JPH10150090A - Substrate processing system - Google Patents

Substrate processing system

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JPH10150090A
JPH10150090A JP8306885A JP30688596A JPH10150090A JP H10150090 A JPH10150090 A JP H10150090A JP 8306885 A JP8306885 A JP 8306885A JP 30688596 A JP30688596 A JP 30688596A JP H10150090 A JPH10150090 A JP H10150090A
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JP
Japan
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substrate
arm
cassette
robot
processing
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JP8306885A
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Yoshihiro Koyama
芳弘 小山
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Dainippon Screen Manufacturing Co Ltd
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Dainippon Screen Manufacturing Co Ltd
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  • Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)
  • Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)
  • Cleaning Or Drying Semiconductors (AREA)
  • Exposure And Positioning Against Photoresist Photosensitive Materials (AREA)

Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To protect a substrate against contamination by carrying a substrate, being received by means of a first substrate carrying robot, to any one of a plurality of processing units and then carrying out the processed substrate to a substrate containing arm by means of a second substrate carrying robot. SOLUTION: A first substrate carrying robot 35 carries a received substrate (w) into a chemical processing chamber 33 where the substrate (w) is subjected to chemical processing. Upon finishing chemical processing, a carrying robot 36 carried the substrate (w) into a water washing/drying chamber 34 where the substrate (w) is cleaned and dried. Subsequently, a second substrate carrying robot 37 carries out the substrate (w) from the water washing/drying chamber 34. Thereafter, an indexer robot 12 receives the substrate (w), moves the substrate in front of the cassette C in which the substrate is originally contained and contains the substrate in that cassette C. According to the arrangement, the substrate (w) is protected against contamination and the processing tact can be shortened.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、半導体ウエハや液
晶表示装置用ガラス基板のような基板に対して処理を行
う基板処理装置に関する。
The present invention relates to a substrate processing apparatus for processing a substrate such as a semiconductor wafer or a glass substrate for a liquid crystal display.

【0002】[0002]

【従来の技術】半導体装置や液晶表示装置の製造工程で
は、半導体ウエハや液晶表示装置用ガラス基板のような
基板上に薄膜を形成したり基板を洗浄したりするため
に、処理液を用いた基板処理工程が不可欠である。この
ような基板処理工程を行うための構成は、たとえば特開
平5−152266号公報に開示されている。
2. Description of the Related Art In a manufacturing process of a semiconductor device or a liquid crystal display device, a processing liquid is used to form a thin film on a substrate such as a semiconductor wafer or a glass substrate for a liquid crystal display device or to clean the substrate. A substrate processing step is indispensable. A configuration for performing such a substrate processing step is disclosed, for example, in Japanese Patent Application Laid-Open No. 5-152266.

【0003】図7は、前記公開公報に開示されている基
板処理装置を示す概略的な平面図である。この基板処理
装置には、複数枚の基板Wをそれぞれ収容できる複数の
カセットCを所定の載置方向に沿って載置できる基台2
00が備えられている。基台200の横には、カセット
Cに対して基板Wを搬入/搬出するためのインデクサ搬
送ユニット201が前記載置方向に沿って移動可能に備
えられている。インデクサ搬送ユニット201の基台2
00の反対側には、基板洗浄処理部210が備えられて
いる。
FIG. 7 is a schematic plan view showing a substrate processing apparatus disclosed in the above publication. The substrate processing apparatus includes a base 2 on which a plurality of cassettes C each capable of accommodating a plurality of substrates W can be mounted along a predetermined mounting direction.
00 is provided. On the side of the base 200, an indexer transport unit 201 for loading / unloading the substrate W with respect to the cassette C is provided so as to be movable in the placement direction described above. Base 2 of indexer transport unit 201
On the side opposite to 00, a substrate cleaning unit 210 is provided.

【0004】基板洗浄処理部210には、インデクサ搬
送ユニット201の移動方向に対してほぼ直交する方向
に移動可能なプロセス搬送ユニット211が備えられて
いる。プロセス搬送ユニット211を挟むように一対の
ユニット群220A,220Bが配置されている。ユニ
ット群220Bには、基板Wを洗浄/乾燥する処理を行
う2つの処理ユニット221a,221bが含まれてい
る。ユニット群220Aには、乾燥後の基板Wの表面の
水分子を蒸発させる処理を行う3つの処理ユニット22
2a,222b,222cが含まれている。
The substrate cleaning unit 210 includes a process transport unit 211 that can move in a direction substantially perpendicular to the direction in which the indexer transport unit 201 moves. A pair of unit groups 220A and 220B are arranged so as to sandwich the process transfer unit 211. The unit group 220B includes two processing units 221a and 221b for performing processing for cleaning / drying the substrate W. The unit group 220A includes three processing units 22 for performing a process of evaporating water molecules on the surface of the substrate W after drying.
2a, 222b, and 222c are included.

【0005】インデクサ搬送ユニット201は、基板取
り出し用アーム202と処理済基板収納用アーム203
とを備えている。これら各アーム202,203は、真
空吸着によって基板Wを支持する基板支持面204,2
05をそれぞれ有しており、各基板支持面204,20
5を上下方向に互いにずらすことができるようになって
いる。プロセス搬送ユニット211は、1つのアーム2
12を有し、このアーム212によって基板Wを支持す
る。
[0005] The indexer transport unit 201 includes a substrate unloading arm 202 and a processed substrate storage arm 203.
And These arms 202 and 203 are provided on substrate support surfaces 204 and 2 for supporting the substrate W by vacuum suction.
05, and each of the substrate support surfaces 204, 20
5 can be shifted from one another in the vertical direction. The process transfer unit 211 includes one arm 2
The substrate 212 is supported by the arm 212.

【0006】未処理の基板WをカセットCから搬出する
場合、インデクサ搬送ユニット201は、基板取り出し
用アーム202の基板支持面204を処理済基板収納用
アーム203の基板支持面205よりも上方にずらした
状態で各アーム202,203をカセットCに同時に挿
入する。これにより、カセットC内の基板Wは基板取り
出し用アーム202の基板支持面204に支持される。
その後、アーム202,203を戻して基板Wをカセッ
トCから搬出した後、当該基板Wをプロセス搬送ユニッ
ト211に渡す。プロセス搬送ユニット211は、当該
基板Wをアーム212に保持した状態で処理ユニット2
21a,221bのうちいずれかに搬入した後、処理後
の基板Wを取り出してさらに処理ユニット222a〜2
22cのうちいずれかに搬入する。
When an unprocessed substrate W is carried out of the cassette C, the indexer transport unit 201 shifts the substrate support surface 204 of the substrate take-out arm 202 above the substrate support surface 205 of the processed substrate storage arm 203. In this state, the arms 202 and 203 are simultaneously inserted into the cassette C. Thereby, the substrate W in the cassette C is supported on the substrate support surface 204 of the substrate unloading arm 202.
Then, after returning the arms 202 and 203 to unload the substrate W from the cassette C, the substrate W is transferred to the process transfer unit 211. The process transfer unit 211 holds the substrate W on the arm 212 and
21a and 221b, the processed substrate W is taken out and further processed.
22c.

【0007】すべての処理が終了した後の基板Wは、プ
ロセス搬送ユニット211によって搬出され、インデク
サ搬送ユニット201に渡される。このとき、インデク
サ搬送ユニット201は、処理済基板収納用アーム20
3の基板支持面205を基板取り出し用アーム202の
基板支持面204よりも上方にずらし、処理済の基板W
が処理済基板収納用アーム203の基板支持面205に
支持されるようにする。インデクサ搬送ユニット201
は、当該処理済の基板Wを支持した状態で元々収納され
ていたカセットCの前まで移動し、各アーム202,2
03をカセットC内に同時に挿入して処理済の基板Wを
カセットCに搬入する。
[0007] The substrate W after all the processes are completed is carried out by the process transport unit 211 and transferred to the indexer transport unit 201. At this time, the indexer transport unit 201 is provided with the processed substrate storing arm 20.
3 is shifted above the substrate support surface 204 of the substrate unloading arm 202, and the processed substrate W
Is supported on the substrate support surface 205 of the processed substrate storage arm 203. Indexer transport unit 201
Moves to the front of the cassette C originally stored while supporting the processed substrate W, and each arm 202, 2
03 is simultaneously inserted into the cassette C, and the processed substrate W is carried into the cassette C.

