JPH10134524A - 媒体欠陥検出・登録方法及びこれを用いた装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】 媒体欠陥のある位置を確実にかつ比較的短時
間で、検出し登録することができ来、信頼性の高い磁気
ディスク装置を提供すること。 【解決手段】 再生系にピーク検出信号処理方式を採用
した際の記録データのパターンは、前記媒体に記録され
る最小磁化反転間隔で磁化転移が３個連続し、磁気的干
渉で出力振幅の最小となるＴｒｉ−ｂｉｔ部分を含み、
前記Ｔｒｉ−ｂｉｔ部分の前後に媒体上隣接した磁化転
移が少なくとも２ビット以上離れたパターンであり、磁
気記録媒体の記録領域全体の欠陥検出のために、前記記
録データパターンの位置を少なくとも１ビット以上づつ
ずらした同一のパターンをすくなくとも１つ以上加え
て、それぞれの記録データのパターンを再生し、前記記
録データのパターンの再生出力が、所定のスライスレベ
ル以下であるときに媒体欠陥であるとして検出し登録す
ること。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は磁気記録媒体の欠陥
検出・登録方法及びそれを組み込んだ磁気ディスク装置
に関する。

【０００２】

【従来の技術】媒体上に欠陥がある場所では、磁気ヘッ
ドから再生される出力の振幅が図１に示すように低下
し、正常な記録情報の再生を行うことが出来ない。した
がって、このような媒体欠陥のある場所はデータを記録
しないようにするために、媒体欠陥の位置を予め検出
し、その位置情報を登録する必要がある。

【０００３】従来行われてきた媒体欠陥検出方法は、磁
気ディスク装置に媒体を組み込んだ状態で、データ部に
最も記録密度の高い符号、すなわち媒体に記録される最
小磁化反転間隔で磁化転移が連続する最密パターン、又
は磁化反転間隔が一定でないランダムパターンを媒体に
記録した後、この記録情報を再生した時に記録データと
再生データが異なっていた場合（エラーした場合）、そ
の場所（セクタ）を媒体欠陥として検出し、媒体上にあ
る基準位置からの距離を欠陥位置情報として登録してい
る。

【０００４】

【発明が解決しようとする課題】ピーク検出方式の場
合、記録再生試験を行い、エラ−の発生により媒体欠陥
を検出する媒体欠陥検出方法において、媒体に記録する
データパターンとして媒体に記録される最小磁化反転間
隔で磁化転移が連続する最密パターンを用いると、微小
な媒体欠陥上における磁気ヘッドからの再生出力波形に
みられる振幅の低下は、図２に示すように段々に小さく
なってくる。

【０００５】この結果、微小な媒体欠陥のある場所で
は、記録再生試験を行ったときのエラーする（欠陥検出
の）確率が低下し、検出漏れが生じる。この対策とし
て、ピ−ク位置を限定するためのスライスレベルを高く
して、記録再生試験を行ったときのエラーする（欠陥検
出の）確率を高くして、検出精度をあげる方法がある。

【０００６】しかしながらＩＤ部、ＥＣＣ部では、媒体
に記録される最小磁化反転間隔で磁化転移が連続する最
密パターンではなく、ランダムパターンが予め記録され
ており、磁気記録的な干渉により、磁気ヘッドからの再
生出力波形に、もともと振幅が低下する部分が存在す
る。このためスライスレベルを上げすぎると、ＩＤ部、
ＥＣＣ部においてエラーが発生し、媒体欠陥部分を誤検
出する可能性がある。したがってスライスレベルの設定
には上限が生じ、微小な媒体欠陥部分の検出精度が上が
らない。

【０００７】また媒体に記録するデータパターンとして
ランダムパターンを用いた場合、磁気記録的な干渉によ
り、磁気ヘッドからの再生出力波形に、もともと振幅が
低下する部分が存在する。例えば、隣接して連続する３
つの信号は、その真中の信号がその前後の信号による干
渉により実際より低い振幅として出力される。したがっ
て、その部分が媒体欠陥上に記録された場合は、記録再
生試験を行ったときのエラーする確率は、媒体に記録さ
れる最小磁化反転間隔で磁化転移が連続する最密パター
ンより高くなり、媒体欠陥の検出精度は高くなる。即
ち、前記例示の真中の信号は実際より低い振幅となって
出力されるから、例えスライスレベルが低くとも欠陥で
あるとして検出されるのである。

