JPH10204676A - 錫−銀合金電気めっき浴及び錫−銀合金電気めっき方法 - Google Patents
錫−銀合金電気めっき浴及び錫−銀合金電気めっき方法Info
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- JPH10204676A JPH10204676A JP33514997A JP33514997A JPH10204676A JP H10204676 A JPH10204676 A JP H10204676A JP 33514997 A JP33514997 A JP 33514997A JP 33514997 A JP33514997 A JP 33514997A JP H10204676 A JPH10204676 A JP H10204676A
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Abstract
(57)【要約】
【解決手段】 (A)第1錫塩、(B)銀塩、(C)硫
酸,リン酸,ホスホン酸,ヒドロキシカルボン酸,アル
カンスルホン酸及びアルカノールスルホン酸から選ばれ
る酸の1種又は2種以上、(D)チオ尿素、(E)非イ
オン界面活性剤、(F)メルカプト基含有芳香族化合
物、ジオキシ芳香族化合物及び不飽和カルボン酸から選
ばれる添加剤の1種又は2種以上を含有してなることを
特徴とする錫−銀合金電気めっき浴。 【効果】 本発明の錫−銀合金電気めっき浴を用いるこ
とにより、銀の優先析出、銀の陽極やめっき皮膜への置
換析出なく、均一で外観の良好な錫−銀合金めっき皮膜
を得ることができる。
酸,リン酸,ホスホン酸,ヒドロキシカルボン酸,アル
カンスルホン酸及びアルカノールスルホン酸から選ばれ
る酸の1種又は2種以上、(D)チオ尿素、(E)非イ
オン界面活性剤、(F)メルカプト基含有芳香族化合
物、ジオキシ芳香族化合物及び不飽和カルボン酸から選
ばれる添加剤の1種又は2種以上を含有してなることを
特徴とする錫−銀合金電気めっき浴。 【効果】 本発明の錫−銀合金電気めっき浴を用いるこ
とにより、銀の優先析出、銀の陽極やめっき皮膜への置
換析出なく、均一で外観の良好な錫−銀合金めっき皮膜
を得ることができる。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、錫−鉛合金半田の
代替として用いられる錫−銀合金めっき皮膜を形成する
電気めっき浴及び錫−銀合金電気めっき方法に関する。
代替として用いられる錫−銀合金めっき皮膜を形成する
電気めっき浴及び錫−銀合金電気めっき方法に関する。
【0002】
【従来の技術及び発明が解決しようとする課題】従来、
電子部品、プリント基板などに半田付けを行うような場
合、錫めっきや錫−鉛合金めっきが行われることが主流
であった。しかし、錫めっきはウィスカー発生の問題が
あり、錫−鉛合金めっきは含有する鉛が近年環境汚染の
原因として問題化され、鉛抜きの錫合金半田材料が求め
られてきた。
電子部品、プリント基板などに半田付けを行うような場
合、錫めっきや錫−鉛合金めっきが行われることが主流
であった。しかし、錫めっきはウィスカー発生の問題が
あり、錫−鉛合金めっきは含有する鉛が近年環境汚染の
原因として問題化され、鉛抜きの錫合金半田材料が求め
られてきた。
【0003】従って、最近においては鉛使用規制の点か
ら、チップ部品、フープ材、リードフレーム、半導体パ
ッケージ、バンプ、プリント基板など、電子機器等を構
成する種々の部品の半田付けに、従来の錫−鉛合金半田
の代替として錫−銀合金を用いることが求められ、この
ため錫−銀合金めっき皮膜を形成する電気めっき浴の開
発が要望されている。
ら、チップ部品、フープ材、リードフレーム、半導体パ
ッケージ、バンプ、プリント基板など、電子機器等を構
成する種々の部品の半田付けに、従来の錫−鉛合金半田
の代替として錫−銀合金を用いることが求められ、この
ため錫−銀合金めっき皮膜を形成する電気めっき浴の開
発が要望されている。
【0004】従来、錫−銀合金電気めっき浴としては、
アルカンスルホン酸錫、アルカンスルホン酸銀、アルカ
ンスルホン酸に非イオン界面活性剤を添加した浴が知ら
れてる(特開平8−13185号公報)。
アルカンスルホン酸錫、アルカンスルホン酸銀、アルカ
ンスルホン酸に非イオン界面活性剤を添加した浴が知ら
れてる(特開平8−13185号公報)。
【0005】しかしながら、従来の錫−銀合金めっき浴
はめっき作業中に被めっき物の端部や縁部分或いは全面
に数ミクロン〜数ミリメートルの微小な針状、樹枝状、
ヒゲ状、粒状、粉状の析出物やヤケ、コゲなどが発生し
易く、めっき外観不良、膜厚・合金組成不良、隣接リー
ド間の短絡不良などの原因となる。
はめっき作業中に被めっき物の端部や縁部分或いは全面
に数ミクロン〜数ミリメートルの微小な針状、樹枝状、
ヒゲ状、粒状、粉状の析出物やヤケ、コゲなどが発生し
易く、めっき外観不良、膜厚・合金組成不良、隣接リー
ド間の短絡不良などの原因となる。
【0006】また、この種の単純浴は、錫に比べて銀が
優先的に析出し易い上、錫や錫−銀合金電極及び析出し
ためっき皮膜に銀の置換析出反応が起こり易いという問
題があり、めっき作業に困難が生じたり、めっき皮膜の
密着性が阻害され易い。
優先的に析出し易い上、錫や錫−銀合金電極及び析出し
ためっき皮膜に銀の置換析出反応が起こり易いという問
題があり、めっき作業に困難が生じたり、めっき皮膜の
密着性が阻害され易い。
【0007】また、上記のような強酸浴とは異なり、塩
化第1銀、ヨウ化銀、ヨウ化カリ、ピロリン酸カリから
なる中性ないし弱アルカリ性の錫−銀合金電気めっき浴
も発表されている(表面技術協会第93回講演大会要旨
集第195頁)が、このような浴をプリント基板のめっ
きに使用すると、有機レジストフィルムを浸食し、これ
を浮き上がらせるなどのトラブルを起こし易い。
化第1銀、ヨウ化銀、ヨウ化カリ、ピロリン酸カリから
なる中性ないし弱アルカリ性の錫−銀合金電気めっき浴
も発表されている(表面技術協会第93回講演大会要旨
集第195頁)が、このような浴をプリント基板のめっ
きに使用すると、有機レジストフィルムを浸食し、これ
を浮き上がらせるなどのトラブルを起こし易い。
【0008】本発明は上記事情を改善したもので、良好
な外観のめっき皮膜を与え、銀の優先析出、置換析出な
どの不都合もなく、またプリント基板へのめっきなどに
も好適に用いられる錫−銀合金電気めっき浴及びめっき
方法を提供することを目的とする。
な外観のめっき皮膜を与え、銀の優先析出、置換析出な
どの不都合もなく、またプリント基板へのめっきなどに
も好適に用いられる錫−銀合金電気めっき浴及びめっき
方法を提供することを目的とする。
【0009】
【課題を解決するための手段及び発明の実施の形態】本
発明者は、上記目的を達成するため鋭意検討を行った結
果、本発明を完成するに至ったもので、本発明は、
(A)第1錫塩、(B)銀塩、(C)硫酸,リン酸,ホ
スホン酸,ヒドロキシカルボン酸,アルカンスルホン酸
