JPH10214461A - ディジタル磁気記録再生回路及びこれを用いた装置 - Google Patents
ディジタル磁気記録再生回路及びこれを用いた装置Info
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- JPH10214461A JPH10214461A JP9018237A JP1823797A JPH10214461A JP H10214461 A JPH10214461 A JP H10214461A JP 9018237 A JP9018237 A JP 9018237A JP 1823797 A JP1823797 A JP 1823797A JP H10214461 A JPH10214461 A JP H10214461A
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 簡易な構成で従来よりも更に高密度記録が可
能な信号処理によるディジタル磁気記録再生回路及びこ
れを用いたディジタル磁気記録再生装置を提供する。 【解決手段】 本発明では、第1の方法として、ビタビ
検出器に復号の消失ビット誤りを検出する手段、記録復
号器に消失バイト誤りを検出する手段、及び誤り訂正復
号器で消失バイト誤り訂正を行う手段を設ける。また、
第2の方法として、従来発明で用いられている記録符号
器及び記録復号器の代わりに、第2の誤り訂正符号化手
段及び誤り訂正復号化手段を設け、前記第1の方法を適
用する。 【効果】 ビタビ検出器に、復号誤りが生じた可能性が
高いと判断される消失誤りビットを検出する機能を付加
することで、最尤系列推定の復号誤りを検出し、これを
消失誤り訂正することで、チャネル状態数を増やすこと
なくビタビ検出器の誤り訂正能力を向上させることがで
きる。
能な信号処理によるディジタル磁気記録再生回路及びこ
れを用いたディジタル磁気記録再生装置を提供する。 【解決手段】 本発明では、第1の方法として、ビタビ
検出器に復号の消失ビット誤りを検出する手段、記録復
号器に消失バイト誤りを検出する手段、及び誤り訂正復
号器で消失バイト誤り訂正を行う手段を設ける。また、
第2の方法として、従来発明で用いられている記録符号
器及び記録復号器の代わりに、第2の誤り訂正符号化手
段及び誤り訂正復号化手段を設け、前記第1の方法を適
用する。 【効果】 ビタビ検出器に、復号誤りが生じた可能性が
高いと判断される消失誤りビットを検出する機能を付加
することで、最尤系列推定の復号誤りを検出し、これを
消失誤り訂正することで、チャネル状態数を増やすこと
なくビタビ検出器の誤り訂正能力を向上させることがで
きる。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は磁気ディスク等の記
録媒体にディジタル情報を記録及び再生するディジタル
磁気記録再生回路及び装置に係り、特に高密度な記録が
可能な信号処理回路及びこれを用いた装置に関する。
録媒体にディジタル情報を記録及び再生するディジタル
磁気記録再生回路及び装置に係り、特に高密度な記録が
可能な信号処理回路及びこれを用いた装置に関する。
【0002】
【従来の技術】磁気ディスク装置への高密度記録、高速
化の要望はますます高まっており、これを支える記録再
生系の信号処理技術も高密度、高速記録に対応してき
た。記録符号では、高速化のためにその符号化レートR
を高くし、現在ではR=8/9がよく用いられている。
更に最近では、より高レートな16/17符号が種々提
案され、記録符号の主流となりつつある。また、高密度
記録に伴う符号間干渉による信号対雑音比の低下に対処
するために、再生チャネル上で構成される既知の干渉を
用いて、再生信号に最も近い信号系列を検出するパーシ
ャルレスポンス(Partial Response,
以下PR)等化方式が実用化されるようになった。特
に、PR4ML(Partial Response C
lass 4 with Maximum Likelih
ood Detection)方式は、既にLSIとし
て磁気ディスク製品に搭載されている。PR4MLで
は、よく知られているように1−Dで表現されるダイコ
ードチャネルで記述できる。ここで、Dは遅延演算子を
表し、チャネルメモリである。チャネル状態はチャネル
メモリDに記憶された1時刻前の磁気情報の値で、0ま
たは1の2状態である。前記磁気情報は磁化の向きで記
録されるため、+1,−1のバイポーラで表されるが、
これら磁気情報をそれぞれ1,0のバイナリ形式に対応
させて表すこともできる。現在の磁気情報の値と、チャ
ネル状態に記憶されている値とから、1−Dとしてチャ
ネル出力が決まり、新たな磁気情報が次のチャネル状態
として記憶される。
化の要望はますます高まっており、これを支える記録再
生系の信号処理技術も高密度、高速記録に対応してき
た。記録符号では、高速化のためにその符号化レートR
を高くし、現在ではR=8/9がよく用いられている。
更に最近では、より高レートな16/17符号が種々提
案され、記録符号の主流となりつつある。また、高密度
記録に伴う符号間干渉による信号対雑音比の低下に対処
するために、再生チャネル上で構成される既知の干渉を
用いて、再生信号に最も近い信号系列を検出するパーシ
ャルレスポンス(Partial Response,
以下PR)等化方式が実用化されるようになった。特
に、PR4ML(Partial Response C
lass 4 with Maximum Likelih
ood Detection)方式は、既にLSIとし
て磁気ディスク製品に搭載されている。PR4MLで
は、よく知られているように1−Dで表現されるダイコ
ードチャネルで記述できる。ここで、Dは遅延演算子を
表し、チャネルメモリである。チャネル状態はチャネル
メモリDに記憶された1時刻前の磁気情報の値で、0ま
たは1の2状態である。前記磁気情報は磁化の向きで記
録されるため、+1,−1のバイポーラで表されるが、
これら磁気情報をそれぞれ1,0のバイナリ形式に対応
させて表すこともできる。現在の磁気情報の値と、チャ
ネル状態に記憶されている値とから、1−Dとしてチャ
ネル出力が決まり、新たな磁気情報が次のチャネル状態
として記憶される。
【0003】PR4MLにおいては、信号系列間の最少
2乗距離(MSED:Minimum Squared
Euclidean Distance)は、2(等化
出力値をバイナリ形式で換算、以下も同様)であること
が知られている。このためPR4MLは、最尤推定処理
を行わずに磁気情報を0,1のみで判定するピーク検出
方式(MSED=1)に比べて、雑音に対する余裕度が
3dB向上する。
2乗距離(MSED:Minimum Squared
Euclidean Distance)は、2(等化
出力値をバイナリ形式で換算、以下も同様)であること
が知られている。このためPR4MLは、最尤推定処理
を行わずに磁気情報を0,1のみで判定するピーク検出
方式(MSED=1)に比べて、雑音に対する余裕度が
3dB向上する。
【0004】上述のように、PR4MLのMSEDは2
であるが、より高密度記録を実現するためには、干渉量
の増大に伴う信号対雑音比(S/N)の低下を補償する
ために、MSEDを更に大きくするような信号処理技術
が必要となる。これを実現する方法として、EPR4M
L(Extended PR4ML),EEPR4ML
(Extended EPR4ML),トレリス符号等
が検討されている。前二者はいずれも、PR4MLの考
え方を拡張したものであり、MSEDはそれぞれ4,6
になることが知られている。MSEDの拡大とともに状
態数は増加し、EPR4MLで8、EEPR4MLで1
6になる。これらは線記録密度が高い領域で有効である
(言い換えれば、PR4MLの場合よりも低い信号対雑
音比で同じ復号誤り率が得られる)。最近では PR4
MLから、より高記録密度が可能なEPR4ML方式に
移行しつつあり、LSIによる試作、製品化が急速に進
んでいる。このように現在では、EPR4MLによるデ
ィジタル磁気記録再生方式が主流となりつつある。
であるが、より高密度記録を実現するためには、干渉量
の増大に伴う信号対雑音比(S/N)の低下を補償する
ために、MSEDを更に大きくするような信号処理技術
が必要となる。これを実現する方法として、EPR4M
L(Extended PR4ML),EEPR4ML
(Extended EPR4ML),トレリス符号等
が検討されている。前二者はいずれも、PR4MLの考
え方を拡張したものであり、MSEDはそれぞれ4,6
になることが知られている。MSEDの拡大とともに状
態数は増加し、EPR4MLで8、EEPR4MLで1
6になる。これらは線記録密度が高い領域で有効である
(言い換えれば、PR4MLの場合よりも低い信号対雑
音比で同じ復号誤り率が得られる)。最近では PR4
MLから、より高記録密度が可能なEPR4ML方式に
移行しつつあり、LSIによる試作、製品化が急速に進
んでいる。このように現在では、EPR4MLによるデ
ィジタル磁気記録再生方式が主流となりつつある。
【0005】図2に、従来用いられてきたディジタル磁
