JPH1021280A - Integrated circuit device design method and integrated circuit device - Google Patents
Integrated circuit device design method and integrated circuit deviceInfo
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- JPH1021280A JPH1021280A JP8172704A JP17270496A JPH1021280A JP H1021280 A JPH1021280 A JP H1021280A JP 8172704 A JP8172704 A JP 8172704A JP 17270496 A JP17270496 A JP 17270496A JP H1021280 A JPH1021280 A JP H1021280A
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 集積回路装置のトグル率を基に、ピン位置、
配線の配置順序、ブロックの境界、配線の断面形状を設
定し、消費電力の低減を図ること。
【解決手段】 集積回路装置のレイアウトを決めると
き、先ずトグル率算出手段11は各ブロックのピンのト
グル率を算出する。ピン処理順序決定手段12は算出さ
れたトグル率から、トグル率の高い順にピン情報を並べ
変える。またブロック位置抽出手段13は各ブロックの
位置を抽出する。ピン位置決定手段14は各ブロックの
ピンの位置をピンの処理順序に従い決定する。こうする
とトグル率の高い配線は優先的に短くなり、信号のレベ
ル変化による配線部分の消費電力が低減される。
(57) [Summary] [Problem] To determine a pin position, based on a toggle rate of an integrated circuit device.
Set the wiring arrangement order, block boundaries, and wiring cross-sectional shapes to reduce power consumption. SOLUTION: When determining the layout of an integrated circuit device, first, a toggle rate calculation means 11 calculates a toggle rate of a pin of each block. The pin processing order determining means 12 rearranges the pin information in descending order of the toggle rate from the calculated toggle rate. The block position extracting means 13 extracts the position of each block. The pin position determining means 14 determines the positions of the pins in each block according to the processing order of the pins. In this way, the wiring having a high toggle rate is preferentially shortened, and the power consumption of the wiring portion due to a change in the signal level is reduced.
Description
【0001】[0001]
【発明の属する技術分野】本発明は、半導体集積回路の
マスクレイアウト設計を行う集積回路装置の設計方法、
及び集積回路装置に関するものである。The present invention relates to a method for designing an integrated circuit device for designing a mask layout of a semiconductor integrated circuit,
And an integrated circuit device.
【0002】[0002]
【従来の技術】従来、半導体集積回路(以下、集積回路
装置と呼ぶ)のブロックレイアウトを行なう際、特に最
終的なチップ面積や動作速度を重視して回路ブロックの
ピン位置や配線の配置順序を決めることが一般的であ
る。その結果、全体として配線長が短くなり、容量を少
なくすることで、配線容量に起因する消費電力を少なく
していた。2. Description of the Related Art Conventionally, when a block layout of a semiconductor integrated circuit (hereinafter, referred to as an integrated circuit device) is performed, a pin position of a circuit block and an arrangement order of wirings are determined with particular emphasis on a final chip area and an operation speed. It is common to decide. As a result, the wiring length is shortened as a whole, and the power consumption due to the wiring capacitance is reduced by reducing the capacitance.
【0003】IC、LSI、VLSI等の集積回路装置
を製造するプロセスにおいて、チップに盛り込まれ、そ
れ自身で1つの機能を持った回路をブロックと呼ぶ。例
えば内蔵のROM、RAM、ALU、CPU、DAC、
ADC等である。また各ブロックを構成する基本的な論
理回路をセルと呼ぶ。例えばOR、AND、NAND、
NOR等のゲートや、インバータ(INV)である。そ
して各セル又は各ブロックの入力ポート及び出力ポート
をピンと呼ぶ。信号はこれらのピンを介して他のブロッ
クに入力又は出力される。ここでいう信号とは、H/L
レベルの論理信号を指す。集積回路装置が例えばDSP
や1チップマイクロコンピュータの場合、特にクロック
信号は高速でそのレベルがH又はLレベルに変化する。
またデータやアドレス信号はデータのアクセス毎に各ビ
ットのレベルがH又はLレベルに変化する。このように
各信号ライン又はピンにおいて、信号レベルの変化する
速度をトグル率という。In a process of manufacturing an integrated circuit device such as an IC, LSI, or VLSI, a circuit that is incorporated in a chip and has one function by itself is called a block. For example, built-in ROM, RAM, ALU, CPU, DAC,
ADC and the like. A basic logic circuit forming each block is called a cell. For example, OR, AND, NAND,
It is a gate of NOR or the like, or an inverter (INV). The input port and output port of each cell or each block are called pins. Signals are input or output to other blocks via these pins. The signal referred to here is H / L
Refers to the logic signal of the level. The integrated circuit device is, for example, a DSP
In the case of a microcomputer or a one-chip microcomputer, in particular, the level of the clock signal changes at high speed to H or L level.
The level of each bit of the data or address signal changes to H or L level every time data is accessed. The speed at which the signal level changes in each signal line or pin in this manner is called a toggle rate.
【0004】特にCMOS等を用いてLSI又はVLS
Iを実現する場合、トグル率の低いスタティックな信号
では問題が生じないが、クロック信号やデータバス又は
アドレスバスのLSBの信号ラインはトグル率が高く、
この部分での配線容量による消費電力は無視できないも
のがある。In particular, LSI or VLS using CMOS or the like
In the case of realizing I, no problem occurs with a static signal having a low toggle rate, but the signal line of the clock signal or the LSB of the data bus or the address bus has a high toggle rate,
The power consumption due to the wiring capacity in this part cannot be ignored.
【0005】[0005]
【発明が解決しようとする課題】前述した従来の技術で
は、小さくなった面積によって得られた消費電力の削減
分以上の効果は期待できない。近年重要になってきた低
消費電力の半導体集積回路の実現に対しては、これだけ
の技術では不十分である。In the above-mentioned prior art, it is not possible to expect an effect greater than the reduction in power consumption obtained by the reduced area. This technology alone is not sufficient for realizing a low power consumption semiconductor integrated circuit that has become important in recent years.
【0006】本発明は、このような従来の問題点に鑑み
てなされたものであって、集積回路装置内の配線容量に
起因する消費電力を一層低減することと、消費電力の低
減のためピンの位置と信号ラインの配置順序を効率的に
決定する集積回路装置の設計方法、及びこの方法を用い
て設計した集積回路装置を実現することを目的とする。SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made in view of such a conventional problem, and has been made in order to further reduce power consumption due to wiring capacitance in an integrated circuit device and to reduce power consumption. And a method for designing an integrated circuit device that efficiently determines the positions of the signal lines and the arrangement order of the signal lines, and an integrated circuit device designed using this method.
【0007】[0007]
【課題を解決するための手段】本願の請求項1記載の発
明は、論理セルを含む複数のブロックを、接続ポートで
あるピンと配線ラインとを介して結合して集積回路装置
を設計する集積回路装置の設計方法であって、集積回路
装置における各ブロックのピンのトグル率を算出するト
グル率算出ステップと、前記トグル率算出ステップによ
り算出された前記ブロックのピンのトグル率を基に、ト
グル率の高いピンから順次処理されるようピンの処理順
序を決定するピン処理順序決定ステップと、フロアプラ
ン上での前記ブロックの位置を抽出するブロック位置抽
出ステップと、前記ピン処理順序決定ステップにより決
定されたピン処理順序と前記ブロック位置抽出ステップ
により抽出されたブロック位置とを基に、トグル率の高
いピンから配線が短くなるようブロックのピン位置を順
次決定するピン位置決定ステップと、を備えたことを特
徴とするものである。According to a first aspect of the present invention, there is provided an integrated circuit for designing an integrated circuit device by connecting a plurality of blocks including logic cells via pins serving as connection ports and wiring lines. A method for designing an apparatus, comprising: a toggle rate calculating step of calculating a toggle rate of a pin of each block in an integrated circuit device; and a toggle rate based on the toggle rate of the pin of the block calculated by the toggle rate calculating step. Pin processing order determining step of determining the processing order of the pins so as to be processed sequentially from the pin having the highest number of pins, a block position extracting step of extracting the position of the block on the floor plan, and the pin processing order determining step. Based on the pin processing order and the block position extracted in the block position extraction step, wiring is started from the pin with the highest toggle rate. And pin position determination step of sequentially determining the pin position of Kunar block, is characterized in that it comprises a.
【0008】また本願の請求項2記載の発明は、論理セ
ルを含む複数のブロックを、接続ポートであるピンと配
線ラインとを介して結合して集積回路装置を設計する集
積回路装置の設計方法であって、集積回路装置における
ブロックのピンのトグル率を算出するトグル率算出ステ
ップと、前記トグル率算出ステップにより算出された前
記ブロックのピンのトグル率を基に、トグル率の高いピ
ンから順次処理されるようピンの処理順序を決定するピ
ン処理順序決定ステップと、前記ピン処理順序決定ステ
ップにより決定されたピン処理順序を基に、トグル率の
高いピンからブロック間の配線を行なうブロック間配線
ステップと、を備えたことを特徴とするものである。According to a second aspect of the present invention, there is provided an integrated circuit device designing method for designing an integrated circuit device by connecting a plurality of blocks including logic cells via pins serving as connection ports and wiring lines. A toggle rate calculating step of calculating a toggle rate of a pin of the block in the integrated circuit device; and sequentially processing the pin having a higher toggle rate based on the toggle rate of the pin of the block calculated by the toggle rate calculating step. A pin processing order determining step of determining a processing order of pins so as to perform the processing, and an inter-block wiring step of performing wiring between blocks from a pin having a high toggle rate based on the pin processing order determined by the pin processing order determining step. And characterized in that:
【0009】また本願の請求項3記載の発明は、論理セ
ルを含む複数のブロックを、接続ポートであるピンと配
線ラインとを介して結合して集積回路装置を設計する集
積回路装置の設計方法であって、集積回路装置における
各ブロックのピンのトグル率を算出するトグル率算出ス
テップと、前記トグル率算出ステップにより算出された
前記ブロックのピンのトグル率を基に、トグル率の高い
ピンから順次処理されるようピンの処理順序を決定する
ピン処理順序決定ステップと、フロアプラン上での前記
ブロックの位置を抽出するブロック位置抽出ステップ
と、前記ピン処理順序決定ステップにより決定されたピ
ン処理順序と前記ブロック位置抽出ステップにより抽出
されたブロック位置とを基に、トグル率の高いピンから
配線が短くなるようブロックのピン位置を順次決定する
ピン位置決定ステップと、前記ピン処理順序決定ステッ
プにより決定されたピン処理順序を基に、トグル率の高
いピンからブロック間の配線を行なうブロック間配線ス
テップと、を備えたことを特徴とするものである。According to a third aspect of the present invention, there is provided an integrated circuit device designing method for designing an integrated circuit device by connecting a plurality of blocks including logic cells via pins serving as connection ports and wiring lines. A toggle rate calculating step of calculating a toggle rate of a pin of each block in the integrated circuit device, and a pin having a higher toggle rate based on the toggle rate of the pin of the block calculated by the toggle rate calculating step. A pin processing order determining step of determining a processing order of pins to be processed; a block position extracting step of extracting a position of the block on a floor plan; and a pin processing order determined by the pin processing order determining step. On the basis of the block position extracted in the block position extracting step, wiring is shortened from a pin having a high toggle rate A pin position determining step of sequentially determining a pin position of the lock; and an inter-block wiring step of performing wiring between blocks from a pin having a high toggle rate based on the pin processing order determined by the pin processing order determining step. It is characterized by having.
