JPH10137710A - 洗浄処理装置および洗浄処理方法 - Google Patents

洗浄処理装置および洗浄処理方法

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JPH10137710A
JPH10137710A JP8304713A JP30471396A JPH10137710A JP H10137710 A JPH10137710 A JP H10137710A JP 8304713 A JP8304713 A JP 8304713A JP 30471396 A JP30471396 A JP 30471396A JP H10137710 A JPH10137710 A JP H10137710A
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cleaning
cleaned
brush
cleaning brush
semiconductor wafer
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Sadaaki Kurokawa
禎明 黒川
Naoaki Sakurai
直明 桜井
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Shibaura Mechatronics Corp
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Toshiba Corp
Shibaura Engineering Works Co Ltd
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 この発明は被洗浄物を洗浄ブラシで洗浄する
際、この洗浄ブラシから被洗浄物に異物が転移するのを
防止した洗浄処理装置を提供することにある。 【解決手段】 所定の状態で保持された半導体ウエハ2
2に洗浄液を供給するとともに、回転駆動される洗浄ブ
ラシ31aを接触させて洗浄する洗浄処理装置におい
て、上記半導体ウエハを所定の状態で保持するスピン処
理装置Aと、上記洗浄ブラシを旋回運動および上下運動
させるとともに上記スピン処理装置に保持された上記半
導体ウエハを洗浄するときにこの半導体ウエハに上記洗
浄ブラシを接触させる上下駆動シリンダ44および旋回
駆動部46と、上記半導体ウエハを洗浄した上記洗浄ブ
ラシを洗浄するための洗浄装置Bとを具備したことを特
徴とする。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】この発明は半導体ウエハや液
晶ガラス基板などの被洗浄物を洗浄ブラシを用いて洗浄
する洗浄処理装置および洗浄処理方法に関する。
【0002】
【従来の技術】半導体製造装置や液晶製造装置などにお
いては、被洗浄物としての半導体ウエハやガラス基板に
回路パタ−ンを形成するリソグラフィプロセスがある。
このリソグラフィプロセスは、周知のように上記半導体
ウエハにレジストを塗布し、このレジストに回路パタ−
ンが形成されたマスクを介して光を照射し、ついでレジ
ストの光が照射されない部分(あるいは光が照射された
部分)を除去し、除去された部分を現像、剥離あるいは
エッチングなどの処理するという一連の工程を数十回繰
り返すことで回路パタ−ンが形成される。
【0003】上記一連の各工程において、上記半導体ウ
エハが汚染されていると回路パタ−ンを精密に形成する
ことができなくなり、不良品の発生原因となる。したが
って、それぞれの工程で回路パタ−ンを形成する際に
は、レジストや塵埃などの微粒子が残留しない清浄な状
態に上記半導体ウエハを洗浄するということが行われて
いる。
【0004】上記被洗浄物を洗浄する装置としては、複
数枚の半導体ウエハを洗浄液が収容された洗浄タンク内
に漬けて洗浄するバッチ式と、1枚の被洗浄物を回転さ
せ、その被洗浄物に対して洗浄液を噴射させて洗浄する
