JPH10148573A - 分光分析法及び分光分析装置 - Google Patents
分光分析法及び分光分析装置Info
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- JPH10148573A JPH10148573A JP8308336A JP30833696A JPH10148573A JP H10148573 A JPH10148573 A JP H10148573A JP 8308336 A JP8308336 A JP 8308336A JP 30833696 A JP30833696 A JP 30833696A JP H10148573 A JPH10148573 A JP H10148573A
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 分光器を使用せずに、しかも蛍光の影響を受
けずにラマン散乱を簡便に測定する。 【解決手段】 波長可変レーザ40を制御装置41で制
御して、試料Sに照射される単色光LBの波長を、第1
の波長と該第1の波長に対して一定の周波数差Δνexを
有する第2の波長との間で交互に波長を切換えながらが
ら波長掃引する。試料Sから発せられる光を、観察振動
数νobを透過する干渉フィルター44を通して光検出器
45で検出する。光検出器45の出力をロックイン増幅
器46で位相同期検波し、信号処理装置47で処理する
ことで試料Sのラマンスペクトルを得ることができる。
けずにラマン散乱を簡便に測定する。 【解決手段】 波長可変レーザ40を制御装置41で制
御して、試料Sに照射される単色光LBの波長を、第1
の波長と該第1の波長に対して一定の周波数差Δνexを
有する第2の波長との間で交互に波長を切換えながらが
ら波長掃引する。試料Sから発せられる光を、観察振動
数νobを透過する干渉フィルター44を通して光検出器
45で検出する。光検出器45の出力をロックイン増幅
器46で位相同期検波し、信号処理装置47で処理する
ことで試料Sのラマンスペクトルを得ることができる。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、試料を分光分析す
る方法及び装置に関し、特に試料から発せられる発光を
測定するための分光分析法及び分光分析装置に関する。
なお、本明細書では、試料から発せられる蛍光とラマン
散乱光を総称して発光という。
る方法及び装置に関し、特に試料から発せられる発光を
測定するための分光分析法及び分光分析装置に関する。
なお、本明細書では、試料から発せられる蛍光とラマン
散乱光を総称して発光という。
【0002】
【従来の技術】試料に振動数ν0 (光速をc、波長をλ
とするとき、ν0 =c/λ)のレーザ光を照射すると、
±Δνだけ入射光の振動数ν0 よりシフトした振動数成
分を有するラマン散乱光が得られる。入射光の振動数ν
0 とラマン散乱光の振動数の差±Δνはラマンシフトと
呼ばれる。ラマン線のうち入射光の振動数ν0 より振動
数の低いラマン線(ν0 −Δν)はストークス線と呼ば
れ、入射光の振動数ν0より振動数の高いのラマン線
(ν0 +Δν)はアンチストークス線と呼ばれる。ラマ
ン散乱は赤外吸収と同様に試料の分子振動の状態を反映
するものであるが、赤外吸収で観測できるのは双極子モ
ーメントの変化を伴う分子振動であるのに対し、ラマン
散乱は分極率の変化を伴う分子振動によって発生し、両
者は異なる情報を与える。また、水溶液試料に対する赤
外吸収分析は非常に困難であるのに対し、水のラマンス
ペクトルは弱いため、ラマン散乱を用いると水に溶解し
た試料の分析が容易になる利点がある。
とするとき、ν0 =c/λ)のレーザ光を照射すると、
±Δνだけ入射光の振動数ν0 よりシフトした振動数成
分を有するラマン散乱光が得られる。入射光の振動数ν
0 とラマン散乱光の振動数の差±Δνはラマンシフトと
呼ばれる。ラマン線のうち入射光の振動数ν0 より振動
数の低いラマン線(ν0 −Δν)はストークス線と呼ば
れ、入射光の振動数ν0より振動数の高いのラマン線
(ν0 +Δν)はアンチストークス線と呼ばれる。ラマ
ン散乱は赤外吸収と同様に試料の分子振動の状態を反映
するものであるが、赤外吸収で観測できるのは双極子モ
ーメントの変化を伴う分子振動であるのに対し、ラマン
散乱は分極率の変化を伴う分子振動によって発生し、両
者は異なる情報を与える。また、水溶液試料に対する赤
外吸収分析は非常に困難であるのに対し、水のラマンス
ペクトルは弱いため、ラマン散乱を用いると水に溶解し
た試料の分析が容易になる利点がある。
【0003】ラマン散乱は微弱であるため、ラマン散乱
の測定には、光源として高強度の単色光が得られるレー
ザが用いられる。また、ラマンスペクトル測定用の分光
器としては、非常に強度の強いレイリー散乱光からラマ
ン散乱光を分離するために、十分な分解能を有し迷光の
少ないモノクロメータとして、2個の回折格子を使用す
るダブルモノクロメータあるいは3個の回折格子を使用
するトリプルモノクロメータが使用される。検出器とし
ては、光電子増倍管を用い、分光器の回折格子を回動す
ることにより波長(波数)走査を行うタイプのものと、
オプチカルマルチチャンネルアナライザーを用い一度に
スペクトルを測定するタイプのものとがある。また、分
光器として干渉型分光器を用いたフーリエラマン分光法
も知られている。
の測定には、光源として高強度の単色光が得られるレー
ザが用いられる。また、ラマンスペクトル測定用の分光
器としては、非常に強度の強いレイリー散乱光からラマ
ン散乱光を分離するために、十分な分解能を有し迷光の
少ないモノクロメータとして、2個の回折格子を使用す
るダブルモノクロメータあるいは3個の回折格子を使用
するトリプルモノクロメータが使用される。検出器とし
ては、光電子増倍管を用い、分光器の回折格子を回動す
ることにより波長(波数)走査を行うタイプのものと、
オプチカルマルチチャンネルアナライザーを用い一度に
スペクトルを測定するタイプのものとがある。また、分
光器として干渉型分光器を用いたフーリエラマン分光法
も知られている。
【0004】ところで、入射光の振動数よりシフトした
振動数位置で検出される光としてラマン散乱光以外に蛍
光がある。蛍光は試料に混入した不純物から発生する場
合もあるが、試料そのものから発生する場合もあり、試
料から発生している場合には不純物を除去しても蛍光を
ゼロにすることはできない。しかも、一般に蛍光はラマ
ン散乱光に比較して強度が著しく強く、ラマン散乱光検
出の障害となる。
振動数位置で検出される光としてラマン散乱光以外に蛍
光がある。蛍光は試料に混入した不純物から発生する場
合もあるが、試料そのものから発生する場合もあり、試
料から発生している場合には不純物を除去しても蛍光を
ゼロにすることはできない。しかも、一般に蛍光はラマ
ン散乱光に比較して強度が著しく強く、ラマン散乱光検
出の障害となる。
【0005】蛍光の発生を抑制してラマン散乱光を測定
する方法として、励起光に蛍光のでない赤外領域の光、
例えばYAGレーザからの1.06μmの光を用いるこ
とが考えられるが、赤外励起ではラマン散乱光も弱くな
ってしまう。
する方法として、励起光に蛍光のでない赤外領域の光、
例えばYAGレーザからの1.06μmの光を用いるこ
とが考えられるが、赤外励起ではラマン散乱光も弱くな
ってしまう。
【0006】蛍光を分離したラマンスペクトルの測定法
の他の例として、特開昭49−59693号公報に、波
長が変調されたレーザ光を試料に照射し、レーザ光の照
射によって試料より発生した光を分光した後検出し、検
出された信号のうち交流成分のみを得る方法が記載され
ている。この方法は、入射レーザ光の波長をシフトさせ
たとき、ラマン散乱光の振動数は入射レーザ光の波長シ
フトに伴ってシフトするのに対し、蛍光の波長は入射レ
ーザ光の波長シフトによってはシフトしないことを利用
するものである。特開昭51−80282号公報、特開
昭53−39156号公報にも同様の技術が記載されて
いる。
の他の例として、特開昭49−59693号公報に、波
長が変調されたレーザ光を試料に照射し、レーザ光の照
射によって試料より発生した光を分光した後検出し、検
出された信号のうち交流成分のみを得る方法が記載され
ている。この方法は、入射レーザ光の波長をシフトさせ
たとき、ラマン散乱光の振動数は入射レーザ光の波長シ
フトに伴ってシフトするのに対し、蛍光の波長は入射レ
ーザ光の波長シフトによってはシフトしないことを利用
するものである。特開昭51−80282号公報、特開
昭53−39156号公報にも同様の技術が記載されて
いる。
【0007】また、特開昭49−60582号公報、特
公昭55−31893号公報には、試料から発せられる
ラマン散乱光の偏光解消度と蛍光の偏光解消度の相違を
利用して、蛍光の影響のないラマンスペクトルを得る方
法が記載されており、特公昭51−11511号公報に
は、ラマン散乱光と蛍光の寿命の差を利用してラマン散
乱光と蛍光とを分離することが記載されている。
公昭55−31893号公報には、試料から発せられる
ラマン散乱光の偏光解消度と蛍光の偏光解消度の相違を
利用して、蛍光の影響のないラマンスペクトルを得る方
法が記載されており、特公昭51−11511号公報に
は、ラマン散乱光と蛍光の寿命の差を利用してラマン散
乱光と蛍光とを分離することが記載されている。
【0008】
【発明が解決しようとする課題】ラマンスペクトルの測
定に当たっては、微弱なラマン散乱光をレイリー散乱か
ら分離して高分解能で測定するために、前述のようにダ
ブルモノクロメータやトリプルモノクロメータ等の分光
器が使用される。分光器の明るさは分解能と両立せず、
高分解能を要求すると明るさが犠牲となって測定に長時
間を要することになる。また、分光器は広いスペースを
占有し、使用にあたってはスリット幅、走査速度、時定
数の設定、波長較正など煩雑な作業が伴う。
定に当たっては、微弱なラマン散乱光をレイリー散乱か
ら分離して高分解能で測定するために、前述のようにダ
ブルモノクロメータやトリプルモノクロメータ等の分光
器が使用される。分光器の明るさは分解能と両立せず、
高分解能を要求すると明るさが犠牲となって測定に長時
間を要することになる。また、分光器は広いスペースを
占有し、使用にあたってはスリット幅、走査速度、時定
数の設定、波長較正など煩雑な作業が伴う。
【0009】また、ラマン分光において蛍光の影響を排
除することは重要な問題であるが、前記した従来のラマ
ン散乱光と蛍光とを分離する方法はいずれも分光手段と
して分光器を使用しており、同様の問題がある。本発明
は、このような従来技術の問題点に鑑みてなされたもの
で、分光器を使用せずに、しかも蛍光の影響を受けずに
ラマン散乱を簡便に測定できる方法及び装置を提供する
ことを目的とする。
除することは重要な問題であるが、前記した従来のラマ
ン散乱光と蛍光とを分離する方法はいずれも分光手段と
して分光器を使用しており、同様の問題がある。本発明
は、このような従来技術の問題点に鑑みてなされたもの
で、分光器を使用せずに、しかも蛍光の影響を受けずに
ラマン散乱を簡便に測定できる方法及び装置を提供する
ことを目的とする。
【0010】
【課題を解決するための手段】本発明においては、従来
の方法と同様に、励起レーザ光の波長をわずかに変える
とラマン散乱光はそれに応じて波長が変わるが、蛍光は
波長変化しないことを利用してラマン散乱光と蛍光を分
離する。ただし、ラマン散乱光を分光する手段として
