JPH10176997A

JPH10176997A - 周期疵検出方法及び装置

Info

Publication number: JPH10176997A
Application number: JP33988496A
Authority: JP
Inventors: Akira Kazama; 彰風間
Original assignee: NKK Corp; Nippon Kokan Ltd
Current assignee: JFE Engineering Corp
Priority date: 1996-12-19
Filing date: 1996-12-19
Publication date: 1998-06-30

Abstract

(57)【要約】【課題】簡単な処理方法と装置構成によって背景ノイ
ズが多い場合でも確実に帯状体の周期疵を検出できる検
出方法及び装置。【解決手段】搬送される鋼板１の表面の画像を継ぎ目
なく光学的に撮像して（３，４，６）、この撮像画像を
一旦画像メモリ（７）に記憶し、この記憶された撮像画
像から搬送方向に周期疵の発生間隔と異なる間隔で複数
枚切り出した画像と、前記記憶された撮像画像から帯状
体の幅方向に切り出し位置をずらせながら周期疵の発生
間隔と同一間隔で複数枚切り出した画像とをすべて重ね
合せた合成画像を生成し（８）、この生成された合成画
像内に形成された特定形状の画像パターンを認識して
（９）、周期疵を検出する（１０）方法及び装置。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、フィルム、紙、鉄
鋼の圧延プロセスなど、帯状の製品を作る生産工程にお
ける表面検査技術、特に周期疵検出の方法及び装置に関
するものである。

【０００２】

【従来の技術】鉄鋼の圧延工程や、樹脂フィルム製造工
程など、帯状の製品を作る工程では、圧延や製品の支持
などに必ずロールが用いられる。ロール表面の一部に突
起、へこみ、あるいは付着物などの異常があると、製品
に転写されて周期疵を生じる。鉄鋼では、圧延工程でロ
ールより転写される欠陥が多く見られ、ロール疵あるい
はロールマークなどと呼ばれて製品不良の要因となって
いる。

【０００３】従来このような周期疵を検出する方法とし
ては、１次元の電気信号における周期性を求める問題に
対する回答と類似の方法が提案されている。例えば特開
平１−１３６０５４号公報（以下文献１という）には、
採取した画像の自己相関を計算してロール疵を検出する
装置と方法が示されている。図８は上記文献１の発明の
一実施例を示す構成図であり、図の２０はストリップ、
２１は光学的検出ヘッド、２２は２値化回路、２３はス
トアレジスタ、２４は雑音量計測回路、２５は同期信号
発生器、２６は画像メモリ、２７は自己相関演算手段、
２８は乗算器、２９は加算器、３０は演算値レジスタ、
３１はデータバス、３２は自己相関プロフィールメモ
リ、３３はプロフィール平滑化回路、３４は疵判定レベ
ル作成回路、３５は比較器、３６はチャンネルセレク
ト、３７はＣＲＴインタフェース、３８はＣＲＴ表示装
置、Ｒ₁，Ｒ₂はロールである。

【０００４】文献１のロール疵検出方法は、図８の如き
装置構成にて、検査対象の画像を画像メモリ２６に採取
して、乗算器２８、加算器２９及び演算値レジスタ３０
よりなる自己相関演算手段２７を用いて画像上の自己相
関計算を行い、相関関数のピーク位置より周期欠陥を見
つける方法である。この文献１の方法は、検査対象の正
常部のノイズが少ない場合は有効であるが、ノイズが大
きい場合、Ｓ／Ｎを向上させるため、より長い領域に渡
って大量の画像間自己相関計算を必要とする。

【０００５】特に鉄鋼プロセスの熱間圧延工程のよう
に、製品表面に酸化膜のムラによる模様や水滴が乗って
いる状況では、大量のメモリと演算時間が必要である。
また、ロールのスリップや横方向の蛇行などで、本来同
じ横方向位置に、同じ長さ方向周期で現れるはずのロー
ル疵の位置が、次第にずれていくこともあり、長い領域
を自己相関計算すると、こうしたずれに遭遇する可能性
が高くなって、自己相関が良好に保たれず、かえって検
出性能は低下する。