気記録再生装置の構成を示す。PR等化回路として、E
PR4チャネルを前提に説明する。図において、記録側
においては、ディジタル情報Aは、誤り訂正符号器10
によりリード、ソロモン符号等を用いて誤り訂正符号化
が施される。リード、ソロモン符号はバイト誤り訂正が
可能なため、高信頼性が要求される磁気記録再生装置で
はよく用いられる。前記の誤り訂正符号化された系列
は、記録符号器11で記録符号化がなされ、ラン長制限
等を与えることにより、磁気再生特性に見合った形式に
変換される。8/9符号や、更に最近では16/17符
号が最もよく用いられる。記録符号化された系列は更
に、プリコーダ12でNRZI(Non Return
to Zero Inverted)形式に変換された
後、増幅器13、記録ヘッド14を通して磁気ディスク
等の記録媒体15に磁気的に記録される。
気記録再生装置の構成を示す。PR等化回路として、E
PR4チャネルを前提に説明する。図において、記録側
においては、ディジタル情報Aは、誤り訂正符号器10
によりリード、ソロモン符号等を用いて誤り訂正符号化
が施される。リード、ソロモン符号はバイト誤り訂正が
可能なため、高信頼性が要求される磁気記録再生装置で
はよく用いられる。前記の誤り訂正符号化された系列
は、記録符号器11で記録符号化がなされ、ラン長制限
等を与えることにより、磁気再生特性に見合った形式に
変換される。8/9符号や、更に最近では16/17符
号が最もよく用いられる。記録符号化された系列は更
に、プリコーダ12でNRZI(Non Return
to Zero Inverted)形式に変換された
後、増幅器13、記録ヘッド14を通して磁気ディスク
等の記録媒体15に磁気的に記録される。
【0006】一方、再生側においては、磁気記録媒体1
5に記録された情報が再生ヘッド16、増幅器17によ
り電気的なアナログ信号として再生され、可変利得増幅
器18で一定振幅となるように制御され、A/D(An
alog to Digital)変換器19への入力振
幅のオーバフローを防いでいる。A/D変換器19で
は、前記のアナログ信号をディジタル信号にし、以降の
再生処理は全てディジタル処理される。ディジタル化さ
れた信号は、適切なタイミングでビット間隔毎にサンプ
リングされ、PR等化回路20に入力される。PR等化
(ここではEPR4等化)では、入力サンプル系列を用
いて、1+D−D^2−D^3の伝達特性を有するチャ
ネルにEPR4等化される。ここで、Dはチャネルメモ
リ、^はべき乗演算である。EPR4チャネルは、図2
4(詳細は実施例で説明)に示すような8状態の状態遷
移図で表現される。ここで、S0,S1,・・・,S7
はそれぞれ、チャネル状態000,001,・・・,1
11である。ある状態への入力信号の値(0,1、図中
ではそれぞれ−,+で表記)により、それぞれ上側及び
下側の枝(パス)に対応する等化信号を出力し、それぞ
れ次のチャネル状態に遷移する。EPR4チャネルで
は、等化出力は5値(2,1,0,−1,−2)であ
る。
5に記録された情報が再生ヘッド16、増幅器17によ
り電気的なアナログ信号として再生され、可変利得増幅
器18で一定振幅となるように制御され、A/D(An
alog to Digital)変換器19への入力振
幅のオーバフローを防いでいる。A/D変換器19で
は、前記のアナログ信号をディジタル信号にし、以降の
再生処理は全てディジタル処理される。ディジタル化さ
れた信号は、適切なタイミングでビット間隔毎にサンプ
リングされ、PR等化回路20に入力される。PR等化
(ここではEPR4等化)では、入力サンプル系列を用
いて、1+D−D^2−D^3の伝達特性を有するチャ
ネルにEPR4等化される。ここで、Dはチャネルメモ
リ、^はべき乗演算である。EPR4チャネルは、図2
4(詳細は実施例で説明)に示すような8状態の状態遷
移図で表現される。ここで、S0,S1,・・・,S7
はそれぞれ、チャネル状態000,001,・・・,1
11である。ある状態への入力信号の値(0,1、図中
ではそれぞれ−,+で表記)により、それぞれ上側及び
下側の枝(パス)に対応する等化信号を出力し、それぞ
れ次のチャネル状態に遷移する。EPR4チャネルで
は、等化出力は5値(2,1,0,−1,−2)であ
る。
【0007】前記EPR4等化された系列は、ビタビ検
出器21で最尤復号がなされる。これは、図に示した状
態遷移図を用い、最も確からしい確率で遷移したパスの
履歴を推定(最尤系列推定)する処理である。前記最尤
系列推定により得られた復号結果(0,1)は、記録復
号器22で記録復号化され、前記再生側記録符号器への
入力系列に逆変換される。記録復号化された系列は、誤
り訂正復号器23でリード・ソロモン復号等によりバイ
ト誤り訂正がなされた後、復元情報A’が再生される。
出器21で最尤復号がなされる。これは、図に示した状
態遷移図を用い、最も確からしい確率で遷移したパスの
履歴を推定(最尤系列推定)する処理である。前記最尤
系列推定により得られた復号結果(0,1)は、記録復
号器22で記録復号化され、前記再生側記録符号器への
入力系列に逆変換される。記録復号化された系列は、誤
り訂正復号器23でリード・ソロモン復号等によりバイ
ト誤り訂正がなされた後、復元情報A’が再生される。
【0008】図4に前記ビタビ検出器21の構成を示
す。ここで太い信号線と細い信号線は、それぞれ複数ビ
ット及び1ビットのバスであることを意味する(以下、
他の図においても同様の表記とする)。図において、時
刻kでEPR4等化された系列ykは、ブランチメトリ
ック計算回路41で、EPR4等化出力候補(2,1,
0,−1,−2)が出力された確率をブランチメトリッ
クとして計算する。ブランチメトリックは、前記ykと
EPR4等化出力候補との2乗距離として算出される。
ここでは2,1,0,−1,−2に対するブランチメト
リックをそれぞれBM(2),BM(1),BM
(0),BM(−1),BM(−2)と表記する。
す。ここで太い信号線と細い信号線は、それぞれ複数ビ
ット及び1ビットのバスであることを意味する(以下、
他の図においても同様の表記とする)。図において、時
刻kでEPR4等化された系列ykは、ブランチメトリ
ック計算回路41で、EPR4等化出力候補(2,1,
0,−1,−2)が出力された確率をブランチメトリッ
クとして計算する。ブランチメトリックは、前記ykと
EPR4等化出力候補との2乗距離として算出される。
ここでは2,1,0,−1,−2に対するブランチメト
リックをそれぞれBM(2),BM(1),BM
(0),BM(−1),BM(−2)と表記する。
【0009】ブランチメトリックが計算されると、次に
ACS(Add,ComPare,Select)回路
42で加算、比較、選択処理が行われる。図10にその
詳細な回路構成を示す。図に示すように、ACS回路で
は、各状態毎に前記ブランチメトリックと、状態尤度
(ブランチメトリックの累積値)が、EPR4状態遷移
図(図24参照)に従って加算器100により加算さ
れ、比較回路101で値の小さい方の尤度及び対応する
パスが新たな状態尤度S0,・・・,S7及び生き残り
パス情報SP0,・・・,SP7として出力される。こ
こで生き残りパス情報SP0,・・・,SP7は、状態
遷移図24において、上側のパスと下側のパスを識別す
る1ビット(0,1)で表現される値である。状態尤度
S0,・・・,S7はそれぞれ遅延素子102に記憶さ
れ、次のACS演算処理に備える。尚、図では繁雑を避
けるため、太い矢印で示した信号線は、S0,・・・,
S7と記した箇所(遅延素子102出力から加算器10
0入力)にそれぞれ帰還接続されているものとする。
ACS(Add,ComPare,Select)回路
42で加算、比較、選択処理が行われる。図10にその
詳細な回路構成を示す。図に示すように、ACS回路で
は、各状態毎に前記ブランチメトリックと、状態尤度
(ブランチメトリックの累積値)が、EPR4状態遷移
図(図24参照)に従って加算器100により加算さ
れ、比較回路101で値の小さい方の尤度及び対応する
パスが新たな状態尤度S0,・・・,S7及び生き残り
パス情報SP0,・・・,SP7として出力される。こ
こで生き残りパス情報SP0,・・・,SP7は、状態
遷移図24において、上側のパスと下側のパスを識別す
る1ビット(0,1)で表現される値である。状態尤度
S0,・・・,S7はそれぞれ遅延素子102に記憶さ
れ、次のACS演算処理に備える。尚、図では繁雑を避
けるため、太い矢印で示した信号線は、S0,・・・,
S7と記した箇所(遅延素子102出力から加算器10
0入力)にそれぞれ帰還接続されているものとする。
【0010】一方、生き残りパスSP0,・・・,SP
7はデータ選択回路103に入力され、各生き残りパス
情報から対応するバイナリデータd0,・・・,d7を
パスメモリ回路43に出力する。パスメモリ回路43で
は、前記バイナリデータd0,・・・,d7を十分長い
期間(パスメモリ長)に渡って記憶し、トレースバック
処理(通常はよく知られたレジスタ交換処理)によっ
て、パスメモリ長だけ遡ったデータをビタビ復号結果と
して出力する。
