JPH10209331A - Electronic component storage package - Google Patents
Electronic component storage packageInfo
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- JPH10209331A JPH10209331A JP9025971A JP2597197A JPH10209331A JP H10209331 A JPH10209331 A JP H10209331A JP 9025971 A JP9025971 A JP 9025971A JP 2597197 A JP2597197 A JP 2597197A JP H10209331 A JPH10209331 A JP H10209331A
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- lid
- package
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- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10W—GENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
- H10W72/00—Interconnections or connectors in packages
- H10W72/851—Dispositions of multiple connectors or interconnections
- H10W72/874—On different surfaces
- H10W72/884—Die-attach connectors and bond wires
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- Casings For Electric Apparatus (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】 気密封止性を低下させることなく、電子部品
搭載部に搭載した電子部品を封止する際、該電子部品搭
載部に閉じ込められるガスの内圧による半田の飛散を防
止できる電子部品収納用パッケージを提供する。
【解決手段】 電子部品収納用パッケージ基体が、該電
子部品搭載部の外周部分に該パッケージ封止用リッドを
嵌め込むリッド嵌入用段差部を有する。リッド嵌入用段
差部の底面に枠状のメタライズ層を有し、該メタライズ
層の内端は、該電子部品搭載部の立ち上がり上縁端より
該リッド嵌入用段差部の立ち上がり下縁端側に寄った部
位に位置する。前記パッケージ封止用リッドのリッド本
体の下面外縁は、該メタライズ層の外端より前記電子部
品搭載部の立ち上がり上縁端側に寄った部位に位置す
る。該パッケージ封止用リッドの半田層の厚みtと前記
リッド嵌入用段差部の深さdを、t≦dの関係にしてな
る。
(57) [Summary] [PROBLEMS] When sealing an electronic component mounted on an electronic component mounting portion without lowering hermetic sealing performance, scattering of solder due to internal pressure of gas confined in the electronic component mounting portion is prevented. Provide a package for storing electronic components that can be prevented. SOLUTION: An electronic component housing package base has a lid fitting step portion for fitting the package sealing lid around an outer peripheral portion of the electronic component mounting portion. A frame-shaped metallized layer is provided on the bottom surface of the lid fitting step, and the inner end of the metalized layer is closer to the rising lower edge of the lid fitting step than the rising upper edge of the electronic component mounting portion. Located on the site. The outer edge of the lower surface of the lid body of the package sealing lid is located at a position closer to the rising upper edge of the electronic component mounting portion than the outer edge of the metallized layer. The thickness t of the solder layer of the package sealing lid and the depth d of the step portion for fitting the lid have a relationship of t ≦ d.
Description
【0001】[0001]
【発明の属する技術分野】本発明は、電子部品収納用パ
ッケージに係り、より詳細には、パッケージ基体の電子
部品搭載部に、ICチップやLSIチップ等の電子部品
を搭載し、その電子部品を気密封止する際に、電子部品
搭載部に閉じ込められるガスの内圧による半田の飛散を
防止し、該飛散した半田が、そのパッケージ基体や、外
部接続端子等に付着したり、汚れたりするのを防止でき
る電子部品収納用パッケージに関する。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a package for storing electronic components, and more particularly, to mounting an electronic component such as an IC chip or an LSI chip on an electronic component mounting portion of a package base, and mounting the electronic component. At the time of hermetic sealing, it prevents the scattering of solder due to the internal pressure of the gas trapped in the electronic component mounting part, and prevents the scattered solder from adhering to the package base, external connection terminals, etc., and becoming dirty. The present invention relates to an electronic component storage package that can be prevented.
【0002】[0002]
【従来の技術】電子部品収納用パッケージは、図5に示
すように、パッケージ基体1と、パッケージ基体1の凹
部(キャビティ)または開口からなる電子部品搭載部3
に搭載した電子部品4をパッケージ封止用リッド2で気
密封止する構成からなる。パッケージ基体1は、セラミ
ック基板や樹脂製基板からなり、基体上面にメタライズ
層5を備え、パッケージ封止用リッド2は、セラミック
板や金属板からなり、その下面周縁部6と側面部7に下
地金属層(図示せず)を介して封止部材としての半田層
8を備えている。2. Description of the Related Art As shown in FIG. 5, an electronic component storage package includes an electronic component mounting portion 3 comprising a package base 1 and a concave portion (cavity) or opening of the package base 1.
The electronic component 4 mounted on the device is hermetically sealed with the package sealing lid 2. The package base 1 is made of a ceramic substrate or a resin substrate, has a metallized layer 5 on the upper surface of the base, and the package sealing lid 2 is made of a ceramic plate or a metal plate. A solder layer 8 is provided as a sealing member via a metal layer (not shown).
