JPH10197917A - カメラの多点測距装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】画面内のどこに被写体が位置していても正しい
測距を行うことができる多点測距装置を提供すること。 【解決手段】投光手段５１より被写体に向けて測距用光
を投射し、被写体からの反射信号光を受光手段５２によ
り受光する。この受光手段５２の出力に基づき、受光位
置演算手段５４、または、入射光量演算手段５５にて受
光位置情報、または、入射光量情報を演算する。それら
の演算結果により投光手段５１の発光状態が切り換えら
れる。その切り換えられた投光手段５１の発光光により
測距が行なわれる。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、カメラの多点測距
装置、より詳しくは、撮影画面に対する被写体上の複数
のポイントに対し、測距用光を投射し、その反射信号光
にもとづいて、被写体距離を決定するカメラの多点測距
装置に関する。

【０００２】

【従来の技術】被写体の複数のポイントが測距できる形
式の従来の多点測距装置を内蔵するカメラでは、被写体
の配置位置にかかわらず、ピント合わせが可能である。
しかし、複数のポイントのうち何れかのポイントを誤測
距すると、その影響により失敗写真を撮影することにな
ってしまう。

【０００３】上述の不具合を解決するものとして、先に
本出願人が提案した特開平４−６５６３０号公報に開示
のものは、マルチＡＦ測距、すなわち、複数のポイント
の測距の結果を比較して、まちがった結果をキャンセル
し、正しい被写体距離を選択する。すなわち、測距光の
複数のポイントでスポット欠けがあったと考えられる場
合やスポット欠けがないとしても測距結果が近距離であ
った場合には、それらの測距結果を誤測距データとして
扱う。

【０００４】また、誤測距を補正する技術としては、同
じく本出願人が提案した特開平４−５０６１０号公報に
開示のカメラの測距装置は、反射信号光の強さまでを考
慮して、誤測距を防止するものである。すなわち、測距
光のスポット欠けがある場合、その補正を行うものであ
る。

【０００５】ここで、従来の多点測距（マルチＡＦ測
距）装置での測距処理の概略について、図１１のフロー
チャートにより説明すると、ステップＳ１０１では、図
１２に示す撮影画面１０１内の被写体１０２に対して、
画面内の３点の測距ポイントにビームスポット１０３
Ｌ，１０３Ｃ，１０３Ｒを投射する。その反射光により
各測距ポイントのプリ測距を粗い精度で行う。ステップ
Ｓ１０２では、その３点の中から、最至近距離を出力す
るスポットの被写体測距ポイントを選ぶ。そして、最後
のステップＳ１０３では、上記選択された測距ポイント
に対してメイン測距を実行する。

【０００６】図１３は、上記プリ測距とメイン測距の時
の赤外発光ダイオード（ＩＲＥＤ）の発光パルス波形の
タイムチャートを示す。プリ測距では、各ビームスポッ
ト１０３Ｌ（左側），１０３Ｃ（中央），１０３Ｒ（右
側）の投光回数の少ない発光パルスＰL ，ＰC ，ＰR に
より短時間の測距が行われる。メイン測距では選択され
た単一測距ポイント上のビームスポット、例えば、スポ
ット１０３Ｃの多数回の発光パルスＭC により測距が時
間をかけて行われ、ＡＦ回路（ＡＦＩＣ）は、何度もデ
ータを取り込み、該取り込みデータを平均化して、精度
アップが図られる。

【０００７】しかしながら、上記被写体１０２の位置に
よっては図１２のビームスポット１０３Ｌ、１０３Ｒの
ようにスポットが欠けることがある。このビームスポッ
トの欠けが生じた場合、後述する図３（Ｂ）の測距光の
光路図でも説明するように、反射スポット光の受光位置
検出素子上の入射光位置が変化し、誤測距する可能性が
あった。

【０００８】

【発明が解決しようとする課題】前述の特開平４−６５
６３０号公報のカメラの測距装置は、上述したのように
誤測距の情報をキャンセルし、正しい被写体距離情報の
みを選択するものであるが、この技術では、単純な測距
結果の比較のみを行っているため、誤測距した場合と正
しい測距の場合との判別を間違う可能性があった。ま
た、前述の特開平４−５０６１０号公報のカメラの測距
装置は、上述したように反射信号光の強さを考慮して、
誤測距を防止するものであるが、複数のポイントの測距
を行うマルチＡＦへの応用への記述が不十分であった。

【０００９】本発明は、以上の点に鑑み、撮影画面に対
する被写体上の複数のポイントに対して測距可能であ
り、かつ、誤測距が少なく、画面内のどこに被写体が位
置していても正しい測距を行うことができるカメラの多
点測距装置を提供することを目的とする。

