JPH10142297A - 集積回路におけるスキャンテスト回路およびスキャンテスト方法 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】 集積回路をテストする際に、外部端子を増加
させることなく有効にスキャンテストする。 【解決手段】 スキャンチェーン化されたフリップフロ
ップ30,32,34にテストパターンを供給するスキャン入力
線70は、入力端子40に共有接続される。そのシフトスキ
ャンした結果を出力するスキャン出力線76は、オン・オ
フ自在なバッファ90を介して入力端子44に共有接続され
る。テストする際には、入力端子40からテストパターン
を供給してフリップフロップ30,32,34にラッチさせる。
次に、入力端子40,42,44から組合せ回路10にテストパタ
ーンを供給し、その結果がフリップロップ30,32,34にラ
ッチされる。その際に、前回ラッチしたテストパターン
が組合せ回路20に供給され、その結果が出力端子62,64,
66から出力される。次にバッファ90をオンとして入力端
子40から再びテストパターンを供給すると、ラッチした
結果のデータがスキャン出力線76を介して入力端子44か
ら出力される。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、集積回路の各部の
機能を検証する際の集積回路におけるスキャンテスト回
路およびスキャンテスト方法に係り、特に、たとえば、
特定用途向けIC (Integrated circuit) およびLSI (Lar
ge-scale integrated circuit)に適用される集積回路に
おけるシフトスキャン回路およびシフトスキャン方法に
関するものである。

【０００２】

【従来の技術】近年、半導体技術の進歩にともない、集
積回路の高密度、高集積化が図られ、たとえば携帯電
話、携帯情報機器などの小型、かつ高性能な電子機器が
開発されるようになってきた。たとえば、特定用途向け
IC、いわゆるASIC (application-specific integrated
circuit)などを含むLSI では、近年、毎年５万ゲートの
割合で集積化が進み、数十万ゲートから百万ゲートの集
積が可能となっており、その検証方法も工夫が必要にな
ってきた。

【０００３】従来、このような集積回路は、論理ゲート
などの組合せ回路にて形成される所定の機能のモジュー
ル毎に、それらの出力をラッチして次段のモジュールに
その出力をそれぞれ供給するフリップフロップなどの順
序回路を含む回路構成にて表わされる。

【０００４】このような集積回路をテストする際には、
回路中のフリップフロップを外部から書き込みおよび読
み出し自在に接続したスキャンフリップフロップとして
形成し、これらにATPG (automatic test pattern gener
ator) などにて生成した所定のテストパターンを供給し
て、その結果を論理LSI テスタにて検証して、各部の機
能をテストするスキャン法が知られている。

【０００５】たとえば、集積回路に、入力側モジュール
と、出力側モジュールと、その間に接続された複数のフ
リップフロップとを含む場合、それぞれフリップフロッ
プの出力側モジュールに接続された接続線を分岐して、
これを順次隣接するフリップフロップに接続する。チェ
ーン接続した最初のフリップフロップには、外部からの
テストパターンが供給されるスキャン入力線を接続し、
最後のフリップフロップには、そのシフト出力を外部に
供給するスキャン出力線に接続する。

【０００６】これにより、複数のフリップフロップがシ
フトレジスタ状にスキャンチェーン化される。この場
合、集積回路には、入力側モジュールに接続された複数
の入力端子と、出力側モジュールに接続された複数の出
力端子と、スキャン入力線が接続されたスキャン入力端
子と、スキャン出力線が接続されたスキャン出力端子
と、フリップフロップにシステムクロックを供給するク
ロック端子と、フリップフロップのデータ入力とスキャ
ン入力とを順次切り替えるスキャンセレクト端子が設け
られる。

【０００７】このような構成にて、まず、スキャン入力
端子から出力側モジュールをテストするためのテストパ
ターンを順次フリップフロップに供給して、保持させ
る。次に、それぞれの入力端子から入力側モジュールを
テストするためのテストパターンを順次、供給する。こ
れにより、入力側モジュールを通ったテストパターンは
それぞれモジュールの各部位にて所定の論理演算が行な
われ、その結果がフリップフロップの入力に供給されて
保持される。

【０００８】この際に、あらかじめ保持されたパターン
が出力側モジュールへ供給される。その結果の出力側モ
ジュールを通った論理データは、出力端子からそれぞれ
外部へ出力される。その結果、出力端子からの出力デー
タに基づいて、出力側モジュールの機能が正常であるか
否かが検証される。この場合、テストパターンは、ま
ず、ランダムに形成されて供給し、その結果に基づいて
故障箇所を想定してパターンが順次形成される。これに
より、全箇所を検証する際には複数回のテストが必要と
なる。

【０００９】したがって、次に、再びスキャン入力端子
から出力側モジュールへのテストパターンをそれぞれの
フリップフロップに供給する。この際に、入力側モジュ
ールからの論理結果をそれぞれのフリップフロップにて
シフトして、その結果をスキャン出力端子から外部に出
力する。

【００１０】これにより、入力側モジュールの機能が正
常であるか否かがスキャンデータに基づいて検証され
る。この場合も出力側と同様に、１回のテストでは全箇
所の検証を行なうことができないので、再び、入力端子
から入力側モジュールをテストするためのテストパター
ンを供給する。

【００１１】以下、出力端子からのデータの出力を受け
て、再び、フリップフロップへのテストパターンの供給
およびテスト値のスキャン出力を行ない、さらに入力端
子へのテストパターンの供給を繰り返して、出力端子か
らの出力データおよびスキャン出力端子からの出力結果
に基づいてそれぞれのモジュールの全箇所のテストを実
施する。

【００１２】実際の集積回路では、論理ゲート数が多く
なり、そのモジュール数ならびにフリップフロップ数も
多くなって、上記のように１スキャンチェーンではな
く、複数のスキャンチェーンを行なって、各スキャンチ
ェーンにて上記と同様にスキャンテストが実行される。

【００１３】

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上述し
た従来の技術では、１スキャンチェーン毎にスキャン入
力端子およびスキャン出力端子ならびにスキャンセレク
ト端子などの通常使用されない外部端子を設けなければ
ならないので、実設計を考慮した場合、回路規模によっ
てはLSI パッケージの端子数では納まらなくなってしま
うという問題が生じる場合があった。

【００１４】このため、たとえばスキャン出力と通常の
出力とを既存の出力端子に選択的に出力するデータセレ
クタを追加して、端子数の増加を少しでも抑えることが
考えられる。しかしながら、この場合、データセレクタ
の追加によって、出力の一つに遅延が付加されて、特
に、クロック周波数の高い回路では他の出力端子からの
出力とタイミングがずれてしまい、その出力からの検証
が困難になる場合があった。また、スキャンチェーン数
の増加とともに、データセレクタの数が増加して回路規
模が大きくなる場合があった。