及びアルカノールスルホン酸から選ばれる酸の1種又は
2種以上、(D)チオ尿素、(E)非イオン界面活性
剤、(F)メルカプト基含有芳香族化合物、ジオキシ芳
香族化合物及び不飽和カルボン酸から選ばれる添加剤の
1種又は2種以上を含有してなることを特徴とする錫−
銀合金電気めっき浴、及びこの錫−銀合金電気めっき浴
に被めっき物を浸漬して電気めっきすることを特徴とす
る錫−銀合金電気めっき方法を提供する。
発明者は、上記目的を達成するため鋭意検討を行った結
果、本発明を完成するに至ったもので、本発明は、
(A)第1錫塩、(B)銀塩、(C)硫酸,リン酸,ホ
スホン酸,ヒドロキシカルボン酸,アルカンスルホン酸
及びアルカノールスルホン酸から選ばれる酸の1種又は
2種以上、(D)チオ尿素、(E)非イオン界面活性
剤、(F)メルカプト基含有芳香族化合物、ジオキシ芳
香族化合物及び不飽和カルボン酸から選ばれる添加剤の
1種又は2種以上を含有してなることを特徴とする錫−
銀合金電気めっき浴、及びこの錫−銀合金電気めっき浴
に被めっき物を浸漬して電気めっきすることを特徴とす
る錫−銀合金電気めっき方法を提供する。
【0010】本発明によれば、得られた錫−銀合金めっ
き皮膜は、針状、樹枝状、粉状、粒状の析出物、ヤケ、
コゲなどのない良好な外観を有する上、めっき皮膜の合
金組成として、錫イオン、銀イオン量を選定することに
より、錫99.9〜10重量%、銀0.1〜90重量%
のものを得ることができ、この場合、銀の優先析出、錫
や錫−銀合金陽極及びめっき皮膜への銀の置換析出も起
こらず、めっき皮膜の合金組成はほぼめっき浴中の錫イ
オン、銀イオンの割合に一致したものである。また、陰
極電流密度も0.1〜100A/dm2の広い範囲で選
択し得、ラック、バレル、ラックレス(フープ、噴流な
どの高速法)の各めっき方法を採用し得るものである。
き皮膜は、針状、樹枝状、粉状、粒状の析出物、ヤケ、
コゲなどのない良好な外観を有する上、めっき皮膜の合
金組成として、錫イオン、銀イオン量を選定することに
より、錫99.9〜10重量%、銀0.1〜90重量%
のものを得ることができ、この場合、銀の優先析出、錫
や錫−銀合金陽極及びめっき皮膜への銀の置換析出も起
こらず、めっき皮膜の合金組成はほぼめっき浴中の錫イ
オン、銀イオンの割合に一致したものである。また、陰
極電流密度も0.1〜100A/dm2の広い範囲で選
択し得、ラック、バレル、ラックレス(フープ、噴流な
どの高速法)の各めっき方法を採用し得るものである。
【0011】また、本発明は、第1錫塩と、銀塩と、硫
酸,リン酸,ホスホン酸,ヒドロキシカルボン酸,アル
カンスルホン酸及びアルカノールスルホン酸から選ばれ
る酸の1種又は2種以上とを含有する錫−銀合金電気め
っき浴中に被めっき物を浸漬し、電気めっきを行うに際
し、陽極に銀金属を使用し、めっき浴からの銀の析出に
応じた銀イオンの補給を上記銀金属陽極の電解溶出によ
り行うと共に、めっき浴からの錫の析出に応じた第1錫
イオンの補給をめっき浴に第1錫塩又は酸化第1錫を添
加溶解することにより行うようにしたことを特徴とする
錫−銀合金電気めっき方法を提供する。更に、第1錫塩
と、銀塩と、硫酸,リン酸,ホスホン酸,ヒドロキシカ
ルボン酸,アルカンスルホン酸及びアルカノールスルホ
ン酸から選ばれる酸の1種又は2種以上とを含有する錫
−銀合金電気めっき浴中に被めっき物を浸漬し、電気め
っきを行うに際し、被めっき物を給電しながら上記めっ
き浴に浸漬すると共に、めっきが施された被めっき物を
給電しながら上記めっき浴より引き上げるようにしたこ
とを特徴とする錫−銀合金電気めっき方法を提供する。
酸,リン酸,ホスホン酸,ヒドロキシカルボン酸,アル
カンスルホン酸及びアルカノールスルホン酸から選ばれ
る酸の1種又は2種以上とを含有する錫−銀合金電気め
っき浴中に被めっき物を浸漬し、電気めっきを行うに際
し、陽極に銀金属を使用し、めっき浴からの銀の析出に
応じた銀イオンの補給を上記銀金属陽極の電解溶出によ
り行うと共に、めっき浴からの錫の析出に応じた第1錫
イオンの補給をめっき浴に第1錫塩又は酸化第1錫を添
加溶解することにより行うようにしたことを特徴とする
錫−銀合金電気めっき方法を提供する。更に、第1錫塩
と、銀塩と、硫酸,リン酸,ホスホン酸,ヒドロキシカ
ルボン酸,アルカンスルホン酸及びアルカノールスルホ
ン酸から選ばれる酸の1種又は2種以上とを含有する錫
−銀合金電気めっき浴中に被めっき物を浸漬し、電気め
っきを行うに際し、被めっき物を給電しながら上記めっ
き浴に浸漬すると共に、めっきが施された被めっき物を
給電しながら上記めっき浴より引き上げるようにしたこ
とを特徴とする錫−銀合金電気めっき方法を提供する。
【0012】更に、第1錫塩と、銀塩と、硫酸,リン
酸,ホスホン酸,ヒドロキシカルボン酸,アルカンスル
ホン酸及びアルカノールスルホン酸から選ばれる酸の1
種又は2種以上とを含有する錫−銀合金電気めっき浴中
に被めっき物を浸漬し、電気めっきを行うに際し、陽極
に銀金属を使用し、めっき浴からの銀の析出に応じた銀
イオンの補給を上記銀金属陽極の電解溶出により行うと
共に、めっき浴からの錫の析出に応じた第1錫イオンの
補給をめっき浴に第1錫塩又は酸化第1錫を添加溶解す
ることにより行い、かつ、被めっき物を給電しながら上
記めっき浴に浸漬すると共に、めっきが施された被めっ
き物を給電しながら上記めっき浴より引き上げるように
したことを特徴とする錫−銀合金電気めっき方法を提供
する。
酸,ホスホン酸,ヒドロキシカルボン酸,アルカンスル
ホン酸及びアルカノールスルホン酸から選ばれる酸の1
種又は2種以上とを含有する錫−銀合金電気めっき浴中
に被めっき物を浸漬し、電気めっきを行うに際し、陽極
に銀金属を使用し、めっき浴からの銀の析出に応じた銀
イオンの補給を上記銀金属陽極の電解溶出により行うと
共に、めっき浴からの錫の析出に応じた第1錫イオンの
補給をめっき浴に第1錫塩又は酸化第1錫を添加溶解す
ることにより行い、かつ、被めっき物を給電しながら上
記めっき浴に浸漬すると共に、めっきが施された被めっ
き物を給電しながら上記めっき浴より引き上げるように
したことを特徴とする錫−銀合金電気めっき方法を提供
する。
【0013】上記のように陽極として銀を用い、Sn2+
を補給するようにすれば、めっき浴が上記(A)〜
(F)成分の全部を含まず、(A)、(B)、(C)成
分を主体とする単純浴であっても、陽極に対する銀の置
換析出はなく、めっき浴のAg+濃度の変動が少なくな
り、また、被めっき物をめっき浴に浸漬したりめっき浴
から引き上げる場合に給電することにより、被めっき物
或いは被めっき物に析出しためっき皮膜への銀の置換析
出がなく、めっき皮膜の密着不良もなくなるもので、上
記の方法でめっき作業の困難性がより確実に防止され
る。
を補給するようにすれば、めっき浴が上記(A)〜
(F)成分の全部を含まず、(A)、(B)、(C)成
分を主体とする単純浴であっても、陽極に対する銀の置
換析出はなく、めっき浴のAg+濃度の変動が少なくな
り、また、被めっき物をめっき浴に浸漬したりめっき浴