【0008】[0008]

【発明が解決しようとする課題】ところで、未処理の基
板Wにはパーティクルが付着している場合があり、この
パーティクルが当該基板Wを搬送するプロセス搬送ユニ
ット211のアーム212に転移する場合がある。プロ
セス搬送ユニット211では1つのアーム212で未処
理の基板Wも処理済の基板Wも支持されるから、処理済
の基板Wにパーティクルが付着し、基板Wを再汚染する
という問題がある。
Incidentally, particles may be attached to the unprocessed substrate W, and the particles may be transferred to the arm 212 of the process transfer unit 211 for transferring the substrate W. . In the process transfer unit 211, the unprocessed substrate W and the processed substrate W are supported by one arm 212. Therefore, there is a problem that particles adhere to the processed substrate W and recontaminate the substrate W.

【0009】また、プロセス搬送ユニット211は1台
だけであるから、基板Wを処理ユニット221a,22
1b;222a〜222cに搬入する動作と処理ユニッ
ト221a,221b;222a〜222cから搬出す
る動作とを同時に行うことはできず、処理タクトを短縮
するのにも限界があった。しかし、最近では、基板処理
の効率化の観点から、処理タクトのさらなる短縮化が要
望されている。
Further, since there is only one process transfer unit 211, the substrate W is transferred to the processing units 221a and 221a.
1b; the operation of carrying in from 222a to 222c and the operation of carrying out from processing units 221a, 221b; 222a to 222c cannot be performed at the same time, and there is a limit in shortening the processing tact. However, recently, from the viewpoint of improving the efficiency of substrate processing, there is a demand for further shortening of the processing tact.

【0010】そこで、本発明の目的は、前述の技術的課
題を解決し、基板の汚染を防止できるとともに、処理タ
クトを短縮できる基板処理装置を提供することである。
An object of the present invention is to solve the above-mentioned technical problems and to provide a substrate processing apparatus capable of preventing contamination of a substrate and shortening a processing tact.

【0011】[0011]

【課題を解決するための手段】前記目的を達成するため
の請求項1記載の発明は、複数枚の基板を収容するため
のカセットが載置されるカセット載置部と、基板を洗浄
するための少なくとも1つの洗浄処理部を含み、基板に
一連の処理を施すための複数の処理ユニットと、前記カ
セット載置部に載置されるカセットに収納されている未
処理の基板を取り出すための基板取出アームと、前記い
ずれかの処理ユニットにおいて処理された後の基板を前
記カセット載置部に載置されるカセットに収納するため
の基板収納アームと、前記基板取出アームから未処理の
基板を受け取り、この受け取った基板を前記複数の処理
ユニットのうちいずれかの処理ユニットに搬送するため
の第1の基板搬送ロボットと、前記複数の処理ユニット
のうちいずれかの処理ユニットから処理済の基板を搬出
し、前記基板収納アームに渡すための第2の基板搬送ロ
ボットとを含むことを特徴とする基板処理装置である。
According to the first aspect of the present invention, there is provided a cassette mounting portion on which a cassette for accommodating a plurality of substrates is mounted, and a cleaning device for cleaning the substrates. A plurality of processing units for performing a series of processing on the substrate, including at least one cleaning processing unit, and a substrate for removing an unprocessed substrate stored in a cassette mounted on the cassette mounting unit An unloading arm, a substrate storage arm for storing a substrate processed in any one of the processing units in a cassette mounted on the cassette mounting unit, and receiving an unprocessed substrate from the substrate unloading arm. A first substrate transfer robot for transferring the received substrate to one of the plurality of processing units, and a first substrate transfer robot for transferring the received substrate to one of the plurality of processing units. Unloads the substrate processed from management unit is a substrate processing apparatus which comprises a second substrate transfer robot for transferring the substrate loading arm.

【0012】本発明では、未処理の基板を処理ユニット
に搬送するためのロボットと処理済の基板を処理ユニッ
トから搬出するためのロボットとを別個のものとしてい
るから、未処理の基板からロボットにパーティクルが転
移していても、処理済の基板に当該パーティクルが付着
することはない。さらに、カセットから未処理の基板を
取り出すアームとカセットに処理済の基板を収納するア
ームとを別個のものとしているから、処理済の基板をカ
セットに収納するときにも、処理済の基板にアームに転
移したパーティクルが付着することはない。
In the present invention, since the robot for transporting the unprocessed substrate to the processing unit and the robot for unloading the processed substrate from the processing unit are separate from each other, the robot is transferred from the unprocessed substrate to the robot. Even if the particles are transferred, the particles do not adhere to the processed substrate. Further, since the arm for taking out the unprocessed substrate from the cassette and the arm for storing the processed substrate in the cassette are separate, the arm for the processed substrate is also used when storing the processed substrate in the cassette. No particles transferred to the surface will adhere.

【0013】したがって、処理ユニットに基板を洗浄す
るための洗浄処理部が含まれている場合でも、処理済の
基板の再汚染を防止できる。しかも、処理ユニットに対
する基板搬入動作と基板搬出動作とを同時に行うことが
できるから、処理タクトの向上を図ることができる。請
求項2記載の発明は、前記基板取出アームと基板収納ア
ームとは、前記カセットに対して選択的に挿入されるも
のであることを特徴とする請求項1記載の基板処理装置
である。
Therefore, even when the processing unit includes a cleaning processing unit for cleaning the substrate, recontamination of the processed substrate can be prevented. In addition, since the substrate loading operation and the substrate unloading operation can be performed simultaneously with respect to the processing unit, the processing tact can be improved. The invention according to claim 2 is the substrate processing apparatus according to claim 1, wherein the substrate take-out arm and the substrate storage arm are selectively inserted into the cassette.

【0014】本発明によれば、基板取出アームと基板収
納アームとを選択的にカセットに挿入することができ
る。したがって、処理済の基板をカセットに収納する場
合、未処理の基板からパーティクルが転移するおそれの
ある基板取出アームをカセットに挿入しないようにする
ことができる。そのため、基板をカセットの下側から順
に収納していくときでも、カセットにすでに収納されて
いる処理済の基板上に基板取出アームからのパーティク
ルが落下することはない。
According to the present invention, the substrate take-out arm and the substrate storage arm can be selectively inserted into the cassette. Therefore, when storing the processed substrate in the cassette, it is possible to prevent the substrate unloading arm from which particles may transfer from the unprocessed substrate from being inserted into the cassette. Therefore, even when the substrates are stored sequentially from the lower side of the cassette, the particles from the substrate take-out arm do not fall on the processed substrates already stored in the cassette.

【0015】請求項3記載の発明は、前記カセットは所
定のカセット載置方向に沿って前記カセット載置部に複
数載置されており、前記基板取出アームおよび基板収納
アームは、前記カセット載置方向に沿って移動可能な1
台のインデクサロボットに備えられているものであるこ
とを特徴とする請求項1または請求項2記載の基板処理
装置である。
According to a third aspect of the present invention, a plurality of the cassettes are mounted on the cassette mounting portion along a predetermined cassette mounting direction, and the substrate unloading arm and the substrate storage arm are mounted on the cassette mounting arm. 1 that can move along the direction
3. The substrate processing apparatus according to claim 1, wherein the substrate processing apparatus is provided in one of the indexer robots.

【0016】本発明によれば、基板取出アームおよび基
板収納アームは1台のインデクサロボットに備えられて
いるから、複数のカセットがカセット載置部に載置され
ていても、ロボットは1台でよい。そのため、各アーム
をそれぞれ別個のロボットに備える場合に比べてコスト
ダウンを図ることができる。請求項4記載の発明は、前
記基板取出アームは、前記基板収納アームよりも下方に
配置されていることを特徴とする請求項1ないし3のい
ずれかに記載の基板処理装置である。
According to the present invention, since the substrate take-out arm and the substrate storage arm are provided in one indexer robot, even if a plurality of cassettes are mounted on the cassette mounting portion, one robot is used. Good. Therefore, the cost can be reduced as compared with a case where each arm is provided in a separate robot. The invention according to claim 4 is the substrate processing apparatus according to any one of claims 1 to 3, wherein the substrate take-out arm is disposed below the substrate storage arm.

【0017】本発明によれば、基板取出アームに保持さ
れる未処理の基板に付着しているパーティクルや未処理
の基板から基板取出アームに転移したパーティクルが基
板収納アームに落下することを防止できる。また、基板
収納アームに処理済の基板が保持されている場合に、当
該処理済の基板に前記パーティクルが落下することもな
い。
According to the present invention, particles adhering to an unprocessed substrate held by the substrate unloading arm and particles transferred from the unprocessed substrate to the substrate unloading arm can be prevented from dropping into the substrate storage arm. . Further, when the processed substrate is held on the substrate storage arm, the particles do not drop onto the processed substrate.