は、分光器を使用せず、干渉フィルター等の狭帯域透過
フィルターを1枚だけ用いる。
の方法と同様に、励起レーザ光の波長をわずかに変える
とラマン散乱光はそれに応じて波長が変わるが、蛍光は
波長変化しないことを利用してラマン散乱光と蛍光を分
離する。ただし、ラマン散乱光を分光する手段として
は、分光器を使用せず、干渉フィルター等の狭帯域透過
フィルターを1枚だけ用いる。
【0011】図1及び図2を用いて本発明の原理を説明
する。図1は試料から蛍光が発生していない場合のラマ
ンスペクトルの模式図、図2はラマン線に蛍光が重なっ
たスペクトルの模式図である。
する。図1は試料から蛍光が発生していない場合のラマ
ンスペクトルの模式図、図2はラマン線に蛍光が重なっ
たスペクトルの模式図である。
【0012】図1(a)において、νexは励起光の振動
数であり、R1,R2,R3,R4はラマン線である。励起
光の振動数より高い振動数側にはアンチストークス線が
現れているが、ここでは励起光の振動数より低い振動数
側に現れるストークス線を用いて説明する。ラマン線R
1 は励起振動数νexから振動数Δν1 だけ低い振動数に
振動数シフトした位置に現れている。同様に、他のラマ
ン線R2 ,R3 ,R4も、励起光の振動数νexから各々
振動数Δν2 ,Δν3 ,Δν4 だけ低い振動数だけ振動
数シフトした位置に現れる。これらのラマンシフトΔν
1 ,Δν2 ,Δν3 ,Δν4 は物質に固有の量である。
数であり、R1,R2,R3,R4はラマン線である。励起
光の振動数より高い振動数側にはアンチストークス線が
現れているが、ここでは励起光の振動数より低い振動数
側に現れるストークス線を用いて説明する。ラマン線R
1 は励起振動数νexから振動数Δν1 だけ低い振動数に
振動数シフトした位置に現れている。同様に、他のラマ
ン線R2 ,R3 ,R4も、励起光の振動数νexから各々
振動数Δν2 ,Δν3 ,Δν4 だけ低い振動数だけ振動
数シフトした位置に現れる。これらのラマンシフトΔν
1 ,Δν2 ,Δν3 ,Δν4 は物質に固有の量である。
【0013】いま図1(b)に示すように、励起光の振
動数を例えばνexより高い振動数νex’に移動すると、
ラマン線R1 ,R2 ,R3 ,R4 は励起光の振動数
νex’に対する振動数シフト量Δν1 ,Δν2 ,Δ
ν3 ,Δν4 を一定に保ったまま同様に高い振動数側に
移動する。したがって、励起光の振動数を例えば高い振
動数側に掃引しながら、干渉フィルターなどの狭帯域透
過フィルターを用いて図1(a),(b)中に図示した
固定の観察振動数νobで試料からの散乱光を観察する
と、Δν=νex−νobがν1 ,ν2 ,ν3 ,ν4 となる
に従ってラマン線R1 ,R2 ,R3 ,R4 が順番に検出
されるため、図1(c)に示すようなラマンスペクトル
が得られる。
動数を例えばνexより高い振動数νex’に移動すると、
ラマン線R1 ,R2 ,R3 ,R4 は励起光の振動数
νex’に対する振動数シフト量Δν1 ,Δν2 ,Δ
ν3 ,Δν4 を一定に保ったまま同様に高い振動数側に
移動する。したがって、励起光の振動数を例えば高い振
動数側に掃引しながら、干渉フィルターなどの狭帯域透
過フィルターを用いて図1(a),(b)中に図示した
固定の観察振動数νobで試料からの散乱光を観察する
と、Δν=νex−νobがν1 ,ν2 ,ν3 ,ν4 となる
に従ってラマン線R1 ,R2 ,R3 ,R4 が順番に検出
されるため、図1(c)に示すようなラマンスペクトル
が得られる。
【0014】ところが、試料からラマン散乱光とともに
蛍光が発生している場合には、上記方法で励起光の振動
数を掃引し、固定の観察振動数νobで試料からの散乱光
を検出すると、図2(a)に実線で示すように、蛍光励
起スペクトルFLにラマン線R1 ,R2 ,R3 ,R4 が
乗ったスペクトルが得られる。
蛍光が発生している場合には、上記方法で励起光の振動
数を掃引し、固定の観察振動数νobで試料からの散乱光
を検出すると、図2(a)に実線で示すように、蛍光励
起スペクトルFLにラマン線R1 ,R2 ,R3 ,R4 が
乗ったスペクトルが得られる。
【0015】そこで、本発明では、励起レーザ光の振動
数を2つの振動数νex1 ,νex2 の間に高速でスイッチ
ングする。このときラマン線R1 ,R2 ,R3 ,R
4 は、励起振動数のスイッチングと同期して図2(a)
に示す実線位置と破線位置の間を移動する。一方、蛍光
は、励起振動数を高速スイッチングしてもほとんど変化
しない。したがって、励起レーザ光の振動数を2つの振
動数の間で高速スイッチングしながら例えば振動数の高
い側に掃引し、固定の観察振動数νobで検出される信号
を励起振動数のスイッチング信号で同期検波することに
より、図2(c)に示すようなラマンスペクトルを得る
ことができる。
数を2つの振動数νex1 ,νex2 の間に高速でスイッチ
ングする。このときラマン線R1 ,R2 ,R3 ,R
4 は、励起振動数のスイッチングと同期して図2(a)
に示す実線位置と破線位置の間を移動する。一方、蛍光
は、励起振動数を高速スイッチングしてもほとんど変化
しない。したがって、励起レーザ光の振動数を2つの振
動数の間で高速スイッチングしながら例えば振動数の高
い側に掃引し、固定の観察振動数νobで検出される信号
を励起振動数のスイッチング信号で同期検波することに
より、図2(c)に示すようなラマンスペクトルを得る
ことができる。
【0016】また、図2(a)のスペクトルから逆に図
2(b)に示したラマンスペクトルを除去すると、図2
(c)に示すような蛍光励起スペクトルFLが得られ
る。すなわち、本発明は、試料のラマンスペクトルを測
定するために利用することができるとともに、試料の精
密な蛍光励起スペクトルの測定のためにも利用すること
ができるものである。
2(b)に示したラマンスペクトルを除去すると、図2
(c)に示すような蛍光励起スペクトルFLが得られ
る。すなわち、本発明は、試料のラマンスペクトルを測
定するために利用することができるとともに、試料の精
密な蛍光励起スペクトルの測定のためにも利用すること
ができるものである。
【0017】ところで、このような方法でラマンスペク
トルを検出するためには、高速で振動(励起波長)をス
イッチングしながら広範囲にわたって振動数走査を行う
ことが可能な振動数可変レーザが不可欠である。このた
めには、本発明者が別途開発した、回転機構などの機械
的可動部分を設けることなしに電気的にレーザ発振波長
を制御して高速な波長掃引を可能とした電子制御型波長
可変レーザ〔以下、ETT(Electronically Tuned Tuna
ble)レーザという〕を用いることができる。
トルを検出するためには、高速で振動(励起波長)をス
イッチングしながら広範囲にわたって振動数走査を行う
ことが可能な振動数可変レーザが不可欠である。このた
めには、本発明者が別途開発した、回転機構などの機械
的可動部分を設けることなしに電気的にレーザ発振波長
を制御して高速な波長掃引を可能とした電子制御型波長
可変レーザ〔以下、ETT(Electronically Tuned Tuna
ble)レーザという〕を用いることができる。
【0018】ETTレーザは、レーザ共振器内に所定の
波長領域でレーザ発振可能なレーザ媒質と複屈折性音響
光学素子とを配置し、複屈折性音響光学素子により所定
の角度に回折された光線成分に対してのみレーザ共振器
を構成し、複屈折性音響光学素子中に励起する音響波の
周波数を選択することにより波長選択を行う波長可変レ
ーザであり、例えばチタンサファイアをレーザ媒質とし
た場合、680nm〜1100nmの波長範囲を1秒以
内の時間で波長掃引可能である。また、複屈折性音響光
学素子を用いて電気的に波長選択を行うため、波長切換
を瞬時に行うことができ、例えば任意の2波長の切換え
を1ms以下の時間で安定に行うことができる。本発明
は、この波長可変レーザの開発によって初めて実現可能
となったのである。
波長領域でレーザ発振可能なレーザ媒質と複屈折性音響
光学素子とを配置し、複屈折性音響光学素子により所定
の角度に回折された光線成分に対してのみレーザ共振器
を構成し、複屈折性音響光学素子中に励起する音響波の
周波数を選択することにより波長選択を行う波長可変レ
ーザであり、例えばチタンサファイアをレーザ媒質とし
た場合、680nm〜1100nmの波長範囲を1秒以
内の時間で波長掃引可能である。また、複屈折性音響光
学素子を用いて電気的に波長選択を行うため、波長切換
を瞬時に行うことができ、例えば任意の2波長の切換え
を1ms以下の時間で安定に行うことができる。本発明
は、この波長可変レーザの開発によって初めて実現可能
となったのである。
【0019】すなわち、本発明は、波長可変レーザから
の単色光を試料に照射し、試料から発せられる発光を測
定する分光分析法において、波長可変レーザとして、レ
ーザ共振器内に所定の波長領域でレーザ発振可能なレー
ザ媒質と複屈折性音響光学素子とを配置し、複屈折性音
響光学素子により回折される光線成分の所定の光軸上に
レーザ共振器を構成し、複屈折性音響光学素子中に励起
する音響波の周波数を選択することにより波長選択を行
う波長可変レーザ(ETTレーザ)を用い、試料から発
せられる一定波長の発光強度を測定することを特徴とす
る。
の単色光を試料に照射し、試料から発せられる発光を測
定する分光分析法において、波長可変レーザとして、レ
ーザ共振器内に所定の波長領域でレーザ発振可能なレー
ザ媒質と複屈折性音響光学素子とを配置し、複屈折性音
響光学素子により回折される光線成分の所定の光軸上に
レーザ共振器を構成し、複屈折性音響光学素子中に励起
する音響波の周波数を選択することにより波長選択を行
う波長可変レーザ(ETTレーザ)を用い、試料から発
せられる一定波長の発光強度を測定することを特徴とす
る。
【0020】また、本発明は、ETTレーザ等の波長可
変レーザからの単色光を試料に照射し、試料から発せら
れる発光を観測する分光分析法において、試料に照射さ
れる単色光の波長を高速掃引し、所定の波長において試
料から発せられる光を観測し、観測波長での発光励起ス
ペクトルを得ることを特徴とする。
変レーザからの単色光を試料に照射し、試料から発せら
れる発光を観測する分光分析法において、試料に照射さ
れる単色光の波長を高速掃引し、所定の波長において試
料から発せられる光を観測し、観測波長での発光励起ス
ペクトルを得ることを特徴とする。
【0021】また、本発明は、波長可変レーザからの単
色光を試料に照射し、試料から発せられる光を観測する
分光分析法において、試料に照射される単色光の波長
を、第1の波長と該第1の波長に対して一定の周波数差
を有する第2の波長との間で交互に波長を切換えながら
がら波長掃引し、第3の波長において試料から発せられ
る光を観測し、第3の波長における観測光のうち波長の
切り換えと同期して時間変化する成分をラマン散乱光と
して分離観察することを特徴とする。
色光を試料に照射し、試料から発せられる光を観測する
分光分析法において、試料に照射される単色光の波長
を、第1の波長と該第1の波長に対して一定の周波数差
を有する第2の波長との間で交互に波長を切換えながら
がら波長掃引し、第3の波長において試料から発せられ
る光を観測し、第3の波長における観測光のうち波長の
切り換えと同期して時間変化する成分をラマン散乱光と
して分離観察することを特徴とする。
【0022】このとき、第3の波長とともに該第3の波
長と異なる第4の波長において試料から発せられる光を
