JPH1019848A - データ処理装置 - Google Patents
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- JPH1019848A JPH1019848A JP8195761A JP19576196A JPH1019848A JP H1019848 A JPH1019848 A JP H1019848A JP 8195761 A JP8195761 A JP 8195761A JP 19576196 A JP19576196 A JP 19576196A JP H1019848 A JPH1019848 A JP H1019848A
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- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J49/00—Particle spectrometers or separator tubes
- H01J49/0027—Methods for using particle spectrometers
- H01J49/0036—Step by step routines describing the handling of the data generated during a measurement
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01D—MEASURING NOT SPECIALLY ADAPTED FOR A SPECIFIC VARIABLE; ARRANGEMENTS FOR MEASURING TWO OR MORE VARIABLES NOT COVERED IN A SINGLE OTHER SUBCLASS; TARIFF METERING APPARATUS; MEASURING OR TESTING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G01D5/00—Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable
- G01D5/12—Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable using electric or magnetic means
- G01D5/244—Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable using electric or magnetic means influencing characteristics of pulses or pulse trains; generating pulses or pulse trains
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING OR CALCULATING; COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F3/00—Input arrangements for transferring data to be processed into a form capable of being handled by the computer; Output arrangements for transferring data from processing unit to output unit, e.g. interface arrangements
- G06F3/05—Digital input using the sampling of an analogue quantity at regular intervals of time, input from a/d converter or output to d/a converter
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J49/00—Particle spectrometers or separator tubes
- H01J49/02—Details
- H01J49/022—Circuit arrangements, e.g. for generating deviation currents or voltages ; Components associated with high voltage supply
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N30/00—Investigating or analysing materials by separation into components using adsorption, absorption or similar phenomena or using ion-exchange, e.g. chromatography or field flow fractionation
- G01N30/02—Column chromatography
- G01N30/86—Signal analysis
- G01N30/8603—Signal analysis with integration or differentiation
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- Engineering & Computer Science (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Theoretical Computer Science (AREA)
- Human Computer Interaction (AREA)
- General Engineering & Computer Science (AREA)
- Other Investigation Or Analysis Of Materials By Electrical Means (AREA)
- Analogue/Digital Conversion (AREA)
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】 ＧＣ／ＭＳのデータ処理装置のデータ採取部
の構成を簡単にする。 【解決手段】 ゲイン１倍の前置アンプ１０にて増幅さ
れたアナログ検出信号がＡ／Ｄ変換された１回目の採取