【００１０】

【課題を解決するための手段】本発明の請求項１記載の
カメラの多点測距装置は、撮影画角内の被写体上に配さ
れた複数の測距ポイントに向けて光束を順次投射する投
光手段と、上記投光による被写体からの反射光を受け、
その入射位置情報と入射光強度情報とを出力する受光手
段と、上記投光手段による順次投光を制御すると共に、
上記受光手段からの出力に応答して、上記複数の測距ポ
イントのうちの１つを選択し、該測距ポイントにある被
写体までの距離を算出する制御手段とを備えている。上
記カメラの多点測距装置においては、まず、上記全ての
測距ポイントに対して順次投光するプリ測距を行い、そ
のときの受光手段の出力に基づいて単一の測距ポイント
を選択し、続いて選択された単一の測距ポイントについ
て再測距して被写体距離を決定する。

【００１１】本発明の請求項２記載のカメラの多点測距
装置は、請求項１の多点測距装置の上記制御手段におい
て、上記プリ測距を行った結果、最も近い被写体距離を
示す測距ポイントを当座の基準位置とし、このポイント
に隣接する測距ポイントにおける入射光量情報同士をそ
れぞれ比較して入射光量の多い方の測距ポイントが選択
され、その測距ポイントについて測距が行われる。

【００１２】本発明の請求項３のカメラの多点測距装置
は、請求項１の多点測距装置の制御手段において、無限
遠判定レベルを第１のレベルとして、上記プリ測距を行
い、その結果に応じて測距ポイントを選択し、無限遠判
定レベルを上記第１のレベルより低い第２のレベルとし
てから、再測距が行われる。

【００１３】

【発明の実施の形態】以下、図を用いて本発明の実施の
形態について説明する。本発明の実施の形態の詳細な説
明に先だって、本発明のカメラの多点測距装置の概要か
ら説明すると、本多点測距装置は、写真画角内の被写体
上の複数の測距ポイントに対し、測距用光を投射し、そ
の反射信号光に基づいて、被写体距離を決定するアクテ
ィブ式の多点測距（マルチＡＦ）装置である。

【００１４】図１は、上記多点測距装置の主要ブロック
構成図である。投光手段５１より被写体に向けて測距用
光を投射し、被写体からの反射信号光を受光手段５２に
より受光する。この受光手段５２の出力に基づき、受光
位置演算手段５４にて受光位置情報を演算し、また、入
射光量演算手段５５にて入射信号光量情報を演算する。
それらの演算結果は、演算制御手段５８に内蔵されてい
る選択手段５８ａに入力される。上記選択手段５８ａ
は、上記演算結果に基づいて発光切り換え手段５３の切
り換え制御を行う。

【００１５】ＣＰＵ等で構成される演算制御手段５８
は、上記受光位置演算手段５４や入射光量演算手段５５
の演算結果により被写体の測距を行い、その測距情報に
基づいてピント合わせ制御手段５７を制御し、ピント合
わせを行う。また、演算制御手段５８の選択手段５８ａ
により投光切り換え手段５３を制御することによって、
投光手段５１の投光方向や投光回数が切り換えられ、撮
影画角内の被写体上の複数のポイントを精度を変えて測
距する。このように投光回数を増やすことによって、測
距結果の平均化してランダムノイズを打ち消し、精度を
上げることができる。

【００１６】また、受光手段５２に入射した信号光量が
少ない場合には、光入射位置演算結果の信頼性が低下す
るので、上記信号光量を所定のレベルと比較し、これよ
り小さいときに上記受光位置演算結果を無効化し、測距
値を無限遠（以下、∞と記載する）とするための∞判定
手段２３が設けられている。上記所定レベルは、演算制
御手段５８によって切り換えが可能となっている。

【００１７】投光された測距ビームが正しく被写体に当
たっていない場合、誤測距が起こるので、ピント合わせ
データを得るメインの測距の前に、投光回数の少ない粗
い精度のプリ測距を行い、このプリ測距時の光量演算結
果や、∞判定結果に従って、演算制御手段５８は、測距
ピントが適正かどうかを判定する。