【0003】そして、パッケージ基体1の電子部品搭載
部3に搭載してある電子部品4を気密封止するには、パ
ッケージ封止用リッド2の半田層8を、パッケージ基体
1の上面に設けられているメタライズ層5に対面させる
と共に、リッド2をバネ、クリップ等の固定具を介し
て、電子部品4を搭載したパッケージ基体1に押し付け
固定し、炉内で半田層8の半田を溶融させ、封止してい
る。In order to hermetically seal the electronic component 4 mounted on the electronic component mounting portion 3 of the package base 1, a solder layer 8 of the package sealing lid 2 is provided on the upper surface of the package base 1. And the lid 2 is pressed and fixed to the package base 1 on which the electronic component 4 is mounted via a fixture such as a spring or a clip, and the solder of the solder layer 8 is melted in a furnace. It is sealed.
【0004】[0004]
【発明が解決しようとする課題】しかし、上述したよう
な電子部品収納用パッケージの場合、パッケージ基体1
をパッケージ封止用リッド2の半田層8を溶融して封止
する際して、次のような課題がある。すなわち、 パッケージ内に閉じ込められた内部ガスの膨張によ
って、半田層8の溶けた半田が飛散して、該半田がパッ
ケージ基体1の基体表面、外部接続端子9、あるいは隣
接する端子間に付着する。 そのため、回路取付け基板への外部接続端子9の挿
入を阻害したり、ショート不良を生じたり、汚れが発生
する。 また、半田飛散による影響を少なくするには、パッ
ケージ基体1の基体表面、外部接続端子9、あるいは隣
接する端子を治具で覆う必要があり、かつ該治具の洗浄
等が必要になる。 等の課題がある。However, in the case of a package for storing electronic parts as described above, the package base 1 is required.
There are the following problems when sealing the package by melting the solder layer 8 of the package sealing lid 2. That is, the melted solder of the solder layer 8 is scattered due to the expansion of the internal gas confined in the package, and the solder adheres to the surface of the package base 1, the external connection terminals 9, or between adjacent terminals. Therefore, the insertion of the external connection terminal 9 into the circuit mounting board is hindered, a short circuit occurs, and dirt is generated. Further, in order to reduce the influence of the solder scattering, it is necessary to cover the base surface of the package base 1, the external connection terminals 9, or the adjacent terminals with a jig, and it is necessary to clean the jig. And other issues.
【0005】このような課題を解決するために、本出願
人は、先に、『パッケージ封止用リッドの半田層に厚み
勾配や厚み差を設けたり、該半田層の半田幅を変化させ
たパターンとした電子部品収納用パッケージ』(特願平
6−87571号明細書参照)を提案している。この電
子部品収納用パッケージは、パッケージ基体の電子部品
搭載部を封止する際、封止タイミングを遅らせることが
できるので、前記内部ガスをパッケージ外にスムーズに
排出でき、該ガスによって半田の飛散を抑制できるもの
の、完全に防止することはできない。In order to solve such a problem, the present applicant has previously described a method of providing a thickness gradient or a thickness difference in a solder layer of a package sealing lid or changing a solder width of the solder layer. Electronic Component Storage Package as Pattern "(see Japanese Patent Application No. 6-87571). This electronic component storage package can delay the sealing timing when sealing the electronic component mounting portion of the package base, so that the internal gas can be smoothly discharged to the outside of the package, and the gas scatters solder. Although it can be suppressed, it cannot be completely prevented.
【0006】ところで、この他に、パッケージ基体にパ
ッケージ封止用リッドの上面が共通平坦面を形成するよ
うに嵌め込み、これを半田によって接合、封止する構成
が考えられる。しかし、この構成の場合、封止する
際、該半田が電子部品搭載部に流れ込むという危険性が
ある、パッケージ封止用リッドの側面とパッケージ基
体との間に半田の良好なメニスカス形状を形成できな
い、パッケージ基体の厚みを厚くする必要がある、等
の課題がある。[0006] In addition, another configuration is considered in which an upper surface of a package sealing lid is fitted into a package base so as to form a common flat surface, and this is joined and sealed with solder. However, in the case of this configuration, when sealing, there is a risk that the solder flows into the electronic component mounting portion, and a good meniscus shape of the solder cannot be formed between the side surface of the package sealing lid and the package base. And the need to increase the thickness of the package base.
【0007】本発明は、上述した課題に対処して創作し
たものであって、その目的とする処は、気密封止性を低
下させることなく、電子部品搭載部に搭載した電子部品
を封止する際、該電子部品搭載部に閉じ込められるガス
の内圧による半田の飛散を防止できる電子部品収納用パ
ッケージを提供することにある。SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made in view of the above problems, and has as its object to seal electronic components mounted on an electronic component mounting portion without deteriorating hermetic sealing performance. In this case, an object of the present invention is to provide an electronic component storage package that can prevent the scattering of solder due to the internal pressure of gas trapped in the electronic component mounting portion.