【０００８】しかし、磁気記録的な干渉により、もとも
と振幅が低下する部分以外に媒体欠陥が存在する場合も
あり、結局スライスレベルを上げなければならず、最密
パターン同様、誤検出する可能性がある。さらに数ビッ
トにわたり磁化の反転がない部分も、ランダムパターン
には含まれているため、この部分が媒体欠陥上に記録さ
れた場合、媒体欠陥の検出は不可能となる。

【０００９】一方、ＰＲＭＬ（Ｐａｒｔｉａｌ Ｒｅｓ
ｐｏｎｓｅ Ｍａｘｉｍｕｍ Ｌｉｋｅｌｉｈｏｏｄ）
信号処理方式では、従来のピーク検出方式と異なり、ビ
ット毎の瞬時判定ではなく、複数ビットの振幅値を用い
た最尤復号を行う。そのため最尤復号器では、正負のピ
ークが交互に出現することを利用し、正負のピークの対
を見つけた時点で判定結果を決定する。従って、欠陥に
起因する誤り方も、ピーク検出方式とは異なり、誤りや
すいパターンも異なる。

【００１０】

【課題を解決するための手段】前記課題を解決するため
に、本発明は次のような構成を採用する。

【００１１】磁気記録媒体の欠陥を検出しその欠陥位置
を登録する媒体欠陥検出・登録方法において、前記媒体
に、ＩＤ部、データ部、ＥＣＣ部を含むトラックフォー
マットを形成し、最小磁化反転間隔で磁化転移が３個連
続し、磁気的干渉で出力振幅の最小となるＴｒｉ−ｂｉ
ｔ部分を含み、前記Ｔｒｉ−ｂｉｔ部分の前後に媒体上
隣接した磁化転移が少なくとも２ビット以上離れたパタ
ーンを前記媒体のデータ部に記録し、前記パターンを再
生してその再生出力のレベルが所定のスライスレベル以
下であるか否かのエラーチェックを行い、前記再生出力
が前記所定スライスレベル以下であることを検出したと
きに、前記エラーチェックを複数回実施して２回以上ス
ライスレベル以下の結果が得られれば、前記媒体の当該
位置に欠陥があると検出して登録し、前記エラーチェッ
クで前記再生出力が前記所定スライスレベル以下となら
ないときに、前記パターンの位置を少なくとも１ビット
以上づつずらした同一のパターンをすくなくとも１つ以
上加えて、それぞれのパターンで前記エラーチェックを
それぞれ行い、前記データ部以外のＩＤ部、ＥＣＣ部を
含む部分に前記パターンを記録できるように、媒体のフ
ォーマット位置をずらして前記トラックフォーマットを
形成し、前記Ｔｒｉ−ｂｉｔ部分を含む前記パターンを
前記ずらしたデータ部に記録して前記エラーチェックを
行う媒体欠陥・登録方法。

【００１２】また、ピーク検出信号処理方式における弁
別窓判定において、再生系にピーク検出信号処理方式を
採用した際の記録データのパターンは、前記媒体に記録
される最小磁化反転間隔で磁化転移が２個連続し、磁気
的干渉で最大のピークシフト量となるＤｉ−ｂｉｔ部分
を含み、前記Ｄｉ−ｂｉｔ部分の前後において媒体上隣
接した磁化転移が少なくとも２ビット以上離れたパター
ンであり、磁気記録媒体の記録領域全体の欠陥検出のた
めに、前記記録データパターンの位置を少なくとも１ビ
ット以上づつずらした同一のパターンをすくなくとも１
つ以上加えて、それぞれの記録データのパターンを再生
し、前記記録データのパターンの再生出力が、所定の弁
別窓幅から外れているときに媒体欠陥であるとして検出
し登録すること。

【００１３】更に、ＰＲ４ＭＬ信号処理方式において、
再生ヘッドによって再生された出力波形を等化器によっ
てクラス４パーシャルレスポンス波形に波形等化し、前
記等化器の出力波形を用いて最尤復号によって復号を行
う信号処理方式を採用した際の記録パターンとして、磁
化転移位置の有無を“１”及び“０”で表現した場合に
“１０”の連続パターンを記録する、即ち、媒体上に１
ビットおきに磁化転移を記録し、前記記録パターンの等
化器出力における正負のピークの振幅値差が、所定のレ
ベル以下であるときに媒体欠陥であるとして検出し登録
すること。

