JPH1020199A - 複合顕微鏡 - Google Patents

複合顕微鏡

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JPH1020199A
JPH1020199A JP8173339A JP17333996A JPH1020199A JP H1020199 A JPH1020199 A JP H1020199A JP 8173339 A JP8173339 A JP 8173339A JP 17333996 A JP17333996 A JP 17333996A JP H1020199 A JPH1020199 A JP H1020199A
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JP
Japan
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optical system
objective lens
illumination
illumination optical
microscope
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JP8173339A
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English (en)
Inventor
Hiroyuki Nishida
浩幸 西田
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Olympus Corp
Original Assignee
Olympus Optical Co Ltd
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Publication date
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    • G01MEASURING; TESTING
    • G01QSCANNING-PROBE TECHNIQUES OR APPARATUS; APPLICATIONS OF SCANNING-PROBE TECHNIQUES, e.g. SCANNING PROBE MICROSCOPY [SPM]
    • G01Q30/00Auxiliary means serving to assist or improve the scanning probe techniques or apparatus, e.g. display or data processing devices
    • G01Q30/02Non-SPM analysing devices, e.g. SEM [Scanning Electron Microscope], spectrometer or optical microscope
    • G01Q30/025Optical microscopes coupled with SPM

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  • Physics & Mathematics (AREA)
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 培養容器内の標本を光学顕微鏡で観察可能に
するとともに、容易にプローブ走査が行える複合顕微鏡
をを提供することを目的としている。 【解決手段】 目的達成のため、光学顕微鏡の照明装置
に偏心照明光学系を備え、この偏心照明光学系全体の角
度と偏心照明光学系内部の開口絞りの大きさを変化さ
せ、使用する対物レンズに対して最も効果的な照明を行
う。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は走査型顕微鏡に関す
るもので、走査型トンネリング顕微鏡(STM)や原子
間力顕微鏡(AFM)、近接場走査型光学顕微鏡(NS
OM)等、試料と探触針との相互作用を利用して試料の
表面形状等を計測する装置において、特に生きた生物標
本の光学顕微鏡による高倍観察や、標本への各種操作が
行える複合機能を有する顕微鏡に関するものである。
【0002】
