JPH10176290A

JPH10176290A - グラスライニング製品及びグラスライニング製品の検査方法

Info

Publication number: JPH10176290A
Application number: JP33537896A
Authority: JP
Inventors: Tomoharu Maeseto; 智晴前背戸; Masahiro Ogura; 正裕小倉
Original assignee: Shinko Pantec Co Ltd
Current assignee: Shinko Pantec Co Ltd
Priority date: 1996-12-16
Filing date: 1996-12-16
Publication date: 1998-06-30

Abstract

(57)【要約】【課題】上引きガラス層に生じた小さい欠陥部分をも
確実且つ容易に発見することのできるグラスライニング
製品及びグラスライニング製品の検査方法を提供するこ
とを課題とする。【解決手段】母材1 の表面に形成された下引きガラス
層2 と、該下引きガラス層2 の上面側に形成された上引
きガラス層3 とからなるグラスライニング製品におい
て、前記下引きガラス層2 が、上引きガラス層3 のニジ
ミ、ウツリ、腐食等の欠陥箇所において、表面側から目
視によって識別可能に設けられていることを解決手段と
して有する。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、医薬品や食品加工
等の反応、貯蔵用タンク等に使用されるグラスライニン
グ製品の改良、及び検査方法に関する。

【０００２】

【従来の技術】従来、医薬品や食品加工等の反応用、或
いは貯蔵用タンク等の容器や各種機器の部品等として、
薬品等によって浸食されない耐蝕性を有するグラスライ
ニング加工されたグラスライニング製品が広く使用され
ている。

【０００３】このグラスライニング製品は、母材として
金属製のタンク等の製品の表面に、ガラスの施釉（塗
布）後、焼結されてガラス層が形成されるものである
が、母材とガラスの結合性を高めるために、通常下引き
ガラス層をまず母材に単層又は複数層に形成して、その
下引きガラス層の上面に上引きガラス層を単層又は複数
層に形成することによって、ガラスと母材との結合性を
高め、グラスライニング層が剥離する事などを防止して
いる。

【０００４】

【発明が解決しようとする課題】しかし、このようなグ
ラスライニング製品の焼成工程時には、各ガラス層に小
さな気泡が生じるが、再度の焼成によって下引きガラス
層に含まれていた気泡が大きくなり上昇し、上引きガラ
ス層を貫通して表面側に抜けて上引きガラス層に孔が生
じることがある。

【０００５】このような場合に、ニジミと呼ばれる下面
側に位置する下引きガラス層が気泡とともに上引きガラ
ス層中に膨出して上引きガラス層の上面に露出する欠陥
や、あるいはウツリと呼ばれる下引きガラスが上昇する
ため下引きガラス層が透ける程に上引きガラス層が薄く
なるといった欠陥が上引きガラス層に生じることがあ
る。

【０００６】下引きガラス層は上述のように単に上引き
ガラス層と母材の結合性を高めるためのガラス層である
ため、通常上引きガラス層ほどの耐蝕性や耐薬品性等は
ない。従って、欠陥部分において下引きガラス層が上引
きガラス層の表面に露出したり、或いは上引きガラス層
の厚みが薄い状態で製品が使用された場合には、該欠陥
部分から母材が内容液に腐食される等のおそれがあり、
グラスライニングの耐食性に問題が生じる可能性があ
る。このような危険性が高い製品を出荷する前には、必
ず製品の最終工程で欠陥の有無の検査が厳密に行われて
いる。

【０００７】また、出荷後もグラスライニング製品を一
定期間使用すると、上引きガラス層に磨耗や損傷が生じ
ることがあり、このような使用後に生じる欠陥を修理す
るために欠陥部分を正確に検出する検査も定期的に必要
である。

【０００８】従来、このような検査するには、人間の目
視によって行っていたが、タンク等の内部を検査するに
は内部が暗いため検査しにくく、またライト等を使用し
て明るくして検査した場合にも、極めて小さいニジミ、
ウツリ等の欠陥や、ある程度使用した製品の表面が腐食
してその部分がニジミ、ウツリのような状態になってい
ることを検出する検査では、欠陥部分の検出が困難であ
るため、検査には熟練を要していた。

