JPH10176984A - エアーフィルタのリーク試験用パーティクルカウンタ - Google Patents
エアーフィルタのリーク試験用パーティクルカウンタInfo
- Publication number
- JPH10176984A JPH10176984A JP8336025A JP33602596A JPH10176984A JP H10176984 A JPH10176984 A JP H10176984A JP 8336025 A JP8336025 A JP 8336025A JP 33602596 A JP33602596 A JP 33602596A JP H10176984 A JPH10176984 A JP H10176984A
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- JP
- Japan
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- particles
- particle
- clock signal
- particle counter
- unit
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- Pending
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- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】 リーク試験後に悪影響が出ず、高精度の
リーク判定を確実に行うことができるエアーフィルタの
リーク試験用パーティクルカウンタを提供すること。 【解決手段】 エアーフィルタの濾材の下流側面に沿っ
てプローブ１を走査させて濾材のリークの有無を検知す
る形式のリーク試験用パーティクルカウンタにおいて、
現時点のクロック信号ＴA から次のクロック信号ＴA+1
までの粒子数をプローブ１と繋がる粒子検出部２により
検出して粒子計数部３でカウントさせると共にそのカウ
ント数をメモリ部４で記憶させ、クロック信号ＴA ，Ｔ
A+1 間にカウントされた粒子数と前記クロック信号ＴA
からこれよりも一定時間前のクロック信号ＴA-N までの
間に前記メモリ部４で記憶保持された粒子数とを粒子数
再計算部５で加算するようにしている。
リーク判定を確実に行うことができるエアーフィルタの
リーク試験用パーティクルカウンタを提供すること。 【解決手段】 エアーフィルタの濾材の下流側面に沿っ
てプローブ１を走査させて濾材のリークの有無を検知す
る形式のリーク試験用パーティクルカウンタにおいて、
現時点のクロック信号ＴA から次のクロック信号ＴA+1
までの粒子数をプローブ１と繋がる粒子検出部２により
検出して粒子計数部３でカウントさせると共にそのカウ
ント数をメモリ部４で記憶させ、クロック信号ＴA ，Ｔ
A+1 間にカウントされた粒子数と前記クロック信号ＴA
からこれよりも一定時間前のクロック信号ＴA-N までの
間に前記メモリ部４で記憶保持された粒子数とを粒子数
再計算部５で加算するようにしている。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】この発明は、エアーフィルタ
のリーク試験用パーティクルカウンタに関するものであ
る。
のリーク試験用パーティクルカウンタに関するものであ
る。
【０００２】
【従来の技術】エアーフィルタのリーク試験には、通
常、フォトメータによるものやパーティクルカウンタに
よるものが使用される。（フォトメータによるもの） フォトメータは、資料空気
を吸引しながらエアロゾル系の全散乱光を測定し、基準
となるエアロゾルとの相対的な濃度比較を行うものであ
る。これによりフィルタのリーク試験を行う場合は以下
に示すようにする。
常、フォトメータによるものやパーティクルカウンタに
よるものが使用される。（フォトメータによるもの） フォトメータは、資料空気
を吸引しながらエアロゾル系の全散乱光を測定し、基準
となるエアロゾルとの相対的な濃度比較を行うものであ
る。これによりフィルタのリーク試験を行う場合は以下
に示すようにする。
【０００３】すなわち、エアーフィルタ上流側に高濃度
のエアロゾルを投入すると共にそれをフォトメータで測
定して基準の濃度とし、フィルタ下流側では試料吸引口