【０００６】また、自己相関計算を行わずに簡易に周期
欠陥を検出する装置も提案されている。例えば特開昭５
８−１６５０４２号公報（以下文献２という）には、ラ
インセンサの出力を流れ方向に積算してヒストグラムを
作り、このヒストグラムのピークより周期欠陥を検出す
る装置が示されている。図９は上記文献２の発明の内部
の処理を示す概念図であり、図の４１は帯状体、４２は
光学的検出ヘッド、４４はロール疵、４５はヘゲ、４６
はスリバ、４７はスケールである。

【０００７】文献２の疵検出方法では、圧延ロールを１
回、２回、３回…と回転させた場合、図９の“１”，
“２”，“３”…に示すように各帯状体４１のほぼ同一
箇所に同じような性質のロール疵４４が現れ、その他散
在的にヘゲ４５、スリバ４６、スケール４７等の疵が現
れる。そこで圧延ロールの回転順にこれらの疵の検出出
力を重ね合せると、ロール疵４４がある場合には、図９
の（Ａ）のようなヒストグラムにピーク４４′が現れる
ので、このピーク４４′を検出してロール疵と判断す
る。しかし単純にロール周期で画像を重ね合わせたヒス
トグラムのピークから周期的欠陥を検出すると、突発性
の深い欠陥があってもピークが現れるので、この単純な
ヒストグラム作成では過剰検出になるおそれがある。

【０００８】図１０はロール周期での画像重ね合せによ
る輝度ヒストグラムの概念図であり、図の左側に示すロ
ールピッチＬの間隔で切り出された複数枚の画像を重ね
合せた輝度ヒストグラムには、図の右側に示すように、
周期疵のほかに突発疵もピークとして現れるので、これ
らのピークをすべて周期疵として検出すると過剰検出に
なる。そこで上記文献２の提案では、過剰検出を抑制す
るため、ヒストグラムを作成する前段階として、欠陥候
補部分の特徴を求め、仕分けして、周期欠陥らしいと認
められたもののみをヒストグラムに加える工夫がなされ
ている。

【０００９】上記文献２では、周期性欠陥の特徴として
「分散性がなく、孤立疵であること」を重要な指標とし
ているが、実際は斑点状に分散した周期欠陥も多く見受
けられる。従って文献２のように前段階の処理を行って
も、ロール周期での画像重ね合せによる輝度ヒストグラ
ムから、周期欠陥と他の突発性欠陥、あるいは単なるノ
イズを特徴のみから仕分けることは極めて困難である。

【００１０】

【発明が解決しようとする課題】上記のような従来技術
における帯状体の周期欠陥の検出方法では、簡易なヒス
トグラム方式の場合には、斑点状の周期欠陥には十分な
検出性能が得られないという問題があり、また厳密に相
関演算を行う方式の場合には、大規模なメモリと画像演
算装置が必要で装置コストが大きくなる上に、背景ノイ
ズが大きい場合には、より多くの画像を採取する必要が
あるため、個々の欠陥が位置ずれの影響を受けやすく、
かえって相関演算の精度が低下して十分な検出性能が得
られないという問題があった。本発明は、こうした状況
に鑑みて、簡素な処理方法と装置構成によって、背景ノ
イズが多い場合でも、従来よりも少ない採取画像で、精
度よく周期欠陥を検出することができる周期疵検出方法
及び装置を提供するものである。

【００１１】

【課題を解決するための手段】本発明に係る周期疵検出
方法は、連続的に搬送される帯状体の表面に生ずる周期
疵を検出する方法において、前記搬送される帯状体の表
面の画像を継ぎ目なく光学的に撮像して、この撮像画像
を一旦記憶装置に記憶し、前記記憶装置に記憶された撮
像画像から搬送方向に周期疵の発生間隔と異なる間隔で
複数枚切り出した画像と、前記記憶された撮像画像から
帯状体の幅方向に切り出し位置をずらせながら周期疵の
発生間隔と同一間隔で複数枚切り出した画像とをすべて
重ね合せた合成画像を生成し、前記生成された合成画像
内に形成された特定形状の画像パターンを認識して周期
疵を検出するものである。