【０００９】本発明はこのような問題点を解決するため
になされたもので、上引きガラス層に生じた小さい欠陥
部分をも確実且つ容易に発見することのできるグラスラ
イニング製品及びグラスライニング製品の検査方法を提
供することを課題とする。

【００１０】

【課題を解決するための手段】本発明は、このような課
題を解決するためにグラスライニング製品とその検査方
法としてなされたもので、グラスライニング製品として
の特徴は、母材1 の表面に形成された下引きガラス層2
と、該下引きガラス層2 の上面側に形成された上引きガ
ラス層3 とからなるグラスライニング製品において、前
記下引きガラス層2 が、上引きガラス層3 のニジミ、ウ
ツリ、腐食等の欠陥箇所において、表面側から目視によ
って識別可能に設けられていることにある。

【００１１】また、別の手段としては、下引きガラス層
2 に、発光物質が含まれていることにある。

【００１２】また、別の手段としては、前記上引きガラ
ス層3 が複数の層からなり、且つ該上引きガラス層3 の
特定の複数の層にそれぞれ異なる波長域で発光する発光
物質が含まれていることにある。

【００１３】さらに、検査方法としての特徴は、母材1
の表面に形成された下引きガラス層2 と、該下引きガラ
ス層2 の上面側に形成された上引きガラス層3 とからな
るグラスライニング製品の上引きガラス層3 の欠陥を検
出するグラスライニング製品の検査方法において、前記
下引きガラス層2 が目視によって識別可能に形成されて
おり、且つ前記上引きガラス層3 のニジミ、ウツリ、腐
食等の欠陥箇所において、下引きガラス層2 を表面側か
ら識別することによって上引きガラス層3 の欠陥を検出
することにある。

【００１４】すなわち上記のように本発明は、母材1 の
表面に形成された下引きガラス層2と、該下引きガラス
層2 の上面側に形成された上引きガラス層3 とからなる
グラスライニング製品において、前記下引きガラス層2
が、上引きガラス層3 の欠陥箇所において、表面側から
目視によって識別可能に設けられているため、例えば上
引きガラス層3 に製造時や使用時にニジミやウツリ、腐
食等の欠陥が生じて、下引きガラス層2 が露出したり、
或いは上引きガラス層3 が薄くなっている欠陥箇所にお
いて、表面側から簡単に欠陥箇所のみを識別することが
でき、小さな欠陥であっても簡単に検出することができ
る。

【００１５】また、下引きガラス層に発光物質が含まれ
ている場合には、下引きガラス層2が製品の表面に露出
或いは接近した場合に発光し、該発光した位置が欠陥箇
所であるため、発光によって極めて小さな欠陥でもより
容易に発見できる。特に、タンクの内部等のように暗い
箇所の欠陥検査を行う場合でも、欠陥箇所のみが発光す
るため容易に発見することができる。

【００１６】さらに、上引きガラス層3 が複数の層から
なり、且つ該複数の層のうちの特定の複数層にそれぞれ
異なる波長域で発光する発光物質が含まれている場合に
は、それらの波長域のうちのいずれかの波長域の光線を
照射することによって発光する層を特定できるため、複
数の層のうちのどのガラス層まで欠陥が生じているのか
が検査時に容易に判別できる。

【００１７】

【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態ついて
図面に従って説明する。図１（イ）（ロ）に示す１は、
反応用や貯蔵用等に使用されるの金属製タンク等の母材
で、該母材１としては例えばステンレスや鉄等、グラス
ライニング加工を施すことのできるものであれば任意の
金属を使用することができる。

【００１８】２は、該母材１の表面に形成された下引き
ガラス層で、該下引きガラス層２は下引きガラス用のガ
ラス粉末を母材１に吹きつけた後焼成されて形成され
る。この下引きガラス用のガラス粉末としては、母材１
の材質に応じて母材１との結合性が良好な材質が使用さ
れる。