【0018】[0018]

【発明の実施の形態】以下では、本発明の実施の形態
を、添付図面を参照して詳細に説明する。図1は、本発
明の一実施形態の基板処理装置の構成を概念的に示す平
面図である。この基板処理装置は、集積回路素子(I
C)の製造に用いられる半導体ウエハ(以下「基板」と
いう。)Wに対して一連の処理を施すためのもので、複
数枚の基板Wをそれぞれ収容することができる複数のカ
セットCに対して基板Wの搬入/搬出を行うインデクサ
10と、インデクサ10から供給される未処理の基板W
に一連の処理を施し、処理後の基板Wをインデクサ10
に向けて排出する処理モジュール20とを備えている。
Embodiments of the present invention will be described below in detail with reference to the accompanying drawings. FIG. 1 is a plan view conceptually showing a configuration of a substrate processing apparatus according to an embodiment of the present invention. This substrate processing apparatus includes an integrated circuit element (I
C) for performing a series of processes on a semiconductor wafer (hereinafter, referred to as “substrate”) W used in the manufacture of the plurality of cassettes C capable of accommodating a plurality of substrates W, respectively. An indexer 10 for loading / unloading the substrate W, and an unprocessed substrate W supplied from the indexer 10
Is subjected to a series of processes, and the processed substrate W is indexed by the indexer 10.
And a processing module 20 that discharges the paper toward the printer.

【0019】インデクサ10は、直線的に延びたインデ
クサ搬送路11上を往復移動することができるインデク
サロボット12と、インデクサ搬送路11に沿うように
複数のカセットCを載置できるカセット載置部13とを
備えている。インデクサ搬送路11のカセット載置部1
3とは反対側において、処理モジュール20がインデク
サ10に結合されている。
The indexer 10 includes an indexer robot 12 that can reciprocate on a linearly extending indexer transport path 11 and a cassette loading section 13 that can place a plurality of cassettes C along the indexer transport path 11. And Cassette loading section 1 of indexer transport path 11
On the opposite side to 3, a processing module 20 is coupled to the indexer 10.

【0020】処理モジュール20は、インデクサ搬送路
11の中間部付近からインデクサ搬送路11に直交する
方向に直線的に延びた主搬送路21を往復移動できる主
搬送ロボット22を備えている。主搬送路21を挟むよ
うに一対のユニット部30A,30Bが配置されてい
る。ユニット部30A,30Bは、それぞれ、主搬送路
21に沿って配置されており、基板Wに対して処理を施
すための処理装置31,32をそれぞれ内部に有する2
つの処理室33,34と、各処理室33,34に対して
基板Wの搬入および/または搬出を行うロボット35,
36,37を内部に有する搬送室38,39,40とを
備えている。
The processing module 20 includes a main transfer robot 22 that can reciprocate along a main transfer path 21 that extends linearly in a direction orthogonal to the indexer transfer path 11 from near an intermediate portion of the indexer transfer path 11. A pair of unit sections 30A, 30B is arranged so as to sandwich the main transport path 21. The unit units 30A and 30B are respectively arranged along the main transport path 21 and each include therein processing devices 31 and 32 for performing processing on the substrate W.
Robots 35 for loading and / or unloading substrates W into and out of the processing chambers 33 and 34.
Transfer chambers 38, 39, 40 having therein 36, 37.

【0021】インデクサロボット12および主搬送ロボ
ット22は、ボールねじ機構のような直線搬送機構を含
む図示しない駆動機構によって、それぞれ、インデクサ
搬送路11および主搬送路21に沿う直線往復移動が可
能なように構成されている。インデクサロボット12
は、カセットC内の基板Wを1枚ずつ取り出して保持す
る機構を有している。主搬送ロボット22は、基板Wの
保持、インデクサロボット12との間の基板Wの受渡
し、および搬送ロボット35との間の基板Wの受け渡し
のための機構を有している。インデクサロボット12お
よび主搬送ロボット22は、図示しないシステムコンピ
ュータによる制御の下、所定のプログラムに従って動作
するようになっている。
The indexer robot 12 and the main transfer robot 22 can be reciprocated linearly along the indexer transfer path 11 and the main transfer path 21 by a drive mechanism (not shown) including a linear transfer mechanism such as a ball screw mechanism. Is configured. Indexer robot 12
Has a mechanism for taking out and holding the substrates W in the cassette C one by one. The main transfer robot 22 has a mechanism for holding the substrate W, transferring the substrate W to and from the indexer robot 12, and transferring the substrate W to and from the transfer robot 35. The indexer robot 12 and the main transfer robot 22 operate according to a predetermined program under the control of a system computer (not shown).

【0022】ユニット部30A,30Bは、たとえば基
板Wに同じ一連の処理を施すためのもので、処理室3
3,34が主搬送路21に沿って所定間隔を開けて配置
されている。処理モジュール20が基板Wに対して薬液
処理および水洗処理を施すものである場合には、たとえ
ば、インデクサ10から遠い側の処理室33は基板Wに
薬液を供給してエッチングするための薬液処理室(以下
「MTC」という。)であり、インデクサ10に近い側
の処理室34は薬液処理後の基板Wを純水で洗って乾燥
させるための水洗/乾燥処理室(以下「DTC」とい
う。)である。MTC33をインデクサ10から遠い側
に配置しているのは、MTC33で発生する薬液雰囲気
がインデクサ10に達しにくくするためである。
The unit sections 30A and 30B are for performing, for example, the same series of processing on the substrate W.
Reference numerals 3 and 34 are arranged at predetermined intervals along the main transport path 21. When the processing module 20 performs a chemical treatment and a water washing treatment on the substrate W, for example, the processing chamber 33 on the far side from the indexer 10 is a chemical treatment chamber for supplying a chemical to the substrate W for etching. (Hereinafter, referred to as “MTC”), and the processing chamber 34 on the side close to the indexer 10 is a washing / drying processing chamber (hereinafter, referred to as “DTC”) for washing and drying the substrate W after the chemical treatment with pure water. It is. The reason why the MTC 33 is arranged on the side far from the indexer 10 is to make it difficult for the chemical solution atmosphere generated in the MTC 33 to reach the indexer 10.

【0023】MTC33のインデクサ10の設置位置の
反対側には、主搬送ロボット22から未処理の基板Wを
受け取ってMTC33に搬入するための搬入ロボット3
5を内部に有する搬入室38が設けられている。また、
MTC33とDTC34との間には、薬液処理後の基板
WをMTC33から受け取ってDTC34に搬入するた
めの移送ロボット36を内部に有する移送室39が設け
られている。さらに、DTC34のインデクサ10側に
は、水洗/乾燥処理後の基板WをDTC34から受け取
ってインデクサロボット12に渡すための搬出ロボット
37を内部に有する搬出室40が設けられている。搬入
ロボット35、移送ロボット36および搬出ロボット3
7は、いずれも、たとえばスカラー方式のロボットであ
る。
On the side of the MTC 33 opposite to the position where the indexer 10 is installed, a loading robot 3 for receiving an unprocessed substrate W from the main transfer robot 22 and loading it into the MTC 33.
5 is provided. Also,
Between the MTC 33 and the DTC 34, a transfer chamber 39 having therein a transfer robot 36 for receiving the substrate W after the chemical treatment from the MTC 33 and carrying the substrate W into the DTC 34 is provided. Further, on the indexer 10 side of the DTC 34, an unloading chamber 40 having an unloading robot 37 for receiving the substrate W after the washing / drying processing from the DTC 34 and transferring the substrate W to the indexer robot 12 is provided. Loading robot 35, transfer robot 36, and unloading robot 3
7 is, for example, a scalar type robot.

【0024】本実施形態では、主搬送ロボット22およ
び搬入ロボット35が第1の基板搬送ロボットに相当
し、搬出ロボット37が第2の基板搬送ロボットに相当
する。処理の開始に際し、インデクサロボット12は、
カセット載置部13に載置されている複数個のカセット
Cのうちのいずれか1つから基板Wを1枚だけ搬出し、
主搬送路21との結合部付近までインデクサ搬送路11
上を移動した後、前記搬出した基板Wを主搬送ロボット
22に渡す。基板Wを受け取った主搬送ロボット22
は、搬入室38の前まで主搬送路21上を移動し、受け
取った基板Wを搬入ロボット35に渡す。
In this embodiment, the main transfer robot 22 and the carry-in robot 35 correspond to a first substrate transfer robot, and the carry-out robot 37 corresponds to a second substrate transfer robot. At the start of the processing, the indexer robot 12
Unloading only one substrate W from any one of the plurality of cassettes C mounted on the cassette mounting portion 13,
Indexer transport path 11 to the vicinity of the junction with main transport path 21
After moving up, the unloaded substrate W is transferred to the main transfer robot 22. Main transfer robot 22 receiving substrate W
Moves on the main transfer path 21 to the front of the carry-in chamber 38 and transfers the received substrate W to the carry-in robot 35.