枚葉式とがあり、被洗浄物の大型化にともない洗浄効果
の高い枚葉式が用いられる傾向にある。
【0005】枚葉式の洗浄処理装置には被洗浄物を回転
させながら洗浄するスピン洗浄方式があり、このスピン
洗浄方式において、洗浄効果をより一層高めるために
は、回転駆動される被洗浄物の上面に洗浄ブラシを接触
させ、その接触部分に洗浄液を供給して洗浄するという
ことが行われている。
【0006】被洗浄物に洗浄ブラシを接触させること
で、この被洗浄物に付着した微粒子や金属イオンなどの
異物を効率よく洗浄除去することができる。しかしなが
ら、被洗浄物から除去された異物は上記洗浄ブラシに転
移し、その転移量は累積的に増加することになるから、
上記被洗浄物の洗浄時に洗浄ブラシに転移した異物が上
記被洗浄物に逆転移し、被洗浄物の清浄度が低下すると
いうことがあった。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】このように、被洗浄物
の洗浄効果を向上させるために、被洗浄物に洗浄ブラシ
を接触させて洗浄するようにすると、洗浄ブラシに転移
した異物が増加することで、その異物が被洗浄物に逆転
移するということがあった。
【0008】この発明の目的とするところは、被洗浄物
を洗浄ブラシで洗浄する場合に、この洗浄ブラシによっ
て被洗浄物から除去された異物が被洗浄物に逆転移する
ことがないようにした洗浄処理装置および洗浄処理方法
を提供することにある。
【0009】
【課題を解決するための手段】請求項1の発明は、所定
の状態で保持された被洗浄物に洗浄液を供給するととも
に、回転駆動される洗浄ブラシを接触させて洗浄する洗
浄処理装置において、上記被洗浄物を所定の状態で保持
する保持手段と、上記洗浄ブラシを旋回運動および上下
運動させるとともに上記保持手段に保持された上記被洗
浄物を洗浄するときにこの被洗浄物に上記洗浄ブラシを
接触させる駆動手段と、上記被洗浄物を洗浄した上記洗
浄ブラシを洗浄するための洗浄手段とを具備したことを
特徴とする。
【0010】請求項2の発明は、請求項1の発明におい
て、上記洗浄手段は、上記保持手段の近傍で、上記駆動
手段によって旋回させられる上記洗浄ブラシの旋回運動
の領域内に設けられていることを特徴とする。
【0011】請求項3の発明は、請求項1または請求項
2の発明において、上記洗浄手段は、洗浄液が供給され
る洗浄槽と、この洗浄槽内の洗浄液に超音波振動を付与
する超音波振動子とからなることを特徴とする。
【0012】請求項4の発明は、請求項1乃至請求項3
のいずれかに記載の発明において、上記洗浄手段は、洗
浄液が供給される洗浄槽と、この洗浄槽内設けられ上記
洗浄ブラシを接触させるための接触部材とからなること
を特徴とする。
【0013】請求項5の発明は、請求項4の発明におい
て、上記接触部材は多数の通孔を有する多孔部材からな
ることを特徴とする。請求項6の発明は、所定の状態で
保持された被洗浄物に洗浄液を供給するとともに、回転
駆動される洗浄ブラシを接触させて洗浄する洗浄方法に
おいて、上記被洗浄物を所定の状態で保持する保持工程
と、この保持工程で保持された上記被洗浄物を洗浄ブラ
シで洗浄するワ−ク洗浄工程と、このワ−ク洗浄工程で
上記被洗浄物が洗浄されたならば上記洗浄ブラシを退避
させる退避工程と、この退避工程のあとで洗浄された被
洗浄物を搬出し未洗浄の被洗浄物を供給するときに上記
洗浄ブラシを洗浄するブラシ洗浄工程とを具備したこと
を特徴とする。
【0014】請求項1の発明によれば、被洗浄物を洗浄
した洗浄ブラシを洗浄するための洗浄手段を設けたこと
で、この洗浄手段で被洗浄物を洗浄した洗浄ブラシを洗
浄することができる。そのため、清浄な洗浄ブラシで被
洗浄物を洗浄できるから、洗浄ブラシから被洗浄物に異
物が逆転移するのが防止される。
【0015】請求項2の発明によれば、洗浄ブラシを洗
浄する洗浄手段を、洗浄ブラシの旋回運動の領域内に設