【００１４】

【発明の実施の形態】本発明による第１の実施形態を説
明する。

【００１５】図４に磁気ディスク装置の全体構成を示
す。複数のヘッド１、記録媒体２、スピンドル３および
位置決め機構４から成るＨＤＡ部６と、記録再生、制御
用回路から成るパッケージボード部（ＰＣＢ部）７とで
構成される。

【００１６】図５は、記録符号に（１，７）変調符号方
式を用い、ピ−ク検出を行う磁気ディスク装置の概要を
示す図である。本実施形態は、（１，７）変調符号を用
いたピーク検出方式における本発明の適用例である。

【００１７】図５に示すように、コントローラ１０から
出力されたユーザーデータ２２は（１，７）ｃｏｄｅｒ
１１によってチャネルデータ２３に変換される。更に記
録制御部１２においてライトプリコンペンセーションな
どの制御を行い、記録アンプ１３を通して記録ヘッド１
４によって記録媒体１５に記録が行われる。記録媒体１
５に記録された記録磁化パターンはＭＲヘッド１６によ
って再生され、プリアンプ１７、再生アンプ１８によっ
て増幅される。

【００１８】さらに等化器１９によって波形を等化し、
ピーク検出器２０を用いてバイナリデータに判定が行わ
れる。その後（１，７）ｄｅｃｏｄｅｒ２１によってユ
ーザーデータ形式に変換が行われ、コントローラに返さ
れる。

【００１９】ピーク検出方式ではピーク検出器２０にお
いて、設定されたスライスレベル以上の出力であり、か
つ出力の微分値がゼロとなる位置が弁別窓内にある場合
をバイナリデータの”１”として判定する。従ってピー
ク検出方式において、スライスレベル判定では磁気記録
的に出力振幅が低下した場合にエラー発生とされ易く、
弁別窓判定では磁気記録的にピークシフト量が増大した
場合にエラー発生とされ易い。これにより、磁気記録的
に出力振幅が低下、あるいはピ−クシフト量が増大する
パタ−ンを用いると微小媒体欠陥の検出が可能となる。

【００２０】図３に示すように、磁気記録的な干渉によ
り出力振幅がもっとも小さくなるＴｒｉ−ｂｉｔパタ−
ンで、他から磁気記録的な干渉がないように、その前後
において媒体上で隣接した磁化遷移が少なくとも２ｂｉ
ｔ以上離れたパタ−ンを、１６進表記のユ−ザデ−タパ
タ−ンとして、”５Ａ”、”Ａ５”、”６９”、”９
６”で示す。４つのパターンは媒体の記録領域全体を試
験するためにＴｒｉ−ｂｉｔの位置を３ビットづつずら
してある。

【００２１】付言すると、前記Ｔｒｉ−ｂｉｔパターン
の第２番目の「１」の再生出力は、磁気的干渉によりそ
の前後の「１」の再生出力に比べて低下して現れる。そ
して、この第２番目の「１」の位置に媒体欠陥が存在し
ている場合には、その再生出力は一層低下する。する
と、媒体欠陥の検出のためのスライスレベルの設定を、
前記最密パターンのスライスレベルより下げても欠陥検
出が可能となるのである。ここで、前記最密パターンの
「１」も磁気的干渉により低下するのであるが、この低
下する現象はパターン全般に亘って生じているのである
から、前記Ｔｒｉ−ｂｉｔパターンの第２番目の「１」
のみの低下現象とは異なる。

【００２２】更に、図３に示すＴｒｉ−ｂｉｔパターン
１を見ると、３つの「１」のあとに「０」が数個続く信
号であり、この「０」の位置に媒体欠陥が存在すると、
その欠陥を検出することはできないものである。そこ
で、前記パターン１の位相をづらして４つのパターンを
媒体上に記録することにより、媒体の全ての領域の欠陥
を検出しようとするものである。即ち、図３に示すパタ
ーンを用いる場合には、４回の欠陥検出で媒体の全領域
をカバーするものである。