から引き上げる場合に給電することにより、被めっき物
或いは被めっき物に析出しためっき皮膜への銀の置換析
出がなく、めっき皮膜の密着不良もなくなるもので、上
記の方法でめっき作業の困難性がより確実に防止され
る。
【0014】以下、本発明につき更に詳しく説明する。
本発明の第1の発明に係る錫−銀合金めっき浴は、上述
したように、(A)第1錫塩、(B)銀塩、(C)硫
酸,リン酸,ホスホン酸,ヒドロキシカルボン酸,アル
カンスルホン酸及びアルカノールスルホン酸から選ばれ
る酸の1種又は2種以上、(D)チオ尿素、(E)非イ
オン界面活性剤、(F)メルカプト基含有芳香族化合
物、ジオキシ芳香族化合物及び不飽和カルボン酸から選
ばれる添加剤の1種又は2種以上を含有する。
本発明の第1の発明に係る錫−銀合金めっき浴は、上述
したように、(A)第1錫塩、(B)銀塩、(C)硫
酸,リン酸,ホスホン酸,ヒドロキシカルボン酸,アル
カンスルホン酸及びアルカノールスルホン酸から選ばれ
る酸の1種又は2種以上、(D)チオ尿素、(E)非イ
オン界面活性剤、(F)メルカプト基含有芳香族化合
物、ジオキシ芳香族化合物及び不飽和カルボン酸から選
ばれる添加剤の1種又は2種以上を含有する。
【0015】ここで、第1錫塩及び銀塩としては、後述
する酸に溶解し得るものであればよく、具体的には第1
錫塩としてメタンスルホン酸第1錫等の有機スルホン酸
第1錫、硫酸第1錫、塩化第1錫、グルコン酸第1錫、
クエン酸第1錫、乳酸第1錫などを用いることができ、
銀塩としてはメタンスルホン酸銀等のアルカンスルホン
酸銀、硫酸銀、塩化銀、グルコン酸銀、クエン酸銀、乳
酸銀などを用いることができる。
する酸に溶解し得るものであればよく、具体的には第1
錫塩としてメタンスルホン酸第1錫等の有機スルホン酸
第1錫、硫酸第1錫、塩化第1錫、グルコン酸第1錫、
クエン酸第1錫、乳酸第1錫などを用いることができ、
銀塩としてはメタンスルホン酸銀等のアルカンスルホン
酸銀、硫酸銀、塩化銀、グルコン酸銀、クエン酸銀、乳
酸銀などを用いることができる。
【0016】第1錫塩の含有量は、Sn2+として1〜9
9g/L、特に5〜36g/Lであることが好ましく、
また銀塩の含有量はAg+として1〜99g/L、特に
1〜20g/Lとすることが好ましい。この場合、Sn
2+とAg+との割合は適宜選定することができるが、S
n2+:Ag+=99:1〜10:90、好ましくは9
9:1〜50:50、特に98:2〜60:40重量
比)とすることが好ましい。Ag+が上記割合より少な
すぎると析出するめっき皮膜中の銀の組成比率が少なく
なり、錫ウィスカー発生防止や半田濡れ性改善の効果が
減少するなどの不利が生じ易く、Ag+が上記割合より
多すぎると析出するめっき皮膜中の銀の組成比率が多く
なり、めっき皮膜の溶融温度が高くなりすぎたり、めっ
き皮膜の硬度が高くなりすぎて半田付けに適さないなど
の不利が生じ易い。
9g/L、特に5〜36g/Lであることが好ましく、
また銀塩の含有量はAg+として1〜99g/L、特に
1〜20g/Lとすることが好ましい。この場合、Sn
2+とAg+との割合は適宜選定することができるが、S
n2+:Ag+=99:1〜10:90、好ましくは9
9:1〜50:50、特に98:2〜60:40重量
比)とすることが好ましい。Ag+が上記割合より少な
すぎると析出するめっき皮膜中の銀の組成比率が少なく
なり、錫ウィスカー発生防止や半田濡れ性改善の効果が
減少するなどの不利が生じ易く、Ag+が上記割合より
多すぎると析出するめっき皮膜中の銀の組成比率が多く
なり、めっき皮膜の溶融温度が高くなりすぎたり、めっ
き皮膜の硬度が高くなりすぎて半田付けに適さないなど
の不利が生じ易い。
【0017】本発明のめっき浴に用いられる(C)成分
の酸は、硫酸,リン酸,ホスホン酸,ヒドロキシカルボ
ン酸,アルカンスルホン酸及びアルカノールスルホン酸
から選ばれる1種又は2種以上である。ここで、ヒドロ
キシカルボン酸としては、乳酸等のモノカルボン酸、グ
ルコン酸、酒石酸、リンゴ酸等のジカルボン酸、クエン
酸等のトリカルボン酸などを挙げることができる。アル
カンスルホン酸及びアルカノールスルホン酸としては未
置換のもの、置換のものが用いられる。未置換のアルカ
ンスルホン酸は、CnH2n+1SO3H(但し、nは1〜
5、好ましくは1又は2である)で示されるものが使用
できる。
の酸は、硫酸,リン酸,ホスホン酸,ヒドロキシカルボ
ン酸,アルカンスルホン酸及びアルカノールスルホン酸
から選ばれる1種又は2種以上である。ここで、ヒドロ
キシカルボン酸としては、乳酸等のモノカルボン酸、グ
ルコン酸、酒石酸、リンゴ酸等のジカルボン酸、クエン
酸等のトリカルボン酸などを挙げることができる。アル
カンスルホン酸及びアルカノールスルホン酸としては未
置換のもの、置換のものが用いられる。未置換のアルカ
ンスルホン酸は、CnH2n+1SO3H(但し、nは1〜
5、好ましくは1又は2である)で示されるものが使用
できる。
【0018】未置換のアルカノールスルホン酸は、下記
式で示されるものが使用できる。
式で示されるものが使用できる。
【0019】
【化1】 (但し、mは0〜2、kは1〜3である)
【0020】置換のアルカンスルホン酸、アルカノール
スルホン酸は、そのアルキル基の水素原子の一部がハロ
ゲン原子、アリール基、アルキルアリール基、カルボキ
シル基、スルホン酸基などで置換されたものが使用でき
る。
スルホン酸は、そのアルキル基の水素原子の一部がハロ
ゲン原子、アリール基、アルキルアリール基、カルボキ
シル基、スルホン酸基などで置換されたものが使用でき
る。
【0021】具体的には、メタンスルホン酸、エタンス
ルホン酸、イセチオン酸、プロパンスルホン酸、2−プ
ロパンスルホン酸、ブタンスルホン酸、2−ブタンスル
ホン酸、ペンタンスルホン酸、クロルプロパンスルホン
酸、2−ヒドロキシエタン−1−スルホン酸、2−ヒド
ロキシプロパンスルホン酸、2−ヒドロキシブタン−1
−スルホン酸、2−ヒドロキシペンタンスルホン酸、2
−スルホ酢酸、2−又は3−スルホプロピオン酸、スル
ホコハク酸などが例示され、これらの1種又は2種以上
を組み合わせて用いることができる。
ルホン酸、イセチオン酸、プロパンスルホン酸、2−プ
ロパンスルホン酸、ブタンスルホン酸、2−ブタンスル
ホン酸、ペンタンスルホン酸、クロルプロパンスルホン
酸、2−ヒドロキシエタン−1−スルホン酸、2−ヒド
ロキシプロパンスルホン酸、2−ヒドロキシブタン−1
−スルホン酸、2−ヒドロキシペンタンスルホン酸、2
−スルホ酢酸、2−又は3−スルホプロピオン酸、スル
ホコハク酸などが例示され、これらの1種又は2種以上
を組み合わせて用いることができる。
【0022】上記酸の含有量は、50〜400g/L、
特に100〜200g/Lであることが好ましい。50
g/Lより少ないとめっき浴の安定性が悪くなり、沈澱
物が発生し易くなる傾向となり、400g/Lより多い
と効果のない過剰量となる傾向となる。
特に100〜200g/Lであることが好ましい。50
g/Lより少ないとめっき浴の安定性が悪くなり、沈澱
