JPH10208692A - イオントラップ質量分析装置 - Google Patents
イオントラップ質量分析装置Info
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- JPH10208692A JPH10208692A JP9013534A JP1353497A JPH10208692A JP H10208692 A JPH10208692 A JP H10208692A JP 9013534 A JP9013534 A JP 9013534A JP 1353497 A JP1353497 A JP 1353497A JP H10208692 A JPH10208692 A JP H10208692A
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Abstract
対称性を与えることなくイオンの検出感度およびイオン
トラップ質量分析装置の感度を向上させる。 【解決手段】 イオントラップ質量分析装置1におい
て、少なくとも一方のエンドキャップ電極3,4のリン
グ電極2と反対側に補助電極11,12を設け、この補
助電極にエンドキャップ電極との間で電圧を印加する。
イオンは、イオントラップ電極の内部に形成されるリン
グ電極によるトラッピング電界とエンドキャップ電極に
よる補助高周波電界によってトラップされる。このと
き、補助電極にエンドキャップ電極との間で直流または
高周波電圧を印加すると、エンドキャップ電極に設けた
貫通孔を通してイオントラップ電極の内部に、トラッピ
ング電界や補助高周波電界と異なる電界が形成される。
この電界はイオンの外部への取り出しを促進させて検出
器の検出量を増加させ、検出感度を向上させる。
Description
し、特にイオントラップ電極を備えた質量分析装置に関
する。
サンプル中の分子を質量毎に選択し分離する装置であ
り、サンプル中の分子は種々の手段によって、解離ある
いは結合した状態でイオン化し、このイオン化した分子
を質量対電荷比に従って磁界,電界あるいはその両者に
よって運動させることによって分離を行っている。例え
ば、四重極質量分析装置では、特定形状の電極に高周波
電圧と直流電圧とを重畳した電圧を印加して形成した高
周波電場および直流電場内にイオンを電極の軸方向に入
射し、イオンと電場の相互作用によってイオンを選択的
に分離している。
置はイオンに対して3方向に作用して、選択されたイオ
ンを電極内部にトラップして閉じ込めておくことができ
る装置であり、通常、高周波電場によってイオンを電極
内部に閉じ込め、高周波電圧の変化や補助高周波電界の
印加によってイオンを検出器に向け放出させている。ま
た、電極内部において、閉じ込めた親イオンを衝突させ
て分離し、放出された娘イオンの質量スペクトルを検出
することも行なわれる。
極の概略図である。図6において、イオントラップ電極
21は、回転双曲面を持つリング電極22と第1,2エ
ンドキャップ電極23,24を備え、該電極22〜24
に交流電圧および直流電圧を印加してイオンを捕捉す
る。交流電圧の周波数は、ラジオ波(RF)領域が使用
される。直流電圧Uと交流電圧Vcos ωtを電極に与え
ると、質量m,電荷eを持つ荷電粒子は(m/e,r0
,U,V,ω)について一定の条件の下で安定に電極
内にトラップされる。なお、r0 はリング電極22の最
小半径である。従って、r0 とωが与えられるとき、m
/eのイオン種が安定にトラップされるためには、Uと
Vの大きさに制限が加わることになる。図7はトラップ
可能電圧条件を表す図であり、m/eが78,51,3
9,26について示し、斜線部分はm/eが51の場合
の安定にトラップされる領域を示している。
た交流電場の角周波数ωで振動するとともに、rおよび
z方向に対してωよりも遅い周期で調和振動し、電極の
セルの中心付近をゆっくりと∞型に振動しながらωの周
期で小振幅の振動をする。
いた従来のイオントラップ質量分析装置を説明するため
の図である。図8において、イオントラップ電極21
は、回転双曲面を持つリング電極22と、該リング電極
22の開放端に設けられた第1,2エンドキャップ電極
23,24を備え、リング電極22には主RF電源25
が接続され、また第1,2エンドキャップ電極23,2
4にはトランス28を介して補助RF電源26が接続さ