【0010】また本願の請求項4記載の発明は、論理セ
ルを含む複数のブロックを、接続ポートであるピンと配
線ラインとを介して結合して集積回路装置を設計する集
積回路装置の設計方法であって、各配線ラインのトグル
率を算出するトグル率算出ステップと、前記配線ライン
が接続されるセルを抽出するセル抽出ステップと、前記
トグル率算出ステップにより算出された配線ラインのト
グル率を弁別し、前記セル抽出ステップにより抽出され
たセルを基に、トグル率の高い配線ラインが接続される
セルに対しては同一のブロックに配置し、トグル率の低
い配線ラインが接続されるセルに対しては他のブロック
に配置するブロック配置ステップと、を備えたことを特
徴とするものである。According to a fourth aspect of the present invention, there is provided an integrated circuit device designing method for designing an integrated circuit device by connecting a plurality of blocks including a logic cell via pins serving as connection ports and wiring lines. A toggle rate calculating step of calculating a toggle rate of each wiring line; a cell extracting step of extracting a cell to which the wiring line is connected; and a toggle rate of the wiring line calculated by the toggle rate calculating step is discriminated. Then, based on the cells extracted in the cell extraction step, the cells to which the wiring lines with a high toggle rate are connected are arranged in the same block, and the cells to which the wiring lines with a low toggle rate are connected are And a block arranging step of arranging the blocks in another block.
【0011】また本願の請求項5記載の発明によれば、
論理セルを含む複数のブロックを、接続ポートであるピ
ンと配線ラインとを介して結合して集積回路装置を設計
する集積回路装置の設計方法であって、各配線ラインの
トグル率を算出するトグル率算出ステップと、前記配線
ラインが接続されるセルを抽出するセル抽出ステップ
と、前記トグル率算出ステップにより算出された配線ラ
インのトグル率を弁別し、前記セル抽出ステップにより
抽出されたセルを基に、トグル率の高い配線ラインで接
続されるセルが互いに異なるブロックに属する場合、同
一のブロックに移動させるブロック間移動ステップと、
を備えたことを特徴とするものである。According to the invention described in claim 5 of the present application,
An integrated circuit device design method for designing an integrated circuit device by connecting a plurality of blocks including logic cells via a pin serving as a connection port and a wiring line, the toggle ratio for calculating a toggle ratio of each wiring line A calculating step, a cell extracting step of extracting a cell to which the wiring line is connected, and a toggle rate of the wiring line calculated in the toggle rate calculating step are discriminated, and based on the cell extracted in the cell extracting step. When the cells connected by the wiring line having a high toggle ratio belong to different blocks, an inter-block moving step of moving the cells to the same block;
It is characterized by having.
【0012】また本願の請求項6記載の発明は、論理セ
ルを含む複数のブロックを、接続ポートであるピンと配
線ラインとを介して結合して集積回路装置を設計する集
積回路装置の設計方法であって、各配線ラインのトグル
率を算出するトグル率算出ステップと、前記トグル率算
出ステップにより算出されたトグル率に基づいて弁別
し、高トグル率の配線ラインの少なくとも一方に隣接さ
せて低トグル率の配線ラインを配置するようブロック間
の配線の配置順序を決定する配線配置順序決定ステップ
と、を備えたことを特徴とするものである。According to a sixth aspect of the present invention, there is provided an integrated circuit device designing method for designing an integrated circuit device by connecting a plurality of blocks including logic cells via pins serving as connection ports and wiring lines. A toggle rate calculating step of calculating a toggle rate of each wiring line, and discriminating based on the toggle rate calculated in the toggle rate calculating step, and a low toggle adjacent to at least one of the high toggle rate wiring lines. And a wiring arrangement order determining step of determining the wiring arrangement order between the blocks so as to arrange the wiring lines of the ratio.
【0013】また本願の請求項7記載の発明は、論理セ
ルを含む複数のブロックを、接続ポートであるピンと配
線ラインとを介して結合して集積回路装置を設計する集
積回路装置の設計方法であって、各配線ラインのトグル
率を算出するトグル率算出ステップと、配線ラインの論
理レベルが逆相関係にある配線ラインを抽出する逆相配
線抽出ステップと、前記トグル率算出ステップにより算
出されたトグル率に基づいて弁別し、トグル率が高く、
且つ前記逆相配線抽出ステップで抽出された互いに逆相
の2本の配線ラインに対しては、互いに隣接しないよう
前記配線ライン間に少なくとも1本の低トグル率の配線
ラインを配置する配線配置順序決定ステップと、を備え
たことを特徴とするものである。According to a seventh aspect of the present invention, there is provided an integrated circuit device designing method for designing an integrated circuit device by connecting a plurality of blocks including logic cells via pins serving as connection ports and wiring lines. There is a toggle rate calculation step of calculating a toggle rate of each wiring line, a reverse phase wiring extraction step of extracting a wiring line in which the logic level of the wiring line is in a reverse phase relationship, and the toggle rate calculation step. Discriminate based on toggle rate, high toggle rate,
And a wiring arrangement order for arranging at least one low toggle rate wiring line between the wiring lines so as not to be adjacent to each other with respect to the two wiring lines having opposite phases extracted in the negative phase wiring extracting step. And a determining step.
【0014】また本願の請求項8記載の発明は、論理セ
ルを含む複数のブロックを、接続ポートであるピンと配
線ラインとを介して結合して集積回路装置を設計する集
積回路装置の設計方法であって、ブロック間の複数の配
線ラインのうちバスを構成する配線ラインを抽出するバ
ス配線抽出ステップと、前記バス配線抽出ステップで抽
出されたバス配線ラインに対して、最上位ビットより下
位に向けた複数の配線ラインと最下位ビットより上位に
向けた複数の配線ラインとを順次交互に配置する配線配
置順序決定ステップと、を備えたことを特徴とするもの
である。The invention according to claim 8 of the present application is directed to an integrated circuit device designing method for designing an integrated circuit device by connecting a plurality of blocks including logic cells via pins serving as connection ports and wiring lines. A bus wiring extracting step of extracting a wiring line constituting a bus among a plurality of wiring lines between blocks; and a bus wiring line extracted in the bus wiring extracting step, wherein And a wiring arrangement order determining step of sequentially and alternately arranging a plurality of wiring lines and a plurality of wiring lines directed higher than the least significant bit.
【0015】また本願の請求項9記載の発明は、論理セ
ルを含む複数の回路ブロックが接続ポートであるピンと
配線ラインとを介して結合された集積回路装置におい
て、互いに干渉し合う二本の配線ラインを並行に配置す
るとき、前記配線ライン断面の形状が矩形である場合に
夫々の断面の長辺側がほぼ直交するように配置したこと
を特徴とするものである。According to a ninth aspect of the present invention, there is provided an integrated circuit device in which a plurality of circuit blocks each including a logic cell are connected via a pin serving as a connection port and a wiring line. When the lines are arranged in parallel, when the cross section of the wiring line is rectangular, the long side of each cross section is arranged so as to be substantially orthogonal.
【0016】上記した各設計方法によれば、ブロックの
ピンの配置位置、ブロック間の配線ラインの配置順序、
各セルが続するブロックの割当て等を、信号のトグル率
の高いものから優先して自動的に決定できるようにして
いる。このため高周波の信号が流れる配線ライン又はピ
ン(各セルのポート)でのクロストーク成分は少なくな
り、クロストークによる電力消費を抑えることができ
る。このため集積回路装置の消費電力を削減することが
できる。According to each of the above design methods, the arrangement positions of the pins of the block, the arrangement order of the wiring lines between the blocks,
Allocation of blocks followed by each cell can be automatically determined with priority given to signals having a higher toggle rate. Therefore, crosstalk components at wiring lines or pins (ports of each cell) through which high-frequency signals flow are reduced, and power consumption due to crosstalk can be suppressed. Therefore, the power consumption of the integrated circuit device can be reduced.
【0017】また高トグル率の配線ラインで結合される
各セルは同一のブロックに再配置されているので、集積
回路装置の機能の一部を変更するに際しても、すでに形
成されたブロック単位でマスクレイアウトを再設計すれ
ば、クロストークによる電力消費が増加しなくなる。Also, since the cells connected by the high toggle rate wiring lines are rearranged in the same block, even when a part of the function of the integrated circuit device is changed, a mask is formed for each block already formed. Redesigning the layout will not increase power consumption due to crosstalk.
【0018】[0018]
(実施の形態1)本発明の第1実施形態における集積回
路装置の設計方法について図面を参照しつつ説明する。
図1は第1実施形態における集積回路装置の設計装置の
概要を示した説明図である。この設計装置は、トグル率
算出手段11、ピン処理順序決定手段12、ブロック位
置抽出手段13、ピン位置決定手段14を含んで構成さ
れる。(Embodiment 1) A design method of an integrated circuit device according to a first embodiment of the present invention will be described with reference to the drawings.
FIG. 1 is an explanatory diagram showing an outline of an integrated circuit device designing apparatus according to the first embodiment. This design device is configured to include a toggle rate calculating unit 11, a pin processing order determining unit 12, a block position extracting unit 13, and a pin position determining unit 14.