【００１８】以下、本発明の一実施の形態である多点測
距装置について説明する。図２は、本実施の形態の多点
測距装置が組み込まれたカメラの主要ブロック構成図を
示す。本カメラの制御回路は、主に各構成制御要素の制
御を司る制御手段としてのワンチップマイコン等の演算
制御回路であるＣＰＵ１０と、撮影レンズ１７と、該撮
影レンズ１７のうちの合焦レンズ部の繰り出しを行う繰
り出し制御部９と、フィルム１２の巻き上げを制御する
巻き上げ制御部１３と、投光手段である赤外発光ダイオ
ード（以下、ＩＲＥＤと記載する）１ａ，１ｂ，１ｃ
と、各ＩＲＥＤの発光を選択的に切り換える選択手段で
ある選択ドライバ５と、各ＩＲＥＤからの射出光を集光
し、測距用ビームとして被写体に向けて投光する投光レ
ンズ２と、被写体からの測距ビームの反射光を集光する
受光レンズ３と、上記反射光を受光する受光手段である
半導体光位置検出素子（以下、ＰＳＤと記載する）４
ａ，４ｂ，４ｃと、上記各ＰＳＤの出力信号を取り込
み、測距信号を出力するＡＦＩＣ８と、レリーズスイッ
チ１４等を具備している。

【００１９】なお、ＡＦＩＣ８は、各ＰＳＤの出力が入
力されるプリアンプ列６と、プリアンプの出力を切り換
える切り換えスイッチ素子７と、入射位置演算を行う比
演算回路２０と、入射光量を演算する光量演算回路２１
と、∞判定レベル電圧Ｖｃを出力するＡ／Ｄコンバータ
からなるレベル切り換え回路２３と、上記レベル電圧Ｖ
ｃと光量演算出力電圧とを比較するコンパレータ２２等
を内蔵したオートフォーカシング（ＡＦ）用集積回路で
ある。

【００２０】上述のような構成を有する上記カメラによ
り被写体の測距を行う場合、まず、ＣＰＵ１０により選
択的に制御された状態で選択ドライバ５を介してＩＲＥ
Ｄ１ａ，１ｂ，１ｃが駆動される。各ＩＲＥＤから出射
した測距光は、投光レンズ２によって集光され、ビーム
スポット１５ａ，１５ｂ，１５ｃとして撮影画面１７内
の３つの測距ポイントに投射される。

【００２１】被写体１６が上記ビームスポットのエリア
上に位置しているときは、測距光は、反射されて受光レ
ンズ３を介して、ＰＳＤ４ａ，４ｂ，４ｃに反射信号光
として入射する。後で説明するように、この反射信号光
の入射位置は、三角測距の原理に従って変化するので上
記ＰＳＤにより入射位置を検出すれば、各測距ポイント
の被写体距離を求めることができる。

【００２２】上記ＰＳＤ４ａ，４ｂ，４ｃは、それぞれ
光の強さおよび上記入射位置に依存した２つの光電流を
出力するので、プリアンプ列６でこの光電流を増幅し、
これらの増幅出力を選択手段である切り換えスイッチ素
子７で選択して比演算回路２０と光量演算回路２１に入
力する。なお、比演算回路２０は、上記２つのＰＳＤの
各出力信号の比を演算して、上記信号光入射位置に基づ
く信号に変換する回路である。また、光量演算回路２１
は、ＰＳＤの上記２つの出力信号を加算することによ
り、入射信号光量に依存した信号に変換する回路であ
る。

【００２３】本カメラにより撮影を行う場合、ＣＰＵ１
０は、レリーズスイッチ１４の操作に応答して上記選択
ドライバ５や、選択手段７を制御して、測距ポイントを
切り換えて各点の測距を行う。そして、上記比演算回路
２０、光量演算回路２１の出力に従って被写体１６まで
の距離を選択、算出し、その結果に基づいて繰り出し制
御手段を制御して撮影レンズ１１中の合焦レンズ部の繰
り出し位置を調整する。撮影終了後は、巻き上げ制御部
１３によってフィルム１２を巻き上げを行う。

【００２４】なお、上記ＰＳＤ４ａ，４ｂ，４ｃに入射
した光の量が小さいと、上記出力光電流が低下して、正
しい比演算が行なえなくなるので、上記ＰＳＤの出力光
電流が小さい時には、上記比演算手段２０の出力を無効
化するように工夫され、誤測距を防いでいる。すなわ
ち、本実施の形態の例では、光量演算回路２１の出力
と、レベル切り換え回路２３の出力である所定の∞判定
レベル電圧Ｖｃとをコンパレーター２２で比較して、上
記レベル電圧Ｖｃより小さい時には比演算の結果を∞距
離相当として取り扱う。上記レベル電圧Ｖｃは、ＣＰＵ
１０の指示によりレベル切り換え回路２３を介して、高
レベル、または、低レベルに切り換えが可能である。但
し、上記所定レベル電圧Ｖｃと比較する光量出力レベル
は、必ずしも光量演算回路２１の出力でなくともよく、
プリアンプ列６の直接の出力であってもよい。

