JPH10144779A - 静電チャック - Google Patents

静電チャック

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JPH10144779A
JPH10144779A JP30318696A JP30318696A JPH10144779A JP H10144779 A JPH10144779 A JP H10144779A JP 30318696 A JP30318696 A JP 30318696A JP 30318696 A JP30318696 A JP 30318696A JP H10144779 A JPH10144779 A JP H10144779A
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substrate
adhesive
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 静電チャックに関し、残留吸着作用を低減で
き、且つ長寿命の静電チャックを得ることを目的とす
る。 【解決手段】 基板12と、電極16a,16bを有す
る表面絶縁層14と、該表面絶縁層と該基板とを接着す
る接着剤層22とを備え、該接着剤層22は該表面絶縁
層14と同等の抵抗をもつセラミック系の接着剤からな
る構成とする。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明はCVDやエッチング
等の半導体の製造行程やその他の処理、運搬において使
用される静電チャックに関する。
【0002】
【従来の技術】CVDやエッチング等の半導体の製造行
程においては、ウエハが真空チャンバ内で静電チャック
により保持され、種々の処理が行われる。チップのパタ
ーンの細分化によって、微細なゴミが問題視されるよう
になり、メカニカルなチャックによる発塵や処理時のゴ
ミが問題になっている。このような観点から静電チャッ
クの採用率が増えてきている。
【0003】静電チャックは、基板と、電極を有する表
面絶縁層(誘電体)とを備え、ウエハを静電チャックに
吸着保させるときに、ウエハは表面絶縁層の上に載置さ
れる。ウエハは、ウエハと電極との間に作用するクーロ
ン力によって表面絶縁層に保持される。このような静電
チャックは例えば特開平7−18438号公報に開示さ
れている。
【0004】静電チャックの表面絶縁層は接着剤により
基板に接着される。例えば、表面絶縁層はセラミックで
作られ、基板はアルミニウムで作られ、表面絶縁層を基
板に接着するためにシリコン接着剤が使用される。半導
体の製造行程においては、ウエハはCVDやエッチング
のために高温の処理室内で処理されることがあり、静電
チャックはウエハとともに高温にさらされる。シリコン
接着剤は表面絶縁層と基板の熱膨張差を吸収するために
は有効な接着剤である。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】静電チャックは、通電
することにより吸着作用が生じ、通電を停止することに
より吸着作用がなくなる。通電を停止したら、直ちに吸
着作用がなくなってウエハを静電チャックから取り出す
ことができることが望ましい。しかし、表面絶縁層及び
接着剤層に電荷が蓄積されていると、通電を停止して
も、残留吸着作用が生じることがある。残留吸着作用
は、表面絶縁層及び接着剤層の体積固有抵抗の値によっ
て大きくなったり、小さくなったりする。残留吸着作用
が大きいと、ウエハを静電チャックから簡単に取り出す
ことができなくなる。そこで、ウエハを裏面からピンに
よって突き上げて、強制的にウエハを離脱させることが
ある。しかし、この場合には、ウエハの割れや、跳ね
や、放電等が発生し、歩留りが低下する問題点がある。
【0006】また、ウエハの裏面からガスを吹き出して
ウエハを離脱させたり、離脱時に処理とは別に再度短時
間プラズマを起こし、残留電荷の除去を行ったりする試
みがある。しかし、これらの方法では、スループットの