（サンプリングプローブ）をフィルタ下流面で走査する
ことで上流側との比較を行いリーク率を判定する。
のエアロゾルを投入すると共にそれをフォトメータで測
定して基準の濃度とし、フィルタ下流側では試料吸引口
（サンプリングプローブ）をフィルタ下流面で走査する
ことで上流側との比較を行いリーク率を判定する。
【０００４】しかしながら、この方式では低濃度エアロ
ゾルに対する感度が低いため、ＨＥＰＡやＵＬＰＡと呼
ばれる高性能のエアーフィルタの測定には上流側に非常
に高い濃度のエアロゾルを投入する必要となるが、これ
により、フィルタの寿命を短くすることになってしま
う。また、ＤＯＰ（フタル酸ジオクチル）等の液状試験
粒子を使用した場合、上流側に付着したそれが長期間に
わたって気化し、下流側に出てくるという問題がある。（従来のパーティクルカウンタによるもの） パーティク
ルカウンタは、通常、与えられた時間で吸引した試料空
気中に含まれる粒子の計数を行うものである。これによ
りフィルタのリーク試験を行う場合は以下に示すように
する。
ゾルに対する感度が低いため、ＨＥＰＡやＵＬＰＡと呼
ばれる高性能のエアーフィルタの測定には上流側に非常
に高い濃度のエアロゾルを投入する必要となるが、これ
により、フィルタの寿命を短くすることになってしま
う。また、ＤＯＰ（フタル酸ジオクチル）等の液状試験
粒子を使用した場合、上流側に付着したそれが長期間に
わたって気化し、下流側に出てくるという問題がある。（従来のパーティクルカウンタによるもの） パーティク
ルカウンタは、通常、与えられた時間で吸引した試料空
気中に含まれる粒子の計数を行うものである。これによ
りフィルタのリーク試験を行う場合は以下に示すように
する。
【０００５】すなわち、フィルタ上流側にある程度の高
濃度のエアロゾルを投入すると共にそれをパーティクル
カウンタで測定し、単位時間当たりの粒子数を得る。フ
ィルタ下流側ではサンプリングプローブをフィルタ下流
面で走査することで単位時間当たりの粒子数を上流側と
のそれと比較を行いリーク率を判定する。
濃度のエアロゾルを投入すると共にそれをパーティクル
カウンタで測定し、単位時間当たりの粒子数を得る。フ
ィルタ下流側ではサンプリングプローブをフィルタ下流
面で走査することで単位時間当たりの粒子数を上流側と
のそれと比較を行いリーク率を判定する。
【０００６】この方式を採用した場合、パーティクルカ
ウンタは粒子を一つづつ計数するため低濃度エアロゾル
に対して大変有効であるが、フィルタでの特定のリーク
箇所がサンプリングプローブの走査中前後する二つの測
定間隔（図４に示す測定間隔Ａ，Ｂ）に跨がった場合、
リーク箇所を通過した粒子はその二つの測定に分割さ
れ、リーク率を過小評価してしまう。（この種の業界で開発が期待されているエアーフィルタ
のリーク試験用機器） 上述のように各方式により様々な
問題を有しているが、この種の業界では、リーク試験後
に悪影響が出ず、高精度のリーク判定を行うことがで
きるエアーフィルタのリーク試験用パーティクルカウン
タの開発が望まれている。
ウンタは粒子を一つづつ計数するため低濃度エアロゾル
に対して大変有効であるが、フィルタでの特定のリーク
箇所がサンプリングプローブの走査中前後する二つの測
定間隔（図４に示す測定間隔Ａ，Ｂ）に跨がった場合、
リーク箇所を通過した粒子はその二つの測定に分割さ
れ、リーク率を過小評価してしまう。（この種の業界で開発が期待されているエアーフィルタ
のリーク試験用機器） 上述のように各方式により様々な
問題を有しているが、この種の業界では、リーク試験後
に悪影響が出ず、高精度のリーク判定を行うことがで
きるエアーフィルタのリーク試験用パーティクルカウン
タの開発が望まれている。
【０００７】
【発明が解決しようとする課題】そこで、この発明で
は、リーク試験後に悪影響が出ず、高精度のリーク
判定を確実に行うことができるエアーフィルタのリーク
試験用パーティクルカウンタを提供することを課題とす
る。
は、リーク試験後に悪影響が出ず、高精度のリーク
判定を確実に行うことができるエアーフィルタのリーク
試験用パーティクルカウンタを提供することを課題とす
る。
【０００８】
【課題を解決するための手段】この発明は、エアーフィ
ルタの濾材の下流側面に沿ってプローブ１を走査させて
濾材のリークの有無を検知する形式のリーク試験用パー
ティクルカウンタにおいて、現時点のクロック信号ＴA
