JPH10209585A - 導電回路基板及びその製造方法 - Google Patents
導電回路基板及びその製造方法Info
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- JPH10209585A JPH10209585A JP32700997A JP32700997A JPH10209585A JP H10209585 A JPH10209585 A JP H10209585A JP 32700997 A JP32700997 A JP 32700997A JP 32700997 A JP32700997 A JP 32700997A JP H10209585 A JPH10209585 A JP H10209585A
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Abstract
オルガノポリシラン膜を選択的に光照射することにより
形成された光架橋層に銀導電層を形成させてなる回路パ
ターンを有することを特徴とする導電回路基板。 【効果】 本発明により、安価で簡便な工程により、高
い導電率の導電層を持ち、導電性の経時変化が少なく、
ネガ型パターンで優れた精細度の高導電回路を得ること
ができる。これにより、各種フレキシブルスイッチ、バ
ッテリー電極、太陽電池、センサー、帯電防止用保護
膜、電磁シールド用筐体、集積回路、モーター用筐体等
に応用可能な有用な導電回路基板の形成方法として、電
気、電子、通信分野に広く用いることができる。
Description
導電回路をオルガノポリシラン膜を利用して形成した導
電回路基板及びその製造方法に関する。
ノポリシランは、炭素に比べてそのケイ素の持つ金属性
と電子非局在性、高い耐熱性と柔軟性、良好な薄膜形成
特性から非常に興味深いポリマーであり、アミノ基を側
鎖に持つオルガノポリシランをヨウ素で酸化する方法
や、塩化第二鉄蒸気で酸化する方法により、高導電性の
材料が得られている。また、様々な極微細なパターンを
高精度で形成するフォトレジストの開発を目的として、
オルガノポリシランを用いた研究も活発に行われており
(例えば、特開平6−291273号、同7−1141
88号公報)、中でも、特開平5−72694号公報に
おいては、半導体集積回路の製造方法として、導電層に
オルガノポリシランやヨウ素等でドーピングしたオルガ
ノポリシランを用い、絶縁層に光照射によりオルガノポ
リシランから変換したシロキサン層を用いる提案がなさ
れている。
とは、電子材料へ応用するときの大きな障害になってい
た。しかも、大気中の酸素等により容易にシロキサンに
変化しうるオルガノポリシランそのものを導電材料とし
て用いることは、特に信頼性を必要とする電子材料に応
用することに非常な困難が伴っていた。
いては、Si−Si結合を有する化合物を露光後、金属
塩溶液と接触させることによる金属画像の形成方法を報
告している。この方法は、Si−Si結合を有する化合
物と金属塩溶液を接触させることで金属塩が金属まで還
元される必要があり、ポジ型の金属画像の形成方法であ
るが、超微細な画像の形成が可能なネガ型を行おうとし
ても、光照射部のポリマーでは銀塩の還元がすみやかに
は進まず、精密な微細回路形成はできなかった。
安価で簡便な工程により、ネガパターンで優れた精細度
の高導電回路を形成した導電回路基板及びその製造方法
を提供することを目的とする。
発明者は、上記目的を達成するため鋭意検討を行った結
果、H−Si結合を持つオルガノポリシランが紫外線の
ような光の照射により架橋反応が起こり、光照射部分が
溶剤不溶となること、また、この光架橋部分は、銀塩を
非常に容易に還元して銀粒子を生成させ、これにより安
定な電気的導電性が発現することを見出し、この知見に
基づいて本発明をなすに至ったものである。
たH−Si結合を有するオルガノポリシラン膜を選択的
に光照射することにより形成された光架橋層に銀導電層
を形成させてなる回路パターンを有することを特徴とす
る導電回路基板、及び、(2)基板上にH−Si結合を
有するオルガノポリシラン膜を形成し、これを選択的に
光照射して露光部に溶剤不溶の光架橋層を形成させる工
程と、上記オルガノポリシラン膜の未露光部を溶剤で除
去した後、上記光架橋層に銀塩を接触させて、銀導電層
を形成させる工程とを有する導電回路基板の製造方法を
提供する。
と、本発明の導電回路基板は、基板上に形成されたH−
Si結合を有するオルガノポリシラン膜を選択的に露光
して光架橋層を形成し、これに銀塩を接触、還元し、銀
導電層を形成したものである。
ク、プラスチック等の絶縁体、シリコン等の半導体、ア
ルミニウム等の導体が挙げられ、導電回路の使用目的な
どに応じて適宜選定される。
リシラン膜としては、H−Si結合を有するオルガノポ
リシラン、特にH−Si結合を分子中に2個以上有する
オルガノポリシランであって、有機溶剤に可溶なものを
使用することができるが、より好ましくは下記式(1) (HmR1 nXpSi)q (1) で示されるオルガノポリシランが用いられる。
は非置換の脂肪族、脂環式又は芳香族1価炭化水素基で