データの値を判断し、これが所定値より小さい場合には
２回目のＡ／Ｄ変換時のゲインを６４倍に切り替える。
また、ゲイン６４倍の前置アンプ１３にて増幅された信
号がＡ／Ｄ変換された１回目の採取データが飽和してい
る場合には、２回目のＡ／Ｄ変換時のゲインを１倍に下
げる。そして、１回目、２回目の２個の採取データを用
い、ゲインを合わせて１個の測定データを算出する。こ
れにより、アナログ部においてＡ／Ｄ変換時の飽和を検
出する回路が不要になる。
の構成を簡単にする。 【解決手段】 ゲイン１倍の前置アンプ１０にて増幅さ
れたアナログ検出信号がＡ／Ｄ変換された１回目の採取
データの値を判断し、これが所定値より小さい場合には
２回目のＡ／Ｄ変換時のゲインを６４倍に切り替える。
また、ゲイン６４倍の前置アンプ１３にて増幅された信
号がＡ／Ｄ変換された１回目の採取データが飽和してい
る場合には、２回目のＡ／Ｄ変換時のゲインを１倍に下
げる。そして、１回目、２回目の２個の採取データを用
い、ゲインを合わせて１個の測定データを算出する。こ
れにより、アナログ部においてＡ／Ｄ変換時の飽和を検
出する回路が不要になる。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、例えばガスクロマ
トグラフ質量分析装置（ＧＣ／ＭＳ）等の分析装置に用
いられるデータ処理装置に関し、特に、データ処理装置
の入力段において検出器からのアナログ検出信号をサン
プリングしデジタルデータに変換する測定データの採取
部に関する。
トグラフ質量分析装置（ＧＣ／ＭＳ）等の分析装置に用
いられるデータ処理装置に関し、特に、データ処理装置
の入力段において検出器からのアナログ検出信号をサン
プリングしデジタルデータに変換する測定データの採取
部に関する。
【０００２】
【従来の技術】一般に、ＧＣ／ＭＳ等の分析装置におい
てデータ処理を行なう際には、質量分析計の検出器にて
得られた検出信号をＡ／Ｄ変換して一旦メモリに蓄積し
た後に各種演算処理を実行する。高精度の分析を行なう
には、処理対象のデータのダイナミックレンジをできる
限り広く確保することが望ましいが、通常、Ａ／Ｄ変換
器のダイナミックレンジによりその上限が決まってしま
うため、従来、以下のような方法によりダイナミックレ
ンジを広げる工夫がなされていた。
てデータ処理を行なう際には、質量分析計の検出器にて
得られた検出信号をＡ／Ｄ変換して一旦メモリに蓄積し
た後に各種演算処理を実行する。高精度の分析を行なう
には、処理対象のデータのダイナミックレンジをできる
限り広く確保することが望ましいが、通常、Ａ／Ｄ変換
器のダイナミックレンジによりその上限が決まってしま
うため、従来、以下のような方法によりダイナミックレ
ンジを広げる工夫がなされていた。
【０００３】図５は、従来のデータ処理装置におけるデ
ータ採取部の要部の構成図である。図示しない検出器か
らの検出信号は二系統に分岐され、一方の信号経路に
は、ゲイン１倍の第１前置アンプ１０、第１サンプルホ
ールド（Ｓ／Ｈ）回路１１及び第１アナログスイッチ１
２が、他の信号経路には、ゲイン６４倍の第２前置アン
プ１３、第２サンプルホールド（Ｓ／Ｈ）回路１４及び
第２アナログスイッチ１５が設けられている。二系統の
信号経路は合流して第３サンプルホールド（Ｓ／Ｈ）回
路１６に入力され、ホールドされた信号がＡ／Ｄ変換器
１７にてデジタルデータに変換されてデータ処理用のマ
イクロコンピュータ２０（以下「マイコン」という）に
入力される。クロック生成部１９は、マイコン２０から
サンプリングのタイミング制御信号ＳＰを受けて、上記
各部に必要なクロック信号を発生する。また、コンパレ
ータ１８は第２Ｓ／Ｈ回路１４の出力信号を所定値と比
較した結果をクロック生成部１９に与える。
ータ採取部の要部の構成図である。図示しない検出器か
らの検出信号は二系統に分岐され、一方の信号経路に
は、ゲイン１倍の第１前置アンプ１０、第１サンプルホ
ールド（Ｓ／Ｈ）回路１１及び第１アナログスイッチ１
２が、他の信号経路には、ゲイン６４倍の第２前置アン
プ１３、第２サンプルホールド（Ｓ／Ｈ）回路１４及び
第２アナログスイッチ１５が設けられている。二系統の
信号経路は合流して第３サンプルホールド（Ｓ／Ｈ）回
路１６に入力され、ホールドされた信号がＡ／Ｄ変換器
１７にてデジタルデータに変換されてデータ処理用のマ
イクロコンピュータ２０（以下「マイコン」という）に
入力される。クロック生成部１９は、マイコン２０から
サンプリングのタイミング制御信号ＳＰを受けて、上記
各部に必要なクロック信号を発生する。また、コンパレ
ータ１８は第２Ｓ／Ｈ回路１４の出力信号を所定値と比
較した結果をクロック生成部１９に与える。
【０００４】上記構成のデータ採取部の動作は、次のよ
うになっている。検出信号は、第１前置アンプ１０及び
第２前置アンプ１３によりそれぞれ増幅された後、第１
Ｓ／Ｈ回路１１及び第２Ｓ／Ｈ回路１４にて同時にサン
プリングされる。第２Ｓ／Ｈ回路１４の出力信号はコン
パレータ１８にて所定値と比較され、所定値を越えてい
る場合に「Ｈ」レベルの出力信号がクロック生成部１９
へ与えられる。この所定値は、Ａ／Ｄ変換器１７の変換
動作が飽和しない入力信号範囲を考慮して予め定められ
る。クロック生成部１９は、コンパレータ１８出力が
「Ｌ」レベルである場合には、第２Ｓ／Ｈ回路１４の出
力信号を選択すべく第２アナログスイッチ１５を閉成し
第１アナログスイッチ１２を開成する。一方、コンパレ
ータ１８出力が「Ｈ」レベルである場合には、第１Ｓ／
Ｈ回路１１の出力信号を選択すべく第１アナログスイッ
チ１２を閉成し第２アナログスイッチ１５を開成する。
すなわち、６４倍に増幅された検出信号が飽和せずにＡ
／Ｄ変換される範囲に在る場合には、第２Ｓ／Ｈ回路１
４の出力信号が選択され、Ａ／Ｄ変換の際に飽和する可
能性が在る場合には、第１Ｓ／Ｈ回路１１の出力信号が
選択される。
うになっている。検出信号は、第１前置アンプ１０及び
第２前置アンプ１３によりそれぞれ増幅された後、第１
Ｓ／Ｈ回路１１及び第２Ｓ／Ｈ回路１４にて同時にサン
プリングされる。第２Ｓ／Ｈ回路１４の出力信号はコン
パレータ１８にて所定値と比較され、所定値を越えてい
る場合に「Ｈ」レベルの出力信号がクロック生成部１９
へ与えられる。この所定値は、Ａ／Ｄ変換器１７の変換
動作が飽和しない入力信号範囲を考慮して予め定められ
る。クロック生成部１９は、コンパレータ１８出力が
「Ｌ」レベルである場合には、第２Ｓ／Ｈ回路１４の出
力信号を選択すべく第２アナログスイッチ１５を閉成し
第１アナログスイッチ１２を開成する。一方、コンパレ
ータ１８出力が「Ｈ」レベルである場合には、第１Ｓ／
Ｈ回路１１の出力信号を選択すべく第１アナログスイッ