けたことにより、被洗浄物を洗浄しないときに、上記洗
浄ブラシを旋回させて洗浄することができる。
【0016】請求項3の発明によれば、超音波振動が付
与された洗浄液で洗浄ブラシを洗浄するようにしたこと
で、洗浄ブラシの洗浄効果を高めることができる。請求
項4の発明によれば、洗浄ブラシを洗浄する洗浄槽内
に、この洗浄ブラシを接触させるための接触部材を設け
たことで、洗浄ブラシに付着した異物を効率よく除去す
ることができる。
【0017】請求項5の発明によれば、接触部材が多数
の通孔を有する多孔部材からなることで、洗浄槽内の洗
浄液に超音波振動を付与するときに、その超音波振動が
上記通孔を通過して接触部材に接触した洗浄ブラシに確
実に作用する。
【0018】請求項6の発明によれば、洗浄ブラシによ
り被洗浄物を洗浄したならば、この洗浄ブラシを退避さ
せて洗浄された被洗浄物を搬出して未洗浄の被洗浄物を
供給する間に、上記洗浄ブラシを洗浄するようにしたこ
とで、被洗浄物を洗浄処理するために要するタクトタイ
ムを長くせずに洗浄ブラシを洗浄することができる。
【0019】
【発明の実施形態】以下、この発明の一実施形態を図面
を参照して説明する。図2はこの発明の洗浄処理装置の
保持手段としてのスピン処理装置Aを示す。このスピン
処理装置Aはスピンカップ1を備えている。このスピン
カップ1は上面が開放した有底状の下カップ1aと、こ
の下カップ1aに対してスライド自在に設けられ周壁の
上端部が径方向内方に向かって傾斜した上カップ1bと
からなり、この上カップ1bは図示しない駆動機構によ
って図に鎖線で示すように下降させることができるよう
になっている。
【0020】上記下カップ1aの底部には、周辺部に複
数の排出管2の一端が接続され、中心部には周囲がフラ
ンジ3によって囲まれた挿通孔4が形成されている。こ
の挿通孔4には支持軸5が挿通されている。この支持軸
5の上部は、スピンカップ1の内部に突出し、下端部
は、上記スピンカップ1の下方に配置されたベ−ス板6
に固定されている。上記排気管2は図示しない気水分離
器を介して吸引ポンプに接続されている。上記排気管2
に洗浄液、ミスト、気体が吸引されると、上記気水分離
器によって水分と気体とが分離され、水分は図示しない
廃液タンクへ排出されるようになっている。
【0021】上記支持軸5には回転チャック11が回転
自在に設けられている。この回転チャック11は、中心
部に通孔12aが穿設された円盤状のベ−ス12を有す
る。このベ−ス12の下面、つまり上記通孔12aと対
応する位置には筒状の支持部13が垂設されている。こ
の支持部13は上記支持軸5に外嵌されていて、上部と
下部とがそれぞれ軸受14によって上記支持軸5に回転
自在に支持されている。
【0022】上記支持部13の下端部の外周面には従動
プ−リ15が設けられている。上記ベ−ス板6にはモ−
タ16が設けられ、このモ−タ16の回転軸16aには
駆動プ−リ17が嵌着されている。この駆動プ−リ17
と上記従動プ−リ15とにはベルト18が張設されてい
る。したがって、上記モ−タ16が作動すれば、上記支
持部13と一体に上記回転チャック11が回転駆動され
るようになっている。
【0023】上記ベ−ス12の上面には周方向に90度
間隔で4本の支柱19が立設されている。各支柱19の
上端部には支持ピン21aと、この支持ピン21aより
も外方で、しかも支持ピン21aよりも背の高い係合ピ
ン21bとが突設されている。
【0024】上記支柱19の上端には、被処理物として
たとえば半導体ウエハ22が周辺部の下面を支持ピン2
1aに支持され、外周面を上記係合ピン21bに係合さ
せて着脱可能に保持される。したがって、上記半導体ウ
エハ22は回転チャック11と一体的に回転駆動される
ようなっている。
【0025】上記支持軸5には、上端に支持軸5よりも
大径で、円錐状をなした頭部5aが設けられている。こ
の支持軸5には、先端を上記頭部5aの上面に開口させ
たN2 などの不活性ガスのガス供給路30と、先端を同