【従来の技術】走査型プローブ顕微鏡はプローブ(探触
針)を標本を近接させ、これらの間に生じる電流や力な
どの物理量を測定し、これをもとに標本の表面の状態を
画像化する装置である。標本の画像化はプローブを走査
させて行うが、標本とプローブの間隔が極めて狭く高速
走査が行えないため、観察範囲を決定するのに繰り返し
て走査を行うと多大な時間を要するため実用上支障が生
じる。そのため、光学顕微鏡と組み合わせておおよその
走査範囲を設定する方法が、特開平1-801603号公報や特
開平2-16403 号公報に開示されている。特開平1-801603
号公報は走査型トンネリング顕微鏡のプローブと光学顕
微鏡の対物レンズが一致するように構成されており、走
査型トンネリング顕微鏡の観察面の視野を光学顕微鏡の
像としても観察できるようにした技術である。特開平2-
16403 号公報は走査型トンネリング顕微鏡の観察のため
の範囲の設定に光学顕微鏡を使用しており、探触針の光
学顕微鏡の観察視野内での位置決め精度を向上するため
に対物レンズと探触針を一体化した技術である。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】近年、培養容器等に入
った生きた生物標本を高解像で観察・計測するために走
査型プローブ顕微鏡を使用したいという要求が高まって
いる。生きた生物標本は一般的に無色透明であるため、
走査型プローブ顕微鏡での観察範囲の設定には光学顕微
鏡の位相差観察などの特殊観察が必要である。また、培
養容器内の観察であるため、観察は倒立顕微鏡を使って
培養容器の底面に対物レンズを近付ける形で透過観察を
行うことになる。
【0004】ところが、特開平1-801603号公報や特開平
2-16403 号公報は金属などの反射標本の観察を想定して
いるため、プローブと対物レンズが標本に対して同じ側
に配置されている。このため、このまま倒立顕微鏡に使
用したとしても、プローブが培養容器の底面で遮られプ
ローブによる観察ができない。また、光学顕微鏡観察の
照明も落射照明になっており、この構成では培養容器に
入った標本に対して、位相差観察などの特殊観察ができ
ない。
【0005】本発明はこのような問題点に着目してなさ
れたものであり、培養容器内の標本を光学顕微鏡で観察
可能にするとともに、容易にプローブ走査が行える複合
顕微鏡を提供することを目的とする。
【0006】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、本発明に基づく複合顕微鏡では、照明光学系及び対
物レンズを有する観察光学系とを備えた光学顕微鏡と、
前記対物レンズの光軸上に配置されたプローブ顕微鏡ユ
ニットとを有する複合顕微鏡において、前記プローブ顕
微鏡ユニット及び前記照明光学系が標本を挟んで前記対
物レンズと反対側に配置され、前記照明光学系が前記対
物レンズの光軸に対して傾いて配置されていることを特
徴としている。
【0007】ここで、光学系の傾きは、照明光学系の光
軸と前記対物レンズの光軸のなす角度をθとした時、次
の条件を満足することが良い。 sin|θ|≧0.4 さらに、対物レンズの瞳、その近傍もしくはこれらと略
共役な位置に瞳変調光学素子を配置した場合は、標本を
通過した照明光が瞳変調光学素子に設けられた変調領域
を通過するように照明光学系の傾きを調整するととも
に、照明光が次の条件を満足すると効果的である。
【0008】NA≧(NA1 −NA2 )/2 ここで、NA1 は前記瞳変調光学素子の変調領域におい
て光軸より最も離れた位置に相当する開口数、NA2
前記瞳変調光学素子の変調領域において光軸に最も近い
位置に相当する開口数、NAは照明光学系の開口数であ
る。また、上記照明光学系とは異なる第2の照明光学系
をプローブ顕微鏡ユニットの後方より照明するように対
物レンズの光軸上に配置したことを特徴としている。こ
の時さらに、観察光学系に対物レンズの瞳、その近傍も
しくはこれらと略共役な位置に第2の瞳変調光学素子を
配置すると良い。尚、上記瞳変調光学素子と第2の瞳変
調光学素子を一体成型し使用することもできる。
【0009】また、これらの複合顕微鏡において、照明
光学系が可変絞りを具備することが好ましい。さらに、
観察光学系が撮像装置を有し、撮像装置の画像信号を画