【0025】搬入ロボット35は、受け渡された基板W
をMTC33に搬入し、薬液処理装置31に渡す。薬液
処理装置31は、渡された基板Wを保持した状態で当該
基板Wを高速回転させつつ当該基板Wに薬液を供給す
る。こうして、基板Wに薬液処理が施される。薬液処理
が終了すると、移送ロボット36は、薬液処理後の基板
WをMTC33から搬出し、DTC34に搬入して水洗
/乾燥処理装置32に渡す。水洗/乾燥処理装置32
は、渡された基板Wを保持した状態で当該基板Wを高速
回転させつつ当該基板Wに純水を供給する。こうして、
基板Wに洗浄処理が施される。さらに、純水の供給を停
止した状態で基板Wを高速回転させ、基板W上の水分を
振り切って基板Wを乾燥させる。その後、搬出ロボット
37は、処理済の基板WをDTC34から搬出する。
The carry-in robot 35 receives the transferred substrate W
Is carried into the MTC 33 and delivered to the chemical solution treatment device 31. The chemical liquid processing apparatus 31 supplies the chemical liquid to the substrate W while rotating the substrate W at a high speed while holding the transferred substrate W. Thus, the substrate W is subjected to the chemical treatment. When the chemical solution processing is completed, the transfer robot 36 unloads the substrate W after the chemical solution processing from the MTC 33, loads the substrate W into the DTC 34, and transfers the substrate W to the washing / drying processing device 32. Washing / drying equipment 32
Supplies the pure water to the substrate W while rotating the substrate W at a high speed while holding the transferred substrate W. Thus,
The cleaning process is performed on the substrate W. Further, the substrate W is rotated at a high speed with the supply of pure water stopped, and the moisture on the substrate W is shaken off to dry the substrate W. Thereafter, the unloading robot 37 unloads the processed substrate W from the DTC 34.

【0026】インデクサロボット12は、処理済の基板
WがDTC34から搬出されると、搬出室40の前まで
インデクサ搬送路11上を移動し、搬出ロボット37が
保持している基板を受け取る。その後、インデクサロボ
ット12は、受け取った基板Wが元々収納されていたカ
セットCの前まで移動し、保持している基板Wをそのカ
セットCに収納する。これにより、1枚の基板Wに対す
る一連の処理が完了する。
When the processed substrate W is unloaded from the DTC 34, the indexer robot 12 moves on the indexer transport path 11 to a position before the unloading chamber 40 and receives the substrate held by the unloading robot 37. Thereafter, the indexer robot 12 moves to a position in front of the cassette C in which the received substrate W is originally stored, and stores the held substrate W in the cassette C. Thus, a series of processes for one substrate W is completed.

【0027】図2は、インデクサロボット12の構成を
示す概略斜視図である。インデクサロボット12は、イ
ンデクサ搬送路11(図1参照)上にインデクサ搬送路
11の長手方向L1に沿って所定間隔を開けて延設され
ている2本のガイドレール15a,15b上に載せられ
た可動台50と、この可動台50の上部に可動台50に
対して上下方向に移動可能に設けられた基台60と、こ
の基台60の上部に設けられた基板保持機構70とを備
えている。
FIG. 2 is a schematic perspective view showing the configuration of the indexer robot 12. As shown in FIG. The indexer robot 12 is mounted on two guide rails 15a and 15b extending at predetermined intervals along the longitudinal direction L1 of the indexer transport path 11 on the indexer transport path 11 (see FIG. 1). A movable base 50, a base 60 provided on the upper part of the movable base 50 so as to be vertically movable with respect to the movable base 50, and a substrate holding mechanism 70 provided on the upper part of the base 60 are provided. I have.

【0028】なお、以下では、便宜上、インデクサ搬送
路11の長手方向L1に沿う方向であって、図1におけ
るユニット部30Bからユニット部30Aに向かう方向
を「+L1方向」、ユニット部30Aからユニット部3
0Bに向かう方向を「−L1方向」という。可動台50
には、インデクサ搬送路11の長手方向L1に沿って延
びたねじ軸51を含むボールねじ機構52が備えられて
いる。ねじ軸51が第1モータM1で回転方向C1また
はC2に回転駆動されると、可動台50がガイドレール
15a,15b上を+L1方向または−L1方向に向か
って移動する。この移動に伴って、基台60および基板
保持機構70も同じ方向に移動する。
In the following description, for convenience, the direction along the longitudinal direction L1 of the indexer transport path 11 from the unit 30B to the unit 30A in FIG. 1 is referred to as the "+ L1 direction", and the direction from the unit 30A to the unit 30A. 3
The direction toward 0B is referred to as "-L1 direction". Movable table 50
Is provided with a ball screw mechanism 52 including a screw shaft 51 extending along the longitudinal direction L1 of the indexer transport path 11. When the screw shaft 51 is driven to rotate in the rotation direction C1 or C2 by the first motor M1, the movable base 50 moves on the guide rails 15a and 15b in the + L1 direction or the -L1 direction. With this movement, the base 60 and the substrate holding mechanism 70 also move in the same direction.

【0029】基台60には、基台60を可動台50に対
して上下方向に移動させるためのボールねじ機構61が
備えられている。ボールねじ機構61には、可動台50
のほぼ中央上部から上方に向かって立設されたねじ軸6
2が含まれている。ねじ軸62が第2モータM2で回転
方向C3またはC4に回転駆動されると、基台60が可
動台50に対して上方または下方に移動する。この上下
移動に伴って、基板保持機構70も同じ方向に移動す
る。
The base 60 is provided with a ball screw mechanism 61 for vertically moving the base 60 with respect to the movable base 50. The ball screw mechanism 61 includes a movable table 50.
Screw shaft 6 erected upward from the upper center of the center
2 is included. When the screw shaft 62 is driven to rotate in the rotation direction C3 or C4 by the second motor M2, the base 60 moves upward or downward with respect to the movable base 50. With this vertical movement, the substrate holding mechanism 70 also moves in the same direction.

【0030】基板保持機構70は、カセットCから未処
理の基板Wを取り出すための基板取出アーム80と、カ
セットCに処理済の基板Wを収納するための基板収納ア
ーム90とを備えている。基板取出アーム80は、基板
Wを保持するための取出用アーム部81と、取出用アー
ム部81で保持される基板Wを位置決めするための取出
用位置決めガイド部82とを含む。
The substrate holding mechanism 70 includes a substrate take-out arm 80 for taking out an unprocessed substrate W from the cassette C, and a substrate storage arm 90 for storing the processed substrate W in the cassette C. The substrate unloading arm 80 includes an unloading arm 81 for holding the substrate W and an unloading positioning guide 82 for positioning the substrate W held by the unloading arm 81.

【0031】取出用アーム部81は、基台60の上部の
うち+L1方向側にずれた位置に上方に向かって立設さ
れたアーム支柱81aと、アーム支柱81aの上部に接
続され、−L1方向に向かって延びた連結部材81b
と、連結部材81bに接続され、インデクサ搬送路11
の長手方向L1にほぼ直交する方向であるカセットアク
セス方向L2に沿って延びたレバー81cと、レバー8
1cの先端部および途中部に取り付けられた基板保持部
材81dとを備えている。
The take-out arm portion 81 is connected to an upper portion of the upper portion of the base 60, which is an arm column 81a which is erected upward at a position shifted toward the + L1 direction side, and is connected to the upper portion of the arm column 81a in the -L1 direction. Connecting member 81b extending toward
And the indexer transport path 11 connected to the connecting member 81b.
A lever 81c extending along a cassette access direction L2 which is a direction substantially orthogonal to the longitudinal direction L1 of the lever 8;
1c, and a substrate holding member 81d attached to the front end and the middle.