じく上記頭部5aの上面にノズル孔32aを介して開口
させた洗浄液供給路30aとが軸方向に沿って形成され
ている。上記ガス供給路30は図示しないガス供給源に
連通し、上記洗浄液供給路は同じく図示しない洗浄液の
供給源に連通している。
【0026】上記ガス供給路30に供給された不活性ガ
スと、上記洗浄液供給路30aに供給された洗浄液は、
それぞれ上記半導体ウエハ22の下面に向かって噴射さ
れるようになっている。
【0027】上記回転チャック11に保持される半導体
ウエハ22の上面側には、この半導体ウエハ22の上面
を洗浄するため洗浄ツ−ル31が配置されている。この
洗浄ツ−ル31は、洗浄ブラシ31aと、チャック31
bと、回転モ−タ31cと、このモ−タの回転軸31d
とから構成されている。上記洗浄ブラシ31aは旋回機
構32によって上記半導体ウエハ22の径方向に沿って
旋回駆動されるようになっている。
【0028】つまり、旋回機構32は中空筒状の水平ア
−ム33を有する。この水平ア−ム33の先端部内には
洗浄ツ−ル31の回転モ−タ31cがその回転軸31d
を垂直にして内蔵されている。この回転軸31dは上記
水平ア−ム33の下面から突出し、そこには上記洗浄ブ
ラシ31aがチャック31bを介して着脱自在に取り付
けられている。
【0029】上記水平ア−ム33には図示しない洗浄液
の供給源に接続された第1の供給管35が挿通されてい
る。この第1の供給管35の先端部は上記水平ア−ム3
3の先端部から下方に向かって導出され、その先端開口
は上記洗浄ブラシ31aの外周面に向けられている。し
たがって、上記第1の供給管35からは洗浄液が洗浄ブ
ラシ31aの径方向外方から供給されるようになってい
る。
【0030】上記水平ア−ム33の基端部は軸線を垂直
にした旋回軸36の上端に連結されている。この旋回軸
36の下端部は上記ベ−ス板6に形成された通孔6aか
らその下方へ突出している。
【0031】上記旋回軸36の下端部は、上下動自在に
設けられた支持体37に回転自在に支持されている。こ
の支持体37は中空箱型状をなしていて、その上部壁に
は上記旋回軸36を挿通するための挿通孔38が形成さ
れ、内部には上記挿通孔38から挿入された旋回軸36
の下端部を回転自在に支持するために軸受39が設けら
れている。旋回軸36の下端は上記軸受39から突出
し、そこには従動プ−リ40が嵌着されている。
【0032】上記支持体37の一側面には一対のガイド
41が上下方向に沿って所定間隔で設けられ、このガイ
ド41はレ−ル43にスライド自在に係合している。こ
のレ−ル43は上記ベ−ス板6の下面に垂設された取付
板42の一側面に上下方向に沿って設けられている。
【0033】上記取付板42には上下駆動源としての上
下駆動シリンダ44が設けられている。この上下駆動シ
リンダ44のロッド44aは上記支持体37に下端面に
ブラケット45を介して連結されている。したがって、
上下駆動シリンダ44が作動すれば、上記支持体37を
介して上記水平ア−ム33が所定の範囲内で上下駆動さ
れるようになっている。
【0034】つまり、水平ア−ム33が下降すると、上
記洗浄ブラシ31aが上記回転チャック11に保持され
た半導体ウエハ22の上面に所定の圧力で接触し、上昇
すると、上カップ1bの上方に位置して洗浄装置Bへ旋
回可能となる。
【0035】上記支持体37の他側には上記上下駆動シ
リンダ44とで駆動手段を構成する揺動駆動部46が設
けられている。この揺動駆動部46は上記支持体37の
他側面に取付けられた収納ボックス47を有する。この
収納ボックス47の下面にはモ−タ48が設けられてい
る。このモ−タ48の回転軸48aは上記収納ボックス
47内に突出し、この内部に設けられた減速部49に連
結されている。この減速部49の出力軸51には駆動プ
−リ52が嵌着されている。
【0036】上記支持体37と上記収納ボックス47と
の内部空間は開口部53によって連通している。上記開
口部53には、上記駆動プ−リ52と従動プ−リ40と