【0008】[0008]
【課題を解決するための手段】そして、上記課題を解決
するための手段としての本発明の請求項1の電子部品収
納用パッケージは、凹部または開口からなる電子部品搭
載部を備えた電子部品収納用パッケージ基体と、周縁部
に半田層を備えたパッケージ封止用リッドを有する電子
部品収納用パッケージにおいて、該電子部品収納用パッ
ケージ基体は、該電子部品搭載部の外周部分に該パッケ
ージ封止用リッドを嵌め込むリッド嵌入用段差部を有
し、該リッド嵌入用段差部の底面に枠状のメタライズ層
を有し、該メタライズ層の内端は、該電子部品搭載部の
立ち上がり上縁端より該リッド嵌入用段差部の立ち上が
り下縁端側に寄った部位に位置し、また前記パッケージ
封止用リッドのリッド本体の下面外縁は、該メタライズ
層の外端より前記電子部品搭載部の立ち上がり上縁端側
に寄った部位に位置し、また該パッケージ封止用リッド
の半田層の厚みtと前記リッド嵌入用段差部の深さd
を、t≦dの関係にしてなることを特徴とする。According to a first aspect of the present invention, there is provided an electronic component storage package having an electronic component mounting portion including a recess or an opening. Electronic component storage package having a package base for packaging and a package sealing lid provided with a solder layer on a peripheral portion, the electronic component storage package base is provided on the outer peripheral portion of the electronic component mounting portion with the package sealing lid. A lid fitting step for fitting the lid, a frame-shaped metallized layer on a bottom surface of the lid fitting step, and an inner end of the metalized layer is higher than a rising upper edge of the electronic component mounting section. The package fitting lid is located at a position closer to the rising lower edge of the lid fitting step, and the outer edge of the lower surface of the lid main body of the package sealing lid is located at a lower end than the outer end of the metallized layer. Located at a site closer to the rising on the edge side of the component mounting portion, also the depth d of the the thickness t of the solder layer lid fitting step portion of the lid the package sealing
In a relationship of t ≦ d.
【0009】請求項2の電子部品収納用パッケージは、
前記請求項1の発明において、前記メタライズ層の内端
と、電子部品搭載部の立ち上がり上縁端の間隔xが、
0.5mm以上であり、また前記パッケージ封止用リッ
ドのリッド本体の下面外縁と、前記メタライズ層の外端
との間隔yが、0.5mm以上で、かつパッケージ封止
用リッドの半田層の厚みtと前記リッド嵌入用段差部の
深さdが、t<dで、該パッケージ封止用リッドのリッ
ド本体の一部が前記リッド嵌入用段差部内に嵌入してな
ることを特徴とする。According to a second aspect of the present invention, there is provided a package for storing electronic parts.
In the invention of claim 1, a distance x between an inner end of the metallized layer and a rising upper edge of the electronic component mounting portion is defined as:
0.5 mm or more, and the distance y between the outer edge of the lower surface of the lid body of the package sealing lid and the outer end of the metallized layer is 0.5 mm or more, and the solder layer of the package sealing lid is The thickness t and the depth d of the lid fitting step are t <d, and a part of the lid body of the package sealing lid is fitted into the lid fitting step.
【0010】ここで、前記パッケージ封止用リッドは、
セラミック板または金属板をリッド本体として、その周
縁部に半田層を備えている。該周縁部とは、リッド本体
の下面周縁部、または下面周縁部と側面部をいう。該リ
ッド本体がセラミック板の場合は、下地金属層を介して
半田層が形成してある。該下地金属層は、Ag,Ag−
Pt,Ag−Pd,Mo−Mn,Mo,W,Ti等の金
属を含むペーストを塗布、焼成してメタライズ層を形成
し、該メタライズ層の上に半田層を形成する。なお、該
ペーストがMo−Mn,Mo,W,Tiの場合は、その
上面にNiめっきを施し、更にその上面にAuめっきを
施す。また、半田としては、例えば、融点が250℃〜
320℃程度で、その組成が、Pb,Sn,In,B
i,Ag,Sbの一部もしくは全部を含む半田を用いる
ことができる。Here, the package sealing lid includes:
A ceramic plate or a metal plate is used as a lid body, and a solder layer is provided on a peripheral portion thereof. The peripheral portion refers to a lower peripheral portion or a lower peripheral portion and a side surface portion of the lid body. When the lid body is a ceramic plate, a solder layer is formed via a base metal layer. The underlying metal layer is made of Ag, Ag-
A paste containing a metal such as Pt, Ag-Pd, Mo-Mn, Mo, W, and Ti is applied and fired to form a metallized layer, and a solder layer is formed on the metallized layer. If the paste is Mo-Mn, Mo, W, Ti, the upper surface is plated with Ni, and the upper surface is further plated with Au. As the solder, for example, the melting point is 250 ° C.
At about 320 ° C., the composition is Pb, Sn, In, B
Solder containing a part or all of i, Ag, and Sb can be used.