物が発生し易くなる傾向となり、400g/Lより多い
と効果のない過剰量となる傾向となる。
【0023】本発明のめっき浴に用いる(D)成分のチ
オ尿素は、錫や銀に対して錯化剤として働くものであ
る。
オ尿素は、錫や銀に対して錯化剤として働くものであ
る。
【0024】このチオ尿素の含有量は、10〜200g
/L、特に50〜100g/Lである。10g/Lより
少ないとその添加効果が十分に発揮し得ない場合があ
り、200g/Lより多いと析出するめっき皮膜の結晶
の微細化を阻害する場合がある。
/L、特に50〜100g/Lである。10g/Lより
少ないとその添加効果が十分に発揮し得ない場合があ
り、200g/Lより多いと析出するめっき皮膜の結晶
の微細化を阻害する場合がある。
【0025】本発明においては、(E)成分として非イ
オン界面活性剤を用いるが、非イオン界面活性剤として
は錫−銀合金電気めっき浴に用いられる公知のものを使
用することができるが、特にポリオキシエチレンアルキ
ルエーテル、ポリオキシエチレンアルキルフェニルエー
テル、ポリオキシエチレンアルキルアミノエーテル、ポ
リオキシエチレン脂肪酸エステル、ポリオキシエチレン
多価アルコールエーテル、エチレンオキサイドプロピレ
ンオキサイドブロックコポリマーなどを好適なものとし
て挙げることができる。
オン界面活性剤を用いるが、非イオン界面活性剤として
は錫−銀合金電気めっき浴に用いられる公知のものを使
用することができるが、特にポリオキシエチレンアルキ
ルエーテル、ポリオキシエチレンアルキルフェニルエー
テル、ポリオキシエチレンアルキルアミノエーテル、ポ
リオキシエチレン脂肪酸エステル、ポリオキシエチレン
多価アルコールエーテル、エチレンオキサイドプロピレ
ンオキサイドブロックコポリマーなどを好適なものとし
て挙げることができる。
【0026】上記(E)成分の含有量は、0.01〜5
0g/L、特に4〜8g/Lとすることが好ましく、
0.01g/Lより少ないと高電流密度でヤケやコゲが
発生する場合が生じ、50g/Lより多いとめっき皮膜
が黒っぽくなったり、色ムラが発生する場合がある。
0g/L、特に4〜8g/Lとすることが好ましく、
0.01g/Lより少ないと高電流密度でヤケやコゲが
発生する場合が生じ、50g/Lより多いとめっき皮膜
が黒っぽくなったり、色ムラが発生する場合がある。
【0027】本発明のめっき浴には、更に(F)成分と
してメルカプト基含有芳香族化合物、ジオキシ芳香族化
合物及び不飽和カルボン酸から選ばれる添加剤の1種又
は2種以上を含有する。これらの添加剤は、めっき浴に
対して、被めっき品の端部や縁部あるいは全面に数ミク
ロン〜数ミリメートルオーダーの微小な針状、樹枝状、
ヒゲ状、粒状、粉状の析出物やヤケ、コゲなどの発生を
防止するという効果を与える。この場合、メルカプト基
含有芳香族化合物としては、2−メルカプト安息香酸、
メルカプトフェノール、2−メルカプトベンゾオキサゾ
ール、2−メルカプトベンゾチアゾールなどが挙げら
れ、含有量は0.01〜20g/L、特に0.01〜5
g/Lとすることが好適である。
してメルカプト基含有芳香族化合物、ジオキシ芳香族化
合物及び不飽和カルボン酸から選ばれる添加剤の1種又
は2種以上を含有する。これらの添加剤は、めっき浴に
対して、被めっき品の端部や縁部あるいは全面に数ミク
ロン〜数ミリメートルオーダーの微小な針状、樹枝状、
ヒゲ状、粒状、粉状の析出物やヤケ、コゲなどの発生を
防止するという効果を与える。この場合、メルカプト基
含有芳香族化合物としては、2−メルカプト安息香酸、
メルカプトフェノール、2−メルカプトベンゾオキサゾ
ール、2−メルカプトベンゾチアゾールなどが挙げら
れ、含有量は0.01〜20g/L、特に0.01〜5
g/Lとすることが好適である。
【0028】ジオキシ芳香族化合物としては、ジオキシ
ベンゾフェノン、3,4−ジオキシフェニルアラニン、
レゾルシン、カテコール、ヒドロキノン、ジパリンなど
が挙げられ、含有量は0.001〜20g/L、特に
0.001〜4g/Lとすることが好適である。
ベンゾフェノン、3,4−ジオキシフェニルアラニン、
レゾルシン、カテコール、ヒドロキノン、ジパリンなど
が挙げられ、含有量は0.001〜20g/L、特に
0.001〜4g/Lとすることが好適である。
【0029】不飽和カルボン酸としては、安息香酸、フ
マル酸、フタル酸、アクリル酸、シトラコン酸、メタク
リル酸などが挙げられ、含有量は0.01〜10g/
L、特に0.01〜2g/Lとすることが好適である。
マル酸、フタル酸、アクリル酸、シトラコン酸、メタク
リル酸などが挙げられ、含有量は0.01〜10g/
L、特に0.01〜2g/Lとすることが好適である。
【0030】上記添加剤の含有量は、上述した通りであ
るが、これが少なすぎるとめっき作業中に被めっき品の
端部や縁部あるいは全面に数ミクロン〜数ミリメートル
オーダーの微小な針状、樹枝状、ヒゲ状、粒状、粉状の
析出物などが発生し易い傾向となり、多すぎるとめっき
皮膜全体が黒っぽくなったり、色ムラが発生し易い傾向
となる。
るが、これが少なすぎるとめっき作業中に被めっき品の
端部や縁部あるいは全面に数ミクロン〜数ミリメートル
オーダーの微小な針状、樹枝状、ヒゲ状、粒状、粉状の
析出物などが発生し易い傾向となり、多すぎるとめっき
皮膜全体が黒っぽくなったり、色ムラが発生し易い傾向
となる。
【0031】本発明のめっき浴には、上記(A)〜
(F)成分に加え、必要によってはゼラチン、ペプトン
等を添加することができる。なお、本発明のめっき浴
は、上記成分よりなり、そのpHは通常1以下である
が、場合によってはpH1〜9、特にpH2〜7程度の
弱酸浴ないし弱アルカリ浴とすることができる。
(F)成分に加え、必要によってはゼラチン、ペプトン
等を添加することができる。なお、本発明のめっき浴
は、上記成分よりなり、そのpHは通常1以下である
が、場合によってはpH1〜9、特にpH2〜7程度の
弱酸浴ないし弱アルカリ浴とすることができる。
【0032】本発明のめっき浴を用いて被めっき物に錫
−銀合金電気めっきを行う場合、被めっき品としては特
に制限はなく、電気めっき可能なものであればいずれの
ものであってもよいが、特に本発明浴はチップ部品、フ
ープ材、リードフリーム、半導体パッケージ、バンプ、
プリント基板などの半田付けを要求される電気・電子部
品に好適である。
−銀合金電気めっきを行う場合、被めっき品としては特
に制限はなく、電気めっき可能なものであればいずれの
ものであってもよいが、特に本発明浴はチップ部品、フ
ープ材、リードフリーム、半導体パッケージ、バンプ、
プリント基板などの半田付けを要求される電気・電子部
品に好適である。
【0033】めっき方法はラック法でもバレル法でもよ
く、またフープ、噴流などによる高速めっき法も有効に
採用され、めっき方法は制限されない。
く、またフープ、噴流などによる高速めっき法も有効に
採用され、めっき方法は制限されない。
【0034】陰極電流密度(Dk)はめっき方法などに
応じて0.1〜100A/dm2の範囲で適宜選定され