【0019】トグル率算出手段11は、レイアウトすべ
きブロックのピンのトグル率を算出する手段である。そ
して算出したトグル率をピン処理順序決定手段12に引
き渡す。ピン処理順序決定手段12はレイアウトブロッ
クの各ピンのトグル率から、トグル率の高い順にピン情
報を並べ変える手段であり、その結果はピン位置決定手
段14に出力される。The toggle rate calculating means 11 is a means for calculating a toggle rate of a pin of a block to be laid out. Then, the calculated toggle rate is passed to the pin processing order determining means 12. The pin processing order determining means 12 is a means for rearranging the pin information from the toggle rate of each pin of the layout block in descending order of the toggle rate. The result is output to the pin position determining means 14.
【0020】一方、ブロック位置抽出手段13はレイア
ウトブロックのフロアプラン上の位置を抽出する手段で
ある。その結果はピン位置決定手段14に出力される。
ピン位置決定手段14は、ピン処理順序決定手段12か
ら入力されたピンの処理順序と、ブロック位置抽出手段
13から入力されたレイアウトブロックの位置情報をと
受けとり、各レイアウトブロックのピンの位置をピンの
処理順序に従い決定する手段である。On the other hand, the block position extracting means 13 is means for extracting the position of the layout block on the floor plan. The result is output to the pin position determining means 14.
The pin position determining unit 14 receives the pin processing order input from the pin processing order determining unit 12 and the layout block position information input from the block position extracting unit 13, and determines the pin position of each layout block. Is a means for determining in accordance with the processing order.
【0021】図2は第1実施形態における集積回路装置
の設計方法の手順を示したフロー図である。ステップA
においては、トグル率算出手段11によりレイアウトブ
ロックの各ピンのトグル率を算出する。ステップBにお
いてステップAより受け渡されたレイアウトブロックの
ピンのトグル率から、ピン処理順序決定手段12により
トグル率の高い順に処理を行なうため、ピン情報を並び
変える。FIG. 2 is a flowchart showing a procedure of a method for designing an integrated circuit device according to the first embodiment. Step A
In (2), the toggle ratio of each pin of the layout block is calculated by the toggle ratio calculation means 11. In step B, the pin information is rearranged so that the pin processing order determining means 12 performs the processing in ascending order of the toggle rate from the pin toggle rate of the layout block passed from step A.
【0022】ステップCでは、ブロック位置抽出手段1
3によりレイアウトブロックのフロアプラン上の位置を
抽出する。ステップDにおいてステップBにより抽出さ
れたピン処理情報と、ステップCにおいて抽出されたレ
イアウトブロックのフロアプラン上の位置情報を基に、
ピン位置決定手段14により各レイアウトブロックのピ
ン位置を決定する。以下に各ステップの詳細な内容を説
明する。In step C, the block position extracting means 1
3, the position of the layout block on the floor plan is extracted. Based on the pin processing information extracted in step B in step D and the position information on the floor plan of the layout block extracted in step C,
The pin position of each layout block is determined by the pin position determining means 14. The details of each step will be described below.
【0023】図3はステップAのトグル率の算出を行な
う手順を示したフロー図である。ステップa1でハード
ウエア記述言語より、レイアウトブロックのピンのみを
抽出する。ステップa2ではステップa1で抽出したピ
ンから、シミュレーション時にピンのトグル率を検出す
る記述を作成し、シミュレーションファイルに追加す
る。ステップa3ではシュミレーションを実行し、ステ
ップa4で各レイアウトブロックのピンのトグル率の結
果を得る。FIG. 3 is a flowchart showing the procedure for calculating the toggle rate in step A. In step a1, only the pins of the layout block are extracted from the hardware description language. In step a2, a description for detecting the toggle ratio of the pin at the time of simulation is created from the pin extracted in step a1, and added to the simulation file. In step a3, a simulation is executed, and in step a4, a result of the toggle ratio of the pin of each layout block is obtained.
【0024】図4はステップBにおいてピンの処理順序
を決定するフロー図である。ステップb1でステップa
4で生成したトグル率を読み込み、ステップb2におい
てステップb1で読み込んだトグル率をもとにトグル率
の高い順にレイアウトブロックのピン情報の並べかえを
行なう。FIG. 4 is a flowchart for determining the processing order of the pins in step B. Step a in step b1
The toggle rate generated in step 4 is read, and in step b2, the pin information of the layout blocks is rearranged in descending order of the toggle rate based on the toggle rate read in step b1.
【0025】図5はステップCにおいてブロックの位置
を抽出する手順を示したフロー図である。ステップc1
においてフロアプランの情報を読み込み、ステップc2
において未処理のレイアウトブロックのフロアプラン上
の位置情報を抽出する。ステップc3では、全てのレイ
アウトブロックの位置情報の読み出しが終了したかを判
断し、もし終了していなければステップc2に戻る。FIG. 5 is a flowchart showing a procedure for extracting the position of a block in step C. Step c1
In step c2, information on the floor plan is read.
Extract the position information of the unprocessed layout block on the floor plan. In step c3, it is determined whether the reading of the position information of all the layout blocks has been completed, and if not, the process returns to step c2.
【0026】図6はステップDにおいてレイアウトブロ
ックのピンの位置を決定する手順を示したフロー図であ
る。ステップd1ではピン位置を決定する処理が終了し
ていないピンに対して、ピン処理順序決定手段12で決
定した処理順序で最も処理順序の高いピンを抽出する。
ステップd2で接続されるピンの距離が最短になる位置
にピンを配置する。ステップd3で全てのピンの配置処
理が終了したかを判断し、もし配置処理が終了していな
いピンがあればステップd1に戻る。FIG. 6 is a flowchart showing a procedure for determining the positions of the pins of the layout block in step D. In step d 1, the pin having the highest processing order in the processing order determined by the pin processing order determining means 12 is extracted from the pins for which the processing for determining the pin position has not been completed.
The pin is arranged at a position where the distance between the pins connected in step d2 is shortest. At step d3, it is determined whether or not all pins have been placed. If any pins have not been placed, the process returns to step d1.
【0027】図7は第1の例として、ステップd2でピ
ン配置の処理を行った集積回路装置の概略平面図であ
る。レイアウトブロック15aからレイアウトブロック
15bへ配線するため2つのピンを設ける場合、レイア
ウトブロック15bから見てレイアウトブロック15a
上で最も近い配置可能な位置にピン16aを配置する。
更にレイアウトブロック15b上でレイアウトブロック
15aへ最も近い位置にピン16bを配置する。FIG. 7 is a schematic plan view of a first example of an integrated circuit device on which the pin arrangement processing has been performed in step d2. When two pins are provided for wiring from the layout block 15a to the layout block 15b, the layout block 15a is viewed from the layout block 15b.
The pin 16a is arranged at the closest position where it can be arranged.
Further, a pin 16b is arranged on the layout block 15b at a position closest to the layout block 15a.
【0028】図8は第2の例として、ステップd2でピ
ン配置の処理を行った集積回路装置の概略平面図であ
る。この例ではレイアウトブロック間の距離が近いピン
配置位置は複数存在する。レイアウトブロック15cか
らレイアウトブロック15dへ配線するためのピンを配
置する場合、レイアウトの左下を原点とし、そこからy
方向に一番近い位置にピン16c、16dを夫々配置す
る。FIG. 8 is a schematic plan view showing, as a second example, the integrated circuit device that has performed the pin arrangement processing in step d2. In this example, there are a plurality of pin arrangement positions where the distance between the layout blocks is short. When arranging pins for wiring from the layout block 15c to the layout block 15d, the origin is at the lower left of the layout, and y
The pins 16c and 16d are arranged at positions closest to the direction.
【0029】図9は第3の例として、ステップd2でピ
ン配置の処理を行った集積回路装置の概略平面図であ
る。この例ではピンを配置するレイアウトブロックが3
つになっている。この場合、レイアウトブロック15e
とレイアウトブロック15fとレイアウトブロック15
gの間で、ピン16eとピン16fとピン16gの距離
の合計が最短になる位置にピン16を配置する。FIG. 9 is a schematic plan view showing, as a third example, the integrated circuit device that has performed the pin arrangement processing in step d2. In this example, the layout block where the pins are arranged is 3
It is one. In this case, the layout block 15e
And layout block 15f and layout block 15
The pin 16 is arranged at a position where the sum of the distances between the pins 16e, 16f, and 16g is the shortest between the positions g.
【0030】以上のように第1実施形態の設計方法によ
れば、トグル率の高いピンから配線ラインが短くなるよ
うピンの配置を決定することができる。As described above, according to the design method of the first embodiment, the pin arrangement can be determined so that the wiring line becomes shorter from the pin having the higher toggle rate.
【0031】(実施の形態2)本発明の第2実施形態に
おける集積回路装置の設計方法について図面を参照しつ
つ説明する。図10は第2実施形態における集積回路装
置の設計装置の概要を示した説明図である。この設計装
置は、トグル率算出手段21、ピン処理順序決定手段2
2、ブロック間配線手段23を含んで構成される。(Embodiment 2) A design method of an integrated circuit device according to a second embodiment of the present invention will be described with reference to the drawings. FIG. 10 is an explanatory diagram showing an outline of an integrated circuit device designing apparatus according to the second embodiment. This design device includes a toggle rate calculating means 21 and a pin processing order determining means 2
2. It is configured to include the inter-block wiring means 23.
【0032】トグル率算出手段21はレイアウトブロッ
クのピンのトグル率を算出する手段であり、算出結果は
ピン処理順序決定手段22に出力される。ピン処理順序
決定手段22は、トグル率算出手段21から引き渡され
たレイアウトブロックのピンのトグル率から、トグル率
の高い順にピン情報を並べ変える手段である。この結果
はブロック間配線手段23に出力される。ブロック間配
線手段23はピン処理順序決定手段21からレイアウト
ブロックのピン処理順序の情報を受け取り、この処理順
序に従い配線を行なう手段である。The toggle rate calculating means 21 calculates the toggle rate of the pins of the layout block. The calculation result is output to the pin processing order determining means 22. The pin processing order determination means 22 is means for rearranging the pin information in ascending order of the toggle rate from the toggle rate of the pins of the layout block passed from the toggle rate calculation means 21. This result is output to the inter-block wiring means 23. The inter-block wiring means 23 is means for receiving information on the pin processing order of the layout blocks from the pin processing order determining means 21 and performing wiring in accordance with the processing order.