れ、両電源は制御回路27によって制御されている。
中央部分には貫通孔が形成される。第1エンドキャップ
電極23側の貫通孔は、図示しない試料イオン化室で発
生したイオンやイオン化用電子ビームのイオントラップ
電極内への導入に使用し、また、第2エンドキャップ電
極24側の貫通孔は、外側に設けた二次電子倍増管等の
検出器29へのイオンの取り出しに使用する。測定装置
39は、検出器29の検出信号を用いて質量スペクトル
を求める。
質量分析装置では、イオンの検出感度が低いという問題
点がある。従来のイオントラップ質量分析装置に用いる
イオントラップ電極では、電極内部のイオンは両側のエ
ンドキャップ電極に形成された貫通孔から外部に放出さ
れるが、イオン検出器は2つのエンドキャップ電極の一
方の側にのみ設置する構成であるため、他方の貫通孔か
ら放出されるイオンはイオン検出に寄与せず、放出され
るイオンの検出が有効に行なわれていない。
めに、リング電極やエンドキャップ電極を特殊な形状と
したり、両エンドキャップ電極にバイアスを加えて不均
衡な電圧を印加する等の方法が提案されている。しかし
ながら、リング電極やエンドキャップ電極を特殊な形状
に加工するには費用がかかり、該電極に印加する電圧に
は高精度の周波数制御が必要となるという問題が生じ、
また、不均衡な電圧印加を行うと、イオントラップ電極
内の電界が電極の機械的中心からずれたり、バイアスの
大きさによる影響が生じるといった問題がある。
し、イオントラップ電極内の中心近傍の電界に非対称性
を与えることなくイオンの検出感度を向上させて、イオ
ントラップ質量分析装置の感度を向上させることを目的
とする。
プ質量分析装置において、少なくとも片側のエンドキャ
ップ電極から選択的にイオンを放出する構成とすること
によって、イオントラップ電極内の中心近傍の電界に非
対称性を与えることなくイオンの検出感度を向上させ
て、イオントラップ質量分析装置の感度を向上させるも
のである。
リング電極と、リング電極の両開放端に設けた貫通孔を
有する一対のエンドキャップ電極と、RF周波数ωで振
幅Vの交流電圧をリング電極に印加する主RF電源と、
エンドキャップ電極の少なくとも一方に高周波電圧を印
加する補助RF電源と、前記電源を制御する制御回路
と、一方のエンドキャップ電極の貫通孔から放出される
イオンを検出する検出器と、検出したイオンの数と振幅
Vとに基づいて質量スペクトルを求める測定装置とを備
えたイオントラップ質量分析装置において、少なくとも
一方のエンドキャップ電極のリング電極と反対側に補助
電極を設け、この補助電極にエンドキャップ電極との間
で電圧を印加するものとする。
れば、イオントラップ電極の内部にはリング電極による
トラッピング電界とエンドキャップ電極による補助高周
波電界が形成され、これらの電界によってイオンはイオ
ントラップ電極内にトラップされる。このとき、少なく
とも一方のエンドキャップ電極のリング電極と反対側に
設けた補助電極に、エンドキャップ電極との間で直流ま
たは高周波電圧を印加すると、エンドキャップ電極に設
けた貫通孔を通してイオントラップ電極の内部に、前記
したトラッピング電界や補助高周波電界と異なる電界が
形成される。この補助電極により形成される電界は、電
界極性によりイオンをイオントラップ電極内部から外部
に取り出す方向に作用するか抑制する方向に作用する。
従って、検出器が検出するイオン量を増加させ、検出感
度を向上させることができる。
ドキャップ電極の近傍にとどまるため、イオントラップ
電極内の中心近傍の電界に非対称性を与えることはな
い。本発明に使用する補助電極が形成する電界はしみ出
し電界であるため、エンドキャップ電極の近傍にのみ非
対称な電界を形成する。そのため、イオントラップ電極
内部で振動するイオンの内、エンドキャップ電極付近ま
で振動したイオンだけが、補助電極で形成される非対称
電界の影響を受けて外部に取り出される。これに対し
て、イオントラップ電極の中心付近には補助電極による
電界は到達しないため、イオントラップ電極の中心付近
で振動するイオンは補助電極の影響を受けず、イオント
ラップ質量分析装置が備える本来の検出特性には影響を
与えない。
加する電圧は直流電圧であり、これによって、補助電極
を設置したエンドキャップ電極付近に非対称電界を形成
することができる。また、本発明の第2の実施態様は、
補助電極に印加する電圧は、エンドキャップ電極に印加