るが、通常のラック法の場合は0.5〜5A/dm2、
特に1〜3A/dm2、バレル法の場合は0.1〜1A
/dm2、特に0.2〜0.5A/dm2であることが好
適である。
応じて0.1〜100A/dm2の範囲で適宜選定され
るが、通常のラック法の場合は0.5〜5A/dm2、
特に1〜3A/dm2、バレル法の場合は0.1〜1A
/dm2、特に0.2〜0.5A/dm2であることが好
適である。
【0035】また、めっき温度は通常15〜35℃であ
り、一般的には室温でよい。めっき浴の撹拌は、無撹拌
でもよいが、カソードロッキング、ポンプによる液流
動、スターラーによる撹拌などの方法で撹拌を行うこと
が好ましい。
り、一般的には室温でよい。めっき浴の撹拌は、無撹拌
でもよいが、カソードロッキング、ポンプによる液流
動、スターラーによる撹拌などの方法で撹拌を行うこと
が好ましい。
【0036】陽極としては、錫、銀、錫−銀合金といっ
た可溶性陽極を用いることができるほか、白金めっきチ
タン板、白金板、カーボン等の不溶性陽極を用いること
もできる。なお、陽極板として錫を用いた場合は銀塩
を、銀を用いた場合は第1錫塩を、不溶性陽極を用いた
場合は第1錫塩と銀塩とを適宜間隔で補給し、めっき浴
中のSn2+とAg+の割合を所定の割合に保つことが必
要である。
た可溶性陽極を用いることができるほか、白金めっきチ
タン板、白金板、カーボン等の不溶性陽極を用いること
もできる。なお、陽極板として錫を用いた場合は銀塩
を、銀を用いた場合は第1錫塩を、不溶性陽極を用いた
場合は第1錫塩と銀塩とを適宜間隔で補給し、めっき浴
中のSn2+とAg+の割合を所定の割合に保つことが必
要である。
【0037】なお、本発明の錫−銀合金電気めっき浴の
陰極電流効率は通常70〜98%である。
陰極電流効率は通常70〜98%である。
【0038】本発明によればめっき浴中のSn2+とAg
+の割合を適宜選定し、上述した方法によってめっきを
行うことにより、錫99.9〜10重量%、銀0.1〜
90重量%の錫−銀合金めっき皮膜が得られ、得られた
めっき皮膜は緻密で良好な外観を有し、半田付け性が良
好なものである。
+の割合を適宜選定し、上述した方法によってめっきを
行うことにより、錫99.9〜10重量%、銀0.1〜
90重量%の錫−銀合金めっき皮膜が得られ、得られた
めっき皮膜は緻密で良好な外観を有し、半田付け性が良
好なものである。
【0039】また、めっき作業に際し、銀の優先析出、
銀の陽極やめっき皮膜への置換析出もなく、更にプリン
ト基板にめっきするような場合に有機レジストフィルム
を浸食し、浮き上がらせることもないので、作業性もよ
く、めっき皮膜の密着性も良好なものである。
銀の陽極やめっき皮膜への置換析出もなく、更にプリン
ト基板にめっきするような場合に有機レジストフィルム
を浸食し、浮き上がらせることもないので、作業性もよ
く、めっき皮膜の密着性も良好なものである。
【0040】本発明の第2発明は、(i)第1錫塩と、
銀塩と、硫酸,リン酸,ホスホン酸,ヒドロキシカルボ
ン酸,アルカンスルホン酸及びアルカノールスルホン酸
から選ばれる酸の1種又は2種以上とを含有する錫−銀
合金電気めっき浴中に被めっき物を浸漬し、電気めっき
を行うに際し、陽極に銀金属を使用し、めっき浴からの
銀の析出に応じた銀イオンの補給を上記銀金属陽極の電
解溶出により行うと共に、めっき浴からの錫の析出に応
じた第1錫イオンの補給をめっき浴に第1錫塩又は酸化
第1錫を添加溶解することにより行うようにしたことを
特徴とする錫−銀合金電気めっき方法、(ii)第1錫
塩と、銀塩と、硫酸,リン酸,ホスホン酸,ヒドロキシ
カルボン酸,アルカンスルホン酸及びアルカノールスル
ホン酸から選ばれる酸の1種又は2種以上とを含有する
錫−銀合金電気めっき浴中に被めっき物を浸漬し、電気
めっきを行うに際し、被めっき物を給電しながら上記め
っき浴に浸漬すると共に、めっきが施された被めっき物
を給電しながら上記めっき浴より引き上げるようにした
ことを特徴とする錫−銀合金電気めっき方法、及び(i
ii)第1錫塩と、銀塩と、硫酸,リン酸,ホスホン
酸,ヒドロキシカルボン酸,アルカンスルホン酸及びア
ルカノールスルホン酸から選ばれる酸の1種又は2種以
上とを含有する錫−銀合金電気めっき浴中に被めっき物
を浸漬し、電気めっきを行うに際し、陽極に銀金属を使
用し、めっき浴からの銀の析出に応じた銀イオンの補給
を上記銀金属陽極の電解溶出により行うと共に、めっき
浴からの錫の析出に応じた第1錫イオンの補給をめっき
浴に第1錫塩又は酸化第1錫を添加溶解することにより
行い、かつ、被めっき物を給電しながら上記めっき浴に
浸漬すると共に、めっきが施された被めっき物を給電し
ながら上記めっき浴より引き上げるようにしたことを特
徴とする錫−銀合金電気めっき方法である。
銀塩と、硫酸,リン酸,ホスホン酸,ヒドロキシカルボ
ン酸,アルカンスルホン酸及びアルカノールスルホン酸
から選ばれる酸の1種又は2種以上とを含有する錫−銀
合金電気めっき浴中に被めっき物を浸漬し、電気めっき
を行うに際し、陽極に銀金属を使用し、めっき浴からの
銀の析出に応じた銀イオンの補給を上記銀金属陽極の電
解溶出により行うと共に、めっき浴からの錫の析出に応
じた第1錫イオンの補給をめっき浴に第1錫塩又は酸化
第1錫を添加溶解することにより行うようにしたことを
特徴とする錫−銀合金電気めっき方法、(ii)第1錫
塩と、銀塩と、硫酸,リン酸,ホスホン酸,ヒドロキシ
カルボン酸,アルカンスルホン酸及びアルカノールスル
ホン酸から選ばれる酸の1種又は2種以上とを含有する
錫−銀合金電気めっき浴中に被めっき物を浸漬し、電気
めっきを行うに際し、被めっき物を給電しながら上記め
っき浴に浸漬すると共に、めっきが施された被めっき物
を給電しながら上記めっき浴より引き上げるようにした
ことを特徴とする錫−銀合金電気めっき方法、及び(i
ii)第1錫塩と、銀塩と、硫酸,リン酸,ホスホン
酸,ヒドロキシカルボン酸,アルカンスルホン酸及びア
ルカノールスルホン酸から選ばれる酸の1種又は2種以
上とを含有する錫−銀合金電気めっき浴中に被めっき物
を浸漬し、電気めっきを行うに際し、陽極に銀金属を使
用し、めっき浴からの銀の析出に応じた銀イオンの補給
を上記銀金属陽極の電解溶出により行うと共に、めっき
浴からの錫の析出に応じた第1錫イオンの補給をめっき
浴に第1錫塩又は酸化第1錫を添加溶解することにより
行い、かつ、被めっき物を給電しながら上記めっき浴に
浸漬すると共に、めっきが施された被めっき物を給電し
ながら上記めっき浴より引き上げるようにしたことを特
徴とする錫−銀合金電気めっき方法である。
【0041】この場合、(i)の方法と(ii)の方法
を併用した(iii)の方法が好適である。また、めっ
き浴としては、上記第1発明に係る(A)〜(F)を必
須成分とするめっき浴が有効に使用し得るが、上記
(A)、(B)、(C)成分を主体とし、好ましくは
(E)成分を添加した浴を用いることができる。なお、
めっき条件は上に述べた場合と同様である。