チ１２を閉成し第２アナログスイッチ１５を開成する。
すなわち、６４倍に増幅された検出信号が飽和せずにＡ
／Ｄ変換される範囲に在る場合には、第２Ｓ／Ｈ回路１
４の出力信号が選択され、Ａ／Ｄ変換の際に飽和する可
能性が在る場合には、第１Ｓ／Ｈ回路１１の出力信号が
選択される。
【０００５】選択された信号は第３Ｓ／Ｈ回路１６にて
再びサンプリングされ、ホールドされた信号がＡ／Ｄ変
換器１７にてデジタルデータに変換される。このＡ／Ｄ
変換動作の間に、第１Ｓ／Ｈ回路１１及び第２Ｓ／Ｈ回
路１４では次のサンプル点の信号に対するサンプル／ホ
ールド動作が実行される。クロック生成部１９からマイ
コン２０へは、第３Ｓ／Ｈ回路１６にてサンプリングを
行なう際に１倍乃至６４倍のいずれのゲインにて増幅さ
れた信号が選択されたのかを示すゲイン切替信号ＧＳが
与えられる。この信号により、マイコン２０は、入力さ
れたデジタルデータが１倍乃至６４倍のいずれのゲイン
に対応したものであるかを識別し、ゲイン１倍のデジタ
ルデータに対しては６４倍の乗算を実行した後に、また
ゲイン６４倍のデジタルデータに対してはそのままのデ
ータをメモリに蓄積する。
再びサンプリングされ、ホールドされた信号がＡ／Ｄ変
換器１７にてデジタルデータに変換される。このＡ／Ｄ
変換動作の間に、第１Ｓ／Ｈ回路１１及び第２Ｓ／Ｈ回
路１４では次のサンプル点の信号に対するサンプル／ホ
ールド動作が実行される。クロック生成部１９からマイ
コン２０へは、第３Ｓ／Ｈ回路１６にてサンプリングを
行なう際に１倍乃至６４倍のいずれのゲインにて増幅さ
れた信号が選択されたのかを示すゲイン切替信号ＧＳが
与えられる。この信号により、マイコン２０は、入力さ
れたデジタルデータが１倍乃至６４倍のいずれのゲイン
に対応したものであるかを識別し、ゲイン１倍のデジタ
ルデータに対しては６４倍の乗算を実行した後に、また
ゲイン６４倍のデジタルデータに対してはそのままのデ
ータをメモリに蓄積する。
【０００６】このため、検出信号が小さい場合には大き
なゲインをもって増幅し、逆に検出信号が大きい場合に
はゲインを下げてＡ／Ｄ変換器の適正な入力信号範囲を
越えないように調整されるため、Ａ／Ｄ変換器１７自体
が有するダイナミックレンジよりも広い範囲の検出信号
をＡ／Ｄ変換してデータを採取することができる。
なゲインをもって増幅し、逆に検出信号が大きい場合に
はゲインを下げてＡ／Ｄ変換器の適正な入力信号範囲を
越えないように調整されるため、Ａ／Ｄ変換器１７自体
が有するダイナミックレンジよりも広い範囲の検出信号
をＡ／Ｄ変換してデータを採取することができる。
【０００７】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、このよ
うな従来のデータ採取部は、構成が複雑であり部品点数
が多いためコストが高いものであった。また、アナログ
検出信号が二段階のＳ／Ｈ回路を通過する構成となって
おり信号経路が長いため、外来ノイズが混入し易く、測
定精度を上げることが困難であると共に、シールド等の
ノイズ対策を厳重に施す必要があるといった付加的なコ
ストアップの要因も有していた。
うな従来のデータ採取部は、構成が複雑であり部品点数
が多いためコストが高いものであった。また、アナログ
検出信号が二段階のＳ／Ｈ回路を通過する構成となって
おり信号経路が長いため、外来ノイズが混入し易く、測
定精度を上げることが困難であると共に、シールド等の
ノイズ対策を厳重に施す必要があるといった付加的なコ
ストアップの要因も有していた。
【０００８】本発明はこのような課題を解決するために
成されたものであり、その目的とするところは、データ
処理装置のデータ採取部において、構成が簡単であって
コストを抑えることができると共に外来ノイズの影響を
受けにくいデータ処理装置を提供することにある。
成されたものであり、その目的とするところは、データ
処理装置のデータ採取部において、構成が簡単であって
コストを抑えることができると共に外来ノイズの影響を
受けにくいデータ処理装置を提供することにある。
【０００９】
【課題を解決するための手段】上記課題を解決するため
に成された本発明は、アナログ信号をデジタルデータに
変換した後にデータ処理を行なうデータ処理装置におい
て、 a)複数のゲインを切替え可能な増幅手段と、 b)該増幅手段により増幅されたアナログ信号をデジタル
データに変換する変換手段と、 c)該デジタルデータの値を判断することにより次の変換
動作における前記増幅手段のゲインを決定するゲイン切
替手段と、 d)変換動作時の増幅手段のゲイン、及び、デジタルデー
タの値に基づいて、前記変換手段から得られる隣接する
複数のデジタルデータに対して所定の処理を行ない１個
の測定データを得る処理手段と、を備えることを特徴と
している。
に成された本発明は、アナログ信号をデジタルデータに
変換した後にデータ処理を行なうデータ処理装置におい
て、 a)複数のゲインを切替え可能な増幅手段と、 b)該増幅手段により増幅されたアナログ信号をデジタル
データに変換する変換手段と、 c)該デジタルデータの値を判断することにより次の変換
動作における前記増幅手段のゲインを決定するゲイン切
替手段と、 d)変換動作時の増幅手段のゲイン、及び、デジタルデー
タの値に基づいて、前記変換手段から得られる隣接する
複数のデジタルデータに対して所定の処理を行ない１個
の測定データを得る処理手段と、を備えることを特徴と
している。
【００１０】
【発明の実施の形態】本発明に係るデータ処理装置で
は、複数回、例えば２回連続して、信号波形上の同一又
は近接したサンプル点のアナログ信号をＡ／Ｄ変換し、
それにより得た２個のデジタルデータに対して所定の処
理を行なうことにより１個の測定データを得る。Ａ／Ｄ
変換前にアナログ信号を増幅する際のゲインは、ゲイン
切替手段により適宜切り替えられる。ゲイン切替手段
は、所定のゲインをもって増幅されたアナログ信号をＡ
／Ｄ変換して得られたデジタルデータの値が予め定めた
第１の所定値より小さい場合には、次の変換動作におけ
る増幅手段のゲインを高くするように切り替える。逆
に、デジタルデータの値が予め定めた第２の所定値より
大きい場合には、次の変換動作における増幅手段のゲイ
ンを下げるように切り替える。第２の所定値は、Ａ／Ｄ
変換動作において信号の飽和が生じることを検出できる
ような値に定められる。
は、複数回、例えば２回連続して、信号波形上の同一又
は近接したサンプル点のアナログ信号をＡ／Ｄ変換し、
それにより得た２個のデジタルデータに対して所定の処
理を行なうことにより１個の測定データを得る。Ａ／Ｄ
変換前にアナログ信号を増幅する際のゲインは、ゲイン