【００１５】また、上述した論理LSI テスタには、テス
トパターン長の制限がある。たとえば、複数の機能ブロ
ックにわたってスキャンチェーン化する場合、１スキャ
ンチェーンの段数が増加すると、そのテストパターン長
はフリップフロップの段数に比例して増加してしまう。
たとえば、ATPGのベクタ長が1Kで、１スキャンチェーン
のフリップフロップ数が500 であれば、テストパターン
長は1Kx500で500Kパターンとなる。これを厳守するた
め、上記のようにスキャンチェーンを分割し、１スキャ
ンチェーンのフリップフロップ数を減少させなければな
らない。しかし、上述したようにスキャンチェーンを分
割すると、スキャン入力端子、スキャン出力端子が増加
して、回路規模によっては、LSI パッケージの端子数で
は、納まらなくなるという問題が生じる。

【００１６】本発明はこのような従来技術の欠点を解消
し、スキャンテスト時の端子数およ回路規模などを増加
させることなく、かつ出力に遅延が生じることなく有効
にスキャンテストを行なうことができる集積回路におけ
るスキャンテスト回路およびスキャンテスト方法を提供
することを目的とする。

【００１７】また、本発明の第２の目的は、テストパタ
ーンのパターン長を削減可能な集積回路におけるスキャ
ンテスト回路およびスキャンテスト方法を提供すること
にある。

【００１８】

【課題を解決するための手段】本発明は上述の課題を解
決するために、集積回路中のフリップフロップを外部か
ら書き込みおよび読み出し自在に接続して、それらのフ
リップフロップの値を順次走査して集積回路の各部の機
能をテストする集積回路におけるスキャンテスト回路で
あって、それぞれのフリップフロップは、保持した値を
他のフリップフロップにシフト可能に順次チェーン接続
され、チェーン接続された最初のフリップフロップに、
所定のテストパターンを外部から供給するためのスキャ
ン入力線が接続され、かつチェーン接続された最後のフ
リップフロップに、シフトした値を順次出力するスキャ
ン出力線が接続されて、そのスキャン入力線が集積回路
の入力端子のうちの少なくとも一つに共有接続され、か
つスキャン出力線がスキャン入力線が接続された入力端
子以外の入力端子のうちの一つに共有接続されて、その
スキャン出力線に共有接続された入力端子が入力と出力
とを随時切り替え可能な双方向端子として形成されてい
ることを特徴とする。

【００１９】この場合、フリップフロップは、それぞれ
集積回路の所定の部位からの出力データが供給されるデ
ータ入力と、外部からのテストパターンまたはシフトし
た値が順次供給されるスキャン入力と、データ入力とス
キャン入力とを切り替えるセレクト信号が供給されるセ
レクト入力と、保持した値を集積回路の次の部位に出力
するデータ出力とを有し、それぞれのフリップフロップ
のデータ出力が他のフリップフロップのスキャン入力に
順次接続されてスキャンチェーン化されているとよい。

【００２０】また、双方向の入力端子は、フリップフロ
ップのセレクト入力に接続されたセレクト端子からのセ
レクト信号に応動して入出力方向を切り替える切替手段
が設けられているとよい。

【００２１】この場合、切替手段は、制御端子がセレク
ト端子に接続されて、スキャン入力時にセレクト信号に
応動してスキャン出力線をオンとするスリーステートバ
ッファを含むと有利である。

【００２２】一方、本発明によるテストスキャン方法
は、集積回路の各部に所定の値のテストパターンを順次
供給し、その結果、回路中のフリップフロップにそれぞ
れ保持した値を外部から走査して集積回路の各部の機能
をテストする集積回路におけるスキャンテスト方法であ
って、あらかじめフリップフロップをそれぞれの値をシ
フト自在に順次チェーン接続し、集積回路の複数の入力
端子のうちの一つの入力端子にチェーン接続した最初の
フリップフロップからのスキャン入力線を共有接続し、
かつスキャン入力線が接続された入力端子以外の入力端
子のうちの一つを双方向端子として、この双方向端子に
チェーン接続した最後のフリップフロップからのスキャ
ン出力線を共有接続しておくテスト回路形成工程と、こ
の状態にてスキャン入力線に接続した第１の入力端子か
ら所定のテストパターンをフリップフロップに供給し
て、そのテストパターンをそれぞれのフリップフロップ
にシフトして保持させるパターン保持工程と、スキャン
出力線に接続された双方向の第２の入力端子を入力方向
に切り替え、この第２の入力端子および第１の入力端子
を含む集積回路のすべての入力端子から集積回路の入力
側部位へのテストパターンを供給し、これに応動してパ
ターン工程にてそれぞれのフリップフロップにラッチし
たテストパターンを順次集積回路の各部位に供給し、そ
の結果の出力データをそれぞれのフリップフロップにラ
ッチするとともに出力側部位からの出力データをそれぞ
れの出力端子から出力するテスト工程と、第２の入力端
子を出力方向に切り替え、第１の入力端子から再び所定
のテストパターンをそれぞれのフリップフロップに供給
して、そのテストパターンのシフトの際にテスト工程の
結果にてそれぞれのフリップフロップにラッチした値を
順次シフトして、そのスキャンデータをスキャン出力線
を介して第２の入力端子から出力するシフトスキャン工
程とを含み、以降、テスト工程とシフトスキャン工程と
を交互に繰り返して、出力端子からの出力データおよび
第２の入力端子からのスキャンデータに基づいて集積回
路の各部位の機能が正常か否かをテストすることを特徴
とする。

【００２３】この場合、第２の入力端子の入出力方向の
切り替えは、フリップフロップにてそれぞれの値をシフ
トする場合のスキャン入力および集積回路の各部位から
のデータを受ける場合のデータ入力を切り替える際のセ
レクト信号に応動して切り替えると有利である。

【００２４】他方、本発明によるスキャンテスト回路
は、それぞれ所定の機能を有する複数の機能ブロックを
含む集積回路にてそれぞれのフリップフロップを複数の
機能ブロックにわたってスキャンチェーン化して各部の
機能をテストする集積回路におけるスキャンテスト回路
であって、スキャンチェーン化する前のノーマル回路に
て入力側から出力側にかけてそれぞれ複数の機能ブロッ
クが並列に複数段接続され、そのうち同一構成の機能ブ
ロックが縦列に複数配置された同一機能ブロック段を含
み、そのノーマル回路をスキャンテスト回路に形成する
際に、入力側の機能ブロック段から順次フリップフロッ
プを同一機能ブロック段の前段までスキャンチェーン化
し、同一機能ブロック段にてそのうちの代表機能ブロッ
クのみのフリップフロップを前段のスキャン入力線に続
けてスキャンチェーン化し、他の同一機能ブロックは、
代表機能ブロックに接続した同一機能ブロック段の前段
からスキャン入力線をそれぞれ分岐させて代表機能ブロ
ックと同様にそれぞれフリップフロップをスキャンチェ
ーン化したことを特徴とする。

【００２５】この場合、他の同一機能ブロックには、代
表機能ブロックとその前段の機能ブロックとの各部位を
接続する接続線を分岐した接続線と、通常他の同一機能
ブロックに接続するその前段の機能ブロックからの接続
線とを切り替え自在に接続する複数のセレクタが接続さ
れているとよい。

