JPH10204676A - 錫−銀合金電気めっき浴及び錫−銀合金電気めっき方法 - Google Patents

錫−銀合金電気めっき浴及び錫−銀合金電気めっき方法

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JPH10204676A
JPH10204676A JP33514997A JP33514997A JPH10204676A JP H10204676 A JPH10204676 A JP H10204676A JP 33514997 A JP33514997 A JP 33514997A JP 33514997 A JP33514997 A JP 33514997A JP H10204676 A JPH10204676 A JP H10204676A
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JP
Japan
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acid
silver
tin
plating
bath
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JP33514997A
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English (en)
Inventor
Isamu Yanada
勇 梁田
Masanori Tsujimoto
雅宣 辻本
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C Uyemura and Co Ltd
Original Assignee
C Uyemura and Co Ltd
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Abstract

(57)【要約】 【解決手段】 (A)第1錫塩、(B)銀塩、(C)硫
酸,リン酸,ホスホン酸,ヒドロキシカルボン酸,アル
カンスルホン酸及びアルカノールスルホン酸から選ばれ
る酸の1種又は2種以上、(D)チオ尿素、(E)非イ
オン界面活性剤、(F)メルカプト基含有芳香族化合
物、ジオキシ芳香族化合物及び不飽和カルボン酸から選
ばれる添加剤の1種又は2種以上を含有してなることを
特徴とする錫−銀合金電気めっき浴。 【効果】 本発明の錫−銀合金電気めっき浴を用いるこ
とにより、銀の優先析出、銀の陽極やめっき皮膜への置
換析出なく、均一で外観の良好な錫−銀合金めっき皮膜
を得ることができる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、錫−鉛合金半田の
代替として用いられる錫−銀合金めっき皮膜を形成する
電気めっき浴及び錫−銀合金電気めっき方法に関する。
【0002】
【従来の技術及び発明が解決しようとする課題】従来、
電子部品、プリント基板などに半田付けを行うような場
合、錫めっきや錫−鉛合金めっきが行われることが主流
であった。しかし、錫めっきはウィスカー発生の問題が
あり、錫−鉛合金めっきは含有する鉛が近年環境汚染の
原因として問題化され、鉛抜きの錫合金半田材料が求め
られてきた。
【0003】従って、最近においては鉛使用規制の点か
ら、チップ部品、フープ材、リードフレーム、半導体パ
ッケージ、バンプ、プリント基板など、電子機器等を構
成する種々の部品の半田付けに、従来の錫−鉛合金半田
の代替として錫−銀合金を用いることが求められ、この
ため錫−銀合金めっき皮膜を形成する電気めっき浴の開
発が要望されている。
【0004】従来、錫−銀合金電気めっき浴としては、
アルカンスルホン酸錫、アルカンスルホン酸銀、アルカ
ンスルホン酸に非イオン界面活性剤を添加した浴が知ら
れてる(特開平8−13185号公報)。
【0005】しかしながら、従来の錫−銀合金めっき浴
はめっき作業中に被めっき物の端部や縁部分或いは全面
に数ミクロン〜数ミリメートルの微小な針状、樹枝状、
ヒゲ状、粒状、粉状の析出物やヤケ、コゲなどが発生し
易く、めっき外観不良、膜厚・合金組成不良、隣接リー
ド間の短絡不良などの原因となる。
【0006】また、この種の単純浴は、錫に比べて銀が
優先的に析出し易い上、錫や錫−銀合金電極及び析出し
ためっき皮膜に銀の置換析出反応が起こり易いという問