観測し、第3の波長及び第4の波長の周波数差に対する
相関性からラマン散乱光を精密に分離することもでき
る。波長切り換えによって時間的に変化しない成分は、
非ラマン成分として分離観察することができる。
長と異なる第4の波長において試料から発せられる光を
観測し、第3の波長及び第4の波長の周波数差に対する
相関性からラマン散乱光を精密に分離することもでき
る。波長切り換えによって時間的に変化しない成分は、
非ラマン成分として分離観察することができる。
【0023】波長可変レーザからの単色光を光ファイバ
ーを通して試料に照射し、試料から発せられる光を光フ
ァイバーを通して観測することで、試料の遠隔測定を行
うことが可能である。また、波長可変レーザからの単色
光を試料に対して相対的に走査することで、試料の2次
元領域における発光の分布を測定することができる。
ーを通して試料に照射し、試料から発せられる光を光フ
ァイバーを通して観測することで、試料の遠隔測定を行
うことが可能である。また、波長可変レーザからの単色
光を試料に対して相対的に走査することで、試料の2次
元領域における発光の分布を測定することができる。
【0024】本発明による分光分析装置は、試料に単色
光を照射するための波長可変レーザと、波長可変レーザ
の発振波長を第1の波長と該第1の波長に対して一定の
振動数差を有する第2の波長との間で波長を切り換えな
がら波長掃引するための波長制御手段と、第3の波長を
透過する狭帯域透過フィルターと、単色光の照射によっ
て試料から発せられ狭帯域透過フィルターを透過した第
3の波長の光を検出する光検出器と、光検出器の検出信
号を第1の波長と第2の波長の切り換え信号に位相同期
して検波するための位相同期検波手段とを備え、試料の
ラマンスペクトルを測定する機能を有することを特徴と
する。
光を照射するための波長可変レーザと、波長可変レーザ
の発振波長を第1の波長と該第1の波長に対して一定の
振動数差を有する第2の波長との間で波長を切り換えな
がら波長掃引するための波長制御手段と、第3の波長を
透過する狭帯域透過フィルターと、単色光の照射によっ
て試料から発せられ狭帯域透過フィルターを透過した第
3の波長の光を検出する光検出器と、光検出器の検出信
号を第1の波長と第2の波長の切り換え信号に位相同期
して検波するための位相同期検波手段とを備え、試料の
ラマンスペクトルを測定する機能を有することを特徴と
する。
【0025】また、本発明による分光分析装置は、試料
に単色光を照射するための波長可変レーザと、波長可変
レーザの発振波長を第1の波長と該第1の波長に対して
一定の振動数差を有する第2の波長との間で波長を切り
換えながら波長掃引するための波長制御手段と、第3の
波長を透過する第1の狭帯域透過フィルターと、第3の
波長と異なる第4の波長を透過する第2の狭帯域透過フ
ィルターと、単色光の照射によって試料から発せられ第
1の狭帯域透過フィルターを透過した光を検出する第1
の光検出器と、第2の狭帯域透過フィルターを透過した
光を検出する第2の光検出器と、第1及び第2の光検出
器の検出信号を第1の波長と第2の波長の切り換え信号
に位相同期して検波するための位相同期検波手段と、位
相同期検波手段の2つの位相同期検波信号を比較する比
較手段とを、試料のラマンスペクトルを測定する機能を
有することを特徴とする。
に単色光を照射するための波長可変レーザと、波長可変
レーザの発振波長を第1の波長と該第1の波長に対して
一定の振動数差を有する第2の波長との間で波長を切り
換えながら波長掃引するための波長制御手段と、第3の
波長を透過する第1の狭帯域透過フィルターと、第3の
波長と異なる第4の波長を透過する第2の狭帯域透過フ
ィルターと、単色光の照射によって試料から発せられ第
1の狭帯域透過フィルターを透過した光を検出する第1
の光検出器と、第2の狭帯域透過フィルターを透過した
光を検出する第2の光検出器と、第1及び第2の光検出
器の検出信号を第1の波長と第2の波長の切り換え信号
に位相同期して検波するための位相同期検波手段と、位
相同期検波手段の2つの位相同期検波信号を比較する比
較手段とを、試料のラマンスペクトルを測定する機能を
有することを特徴とする。
【0026】また、本発明による分光分析装置は、試料
に単色光を照射するための波長可変レーザと、波長可変
レーザの発振波長を第1の波長と該第1の波長に対して
一定の振動数差を有する第2の波長との間で波長を切り
換えながら波長掃引するための波長制御手段と、単色光
の照射によって試料から発せられた光を干渉分光する干
渉計と、干渉計の出力信号を波長制御手段の波長切り換
え信号に位相同期して検波するための位相同期検波手段
と、位相同期検波手段の出力をフーリエ変換する手段と
を備え、試料のラマンスペクトルを測定する機能を有す
ることを特徴とする。
に単色光を照射するための波長可変レーザと、波長可変
レーザの発振波長を第1の波長と該第1の波長に対して
一定の振動数差を有する第2の波長との間で波長を切り
換えながら波長掃引するための波長制御手段と、単色光
の照射によって試料から発せられた光を干渉分光する干
渉計と、干渉計の出力信号を波長制御手段の波長切り換
え信号に位相同期して検波するための位相同期検波手段
と、位相同期検波手段の出力をフーリエ変換する手段と
を備え、試料のラマンスペクトルを測定する機能を有す
ることを特徴とする。
【0027】本発明の分光分析装置に用いる波長可変レ
ーザは、レーザ共振器内に所定の波長領域でレーザ発振
可能なレーザ媒質と複屈折性音響光学素子とを配置し、
複屈折性音響光学素子により回折される光線成分の所定
の光軸上にレーザ共振器を構成し、複屈折性音響光学素
子中に励起する音響波の周波数を選択することにより波
長選択を行うレーザ、すなわちETTレーザとすると好
適である。
ーザは、レーザ共振器内に所定の波長領域でレーザ発振
可能なレーザ媒質と複屈折性音響光学素子とを配置し、
複屈折性音響光学素子により回折される光線成分の所定
の光軸上にレーザ共振器を構成し、複屈折性音響光学素
子中に励起する音響波の周波数を選択することにより波
長選択を行うレーザ、すなわちETTレーザとすると好
適である。
【0028】波長可変レーザと試料の間及び/又は試料
と光検出器の間を結ぶ光ファイバーを備えることで試料
の遠隔測定を行うことができる。また、波長可変レーザ
からの単色光を試料に対して相対的に走査する手段を備
えることにより、試料からの発光を2次元的に測定する
ことができる。
と光検出器の間を結ぶ光ファイバーを備えることで試料
の遠隔測定を行うことができる。また、波長可変レーザ
からの単色光を試料に対して相対的に走査する手段を備
えることにより、試料からの発光を2次元的に測定する
ことができる。
【0029】本発明によると、分光器を用いることな
く、干渉フィルターのように取り扱いの極めて簡易な狭
帯域透過フィルターを用いて、蛍光の影響を受けずにラ
マン散乱光を検出することができる。
く、干渉フィルターのように取り扱いの極めて簡易な狭
帯域透過フィルターを用いて、蛍光の影響を受けずにラ
マン散乱光を検出することができる。
【0030】
【発明の実施の形態】以下、図面を参照して本発明の実
施の形態を説明する。ところで、本発明について説明す
る前に、まず本発明で用いられ高速波長スイッチング可
能な波長可変レーザ(ETTレーザ)について説明す
る。複屈折性を示す音響光学結晶中に音響波を励起する
と、その結晶に入射された光の中で音響波の周波数に応
じた特定の波長の回折光は、音響波、入射光、回折光の
間の位相整合条件を満たす方向に強く回折される。図3
は、この回折の様子を示す概念図である。
施の形態を説明する。ところで、本発明について説明す
る前に、まず本発明で用いられ高速波長スイッチング可
能な波長可変レーザ(ETTレーザ)について説明す
る。複屈折性を示す音響光学結晶中に音響波を励起する
と、その結晶に入射された光の中で音響波の周波数に応
じた特定の波長の回折光は、音響波、入射光、回折光の
間の位相整合条件を満たす方向に強く回折される。図3
は、この回折の様子を示す概念図である。
【0031】いま、TeO2 結晶などの複屈折性を示す
音響光学結晶に圧電素子22を取り付けた複屈折性音響
光学素子100中に、角周波数ωiの入射光102を入
射するものとする。さらに、圧電素子22により複屈折
性音響光学素子100中に角周波数ωaの音響波104
を励起すると、入射光102と音響波104との相互作
用により、次の〔数1〕で表される角周波数ωoに周波
数シフトした回折光106が得られる。なお、入射光1
02は異常光線、回折光106は常光線であり、回折光
106の偏光面は入射光102の偏光面と直交してい
る。108は非回折光である。
音響光学結晶に圧電素子22を取り付けた複屈折性音響
光学素子100中に、角周波数ωiの入射光102を入
射するものとする。さらに、圧電素子22により複屈折
性音響光学素子100中に角周波数ωaの音響波104
を励起すると、入射光102と音響波104との相互作
用により、次の〔数1〕で表される角周波数ωoに周波
数シフトした回折光106が得られる。なお、入射光1
02は異常光線、回折光106は常光線であり、回折光
106の偏光面は入射光102の偏光面と直交してい
る。108は非回折光である。
【0032】
【数1】ωo=ωi+ωa
【0033】ただし、ωa≪ωi,ωoであり、ωi≒
ωoとみなして差し支えない。このとき入射光102の
波数ベクトルをki、音響波104の波数ベクトルをk
a、回折光106の波数ベクトルをkoとするとき、位
相整合条件より次の〔数2〕で表されるベクトル式が成
立する。
ωoとみなして差し支えない。このとき入射光102の
波数ベクトルをki、音響波104の波数ベクトルをk
a、回折光106の波数ベクトルをkoとするとき、位
相整合条件より次の〔数2〕で表されるベクトル式が成
立する。
【0034】
【数2】ko=ki+ka
【0035】図4は、複屈折性音響光学素子100中を
伝播する常光線のkベクトルと、異常光線のkベクトル
の関係を表示したものである。常光線に対するkベクト
ルの大きさは進行方向によらず一定であり、kベクトル
の終点の軌跡は円になる。一方、異常光線に対するkベ
クトルの大きさは複屈折性音響光学素子100の結晶軸
に対する伝播角度によって変化し、kベクトルの終点の
軌跡は楕円形になる。このkベクトルの軌跡によって形
成される円又は楕円は、波長を変えるとほぼ相似的に拡
大又は縮小変化する。図4(a)は、波長λ1 において
〔数2〕の位相整合条件が成立している状態を示してい
る。図中、Vaは結晶中を伝わる音響波104の速度で
あり、音響波104の波数ベクトルkaの大きさは|ω
a/Va|である。
伝播する常光線のkベクトルと、異常光線のkベクトル
の関係を表示したものである。常光線に対するkベクト
ルの大きさは進行方向によらず一定であり、kベクトル
の終点の軌跡は円になる。一方、異常光線に対するkベ
クトルの大きさは複屈折性音響光学素子100の結晶軸
に対する伝播角度によって変化し、kベクトルの終点の
軌跡は楕円形になる。このkベクトルの軌跡によって形
成される円又は楕円は、波長を変えるとほぼ相似的に拡
大又は縮小変化する。図4(a)は、波長λ1 において
〔数2〕の位相整合条件が成立している状態を示してい
る。図中、Vaは結晶中を伝わる音響波104の速度で
あり、音響波104の波数ベクトルkaの大きさは|ω
a/Va|である。
【0036】ここで、複屈折性音響光学素子100中に
励起する音響波104の周波数ωa、従って波数ベクト