7はデータ選択回路103に入力され、各生き残りパス
情報から対応するバイナリデータd0,・・・,d7を
パスメモリ回路43に出力する。パスメモリ回路43で
は、前記バイナリデータd0,・・・,d7を十分長い
期間(パスメモリ長)に渡って記憶し、トレースバック
処理(通常はよく知られたレジスタ交換処理)によっ
て、パスメモリ長だけ遡ったデータをビタビ復号結果と
して出力する。
【0011】以上が従来発明による磁気記録再生装置の
構成である。
構成である。
【0012】ところが、磁気記録の高密度化は年率約
1.6倍と急峻化し、上記信号処理技術に加えてMR
(Magneto Resistive)ヘッド、及び
GMR(Gigant MR)ヘッドの研究開発の進展
により、この傾向は更に加速している。現在では、面記
録密度5Gb/in2が技術的に実現可能なことが実証
され、西暦2000年には10Gb/in2へと移行す
るものと予想される。よって図2の従来構成による磁気
記録再生装置では、もはや超高密度化への要求に耐える
ことは困難である。従って、信号処理技術として、EP
R4MLを上回るより高密度記録が可能な方式の実現が
必須となる。
1.6倍と急峻化し、上記信号処理技術に加えてMR
(Magneto Resistive)ヘッド、及び
GMR(Gigant MR)ヘッドの研究開発の進展
により、この傾向は更に加速している。現在では、面記
録密度5Gb/in2が技術的に実現可能なことが実証
され、西暦2000年には10Gb/in2へと移行す
るものと予想される。よって図2の従来構成による磁気
記録再生装置では、もはや超高密度化への要求に耐える
ことは困難である。従って、信号処理技術として、EP
R4MLを上回るより高密度記録が可能な方式の実現が
必須となる。
【0013】上記技術課題に対し、近年トレリス符号が
注目され、検討されている。トレリス符号は、記録符号
の一種であり、誤り訂正符号化後の情報をある規則によ
り符号化し、これをPRチャネルと融合することで信号
間のMSEDを拡大する方式である。図2の記録符号器
11及び記録復号器22をそれぞれトレリス符号器及び
トレリス復号器に置き換えた構成と考えてよい(従来の
記録符号にはMSEDを拡大する能力はない)。PR4
チャネルに基づくトレリス符号(以下、PR4トレリス
符号)が最も検討されている。
注目され、検討されている。トレリス符号は、記録符号
の一種であり、誤り訂正符号化後の情報をある規則によ
り符号化し、これをPRチャネルと融合することで信号
間のMSEDを拡大する方式である。図2の記録符号器
11及び記録復号器22をそれぞれトレリス符号器及び
トレリス復号器に置き換えた構成と考えてよい(従来の
記録符号にはMSEDを拡大する能力はない)。PR4
チャネルに基づくトレリス符号(以下、PR4トレリス
符号)が最も検討されている。
【0014】磁気記録に適用されたPR4トレリス符号
として、MSN(MatchedSpectral N
ull)符号がある。これは符号の周波数特性を磁気チ
ャネルのそれと整合させることで、より大きなMSED
を得るものである。その原理は文献:Matched
Spectral−Null Codes for Pa
rtial−Response Channels,I
EEE Transactions on Inform
ation Theory,Vol.37,No3,p
p.818−855,May 1991に詳細に記述さ
れている。この方式では、PR4チャネルをベースとし
て符号化を行うことで、MSED=4を実現し、非符号
化PR4MLに対して3dBのS/N利得が得られる。
として、MSN(MatchedSpectral N
ull)符号がある。これは符号の周波数特性を磁気チ
ャネルのそれと整合させることで、より大きなMSED
を得るものである。その原理は文献:Matched
Spectral−Null Codes for Pa
rtial−Response Channels,I
EEE Transactions on Inform
ation Theory,Vol.37,No3,p
p.818−855,May 1991に詳細に記述さ
れている。この方式では、PR4チャネルをベースとし
て符号化を行うことで、MSED=4を実現し、非符号
化PR4MLに対して3dBのS/N利得が得られる。
【0015】上記MSN符号はEPR4チャネルにも適
用可能である。 実際、MSED=12を実現可能なこ
とも上記文献に記述されている。ところが、その符号化
レートは1/2と低いものしか発見されていない。
用可能である。 実際、MSED=12を実現可能なこ
とも上記文献に記述されている。ところが、その符号化
レートは1/2と低いものしか発見されていない。
【0016】現在、PR4トレリスとして符号化レート
が8/10,6状態のMSN符号を用いたLSIが試作
されており、その特性について文献:Design a
ndPerformance of a VLSI 120
Mb/s Trellis−Coded Partia
l Response Channels, IEEE,
Proceedings of 1994 The Mag
netic Recording Conference
に記述されている。
が8/10,6状態のMSN符号を用いたLSIが試作
されており、その特性について文献:Design a
ndPerformance of a VLSI 120
Mb/s Trellis−Coded Partia
l Response Channels, IEEE,
Proceedings of 1994 The Mag
netic Recording Conference
に記述されている。
【0017】更に最近では、MSN符号を改善し、更に
高レートを実現する手法として、permutatio
n(置換)によるトレリス符号化方式が提案されてい
る。これは、符号語最終ビットに対応するチャネル状態
と、次の符号語先頭ビットに対応する状態とを、チャネ
ルビットのみを保持したまま置換接続するものであり、
文献:Improved Trellis−Codin
g for Partial−Response Cha
nnels,IEEE,Proceedingsof 1
994 The Magnetic Recording
Conference,文献:Finite Trun
cation Depth Trellis Codes
for the Dicode Channel,IEE
E,Transactions on Magnetic
s,Vol.31,No.6,pp.3027−302
9,November 1995,及び米国特許第54
97384号:Permuted Trellis Co
des for InputRestricted Pa
rtial Response Channelsにその
詳細が記述されている。前記permutationに
よるトレリス符号化方式により、符号割り当ての自由度
が高くなり、8/9と同等な高レート記録符号を比較的
容易に実現できる。
高レートを実現する手法として、permutatio
n(置換)によるトレリス符号化方式が提案されてい
る。これは、符号語最終ビットに対応するチャネル状態
と、次の符号語先頭ビットに対応する状態とを、チャネ
ルビットのみを保持したまま置換接続するものであり、
文献:Improved Trellis−Codin
g for Partial−Response Cha
nnels,IEEE,Proceedingsof 1
994 The Magnetic Recording
Conference,文献:Finite Trun
cation Depth Trellis Codes
for the Dicode Channel,IEE
E,Transactions on Magnetic
s,Vol.31,No.6,pp.3027−302
9,November 1995,及び米国特許第54
97384号:Permuted Trellis Co
des for InputRestricted Pa
rtial Response Channelsにその
詳細が記述されている。前記permutationに
よるトレリス符号化方式により、符号割り当ての自由度
が高くなり、8/9と同等な高レート記録符号を比較的
容易に実現できる。
【0018】以上のように、トレリス符号はPR4チャ
ネルに基づく方式が盛んに検討されている。PR4トレ
リスは記録媒体のトラック方向の密度を上げ、これに伴
うトラック間干渉等による信号対雑音比の低下を救済す
るのに有効である。ところが、PR4チャネルをベース
としているため、線記録密度は低い領域でしか有効でな
い。より高密度記録を実現するためには、高線記録密度
で有利なEPR4チャネルに基づく信号処理方式が望ま
しい。トレリス符号をEPR4チャネルに適用すること
で、MSEDを飛躍的に拡大させる検討も開始されてい
るが、一般にチャネル状態数が非常に多く(16程度以
上)なり、実現回路構成が複雑になる。
ネルに基づく方式が盛んに検討されている。PR4トレ
リスは記録媒体のトラック方向の密度を上げ、これに伴
うトラック間干渉等による信号対雑音比の低下を救済す