像処理装置を通して画像表示できるようにしておけば良
い。なお、プローブ顕微鏡ユニットの出力も画像処理装
置に入力可能にしておくこともできる。
【0010】以下に本発明において上記構成をとる理由
と作用、また更に好ましい構成について説明する。本発
明の基本概念を図2を用いて説明する。図2は本発明の
複合顕微鏡のシステム図を表した図で、複合顕微鏡2
0、画像処理装置21、画像表示装置22で構成されて
いる。複合顕微鏡は倒立型の光学顕微鏡にプローブ顕微
鏡が合体したものである。
【0011】光学顕微鏡は、倒立顕微鏡本体204、照
明光学系23、標本が入った培養容器208を保持する
ステージ209、ステージ209の下に配置され培養容
器の底側から観察を行う対物レンズ210、及び接眼レ
ンズ211、撮像装置212で構成されている。照明光
学系は23、従来より使用されている同軸照明光学系2
05と対物レンズの光軸に対して傾いて配置されている
偏心照明光学系206の2つがある。偏心照明光学系2
06の照明角度は角度調整部材207によって調整でき
るようになっている。
【0012】一方、プローブ顕微鏡ユニット25は倒立
顕微鏡204のステージ209上方に配置されたプロー
ブ201、プローブ201を保持するプローブ保持部2
02、プローブを走査するプローブ走査部203で構成
されており倒立顕微鏡204と一体化している。プロー
ブ保持部202は標本の真上に配置されているため、プ
ローブ201が安定し良好な標本の情報が得られる。
【0013】撮像装置212及びプローブ顕微鏡ユニッ
ト25からの信号は画像処理装置21に送られ適当な処
理が施されたあと、画像表示装置22に標本の画像が表
示される。このような構成において、標本の観察は次の
ように行われる。標本はステージ209上に置かれた培
養容器208に入れられており、光学像を観察する場合
には、培養容器208の上部から照明光学系23によっ
て照明を行い、底面から対物レンズ210通し接眼レン
ズ211によって観察する。尚、偏心照明光学系206
は対物レンズの倍率や種類に合わせて、標本を照明する
角度を角度調整部材207で調整することができるよう
になっている。さらに偏心照明光学系206内部には開
口絞りが配置され、照明光の範囲を調整できるようにな
っている。
【0014】また、倒立顕微鏡204内部で光路を切り
替えることが可能になっており、標本からの光を撮像装
置212に導いて標本を撮影することができる。一方、
STM像やAFM像による観察は、培養容器208の上
部からプローブを201を標本に近接させるとともにX
Y走査を行うことによって画像情報を得る。プローブ顕
微鏡ユニット25からの出力信号は画像処理装置21に
入力し、適切な画像処理を施されて画像表示装置22に
表示される。尚、この画像処理装置21には撮像装置2
12の出力も接続することができる。
【0015】このような構成により、培養溶液に入った
無色透明な標本であっても、偏心照明によって、観察像
にコントラストが生じ、光学像の観察もしくは撮影が可
能になる。さらに、プローブ201はおおよそ対物レン
ズ210の光軸上に配置されているため、標本とプロー
ブの両方を同時に見ることが可能となりプローブの位置
合わせも容易に行える。
【0016】また、同軸照明光学系205を備えている
ため、対物レンズの開口数をほぼ満足する照明が行え
る。したがって、無色透明でない標本の観察では、対物
レンズが本来持っている性能に近い結像性能での観察が
できる。次に、偏心照明光学系と対物レンズ内の光線の
様子について説明する。顕微鏡観察において観察倍率の
変更は対物レンズの交換によって行われるが、対物レン
ズの開口数は対物レンズの種類や倍率によって異なる。
このため、本発明のような偏心照明光学系による照明で
は、対物レンズの交換が行われた場合は照明光の照射領
域を調整して、標本を通過した照明光が対物レンズの開
口内を通過するようにしなければならない。無色透明な
標本を位相差観察する場合に用いる位相差対物レンズで
は、位相板上の位相膜の位置及び領域が決まっているた
め、このような調整が特に必要となる。
【0017】さて、無色透明な標本の像にコントラスト
を付ける方法として斜めから照明する方法があるが、こ
の場合斜めの角度を大きくして照明するほうが望まし
い。ここで、上記の照明を同軸照明で行なうとすると、