【００２６】また、同一機能ブロック段の前段の機能ブ
ロックにて代表機能ブロックに接続する機能ブロック以
外の機能ブロックの出力線をそれぞれ分岐して、その出
力の排他的論理和をとって出力するEX-OR 回路に接続す
ると有利である。

【００２７】さらに、本発明によるスキャンテスト方法
は、複数の同一機能ブロックを含む集積回路の各部に所
定の値のテストパターンを順次供給し、その結果、複数
の機能ブロックにわたってスキャンチェーン化したそれ
ぞれのフリップフロップの値を順次走査して各部の機能
をテストする集積回路におけるスキャンテスト方法であ
って、入力側から出力側にかけて順次複数の機能ブロッ
クのフリップフロップをスキャンチェーン化し、この
際、同一機能ブロックのうちの代表機能ブロックのみを
スキャンチェーン化し、他の同一機能ブロックには代表
機能ブロックの前段の出力線を分岐して接続しておく第
１のスキャン接続工程と、第１のスキャン接続工程にて
スキャンチェーン化したそれぞれの機能ブロックに所定
のテストパターンを供給して、その結果のスキャンデー
タをフリップフロップから得る第１のテスト工程と、こ
の後、他の同一機能ブロックに代表機能ブロックの前段
からのスキャン入力線を分岐して他の同一機能ブロック
を含む回路をスキャンチェーン化し、かつ他の機能ブロ
ックに所定の接続線を接続する第２のスキャン接続工程
と、この状態にて他の同一機能ブロックを含む回路に所
定のテストパターンを供給して、他の同一機能ブロック
を含むそれぞれのフリップフロップからスキャンデータ
を得る第２のテスト工程とを含むことを特徴とする。

【００２８】この場合、他の同一機能ブロックに所定通
り接続された機能ブロックの接続線を分岐して、その結
果の出力データの排他的論理和をとって、他の同一機能
ブロックの前段の機能ブロックの単一縮退故障を検出す
る第３のテスト工程を含むと有利である。

【００２９】

【発明の実施の形態】次に、添付図面を参照して本発明
による集積回路におけるスキャンテスト回路およびスキ
ャンテスト方法の実施例を詳細に説明する。図１には、
本発明による集積回路におけるスキャンテスト回路の一
実施例が示されている。本実施例によるスキャンテスト
回路は、たとえば、論理合成した後の集積回路に所定の
テストパターンを供給して、各部位の機能が正常である
か否かをテストして所望の回路が形成されているか否か
を検証するためのテスト設計回路である。

【００３０】特に、本実施例では、回路中のフリップフ
ロップを外部から書き込みおよび読み出し自在にスキャ
ンチェーン化する際に、そのスキャン入力線と、スキャ
ン出力線とを既存の入力端子に共有接続し、スキャン出
力線が接続された入力端子を双方向に切り替え自在に形
成した点が主な特徴点である。なお、本実施例では、本
発明によるスキャンテスト回路の理解を容易にするた
め、図１に示すように集積回路をなるべく簡略化して説
明するが、実際のゲート数およびフリップフロップ数に
関係なく、その原理的構成は同様のものである。

【００３１】その詳細を説明すると、本実施例による集
積回路は、たとえば、図１に示すように、入力側の組合
せ回路10と、出力側の組合せ回路20と、それらの間に接
続された複数のフリップフロップ30,32,34とを含む。入
力側の組合せ回路10は、複数の論理ゲートの組合せにて
形成された所定の機能を有するモジュールであり、その
入力側に外部からの入力端子40,42,44がそれぞれ入力バ
ッファ50,52,54を介して接続されている。また、この組
合せ回路10は、その出力側がフリップフロップ30,32,34
にそれぞれ接続されて、入力端子40,42,44からの入力デ
ータに応じて所定の論理値をフリップフロップ30,32,34
へ順次供給する論理回路である。

【００３２】出力側の組合せ回路10は、入力側と同様
に、複数の論理ゲートの組み合わせにて形成された所定
の機能を有するモジュールであり、その入力側にフリッ
プフロップ30,32,34がそれぞれ接続されている。また、
その出力側には、外部への出力端子62,64,66が出力バッ
ファ56,58,60を介して接続されており、フリップフロッ
プ30,32,34を介して供給されるデータ値に応じて所定の
論理値を出力する論理回路である。

【００３３】フリップフロップ30,32,34は、組合せ回路
10からの出力値を順次ラッチして、所定のタイミングに
てラッチした値を出力するラッチ回路であり、外部から
のシステムクロックに応動してラッチおよび出力を繰り
返す順序回路である。特に、本実施例では、これらフリ
ップフロップ30,32,34は、シフトレジスタ状にチェーン
接続されて外部から所定の値を書き込みおよび読み出し
自在に形成されたスキャンフリップフロップをそれぞれ
形成する。詳しくは、本実施例によるフリップフロップ
30,32,34は、それぞれデータ入力Ｄと、クロック入力CK
と、スキャン入力SDと、セレクト入力SEと、データ出力
Ｑとを有している。

【００３４】データ入力Ｄは、入力側の組合せ回路10か
らの出力値が供給される通常入力である。スキャン入力
SDは、外部からの値またはシフトした値が供給される入
力部であり、第１のフリップフロップ30ではスキャン入
力線70が接続されて外部からのテストパターンが供給さ
れる。第２のフリップフロップ32では、第１のフリップ
フロップ30からの出力線72が接続されて、そのシフト値
が供給されて、第３のフリップフロップ34では第２のフ
リップフロップ32からの出力線74が接続されて、そのシ
フト値が順次供給される。特に、本実施例では、第１の
フリップフロップ30に接続されたスキャン入力線70は、
第１の入力端子40に共有接続されてその端子40を介して
外部からのテストパターンをフリップフロップ30,32,34
に供給する。

【００３５】一方、クロック入力CKは、それぞれクロッ
ク端子80からのシステムクロックが供給され、これに応
動してそれぞれのフリップフロップ30,32,34が入出力動
作を実行する。セレクト入力SEは、データ入力Ｄとスキ
ャン入力SDとを選択するセレクト信号がセレクト端子96
から供給される活性入力であり、たとえばセレクト信号
が"High"となった場合にスキャン入力SDを活性化し、セ
レクト信号が"Low" となった場合にデータ入力Ｄを活性
化する入力選択端子である。

【００３６】データ出力Ｑは、ラッチした値をシステム
クロックに応動して出力するラッチ出力である。このデ
ータ出力Ｑは、第１のフリップフロップ30では、出力線
82を介して出力側の組合せ回路20の所定の部位に接続さ
れて、その出力線82は、出力線72に分岐されて第２のフ
リップフロップ32のスキャン入力SDに接続されている。
同様に、第２のフリップフロップ32のデータ出力Ｑは、
出力線84を介して組合せ回路20の所定の部位に接続さ
れ、その出力線84は分岐されて出力線74として第３のフ
リップフロップ34のスキャン入力SDに接続されている。
また、第３のフリップフロップ34のデータ出力Ｑは、出
力線86を介して組合せ回路20の所定の部位に接続され、
その出力線86は分岐されてスキャン出力線76として外部
端子に接続される。