【００２５】ここで、図３（Ａ）、（Ｂ）の被写体への
測距光の光路図を用いて、光投射式の三角測距方式につ
いて詳しい説明を行う。なお、図３（Ａ），（Ｂ）は、
複数組のＩＲＥＤおよびＰＳＤの内、１組のＩＲＥＤ１
ａおよびＰＳＤ４ａについて示しているが、他のＩＲＥ
Ｄ１ｂ，１ｃおよびＰＳＤ４ｂ，４ｃについても同様と
する。

【００２６】ＩＲＥＤ１ａの発光部は、所定の面積的大
きさを有するので、測距ポイントを与えるビームスポッ
ト１５ａは、点ではなく、ある面積を持つことになる。
このビームスポット１５ａのエリアがすべて図３（Ａ）
のように被写体１６に当たって、受光レンズ３に全反射
光が入射した場合は、上記スポットの面積を特に考える
必要はなく、上記反射光ビームの重心を考慮する。そし
て、上記の図のように、ビームが単純に三角形の形状の
測距光路に沿ってＰＳＤ４ａに入射してくるものとして
処理すればよい。

【００２７】従って、被写体距離Ｌと、投受光レンズ
２，３間の基線長Ｓ、および受光レンズ３側焦点距離ｆ
と、反射測距光のＰＳＤ４ａ上の入射位置を与える信号
光入射位置データｘとの間には、 Ｌ：Ｓ＝ｆ：ｘ ………（１） の関係が成立する。したがって、被写体距離Ｌは、信号
光入射位置データｘについての関係式、 Ｌ＝Ｓ・ｆ／ｘ ………（２） から求めることができる。

【００２８】受光部有効長さｔのＰＳＤ４ａは、表面の
抵抗層の電流分流効果により上記入射位置データｘに従
って次の２つの信号光電流ｉ1 ，ｉ2 を出力する。すな
わち、全信号光電流ｉｐとして、 ｉ1 ＝ｉｐ×ｘ／ｔ ………（３） ｉ2 ＝ｉｐ×（１−ｘ）／ｔ ………（４） という２つの信号光電流を出力する。そして、上記ｉ1
＋ｉ2 の値は、光量演算値である全信号光電流ｉｐと等
しくなる。すなわち、 ｉ1 ＋ｉ2 ＝ｉｐ ………（５） である。なお、上記全信号光電流ｉｐは、入射光量に比
例して大きくなる。

【００２９】また、ｉ1 とｉ1 ＋ｉ2 の比より、比演算
値である上記入射位置データｘが求められる。すなわ
ち、 ｘ＝ｉ1 ／（ｉ1 ＋ｉ2 ）×ｔ………（６） となる。なお、上記（５）式に基づいた演算は、前記図
２の光量演算回路２１にて行われる。（６）式に基づい
たアナログ演算は、同じく図２の比演算回路２０にて行
われる。

【００３０】図３（Ａ）のように測距光のビームスポッ
ト１ａがすべて被写体１６に当たっている状態では、上
記の式（５），（６）に従って演算することによって正
しい測距が可能である。

【００３１】しかし、図３（Ｂ）のように、測距光のビ
ームスポット１ａが完全には被写体１６に当たらず、ス
ポットの一部が欠けた場合は（１）式で想定した測距光
路も三角形が成立せず、反射信号光は点線で示したよう
に、想定していた位置よりも近距離側にシフトしてしま
う。つまり、この“スポット欠け”状態では、ＡＦＩＣ
８では、正しい測距結果を出力することができない。

【００３２】前記図１２の画面内３点を測距できる従来
のカメラでは、中央に被写体がある場合でも、もし、左
右の測距ポイントが上記スポット欠け状態になっている
と誤測距を起し、正確なピント合わせができなくなって
しまう。そこで、本実施の形態の多点測距装置では、次
に説明する測距処理により上記比演算の結果と、光量演
算の結果とを活用して、上記誤測距の副作用を防止して
いる。

【００３３】図４は、上記多点測距装置における測距処
理のフローチャートである。ステップＳ１，Ｓ２では、
前記図１１に示したステップＳ１０１，１０２と同様の
処理を行い、図２に示す被写体に照射されるビームスポ
ット１５ａ，１５ｂ，１５ｃの測距ポイント中から最至
近距離を与える単一の測距ポイントを選択する。なお、
至近距離であるか否かは比演算回路２０による比演算の
結果で判定される。ステップＳ３において、ステップＳ
２で選択された測距ポイントが右側であるかどうかを判
別する。