から次のクロック信号ＴA+1 までの粒子数をプローブ１
と繋がる粒子検出部２により検出して粒子計数部３でカ
ウントさせると共にそのカウント数をメモリ部４で記憶
させ、クロック信号ＴA ，ＴA+1 間にカウントされた粒
子数と前記クロック信号ＴA からこれよりも一定時間前
のクロック信号ＴA-N までの間に前記メモリ部４で記憶
保持された粒子数とを粒子数再計算部５で加算するよう
にしている。
ルタの濾材の下流側面に沿ってプローブ１を走査させて
濾材のリークの有無を検知する形式のリーク試験用パー
ティクルカウンタにおいて、現時点のクロック信号ＴA
から次のクロック信号ＴA+1 までの粒子数をプローブ１
と繋がる粒子検出部２により検出して粒子計数部３でカ
ウントさせると共にそのカウント数をメモリ部４で記憶
させ、クロック信号ＴA ，ＴA+1 間にカウントされた粒
子数と前記クロック信号ＴA からこれよりも一定時間前
のクロック信号ＴA-N までの間に前記メモリ部４で記憶
保持された粒子数とを粒子数再計算部５で加算するよう
にしている。
【０００９】なお、上記パーティクルカウンターに関し
て、クロック信号ＴA-N ，ＴA+1 間の時間でリークと判
断される基準粒子数と粒子数再計算部５で加算した加算
粒子数とを計数値比較部６で比較し、基準粒子数≦加算
粒子数のときには判定結果表示部７が表示状態となるよ
うにすることが好ましい。
て、クロック信号ＴA-N ，ＴA+1 間の時間でリークと判
断される基準粒子数と粒子数再計算部５で加算した加算
粒子数とを計数値比較部６で比較し、基準粒子数≦加算
粒子数のときには判定結果表示部７が表示状態となるよ
うにすることが好ましい。
【００１０】このパーティクルカウンターは以下の機能
を有する。 ．粒子を一個ずつ計数するものであるから低濃度の測
定が行える。 ．リーク箇所の検出は最新のクロック信号ＴA-N ，Ｔ
A+1 間における粒子数で判断することになるので、プロ
ーブの走査と測定間隔のタイミングに関係なく、その箇
所の走査中最大の計数が得られることになる。よって、
高精度のリーク判定を確実に行うことができる。 ．基本的にはパーティクルカウンターであるので、従
来の技術の欄に示したフォトメータ方式のような問題、
即ち、リーク試験後に悪影響が出るようなことはない。
を有する。 ．粒子を一個ずつ計数するものであるから低濃度の測
定が行える。 ．リーク箇所の検出は最新のクロック信号ＴA-N ，Ｔ
A+1 間における粒子数で判断することになるので、プロ
ーブの走査と測定間隔のタイミングに関係なく、その箇
所の走査中最大の計数が得られることになる。よって、
高精度のリーク判定を確実に行うことができる。 ．基本的にはパーティクルカウンターであるので、従
来の技術の欄に示したフォトメータ方式のような問題、
即ち、リーク試験後に悪影響が出るようなことはない。
【００１１】
【発明の実施の形態】以下、この発明の実施の形態を図
面に従って説明する。
面に従って説明する。
【００１２】この実施形態におけるエアーフィルタのリ
ーク試験用パーティクルカウンタは、エアーフィルタの
濾材の下流側面に沿ってプローブ１を走査させて濾材の
リークの有無を検知する形式のものであり、基本的に
は、図１のブロック図に示されるように構成され、時間
設定部８で設定された時間（クロック信号ＴA-N ，ＴA+
1 間）にカウントされた加算粒子数と、算出されたリー
クと判断される粒子数とを比較することによりフィルタ
のリークの有無を判断するものとしている。
ーク試験用パーティクルカウンタは、エアーフィルタの
濾材の下流側面に沿ってプローブ１を走査させて濾材の
リークの有無を検知する形式のものであり、基本的に
は、図１のブロック図に示されるように構成され、時間
設定部８で設定された時間（クロック信号ＴA-N ，ＴA+
1 間）にカウントされた加算粒子数と、算出されたリー
クと判断される粒子数とを比較することによりフィルタ
のリークの有無を判断するものとしている。
【００１３】ここで、このパーティクルカウンタでは上
記加算粒子数は、現時点のクロック信号ＴA から次のク
ロック信号ＴA+1 までの粒子数を粒子検出部２により検
出して粒子計数部３でカウントさせると共にそのカウン
ト数をメモリ部４で記憶させ、クロック信号ＴA ，Ｔ
A+1 間にカウントされた粒子数と前記クロック信号ＴA
からこれよりも一定時間前のクロック信号ＴA-N までの