【００２３】１６進表記のユ−ザデータパターン、”５
Ａ”、”Ａ５”、”６９”、”９６”を用い、ある媒体
欠陥上における記録再生試験の結果を図６に示す。横軸
はスライスレベルの設定値、縦軸は記録再生試験時のエ
ラー確率すなわち媒体欠陥検出確率を表わす。４つのＴ
ｒｉ−ｂｉｔパターンと（１，７）符号において１６進
表記のユ−ザデータパターン”２２”で表される従来用
いられていた最密パターンとを比較した場合、スライス
レベルを５５％に設定した時の媒体欠陥（Ａ）（比較的
大きい欠陥）における検出確率は、”５Ａ”で９１
％、”Ａ５”で２％、”６９”で５４％、”９６”で２
３％、”２２”で３８％であり、スライスレベルを５９
％に設定した時の媒体欠陥（Ｂ）では”５Ａ”で９
％、”Ａ５”で６５％、”６９”で５２％、”９６”で
１２％、”２２”で１９％となり、４つのＴｒｉ−ｂｉ
ｔパターンのうち必ず１つのパターンは、従来用いられ
ていた最密パターンより検出確率が高いものが存在する
ので、４つのＴｒｉ−ｂｉｔパターンが媒体欠陥を検出
する上で有効である。

【００２４】またスライスレベルを５５％以下に設定し
た場合、検出確率が２０％以下となる媒体欠陥（Ｂ）
（比較的小さい欠陥）が存在することから、スライスレ
ベルは５５％以上に設定する必要がある。

【００２５】記録再生試験を１回だけ行う場合、媒体欠
陥以外の場所で偶発的にエラーが発生した場合において
も媒体欠陥として登録してしまう可能性がある。図７
は、１０回の記録再生試験を行ったとき媒体欠陥として
登録するエラー回数Ｎに対する登録確率を、媒体欠陥が
ある位置４１と媒体欠陥が無い位置４２で比較した図で
ある。

【００２６】図７によると、同一場所で複数回、例えば
２回以上エラーした場合を媒体欠陥として登録すること
により、媒体欠陥の登録確率を変化させることなく媒体
欠陥以外における偶発的エラーによる登録はほとんどな
くすことが出来る。換言すると、媒体欠陥が無いにも関
わらず、媒体欠陥として検出する回数が３回以上となる
確立は殆ど零であり、また、媒体欠陥があるにも関わら
ず、６回以上媒体欠陥があると検出する確立が約２０％
と低くなる。以上のことからすると、媒体欠陥として検
出する回数が３回ないし５回が適当であることが分か
る。

【００２７】前記結果より、最適な媒体欠陥検出試験の
シーケンス例を図８に示す。図８中のインデックススキ
ューとは、本来、データパターンを記録して試験を行う
ことが不可能であるＩＤ部、Ｓｙｎｃ部、ＥＣＣ部にお
いて、データパターンすなわちＴｒｉ−ｂｉｔパターン
を記録して試験を行うために、媒体の基準位置を従来の
基準位置からずらした所に設定し、再度、フォ−マット
を行うことによって、本来ＩＤ部、Ｓｙｎｃ部、ＥＣＣ
部である場所をＤａｔａ部として試験を行えるようにす
ることである。

【００２８】図９に示すように、インデックススキュー
前３１のＩＤ、Ｓｙｎｃ部３３、ＥＣＣ部３４は、イン
デックススキュー後３２ではＤａｔａ部３５に変わり、
Ｔｒｉ−ｂｉｔパターンが記録されることになる。これ
よりインデックススキューを含む図８に示すシーケンス
では、媒体の記録領域全体を４つのＴｒｉ−ｂｉｔパタ
ーンで媒体欠陥検出試験を行うことができ、精度の高い
媒体欠陥の検出が可能となる。

【００２９】図８のフローによると、欠陥の有無の判定
を行うための複数回の再生を、Ｍ回（Ｍ＞＝１）の第１
段階再生とＮ回（Ｎ＞＝１）の第２段階再生とからなる
２段階構成とし、第１段階のＭ回再生で１回以上誤りが
発生したシリンダについてのみ第２段階のＮ回再生を行
い、合計（Ｍ＋Ｎ）回の再生において同一位置でＬ回
（Ｌ＞＝２）以上誤った位置を欠陥として登録する。

【００３０】また、図８における「全ての試験パター
ン」とは、例えば、図３に示す４つのＴｒｉーｂｉｔパ
ターンである。

【００３１】以上の説明をまとめると、本発明は、次の
ような構成と作用を奏するものである。

【００３２】エラ−の発生の有無により媒体欠陥を検出
する媒体欠陥検出方法において、記録再生試験を行うと
きの記録時のデータパターンとして短い欠陥のある位置
でエラ−の発生し易いパターンを用いる。