に張設されたタイミングベルト50が挿通されている。
【0037】したがって、上記モ−タ48が作動して上
記減速部49の出力軸51が正逆方向に駆動されると、
その回転がタイミングベルト53を介して旋回軸36に
伝達されるから、この旋回軸36とともに水平ア−ム3
3の先端部に設けられた洗浄ブラサイ31aが半導体ウ
エハ22の表面を揺動するようになっている。
【0038】上記旋回軸36の旋回角度は装置全体の運
転を制御する制御装置54によって設定されるようにな
っている。図1に示すように上記スピン処理装置Aの近
傍で、上記水平ア−ム33の揺動運動によって水平面上
を旋回する上記洗浄ブラシ31aの旋回運動の領域内に
は、この洗浄ブラシ31aを洗浄するための洗浄装置B
が設けられている。
【0039】上記洗浄装置Bは図3に示すように上面が
開口した有底筒状の洗浄槽61を有する。この洗浄槽6
1の底部には開口部62が形成され、この開口部62
は、振動板63によって液密に閉塞されている。この振
動板63の下面には超音波振動子64が接着固定されて
いる。この超音波振動子64は超音波発振器65に接続
されている。したがって、上記超音波発振器65を作動
させることによって超音波振動子64が超音波振動する
ようになっている。
【0040】上記洗浄槽61の内部の高さ方向中途部の
内周面にはブラケット66が設けられている。このブラ
ケット66には、たとえば金網やパンチングメタルある
は多数の通孔67aが形成された合成樹脂板などの接触
部材としての多孔部材67が支持されている。
【0041】さらに、この洗浄槽61には、第2の供給
管68によって洗浄液が供給される。この洗浄液は洗浄
槽61の上面開口からオ−バフロ−する。オ−バフロ−
した洗浄液はドレンパン69で受けられ、このドレンパ
ン69に接続された排液管70を通って排出される。
【0042】上記多孔部材67には、図中鎖線で示すよ
うに洗浄ブラシ31aを回転させながら、または回転を
停止した状態で揺動させながら接触させて洗浄する。そ
のとき、上記洗浄槽61内の洗浄液を伝播する超音波振
動が上記多孔部材67の通孔67aを通過して上記洗浄
ブラシ31aに作用するから、上記洗浄ブラシ31aを
効率よく超音波洗浄することができるようになってい
る。
【0043】つぎに、上記構成の洗浄処理装置によって
半導体ウエハ22を洗浄処理するときの工程を説明す
る。スピン処理装置Aの回転チャック11に半導体ウエ
ハ22が供給保持されると、揺動駆動部46のモ−タ4
8が作動して水平ア−ム33が上記スピン処理装置Aの
上方に旋回位置決めされる。
【0044】ついで、水平ア−ム33の先端部に設けら
れた洗浄ブラシ31aを回転させるとともに供給管35
から洗浄液を噴射させながら上下駆動シリンダ44を作
動させて水平ア−ム33を所定距離だけ下降させる。
【0045】それによって、上記洗浄ブラシ31aが回
転チャック11に保持された半導体ウエハ22の上面に
所定圧で接触するとともにその接触部分に洗浄液が噴射
される。その状態で上記水平ア−ム33は上記半導体ウ
エハ22の径方向に沿って往復旋回、すなわち揺動さ
せ、回転チャック1を低速で回転させることで、上記半
導体ウエハ22は上面全体がブラシ洗浄されることにな
る。
【0046】このとき、支持軸5に形成された洗浄液供
給路30aから半導体ウエハ22の下面に向けて洗浄液
を噴射すれば、その下面も同時に洗浄することができ
る。上記半導体ウエハ22の洗浄が終了すると、水平ア
−ム33は上昇し、洗浄装置Bの上方へ旋回する。つい
で、水平ア−ム33は下降し、その先端部に設けられた
洗浄ブラシ31aは回転しながら、または回転が停止し
た状態で揺動させながら洗浄槽61内に支持された多孔
部材67に接触させる。
【0047】それによって、洗浄ブラシ31aは上記多
孔部材67に擦られるから、付着した異物が効率よく除
去される。それと同時に、超音波発振器65を作動させ