間に前記メモリ部４で記憶保持された粒子数とを粒子数
再計算部５で加算するようにして出される（図１及び図
２参照）。なお、リークと判断される基準粒子数の時間
であるクロック信号ＴA-n ，ＴA+1 間は時間設定部８で
設定される（図１参照）。 〔具体的例〕クロック信号ＴA において、Ａ＝０，１，
２，３・・・・・、Ｎ＝１６とし、基準粒子数＝７個以
上（この基準粒子数の算出については従来とかわらない
ので省略する）とする。なお、粒子検出部２による粒子
の検出は粒子パルスの立ち上がり部で行われるものとす
る。
記加算粒子数は、現時点のクロック信号ＴA から次のク
ロック信号ＴA+1 までの粒子数を粒子検出部２により検
出して粒子計数部３でカウントさせると共にそのカウン
ト数をメモリ部４で記憶させ、クロック信号ＴA ，Ｔ
A+1 間にカウントされた粒子数と前記クロック信号ＴA
からこれよりも一定時間前のクロック信号ＴA-N までの
間に前記メモリ部４で記憶保持された粒子数とを粒子数
再計算部５で加算するようにして出される（図１及び図
２参照）。なお、リークと判断される基準粒子数の時間
であるクロック信号ＴA-n ，ＴA+1 間は時間設定部８で
設定される（図１参照）。 〔具体的例〕クロック信号ＴA において、Ａ＝０，１，
２，３・・・・・、Ｎ＝１６とし、基準粒子数＝７個以
上（この基準粒子数の算出については従来とかわらない
ので省略する）とする。なお、粒子検出部２による粒子
の検出は粒子パルスの立ち上がり部で行われるものとす
る。
【００１４】図２に及び以下の表１に時間の経過に伴う
加算粒子数の変化を示す。
加算粒子数の変化を示す。
【００１５】
【表１】
【００１６】図２及び表１からも明かなように、クロッ
ク信号Ｔ-5，Ｔ12の間でフィルタにリークが存在してい
ることが判断できる。このように、このパーティクルカ
ウンタでは、リーク箇所の検出は最新のクロック信号Ｔ
A-N ，ＴA+1 （Ａ＝０，１，２，３，・・・、Ｎ＝１
６）間における粒子数で判断することになるので、プロ
ーブの走査と測定間隔のタイミングに関係なく、その箇
所の走査中最大の計数が得られることになる。よって、
高精度のリーク判定を確実に行うことができる。また、
低濃度の測定が行えること、リーク試験後に悪影響が出
ないことについては上記課題を解決する手段の欄に記載
した通りである。
ク信号Ｔ-5，Ｔ12の間でフィルタにリークが存在してい
ることが判断できる。このように、このパーティクルカ
ウンタでは、リーク箇所の検出は最新のクロック信号Ｔ
A-N ，ＴA+1 （Ａ＝０，１，２，３，・・・、Ｎ＝１
６）間における粒子数で判断することになるので、プロ
ーブの走査と測定間隔のタイミングに関係なく、その箇
所の走査中最大の計数が得られることになる。よって、
高精度のリーク判定を確実に行うことができる。また、
低濃度の測定が行えること、リーク試験後に悪影響が出
ないことについては上記課題を解決する手段の欄に記載
した通りである。
【００１７】なお、上記パーティクルカウンタは図１の
ブロック図に示したものとしてあるが、これに換えて計
数値比較部６、判定結果表示部７、及び基準粒子設定部
９を付加した図３のブロックを採用するようにしてもよ
い。この場合、クロック信号ＴA-N ，ＴA+1 間の時間で
リークと判断される基準粒子数（７個以上）と、粒子数
再計算部５で加算した加算粒子数とを計数値比較部６で
比較し、基準粒子数≦加算粒子数のときには判定結果表
示部７が表示状態となるものとすればよい。
ブロック図に示したものとしてあるが、これに換えて計
数値比較部６、判定結果表示部７、及び基準粒子設定部
９を付加した図３のブロックを採用するようにしてもよ
い。この場合、クロック信号ＴA-N ，ＴA+1 間の時間で
リークと判断される基準粒子数（７個以上）と、粒子数
再計算部５で加算した加算粒子数とを計数値比較部６で
比較し、基準粒子数≦加算粒子数のときには判定結果表
示部７が表示状態となるものとすればよい。
【００１８】
【発明の効果】この発明は上記のような構成であるか
ら、次の効果を有する。
ら、次の効果を有する。
【００１９】課題を解決する手段の欄及び発明の実施の
形態の欄に記載した内容から、リーク試験後に悪影響
が出ず、高精度のリーク判定を確実に行うことができ
るエアーフィルタのリーク試験用パーティクルカウンタ
を提供できた。