【００１２】本発明に係る周期疵検出装置は、連続的に
搬送される帯状体の表面に生じる周期疵を検出する装置
において、前記搬送される帯状体の表面の画像を継ぎ目
なく光学的に撮像する撮像手段と、前記撮像手段により
撮像された画像を記憶する記憶手段と、前記記憶手段に
記憶された撮像画像から搬送方向に周期疵の発生間隔と
異なる間隔で複数枚切り出した画像と、前記記憶された
撮像画像から帯状体の幅方向に切り出し位置をずらせな
がら周期疵の発生間隔と同一間隔で複数枚切り出した画
像とをすべて重ね合せた合成画像を生成する画像処理手
段と、前記画像処理手段の生成した合成画像内に形成さ
れた特定形状の画像パターンを認識して周期疵を検出す
る検出手段とを備えたものである。

【００１３】本発明は上記のように検査対象の周期疵
を、その表面から撮像した画像を処理して特定形状の画
像パターンに変換することにより、周期疵を確実に検出
できると共に、背景ノイズが多い場合にも過剰検出はほ
とんど生じないので信頼性の高い検査が可能になる。ま
た本発明では、検査対象の表面を撮像して採取する画像
の量は少なく、また撮像画像を処理する装置も簡単であ
るので、低コストで高速処理できる検査システムを実現
できる。

【００１４】

【発明の実施の形態】図１は本発明に係る周期疵検出装
置の構成例を示す図であり、鉄鋼熱延プロセスに本装置
を適用した場合の例である。図１の１は検査対象の鋼
板、２は圧延ロール、３は光源装置、４はラインセンサ
カメラ、５はロータリエンコーダ、６はカメラコントロ
ーラ、７は画像メモリ、８は画像処理装置、９はパター
ンマッチング装置、１０はマイクロコンピュータ、１１
は表示・出力装置である。本発明では、検査対象の撮像
画像を特定の規則で切り出し、重ね合わせて、周期欠陥
像を特定のパターンに変換することで検出を行う方法を
採用しており、この方法を用いる装置は概ね撮像系と画
像メモリ及び画像処理系で構成される。

【００１５】図１の構成例では、検査対象の鋼板１は所
定板幅（例えば１０００ｍｍ）の帯状体で、矢印方向に
連続的に搬送されている。そしてライセンサカメラ４
が、搬送中の鋼板１の板幅方向（上記搬送方向と直角方
向）の一定長（例えば前記板幅と同じ長さ）である１ラ
イン分の表面画像を撮像できるように、光源装置３、ラ
イセンサカメラ４及びカメラコントロール６よりなる撮
像系が構成される。また検査対象の製造プロセス（この
例ではＮｏ．７ロール２）に設置されたエンコーダ５よ
り、検査対象が一定長さ進むごとにトリガ信号が出力さ
れ、撮像系はこのトリガ信号が入力される毎に、検査対
象表面の１ライン分の撮像画像を取り込み、順次画像メ
モリ７に格納する。このようにして検査対象の表面画像
は、継ぎ目なく２次元的に配列された画像メモリ７内に
連続的に記憶される。

【００１６】即ち、２次元配列の画像メモリ７内の横１
ラインのデータ量は常に実際の検査対象の板幅方向の一
定の長さに対応しており、検査対象の搬送速度が変化し
ても、これは１ライン分の撮像画像の取込速度が変化す
るのみであるから、画像メモリ７内の縦方向データ量
は、検査対象の搬送方向の一定の長さに対応している。
従って検査対象のある２次元領域と画像メモリ７内の縦
横データ量との対応は不変である。いまＮｏ．７ロール
２が１回転する間に画像メモリ７が格納するデータ量を
１周期分のデータ量とすると、周期的欠陥を検出するた
めには、画像メモリ７は少くとも２周期分以上のデータ
量を記憶する容量が必要である。例えば欠陥を発生する
恐れのあるロールの周長が２ｍであって、５周期分のデ
ータ量を記憶すれば、搬送距離１０ｍ分の画像データを
記憶したことになる。

