JPH10209502A - 光軸調整装置及び光軸調整方法 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】 光学部品と発光源との間における光軸を高精
度に調整することのできる光軸調整装置及び光軸調整方
法を提供する。 【解決手段】 赤外線カメラ２７は赤外線レーザチップ
１１から出射されたレーザ光を撮像する。画像処理装置
４０はその撮像画像を２値化する。パソコン３１は２値
化データから重心位置座標を求め、その重心位置座標が
基準位置座標に一致するように赤外線レーザチップ１
１，プリズム１４，集光レンズ１５，光ファイバ１６の
位置を調整する。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、半導体レーザや発
光ダイオード等発光半導体素子を内蔵する光半導体素子
モジュールの調整装置及び光軸調整方法に関する。

【０００２】

【従来の技術】以下、従来における光軸調整方法として
半導体レーザと光学部品との光軸を一致させる場合を例
にとって説明する。図７はその従来の光軸調整方法を実
現する光学系を示す図である。図７において、３は半導
体レーザ、２はレーザ光、４は２方向への平行移動
（Ｘ、Ｙ）及び回転調整（θｘ、θｙ）が可能なステー
ジに搭載されたレンズ（光軸調整対象の光学部品）、５
はレーザ光２の照射位置を確認するためのターゲットで
ある。

【０００３】この光学系を用いた光軸調整においては、
まず、半導体レーザ３を駆動してレーザ光２をあらかじ
め所望の光学系上を通す。その際、光軸を一致させるべ
きレンズ４は挿入せず、又、レーザ光２は十分遠方まで
飛ばしておく。さらに、遠方に用意されたターゲット５
によって、レンズ４挿入前のレーザ光２の照射位置に印
を付けておく。

【０００４】次に、レーザ照射位置がターゲット５上の
印からズレないように、レンズ４を挿入する。このよう
なレンズ４の挿入に際して、レンズ４へのレーザ光２の
入射位置及びレンズ４の傾きの調整は、レンズ４自身を
そのステージの調整機構によって移動、回転させること
により行う。

【０００５】

【本発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記
した従来の光軸調整方法においては光軸調整の実行可能
な条件が非常に限られており、光軸の調整が不可能な場
合があった。例えば、光学系の関係でレンズ４の挿入位
置より後方に十分に長い距離を取れない場合とか、ある
いは、焦点距離が非常に短いレンズを挿入しなければな
らない場合には、レンズ４の後方遠方位置にレーザ光２
の照射位置の印を付けるためのターゲット５を配置でき
なくなるので、上記方法で光軸を調整することができな
い。

【０００６】また、上記方法では遠方でのターゲット５
でのレーザ光２の照射位置の変化によってレンズ４の光
軸の調整を行うが、レンズを挿入しない状態でのレーザ
光は、ビーム径がかなり拡がっており、高精度に光軸を
求めることが困難である。さらに、レンズ通過後の場合
も遠方においてもレーザ光２のビーム径はかなり拡がっ
てしまい、レーザ光２のレンズ４への入射位置及び入射
角度の違いに起因するターゲット５での照射位置の変化
が見極めがたい。このため、レーザ光の光軸を微細に調
整することは困難であった。

【０００７】本発明は、上記従来技術の問題点を解決す
るためになされたものであって、発光素子から照射され
た光の光軸にレンズ等の光学部品の光軸を一致させるこ
とを可能とする光軸調整装置及び光軸調整方法を提供す
ることを目的とする。

【０００８】

【課題を解決するための手段】請求項１に記載の光軸調
整装置は、光学部品と該光学部品へ光線を供給する発光
源との間の光軸を調整する光軸調整装置において、前記
光線の光路中に配置され、前記光線を撮像する撮像手段
と、前記撮像手段による撮像画像を画像処理し、前記光
線の前記撮像手段上での入射位置座標を検出する画像処
理手段と、該入射位置座標が基準座標と一致するよう
に、前記光学部品と前記発光源との位置関係を調整する
調整手段と、を備えてなるものである。