切替手段により適宜切り替えられる。ゲイン切替手段
は、所定のゲインをもって増幅されたアナログ信号をＡ
／Ｄ変換して得られたデジタルデータの値が予め定めた
第１の所定値より小さい場合には、次の変換動作におけ
る増幅手段のゲインを高くするように切り替える。逆
に、デジタルデータの値が予め定めた第２の所定値より
大きい場合には、次の変換動作における増幅手段のゲイ
ンを下げるように切り替える。第２の所定値は、Ａ／Ｄ
変換動作において信号の飽和が生じることを検出できる
ような値に定められる。
【００１１】データ処理手段は、例えば２個のデジタル
データから１個の測定データを求める場合に、一方のデ
ジタルデータの値が予め定めた第２の所定値より大きい
場合、すなわちＡ／Ｄ変換時に信号が飽和している（厳
密には飽和している可能性が高い）場合には、このデジ
タルデータを捨てて他の１個のデジタルデータのみを使
用する。また、２個のデジタルデータが共に使用できる
場合には、両者の平均値を計算する。更には、変換時の
ゲインの相違を考慮し、必要な場合にはゲインを揃える
ために乗算を行ない、測定データを算出する。
データから１個の測定データを求める場合に、一方のデ
ジタルデータの値が予め定めた第２の所定値より大きい
場合、すなわちＡ／Ｄ変換時に信号が飽和している（厳
密には飽和している可能性が高い）場合には、このデジ
タルデータを捨てて他の１個のデジタルデータのみを使
用する。また、２個のデジタルデータが共に使用できる
場合には、両者の平均値を計算する。更には、変換時の
ゲインの相違を考慮し、必要な場合にはゲインを揃える
ために乗算を行ない、測定データを算出する。
【００１２】
【発明の効果】本発明に係るデータ処理装置によれば、
Ａ／Ｄ変換後のデジタルデータの値を判断することによ
りゲインを切り替えるようにしたので、アナログ部の構
成が簡単になり部品点数を削減できる。このため、コス
トダウンが図れる。また、アナログ部の信号経路が短く
なるため、外来ノイズの影響を受けにくくなる。これに
より、信号のＳ／Ｎ比が改善され、測定精度の向上も図
れる。
Ａ／Ｄ変換後のデジタルデータの値を判断することによ
りゲインを切り替えるようにしたので、アナログ部の構
成が簡単になり部品点数を削減できる。このため、コス
トダウンが図れる。また、アナログ部の信号経路が短く
なるため、外来ノイズの影響を受けにくくなる。これに
より、信号のＳ／Ｎ比が改善され、測定精度の向上も図
れる。
【００１３】
【実施例】以下、本発明の一実施例を図を参照して説明
する。図１は、このデータ処理装置のデータ採取部の一
例の構成図である。このデータ採取部では、図４の従来
例が備えていた第１Ｓ／Ｈ回路１１、第２Ｓ／Ｈ回路１
４及びコンパレータ１８が不要となり、それに代わりマ
イコン３０に後述のような機能が付加されている。
する。図１は、このデータ処理装置のデータ採取部の一
例の構成図である。このデータ採取部では、図４の従来
例が備えていた第１Ｓ／Ｈ回路１１、第２Ｓ／Ｈ回路１
４及びコンパレータ１８が不要となり、それに代わりマ
イコン３０に後述のような機能が付加されている。
【００１４】図２は、マイコン３０におけるデータ採取
動作に関連する部分の概念的な構成図である。このデー
タ採取動作関連部は、機能的には、デジタルデータの値
を判断しその結果により各種処理動作を制御するため
の、比較部３１、選択部３２、ゲイン切替部３３及び演
算制御部３４と、連続してＡ／Ｄ変換された２個のデジ
タルデータを処理して１個の測定データを算出するため
の、Ａレジスタ３５、Ｂレジスタ３６、演算処理部３７
及びＣレジスタ３８等から構成されている。
動作に関連する部分の概念的な構成図である。このデー
タ採取動作関連部は、機能的には、デジタルデータの値
を判断しその結果により各種処理動作を制御するため
の、比較部３１、選択部３２、ゲイン切替部３３及び演
算制御部３４と、連続してＡ／Ｄ変換された２個のデジ
タルデータを処理して１個の測定データを算出するため
の、Ａレジスタ３５、Ｂレジスタ３６、演算処理部３７
及びＣレジスタ３８等から構成されている。
【００１５】以下、図１、図２の構成において実行され
るデータ採取時の処理動作について、図３のフローチャ
ートに沿って説明する。
るデータ採取時の処理動作について、図３のフローチャ
ートに沿って説明する。
【００１６】まず、ゲインの初期設定を１倍とするため
に、クロック生成部２１は、第１アナログスイッチ１２
を閉成し第２アナログスイッチ１５を開成させる（ステ
ップＳ１）。勿論、ゲインを６４倍とするように初期設
定しても構わない。この場合には、第１アナログスイッ
チ１２を開成し第２アナログスイッチ１５を閉成させ
る。
に、クロック生成部２１は、第１アナログスイッチ１２
を閉成し第２アナログスイッチ１５を開成させる（ステ
ップＳ１）。勿論、ゲインを６４倍とするように初期設
定しても構わない。この場合には、第１アナログスイッ
チ１２を開成し第２アナログスイッチ１５を閉成させ
る。
【００１７】次に、第１アナログスイッチ１２を介し第
１前置アンプ１０の出力信号をＳ／Ｈ回路１６にてサン
プリングし、ホールドした信号をＡ／Ｄ変換器１７にて
デジタルデータに変換してマイコン３０へ入力する（ス
テップＳ２）。このデジタルデータは、１回目の採取デ
ータとしてＡレジスタ３５に格納されると共に、比較部
３１に入力される。比較部３１の比較対象データとして
は、選択部３２にて選択された値が与えられる。
１前置アンプ１０の出力信号をＳ／Ｈ回路１６にてサン
プリングし、ホールドした信号をＡ／Ｄ変換器１７にて
デジタルデータに変換してマイコン３０へ入力する（ス
テップＳ２）。このデジタルデータは、１回目の採取デ
ータとしてＡレジスタ３５に格納されると共に、比較部
３１に入力される。比較部３１の比較対象データとして
は、選択部３２にて選択された値が与えられる。
【００１８】ゲインが１倍である場合にはステップＳ３
からＳ４へと進み、比較部３１では、デジタルデータが
所定の閾値ｂより小さいか否かが判定される。デジタル
データが所定閾値ｂ以上である場合には、ゲイン切替部
３３はそのままのゲイン（すなわちゲイン１倍）を保つ
ようにゲイン切替信号ＧＳを出力する。そして、再び第
１前置アンプ１０の出力をＳ／Ｈ回路１６にてサンプリ
ングし、Ａ／Ｄ変換器１７にてデジタルデータに変換す
る（ステップＳ１０）。このデジタルデータは、２回目
の採取データとしてＢレジスタ３６に格納される。この
場合、１回目及び２回目の採取データは共に１倍のゲイ
ンをもって増幅された検出信号に対するデジタルデータ
であるから、演算処理部３７は、演算制御部３４の制御
の下に、Ａレジスタ３５及びＢレジスタ３６に格納して