低下を招く。さらに、シリコン接着剤によって表面絶縁
層を基板に接着する構成においては、例えばエッチング
処理(特に等方性エッチング)において、シリコン接着
剤がエッチングされてしまい、寿命が短くなるととも
に、絶縁破壊を引き起こす原因になることがある。この
ため、静電チャック全体をセラミックで作る等の試みが
なされているが、この方式では熱伝導性が極端に悪く、
価格も高くなるという問題点があった。
【0007】本発明の目的は、残留吸着作用を低減で
き、且つ長寿命の静電チャックを提供することである。
【0008】
【課題を解決するための手段】本発明による静電チャッ
クは、基板と、電極を有する表面絶縁層と、該表面絶縁
層と該基板とを接着する接着剤層とを備え、該接着剤層
は該表面絶縁層と同等の抵抗をもつセラミック系の接着
剤からなることを特徴とする。この構成においては、セ
ラミック系の接着剤がエッチング等により損傷されにく
く、長寿命の静電チャックを提供することができる。ま
た、セラミック系の接着剤はその含有成分の調整によ
り、その体積固有抵抗を制御することができる。従っ
て、接着剤層は表面絶縁層と同等の抵抗をもつようにす
る。これによって、表面絶縁層と接着剤層とが、残留吸
着作用を低減又は生じさせないような体積固有抵抗をも
つように設定され、よって残留吸着作用を低減又は解消
することができる。また、セラミック系接着剤は熱伝導
性のよいものを選ぶのが好ましい。
【0009】請求項2においては、該表面絶縁層が高抵
抗型のセラミックからなり、該接着剤層が該表面絶縁層
と同等の高い抵抗をもつようにする。例えば、このとき
の体積固有抵抗は1014Ωcm以上である。請求項3にお
いては、該表面絶縁層が低抵抗型のセラミックからな
り、該接着剤層が該表面絶縁層と同等の低い抵抗をもつ
ようにする。例えば、このときの体積固有抵抗は108
Ωcmから1011Ωcm程度である。体積固有抵抗が108
Ωcm以下のものは、静電的には導通みなされ、あまり用
いられない。体積固有抵抗が1011Ωcmから1014Ωcm
の間にあると、残留吸着作用が発生しやすい。
【0010】また、請求項4に記載の静電チャックは、
基板と、電極を有する表面絶縁層と、該表面絶縁層と該
基板とを接着する接着剤層と、該表面絶縁層と該基板と
の間で該接着剤層を取り囲むシールとからなることを特
徴とする。この構成では、接着剤層がシールによって取
り囲まれ、このシールがエッチング等により損傷されに
くい材料で形成されるので、接着剤層が損傷しない。従
って、静電チャックの寿命は低下しない。
【0011】
【発明の実施の形態】以下本発明の実施例について説明
する。図1は本発明の第1実施例の静電チャック10を
示す図である。静電チャック10は、アルミニウムの基
板12と、円板状のセラミックの表面絶縁層14とから
なる。この表面絶縁層14は平坦な円板状の電極16
a,16bを有する。各電極16a,16bは例えば半
円形状、あるいは櫛歯状に形成されることができる。電
極16a,16bは例えば蒸着により表面絶縁層14の
表面に設けられ、導線18,20により電源に接続され
る。ウエハWは表面絶縁層14にのせられ、クーロン力
により静電チャック10に保持される。
【0012】表面絶縁層14は接着剤層22により基板
12に接着されている。接着剤層22は表面絶縁層14
と同等の抵抗をもつセラミック系の接着剤(例えばジル
コニア、マグネシア、アルミナベースのもの)からな
る。例えば、表面絶縁層14が体積固有抵抗が1014Ω
cm以上の高抵抗型のセラミックからなる場合には、接着
剤層22も体積固有抵抗が1014Ωcm以上の表面絶縁層
14と同等の抵抗をもつようにする。また、表面絶縁層
14が体積固有抵抗が108 Ωcmから1011Ωcmの範囲
にある低抵抗型のセラミックからなる場合には、接着剤
層22も体積固有抵抗が108 Ωcmから1011Ωcmの範
囲にある表面絶縁層14と同等の抵抗をもつようにす
る。
【0013】図2は本発明の第2実施例の静電チャック