るのに有効である。ところが、PR4チャネルをベース
としているため、線記録密度は低い領域でしか有効でな
い。より高密度記録を実現するためには、高線記録密度
で有利なEPR4チャネルに基づく信号処理方式が望ま
しい。トレリス符号をEPR4チャネルに適用すること
で、MSEDを飛躍的に拡大させる検討も開始されてい
るが、一般にチャネル状態数が非常に多く(16程度以
上)なり、実現回路構成が複雑になる。
【0019】
【発明が解決しようとする課題】上記のように、大容量
記憶への需要に伴う高密度記録化への急速な進展によ
り、EPR4ML単独ではもはや超高密度化への要求に
答えることはできない。また、PR4トレリスでは、高
線記録密度領域には適用できず、MSEDにも限界があ
る(4程度以下)。一方、トレリス符号をEPR4チャ
ネルに適用すると、MSEDの拡大は期待できるが、符
号化レートを高くすることが困難であり、チャネル状態
数も多く、実現回路規模が膨大になる。
記憶への需要に伴う高密度記録化への急速な進展によ
り、EPR4ML単独ではもはや超高密度化への要求に
答えることはできない。また、PR4トレリスでは、高
線記録密度領域には適用できず、MSEDにも限界があ
る(4程度以下)。一方、トレリス符号をEPR4チャ
ネルに適用すると、MSEDの拡大は期待できるが、符
号化レートを高くすることが困難であり、チャネル状態
数も多く、実現回路規模が膨大になる。
【0020】本発明の目的は、上記問題点に鑑み、簡易
な構成で従来よりも更に高密度記録が可能な信号処理に
よるディジタル磁気記録再生回路及びこれを用いたディ
ジタル磁気記録再生装置を提供することにある。
な構成で従来よりも更に高密度記録が可能な信号処理に
よるディジタル磁気記録再生回路及びこれを用いたディ
ジタル磁気記録再生装置を提供することにある。
【0021】
【課題を解決するための手段】本発明では、第1の方法
として、ビタビ検出器に復号の消失ビット誤りを検出す
る手段、記録復号器に消失バイト誤りを検出する手段、
及び誤り訂正復号器で消失バイト誤り訂正を行う手段を
設ける。
として、ビタビ検出器に復号の消失ビット誤りを検出す
る手段、記録復号器に消失バイト誤りを検出する手段、
及び誤り訂正復号器で消失バイト誤り訂正を行う手段を
設ける。
【0022】また、第2の方法として、従来発明で用い
られている記録符号器及び記録復号器の代わりに、第2
の誤り訂正符号化手段及び誤り訂正復号化手段を設け、
前記第1の方法を適用する。
られている記録符号器及び記録復号器の代わりに、第2
の誤り訂正符号化手段及び誤り訂正復号化手段を設け、
前記第1の方法を適用する。
【0023】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施例につき、図
面を用いて説明する。図1は、本発明における第1の方
法による第1実施例を示す図である。図において、誤り
訂正符号器10、記録符号器11、プリコーダ12、増
幅器13、記録ヘッド14、磁気記録媒体15、再生ヘ
ッド16、増幅器17、可変利得増幅器18、A/D変
換器19、及びPR等化回路20の構成と機能は、従来
発明(図2参照)と同一であり、従来方式を流用でき
る。本発明は、ビタビ検出器21の復号能力を高める手
段を設けることにより、性能向上を図っている。よっ
て、前記の流用可能な構成の説明は省き、ビタビ検出器
以後の構成について述べる。
面を用いて説明する。図1は、本発明における第1の方
法による第1実施例を示す図である。図において、誤り
訂正符号器10、記録符号器11、プリコーダ12、増
幅器13、記録ヘッド14、磁気記録媒体15、再生ヘ
ッド16、増幅器17、可変利得増幅器18、A/D変
換器19、及びPR等化回路20の構成と機能は、従来
発明(図2参照)と同一であり、従来方式を流用でき
る。本発明は、ビタビ検出器21の復号能力を高める手
段を設けることにより、性能向上を図っている。よっ
て、前記の流用可能な構成の説明は省き、ビタビ検出器
以後の構成について述べる。
【0024】本発明のビタビ検出器24、記録復号器2
5、及び誤り訂正復号器26には、それぞれ消失ビット
誤りを検出する手段、消失バイト誤りを検出する手段、
及び消失バイト誤りを訂正する手段を付加している。こ
こで本発明においては、復号誤りが生じた可能性が高い
と判断されるビットまたはバイトを消失誤りビットまた
は消失誤りバイトと呼ぶことにする。図5にビタビ検出
器24の構成を示す。ここで太い信号線と細い信号線
は、それぞれ複数ビット及び1ビットのバスであること
を意味する(以下、他の図においても同様の表記とす
る)。図において、時刻kでEPR4等化された系列y
kは、ブランチメトリック計算回路41で、EPR4等
化出力候補(2,1,0,−1,−2)が出力された確
率をブランチメトリックとして計算する。ブランチメト
リックは、前記ykとEPR4等化出力候補との2乗距
離として算出される。ここでは2,1,0,−1,−2
に対するブランチメトリックをそれぞれBM(2),B
M(1),BM(0),BM(−1),BM(−2)と
表記する。ここまでは従来発明の構成と同じである。
5、及び誤り訂正復号器26には、それぞれ消失ビット
誤りを検出する手段、消失バイト誤りを検出する手段、
及び消失バイト誤りを訂正する手段を付加している。こ
こで本発明においては、復号誤りが生じた可能性が高い
と判断されるビットまたはバイトを消失誤りビットまた
は消失誤りバイトと呼ぶことにする。図5にビタビ検出
器24の構成を示す。ここで太い信号線と細い信号線
は、それぞれ複数ビット及び1ビットのバスであること
を意味する(以下、他の図においても同様の表記とす
る)。図において、時刻kでEPR4等化された系列y
kは、ブランチメトリック計算回路41で、EPR4等
化出力候補(2,1,0,−1,−2)が出力された確
率をブランチメトリックとして計算する。ブランチメト
リックは、前記ykとEPR4等化出力候補との2乗距
離として算出される。ここでは2,1,0,−1,−2
に対するブランチメトリックをそれぞれBM(2),B
M(1),BM(0),BM(−1),BM(−2)と
表記する。ここまでは従来発明の構成と同じである。
【0025】ブランチメトリックが計算されると、次に
ACS回路1(52)で加算、比較、選択処理が行われ
る。図11にその回路構成を示す。図に示すように、A
CS回路1(52)では、各状態毎に前記ブランチメト
リックと、状態尤度(ブランチメトリックの累積値)
が、EPR4状態遷移図(図24参照)に従って加算器
100により加算され、比較回路111に入力される。
本発明では、比較回路111から差分値DM0,・・
・,DM7を出力し、その符号ビットを生き残りパス情
報SP0,・・・,SP7としている。ここで、差分値
とは、前記比較回路111における2つの入力信号の差
であり、例えば状態S0の場合、DM0=(BM(0)
+S0)−(BM(−1)+S4)と算出される。DM
1,・・・,DM7についても同様である。ディジタル
処理は全て2の補数表示(2‘s complemen
t)で行われるため、符号ビットを生き残りパス情報S
P0,・・・,SP7に利用することができる。状態尤
度S0,・・・,S7はそれぞれ対応する遅延素子11
2に記憶され、次のACS演算処理に備える。尚、図で
は繁雑を避けるため、太い矢印で示した信号線は、S
0,・・・,S7と記した箇所(遅延素子112出力か
ら加算器100入力)にそれぞれ帰還接続されているも
のとする。
ACS回路1(52)で加算、比較、選択処理が行われ
る。図11にその回路構成を示す。図に示すように、A
CS回路1(52)では、各状態毎に前記ブランチメト
リックと、状態尤度(ブランチメトリックの累積値)
が、EPR4状態遷移図(図24参照)に従って加算器
100により加算され、比較回路111に入力される。
本発明では、比較回路111から差分値DM0,・・
・,DM7を出力し、その符号ビットを生き残りパス情
報SP0,・・・,SP7としている。ここで、差分値
とは、前記比較回路111における2つの入力信号の差
であり、例えば状態S0の場合、DM0=(BM(0)
+S0)−(BM(−1)+S4)と算出される。DM
1,・・・,DM7についても同様である。ディジタル
処理は全て2の補数表示(2‘s complemen
t)で行われるため、符号ビットを生き残りパス情報S
P0,・・・,SP7に利用することができる。状態尤
度S0,・・・,S7はそれぞれ対応する遅延素子11
2に記憶され、次のACS演算処理に備える。尚、図で
は繁雑を避けるため、太い矢印で示した信号線は、S
0,・・・,S7と記した箇所(遅延素子112出力か
ら加算器100入力)にそれぞれ帰還接続されているも
のとする。
【0026】一方、生き残りパス情報SP0,・・・,
SP7は、しきい値判定回路112の出力a0,・・
・,a7とともにデータ選択回路113に入力され、各
生き残りパス情報から対応するデータd0’,・・・,
d7’を、生き残りパス情報SP0,・・・,SP7と
ともにパスメモリ回路53に出力する。ここで、データ
d0’,・・・,d7’は1,0,及び消失X(=0.