ルkaの大きさを変えると、波長λ1 では〔数2〕の位
相整合条件が成立しなくなる。このとき位相整合条件が
成立するのは、図4(b)に示すように、波長λ2 にな
る。このように、位相整合条件を満たす光の波長λと音
響波の角周波数ωaとは一対一で対応している。
励起する音響波104の周波数ωa、従って波数ベクト
ルkaの大きさを変えると、波長λ1 では〔数2〕の位
相整合条件が成立しなくなる。このとき位相整合条件が
成立するのは、図4(b)に示すように、波長λ2 にな
る。このように、位相整合条件を満たす光の波長λと音
響波の角周波数ωaとは一対一で対応している。
【0037】前述のように、kベクトルの軌跡の終点を
結んだ円又は楕円の大きさは波長によって変化するが、
その形はほとんど変化しない。したがって、波長がλ1
からλ2 に変化して、これにより入射光102と回折光
106のベクトルki,koの大きさが変わっても相似
形となるため、ベクトル(ko1−ki1)とベクトル
(ko2−ki2)の向きは平行となる。この結果、ka
1=ko1−ki1,ka2=ko2−ki2のベクトルをも
つ音響波を音響周波数を変えるだけで入力できる。
結んだ円又は楕円の大きさは波長によって変化するが、
その形はほとんど変化しない。したがって、波長がλ1
からλ2 に変化して、これにより入射光102と回折光
106のベクトルki,koの大きさが変わっても相似
形となるため、ベクトル(ko1−ki1)とベクトル
(ko2−ki2)の向きは平行となる。この結果、ka
1=ko1−ki1,ka2=ko2−ki2のベクトルをも
つ音響波を音響周波数を変えるだけで入力できる。
【0038】複屈折性音響光学素子100から出射した
波数ベクトルkoの光を、反射ミラー110で反射させ
て、複屈折性音響光学素子100中に逆方向から入射さ
せると、図2(c)に示すように、戻ってきた光はまた
音響波により回折され、再び入射光kiと逆向きに進む
−kiとなって入射光の光路を逆に辿る。
波数ベクトルkoの光を、反射ミラー110で反射させ
て、複屈折性音響光学素子100中に逆方向から入射さ
せると、図2(c)に示すように、戻ってきた光はまた
音響波により回折され、再び入射光kiと逆向きに進む
−kiとなって入射光の光路を逆に辿る。
【0039】したがって、レーザ媒質14及び複屈折性
音響光学素子100を挟んで、例えば図5に示すよう
に、全反射ミラー110と所定の透過率を有する出射側
ミラー112を配置すると、全反射ミラー110と出射
側ミラー112により両者の間を特定の波長成分のみを
もつ光のみが往復するレーザ共振器が構成される。回折
光106の波長λoは、複屈折性音響光学素子100中
に発生される音響波104の周波数ωaを変えるとka
が変わり、kiが選択される結果、波長λi=2π/|
ki|が決まる。したがって、複屈折性音響光学素子1
00に取り付けられた圧電素子22をRF電源20から
の所定周波数のRF信号で駆動することにより、レーザ
発振波長λiの制御が可能となる。
音響光学素子100を挟んで、例えば図5に示すよう
に、全反射ミラー110と所定の透過率を有する出射側
ミラー112を配置すると、全反射ミラー110と出射
側ミラー112により両者の間を特定の波長成分のみを
もつ光のみが往復するレーザ共振器が構成される。回折
光106の波長λoは、複屈折性音響光学素子100中
に発生される音響波104の周波数ωaを変えるとka
が変わり、kiが選択される結果、波長λi=2π/|
ki|が決まる。したがって、複屈折性音響光学素子1
00に取り付けられた圧電素子22をRF電源20から
の所定周波数のRF信号で駆動することにより、レーザ
発振波長λiの制御が可能となる。
【0040】また、回折光106の回折効率は複屈折性
音響光学素子100中に励起された音響波の強度によっ
て決定されるので、RF電源20から出力されるRF信
号の振幅を制御することにより回折光106の強度、し
たがってレーザ出力を可変制御することができる。
音響光学素子100中に励起された音響波の強度によっ
て決定されるので、RF電源20から出力されるRF信
号の振幅を制御することにより回折光106の強度、し
たがってレーザ出力を可変制御することができる。
【0041】上では、kベクトルの軌跡の終点を結んだ
円又は楕円の形は波長によってほとんど変化しないと述
べたが、実際には僅かに変化する。そのため、回折角も
波長によって僅かに変化して、全反射ミラー110と部
分透過ミラー112によって構成される共振器の条件が
変化し、出射レーザ光の方向が僅かに変化する。この回
折角の波長依存性は、複屈折性音響光学素子100と全
反射ミラー110の間にプリズム等の波長分散補正素子
28を配置することで補償することができ、全ての波長
で出射レーザ光の方向を一定にすることができる。
円又は楕円の形は波長によってほとんど変化しないと述
べたが、実際には僅かに変化する。そのため、回折角も
波長によって僅かに変化して、全反射ミラー110と部
分透過ミラー112によって構成される共振器の条件が
変化し、出射レーザ光の方向が僅かに変化する。この回
折角の波長依存性は、複屈折性音響光学素子100と全
反射ミラー110の間にプリズム等の波長分散補正素子
28を配置することで補償することができ、全ての波長
で出射レーザ光の方向を一定にすることができる。
【0042】レーザ媒質14と複屈折性音響光学素子1
00の間に配置されたテレスコープ30は、ビーム径調
節用のものであり、複屈折性音響光学素子100にはテ
レスコープ30によって径を拡大された平行光が通過す
る。この配置によると、レーザ共振器を往復する光はレ
ーザ媒質14中を収束した光強度の高い光線として通過
するため、レーザ効率を低下させることがない。一方、
複屈折性音響光学素子100の位置では単位面積当たり
に照射される光強度が低下するため、複屈折性音響光学
素子100の光損傷を抑止することができる。
00の間に配置されたテレスコープ30は、ビーム径調
節用のものであり、複屈折性音響光学素子100にはテ
レスコープ30によって径を拡大された平行光が通過す
る。この配置によると、レーザ共振器を往復する光はレ
ーザ媒質14中を収束した光強度の高い光線として通過
するため、レーザ効率を低下させることがない。一方、
複屈折性音響光学素子100の位置では単位面積当たり
に照射される光強度が低下するため、複屈折性音響光学
素子100の光損傷を抑止することができる。
【0043】レーザ媒質としては、Ti:Al2O3、L
iSAF、LiCAF等のレーザ結晶、色素溶液など既
知のいずれの波長可変レーザ媒質も用いることができ
る。このETTレーザは、励起レーザ源として連続発振
レーザ(CWレーザ)を用いることにより連続発振レー
ザとすることも、励起レーザ源としてパルスレーザを用
いることによりパルス発振レーザとすることもできる。
例えばレーザ媒質としてTi:Al2O3を用いた場合に
は、Nd:YAGレーザ、Nd:YLFレーザ、Nd:
YVO4 レーザなどのNd固体レーザの第2高調波及び
アルゴンイオンレーザを用いることができ、レーザ媒質
としてLiSAFレーザ結晶、LiCAFレーザ結晶な
どを用いた場合には半導体レーザやクリプトンイオンレ
ーザを用いることができる。
iSAF、LiCAF等のレーザ結晶、色素溶液など既
知のいずれの波長可変レーザ媒質も用いることができ
る。このETTレーザは、励起レーザ源として連続発振
レーザ(CWレーザ)を用いることにより連続発振レー
ザとすることも、励起レーザ源としてパルスレーザを用
いることによりパルス発振レーザとすることもできる。
例えばレーザ媒質としてTi:Al2O3を用いた場合に
は、Nd:YAGレーザ、Nd:YLFレーザ、Nd:
YVO4 レーザなどのNd固体レーザの第2高調波及び
アルゴンイオンレーザを用いることができ、レーザ媒質
としてLiSAFレーザ結晶、LiCAFレーザ結晶な
どを用いた場合には半導体レーザやクリプトンイオンレ
ーザを用いることができる。
【0044】レーザ媒質内の、励起レーザによる励起体
積とレーザ共振器内の光モード体積とを整合させるよう
にして効率を高め、励起入力を低くすることにより、出
力の高くとれない高繰り返しパルス励起レーザや連続発
振レーザも励起レーザに利用できる。例えば、レーザ共
振器をZホールド型のレーザ共振器やXホールド型のレ
ーザ共振器とし、レーザ共振器内の光路に沿って励起レ
ーザ光を導入することで、励起光を効率よく利用して低
エネルギーの励起光でレーザ発振を生じさせることがで
きる。
積とレーザ共振器内の光モード体積とを整合させるよう
にして効率を高め、励起入力を低くすることにより、出
力の高くとれない高繰り返しパルス励起レーザや連続発
振レーザも励起レーザに利用できる。例えば、レーザ共
振器をZホールド型のレーザ共振器やXホールド型のレ
ーザ共振器とし、レーザ共振器内の光路に沿って励起レ
ーザ光を導入することで、励起光を効率よく利用して低
エネルギーの励起光でレーザ発振を生じさせることがで
きる。
【0045】図6は、Zホールド型のレーザ共振器を用
いたETTレーザの例を示す概略図である。Zホールド
型のレーザ共振器は所定の透過率を有する出射側ミラー
112と全反射ミラー110を備える。さらに、励起レ
ーザ光Aを入射させるとともに出射側ミラー112と全
反射ミラー110との間を往復する光Bを反射する第1
中間ミラー37と、出射側ミラー112と全反射ミラー
110との間を往復する光Bを反射する第2中間ミラー
38を備えており、レーザ共振器内を往復する光Bの光
路はアルファベットのZ字形状とされる。
いたETTレーザの例を示す概略図である。Zホールド
型のレーザ共振器は所定の透過率を有する出射側ミラー
112と全反射ミラー110を備える。さらに、励起レ
ーザ光Aを入射させるとともに出射側ミラー112と全
反射ミラー110との間を往復する光Bを反射する第1
中間ミラー37と、出射側ミラー112と全反射ミラー
110との間を往復する光Bを反射する第2中間ミラー
38を備えており、レーザ共振器内を往復する光Bの光
路はアルファベットのZ字形状とされる。
【0046】励起レーザ32によって発生された励起レ
ーザ光Aは、全反射ミラー34により全反射集光ミラー
36に反射され、全反射集光ミラー36により集光され
て第1中間ミラー37を介してレーザ媒質14を縦方向
同軸励起するように入射される。出射側ミラー112か
ら出射させたい出射レーザ光Cの波長(周波数ωi)に
応じて、RF電源20の周波数ωaをパーソナル・コン
ピュータ26により制御し、圧電素子22を駆動する。
ーザ光Aは、全反射ミラー34により全反射集光ミラー
36に反射され、全反射集光ミラー36により集光され
て第1中間ミラー37を介してレーザ媒質14を縦方向
同軸励起するように入射される。出射側ミラー112か
ら出射させたい出射レーザ光Cの波長(周波数ωi)に
応じて、RF電源20の周波数ωaをパーソナル・コン
ピュータ26により制御し、圧電素子22を駆動する。
【0047】このようにすると、レーザ媒質14から出
射して複屈折性音響光学素子100に入射された広範囲
の波長帯域の光の中で、RF電源20の周波数に応じた
波長の光は、複屈折性音響光学素子100で回折光D
(周波数ωo)として回折される。この回折光Dは、回
折角の波長分散補正用プリズム28を介して全反射ミラ
ー110に垂直入射し、全反射ミラー110で反射され
てZ字形状の光路を辿ってレーザ共振器内を往復する
(レーザ媒質14の位置では角周波数ωi)。したがっ