【０００９】請求項２に記載の光軸調整装置は、請求項
１に記載の光軸調整装置において、前記画像処理手段
が、前記撮像手段による撮像画像から２値化データを得
るとともに、該２値化データの重心位置を計測すること
で前記入射位置座標を検出する２値化手段を有してなる
ものである。

【００１０】請求項３に記載の光軸調整装置は、請求項
１または請求項２に記載の光軸調整装置において、前記
基準座標を生成する基準座標生成手段を有しており、該
基準座標生成手段が、基準とする光学部品あるいは発光
源を前記撮像手段が撮像した撮像画像から、少なくとも
２つの閾値を用いて、少なくとも２つの２値化データを
得る基準２値化手段と、前記少なくとも２つの２値化デ
ータの重心位置が一致するように、前記基準とする光学
部品あるいは発光源の位置調整を行う基準調整手段と、
前記少なくとも２つの２値化データの重心位置が一致し
たときの該重心位置の座標を基準座標として記憶する記
憶手段と、を有してなるものである。

【００１１】請求項４に記載の光軸調整装置は、請求項
１乃至請求項３のいずれかに記載の光軸調整装置におい
て、前記光学部品あるいは前記発光源の外形を撮像し
て、その撮像結果に基づき前記光学部品と前記発光源と
の間の位置調整を行う粗調整手段を有してなるものであ
る。

【００１２】請求項５に記載の光軸調整装置は、請求項
１乃至請求項４のいずれかに記載の光軸調整装置におい
て、前記撮像手段はフォーカス方向に移動可能に形成さ
れており、前記撮像手段をフォーカス方向に駆動して、
前記光学部品あるいは前記発光源の特性に基づき予め設
定された位置に配置する撮像駆動手段を有してなるもの
である。

【００１３】請求項６に記載の光軸調整装置は、請求項
１乃至請求項５のいずれかに記載の光軸調整装置におい
て、前記光学部品あるいは前記発光源から出射する光線
の強度を測定して、該強度が最大となるように、前記光
学部品あるいは前記発光源の位置を調整する光強度調整
手段を有してなるものである。

【００１４】請求項７に記載の光軸調整装置は、光学部
品と該光学部品へ光線を供給する発光源との間の光軸を
調整する光軸調整方法において、前記光線の光路中に配
置された撮像手段により、前記光線を撮像する工程と、
前記撮像手段による撮像画像を画像処理し、前記光線の
前記撮像手段上での入射位置座標を検出する工程と、該
入射位置座標が基準座標と一致するように、前記光学部
品と前記発光源との位置関係を調整する工程と、を含む
ものである。

【００１５】以下に本発明の作用を説明する。

【００１６】請求項１に記載の光軸調整装置では、撮像
手段を用いて光軸を調整するため、光線の径が適切な大
きさの位置においてその光軸を観測することができる。
したがって、精密に光軸調整を行うことが可能となる。

【００１７】請求項２に記載の光軸調整装置では、２値
化データの重心位置から入射位置座標を求め、その入射
位置座標が基準座標と一致するように光軸を調整する。
このため、光学部品や発光源の傾きを正確に検出し、調
整できる。

【００１８】請求項３に記載の光軸調整装置では、少な
くとも２つの閾値を用いて２値化データを作成し、それ
らの重心位置が一致したときの重心位置の座標を基準座
標とするため、傾き等の調整が精密になされた光学部品
あるいは発光源を基準として他の部品の位置調整を行う
ことができる。したがって、光軸調整が精密に行える。

【００１９】請求項４に記載の光軸調整装置では、光学
部品あるいは発光源の外形の撮像結果に基づき粗調整を
行う。このため、微調整による調整量を減少でき、調整
時間を短縮できる。

【００２０】請求項５に記載の光軸調整装置では、撮像
手段がフォーカス方向に移動可能に形成されており、光
軸調整する対象物（光学部品あるいは発光源）に応じて
撮像手段がフォーカス方向に移動し、その対象物の撮像
に適した位置（予め計算により求められた位置）に配置
される。したがって、光線の形状が常に最適となるよう
に撮像することが可能となり、従来のような光線の径が
拡がった位置で光軸の傾きの計測を行わなくても良くな
り、位置調整の精度を向上させることができる。