題があり、めっき作業に困難が生じたり、めっき皮膜の
密着性が阻害され易い。
【0007】また、上記のような強酸浴とは異なり、塩
化第1銀、ヨウ化銀、ヨウ化カリ、ピロリン酸カリから
なる中性ないし弱アルカリ性の錫−銀合金電気めっき浴
も発表されている(表面技術協会第93回講演大会要旨
集第195頁)が、このような浴をプリント基板のめっ
きに使用すると、有機レジストフィルムを浸食し、これ
を浮き上がらせるなどのトラブルを起こし易い。
【0008】本発明は上記事情を改善したもので、良好
な外観のめっき皮膜を与え、銀の優先析出、置換析出な
どの不都合もなく、またプリント基板へのめっきなどに
も好適に用いられる錫−銀合金電気めっき浴及びめっき
方法を提供することを目的とする。
【0009】
【課題を解決するための手段及び発明の実施の形態】本
発明者は、上記目的を達成するため鋭意検討を行った結
果、本発明を完成するに至ったもので、本発明は、
(A)第1錫塩、(B)銀塩、(C)硫酸,リン酸,ホ
スホン酸,ヒドロキシカルボン酸,アルカンスルホン酸
及びアルカノールスルホン酸から選ばれる酸の1種又は
2種以上、(D)チオ尿素、(E)非イオン界面活性
剤、(F)メルカプト基含有芳香族化合物、ジオキシ芳
香族化合物及び不飽和カルボン酸から選ばれる添加剤の
1種又は2種以上を含有してなることを特徴とする錫−
銀合金電気めっき浴、及びこの錫−銀合金電気めっき浴
に被めっき物を浸漬して電気めっきすることを特徴とす
る錫−銀合金電気めっき方法を提供する。
【0010】本発明によれば、得られた錫−銀合金めっ
き皮膜は、針状、樹枝状、粉状、粒状の析出物、ヤケ、
コゲなどのない良好な外観を有する上、めっき皮膜の合
金組成として、錫イオン、銀イオン量を選定することに
より、錫99.9〜10重量%、銀0.1〜90重量%
のものを得ることができ、この場合、銀の優先析出、錫
や錫−銀合金陽極及びめっき皮膜への銀の置換析出も起
こらず、めっき皮膜の合金組成はほぼめっき浴中の錫イ
オン、銀イオンの割合に一致したものである。また、陰
極電流密度も0.1〜100A/dm2の広い範囲で選
択し得、ラック、バレル、ラックレス(フープ、噴流な
どの高速法)の各めっき方法を採用し得るものである。
【0011】また、本発明は、第1錫塩と、銀塩と、硫
酸,リン酸,ホスホン酸,ヒドロキシカルボン酸,アル
カンスルホン酸及びアルカノールスルホン酸から選ばれ
る酸の1種又は2種以上とを含有する錫−銀合金電気め
っき浴中に被めっき物を浸漬し、電気めっきを行うに際
し、陽極に銀金属を使用し、めっき浴からの銀の析出に
応じた銀イオンの補給を上記銀金属陽極の電解溶出によ
り行うと共に、めっき浴からの錫の析出に応じた第1錫
イオンの補給をめっき浴に第1錫塩又は酸化第1錫を添
加溶解することにより行うようにしたことを特徴とする
錫−銀合金電気めっき方法を提供する。更に、第1錫塩
と、銀塩と、硫酸,リン酸,ホスホン酸,ヒドロキシカ
ルボン酸,アルカンスルホン酸及びアルカノールスルホ
ン酸から選ばれる酸の1種又は2種以上とを含有する錫
−銀合金電気めっき浴中に被めっき物を浸漬し、電気め
っきを行うに際し、被めっき物を給電しながら上記めっ
き浴に浸漬すると共に、めっきが施された被めっき物を
給電しながら上記めっき浴より引き上げるようにしたこ
とを特徴とする錫−銀合金電気めっき方法を提供する。
【0012】更に、第1錫塩と、銀塩と、硫酸,リン
酸,ホスホン酸,ヒドロキシカルボン酸,アルカンスル
ホン酸及びアルカノールスルホン酸から選ばれる酸の1
種又は2種以上とを含有する錫−銀合金電気めっき浴中
に被めっき物を浸漬し、電気めっきを行うに際し、陽極
に銀金属を使用し、めっき浴からの銀の析出に応じた銀
イオンの補給を上記銀金属陽極の電解溶出により行うと
共に、めっき浴からの錫の析出に応じた第1錫イオンの
補給をめっき浴に第1錫塩又は酸化第1錫を添加溶解す
ることにより行い、かつ、被めっき物を給電しながら上
記めっき浴に浸漬すると共に、めっきが施された被めっ
き物を給電しながら上記めっき浴より引き上げるように
したことを特徴とする錫−銀合金電気めっき方法を提供
する。
【0013】上記のように陽極として銀を用い、Sn2+
を補給するようにすれば、めっき浴が上記(A)〜
(F)成分の全部を含まず、(A)、(B)、(C)成
分を主体とする単純浴であっても、陽極に対する銀の置