図1(A)のように対物レンズ7の開口数に合わせた照
明が行えるような光束をあらかじめ確保しておき、開口
絞り3´によって光束の一部を取り出す構成になる。開
口絞り3´を通過した照明口はコンデンサ光学系4で標
本面6上に集光する。照明範囲の調整は、開口絞り3´
の開口部を光軸に近づけたり遠ざけたりして行うことに
なる。
【0018】しかしながら、本発明のように対物レンズ
の光軸上にプローブ顕微鏡ユニットが存在するような場
合には、このような構成は照明光学系とプローブ顕微鏡
ユニットが構造的に干渉するため現実的には無理があ
る。また、たとえプローブ顕微鏡ユニットが存在しなか
ったとしても、照明光束の一部しか使用しないため照明
光の利用効率の点で劣る点や、あらかじめ開口数の大き
な照明光を必要とするため照明光学系が大きくならざる
を得ないという点で問題がある。
【0019】これに対して、本発明では図1(B)に示
すように、照明系に偏心照明光学系を採用している。図
1(B)で偏心照明光学系は光源1、コレクタレンズ系
2、開口絞り3、コンデンサレンズ系4で構成されてい
る。7は対物レンズである。光源1からの照明光はコレ
クタレンズ系2及びコンデンサレンズ系4で標本面6上
に照射される。標本を通過した透過光は対物レンズ7に
入射して後方に標本の像を形成する。
【0020】図1(B)は対物レンズ7の開口数に対し
て、開口数の大きい領域を標本の透過光が通過するよう
に照明している。偏心照明光学系を対物レンズ7の光軸
5に対して角度θで傾けさせた結果、対物レンズ7内を
通過する標本面6からの透過光の1番外側の光線に相当
する開口数NAmax が対物レンズ7の開口数NAa に一
致している。このように、偏心照明光学系において傾き
角θを変化させることによって、対物レンズを通過する
光束の位置を調整することができる。したがって、位相
差対物レンズを使用する場合でも位相膜の位置に合わせ
た照明が行えるため、何ら問題なく位相差観察ができ
る。また、高倍率の対物レンズによる観察時において
も、照明光学系の開口数を大きくすることなく開口数の
大きい領域を使った観察のための照明が可能になる。
【0021】ここで、偏心照明光学系の傾き角度θの絶
対値は、以下の条件を満足することが望ましい。 sin|θ|≧0.4 (1) 条件式(1)は高倍観察時の照明に関する条件である。
条件式を満足しない場合、標本からの透過光が対物レン
ズ内の必要とする領域を通過しなくなるため、コントラ
ストや解像度が低下する。
【0022】次に、照明範囲について説明する。開口数
NAを持つ偏心照明光学系から出た照明光束は、2NA
の幅で標本を照明する。標本面6からの透過光は対物レ
ンズに入射するが、ここで対物レンズ内を通過する透過
光の1番内側の光線に相当する開口数をNAmin とする
と、対物レンズ内を通過する光束の範囲はNAmax とN
min の間になる。照明光束の幅の調整は偏心照明光学
系内に配置された開口絞りの大きさを変えることで行わ
れることから、開口絞りは対物レンズを通過する光束の
範囲を調整する働きをする。したがって、位相差対物レ
ンズを使用する場合でも、位相膜の範囲に合わせた照明
が行えるため、問題なく位相差観察が行える。
【0023】さらに、照明光学系の開口数をNAとし、
対物レンズ内の瞳位置またはその近傍に配置された位相
板において、位相板上の位相膜の領域の光軸から最も離
れた位置を通過する光線に相当する開口数を最大開口数
NA1 、光軸に最も近い位置を通過する光線に相当する
開口数を最小開口数NA2 とすると、以下の条件を満足
することが望ましい。
【0024】 NA≧(NA1 −NA2 )/2 (2) すなわち、一般的に照明光の開口数を小さくしていくと
干渉性が高くなると共に焦点深度が深くなるため、焦点
面以外にあるゴミ等の像が目立つようになり標本の位相
差画像に重なって観察の妨げになる。偏心照明光学系で
も同じような現象が発生し、位相差像が見えにくくな
る。条件式(2)はこの点を考慮したもので、照明光の
開口数が条件式を満足しない場合上記の問題が発生し観
察に支障をきたす。
【0025】また、前記プローブ顕微鏡ユニットの後方
より照明するように前記対物レンズの光軸上に配置され
観察光学系の光軸と同軸に配置した第2の照明光学系
は、照明光が開口数の低い範囲を照明するため、対物レ