【００２１】請求項６に記載の光軸調整装置では、光線
の強度が最大となるように位置調整（光軸調整）を行
う。これにより、さらに精密な位置調整が可能となる。

【００２２】請求項７に記載の光軸調整方法では、撮像
手段により光線を撮像し、その撮像手段上における光線
の入射位置に基づき、光学部品と発光源との間の位置調
整を行う。このため、精密な光軸調整が可能となる。

【００２３】

【発明の実施の形態】以下、本発明の光軸調整方法及び
光軸調整装置について、赤外線レーザチップを有する光
学モジュールの光軸を調整する場合を例にとって説明す
る。

【００２４】図１は本実施の形態のこの光軸調整方法及
び光軸調整装置を説明する図である。以下、この図に基
づいて本光軸調整方法及び光軸調整装置について説明す
るが、まず光軸調整対象である赤外線レーザチップ１１
を有する光学モジュール５０について説明する。

【００２５】図２は、その光学モジュール５０の構成図
であり、（ａ）はその概略構成図であり、（ｂ）は分解
斜視図である。この図において、１１は赤外線レーザチ
ップ、１２は光ファイバからの出射光を受光するための
フォトダイオード、１３は上記部品をパッケージしたレ
ーザペン、１５はレーザペンから出力されたレーザ光を
任意の位置に集光させるための集光レンズ、１６は集光
レンズにより集光されたレーザ光１７を受光するための
光ファイバ、１４は光ファイバからの出射された光を集
光レンズ１５を介してレーザペン１３内のフォトダイオ
ード１２にレーザ光を受光させるためのプリズムであ
る。尚、上記プリズム１４はプリズムナイフエッジ１４
ａを、集光レンズ１５は基準面１５と基準円筒１５ｂ
を、光ファイバ１６は基準面１６ａと基準円筒１６ｂを
有している。本光学モジュール１０は上記構成により双
方向の通信が可能である。

【００２６】次に、上記光学モジュール１０の光軸調整
を行うための光学機構について図１に基づき説明する。
図１において、２０は光学モジュール１０を撮像する顕
微鏡である。４０はこの光学モジュール１０により撮像
されたデータの処理を行う画像処理装置であり、処理後
のデータは制御装置（Ｐ．Ｃ．）３１により処理され
る。４１はレーザ点灯回路であり、赤外線レーザチップ
１１を駆動する。３０は赤外線レーザチップ１１からの
レーザ光が光ファイバ１６を通過した後の光強度を測定
するパワーメータ３０である。４２は光ファイバ１６内
に赤外線を入力するための赤外線光源であり、４３はそ
の赤外線光源を駆動する点灯回路である。図１におい
て、顕微鏡２０は、Ｚ方向に移動可能な１軸ステージ上
に搭載され、任意の位置に移動可能となっており、ま
た、集光レンズ１５、光ファイバ１６、レーザペン１
３、プリズム１４も図示せぬ駆動源により、Ｘ、Ｙ、
Ｚ、θｘ、θｙ方向の任意の位置に移動可能となってい
る。

【００２７】次に、本光軸調整装置における顕微鏡２０
について詳細に説明する。図３は、その顕微鏡２０構成
を示す拡大図である。図３において、２７は赤外線カメ
ラであり、レーザペンから出射された赤外線光の状態を
撮像するときに使用する。２６はＣＣＤカメラであり、
各光学部品を粗調整する場合の明視野画像を撮像する。
赤外線カメラ２７とＣＣＤカメラ２６は、ハーフミラー
２３を介し対物レンズ２１で拡大された画像を同軸上で
観測できる構成となっている。また、ＣＣＤカメラ２６
での観測時の同軸照明として照明２５を設けており、こ
の照明２５から出た光はハーフミラー２２を介し対物レ
ンズ２１を通してワークに照射し、ワークからの反射光
は、ハーフミラー２２、２３を介しミラー２４により９
０度向きをかえ、ＣＣＤカメラ２６で撮像されるように
なっている。