【００３７】特に、本実施例では、スキャン出力線76
は、第３の入力端子44に共有接続されている。この第３
の入力端子44は、入力側の組合せ回路10へのバッファ54
が接続されるとともに、スキャン出力線76からのスリー
ステートバッファ90が接続される分岐線92が設けられ
て、双方向端子として形成されている。スリーステート
バッファ90は、セレクト端子96に接続された制御端子を
含み、たとえば、セレクト端子96からのセレクト信号
が"High"となったときにオンとなり、セレクト信号が"L
ow" となったときにオフとなる。これにより、第３の入
力端子44が入出力双方に切り替えられる切替回路を形成
している。

【００３８】次に、本実施例によるスキャンテスト方法
を図２に示すタイミングチャートを参照して説明する
と、まず、論理合成された後の集積回路を上述したよう
にそれぞれのフリップフロップ30,32,34をスキャンチェ
ーン化する。この際、スキャン入力線70を第１の入力端
子40に共有接続し、かつスキャン出力線76を双方向端子
とした第３の入力端子44に共有接続しておく。

【００３９】次に、図２に示すように、セレクト端子96
からのセレクト信号を"High"としてそれぞれのフリップ
フロップ30,32,34のスキャン入力SDを活性化する。この
状態にて、ATPG (Automatic test pattern generator)
などにて生成した所定のテストパターンSIをスキャン入
力線70に接続した第１の入力端子40から供給する。この
際、クロック端子80からそれぞれのフリップフロップ3
0,32,34のクロック入力CKに、所定のタイミングのシス
テムクロックが供給される。

【００４０】これにより、スキャン入力線70を介して第
１のフリップフロップ30にテストパターンSIが入力され
て、さらにシステムクロックに応動して、第１のフリッ
プフロップ30から順次第２のフリップフロップ32および
第３のフリップフロップ34にテストパターンSIがシフト
され、それぞれのフリップフロップ30,32,34に所定のテ
ストパターンSIがラッチされる。

【００４１】次に、セレクト端子96からのセレクト信号
を"Low" に切り替えて、それぞれのフリップフロップ3
0,32,34のデータ入力Ｄを活性化させる。この際、セレ
クト信号が"Low" となることにより、スキャン出力線76
に接続されたスリーステートバッファ90がオフとなっ
て、第３の入力端子44が入力方向に切り替えれらる。こ
の状態にて、それぞれの入力端子40,42,44に上記と同様
に生成したテストパターンNI1,NI2,NI3 を供給する。こ
れにより、入力端子40,42,44からのテストパターンNI1,
NI2,NI3 は、バッファ50,52,54を介して入力側の組合せ
回路10に供給され、ここで所定の論理がとられて、その
結果の論理値がフリップフロップ30,32,34のデータ入力
Ｄに供給される。

【００４２】組合せ回路10からの論理値を受けたフリッ
プフロップ30,32,34は、その結果をラッチするととも
に、前回ラッチしていたテストパターンSIをデータ出力
Ｑから出力線82,84,86を介して出力側の組合せ回路20に
供給する。これにより組合せ回路20は、テストパターン
SIを所定の論理により演算して、その論理結果NO1,NO2,
NO3 をバッファ56,58,60を介して出力端子62,64,66から
出力する。出力端子62,64,66からの出力データNO1,NO2,
NO3 は、論理LSI テスタなどのテスト機器に供給され
て、その結果が検証される。たとえば、最初のテストパ
ターンからの期待値と出力値NO1,NO2,NO3 とを比較し
て、それらが一致するか否かをテストする。

【００４３】次に、セレクト端子96からのセレクト信号
を再び"High"として、フリップフロップ30,32,34のスキ
ャン入力SDを活性化し、かつスリーステートバッファ90
をオンとする。これにより、第３の入力端子44が出力方
向に切り替えられて、この状態にて、再び第１の入力端
子40から出力側の組合せ回路20をテストするためのテス
トパターンSII をスキャン入力線70を介して第１のフリ
ップフロップ30から順次、供給する。

【００４４】この際に、システムクロックに応動して、
テストパターンSII がフリップフロップ30,32,34に順次
シフトされると、前回ラッチしていた入力側組合せ回路
10第からの論理結果SOが第１なし第３のフリップフロッ
プ30,32,34から出力線72,74を介してシフトされて、そ
の結果がスキャン出力線76を介してオンとなったスリー
ステートバッファ90を通って第３の入力端子44から外部
に出力される。その結果は、出力端子62,64,66の出力と
同様に論理LSI テスタなどのテスト機器に供給され、出
力データと同様に検証される。

【００４５】次に、上記と同様に、セレクト信号の切り
替えによって第３の入力端子44を入力方向に切り替え、
かつフリップフロップ30,32,34のデータ入力を活性化し
て、再び入力端子40,42,44からテストパターンNII1,NII
2,NII3を供給して、これによる入力側の組合せ回路10の
論理結果をフリップフロップ30,32,34にラッチさせると
ともに、スキャンシフトによって前回ラッチしたテスト
パターンを出力側の組合せ回路20に供給する。これによ
り、再び出力端子62,64,66から出力側の組合せ回路20の
論理結果が出力して、その結果を検証する。

【００４６】以降、シフトスキャンによって、それぞれ
のフリップフロップ30,32,34へのテストパターンの供給
および前回ラッチした入力側からの論理結果の出力と、
さらに入力端子40,42,44からのテストパターンの供給と
を繰り返して、それぞれの組合せ回路10,20 のテストパ
ターンによる論理結果を得る。この結果、出力端子62,6
4,66からの出力データおよび第３の入力端子44からのス
キャンデータに基づいて集積回路の各部位の機能が正常
か否かをテストする。

【００４７】以上説明したように、本実施例によるスキ
ャンテスト回路およびスキャンテスト方法によれば、フ
リップフロップ30,32,34をスキャンチェーン化する際
に、スキャン入力線70を第１の入力端子40に共有接続
し、かつ第３の入力端子44を双方向端子としてスキャン
出力線76を共有接続しているので、テストの際に、集積
回路に余分な外部端子を設けることなくスキャンシフト
およびパターン入力を交互に繰り返して、入力側および
出力側の組合せ回路10,20 の各部位の機能を有効にテス
トすることができる。したがって、回路規模が大きくな
り、スキャンチェーン数が増加しても、LSI パッケージ
の端子数内でスキャンテスト回路を有効に形成して、ス
キャンテストすることができる。

【００４８】また、本実施例では、スキャン出力線76に
接続されたスリーステートバッファ90をセレクト信号に
応動してオンおよびオフとして切り替えて、その結果、
第３の入力端子44の入出力方向を切り替えるようにした
ので、たとえば、データセレクタを出力側に設ける場合
と比較して、その出力に遅延を生じることもなく、ま
た、回路規模の増加もほとんどない。この結果、ゲート
数の多い集積回路でも有効にスキャンテスト回路を構築
して、かつクロック周波数の高い集積回路でも有効にス
キャンテストを実行することができる。

