JPH10160636A - 複数の単一モード光ファイバで構成される光ファイバの特性評価方法 - Google Patents
複数の単一モード光ファイバで構成される光ファイバの特性評価方法Info
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- JPH10160636A JPH10160636A JP31625096A JP31625096A JPH10160636A JP H10160636 A JPH10160636 A JP H10160636A JP 31625096 A JP31625096 A JP 31625096A JP 31625096 A JP31625096 A JP 31625096A JP H10160636 A JPH10160636 A JP H10160636A
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 複数の単一モード光ファイバで構成される光
ファイバの長手方向の特性分布を１波長の光源を用い、
簡便かつ非破壊で評価する。 【解決手段】 任意の１波長の光源を用いて後方散乱波
形の測定およびファイバの一端でのモードフィールド径
の波長依存性２Ｗ（λi ）を測定し、接続されている光
ファイバの任意の一端でのモードフィールド径を知るこ
とにより、複数の単一モード光ファイバで構成される光
ファイバの長手方向のモードフィールド径分布特性を非
破壊で評価する。
ファイバの長手方向の特性分布を１波長の光源を用い、
簡便かつ非破壊で評価する。 【解決手段】 任意の１波長の光源を用いて後方散乱波
形の測定およびファイバの一端でのモードフィールド径
の波長依存性２Ｗ（λi ）を測定し、接続されている光
ファイバの任意の一端でのモードフィールド径を知るこ
とにより、複数の単一モード光ファイバで構成される光
ファイバの長手方向のモードフィールド径分布特性を非
破壊で評価する。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、光通信等に用いら
れる複数の単一モード光ファイバで構成される光ファイ
バの特性評価方法に関し、さらに詳しくは、後方レーリ
ー散乱光波形を含む単一モード光ファイバの長手方向の
モードフィールド径の情報を光源の波長および被測定フ
ァイバの両方向から後方レーリー散乱光を測定すること
により評価するものである。
れる複数の単一モード光ファイバで構成される光ファイ
バの特性評価方法に関し、さらに詳しくは、後方レーリ
ー散乱光波形を含む単一モード光ファイバの長手方向の
モードフィールド径の情報を光源の波長および被測定フ
ァイバの両方向から後方レーリー散乱光を測定すること
により評価するものである。
【０００２】
【従来の技術】近年、光ファイバアンプの急速な発展に
伴う入力光レベルの向上により、光ファイバにおける光
非線形効果の影響が顕著となっている。光ファイバにお
ける光非線形効果は、光ファイバ入射端から出射端に向
けて順次、発生・累積される。そのため、光非線形効果
の影響を十分に理解するには、光ファイバパラメータで
あるモードフィールド径の長手方向の分布特性を把握す
ることが必要不可欠となっている。
伴う入力光レベルの向上により、光ファイバにおける光
非線形効果の影響が顕著となっている。光ファイバにお
ける光非線形効果は、光ファイバ入射端から出射端に向
けて順次、発生・累積される。そのため、光非線形効果
の影響を十分に理解するには、光ファイバパラメータで
あるモードフィールド径の長手方向の分布特性を把握す
ることが必要不可欠となっている。
【０００３】上記単一モード光ファイバのモードフィー
ルド径２Ｗは、遠視野の界分布をΦとすると、次式
（７）で定義される。
ルド径２Ｗは、遠視野の界分布をΦとすると、次式
（７）で定義される。
【０００４】
【数７】
【０００５】ただし、ｐは波数ｋおよび放射角θを用い
て次式（８）で表される。
て次式（８）で表される。
【０００６】
【数８】