【0032】アーム支柱81aは、基台60の上部のう
ち+L1方向側にずれた位置にカセットアクセス方向L
2に沿って形成されたガイド溝83に沿って移動できる
ようになっている。これにより、取出用アーム部81全
体がカセットアクセス方向L2に沿って移動できる。ア
ーム支柱81aには、第3モータM3で発生された駆動
力が図示しないベルト機構によって伝達されるようにな
っており、これによりカセットアクセス方向L2に沿っ
て移動できる。
The arm support 81a is positioned at a position shifted in the + L1 direction on the upper portion of the base 60 in the cassette access direction L.
2 can be moved along the guide groove 83 formed along. Thus, the entire take-out arm portion 81 can move in the cassette access direction L2. The driving force generated by the third motor M3 is transmitted to the arm support 81a by a belt mechanism (not shown), whereby the arm support 81a can move in the cassette access direction L2.

【0033】取出用位置決めガイド部82は、取出用ア
ーム部81に保持される基板Wの周縁が当接するような
形状の当接面82aが形成されたガイド部本体82bを
備えており、ガイド部本体82bは、アーム支柱81a
の近傍位置に立設されたガイド支柱82cによって支持
されている。ガイド支柱82cは、第1シリンダS1に
よってカセットアクセス方向L2に沿って移動可能にさ
れており、これによりカセットCから取り出した未処理
の基板Wを主搬送ロボット22に渡すときに、基板Wの
位置決め状態を解除できるようになっている。
The take-out positioning guide portion 82 has a guide portion main body 82b formed with a contact surface 82a having a shape such that the peripheral edge of the substrate W held by the take-out arm portion 81 contacts. The main body 82b includes an arm support 81a.
Is supported by a guide column 82c erected at a position close to. The guide post 82c is made movable along the cassette access direction L2 by the first cylinder S1, so that when the unprocessed substrate W taken out of the cassette C is transferred to the main transfer robot 22, the positioning of the substrate W is performed. The state can be released.

【0034】基板収納アーム90は、基本的に、基板取
出アーム80と同様の構成となっている。すなわち、ア
ーム支柱91a、アーム支柱91aの上部に接続された
連結部材91b、連結部材91bに接続されたレバー9
1c、レバー91cに取り付けられた基板保持部材91
dを含む収納用アーム部91、ならびにガイド支柱92
c、ガイド支柱92cによって支持され、当接面92a
が形成されたガイド部本体92bを含む収納用位置決め
ガイド部92を有する。
The substrate storage arm 90 basically has the same configuration as the substrate take-out arm 80. That is, the arm support 91a, the connecting member 91b connected to the upper portion of the arm support 91a, and the lever 9 connected to the connecting member 91b.
1c, substrate holding member 91 attached to lever 91c
d including a storage arm portion 91 and a guide post 92
c, abutment surface 92a supported by guide post 92c
And a storage positioning guide portion 92 including a guide portion main body 92b formed with a groove.

【0035】アーム支柱91aは、基台60の上部のう
ち+L1方向側にずれた位置に立設され、同じく+L1
方向側にずれた位置にカセットアクセス方向L2に沿っ
て形成されたガイド溝93に沿って移動可能にされてい
る。また、ガイド支柱92cは、アーム支柱91aの近
傍位置に立設されている。これらアーム支柱91aおよ
びガイド支柱92cの駆動源は、それぞれ、第4モータ
M4および第2シリンダS2である。
The arm support 91a is erected at a position shifted in the + L1 direction on the upper part of the base 60,
It is movable along a guide groove 93 formed along the cassette access direction L2 at a position shifted in the direction side. The guide support 92c is provided upright at a position near the arm support 91a. The driving sources of the arm support 91a and the guide support 92c are the fourth motor M4 and the second cylinder S2, respectively.

【0036】基板取出アーム80と基板収納アーム90
とは上下方向に沿って互いにずれており、基板取出アー
ム80が基板収納アーム90に対して下方になるように
されている。すなわち、基板取出アーム80を基板収納
アーム90よりも上方になるようにすると、未処理の基
板Wや基板取出アーム80に未処理の基板Wから転移し
たパーティクルが基板収納アーム90や基板収納アーム
90に保持される基板Wに落下するおそれがあるからで
ある。また、基板取出アーム80と基板収納アーム90
とを同じ高さにすると、インデクサ搬送路11に沿うイ
ンデクサロボット12の長さが長くなり、装置サイズが
大型化するので、あまり好ましくない。
Substrate take-out arm 80 and substrate storage arm 90
Are shifted from each other in the up-down direction, so that the substrate take-out arm 80 is located below the substrate storage arm 90. That is, when the substrate unloading arm 80 is positioned above the substrate storage arm 90, the unprocessed substrate W and particles transferred from the unprocessed substrate W to the substrate unloading arm 80 are transferred to the substrate storage arm 90 and the substrate storage arm 90. This is because there is a risk of dropping on the substrate W held in the substrate W. Further, a substrate take-out arm 80 and a substrate storage arm 90
If the heights are the same, the length of the indexer robot 12 along the indexer transport path 11 increases, and the size of the apparatus increases.

【0037】第1ないし第4モータM1〜M4、ならび
に第1および第2シリンダS1,S2は、たとえばマイ
クロコンピュータで構成された制御部100によってそ
の動作がそれぞれ独立に制御されるようになっている。
これにより、取出用アーム部81と収納用アーム部91
とを選択的にカセットアクセス方向L2に沿って移動さ
せることができる。また、取出用位置決めガイド部82
と収納用位置決めガイド部92とを選択的に位置決め状
態および位置決め解除状態に変位させることができる。
The operations of the first to fourth motors M1 to M4 and the first and second cylinders S1 and S2 are independently controlled by a control unit 100 constituted by, for example, a microcomputer. .
Thus, the take-out arm 81 and the storage arm 91
Can be selectively moved along the cassette access direction L2. Also, the take-out positioning guide 82
And the storage positioning guide portion 92 can be selectively displaced into a positioning state and a positioning release state.

【0038】カセットCの内周面には、カセットCの内
周面に沿って複数の基板収納溝110が形成されてい
る。基板Wは、各基板収納溝110にそれぞれ1枚ずつ
収納される。複数枚の基板WがカセットCに収納されて
いるとき、各基板Wの間は、取出用アーム部81および
収納用保持アーム部91が挿入できる程度のスペースが
開けられている。
A plurality of substrate storage grooves 110 are formed on the inner peripheral surface of the cassette C along the inner peripheral surface of the cassette C. One substrate W is stored in each substrate storage groove 110. When a plurality of substrates W are stored in the cassette C, a space is provided between the substrates W such that the unloading arm portion 81 and the storage holding arm portion 91 can be inserted.

【0039】図3は、カセットCから未処理の基板Wを
取り出す際の動作を説明するための概念的な図である。
未処理の基板WをカセットCから取り出す際、制御部1
00は、まず、第1モータM1を駆動し、取出対象の基
板W0 が収納されているカセットCの前までインデクサ
ロボット12を移動させ、取出用アーム部81が取出対
象の基板W0 のほぼ中央位置に達したタイミングで停止
させる。
FIG. 3 is a conceptual diagram for explaining the operation when taking out an unprocessed substrate W from the cassette C.
When removing an unprocessed substrate W from the cassette C, the control unit 1
00, first, the first motor M1 is driven, to move the indexer robot 12 before the cassette C substrate W 0 of the retrieval target is accommodated, take-out arm 81 is substantially of the substrate W 0 of the take-out target Stop when it reaches the center position.

【0040】その後、第2モータM2を駆動し、基台6
0および基板保持機構70を上昇させ、基板取出アーム
80の取出用アーム部81が取出対象の基板W0 と当該
基板W0 の1枚下の基板W1 との間に達した位置で停止
させる(図3(a) )。そして、第3モータM3を駆動
し、取出用アーム部81をカセットCに向けて移動さ
せ、取出対象の基板W0 の下方位置で停止させる(図3
(b) )。
Thereafter, the second motor M2 is driven, and the base 6
0 and increase the substrate holding mechanism 70 is stopped at a position reached between the substrate W 1 of one of a substrate W 0 and the substrate W 0 takeout arm portion 81 of the retrieval target substrate unloading arm 80 (FIG. 3 (a)). Then, the third motor M3 is driven, the take-out arm 81 is moved toward the cassette C, is stopped at a position below the substrate W 0 of the take-out target (Figure 3
(b)).