て、RF電源20の周波数に応じた波長の光のみが増幅
されてレーザ発振し、レーザ共振器から当該波長の出射
レーザ光C(周波数ωi)を出射させる。
射して複屈折性音響光学素子100に入射された広範囲
の波長帯域の光の中で、RF電源20の周波数に応じた
波長の光は、複屈折性音響光学素子100で回折光D
(周波数ωo)として回折される。この回折光Dは、回
折角の波長分散補正用プリズム28を介して全反射ミラ
ー110に垂直入射し、全反射ミラー110で反射され
てZ字形状の光路を辿ってレーザ共振器内を往復する
(レーザ媒質14の位置では角周波数ωi)。したがっ
て、RF電源20の周波数に応じた波長の光のみが増幅
されてレーザ発振し、レーザ共振器から当該波長の出射
レーザ光C(周波数ωi)を出射させる。
【0048】図7は、図6に示したETTレーザの波長
可変特性を示すものである。レーザ媒質14としてT
i:Al2O3結晶を用い、励起レーザ32としてCW−
QスイッチパルスNd:YLFレーザを用い、その第2
高調波を励起レーザ光Aとして用いた。励起レーザ光A
の波長は523nm、パルスの繰り返し周波数は1kH
z、1パルス当たりの出力は100μJとした。また、
全反射集光ミラー36の直径は200mmとし、第1中
間ミラー37及び第2中間ミラー38の半径は100m
mとし、出射側ミラー112を反射率97%(透過率3
%)とした。レーザ媒質14で励起領域と共振器モード
径は数十μmまで絞られ、全反射集光ミラー36により
この領域に励起レーザ光Aを集光することによって、励
起効率の向上が図られる。図7から明らかなように、波
長可変域は約740nm〜約870nmである。回折角
の波長分散補正用プリズム28を設けたことにより、レ
ーザの波長同調時に観測されるビームの振れは、観測限
界以下であった。
可変特性を示すものである。レーザ媒質14としてT
i:Al2O3結晶を用い、励起レーザ32としてCW−
QスイッチパルスNd:YLFレーザを用い、その第2
高調波を励起レーザ光Aとして用いた。励起レーザ光A
の波長は523nm、パルスの繰り返し周波数は1kH
z、1パルス当たりの出力は100μJとした。また、
全反射集光ミラー36の直径は200mmとし、第1中
間ミラー37及び第2中間ミラー38の半径は100m
mとし、出射側ミラー112を反射率97%(透過率3
%)とした。レーザ媒質14で励起領域と共振器モード
径は数十μmまで絞られ、全反射集光ミラー36により
この領域に励起レーザ光Aを集光することによって、励
起効率の向上が図られる。図7から明らかなように、波
長可変域は約740nm〜約870nmである。回折角
の波長分散補正用プリズム28を設けたことにより、レ
ーザの波長同調時に観測されるビームの振れは、観測限
界以下であった。
【0049】図8は、本発明による分光分析装置の一例
の概略構成図である。波長可変レーザ40から発生され
た単色レーザビームLBは、試料Sに入射される。試料
Sから発生された散乱光は、コリメータレンズ43で平
行光とされたのち、振動数νobを中心とする狭帯域の振
動数のみを透過させる干渉フィルター等の狭帯域透過フ
ィルター44に入射する。狭帯域透過フィルター44を
透過した光線は、光電子増倍管等の光検出器45で検出
される。光検出器45の出力は、ロックイン増幅器46
に供給される。ロックイン増幅器46の出力は信号処理
装置47に供給され、信号処理された結果はCRT等の
表示装置48に表示される。
の概略構成図である。波長可変レーザ40から発生され
た単色レーザビームLBは、試料Sに入射される。試料
Sから発生された散乱光は、コリメータレンズ43で平
行光とされたのち、振動数νobを中心とする狭帯域の振
動数のみを透過させる干渉フィルター等の狭帯域透過フ
ィルター44に入射する。狭帯域透過フィルター44を
透過した光線は、光電子増倍管等の光検出器45で検出
される。光検出器45の出力は、ロックイン増幅器46
に供給される。ロックイン増幅器46の出力は信号処理
装置47に供給され、信号処理された結果はCRT等の
表示装置48に表示される。
【0050】一方、波長可変レーザ40は、制御装置4
1の制御を受けて第1の振動数νex1 と、第1の振動数
νex1 に対して一定の振動数差Δνexを有する第2の振
動数νex2 の2つの振動数で交互に発振するように波長
スイッチングされる。この第1の振動数νex1 及び第2
の振動数νex2 は、一定の振動数差Δνexを保ったまま
高振動数側あるいは低振動数側に掃引される。第1の振
動数νex1 と第2の振動数νex2 の振動数差Δνexは任
意の値でよいが、通常はラマンスペクトル幅よりわずか
に広くなるように選定されている。制御装置41からの
制御信号は、またロックイン増幅器46に同期信号とし
て入力される。
1の制御を受けて第1の振動数νex1 と、第1の振動数
νex1 に対して一定の振動数差Δνexを有する第2の振
動数νex2 の2つの振動数で交互に発振するように波長
スイッチングされる。この第1の振動数νex1 及び第2
の振動数νex2 は、一定の振動数差Δνexを保ったまま
高振動数側あるいは低振動数側に掃引される。第1の振
動数νex1 と第2の振動数νex2 の振動数差Δνexは任
意の値でよいが、通常はラマンスペクトル幅よりわずか
に広くなるように選定されている。制御装置41からの
制御信号は、またロックイン増幅器46に同期信号とし
て入力される。
【0051】図9(a)は、波長可変レーザ40の出力
を模式的に示した図である。横軸は時間軸である。図示
するように、波長可変レーザ40は制御装置41による
制御を受けて第1の振動数νex1 と第2の振動数νex2
(=νex1+Δνex)で交互にレーザ発振する。本発明
で用いる波長可変レーザ40は、1ms程度の波長スイ
ッチング周波数f(=1/t)で2波長を切り換えるこ
とが可能である。
を模式的に示した図である。横軸は時間軸である。図示
するように、波長可変レーザ40は制御装置41による
制御を受けて第1の振動数νex1 と第2の振動数νex2
(=νex1+Δνex)で交互にレーザ発振する。本発明
で用いる波長可変レーザ40は、1ms程度の波長スイ
ッチング周波数f(=1/t)で2波長を切り換えるこ
とが可能である。
【0052】図9(b)は、検出器45の出力信号を模
式的に示した図である。検出器45によって測定される
光は、狭帯域透過フィルター44を透過した第3の振動
数νob(固定振動数)を中心とする狭帯域の散乱光成分
である。検出器45の検出出力I1 は、第1の振動数ν
ex1 のレーザ光LBで照射されたとき試料Sから発生さ
れた散乱光検出信号に対応し、検出信号I2 は第2の振
動数νex2 のレーザ光LBで照射されたとき試料Sから
発生された散乱光検出信号に対応する。
式的に示した図である。検出器45によって測定される
光は、狭帯域透過フィルター44を透過した第3の振動
数νob(固定振動数)を中心とする狭帯域の散乱光成分
である。検出器45の検出出力I1 は、第1の振動数ν
ex1 のレーザ光LBで照射されたとき試料Sから発生さ
れた散乱光検出信号に対応し、検出信号I2 は第2の振
動数νex2 のレーザ光LBで照射されたとき試料Sから
発生された散乱光検出信号に対応する。
【0053】励起光の振動数が第1の振動数νex1 と第
2の振動数νex2 の間で変化するとき、狭帯域透過フィ
ルター44を透過して光検出器45で受光される蛍光強
度はほとんど変化しないため、検出出力I1 に対する蛍
光の寄与分と検出出力I2 に対する蛍光の寄与分は等し
い。一方、ラマン散乱光の振動数は、図2(a)に示し
たように励起光の振動数変化に応じて変化し、例えば第
1の振動数νex1 のレーザ光LBで励起したときラマン
線の振動数がちょうど観察振動数νobに合致していて検
出器55で検出されたとしても、第2の振動数νex2 の
レーザ光LBで励起した際には、Δνexがラマンスペク
トル幅より大きく、ラマン線の振動数は観察振動数νob
から外れるため検出器45で検出されなくなる。すなわ
ち、ラマン散乱光は検出出力I1 には寄与しているが、
検出出力I2 には寄与していない。したがって、図9
(b)に略示するように、周波数f/2の信号成分をロ
ックイン増幅器46で位相同期検波することにより、検
出器45の検出信号からラマン成分を分離して計測する
ことができる。
2の振動数νex2 の間で変化するとき、狭帯域透過フィ
ルター44を透過して光検出器45で受光される蛍光強
度はほとんど変化しないため、検出出力I1 に対する蛍
光の寄与分と検出出力I2 に対する蛍光の寄与分は等し
い。一方、ラマン散乱光の振動数は、図2(a)に示し
たように励起光の振動数変化に応じて変化し、例えば第
1の振動数νex1 のレーザ光LBで励起したときラマン
線の振動数がちょうど観察振動数νobに合致していて検
出器55で検出されたとしても、第2の振動数νex2 の
レーザ光LBで励起した際には、Δνexがラマンスペク
トル幅より大きく、ラマン線の振動数は観察振動数νob
から外れるため検出器45で検出されなくなる。すなわ
ち、ラマン散乱光は検出出力I1 には寄与しているが、
検出出力I2 には寄与していない。したがって、図9
(b)に略示するように、周波数f/2の信号成分をロ
ックイン増幅器46で位相同期検波することにより、検
出器45の検出信号からラマン成分を分離して計測する
ことができる。
【0054】ラマンスペクトルを測定するには、周波数
可変レーザ40から発生される単色レーザビームLBの
振動数を、第1の振動数νex1 と第2の振動数νex2 の
振動数差Δνex(=νex1−νex2)を一定に保って2つ
の振動数で交互にスイッチングしながら振動数の高い方
向又は振動数の低い方向に連続して掃引する。
可変レーザ40から発生される単色レーザビームLBの
振動数を、第1の振動数νex1 と第2の振動数νex2 の
振動数差Δνex(=νex1−νex2)を一定に保って2つ
の振動数で交互にスイッチングしながら振動数の高い方
向又は振動数の低い方向に連続して掃引する。
【0055】図10は、このような振動数掃引を行った
ときロックイン増幅器46から得られた出力を模式的に
示した図である。あるストークス線のラマンシフトをΔ
νRとすると、νex1 又はνex2 の励起でνobのラマン
線が観測されるとき、次の〔数3〕の関係を満たす。
ときロックイン増幅器46から得られた出力を模式的に
示した図である。あるストークス線のラマンシフトをΔ
νRとすると、νex1 又はνex2 の励起でνobのラマン
線が観測されるとき、次の〔数3〕の関係を満たす。
【0056】
【数3】ΔνR=νex1−νob, ΔνR=νex2−νob
【0057】したがって、波長可変レーザ40の振動数
を掃引し、振動数νex1 又はνex2が上記〔数3〕の共
鳴関係を満たすとき、大きなラマン信号ΔIが得られ
る。位相同期検波するロックイン増幅器46の設定によ
り、振動数νex1 が共鳴しているときにはΔI>0、振
動数νex2 が共鳴しているときにはΔI<0となるもの
とすると、図10中の正のピークP2 ,P4 ,P6 ,P
8 は、νex1 の共鳴に基づくピークであり、負のピーク
P1 ,P3 ,P5 ,P7 はνex2 の共鳴に基づくピーク
である。1つのラマン線に対してロックイン増幅器46
からは一定の振動数差Δνex(=νex1−νex2)をもっ
て出現する正と負の一対のピークが得られ、異なるラマ
ン線に対して同様のピーク対(P1,P2),(P3,