あり、脂肪族又は脂環式炭化水素基は、好ましくは炭素
数1〜12、より好ましくは1〜8のものが好適であ
り、例えばメチル基、エチル基、プロピル基、ブチル
基、ペンチル基、ヘキシル基、シクロペンチル基、シク
ロヘキシル基等のアルキル基やシクロアルキル基などが
挙げられる。また、芳香族炭化水素基としては、好まし
くは炭素数6〜14、より好ましくは6〜10のものが
好適であり、例えばフェニル基、トリル基、キシリル
基、ナフチル基、ベンジル基、フェネチル基等のアリー
ル基やアラルキル基などが挙げられる。なお、置換炭化
水素基としては、上記に例示した非置換の炭化水素基の
水素原子の一部又は全部がハロゲン原子、アルコキシ
基、アミノ基、アミノアルキル基などで置換したもの、
例えばp−ジメチルアミノフェニル基、m−ジメチルア
ミノフェニル基等が挙げられる。
ロゲン原子であり、アルコキシ基としてはメトキシ基、
エトキシ基等の炭素数1〜4のもの、ハロゲン原子とし
ては、塩素原子、臭素原子等が挙げられ、通常塩素原
子、メトキシ基、エトキシ基が用いられる。このXは、
オルガノポリシラン膜の基板に対する剥離を防止し、密
着性を改善するためのものである。
1、nは0.1≦n≦2、特に0.5≦n≦1.5、p
は0≦p≦0.5、特に0≦p≦0.2であり、かつ1
≦m+n+p≦2.2、特に1.5≦m+n+p≦2.
2を満足する数であり、qは10≦q≦100,00
0、特に10≦q≦10,000の範囲の整数である。
図1に示したように基板1上に上記オルガノポリシラン
膜2を形成する。
0.01〜100μm、特に0.1〜20μmとするこ
とが好ましい。
は、特に限定されず、スピンコート法、ディッピング
法、キャスト法、真空蒸着法、LB法(ラングミュアー
・ブロジット法)などの通常のポリシラン薄膜形成法が
採用できる。特に、オルガノポリシランの溶液を高速で
回転させながら成形するスピンコート法が好適に用いら
れる。オルガノポリシランを溶解させる溶媒の例として
は、ベンゼン、トルエン、キシレンなどの芳香族系炭化
水素、テトラヒドロフラン、ジブチルエーテルなどのエ
ーテル系溶剤が好適に用いられる。この後、しばらく乾
燥雰囲気下で静置したり、或いは減圧下で40〜60℃
程度の温度に放置し乾燥することが効果的である。オル
ガノポリシラン溶液の濃度は、1〜20重量%が好適に
用いられ、これにより0.01〜100μmの範囲の膜
厚のオルガノポリシラン薄膜を形成することができる。
シランは、紫外線のような光の照射により、架橋反応が
起こり、溶剤に不溶となること、また、このポリマーは
架橋した光照射後のものであっても、接触させた銀塩、
特に1価の銀塩に対しては非常に容易に還元して銀粒子
を生成させ、これにより安定な電気的導電性が発現す
る。
ポリシラン膜2を形成させた基板1の上から、パターン
が形成されたマスク3を通して光を照射する。この場
合、500nm以下の波長を有する光、特に紫外光源か
らの光を用いることが好ましい。これにより、光が当た
った部分のみは、架橋が起こり溶剤不溶に変換せしめら
れる。光源としては、水素放電管、希ガス放電管、タン
グステンランプ、ハロゲンランプのような連続スペクト
ル光源でも、各種レーザー、水銀灯のような不連続スペ
クトル光源でもよいが、安価で取り扱いが容易な水銀灯
が好適に用いられ、オルガノポリシランの厚さ1μm当
たり0.01〜100J/cm2の光量が好適に用いら
れる。
橋層2aを形成した後、図3に示したように、マスク3
を取りさり、オルガノポリシラン膜2に有機溶剤4を接
触させ、光未照射部2bのオルガノポリシランを除去す
る。即ち、このオルガノポリシランは光の未照射時でも
化学的還元性を持ち、銀塩を容易に還元して銀粒子を生
成させ、電気的導電性を示すため、導電回路形成のため
には、光照射後に未照射部2bのオルガノポリシラン膜
を溶剤等で除去する必要がある。
部2bを除去する溶剤としては、このオルガノポリシラ
ンをよく溶解させ、架橋させた部分のパターンを壊さな
い溶媒が用いられる。このようなものとして、ベンゼ
ン、トルエンのような芳香族炭化水素、或いはジエチル
エーテル、THFのようなエーテル類、酢酸エチルのよ
うなエステル類等が挙げられる。特に、フェニルハイド
ロジェンポリシランの場合、芳香族炭化水素類が好適に
用いられる。
に接触させて、図4に示したように銀導電層5を形成す
る。
むものが好ましく、通常Ag−Zの形で表し得る。Zと
しては、パークロレート、テトラメチルボレート、ペン
タフルオロホスフェート、トリフルオロメタンスルフォ
ネート、テトラフルオロボレート、テトラフェニルボレ
ート、硝酸基等が用いられる。銀塩の例としては、Ag
BF4,AgClO4,AgPF6,AgBPh4,Ag
(CF3SO3),AgNO3等が好適に用いられる。
の光架橋層をさらす所謂気相法及び銀塩を溶解させた溶
液をこの光架橋層に接触させる溶液法が用いられる。
の範囲で行われる。50℃未満では接触速度が遅く、ま
た300℃を超えると接触時にポリマーの劣化を招くお
それがある。圧力は、通常0.001mmHg〜1気圧
の範囲で行われる。0.001mmHgより低くするこ
とは、その圧力に達するまでに長時間かかり経済的では