【0011】そして、本発明の電子部品収納用パッケー
ジは、パッケージ基体の電子部品搭載部にICチップ等
の電子部品を搭載、ワイヤボンディング等をした後、パ
ッケージ基体のリッド嵌入用段差部のメタライズ層に、
パッケージ封止用リッドの半田層を対向させて、該パッ
ケージ封止用リッドを嵌め、バネ、クリップ等の固定具
を介して押し付け固定し、炉内で半田層の半田を溶融さ
せ、封止すると、該半田は、パッケージ基体のメタライ
ズ層に濡れ広がり、またリッドの周縁部に良好なメニス
カス形状を形成し、電子部品搭載部を気密封止できる。The electronic component storage package according to the present invention is characterized in that an electronic component such as an IC chip is mounted on an electronic component mounting portion of a package base, wire bonding is performed, and then a metallized layer of a lid fitting step portion of the package base is provided. To
With the package sealing lid facing the solder layer, the package sealing lid is fitted, pressed and fixed via a fixture such as a spring or clip, and the solder of the solder layer is melted and sealed in a furnace. The solder wets and spreads on the metallized layer of the package base, forms a good meniscus shape on the periphery of the lid, and can hermetically seal the electronic component mounting portion.
【0012】[0012]
【発明の効果】以上の説明より明らかなように、本発明
の請求項1の電子部品収納用パッケージによれば、パッ
ケージ基体のメタライズ層の内端が、電子部品搭載部の
立ち上がり上縁端より引き下がった位置にあるため、該
電子部品搭載部内に流れ落ちることなく、またパッケー
ジ封止用リッドのリッド本体の下面外縁は、前記メタラ
イズ層の外端より電子部品搭載部側に位置するので良好
なメニスカス形状を形成でき、また電子部品搭載部の内
圧ガスによって吹き飛ばされた半田は、リッド嵌入用段
差部の立ち上がり壁によって、その飛散を防御できるの
で、該飛散した半田がパッケージ基体に取り付けられて
いる外部接続端子等への付着を防止できると共に、気密
封止性を確保できるという効果を有する。As is apparent from the above description, according to the electronic component housing package of the first aspect of the present invention, the inner end of the metallized layer of the package base is located closer to the rising upper edge of the electronic component mounting portion. Since it is in the lowered position, it does not flow down into the electronic component mounting portion, and the outer edge of the lower surface of the lid body of the package sealing lid is located closer to the electronic component mounting portion than the outer end of the metallized layer, so that a good meniscus is provided. The solder blown by the internal pressure gas of the electronic component mounting portion can be prevented from being scattered by the rising wall of the step portion for lid fitting, so that the scattered solder is attached to the package base. This has the effect of preventing adhesion to connection terminals and the like and ensuring airtight sealing.
【0013】また、請求項2の電子部品収納用パッケー
ジによれば、間隔x、すなわちメタライズ層の引き下が
り幅を0.5mm以上とし、間隔y、すなわち半田の濡
れ広がり幅を0.5mm以上とし、半田層の厚みtとリ
ッド嵌入用段差部の深さdを、t<dとしているので、
前記効果に加えて、パッケージ本体の厚みを厚くするこ
となく、いっそう半田による電子部品や外部接続用端子
に対する不具合を解消できるという効果を有する。According to the electronic component storage package of the present invention, the interval x, that is, the down width of the metallization layer is 0.5 mm or more, and the interval y, that is, the wet spread width of the solder is 0.5 mm or more, Since the thickness t of the solder layer and the depth d of the step portion for fitting the lid are set as t <d,
In addition to the above-mentioned effects, there is an effect that it is possible to further solve the problem of electronic components and external connection terminals due to soldering without increasing the thickness of the package body.
【0014】[0014]
【発明の実施の形態】以下、図面を参照しながら、この
発明を具体化した好ましい実施形態について説明する。
ここに、図1〜図4は、本発明の実施形態を示し、図1
は縦断面図、図2はパッケージ基体の平面図、図3はリ
ッド嵌入用段差部の立ち上がり壁の高さと半田飛散によ
る不具合発生率との関係を示すグラフ、図4は、図1の
A部分とB部分の拡大図である。なお、本発明は、後述
する実施形態の説明に限定されるものでなく、本発明の
主旨を逸脱することなく、変形・実施できる構成を含む
ことは明らかである。Preferred embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings.
1 to 4 show an embodiment of the present invention.
2 is a longitudinal sectional view, FIG. 2 is a plan view of a package base, FIG. 3 is a graph showing a relationship between the height of a rising wall of a step portion for lid fitting and a defect occurrence rate due to solder scattering, and FIG. 4 is a portion A in FIG. And FIG. It should be noted that the present invention is not limited to the description of the embodiments described below, and it is clear that the present invention includes configurations that can be modified and implemented without departing from the gist of the present invention.
【0015】本実施形態の電子部品収納用パッケージ
は、図1、図2に示すように、セラミック製のパッケー
ジ基体10と、パッケージ封止用リッド11からなる。
パッケージ基体11は、表面中央部分にICチップ等の
電子部品14を搭載するための凹部からなる電子部品搭
載部13と、電子部品搭載部13を気密封止するための
パッケージ封止用リッド11を嵌入するためのリッド嵌
入用段差部15、および外部接続端子16を備えてい
る。電子部品搭載部13は、電子部品14をボンディン
グする電子部品搭載面13aと電子部品14を外部接続
端子16に内部配線パターン(図示せず)を介して電機
的に接続するためのワイヤボンディングパターンを設け
たワイヤボンディング面13bを備えている。As shown in FIGS. 1 and 2, the electronic component housing package of this embodiment comprises a ceramic package base 10 and a package sealing lid 11.