10を示す図である。静電チャック10は、アルミニウ
ムの基板12と、円板状のセラミックの表面絶縁層14
とからなる。この表面絶縁層14は電極16a,16b
を有し、電極16a,16bは表面絶縁層14の内部に
埋設されている。例えば、2枚のセラミックのグリーン
シートを準備し、一方のグリーンシートに電極16a,
16bを蒸着しておき、2枚のグリーンシートを重ねて
焼成すれば、この構成の表面絶縁層14を得ることがで
きる。電極16a,16bは導線18,20により電源
に接続される。この場合にも、表面絶縁層14は接着剤
層22により基板12に接着され、接着剤層22は表面
絶縁層14と同等の抵抗をもつセラミック系の接着剤か
らなる。
【0014】図3は本発明の第3実施例の静電チャック
10を示す図である。静電チャック10は、アルミニウ
ムの基板12と、円板状のセラミックの表面絶縁層14
とからなる。この表面絶縁層14は平坦な1つの円板状
の電極16を有し、電極16が図1と同様に表面絶縁層
14の表面に蒸着されている。電極16は導線18によ
り電源に接続される。この場合にも、表面絶縁層14は
接着剤層22により基板12に接着され、接着剤層22
は表面絶縁層14と同等の抵抗をもつセラミック系の接
着剤からなる。
【0015】図4は本発明の第4実施例の静電チャック
10を示す図である。静電チャック10は、アルミニウ
ムの基板12と、円板状のセラミックの表面絶縁層14
とからなる。この表面絶縁層14は平坦な1つの円板状
の電極16を有し、電極16が図2と同様に表面絶縁層
14の内部に埋設されている。電極16は導線18によ
り電源に接続される。この場合にも、表面絶縁層14は
接着剤層22により基板12に接着され、接着剤層22
は表面絶縁層14と同等の抵抗をもつセラミック系の接
着剤からなる。
【0016】図5は本発明の第5実施例の静電チャック
10を示す図である。静電チャック10は、アルミニウ
ムの基板12と、円板状のセラミックの表面絶縁層14
とからなる。この表面絶縁層14は平坦な1つの円板状
の電極16あるいは2つの電極16a,16bを有す
る。電極16,16a,16bは導線により電源に接続
される。
【0017】この場合にも、表面絶縁層14は接着剤層
22により基板12に接着され、接着剤層22は表面絶
縁層14と同等の抵抗をもつセラミック系の接着剤から
なる。また、サイドシール24が表面絶縁層14と基板
12との間で接着剤層22を取り囲むように設けられ
る。サイドシール24は、この静電チャック10に保持
されたウエハをエッチングする際にエッチングされない
材料で形成されている。
【0018】図6は上記各実施例において、表面絶縁層
14が体積固有抵抗が1014Ωcm以上の高抵抗型のセラ
ミック(例えばAl2 3 ,MgO,SiO2 ,CaO
を含むもの)からなる場合を示す図である。接着剤層2
2も体積固有抵抗が1014Ωcm以上の表面絶縁層14と
同等の抵抗をもつようにする。この場合には、表面絶縁
層14及び接着剤層22の抵抗が非常に高いために、微
小な電流も流れず、表面絶縁層14及び接着剤層22に
電荷が蓄積されない。従って、電極16,16a,16
bへの通電を停止したときに、残留吸着作用は生じず、
通電停止と同時に静電チャック10の吸着力はなくなっ
てウエハを取り出すことができる。
【0019】図7は上記各実施例において、表面絶縁層
14が体積固有抵抗が108 Ωcmから1011Ωcmの範囲
にある低抵抗型のセラミック(例えばAl2 3 ,Mg
O,SiO2 ,CaO,TiO2 ,Cr2 2 を含むも
の)からなる場合を示す図である。接着剤層22も体積
固有抵抗が108 Ωcmから1011Ωcmの範囲にある表面
絶縁層14と同等の抵抗をもつようにする。
【0020】この場合には、表面絶縁層14及び接着剤
層22の抵抗が比較的に低いために、微小な電流が流
れ、表面絶縁層14及び接着剤層22に電荷が蓄積され
る。蓄積された電荷は吸着界面でジョンソンラーベック
力として作用し、ケーロン力と合わせて、強力な吸着力