形態の欄に記載した内容から、リーク試験後に悪影響
が出ず、高精度のリーク判定を確実に行うことができ
るエアーフィルタのリーク試験用パーティクルカウンタ
を提供できた。
【図１】この発明の実施形態であるパーティクルカウン
タに採用されているブロック回路図。
タに採用されているブロック回路図。
【図２】前記パーティクルカウンタにより試験した場合
の説明図。
の説明図。
【図３】他の実施形態のパーティクルカウンタに採用さ
れているブロック回路図。
れているブロック回路図。
【図４】従来の技術の欄に記載したパーティクルカウン
タにより試験した場合の説明図。
タにより試験した場合の説明図。
１ プローブ ２ 粒子検出部 ３ 粒子計数部 ４ メモリ部 ５ 粒子数再計算部 ６ 計数値比較部 ７ 判定結果表示部 ８ 時間設定部 ９ 基準粒子数設定部
Claims (2)
- 【請求項１】 エアーフィルタの濾材の下流側面に沿っ
てプローブ（１）を走査させて濾材のリークの有無を検
知する形式のリーク試験用パーティクルカウンタにおい
て、現時点のクロック信号ＴA から次のクロック信号Ｔ
A+1 までの粒子数をプローブ（１）と繋がる粒子検出部
（２）により検出して粒子計数部（３）でカウントさせ
ると共にそのカウント数をメモリ部（４）で記憶させ、
クロック信号ＴA ，ＴA+1 間にカウントされた粒子数と
前記クロック信号ＴA からこれよりも一定時間前のクロ
ック信号ＴA-N までの間に前記メモリ部（４）で記憶保
持された粒子数とを粒子数再計算部（５）で加算するよ
うにしたことを特徴とするパーティクルカウンタ。 - 【請求項２】 クロック信号ＴA-N ，ＴA+1 間の時間で
リークと判断される基準粒子数と粒子数再計算部（５）
で加算した加算粒子数とを計数値比較部（６）で比較
し、基準粒子数≦加算粒子数のときには判定結果表示部
（７）が表示状態となるようにしたことを特徴とする請
求項１記載のパーティクルカウンタ。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8336025A JPH10176984A (ja) | 1996-12-16 | 1996-12-16 | エアーフィルタのリーク試験用パーティクルカウンタ |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8336025A JPH10176984A (ja) | 1996-12-16 | 1996-12-16 | エアーフィルタのリーク試験用パーティクルカウンタ |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH10176984A true JPH10176984A (ja) | 1998-06-30 |
Family
ID=18294927
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP8336025A Pending JPH10176984A (ja) | 1996-12-16 | 1996-12-16 | エアーフィルタのリーク試験用パーティクルカウンタ |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH10176984A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN106018227A (zh) * | 2016-07-27 | 2016-10-12 | 广东美的制冷设备有限公司 | 一种室内空气尘埃粒子浓度检测方法、系统和家用电器 |
-
1996
- 1996-12-16 JP JP8336025A patent/JPH10176984A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN106018227A (zh) * | 2016-07-27 | 2016-10-12 | 广东美的制冷设备有限公司 | 一种室内空气尘埃粒子浓度检测方法、系统和家用电器 |
| CN106018227B (zh) * | 2016-07-27 | 2019-06-07 | 广东美的制冷设备有限公司 | 一种室内空气尘埃粒子浓度检测方法、系统和家用电器 |
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