The package base 11 includes an electronic component mounting portion 13 formed of a concave portion for mounting an electronic component 14 such as an IC chip in a central portion of the surface, and a package sealing lid 11 for hermetically sealing the electronic component mounting portion 13. A lid fitting step 15 for fitting is provided, and an external connection terminal 16 is provided. The electronic component mounting unit 13 includes a wire bonding pattern for electrically connecting the electronic component mounting surface 13a to which the electronic component 14 is bonded and the electronic component 14 to the external connection terminal 16 via an internal wiring pattern (not shown). It has the provided wire bonding surface 13b.
【0016】リッド嵌入用段差部15は、電子部品搭載
部13の外周部分に設けてあり、段差底面15aに枠状
のメタライズ層17が形成してある。メタライズ層17
は、Ag,Ag−Pt,Ag−Pd,Mo−Mn,M
o,W,Ti等の金属を含むペーストを塗布、焼成して
形成してあり、該ペーストがMo−Mn,Mo,W,T
iの場合は、その上面にNiめっきを施し、更にその上
面にAuめっきを施して形成してある。このメタライズ
層17の内端aは、電子部品搭載部13の立ち上がり壁
18の上縁端bよりリッド嵌入用段差部15の立ち上が
り壁19の下縁端c側に寄った部位に位置し、またメタ
ライズ層17の外端eは、パッケージ封止用リッド11
のリッド本体20の下面外縁fよりリッド嵌入用段差部
15の立ち上がり壁19の下縁端c側に寄った部位に位
置するように形成してある。すなわち、メタライズ層1
7は、リッド嵌入用段差部15にパッケージ封止用リッ
ド11を嵌入した際、パッケージ封止用リッド11の外
周にメタライズ層17の一部が露出する位置になるよう
に形成してある。ここで、メタライズ層17の内端a
と、電子部品搭載部13の立ち上がり壁上縁端bとの引
き下がり間隔xは、0.5mm以上であることが好まし
い。これにより、半田封止する際、半田の濡れ広がりに
より半田が電子部品搭載部13内に流れ落ちて、ワイヤ
ボンディングパターンをショートさせること等の不具合
を防止できる。この間隔xを、0.5mm以上としたの
は、0.5mmより狭いと、半田の種類によって電子部
品搭載部13内に流れ落ちる可能性があることを考慮し
たことによる。また、メタライズ層17の外端eと、パ
ッケージ封止用リッド11のリッド本体20の下面外縁
fとの間隔yは、0.5mm以上とることが好ましい。
0.5mmより狭い場合、半田の良好なメニスカス形状
を形成できず、良好な気密封止性を確保できないことを
考慮したことによる。The step portion 15 for fitting the lid is provided on the outer peripheral portion of the electronic component mounting portion 13, and a frame-shaped metallized layer 17 is formed on the step bottom surface 15a. Metallization layer 17
Are Ag, Ag-Pt, Ag-Pd, Mo-Mn, M
A paste containing a metal such as o, W, and Ti is applied and fired to form the paste, and the paste is made of Mo-Mn, Mo, W, T
In the case of i, the upper surface is plated with Ni, and the upper surface is further plated with Au. The inner end a of the metallized layer 17 is located at a position closer to the lower edge c of the rising wall 19 of the step portion 15 for lid fitting from the upper edge b of the rising wall 18 of the electronic component mounting portion 13. The outer end e of the metallized layer 17 is connected to the package sealing lid 11.
Is formed at a position closer to the lower edge c side of the rising wall 19 of the step portion 15 for fitting the lid from the outer edge f of the lower surface of the lid body 20. That is, the metallized layer 1
7 is formed such that a part of the metallized layer 17 is exposed on the outer periphery of the package sealing lid 11 when the package sealing lid 11 is fitted into the lid fitting step portion 15. Here, the inner end a of the metallized layer 17
It is preferable that the distance x between the lower edge and the upper edge b of the rising wall of the electronic component mounting portion 13 is 0.5 mm or more. Thereby, at the time of solder sealing, it is possible to prevent problems such as the solder flowing down into the electronic component mounting portion 13 due to the spread of the solder and short-circuiting of the wire bonding pattern. The reason why the interval x is set to 0.5 mm or more is to consider that if the interval x is smaller than 0.5 mm, the solder may flow down into the electronic component mounting portion 13 depending on the type of solder. The distance y between the outer edge e of the metallization layer 17 and the outer edge f of the lower surface of the lid body 20 of the package sealing lid 11 is preferably 0.5 mm or more.
If the width is smaller than 0.5 mm, it is considered that a good meniscus shape of the solder cannot be formed, and good hermetic sealing cannot be ensured.