いるデータの平均値を計算し、更にその平均値に６４を
乗じた値をＣレジスタ３８に格納する（ステップＳ１
１）。
からＳ４へと進み、比較部３１では、デジタルデータが
所定の閾値ｂより小さいか否かが判定される。デジタル
データが所定閾値ｂ以上である場合には、ゲイン切替部
３３はそのままのゲイン（すなわちゲイン１倍）を保つ
ようにゲイン切替信号ＧＳを出力する。そして、再び第
１前置アンプ１０の出力をＳ／Ｈ回路１６にてサンプリ
ングし、Ａ／Ｄ変換器１７にてデジタルデータに変換す
る（ステップＳ１０）。このデジタルデータは、２回目
の採取データとしてＢレジスタ３６に格納される。この
場合、１回目及び２回目の採取データは共に１倍のゲイ
ンをもって増幅された検出信号に対するデジタルデータ
であるから、演算処理部３７は、演算制御部３４の制御
の下に、Ａレジスタ３５及びＢレジスタ３６に格納して
いるデータの平均値を計算し、更にその平均値に６４を
乗じた値をＣレジスタ３８に格納する（ステップＳ１
１）。
【００１９】ステップＳ４にてデジタルデータが所定閾
値ｂより小さい場合には、ゲイン切替部３３はゲインを
６４倍に切り替えるようにゲイン切替信号ＧＳを出力す
る。これを受けて、クロック生成部２１は、第１アナロ
グスイッチ１２を開成し第２アナログスイッチ１５を閉
成させる。これにより、ゲイン６４倍の第２前置アンプ
１３にて増幅された検出信号がＳ／Ｈ回路１６に入力さ
れる（ステップＳ５）。この信号はＳ／Ｈ回路１６にて
サンプリングされ、Ａ／Ｄ変換器１７にてデジタルデー
タに変換されて、２回目の採取データとしてＢレジスタ
３６に格納されると共に比較部３１に入力される（ステ
ップＳ６）。
値ｂより小さい場合には、ゲイン切替部３３はゲインを
６４倍に切り替えるようにゲイン切替信号ＧＳを出力す
る。これを受けて、クロック生成部２１は、第１アナロ
グスイッチ１２を開成し第２アナログスイッチ１５を閉
成させる。これにより、ゲイン６４倍の第２前置アンプ
１３にて増幅された検出信号がＳ／Ｈ回路１６に入力さ
れる（ステップＳ５）。この信号はＳ／Ｈ回路１６にて
サンプリングされ、Ａ／Ｄ変換器１７にてデジタルデー
タに変換されて、２回目の採取データとしてＢレジスタ
３６に格納されると共に比較部３１に入力される（ステ
ップＳ６）。
【００２０】次いで、このデジタルデータがＡ／Ｄ変換
動作時に飽和しているか否かが判定される（ステップＳ
７）。すなわち、選択部３２は、６４倍のゲインが選択
されている場合には所定値ａを選択して比較部３１に与
える。この所定値ａは、Ａ／Ｄ変換器１７が正常な変換
動作を行ない得る最大入力信号値に対する出力データ値
よりもノイズ分を考慮した若干小さい値に定められる。
このため、比較部３１にてデジタルデータが所定値ａ以
上である場合には、Ａ／Ｄ変換動作に際して飽和してい
ると判断することができる。このような判断により、２
回目の採取データが飽和している場合にはステップＳ７
からＳ９へと進み、演算処理部３７は、２回目の採取デ
ータを用いずに、Ａレジスタ３５に格納されている１回
目の採取データを６４倍し、この値をＣレジスタ３８に
格納する。一方、ステップＳ７にて２回目の採取データ
が飽和していない場合には、演算処理部３７は、Ｂレジ
スタ３６の格納している２回目の採取データをそのまま
Ｃレジスタ３８に格納する（ステップＳ８）。
動作時に飽和しているか否かが判定される（ステップＳ
７）。すなわち、選択部３２は、６４倍のゲインが選択
されている場合には所定値ａを選択して比較部３１に与
える。この所定値ａは、Ａ／Ｄ変換器１７が正常な変換
動作を行ない得る最大入力信号値に対する出力データ値
よりもノイズ分を考慮した若干小さい値に定められる。
このため、比較部３１にてデジタルデータが所定値ａ以
上である場合には、Ａ／Ｄ変換動作に際して飽和してい
ると判断することができる。このような判断により、２
回目の採取データが飽和している場合にはステップＳ７
からＳ９へと進み、演算処理部３７は、２回目の採取デ
ータを用いずに、Ａレジスタ３５に格納されている１回
目の採取データを６４倍し、この値をＣレジスタ３８に
格納する。一方、ステップＳ７にて２回目の採取データ
が飽和していない場合には、演算処理部３７は、Ｂレジ
スタ３６の格納している２回目の採取データをそのまま
Ｃレジスタ３８に格納する（ステップＳ８）。
【００２１】ステップＳ８、Ｓ９、Ｓ１１のいずれかの
処理によりＣレジスタ３８に測定データを格納したなら
ば、ステップＳ２へと戻り、次の測定データを得るため
に１回目のデータ採取を実行する。その直前のデータ採
取時のゲインが６４倍に設定されている場合（上記フロ
ーにおいてステップＳ８、Ｓ９からＳ２へ戻った場合）
には、ステップＳ３からＳ１２へと進む。ステップＳ１
２では、先のステップＳ７と同様の処理を行なうことに
よって、１回目の採取データがＡ／Ｄ変換動作時に飽和
しているか否かを判定する。１回目の採取データが飽和
している場合には、ゲイン切替部３３はゲインを１倍に
切り替えるようにゲイン切替信号ＧＳを出力する。これ
を受けて、クロック生成部２１は、第１アナログスイッ
チ１２を閉成し第２アナログスイッチ１５を開成させ
る。これにより、第１前置アンプ１０の出力信号がＳ／
Ｈ回路１６に与えられる（ステップＳ１３）。この信号
はＳ／Ｈ回路１６にてサンプリングされ、Ａ／Ｄ変換器
１７にてデジタルデータに変換されて、２回目の採取デ
ータとしてＢレジスタ３６に格納される（ステップＳ１
４）。この場合、演算処理部３７は、飽和している１回
目の採取データを用いずに、Ｂレジスタ３６に格納して
いる２回目の採取データを６４倍し、この値をＣレジス
タ３８に格納する（ステップＳ１５）。
処理によりＣレジスタ３８に測定データを格納したなら
ば、ステップＳ２へと戻り、次の測定データを得るため
に１回目のデータ採取を実行する。その直前のデータ採
取時のゲインが６４倍に設定されている場合（上記フロ
ーにおいてステップＳ８、Ｓ９からＳ２へ戻った場合）
には、ステップＳ３からＳ１２へと進む。ステップＳ１
２では、先のステップＳ７と同様の処理を行なうことに
よって、１回目の採取データがＡ／Ｄ変換動作時に飽和
しているか否かを判定する。１回目の採取データが飽和
している場合には、ゲイン切替部３３はゲインを１倍に
切り替えるようにゲイン切替信号ＧＳを出力する。これ
を受けて、クロック生成部２１は、第１アナログスイッ
チ１２を閉成し第２アナログスイッチ１５を開成させ
る。これにより、第１前置アンプ１０の出力信号がＳ／
Ｈ回路１６に与えられる（ステップＳ１３）。この信号
はＳ／Ｈ回路１６にてサンプリングされ、Ａ／Ｄ変換器
１７にてデジタルデータに変換されて、２回目の採取デ