【0041】次いで、第2モータM2を再度駆動し、基
台60および基板保持機構70を上昇させる。このとき
の上昇幅は、基板W0 を取出用アーム部81が保持する
のに十分な距離とする。その結果、取出対象の基板W0
が取出用アーム部81に保持される(図3(c) )。その
後、第3モータM3を駆動し、取出用アーム部81をカ
セットCから遠ざかる方向に移動させる。この移動の結
果、取出用アーム部81に保持されている基板W0 の周
縁が取出用位置決めガイド部82の当接面82aに当接
し、基板W 0 が位置決めされる(図3(d) )。これによ
り、未処理の基板Wの取出しが完了する。
Next, the second motor M2 is driven again, and
The table 60 and the substrate holding mechanism 70 are raised. At this time
The rise width of the substrate W0The arm 81 for taking out holds
Distance enough for As a result, the substrate W0
Is held by the take-out arm 81 (FIG. 3 (c)). That
Then, the third motor M3 is driven, and the unloading arm 81 is closed.
Move in the direction away from set C. The result of this move
As a result, the substrate W held by the unloading arm 810Lap of
The rim abuts on the abutment surface 82a of the take-out positioning guide 82
And substrate W 0Is positioned (FIG. 3 (d)). This
Thus, the removal of the unprocessed substrate W is completed.

【0042】その後、制御部100は、第1モータM1
を駆動し、インデクサロボット12を主搬送路21との
結合付近まで移動させ、この位置において、保持してい
る基板W0 を主搬送ロボット22に渡す。このとき、第
1シリンダS1を動かし、取出用位置決めガイド部82
をカセットCから遠ざかる方向に少し移動させ、基板W
0 の位置決め状態を解除する。さらに、第2モータM2
を駆動し、基台60および基板保持機構70を下降させ
る。その結果、その下降途中に設けられたリフタピン
(図示せず)に基板W0 が移される。主搬送ロボット2
2は、このリフタピンに載せられている状態の基板W0
の下方にアームを延ばし、このアームを上昇させること
によってリフタピンから基板W0 を受け取る。その後、
アームを縮めることで、基板W0 の受け取りが完了す
る。
Thereafter, the control unit 100 controls the first motor M1
Is driven to move the indexer robot 12 to the vicinity of the connection with the main transfer path 21, and at this position, the substrate W 0 held is transferred to the main transfer robot 22. At this time, the first cylinder S1 is moved to take out the positioning guide portion 82 for removal.
Is slightly moved in a direction away from the cassette C, and the substrate W
Release the 0 positioning state. Further, the second motor M2
Is driven to lower the base 60 and the substrate holding mechanism 70. As a result, the substrate W 0 is transferred to the lifter pin provided in the middle its lowered (not shown). Main transfer robot 2
Reference numeral 2 denotes a substrate W 0 placed on the lifter pins.
Of extending the arm downwards, it receives the substrate W 0 from lifter pins by raising the arm. afterwards,
By shortening the arm, it receives the substrate W 0 is completed.

【0043】図4は、カセットCに処理済の基板Wを収
納する際の動作を説明するための概念的な図である。カ
セットCから取り出された後ユニット部30Aおよび3
0Bで処理された基板W0 は、前述のように、搬出ロボ
ット37からインデクサロボット12に渡される。一
方、制御部100は、搬出ロボット37に基板W0 が渡
されると、第1モータM1を駆動し、インデクサロボッ
ト12を搬出室40の手前まで移動させる。この状態に
おいて、搬出ロボット37は図示しないリフタピン上に
処理済の基板W0 を置く。
FIG. 4 is a conceptual diagram for explaining the operation when the processed substrate W is stored in the cassette C. Rear unit sections 30A and 3 taken out of cassette C
The substrate W 0 processed at 0B is transferred from the unloading robot 37 to the indexer robot 12 as described above. On the other hand, when the substrate W 0 is transferred to the unloading robot 37, the control unit 100 drives the first motor M1 to move the indexer robot 12 to a position just before the unloading chamber 40. In this state, out robot 37 places the substrate W 0 of processed on unillustrated lifter pins.

【0044】その後、制御部100は、第2シリンダS
2を動かして収納用位置決めガイド部92を位置決め解
除状態にし、第2モータM2を駆動し、基板収納アーム
91を上昇させる。その結果、リフタピン上の基板W0
が基板収納アーム91に移る。その後、第2シリンダS
2を動かして基板W0 を位置決めする。そして、第1モ
ータM1を駆動し、インデクサロボット12を当該基板
0 が元々収納されていたカセットCの手前まで移動さ
せ、基板収納アーム91が当該カセットCのほぼ中央手
前まで達したときに停止させる。
Thereafter, the control unit 100 controls the second cylinder S
2 to move the storage positioning guide portion 92 to the release position, drive the second motor M2, and raise the substrate storage arm 91. As a result, the substrate W 0 on the lifter pins
Moves to the substrate storage arm 91. Then, the second cylinder S
2 Move to position the substrate W 0. Then, the first motor M1 is driven, the indexer robot 12 is moved to the front of the cassette C in which the substrate W 0 was originally housed, stopped when the substrate loading arm 91 has reached almost the center front of the cassette C Let it.

【0045】その後、第2モータM2を駆動し、基台6
0および基板保持機構70を上昇させ、基板収納アーム
90の取出用アーム部91が処理済の基板W0 を収納す
べき基板収納溝110(図2参照)とほぼ同じ高さに達
した位置で停止させる(図4(a) )。そして、第4モー
タM4を駆動し、基板収納アーム91をカセットCに向
けて移動させ、基板W0 をカセットC内に搬入する(図
4(b) )。次いで、第2モータM2を駆動し、基板収納
アーム91を下降させる(図4(c) )。その結果、基板
0 はカセットC内の所定の基板収納溝110に収ま
る。その後、第4モータM4を駆動し、基板収納アーム
91をカセットCから遠ざかる方向に移動させる(図4
(d) )。これにより、基板収納動作がすべて完了する。
Thereafter, the second motor M2 is driven to
0 and the substrate holding mechanism 70 are raised, and at the position where the unloading arm portion 91 of the substrate storage arm 90 reaches almost the same height as the substrate storage groove 110 (see FIG. 2) for storing the processed substrate W 0 . It is stopped (FIG. 4 (a)). Then, the fourth motor M4 is driven, the substrate loading arm 91 is moved toward the cassette C, and carries the substrate W 0 in a cassette C (Figure 4 (b)). Next, the second motor M2 is driven to lower the substrate storage arm 91 (FIG. 4C). As a result, the substrate W 0 fits in the predetermined substrate storage groove 110 in the cassette C. Thereafter, the fourth motor M4 is driven to move the substrate storage arm 91 in a direction away from the cassette C (FIG. 4).
(d)). This completes the substrate storing operation.

【0046】以上のように本実施形態によれば、インデ
クサロボット12から未処理の基板Wを受け取るための
専用の主搬送ロボット22、主搬送ロボット22から未
処理の基板Wを受け取ってMTC33に搬入するための
搬入ロボット35、およびインデクサロボット12に処
理済の基板Wを渡すための専用の搬出ロボット37を備
えているから、処理済の基板Wの搬送を担当する搬出ロ
ボット37に未処理の基板Wに付着しているパーティク
ルが転移することはない。したがって、洗浄された後の
基板Wを再汚染することはない。
As described above, according to the present embodiment, the dedicated main transfer robot 22 for receiving the unprocessed substrate W from the indexer robot 12, the unprocessed substrate W is received from the main transfer robot 22, and is loaded into the MTC 33. And a dedicated unloading robot 37 for transferring the processed substrate W to the indexer robot 12, so that the unprocessed substrate is transferred to the unloading robot 37 that is in charge of transferring the processed substrate W. The particles attached to W do not transfer. Therefore, the substrate W after the cleaning is not re-contaminated.

【0047】しかも、インデクサロボット12に、未処
理の基板WをカセットCから取り出すための専用の基板
取出アーム80と処理済の基板WをカセットCに収納す
るための専用の基板収納アーム90とを備えているか
ら、処理済の基板Wの搬送を担当する基板収納アーム9
0に未処理の基板Wに付着しているパーティクルが転移
することはない。そのうえ、基板取出アーム81を基板
収納アーム91の下方に設けているから、未処理の基板
Wや基板取出アーム81に付着しているパーティクルが
基板収納アーム80や基板収納アーム80に保持される
処理済の基板Wに落下することがない。したがって、イ
ンデクサロボット12に処理済の基板Wが渡された後で
あっても、洗浄された後の基板Wを再汚染することがな
い。
Further, the indexer robot 12 is provided with a dedicated substrate take-out arm 80 for taking out an unprocessed substrate W from the cassette C and a dedicated substrate storage arm 90 for storing the processed substrate W in the cassette C. The substrate storage arm 9 that is in charge of transporting the processed substrate W.
Particles adhering to the unprocessed substrate W do not transfer to zero. In addition, since the substrate unloading arm 81 is provided below the substrate storage arm 91, processing in which unprocessed substrates W and particles adhering to the substrate unloading arm 81 are held by the substrate storage arm 80 and the substrate storage arm 80. Does not fall on the substrate W which has already been used. Therefore, even after the processed substrate W is delivered to the indexer robot 12, the cleaned substrate W is not re-contaminated.