する高周波電圧と同期した高周波電圧であり、これによ
って、補助電極を設置したエンドキャップ電極付近にイ
オントラップ電極内部に発生する電界変化と同期した非
対称電界を形成して、内部電界で振動したイオンがこの
非対称電界の影響を受けやすくし、外部へのイオンの取
り出し効率を高めることができる。
プ電極は複数の貫通孔を備えるものであり、補助電極に
より形成した電界をこの貫通孔を介してイオントラップ
電極内部にしみ込ませ、エンドキャップ電極の近傍に非
対称電界の形成を行うことができる。また、本発明の第
4の実施態様は、補助電極をエンドキャップ電極に形成
した貫通孔に対応した複数の電極によって形成し、各電
極に独立して電圧を印加可能とするものであり、これに
よって、エンドキャップ電極近傍に任意の非対称電界を
形成することができる。さらに、本発明の第5の実施態
様は、補助電極を形成する複数の各電極を抵抗を介して
接続して分圧電圧を印加するものであり、これによっ
て、各電極に任意の電圧を印加して、エンドキャップ電
極近傍における任意の非対称電界の形成を容易とするも
のである。
参照しながら詳細に説明する。本発明の実施形態につい
て、図1,2の本発明のイオントラップ質量分析装置の
概略斜視図を用いて説明する。なお、図1はイオンの取
り出し動作を説明するための図であり、図2はイオンの
トラップ動作を説明するための図である。
回転双曲面を持つリング電極2と第リング電極2の両開
放端に設けられる第1,2エンドキャップ電極3,4を
備え、リング電極2には主RF電源5を接続し、第1,
2エンドキャップ電極3,4にはトランス8を介して補
助RF電源6を接続する。主RF電源5はRF周波数ω
で振幅Vの交流電圧を発生して、リング電極2によって
イオントラップ電極10内にトラッピング電界を形成
し、補助RF電源6は高周波電圧を発生して、エンドキ
ャップ電極3,4によってイオントラップ電極10内に
補助高周波電界を形成する。主RF電源5および補助R
F電源6が発生する電圧やタイミングは、制御回路7に
よって制御が行なわれる。
成され、該貫通孔を通してイオントラップ電極10内に
トラップされているイオンを取り出したり、あるいは該
貫通孔を通して図示しない試料イオン化室で発生したイ
オンをイオントラップ内に導入したり、イオン化用電子
ビームを導入したりする。イオンを取り出す側のエンド
キャップ電極4の外側には二次電子倍増管等の検出器9
を設け、これによって、イオントラップ電極10から選
択的に取り出したイオンの検出を行う。測定装置19
は、検出したイオンの数と主RF電源5の振幅Vとに基
づいて質量スペクトルを求める。
プ電極2と反対側の近傍には、第1,2補助電極11,
12が設けられる。なお、第1,2補助電極11,12
は、エンドキャップ電極の両側あるいは、検出器9側の
一方のみに設置することができる。以下、エンドキャッ
プ電極3,4の両側に設けた場合について説明する。第
1,2補助電極11,12には、それぞれ第1補助電源
13および第2補助電源14が接続され、直流電圧ある
いは高周波電圧,または両者を重畳した電圧が印加され
る。第1補助電源13,第2補助電源14は、図1中の
制御回路7あるいは図示しない別の制御回路によって制
御することができ、エンドキャップ電極に印加する高周
波電圧と同期した高周波電圧を印加する構成とすること
もできる。
トラップ動作を図2を用いて説明し、イオントラップ電
極内部からイオンを取り出す動作について図1を用いて
説明する。図1,2中の+符号を丸印で囲んだ記号は、
正電荷のイオンを表している。なお、図2に示す構成
は、前記した図1と同様であるため、図2の構成につい
ての説明は省略する。
行なわれる。図2において、エンドキャップ電極3に形
成された貫通孔を通して、図示しない試料イオン化室で
発生したイオンをイオントラップ電極10内に導入する
か、あるいはイオン化用電子ビームを導入することによ
って、イオントラップ電極10内部にイオンを生成させ
る。生成したイオンは、質量/電荷,リング電極の最小
半径,直流電圧U,交流電圧の振幅V,周波数ωについ
て一定の条件の下でイオントラップ電極10内に安定に
トラップされ、交流電場の角周波数ωで振動するととも
に、イオントラップ電極10の半径方向および長軸方向
に対してωよりも遅い周期で調和振動し、電極のセルの
中心付近をゆっくりと∞型に振動しながらωの周期で小