【００４９】次に、図３には、本発明によるスキャンテ
スト回路の他の実施例が示されている。なお、上記実施
例においては、集積回路を一つの機能ブロックに単純化
してスキャンテスト回路を構築する場合を例に挙げて説
明したが、本実施例では、集積回路に複数の機能ブロッ
クを含み、それら複数の機能ブロックにわたってそれぞ
れのフリップフロップをスキャンチェーン化してテスト
するスキャンテスト回路について説明する。この場合、
集積回路には、同様の機能を有するいくつかの機能ブロ
ックを含むことが多く、特に、出力側に同一の機能を有
する同一機能ブロックが集中していることが多い。

【００５０】本実施例では、このような複数の同一機能
ブロックを含む集積回路を論理LSIテスタでのテストパ
ターン長の制限値内にて有効にスキャンテストするスキ
ャンテスト回路およびスキャンテスト方法について説明
する。なお、上記実施例と同様に、本発明によるスキャ
ンテスト回路の理解を容易にするため、図３になるべく
簡略化した例を示して、その説明を簡単化している。し
かし、実際の機能ブロックの数およびフリップフロップ
数に関係なく、その原理的構成は同様のものである。

【００５１】具体的には、本実施例による集積回路は、
図４に示すように、入力段に２つの機能ブロック100,20
0 と、出力段に２つの同一機能ブロック300,400 とを含
み、それぞれ入力段の第１の機能ブロック100 と出力段
の第３の機能ブロック300 とが接続され、第２の機能ブ
ロック200 と第４の機能ブロック400 とが接続されて上
下２段にて並列に所定の機能を果たすように形成されて
いる。

【００５２】入力段の機能ブロック100,200 は、それぞ
れ複数の入力端子110,210 が接続された第１のモジュー
ル120,220 と、第１のモジュール120,220 に接続されて
その論理値をそれぞれラッチする複数のフリップフロッ
プ130,230 と、これらフリップフロップ130,230 に接続
されてそのラッチした値が供給される第２のモジュール
140,240 とを含む。これら機能ブロック100,200 は、必
ずしも同一機能を果たすとは限らず、本実施例では異な
る機能を有するブロックでよい。

【００５３】出力段の同一機能ブロック300,400 は、入
力段の第２のモジュール140,240 に通常接続される第１
のモジュール310,410 と、第１のモジュール310,410 に
接続されてその論理値をそれぞれラッチする複数のフリ
ップフロップ320,420 と、これらフリップフロップ320,
420 からのラッチした値を受けて所定の論理値を出力す
る第２のモジュール330,430 とを含み、第２のモジュー
ル330,430 にはそれぞれ複数の出力端子350,450 が接続
されている。

【００５４】本実施例では、これら機能ブロック300,40
0 は、同一の機能を有するブロックである。つまり、第
１のモジュール310,410 同士、および第２のモジュール
330,430 同士がそれぞれ同様の論理ゲートの組み合わせ
にて形成されているとする。特に、本実施例では、第１
のモジュール310,410 は完全に同一のものでなければな
らない。

【００５５】通常、このような複数の機能ブロック100
〜400 を含む集積回路をフルスキャン化する場合、たと
えば、図５に示すように、第１〜第４の機能ブロック10
0 〜400 にわたってスキャンチェーン化する。たとえ
ば、入力段の第２の機能ブロック200 の下部にスキャン
入力端子500 を形成し、これからスキャン入力線510 を
第２の機能ブロック200 の最下段のフリップフロップに
接続する。第２の機能ブロック200 のそれぞれのフリッ
プフロップは、上記実施例と同様にスキャン入力線510
からのパターンを第１の機能ブロック100 側にシフト可
能にチェーン接続して、その最上段のフリップフロップ
からの出力線520 を第１の機能ブロック100 の最下段の
フリップフロップに接続する。

【００５６】第１の機能ブロック100 では、上記と同様
にフリップフロップをチェーン接続して、その最上段の
フリップフロップからの出力線530 を延在し、第３の機
能ブロック300 の最上段のフリップフロップに接続す
る。同様に、第３の機能ブロック300 のそれぞれのフリ
ップフロップを第４の機能ブロック400 側にシフト可能
にチェーン接続し、その最下段のフリップフロップの出
力線540 を第４の機能ブロック400 の最上段のフリップ
フロップに接続する。そして、第４の機能ブロック400
を第３の機能ブロック300 と同様にチェーン接続し、そ
の最下段のフリップフロップからスキャン出力線550 を
引き出して出力側に形成したスキャン出力端子560 に接
続する。

【００５７】これにより、入力側からスキャン入力端子
510 を介してテストパターンをそれぞれの機能ブロック
100,200,300,400 のフリップフロップに供給し、かつ、
それぞれの機能ブロック100,200,300,400 のフリップフ
ロップをシフトスキャンしたデータをスキャン出力線56
0 を介して出力側に取り出す。このように複数の機能ブ
ロック100 〜400 にわたってそれぞれのフリップフロッ
プをスキャンチェーン化して、それらに外部から所定の
値を書き込みおよびその結果を読み出してテストしてい
た。

【００５８】しかし、シフトスキャンした結果のデータ
を検証する論理LSI テスタは、もちろん処理するパター
ン長に制限がある。たとえば、それぞれの機能ブロック
100〜400 のフリップフロップ130・・・は、図ではそれぞ
れ３個づつ示されているが、それぞれの機能ブロック10
0 〜400 に、たとえば80個づつフリップフロップが設け
られているとしたとき、かつそれぞれのフリップフロッ
プがATPGなどにて生成されたテストパターンがそのベク
タ長が1Kパターンのものをラッチする場合を考えると、
１機能ブロックあたり、80K パターンのテストパターン
がシフトスキャンされることになる。この結果、図５に
示す例では、４個の機能ブロック100 〜400 にて320kパ
ターンのテストパターンがシフトされることになる。た
とえば、論理LSI テスタのパターン長の制限値が240kパ
ターンであるとき、図５に示す１スキャンチェーンで
は、テストすることが困難になる。

【００５９】これにより、図４に示す集積回路を有効に
スキャンチェーン化したものが図３に示す本実施例によ
るスキャンテスト回路である。本実施例によるスキャン
テスト回路は、同一機能ブロック段、つまり出力段にて
同一機能ブロック300,400 のうちの第３の機能ブロック
300 を代表機能ブロックとして、前段からのスキャンチ
ェーンに続けてチェーン化して、他の機能ブロック400
は、それぞれ前段から分岐させてスキャンチェーン化し
て、テストパターン長を短縮化するテスト設計回路であ
る。