【００３４】ステップＳ３で右側測距ポイントが選択さ
れたと判定されたときは、右側の測距ポイントのビーム
スポット１５ａが図３（Ｂ）に示したスポット欠けを起
こし、近距離側の出力信号が出力されている可能性があ
る。因みに、前記図１２に示したように、もし、左側の
測距ポイントのビームスポット１０３Ｌがスポット欠け
を起こした場合には、図３（Ｂ）に示した点線とは反対
側にビームスポットが片寄る。該ビームスポット１０３
Ｌによる測距データは、実際より遠距離側の測距データ
を与えるので、ステップＳ２の最至近選択処理におい
て、ビームスポット１０３Ｌによる測距データは破棄さ
れることになる。

【００３５】なお、上述のビームスポットの欠けの最至
近選択への影響する状態は、カメラの投受光部の配置構
造によって左右される。図２に示すように投光レンズ２
の右側に受光レンズ３が配設されるカメラでは受光側、
すなわち、右側に投光されたビームがスポット欠けを起
こすと、その測距ポイントが最至近距離として選択さ
れ、上述の誤測距を起こしやすい。しかし、受光レンズ
３が、図２のカメラとは逆に投光レンズの左側にあるカ
メラでは、左側に投光されるビームが前記図１２のよう
なシーンで誤測距を起こしやすい。このような構造をも
つカメラでは、図４のステップＳ３が左選択か否かを判
定する処理となる。

【００３６】上記ステップＳ３の判定において、誤測距
を起こし易い受光レンズ側（右側）のビームスポット１
５ａ上の右側測距ポイントが最至近距離を与えるポイン
トとして選択されていると判定されたときは、ステップ
Ｓ４に進み、光量演算結果の比較を行う。すなわち、右
側のビームスポット１５ａの反射光光量と中央のビーム
スポット１５ｃの反射光光量とを比較し、前者の光量が
大である場合、ステップＳ５へ、後者の光量が大である
場合、ステップＳ６へそれぞれ分岐する。なお、前記比
演算と同時にこの光量演算を行う技術としては、本出願
人が先に提案した特開平４−４８２０８号公報がある。

【００３７】実際に図２の撮影画面１７のように中央に
被写体が位置せず、右側ビームスポット１５ａの測距ポ
イント位置に被写体１６が位置する場合は、右側の光量
演算結果が大きくなるので、上述のようにステップＳ４
からステップＳ５に分岐し、右側を選択する。すなわ
ち、右側のビームスポット１５ａによるメイン投光、例
えば、図１３に示す発光パルスＭR の出力を行う。そし
て、ステップＳ７にて上記発光パルスＭR による反射光
による測距を実行し、ピント合わせを行う。

【００３８】逆に、図３（Ｂ）のような撮影シーンで
は、図１２に示したビームスポット１０３Ｒのようにス
ポット１５ａ′側の欠けたビームからの反射光光量は少
ないので、上述のようにステップＳ４からステップＳ６
に分岐して、その後、中央のビームスポット１５ｂの測
距ポイントに対してメイン測距を行う。

【００３９】なお、上記ステップＳ３の判定で右側の測
距ポイントが選択されていないと判定された場合、すな
わち、受光側に投光されたもの以外の測距ポイントが選
択された時は、直接、ステップＳ７に進み、ステップＳ
２で選択されている最至近の測距ポイントによるメイン
測距処理が実行される。

【００４０】本実施釦形態の多点測距装置によれば、上
述したようにビームスポットの欠けにより測距ポイント
が最至近を与えるポイントとして誤測距されるような副
作用が生じることなく、画面内のどこに被写体が位置し
ていても正しい測距が可能で、高精度のピント合わせが
可能なカメラの多点測距装置を提供できる。

【００４１】上述の実施の形態の多点測距装置をさらに
一般化して、３点より多い測距ポイントを測距可能な多
点測距に対応可能とした変形例の多点測距装置を提案す
ることも可能である。

【００４２】図５は、本変形例の多点測距装置の測距処
理のフローチャートである。また、図６は、本変形例の
多点測距装置を有するカメラの撮影画面上の測距ポイン
トを示すビームスポットの配置図である。本変形例で
は、投光レンズ側から受光レンズ側に向けて、サフィッ
クス数が大きくなるビームスポットＰ1 ，Ｐ2 ，Ｐ3 ，
Ｐ4 ，Ｐ5 としての測距ポイントが配置されていること
を前提として、図５のフローチャートを説明する。

【００４３】ステップＳ１１，Ｓ１２は前記実施の形態
での図４に示したフローチャートのステップＳ１，Ｓ２
と同一の処理である。ステップＳ１３では、上記ステッ
プＳ１２で選択された最至近ポイントが最も受光レンズ
側である遠い測距ポイント、すなわち、サフィックス数
字が最も小さいポイントＰ1 であるかどうかを判定す
る。