振幅の振動をする。これによって、所定のイオンのみを
選択的にイオントラップ電極10内に閉じ込める、その
他のイオンを除去することができる。
入やイオン化用電子ビームの導入時には、図2中の第2
補助電極12に、第2エンドキャップ電極4に対して正
の電圧を印加する。これによって、第2補助電極12が
生成する電界は貫通孔を通してしみ込み、第2エンドキ
ャップ電極4の近傍に正の電界を発生させ、第2エンド
キャップ電極4の近傍に局部的な非対称電界を形成す
る。この非対称電界は、イオントラップ電極10内のイ
オンが検出器9側に放出することを防止し、イオントラ
ップ電極10内でイオンのトラップを補助する。
にして行なわれる。図1において、第2補助電極12
に、第2エンドキャップ電極4に対して負の電圧を印加
する。これによって、第2補助電極12が生成する電界
は貫通孔を通してしみ込みに、第2エンドキャップ電極
4の近傍に負の電界を発生させ、第2エンドキャップ電
極4の近傍に局部的な非対称電界を形成する。この非対
称電界は、イオントラップ電極10内のイオンが検出器
9への放出を促す作用となり、検出器9によるイオンの
検出効率が向上する。なお、このとき、第2補助電極1
2が検出する非対称電界は、第2エンドキャップ電極4
の近傍のみであって、イオントラップ電極10の中心付
近の電界には影響を与えない。また、第2補助電極12
には、エンドキャップ電極4に印加する高周波電圧と同
期した高周波電圧を印加する構成とすることもできる。
ャップ電極3に対して正の電圧を印加する。これによっ
て、第1補助電極11が生成する電界は貫通孔を通して
しみ込み、第1エンドキャップ3電極の近傍に正の電界
を発生させ、第1エンドキャップ電極3の近傍に局部的
な非対称電界を形成する。この非対称電界は、イオント
ラップ電極10内のイオンが第1エンドキャップ電極3
の貫通孔を通して外部に放出することを防止し、検出器
9によるイオンの検出効率が向上させる。
プ電極の構成例について説明する。
を説明するため一部を切り欠いた斜視図である。図3に
おいて、イオントラップ電極10は、リング電極2と第
1,2エンドキャップ電極3,4を備え、エンドキャッ
プ電極および補助電極を同心円状に形成する構成であ
る。
部分には、軸方向に貫通孔が形成され、軸方向に貫通し
た絶縁体15,16を介して第1,2補助電極11,1
2が取り付けられる。この第1,2補助電極11,12
にも軸方向に貫通孔が形成され、該貫通孔を通してイオ
ンや電子ビームの導入あるいはイオンの取り出しが行な
われる。第1補助電極11には第1補助電源13が接続
され、第2補助電極12には第1補助電源14が接続さ
れる。上記構成により、第1,2補助電極11,12に
より発生した電界は、中心の貫通孔を通ってイオントラ
ップ電極10内部にしみ込み、非対称電界を形成する。
を説明するため一部を切り欠いた斜視図である。図4に
おいて、イオントラップ電極10は、リング電極2と第
1,2エンドキャップ電極3,4を備え、エンドキャッ
プ電極に複数個の貫通孔を形成する構成である。
中心部分と周囲部分の複数箇所に貫通孔18が形成さ
れ、絶縁体17を挟んで第1,2補助電極11,12が
取り付けられる。この第1,2補助電極11,12には
中心部分に貫通孔が形成される。イオンや電子ビームの
導入あるいはイオンの取り出しは、エンドキャップ電極
および補助電極の中心部分に形成した貫通孔を通して行
われる。第1補助電極11には第1補助電源13が接続
され、第2補助電極12には第1補助電源14が接続さ
れる。
12により発生した電界は、エンドキャップ3,4の中
心部分に形成した貫通孔および周囲部分に形成した複数
個の貫通孔を通ってイオントラップ電極10内部にしみ
込み、非対称電界を形成する。
図4に示す第2の構成例において、第1,2補助電極1
1,12を、第1,2エンドキャップ電極3,4に形成
した複数の貫通孔に対応して分割した複数個の電極によ
り構成した例である。なお、図5では第2補助電極12
および第2エンドキャップ電極4のみを示している。分
割した電極は、エンドキャップ4に形成した貫通孔に対
応した位置に配置され、電極で発生した電界が貫通孔を
通してイオントラップ電極内部にしみ込むよう構成す
る。
ことができるよう構成し、これによって、電界のパター
ンを任意とすることができる。また図5に示す例では、
各分割した電極間を抵抗を介して接続する構成とするこ