【0017】パッケージ封止用リッド11は、セラミッ
ク板をリッド本体20の下面周縁部21と側面部22に
下地金属層23を介して半田層24を形成している。こ
こで、半田層24の厚みtと、リッド嵌入用段差部15
の立ち上がり壁19の深さdとは、t≦dの関係として
いる。好ましくは、t<dとして、パッケージ封止用リ
ッド11のリッド本体20の一部を、リッド嵌入用段差
部15内に嵌入できる関係とすることが好ましい。これ
により、パッケージ基体10を、リッド11に形成され
た半田層24で封止した場合、リッド11とパッケージ
基体10のメタライズ層17の間で良好な半田のメニス
カス形状が得られ、封止性が向上すると共に、該半田が
立ち上がり壁19によって、封止の際の内部ガスによる
吹き飛ばされる半田が、パッケージ外に飛散するのを抑
制できる。ここで、側面部22の下地金属層、半田層は
必ずしも必要ではない。ところで、半田層24を形成す
る半田としては、融点が250℃〜320℃程度で、そ
の組成が、Pb,Sn,In,Bi,Ag,Sbの一部
もしくは全部を含む半田を用いることができ、また下地
金属層23を形成する金属ペースト等としては、パッケ
ージ基体10におけるメタライズ層17と同様の形態と
している。The package sealing lid 11 includes a ceramic plate and a solder layer 24 formed on a lower peripheral portion 21 and a side surface 22 of a lid body 20 with a base metal layer 23 interposed therebetween. Here, the thickness t of the solder layer 24 and the step portion 15
And the depth d of the rising wall 19 has a relationship of t ≦ d. Preferably, the relationship is such that a part of the lid body 20 of the package sealing lid 11 can be fitted in the lid fitting step 15 as t <d. Thereby, when the package base 10 is sealed with the solder layer 24 formed on the lid 11, a good solder meniscus shape is obtained between the lid 11 and the metallized layer 17 of the package base 10, and the sealing property is improved. In addition, the rising of the solder by the rising wall 19 can prevent the solder blown off by the internal gas at the time of sealing from scattering outside the package. Here, the base metal layer and the solder layer on the side surface portion 22 are not necessarily required. By the way, as the solder for forming the solder layer 24, a solder having a melting point of about 250 ° C. to 320 ° C. and containing a part or all of Pb, Sn, In, Bi, Ag, and Sb can be used. The metal paste for forming the base metal layer 23 has the same form as the metallized layer 17 in the package base 10.
【0018】そして、本実施形態の電子部品収納用パッ
ケージは、パッケージ基体10の電子部品搭載面13a
に電子部品14を搭載すると共に、電子部品14とワイ
ヤボンディング面13bのワイヤボンディングパターン
をボンデングワイヤで接続した後、パッケージ基体10
のリッド嵌入用段差部15のメタライズ層17に、パッ
ケージ封止用リッド11の半田層24を対向させて、パ
ッケージ封止用リッド11を嵌め、バネ、クリップ等の
固定具を介して押し付け固定し、炉内で半田層24の半
田を溶融させ、該半田をメタライズ層17により濡れ拡
がらせて良好なメニスカス形状を形成させて電子部品1
4を気密封止することができる。ところで、電子部品搭
載部13を封止する際、電子部品搭載部13の内部ガス
は、熱により膨張し、外部に抜け出ようとするが、メタ
ライズ層17に濡れ広がった半田により、該ガスの抜け
出しを阻止されるため、そのため半田が飛散する。しか
し、この飛散した半田は、リッド嵌入用段差部15を形
成する立ち上がり壁19によって、パッケージ外に飛散
するのを抑制できる。また、溶融した半田は、メタライ
ズ層17に濡れ広がるが、メタライズ層17の内端a
と、電子部品搭載部13の立ち上がり壁上縁端bとの引
き下がり間隔xが、0.5mm以上あるので、半田が電
子部品搭載部13内に流れ落ちて、ワイヤボンディング
パターンをショートさせること等の不具合を防止でき
る。The electronic component housing package of the present embodiment is provided on the electronic component mounting surface 13a of the package base 10.
After the electronic component 14 is mounted on the package base 10 and the electronic component 14 and the wire bonding pattern on the wire bonding surface 13b are connected by bonding wires,
The package sealing lid 11 is fitted with the solder layer 24 of the package sealing lid 11 opposed to the metallized layer 17 of the lid fitting step portion 15, and pressed and fixed via a fixing tool such as a spring or a clip. Then, the solder of the solder layer 24 is melted in a furnace, and the solder is wetted and spread by the metallized layer 17 to form a good meniscus shape.
4 can be hermetically sealed. By the way, when the electronic component mounting portion 13 is sealed, the gas inside the electronic component mounting portion 13 expands due to heat and tends to escape to the outside, but the gas escapes due to the solder wet and spread on the metallization layer 17. And the solder is scattered. However, the scattered solder can be prevented from being scattered outside the package by the rising wall 19 that forms the step portion 15 for lid fitting. The molten solder spreads on the metallized layer 17, but the inner end a of the metallized layer 17
And the distance x between the rising edge b of the electronic component mounting portion 13 and the upper edge b of the electronic component mounting portion 13 is 0.5 mm or more, so that the solder flows down into the electronic component mounting portion 13 to short-circuit the wire bonding pattern. Can be prevented.