なく、また1気圧を超えると接触速度は非常に遅い。
せた部分のパターンを壊さない溶媒が用いられる。この
ようなものとしては、ポリマー側鎖基の種類により溶解
性が異なるため一概には言えないが、水、或いはアセト
ン、メチルエチルケトンのようなケトン類、酢酸エチル
のようなエステル類、メタノール、エタノールのような
アルコール類、ジメチルホルムアミド、ジメチルスルホ
キシド、ヘキサメチルホスホリックトリアミドのような
非プロトン性極性溶媒、その他、ニトロメタン、アセト
ニトリル等が挙げられる。特に、フェニルハイドロジェ
ンポリシランの場合、アルコール類が好適に用いられ
る。
いはこの溶液に膜基板を浸漬し、その後乾燥すること
で、光で架橋した部分は銀塩が銀粒子に還元され、パタ
ーニングされた導電回路基板を得ることができる。
燥温度は、通常0〜150℃、常圧又は減圧で行うのが
好ましい。また必要に応じて50〜600℃の温度で好
ましくは窒素、アルゴン等の非酸化性雰囲気下で熱処理
することにより、光架橋層では銀塩から銀への還元が促
進され導電性のより向上が見られ、露光部と未露光部の
導電率値の差がより大きくなり、導電回路としてより好
ましくなる。
り、高い導電率の導電層を持ち、導電性の経時変化が少
なく、ネガ型パターンで優れた精細度の高導電回路を得
ることができる。これにより、各種フレキシブルスイッ
チ、バッテリー電極、太陽電池、センサー、帯電防止用
保護膜、電磁シールド用筐体、集積回路、モーター用筐
体等に応用可能な有用な導電回路基板の形成方法とし
て、電気、電子、通信分野に広く用いることができる。
的に説明するが、本発明は下記の実施例に制限されるも
のではない。
おいて、ビス(シクロペンタジエニル)ジクロロジルコ
ノセンにメチルリチウムのジエチルエーテル溶液を添加
し、系内で触媒のビス(シクロペンタジエニル)ジメチ
ルジルコノセンを調製し、これにフェニルトリヒドロシ
ランを該触媒の50倍モル添加し、100℃で24時間
加熱撹拌を行った。その後、フロリジルを添加し、濾過
することにより触媒を除去した。これによって、ほぼ定
量的に重量平均分子量2600のフェニルハイドロジェ
ンポリシランの固体を得た。
ジェンポリシランをトルエンに溶解して10重量%のオ
ルガノポリシラン溶液を調製した。ガラス板上にこのオ
ルガノポリシラン溶液を3000rpm,10秒でスピ
ンコートし、2mmHg/50℃で乾燥させて、厚さ
0.5μmの薄膜を形成し、これをパターン形成用基板
とした(図1)。
フォトマスクを重ね、空気中で20Wの低圧水銀灯を用
いて254nmの紫外線を10J/cm2の光量で照射
し、オルガノポリシランの未露光層と架橋された露光層
(光架橋層)というパターン形成された膜を持つガラス
基板を作成した(図2)。
pm,2秒でスピンコートし、2mmHg/50℃で乾
燥させた。これにより、オルガノポリシランの未露光層
が除去された(図3)。
ートの10重量%エタノール溶液に10秒浸漬後、溶液
から取り出し、2mmHg/50℃で乾燥させた。これ
により、上記光架橋層の部分のみ上記銀塩が還元され
て、光架橋層に対応する銀の回路が形成された。その
後、エタノールに2秒浸漬し、エタノールから取り出し
て2mmHg/50℃で乾燥させたところ、上記未露光
層が除去されて顕出されていたガラス板表面(非回路部
分)に付着していた上記銀塩が完全に除去された(図
4)。
り室温まで温度を下げた後、上記銀回路部分と非回路部
分の導電率を導電回路作成直後及び1か月後にそれぞれ
測定したところ、下記の結果が得られ、電気特性は1か
月後でも変化しない安定なものであった。導電回路作成直後の電気特性 銀回路部分の導電率:1×10S/cm 非回路部分の導電率:1×10-12S/cm 銀回路部分と非回路部分との導電率の比:1013 導電回路作成1か月後の電気特性 銀回路部分の導電率:1×10S/cm 非回路部分の導電率:1×10-12S/cm 銀回路部分と非回路部分との導電率の比:1013
ポリシラン、メチルハイドロジェンポリシロキサンにつ
いて上記と同様の操作を行ったところ、トルエンを30
00rpm,2秒でスピンコートした時、未露光部も露
光部も全ての層が除去され、導電回路の形成はできなか
った。
を示す断面図である。
状態を説明する断面図である。
断面図である。
の一実施例を示す導電回路基板の断面図である。
Claims (4)
- 【請求項1】 基板上に形成したH−Si結合を有する
オルガノポリシラン膜を選択的に光照射することにより
形成された光架橋層に銀導電層を形成させてなる回路パ
ターンを有することを特徴とする導電回路基板。 - 【請求項2】 H−Si結合を有するオルガノポリシラ
ンが、下記式(1) (HmR1 nXpSi)q (1) (式中、R1は置換又は非置換の1価炭化水素基、Xは
R1又はアルコキシ基もしくはハロゲン原子を示し、m
は0.1≦m≦1、nは0.1≦n≦2、pは0≦p≦
0.5であり、かつ1≦m+n+p≦2.2を満足する
数、qは10≦q≦100,000の整数である。)で
示されるものである請求項1記載の導電回路基板。 - 【請求項3】 基板上にH−Si結合を有するオルガノ