ータとしてＢレジスタ３６に格納される（ステップＳ１
４）。この場合、演算処理部３７は、飽和している１回
目の採取データを用いずに、Ｂレジスタ３６に格納して
いる２回目の採取データを６４倍し、この値をＣレジス
タ３８に格納する（ステップＳ１５）。
【００２２】ステップＳ１２にて１回目の採取データが
飽和していない場合には、ゲイン切替部３３はゲインを
６４倍に維持するようにゲイン切替信号ＧＳを出力す
る。そして、再び第２前置アンプ１３の出力をＳ／Ｈ回
路１６にてサンプリングし、Ａ／Ｄ変換器１７にてデジ
タルデータに変換する（ステップＳ１６）。このデジタ
ルデータは、２回目の採取データとしてＢレジスタ３６
に格納されると共に比較部３１に入力される。ステップ
Ｓ１７では、ステップＳ７と同様の処理を行なうことに
より、２回目の採取データが飽和しているか否かを判定
する。この結果、２回目の採取データが飽和している場
合には、演算処理部３７は、Ａレジスタ３５に格納され
ている１回目の採取データをそのままＣレジスタ３８へ
格納する（ステップＳ１９）。２回目の採取データが飽
和していない場合には、Ａレジスタ３５、Ｂレジスタ３
６共に６４倍のゲインをもって増幅された検出信号に対
するデジタルデータが格納されているので、演算処理部
３７は、両者の平均値を計算しＣレジスタ３８に格納す
る（ステップＳ１８）。
飽和していない場合には、ゲイン切替部３３はゲインを
６４倍に維持するようにゲイン切替信号ＧＳを出力す
る。そして、再び第２前置アンプ１３の出力をＳ／Ｈ回
路１６にてサンプリングし、Ａ／Ｄ変換器１７にてデジ
タルデータに変換する（ステップＳ１６）。このデジタ
ルデータは、２回目の採取データとしてＢレジスタ３６
に格納されると共に比較部３１に入力される。ステップ
Ｓ１７では、ステップＳ７と同様の処理を行なうことに
より、２回目の採取データが飽和しているか否かを判定
する。この結果、２回目の採取データが飽和している場
合には、演算処理部３７は、Ａレジスタ３５に格納され
ている１回目の採取データをそのままＣレジスタ３８へ
格納する（ステップＳ１９）。２回目の採取データが飽
和していない場合には、Ａレジスタ３５、Ｂレジスタ３
６共に６４倍のゲインをもって増幅された検出信号に対
するデジタルデータが格納されているので、演算処理部
３７は、両者の平均値を計算しＣレジスタ３８に格納す
る（ステップＳ１８）。
【００２３】ステップＳ８、Ｓ９、Ｓ１１、Ｓ１５、Ｓ
１８、Ｓ１９のいずれかの処理によりＣレジスタ３８に
一時的に格納された測定データは、次の測定データがＣ
レジスタ３８に送り込まれる迄の間に読み出されて、図
示しないデータ保管用メモリに転送される。
１８、Ｓ１９のいずれかの処理によりＣレジスタ３８に
一時的に格納された測定データは、次の測定データがＣ
レジスタ３８に送り込まれる迄の間に読み出されて、図
示しないデータ保管用メモリに転送される。
【００２４】図４は、検出信号波形上でのサンプリング
位置を示す模式的な波形図である。データ採取のタイミ
ングはタイミング制御部３９において任意に定めること
ができるが、通常、所定の時間間隔ｔ0毎にデータの採
取を行ない、図示する１回目及び２回目の２個の採取デ
ータから上述のような処理により１個の測定データを得
る。この場合、時間的に近接するサンプル点における強
度には強い相関が有るため、強度が急激に変化する部分
を除いて、１回目及び２回目のサンプル点、並びに、２
回目及びその次の１回目のサンプル点に対するゲインは
殆ど同一となる。
位置を示す模式的な波形図である。データ採取のタイミ
ングはタイミング制御部３９において任意に定めること
ができるが、通常、所定の時間間隔ｔ0毎にデータの採
取を行ない、図示する１回目及び２回目の２個の採取デ
ータから上述のような処理により１個の測定データを得
る。この場合、時間的に近接するサンプル点における強
度には強い相関が有るため、強度が急激に変化する部分
を除いて、１回目及び２回目のサンプル点、並びに、２
回目及びその次の１回目のサンプル点に対するゲインは
殆ど同一となる。
【００２５】以上説明したように、このデータ採取部で
は、１個の測定データを得るために２回のサンプル／ホ
ールド及びＡ／Ｄ変換動作を行なう必要があるため、サ
ンプリングレートが従来装置に比べて２倍になる。しか
しながら、ＧＣ／ＭＳの如き分析装置におけるデータ処
理装置では、このようなサンプリングレートの上昇は実
用上問題とならないことを以下に説明する。
は、１個の測定データを得るために２回のサンプル／ホ
ールド及びＡ／Ｄ変換動作を行なう必要があるため、サ
ンプリングレートが従来装置に比べて２倍になる。しか
しながら、ＧＣ／ＭＳの如き分析装置におけるデータ処
理装置では、このようなサンプリングレートの上昇は実
用上問題とならないことを以下に説明する。
【００２６】ＧＣ／ＭＳでは、横軸を質量数（質量ｍと
荷電ｚとの比ｍ／ｚ）、縦軸を相対強度とした質量スペ
クトルを作成するために、所定の質量範囲を走査しつつ
検出信号を得ている。通常、このときの走査速度は外部
から設定できるような構成になっているが、データ採取
部において走査速度に応じてサンプリングレートを変え
ることはハードウエアの複雑さ等の要因から困難であ
る。そこで、一般には、サンプリングレートを一定と
し、同一点をサンプリングする回数を走査速度に応じて
変化させる構成をとっている。すなわち、サンプリング
レートは、所定の質量範囲を平均的な走査速度で走査し
たときに必要なレートよりは充分に高いレートに定めて
おき、走査速度が速いときには同一点をサンプリングす
る回数を減らし、走査速度が遅いときには同一点をサン
プリングする回数を増やす。
荷電ｚとの比ｍ／ｚ）、縦軸を相対強度とした質量スペ
クトルを作成するために、所定の質量範囲を走査しつつ
検出信号を得ている。通常、このときの走査速度は外部
から設定できるような構成になっているが、データ採取
部において走査速度に応じてサンプリングレートを変え
ることはハードウエアの複雑さ等の要因から困難であ
る。そこで、一般には、サンプリングレートを一定と
し、同一点をサンプリングする回数を走査速度に応じて
変化させる構成をとっている。すなわち、サンプリング
レートは、所定の質量範囲を平均的な走査速度で走査し
たときに必要なレートよりは充分に高いレートに定めて
おき、走査速度が速いときには同一点をサンプリングす
る回数を減らし、走査速度が遅いときには同一点をサン
プリングする回数を増やす。
【００２７】このため、従来装置においても同一点を複
数回サンプリングする処理は一般に行なわれており、本
発明のデータ処理装置のように構成したとしても、特別
に高速のＳ／Ｈ回路やＡ／Ｄ変換器等を用いる必要はな