P4),(P5,P6),(P7,P8)が得られる。
を掃引し、振動数νex1 又はνex2が上記〔数3〕の共
鳴関係を満たすとき、大きなラマン信号ΔIが得られ
る。位相同期検波するロックイン増幅器46の設定によ
り、振動数νex1 が共鳴しているときにはΔI>0、振
動数νex2 が共鳴しているときにはΔI<0となるもの
とすると、図10中の正のピークP2 ,P4 ,P6 ,P
8 は、νex1 の共鳴に基づくピークであり、負のピーク
P1 ,P3 ,P5 ,P7 はνex2 の共鳴に基づくピーク
である。1つのラマン線に対してロックイン増幅器46
からは一定の振動数差Δνex(=νex1−νex2)をもっ
て出現する正と負の一対のピークが得られ、異なるラマ
ン線に対して同様のピーク対(P1,P2),(P3,
P4),(P5,P6),(P7,P8)が得られる。
【0058】信号処理装置47は、ロックイン増幅器4
6から出力された正の信号ピーク列P2 ,P4 ,P6 ,
P8 を、観察振動数νobと各ピークが出現したときの励
起振動数νex1 との差Δν(=νob−νex1 )を横軸に
とって配列し直したものを試料Sのラマンスペクトルと
して表示装置48に表示する。正の信号ピーク列の代わ
りに負の信号ピーク列P1 ,P3 ,P5 ,P7 に対して
同様の処理を施しても同じラマンスペクトルを得ること
ができる。さらに、信号処理装置47において、正の信
号ピーク列P2 ,P4 ,P6 ,P8 から得られたラマン
スペクトルの波形と信号ピーク列P1 ,P3 ,P5 ,P
7 から得られたラマンスペクトルの波形とを比較し、両
方の波形が重なり合う部分のみをラマンスペクトルとし
て表示装置48に出力することもできる。この場合、2
つのスペクトル波形が重ならない部分はノイズとみなす
ことができる。
6から出力された正の信号ピーク列P2 ,P4 ,P6 ,
P8 を、観察振動数νobと各ピークが出現したときの励
起振動数νex1 との差Δν(=νob−νex1 )を横軸に
とって配列し直したものを試料Sのラマンスペクトルと
して表示装置48に表示する。正の信号ピーク列の代わ
りに負の信号ピーク列P1 ,P3 ,P5 ,P7 に対して
同様の処理を施しても同じラマンスペクトルを得ること
ができる。さらに、信号処理装置47において、正の信
号ピーク列P2 ,P4 ,P6 ,P8 から得られたラマン
スペクトルの波形と信号ピーク列P1 ,P3 ,P5 ,P
7 から得られたラマンスペクトルの波形とを比較し、両
方の波形が重なり合う部分のみをラマンスペクトルとし
て表示装置48に出力することもできる。この場合、2
つのスペクトル波形が重ならない部分はノイズとみなす
ことができる。
【0059】図11は、散乱光を2種類の振動数で観察
することにより、ラマンスペクトルの測定精度を更に上
げた分光分析装置の例を示す概略構成図である。ETT
レーザ等の波長可変レーザ40は、制御装置41の制御
を受けて第1の振動数νex1 と、第2の振動数νex2 で
交互に発振する。第2の振動数νex2 は、第1の振動数
νex1 に対して一定の振動数差Δνexを有し、第1の振
動数νex1 及び第2の振動数νex2 は、一定の振動数差
Δνexを保ったまま高振動数側あるいは低振動数側に掃
引される。
することにより、ラマンスペクトルの測定精度を更に上
げた分光分析装置の例を示す概略構成図である。ETT
レーザ等の波長可変レーザ40は、制御装置41の制御
を受けて第1の振動数νex1 と、第2の振動数νex2 で
交互に発振する。第2の振動数νex2 は、第1の振動数
νex1 に対して一定の振動数差Δνexを有し、第1の振
動数νex1 及び第2の振動数νex2 は、一定の振動数差
Δνexを保ったまま高振動数側あるいは低振動数側に掃
引される。
【0060】波長可変レーザ40から発生された単色レ
ーザビームLBは、試料Sに入射される。試料Sから発
生された散乱光は、コリメータレンズ43aで平行光と
されたのち、振動数νob1 を中心とする狭帯域の振動数
の光のみを透過させる干渉フィルター等の狭帯域透過フ
ィルター44aに入射する。狭帯域透過フィルター44
aを透過した光線は、光電子増倍管等の光検出器45a
で検出される。試料Sから発生された散乱光は、同時
に、コリメータレンズ43bで平行光とされたのち、振
動数νob1 と異なる第2の振動数νob2 を中心とする狭
帯域の振動数の光のみを透過させる狭帯域透過フィルタ
ー44bを透過して光検出器45bで検出される。光検
出器45a,45bの出力はロックイン増幅器46に供
給される。
ーザビームLBは、試料Sに入射される。試料Sから発
生された散乱光は、コリメータレンズ43aで平行光と
されたのち、振動数νob1 を中心とする狭帯域の振動数
の光のみを透過させる干渉フィルター等の狭帯域透過フ
ィルター44aに入射する。狭帯域透過フィルター44
aを透過した光線は、光電子増倍管等の光検出器45a
で検出される。試料Sから発生された散乱光は、同時
に、コリメータレンズ43bで平行光とされたのち、振
動数νob1 と異なる第2の振動数νob2 を中心とする狭
帯域の振動数の光のみを透過させる狭帯域透過フィルタ
ー44bを透過して光検出器45bで検出される。光検
出器45a,45bの出力はロックイン増幅器46に供
給される。
【0061】ロックイン増幅器46は、制御装置41か
らの制御信号を同期信号として、光検出器45a,45
bの出力信号を位相同期検波する。信号処理装置47
は、光検出器45aの出力信号を位相同期検波したロッ
クイン増幅器46の出力信号から前述のようにして試料
Sのラマンスペクトルを求め、また、同様に光検出器4
5bの出力信号を位相同期検波したロックイン増幅器4
6の出力信号から試料Sのラマンスペクトルを求める。
そして、これら2つのラマンスペクトルを比較し、周波
数の差に対して相関の強いものを真のラマンスペクトル
とし、相関の弱いものをノイズとして、ノイズを除去し
たスペクトルをCRT等の表示装置48に表示する。こ
の分光分析装置によると、ラマン観測精度を上げて試料
Sの精密なラマンスペクトルを求めることができ、観測
時間も短縮することができる。
らの制御信号を同期信号として、光検出器45a,45
bの出力信号を位相同期検波する。信号処理装置47
は、光検出器45aの出力信号を位相同期検波したロッ
クイン増幅器46の出力信号から前述のようにして試料
Sのラマンスペクトルを求め、また、同様に光検出器4
5bの出力信号を位相同期検波したロックイン増幅器4
6の出力信号から試料Sのラマンスペクトルを求める。
そして、これら2つのラマンスペクトルを比較し、周波
数の差に対して相関の強いものを真のラマンスペクトル
とし、相関の弱いものをノイズとして、ノイズを除去し
たスペクトルをCRT等の表示装置48に表示する。こ
の分光分析装置によると、ラマン観測精度を上げて試料
Sの精密なラマンスペクトルを求めることができ、観測
時間も短縮することができる。
【0062】図12は、干渉型分光器を用いた本発明の
分光分析装置の例を示す概略構成図である。ETTレー
ザ等の波長可変レーザ40は、制御装置41の制御を受
けて第1の振動数νex1 と、第2の振動数νex2 で交互
に発振する。第2の振動数νex2 は、第1の振動数ν
ex1 に対して一定の振動数差Δνexを有し、第1の振動
数νex1 及び第2の振動数νex2 は、一定の振動数差Δ
νexを保ったまま高振動数側あるいは低振動数側に掃引
される。
分光分析装置の例を示す概略構成図である。ETTレー
ザ等の波長可変レーザ40は、制御装置41の制御を受
けて第1の振動数νex1 と、第2の振動数νex2 で交互
に発振する。第2の振動数νex2 は、第1の振動数ν
ex1 に対して一定の振動数差Δνexを有し、第1の振動
数νex1 及び第2の振動数νex2 は、一定の振動数差Δ
νexを保ったまま高振動数側あるいは低振動数側に掃引
される。
【0063】可変レーザ40から発生された波長λ1 と
λ2 の2波長交互発振レーザビームLBは試料Sに入射
され、試料Sから発生された散乱光は、コリメータレン
ズLで平行光とされたのち、固定ミラーM1 、移動ミラ
ーM2 及びハーフミラーHMを備える干渉型分光器に入
射する。試料Sからの散乱光は、ハーフミラーHMで固
定ミラーM1 に入射する成分と移動ミラーM2 に入射す
る成分とに分割され、固定ミラーM1 で反射された成分
と移動ミラーM2 で反射された成分は再びハーフミラー
HMで結合され、光検出器D上で干渉する。
λ2 の2波長交互発振レーザビームLBは試料Sに入射
され、試料Sから発生された散乱光は、コリメータレン
ズLで平行光とされたのち、固定ミラーM1 、移動ミラ
ーM2 及びハーフミラーHMを備える干渉型分光器に入
射する。試料Sからの散乱光は、ハーフミラーHMで固
定ミラーM1 に入射する成分と移動ミラーM2 に入射す
る成分とに分割され、固定ミラーM1 で反射された成分
と移動ミラーM2 で反射された成分は再びハーフミラー
HMで結合され、光検出器D上で干渉する。
【0064】制御装置41からの制御信号は、ロックイ
ン増幅器46にも入力され、ロックイン増幅器46は光
検出器Dの出力信号を波長交互発振の切り替え周波数f
で位相同期検波する。Δλ(=λ1−λ2)は小さく、ラ
マン散乱光は波長切り換えにより波長シフトするが蛍光
は波長シフトしないため、同期検波された成分はラマン
散乱出力成分となる。ロックイン増幅器46の出力は信
号処理装置47に供給され、移動ミラーM2 を掃引しな
がら検出した出力をフーリエ変換することによって得ら
れたスペクトルはCRT等の表示装置48に表示され
る。こうして、試料Sのラマンスペクトルが得られる。
ン増幅器46にも入力され、ロックイン増幅器46は光
検出器Dの出力信号を波長交互発振の切り替え周波数f
で位相同期検波する。Δλ(=λ1−λ2)は小さく、ラ
マン散乱光は波長切り換えにより波長シフトするが蛍光
は波長シフトしないため、同期検波された成分はラマン
散乱出力成分となる。ロックイン増幅器46の出力は信
号処理装置47に供給され、移動ミラーM2 を掃引しな
がら検出した出力をフーリエ変換することによって得ら
れたスペクトルはCRT等の表示装置48に表示され
る。こうして、試料Sのラマンスペクトルが得られる。
【0065】図13は、ETTレーザ等の波長可変レー
ザ40と試料S、及び試料Sと光検出器55の間を光フ
ァイバー52a,52bで結ぶことにより遠隔測定を可
能にした分光分析装置の一例を示す説明図である。
ザ40と試料S、及び試料Sと光検出器55の間を光フ
ァイバー52a,52bで結ぶことにより遠隔測定を可
能にした分光分析装置の一例を示す説明図である。
【0066】ETT等の波長可変レーザ40からの出射
光は、光結合器51aから送光用の光ファイバー52a
に入射し、送光用光ファイバー52a中を通って他端の
照射用光結合器51bから出射し、試料Sを照射する。
試料Sで散乱された光は受光用光結合器51cから受光
用の光ファイバー52bに入射し、受光用光ファイバー
52bの他端に設けられた光結合器51d中に狭帯域透
過フィルター54を透過したのち光電子増倍管等の光検
出器55で検出される。光検出器55の出力信号はロッ
クイン増幅器46に入力される。
光は、光結合器51aから送光用の光ファイバー52a
に入射し、送光用光ファイバー52a中を通って他端の
照射用光結合器51bから出射し、試料Sを照射する。
試料Sで散乱された光は受光用光結合器51cから受光