【0033】図11は本実施形態における集積回路装置
の設計方法の手順を示したフロー図である。ステップE
においてトグル率算出手段21はレイアウトブロックの
ピンのトグル率を算出する。ステップFにおいてステッ
プEより受け渡されたレイアウトブロックのピンのトグ
ル率から、ピン処理順序決定手段22がトグル率の高い
順に処理を行なうためピン情報を並び変える。ステップ
GにおいてステップFにより抽出されたピン処理情報を
もとに、ブロック間配線手段23により各レイアウトブ
ロック間の配線を行なう。尚、ステップEのトグル率の
算出のフローは図3に示したフローと同様である。ま
た、ステップFのピン処理順序の決定のフローは図4に
示したフローと同様である。ここでステップGの詳細な
内容を説明する。FIG. 11 is a flowchart showing a procedure of a method for designing an integrated circuit device according to the present embodiment. Step E
, The toggle rate calculating means 21 calculates the toggle rate of the pins of the layout block. In step F, the pin processing order determining means 22 rearranges the pin information from the toggle ratio of the pins of the layout block passed from step E in order to perform the processing in descending order of the toggle ratio. In step G, wiring between the layout blocks is performed by the inter-block wiring means 23 based on the pin processing information extracted in step F. Note that the flow of calculating the toggle rate in step E is the same as the flow shown in FIG. Further, the flow of determining the pin processing order in step F is the same as the flow shown in FIG. Here, the details of step G will be described.
【0034】図12はステップGにおけるブロック間配
線を行なう手順を示したフロー図である。ステップg1
では、配線の終了していないピンに対して、ピン処理順
序決定手段22で決定した処理順序に従い、最も処理順
序の高いピン間を配線する。ステップg2で全てのピン
の配線処理が終了したかを判断し、もし配線処理が終了
していないピンがあればステップg1に戻る。FIG. 12 is a flowchart showing a procedure for performing inter-block wiring in step G. Step g1
Then, wiring is performed between the pins having the highest processing order according to the processing order determined by the pin processing order determining means 22 for the pins for which wiring has not been completed. At step g2, it is determined whether or not the wiring processing has been completed for all the pins.
【0035】このように第2実施形態の設計方法によ
り、トグル率の高いピンから配線を決定することによ
り、トグル率の高いピン間の配線ラインを短くすること
ができる。As described above, according to the design method of the second embodiment, by determining the wiring from the pin having the high toggle rate, the wiring line between the pins having the high toggle rate can be shortened.
【0036】(実施の形態3)本発明の第3実施形態に
おける集積回路装置の設計方法について図面を参照しつ
つ説明する。図13は第3実施形態における集積回路装
置の設計装置の概要を示した説明図である。この設計装
置は、トグル率算出手段31、ピン処理順序決定手段3
2、ブロック位置抽出手段33、ピン位置決定手段3
4、ブロック間配線手段35を含んで構成される。(Embodiment 3) A design method of an integrated circuit device according to a third embodiment of the present invention will be described with reference to the drawings. FIG. 13 is an explanatory diagram showing an outline of an integrated circuit device designing apparatus according to the third embodiment. This design device includes a toggle rate calculating means 31, a pin processing order determining means 3,
2. Block position extracting means 33, pin position determining means 3
4. It is configured to include the inter-block wiring means 35.
【0037】トグル率算出手段31はレイアウトブロッ
クのピンのトグル率を算出する手段である。ピン処理順
序決定手段32はトグル率算出手段31から引き渡され
たレイアウトブロックのピンのトグル率から、トグル率
の高い順にピン情報を並べ変える手段である。この結果
はピン位置決定手段34とブロック間配線手段35とに
出力される。The toggle rate calculating means 31 is a means for calculating the toggle rate of the pins of the layout block. The pin processing order determining means 32 is a means for rearranging the pin information in ascending order of the toggle rates from the toggle rates of the pins of the layout blocks passed from the toggle rate calculation means 31. This result is output to the pin position determining means 34 and the inter-block wiring means 35.
【0038】ブロック位置抽出手段33はレイアウトブ
ロックのフロアプラン上の位置を抽出する手段である。
ピン位置決定手段34は、ピン処理順序決定手段31か
らレイアウトブロックのピンの処理順序の情報を入力す
ると共に、ブロック位置抽出手段33からレイアウトブ
ロックの位置情報を入力し、各レイアウトブロックのピ
ンの位置をピンの処理順序に従い決定する手段である。
ブロック間配線手段35はピン位置決定手段34はから
ピン位置の情報を入力すると共に、ピン処理順序決定手
段32からレイアウトブロックのピン処理順序の情報を
入力し、配線を行なう手段である。The block position extracting means 33 is a means for extracting the position of the layout block on the floor plan.
The pin position determining means 34 inputs the information of the processing order of the pins of the layout block from the pin processing order determining means 31 and the position information of the layout block from the block position extracting means 33, and outputs the position of the pin of each layout block Is determined in accordance with the processing order of the pins.
The inter-block wiring means 35 is a means for inputting pin position information from the pin position determining means 34 and inputting information on the pin processing order of layout blocks from the pin processing order determining means 32 to perform wiring.
【0039】図14は本実施形態における集積回路装置
の設計方法の手順を示したフロー図である。ステップH
においては、トグル率算出手段31はレイアウトブロッ
クのピンのトグル率を算出する。ステップIにおいてス
テップHより受け渡されたレイアウトブロックのピンの
トグル率から、ピン処理順序決定手段32によりトグル
率の高い順に処理を行なうピン情報を並び変える。ステ
ップJでは、ブロック位置抽出手段33によりレイアウ
トブロックのフロアプラン上の位置を抽出する。FIG. 14 is a flowchart showing a procedure of a method for designing an integrated circuit device according to the present embodiment. Step H
In, the toggle rate calculating means 31 calculates the toggle rate of the pins of the layout block. In step I, the pin processing order determining means 32 rearranges the pin information to be processed in descending order of the toggle rate from the toggle rate of the pins of the layout block passed from step H. In step J, the position of the layout block on the floor plan is extracted by the block position extracting means 33.
【0040】ステップKにおいてステップIにより抽出
されたピン処理情報と、ステップJにおいて抽出された
レイアウトブロックのフロアプラン上の位置情報とに基
づいて、ピン位置決定手段34により各レイアウトブロ
ックのピン位置を決定する。ステップLにおいてステッ
プIにより抽出されたピン処理情報をもとに、ブロック
間配線手段35により各レイアウトブロック間の配線を
行なう。Based on the pin processing information extracted in step I in step K and the position information on the floor plan of the layout block extracted in step J, the pin position determining means 34 determines the pin position of each layout block. decide. In step L, wiring between the layout blocks is performed by the inter-block wiring means 35 based on the pin processing information extracted in step I.
【0041】ステップHのトグル率の算出のフローは図
3に示したフローと同様である。また、ステップIのピ
ン処理順序の決定のフローは図4に示したフローと同様
である。また、ステップJのブロック位置の抽出のフロ
ーは図5に示したフローと同様である。また、ステップ
Kのピン位置の決定のフローは図6に示したフローと同
様である。また、ステップLのブロック間配線のフロー
は図12に示したフローと同様である。The flow of calculating the toggle rate in step H is the same as the flow shown in FIG. Further, the flow of determining the pin processing order in step I is the same as the flow shown in FIG. Also, the flow of extracting the block position in step J is the same as the flow shown in FIG. Further, the flow of determining the pin position in step K is the same as the flow shown in FIG. The flow of the inter-block wiring in step L is the same as the flow shown in FIG.
【0042】(実施の形態4)本発明の第4実施形態に
おける集積回路装置の設計方法について図面を参照しつ
つ説明する。図15は第4実施形態における集積回路装
置の設計装置の概要を示した説明図である。この設計装
置は、トグル率算出手段41、セル抽出手段42、セル
選別手段43、ブロック分割手段44、ブロック配置手
段45を含んで構成される。(Embodiment 4) A design method of an integrated circuit device according to a fourth embodiment of the present invention will be described with reference to the drawings. FIG. 15 is an explanatory diagram showing an outline of an integrated circuit device designing apparatus according to the fourth embodiment. This design device is configured to include a toggle rate calculating unit 41, a cell extracting unit 42, a cell selecting unit 43, a block dividing unit 44, and a block arranging unit 45.
【0043】トグル率算出手段41は配線のトグル率を
算出する手段である。セル抽出手段42は配線が接続さ
れるセルを抽出する手段である。セル抽出手段42はト
グル率の高い配線が接続されるセルと、トグル率の低い
配線が接続されるセルを選別する手段である。ブロック
分割手段44はブロックの分割を設定又は変更する手段
である。ブロック間配置手段45は新たなブロックを作
成する手段である。The toggle rate calculation means 41 is means for calculating the toggle rate of the wiring. The cell extracting means 42 is a means for extracting a cell to which a wiring is connected. The cell extracting means 42 is a means for selecting a cell to which a wiring having a high toggle rate is connected and a cell to which a wiring having a low toggle rate is connected. The block division unit 44 is a unit for setting or changing the division of a block. The inter-block arrangement unit 45 is a unit for creating a new block.
【0044】図16は本実施形態の集積回路装置の設計
方法において、セルの選別手法を一例を示す説明図であ
る。本図に示すように集積回路装置には複数のセル46
a〜46fがある。例えばセル46a,46b,46
d,46eは太いラインで示す高トグルネット47で結
合され、細いラインで示すセル46b,46c,46f
は、低トグルネット48で結合されているものとする。FIG. 16 is an explanatory diagram showing an example of a cell selection technique in the integrated circuit device designing method of the present embodiment. As shown in the figure, a plurality of cells 46 are provided in the integrated circuit device.
a to 46f. For example, cells 46a, 46b, 46
d and 46e are connected by a high toggle net 47 indicated by thick lines, and cells 46b, 46c and 46f indicated by thin lines.
Are connected by a low toggle net 48.