【００４４】上記一つのポイントＰ1 が選択されていれ
ば、前記図１２に示したビームスポット１０３Ｌの測距
ポイントが選択された場合と同様に最近選択での副作用
を起こす可能性がないので、直接、Ｓ１６に進み、メイ
ン測距を行う。しかし、それ以外ポイントが選択されて
いる場合は、スポット欠けによる誤測距の可能性がある
ので、ステップＳ１４に進み、そこで、上記ステップＳ
１２で選択された最至近ポイントＰｎでの光量が、それ
に隣接する投光レンズ側（左側）のポイントＰn-1 の光
量よりも大きいかどうかを判定する。すなわち、選択ポ
イントの有効性を光量の比較によって確認する。

【００４５】そして、選択された上記最至近ポイントＰ
ｎの光量が大きい場合、そのまま、ステップＳ１６に進
み、単一の選択最至近測距ポイントＰｎに基づいたメイ
ン測距が実行される。しかし、ポイントＰn-1 の光量の
方が大きい場合、ステップＳ１５に進み、このポイント
Ｐn-1 を単一の最至近測距ポイントとして選択する。そ
の後、ステップＳ１６に進み、上記選択された最至近測
距ポイントＰn-1 に基づいたメイン測距を実行する。

【００４６】本変形例の多点測距装置によって、例え
ば、図７のような撮影画面３２のシーンの測距を行う場
合、被写体３３に対してポイントＰ3 とポイントＰ5 に
てスポット欠けとなっているが、上述の図５の測距処理
により最至近距離を与える測距ポイントＰ4 が指定され
るため正確なピント合わせができる。なお、本変形例の
多点測距装置では、測距ポイントは３ポイントだけでな
く、任意のポイント数を採用するマルチＡＦにも対応で
き、いろいろのシーンに対して誤測距の少ないカメラの
測距装置が提供できる。

【００４７】次に、被写体距離を∞距離相当として判定
するための∞判定レベル電圧Ｖｃ（図２参照）を切り換
えてプリ測距、または、メイン測距を行い、同様の効果
を得ることできる別の変形例の多点測距装置について図
８のフローチャートによって説明する。なお、本装置の
構成としては、図２の実施の形態の装置のブロック構成
図に示したものと同様とする。

【００４８】フローチャートの順次の処理ステップの説
明に先立って、図８の本変形例の測距処理でのステップ
Ｓ２１，Ｓ２４，Ｓ２７における∞判定レベルの強弱を
示す第１レベルと第２のレベル、すなわち、レベルの
高，低の切り換え処理動作を説明する。なお、この切り
換え処理は、図２のＣＰＵ１０の指示によりレベル切り
換え回路２３の出力である∞判定レベル電圧Ｖｃを切り
換えることによって行われる。

【００４９】上記レベルの強弱切り換え時の前記（６）
式で求められる入射位置データｘである比演算値と、距
離逆数１／Ｌで示される測距データとの関係を図９に示
す。∞判定レベル強側に切り換えると、比較的大きな信
号光電流範囲で無効化され、図９の点線で示されるよう
に比較的近距離の範囲での上記比演算値（ｘ）に対する
上記測距データが０に降下し、比較的近距離の範囲に限
って測距データが得られ、それ以外の範囲は測距データ
０、すなわち、∞の測距値が返される。一方、∞判定レ
ベル弱側に切り換えると、図９の実線で示されるように
比較的遠距離までの範囲で比演算値（ｘ）に対する測距
データが測定可能になる。

【００５０】本変形例の多点測距装置では、図８のフロ
ーチャートに示すように、まず、ステップＳ２１で∞判
定レベルが強く、すなわち、高く設定され、ステップＳ
２２でプリ測距を行う。このとき、∞判定レベル強であ
ることから、もし、スポットが欠けが生じ、光量が減少
すると、測距データが０、すなわち、∞測距値になり易
すくなっている。従って、スポットの欠けていない測距
ポイントの測距データだけが有効となり、正しい測距ポ
イントの選択ができる。

【００５１】ステップＳ２３にて全ての測距ポイントで
の測距データ出力をチェックし、該測距データが全て
０、すなわち、全てのポイントの測距値が得られない場
合、例えば、被写体が遠いか、または、全てのビームス
ポットが欠けた状態であってプリ測距しても、全く測距
データが得られない場合は、ステップＳ２４に分岐す
る。ステップＳ２４では、∞判定レベルを弱側に切り換
え、ステップＳ２５で再度プリ測距を行う。その後、ス
テップＳ２６に進む。しかし、少なくとも１ポイントで
も測距データ出力が０でない測距ポイントが存在する場
合、直接、ステップＳ２６に進む。

