (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100669827B1 (ko) * | 2005-08-10 | 2007-01-16 | 주식회사 파이컴 | 프로브 어셈블리 |
| KR100715492B1 (ko) * | 2006-06-05 | 2007-05-07 | (주)엠씨티코리아 | 극미세 피치를 갖는 프로브유니트 및 이를 이용한프로브장치 |
| KR100696416B1 (ko) * | 2006-11-20 | 2007-03-19 | 주식회사 리뷰텍 | 평판표시소자 검사용 프로브 조립체 |
| KR102241059B1 (ko) * | 2020-01-14 | 2021-04-16 | (주)위드멤스 | 프로브 블록 조립체 |
-
1996
- 1996-10-28 JP JP30083596A patent/JP3750831B2/ja not_active Expired - Lifetime
-
1997
- 1997-07-25 KR KR1019970034959A patent/KR100252566B1/ko not_active Expired - Lifetime
-
1998
- 1998-04-10 TW TW087105403A patent/TW392073B/zh not_active IP Right Cessation
Cited By (16)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2001050858A (ja) * | 1999-08-04 | 2001-02-23 | Micronics Japan Co Ltd | 表示用パネル基板の検査装置 |
| JP2005274488A (ja) * | 2004-03-26 | 2005-10-06 | Micronics Japan Co Ltd | プローブ組立体 |
| JP2006145514A (ja) * | 2004-10-19 | 2006-06-08 | Micronics Japan Co Ltd | プローブ組立体 |
| KR100610889B1 (ko) | 2005-10-10 | 2006-08-08 | (주)엠씨티코리아 | 초미세 피치를 갖는 평판형 디스플레이장치 검사용프로브유니트 |
| US7789707B2 (en) | 2006-03-03 | 2010-09-07 | Nhk Spring Co., Ltd. | Conductive contact unit |
| JP5095604B2 (ja) * | 2006-03-03 | 2012-12-12 | 日本発條株式会社 | 導電性接触子ユニット |
| US7955122B2 (en) | 2006-03-03 | 2011-06-07 | Nhk Spring Co., Ltd. | Conductive contact unit |
| KR100692179B1 (ko) * | 2006-05-01 | 2007-03-12 | 주식회사 코디에스 | 평판디스플레이 검사를 위한 프로브 조립체 |
| KR100863987B1 (ko) | 2006-05-08 | 2008-10-16 | 가부시키가이샤 니혼 마이크로닉스 | 프로브 조립체 |
| JP2007303834A (ja) * | 2006-05-08 | 2007-11-22 | Micronics Japan Co Ltd | プローブ組立体 |
| JP2007303969A (ja) * | 2006-05-11 | 2007-11-22 | Micronics Japan Co Ltd | プローブおよびプローブ組立体 |
| JP2008256410A (ja) * | 2007-04-02 | 2008-10-23 | Micronics Japan Co Ltd | プローブ組立体 |
| JP2008286601A (ja) * | 2007-05-16 | 2008-11-27 | Micronics Japan Co Ltd | プローブ組立体及び検査装置 |
| JP2010256255A (ja) * | 2009-04-28 | 2010-11-11 | Kiyota Seisakusho:Kk | 積層型プローブ |
| JP2011203275A (ja) * | 2011-07-05 | 2011-10-13 | Micronics Japan Co Ltd | プローブおよびプローブ組立体 |
| JP2019219341A (ja) * | 2018-06-22 | 2019-12-26 | 株式会社日本マイクロニクス | プローブ組立体 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| KR100252566B1 (ko) | 2000-04-15 |
| JP3750831B2 (ja) | 2006-03-01 |
| TW392073B (en) | 2000-06-01 |
| KR19980032242A (ko) | 1998-07-25 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JP3750831B2 (ja) | プローブ組立体 | |
| JP5459646B2 (ja) | プローブユニット及び検査装置 | |
| WO2005069018A1 (ja) | 電気的接続装置及び接触子 | |
| KR100314874B1 (ko) | 프로브 장치 | |
| KR100863987B1 (ko) | 프로브 조립체 | |
| KR100966499B1 (ko) | 프로브 조립체 | |
| JP4313565B2 (ja) | プローブ装置 | |
| JP4010588B2 (ja) | 検査用ヘッド | |
| JP4571517B2 (ja) | プローブ組立体 | |
| JP2005055343A (ja) | フラットパネルディスプレイ検査用プローブ装置 | |
| JP4235280B2 (ja) | プローブ組立体 | |
| JP4102571B2 (ja) | 接触子及び電気的接続装置 | |
| JP4471424B2 (ja) | プローブカード | |
| JP3813285B2 (ja) | 平板状被検査体試験用ヘッド | |
| JP2005025969A (ja) | 電気部品用ソケット | |
| WO2006085388A1 (ja) | 電気的接続装置 | |
| KR100692179B1 (ko) | 평판디스플레이 검사를 위한 프로브 조립체 | |
| JP4074677B2 (ja) | 検査用ヘッド | |
| JPH10206463A (ja) | 検査用ヘッド | |
| JP2943058B2 (ja) | 縦型プローブカード | |
| JP3825527B2 (ja) | 平板状被検査体試験用ヘッド | |
| JP2006351474A (ja) | 電気的接続装置 | |
| JPH10185955A (ja) | 検査用ヘッド | |
| JPH11218549A (ja) | プローブカード | |
| JP3396316B2 (ja) | 電子部品用コネクタ |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20051020 |
|
| A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20051201 |
|
| R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20081216 Year of fee payment: 3 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20111216 Year of fee payment: 6 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20111216 Year of fee payment: 6 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20141216 Year of fee payment: 9 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| EXPY | Cancellation because of completion of term |