【００１７】図２は周期欠陥のある画像メモリ内のイメ
ージを示す図である。前記撮像系によって採取した画像
に周期欠陥があると、画像メモリのイメージは図２のよ
うになり、欠陥周期は欠陥を発生しているロールの周長
（以下ロールピッチＬという）と同じである。この画像
にはシェーディング（shading 、画像における濃淡）補
正をかけて、輝度レベルを正規化しておき、これを元画
像と呼ぶことにする。

【００１８】図３，４，５は本発明に係る同期疵検出方
法の説明図（１），（２），（３）であり、これらの図
面を用いて本発明の周期疵検出方法を先に説明する。ま
ず第１段階として、元画像をロールピッチＬよりやや長
い周期ｈで縦に等分割して切り出す（Ｌ＜ｈ）。すると
最初の切り出し画面内における欠陥の縦方向位置と、次
の画面内における欠陥の縦方向位置は上下にずれる。こ
の様子を図３に示した。これは切り出しをロールピッチ
と同じ長さで行った時に、各画面内での欠陥の縦方向位
置が変わらないことと対照的である。この切り出す長さ
ｈは、例えばロールピッチＬに対し、目標とするロール
疵の縦方向の大きさｄ_Vを加算した程度に設定する。そ
してこのｈの間隔で、５枚から１０枚程度を等分割で切
り出した画像をすべて重ね合わせると、図３の右側の画
像Ａのように、周期性の欠陥は縦に線状に並んだパター
ンを形成する。

【００１９】次に第２段階として、第１段階と同じ元画
像に対し、今度は縦方向にはロールピッチＬと同じ長さ
で、横方向に切り出し枠（図４の破線で示される）の開
始位置をずらしながら画像を切り出す。画像範囲からは
み出す領域は反対側の端から切り出し開始位置までを循
環的に切り出すことで、個々の切り出し画像は常に検査
対象全幅を捕らえている。この様子を図４に示した。ま
た横方向に切り出し枠の開始位置をずらせる大きさは、
目標とするロール疵の横方向の大きさｄ_H程度に設定す
る。そして第１段階と同様に、切り出した画像をすべて
重ね合わせると、図４の右側の画像Ｂのように、周期欠
陥は横に線状に並んだパターンを形成する。

【００２０】次に第３段階として、第１段階で得られた
重ね合わせ画像Ａと、第２段階で得られた重ね合わせ画
像Ｂとを重ね合わせる。こうすることで図５の右側の画
像Ｃを示す如く、周期欠陥は元画像の１枚目における位
置を起点として、縦と横に２枚目以降の欠陥が並んだ、
アルファベット大文字のＬ型パターンを形成する。即ち
本実施形態の周期疵検出方法によると、元画像に周期性
の欠陥があれば必ずＬ字型のパターンが形成され、他の
突発性欠陥やノイズの多くが点状であることに対し、明
らかに異なる幾何学的特徴をもつパターンで現れるの
で、このパターン検出は容易になる。

【００２１】次に第４段階として、第３段階で得られた
画像からＬ字パターンを検出する。これには、既に市販
されている文字読取装置（ＯＣＲ）等の多くの画像処理
装置が有するパターンマッチング機能を用いるのが最も
簡単である。即ち「Ｌ」という形を画像内から探せばよ
い。このパターンマッチング機能は市販の画像処理装置
ではほとんどハードウェア化されており、その処理は高
速で、且つ製品は安価である。

【００２２】図１の装置構成において、画像処理装置８
は第１段階から第３段階までの、画像メモリ７から画像
の切り出し、重ね合わせの処理を行い、パターンマッチ
ング装置９は、第３段階で生成された画像に対してＬ字
パターンを探す処理を行う。そして最終段階として、判
定装置（この例ではマイクロコンピュータ１０）は、パ
ターンマッチング装置９により検出されたＬ字パター
ン、即ち周期欠陥の位置に基づき、元画像にアクセスし
て、周期欠陥の形状、濃度等の特徴情報から、欠陥の種
別と程度の判定を行う。あるいはＬ字パターンそのもの
の特徴情報から、種別、程度を求めてもよい。なお実際
の装置では、上記画像処理装置８、パターンマッチング
装置９、マイクロコンピュータ１０の一部または全体が
一体となっている場合もある。