【0045】図17は本実施形態の設計方法における集
積回路装置のブロック分割手法を示す説明図である。こ
こでは、高トグルネット47で結合されたセル46a,
46b,46d,46eを1つのブロック49aとして
扱い、セル46c,46fを他のブロック49bとして
扱うようにしている。FIG. 17 is an explanatory diagram showing a block dividing method of the integrated circuit device in the design method of the present embodiment. Here, the cells 46a connected by the high toggle net 47,
46b, 46d and 46e are treated as one block 49a, and cells 46c and 46f are treated as another block 49b.
【0046】このように構成された集積回路装置の設計
装置の動作を説明する。まずトグル率算出手段41で配
線のトグル率を算出し、算出結果をセル選別手段43に
与える。セル抽出手段42は配線の接続されるセルを抽
出し、抽出結果をセル選別手段43に与える。セル選別
手段43はトグル率の高い配線の順に、接続されるセル
を選別し、その結果をブロック分割手段44に引き渡
す。この結果、図16に示すようにトグル率の高いセル
46が互いに近接するようセルが集められる。The operation of the thus designed integrated circuit device designing apparatus will be described. First, the toggle rate of the wiring is calculated by the toggle rate calculation means 41, and the calculation result is provided to the cell selection means 43. The cell extracting unit 42 extracts a cell to which the wiring is connected, and supplies the extraction result to the cell selecting unit 43. The cell selecting means 43 selects the cells to be connected in the order of the wiring having the highest toggle rate, and delivers the result to the block dividing means 44. As a result, as shown in FIG. 16, cells are collected so that the cells 46 having a high toggle rate are close to each other.
【0047】ブロック分割手段44で選別されたセルに
ついて、図17に示すように高トグルネット47に接続
されるセル群を同一のブロック49aに割り当て、低ト
グルネット48に接続されるセル群を同一のブロック4
9bに割り当てる。またブロック間の配線は、低トグル
ネットとなるようにする。最後にブロック配置手段45
で夫々のブロック内でセル46を再配置する。For the cells selected by the block dividing means 44, as shown in FIG. 17, the cells connected to the high toggle net 47 are assigned to the same block 49a, and the cells connected to the low toggle net 48 are the same. Block 4 of
Assign to 9b. The wiring between the blocks should be a low toggle net. Finally, the block arrangement means 45
To rearrange the cells 46 in each block.
【0048】以上のように本実施形態によれば、高トグ
ルネットに接続されるセル群を同一のブロックに配置す
ることにより、ブロックの再配置があってもブロック内
では変更をしないで高トグルネットの総配線長を短かく
することができる。As described above, according to the present embodiment, by arranging the cells connected to the high toggle net in the same block, even if there is a rearrangement of the block, it is possible to perform the high toggle without changing within the block. The total wiring length of the net can be shortened.
【0049】(実施の形態5)本発明の第5実施形態に
おける集積回路装置の設計方法について図面を参照しつ
つ説明する。図18は第5実施形態における集積回路装
置の設計装置の概要を示した説明図である。この設計装
置は、トグル率算出手段51、セル抽出手段52、セル
選別手段53、ブロック間移動手段54を含んで構成さ
れる。尚、トグル率算出手段51、セル抽出手段52、
セル選別手段53は第4実施形態のものと同一である。
ブロック間移動手段54はトグル率の高いセル群と、ト
グル率の低いセル群とが同一ブロックに混在していると
き、一方のセル群を別のブロックに移動させる手段であ
る。(Embodiment 5) A method for designing an integrated circuit device according to a fifth embodiment of the present invention will be described with reference to the drawings. FIG. 18 is an explanatory diagram showing an outline of an integrated circuit device designing apparatus according to the fifth embodiment. This design device is configured to include a toggle rate calculating unit 51, a cell extracting unit 52, a cell selecting unit 53, and an inter-block moving unit 54. It should be noted that the toggle rate calculating means 51, the cell extracting means 52,
The cell selection means 53 is the same as that of the fourth embodiment.
The inter-block moving means 54 is means for moving one cell group to another block when a cell group having a high toggle rate and a cell group having a low toggle rate are mixed in the same block.
【0050】図19は集積回路装置のアレンジメントを
改善する前の状態を示したセルの配置図である。本図に
おいて、ブロック49cにはセル46a,46b,46
cが配置され、ブロック49dにはセル46d,46
e,46fが配置されている。そして46a,46b,
46d,46eは高トグルネット47で結合され、46
b,46c,46fは低トグルネット48で結合されて
いる。FIG. 19 is a cell layout diagram showing a state before the arrangement of the integrated circuit device is improved. In the figure, a block 49c includes cells 46a, 46b, 46
c is arranged, and cells 46d, 46d are placed in block 49d.
e, 46f are arranged. And 46a, 46b,
46d and 46e are connected by a high toggle net 47,
b, 46c and 46f are connected by a low toggle net 48.
【0051】図20は本実施形態の設計装置を用いて集
積回路装置のセルをブロック間の移動した結果を示す配
置図である。ここではブロック49cにはセル46a,
46b,46d,46eが配置され、ブロック49dに
はセル46c,46fが配置されている。そしてブロッ
ク49c内のセルは高トグルネット47で結合され、ブ
ロック49d内のセルは低トグルネット48で結合され
ている。FIG. 20 is a layout diagram showing the result of moving cells of an integrated circuit device between blocks using the design apparatus of this embodiment. Here, block 46c includes cells 46a,
46b, 46d and 46e are arranged, and cells 46c and 46f are arranged in a block 49d. The cells in block 49c are connected by a high toggle net 47 and the cells in block 49d are connected by a low toggle net 48.
【0052】このように構成された集積回路装置の設計
装置の動作を説明する。まずトグル率算出手段51で配
線のトグル率を算出し、算出結果をセル選別手段53に
与える。セル抽出手段52は配線の接続されるセルを抽
出し、抽出結果をセル選別手段53に与える。セル選別
手段53はトグル率の高い配線の順に、接続されるセル
を選別し、その結果をブロック間移動手段54に引き渡
す。この結果、図16に示すようにトグル率の高いセル
46が互いに近接するようセルが集められる。The operation of the integrated circuit device designing apparatus thus configured will be described. First, the toggle rate of the wiring is calculated by the toggle rate calculation means 51, and the calculation result is given to the cell selection means 53. The cell extracting means 52 extracts a cell to which the wiring is connected, and supplies the extraction result to the cell selecting means 53. The cell selecting means 53 selects the cells to be connected in the order of the wiring having the highest toggle rate, and delivers the result to the inter-block moving means 54. As a result, as shown in FIG. 16, cells are collected so that the cells 46 having a high toggle rate are close to each other.
【0053】ブロック間移動手段54では、図19に示
すように各ブロック49c,49d内に配置済みのセル
に対して、高トグルネット47に接続されるセル群(セ
ル46a,46b,46d,46e)を同一のブロック
49cにまとめ、低トグルネット48に接続されるセル
群(セル46c,46f)を同一のブロック49dにま
とめる。またブロック間の配線は、低トグルネットとな
るようにする。こうすると図20に示すような再配置に
なる。In the inter-block moving means 54, as shown in FIG. 19, a cell group (cells 46a, 46b, 46d, 46e) connected to the high toggle net 47 for the cells already disposed in the blocks 49c, 49d. ) Are grouped in the same block 49c, and the cell group (cells 46c, 46f) connected to the low toggle net 48 is grouped in the same block 49d. The wiring between the blocks should be a low toggle net. This results in the rearrangement as shown in FIG.
【0054】このように本実施形態によれば、高トグル
ネットに接続されるセル群を同一のブロックに納まるよ
うに移動することにより、ブロックの再配置があって
も、高トグルネットの総配線長を短かくすることができ
る。As described above, according to the present embodiment, by moving the cell group connected to the high toggle net so as to be accommodated in the same block, the total wiring of the high toggle net can be performed even if the block is rearranged. The length can be shortened.
【0055】(実施の形態6)本発明の第6実施形態に
おける集積回路装置の設計方法について図面を参照しつ
つ説明する。図21は第6実施形態における集積回路装
置の設計装置の概要を示した説明図である。この設計装
置は、トグル率算出手段61、配線配置順序決定手段6
2を含んで構成される。尚、トグル率算出手段61はこ
れまでの実施形態のものと同一である。配線配置順序決
定手段62は、ブロック間又はセル間で配線される配線
ラインの配置を、トグル率の大小に基づき決定する手段
である。(Embodiment 6) A method of designing an integrated circuit device according to a sixth embodiment of the present invention will be described with reference to the drawings. FIG. 21 is an explanatory diagram showing an outline of an integrated circuit device designing apparatus according to the sixth embodiment. This design device includes a toggle ratio calculating unit 61, a wiring arrangement order determining unit 6,
2 is included. Note that the toggle rate calculation means 61 is the same as that of the previous embodiments. The wiring arrangement order determining means 62 is a means for determining the arrangement of wiring lines to be wired between blocks or between cells based on the magnitude of the toggle rate.
【0056】このように構成された集積回路装置の設計
装置の動作について説明する。図22はブロック間に複
数の配線ラインを設ける場合の配置図である。ここでは
ブロック63aとブロック63bとの間に、配線64a
〜64cを設ける場合を示している。まずトグル率算出
手段61がブロック間の配線64a〜64cのトグル率
を算出し、その結果を配線配置順序決定手段62に引き
渡す。The operation of the thus designed integrated circuit device designing apparatus will be described. FIG. 22 is an arrangement diagram when a plurality of wiring lines are provided between blocks. Here, a wiring 64a is provided between the block 63a and the block 63b.
6464c is provided. First, the toggle rate calculating means 61 calculates the toggle rates of the wirings 64a to 64c between the blocks, and passes the result to the wiring arrangement order determining means 62.
【0057】従来のブロック間配線の方法では、この配
線の配置順序を決める際に消費電力のことは考慮されて
いなかったために、配線された結果、その配線容量が小
さくなるという保証がなかった。本実施例では各配線の
トグル率を求め、その結果をもとに配線容量が小さくな
るよう配線を決める。図22において例えば配線64a
が最大のトグル率を持つとすると、この配線64aをト
グル率の低い他の配線64b,64cを用いて両側から
挟むように配置する。これにより、配線間のクロストー
ク及びクロストークによる消費電流を削減できる。In the conventional inter-block wiring method, power consumption is not considered when deciding the arrangement order of the wiring, and therefore, there is no guarantee that the wiring capacity is reduced as a result of wiring. In this embodiment, the toggle ratio of each wiring is obtained, and the wiring is determined based on the result, so that the wiring capacitance is reduced. In FIG. 22, for example, a wiring 64a
Has the maximum toggle rate, this wiring 64a is arranged so as to be sandwiched from both sides by using other wirings 64b and 64c having a low toggle rate. Thus, crosstalk between wirings and current consumption due to crosstalk can be reduced.