【００３３】ピーク検出方式の場合では、磁気記録的な
干渉により出力振幅が最も小さくなるＴｒｉ−ｂｉｔパ
ターンで、他からの干渉がないように、その前後におい
て媒体上で隣接した磁化遷移が少なくとも２ビット以上
離れたパターンを記録時のデータパターンとして繰りか
えして用いる。これにより、Ｔｒｉ−ｂｉｔ部分が微小
な媒体欠陥上に記録されたときの、記録再生試験におけ
るエラー確率、すなわち検出精度を、媒体に記録される
最小磁化反転間隔で磁化転移が連続する最密パターンよ
り高くすることが出来る。

【００３４】また、Ｔｒｉ−ｂｉｔ前後での磁化反転が
ない位置の媒体欠陥を検出するために、Ｔｒｉ−ｂｉｔ
部分を少なくとも１ビット以上づつずらしたパターンを
複数個用いて、図３に示すようにいずれかＴｒｉ−ｂｉ
ｔパターンが必ず媒体欠陥上に記録されるようにするこ
とによって、全ての媒体欠陥に対し記録再生試験におけ
るエラー確率、すなわち検出精度を高くすることが出来
る。

【００３５】媒体欠陥検出時にデータパターンの記録が
出来なかったＩＤ部、Ｓｙｎｃ部、ＥＣＣ部において
も、記録再生試験による媒体欠陥検出を行った後に、媒
体の基準位置をずらして再フォーマットを行った後、再
び記録再生試験による媒体欠陥検出を行うことにより、
媒体欠陥検出時にデータパターンの記録を可能にする。

【００３６】また媒体上の同一場所で複数回記録再生試
験を行い、２回以上エラーが発生した場合、当該場所を
媒体欠陥として検出することによりＴｒｉ−ｂｉｔ部分
に媒体欠陥がないときの誤検出を防ぐことが出来る。こ
の結果、スライスレベルを上げても誤検出の問題を生じ
ることなく、微小な媒体欠陥の検出精度を上げることが
出来る。

【００３７】更に、媒体欠陥を検出するための記録再生
試験の振幅スライスレベル（ＳＬ）を、欠陥登録試験時
にのみ通常再生時よりも大きくすることにより、媒体欠
陥の検出精度を高めることができる。

【００３８】以上の説明では媒体の欠陥検出を振幅の低
下により検出したが、媒体上に欠陥が存在すると、信号
のピークが弁別窓幅から外れる現象が生じるので、弁別
窓幅からピークが外れることを検知して、媒体欠陥を検
出することもできる。したがって、この弁別窓判定によ
る媒体欠陥検出においては、記録再生試験における記録
データパターンとして、磁気記録的にピ−クシフトが大
きくなるパターンを用いる。具体的には、再生系にピー
ク検出方式を用いた時の記録データパターンとして、媒
体に記録される最小磁化反転間隔で磁化転移が２個連続
し、磁気記録的に最大のピークシフト量となるＤｉ−ｂ
ｉｔ部分を含み、その前後において、媒体上隣接した磁
化転移が少なくとも２ビット以上離れた繰り返しパター
ンを用いる。

【００３９】図３に示した記録パターンとの対応で云え
ば、前記弁別窓判定による欠陥検出では、記録符号に
（１，７）変調符号方式を用い、ピ−ク検出を行う磁気
ディスク装置における媒体欠陥を検出するための記録再
生試験の記録ユ−ザデータパターンとして、１６進表記
で”６５”、”５６”、”５９”、”９５”で表わされ
るＤｉ−ｂｉｔを含むパターンの位置が３ビットづつず
れた４つのパターンを用いる。

【００４０】そして、前記弁別窓判定による欠陥検出・
登録においては、媒体欠陥を検出するための記録再生試
験の弁別窓幅を、欠陥登録試験時にのみ通常再生時より
も狭くすることによって、精度の高い媒体欠陥の検出が
可能である。更に、本実施形態においても、図８に示す
フローで欠陥検出・登録を行うものであり、具体的に
は、Ｍ＝１，Ｎ＝９，Ｌ＝２で実施するのが好適であ
る。

【００４１】以上のように、本実施形態では、弁別窓判
定でエラー発生とされ易い１６進表記のユ−ザデータパ
ターンとして、”６５”、”５６”、”５９”、”９
５”で表わされ、磁気記録的にピークシフト量が最大と
なるＤｉ−ｂｉｔを含むパターンにも適用可能である。
この場合、弁別窓を狭くすることにより欠陥検出を行う
ことにより精度の高い媒体欠陥の検出が可能である。