ることによって超音波振動子64が超音波振動し、洗浄
槽61内の洗浄液に超音波振動を付与する。この超音波
振動が上記多孔部材67の通孔67aを通って上記洗浄
ブラシ31aに作用するから、そのことによっても上記
洗浄ブラシ31aの洗浄効果が高められる。
【0048】なお、洗浄ブラシ31aの洗浄時に、水平
ア−ム33を上記洗浄槽61の内径寸法の範囲内で往復
旋回させれば、上記洗浄ブラシ31aの洗浄をより一層
効率よく行うことができる。
【0049】洗浄ブラシ31aが洗浄装置Bによって洗
浄されている間に、上記スピン処理装置Aではスピンカ
ップ1の上カップ1aが下降駆動され、回転チャック1
1に保持された半導体ウエハ22が外部に露出する。つ
いで、図示しないたとえばロボットによって洗浄された
半導体ウエハ22が上記回転チャック11から排出さ
れ、そこに未洗浄の半導体ウエハ22が供給されたの
ち、上記上カップ1aが上昇駆動される。
【0050】つまり、上記スピン処理装置Aから洗浄さ
れた半導体ウエハ22を搬出し、未洗浄の半導体ウエハ
22を供給する間に、上記洗浄ブラシ31aの洗浄が終
了する。したがって、回転チャック11へ未洗浄の半導
体ウエハ22を供給し終えたならば、上記水平ア−ム3
3を上昇させて旋回し、洗浄ブラシ31aをスピン処理
装置Aの回転チャック11の上方に位置させた後、下降
させることで、清浄な洗浄ブラシ31aで上記回転チャ
ック11に保持された半導体ウエハ22を洗浄すること
ができるから、上記洗浄ブラシ31aによる洗浄時に、
そのブラシ31から半導体ウエハ22へ異物が転移する
のを防止できる。
【0051】しかも、洗浄ブラシ31aの洗浄は、回転
チャック11に対して半導体ウエハ22を着脱する間に
行うようにしているから、半導体ウエハ22を洗浄する
ために要するタクトタイムが長くなるようなことがな
い。つまり、洗浄ブラシ31aを洗浄するようにして
も、処理能率の低下を招くことがない。
【0052】図4(a)〜(c)は洗浄槽61内に保持
される接触部材の変形例を示す。同図(a)は洗浄ブラ
シ31aと接触する面が平面に形成された樹脂製の平板
71であり、同図(b)は洗浄ブラシ31aと接触する
面に複数の凸条72aが所定間隔で所定方向に沿って形
成された凸条板72である。同図(c)は洗浄ブラシ3
1aと接触する板面に複数の突起73aが突設された樹
脂成型品等を取着した突起板73である。
【0053】図4(a)〜(c)に示された接触部材に
おいて、上記一実施形態と同様に通孔を穿設しておけ
ば、各接触板の下面側からの超音波振動を上面側、つま
り洗浄ブラシ31aに作用させることができる。
【0054】なお、上記一実施形態では洗浄装置の洗浄
槽内に洗浄ブラシを接触させるための接触部材を設けた
が、接触部材を設けなくとも、洗浄液に超音波振動を付
与するだけで、所定の洗浄効果を得ることができる。
【0055】また、洗浄ブラシとしてはブラシ毛からな
るものだけに限られず、被洗浄物の上を揺動して異物を
除去できるような構成のものであればよく、たとえばス
ポンジブラシやその他の材料を用いたものであってもよ
い。
【0056】さらに、水平ア−ムを上下駆動する駆動手
段としてはシリンダに代わりねじ軸を用いるようにして
もよく、ねじ軸を用いれば、上記水平ア−ムの高さ方向
の位置決めを精度よく設定することができる。
【0057】
【発明の効果】請求項1の発明によれば、被洗浄物を洗
浄した洗浄ブラシを洗浄するための洗浄手段を設けたこ
とで、この洗浄手段で被洗浄物を洗浄した洗浄ブラシを
洗浄することができる。そのため、清浄な洗浄ブラシで
被洗浄物を洗浄できるから、洗浄ブラシから被洗浄物に
異物が逆転移するのが防止される。
【0058】請求項2の発明によれば、洗浄ブラシを洗
浄する洗浄手段を、洗浄ブラシの旋回運動の領域内に設
けたことにより、被洗浄物を洗浄しないときに、上記洗
浄ブラシを旋回させて洗浄することができる。
【0059】請求項3の発明によれば、超音波振動が付