【００２３】本発明の周期疵検出方法の重要な工程は、
第１段階から第３段階まであるが、第１段階あるいは第
２段階のみでは、周期欠陥は縦か横に並ぶ線状のパター
ンとなり、これだけでは、例えば、線状の深い突発性欠
陥と区別が不可能である。しかしながら、第３段階で得
られるＬ字パターンは、Ｌ字型の突発性欠陥がほとんど
無いことから、第４階段でのＬ字パターンによる周期欠
陥の検出は非常に確実性が高いものとなる。

【００２４】なお本発明における画像の取り込み、切り
出し方法等は、図１〜図５で説明した実施形態に限定さ
れるものではない。例えばライセンサカメラ４を用いて
単位搬送距離毎のラインデータを逐次画像メモリ７内に
格納して２次元画像を生成し、その後画像メモリ７内の
２次元画像を特定の規則で切り出す代りに、通常の２次
元ＴＶカメラなどを用いて、２次元画像を取り込み、こ
の画像の取り込み時に上記特定の規則での画像の分割を
並列的に行う等の方法により本発明を実施するようにし
てもよい。

【００２５】図１は前記本発明の周期疵検出方法を、鉄
鋼分野の熱間圧延プロセス（一般に熱延と呼ぶ）に適用
した場合の周期疵検出装置の構成例を示している。以下
図１の各装置の動作を詳細に説明する。圧延ロール２は
７段になっており、入り側最初のロールをＮｏ．１、最
終ロールをＮｏ．７ロールとする。入り側より１３００
℃程度の温度のスラブ鋼材１が挿入され、次第に圧延さ
れて、Ｎｏ．７ロール出口で厚さ１ｍｍ程度にまで圧延
される。ここでの鋼板移動速度は２０ｍ毎秒程度、鋼板
の幅は１０００ｍｍである。熱延工程では鋼板表面に、
スケールと呼ばれる硬い鉄酸化物層が急速に生成し、剥
離する。通常は、この剥離されたスケールを水のジェッ
トなどで吹き飛ばして、上下ロール間や鋼板とロール間
に噛み込まれないようにしているが、時折噛み込みが生
じて、ロール表面に凹み等の損傷を与える。圧延時にこ
の損傷が鋼板に転写されて、ロール疵と呼ばれる周期欠
陥になる。本実施形態では、製品歩留まりへの影響の最
も大きいＮｏ．７ロール２で発生するロール疵の検出を
行っており、このＮｏ．７ロール２の周長は２７００ｍ
ｍである。

【００２６】また、撮像のための光源としては、メタル
ハライド２５０Ｗランプの光をバンドルファイバーで線
状に形成し、シリンドリカルレンズで集光して鋼板１の
表面を照らす。反射光の受光はラインセンサカメラ４を
用いる。鋼板の温度は、Ｎｏ．７ロール２の出口で、ま
だ９００℃程度あり、赤熱しているので、６００ｎｍ以
上の可視光と熱線をカットして、光源装置３からの反射
光のみを受光するようにする。この実施形態において、
ラインセンサカメラ４の画素数は１０２４であり、１０
００ｍｍの板幅を見るので、横方向の画素分解能は１ｍ
ｍである。またカメラ駆動クロックを２０ＭＨｚとして
いるので、１０２４画素のデータを直列に読み出すスキ
ャン時間は５０マイクロ秒となる。従って鋼板が２０ｍ
毎秒で搬送されている時、５０マイクロ秒の走行距離は
１ｍｍであるから、長さ方向の分解能は１ｍｍである。