【０００７】従来の単一モード光ファイバのモードフィ
ールド径を測定する方法としてはファーフィールドパタ
ーン法が知られている。ファーフィールドパターン法で
は、遠視野の光強度分布を測定することにより、上記
（７）式の定義に従って光ファイバ一端のモードフィー
ルド径を評価する。
ールド径を測定する方法としてはファーフィールドパタ
ーン法が知られている。ファーフィールドパターン法で
は、遠視野の光強度分布を測定することにより、上記
（７）式の定義に従って光ファイバ一端のモードフィー
ルド径を評価する。
【０００８】またさらに、単一モード光ファイバの長手
方向のモードフィールド径分布を測定する手法として
は、光ファイバの両端から異なる２波長以上の波長を入
射して測定した後方散乱光強度Ｓ1 およびＳ2 を求める
方法がある。
方向のモードフィールド径分布を測定する手法として
は、光ファイバの両端から異なる２波長以上の波長を入
射して測定した後方散乱光強度Ｓ1 およびＳ2 を求める
方法がある。
【０００９】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、従来の
ファーフィールドパターン法によるモードフィールド径
測定は、光ファイバ一端のモードフィールド径しか測定
できないので、被測定光ファイバの長手方向でのモード
フィールド径の変動を測定するためには、光ファイバを
切断して測定する必要がある。従って、この方法では測
定した光ファイバを使用できなくなるという問題があっ
た。
ファーフィールドパターン法によるモードフィールド径
測定は、光ファイバ一端のモードフィールド径しか測定
できないので、被測定光ファイバの長手方向でのモード
フィールド径の変動を測定するためには、光ファイバを
切断して測定する必要がある。従って、この方法では測
定した光ファイバを使用できなくなるという問題があっ
た。
【００１０】またさらに、破壊測定のかかる問題を解決
するために、光ファイバの両端から異なる２波長以上の
波長を入射して測定した後方散乱光強度Ｓ1 およびＳ2
を用いてモードフィールド径の長手方向の変動を測定す
る方法が開発されている。しかし、この方法では、被測
定ファイバ長手方向の散乱係数の変動は、モードフィー
ルド径の変動に比べて十分に小さいと仮定しているた
め、複数の単一モード光ファイバで構成される光ファイ
バでは、ファイバ間の散乱係数の変化に伴い、モードフ
ィールド径分布の測定値に誤差を生じるという解決すべ
き課題があった。
するために、光ファイバの両端から異なる２波長以上の
波長を入射して測定した後方散乱光強度Ｓ1 およびＳ2
を用いてモードフィールド径の長手方向の変動を測定す
る方法が開発されている。しかし、この方法では、被測
定ファイバ長手方向の散乱係数の変動は、モードフィー
ルド径の変動に比べて十分に小さいと仮定しているた
め、複数の単一モード光ファイバで構成される光ファイ
バでは、ファイバ間の散乱係数の変化に伴い、モードフ
ィールド径分布の測定値に誤差を生じるという解決すべ
き課題があった。
【００１１】本発明は、このような事情に鑑み、複数の
単一モード光ファイバで構成される光ファイバの長手方
向のモードフィールド径分布を、非破壊で、かつファイ
バ間の散乱係数の変化を考慮に入れ、１波長での測定に
より評価することを可能にした単一モード光ファイバの
特性評価方法を提供することを目的とする。
単一モード光ファイバで構成される光ファイバの長手方
向のモードフィールド径分布を、非破壊で、かつファイ
バ間の散乱係数の変化を考慮に入れ、１波長での測定に
より評価することを可能にした単一モード光ファイバの
特性評価方法を提供することを目的とする。
【００１２】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、本発明では、被測定光ファイバの両端から任意の１
波長、例えば分散シフトファイバの使用波長帯域である
１．５５μｍの光パルスを入射して測定した後方散乱光
強度Ｓ1 およびＳ2 を用いる。これらの測定データと当