い。
数回サンプリングする処理は一般に行なわれており、本
発明のデータ処理装置のように構成したとしても、特別
に高速のＳ／Ｈ回路やＡ／Ｄ変換器等を用いる必要はな
い。
【００２８】なお、上記実施例は一例であって、本発明
の趣旨に沿って適宜変更や修正を行なうことができるの
は明らかである。
の趣旨に沿って適宜変更や修正を行なうことができるの
は明らかである。
【００２９】例えば、上記実施例では、１倍及び６４倍
の２段階のゲインを切り替える構成としていたが、更に
多段階のゲイン、例えば１倍、１６倍及び２５６倍の３
段階のゲインを切り替える構成とすることができる。ま
た、２個のデジタルデータでなく、更に多数のデジタル
データを用いて１個の測定データを算出する構成とする
こともできる。
の２段階のゲインを切り替える構成としていたが、更に
多段階のゲイン、例えば１倍、１６倍及び２５６倍の３
段階のゲインを切り替える構成とすることができる。ま
た、２個のデジタルデータでなく、更に多数のデジタル
データを用いて１個の測定データを算出する構成とする
こともできる。
【００３０】更には、上記実施例ではそれぞれ相異なる
アンプとアナログスイッチをもってゲイン切替え可能な
増幅手段を構成していたが、外部からの制御信号により
内部ゲインの切替えが可能なアンプ１個を使用するよう
にしても良い。
アンプとアナログスイッチをもってゲイン切替え可能な
増幅手段を構成していたが、外部からの制御信号により
内部ゲインの切替えが可能なアンプ１個を使用するよう
にしても良い。
【００３１】また、ＧＣ／ＭＳのデータ処理装置として
使用する場合、所定の質量範囲を走査した際のゲイン切
替え信号をデータとして保存しておき、同一又は類似の
サンプルを次に測定する際にゲイン切替えの参考に利用
するようにしても良い。
使用する場合、所定の質量範囲を走査した際のゲイン切
替え信号をデータとして保存しておき、同一又は類似の
サンプルを次に測定する際にゲイン切替えの参考に利用
するようにしても良い。
【図１】 本発明のデータ処理装置におけるデータ採取
部の実施例の構成図。
部の実施例の構成図。
【図２】 マイコン内のデータ採取部に関連する部分の
概念的な構成図。
概念的な構成図。
【図３】 データ採取部の処理動作を示すフローチャー
ト。
ト。
【図４】 検出信号波形上でのサンプリング位置を示す
波形図。
波形図。
【図５】 従来のデータ処理装置におけるデータ採取部
の構成図。
の構成図。
１０…第１前置アンプ １２…第１アナ
ログスイッチ １３…第２前置アンプ １５…第２アナ
ログスイッチ １６…サンプルホールド回路 １７…Ａ／Ｄ変
換器 ３０…マイクロコンピュータ ３１…比較部 ３２…選択部 ３３…ゲイン切
替部 ３４…演算制御部 ３５…Ａレジス
タ ３６…Ｂレジスタ ３７…演算処理
部 ３８…Ｃレジスタ ３９…タイミン
グ制御部
ログスイッチ １３…第２前置アンプ １５…第２アナ
ログスイッチ １６…サンプルホールド回路 １７…Ａ／Ｄ変
換器 ３０…マイクロコンピュータ ３１…比較部 ３２…選択部 ３３…ゲイン切
替部 ３４…演算制御部 ３５…Ａレジス
タ ３６…Ｂレジスタ ３７…演算処理
部 ３８…Ｃレジスタ ３９…タイミン
グ制御部
Claims (1)
- 【請求項１】 アナログ信号をデジタルデータに変換し
た後にデータ処理を行なうデータ処理装置において、 a)複数のゲインを切替え可能な増幅手段と、 b)該増幅手段により増幅されたアナログ信号をデジタル
データに変換する変換手段と、 c)該デジタルデータの値を判断することにより次の変換
動作における前記増幅手段のゲインを決定するゲイン切
替手段と、 d)変換動作時の増幅手段のゲイン、及び、デジタルデー
タの値に基づいて、前記変換手段から得られる隣接する
複数のデジタルデータに対して所定の処理を行ない１個
の測定データを得る処理手段と、を備えることを特徴と
するデータ処理装置。
Priority Applications (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP19576196A JP3675047B2 (ja) | 1996-07-05 | 1996-07-05 | データ処理装置 |
| US08/888,243 US5926124A (en) | 1996-07-05 | 1997-07-03 | Signal processor for a measurement apparatus |
| DE19728676A DE19728676A1 (de) | 1996-07-05 | 1997-07-04 | Signalprozessor für eine Meßvorrichtung |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP19576196A JP3675047B2 (ja) | 1996-07-05 | 1996-07-05 | データ処理装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH1019848A true JPH1019848A (ja) | 1998-01-23 |
| JP3675047B2 JP3675047B2 (ja) | 2005-07-27 |
Family
ID=16346528
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP19576196A Expired - Fee Related JP3675047B2 (ja) | 1996-07-05 | 1996-07-05 | データ処理装置 |
Country Status (3)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US5926124A (ja) |
| JP (1) | JP3675047B2 (ja) |
| DE (1) | DE19728676A1 (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2006343319A (ja) * | 2005-05-12 | 2006-12-21 | Hitachi High-Technologies Corp | 質量分析用データ処理装置 |
| JP2008282661A (ja) * | 2007-05-10 | 2008-11-20 | Ulvac Japan Ltd | 四重極型質量分析装置およびイオン電流測定方法 |