5)の3値である。Xは消失ビットを表し、1と0の中
間の値、すなわち0.5を取る。 ai(i=0,・・
・,7)は、データ選択回路の出力di’が1,0,X
のいずれかを決める制御信号であり、ai=1の時はS
Piによらずdi’=X、 ai=0の時はSPiに応
じたバイナリデータをデータ選択回路113は出力す
る。しきい値判定回路112は、前記DMiの絶対値を
しきい値Rと比較し、| DMi |>Rの時ai=0,
これ以外の時ai=1を出力する。すなわち、本実施例
では、ACSにおいて比較するべき尤度の差の絶対値が
あるしきい値よりも小さい場合は、S/N低下に起因し
た復号誤りが起こる可能性が高く、選択されたパスのデ
ータに対する信頼性が低いと判断し、これを消失誤りと
してXを出力する。前記絶対値がしきい値よりも大きい
場合は、通常の最尤復号処理を行う。
SP7は、しきい値判定回路112の出力a0,・・
・,a7とともにデータ選択回路113に入力され、各
生き残りパス情報から対応するデータd0’,・・・,
d7’を、生き残りパス情報SP0,・・・,SP7と
ともにパスメモリ回路53に出力する。ここで、データ
d0’,・・・,d7’は1,0,及び消失X(=0.
5)の3値である。Xは消失ビットを表し、1と0の中
間の値、すなわち0.5を取る。 ai(i=0,・・
・,7)は、データ選択回路の出力di’が1,0,X
のいずれかを決める制御信号であり、ai=1の時はS
Piによらずdi’=X、 ai=0の時はSPiに応
じたバイナリデータをデータ選択回路113は出力す
る。しきい値判定回路112は、前記DMiの絶対値を
しきい値Rと比較し、| DMi |>Rの時ai=0,
これ以外の時ai=1を出力する。すなわち、本実施例
では、ACSにおいて比較するべき尤度の差の絶対値が
あるしきい値よりも小さい場合は、S/N低下に起因し
た復号誤りが起こる可能性が高く、選択されたパスのデ
ータに対する信頼性が低いと判断し、これを消失誤りと
してXを出力する。前記絶対値がしきい値よりも大きい
場合は、通常の最尤復号処理を行う。
【0027】図20にパスメモリ回路53の構成概念図
を示す。パスメモリ回路53では、生き残りパス情報S
P0,・・・,SP7により、それぞれセレクタ0,・
・・,セレクタ7(201)に入力されたパスメモリレ
ジスタ200(それぞれ(reg0.1,reg0.
2),・・・,(reg7.1,reg7.2))を選
択し、それぞれreg0,・・・,reg7(202)
に出力する。セレクタi(i=0,・・・,7)(20
1)は、状態Siにおけるパスメモリレジスタ200
(regi.1,regi.2)出力を選択する回路で
あり、 regi.1,regi.2にはそれぞれ、状
態Siに至るパスのデータ履歴が記憶されている。その
深さはパスメモリ長に等しい。繁雑を避けるため、レジ
スタ出力R0,・・・,R7はそれぞれ対応する位置に
表記された信号線に帰還接続されているものとする。そ
の構成は従来発明と同じである。
を示す。パスメモリ回路53では、生き残りパス情報S
P0,・・・,SP7により、それぞれセレクタ0,・
・・,セレクタ7(201)に入力されたパスメモリレ
ジスタ200(それぞれ(reg0.1,reg0.
2),・・・,(reg7.1,reg7.2))を選
択し、それぞれreg0,・・・,reg7(202)
に出力する。セレクタi(i=0,・・・,7)(20
1)は、状態Siにおけるパスメモリレジスタ200
(regi.1,regi.2)出力を選択する回路で
あり、 regi.1,regi.2にはそれぞれ、状
態Siに至るパスのデータ履歴が記憶されている。その
深さはパスメモリ長に等しい。繁雑を避けるため、レジ
スタ出力R0,・・・,R7はそれぞれ対応する位置に
表記された信号線に帰還接続されているものとする。そ
の構成は従来発明と同じである。
【0028】一方、前記regi(202)はシフトレ
ジスタとしても動作し、その深さはパスメモリ長(EP
R4MLの場合、通常20ビット程度)に等しい。前記
バイナリデータdi’は、regi(202)にシリア
ル入力され、反対側からシフトアウトされたデータをビ
タビ復号結果として出力する。ここで、復号結果は1,
0,Xのいずれかである。レジスタ出力R0,・・・,
R7はそれぞれ対応する位置に表記された信号線に帰還
接続され、パスメモリレジスタ200(regi.1,
regi.2)の内容が更新される。パスメモリ長を十
分長くすれば、regi(202)のシリアル出力はい
ずれも同じである(トレースバック後のパスはマージし
ている)。よって、ここでは状態S0におけるreg0
(202)を用いて復号データを得ている。
ジスタとしても動作し、その深さはパスメモリ長(EP
R4MLの場合、通常20ビット程度)に等しい。前記
バイナリデータdi’は、regi(202)にシリア
ル入力され、反対側からシフトアウトされたデータをビ
タビ復号結果として出力する。ここで、復号結果は1,
0,Xのいずれかである。レジスタ出力R0,・・・,
R7はそれぞれ対応する位置に表記された信号線に帰還
接続され、パスメモリレジスタ200(regi.1,
regi.2)の内容が更新される。パスメモリ長を十
分長くすれば、regi(202)のシリアル出力はい
ずれも同じである(トレースバック後のパスはマージし
ている)。よって、ここでは状態S0におけるreg0
(202)を用いて復号データを得ている。
【0029】尚、ここでは動作概念の理解を容易にする
ために、図においてパスメモリレジスタ200を示して
あるが、実際の回路構成では前記パスメモリレジスタ2
00を用いずに、regi(202)のみを用いて直接
セレクタi(201)に接続することで上記動作を実現
できる。
ために、図においてパスメモリレジスタ200を示して
あるが、実際の回路構成では前記パスメモリレジスタ2
00を用いずに、regi(202)のみを用いて直接
セレクタi(201)に接続することで上記動作を実現
できる。
【0030】上記処理によって得られたビタビ復号結果
としてのデータ系列は、最尤復号に基づくものであるた
め、図5においてこれをbest系列として消失誤り検
出回路1(54)に出力する。図8に消失誤り検出回路
1(54)の構成を示す。前記best系列は、1,
0,及び消失X=0.5のいずれかであり、これらをし
きい値判定回路81で識別する。すなわち、入力データ
がdが0.25<d<=0.75なる時は消失Xが到来
したものと判定し、消失誤りビット検出フラグflg−
ebitを1とする。これ以外の時は入力データは1ま
たは0と判定し、消失誤り検出フラグflg−ebit
を0とする。
としてのデータ系列は、最尤復号に基づくものであるた
め、図5においてこれをbest系列として消失誤り検
出回路1(54)に出力する。図8に消失誤り検出回路
1(54)の構成を示す。前記best系列は、1,
0,及び消失X=0.5のいずれかであり、これらをし
きい値判定回路81で識別する。すなわち、入力データ
がdが0.25<d<=0.75なる時は消失Xが到来
したものと判定し、消失誤りビット検出フラグflg−
ebitを1とする。これ以外の時は入力データは1ま
たは0と判定し、消失誤り検出フラグflg−ebit
を0とする。
【0031】以上の処理により、図1におけるビタビ検
出器24は、ビタビ復号結果と消失誤りビット検出フラ
グを記録復号器25に出力する。記録復号器25では、
前記ビタビ復号結果と消失誤りビット検出フラグとを入
力し、記録復号処理を行う。ここではバイト単位での処
理がなされる。よって、消失誤りビット検出フラグが1
の時は、復号後のバイトに誤りのあることがわかり、記
録復号結果とともに消失誤りバイト検出フラグflg−
ebyte=1として、誤り訂正復号器26に出力す
る。消失誤りビット検出フラグが0の時は、記録復号後
のバイトに消失誤りはないものと判断し、復号結果とと
もに消失誤りバイト検出フラグflg−ebyte=0
として、誤り訂正復号器26に出力する。
出器24は、ビタビ復号結果と消失誤りビット検出フラ
グを記録復号器25に出力する。記録復号器25では、
前記ビタビ復号結果と消失誤りビット検出フラグとを入
力し、記録復号処理を行う。ここではバイト単位での処
理がなされる。よって、消失誤りビット検出フラグが1
の時は、復号後のバイトに誤りのあることがわかり、記
録復号結果とともに消失誤りバイト検出フラグflg−
ebyte=1として、誤り訂正復号器26に出力す
る。消失誤りビット検出フラグが0の時は、記録復号後
のバイトに消失誤りはないものと判断し、復号結果とと
もに消失誤りバイト検出フラグflg−ebyte=0
として、誤り訂正復号器26に出力する。
【0032】誤り訂正復号器26は、前記記録復号結果
と消失誤りバイト検出フラグを入力し、消失誤り訂正を