【００６０】詳しくは、入力段の第１および第２の機能
ブロック100,200 から出力段の第３の機能ブロック300
までは、順次フリップフロップ130,230,320 をそれら機
能ブロックにわたってスキャンチェーン化する。具体的
には、入力段にて、図５に示す例と同様に、第２の機能
ブロック200 の下部に形成したスキャン入力端子500か
らのスキャン入力線510 を第２の機能ブロック200 の最
下段のフリップフロップに接続し、これに続けてそれぞ
れのフリップフロップ230 を第１の機能ブロック100 側
にその値をシフト自在にチェーン接続する。次に、その
最上段のフリップフロップからの出力線520 を第１の機
能ブロック100 の最下段のフリップフロップに接続す
る。第１の機能ブロック100 では、同様にそれぞれのフ
リップフロップ130 をチェーン接続して、これにより入
力段を通常通りスキャンチェーン化する。

【００６１】次に、入力段から出力段にチェーン接続す
る際に、同一機能ブロック300,400のうちの第３の機能
ブロック300 を代表機能ブロックとして前段の第１の機
能ブロック100 から続けてチャイン接続する。つまり、
第１の機能ブロック100 の最上段のフリップフロップか
らの出力線530 を第３の機能ブロック300 の最上段のフ
リップフロップに接続し、第３の機能ブロック300 のフ
リップフロップ320 をそれぞれシフト自在にチェーン接
続する。第３の機能ブロック300 の最下段のフリップフ
ロップには、スキャン出力線600 を接続して、その出力
に形成したスキャン出力端子610 に接続する。

【００６２】一方、第４の機能ブロック400 は、代表機
能ブロック300 に接続した前段の機能ブロック100 の最
上段のフリップフロップからの出力線530 を分岐して、
その最上段のフリップフロップに接続し、それぞれのフ
リップフロップ420 を上記と同様にチェーン接続する。
第４の機能ブロック400 の最下段のフリップフロップに
は第２のスキャン出力線630 を接続して、その出力に形
成したスキャン出力端子640 を接続する。

【００６３】また、本実施例では第４の機能ブロック40
0 に、第１のモジュール410 にそれぞれ入力する接続線
に、複数のセレクタ450 が接続される。これらセレクタ
450は、２入力１出力の選択回路であり、一方の入力に
第２の機能ブロック200 の第２のモジュール240 からの
出力線が接続され、他方の入力に第１の機能ブロック10
0 の第２のモジュール140 からの出力線をそれぞれ分岐
した接続線が接続される。さらに、それぞれのセレクタ
450 の制御端子には、入力側に形成されたセレクト端子
700 からの選択信号が供給され、その選択信号に応動し
て第１の機能ブロック100 または第２の機能ブロック20
0 からの出力が選択的に供給される。

【００６４】さらに、第２の機能ブロック200 の第２の
モジュール240 からの出力線は、セレクタ450 の前にて
分岐されて、それぞれEX-OR 回路800 に接続される。

【００６５】EX-OR 回路800 は、第２の機能ブロック20
0 の第２のモジュール240 からのデータ値を排他的論理
和にて演算してその単一縮退故障を検出するテスト回路
である。詳しくは、EX-OR 回路800 の出力は、その入力
がすべて一致した場合に論理値"0" であり、いずれかが
不一致の場合には論理値"1" となる。したがって、故障
と想定される箇所のみにその出力が他と異なる値となる
ようにテストパターンを供給して、その出力値の排他的
論理和が"0" または"1" のいずれになるかを判定すると
よい。EX-OR 回路800 の出力は、出力端子810 を介して
外部に供給される。

【００６６】以上のような構成において、本実施例によ
るスキャンテスト方法を上記スキャンテスト回路の動作
とともに説明すると、まず、上述したように入力段から
出力段にかけて順次第１ないし第３の機能ブロック100
〜300 のフリップフロップをスキャンチェーン化する。
この際、第４の同一機能ブロック400 のみは、第１の出
力線530 を接続せず、フリップフロップ420 のみをチェ
ーン接続しておく。さらに、セレクタ440 は、第１の機
能ブロック100 からの出力を選択するように選択信号を
供給する。

【００６７】次に、スキャン入力端子500 からATPGなど
にて生成したテストパターンを供給して、第１〜第３の
機能ブロック100 〜300 のそれぞれのフリップフロップ
130,230,320 にテストパターンをラッチさせる。この
後、第４の機能ブロック400 に第１の機能ブロックの出
力線530 を分岐して、その最上段のフリップフロップに
接続する。

【００６８】この状態にて、入力端子110,210 から所定
のテストパターンを供給し、その結果をそれぞれのフリ
ップフロップにラッチさせ、かつ前回ラッチしたテスト
パターンを次の部位へ供給させる。つまり、第１の機能
ブロック100 からのテストパターンは、第１のモジュー
ル120 にて所定の論理演算が行なわれて、そのフリップ
フロップ130 にラッチされる。フリップフロップ130 に
ラッチされていた前回のテストパターンは、第２のモジ
ュール140 にて所定の論理演算が行なわれて、その結果
が第３および第４の機能ブロック300,400 の第１のモジ
ュール310,410に供給される。

【００６９】ここで、さらに所定の論理演算が行なわ
れ、その結果がフリップフロップ320,420 にラッチされ
る。第３の機能ブロック300 のフリップフロップ420 で
は、前回ラッチされていたテストパターンが第２のモジ
ュール330 に供給される。その結果の演算値は、出力端
子340 から出力される。その結果は、論理LSI テスタに
て検証され、第３の機能ブロック300 の第２のモジュー
ル430 の論理検証が行なわれる。

【００７０】次に、再びスキャン入力端子500 からテス
トパターンが供給され、第１〜第４の機能ブロック100
〜400 のそれぞれのフリップフロップ130,230,320,420
にシフトされる。この際、テストパターン長は、240Kパ
ターンでよく、第３および第４の機能ブロック300,400
のフリップフロップ320,420 には、同じパターンが供給
される。そして、パターンをシフトする際に、それぞれ
のフリップフロップにラッチされた論理値がスキャン出
力端子610,630 から論理LSI にそれぞれ出力される。こ
の場合、第１の機能ブロック100 のフリップフロップ13
0 のシフト値から第１のモジュール120 の機能が検証さ
れ、第２の機能ブロック200 のフリップフロップ230 の
シフト値から、その第１のモジュール220 の機能が検証
される。その結果は、第１のスキャン出力610 および第
２のスキャン出力のいずれから得てもよい。

【００７１】また、第３の機能ブロック300 のフリップ
フロップ320 のシフト値からは、第１の機能ブロック10
0 の第２のモジュール140 および第３の機能ブロック30
0 の第１のモジュール310 の総合の機能が検証される。
同様に、第４の機能ブロック400 のフリップフロップ42
0 のシフト値から第１の機能ブロック100 の第２のモジ
ュール140 および第４の機能ブロック400 の第１のモジ
ュール410 の総合の機能が検証される。この場合、同一
機能ブロック300,400 の第１のモジュール310,410 は、
同一機能であるので、それらのスキャン結果を比較する
ことにより、いずれのモジュールに故障があるか検証す
ることができる。

