JPH10176262A - 蒸着装置 - Google Patents
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Abstract
よって高品位の膜質を有する薄膜を形成しうる蒸着装置
を提供する。 【解決手段】真空下で搬送される基板5上に蒸着材料
(例えば、MgO)を蒸着して薄膜を形成するための蒸着
装置で、基板5に付着する蒸着材料の粒子10の入射角
θ2、θ3が所定の角度より大きくならないように当該粒
子の入射角を規制する入射角規制手段を設ける。入射角
規制手段として、蒸着材料の蒸発源8に対し、基板5の
搬送方向の上流側及び下流側に基板5に対する入射角θ
3 が35度より大きい蒸着材料の粒子10を遮る蒸着材
遮蔽板11a、11bを設ける。また、基板5の搬送方
向と直交する方向に複数の蒸発源8a〜8dを配し、各
蒸発源8a〜8dの間に衝立状の蒸着材遮蔽板9a、9
b、9cを設け、基板5に対する入射角θ2 が35度よ
り大きい蒸着材料の粒子10を遮るようにする。
Description
ら薄膜を形成する通過型の蒸着装置に関し、特にPDP
(プラズマディスプレイパネル)の誘電体保護膜を形成
するための蒸着装置に関する。
着装置としては、一般に基板通過方式を採用した蒸着装
置が用いられている。
の蒸着装置の概略構成を示す。図9(a)(b)に示す
ように、この蒸着装置101は、概略、蒸着室102
と、その両側に搬送室103、104が設けられ、これ
らは図示しない真空排気系に連結されている。そして、
蒸着すべき例えばガラスからなる基板105が搬送室1
03から蒸着室102に連続的にx方向に搬送され、こ
の蒸着室102を通過して搬送室104に向って搬送さ
れる。
ース107に4つの蒸発源108a、108b、108
c、108dが設けられる。そして、2つの電子銃10
6a、106bから各蒸発源108a、108b、10
8c、108dに対して電子ビームを照射することによ
りそれぞれの蒸着材料を蒸発させ、基板105上に蒸着
を行う。
べき基板105の幅が1m以上ある場合であっても、基
板105の搬送方向と直交する方向(y方向)に4つの
蒸発源108a、108b、108c、108dが設け
られていることから、基板105の幅方向の膜厚分布を
均一にすることができる。
装置101の場合、各蒸発源108a、108b、10
8c、108dから蒸発した蒸着材料の粒子110は、
基板105に対して垂直に入射した粒子と、基板105
に対して大きな入射角で入射した粒子が混入した状態で
蒸着膜が形成される。例えば、図10(a)(b)に示
すように、従来の蒸着装置101の場合、各蒸発源10
8a、108b、108c、108dかから飛び出す蒸
着材料の粒子110の角度は、θ1=7°、θ2=65°、
θ3=55°、θ4=35°、θ5=42°で、最大入射
角は65°にもなる。
粒子110が膜中に入射した場合、特にMgO膜の場合
には、膜の結晶性の低下や膜密度の低下が生じる。Mg
O膜は、交流型プラズマディスプレイパネル用の誘電体
保護膜として用いられる場合があるが、その場合には、
プラズマディスプレイパネルの放電電圧が上昇するとと
もに、パネルとしての寿命が低下するという欠点があっ
た。
解決するためになされたもので、基板に堆積する蒸着材
料の粒子の入射角を制限することによって高品位の膜質
を有する薄膜を形成しうる蒸着装置を提供することを目
的とするものである。
め、請求項1記載の発明は、真空下で搬送される基体上
に蒸着材料を蒸着して薄膜を形成するための蒸着装置で
あって、上記基体に付着する蒸着材料の粒子の入射角が
所定の角度より大きくならないように当該粒子の入射角
を規制する入射角規制手段を設けたことを特徴とする。
請求項1記載の発明において、入射角規制手段として、