行う。符号の最少ハミング距離をd(バイト)とする
と、ランダム誤り訂正では、r=t(バイト)までの誤
りを訂正できる。ここで、tはd=2t+1の関係を満
足するものとする。一方、上記ハミング距離を有する符
号に消失誤り訂正を適用すると、e=d−1=2t(バ
イト)までの消失誤りを復元できる。これは、消失誤り
を的確に検出できれば、ランダム誤り訂正の約2倍の訂
正能力を有することを意味する。
と消失誤りバイト検出フラグを入力し、消失誤り訂正を
行う。符号の最少ハミング距離をd(バイト)とする
と、ランダム誤り訂正では、r=t(バイト)までの誤
りを訂正できる。ここで、tはd=2t+1の関係を満
足するものとする。一方、上記ハミング距離を有する符
号に消失誤り訂正を適用すると、e=d−1=2t(バ
イト)までの消失誤りを復元できる。これは、消失誤り
を的確に検出できれば、ランダム誤り訂正の約2倍の訂
正能力を有することを意味する。
【0033】よって、本実施例により、最尤系列推定時
における復号誤りを検出し、これから導かれる消失誤り
バイトを訂正することで、再生処理としての復号誤り特
性を向上させることが可能となる。
における復号誤りを検出し、これから導かれる消失誤り
バイトを訂正することで、再生処理としての復号誤り特
性を向上させることが可能となる。
【0034】図6は本発明の第1の方法による第2実施
例を示すビタビ検出器の構成である。ビタビ検出器を除
き、システム構成(図1)は第1実施例と同じである。
よってここでは、ビタビ検出器の構成について述べるこ
ととする。
例を示すビタビ検出器の構成である。ビタビ検出器を除
き、システム構成(図1)は第1実施例と同じである。
よってここでは、ビタビ検出器の構成について述べるこ
ととする。
【0035】図において、ブランチメトリック計算回路
41の構成は第1実施例と同一であり、これにより得ら
れたブランチメトリックBM(2),BM(1),BM
(0),BM(−1),BM(−2)がACS回路2ま
たは3(62)に入力される。 ACS回路2及び3
は、基本的な考え方は同じであり、最尤系列推定によっ
て得られたbest系列と、尤度的にbest系列の次
に最適な2nd系列を同時に出力することを特徴とす
る。本実施例では図12に示すACS回路2の構成を用
いるが、これについて述べる前に、図23及び図24を
用いて本実施例における2nd系列の出力方法の原理を
説明する。本実施例では組織的探索法(図23(a))
を提案し、これを適用している。しきい値判定法(図2
3(b))については、次の実施例で述べる。組織的探
索法では、ACS演算において、各状態毎に2nd系列
探索用の状態尤度記憶レジスタ及びパスメモリを設け、
ソーティング処理により、最少値と2番目に小さな尤
度、及び対応するパスをそれぞれ選択し、記憶する。b
est系列と2nd系列に対するパスメモリが完全に一
致する場合は、best系列と2nd系列の完全な一致
を回避するために、3番目に小さな尤度と対応するパス
メモリを2nd系列として記憶する。前記ソーティング
処理の基本演算は図23(a)に示すように、例えば状
態S0におけるACS演算処理として、{S0+BM
(0), S0’+BM(0),S4+BM(−1),
S4’+BM(−1)}を小さい値から順に並び換え、
その中、最少値及びその次に小さいものと、各々対応す
る生き残りパスを選択する。ここで、Si,Si’(i
=0,・・・,7)はそれぞれ、best系列、2nd
系列に対応して得られる状態尤度である。この処理によ
って、ACS演算におけるbest系列に加えて、その
次に確率の高いと推定される2nd系列を同時に求める
ことができる。他の状態S1,・・・,S7についても
同様の処理を行う。
41の構成は第1実施例と同一であり、これにより得ら
れたブランチメトリックBM(2),BM(1),BM
(0),BM(−1),BM(−2)がACS回路2ま
たは3(62)に入力される。 ACS回路2及び3
は、基本的な考え方は同じであり、最尤系列推定によっ
て得られたbest系列と、尤度的にbest系列の次
に最適な2nd系列を同時に出力することを特徴とす
る。本実施例では図12に示すACS回路2の構成を用
いるが、これについて述べる前に、図23及び図24を
用いて本実施例における2nd系列の出力方法の原理を
説明する。本実施例では組織的探索法(図23(a))
を提案し、これを適用している。しきい値判定法(図2
3(b))については、次の実施例で述べる。組織的探
索法では、ACS演算において、各状態毎に2nd系列
探索用の状態尤度記憶レジスタ及びパスメモリを設け、
ソーティング処理により、最少値と2番目に小さな尤
度、及び対応するパスをそれぞれ選択し、記憶する。b
est系列と2nd系列に対するパスメモリが完全に一
致する場合は、best系列と2nd系列の完全な一致
を回避するために、3番目に小さな尤度と対応するパス
メモリを2nd系列として記憶する。前記ソーティング
処理の基本演算は図23(a)に示すように、例えば状
態S0におけるACS演算処理として、{S0+BM
(0), S0’+BM(0),S4+BM(−1),
S4’+BM(−1)}を小さい値から順に並び換え、
その中、最少値及びその次に小さいものと、各々対応す
る生き残りパスを選択する。ここで、Si,Si’(i
=0,・・・,7)はそれぞれ、best系列、2nd
系列に対応して得られる状態尤度である。この処理によ
って、ACS演算におけるbest系列に加えて、その
次に確率の高いと推定される2nd系列を同時に求める
ことができる。他の状態S1,・・・,S7についても
同様の処理を行う。
【0036】図24にbest系列、2nd系列の推定
例を示す。簡単のため、best系列に全0データ系列
が送信されたものとし、パスメモリ長を10ビットとす
る。この時、best系列及び2nd系列に対するパス
メモリにはそれぞれ、0000000000及び001
1000000が記憶されている。時刻(n−7)から
(n−4)において、雑音等により復号誤りが発生する
と、best系列と2nd系列の関係が逆になる。従来
の構成では、best系列のみを最尤復号出力としてい
るため、この時点で復号誤りが生じる。これに対し、本
発明では、正しい復号結果が記憶されている2nd系列
を備えており、前記best系列または2nd系列のい
ずれかを出力すれば、正しい復号結果を得ることができ
る。このように、2nd系列を併用した復号を行うこと
で、EPR4MLにおけるMSED=4の誤り事象を除
去することができ、等価的にMSEDを6に拡大するこ
とだ可能となる。これは、EPR4MLのS/N利得が
1.8dB向上することを意味する。
例を示す。簡単のため、best系列に全0データ系列
が送信されたものとし、パスメモリ長を10ビットとす
る。この時、best系列及び2nd系列に対するパス
メモリにはそれぞれ、0000000000及び001
1000000が記憶されている。時刻(n−7)から
(n−4)において、雑音等により復号誤りが発生する
と、best系列と2nd系列の関係が逆になる。従来
の構成では、best系列のみを最尤復号出力としてい
るため、この時点で復号誤りが生じる。これに対し、本
発明では、正しい復号結果が記憶されている2nd系列
を備えており、前記best系列または2nd系列のい
ずれかを出力すれば、正しい復号結果を得ることができ
る。このように、2nd系列を併用した復号を行うこと
で、EPR4MLにおけるMSED=4の誤り事象を除
去することができ、等価的にMSEDを6に拡大するこ
とだ可能となる。これは、EPR4MLのS/N利得が
1.8dB向上することを意味する。
【0037】以上が本発明の組織的探索法によるbes
t及び2nd系列を用いたACS演算の基本概念であ
る。図12は前記処理を実現するACS回路2(62)
の構成である。図は、組織的探索法を適用している。す
なわち、各状態において、ブランチメトリックBM
(2),BM(1),BM(0),BM(−1),BM
(−2)と、bestに対する状態尤度S0,・・・,
S7及び2nd系列に対する状態尤度S0’,・・・,
S7’とを,状態遷移図(図24)に基づいて加算器1
00により加算し、ソーティング回路120により最少
尤度(best)と2番目(2nd)、3番目(3r
d)に小さな尤度、及び対応する生き残りパス情報(C
0−1,C0−2,C0−3),・・・,(C7−1,
C7−2,C7−3)を出力する。ここでは3番目のも
のについても出力しているが、それは前に述べたよう
に、best系列と2nd系列の完全な一致を回避する
ためである。すなわち、パスメモリ回路63内でbes
t系列と2nd系列に対応するパスメモリの比較結果が
同じ場合は、制御信号p0,・・・,p7に1を出力