【0019】[0019]
【実施例】次に、上述した本実施形態の電子部品収納用
パッケージの作用・効果を確認するために、図1、2に
示す形態のパッケージにおいて、パッケージ封止用リッ
ドとして、半田層の厚み:0.2mm、半田層の幅:
0.25mmで、縦横長さが、33mm×33mmのセ
ラミック板からなるリッドを用い、パッケージ基体とし
て、引き下がり間隔x:0.7mm、0.5mm、0.
4mm、間隔y:0.7mm、0.5mm、0.4m
m、リッド嵌入用段差部の立ち上がり壁の深さd:0m
m〜0.25mmの異なる複数種類のセラミック製のパ
ッケージ基体を用いて、リッド嵌入用段差部の立ち上が
り壁の深さdと半田飛散による不具合発生率との関係を
調べた。その結果を図3と表1に示す。EXAMPLE Next, in order to confirm the operation and effect of the electronic component storage package of the present embodiment described above, in the package of the form shown in FIGS. : 0.2 mm, width of solder layer:
A lid made of a ceramic plate having a size of 0.25 mm and a length and width of 33 mm × 33 mm was used. As a package base, pulling-down intervals x: 0.7 mm, 0.5 mm, 0.
4 mm, interval y: 0.7 mm, 0.5 mm, 0.4 m
m, depth d of the rising wall of the step portion for lid insertion: 0 m
The relationship between the depth d of the rising wall of the step portion for lid fitting and the defect occurrence rate due to solder scattering was examined using a plurality of types of ceramic package bases having different sizes of m to 0.25 mm. The results are shown in FIG.
【0020】そして、図3に示すように、パッケージ封
止用リッドの半田層の厚みtと前記リッド嵌入用段差部
の深さdを、t≦dとし、メタライズ層の内端と、電子
部品搭載部の立ち上がり上縁端との間に引き下がり間隔
を設け、またパッケージ封止用リッドのリッド本体の下
面外縁を、メタライズ層の外端より電子部品搭載部側に
位置させた場合、半田飛散による不具合発生率を少なく
することができるということが確認できた。As shown in FIG. 3, the thickness t of the solder layer of the package sealing lid and the depth d of the step portion for fitting the lid satisfy t ≦ d, and the inner end of the metallization layer and the electronic component When a pull-down interval is provided between the rising edge of the mounting part and the outer edge of the lower surface of the lid body of the package sealing lid is positioned closer to the electronic component mounting part than the outer edge of the metallization layer, solder scattering may occur. It was confirmed that the failure rate can be reduced.
【0021】また、表1よりxを0.5mm以上とした
場合、キャビティへの半田流れを防止でき、yを0.5
mm以上とした場合、良好なメニスカス形状を形成でき
ることがわかった。Further, from Table 1, when x is 0.5 mm or more, it is possible to prevent the solder from flowing into the cavity, and to set y to 0.5 mm.
It was found that a good meniscus shape can be formed when the thickness is not less than mm.
【図1】 本発明の実施形態を示す電子部品収納用パッ
ケージの縦断面図である。FIG. 1 is a longitudinal sectional view of an electronic component housing package according to an embodiment of the present invention.
【図2】 パッケージ基体の平面図である。FIG. 2 is a plan view of a package base.
【図3】 リッド嵌入用段差部の立ち上がり壁の高さと
半田飛散による不具合発生率との関係を示すグラフであ
る。FIG. 3 is a graph showing a relationship between a height of a rising wall of a step portion for lid fitting and a failure occurrence rate due to solder scattering.
【図4】 図1のA部分とB部分の拡大図である。FIG. 4 is an enlarged view of a portion A and a portion B of FIG.
【図5】 従来の電子部品収納用パッケージの縦断面図
である。FIG. 5 is a longitudinal sectional view of a conventional electronic component storage package.