基体に対する入射角が所定の角度より大きい蒸着材料の
粒子を遮る蒸着材遮蔽部材を設けることも効果的であ
る。
項2記載の発明において、蒸着材料の蒸発源に対し、基
体の搬送方向の上流側及び下流側に蒸着材遮蔽部材を設
けることも効果的である。
求項2又は3のいずれか1項記載の発明において、基体
の搬送方向に対して交差方向に複数の蒸発源を配すると
ともに、当該交差方向について、上記各蒸発源について
の蒸着材遮蔽部材を設けることも効果的である。
に、請求項1乃至4のいずれかに記載の発明において、
蒸着材料としてMgOを用い、基体に対するMgOの粒
子の入射角が35度より大きくならないように当該粒子
の入射角を規制することも効果的である。
る蒸着材料の粒子の入射角が所定の角度より大きくなら
ないように当該粒子の入射角が規制されるため、従来技
術のような蒸着膜の結晶性の低下や膜密度の低下といっ
た問題を回避することができる。
請求項1記載の発明において、入射角規制手段として、
基体に対する入射角が所定の角度より大きい蒸着材料の
粒子を遮る蒸着材遮蔽部材を設ければ、基体に対する入
射角が所定の角度より大きい蒸着材料の粒子は基体に到
達せず、容易に蒸着材料の粒子の入射角を規制すること
ができる。
項2記載の発明において、蒸着材料の蒸発源に対し、基
体の搬送方向の上流側及び下流側に蒸着材遮蔽部材を設
ければ、基体の搬送方向について、基体に対する蒸着材
料の粒子の入射角を規制することができる。
求項2又は3のいずれか1項記載の発明において、基体
の搬送方向に対して交差方向に複数の蒸発源を配すると
ともに、当該交差方向について、上記各蒸発源について
の蒸着材遮蔽部材を設ければ、各蒸発源から蒸発する蒸
着材料の粒子の基体に対する入射角を規制することがで
き、その結果、基体が大きい場合であっても、蒸着膜の
結晶性の低下や膜密度の低下といった問題を生じさせる
ことなく、均一な膜厚分布の膜を形成することができ
る。
に、請求項1乃至4のいずれか1項記載の発明におい
て、蒸着材料としてMgOを用い、基体に対するMgO
の粒子の入射角が35度より大きくならないように当該
粒子の入射角を規制すれば、例えば、プラズマディスプ
レイパネルの保護膜を形成した場合において、放電電圧
の上昇を防止することができるとともに、パネルの寿命
を延ばすことができる。
ましい実施の形態を図1〜図8を参照して詳細に説明す
る。
装置の概略構成を示すものである。図1(a)(b)に
示すように、この蒸着装置1は、概略、蒸着室2と、そ
の両側に搬送室3、4が設けられ、これらは図示しない
真空排気系に連結されている。そして、蒸着すべき例え
ばガラスからなる基板5が搬送室3から蒸着室2にx方
向に搬送され、この蒸着室2で蒸着された後に搬送室4
に向って搬送されるように構成される。この場合、図1
(b)に示すように、多数の基板5が連続して蒸着室2
を通過するように構成されている。
7によって加熱される4つの蒸発源8(8a、8b、8
c、8d)が設けられる。なお、本実施の形態の場合、
各蒸発源8a、8b、8c、8dの蒸着材料としては、
例えばMgOが用いられる。そして、蒸着室2の下方に
2つの電子銃6a、6bが設けられ、これらの電子銃6
a、6bから各蒸発源8a、8b、8c、8dに対して
電子ビームEBを照射することにより各蒸着材料を蒸発
させ、基板上に蒸着を行うようになっている。
ば2点ジャンピング式のピアス式電子銃が用いられ、一
方の電子銃6aによって蒸発源8a、8bに電子ビーム
EBを照射するとともに、他方の電子銃6bによって蒸
発源8c、8dに電子ビームEBを照射するように構成
される。
付着する蒸着材料の粒子10の入射角が所定の角度より
大きくならないように、以下のような手段が設けられて
いる。
うに、蒸着室2内の各蒸発源8a、8b、8c、8dの
間に衝立状の蒸着材遮蔽板9a、9b、9cが設けられ