【００２８】次に、光学モジュール１０における光学部
品の光軸調整方法を、図４，５に示す説明図に基づき説
明する。

【００２９】本発明では、まず、発光源（赤外線レーザ
チップ１１）の光軸と観測手段（顕微鏡２０）の光軸を
画像処理を用いて一致させ、その光軸の座標（基準座
標）を記憶する。その後、その基準座標を用いて、光学
部品（プリズム１４，集光レンズ１５，光ファイバ１
６）の外形検査に基づく位置調整（粗調整）と、光学部
品への光の導入に基づく光軸調整（微調整）とを行う。

【００３０】具体的に、本実施の形態では、レーザペ
ン１３（赤外線レーザチップ１１）と顕微鏡２０との間
の位置調整（粗調整）、レーザペン１３（赤外線レー
ザチップ１１）と顕微鏡２０との間の光軸調整（微調
整）、プリズム１４と顕微鏡２０との間の位置調整
（粗調整）、集光レンズ１５と顕微鏡２０との間の位
置調整（粗調整）、集光レンズ１５と顕微鏡２０との
間の光軸調整（微調整）、光ファイバ１６と顕微鏡２
０との間の位置調整（粗調整）、光ファイバ１６と顕
微鏡２０との間の光軸調整（微調整）、プリズム１４
と顕微鏡２０との間の光軸調整（微調整）、をこの順に
行う。以下に詳細に説明する。

【００３１】レーザペン１３の粗調整 まず、顕微鏡２０に取り付けたＣＣＤカメラ２６でレー
ザペン１３の内部に取り付けられた赤外線レーザチップ
１１の表面にフォーカスが合うように顕微鏡のＺ軸ステ
ージを駆動する（図４（ａ）参照）。その後、赤外線レ
ーザチップ１１の外形を認識し、赤外線レーザチップ１
１の外形中心がＣＣＤカメラ２６で撮像した画像のはぼ
中央にくるようにレーザチップ１１を搭載したステージ
（Ｘ、Ｙ軸）を駆動しその位置調整を行う。

【００３２】レーザペン１３の微調整 次に、赤外線レーザチップ１１をＬＤ点灯回路４１によ
り点灯し、顕微鏡２０に取り付けた赤外線カメラ２７に
より、レーザ光を撮像する。このとき、顕微鏡のフォー
カス位置（Ｚ軸位置）は、対物レンズ２１の合焦位置が
赤外線レーザチップ１１表面より少し離れた位置となる
位置に設定しておく（具体的には、２０倍対物レンズ使
用時は、赤外線レーザチップ１１表面より３００μｍ離
れた位置が望ましい）。これは、この調整においては後
述するようにレーザ光の形状を基に光軸調整を行うた
め、対物レンズ２１の合焦位置が赤外線レーザチップ１
１表面にあるとレーザ光の形状が極めて小さく、光軸調
整が行えなくなるためである。

【００３３】そして、赤外線カメラ２７により撮像した
画像を、画像処理装置４０が２値化処理する。すなわ
ち、上記画像を２値化レベルよりも光強度の大きい部分
と小さい部分とに分離する。このとき、少なくとも２つ
の２値化レベルを用いて処理を行い少なくとも２通りの
２値化データを作成する。

【００３４】以下、ここでの２値化処理について具体的
に説明する。図６は、半導体レーザチップ１１を顕微鏡
２０の赤外線カメラ２７により撮像した画像を２値化処
理した状態を示す図であり、Ｇ₀は、２値化レベルが低
い場合の処理画像、Ｇ₁は、２値化レベルが高い場合の
処理画像を示している。ここで、図６（ａ），（ｂ），
（ｃ）はそれぞれ半導体レーザビーム１７が光軸検出用
顕微鏡２０に対して左方向に傾いている場合、正対した
場合、右方向に傾いている場合を示している。尚、図６
（ａ），（ｂ），（ｃ）における最右段には赤外線レー
ザチップ１１と赤外線カメラ２７との位置関係を示して
いる。