与された洗浄液で洗浄ブラシを洗浄するようにしたこと
で、洗浄ブラシの洗浄効果を高めることができる。請求
項4の発明によれば、洗浄ブラシを洗浄する洗浄槽内
に、この洗浄ブラシを接触させるための接触部材を設け
たことで、洗浄ブラシに付着した異物を効率よく除去す
ることができる。
【0060】請求項5の発明によれば、接触部材が多数
の通孔を有する多孔部材からなることで、洗浄槽内の洗
浄液に超音波振動を付与するときに、その超音波振動が
上記通孔を通過して接触部材に接触した洗浄ブラシに確
実に作用する。
【0061】請求項6の発明によれば、洗浄ブラシによ
り被洗浄物を洗浄したならば、この洗浄ブラシを退避さ
せて洗浄された被洗浄物を搬出して未洗浄の被洗浄物を
供給する間に、上記洗浄ブラシを洗浄するようにしたこ
とで、被洗浄物を洗浄処理するために要するタクトタイ
ムを長くせずに洗浄ブラシを洗浄することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】この発明の一実施形態の全体構成を示す平面
図。
【図2】同じくスピン処理装置の概略的構成を一部断面
して示す側面図。
【図3】同じく洗浄装置の断面図。
【図4】(a)〜(c)はそれぞれ接触部材の変形例を
示す断面図。
【符号の説明】
A…スピン処理装置(保持手段) B…洗浄装置(洗浄手段) 31a…洗浄ブラシ 44…上下駆動シリンダ(駆動手段) 46…旋回駆動部(駆動手段) 61…洗浄槽 64…超音波振動子 67…多孔部材(接触部材) 67a…通孔

Claims (6)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 所定の状態で保持された被洗浄物に洗浄
    液を供給するとともに、回転駆動される洗浄ブラシを接
    触させて洗浄する洗浄処理装置において、 上記被洗浄物を所定の状態で保持する保持手段と、 上記洗浄ブラシを旋回運動および上下運動させるととも
    に上記保持手段に保持された上記被洗浄物を洗浄すると
    きにこの被洗浄物に上記洗浄ブラシを接触させる駆動手
    段と、 上記被洗浄物を洗浄した上記洗浄ブラシを洗浄するため
    の洗浄手段とを具備したことを特徴とする洗浄処理装
    置。
  2. 【請求項2】 上記洗浄手段は、上記保持手段の近傍
    で、上記駆動手段によって旋回させられる上記洗浄ブラ
    シの旋回運動の領域内に設けられていることを特徴とす
    る請求項1記載の洗浄処理装置。
  3. 【請求項3】 上記洗浄手段は、洗浄液が供給される洗
    浄槽と、この洗浄槽内の洗浄液に超音波振動を付与する
    超音波振動子とからなることを特徴とする請求項1また
    は請求項2記載の洗浄処理装置。
  4. 【請求項4】 上記洗浄手段は、洗浄液が供給される洗
    浄槽と、この洗浄槽内設けられ上記洗浄ブラシを接触さ
    せるための接触部材とからなることを特徴とする請求項
    1乃至請求項3のいずれかに記載の洗浄処理装置。
  5. 【請求項5】 上記接触部材は多数の通孔を有する多孔
    部材からなることを特徴とする請求項4記載の洗浄処理
    装置。
  6. 【請求項6】 所定の状態で保持された被洗浄物に洗浄
    液を供給するとともに、回転駆動される洗浄ブラシを接
    触させて洗浄する洗浄方法において、 上記被洗浄物を所定の状態で保持する保持工程と、 この保持工程で保持された上記被洗浄物を洗浄ブラシで
    洗浄するワ−ク洗浄工程と、 このワ−ク洗浄工程で上記被洗浄物が洗浄されたならば
    上記洗浄ブラシを退避させる退避工程と、 この退避工程のあとで洗浄された被洗浄物を搬出し未洗
    浄の被洗浄物を供給する間に上記洗浄ブラシを洗浄する
    ブラシ洗浄工程とを具備したことを特徴とする洗浄処理
    方法。
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