該光ファイバの一端でのモードフィールド径２Ｗの測定
値を用いて、任意の位置ｚにおけるモードフィールド径
２Ｗ（ｚ）を求める。本発明では、ファイバ間の散乱係
数を考慮することにより、長手方向のモードフィールド
径分布の測定精度を向上している。
に、本発明では、被測定光ファイバの両端から任意の１
波長、例えば分散シフトファイバの使用波長帯域である
１．５５μｍの光パルスを入射して測定した後方散乱光
強度Ｓ1 およびＳ2 を用いる。これらの測定データと当
該光ファイバの一端でのモードフィールド径２Ｗの測定
値を用いて、任意の位置ｚにおけるモードフィールド径
２Ｗ（ｚ）を求める。本発明では、ファイバ間の散乱係
数を考慮することにより、長手方向のモードフィールド
径分布の測定精度を向上している。
【００１３】本発明に係る単一モード光ファイバの特性
評価方法は、具体的には次の通りである。
評価方法は、具体的には次の通りである。
【００１４】本発明の測定法では、複数の単一モード光
ファイバで構成される任意の長さＬの光ファイバの一方
側から波長λのパルス光を入射したときの該光ファイバ
の位置ｚにおける後方散乱光強度Ｓ1 （λ，ｚ）（単
位：ｄＢｍ）と、該光ファイバの他方側から同様に波長
λのパルス光を入射したときの後方散乱強度Ｓ2 （λ，
Ｌ−ｚ）（単位：ｄＢｍ）とを測定し、このように両端
から測定した後方散乱光強度の相加平均強度Ｉ（λ，
ｚ）を次の関係式（１）により求め、
ファイバで構成される任意の長さＬの光ファイバの一方
側から波長λのパルス光を入射したときの該光ファイバ
の位置ｚにおける後方散乱光強度Ｓ1 （λ，ｚ）（単
位：ｄＢｍ）と、該光ファイバの他方側から同様に波長
λのパルス光を入射したときの後方散乱強度Ｓ2 （λ，
Ｌ−ｚ）（単位：ｄＢｍ）とを測定し、このように両端
から測定した後方散乱光強度の相加平均強度Ｉ（λ，
ｚ）を次の関係式（１）により求め、
【００１５】
【数９】
【００１６】さらに、前記光ファイバの任意の一端の位
置ｚ0 での相加平均強度Ｉ（λ，ｚ0 ）でＩ（λ，ｚ）
を規格化した次式（２）に示す任意の波長λでの規格化
相加平均強度Ｉn （λ，ｚ）を求め、
置ｚ0 での相加平均強度Ｉ（λ，ｚ0 ）でＩ（λ，ｚ）
を規格化した次式（２）に示す任意の波長λでの規格化
相加平均強度Ｉn （λ，ｚ）を求め、
【００１７】
【数１０】
【００１８】前記光ファイバの任意の一端の位置ｚ0 に
おける任意の波長λのモードフィールド径２Ｗ（λi ，
ｚ0 ）を求め、かつ、接続されている光ファイバの任意
の一端の位置ｚにおける任意の波長λのモードフィール
ド径２Ｗ（λ，ｚ）が既知である場合に、前記（１）式
の相加平均強度と次式（３）および（４）を用いて、任
意の位置ｚ0 およびｚにおける定数成分ａ1 （ｚ0 ）お
よびａ1 （ｚ）を求め、
おける任意の波長λのモードフィールド径２Ｗ（λi ，
ｚ0 ）を求め、かつ、接続されている光ファイバの任意
の一端の位置ｚにおける任意の波長λのモードフィール
ド径２Ｗ（λ，ｚ）が既知である場合に、前記（１）式
の相加平均強度と次式（３）および（４）を用いて、任
意の位置ｚ0 およびｚにおける定数成分ａ1 （ｚ0 ）お
よびａ1 （ｚ）を求め、
【００１９】
【数１１】
【００２０】
【数１２】
【００２１】前記関係式（３）および（４）を用いて、
位置ｚ0 と位置ｚの間の散乱係数の違いが前記（２）式
の規格化相加平均強度に及ぼす寄与分Ｋw （ｚ）を以下
の関係式（５）により求め、
位置ｚ0 と位置ｚの間の散乱係数の違いが前記（２）式
の規格化相加平均強度に及ぼす寄与分Ｋw （ｚ）を以下
の関係式（５）により求め、
【００２２】
【数１３】
【００２３】前記位置ｚ0 で任意の波長λi のモードフ
ィールド径２Ｗ（λi ，ｚ0 ）を測定することによっ
て、単一モード光ファイバの任意の波長λi における長
手方向のモードフィールド径を前記（２）式および前記
（５）式と次の関係式（６）を用いて評価する。
ィールド径２Ｗ（λi ，ｚ0 ）を測定することによっ