【００１９】また、該下引きガラス層２中には蛍光体
が、下引きガラス層２の焼成後にも有効に蛍光を発する
ことができる程度に適量混合されている。

【００２０】３は、該下引きガラス層２の上面に形成さ
れた上引きガラス層で、該上引きガラス層３は所定の厚
みになるように下引きガラス層２の上面にガラス粉末を
吹きつけて焼成するという工程を複数回繰り返して形成
され、図１（イ）に示すようなグラスライニング層を有
するグラスライニング製品が完成される。

【００２１】図１（ロ）に示す４は、該上引きガラス層
３に孔部が生じて、該孔部から下側の下引きガラス層２
のガラスが膨出して表面側に露出した欠陥部分である。
このような欠陥部分４が生じる原因としては、例えばグ
ラスライニングの焼成時に、再度の焼成によって下引き
ガラス層２に含まれていた気泡が大きくなり上昇し、上
引きガラス層３を貫通して表面側に抜けて上引きガラス
層３に孔が生じることがある。

【００２２】このような場合に、ニジミと呼ばれる下面
側に位置する下引きガラス層２が気泡とともに上引きガ
ラス層中に膨出して上引きガラス層の上面に露出する欠
陥部分が生じることがある。

【００２３】次に、このような欠陥部分４が生じたグラ
スライニング製品を、大型のタンクとして形成して、該
製品を出荷する前等に検査を行う場合について説明す
る。このタンクの内面側のグラスライニングの欠陥の有
無を調べるに当たって、小さい欠陥部分を目視で発見す
るのは通常困難で熟練者の技術に頼っていた。

【００２４】しかし、上記のように下引きガラス層２に
蛍光体が混合されているため、下引きガラス層２が上引
きガラス層３の上面に露出している時には、このニジミ
と呼ばれる欠陥箇所のみが光るため一目瞭然であり、簡
単且つ確実に目視で欠陥部分を発見することができる。

【００２５】また、このように上引きガラス層３の上面
に下引きガラス層２が露出したニジミと呼ばれる欠陥部
分のみならず、例えば図２に示すように上引きガラス層
３の上面に下引きガラス層２が露出はしていないもの
の、上引きガラス層３の上部にまで下引きガラス層２が
膨出して上引きガラス層３が極めて薄くなってしまった
ウツリと呼ばれる欠陥部分においても、下引きガラス層
２が該欠陥部分において上引きガラス層３を通して発光
するため、容易に欠陥部分を目視で検出することができ
る。

【００２６】さらに、例えば製造時に上記のような欠陥
部分４が生じなかった場合にも、該グラスライニング製
のタンクを使用するうちに、上引きガラス層３が磨耗し
たり、傷ついたりして新たに欠陥部分４が生じることが
ある。このような場合に放置したまま使用すればタンク
の破損につながるため修理する必要があるが、このよう
な修理時の検査においても同様に発光箇所を検知するこ
とで容易に修理の必要な箇所が検出できる。

【００２７】さらに、発光する度合いを調整することに
よって、検出できる欠陥の度合いを調整することができ
る。例えば、上引きガラス層３が少しでも欠陥部分の上
部が磨耗して薄くなったことを検出したい場合には強く
発光するように混合する発光物質の量や種類を調整する
ことによって、上引きガラス層３のわずかな磨耗でも、
下引きガラス層２の発光が識別でき、補修の必要時期が
判別できる。

【００２８】このような検査によって発見された欠陥
は、欠陥の生じる頻度が少ない時には通常タンタル補修
や樹脂補修或いはゾルゲル補修等によって対応するが、
欠陥の発生頻度が多くなるとグラスライニングの寿命が
つきたと判定され再度焼成する。従って、上記のような
検査を定期的に行うことによって磨耗等によるグラスラ
イニング層の寿命の判定を行うことができる。

【００２９】尚、上記実施の形態では、下引きガラス層
２に蛍光体を混合したが、例えば蓄光体を混合して光を
照射した後しばらく発光するような下引きガラス層２を
形成してもよく、さらに夜光体を混合してもよい。