換析出はなく、めっき浴のAg+濃度の変動が少なくな
り、また、被めっき物をめっき浴に浸漬したりめっき浴
から引き上げる場合に給電することにより、被めっき物
或いは被めっき物に析出しためっき皮膜への銀の置換析
出がなく、めっき皮膜の密着不良もなくなるもので、上
記の方法でめっき作業の困難性がより確実に防止され
る。
【0014】以下、本発明につき更に詳しく説明する。
本発明の第1の発明に係る錫−銀合金めっき浴は、上述
したように、(A)第1錫塩、(B)銀塩、(C)硫
酸,リン酸,ホスホン酸,ヒドロキシカルボン酸,アル
カンスルホン酸及びアルカノールスルホン酸から選ばれ
る酸の1種又は2種以上、(D)チオ尿素、(E)非イ
オン界面活性剤、(F)メルカプト基含有芳香族化合
物、ジオキシ芳香族化合物及び不飽和カルボン酸から選
ばれる添加剤の1種又は2種以上を含有する。
【0015】ここで、第1錫塩及び銀塩としては、後述
する酸に溶解し得るものであればよく、具体的には第1
錫塩としてメタンスルホン酸第1錫等の有機スルホン酸
第1錫、硫酸第1錫、塩化第1錫、グルコン酸第1錫、
クエン酸第1錫、乳酸第1錫などを用いることができ、
銀塩としてはメタンスルホン酸銀等のアルカンスルホン
酸銀、硫酸銀、塩化銀、グルコン酸銀、クエン酸銀、乳
酸銀などを用いることができる。
【0016】第1錫塩の含有量は、Sn2+として1〜9
9g/L、特に5〜36g/Lであることが好ましく、
また銀塩の含有量はAg+として1〜99g/L、特に
1〜20g/Lとすることが好ましい。この場合、Sn
2+とAg+との割合は適宜選定することができるが、S
2+:Ag+=99:1〜10:90、好ましくは9
9:1〜50:50、特に98:2〜60:40重量
比)とすることが好ましい。Ag+が上記割合より少な
すぎると析出するめっき皮膜中の銀の組成比率が少なく
なり、錫ウィスカー発生防止や半田濡れ性改善の効果が
減少するなどの不利が生じ易く、Ag+が上記割合より
多すぎると析出するめっき皮膜中の銀の組成比率が多く
なり、めっき皮膜の溶融温度が高くなりすぎたり、めっ
き皮膜の硬度が高くなりすぎて半田付けに適さないなど
の不利が生じ易い。
【0017】本発明のめっき浴に用いられる(C)成分
の酸は、硫酸,リン酸,ホスホン酸,ヒドロキシカルボ
ン酸,アルカンスルホン酸及びアルカノールスルホン酸
から選ばれる1種又は2種以上である。ここで、ヒドロ
キシカルボン酸としては、乳酸等のモノカルボン酸、グ
ルコン酸、酒石酸、リンゴ酸等のジカルボン酸、クエン
酸等のトリカルボン酸などを挙げることができる。アル
カンスルホン酸及びアルカノールスルホン酸としては未
置換のもの、置換のものが用いられる。未置換のアルカ
ンスルホン酸は、Cn2n+1SO3H(但し、nは1〜
5、好ましくは1又は2である)で示されるものが使用
できる。
【0018】未置換のアルカノールスルホン酸は、下記
式で示されるものが使用できる。
【0019】
【化1】 (但し、mは0〜2、kは1〜3である)
【0020】置換のアルカンスルホン酸、アルカノール
スルホン酸は、そのアルキル基の水素原子の一部がハロ
ゲン原子、アリール基、アルキルアリール基、カルボキ
シル基、スルホン酸基などで置換されたものが使用でき
る。
【0021】具体的には、メタンスルホン酸、エタンス
ルホン酸、イセチオン酸、プロパンスルホン酸、2−プ
ロパンスルホン酸、ブタンスルホン酸、2−ブタンスル
ホン酸、ペンタンスルホン酸、クロルプロパンスルホン
酸、2−ヒドロキシエタン−1−スルホン酸、2−ヒド
ロキシプロパンスルホン酸、2−ヒドロキシブタン−1
−スルホン酸、2−ヒドロキシペンタンスルホン酸、2
−スルホ酢酸、2−又は3−スルホプロピオン酸、スル
ホコハク酸などが例示され、これらの1種又は2種以上
を組み合わせて用いることができる。
【0022】上記酸の含有量は、50〜400g/L、
特に100〜200g/Lであることが好ましい。50
g/Lより少ないとめっき浴の安定性が悪くなり、沈澱
物が発生し易くなる傾向となり、400g/Lより多い
と効果のない過剰量となる傾向となる。
【0023】本発明のめっき浴に用いる(D)成分のチ
オ尿素は、錫や銀に対して錯化剤として働くものであ
る。
【0024】このチオ尿素の含有量は、10〜200g
/L、特に50〜100g/Lである。10g/Lより