10・・・パッケージ基体、11・・・パッケージ封止
用リッド、13・・・電子部品搭載部、13a・・・電
子部品搭載面、13b・・・ワイヤボンディング面、1
4・・・電子部品、15・・・リッド嵌入用段差部、1
5a・・・段差底面、16・・・外部接続端子、17・
・・メタライズ層、18・・・電子部品搭載部13の立
ち上がり壁、19・・・リッド嵌入用段差部15の立ち
上がり壁、20・・・リッド本体、21・・・リッド本
体の下面周縁部、22・・・リッド本体の側面部、23
・・・下地金属層、24・・・半田層、a・・・メタラ
イズ層17の内端、b・・・立ち上がり壁18の上縁
端、t・・・半田厚、d・・・リッド嵌入用段差部15
の立ち上がり壁19の深さ、c・・・立ち上がり壁19
の下縁端、e・・・メタライズ層17の外端、f・・・
リッド本体の下面外縁、1・・・パッケージ基体、3・
・・電子部品搭載部、4・・・電子部品、2・・・パッ
ケージ封止用リッド、5・・・メタライズ層、6・・・
下面周縁部、8・・・半田層、9・・・外部接続端子DESCRIPTION OF SYMBOLS 10 ... Package base, 11 ... Package sealing lid, 13 ... Electronic component mounting part, 13a ... Electronic component mounting surface, 13b ... Wire bonding surface, 1
4 ・ ・ ・ Electronic component, 15 ・ ・ ・ Step portion for lid insertion, 1
5a: step bottom, 16: external connection terminal, 17
..Metalized layer, 18 ... Rising wall of electronic component mounting portion 13, 19 ... Rising wall of step portion 15 for lid fitting, 20 ... Lid body, 21 ... Peripheral edge of lower surface of lid body, 22 ... side part of lid body, 23
... underlying metal layer, 24 ... solder layer, a ... inner end of metallization layer 17, b ... upper edge of rising wall 18, t ... solder thickness, d ... lid fit Step 15
Depth of the rising wall 19, c ... rising wall 19
Lower edge, e... Outer edge of metallization layer 17, f.
Outer edge of lower surface of lid body, 1 ... package base, 3
..Electronic component mounting part, 4 ... Electronic component, 2 ... Lid for package sealing, 5 ... Metalized layer, 6 ...
Lower peripheral edge, 8: solder layer, 9: external connection terminal
【表1】 [Table 1]
Claims (2)
を備えたパッケージ基体と、周縁部に半田層を備えたパ
ッケージ封止用リッドを有する電子部品収納用パッケー
ジにおいて、該電子部品収納用パッケージ基体は、該電
子部品搭載部の外周部分に該パッケージ封止用リッドを
嵌め込むリッド嵌入用段差部を有し、該リッド嵌入用段
差部の底面に枠状のメタライズ層を有し、該メタライズ
層の内端は、該電子部品搭載部の立ち上がり上縁端より
該リッド嵌入用段差部の立ち上がり下縁端側に寄った部
位に位置し、また前記パッケージ封止用リッドのリッド
本体の下面外縁は、該メタライズ層の外端より前記電子
部品搭載部の立ち上がり上縁端側に寄った部位に位置
し、また該パッケージ封止用リッドの半田層の厚みtと
前記リッド嵌入用段差部の深さdを、t≦dの関係にし
てなることを特徴とする電子部品収納用パッケージ。1. An electronic component storage package having a package base having an electronic component mounting portion formed of a concave portion or an opening and a package sealing lid having a solder layer on a peripheral portion thereof. Has a lid fitting step for fitting the package sealing lid on an outer peripheral portion of the electronic component mounting portion, has a frame-shaped metallized layer on the bottom surface of the lid fitting step, and has the metallized layer. Is located at a position closer to the rising lower edge of the lid fitting step than the rising upper edge of the electronic component mounting portion, and the lower edge of the lower surface of the lid body of the package sealing lid is The thickness t of the solder layer of the package sealing lid and the height difference between the lid fitting step and the outer edge of the metallization layer, which are closer to the rising upper edge side of the electronic component mounting portion. An electronic component storage package, wherein the depth d of the portion is set to satisfy a relation of t ≦ d.
載部の立ち上がり上縁端の間隔xが、0.5mm以上で
あり、また前記パッケージ封止用リッドのリッド本体の
下面外縁と、メタライズ層の外端との間隔yが、0.5
mm以上で、かつパッケージ封止用リッドの半田層の厚
みtと前記リッド嵌入用段差部の深さdが、t<dで、
該パッケージ封止用リッドのリッド本体の一部が前記リ
ッド嵌入用段差部内に嵌入している請求項1に記載の電
子部品収納用パッケージ。2. A distance x between an inner end of the metallization layer and a rising upper edge of an electronic component mounting portion is 0.5 mm or more, and a lower surface outer edge of a lid body of the package sealing lid and a metallization. The distance y from the outer edge of the layer is 0.5
mm or more, and the thickness t of the solder layer of the package sealing lid and the depth d of the lid fitting step are t <d,
The electronic component storage package according to claim 1, wherein a part of a lid body of the package sealing lid is fitted into the lid fitting step.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9025971A JPH10209331A (en) | 1997-01-24 | 1997-01-24 | Electronic component storage package |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9025971A JPH10209331A (en) | 1997-01-24 | 1997-01-24 | Electronic component storage package |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH10209331A true JPH10209331A (en) | 1998-08-07 |
Family
ID=12180624
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP9025971A Pending JPH10209331A (en) | 1997-01-24 | 1997-01-24 | Electronic component storage package |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH10209331A (en) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2008047701A (en) * | 2006-08-16 | 2008-02-28 | Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> | Optical module |
-
1997
- 1997-01-24 JP JP9025971A patent/JPH10209331A/en active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2008047701A (en) * | 2006-08-16 | 2008-02-28 | Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> | Optical module |
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