ポリシラン膜を形成し、これを選択的に光照射して露光
部に溶剤不溶の光架橋層を形成させる工程と、上記オル
ガノポリシラン膜の未露光部を溶剤で除去した後、上記
光架橋層に銀塩を接触させて、銀導電層を形成させる工
程とを有する導電回路基板の製造方法。 - 【請求項4】 H−Si結合を有するオルガノポリシラ
ンが、下記式(1) (HmR1 nXpSi)q (1) (式中、R1は置換又は非置換の1価炭化水素基、Xは
R1又はアルコキシ基もしくはハロゲン原子を示し、m
は0.1≦m≦1、nは0.1≦n≦2、pは0≦p≦
0.5であり、かつ1≦m+n+p≦2.2を満足する
数、qは10≦q≦100,000の整数である。)で
示されるものである請求項3記載の導電回路基板の製造
方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP32700997A JP3666544B2 (ja) | 1996-11-20 | 1997-11-12 | 導電回路基板及びその製造方法 |
Applications Claiming Priority (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8-324530 | 1996-11-20 | ||
| JP32453096 | 1996-11-20 | ||
| JP32700997A JP3666544B2 (ja) | 1996-11-20 | 1997-11-12 | 導電回路基板及びその製造方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH10209585A true JPH10209585A (ja) | 1998-08-07 |
| JP3666544B2 JP3666544B2 (ja) | 2005-06-29 |
Family
ID=26571511
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP32700997A Expired - Fee Related JP3666544B2 (ja) | 1996-11-20 | 1997-11-12 | 導電回路基板及びその製造方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3666544B2 (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2000129211A (ja) * | 1998-10-22 | 2000-05-09 | Shin Etsu Chem Co Ltd | 金属パターン用被膜形成用ポリシラン組成物及び金属パターン形成方法 |
| JP2008047793A (ja) * | 2006-08-21 | 2008-02-28 | Konica Minolta Holdings Inc | 金属パターンの形成方法 |
| JP2008147168A (ja) * | 2000-12-15 | 2008-06-26 | Arizona Board Of Regents | 前駆体を含有するナノ粒子を用いた金属のパターニング方法 |
-
1997
- 1997-11-12 JP JP32700997A patent/JP3666544B2/ja not_active Expired - Fee Related
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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| JP2008147168A (ja) * | 2000-12-15 | 2008-06-26 | Arizona Board Of Regents | 前駆体を含有するナノ粒子を用いた金属のパターニング方法 |
| US8557017B2 (en) | 2000-12-15 | 2013-10-15 | The Arizona Board Of Regents | Method for patterning metal using nanoparticle containing precursors |
| US8779030B2 (en) | 2000-12-15 | 2014-07-15 | The Arizona Board of Regents, The University of Arizone | Method for patterning metal using nanoparticle containing precursors |
| JP2008047793A (ja) * | 2006-08-21 | 2008-02-28 | Konica Minolta Holdings Inc | 金属パターンの形成方法 |
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| JP3666544B2 (ja) | 2005-06-29 |
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