少ないとその添加効果が十分に発揮し得ない場合があ
り、200g/Lより多いと析出するめっき皮膜の結晶
の微細化を阻害する場合がある。
【0025】本発明においては、(E)成分として非イ
オン界面活性剤を用いるが、非イオン界面活性剤として
は錫−銀合金電気めっき浴に用いられる公知のものを使
用することができるが、特にポリオキシエチレンアルキ
ルエーテル、ポリオキシエチレンアルキルフェニルエー
テル、ポリオキシエチレンアルキルアミノエーテル、ポ
リオキシエチレン脂肪酸エステル、ポリオキシエチレン
多価アルコールエーテル、エチレンオキサイドプロピレ
ンオキサイドブロックコポリマーなどを好適なものとし
て挙げることができる。
【0026】上記(E)成分の含有量は、0.01〜5
0g/L、特に4〜8g/Lとすることが好ましく、
0.01g/Lより少ないと高電流密度でヤケやコゲが
発生する場合が生じ、50g/Lより多いとめっき皮膜
が黒っぽくなったり、色ムラが発生する場合がある。
【0027】本発明のめっき浴には、更に(F)成分と
してメルカプト基含有芳香族化合物、ジオキシ芳香族化
合物及び不飽和カルボン酸から選ばれる添加剤の1種又
は2種以上を含有する。これらの添加剤は、めっき浴に
対して、被めっき品の端部や縁部あるいは全面に数ミク
ロン〜数ミリメートルオーダーの微小な針状、樹枝状、
ヒゲ状、粒状、粉状の析出物やヤケ、コゲなどの発生を
防止するという効果を与える。この場合、メルカプト基
含有芳香族化合物としては、2−メルカプト安息香酸、
メルカプトフェノール、2−メルカプトベンゾオキサゾ
ール、2−メルカプトベンゾチアゾールなどが挙げら
れ、含有量は0.01〜20g/L、特に0.01〜5
g/Lとすることが好適である。
【0028】ジオキシ芳香族化合物としては、ジオキシ
ベンゾフェノン、3,4−ジオキシフェニルアラニン、
レゾルシン、カテコール、ヒドロキノン、ジパリンなど
が挙げられ、含有量は0.001〜20g/L、特に
0.001〜4g/Lとすることが好適である。
【0029】不飽和カルボン酸としては、安息香酸、フ
マル酸、フタル酸、アクリル酸、シトラコン酸、メタク
リル酸などが挙げられ、含有量は0.01〜10g/
L、特に0.01〜2g/Lとすることが好適である。
【0030】上記添加剤の含有量は、上述した通りであ
るが、これが少なすぎるとめっき作業中に被めっき品の
端部や縁部あるいは全面に数ミクロン〜数ミリメートル
オーダーの微小な針状、樹枝状、ヒゲ状、粒状、粉状の
析出物などが発生し易い傾向となり、多すぎるとめっき
皮膜全体が黒っぽくなったり、色ムラが発生し易い傾向
となる。
【0031】本発明のめっき浴には、上記(A)〜
(F)成分に加え、必要によってはゼラチン、ペプトン
等を添加することができる。なお、本発明のめっき浴
は、上記成分よりなり、そのpHは通常1以下である
が、場合によってはpH1〜9、特にpH2〜7程度の
弱酸浴ないし弱アルカリ浴とすることができる。
【0032】本発明のめっき浴を用いて被めっき物に錫
−銀合金電気めっきを行う場合、被めっき品としては特
に制限はなく、電気めっき可能なものであればいずれの
ものであってもよいが、特に本発明浴はチップ部品、フ
ープ材、リードフリーム、半導体パッケージ、バンプ、
プリント基板などの半田付けを要求される電気・電子部
品に好適である。
【0033】めっき方法はラック法でもバレル法でもよ
く、またフープ、噴流などによる高速めっき法も有効に
採用され、めっき方法は制限されない。
【0034】陰極電流密度(Dk)はめっき方法などに
応じて0.1〜100A/dm2の範囲で適宜選定され
るが、通常のラック法の場合は0.5〜5A/dm2
特に1〜3A/dm2、バレル法の場合は0.1〜1A
/dm2、特に0.2〜0.5A/dm2であることが好
適である。
【0035】また、めっき温度は通常15〜35℃であ
り、一般的には室温でよい。めっき浴の撹拌は、無撹拌
でもよいが、カソードロッキング、ポンプによる液流
動、スターラーによる撹拌などの方法で撹拌を行うこと
が好ましい。
【0036】陽極としては、錫、銀、錫−銀合金といっ
た可溶性陽極を用いることができるほか、白金めっきチ
タン板、白金板、カーボン等の不溶性陽極を用いること
もできる。なお、陽極板として錫を用いた場合は銀塩
を、銀を用いた場合は第1錫塩を、不溶性陽極を用いた
場合は第1錫塩と銀塩とを適宜間隔で補給し、めっき浴