用の光ファイバー52bに入射し、受光用光ファイバー
52bの他端に設けられた光結合器51d中に狭帯域透
過フィルター54を透過したのち光電子増倍管等の光検
出器55で検出される。光検出器55の出力信号はロッ
クイン増幅器46に入力される。
【0067】前述のように、制御装置41によって波長
可変レーザ40の発振波長を第1の振動数νex1 と、第
1の振動数νex1 に対して一定の振動数差Δνexを有す
る第2の振動数νex2 の2つの振動数で交互に発振する
ように波長スイッチングし、同時に第1の振動数νex1
及び第2の振動数νex2 を、一定の振動数差Δνexを保
ったまま高振動数側あるいは低振動数側に掃引する。こ
のとき、制御装置41の制御信号をロックイン増幅器4
6に入力して、光検出器55の出力信号を位相同期検波
することにより、信号処理手段47で試料Sのラマンス
ペクトルを求め、表示装置48に表示することができ
る。
可変レーザ40の発振波長を第1の振動数νex1 と、第
1の振動数νex1 に対して一定の振動数差Δνexを有す
る第2の振動数νex2 の2つの振動数で交互に発振する
ように波長スイッチングし、同時に第1の振動数νex1
及び第2の振動数νex2 を、一定の振動数差Δνexを保
ったまま高振動数側あるいは低振動数側に掃引する。こ
のとき、制御装置41の制御信号をロックイン増幅器4
6に入力して、光検出器55の出力信号を位相同期検波
することにより、信号処理手段47で試料Sのラマンス
ペクトルを求め、表示装置48に表示することができ
る。
【0068】このように波長可変レーザ40と試料S、
及び試料Sと光検出器55の間を光ファイバー52a,
52bで結ぶ方法は、試料Sに対して波長可変レーザ4
0及び他の計測機器55,46,47,48を分離して
設置しなければならない場合に有効である。そのような
測定が必要とされる場合の例として、隔離された病室、
高温又は低温エリア、電磁ノイズ等の大きなエリアでの
測定が挙げられる。この方法によると、複数箇所に設定
された測定位置での試料測定を測定位置から数十メート
ルあるいは数百メートル離れた測定室において集中的に
行うことができる。
及び試料Sと光検出器55の間を光ファイバー52a,
52bで結ぶ方法は、試料Sに対して波長可変レーザ4
0及び他の計測機器55,46,47,48を分離して
設置しなければならない場合に有効である。そのような
測定が必要とされる場合の例として、隔離された病室、
高温又は低温エリア、電磁ノイズ等の大きなエリアでの
測定が挙げられる。この方法によると、複数箇所に設定
された測定位置での試料測定を測定位置から数十メート
ルあるいは数百メートル離れた測定室において集中的に
行うことができる。
【0069】図14は、試料からのラマン散乱光の2次
元分布を測定する分光測定装置の概略説明図である。試
料Sは試料台61に保持され、試料台61に組み込まれ
たモータ等の駆動手段によってXY方向に移動可能にな
っている。ETTレーザ等の波長可変レーザ40は、制
御装置41によって制御され、第1の振動数νex1 と、
第1の振動数νex1 に対して一定の振動数差Δνexを有
する第2の振動数νex2 の2つの振動数で交互に発振す
るように波長スイッチングされ、同時に一定の振動数差
Δνexを保ったまま高振動数側あるいは低振動数側に掃
引される。
元分布を測定する分光測定装置の概略説明図である。試
料Sは試料台61に保持され、試料台61に組み込まれ
たモータ等の駆動手段によってXY方向に移動可能にな
っている。ETTレーザ等の波長可変レーザ40は、制
御装置41によって制御され、第1の振動数νex1 と、
第1の振動数νex1 に対して一定の振動数差Δνexを有
する第2の振動数νex2 の2つの振動数で交互に発振す
るように波長スイッチングされ、同時に一定の振動数差
Δνexを保ったまま高振動数側あるいは低振動数側に掃
引される。
【0070】波長可変レーザ40から出射された単色レ
ーザ光LBは、反射ミラー62aによって反射され、集
束レンズ63aによって細く絞られて試料S上の微小領
域に斜め方向からスポット照射される。試料Sの微小領
域で散乱されたレーザ光は集光レンズ63bによって集
光され、反射ミラー62bで反射されて光検出器65に
入射する。光検出器65の出力信号はロックイン増幅器
46に入力され、制御装置41の制御信号に位相同期し
て検波され、その出力信号は信号処理手段47に入力さ
れ、信号処理によってラマンスペクトルが求められる。
ーザ光LBは、反射ミラー62aによって反射され、集
束レンズ63aによって細く絞られて試料S上の微小領
域に斜め方向からスポット照射される。試料Sの微小領
域で散乱されたレーザ光は集光レンズ63bによって集
光され、反射ミラー62bで反射されて光検出器65に
入射する。光検出器65の出力信号はロックイン増幅器
46に入力され、制御装置41の制御信号に位相同期し
て検波され、その出力信号は信号処理手段47に入力さ
れ、信号処理によってラマンスペクトルが求められる。
【0071】試料台制御装置69は試料台61をXY方
向に駆動することによって試料S上でのレーザビームL
Bの照射位置を変更し、試料Sの各位置でのラマンスペ
クトルを求める。信号処理手段47は、試料台制御装置
69から試料S上でのレーザビーム照射位置情報を供給
され、CRT等のモニター48に特定のラマン線強度の
2次元分布を表示する。このように、試料S上でのレー
ザ光照射位置を2次元走査することで、試料表面のラマ
ン画像を求めることができる。
向に駆動することによって試料S上でのレーザビームL
Bの照射位置を変更し、試料Sの各位置でのラマンスペ
クトルを求める。信号処理手段47は、試料台制御装置
69から試料S上でのレーザビーム照射位置情報を供給
され、CRT等のモニター48に特定のラマン線強度の
2次元分布を表示する。このように、試料S上でのレー
ザ光照射位置を2次元走査することで、試料表面のラマ
ン画像を求めることができる。
【0072】なお、ここでは励起波長をわずかに変えて
ラマン光と蛍光とを分離する方法として、周波数スイッ
チングの効果を使ってロックインアンプ方式により検出
する方法について主に説明した。しかし、この方法は、
オプチカルマルチチャンネルアナライザーを用いて一度
にスペクトルを測定するタイプの通常のラマン分光法
に、λex1,λex2励起光に対するスペクトルの差分分析
を使うことにより同様に適用できるのは明らかである。
ラマン光と蛍光とを分離する方法として、周波数スイッ
チングの効果を使ってロックインアンプ方式により検出
する方法について主に説明した。しかし、この方法は、
オプチカルマルチチャンネルアナライザーを用いて一度
にスペクトルを測定するタイプの通常のラマン分光法
に、λex1,λex2励起光に対するスペクトルの差分分析
を使うことにより同様に適用できるのは明らかである。
【0073】
【発明の効果】本発明によると、分光器を用いることな
く、干渉フィルターのような取り扱いの極めて簡易な狭
帯域透過フィルターを用いて、蛍光の影響を受けずにラ
マン散乱光を検出することができる。
く、干渉フィルターのような取り扱いの極めて簡易な狭
帯域透過フィルターを用いて、蛍光の影響を受けずにラ
マン散乱光を検出することができる。
【図1】試料から蛍光が発生していない場合のラマンス
ペクトルの模式図。
ペクトルの模式図。
【図2】ラマン線に蛍光が重なったスペクトルの模式
図。
図。
【図3】複屈折性音響光学素子による波長選択作用を説
明する概念図。
明する概念図。
【図4】複屈折性音響光学素子中を伝播する常光線のk
ベクトルと、異常光線のkベクトルを表示した図。
ベクトルと、異常光線のkベクトルを表示した図。
【図5】ETTレーザの他の例の説明図。
【図6】Zホールド型共振器を用いたETTレーザの説
明図。
明図。
【図7】図6に示したETTレーザの波長可変特性を示
す図。
す図。
【図8】本発明による分光分析装置の一例の概略構成
図。
図。
【図9】(a)は振動数可変レーザの出力を模式的に示
した図、(b)は検出器の出力信号を模式的に示した
図。
した図、(b)は検出器の出力信号を模式的に示した
図。
【図10】ロックイン増幅器の出力を模式的に示した
図。
図。
【図11】観察振動数を2種類とした分光分析装置の例
を示す概略構成図。
を示す概略構成図。
【図12】干渉型分光器を用いた分光分析装置の例を示
す概略構成図。
す概略構成図。
【図13】波長可変レーザと試料、及び試料と光検出器
の間を光ファイバーで結んだ分光分析装置の一例を示す
説明図。
の間を光ファイバーで結んだ分光分析装置の一例を示す
説明図。
【図14】試料からのラマン散乱光の2次元分布を測定
する分光測定装置の概略説明図。
する分光測定装置の概略説明図。
14…レーザ媒質、20…RF電源、22…圧電素子、
24…励起レーザ光、26…パーソナル・コンピュー
タ、28…プリズム、30…テレスコープ、32…励起
レーザ、40…波長可変レーザ、41…制御装置、43
…コリメータレンズ、44,44a,44b…狭帯域透
過フィルター、45,45a,45b…光検出器、46
…ロックイン増幅器、47…信号処理装置、48…表示
装置、51a,51b,51c,51d…光結合器、5
4…狭帯域透過フィルター、55…光検出器、52a,
52b…光ファイバー、61…試料台、62a,62b
…反射ミラー、65…光検出器、69…試料台制御装
置、100…複屈折性音響光学素子、104…音響波、
106…回折光、110…全反射ミラー、112…出射
側ミラー
24…励起レーザ光、26…パーソナル・コンピュー
タ、28…プリズム、30…テレスコープ、32…励起
レーザ、40…波長可変レーザ、41…制御装置、43
…コリメータレンズ、44,44a,44b…狭帯域透
過フィルター、45,45a,45b…光検出器、46
…ロックイン増幅器、47…信号処理装置、48…表示
装置、51a,51b,51c,51d…光結合器、5
4…狭帯域透過フィルター、55…光検出器、52a,
52b…光ファイバー、61…試料台、62a,62b
…反射ミラー、65…光検出器、69…試料台制御装
置、100…複屈折性音響光学素子、104…音響波、
106…回折光、110…全反射ミラー、112…出射
側ミラー
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 赤川 和幸 宮城県仙台市青葉区長町字越路19−1399 理化学研究所 フォトダイナミクス研究セ ンター内
Claims (14)
- 【請求項1】 波長可変レーザからの単色光を試料に照
射し、前記試料から発せられる発光を測定する分光分析
法において、 前記波長可変レーザとして、レーザ共振器内に所定の波
長領域でレーザ発振可能なレーザ媒質と複屈折性音響光
学素子とを配置し、前記複屈折性音響光学素子により回
折される光線成分の所定の光軸上にレーザ共振器を構成
し、前記複屈折性音響光学素子中に励起する音響波の周
波数を選択することにより波長選択を行う波長可変レー
ザを用い、 前記試料から発せられる一定波長の発光強度を測定する
ことを特徴とする分光分析法。 - 【請求項2】 波長可変レーザからの単色光を試料に照
射し、試料から発せられる発光を観測する分光分析法に
おいて、 前記試料に照射される単色光の波長を高速掃引し、所定
の波長において前記試料から発せられる光を観測し、観
測波長での発光励起スペクトルを得ることを特徴とする
分光分析法。 - 【請求項3】 波長可変レーザからの単色光を試料に照