【００７２】以下、上記と同様に入力端子110,210 から
テストパターンを供給し、その結果をそれぞれのフリッ
プフロップにラッチし、出力端子340,440 からの出力値
にて第３および第４の機能ブロック300,400 の第２のモ
ジュール330,430 の機能を検証し、スキャン入力端子50
0 からのテストパターンの供給にともなってラッチした
値をシフトスキャンし、その結果から各部の機能を検証
する。以上を繰り返して、たとえば、各部の単一縮退故
障を検出する。

【００７３】一方、第２の機能ブロック200 の第２のモ
ジュール240 の出力値は、入力端子210 からのテストパ
ターンの供給の際に、すでにラッチされたフリップフロ
ップ230 からのテストパターンの出力によってEX-OR 回
路800 に順次、供給される。これにより、EX-OR 回路80
0 は第２の機能ブロック200 の第２のモジュール240の
それぞれの論理結果を排他的論理和にて演算して、その
結果を出力端子810 から出力する。この結果、それぞれ
第２のモジュール240 の機能の検証、つまり単一縮退故
障の検出が出力端子810 の出力値によって検証される。

【００７４】以上説明したように本実施例によるスキャ
ンテスト回路およびスキャンテスト方法によれば、同一
機能ブロック300,400 を含む集積回路にてフルスキャン
化して、それぞれの機能ブロック100 〜400 の機能を検
証する際に、同一機能ブロック300,400 をそれぞれ分岐
させてスキャンチェーン化してテストするので、テスト
パターン長を所定のパターン長、たとえば、本実施例の
場合、論理LSI テスタの制限値、240kパターンにて同時
にテストすることができる。

【００７５】また、フリップフロップに供給するテスト
パターンも所定の長さに省くことができ、機能ブロック
300,400 に同一なテストパターンを供給してテストする
ことができるので、ATPGなどにてテストパターンを作成
する手間および時間を短縮することができる。したがっ
て、集積回路における同一機能ブロックのスキャン段数
が多ければ多いほど、また、同一機能ブロック数が多い
ほど、スキャンパターンのパターン長削減に寄与するこ
とができる。これにより、テスト時間の短縮、単位時間
あたりの生産数の向上、テスト設計工数、TAT (Turn ar
ound time)の短縮、設計生産性の向上が期待できるなど
の効果を挙げることができる。

【００７６】なお、本実施例においては、第４の機能ブ
ロック400 のフリップフロップへの出力線530 からの配
線を第１〜第３の機能ブロック100 〜300 へのテストパ
ターンの供給の後に行なったが、本発明では、たとえば
分岐した接続線にスイッチなどを設けて、随時オン・オ
フするようにしてもよい。

【００７７】また、本実施例においては、スキャン入力
端子500 およびスキャン出力端子610,620 を個別に設け
るようにしたが、上記実施例と同様に入力端子110,210
と共有接続してもよい。

【００７８】

【発明の効果】このように本発明によれば、集積回路の
規模が大きくなった場合でも外部端子数を増加させるこ
となく、有効にスキャンテストを実行することができ
る。特にスキャン入力線を入力端子に共有接続し、双方
向端子とした入力端子にスキャン出力線を共有接続した
場合、回路のスキャン化による端子数および素子数の増
大がほとんどなく、パッケージの端子および面積を有効
に活用することができる。また、この場合、出力に遅延
を生じさせる要素がほとんどなく、期待通りの有効なス
キャンテストを行なうことができる。

【００７９】一方、複数の機能ブロックをスキャンテス
トする場合、同一機能ブロックを分岐してスキャンチェ
ーン化し、代表機能ブロックへのテストパターンと同様
のテストパターンにて他の同一機能ブロックをテストす
ることができ、かつテストパターン長を論理LSI テスタ
の制限値内にて有効にテストすることができる。したが
って、テスト時間の短縮および工数の削減などスキャン
テストを有効に実行することができる優れた効果を奏す
る。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明によるスキャンテスト回路の一実施例を
示す回路図である。

【図２】図１の実施例によるスキャンテスト方法を説明
するためのタイミングチャートである。

【図３】本発明によるスキャンテスト回路の他の実施例
を示す回路図である。

【図４】図３の実施例に適用される集積回路のノーマル
回路を示す回路図である。

【図５】図４のノーマル回路をフルスキャンした例を示
す回路図である。

【符号の説明】

10,20 組合せ回路 30,32,34 フリップフロップ 40,42,44 入力端子 62,64,66 出力端子 70 スキャン入力線 76 スキャン出力線 90 スリーステートバッファ 300,400 同一機能ブロック 440 セレクタ 800 EX-OR 回路