【0058】(実施の形態7)本発明の第7実施形態に
おける集積回路装置の設計方法について図面を参照しつ
つ説明する。図23は第7実施形態における集積回路装
置の設計装置の概要を示した説明図である。この設計装
置は、トグル率算出手段71、逆相配線抽出手段72、
配線配置順序決定手段73を含んで構成される。尚、ト
グル率算出手段71と配線配置順序決定手段73とは第
6実施形態のものと同一である。逆相配線抽出手段72
は、ブロック間又はセル間で配線される配線ラインのう
ち、同一時刻でH/Lレベルが互いに逆相関係にあるも
のを抽出する手段である。Embodiment 7 A method for designing an integrated circuit device according to Embodiment 7 of the present invention will be described with reference to the drawings. FIG. 23 is an explanatory diagram showing an outline of an integrated circuit device designing apparatus according to the seventh embodiment. This design device includes a toggle rate calculating means 71, an antiphase wiring extracting means 72,
The wiring arrangement order determining means 73 is included. The toggle ratio calculating means 71 and the wiring arrangement order determining means 73 are the same as those in the sixth embodiment. Antiphase wiring extraction means 72
Is means for extracting wiring lines having H / L levels opposite to each other at the same time among wiring lines wired between blocks or cells.
【0059】このような構成の集積回路装置の設計装置
の動作について説明する。図24はブロック間に複数の
配線ラインを設ける場合の配置図である。ここではブロ
ック74aとブロック74bとの間に、配線75a〜7
5eがあるものとする。先ずトグル率算出手段71にお
いて、ブロック間の配線75a〜75eのトグル率を算
出する。そして逆相配線抽出手段72において例えばク
ロック信号とその反転クロック信号のように互いに逆相
の配線を抽出し、それらの結果を配線配置順序決定手段
73に引き渡す。The operation of the integrated circuit device designing apparatus having such a configuration will be described. FIG. 24 is an arrangement diagram when a plurality of wiring lines are provided between blocks. Here, wirings 75a to 75b are provided between the block 74a and the block 74b.
5e. First, the toggle rate calculating means 71 calculates the toggle rate of the wirings 75a to 75e between the blocks. Then, the reversed-phase wiring extracting means 72 extracts wirings having phases opposite to each other, for example, a clock signal and its inverted clock signal, and delivers the results to the wiring arrangement order determining means 73.
【0060】図24において例えば配線75aと配線7
5bとが逆相であり、且つこれらの配線はトグル率が高
いものとする。逆相配線抽出手段72はこのような配線
75a、75bを抽出して、その結果を配線配置順序決
定手段73に出力する。配線配置順序決定手段73は残
りの配線の中からトグル率の低い配線75cを選択し、
この配線75cの両側に配線75a、75bを配置す
る。この際1本ではなく複数本の配線を配置しても良
い。さらに、第6実施形態の場合と同様に配線75aと
配線75bの外側にも低トグル率の配線75d,75e
を夫々配置する。これにより、配線のクロストークを小
さくし、クロストークによる消費電流を削減できる。In FIG. 24, for example, the wiring 75a and the wiring 7
5b is in the opposite phase, and these wirings have a high toggle rate. The antiphase wiring extracting means 72 extracts such wirings 75a and 75b and outputs the result to the wiring arrangement order determining means 73. The wiring arrangement order determining means 73 selects a wiring 75c having a low toggle rate from the remaining wirings,
Wirings 75a and 75b are arranged on both sides of the wiring 75c. In this case, a plurality of wirings may be arranged instead of one. Further, similarly to the sixth embodiment, low-toggle-rate wirings 75d and 75e are also provided outside the wirings 75a and 75b.
Are arranged respectively. Thus, crosstalk of wiring can be reduced, and current consumption due to crosstalk can be reduced.
【0061】(実施の形態8)本発明の第8実施形態に
おける集積回路装置の設計方法について図面を参照しつ
つ説明する。図25は第8実施形態における集積回路装
置の設計装置の概要を示した説明図である。この設計装
置は、バス配線抽出手段81、配線配置順序決定手段8
2を含んで構成される。尚、配線配置順序決定手段82
は第6、7実施形態のものと同一である。バス配線抽出
手段81は、各ブロック間で結合される配線群のうち、
データバス、アドレスバス等のようにバス配線を抽出す
る手段である。(Embodiment 8) A method for designing an integrated circuit device according to an eighth embodiment of the present invention will be described with reference to the drawings. FIG. 25 is an explanatory diagram showing an outline of an integrated circuit device designing apparatus according to the eighth embodiment. This design device includes a bus wiring extracting means 81, a wiring arrangement order determining means 8
2 is included. The wiring arrangement order determining means 82
Are the same as those in the sixth and seventh embodiments. The bus wiring extraction means 81 is a part of the wiring group connected between the blocks.
This is a means for extracting a bus wiring such as a data bus and an address bus.
【0062】従来のブロック間配線では、通常はバス配
線であることによって配線の配置が特に考慮されること
は少なかった。従ってバス配線といえども通常は他の配
線と同様に扱われていた。本実施形態は各配線のトグル
率が分からなくても、バス配線であるという情報をもと
に、確率的に配線容量を減らすものである。In the conventional inter-block wiring, since the wiring is usually a bus wiring, the wiring arrangement is not particularly considered. Therefore, even the bus wiring was normally treated in the same manner as other wirings. In the present embodiment, even if the toggle rate of each wiring is not known, the wiring capacity is stochastically reduced based on the information that the wiring is a bus wiring.
【0063】集積回路装置の設計において、バス配線を
行なうことが多くあるが、このバスの各ビットのトグル
率は、平均的には下位のビット(LSB)の方が上位の
ビット(MSB)より大きい。これはデータバスのよう
に確率的に各ビットにあまり差がないバスもあるが、ア
ドレスバスのように直前の内容に1加算される使い方が
多いためである。In the design of an integrated circuit device, bus wiring is often performed, and the toggle rate of each bit of this bus is such that, on average, the lower bit (LSB) is higher than the upper bit (MSB). large. This is because some buses, such as a data bus, have little difference in each bit stochastically, but there are many uses, such as an address bus, where 1 is added to the immediately preceding content.
【0064】図26に示す配線83a〜83gは、1つ
のバスを構成する配線とする。また、83aを最下位ビ
ット、83bを下位から2ビット目、以下同様に83g
を最上位ビットとする。このとき、確率的に配線83g
は最もトグル率が低いと推定できるので端に配置する。
次に最もトグル率が大きいと推定できる配線83aをそ
の隣に配置する。以下順次最上位ビットから2ビット目
の配線83f、最下位ビットから2ビット目の配線83
bのように順次配置する。この結果、最上位ビットの配
線を配置したのと反対側の端には、それほどトグル率が
大きくないと推定される中位のビットの配線を配置す
る。これにより配線のクロストークを小さくし、クロス
トークによる消費電力を削減できる。The wires 83a to 83g shown in FIG. 26 are wires constituting one bus. 83a is the least significant bit, 83b is the second least significant bit, and so on.
Is the most significant bit. At this time, the wiring 83g
Can be estimated to have the lowest toggle rate, so it is placed at the end.
Next, the wiring 83a that can be estimated to have the highest toggle rate is arranged next to it. Hereinafter, the wiring 83f of the second bit from the most significant bit and the wiring 83 of the second bit from the least significant bit
They are arranged sequentially as in b. As a result, at the end opposite to the position where the wiring of the most significant bit is arranged, the wiring of the middle order bit which is estimated to have a not so high toggle ratio is arranged. Thus, crosstalk of wiring can be reduced, and power consumption due to crosstalk can be reduced.
【0065】(実施の形態9)本発明の第9実施形態に
おける集積回路装置の設計方法について図面を参照しつ
つ説明する。図27は第9実施形態における集積回路装
置の配線方法を示した断面図である。また図28は従来
の集積回路装置の配線方法を示した断面図である。図2
8では隣接する配線92a及び配線92b、或いは配線
92a及び配線92cは、矩形断面の長辺方向が同じ向
きになるように形成されていた。これでは、隣接する配
線92a及び配線92cは並行平板コンデンサを形成
し、配線容量が大きくなる。(Embodiment 9) A method of designing an integrated circuit device according to a ninth embodiment of the present invention will be described with reference to the drawings. FIG. 27 is a cross-sectional view showing a wiring method of the integrated circuit device according to the ninth embodiment. FIG. 28 is a sectional view showing a wiring method of a conventional integrated circuit device. FIG.
In No. 8, the adjacent wirings 92a and 92b, or the wirings 92a and 92c, were formed such that the long sides of the rectangular cross sections were in the same direction. In this case, the adjacent wirings 92a and 92c form a parallel plate capacitor, and the wiring capacitance is increased.
【0066】図27に示す本実施形態では、隣接する配
線91a及び配線91b、又は配線91a及び配線91
cが、その矩形断面の長辺方向がたがいに直交するよう
に形成する。こうすると並行平板コンデンサとしての配
線容量が小さくなり、全体として配線容量の小さい配線
となる。In this embodiment shown in FIG. 27, adjacent wirings 91a and 91b or wirings 91a and 91a
c is formed such that the long sides of the rectangular cross section are orthogonal to each other. In this case, the wiring capacitance of the parallel plate capacitor is reduced, and the wiring has a small wiring capacitance as a whole.