【0048】そのため、基板Wの高品質化を図ることが
できる。また、未処理の基板Wのユニット部30A,3
0Bへの搬入と、処理済の基板Wの搬出とを同時に行う
ことができるから、処理タクトの向上を図れる。そのた
め、基板処理の一層の効率化を図ることができる。本発
明の実施の一形態の説明は以上のとおりであるが、本発
明は前述の実施形態に限定されるものではない。たとえ
ば前記実施形態では、処理モジュール20の構成として
主搬送路21を挟んで互いに同じ処理を行う一対のユニ
ット部30A,30Bが配置された構成を採用している
が、たとえば図5に概略的な平面図を示すように、処理
ユニット150とスカラー方式の搬送ロボット151と
を交互に配置した順次搬送型の処理モジュール20を平
面視においてほぼコの字状に形成し、処理モジュール2
0の一端および他端に、それぞれ、未処理の基板Wをイ
ンデクサロボット12から受け取るための搬入ロボット
160、および処理済の基板Wをインデクサ12に渡す
ための搬出ロボット161を設けるようにしてもよい。
この構成によっても、未処理の基板Wを扱うロボットと
処理済の基板Wを扱うロボットとを別個にしているか
ら、前記実施形態と同様に、処理済の基板Wを再汚染す
ることはなく、基板Wの高品質化を図れるとともに、処
理タクトの向上を図れる。
Thus, the quality of the substrate W can be improved. Also, the unit sections 30A, 3 of the unprocessed substrate W
Since the loading into the OB and the unloading of the processed substrate W can be performed at the same time, the processing tact can be improved. Therefore, the efficiency of the substrate processing can be further improved. Although the description of one embodiment of the present invention is as described above, the present invention is not limited to the above-described embodiment. For example, in the above-described embodiment, as the configuration of the processing module 20, a configuration in which a pair of unit units 30A and 30B that perform the same processing with each other with the main transport path 21 interposed therebetween is adopted. As shown in the plan view, the sequential transfer type processing module 20 in which the processing units 150 and the scalar type transfer robots 151 are alternately arranged is formed in a substantially U-shape in plan view.
A carry-in robot 160 for receiving an unprocessed substrate W from the indexer robot 12 and a carry-out robot 161 for transferring the processed substrate W to the indexer 12 may be provided at one end and the other end of the zero. .
According to this configuration, the robot that handles the unprocessed substrate W and the robot that handles the processed substrate W are separated from each other, so that the processed substrate W is not re-contaminated similarly to the above-described embodiment. The quality of the substrate W can be improved, and the processing tact can be improved.

【0049】また、処理モジュール20の構成として図
6に示すような構成を採用してもよ。この構成の処理モ
ジュール20は、インデクサ搬送路11の一端付近から
インデクサロボット12の搬送方向に対しほぼ直交する
方向に延びた搬入路170上を移動する搬入ロボット1
71と、インデクサ搬送路11の他端付近から搬入路1
70とほぼ平行に延びた搬出路180上を移動する搬出
ロボット181と、搬入路170と搬出路180とに挟
まれるように配置されたユニット部190とを備えてい
る。ユニット部190には、インデクサ10に近い側か
ら順に、2つの洗浄処理ユニット191a,191bお
よび薬液処理ユニット192a,192bが一列に配列
されている。搬出ロボット181は洗浄処理ユニットか
らしか処理済の基板Wを受け取らないから、搬出路18
1は搬入路171の半分の長さになっている。
Further, as the configuration of the processing module 20, a configuration as shown in FIG. 6 may be employed. The processing module 20 having this configuration includes the loading robot 1 that moves on a loading path 170 that extends from near one end of the indexer transport path 11 in a direction substantially orthogonal to the transport direction of the indexer robot 12.
71 and the loading path 1 from near the other end of the indexer transport path 11.
The apparatus includes an unloading robot 181 that moves on an unloading path 180 extending substantially parallel to 70, and a unit 190 disposed so as to be sandwiched between the unloading path 170 and the unloading path 180. In the unit section 190, two cleaning processing units 191a and 191b and chemical solution processing units 192a and 192b are arranged in a row in order from the side close to the indexer 10. The unloading robot 181 receives the processed substrate W only from the cleaning processing unit.
1 is half the length of the carry-in path 171.

【0050】搬入ロボット171は、インデクサロボッ
ト12から未処理の基板Wを受け取ると、当該基板Wを
薬液処理ユニット192a,192bのいずれかに搬入
する。薬液処理終了後、搬入ロボット171は薬液処理
ユニット192aまたは192bから処理済の基板Wを
取り出し、洗浄処理ユニット191a,191bのいず
れかに搬入する。洗浄処理終了後、処理済の基板Wは搬
出ロボット181にて搬出され、インデクサロボット1
2に渡される。
Upon receiving the unprocessed substrate W from the indexer robot 12, the carry-in robot 171 carries the substrate W into one of the chemical processing units 192a and 192b. After the completion of the chemical treatment, the carry-in robot 171 takes out the processed substrate W from the chemical treatment unit 192a or 192b, and carries it into one of the cleaning units 191a and 191b. After the completion of the cleaning process, the processed substrate W is unloaded by the unloading robot 181, and the indexer robot 1
Passed to 2.

【0051】この構成によっても、未処理の基板Wを薬
液処理ユニット192a,192bに搬送するロボット
と処理済の基板Wを洗浄処理ユニット191a,191
bから取り出してインデクサロボット12に渡すロボッ
トとを別個のものとしているから、前記実施形態と同様
に、処理済の基板Wを再汚染することがなく、基板Wの
高品質化を図れるとともに、処理タクトの向上を図るこ
とができる。
According to this configuration, the robot for transferring the unprocessed substrate W to the chemical processing units 192a and 192b and the cleaning unit 191a and 191 for cleaning the processed substrate W are also provided.
b, and the robot that is taken out of the substrate W and passed to the indexer robot 12 is separate, so that the processed substrate W is not re-contaminated, and the quality of the substrate W can be improved. Tact can be improved.

【0052】なお、薬液処理済の基板Wは未処理の基板
Wを搬送する搬入ロボットによってユニット部から搬出
されるので、パーティクルが薬液処理後の基板Wに付着
するおそれがある。しかし、薬液処理後の基板Wは洗浄
処理ユニットにて洗浄されるから、基板Wに付着したパ
ーティクルを洗い流すことができる。したがって、特に
問題はない。
Since the substrate W after the chemical treatment is carried out of the unit by the carry-in robot for transporting the untreated substrate W, particles may adhere to the substrate W after the chemical treatment. However, since the substrate W after the chemical treatment is cleaned by the cleaning unit, the particles attached to the substrate W can be washed away. Therefore, there is no particular problem.

【0053】さらに、前記実施形態では、基板Wを元々
収納されていたカセットCに収納する場合について説明
しているが、たとえば未処理の基板Wが収納されるカセ
ットCと処理済の基板Wが収納されるカセットCとをそ
れぞれ別個にしてもよい。この場合、たとえば処理済の
基板WをカセットCの下方の基板収納溝110から上方
の基板収納溝110に順次収納するときでも、前記実施
形態のように、基板取出アーム80と基板収納アーム9
0とを選択的にカセットC内に進入できるようにしてお
けば、カセットCにすでに収納されている処理済の基板
Wに基板取出アーム80からパーティクルが脱落するこ
とがない。よって、基板Wの再汚染を防止できる。
Further, in the above-described embodiment, the case where the substrate W is stored in the cassette C in which the substrate W was originally stored is described, but for example, the cassette C in which the unprocessed substrate W is stored and the processed substrate W are separated. The cassettes C to be stored may be separately provided. In this case, for example, even when the processed substrates W are sequentially stored in the upper substrate storage groove 110 from the lower substrate storage groove 110 of the cassette C, the substrate take-out arm 80 and the substrate storage arm 9
If 0 is selectively allowed to enter the cassette C, particles do not fall off the substrate take-out arm 80 onto the processed substrate W already stored in the cassette C. Therefore, recontamination of the substrate W can be prevented.