を併用した(iii)の方法が好適である。また、めっ
き浴としては、上記第1発明に係る(A)〜(F)を必
須成分とするめっき浴が有効に使用し得るが、上記
(A)、(B)、(C)成分を主体とし、好ましくは
(E)成分を添加した浴を用いることができる。なお、
めっき条件は上に述べた場合と同様である。
【0042】
【実施例】以下、実施例及び比較例を示し、本発明を具
体的に説明するが、本発明は下記の実施例に制限される
ものではない。
体的に説明するが、本発明は下記の実施例に制限される
ものではない。
【0043】〔実施例1〕 メタンスルホン酸第1錫 23g/L(Sn2+9g/L) メタンスルホン酸銀 2g/L(Ag+1g/L) チオ尿素 100g/L グルコン酸 200g/L ポリオキシエチレンノニルフェニルエーテル 5g/L (EO付加モル数7) 2−メルカプト安息香酸 1g/L シトラコン酸 0.5g/L pH <1 陰極電流密度 0.5A/dm2 浴温度 25℃ 撹拌 バレル 陽極 錫(99.99wt%以上) めっき時間 120分間 銀の補給 メタンスルホン酸銀を直接めっき槽内のめっき液に補 給した。この場合、補給頻度は60分間に1回で、銀 として0.1g/L・回の補給とした。
【0044】〔実施例2〕 メタンスルホン酸第1錫 36g/L(Sn2+14g/L) 硫酸銀 9g/L(Ag+6g/L) メタンスルホン酸 200g/L DL−乳酸 200g/L チオ尿素 150g/L ポリオキシエチレン牛脂アミノエーテル 3g/L (EO付加モル数7) 2−メルカプトベンゾチアゾール 2g/L アクリル酸 0.5g/L pH <1 陰極電流密度 2A/dm2 浴温度 25℃ 撹拌 カソードロッカー 陽極 錫70wt%、銀30wt% めっき時間 10分間
【0045】〔実施例3〕 硫酸第1錫 33g/L(Sn2+18g/L) メタンスルホン酸銀 23g/L(Ag+12g/L) クエン酸 200g/L 硫酸アンモニウム 100g/L チオ尿素 150g/L ポリオキシエチレンラウリルエーテル 10g/L (EO付加モル数4) 2−メルカプトベンゾチアゾール 3g/L フマル酸 0.3g/L pH 7.0 陰極電流密度 3A/dm2 浴温度 25℃ 撹拌 カソードロッカー 陽極 銀(99.99wt%以上) めっき時間 10分間 錫の補給 硫酸第1錫を直接めっき槽内のめっき液に添加し、溶 解して補給した。補給頻度は10分間に1回で、錫と して0.1g/L・回の補給とした。
【0046】〔実施例4〕 硫酸第1錫 58g/L(Sn2+32g/L) 硫酸銀 15g/L(Ag+8g/L) 硫酸 200g/L チオ尿素 200g/L グルコン酸 200g/L エチレンオキサイドプロピレンオキサイド 7g/L ブロックコポリマー(総分子量2500、 EO/PO=60/40) ヒドロキノン 2g/L pH <1 陰極電流密度 5A/dm2 浴温度 25℃ 撹拌 噴流 陽極 白金 めっき時間 5分間 錫、銀の補給 硫酸第1錫、硫酸銀を直接めっき槽内のめっき液に添 加し、溶解して補給した。補給頻度は5分間に1回で 錫として0.8g/L・回、銀として0.2g/L・ 回の補給とした。
【0047】〔比較例1〕 メタンスルホン酸第1錫 18g/L(Sn2+9g/L) メタンスルホン酸銀 2g/L(Ag+1g/L) メタンスルホン酸 100g/L ポリオキシエチレンノニルフェニルエーテル 5g/L (EO付加モル数7) pH <1 陰極電流密度 0.5A/dm2 浴温度 25℃ 撹拌 バレル 陽極 錫(99.99wt%以上) めっき時間 120分間 銀の補給 メタンスルホン酸銀を直接めっき槽内のめっき液に補 給した。補給頻度は60分間に1回で、銀として0. 1g/L・回の補給とした。
【0048】〔比較例2〕 硫酸第1錫 33g/L(Sn2+18g/L) 硫酸銀 23g/L(Ag+12g/L) ヨウ化カリウム 200g/L ピロリン酸4カリウム 200g/L ポリオキシエチレンラウリルエーテル 10g/L (EO付加モル数4) pH 9.0 陰極電流密度 3A/dm2 浴温度 25℃ 撹拌 カソードロッカー 陽極 白金 めっき時間 10分間 錫、銀の補給 硫酸第1錫、硫酸銀を直接めっき槽内のめっき液に添 加し、溶解して補給した。補給頻度は5分間に1回で 錫として0.8g/L・回、銀として0.2g/L・ 回の補給とした。
【0049】上記めっき浴を用い、上記条件でめっきを
行った。この場合、実施例1及び比較例1はバレルめっ
き法により被めっき品としてチップ部品であるチップ抵
抗、チップコンデンサー、水晶発振子などを用いてめっ
きを行った。また、実施例2〜4及び比較例2はラック
法であり、被めっき品としてリードフレーム、半導体パ
ッケージ、バンプ、プリント基板などに対してめっきを
施した。
行った。この場合、実施例1及び比較例1はバレルめっ
き法により被めっき品としてチップ部品であるチップ抵
抗、チップコンデンサー、水晶発振子などを用いてめっ
きを行った。また、実施例2〜4及び比較例2はラック
法であり、被めっき品としてリードフレーム、半導体パ
ッケージ、バンプ、プリント基板などに対してめっきを
施した。
【0050】得られためっき皮膜について外観を調べた
結果、実施例1〜4はいずれも均一で半光沢の灰白色の
めっき皮膜であり、針状、樹枝状、ヒゲ状、粒状、粉状
等の析出物は発生せず、ヤケ、コゲなどのめっき外観不
良もなかった。また、めっき皮膜中の銀含有量はそれぞ
れ9wt%、27wt%、37wt%、19wt%であ
り、めっき浴中の合金組成に近かった。また、被めっき
品をプリント基板にしてめっきテストを行っても、変わ
りなく良好なめっき皮膜が得られ、プリント基板の有機
レジストフィルムに浮き、はがれなどの不良は発生せ
ず、めっき液の浸入は全くなかった。
結果、実施例1〜4はいずれも均一で半光沢の灰白色の
めっき皮膜であり、針状、樹枝状、ヒゲ状、粒状、粉状
等の析出物は発生せず、ヤケ、コゲなどのめっき外観不
良もなかった。また、めっき皮膜中の銀含有量はそれぞ
れ9wt%、27wt%、37wt%、19wt%であ
り、めっき浴中の合金組成に近かった。また、被めっき
品をプリント基板にしてめっきテストを行っても、変わ
りなく良好なめっき皮膜が得られ、プリント基板の有機
レジストフィルムに浮き、はがれなどの不良は発生せ
ず、めっき液の浸入は全くなかった。
【0051】比較例1では灰色で少しムラがあり、めっ
き皮膜中の銀含有量が35wt%となり、めっき浴中の
合金組成に比べて銀の析出量がかなり多かった。また、
錫の陽極上に銀が一面に置換析出していた。
き皮膜中の銀含有量が35wt%となり、めっき浴中の
合金組成に比べて銀の析出量がかなり多かった。また、
錫の陽極上に銀が一面に置換析出していた。
【0052】比較例2では灰白色で少しムラがあった。
めっき皮膜中の銀含有量が36wt%となり、めっき浴
中の合金組成に近かったが、被めっき品をプリント基板
にしてめっきテストしたところ、プリント基板の有機レ
ジストフィルムが浮き、はがれ、めっき液がかなり浸入
していた。