て、単一モード光ファイバの任意の波長λi における長
手方向のモードフィールド径を前記（２）式および前記
（５）式と次の関係式（６）を用いて評価する。
【００２４】
【数１４】
【００２５】以上のように、本発明では、複数の単一モ
ード光ファイバで構成される光ファイバにおいて、接続
されている光ファイバの任意の一端でのモードフィール
ド径を用い、両方向から測定した１波長の後方散乱波形
を所定の関係式を用いて数値処理することにより、任意
の波長のモードフィールド径の長手方向の分布特性を評
価することができる。このような長手方向での分布特性
は伝送システムを設計する際に重要となる。また、本発
明は、１波長のみの測定から評価を行うため、測定が非
常に簡便に行えると同時に、接続されている光ファイバ
間の散乱係数の変化を考慮しているので、モードフィー
ルド径の測定精度を向上できるという利点を有してい
る。
ード光ファイバで構成される光ファイバにおいて、接続
されている光ファイバの任意の一端でのモードフィール
ド径を用い、両方向から測定した１波長の後方散乱波形
を所定の関係式を用いて数値処理することにより、任意
の波長のモードフィールド径の長手方向の分布特性を評
価することができる。このような長手方向での分布特性
は伝送システムを設計する際に重要となる。また、本発
明は、１波長のみの測定から評価を行うため、測定が非
常に簡便に行えると同時に、接続されている光ファイバ
間の散乱係数の変化を考慮しているので、モードフィー
ルド径の測定精度を向上できるという利点を有してい
る。
【００２６】
【発明の実施の形態】以下、図面を参照して本発明の実
施の形態を詳細に説明する。
施の形態を詳細に説明する。
【００２７】図１は本発明による光ファイバの長手方向
のモードフィールド径の分布特性の測定方法の実施形態
を示す工程図である。同図に示すように、本発明は非破
壊で複数の単一モード光ファイバで構成される光ファイ
バの長手方向のモードフィールド径特性を測定するため
に、公知のＯＴＤＲ（後方散乱光測定装置）を用いて１
波長の後方散乱光を被測定光ファイバの両方向から測定
し、接続されているファイバの任意の一端ｚでのモード
フィールド径を知ることにより、任意の波長のモードフ
ィールド径分布を評価する。以下に、本発明の詳細を説
明する。
のモードフィールド径の分布特性の測定方法の実施形態
を示す工程図である。同図に示すように、本発明は非破
壊で複数の単一モード光ファイバで構成される光ファイ
バの長手方向のモードフィールド径特性を測定するため
に、公知のＯＴＤＲ（後方散乱光測定装置）を用いて１
波長の後方散乱光を被測定光ファイバの両方向から測定
し、接続されているファイバの任意の一端ｚでのモード
フィールド径を知ることにより、任意の波長のモードフ
ィールド径分布を評価する。以下に、本発明の詳細を説
明する。
【００２８】長手方向のモードフィールド径の特性を評
価する方法については、例えば、文献[M. S. O'Sulliva
n and R. S. Lowe, "Interpretation of SM fiber OTDR
signatures"、 Proceeding SPIE '86, Optical Testing
and Metrology, vol.661, pp.171-176, 1986]に述べら
れている。
価する方法については、例えば、文献[M. S. O'Sulliva
n and R. S. Lowe, "Interpretation of SM fiber OTDR
signatures"、 Proceeding SPIE '86, Optical Testing
and Metrology, vol.661, pp.171-176, 1986]に述べら
れている。
【００２９】単一モード光ファイバの入射端から位置ｚ
での波長λの後方散乱光強度Ｐ（ｚ）は次式（９）で表
される。ただし、Ｐ0 は光ファイバに励起された波長λ
での入射光強度、αs （ｚ）は位置ｚでの散乱係数、Ｂ