【００４２】次に、本発明の第２の実施形態を説明す
る。

【００４３】図１０は、本実施形態の磁気ディスク装置
の概要を示す図である。本実施形態は、ＰＲ４ＭＬ方式
における本発明の適用例である。同図に示すように、コ
ントローラ１１０から出力されたユーザーデータ１２４
は８／９ｃｏｄｅｒ１１１によってチャネルデータ１２
５に変換される。更に記録制御部１１２においてライト
プリコンペンセーションなどの制御を行い、記録アンプ
１１３を通して記録ヘッド１１４で記録媒体１１５に記
録が行われる。

【００４４】記録媒体１１５に記録された記録磁化パタ
ーンはＭＲヘッド１１６によって再生され、プリアンプ
１１７、再生アンプ１１８によって増幅され、ＬＰＦ１
１９によって余分な高周波雑音を低減した後にＡＤＣ１
２０によってデジタル信号に変換される。デジタル化さ
れた再生信号は、等化器１２１によってクラス４パーシ
ャルレスポンス波形に等化し、最尤復号器１２２を用い
てバイナリデータに判定が行われ、８／９ｄｅｃｏｄｅ
ｒ１２３によってユーザーデータ形式に変換が行われ、
コントローラに返される。

【００４５】ＰＲ４ＭＬ方式では、最尤復号器には、イ
ンターリーブされた等化器出力波形が入力される。最尤
復号器では、正負のピーク（規格化出力：＋１，−１）
が交互に現れることを利用し、入力サンプル間の振幅値
差を判定基準として判定を行う。従って、振幅低下が同
程度であれば、正負のピークが同時に振幅低下した場合
に誤り易い、即ち欠陥検出とされ易い。

【００４６】図１１を用いて、ＰＲ４ＭＬ方式における
最尤復号法の概要と同方式における欠陥起因のエラーの
特徴を説明する。ＰＲ４ＭＬ方式では、最尤復号器の判
定基準振幅値を“１．０”とした場合、１ビットおきの
等化器出力波形の振幅値を調べ、振幅値差が“１．０”
以上となる正負のピークの組み合わせの内で振幅値差が
最大のものを検出した場合に先発のピークのあるビット
を“１”と判定する。

【００４７】記録磁化パターン（Ａ）１０１が記録され
ていた場合、雑音や欠陥がない場合には理想等化器出力
１０２の場合のように、雑音等のない理想条件では振幅
値差は“２．０”である。媒体欠陥部１０６で媒体磁化
が減少し、振幅が４０％程度低下した場合、等化器出力
（Ａ）１０３の様に、正負のピークの対のうち１つが振
幅低下する。この場合、正負のピークの振幅値差は
“１．４”程度あり、偶発的な雑音がない限りエラーし
ない、即ち、欠陥として検出しない。

【００４８】一方、記録磁化パターン（Ｂ）１０４の様
なパターンを同じ位置の記録した場合、等化器出力
（Ｂ）１０５の様になり、振幅値差は“０．８”とな
り、雑音がなくても確実にエラーする、即ち、欠陥とし
て検出する。最尤復号器の判定基準振幅値を標準値より
も大きくすることにより、より振幅低下の少ない欠陥で
も誤る確率が高くなり、検出が可能となる。換言する
と、欠陥登録試験時に欠陥部で誤りが発生しやすいよう
に、最尤復号器で判定の基準とする基準振幅値を欠陥登
録試験時にのみ通常使用時よりも大きくする。例えば、
欠陥登録試験時の基準振幅値を通常使用時の１１０％以
上１５０％以下とするのが好適である。

【００４９】図１２に、振幅７０％の欠陥のある位置で
誤る確率１５１と、欠陥のない位置で誤る確率１５２を
示す。本実施形態の場合、欠陥登録試験時の判定基準振
幅値を標準値の１２０％とすると、媒体欠陥部の振幅が
平均的な振幅の約７０％となる欠陥（以下７０％欠陥）
での誤り確率が約８０％となり、欠陥以外でのエラー確
率は１０％以下である。

【００５０】図８のように、２段階構成の試験を行う場
合、第１段階の再生において７０％欠陥で９９％以上誤
るためには、３回再生を行う必要がある。第２段階で
も、同様に３回以上再生を行えば７０％欠陥で９９％以
上誤るため、７０％欠陥で合計２回以上誤る確率は９９
％以上となる。欠陥以外で同一位置で誤る確率は非常に
低く、誤って欠陥以外の位置を登録する可能性は非常に
低い。振幅低下の更に大きい欠陥ではエラー確率が更に
高く、欠陥登録できる確率は高い。