とよって、各電極に分圧電圧を印加している。
電圧を印加することによって、補助電極を設置したエン
ドキャップ電極付近に非対称電界を形成することがで
き、また、補助電極にエンドキャップ電極に印加する高
周波電圧と同期した高周波電圧を印加することによっ
て、内部電界で振動したイオンの非対称電界による影響
を受けやすくし、外部へのイオンの取り出し効率を高め
ることができる。
えたエンドキャップ電極を用いることによって、エンド
キャップ電極の近傍に非対称電界の形成を行うことがで
きる。また、補助電極を該貫通孔に対応した複数の電極
によって形成し、各電極に独立して電圧を印加すること
によって、エンドキャップ電極近傍に任意の非対称電界
を形成することができる。
ラップ質量分析装置によれば、イオントラップ電極内の
中心近傍の電界に非対称性を与えることなくイオンの検
出感度を向上させて、イオントラップ質量分析装置の感
度を向上させることができる。
視図であり、イオン取り出しを説明するための図であ
る。
視図であり、イオントラップを説明するための図であ
る。
ため一部を切り欠いた斜視図である。
ため一部を切り欠いた斜視図である。
ため一部を切り欠いた斜視図である。
である。
ップ質量分析装置を説明するための図である。
3,4…エンドキャップ電極、5…主RF電源、6…補
助RF電源、7…制御回路、8…トランス、9…検出
器、10…イオントラップ電極、11,12…補助電
極、13,14…補助電源、15,16,17…絶縁
体、18…貫通孔、19…測定装置。
Claims (1)
- 【請求項1】 リング電極と、リング電極の両開放端に
設けた貫通孔を有する一対のエンドキャップ電極と、R
F周波数ωで振幅Vの交流電圧をリング電極に印加する
主RF電源と、エンドキャップ電極の少なくとも一方に
高周波電圧を印加する補助電源と、前記電源を制御する
制御回路と、一方のエンドキャップ電極の貫通孔から放
出されるイオンを検出する検出器と、検出したイオンの
数と振幅Vとに基づいて質量スペクトルを求める測定装
置とを備えたイオントラップ質量分析装置において、少
なくとも一方のエンドキャップ電極のリング電極と反対
側に、エンドキャップ電極との間で電圧が印加される補
助電極を設けたことを特徴とするイオントラップ質量分
析装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP01353497A JP3656239B2 (ja) | 1997-01-28 | 1997-01-28 | イオントラップ質量分析装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP01353497A JP3656239B2 (ja) | 1997-01-28 | 1997-01-28 | イオントラップ質量分析装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH10208692A true JPH10208692A (ja) | 1998-08-07 |
| JP3656239B2 JP3656239B2 (ja) | 2005-06-08 |
Family
ID=11835834
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP01353497A Expired - Fee Related JP3656239B2 (ja) | 1997-01-28 | 1997-01-28 | イオントラップ質量分析装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3656239B2 (ja) |
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-
1997
- 1997-01-28 JP JP01353497A patent/JP3656239B2/ja not_active Expired - Fee Related
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|---|---|
| JP3656239B2 (ja) | 2005-06-08 |
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