（λ，ｚ）は位置ｚでの波長λの後方散乱光の捕獲率、
またγ（ｚ）は位置ｚでの損失係数を表す。
での波長λの後方散乱光強度Ｐ（ｚ）は次式（９）で表
される。ただし、Ｐ0 は光ファイバに励起された波長λ
での入射光強度、αs （ｚ）は位置ｚでの散乱係数、Ｂ
（λ，ｚ）は位置ｚでの波長λの後方散乱光の捕獲率、
またγ（ｚ）は位置ｚでの損失係数を表す。
【００３０】
【数１５】
【００３１】複数の単一モード光ファイバで構成される
長さ（全長）Ｌの光ファイバの両端から測定された位置
ｚでの後方散乱光強度をＳ1 （λ，ｚ）、Ｓ2 （λ，Ｌ
−ｚ）（単位：ｄＢｍ）とすると、これらはそれぞれ次
式（１０），（１１）で表される。
長さ（全長）Ｌの光ファイバの両端から測定された位置
ｚでの後方散乱光強度をＳ1 （λ，ｚ）、Ｓ2 （λ，Ｌ
−ｚ）（単位：ｄＢｍ）とすると、これらはそれぞれ次
式（１０），（１１）で表される。
【００３２】
【数１６】
【００３３】
【数１７】
【００３４】また、両端から測定した散乱光強度Ｓ
1 （λ，ｚ）、Ｓ2 （λ，Ｌ−ｚ）の相加平均強度Ｉ
（λ，ｚ）は、次式（１２）で表される。
1 （λ，ｚ）、Ｓ2 （λ，Ｌ−ｚ）の相加平均強度Ｉ
（λ，ｚ）は、次式（１２）で表される。
【００３５】
【数１８】
【００３６】ただし、ａ1 は次式（１３）で表され、ｚ
に依存しない定数である。
に依存しない定数である。
【００３７】
【数１９】
【００３８】上式（１２）から、Ｉ（λ，ｚ）はｚでの
散乱係数αs （ｚ）および捕獲率Ｂ（λ，ｚ）に比例す
ることが分る。捕獲率Ｂ（λ，ｚ）は次式（１４）で表
される。ただし、ｎはコアの屈折率、２Ｗ（λ，ｚ）は
位置ｚでの波長λにおけるモードフィールド径を示す。
散乱係数αs （ｚ）および捕獲率Ｂ（λ，ｚ）に比例す
ることが分る。捕獲率Ｂ（λ，ｚ）は次式（１４）で表
される。ただし、ｎはコアの屈折率、２Ｗ（λ，ｚ）は
位置ｚでの波長λにおけるモードフィールド径を示す。
【００３９】
【数２０】
【００４０】従って、Ｉ（λ，ｚ）はａ2 が位置ｚに依
存しない定数として次式（１５）で表される。
存しない定数として次式（１５）で表される。
【００４１】
【数２１】
【００４２】上式（１５）を任意の点ｚ＝ｚ0 のＩ
（λ，ｚ0 ）の値で規格化すると、次式（１６）に書き
直すことができる。
（λ，ｚ0 ）の値で規格化すると、次式（１６）に書き
直すことができる。
【００４３】
【数２２】
【００４４】ここで、上式（１６）の右辺の第１項は散
乱係数αs およびコアの屈折率ｎに依存する。複数の光
ファイバが接続されている場合には、光ファイバ間での
散乱係数とコアの屈折率の変化が生じるため、この第１
項をファイバが接続されたときに必要とされる補正項Ｋ
w （ｚ）として定義する。
乱係数αs およびコアの屈折率ｎに依存する。複数の光
ファイバが接続されている場合には、光ファイバ間での
散乱係数とコアの屈折率の変化が生じるため、この第１
項をファイバが接続されたときに必要とされる補正項Ｋ
w （ｚ）として定義する。
【００４５】このファイバ間の散乱係数の変化に伴う補
正項Ｋw （ｚ）は波長λでの任意の位置ｚ0 におけるモ
ードフィールド径２Ｗ（λ，ｚ0 ）および接続されてい
る光ファイバの任意の一端の位置ｚにおけるモードフィ
ールド径２Ｗ（λ，ｚ）を用いて求めることができる。
すなわち、波長λでの任意の位置ｚ0 におけるモードフ
ィールド径２Ｗ（λ，ｚ0 ）を求め、かつ接続されてい
る光ファイバの任意の一端の位置ｚにおけるモードフィ
ールド径２Ｗ（λ，ｚ）が既知である場合、前記（１
２）式の相加平均強度と次式（１７）および（１８）を
用いて位置ｚ0 およびｚにおける定数成分ａ1 （ｚ0 ）
およびａ1 （ｚ）を求め、
正項Ｋw （ｚ）は波長λでの任意の位置ｚ0 におけるモ
ードフィールド径２Ｗ（λ，ｚ0 ）および接続されてい
る光ファイバの任意の一端の位置ｚにおけるモードフィ
ールド径２Ｗ（λ，ｚ）を用いて求めることができる。
すなわち、波長λでの任意の位置ｚ0 におけるモードフ