【００３５】これらの図から分かるように、２値化レベ
ルが低い場合には、半導体レーザビーム１７がどのよう
な状態であっても面積の大きな処理画像Ｇ₀が得られる
（２値化レベルが低い場合、光量が低い部分も高い部分
も同一の状態として処理されるため）が、２値化レベル
が高い場合は、光強度が高い部分のみが強調され面積の
小さい処理画像Ｇ₁が得られるため、半導体レーザビー
ム１７の傾きの度合いによって、その処理画像の重心位
置が変化する。本実施の形態では、上記２値化処理画像
の特性を利用して、光軸の調整を行う。

【００３６】まず、低いレベルの２値化レベルを用い
て、Ｇ₀の重心座標を算出する。次に、高いレベルの２
値化レベルを用いて、Ｇ₁の重心位置座標を算出する。
そして、Ｇ₀，Ｇ₁の重心位置座標が一致していなけれ
ば、半導体レーザチップ１１をθｘ若しくはθｙ方向に
変位させ（実際にはレーザペン１３をθｘ 、θｙに調
整）、Ｇ₀の重心位置座標とＧ₁の重心位置座標が一致す
るように調整する。これにより、顕微鏡２０の光軸に赤
外線レーザチップ１１の光軸が一致する。

【００３７】以上のような処理を終えたら、次に赤外線
レーザチップ１１の発光点位置（発光点座標）を計測し
て、後述する他の光学部品の位置調整時における基準座
標とする。この発光点位置の計測は以下のようにして行
う。

【００３８】まず、顕微鏡２０のＺ軸ステージを駆動
し、赤外線カメラ２７で撮像した赤外線レーザビーム１
７を画像処理装置４０により画像処理し、レーザビーム
径が最小になるＺ軸方向の位置を探索し、その時の赤外
線カメラ２７上の赤外線レーザビームの面積重心位置座
標と、顕微鏡２０用Ｚ軸ステージの座標値を記憶する。

【００３９】プリズム１４の粗調整 本実施の形態では、プリズム１４の形状は、プリズムナ
イフエッジ１４ａを赤外線レーザ光軸と一致させること
により、光ファイバからの光がレーザペン１３内のフォ
トダイオード１２に照射される位置関係になるように予
め決められたものとする。このとき、プリズム１４の調
整は、プリズムナイフエッジ１４ａを赤外線レーザ光軸
と一致させることが必要である。

【００４０】そのため、まず、プリズムナイフエッジ１
４ａを顕微鏡２０に取り付けたＣＣＤカメラ２６により
撮像する。このとき、プリズムナイフエッジ１４ａがジ
ャストフォーカスになるように、顕微鏡２０をＺ方向に
駆動する（図５（ｂ）参照）。そして、画像処理装置４
０によりプリズムナイフエッジ１４ａの位置を計測す
る。そして、赤外線レーザチップ１１の発光点座標とそ
の計測座標が一致するように、パソコン３１の制御によ
り図示せぬ駆動源によりプリズム１４をＸ、Ｙ、θｚ方
向に調整する。

【００４１】集光レンズ１５の粗調整 使用する集光レンズ１５の前焦点、後焦点等の値は予め
調べておくことが可能であるため、赤外線レーザビーム
１７の発光点位置座標を基準に集光レンズ１５が位置す
べき座標位置は計算上求まる。

【００４２】そこで、まず、集光レンズ１５の基準面１
５ａが光学上配置されなければならない位置（すなわち
予め計算された座標位置）に、ＣＣＤカメラ２６のフォ
ーカスが合うように、顕微鏡２０のＺ軸を駆動する。本
実施の形態では、このように適切な位置に顕微鏡２０の
フォーカスが合うように顕微鏡２０を駆動するため、精
密な調整が可能である。

【００４３】次に、集光レンズ１５を図示せぬ駆動源に
より赤外線レーザ光軸内に移動させ、図５（ｃ）で示す
ように配置して、集光レンズ１５の基準面１５ａを顕微
鏡２０のＣＣＤカメラ２６で撮像し、基準面１５ａの画
像が全域においてジャストフォーカスになるように集光
レンズのθｘ、θｙ軸を駆動し調整する。この作業によ
り顕微鏡２０の光軸に対する集光レンズ１５の傾き調整
を完了する。