| WO2011030518A1 (ja) * | 2009-09-14 | 2011-03-17 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | 信号処理装置、質量分析装置及び光度計 |
| JP2013170995A (ja) * | 2012-02-22 | 2013-09-02 | Shimadzu Corp | クロマトグラフ質量分析用データ処理装置 |
Families Citing this family (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| GB2363532B (en) * | 2000-06-16 | 2002-05-15 | Ericsson Telefon Ab L M | Analogue to digital signal conversion |
| US7238936B2 (en) * | 2004-07-02 | 2007-07-03 | Thermo Finnigan Llc | Detector with increased dynamic range |
| DE102005006402B3 (de) * | 2005-02-11 | 2006-08-31 | Siemens Ag | Sensorvorrichtung und System |
| IT1395787B1 (it) * | 2009-09-16 | 2012-10-19 | Dani Instr Spa | Spettrometro di massa ad ampio intervallo di dinamica. |
| EP2543974B1 (en) * | 2011-07-06 | 2014-02-26 | Nxp B.V. | Metering system having improved security |
| GB201515357D0 (en) | 2015-08-28 | 2015-10-14 | Micromass Ltd | Mass spectrometer with digitial step attenuator |
| US11469088B2 (en) | 2020-10-19 | 2022-10-11 | Thermo Finnigan Llc | Methods and apparatus of adaptive and automatic adjusting and controlling for optimized electrometer analog signal linearity, sensitivity, and range |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH07273650A (ja) * | 1994-03-31 | 1995-10-20 | Nec Corp | 非線形信号用のａ／ｄ変換回路 |
Family Cites Families (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DK163699C (da) * | 1986-02-11 | 1992-08-17 | Poul Richter Joergensen | Fremgangsmaade til automatisk forstaerkningsstyring af et signal samt et kredsloeb til udoevelse af fremgangsmaaden |
| US4842085A (en) * | 1988-03-28 | 1989-06-27 | Gse, Incorporated | Multiple range electronic weigh scale |
-
1996
- 1996-07-05 JP JP19576196A patent/JP3675047B2/ja not_active Expired - Fee Related
-
1997
- 1997-07-03 US US08/888,243 patent/US5926124A/en not_active Expired - Lifetime
- 1997-07-04 DE DE19728676A patent/DE19728676A1/de not_active Withdrawn
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH07273650A (ja) * | 1994-03-31 | 1995-10-20 | Nec Corp | 非線形信号用のａ／ｄ変換回路 |
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| JP2006343319A (ja) * | 2005-05-12 | 2006-12-21 | Hitachi High-Technologies Corp | 質量分析用データ処理装置 |
| JP2008282661A (ja) * | 2007-05-10 | 2008-11-20 | Ulvac Japan Ltd | 四重極型質量分析装置およびイオン電流測定方法 |
| WO2011030518A1 (ja) * | 2009-09-14 | 2011-03-17 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | 信号処理装置、質量分析装置及び光度計 |
| US8633841B2 (en) | 2009-09-14 | 2014-01-21 | Hitachi High-Technologies Corporation | Signal processing device, mass spectrometer, and photometer |
| JP5645829B2 (ja) * | 2009-09-14 | 2014-12-24 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | 信号処理装置、質量分析装置及び光度計 |
| JP2013170995A (ja) * | 2012-02-22 | 2013-09-02 | Shimadzu Corp | クロマトグラフ質量分析用データ処理装置 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| DE19728676A1 (de) | 1998-01-08 |
| JP3675047B2 (ja) | 2005-07-27 |
| US5926124A (en) | 1999-07-20 |
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