ィールド径２Ｗ（λ，ｚ0 ）を求め、かつ接続されてい
る光ファイバの任意の一端の位置ｚにおけるモードフィ
ールド径２Ｗ（λ，ｚ）が既知である場合、前記（１
２）式の相加平均強度と次式（１７）および（１８）を
用いて位置ｚ0 およびｚにおける定数成分ａ1 （ｚ0 ）
およびａ1 （ｚ）を求め、
【００４６】
【数２３】
【００４７】
【数２４】
【００４８】上記関係式（１７）および（１８）を用い
て、位置ｚ0 と位置ｚの間の散乱係数の違いに伴う補正
項Ｋw （ｚ）は次式（１９）で表される。
て、位置ｚ0 と位置ｚの間の散乱係数の違いに伴う補正
項Ｋw （ｚ）は次式（１９）で表される。
【００４９】
【数２５】
【００５０】従って、ファイバの一端での位置ｚ＝ｚ0
で、任意の波長λi （ｉ＝１，２，３，…，ｎ）のモー
ドフィールド径２Ｗ（λi ，ｚ0 ）を測定すると、任意
の波長λi でのモードフィールド径分布２Ｗ（λi ，
ｚ）は上記（１９）式のＫw （ｚ）を用いて次式（２
０）で評価できる。
で、任意の波長λi （ｉ＝１，２，３，…，ｎ）のモー
ドフィールド径２Ｗ（λi ，ｚ0 ）を測定すると、任意
の波長λi でのモードフィールド径分布２Ｗ（λi ，
ｚ）は上記（１９）式のＫw （ｚ）を用いて次式（２
０）で評価できる。
【００５１】
【数２６】
【００５２】
【実施例】本発明の一実施例では、分散シフトファイバ
と１．３μｍ零分散単一モードファイバで構成される光
ファイバの両方向から測定した波長１．５５μｍでの後
方散乱波形から、分散シフトファイバおよび１．３μｍ
零分散単一モードファイバの任意位置で測定されたモー
ドフィールド径２Ｗ（λi ，ｚ0 ）を用いて長手方向の
モードフィールド径分布を評価した。
と１．３μｍ零分散単一モードファイバで構成される光
ファイバの両方向から測定した波長１．５５μｍでの後
方散乱波形から、分散シフトファイバおよび１．３μｍ
零分散単一モードファイバの任意位置で測定されたモー
ドフィールド径２Ｗ（λi ，ｚ0 ）を用いて長手方向の
モードフィールド径分布を評価した。
【００５３】本実施例の処理手順は図１に示す通りであ
る。すなわち、まず、任意の１波長で、被測定ファイバ
の両端から後方散乱強度Ｓ1 （ｚ）およびＳ2 （Ｌ−
ｚ）を測定する（ステップＳ１）。次に、被測定ファイ
バの一端でのモードフィールド径の波長依存性２Ｗ（λ
i ，ｚ0 ）を測定する（ステップＳ２）。続いて、波長
λでの接続されている光ファイバの任意の一端の位置ｚ
のモードフィールド径を用いて、上式（１９）の補正項
（寄与分）Ｋw （ｚ）を評価する（ステップＳ３）。
る。すなわち、まず、任意の１波長で、被測定ファイバ
の両端から後方散乱強度Ｓ1 （ｚ）およびＳ2 （Ｌ−
ｚ）を測定する（ステップＳ１）。次に、被測定ファイ
バの一端でのモードフィールド径の波長依存性２Ｗ（λ
i ，ｚ0 ）を測定する（ステップＳ２）。続いて、波長
λでの接続されている光ファイバの任意の一端の位置ｚ
のモードフィールド径を用いて、上式（１９）の補正項
（寄与分）Ｋw （ｚ）を評価する（ステップＳ３）。
【００５４】最後に、上記Ｋw （ｚ）のデータを用い
て、上式（２０）により、複数の単一モード光ファイバ
で構成される光ファイバの長手方向のモードフィールド
径分布を評価する（ステップＳ４）。
て、上式（２０）により、複数の単一モード光ファイバ
で構成される光ファイバの長手方向のモードフィールド
径分布を評価する（ステップＳ４）。
【００５５】図２は１．５５μｍでの分散シフトファイ
バと、１．３μｍ零分散単一モードファイバで構成され
る光ファイバ約２０ｋｍの後方散乱波形の両端から測定
した結果の図である。この図から式（１６），（１９）
および（２０）を用いて、１．５３μｍ、１．５５μｍ
および１．５７μｍのモードフィールド径の長手方向の
特性を評価したところ、図３に示す結果が得られた。な
お、２Ｗ（λi ，ｚ0）には分散シフトファイバの一端
でのモードフィールド径を用いた。
バと、１．３μｍ零分散単一モードファイバで構成され