ンズの開口数を満足する光束を増やす働きをする。尚、
本発明の他の特徴は以下の実施例により明確になる。
【0026】
【発明の実施の形態】以下、本発明の複合顕微鏡の各実
施例について説明するが、これらの実施例は位相差対物
レンズを用いた場合に応用した例である。
【0027】
【実施例1】本発明の第1実施例を図3に示す。本実施
例は、位相差対物レンズを使用する場合の偏心照明の様
子である。図1と同じ構成要素については同じ番号を付
し、機能等については説明を省略する。図3において、
観察光学系は対物レンズ7及び結像レンズ系30を有し
ている。なお対物レンズ7の瞳位置あるいはその近傍に
は位相板31が配置されている。32は像位置である。
偏心照明光学系は観察光学系の光軸5に対して角度でθ
傾けて配置されている。尚、像位置32の後方にリレー
光学系がある場合は、リレー光学系中の前記対物レンズ
の瞳位置あるいはその近傍と共役な位置に位相板31を
配置しても良い。
【0028】一方、プローブ顕微鏡は標本面6を挟んで
観察光学系と同軸上に配置されている。35はプロー
ブ、34はプローブ保持部である。光源1からの照明光
はコレクタレンズ2で広げられた後、開口絞り3を通過
しコンデンサレンズ4で標本面6上に集光される。偏心
照明光学系は光軸5に対する傾きを可変できる図示しな
い機構を有しており、対物レンズ7内を通過する透過光
の位置を変化させることができる。また、偏心照明光学
系内に配置された開口絞り3は、例えばカメラの絞りに
ような構造の可変絞りであって、対物レンズ7内を通過
する透過光の範囲を可変にしている。そして、標本面6
を通過した透過光は対物レンズ7を通り結像レンズ系3
0によって像位置32に標本の像を形成する。
【0029】本実施例において、対物レンズ7の光軸5
と偏心照明光学系の光軸のなす角度はθ=28°であ
り、偏心照明光学系の開口数NAは0.08である。ま
た、対物レンズ7内の位相板31上の位相膜33の位置
で決まる開口数NA1、NA2は、それぞれNA1=
0.5、NA2=0.4である。図4は位相板40の位
相膜41の配置例である。偏心照明光学系の開口絞り3
が円形絞りであるため位相膜41も円形になっている。
標本は開口数0.08の光束で照明され、標本を通過し
た透過光のうち直接光がこの位相膜41の内側を通過し
ていくことになる。
【0030】ところで、対物レンズのレボルバーに対す
る固定位置や対物レンズ内の位相膜の位置にはばらつき
があるため、図4のような配置だと位相膜が照明光に対
して常に一定の位置になるとは限らない。したがって、
位相膜の位置に合わせて照明位置を移動させるか、もし
くは位相膜を照明位置に合わせるような調整機構を対物
レンズに持たせなければならない。
【0031】図5はこの点を考慮し位相膜51を同心円
状に配置した配置例で、回転方向の位置を調整するため
の余分な調整機構が不要となる。図5の位相板50上の
実線の円内52はこの領域を通過する標本からの直接光
である。ここで破線53の円で示すように、照明光の光
束を大きくすると、焦点深度が浅くなり光学系のゴミな
どが目立たなくなるという効果が得られるが、位相膜以
外の領域を通過する直接光の割合も増えるため像のコン
トラストの低下を招き問題となる。
【0032】そこで、図6に示すように偏心照明光学系
の開口絞り3を矩形絞り60にすると、この矩形開口部
61が対物レンズの瞳に投影される。投影された形状は
図7の斜線部72のように、位相板70上の輪帯状の位
相膜71に対して長辺が輪帯の内径と外径にほぼ接する
ようになっている。したがって、直接光は位相膜上のこ
の範囲を通過するため、位相膜を外れる直接光の割合を
増やさずに照明光の光束を大きくすることができる。
【0033】図8は図3の開口絞り3による制限方法に
代わる別の方法である。通常のレンズの両側をカットし
楕円形に似た形状にしたもので、このレンズ80を偏心
照明光学系内のコンデンサレンズの部分に使用する。外
径を制限していることにより、カットした方向(x方
向)の開口数は0.05でありカットしない方向(y方
向)は開口数が0.08である。尚、図8のようなレン
ズの外径による制限方法では、対物レンズ7内を通過す
る透過光の範囲を可変にできないので、前述の可変絞り
と合わせて使用するほうが望ましい。
【0034】