中のSn2+とAg+の割合を所定の割合に保つことが必
要である。
【0037】なお、本発明の錫−銀合金電気めっき浴の
陰極電流効率は通常70〜98%である。
【0038】本発明によればめっき浴中のSn2+とAg
+の割合を適宜選定し、上述した方法によってめっきを
行うことにより、錫99.9〜10重量%、銀0.1〜
90重量%の錫−銀合金めっき皮膜が得られ、得られた
めっき皮膜は緻密で良好な外観を有し、半田付け性が良
好なものである。
【0039】また、めっき作業に際し、銀の優先析出、
銀の陽極やめっき皮膜への置換析出もなく、更にプリン
ト基板にめっきするような場合に有機レジストフィルム
を浸食し、浮き上がらせることもないので、作業性もよ
く、めっき皮膜の密着性も良好なものである。
【0040】本発明の第2発明は、(i)第1錫塩と、
銀塩と、硫酸,リン酸,ホスホン酸,ヒドロキシカルボ
ン酸,アルカンスルホン酸及びアルカノールスルホン酸
から選ばれる酸の1種又は2種以上とを含有する錫−銀
合金電気めっき浴中に被めっき物を浸漬し、電気めっき
を行うに際し、陽極に銀金属を使用し、めっき浴からの
銀の析出に応じた銀イオンの補給を上記銀金属陽極の電
解溶出により行うと共に、めっき浴からの錫の析出に応
じた第1錫イオンの補給をめっき浴に第1錫塩又は酸化
第1錫を添加溶解することにより行うようにしたことを
特徴とする錫−銀合金電気めっき方法、(ii)第1錫
塩と、銀塩と、硫酸,リン酸,ホスホン酸,ヒドロキシ
カルボン酸,アルカンスルホン酸及びアルカノールスル
ホン酸から選ばれる酸の1種又は2種以上とを含有する
錫−銀合金電気めっき浴中に被めっき物を浸漬し、電気
めっきを行うに際し、被めっき物を給電しながら上記め
っき浴に浸漬すると共に、めっきが施された被めっき物
を給電しながら上記めっき浴より引き上げるようにした
ことを特徴とする錫−銀合金電気めっき方法、及び(i
ii)第1錫塩と、銀塩と、硫酸,リン酸,ホスホン
酸,ヒドロキシカルボン酸,アルカンスルホン酸及びア
ルカノールスルホン酸から選ばれる酸の1種又は2種以
上とを含有する錫−銀合金電気めっき浴中に被めっき物
を浸漬し、電気めっきを行うに際し、陽極に銀金属を使
用し、めっき浴からの銀の析出に応じた銀イオンの補給
を上記銀金属陽極の電解溶出により行うと共に、めっき
浴からの錫の析出に応じた第1錫イオンの補給をめっき
浴に第1錫塩又は酸化第1錫を添加溶解することにより
行い、かつ、被めっき物を給電しながら上記めっき浴に
浸漬すると共に、めっきが施された被めっき物を給電し
ながら上記めっき浴より引き上げるようにしたことを特
徴とする錫−銀合金電気めっき方法である。
【0041】この場合、(i)の方法と(ii)の方法
を併用した(iii)の方法が好適である。また、めっ
き浴としては、上記第1発明に係る(A)〜(F)を必
須成分とするめっき浴が有効に使用し得るが、上記
(A)、(B)、(C)成分を主体とし、好ましくは
(E)成分を添加した浴を用いることができる。なお、
めっき条件は上に述べた場合と同様である。
【0042】
【実施例】以下、実施例及び比較例を示し、本発明を具
体的に説明するが、本発明は下記の実施例に制限される
ものではない。
【0043】〔実施例1〕 メタンスルホン酸第1錫 23g/L(Sn2+9g/L) メタンスルホン酸銀 2g/L(Ag+1g/L) チオ尿素 100g/L グルコン酸 200g/L ポリオキシエチレンノニルフェニルエーテル 5g/L (EO付加モル数7) 2−メルカプト安息香酸 1g/L シトラコン酸 0.5g/L pH <1 陰極電流密度 0.5A/dm2 浴温度 25℃ 撹拌 バレル 陽極 錫(99.99wt%以上) めっき時間 120分間 銀の補給 メタンスルホン酸銀を直接めっき槽内のめっき液に補 給した。この場合、補給頻度は60分間に1回で、銀 として0.1g/L・回の補給とした。
【0044】〔実施例2〕 メタンスルホン酸第1錫 36g/L(Sn2+14g/L) 硫酸銀 9g/L(Ag+6g/L) メタンスルホン酸 200g/L DL−乳酸 200g/L チオ尿素 150g/L ポリオキシエチレン牛脂アミノエーテル 3g/L (EO付加モル数7) 2−メルカプトベンゾチアゾール 2g/L アクリル酸 0.5g/L pH <1 陰極電流密度 2A/dm2 浴温度 25℃ 撹拌 カソードロッカー 陽極 錫70wt%、銀30wt% めっき時間 10分間