【００２７】カメラコントローラ６は、ロール２に設け
られたロータリエンコーダ５より信号を受け取って、鋼
板が１ｍｍ進むごとにカメラにトリガ信号を送る。カメ
ラはトリガ信号が入った時のみ、画像メモリ７に１ライ
ン分１０２４画素の画像信号を出力するので、鋼板の運
転速度が変化しても、画像メモリ７内では常に１画素が
実際の鋼板での縦横１ｍｍの像に相当している。マイク
ロコンピュータ１０は、ロータリエンコーダ５からの信
号で鋼板の進んだ長さを測定しており、指定された時刻
から指定された距離の画面を取り込むように画像処理装
置８を制御する。

【００２８】マイクロコンピュータ１０の指令により、
画像処理装置８は画像メモリ７に、Ｎｏ．７ロール２の
周長の５〜６倍程度の長さ分の画像を取り込む。画像処
理装置８は、採取された画像に対し、必要に応じてシェ
ーデイング補正、２値化、フィルタなど、欠陥検出で一
般的に行われる処理を施すことがある。本実施形態で
は、シェーデイング補正と、輝度の正規化を行い、経験
的に求められた閾値を用いて２値化を行っている。

【００２９】こうした前処理の後、画像処理装置８は、
周期疵検出方法で説明した第１〜第３段階の手順に沿っ
て画像の切り出し、合成の処理を行う。図６は、図１の
構成の装置により、実際に撮像した鋼板表面の画像を縦
に切り出した例を示す図であり、図の（ａ）〜（ｅ）は
ロール周長よりやや長い周期で元画像を切り出した画面
である。そしてこれらの元画像には中央右上寄りに周期
欠陥であるロール疵が含まれている。

【００３０】図７は図６の画像の処理結果を示す図であ
る。図７の（ａ）は、図６の（ａ）〜（ｅ）の画像を、
最小輝度画像合成法などによって縦合成した結果の画像
であり、この段階でロール疵は縦に並んで現れる。図７
の（ｂ）は、元画像を横にずらしながらロールピッチで
切り出した画像の合成結果であり、ロール疵は横に並ん
で現れている。また図の（ａ），（ｂ）には突発性の欠
陥か、ノイズと思われるものも点在しており、これらの
画面では周期欠陥のみを抽出するのはまだ困難である。

【００３１】図７の（ｃ）が、同図の（ａ）と（ｂ）の
画像を合成して得られた最終画面であり、ロール疵はＬ
字パターンを示していて、本発明の特徴がよく現われて
いる。画像メモリ７内の一部に生成された図７の（ｃ）
の画像に対して、パターンマッチング装置９は、Ｌ字パ
ターンの長さ、幅、形状、太さ、発生位置に、ある程度
の冗長を許容した設定範囲でパターンを探す。結果とし
て、図７の（ｄ）のように、設定枠内にＬ字パターンす
なわちロール疵を捕らえることができた。

【００３２】パターンマッチング装置９は、Ｌ字パター
ンの、画面内における位置と、その形状の情報をマイク
ロコンピュータ１０に知らせる。マイクロコンピュータ
１０はこれらの情報からロール疵の種別と程度を判定す
る。本実施形態では、判定の精度を向上させるため、再
度、２値化されていない元画像にアクセスしてロール疵
の輝度、輝度分布、形状などを精密に分析し、この分析
結果の表示及び出力を表示・出力装置１１（ＣＲＴ、フ
ロッピ、ディスク、プリンタ等の表示・出力装置）によ
って行っている。

【００３３】また画像処理装置８が、元画像に対して別
なロール周期に基づいた処理を行うことで、同一の画像
から別なロールで発生した周期欠陥をも検出が可能であ
る。本実施形態におけるＮｏ．６ロールはＮｏ．７ロー
ルより直径が大きいので、画像の縦方向の切り出しピッ
チをＮｏ．６ロールの周長とＮｏ．７ロールの周長の中
間の長さに設定して本発明の方法を適用すると、Ｎｏ．
６ロールで発生した周期欠陥は最終的な合成画面におい
て、Ｌ字型パターンの上下に逆にした逆Ｌ型パターンを
示すので、このパターンも容易に検出できる。