し、セレクタによって3rd系列に対する尤度を選択
し、これを2nd尤度Si’(i=0,・・・,7)と
する。このようにして得られたbest及び2nd系列
の状態尤度Si’は、それぞれ対応する遅延素子102
に記憶され、次のACSに備える。尚、図では繁雑を避
けるため、太い矢印で示した信号線は、S0,・・・,
S7及びS0’,・・・,S7’と記した箇所(遅延素
子102出力から加算器100入力)にそれぞれ帰還接
続されているものとする。一方、前記best,2n
d,3rd系列に対する生き残りパス情報Ci−1,C
i−2,Ci−3(i=0,・・・,7)はパスメモリ
回路63に入力される。ここで、前記生き残りパス情報
Ci−1,Ci−2,Ci−3は、2ビットで表現され
る。
t及び2nd系列を用いたACS演算の基本概念であ
る。図12は前記処理を実現するACS回路2(62)
の構成である。図は、組織的探索法を適用している。す
なわち、各状態において、ブランチメトリックBM
(2),BM(1),BM(0),BM(−1),BM
(−2)と、bestに対する状態尤度S0,・・・,
S7及び2nd系列に対する状態尤度S0’,・・・,
S7’とを,状態遷移図(図24)に基づいて加算器1
00により加算し、ソーティング回路120により最少
尤度(best)と2番目(2nd)、3番目(3r
d)に小さな尤度、及び対応する生き残りパス情報(C
0−1,C0−2,C0−3),・・・,(C7−1,
C7−2,C7−3)を出力する。ここでは3番目のも
のについても出力しているが、それは前に述べたよう
に、best系列と2nd系列の完全な一致を回避する
ためである。すなわち、パスメモリ回路63内でbes
t系列と2nd系列に対応するパスメモリの比較結果が
同じ場合は、制御信号p0,・・・,p7に1を出力
し、セレクタによって3rd系列に対する尤度を選択
し、これを2nd尤度Si’(i=0,・・・,7)と
する。このようにして得られたbest及び2nd系列
の状態尤度Si’は、それぞれ対応する遅延素子102
に記憶され、次のACSに備える。尚、図では繁雑を避
けるため、太い矢印で示した信号線は、S0,・・・,
S7及びS0’,・・・,S7’と記した箇所(遅延素
子102出力から加算器100入力)にそれぞれ帰還接
続されているものとする。一方、前記best,2n
d,3rd系列に対する生き残りパス情報Ci−1,C
i−2,Ci−3(i=0,・・・,7)はパスメモリ
回路63に入力される。ここで、前記生き残りパス情報
Ci−1,Ci−2,Ci−3は、2ビットで表現され
る。
【0038】図21に、パスメモリ回路63の構成概念
図を示す。図において、セレクタ0,・・・,セレクタ
7(210)は、それぞれ状態S0,・・・,S7にお
けるパスメモリレジスタ200((reg0.1,re
g0.2,reg0.3,reg0.4),・・・,
(reg7.1,reg7.2,reg7.3,reg
7.4))から、best,2nd,3rdに対するも
のを選択する回路である。ここで、パスメモリレジスタ
200(regi.1,regi.2,regi.3,
regi.4)(i=0,・・・,7)は、それぞれ各
状態Si及びSi’に至るパスのデータ履歴(たとえば
状態S0においてはR0,R0’,R4,R4’と表
記)がパスメモリ長分記憶されている。前記生き残りパ
ス情報Ci−1,Ci−2,Ci−3により、セレクタ
回路210にてbest,2nd,3rd系列に対応す
るパスメモリレジスタが選択され、それぞれレジスタr
i−1,ri−2,ri−3(202)に出力される。
前記レジスタ202はシフトレジスタでもあり、データ
選択回路214からそれぞれ、best,2nd,3r
d系列に対するデータDi−1,Di−2,Di−3が
シリアル入力される。状態S0において、シフトアウト
されたデータD0−1’,D0−2’,D0−3’のう
ち、D0−1’はbest系列に対する復号結果であ
る。 D0−2’,D0−3’は、それぞれ2nd,3
rd復号出力としてセレクタ213に入力される。パス
メモリ長を十分長くすれば、いずれの状態においても前
記シリアル出力は同じである(トレースバック後のパス
はマージしている)。よって、ここでは状態S0におけ
るシリアル出力を用いてbest,2nd,3rd系列
の復号結果を得ている。
図を示す。図において、セレクタ0,・・・,セレクタ
7(210)は、それぞれ状態S0,・・・,S7にお
けるパスメモリレジスタ200((reg0.1,re
g0.2,reg0.3,reg0.4),・・・,
(reg7.1,reg7.2,reg7.3,reg
7.4))から、best,2nd,3rdに対するも
のを選択する回路である。ここで、パスメモリレジスタ
200(regi.1,regi.2,regi.3,
regi.4)(i=0,・・・,7)は、それぞれ各
状態Si及びSi’に至るパスのデータ履歴(たとえば
状態S0においてはR0,R0’,R4,R4’と表
記)がパスメモリ長分記憶されている。前記生き残りパ
ス情報Ci−1,Ci−2,Ci−3により、セレクタ
回路210にてbest,2nd,3rd系列に対応す
るパスメモリレジスタが選択され、それぞれレジスタr
i−1,ri−2,ri−3(202)に出力される。
前記レジスタ202はシフトレジスタでもあり、データ
選択回路214からそれぞれ、best,2nd,3r
d系列に対するデータDi−1,Di−2,Di−3が
シリアル入力される。状態S0において、シフトアウト
されたデータD0−1’,D0−2’,D0−3’のう
ち、D0−1’はbest系列に対する復号結果であ
る。 D0−2’,D0−3’は、それぞれ2nd,3
rd復号出力としてセレクタ213に入力される。パス
メモリ長を十分長くすれば、いずれの状態においても前
記シリアル出力は同じである(トレースバック後のパス
はマージしている)。よって、ここでは状態S0におけ
るシリアル出力を用いてbest,2nd,3rd系列
の復号結果を得ている。
【0039】前記レジスタri−1とri−2(20
2)は比較回路211でその内容が一致しているかをチ
ェックし、一致している場合は制御信号pi=1、そう
でない場合はpi=0として、ACS回路2(62)内
セレクタ121に送信する。pi=1の場合は、セレク
タ213に入力されたri−2出力及びD0−2’,r
i−3出力及びD0−3’のうち、ri−3出力及びD
0−3’を選択し、pi=0の場合はri−2出力及び
D0−2’を選択する。前記D0−2’またはD0−
3’の選択結果が、2nd系列に対する最終的な復号結
果となる。
2)は比較回路211でその内容が一致しているかをチ
ェックし、一致している場合は制御信号pi=1、そう
でない場合はpi=0として、ACS回路2(62)内
セレクタ121に送信する。pi=1の場合は、セレク
タ213に入力されたri−2出力及びD0−2’,r
i−3出力及びD0−3’のうち、ri−3出力及びD
0−3’を選択し、pi=0の場合はri−2出力及び
D0−2’を選択する。前記D0−2’またはD0−
3’の選択結果が、2nd系列に対する最終的な復号結
果となる。
【0040】このようにして、best系列及び2nd
系列に対するパスメモリレジスタが選択され、それぞれ
Ri,Ri’としてレジスタri−best及びri−
2nd(212)に格納される。これらは、それぞれ対
応する表記の信号線に帰還接続されており、更新された
パスメモリとして、各々対応する前記パスメモリレジス
タ200に格納される。
系列に対するパスメモリレジスタが選択され、それぞれ
Ri,Ri’としてレジスタri−best及びri−
2nd(212)に格納される。これらは、それぞれ対
応する表記の信号線に帰還接続されており、更新された
パスメモリとして、各々対応する前記パスメモリレジス
タ200に格納される。
【0041】尚、ここでは動作概念の理解を容易にする
ために、図においてパスメモリレジスタ200を示して
あるが、実際の回路構成では前記パスメモリレジスタ2
00を用いずに、レジスタri−best及びri−2
nd(212)のみを用いて直接セレクタi(210)
に接続することで上記動作を実現できる。
ために、図においてパスメモリレジスタ200を示して
あるが、実際の回路構成では前記パスメモリレジスタ2
00を用いずに、レジスタri−best及びri−2
nd(212)のみを用いて直接セレクタi(210)
に接続することで上記動作を実現できる。
【0042】以上の処理により、図6におけるビタビ検
出器では、パスメモリ回路63よりbest及び2nd
系列に対するデータを復号し、その結果を消失誤り検出
回路2(64)に出力する。図9に消失誤り検出回路2
(64)の構成を示す。best及び2nd系列はS/
P(Serial to Parallel)変換器91