【0067】[0067]
【発明の効果】以上のように本発明の集積回路装置の設
計方法によれば、所望の回路機能を実現するため、複数
のセルを含む各ブロックのレイアウト設計をする工程に
おいて、まず各配線ライン及びピンのトグル率を算出す
る。ここで弁別されたトグル率のデータを用いて、高ト
グル率のものから優先してピンの位置と配線ラインの配
置を決定したり、同一ブロックに属するセルの割当てを
決めるようにしている。このため配線ライン間のクロス
トークによる消費電力損失を最小に抑えることができ
る。従って与えられた機能を有するブロックを用いて、
低消費電力の半導体集積回路装置を実現できる。As described above, according to the method of designing an integrated circuit device of the present invention, in order to realize a desired circuit function, in the step of designing the layout of each block including a plurality of cells, first, each wiring line And the pin toggle rate is calculated. Here, by using the data of the toggle ratio discriminated, the position of the pin and the arrangement of the wiring line are determined in preference to the one with the high toggle ratio, and the assignment of the cells belonging to the same block is determined. Therefore, power consumption loss due to crosstalk between wiring lines can be minimized. Therefore, using a block with a given function,
A low power consumption semiconductor integrated circuit device can be realized.
【図1】本発明の第1実施形態における集積回路装置の
設計装置の構成図である。FIG. 1 is a configuration diagram of an apparatus for designing an integrated circuit device according to a first embodiment of the present invention.
【図2】第1実施形態における集積回路装置の設計方法
を示すフロー図である。FIG. 2 is a flowchart illustrating a method for designing an integrated circuit device according to the first embodiment.
【図3】第1実施形態の設計方法において、トグル率算
出手段の動作を示すフロー図である。FIG. 3 is a flowchart showing an operation of a toggle rate calculating means in the design method of the first embodiment.
【図4】第1実施形態の設計方法において、ピン処理順
序決定手段の動作を示すフロー図である。FIG. 4 is a flowchart showing an operation of a pin processing order determining unit in the design method of the first embodiment.
【図5】第1実施形態の設計方法において、ブロック位
置抽出手段の動作を示すフロー図である。FIG. 5 is a flowchart showing an operation of a block position extracting means in the design method of the first embodiment.
【図6】第1実施形態の設計方法において、ピン位置決
定手段の動作を示すフロー図である。FIG. 6 is a flowchart showing an operation of a pin position determining unit in the design method of the first embodiment.
【図7】第1実施形態の設計方法において、2ブロック
間のピン位置決定方法の第1例を示す説明図である。FIG. 7 is an explanatory diagram showing a first example of a pin position determination method between two blocks in the design method of the first embodiment.
【図8】第1実施形態の設計方法において、2ブロック
間のピン位置決定方法の第2例を示す説明図である。FIG. 8 is an explanatory diagram showing a second example of a pin position determination method between two blocks in the design method of the first embodiment.
【図9】第1実施形態の設計方法において、3ブロック
間のピン位置決定方法の例を示す説明図である。FIG. 9 is an explanatory diagram showing an example of a pin position determination method between three blocks in the design method of the first embodiment.
【図10】本発明の第2実施形態における集積回路装置
の設計装置の構成図である。FIG. 10 is a configuration diagram of an integrated circuit device designing apparatus according to a second embodiment of the present invention.
【図11】第2実施形態における集積回路装置の設計方
法を示すフロー図である。FIG. 11 is a flowchart illustrating a design method of an integrated circuit device according to a second embodiment.
【図12】第2実施形態の設計方法において、ブロック
間配線手段の動作を示すフロー図である。FIG. 12 is a flowchart showing the operation of the inter-block wiring means in the design method of the second embodiment.
【図13】本発明の第3実施形態における集積回路装置
の設計装置の構成図である。FIG. 13 is a configuration diagram of an integrated circuit device designing apparatus according to a third embodiment of the present invention.
【図14】第3実施形態における集積回路装置の設計方
法を示すフロー図である。FIG. 14 is a flowchart showing a method for designing an integrated circuit device according to the third embodiment.
【図15】本発明の第4実施形態における集積回路装置
の設計装置の構成図である。FIG. 15 is a configuration diagram of an integrated circuit device designing apparatus according to a fourth embodiment of the present invention.
【図16】第4実施形態の設計方法において、セル選別
手段の動作を示す説明図である。FIG. 16 is an explanatory diagram showing an operation of a cell selection unit in the design method of the fourth embodiment.
【図17】第4実施形態の設計方法において、ブロック
分割手段の動作を示す説明図である。FIG. 17 is an explanatory diagram showing an operation of a block dividing unit in the design method of the fourth embodiment.
【図18】本発明の第5実施形態における集積回路装置
の設計装置の構成図である。FIG. 18 is a configuration diagram of an integrated circuit device designing apparatus according to a fifth embodiment of the present invention.
【図19】第5実施形態における集積回路装置の設計方
法の動作を示す説明図(その1)である。FIG. 19 is an explanatory diagram (part 1) illustrating the operation of the method for designing an integrated circuit device in the fifth embodiment.
【図20】第5実施形態における集積回路装置の設計方
法の動作を示す説明図(その2)である。FIG. 20 is an explanatory diagram (part 2) illustrating the operation of the method for designing an integrated circuit device in the fifth embodiment.
【図21】本発明の第6実施形態における集積回路装置
の設計装置の構成図である。FIG. 21 is a configuration diagram of an integrated circuit device designing apparatus according to a sixth embodiment of the present invention.
【図22】第6実施形態において、高トグル率の配線を
低トグル率の配線で挟む配線状態を示す平面図である。FIG. 22 is a plan view showing a wiring state in which a wiring having a high toggle rate is interposed between wirings having a low toggle rate in the sixth embodiment;
【図23】本発明の第7実施形態における集積回路装置
の設計装置の構成図である。FIG. 23 is a configuration diagram of an integrated circuit device designing apparatus according to a seventh embodiment of the present invention.
【図24】第7実施形態において、高トグル率かつ逆相
信号の配線状態を示す平面図である。FIG. 24 is a plan view showing a wiring state of a high toggle rate and a negative-phase signal in the seventh embodiment.
【図25】本発明の第8実施形態における集積回路装置
の設計装置の構成図である。FIG. 25 is a configuration diagram of an integrated circuit device designing apparatus according to an eighth embodiment of the present invention.
【図26】第8実施形態において、バス配線の配置状態
を示す平面図である。FIG. 26 is a plan view showing an arrangement state of bus wirings in an eighth embodiment.
【図27】本発明の第9実施形態の設計方法を用いた配
線の断面図である。FIG. 27 is a cross-sectional view of a wiring using the design method according to the ninth embodiment of the present invention.
【図28】一般的な設計方法を用いた場合の並行2配線
の断面図である。FIG. 28 is a cross-sectional view of two parallel wirings when a general design method is used.
11,21,31,41,49a〜49d,51,6
1,71 トグル率算出手段 12,22,32 ピン処理順序決定手段 13 ブロック位置抽出手段 14,34 ピン位置決定手段 15,15a〜15g,63a,63b,74a,74
b ブロック 16,16a〜16g ピン 23,35 ブロック間配線手段 33 ブロック位置抽出手段 42,52 セル抽出手段 43,53 セル選別手段 44 ブロック分割手段 45 ブロック配置手段 46,46a〜46f セル 47 高トグルネット 48 低トグルネット 54 ブロック間移動手段 62,73,82 配置配線順序決定手段 64a〜64c,75a〜75e,91a〜91c,9
2a〜92c 配線 72 逆相配線抽出手段 81 バス配線抽出手段 83a〜83e バス配線11, 21, 31, 41, 49a to 49d, 51, 6
1,71 Toggle rate calculating means 12,22,32 Pin processing order determining means 13 Block position extracting means 14,34 Pin position determining means 15,15a to 15g, 63a, 63b, 74a, 74
b block 16, 16a to 16g pin 23, 35 inter-block wiring means 33 block position extracting means 42, 52 cell extracting means 43, 53 cell selecting means 44 block dividing means 45 block arranging means 46, 46a to 46f cell 47 high toggle net 48 low toggle net 54 inter-block moving means 62, 73, 82 placement and wiring order determining means 64a to 64c, 75a to 75e, 91a to 91c, 9
2a-92c Wiring 72 Negative-phase Wiring Extraction Means 81 Bus Wiring Extraction Means 83a-83e Bus Wiring
フロントページの続き (72)発明者 横山 賢司 大阪府門真市大字門真1006番地 松下電器 産業株式会社内 (72)発明者 廣瀬 勝彦 大阪府門真市大字門真1006番地 松下電器 産業株式会社内Continuing from the front page (72) Inventor Kenji Yokoyama 1006 Kadoma Kadoma, Osaka Prefecture Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. (72) Inventor Katsuhiko Hirose 1006 Okadoma Kadoma, Kadoma City Osaka Pref.
Claims (9)
ポートであるピンと配線ラインとを介して結合して集積
回路装置を設計する集積回路装置の設計方法であって、 集積回路装置における各ブロックのピンのトグル率を算
出するトグル率算出ステップと、 前記トグル率算出ステップにより算出された前記ブロッ
クのピンのトグル率を基に、トグル率の高いピンから順
次処理されるようピンの処理順序を決定するピン処理順
序決定ステップと、 フロアプラン上での前記ブロックの位置を抽出するブロ
ック位置抽出ステップと、 前記ピン処理順序決定ステップにより決定されたピン処
理順序と前記ブロック位置抽出ステップにより抽出され
たブロック位置とを基に、トグル率の高いピンから配線
が短くなるようブロックのピン位置を順次決定するピン
位置決定ステップと、を備えたことを特徴とする集積回
路装置の設計方法。An integrated circuit device design method for designing an integrated circuit device by connecting a plurality of blocks including logic cells via pins serving as connection ports and wiring lines, wherein each block in the integrated circuit device is provided. A toggle rate calculating step of calculating a toggle rate of the pin, and a processing order of the pins such that the pins are sequentially processed in descending order of the toggle rate based on the toggle rates of the pins of the block calculated in the toggle rate calculating step. A pin processing order determining step for determining; a block position extracting step for extracting a position of the block on a floor plan; a pin processing order determined by the pin processing order determining step; and a block position extracting step. Based on the block position, determine the pin position of the block sequentially so that the wiring becomes shorter from the pin with the higher toggle rate Method of designing an integrated circuit device characterized by comprising a lupine positioning step.