【0045】〔実施例3〕 硫酸第1錫 33g/L(Sn2+18g/L) メタンスルホン酸銀 23g/L(Ag+12g/L) クエン酸 200g/L 硫酸アンモニウム 100g/L チオ尿素 150g/L ポリオキシエチレンラウリルエーテル 10g/L (EO付加モル数4) 2−メルカプトベンゾチアゾール 3g/L フマル酸 0.3g/L pH 7.0 陰極電流密度 3A/dm2 浴温度 25℃ 撹拌 カソードロッカー 陽極 銀(99.99wt%以上) めっき時間 10分間 錫の補給 硫酸第1錫を直接めっき槽内のめっき液に添加し、溶 解して補給した。補給頻度は10分間に1回で、錫と して0.1g/L・回の補給とした。
【0046】〔実施例4〕 硫酸第1錫 58g/L(Sn2+32g/L) 硫酸銀 15g/L(Ag+8g/L) 硫酸 200g/L チオ尿素 200g/L グルコン酸 200g/L エチレンオキサイドプロピレンオキサイド 7g/L ブロックコポリマー(総分子量2500、 EO/PO=60/40) ヒドロキノン 2g/L pH <1 陰極電流密度 5A/dm2 浴温度 25℃ 撹拌 噴流 陽極 白金 めっき時間 5分間 錫、銀の補給 硫酸第1錫、硫酸銀を直接めっき槽内のめっき液に添 加し、溶解して補給した。補給頻度は5分間に1回で 錫として0.8g/L・回、銀として0.2g/L・ 回の補給とした。
【0047】〔比較例1〕 メタンスルホン酸第1錫 18g/L(Sn2+9g/L) メタンスルホン酸銀 2g/L(Ag+1g/L) メタンスルホン酸 100g/L ポリオキシエチレンノニルフェニルエーテル 5g/L (EO付加モル数7) pH <1 陰極電流密度 0.5A/dm2 浴温度 25℃ 撹拌 バレル 陽極 錫(99.99wt%以上) めっき時間 120分間 銀の補給 メタンスルホン酸銀を直接めっき槽内のめっき液に補 給した。補給頻度は60分間に1回で、銀として0. 1g/L・回の補給とした。
【0048】〔比較例2〕 硫酸第1錫 33g/L(Sn2+18g/L) 硫酸銀 23g/L(Ag+12g/L) ヨウ化カリウム 200g/L ピロリン酸4カリウム 200g/L ポリオキシエチレンラウリルエーテル 10g/L (EO付加モル数4) pH 9.0 陰極電流密度 3A/dm2 浴温度 25℃ 撹拌 カソードロッカー 陽極 白金 めっき時間 10分間 錫、銀の補給 硫酸第1錫、硫酸銀を直接めっき槽内のめっき液に添 加し、溶解して補給した。補給頻度は5分間に1回で 錫として0.8g/L・回、銀として0.2g/L・ 回の補給とした。
【0049】上記めっき浴を用い、上記条件でめっきを
行った。この場合、実施例1及び比較例1はバレルめっ
き法により被めっき品としてチップ部品であるチップ抵
抗、チップコンデンサー、水晶発振子などを用いてめっ
きを行った。また、実施例2〜4及び比較例2はラック
法であり、被めっき品としてリードフレーム、半導体パ
ッケージ、バンプ、プリント基板などに対してめっきを
施した。
【0050】得られためっき皮膜について外観を調べた
結果、実施例1〜4はいずれも均一で半光沢の灰白色の
めっき皮膜であり、針状、樹枝状、ヒゲ状、粒状、粉状
等の析出物は発生せず、ヤケ、コゲなどのめっき外観不
良もなかった。また、めっき皮膜中の銀含有量はそれぞ
れ9wt%、27wt%、37wt%、19wt%であ
り、めっき浴中の合金組成に近かった。また、被めっき
品をプリント基板にしてめっきテストを行っても、変わ
りなく良好なめっき皮膜が得られ、プリント基板の有機
レジストフィルムに浮き、はがれなどの不良は発生せ
ず、めっき液の浸入は全くなかった。
【0051】比較例1では灰色で少しムラがあり、めっ
き皮膜中の銀含有量が35wt%となり、めっき浴中の
合金組成に比べて銀の析出量がかなり多かった。また、
錫の陽極上に銀が一面に置換析出していた。
【0052】比較例2では灰白色で少しムラがあった。
めっき皮膜中の銀含有量が36wt%となり、めっき浴
中の合金組成に近かったが、被めっき品をプリント基板
にしてめっきテストしたところ、プリント基板の有機レ
ジストフィルムが浮き、はがれ、めっき液がかなり浸入
していた。