射し、試料から発せられる光を観測する分光分析法にお
いて、 前記試料に照射される単色光の波長を、第1の波長と該
第1の波長に対して一定の周波数差を有する第2の波長
との間で交互に波長を切換えながらがら波長掃引し、第
3の波長において前記試料から発せられる光を観測し、
前記第3の波長における観測光のうち前記波長の切り換
えと同期して時間変化する成分をラマン散乱光として分
離観察することを特徴とする分光分析法。 - 【請求項4】 前記第3の波長とともに該第3の波長と
異なる第4の波長において前記試料から発せられる光を
観測し、前記第3の波長及び第4の波長の周波数差に対
する相関性からラマン散乱光を精密に分離することを特
徴とする請求項3記載の分光分析法。 - 【請求項5】 前記波長切り換えによって時間的に変化
しない成分を非ラマン成分として分離観察することを特
徴とする請求項3記載の分光分析法。 - 【請求項6】 前記波長可変レーザとして、レーザ共振
器内に所定の波長領域でレーザ発振可能なレーザ媒質と
複屈折性音響光学素子とを配置し、前記複屈折性音響光
学素子により回折される光線成分の所定の光軸上にレー
ザ共振器を構成し、前記複屈折性音響光学素子中に励起
する音響波の周波数を選択することにより波長選択を行
う波長可変レーザを用いることを特徴とする請求項2〜
5のいずれか1項記載の分光分析法。 - 【請求項7】 前記波長可変レーザからの単色光を光フ
ァイバーを通して試料に照射し、試料から発せられる光
を光ファイバーを通して観測することを特徴とする請求
項1〜6のいずれか1項記載の分光分析法。 - 【請求項8】 前記波長可変レーザからの単色光を前記
試料に対して相対的に走査し、試料の2次元領域におけ
る発光の分布を測定することを特徴とする請求項1〜7
のいずれか1項記載の分光分析法。 - 【請求項9】 試料に単色光を照射するための波長可変
レーザと、前記波長可変レーザの発振波長を第1の波長
と該第1の波長に対して一定の振動数差を有する第2の
波長との間で波長を切り換えながら波長掃引するための
波長制御手段と、第3の波長を透過する狭帯域透過フィ
ルターと、前記単色光の照射によって試料から発せられ
前記狭帯域透過フィルターを透過した前記第3の波長の
光を検出する光検出器と、前記光検出器の検出信号を前
記第1の波長と第2の波長の切り換え信号に位相同期し
て検波するための位相同期検波手段とを備え、試料のラ
マンスペクトルを測定する機能を有することを特徴とす
る分光分析装置。 - 【請求項10】 試料に単色光を照射するための波長可
変レーザと、前記波長可変レーザの発振波長を第1の波
長と該第1の波長に対して一定の振動数差を有する第2
の波長との間で波長を切り換えながら波長掃引するため
の波長制御手段と、第3の波長を透過する第1の狭帯域
透過フィルターと、前記第3の波長と異なる第4の波長
を透過する第2の狭帯域透過フィルターと、前記単色光
の照射によって試料から発せられ前記第1の狭帯域透過
フィルターを透過した光を検出する第1の光検出器と、
前記第2の狭帯域透過フィルターを透過した光を検出す
る第2の光検出器と、前記第1及び第2の光検出器の検
出信号を前記第1の波長と第2の波長の切り換え信号に
位相同期して検波するための位相同期検波手段と、前記
位相同期検波手段の2つの位相同期検波信号を比較する
比較手段とを、試料のラマンスペクトルを測定する機能
を有することを特徴とする分光分析装置。 - 【請求項11】 試料に単色光を照射するための波長可
変レーザと、前記波長可変レーザの発振波長を第1の波
長と該第1の波長に対して一定の振動数差を有する第2
の波長との間で波長を切り換えながら波長掃引するため
の波長制御手段と、前記単色光の照射によって試料から
発せられた光を干渉分光する干渉計と、前記干渉計の出
力信号を前記波長制御手段の波長切り換え信号に位相同
期して検波するための位相同期検波手段と、前記位相同
期検波手段の出力をフーリエ変換する手段とを備え、試
料のラマンスペクトルを測定する機能を有することを特
徴とする分光分析装置。 - 【請求項12】 前記波長可変レーザは、レーザ共振器
内に所定の波長領域でレーザ発振可能なレーザ媒質と複
屈折性音響光学素子とを配置し、前記複屈折性音響光学
素子により回折される光線成分の所定の光軸上にレーザ
共振器を構成し、前記複屈折性音響光学素子中に励起す
る音響波の周波数を選択することにより波長選択を行う
ものであることを特徴とする請求項9〜11のいずれか
1項記載の分光分析装置。 - 【請求項13】 前記波長可変レーザと前記試料の間及
び/又は前記試料と前記光検出器の間を結ぶ光ファイバ
ーを備えることを特徴とする請求項9〜12のいずれか
1項記載の分光分析装置。 - 【請求項14】 前記波長可変レーザからの単色光を前
記試料に対して相対的に走査する手段を備えることを特
徴とする請求項8〜13のいずれか1項記載の分光分析
装置。
Priority Applications (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP30833696A JP3577532B2 (ja) | 1996-11-19 | 1996-11-19 | 分光分析法及び分光分析装置 |
| US08/974,680 US5946090A (en) | 1996-11-19 | 1997-11-19 | Spectrometric method and apparatus for spectrometry |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP30833696A JP3577532B2 (ja) | 1996-11-19 | 1996-11-19 | 分光分析法及び分光分析装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH10148573A true JPH10148573A (ja) | 1998-06-02 |
| JP3577532B2 JP3577532B2 (ja) | 2004-10-13 |
Family
ID=17979841
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP30833696A Expired - Fee Related JP3577532B2 (ja) | 1996-11-19 | 1996-11-19 | 分光分析法及び分光分析装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3577532B2 (ja) |
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100809629B1 (ko) | 2006-08-31 | 2008-03-05 | 한국과학기술원 | 조합화학적 기법에 의한 신촉매, 재료 및 바이오분자구조분석용 공초점 라만/자외선-가시광/형광 분광기 |
| JP2010092002A (ja) * | 2008-09-12 | 2010-04-22 | Olympus Corp | 光学顕微鏡 |
| WO2014027449A1 (ja) * | 2012-08-16 | 2014-02-20 | 富士フイルム株式会社 | ラマン散乱光測定装置および方法 |
| JP2015148535A (ja) * | 2014-02-07 | 2015-08-20 | コニカミノルタ株式会社 | ラマン散乱光測定方法及びラマン散乱光測定装置 |
| US10874301B2 (en) | 2015-11-17 | 2020-12-29 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Raman signal measuring method and apparatus, and biometric information analyzing apparatus including the Raman signal measuring apparatus |
| CN112147125A (zh) * | 2020-09-16 | 2020-12-29 | 北京华泰诺安探测技术有限公司 | 一种荧光抑制方法、装置、存储介质及计算机设备 |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE102022124375B3 (de) * | 2022-09-22 | 2023-09-28 | Ferdinand-Braun-Institut gGmbH, Leibniz- Institut für Höchstfrequenztechnik | Vorrichtung und Verfahren zur Raman-Spektroskopie |
-
1996
- 1996-11-19 JP JP30833696A patent/JP3577532B2/ja not_active Expired - Fee Related
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100809629B1 (ko) | 2006-08-31 | 2008-03-05 | 한국과학기술원 | 조합화학적 기법에 의한 신촉매, 재료 및 바이오분자구조분석용 공초점 라만/자외선-가시광/형광 분광기 |
| JP2010092002A (ja) * | 2008-09-12 | 2010-04-22 | Olympus Corp | 光学顕微鏡 |
| WO2014027449A1 (ja) * | 2012-08-16 | 2014-02-20 | 富士フイルム株式会社 | ラマン散乱光測定装置および方法 |
| JP2014038031A (ja) * | 2012-08-16 | 2014-02-27 | Fujifilm Corp | ラマン散乱光測定装置および方法 |
| JP2015148535A (ja) * | 2014-02-07 | 2015-08-20 | コニカミノルタ株式会社 | ラマン散乱光測定方法及びラマン散乱光測定装置 |
| US10874301B2 (en) | 2015-11-17 | 2020-12-29 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Raman signal measuring method and apparatus, and biometric information analyzing apparatus including the Raman signal measuring apparatus |
| CN112147125A (zh) * | 2020-09-16 | 2020-12-29 | 北京华泰诺安探测技术有限公司 | 一种荧光抑制方法、装置、存储介质及计算机设备 |
| CN112147125B (zh) * | 2020-09-16 | 2023-09-19 | 北京华泰诺安探测技术有限公司 | 一种荧光抑制方法、装置、存储介质及计算机设备 |
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| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP3577532B2 (ja) | 2004-10-13 |
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