めっき皮膜中の銀含有量が36wt%となり、めっき浴
中の合金組成に近かったが、被めっき品をプリント基板
にしてめっきテストしたところ、プリント基板の有機レ
ジストフィルムが浮き、はがれ、めっき液がかなり浸入
していた。
【0053】〔実施例5〕 メタンスルホン酸第1錫 18g/L(Sn2+9g/L) メタンスルホン酸銀 2g/L(Ag+1g/L) メタンスルホン酸 100g/L ポリオキシエチレンノニルフェニルエーテル 5g/L (EO付加モル数7) pH <1 陰極電流密度 0.3A/dm2 浴温度 25℃ 撹拌 バレル 陽極 銀(99.99wt%以上) めっき時間 240分間 錫の補給 酸化第1錫を別槽で溶解して補給した。補給頻度は4 0分間毎に錫として0.3g/L・回の補給とした。
【0054】上記めっき法の採用により、めっき初期と
めっき240分後とでめっき液中の錫量と銀量に殆んど
変動がなく、また得られるめっき皮膜(錫−銀合金)の
外観及びめっき皮膜中の銀量も8〜10wt%でめっき
初期と240分後とで殆んど同じであり、安定してい
た。
めっき240分後とでめっき液中の錫量と銀量に殆んど
変動がなく、また得られるめっき皮膜(錫−銀合金)の
外観及びめっき皮膜中の銀量も8〜10wt%でめっき
初期と240分後とで殆んど同じであり、安定してい
た。
【0055】なお、上記めっき法においては銀陽極を使
用したので、銀の置換析出は生じなかったが、陽極とし
て錫−銀(90/10)合金を使用し、錫の補給を行わ
なかった場合、めっき作業休止中にめっき液中の銀が錫
−銀合金陽極に置換析出し、その分、めっき液中の銀量
が減少し、また、錫量が増加したため、その後のめっき
では銀量が低く、錫量の多い錫−銀合金めっき皮膜とな
った。
用したので、銀の置換析出は生じなかったが、陽極とし
て錫−銀(90/10)合金を使用し、錫の補給を行わ
なかった場合、めっき作業休止中にめっき液中の銀が錫
−銀合金陽極に置換析出し、その分、めっき液中の銀量
が減少し、また、錫量が増加したため、その後のめっき
では銀量が低く、錫量の多い錫−銀合金めっき皮膜とな
った。
【0056】〔実施例6〕 2−ヒドロキシプロパンスルホン酸第1錫 63g/L(Sn2+16g/L) 2−ヒドロキシプロパンスルホン酸銀 10g/L(Ag+4g/L) 2−ヒドロキシプロパンスルホン酸 200g/L ポリオキシエチレンノニルフェニルエーテル 8g/L (EO付加モル数7) pH <1 陰極電流密度 2A/dm2 浴温度 25℃ 撹拌 カソードロッカー 陽極 銀(99.99wt%以上) めっき時間 20分間 錫の補給 酸化第1錫を直接めっき槽内のめっき液に添加、溶解 して補給した。補給頻度は10分間毎に錫として0. 5g/L・回の補給とした。
【0057】上記めっき法の採用により、めっき初期と
めっき20分後とでめっき液中の錫量と銀量に殆んど変
動がなく、また得られるめっき皮膜(錫−銀合金)の外
観及びめっき皮膜中の銀量も18〜20wt%でめっき
初期と20分後とで殆んど同じであり、安定していた。
めっき20分後とでめっき液中の錫量と銀量に殆んど変
動がなく、また得られるめっき皮膜(錫−銀合金)の外
観及びめっき皮膜中の銀量も18〜20wt%でめっき
初期と20分後とで殆んど同じであり、安定していた。
【0058】なお、上記めっき法においては銀陽極を使
用したので、銀の置換析出は生じなかったが、陽極とし
て錫−銀(80/20)合金を使用し、錫の補給を行わ
なかった場合、めっき作業休止中にめっき液中の銀が錫
−銀合金陽極に置換析出し、その分、めっき液中の銀量
が減少し、また、錫量が増加したため、その後のめっき
では銀量が低く、錫量の多い錫−銀合金めっき皮膜とな
った。
用したので、銀の置換析出は生じなかったが、陽極とし
て錫−銀(80/20)合金を使用し、錫の補給を行わ
なかった場合、めっき作業休止中にめっき液中の銀が錫
−銀合金陽極に置換析出し、その分、めっき液中の銀量
が減少し、また、錫量が増加したため、その後のめっき
では銀量が低く、錫量の多い錫−銀合金めっき皮膜とな
った。
【0059】〔実施例7〕実施例5の液組成とめっき条
件において、被めっき品をめっき液に浸漬する際に給電
せずに浸漬すると、被めっき品にめっき液中で銀の置換
析出が生じ、このため、被めっき品とめっき皮膜との密
着が悪いものとなり、また、めっき後に被めっき品を引
き上げる際に給電しないとめっき皮膜表面に銀が置換析
出し、外観が黒っぽい粉末状になるものであった。
件において、被めっき品をめっき液に浸漬する際に給電
せずに浸漬すると、被めっき品にめっき液中で銀の置換
析出が生じ、このため、被めっき品とめっき皮膜との密
着が悪いものとなり、また、めっき後に被めっき品を引
き上げる際に給電しないとめっき皮膜表面に銀が置換析
出し、外観が黒っぽい粉末状になるものであった。
【0060】これに対し、被めっき品をめっき液に浸漬
する際及びめっき液から引き上げる際に給電することに
より、被めっき品やめっき皮膜に銀の置換析出はなく、
被めっき品とめっき皮膜との密着性は良好であり、ま
た、めっき皮膜の外観は良好であった。
する際及びめっき液から引き上げる際に給電することに
より、被めっき品やめっき皮膜に銀の置換析出はなく、
被めっき品とめっき皮膜との密着性は良好であり、ま
た、めっき皮膜の外観は良好であった。
【0061】〔実施例8〕実施例6の液組成とめっき条
件において、被めっき品をめっき液に浸漬する際に給電
せずに浸漬すると、被めっき品にめっき液中で銀の置換
析出が生じ、このため、被めっき品とめっき皮膜との密
着が悪いものとなり、また、めっき後に被めっき品を引
き上げる際に給電しないとめっき皮膜表面に銀が置換析
出し、外観が黒っぽい粉末状になるものであった。
件において、被めっき品をめっき液に浸漬する際に給電
せずに浸漬すると、被めっき品にめっき液中で銀の置換
析出が生じ、このため、被めっき品とめっき皮膜との密
着が悪いものとなり、また、めっき後に被めっき品を引
き上げる際に給電しないとめっき皮膜表面に銀が置換析
出し、外観が黒っぽい粉末状になるものであった。
【0062】これに対し、被めっき品をめっき液に浸漬
する際及びめっき液から引き上げる際に給電することに
より、被めっき品やめっき皮膜に銀の置換析出はなく、
被めっき品とめっき皮膜との密着性は良好であり、ま
た、めっき皮膜の外観は良好であった。
する際及びめっき液から引き上げる際に給電することに
より、被めっき品やめっき皮膜に銀の置換析出はなく、
被めっき品とめっき皮膜との密着性は良好であり、ま
た、めっき皮膜の外観は良好であった。
【0063】
【発明の効果】本発明の錫−銀合金電気めっき浴を用い
ることにより、銀の優先析出、銀の陽極やめっき皮膜へ
の置換析出なく、均一で外観の良好な錫−銀合金めっき
皮膜を得ることができる。
ることにより、銀の優先析出、銀の陽極やめっき皮膜へ
の置換析出なく、均一で外観の良好な錫−銀合金めっき
皮膜を得ることができる。
Claims (5)
- 【請求項1】 (A)第1錫塩、(B)銀塩、(C)硫
酸,リン酸,ホスホン酸,ヒドロキシカルボン酸,アル