【0053】〔実施例5〕 メタンスルホン酸第1錫 18g/L(Sn2+9g/L) メタンスルホン酸銀 2g/L(Ag+1g/L) メタンスルホン酸 100g/L ポリオキシエチレンノニルフェニルエーテル 5g/L (EO付加モル数7) pH <1 陰極電流密度 0.3A/dm2 浴温度 25℃ 撹拌 バレル 陽極 銀(99.99wt%以上) めっき時間 240分間 錫の補給 酸化第1錫を別槽で溶解して補給した。補給頻度は4 0分間毎に錫として0.3g/L・回の補給とした。
【0054】上記めっき法の採用により、めっき初期と
めっき240分後とでめっき液中の錫量と銀量に殆んど
変動がなく、また得られるめっき皮膜(錫−銀合金)の
外観及びめっき皮膜中の銀量も8〜10wt%でめっき
初期と240分後とで殆んど同じであり、安定してい
た。
【0055】なお、上記めっき法においては銀陽極を使
用したので、銀の置換析出は生じなかったが、陽極とし
て錫−銀(90/10)合金を使用し、錫の補給を行わ
なかった場合、めっき作業休止中にめっき液中の銀が錫
−銀合金陽極に置換析出し、その分、めっき液中の銀量
が減少し、また、錫量が増加したため、その後のめっき
では銀量が低く、錫量の多い錫−銀合金めっき皮膜とな
った。
【0056】〔実施例6〕 2−ヒドロキシプロパンスルホン酸第1錫 63g/L(Sn2+16g/L) 2−ヒドロキシプロパンスルホン酸銀 10g/L(Ag+4g/L) 2−ヒドロキシプロパンスルホン酸 200g/L ポリオキシエチレンノニルフェニルエーテル 8g/L (EO付加モル数7) pH <1 陰極電流密度 2A/dm2 浴温度 25℃ 撹拌 カソードロッカー 陽極 銀(99.99wt%以上) めっき時間 20分間 錫の補給 酸化第1錫を直接めっき槽内のめっき液に添加、溶解 して補給した。補給頻度は10分間毎に錫として0. 5g/L・回の補給とした。
【0057】上記めっき法の採用により、めっき初期と
めっき20分後とでめっき液中の錫量と銀量に殆んど変
動がなく、また得られるめっき皮膜(錫−銀合金)の外
観及びめっき皮膜中の銀量も18〜20wt%でめっき
初期と20分後とで殆んど同じであり、安定していた。
【0058】なお、上記めっき法においては銀陽極を使
用したので、銀の置換析出は生じなかったが、陽極とし
て錫−銀(80/20)合金を使用し、錫の補給を行わ
なかった場合、めっき作業休止中にめっき液中の銀が錫
−銀合金陽極に置換析出し、その分、めっき液中の銀量
が減少し、また、錫量が増加したため、その後のめっき
では銀量が低く、錫量の多い錫−銀合金めっき皮膜とな
った。
【0059】〔実施例7〕実施例5の液組成とめっき条
件において、被めっき品をめっき液に浸漬する際に給電
せずに浸漬すると、被めっき品にめっき液中で銀の置換
析出が生じ、このため、被めっき品とめっき皮膜との密
着が悪いものとなり、また、めっき後に被めっき品を引
き上げる際に給電しないとめっき皮膜表面に銀が置換析
出し、外観が黒っぽい粉末状になるものであった。
【0060】これに対し、被めっき品をめっき液に浸漬
する際及びめっき液から引き上げる際に給電することに
より、被めっき品やめっき皮膜に銀の置換析出はなく、
被めっき品とめっき皮膜との密着性は良好であり、ま
た、めっき皮膜の外観は良好であった。
【0061】〔実施例8〕実施例6の液組成とめっき条
件において、被めっき品をめっき液に浸漬する際に給電
せずに浸漬すると、被めっき品にめっき液中で銀の置換
析出が生じ、このため、被めっき品とめっき皮膜との密
着が悪いものとなり、また、めっき後に被めっき品を引
き上げる際に給電しないとめっき皮膜表面に銀が置換析
出し、外観が黒っぽい粉末状になるものであった。
【0062】これに対し、被めっき品をめっき液に浸漬
する際及びめっき液から引き上げる際に給電することに
より、被めっき品やめっき皮膜に銀の置換析出はなく、
被めっき品とめっき皮膜との密着性は良好であり、ま
た、めっき皮膜の外観は良好であった。
【0063】
【発明の効果】本発明の錫−銀合金電気めっき浴を用い
ることにより、銀の優先析出、銀の陽極やめっき皮膜へ
の置換析出なく、均一で外観の良好な錫−銀合金めっき
皮膜を得ることができる。

Claims (5)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 (A)第1錫塩、(B)銀塩、(C)硫
    酸,リン酸,ホスホン酸,ヒドロキシカルボン酸,アル
    カンスルホン酸及びアルカノールスルホン酸から選ばれ