【００４４】次に、集光レンズ１５の基準円柱１５ｂを
顕微鏡２０のＣＣＤカメラ２６で撮像し、基準円柱１５
ｂの中心がレーザペン光軸調整完了時に求めた基準座標
値に一致するように、Ｘ、Ｙ軸を駆動して調整する。

【００４５】集光レンズ１５の微調整 まず、理論上求まる集光レンズ１５の合焦位置に顕微鏡
２０の対物レンズ２１の焦点位置がくるように顕微鏡２
０のＺ軸を駆動する（図５（ｄ）参照）。

【００４６】続いて、レーザペン１３内の赤外線レーザ
１１をレーザ点灯回路４１により点灯させ、そのレーザ
光を顕微鏡２０の赤外線カメラ２７で撮像する。そし
て、撮像した画像を画像処理装置４０により画像処理
（２値化処理）し、その画像の重心位置を計測する。計
測した重心位置が、レーザ光軸調整時に検出した基準座
標値に一致するように、パソコン３１の制御により集光
レンズ１５のＸ、Ｙ、θｘ、θｙステージを駆動して調
整する。

【００４７】光ファイバ１６の粗調整 まず、光ファイバ１６の基準面１６ａが光学上配置され
なければならない位置（予め計算により求めた位置）
に、顕微鏡２０に取り付けたＣＣＤカメラ２６のフォー
カスが合うように、顕微鏡２０をＺ軸方向に駆動する。

【００４８】次に、光ファイバ１６を図示せぬ駆動源に
より赤外線レーザ光軸内に移動させ、図５（ｅ）に示す
位置に配置する。そして、光ファイバ１６の基準面１６
ａを顕微鏡２０のＣＣＤカメラ２６で撮像し、基準面１
６ａ画像が全域においてジャストフォーカスになるよう
に光ファイバ１６のθｘ、θｙ軸を駆動し調整する。次
に、光ファイバ１６の基準円柱１６ｂを顕微鏡２０のＣ
ＣＤカメラ２６で撮像し、基準円柱１６ｂの中心がレー
ザペン光軸調整完了時に求めた基準座標値に一致する位
置にＸ、Ｙ軸を駆動して調整する。

【００４９】光ファイバ１６の微調整 続いて、レーザペン１３内の半導体レーザ１１をレーザ
点灯回路４１により点灯し、光ファイバ１６の受光側に
設置した光パワーメータ３０の出力をパソコン３１に取
り込み、光ファイバー受光光量が最大となる位置を、光
ファイバ用Ｘ、Ｙ、Ｚ、θｘ、θｙステージを駆動して
調整する（図５（ｆ）参照）。

【００５０】プリズムの微調整 次に、光ファイバの一端に配置された赤外線光源４２を
点灯回路４３により点灯し、レーザペン１３内に配置さ
れたフォトダイオード１２の受光光量を電流計３２によ
り計測し、そのデータをパソコン３１に取り込みフォト
ダイオード１２の受光光量が最大となる位置をプリズム
用Ｘ、Ｙ、θｚステージを駆動し、調整する（図５
（ｇ）参照）。

【００５１】以上説明した〜により光学モジュール
１０の光軸調整が完了する。

【００５２】尚、ここでは、図２に示した光学モジュー
ル１０の光軸調整について説明したが、本発明の光軸調
整方法及び装置はこれに限らず、どのような発光源と光
学部品との間の光軸調整に対しても適用できる。

【００５３】また、発光源から出射する光線の方向と光
学モジュールから出射する光線の方向が異なっている場
合にも適用可能である。この場合には、まず、光線の方
向を変化させる光学部品に基づいて撮像手段の位置を決
定し、その後、発光源や他の光学部品の位置を決定す
る。

【００５４】

【発明の効果】以上のように本発明によれば、赤外線レ
ーザ（発光源）と集光レンズ、光ファイバ、プリズム等
（光学部品）から構成される光学系の光軸調整を、赤外
線及びＣＣＤカメラ（撮像手段）を基準にして全自動で
精密に行うことが可能であり、例えば、光通信用光学系
の高精度の調整及び光学部品の機能、性能評価が可能と
なる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の一実施の形態の光軸調整装置の構成を
示す概略図である。