【００３０】または、上引きガラス層３と下引きガラス
層２をハッキリ区別できるような着色、例えば上引きガ
ラス層３が紺色等の場合には下引きガラス層に酸化チタ
ン等を混合することによって白色にする等の手段によっ
て下引きガラス層を欠陥部分において識別可能に形成
し、上引きガラス層に欠陥部分が生じた場合には紺色の
中に白色の下引きガラス層２が露出することによって表
面側から識別可能に形成してもよく、要は上引きガラス
層３の表面側から下引きガラス層２が欠陥部分において
目視によって識別可能に形成されればよい。

【００３１】但し、各ガラス層を高温で焼成した後に
も、識別性が失われないような手段で識別可能に形成す
ることが必要である。

【００３２】また、上記実施の形態では、グラスライニ
ング製品として大型のタンクを形成したが、グラスライ
ニング加工されるものはこのような大型タンクに限定さ
れるものではない。

【００３３】さらに、上記実施の形態では、下引きガラ
ス層２を直接母材１の表面に施したが例えば母材１に研
磨処理、酸処理等の表面処理を施してから、下引きガラ
ス層２を形成してもよい。

【００３４】また、上記実施の形態では、単層の下引き
ガラス層２を形成したが、例えば下引きガラス層２を２
層以上の積層構造に形成してその中の特定の層に発光物
質等を混合して識別可能な層に形成してもよい。この場
合において、発光物質は下引きガラス層の最下層に含ま
れていることが好ましいが、製造工程等の都合で例えば
他の一層に混合されていてもよい。このような複数層の
ガラス層を形成するには、ガラス施釉と焼成の工程を複
数回繰り返して形成するが、各ガラス層の境界部分にお
いては焼成によってその境界が不明瞭になって上下のガ
ラス層が境界付近において混在した層となる場合もあ
る。

【００３５】また、上記実施の形態では下引きガラス層
に発光物質を含んだガラス層を形成したが、例えば単層
の上引きガラス層に発光物質が含まれていてもよく、こ
の場合には該上引きガラス層がウツリの欠陥部分等で腐
食されて薄くなると発光が弱くなるために、磨耗の程度
を知ること等ができる。

【００３６】さらに、図３に示すように上引きガラス層
３を３層のガラス層3A,3B,3Cからなる複数層に形成した
場合において、最表面から２番目のガラス層3Bには例え
ば365 ｎｍの紫外線を照射すると発光する蛍光物質を混
合され、その下側のガラス層3Cには例えば254 ｎｍの紫
外線を照射すると発光する蛍光物質を混合されたグラス
ライニング製品に形成する。

【００３７】そして、このようなグラスライニング製品
を検査する場合に、波長254 ｎｍまたは365 ｎｍのいず
れかの紫外線を照射した時に、例えば上引きガラス３の
うちの最表面層のガラス層3Aが欠陥部分において薄くな
った状態であれば、365 ｎｍの紫外線を照射した時に発
光し、さらに腐食の程度が強くガラス層3Aが削られてガ
ラス層3Bまで磨耗した状態の場合には254 ｎｍの紫外線
を照射すると発光する。このように異なる波長域の光線
によって照射する発光物質を各層に混合することで、磨
耗の程度を検出することが容易にでき、ガラス層の寿命
予測ができる。

【００３８】また、上記実施の形態では、発光等を直接
目視することによって欠陥部分の有無を検査したが、例
えば、細いパイプ内壁にグラスライニングを施したグラ
スライニング製品を検査する場合には鏡等を挿入してそ
の反射像を目視して識別することによって検査したり、
ビデオカメラを挿入してその画像を目視して識別する等
の方法や、或いは赤外線等を照射することによって可視
光線下では識別できない欠陥の状態を目視する方法であ
ってもよい。

【００３９】

【実施例】次に上記実施の形態で示したグラスライニン
グ製品の欠陥部分を検出する方法について、より具体的
な例を示して説明する。

【００４０】実施例１まず、蛍光体としてＣａ₁₀（ＰＯ₄）ＦＣｌ：Ｓｂ，Ｍ
ｎ（日亜化学工業株式会社製ＴｙｐｅＮｏ．ＮＰ−
２２−１９）を１０重量％添加した下引きガラスをサン
プル母材に焼成して形成し、さらに、上引きガラス層を
約２００μｍの厚みに形成してニジミを検出する実験を
行った。