【００３４】このように周期欠陥から変換される特定形
状パターンが、Ｌ字型か逆Ｌ字型かによって、発生原因
がＮｏ．７ロールによるものか、Ｎｏ．６ロールによる
ものかを判別することができる。なお上記の特定形状パ
ターンは、Ｌ字型と逆Ｌ字型に限定されるものではな
く、縦方向パターンと横方向パターンとを組み合わせた
「＋」や「Ｔ」等が形成されるように、画像の切り出し
を行ってもよい。また画像切り出しを斜めに行って、
「／」型を抽出すれば切り出しの手間をさらに省くこと
ができる。斜め疵が発生しにくい対象の場合は有効であ
る。

【００３５】上記のように、本発明の実施によって、ロ
ール疵を見逃すことがなく確実に検出できるようになる
と共に、検査対象がノイズの多い鋼板の場合でも過剰検
出はほとんど生じないので、信頼性の高い検査が可能に
なった。また本発明の画像処理方法は、単純であるの
で、特別な演算装置を必要とせず、低コストで且つ高速
処理できる検査システムを実現できる。

【００３６】

【発明の効果】以上のように本発明によれば、検査対象
の周期疵を、その表面から撮像した画像を処理して特定
形状の画像パターンに変換することにより、周期疵を確
実に検出できると共に、背景ノイズが多い場合にも過剰
検出はほとんど生じないので信頼性の高い検査が可能に
なる。

【００３７】また本発明によれば、検査対象の表面を撮
像して採取する画像の量は少なく、また撮像画像を処理
する装置も簡単であるので、低コストで高速処理できる
検査システムを実現できる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明に係る周期疵検出装置の構成例を示す図
である。

【図２】周期欠陥のある画像メモリ内のイメージを示す
図である。

【図３】本発明に係る周期疵検出方法の説明図（１）で
ある。

【図４】本発明に係る周期疵検出方法の説明図（２）で
ある。

【図５】本発明に係る周期疵検出方法の説明図（３）で
ある。

【図６】実際に撮像した鋼板表面の画像を縦に切り出し
た例を示す図である。

【図７】図６の画像の処理結果を示す図である。

【図８】文献１の発明の一実施例を示す構成図である。

【図９】文献２の発明の内部の処理を示す概念図であ
る。

【図１０】ロール周期での画像重ね合せによる輝度ヒス
トグラムの概念図である。

【符号の説明】

１鋼板２圧延ロール３光源装置４ラインセンサカメラ５ロータリエンコーダ６カメラコントローラ７画像メモリ８画像処理装置９パターンマッチング装置１０マイクロコンピュータ１１表示・出力装置

Claims

【特許請求の範囲】

【請求項１】連続的に搬送される帯状体の表面に生ず
る周期疵を検出する方法において、前記搬送される帯状体の表面の画像を継ぎ目なく光学的
に撮像して、この撮像画像を一旦記憶装置に記憶し、前記記憶装置に記憶された撮像画像から搬送方向に周期
疵の発生間隔と異なる間隔で複数枚切り出した画像と、
前記記憶された撮像画像から帯状体の幅方向に切り出し
位置をずらせながら周期疵の発生間隔と同一間隔で複数
枚切り出した画像とをすべて重ね合せた合成画像を生成
し、前記生成された合成画像内に形成された特定形状の画像
パターンを認識して周期疵を検出することを特徴とする
周期疵検出方法。
【請求項２】連続的に搬送される帯状体の表面に生じ
る周期疵を検出する装置において、前記搬送される帯状体の表面の画像を継ぎ目なく光学的
に撮像する撮像手段と、前記撮像手段により撮像された画像を記憶する記憶手段
と、前記記憶手段に記憶された撮像画像から搬送方向に周期
疵の発生間隔と異なる間隔で複数枚切り出した画像と、
前記記憶された撮像画像から帯状体の幅方向に切り出し
位置をずらせながら周期疵の発生間隔と同一間隔で複数
枚切り出した画像とをすべて重ね合せた合成画像を生成
する画像処理手段と、前記画像処理手段の生成した合成画像内に形成された特
定形状の画像パターンを認識して周期疵を検出する検出
手段とを備えたことを特徴とする周期疵検出装置。