る。これらの蒸着材遮蔽板9a、9b、9cは、それぞ
れ基板5の搬送方向と平行にに配置され、その上端部が
各蒸発源8a、8b、8c、8dより上方に位置するよ
うに構成される。そして、これらの蒸着材遮蔽板9a、
9b、9cによって、各蒸発源8a、8b、8c、8d
から蒸発した蒸着材料の粒子10a、10b、10c、
10dが遮蔽され、これらの基板5の搬送方向と直交す
る方向(図1(a)のy方向)についての出射角θ2、
即ち基板5に対する入射角θ2が所定の角度より大きい
蒸着材料の粒子10が基板5に到達しないようになって
いる。ここで、本実施の形態の場合は、θ2は35°で
ある。
た蒸着材料の粒子10a、10dの基板5の端部に対す
る入射角θ1 は、従来例と同様に7°となるようになっ
ている。
うに、各蒸発源8a、8b、8c、8dの基板5の搬送
方向上流側及び下流側であって、基板5の近傍には、水
平方向にそれぞれ蒸着材遮蔽板11a、11bが設けら
れている。そして、これらの蒸着材遮蔽板11a、11
bによって、各蒸発源8a、8b、8c、8dから蒸発
した蒸着材料の粒子10a、10b、10c、10dが
遮蔽され、これらの基板5の搬送方向の上流側及び下流
側の出射角θ3、即ち基板5に対する入射角θ3が所定の
角度より大きい蒸着材料の粒子10が基板5に到達しな
いようになっている。ここで、本実施の形態の場合は、
θ2と同様、θ3は35°である。
いて、x方向に基板5を搬送しつつ各電子銃6a、6b
から電子ビームEBを各蒸発源8a、8b、8c、8d
に照射すると、各蒸発源8a、8b、8c、8dから蒸
発した蒸着材料の粒子10a、10b、10c、10d
は、蒸着材遮蔽板9a、9b、9cによって規制される
とともに、蒸着材遮蔽板11a、11bによって規制さ
れ、それぞれの基板5に対する入射角θ2、θ3が35°
より大きくなることはない。
術のような蒸着膜の結晶性の低下や膜密度の低下といっ
た問題は回避することができ、高品位の蒸着膜を形成す
ることができる。よって、本実施の形態によるMgO膜
をプラズマディスプレイパネルの保護膜として用いた場
合には、放電電圧の上昇を防止し、パネルの寿命を延ば
すことができる。
ることなく、種々の変更を行うことができる。例えば、
上述の実施の形態の場合は、各蒸発源8a、8b、8
c、8dの間に衝立状の蒸着材遮蔽板9a、9b、9c
を設け、また、基板5の近傍でその搬送方向上流側及び
下流側に板状の蒸着材遮蔽板11a、11bを設けるよ
うにしたが、本発明はこれに限られず、基板5に対する
入射角θ2及びθ3が35°より大きくならない限り、種
々の形状、配置のものを設けることができる。
ジャンピング方式の2台のピアス式電子銃6a、6bを
配置するようにしたが、各蒸発源8a、8b、8c、8
dに対応してトランスバース式の電子銃を4台配置する
ようにしてもよい。
れより増加又は減少させることも可能であるが、その場
合には、それに応じて蒸着材遮蔽板9の数を増減させる
ことが必要である。
を形成する場合のみならず、SiO2、TiO2、Al2O
3、ZrO2、ZnO等の酸化物皮膜やMgF等の沸化物
皮膜を形成する際にも同様の効果が得られるものであ
る。
に説明する。
い、表1に示す条件で形成したMgO膜のX線回折パタ
ーンを測定した。その結果を図3及び図4に示す。ま
た、膜密度を求めるための一つの指針となる膜屈折率の
結果も図3及び図4中に示す。
(b)に示すように、基板5の中央部及び基板5の端
部の2箇所を評価した。
の搬送方向(x方向)及びこれと直交する方向(y方
向)の両方において蒸着材料の粒子10の入射角θ3、
θ2を35°までの範囲内に制限することにより、図3
及び図4に示すように、基板5の中央部、基板5の端部
の両方において蒸着膜の回折強度は大きく、しかも、
(111)面に優先配向していることから、結晶性の改