【００４１】この上引きガラス層の表面から可視光線カ
ットフィルター付きの低圧水銀ランプを照射すると、蛍
光体が低圧水銀ランプの紫外線を吸収し、同時に可視光
線を発光するので、暗所において肉眼で確認できた。

【００４２】実施例２次に、蓄光体としてＳｒＯ−１．７５（Ａｌ，Ｂ）₂Ｏ
₃：Ｅｕ，Ｄｙ（日亜化学工業株式会社製Ｔｙｐｅ
Ｎｏ．ＮＰ−２８２０−０１）を１０重量％添加した下
引きガラスをサンプル母材に焼成して形成し、さらに、
上記実施例１と同様の上引きガラス層を約１ｍｍの厚み
に形成しウツリを検出する実験を行った。

【００４３】この上引きガラス層の表面から高圧水銀ラ
ンプを約３０秒間照射しランプを消したところ、暗所に
おいて肉眼で発光を確認できた。

【００４４】

【発明の効果】叙上のように、本発明は、グラスライニ
ング製品における欠陥箇所を熟練を要することなく誰で
も簡単且つ確実に検出できるため、欠陥製品による事故
や損傷の発生を確実に防止することができる。また、欠
陥の発生の頻度から磨耗等によるグラスライニング層の
寿命の判定も容易に行える。従って、特に、化学薬品等
の反応槽用のタンク等のように欠陥を発見しにくく且つ
タンクに損傷が生じた場合に危険性が高いグラスライニ
ング製品として最適である。

【図面の簡単な説明】

【図１】（イ）は本発明のグラスライニング製品の要部
拡大断面図、（ロ）は欠陥部分が生じたグラスライニン
グの要部拡大断面図。

【図２】他の実施の形態のグラスライニング製品を示す
要部拡大断面図。

【図３】他の実施の形態のグラスライニング製品を示す
要部拡大断面図。

【符号の説明】

１母材２下引きガラス層３上引きガラス層４欠陥部分

Claims

【特許請求の範囲】

【請求項１】母材(1) の表面に形成された下引きガラ
ス層(2) と、該下引きガラス層(2) の上面側に形成され
た上引きガラス層(3) とからなるグラスライニング製品
において、前記下引きガラス層(2) が、上引きガラス層
(3) のニジミ、ウツリ、腐食等の欠陥箇所において、表
面側から目視によって識別可能に設けられていることを
特徴とするグラスライニング製品。
【請求項２】前記下引きガラス層(2) に、発光物質が
含まれている請求項１に記載のグラスライニング製品。
【請求項３】前記上引きガラス層(3) が複数の層から
なり、且つ該上引きガラス層(3) の特定の複数の層にそ
れぞれ異なる波長域で発光する発光物質が含まれている
請求項１に記載のグラスライニング製品。
【請求項４】母材(1) の表面に形成された下引きガラ
ス層(2) と、該下引きガラス層(2) の上面側に形成され
た上引きガラス層(3) とからなるグラスライニング製品
の上引きガラス層(3) の欠陥を検出するグラスライニン
グ製品の検査方法において、前記下引きガラス層(2) が
目視によって識別可能に形成されており、且つ前記上引
きガラス層(3) のニジミ、ウツリ、腐食等の欠陥箇所に
おいて、下引きガラス層(2) を表面側から目視によって
識別することによって上引きガラス層(3) の欠陥を検出
することを特徴とするグラスライニング製品の検査方
法。
【請求項５】前記下引きガラス層(2) に発光物質が含
まれており、下引きガラス層(2) の発光によって欠陥を
検出する請求項４に記載のグラスライニング製品の検査
方法。
【請求項６】前記上引きガラス層(3) が複数の層から
なり、該上引きガラス層(3) のうちの特定の複数の層に
それぞれ異なる波長域で発光する発光物質が含まれてお
り、且つ前記グラスライニング製品の表面側から前記異
なる波長の光線を照射する請求項４に記載のグラスライ
ニング製品の検査方法。