【００５２】ステップＳ２６では、プリ測距で得られた
測距データから最至近データを与える測距ポイントを選
択する。すなわち、マルチＡＦポイントの中から最至近
ポイントを選択する。そして、ステップＳ２７で∞判定
レベルを弱側に設定して、ステップＳ２８でメイン測距
を実行する。

【００５３】本変形例の多点測距装置では、上述のよう
な測距処理を実行するので、プリ測距時にスポット欠け
が起きた測距ポイントでは、入射光量が減少することか
ら測距データが∞測距値として扱われ易くなり、最至近
距離データとしては除去されるので、誤測距が少なくな
り、より正しいピント合わせが可能となる。

【００５４】次に、前記変形例と同様に∞判定レベル切
り換えて測距を行うさらに別の変形例の多点測距装置に
ついて、図１０のフローチャートにより説明する。な
お、装置の構成としては、図２の実施の形態の装置のブ
ロック構成図と同様の構成とする。

【００５５】本変形例の測距処理においては、ステップ
Ｓ３１と、ステップＳ３３にて∞判定レベルの強，弱切
り換えを行い、ステップＳ３２とステップＳ３４とで２
回のプリ測距を行う。その後、ステップＳ３５で、前記
（６）式に示した比演算値（ｘ）である比データの変化
がない測距ポイントを選択する。上述のように∞判定レ
ベルを変えたとき、上記比データが変化するような測距
ポイントは、スポット欠けによって、すでに光量が減少
しているものと考えられるので、このステップＳ３５に
て、スポット欠けしていないビームが投射される測距ポ
イントが選択されることになる。続いて、ステップＳ３
６で上記選択された測距ポイントに基づいたメイン測距
が実行される。

【００５６】本変形例の多点測距装置によると、∞判定
レベルを変えることによって、上記比データが変化しな
いようなポイントをスポット欠けのないポイントと見做
し、測距ポイントとして選択し、正しいピント合わせを
可能としている。

【００５７】（付記）以上、説明した本発明の実施の形
態に基づいて、以下に示す構成を有するカメラの多点測
距装置を提案することができる。すなわち、 （１） 撮影画面内の複数の方向に測距用光束を投射す
る投光手段と、この複数の測距用光束による対象物から
の反射光を受光して、その入射位置と入射強度とを判別
して、入射位置信号および入射強度信号をそれぞれ出力
する受光手段と、上記撮影画面内の各方向に上記測距用
光束を投射したときの上記受光手段のそれぞれの出力に
基づいて、対象物までの距離を決定する決定手段と、を
備えており、上記決定手段は、まず上記入射位置信号同
士を比較し、続いて、入射強度信号同士を比較すること
を特徴とするカメラの多点測距装置。上記カメラの多点
測距装置によれば、撮影画面に対する被写体上の複数の
ポイントに対して測距可能であり、かつ、上記入射位置
信号同士と入射強度信号同士を比較して対象物までの距
離を決定するので、画面内のどこに被写体が位置してい
ても正しい測距を行うことができる。

【００５８】（２） 撮影画面内の複数の方向に測距用
光束を投射する投光手段と、この複数の測距用光束によ
る対象物からの反射光を受光して、その入射位置と入射
強度とを判別して、入射位置信号および入射強度信号を
それぞれ出力する受光手段と、上記受光手段の出力を受
け、上記入射強度信号を所定の基準値と比較して、入射
光強度が低いときには上記入射位置信号を無効とする判
定手段と、上記所定の基準値を順次切換えながら上記投
光手段を制御して上記複数の方向のうちの１つの方向を
選択する選択手段と、を具備することを特徴とするカメ
ラの多点測距装置。上記カメラの多点測距装置によれ
ば、撮影画面に対する被写体上の複数のポイントに対し
て測距可能であり、かつ、上記入射強度低い入射位置信
号を無効とすることによって、対象物までの距離を決定
するので、画面内のどこに被写体が位置していても正し
い測距を行うことができる。

【００５９】（３） 所定の方向に存在する対象物に対
して測距用の光束を投射する投光手段と、上記投光によ
る対象物からの反射光を受光して、その受光位置と受光
光量とに関連する信号を出力する受光手段と、上記受光
手段の出力を受け、上記受光光量情報を所定の値と比較
する比較手段と、上記受光手段の出力を受け、上記受光
位置情報から対象物までの距離を演算する演算手段と、
を備えており、上記演算手段は、距離演算に先立って、
上記投光手段を制御して光束の投射をさせると共に、上
記比較手段の出力を監視して、所定の方向の測距が有効
か否かを判定することを特徴とするカメラの多点測距装
置。上記カメラの多点測距装置によれば、上記比較手段
の出力を監視して、所定の方向の測距が有効か否かを判
定して対象物までの距離を決定するので、画面内のどこ
に被写体が位置していても正しい測距を行うことができ
る。