【実施例2】本発明の第2実施例を図9に示す。第3図
と同じ構成要素については同じ番号を付しその説明は省
略する。本実施例は、偏心照明光学系に加えて同軸照明
光学系を有している。本実施例では、プローブ保持部材
90は中央部をくり抜いた構造になっており、この空間
を利用して同軸照明が行われる。
【0035】同軸照明光学系は、偏心照明光学系とほぼ
同じ構成で、光源91、コレクタレンズ系92、開口絞
り93、ミラー94、コンデンサレンズ系95で構成さ
れている。同軸照明光学系の開口数は0.1である。プ
ローブの走査によってプローブ保持部材90が移動する
ため、プローブ保持部材90の中央部には照明に関する
光学素子は一切無く、照明光が通過するだけになってい
る。同軸照明光学系はプローブ保持部材90の上方に光
学顕微鏡に取り付けられている。同軸照明光学系を構成
する光学素子を光軸上に一列に配置しても問題ないが、
高さを制限するような場合は図9のように、偏心照明光
学系と接触しない方向にミラー94で光路を折り曲げれ
ば良い。尚、図9では開口絞り93とコンデンサレンズ
系95の間にミラー94を配置して光路を折り曲げてい
るが、別の位置にミラー94を配置しても構わない。
【0036】図10は高倍対物レンズで観察する場合の
照明について、通常の同軸照明(A)と本実施例(B)
を比較したものである。通常の同軸照明では対物レンズ
7の開口数NAobを満たすように照明が行われるが、本
発明では基本的にプローブ顕微鏡ユニットを避けて偏心
照明が行われるため、偏心照明だけでは対物レンズの開
口数の一部を満たす光束aでしか照明できない。しかし
ながら、本実施例では偏心照明光学系に加えて同軸照明
光学系の光束bが加わることから、通常の同軸照明に近
い開口数を確保した照明が行われる。このため照明光の
コヒーレンスを低下させることができ、焦点面以外のゴ
ミ等の像が観察像に重なった見えてしまうという現象を
抑えることができる。また、無色透明でない標本を明視
野観察するような場合でも、通常の同軸照明とほぼ同じ
開口数での照明が行われるため、対物レンズの開口数を
で決まる解像度で観察することができる。
【0037】本実施例において位相差観察のために第1
実施例と同じ位相板33を使用した場合、同軸照明によ
る標本からの直接光が通過する位置に位相膜がない。こ
のため偏心照明による標本からの直接光と同軸照明によ
る標本からの直接光に位相のずれが生じるため、位相差
像のコントラストの低下を招いてしまう。このため、本
実施例で使用する位相板110は図11に示すように、
偏心照明用の位相膜111に加えて、同軸照明の開口数
に合わせて位相板110の中心に位相膜112を配置し
ている。このようにすれば、偏心照明と同軸照明による
標本からの直接光の位相のずれがなくなり、コヒーレン
スを低くしたままで位相差像のコントラストを上げるこ
とができる。
【0038】なお、偏心照明による標本からの回折光の
一部が位相膜112を通過するため、逆に回折光と直接
光に位相のずれが生じるが、位相膜112の領域が狭い
ので像のコントラストを低下させるほどの問題にはなら
ない。また、位相膜111と112は別々の位相板に設
けても良い。このようにすると同軸照明を消して偏心照
明のみにした場合、位相膜112を設けた位相板を光路
外に取り出すことができるため偏心照明での位相差観察
が良好に行える。
【0039】以上、各実施例について説明したが、開口
絞りや位相板に関しては次のように変更しても構わな
い。例えば開口絞りについては、偏心照明光学系の開口
絞り3は矩形や円形など、様々な大きさや形状の絞りを
単独もしくは複数組み合わせて使用しても良い。図12
Aは円形絞り120と矩形絞り121を組み合わせて、
楕円形状の開口を形成した例である。これら2つの絞り
120、121は図12Bのように照明光学系の開口絞
り位置3もしくは93の光軸上に近接して配置すれば良
い。また、絞りの大きさを変更するためには、開口可変
機構を持つ絞りを用いて良いし、開口の大きさや形状が
異なる絞りを交換するようにしても良い。
【0040】また、各実施例では位相差対物レンズを使
用した位相差観察について説明したが、位相板の代わり
に図13に示すような透過率分布が異なる複数の領域を
持つフィルタ130を対物レンズの瞳位置あるいはその
近傍に配置しても良い。図13Aでフィルタ130は光