る光ファイバ約２０ｋｍの後方散乱波形の両端から測定
した結果の図である。この図から式（１６），（１９）
および（２０）を用いて、１．５３μｍ、１．５５μｍ
および１．５７μｍのモードフィールド径の長手方向の
特性を評価したところ、図３に示す結果が得られた。な
お、２Ｗ（λi ，ｚ0）には分散シフトファイバの一端
でのモードフィールド径を用いた。
【００５６】
【発明の効果】以上述べたように、本発明によれば、複
数の単一モード光ファイバで構成される光ファイバにお
いて、１波長でその光ファイバの両端からの後方散乱波
形の測定およびファイバ一端でのモードフィールド径の
波長依存性２Ｗ（λi ）を測定し、接続されている光フ
ァイバの任意の一端のモードフィールド径を知ることに
より、複数の単一モード光ファイバで構成される光ファ
イバの長手方向の特性を非破壊で評価することができる
という効果を奏する。また、本発明は、１波長だけの測
定であるため測定時間を短縮できると同時に、接続され
ている光ファイバ間の散乱係数の変化を考慮しているの
でモードフィールド径の測定精度を向上できる効果を奏
する。
数の単一モード光ファイバで構成される光ファイバにお
いて、１波長でその光ファイバの両端からの後方散乱波
形の測定およびファイバ一端でのモードフィールド径の
波長依存性２Ｗ（λi ）を測定し、接続されている光フ
ァイバの任意の一端のモードフィールド径を知ることに
より、複数の単一モード光ファイバで構成される光ファ
イバの長手方向の特性を非破壊で評価することができる
という効果を奏する。また、本発明は、１波長だけの測
定であるため測定時間を短縮できると同時に、接続され
ている光ファイバ間の散乱係数の変化を考慮しているの
でモードフィールド径の測定精度を向上できる効果を奏
する。
【図１】本発明の一実施例の処理手順の工程を示す工程
図である。
図である。
【図２】本発明実施例における１．５５μｍでの後方散
乱波形の測定結果を示す特性図である。
乱波形の測定結果を示す特性図である。
【図３】本発明実施例における１．５３μｍ、１．５５
μｍおよび１．５７μｍでの長手方向のモードフィール
ド径の評価結果を表す特性図である。
μｍおよび１．５７μｍでの長手方向のモードフィール
ド径の評価結果を表す特性図である。
Claims (1)
- 【請求項１】 複数の単一モード光ファイバで構成され
る任意の長さＬの光ファイバの一方側から波長λのパル
ス光を入射したときの該光ファイバの位置ｚにおける後
方散乱光強度Ｓ1 （λ，ｚ）（単位：ｄＢｍ）と、該光
ファイバの他方側から同様に波長λのパルス光を入射し
たときの後方散乱強度Ｓ2 （λ，Ｌ−ｚ）（単位：ｄＢ
ｍ）とを測定し、このように両端から測定した後方散乱
光強度の相加平均強度Ｉ（λ，ｚ）を次の関係式（１）
により求め、 【数１】 さらに、前記光ファイバの任意の一端の位置ｚ0 での相
加平均強度Ｉ（λ，ｚ0 ）でＩ（λ，ｚ）を規格化した
次式（２）に示す任意の波長λでの規格化相加平均強度
Ｉn （λ，ｚ）を求め、 【数２】 前記光ファイバの任意の一端の位置ｚ0 における任意の
波長λのモードフィールド径２Ｗ（λi ，ｚ0 ）を求
め、かつ接続されている光ファイバの任意の一端の位置
ｚにおける任意の波長λのモードフィールド径２Ｗ
（λ，ｚ）が既知である場合に、前記（１）式の相加平
均強度と次式（３）および（４）を用いて、任意の位置
ｚ0 およびｚにおける定数成分ａ1 （ｚ0 ）およびａ1
（ｚ）を求め、 【数３】 【数４】 前記関係式（３）および（４）を用いて、位置ｚ0 と位
置ｚの間の散乱係数の違いが前記（２）式の規格化相加
平均強度に及ぼす寄与分Ｋw （ｚ）を以下の関係式
（５）により求め、 【数５】 前記位置ｚ0 で任意の波長λi のモードフィールド径２
Ｗ（λi ，ｚ0 ）を測定することによって、単一モード
光ファイバの任意の波長λi における長手方向のモード
フィールド径を前記（２）式および前記（５）式と次の
関係式（６）を用いて評価することを特徴とする複数の