【００６０】

【発明の効果】上述したように、本発明の請求項１記載
の多点測距装置は、被写体上の複数のポイントに対して
測距可能であり、かつ、プリ測距で単一の測距ポイント
を選択して、その測距ポイントについて測距を行うの
で、画面内のどこに被写体が位置していても正しい測距
を行うことができる。

【００６１】また、本発明の請求項２記載の多点測距装
置は、請求項１記載の多点測距装置の効果に加えて、入
射光量情報同士を比較し、光量の多い方を測距ポイント
として選択するので、さらに正しい測距を行うことがで
きるという効果も有している。

【００６２】また、本発明の請求項３記載の多点測距装
置は、請求項１記載の多点測距装置の効果に加えて、プ
リ測距と再測距を行うので、さらに正しい測距を行うこ
とができるという効果も有している。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の多点測距装置の主要ブロック構成図。

【図２】本発明の一実施の形態である多点測距装置が組
み込まれたカメラの主要ブロック構成図。

【図３】図２の多点測距装置における三角測距における
測距光の光路図を示し、図３（Ａ）は、被写体の中央に
ビームスポットが位置する状態を示し、図３（Ｂ）は、
被写体に対するビームスポットが欠けている状態を示
す。

【図４】図２の多点測距装置における測距処理のフロー
チャート。

【図５】図２の多点測距装置に対する変形例である多点
測距装置における測距処理のフローチャート。

【図６】図５の多点測距装置におけるビームスポットの
配置を示す図。

【図７】図５の多点測距装置における測距処理でビーム
スポットにスポット欠けが生じた状態での撮影画面を示
す図。

【図８】図２の多点測距装置に対する別の変形例である
多点測距装置における測距処理のフローチャート。

【図９】図８の多点測距装置における∞判定レベル切り
換え時の光量演算値と測距データとの関係を示す図。

【図１０】図２の多点測距装置に対するさらに別の変形
例としての多点測距装置における測距処理のフローチャ
ート。

【図１１】従来の多点測距装置における測距処理のフロ
ーチャート。

【図１２】従来の多点測距装置、または、本発明の多点
測距装置で測距処理の説明に使用する撮影画面を示す
図。

【図１３】従来の多点測距装置における測距処理での測
距用発光パルスのタイムチャ−ト。

【符号の説明】 １５ａ，１５ｂ，１５ｃ……ビームスポット（測距ポイ
ント） １ａ，１ｂ，１ｃ……ＩＲＥＤ（投光手段） ４ａ，４ｂ，４ｃ……ＰＳＤ（受光手段） １０ ……ＣＰＵ（制御手段） ５１ ……投光手段 ５２ ……受光手段 ５８ ……演算制御手段（制御手段） ｉｐ ……全信号光電流（入射光強度情報） ｘ ……入射位置データｘ（入射位置情報） Ｖｃ ……∞判定レベル電圧（無限遠判定レベル） Ｐ1 ，Ｐ2 ，Ｐ3 ，Ｐ4 ，Ｐ5……ビームスポット（測
距ポイント）

Claims (3)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 撮影画角内の被写体上に配された複数の
   測距ポイントに向けて光束を順次投射する投光手段と、 上記投光による被写体からの反射光を受け、その入射位
   置情報と入射光強度情報とを出力する受光手段と、 上記投光手段による順次投光を制御すると共に、上記受
   光手段からの出力に応答して、上記複数の測距ポイント
   のうちの１つを選択し、該測距ポイントにある被写体ま
   での距離を算出する制御手段と、 を具備しており、上記制御手段は、まず、上記全ての測
   距ポイントに対して順次投光するプリ測距を行い、その
   ときの受光手段の出力に基づいて単一の測距ポイントを
   選択し、続いて選択された単一の測距ポイントについて
   再測距して被写体距離を決定することを特徴とするカメ
   ラの多点測距装置。
2. 【請求項２】 上記制御手段は、さらに、上記プリ測距
   を行った結果、最も近い被写体距離を示す測距ポイント
   を当座の基準位置とし、このポイントに隣接する測距ポ
   イントにおける入射光量情報同士をそれぞれ比較して入
   射光量の多い方の測距ポイントを選択することを特徴と
   する請求項１記載のカメラの多点測距装置。
3. 【請求項３】 上記制御手段は、さらに、無限遠判定レ
   ベルを第１のレベルとして、上記プリ測距を行い、その
   結果に応じて測距ポイントを選択し、無限遠判定レベル
   を上記第１のレベルより低い第２のレベルとしてから、
   再測距を行うことを特徴とする請求項１記載のカメラの
   多点測距装置。