    る酸の1種又は2種以上、(D)チオ尿素、(E)非イ
    オン界面活性剤、(F)メルカプト基含有芳香族化合
    物、ジオキシ芳香族化合物及び不飽和カルボン酸から選
    ばれる添加剤の1種又は2種以上を含有してなることを
    特徴とする錫−銀合金電気めっき浴。
  2. 【請求項2】 請求項1記載のめっき浴に被めっき物を
    浸漬して電気めっきすることを特徴とする錫−銀合金電
    気めっき方法。
  3. 【請求項3】 第1錫塩と、銀塩と、硫酸,リン酸,ホ
    スホン酸,ヒドロキシカルボン酸,アルカンスルホン酸
    及びアルカノールスルホン酸から選ばれる酸の1種又は
    2種以上とを含有する錫−銀合金電気めっき浴中に被め
    っき物を浸漬し、電気めっきを行うに際し、陽極に銀金
    属を使用し、めっき浴からの銀の析出に応じた銀イオン
    の補給を上記銀金属陽極の電解溶出により行うと共に、
    めっき浴からの錫の析出に応じた第1錫イオンの補給を
    めっき浴に第1錫塩又は酸化第1錫を添加溶解すること
    により行うようにしたことを特徴とする錫−銀合金電気
    めっき方法。
  4. 【請求項4】 第1錫塩と、銀塩と、硫酸,リン酸,ホ
    スホン酸,ヒドロキシカルボン酸,アルカンスルホン酸
    及びアルカノールスルホン酸から選ばれる酸の1種又は
    2種以上とを含有する錫−銀合金電気めっき浴中に被め
    っき物を浸漬し、電気めっきを行うに際し、被めっき物
    を給電しながら上記めっき浴に浸漬すると共に、めっき
    が施された被めっき物を給電しながら上記めっき浴より
    引き上げるようにしたことを特徴とする錫−銀合金電気
    めっき方法。
  5. 【請求項5】 第1錫塩と、銀塩と、硫酸,リン酸,ホ
    スホン酸,ヒドロキシカルボン酸,アルカンスルホン酸
    及びアルカノールスルホン酸から選ばれる酸の1種又は
    2種以上とを含有する錫−銀合金電気めっき浴中に被め
    っき物を浸漬し、電気めっきを行うに際し、陽極に銀金
    属を使用し、めっき浴からの銀の析出に応じた銀イオン
    の補給を上記銀金属陽極の電解溶出により行うと共に、
    めっき浴からの錫の析出に応じた第1錫イオンの補給を
    めっき浴に第1錫塩又は酸化第1錫を添加溶解すること
    により行い、かつ、被めっき物を給電しながら上記めっ
    き浴に浸漬すると共に、めっきが施された被めっき物を
    給電しながら上記めっき浴より引き上げるようにしたこ
    とを特徴とする錫−銀合金電気めっき方法。
JP33514997A 1996-11-25 1997-11-19 錫−銀合金電気めっき浴及び錫−銀合金電気めっき方法 Pending JPH10204676A (ja)

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Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2001164396A (ja) * 1999-09-27 2001-06-19 Ishihara Chem Co Ltd スズ−銅含有合金メッキ浴、スズ−銅含有合金メッキ方法及びスズ−銅含有合金メッキ皮膜が形成された物品
EP1162289A1 (en) * 2000-06-08 2001-12-12 Lucent Technologies Inc. Palladium electroplating bath and process for electroplating
JP2006144073A (ja) * 2004-11-19 2006-06-08 Ishihara Chem Co Ltd 鉛フリーのスズ−銀系合金又はスズ−銅系合金電気メッキ浴
JP2010133012A (ja) * 2008-10-21 2010-06-17 Rohm & Haas Electronic Materials Llc 電解質溶液中にスズおよびその合金形成金属を補給する方法
CN115605635A (zh) * 2020-06-05 2023-01-13 麦克德米德乐思公司(Us) 银/锡电镀浴及其使用方法

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