【図２】光軸調整対象の光学モジュールの一例を示す構
成図である。

【図３】図１の顕微鏡の拡大構成図である。

【図４】図１の光軸調整装置における光軸調整方法を説
明する工程図である。

【図５】図４の工程図に続く工程を説明する工程図であ
る。

【図６】画像処理を用いて光軸を調整する原理を示す図
である。

【図７】従来の光軸調整方法を説明する図である。

【符号の説明】

１１ 赤外線レーザチップ １２ フォトダイオード １３ レーザペン １４ プリズム １５ 集光レンズ １６ 光ファイバー ２６ ＣＣＤカメラ ２７ 赤外線カメラ

Claims (7)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 光学部品と該光学部品へ光線を供給する
   発光源との間の光軸を調整する光軸調整装置において、 前記光線の光路中に配置され、前記光線を撮像する撮像
   手段と、 前記撮像手段による撮像画像を画像処理し、前記光線の
   前記撮像手段上での入射位置座標を検出する画像処理手
   段と、 該入射位置座標が基準座標と一致するように、前記光学
   部品と前記発光源との位置関係を調整する調整手段と、
   を備えてなることを特徴とする光軸調整装置。
2. 【請求項２】 請求項１に記載の光軸調整装置におい
   て、 前記画像処理手段は、前記撮像手段による撮像画像から
   ２値化データを得るとともに、該２値化データの重心位
   置を計測することで前記入射位置座標を検出する２値化
   手段を有してなることを特徴とする光軸調整装置。
3. 【請求項３】 請求項１または請求項２に記載の光軸調
   整装置において、 前記基準座標を生成する基準座標生成手段を有してお
   り、 該基準座標生成手段は、 基準とする光学部品あるいは発光源を前記撮像手段が撮
   像した撮像画像から、少なくとも２つの閾値を用いて、
   少なくとも２つの２値化データを得る基準２値化手段
   と、 前記少なくとも２つの２値化データの重心位置が一致す
   るように、前記基準とする光学部品あるいは発光源の位
   置調整を行う基準調整手段と、 前記少なくとも２つの２値化データの重心位置が一致し
   たときの該重心位置の座標を基準座標として記憶する記
   憶手段と、を有してなることを特徴とする光軸調整装
   置。
4. 【請求項４】 請求項１乃至請求項３のいずれかに記載
   の光軸調整装置において、 前記光学部品あるいは前記発光源の外形を撮像して、そ
   の撮像結果に基づき前記光学部品と前記発光源との間の
   位置調整を行う粗調整手段を有してなることを特徴とす
   る光軸調整装置。
5. 【請求項５】 請求項１乃至請求項４のいずれかに記載
   の光軸調整装置において、 前記撮像手段はフォーカス方向に移動可能に形成されて
   おり、 前記撮像手段をフォーカス方向に駆動して、前記光学部
   品あるいは前記発光源の特性に基づき予め設定された位
   置に、配置する撮像駆動手段を有してなることを特徴と
   する光軸調整装置。
6. 【請求項６】 請求項１乃至請求項５のいずれかに記載
   の光軸調整装置において、 前記光学部品あるいは前記発光源から出射する光線の強
   度を測定して、該強度が最大となるように、前記光学部
   品あるいは前記発光源の位置を調整する光強度調整手段
   を有してなることを特徴とする光軸調整装置。
7. 【請求項７】 光学部品と該光学部品へ光線を供給する
   発光源との間の光軸を調整する光軸調整方法において、 前記光線の光路中に配置された撮像手段により、前記光
   線を撮像する工程と、 前記撮像手段による撮像画像を画像処理し、前記光線の
   前記撮像手段上での入射位置座標を検出する工程と、 該入射位置座標が基準座標と一致するように、前記光学
   部品と前記発光源との位置関係を調整する工程と、を含
   むことを特徴とする光軸調整方法。