ポートであるピンと配線ラインとを介して結合して集積
回路装置を設計する集積回路装置の設計方法であって、 集積回路装置におけるブロックのピンのトグル率を算出
するトグル率算出ステップと、 前記トグル率算出ステップにより算出された前記ブロッ
クのピンのトグル率を基に、トグル率の高いピンから順
次処理されるようピンの処理順序を決定するピン処理順
序決定ステップと、 前記ピン処理順序決定ステップにより決定されたピン処
理順序を基に、トグル率の高いピンからブロック間の配
線を行なうブロック間配線ステップと、を備えたことを
特徴とする集積回路装置の設計方法。2. A method for designing an integrated circuit device, wherein a plurality of blocks including logic cells are connected via a pin serving as a connection port and a wiring line, the integrated circuit device being designed. A toggle rate calculation step of calculating a toggle rate of the pin, and a processing order of the pins is determined based on the toggle rate of the pin of the block calculated in the toggle rate calculation step so that the pins are sequentially processed from a pin having a higher toggle rate. A pin processing order determining step to perform, and an inter-block wiring step of performing wiring between blocks from a pin having a high toggle rate based on the pin processing order determined by the pin processing order determining step. Integrated circuit device design method.
ポートであるピンと配線ラインとを介して結合して集積
回路装置を設計する集積回路装置の設計方法であって、 集積回路装置における各ブロックのピンのトグル率を算
出するトグル率算出ステップと、 前記トグル率算出ステップにより算出された前記ブロッ
クのピンのトグル率を基に、トグル率の高いピンから順
次処理されるようピンの処理順序を決定するピン処理順
序決定ステップと、 フロアプラン上での前記ブロックの位置を抽出するブロ
ック位置抽出ステップと、 前記ピン処理順序決定ステップにより決定されたピン処
理順序と前記ブロック位置抽出ステップにより抽出され
たブロック位置とを基に、トグル率の高いピンから配線
が短くなるようブロックのピン位置を順次決定するピン
位置決定ステップと、 前記ピン処理順序決定ステップにより決定されたピン処
理順序を基に、トグル率の高いピンからブロック間の配
線を行なうブロック間配線ステップと、を備えたことを
特徴とする集積回路装置の設計方法。3. An integrated circuit device designing method for designing an integrated circuit device by connecting a plurality of blocks including logic cells via pins serving as connection ports and wiring lines, wherein each block in the integrated circuit device is provided. A toggle rate calculating step of calculating a toggle rate of the pin, and a processing order of the pins such that the pins are sequentially processed in descending order of the toggle rate based on the toggle rates of the pins of the block calculated in the toggle rate calculating step. A pin processing order determining step for determining; a block position extracting step for extracting a position of the block on a floor plan; a pin processing order determined by the pin processing order determining step; and a block position extracting step. Based on the block position, determine the pin position of the block sequentially so that the wiring becomes shorter from the pin with the higher toggle rate A pin position determining step, and an inter-block wiring step of performing wiring between blocks from a pin having a high toggle rate based on the pin processing order determined in the pin processing order determining step. A method for designing an integrated circuit device.
ポートであるピンと配線ラインとを介して結合して集積
回路装置を設計する集積回路装置の設計方法であって、 各配線ラインのトグル率を算出するトグル率算出ステッ
プと、 前記配線ラインが接続されるセルを抽出するセル抽出ス
テップと、 前記トグル率算出ステップにより算出された配線ライン
のトグル率を弁別し、前記セル抽出ステップにより抽出
されたセルを基に、トグル率の高い配線ラインが接続さ
れるセルに対しては同一のブロックに配置し、トグル率
の低い配線ラインが接続されるセルに対しては他のブロ
ックに配置するブロック配置ステップと、を備えたこと
を特徴とする集積回路装置の設計方法。4. A method for designing an integrated circuit device, wherein a plurality of blocks including logic cells are connected via a pin serving as a connection port and a wiring line, and the toggle rate of each wiring line is determined. Calculating a toggle rate, calculating a cell, extracting a cell to which the wiring line is connected, and extracting the toggle rate of the wiring line calculated in the toggle rate calculation step, extracted in the cell extraction step Based on the selected cell, a block to be placed in the same block for a cell to which a wiring line with a high toggle rate is connected, and a block to be placed in another block for a cell to which a wiring line with a low toggle rate is connected. And a step of arranging the integrated circuit device.
ポートであるピンと配線ラインとを介して結合して集積
回路装置を設計する集積回路装置の設計方法であって、 各配線ラインのトグル率を算出するトグル率算出ステッ
プと、 前記配線ラインが接続されるセルを抽出するセル抽出ス
テップと、 前記トグル率算出ステップにより算出された配線ライン
のトグル率を弁別し、前記セル抽出ステップにより抽出
されたセルを基に、トグル率の高い配線ラインで接続さ
れるセルが互いに異なるブロックに属する場合、同一の
ブロックに移動させるブロック間移動ステップと、を備
えたことを特徴とする集積回路装置の設計方法。5. An integrated circuit device designing method for designing an integrated circuit device by connecting a plurality of blocks including logic cells via pins serving as connection ports and wiring lines, wherein a toggle rate of each wiring line is provided. Calculating a toggle rate, calculating a cell, extracting a cell to which the wiring line is connected, and extracting the toggle rate of the wiring line calculated in the toggle rate calculation step, extracted in the cell extraction step An inter-block movement step of, when cells connected by a wiring line with a high toggle rate belong to different blocks based on the selected cell, moving the cells to the same block, Method.
ポートであるピンと配線ラインとを介して結合して集積
回路装置を設計する集積回路装置の設計方法であって、 各配線ラインのトグル率を算出するトグル率算出ステッ
プと、 前記トグル率算出ステップにより算出されたトグル率に
基づいて弁別し、高トグル率の配線ラインの少なくとも
一方に隣接させて低トグル率の配線ラインを配置するよ
うブロック間の配線の配置順序を決定する配線配置順序
決定ステップと、を備えたことを特徴とする集積回路装
置の設計方法。6. An integrated circuit device designing method for designing an integrated circuit device by coupling a plurality of blocks including logic cells via pins serving as connection ports and wiring lines, wherein the toggle rate of each wiring line is provided. A toggle rate calculating step of calculating, and discriminating based on the toggle rate calculated in the toggle rate calculating step, and arranging a low toggle rate wiring line adjacent to at least one of the high toggle rate wiring lines. A wiring layout order determining step of determining a wiring layout order between the wirings.
ポートであるピンと配線ラインとを介して結合して集積
回路装置を設計する集積回路装置の設計方法であって、 各配線ラインのトグル率を算出するトグル率算出ステッ
プと、 配線ラインの論理レベルが逆相関係にある配線ラインを
抽出する逆相配線抽出ステップと、 前記トグル率算出ステップにより算出されたトグル率に
基づいて弁別し、トグル率が高く、且つ前記逆相配線抽
出ステップで抽出された互いに逆相の2本の配線ライン
に対しては、互いに隣接しないよう前記配線ライン間に
少なくとも1本の低トグル率の配線ラインを配置する配
線配置順序決定ステップと、を備えたことを特徴とする
集積回路装置の設計方法。7. An integrated circuit device designing method for designing an integrated circuit device by connecting a plurality of blocks including logic cells via a connection port pin and a wiring line, wherein the toggle rate of each wiring line is provided. Calculating a toggle rate, calculating the logic level of the wiring line, extracting a wiring line having a reverse phase relationship, extracting a wiring line, and discriminating based on the toggle rate calculated in the toggle rate calculation step, toggle At least one wiring line with a low toggle ratio is arranged between the wiring lines so as not to be adjacent to each other with respect to the two wiring lines having a high ratio and having the opposite phases extracted in the negative-phase wiring extracting step. And a wiring arrangement order determining step.
ポートであるピンと配線ラインとを介して結合して集積
回路装置を設計する集積回路装置の設計方法であって、 ブロック間の複数の配線ラインのうちバスを構成する配
線ラインを抽出するバス配線抽出ステップと、 前記バス配線抽出ステップで抽出されたバス配線ライン
に対して、最上位ビットより下位に向けた複数の配線ラ
インと最下位ビットより上位に向けた複数の配線ライン
とを順次交互に配置する配線配置順序決定ステップと、
を備えたことを特徴とする集積回路装置の設計方法。8. An integrated circuit device designing method for designing an integrated circuit device by connecting a plurality of blocks including logic cells via pins serving as connection ports and wiring lines, wherein a plurality of wirings between blocks are provided. A bus wiring extracting step of extracting a wiring line constituting a bus among the lines; and a plurality of wiring lines and lowermost bits directed to lower than the most significant bit with respect to the bus wiring line extracted in the bus wiring extracting step. A wiring arrangement order determining step of sequentially and alternately arranging a plurality of wiring lines toward a higher order,
A method for designing an integrated circuit device, comprising:
続ポートであるピンと配線ラインとを介して結合された
集積回路装置において、 互いに干渉し合う二本の配線ラインを並行に配置すると
き、前記配線ライン断面の形状が矩形である場合に夫々
の断面の長辺側がほぼ直交するように配置したことを特
徴とする集積回路装置。9. An integrated circuit device in which a plurality of circuit blocks each including a logic cell are connected via a pin serving as a connection port and a wiring line, when two wiring lines that interfere with each other are arranged in parallel. An integrated circuit device, wherein when a cross section of a wiring line is rectangular, the long sides of each cross section are arranged to be substantially orthogonal.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8172704A JPH1021280A (en) | 1996-07-02 | 1996-07-02 | Integrated circuit device design method and integrated circuit device |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8172704A JPH1021280A (en) | 1996-07-02 | 1996-07-02 | Integrated circuit device design method and integrated circuit device |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH1021280A true JPH1021280A (en) | 1998-01-23 |
Family
ID=15946805
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|---|---|---|---|
| JP8172704A Pending JPH1021280A (en) | 1996-07-02 | 1996-07-02 | Integrated circuit device design method and integrated circuit device |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH1021280A (en) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6727120B2 (en) | 2001-03-07 | 2004-04-27 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Wiring method in layout design of semiconductor integrated circuit, semiconductor integrated circuit and functional macro |
| US7587620B1 (en) * | 2006-05-09 | 2009-09-08 | Altera Corporation | Power reduction techniques for components in integrated circuits by assigning inputs to a plurality of ports based on power consumption ratings |
| US20230259684A1 (en) * | 2022-02-15 | 2023-08-17 | International Business Machines Corporation | Novel approach to child block pinning |
-
1996
- 1996-07-02 JP JP8172704A patent/JPH1021280A/en active Pending
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
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