を透過する円形の領域131を有しており、円形領域1
31は図13Bのように、半円部分がステップ状に透過
率が変化しているものである。したがって、図13Cに
示すように、標本の位相の勾配によって標本を通過した
光が円形領域131の透過率の異なる部分を通過するた
め、位相勾配が強度変化に変換される。このように、位
相板や上記のようなフィルタ等の変調光学素子を対物レ
ンズの瞳位置あるいはその近傍、およびそれらと略共役
な位置に配置することによって、無色透明の標本の観察
を行うことができる。
【0041】
【発明の効果】本願発明は、以上説明したように構成さ
れているため、以下のような効果を奏する。照明光学系
を対物レンズの光軸に対して偏心させて配置させること
により、照明光学系の開口数がそれほど大きくなくても
高倍観察のための照明の開口数を確保することができ
る。さらに可変絞りを具備することにより、部分的な光
束の範囲と位置を対物レンズに合わせて調整を行い、標
本が無色透明であってもその存在場所が確認できる程度
のコントラストを観察像に生じさせることができ、高倍
対物レンズでの標本の位置合わせが行える。
【0042】また、照明光学系の開口数が小さいので光
学系がコンパクトになり、プローブ顕微鏡との物理的干
渉が起こらなくなる。また、対物レンズの瞳位置に透過
率分布が変化するフィルタを配置した変調コントラスト
観察においても、フィルタに合わせて照明光の調整が行
えるので良好な観察が行える。さらに複数の開口絞りを
配置することにより、位相差対物レンズを使用する場
合、位相差対物レンズの略瞳位置に配置された位相膜も
しくは吸収膜の領域を直接光が通過するように照明光を
調整することができるため、標本の位相差像をコントラ
スト良く観察することができる。
【0043】また、プローブ保持部を中空構造にするこ
とにより同軸照明光学系の併用ができるため、偏心照明
光学系のみの場合に比べてコントラストをさらに向上さ
せると共に、焦点深度を浅くして光学系に付着したゴミ
を目立たなくすることができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の光学系における開口数の関係を示す図
である。
【図2】本発明の複合顕微鏡のシステム図である。
【図3】本発明の第1実施例における複合顕微鏡の主要
光学系の図である。
【図4】本発明の第1実施例における位相膜の形状及び
直接透過光の通過範囲を示す図である。
【図5】本発明の第1実施例における別の位相膜の形状
及び直接透過光の通過範囲を示す図である。
【図6】本発明の第1実施例における偏心光学系の絞り
の形状を示す図である。
【図7】本発明の第1実施例における図6の絞りに対応
する直接透過光の通過範囲を示す図である。
【図8】本発明の第1実施例における偏心光学系のコン
デンサレンズの形状を示す図である。
【図9】本発明の第2実施例における複合顕微鏡の主要
光学系の図である。
【図10】本発明の第2実施例における開口数と通常照
明における開口数を比較する図である。
【図11】本発明の第2実施例における位相膜の形状を
示す図である。
【図12】本発明で複数の絞りを使用する場合の絞りの
様子を示す図である。
【図13】本発明において過率変化による瞳変調を行う
場合の瞳変調光学素子を示す図である。
【符号の説明】
1、91 光源 2、92 コレクタレンズ系 3、3´、60、93 開口絞り 4、95 コンデンサレンズ系 5 光軸 6 標本面 7 対物レンズ 120 円形絞り 121 矩形絞り 122 楕円形状の開口絞り 130 フィルタ 131 ステップ状の透過率分布を有する円形領域 20 複合顕微鏡 21 画像処理装置 22 画像表示装置 23 照明光学系 24 観察光学系 25 プローブ顕微鏡ユニット 201、35 プローブ 202、34、90 プローブ保持部 203 プローブ走査部 204 倒立顕微鏡 205 同軸照明光学系 206 偏心照明光学系 207 回転部材 208 培養容器 209 ステージ 210 対物レンズ 211 接眼レンズ 212 撮像装置 30 結像レンズ 31、40、50、70、110 位相板 32 像位置 33、41、51、71、111、111´、112
位相膜 52、53、72 透過光の通過範囲、 61 絞り形状 80 コンデンサレンズ 94 ミラー