【0054】さらにまた、前記実施形態では、1台のイ
ンデクサロボット12に基板取出アーム80と基板収納
アーム90とを備えるようにしているが、これはカセッ
トCが複数台ある場合でもロボットが1台で済むからコ
スト的に有利であるとの点を重要視しているためで、こ
の点を特に重要視しないのであれば、たとえば基板取出
アーム80と基板収納アーム90とをそれぞれ別のロボ
ットに備えるようにしてもよい。
Further, in the above embodiment, one indexer robot 12 is provided with the substrate take-out arm 80 and the substrate storage arm 90. However, even if there are a plurality of cassettes C, one indexer robot 12 has one robot. Therefore, if this point is not particularly important, for example, the substrate take-out arm 80 and the substrate storage arm 90 are provided in different robots, respectively. You may do so.

【0055】その他、特許請求の範囲に記載された範囲
内で種々の設計変更を施すことが可能である。
In addition, various design changes can be made within the scope described in the claims.

【0056】[0056]

【発明の効果】以上のように本発明によれば、処理ユニ
ットに対して基板搬送動作を行うロボットと基板搬出動
作を行うロボットとを別個のものとしているから、未処
理の基板からロボットにパーティクルが転移していて
も、処理済の基板に当該パーティクルが付着することは
ない。したがって、処理済の基板の再汚染を防止でき
る。そのため、基板の高品質化を図れる。
As described above, according to the present invention, the robot for carrying out the substrate transfer operation to the processing unit and the robot for carrying out the substrate unloading operation are separated from each other. Even if is transferred, the particles do not adhere to the processed substrate. Therefore, recontamination of the processed substrate can be prevented. Therefore, the quality of the substrate can be improved.

【0057】しかも、処理ユニットに対する基板搬送動
作と基板搬出動作とを同時に行うことができるから、処
理タクトの向上を図れる。そのため、基板処理の一層の
効率化を図れる。請求項2記載の発明によれば、処理済
の基板をカセットに収納する場合に、基板取出アームを
カセットに挿入しないようにすることができるから、基
板をカセットの下側から順に収納していくときでも、カ
セットにすでに収納されている処理済の基板上に基板取
出アームからのパーティクルが落下することはない。よ
って、基板の再汚染を防止でき、基板の一層の高品質化
を図れる。この効果は、未処理の基板が収納されている
カセットと処理済の基板を収納するカセットとが別の場
合に特に有効である。
In addition, the substrate transfer operation and the substrate unload operation to the processing unit can be performed simultaneously, so that the processing tact can be improved. Therefore, the efficiency of the substrate processing can be further improved. According to the second aspect of the present invention, when storing processed substrates in the cassette, the substrate take-out arm can be prevented from being inserted into the cassette, so that the substrates are stored sequentially from the lower side of the cassette. Even at this time, particles from the substrate unloading arm do not fall on the processed substrate already stored in the cassette. Therefore, re-contamination of the substrate can be prevented, and the quality of the substrate can be further improved. This effect is particularly effective when the cassette storing the unprocessed substrates is different from the cassette storing the processed substrates.

【0058】請求項3記載の発明によれば、複数のカセ
ットがカセット載置部に載置されていても、カセットに
対してアクセスするためのロボットは1台でよいから、
各アームをそれぞれ別個のロボットに備える場合に比べ
てコストダウンを図ることができる。請求項4記載の発
明によれば、未処理の基板や基板取出アームに付着して
いるパーティクルが基板収納アームや基板収納アームに
保持される処理済の基板に落下することはないから、処
理済の基板を再汚染することがなく、基板の一層の高品
質化を図れる。
According to the third aspect of the present invention, even if a plurality of cassettes are mounted on the cassette mounting portion, only one robot is required to access the cassettes.
The cost can be reduced as compared with a case where each arm is provided in a separate robot. According to the fourth aspect of the present invention, the unprocessed substrate and the particles adhering to the substrate unloading arm do not fall onto the substrate storage arm or the processed substrate held by the substrate storage arm. The substrate can be further improved in quality without recontaminating the substrate.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明の一実施形態の基板処理装置の構成を概
略的に示す平面図である。
FIG. 1 is a plan view schematically showing a configuration of a substrate processing apparatus according to an embodiment of the present invention.

【図2】インデクサロボットの構成を示す斜視図であ
る。
FIG. 2 is a perspective view illustrating a configuration of an indexer robot.

【図3】インデクサロボットによる基板搬出動作を説明
するための概念的な図である。
FIG. 3 is a conceptual diagram for explaining a substrate unloading operation by the indexer robot.

【図4】インデクサロボットによる基板収納動作を説明
するための概念的な図である。
FIG. 4 is a conceptual diagram for explaining a substrate storing operation by the indexer robot.

【図5】本発明の他の実施形態の基板処理装置の構成を
概略的に示す平面図である。
FIG. 5 is a plan view schematically showing a configuration of a substrate processing apparatus according to another embodiment of the present invention.

【図6】本発明の他の実施形態の基板処理装置の構成を
概略的に示す平面図である。
FIG. 6 is a plan view schematically showing a configuration of a substrate processing apparatus according to another embodiment of the present invention.

【図7】従来の基板処理装置の構成を概略的に示す平面
図である。
FIG. 7 is a plan view schematically showing a configuration of a conventional substrate processing apparatus.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

12 インデクサロボット 13 カセット載置部 22 主搬送ロボット 30A,30B ユニット部 33 MTC 34 DTC 35,160,171 搬入ロボット 37,161,181 搬出ロボット 80 基板取出アーム 90 基板収納アーム 100 制御部 C カセット M1〜M4 モータ W 基板 Reference Signs List 12 indexer robot 13 cassette mounting part 22 main transfer robot 30A, 30B unit part 33 MTC 34 DTC 35, 160, 171 carry-in robot 37, 161, 181 carry-out robot 80 substrate take-out arm 90 substrate storage arm 100 control part C cassette M1- M4 motor W board

Claims (4)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】複数枚の基板を収容するためのカセットが
載置されるカセット載置部と、 基板を洗浄するための少なくとも1つの洗浄処理部を含
み、基板に一連の処理を施すための複数の処理ユニット
と、 前記カセット載置部に載置されるカセットに収納されて
いる未処理の基板を取り出すための基板取出アームと、 前記いずれかの処理ユニットにおいて処理された後の基
板を前記カセット載置部に載置されるカセットに収納す
るための基板収納アームと、 前記基板取出アームから未処理の基板を受け取り、この
受け取った基板を前記複数の処理ユニットのうちいずれ
かの処理ユニットに搬送するための第1の基板搬送ロボ
ットと、 前記複数の処理ユニットのうちいずれかの処理ユニット
から処理済の基板を搬出し、この搬出された基板を前記
基板収納アームに渡すための第2の基板搬送ロボットと
を含むことを特徴とする基板処理装置。
An apparatus includes a cassette mounting section on which a cassette for accommodating a plurality of substrates is mounted, and at least one cleaning processing section for cleaning the substrates, for performing a series of processing on the substrates. A plurality of processing units, a substrate take-out arm for taking out an unprocessed substrate stored in a cassette mounted on the cassette mounting portion, and a substrate that has been processed in any of the processing units. A substrate accommodating arm for accommodating in a cassette mounted on a cassette mounting portion, receiving an unprocessed substrate from the substrate unloading arm, and transferring the received substrate to one of the plurality of processing units. A first substrate transport robot for transporting, and unloading a processed substrate from any one of the plurality of processing units, A substrate processing apparatus which comprises a second substrate transfer robot for transferring the serial substrate loading arm.
【請求項2】前記基板取出アームと基板収納アームと
は、前記カセットに対して選択的に挿入されるものであ
ることを特徴とする請求項1記載の基板処理装置。
2. The substrate processing apparatus according to claim 1, wherein said substrate take-out arm and said substrate storage arm are selectively inserted into said cassette.
【請求項3】前記カセットは所定のカセット載置方向に
沿って前記カセット載置部に複数載置されており、 前記基板取出アームおよび基板収納アームは、前記カセ
ット載置方向に沿って移動可能な1台のインデクサロボ
ットに備えられているものであることを特徴とする請求
項1または請求項2記載の基板処理装置。
3. A plurality of the cassettes are mounted on the cassette mounting portion along a predetermined cassette mounting direction, and the substrate take-out arm and the substrate storage arm are movable along the cassette mounting direction. The substrate processing apparatus according to claim 1, wherein the substrate processing apparatus is provided in a single indexer robot.
【請求項4】前記基板取出アームは、前記基板収納アー
ムよりも下方に配置されていることを特徴とする請求項
1ないし3のいずれかに記載の基板処理装置。
4. The substrate processing apparatus according to claim 1, wherein said substrate take-out arm is disposed below said substrate storage arm.
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