【００５１】装置仕様の違いにより、欠陥でのエラー確
率に違いが現われるが、試験時の判定基準振幅値及び、
試験シーケンス中の各回数を最適化することにより対応
可能である。

【００５２】また、本実施形態では、再生アンプ１１８
はＡＧＣ（Ａｕｔｏｍａｔｉｃ Ｇａｉｎ Ｃｏｎｔｏ
ｒｏｌ）機能を有している。従って、媒体欠陥の大きさ
が非常に大きく、振幅変化が遅い場合、ＡＧＣの効果に
よりプリアンプ１１７出力で振幅が低下している場合で
も、再生アンプ１１８出力では、振幅低下が見られなく
なる。“１０”繰り返しパタ−ンでは、この様な条件で
は誤りが生じにくい。しかし、この様な欠陥では波形に
も変化が現れている可能性が高く、波形干渉の大きいパ
タ−ンでは、等化器出力で等化誤差が大きくなってい
る。

【００５３】そこで、本実施形態では、“１０”繰り返
しパタ−ンに加えて、磁化転移位置の有無を“１”およ
び“０”で表現した場合に“０”の連続が最大２であ
り、かつ、“１１”パタ−ンを含むパタ−ンを試験パタ
−ンとして用いる。具体的には、波形干渉の影響の大き
いパタ−ンとして、“１１１１０”繰り返しパタ−ンを
用いた。これにより、大きさが非常に大きく、振幅変化
が遅い欠陥の検出精度を向上させることが可能となる。

【００５４】また、以上のような第１及び第２の実施形
態に共通して次のような構成を採ることができる。

【００５５】再生ヘッドにはＭＲヘッドを用いること、
また、検出された欠陥情報を媒体上に記憶すること、更
に、登録された欠陥を含むセクタをデータ領域として使
用しないように構成すること。

【００５６】

【発明の効果】本発明を用いることにより、ピーク検出
方式及びＰＲ４ＭＬ方式を用いる磁気ディスク装置にお
いて、高精度な欠陥登録試験を行うことが可能となり、
信頼性の高い磁気ディスク装置を提供することが可能と
なる。

【図面の簡単な説明】

【図１】媒体欠陥部の再生波形例その１である。

【図２】媒体欠陥部の再生波形例その２である。

【図３】第１の実施形態で用いた試験時記録パターンの
表である。

【図４】第１の実施形態の全体構成の概略図である。

【図５】第１の実施形態の記録再生系（ピーク検出方
式）の構成を説明する図である。

【図６】第１の実施形態での媒体欠陥部における記録パ
ターンによるエラー確率の違いを説明する図である。

【図７】第１の実施形態での媒体欠陥の有無によるエラ
ー確率の違いの例を説明する図である。

【図８】本発明による２段階構成の試験シーケンスを説
明する図である。

【図９】本発明によるインデックススキューを説明する
図である。

【図１０】第２の実施形態の記録再生系（ＰＲ４ＭＬ方
式）の構成を説明する図である。

【図１１】第２の実施形態での媒体欠陥部でのパターン
によるエラー発生の違いを説明する図である。

【図１２】第２の実施形態での媒体欠陥の有無によるエ
ラー確率の違いの例を説明する図である。

【符号の説明】

１ ヘッド ２ 記録媒体 ３ スピンドル ４ 位置決め機構 ６ ハードディスクアッセンブリ（ＨＤＡ部） ７ パッケージボード（ＰＣＢ部） ８ ＨＤＤ １０，１１０ コントローラ １１ （１，７）エンコーダ １２，１１２ 記録制御部 １４，１１４ 記録ヘッド １５，１１５ 記録媒体 １６，１１６ ＭＲヘッド １９，１２１ 等化器 ２０ ピーク検出器 ２１ （１，７）デコーダ １１１ ８／９エンコーダ １２２ 最尤復号器 １２３ ８／９デコーダ

フロントページの続き (51)Int.Cl.⁶ 識別記号 ＦＩ Ｇ１１Ｂ 20/18 ５７２ Ｇ１１Ｂ 20/18 ５７２Ｆ 5/09 ３６１ 5/09 ３６１Ｚ 5/84 5/84 Ｃ (72)発明者 常田 勝啓 神奈川県小田原市国府津2880番地 株式会 社日立製作所ストレージシステム事業部内