を及ぼす。そして、通電を停止したときには、表面絶縁
層14及び接着剤層22の体積固有抵抗が108 Ωcmか
ら1011Ωcmの範囲にあると、微小な電流は比較的に流
れやすいので、蓄積されていた電荷が容易に抜けてい
き、残留吸着作用はほとんどない。
【0021】表面絶縁層14及び接着剤層22、または
それらの一方の体積固有抵抗が10 11Ωcmから1014Ω
cmの範囲にあると、微小な電流は流れることができて、
残留電荷が蓄積され、そして、通電を停止したときに
は、蓄積されていた電荷が抜けにくく、残留吸着作用が
生じる。図8は、温度と体積固有抵抗との関係を示す図
である。線Xは表面絶縁層14に使用されるセラミック
の性質の一例を示す図である。表面絶縁層14に使用さ
れるセラミックは、温度が高くなると体積固有抵抗が低
下する性質がある。従って、使用目的に応じてセラミッ
クの種類を選択する必要がある。体積固有抵抗が1014
Ωcm以上で、微小電流が流れない、高抵抗型のセラミッ
クは、低温領域で使用するのに適している。体積固有抵
抗が108 Ωcmから1011Ωcmの範囲にある、電荷の抜
けがいい、低高抵抗型のセラミックは、高温領域で使用
するのに適している。体積固有抵抗が108 Ωcmから1
11Ωcmの範囲にある場合には、電荷が残留しやすく、
残留吸着作用があるので、ウエハを静電チャックから取
り出す場合には、補助の離脱手段を使用する必要があ
る。
【0022】以上は本発明を半導体製造用の静電チャッ
クを例として説明したが、本発明は半導体製造用の静電
チャックに限定されるものではない。吸着するものとし
てはウエハに限定されるものでもない。例えば、ウエハ
に限らず、その他の物品を搬送する搬送手段や、加熱、
冷却装置等に設けた静電チャックとしてもよい。
【0023】
【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
残留吸着作用を低減でき、且つ長寿命の静電チャックを
得ることができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の実施例の静電チャックを示す断面図で
ある。
【図2】本発明の他の実施例の静電チャックを示す断面
図である。
【図3】本発明の他の実施例の静電チャックを示す断面
図である。
【図4】本発明の他の実施例の静電チャックを示す断面
図である。
【図5】本発明の他の実施例の静電チャックを示す断面
図である。
【図6】高抵抗型の表面絶縁層を使用した場合の静電チ
ャックを示す図である。
【図7】低抵抗型の表面絶縁層を使用した場合の静電チ
ャックを示す図である。
【図8】表面絶縁層を形成するセラミックの温度と抵抗
の関係を示す図である。
【符号の説明】
10…静電チャック 12…基板 14…表面絶縁層 16,16a,16b…電極 22…接着剤層

Claims (4)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 基板と、電極を有する表面絶縁層と、該
    表面絶縁層と該基板とを接着する接着剤層とを備え、該
    接着剤層は該表面絶縁層と同等の抵抗をもつセラミック
    系の接着剤からなることを特徴とする静電チャック。
  2. 【請求項2】 該表面絶縁層が高抵抗型のセラミックか
    らなり、該接着剤層が該表面絶縁層と同等の高い抵抗を
    もつことを特徴とする請求項1に記載の静電チャック。
  3. 【請求項3】 該表面絶縁層が低抵抗型のセラミックか
    らなり、該接着剤層が該表面絶縁層と同等の低い抵抗を
    もつことを特徴とする請求項1に記載の静電チャック。
  4. 【請求項4】 基板と、電極を有する表面絶縁層と、該
    表面絶縁層と該基板とを接着する接着剤層と、該表面絶
    縁層と該基板との間で該接着剤層を取り囲むシールとか
    らなることを特徴とする静電チャック。
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