善がなされていることが推察される。
68以上とバルクの場合の1.70とほぼ同等の値が得
られ、膜密度は低下していないものと推察される。
する蒸着装置を用い、上記実施例と同様の条件で形成し
たMgO膜のX線回折パターンと膜屈折率を測定した。
その結果を図5及び図6に示す。
の蒸着装置101を用いて形成したMgO膜の中央部で
は、(111)面及び(100)面の反射からなる回折
線ピークが得られた。それらは、比較的回折線ピーク強
度が小さく、結晶性の低い膜であることが推察される。
さらに、基板105の端部においては、その中央部より
も回折線強度の小さい膜となることが判明した。
の1.70に比べ1.59と小さい値を示しており、膜
密度が低下していることが推察される。
ってMgO膜を形成し、その放電電圧を測定した。その
結果を図7及び図8に示す。なお、図7及び図8中、曲
線A、Cはそれぞれ点火電圧を示し、曲線B、Dはそれ
ぞれ消灯電圧を示す。
置によって形成した場合は、点火放電電圧が低く、寿命
についても1000時間以上安定して放電電圧に異常の
ないMgO膜を得ることができた。
の蒸着装置によって形成したMgO膜は、点火放電電圧
が上記実施例よりも約10V高く、かつ、長時間の放電
寿命テストで膜の劣化に起因すると思われる放電電圧の
緩やかな上昇が見られた。
入射角を35°以内に制限した本実施例の蒸着装置によ
れば、点火放電電圧が低く、かつ、1000時間以上の
寿命を有するAC型PDP用の誘電体保護膜を容易に形
成することができる。
に付着する蒸着材料の粒子の入射角が所定の角度より大
きくならないように当該粒子の入射角を規制することに
より、従来技術のような蒸着膜の結晶性の低下や膜密度
の低下といった問題を回避することができ、高品位の蒸
着膜を形成することができる。
O膜をプラズマディスプレイパネルの保護膜として用い
た場合には、放電電圧の上昇を防止し、パネルの寿命を
延ばすことができる。
の概略構成平面図 (b):同実施の形態の概略構成を示す側面図
線回折スペクトルの例
回折スペクトルの例
X線回折スペクトルの例
線回折スペクトルの例
一例を示すグラフ
の一例を示すグラフ
す平面図 (b):同従来例の概略構成を示す側面図
明図 (b):従来技術の作用を示すための要部側面説明図
5……基板 6(6a、6b)……電子銃 8
(8a、8b、8c、8d)……蒸発源 9a、9b、
9c)……蒸着材遮蔽板 10(10a、10b、1
0c、10d)……蒸着材料の粒子 11a、11b
……蒸着材遮蔽板 EB……電子ビーム
Claims (5)
- 【請求項1】真空下で搬送される基体上に蒸着材料を蒸
着して薄膜を形成するための蒸着装置であって、 上記基体に付着する蒸着材料の粒子の入射角が所定の角
度より大きくならないように当該粒子の入射角を規制す
る入射角規制手段を設けたことを特徴とする蒸着装置。 - 【請求項2】入射角規制手段として、基体に対する入射
角が所定の角度より大きい蒸着材料の粒子を遮る蒸着材
遮蔽部材を設けたことを特徴とする請求項1記載の蒸着
装置。 - 【請求項3】蒸着材料の蒸発源に対し、基体の搬送方向
の上流側及び下流側に蒸着材遮蔽部材を設けたことを特
徴とする請求項2記載の蒸着装置。 - 【請求項4】基体の搬送方向に対して交差方向に複数の
蒸発源を配するとともに、当該交差方向について、上記
各蒸発源についての蒸着材遮蔽部材を設けたことを特徴
とする請求項2又は3のいずれか1項記載の蒸着装置。 - 【請求項5】蒸着材料がMgOであり、基体に対するM
gOの粒子の入射角が35度より大きくならないように
当該粒子の入射角を規制することを特徴とする請求項1
乃至4のいずれか1項記載の蒸着装置。
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