Claims (4)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 磁気記録媒体の欠陥を検出しその欠陥位
   置を登録する媒体欠陥検出・登録装置において、 再生系にピーク検出信号処理方式を採用した際の記録デ
   ータのパターンは、前記媒体に記録される最小磁化反転
   間隔で磁化転移が３個連続し、磁気的干渉で出力振幅の
   最小となるＴｒｉ−ｂｉｔ部分を含み、前記Ｔｒｉ−ｂ
   ｉｔ部分の前後に媒体上隣接した磁化転移が少なくとも
   ２ビット以上離れたパターンであり、 磁気記録媒体の記録領域全体の欠陥検出のために、前記
   記録データパターンの位置を少なくとも１ビット以上づ
   つずらした同一のパターンを少なくとも１つ以上加え
   て、それぞれの記録データのパターンをそれぞれ再生
   し、 前記記録データのパターンの再生出力が、所定のスライ
   スレベル以下であるときに媒体欠陥であるとして検出し
   登録することを特徴とする媒体欠陥・登録装置。
2. 【請求項２】 磁気記録媒体の欠陥を検出しその欠陥位
   置を登録する媒体欠陥検出・登録方法において、 前記媒体に、ＩＤ部、データ部、ＥＣＣ部を含むトラッ
   クフォーマットを形成し、 最小磁化反転間隔で磁化転移が３個連続し、磁気的干渉
   で出力振幅の最小となるＴｒｉ−ｂｉｔ部分を含み、前
   記Ｔｒｉ−ｂｉｔ部分の前後に媒体上隣接した磁化転移
   が少なくとも２ビット以上離れたパターンを前記媒体の
   データ部に記録し、 前記パターンを再生してその再生出力のレベルが所定の
   スライスレベル以下であるか否かのエラーチェックを行
   い、 前記再生出力が前記所定スライスレベル以下であること
   を検出したときに、前記エラーチェックを複数回実施し
   て２回以上スライスレベル以下の結果が得られれば、前
   記媒体の当該位置に欠陥があると検出して登録し、 前記エラーチェックで前記再生出力が前記所定スライス
   レベル以下とならないときに、前記パターンの位置を少
   なくとも１ビット以上づつずらした同一のパターンを少
   なくとも１つ以上加えて、それぞれのパターンで前記エ
   ラーチェックをそれぞれ行い、 前記データ部以外のＩＤ部、ＥＣＣ部を含む部分に前記
   パターンを記録できるように、媒体のフォーマット位置
   をずらして前記トラックフォーマットを形成し、前記Ｔ
   ｒｉ−ｂｉｔ部分を含む前記パターンを前記ずらしたデ
   ータ部に記録して前記エラーチェックを行うことを特徴
   とする媒体欠陥・登録方法。
3. 【請求項３】 磁気記録媒体の欠陥を検出しその欠陥位
   置を登録する媒体欠陥検出・登録装置において、 再生系にピーク検出信号処理方式を採用した際の記録デ
   ータのパターンは、前記媒体に記録される最小磁化反転
   間隔で磁化転移が２個連続し、磁気的干渉で最大のピー
   クシフト量となるＤｉ−ｂｉｔ部分を含み、前記Ｄｉ−
   ｂｉｔ部分の前後において媒体上隣接した磁化転移が少
   なくとも２ビット以上離れたパターンであり、 磁気記録媒体の記録領域全体の欠陥検出のために、前記
   記録データパターンの位置を少なくとも１ビット以上づ
   つずらした同一のパターンを少なくとも１つ以上加え
   て、それぞれの記録データのパターンをそれぞれ再生
   し、 前記記録データのパターンの再生出力が、所定の弁別窓
   幅から外れているときに媒体欠陥であるとして検出し登
   録することを特徴とする媒体欠陥・登録装置。
4. 【請求項４】 磁気記録媒体の欠陥を検出しその欠陥位
   置を登録する媒体欠陥検出・登録装置において、 再生ヘッドによって再生された出力波形を等化器によっ
   てクラス４パーシャルレスポンス波形に波形等化し、前
   記等化器の出力波形を用いて最尤復号によって復号を行
   う信号処理方式を採用した際の記録パターンとして、磁
   化転移位置の有無を“１”及び“０”で表現した場合に
   “１０”の連続パターンを記録する、即ち、媒体上に１
   ビットおきに磁化転移を記録し、 前記記録パターンの等化器出力における正負のピークの
   振幅値差が、所定のレベル以下であるときに媒体欠陥で
   あるとして検出し登録することを特徴とする媒体欠陥・
   登録装置。