Claims (10)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 照明光学系及び対物レンズを有する観察
    光学系とを備えた光学顕微鏡と、前記対物レンズの光軸
    上に配置されたプローブ顕微鏡ユニットとを有する複合
    顕微鏡において、前記プローブ顕微鏡ユニット及び前記
    照明光学系が標本を挟んで前記対物レンズと反対側に配
    置され、前記照明光学系が前記対物レンズの光軸に対し
    て傾いて配置されていることを特徴とする複合顕微鏡。
  2. 【請求項2】 以下の条件式を満足することを特徴とす
    る請求項1に記載の複合顕微鏡。 sin|θ|≧0.4 ここで、θは前記照明光学系の光軸と前記対物レンズの
    光軸のなす角度である。
  3. 【請求項3】 前記観察光学系が前記対物レンズの瞳、
    その近傍もしくはこれらと略共役な位置に瞳変調光学素
    子を有し、前記照明光学系は標本を通過した照明光が前
    記瞳変調光学素子の変調領域を通過する角度で配置され
    ていることを特徴とする請求項1、2に記載の複合顕微
    鏡。
  4. 【請求項4】 以下の条件式を満足することを特徴とす
    る請求項3に記載の複合顕微鏡。 NA≧(NA1 −NA2 )/2 ここで、NA1 は前記瞳変調光学素子の変調領域におい
    て光軸より最も離れた位置に相当する開口数、NA2
    前記瞳変調光学素子の変調領域において光軸に最も近い
    位置に相当する開口数、NAは照明光学系の開口数であ
    る。
  5. 【請求項5】 前記照明光学系とは異なる第2の照明光
    学系を有し、前記第2の照明光学系が前記プローブ顕微
    鏡ユニットの後方より照明するように前記対物レンズの
    光軸上に配置されていることを特徴とする請求項1、2
    に記載の複合顕微鏡。
  6. 【請求項6】 前記照明光学系とは異なる第2の照明光
    学系を有し、前記第2の照明光学系が前記プローブ顕微
    鏡ユニットの後方より照明するように前記対物レンズの
    光軸上に配置され、前記観察光学系が前記対物レンズの
    瞳、その近傍もしくはこれらと略共役な位置に第2の瞳
    変調光学素子を有することを特徴とする請求項3、4に
    記載の複合顕微鏡。
  7. 【請求項7】 前記瞳変調光学素子と前記第2の瞳変調
    光学素子が一体成型されていることを特徴とする請求項
    6に記載の複合顕微鏡。
  8. 【請求項8】 前記照明光学系が開口制限手段を具備す
    ることを特徴とする請求項1乃至7に記載の複合顕微鏡
  9. 【請求項9】 前記光学顕微鏡により形成された像を撮
    像する撮像装置と、取り込んだ画像を処理する画像処理
    装置と、前記画像処理装置の出力を表示する画像表示装
    置を有することを特徴とした請求項1乃至8に記載の複
    合顕微鏡。
  10. 【請求項10】 前記プローブ顕微鏡ユニットからの画
    像信号が前記画像処理装置に接続されていることを特徴
    とする請求項9に記載の複合顕微鏡。
JP8173339A 1995-11-22 1996-07-03 複合顕微鏡 Withdrawn JPH1020199A (ja)

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Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2003149559A (ja) * 2001-09-07 2003-05-21 Leica Microsystems (Schweiz) Ag 照明差込入射部を有する顕微鏡
JP2006163090A (ja) * 2004-12-09 2006-06-22 Nikon Corp 位相差顕微鏡
JP2008064880A (ja) * 2006-09-05 2008-03-21 Nikon Corp 変調コントラスト顕微鏡
JP2015152648A (ja) * 2014-02-12 2015-08-24 株式会社ニコン 位相差顕微鏡
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