単一モード光ファイバで構成される光ファイバの特性評
価方法。 【数６】
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP31625096A JP3388497B2 (ja) | 1996-11-27 | 1996-11-27 | 単一モード光ファイバの特性評価方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP31625096A JP3388497B2 (ja) | 1996-11-27 | 1996-11-27 | 単一モード光ファイバの特性評価方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH10160636A true JPH10160636A (ja) | 1998-06-19 |
| JP3388497B2 JP3388497B2 (ja) | 2003-03-24 |
Family
ID=18075008
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP31625096A Expired - Fee Related JP3388497B2 (ja) | 1996-11-27 | 1996-11-27 | 単一モード光ファイバの特性評価方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3388497B2 (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2004309923A (ja) * | 2003-04-09 | 2004-11-04 | Sumitomo Electric Ind Ltd | 光伝送路構成方法および光伝送路 |
| JP2006105961A (ja) * | 2004-09-13 | 2006-04-20 | Fujikura Ltd | 光ファイバのモードフィールド径、波長分散特性、およびその長手方向分布測定方法 |
| JP2008203184A (ja) * | 2007-02-22 | 2008-09-04 | Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> | 光ファイバの特性評価方法および装置ならびにプログラム |
| JP2022164235A (ja) * | 2021-04-16 | 2022-10-27 | 日本電信電話株式会社 | 光学特性測定方法および光学特性測定装置 |
-
1996
- 1996-11-27 JP JP31625096A patent/JP3388497B2/ja not_active Expired - Fee Related
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
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| JP2006105961A (ja) * | 2004-09-13 | 2006-04-20 | Fujikura Ltd | 光ファイバのモードフィールド径、波長分散特性、およびその長手方向分布測定方法 |
| JP2008203184A (ja) * | 2007-02-22 | 2008-09-04 | Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> | 光ファイバの特性評価方法および装置ならびにプログラム |
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| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP3388497B2 (ja) | 2003-03-24 |
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