カンスルホン酸及びアルカノールスルホン酸から選ばれ
る酸の1種又は2種以上、(D)チオ尿素、(E)非イ
オン界面活性剤、(F)メルカプト基含有芳香族化合
物、ジオキシ芳香族化合物及び不飽和カルボン酸から選
ばれる添加剤の1種又は2種以上を含有してなることを
特徴とする錫−銀合金電気めっき浴。 - 【請求項2】 請求項1記載のめっき浴に被めっき物を
浸漬して電気めっきすることを特徴とする錫−銀合金電
気めっき方法。 - 【請求項3】 第1錫塩と、銀塩と、硫酸,リン酸,ホ
スホン酸,ヒドロキシカルボン酸,アルカンスルホン酸
及びアルカノールスルホン酸から選ばれる酸の1種又は
2種以上とを含有する錫−銀合金電気めっき浴中に被め
っき物を浸漬し、電気めっきを行うに際し、陽極に銀金
属を使用し、めっき浴からの銀の析出に応じた銀イオン
の補給を上記銀金属陽極の電解溶出により行うと共に、
めっき浴からの錫の析出に応じた第1錫イオンの補給を
めっき浴に第1錫塩又は酸化第1錫を添加溶解すること
により行うようにしたことを特徴とする錫−銀合金電気
めっき方法。 - 【請求項4】 第1錫塩と、銀塩と、硫酸,リン酸,ホ
スホン酸,ヒドロキシカルボン酸,アルカンスルホン酸
及びアルカノールスルホン酸から選ばれる酸の1種又は
2種以上とを含有する錫−銀合金電気めっき浴中に被め
っき物を浸漬し、電気めっきを行うに際し、被めっき物
を給電しながら上記めっき浴に浸漬すると共に、めっき
が施された被めっき物を給電しながら上記めっき浴より
引き上げるようにしたことを特徴とする錫−銀合金電気
めっき方法。 - 【請求項5】 第1錫塩と、銀塩と、硫酸,リン酸,ホ
スホン酸,ヒドロキシカルボン酸,アルカンスルホン酸
及びアルカノールスルホン酸から選ばれる酸の1種又は
2種以上とを含有する錫−銀合金電気めっき浴中に被め
っき物を浸漬し、電気めっきを行うに際し、陽極に銀金
属を使用し、めっき浴からの銀の析出に応じた銀イオン
の補給を上記銀金属陽極の電解溶出により行うと共に、
めっき浴からの錫の析出に応じた第1錫イオンの補給を
めっき浴に第1錫塩又は酸化第1錫を添加溶解すること
により行い、かつ、被めっき物を給電しながら上記めっ
き浴に浸漬すると共に、めっきが施された被めっき物を
給電しながら上記めっき浴より引き上げるようにしたこ
とを特徴とする錫−銀合金電気めっき方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP33514997A JPH10204676A (ja) | 1996-11-25 | 1997-11-19 | 錫−銀合金電気めっき浴及び錫−銀合金電気めっき方法 |
Applications Claiming Priority (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8-329229 | 1996-11-25 | ||
| JP32922996 | 1996-11-25 | ||
| JP33514997A JPH10204676A (ja) | 1996-11-25 | 1997-11-19 | 錫−銀合金電気めっき浴及び錫−銀合金電気めっき方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH10204676A true JPH10204676A (ja) | 1998-08-04 |
Family
ID=26573123
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP33514997A Pending JPH10204676A (ja) | 1996-11-25 | 1997-11-19 | 錫−銀合金電気めっき浴及び錫−銀合金電気めっき方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH10204676A (ja) |
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2001164396A (ja) * | 1999-09-27 | 2001-06-19 | Ishihara Chem Co Ltd | スズ−銅含有合金メッキ浴、スズ−銅含有合金メッキ方法及びスズ−銅含有合金メッキ皮膜が形成された物品 |
| EP1162289A1 (en) * | 2000-06-08 | 2001-12-12 | Lucent Technologies Inc. | Palladium electroplating bath and process for electroplating |
| JP2006144073A (ja) * | 2004-11-19 | 2006-06-08 | Ishihara Chem Co Ltd | 鉛フリーのスズ−銀系合金又はスズ−銅系合金電気メッキ浴 |
| JP2010133012A (ja) * | 2008-10-21 | 2010-06-17 | Rohm & Haas Electronic Materials Llc | 電解質溶液中にスズおよびその合金形成金属を補給する方法 |
| CN115605635A (zh) * | 2020-06-05 | 2023-01-13 | 麦克德米德乐思公司(Us) | 银/锡电镀浴及其使用方法 |
-
1997
- 1997-11-19 JP JP33514997A patent/JPH10204676A/ja active Pending
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2001164396A (ja) * | 1999-09-27 | 2001-06-19 | Ishihara Chem Co Ltd | スズ−銅含有合金メッキ浴、スズ−銅含有合金メッキ方法及びスズ−銅含有合金メッキ皮膜が形成された物品 |
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| JP2002060989A (ja) * | 2000-06-08 | 2002-02-28 | Lucent Technol Inc | パラジウム電気メッキ浴および電気メッキ方法 |
| JP2006144073A (ja) * | 2004-11-19 | 2006-06-08 | Ishihara Chem Co Ltd | 鉛フリーのスズ−銀系合金又はスズ−銅系合金電気メッキ浴 |
| JP2010133012A (ja) * | 2008-10-21 | 2010-06-17 | Rohm & Haas Electronic Materials Llc | 電解質溶液中にスズおよびその合金形成金属を補給する方法 |
| CN115605635A (zh) * | 2020-06-05 | 2023-01-13 | 麦克德米德乐思公司(Us) | 银/锡电镀浴及其使用方法 |
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