Claims (11)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 集積回路中のフリップフロップを外部か
   ら書き込みおよび読み出し自在に接続して、該フリップ
   フロップの値を順次走査して集積回路の各部の機能をテ
   ストする集積回路におけるスキャンテスト回路であっ
   て、 前記フリップフロップは、それぞれ保持した値を他のフ
   リップフロップにシフト可能に順次チェーン接続され、 チェーン接続された最初のフリップフロップに、所定の
   テストパターンを外部から供給するためのスキャン入力
   線が接続され、 かつチェーン接続された最後のフリップフロップに、シ
   フトした値を順次出力するスキャン出力線が接続され
   て、 前記スキャン入力線は、前記集積回路の入力端子のうち
   の少なくとも一つに共有接続され、 前記スキャン出力線は、前記スキャン入力線が接続され
   た入力端子以外の入力端子のうちの一つに共有接続され
   て、 該スキャン出力線に共有接続された入力端子は、入力と
   出力とを随時切り替え可能な双方向端子として形成され
   ていることを特徴とする集積回路におけるスキャンテス
   ト回路。
2. 【請求項２】 請求項１に記載のスキャンテスト回路に
   おいて、前記フリップフロップは、それぞれ集積回路の
   所定の部位からの出力データが供給されるデータ入力
   と、外部からのテストパターンまたは他のフリップフロ
   ップからシフトした値が順次供給されるスキャン入力
   と、前記データ入力とスキャン入力とを切り替えるセレ
   クト信号が供給されるセレクト入力と、保持した値を出
   力するデータ出力とを有し、それぞれのフリップフロッ
   プのデータ出力が他のフリップフロップのスキャン入力
   に順次接続されてスキャンチェーン化されていることを
   特徴とする集積回路におけるスキャンテスト回路。
3. 【請求項３】 請求項２に記載のスキャンテスト回路に
   おいて、前記双方向の入力端子は、前記フリップフロッ
   プのセレクト入力に接続されたセレクト端子からのセレ
   クト信号に応動して入出力方向を随時切り替える切替手
   段が設けられていることを特徴とする集積回路における
   スキャンテスト回路。
4. 【請求項４】 請求項３に記載のスキャンテスト回路に
   おいて、前記切替手段は、制御端子が前記セレクト端子
   に接続されて、スキャン入力時にセレクト信号に応動し
   て前記スキャン出力線をオンとするスリーステートバッ
   ファを含むことを特徴とする集積回路におけるスキャン
   テスト回路。
5. 【請求項５】 集積回路の各部に所定の値のテストパタ
   ーンを順次供給し、その結果、回路中のフリップフロッ
   プにそれぞれ保持した値を外部から走査して集積回路の
   各部の機能をテストする集積回路におけるスキャンテス
   ト方法であって、該方法は、 あらかじめ前記フリップフロップをそれぞれの値をシフ
   ト自在に順次チェーン接続し、集積回路の複数の入力端
   子のうちの一つの入力端子にチェーン接続した最初のフ
   リップフロップからのスキャン入力線を共有接続し、か
   つ該スキャン入力線が接続された入力端子以外の入力端
   子のうちの一つを双方向端子として、該双方向端子にチ
   ェーン接続した最後のフリップフロップからのスキャン
   出力線を共有接続しておくテスト回路形成工程と、 この状態にて、スキャン入力線に接続した第１の入力端
   子から所定のテストパターンを前記フリップフロップに
   供給して、該テストパターンをそれぞれのフリップフロ
   ップにシフトして保持させるパターン保持工程と、 前記スキャン出力線に接続された双方向の第２の入力端
   子を入力方向に切り替え、該第２の入力端子および前記
   第１の入力端子を含む集積回路の複数の入力端子から集
   積回路の入力側部位へのテストパターンを供給し、これ
   に応動して前記パターン工程にてそれぞれのフリップフ
   ロップにラッチしたテストパターンを順次集積回路の各
   部位に供給し、その結果の出力データをそれぞれのフリ
   ップフロップにラッチするとともに出力側部位からの出
   力データを集積回路のそれぞれの出力端子から出力する
   テスト工程と、 前記第２の入力端子を出力方向に切り替え、前記第１の
   入力端子から再び所定のテストパターンをそれぞれのフ
   リップフロップに供給して、該テストパターンのシフト
   の際に前記テスト工程の結果にてそれぞれのフリップフ
   ロップにラッチした値を順次シフトして、そのスキャン
   データを前記スキャン出力線を介して前記第２の入力端
   子から出力するシフトスキャン工程とを含み、 以降、前記テスト工程とシフトスキャン工程とを交互に
   繰り返して、前記出力端子からの出力データおよび前記
   第２の入力端子からのスキャンデータに基づいて集積回
   路の各部位の機能が正常か否かをテストすることを特徴
   とする集積回路におけるスキャンテスト方法。
6. 【請求項６】 請求項５に記載の方法において、前記双
   方向端子の入出力方向の切り替えは、前記フリップフロ
   ップにてそれぞれの値をシフトする場合のスキャン入力
   および集積回路の各部位からのデータを受ける場合のデ
   ータ入力を切り替える際のセレクト信号に応動して切り
   替えることを特徴とする集積回路におけるスキャンテス
   ト方法。
7. 【請求項７】 それぞれ所定の機能を有する複数の機能
   ブロックを含む集積回路にてそれぞれのフリップフロッ
   プを複数の機能ブロックにわたってスキャンチェーン化
   して各部の機能をテストする集積回路におけるスキャン
   テスト回路であって、 該回路は、スキャンチェーン化する前のノーマル回路に
   て入力側から出力側にかけてそれぞれ複数の機能ブロッ
   クが並列に複数段接続され、そのうち同一構成の機能ブ
   ロックが縦列に複数配置された同一機能ブロック段を含
   み、 該ノーマル回路をスキャンテスト回路に形成する際に、
   入力側の機能ブロック段から順次フリップフロップを同
   一機能ブロック段の前段までわたってスキャンチェーン
   化し、 同一機能ブロック段にてそのうちの代表機能ブロックの
   みのフリップフロップを前段に続けてスキャンチェーン
   化し、 他の同一機能ブロックは、代表機能ブロックに接続した
   前段の機能ブロックからそれぞれ分岐させたスキャン入
   力線に代表機能ブロックと同様にそれぞれフリップフロ
   ップをスキャンチェーン化することを特徴とする集積回
   路におけるスキャンテスト回路。
8. 【請求項８】 請求項７に記載のスキャンテスト回路に
   おいて、前記他の同一機能ブロックには、代表機能ブロ
   ックとその前段の機能ブロックとの各部位を接続する接
   続線を分岐した接続線と、通常他の同一機能ブロックに
   接続するその前段の機能ブロックからの接続線とを切り
   替え自在に接続する複数のセレクタが接続されているこ
   とを特徴とする集積回路におけるスキャンテスト回路。
9. 【請求項９】 請求項８に記載のスキャンテスト回路に
   おいて、該回路は、同一機能ブロック段の前段の機能ブ
   ロックにて代表機能ブロックに接続する機能ブロック以
   外の機能ブロックの出力線をそれぞれ分岐して、その出
   力の排他的論理和をとって出力するEX-OR 回路が接続さ
   れていることを特徴とするスキャンテスト回路。
10. 【請求項１０】 複数の同一機能ブロックを含む集積回
    路の各部に所定の値のテストパターンを順次供給し、そ
    の結果、複数の機能ブロックにわたってスキャンチェー
    ン化したそれぞれのフリップフロップの値を順次走査し
    て各部の機能をテストする集積回路におけるスキャンテ
    スト方法であって、該方法は、 入力側から出力側にかけて順次複数の機能ブロックのフ
    リップフロップをスキャンチェーン化し、この際、同一
    機能ブロックのうちの代表機能ブロックのみをスキャン
    チェーン化し、他の同一機能ブロックには代表機能ブロ
    ックの前段からの出力線を分岐して接続しておく第１の
    スキャン接続工程と、 該第１のスキャン接続工程にてスキャンチェーン化した
    それぞれの機能ブロックに所定のテストパターンを供給
    して、その結果のスキャンデータをフリップフロップか
    ら得る第１のテスト工程と、 この後、他の同一機能ブロックに代表機能ブロックの前
    段からのスキャン入力線を分岐して他の同一機能ブロッ
    クを含む回路をスキャンチェーン化し、かつ他の機能ブ
    ロックに所定の接続線を接続する第２のスキャン接続工
    程と、 この状態にて他の同一機能ブロックを含む回路に所定の
    テストパターンを供給して、他の同一機能ブロックを含
    むそれぞれのフリップフロップからスキャンデータを得
    る第２のテスト工程とを含み、 前記第１のテスト工程および第２のテスト工程の結果か
    ら得られたスキャンデータに基づいて各部の機能が正常
    か否かをテストすることを特徴とする集積回路における
    スキャンテスト方法。
11. 【請求項１１】 請求項10に記載の方法において、該方
    法は、他の同一機能ブロックに所定通り接続される機能
    ブロックの接続線を分岐して、その結果の出力データの
    排他的論理和をとって、他の同一機能ブロックの前段の
    機能ブロックの単一縮退故障を検出する第３のテスト工
    程を含むことを特徴とする集積回路におけるスキャンテ
    スト方法。