により、1バイトのパラレルデータに変換された後、排
他的論理和回路92に入力される。ここでは、前記パラ
レルデータにおける各ビット毎の排他的論理和が取られ
る。処理結果は比較回路93により全0のバイトデータ
と比較され、異なっている場合には消失誤りが発生した
ものとして、消失誤りビット検出フラグflg−ebi
t=1、そうでない場合はflg−ebit=0とし
て、記録復号器25(図1)に出力する。
出器では、パスメモリ回路63よりbest及び2nd
系列に対するデータを復号し、その結果を消失誤り検出
回路2(64)に出力する。図9に消失誤り検出回路2
(64)の構成を示す。best及び2nd系列はS/
P(Serial to Parallel)変換器91
により、1バイトのパラレルデータに変換された後、排
他的論理和回路92に入力される。ここでは、前記パラ
レルデータにおける各ビット毎の排他的論理和が取られ
る。処理結果は比較回路93により全0のバイトデータ
と比較され、異なっている場合には消失誤りが発生した
ものとして、消失誤りビット検出フラグflg−ebi
t=1、そうでない場合はflg−ebit=0とし
て、記録復号器25(図1)に出力する。
【0043】記録復号器25では、前記ビタビ復号結果
と消失誤りビット検出フラグとを入力し、記録復号処理
を行う。ここではバイト単位での処理がなされる。よっ
て、消失誤りビット検出フラグが1の時は、復号後のバ
イトに誤りのあることがわかり、復号結果とともに消失
誤りバイト検出フラグflg−ebyte=1として、
誤り訂正復号器に出力する。消失誤りビット検出フラグ
が0の時は、復号後のバイトに消失誤りはないものと判
断し、復号結果とともに消失誤りバイト検出フラグfl
g−ebyte=0として、誤り訂正復号器26に出力
する。
と消失誤りビット検出フラグとを入力し、記録復号処理
を行う。ここではバイト単位での処理がなされる。よっ
て、消失誤りビット検出フラグが1の時は、復号後のバ
イトに誤りのあることがわかり、復号結果とともに消失
誤りバイト検出フラグflg−ebyte=1として、
誤り訂正復号器に出力する。消失誤りビット検出フラグ
が0の時は、復号後のバイトに消失誤りはないものと判
断し、復号結果とともに消失誤りバイト検出フラグfl
g−ebyte=0として、誤り訂正復号器26に出力
する。
【0044】誤り訂正復号器26は、前記記録復号結果
と消失誤りバイト検出フラグを入力し、消失誤り訂正を
行う。第1実施例で述べたように、消失誤りを的確に検
出できれば、その訂正能力はランダム誤り訂正の約2倍
に向上する。
と消失誤りバイト検出フラグを入力し、消失誤り訂正を
行う。第1実施例で述べたように、消失誤りを的確に検
出できれば、その訂正能力はランダム誤り訂正の約2倍
に向上する。
【0045】よって、本実施例により、最尤系列推定時
における復号誤りを検出し、これから導かれる消失誤り
バイトを訂正することで、再生処理としての復号誤り特
性を向上させることが可能となる。
における復号誤りを検出し、これから導かれる消失誤り
バイトを訂正することで、再生処理としての復号誤り特
性を向上させることが可能となる。
【0046】次に、図6を用いて、本発明の第1の方法
による第3実施例について述べる。本実施例の基本的な
考え方は第2実施例と同じであり、best系列と2n
d系列を併用する方式である。ただし、2nd系列を求
める手法が第2実施例とは異なるため(しきい値判定
法、図23(b))、ACS回路62及びパスメモリ回
路63の構成も異なる。これ以外の構成は第2実施例と
同じである。よってここでは、ビタビ検出器におけるし
きい値判定法による2nd系列推定方式について述べる
こととする。
による第3実施例について述べる。本実施例の基本的な
考え方は第2実施例と同じであり、best系列と2n
d系列を併用する方式である。ただし、2nd系列を求
める手法が第2実施例とは異なるため(しきい値判定
法、図23(b))、ACS回路62及びパスメモリ回
路63の構成も異なる。これ以外の構成は第2実施例と
同じである。よってここでは、ビタビ検出器におけるし
きい値判定法による2nd系列推定方式について述べる
こととする。
【0047】本実施例では2nd系列を求める手法とし
て、しきい値判定法を採用し、図23(b)及び図13
を用いてその原理及び構成を述べる。図23(b)に、
しきい値判定法による2nd系列推定方式の原理を示
す。本方式では、ACS演算において、比較すべき尤度
があるしきい値よりも小さい場合はbest系列をAC
Sにより選択された方のパスメモリ、2nd系列を前記
ACSで選択されなかった方のパスメモリとして出力
し、比較すべき尤度があるしきい値よりも小さくない場
合はbest,2nd系列ともACSにより選択された
方のパスメモリを出力する。すなわち、ACSにおける
尤度差が小さい場合は復号誤りが発生する確率が高いと
判断し、選択されたパスを第1候補としてのbest系
列、選択されなかった方のパスを第2候補としての2n
d系列と判定する。前記尤度差が十分大きい場合はbe
st,2nd系列を区別せず、ともに最尤推定された系
列を記憶する。例えば、状態S0におけるACSでは、
比較すべき尤度は{α=S0+BM(0),β=S4+
BM(−1)}である。α,βのうちのいずれかが正し
いとすると、尤度差dM=α−βは、雑音がない場合は
その絶対値は理論的に4である。ところが実際には、d
Mは雑音によりバラつき、αとβの明確な区別ができな
くなることが起こる。そこで、尤度差dMの大きさによ
って、ACSによる選択結果の信頼性が高いか否かを判
定し、これに基づいて2nd系列を定める。しきい値を
DMとすると、図213(b)に示すように、尤度差d
Mとしきい値DMとの大小関係がA,B,C,Dの領域
によって、best,2nd系列が定まる。他の状態S
1,・・・,S7についても同様である。
て、しきい値判定法を採用し、図23(b)及び図13
を用いてその原理及び構成を述べる。図23(b)に、
しきい値判定法による2nd系列推定方式の原理を示
す。本方式では、ACS演算において、比較すべき尤度
があるしきい値よりも小さい場合はbest系列をAC
Sにより選択された方のパスメモリ、2nd系列を前記
ACSで選択されなかった方のパスメモリとして出力
し、比較すべき尤度があるしきい値よりも小さくない場
合はbest,2nd系列ともACSにより選択された
方のパスメモリを出力する。すなわち、ACSにおける
尤度差が小さい場合は復号誤りが発生する確率が高いと
判断し、選択されたパスを第1候補としてのbest系
列、選択されなかった方のパスを第2候補としての2n
d系列と判定する。前記尤度差が十分大きい場合はbe
st,2nd系列を区別せず、ともに最尤推定された系
列を記憶する。例えば、状態S0におけるACSでは、
比較すべき尤度は{α=S0+BM(0),β=S4+
BM(−1)}である。α,βのうちのいずれかが正し
いとすると、尤度差dM=α−βは、雑音がない場合は
その絶対値は理論的に4である。ところが実際には、d
Mは雑音によりバラつき、αとβの明確な区別ができな
くなることが起こる。そこで、尤度差dMの大きさによ
って、ACSによる選択結果の信頼性が高いか否かを判
定し、これに基づいて2nd系列を定める。しきい値を
DMとすると、図213(b)に示すように、尤度差d
Mとしきい値DMとの大小関係がA,B,C,Dの領域
によって、best,2nd系列が定まる。他の状態S
1,・・・,S7についても同様である。
【0048】図13は上記処理を実現するACS回路3
(62)の構成である。図は、しきい値判定法を適用す
ることによりbest,2nd系列を求めている。図に
おいて、加算、比較までの処理は従来発明及び第1実施
例と同じである。すなわち、各状態毎にブランチメトリ
ックと、状態尤度が、EPR4状態遷移図(図24参
照)に従って加算器100により加算され、比較回路1
11で値の小さい方の尤度を出力し、対応する遅延素子
102にそれぞれ記憶される。尚、図では繁雑を避ける
ため、太い矢印で示した信号線は、S0,・・・,S7
と記した箇所(遅延素子102出力から加算器100入
力)にそれぞれ帰還接続されているものとする。本実施
例では、比較器111出力として、生き残りパスの代わ
りに尤度差DM0,・・・,DM7を出力する。前記尤
度差DMi(i=0,・・・,7)は、パス判定回路7
に入力される。ここでは先に述べた原理に基づき、DM
iの値によってbest系列及び2nd系列を示す生き
残りパス情報(C0−1,C0−2),・・・,(C7
−1,C7−2)をパスメモリ回路に出力する。ここ
で、前記(Ci−1,Ci−2)(i=0,・・・,
7)は0または1の1ビットで表現される。前記パス判
定回路7の構成を図7に示す。図において、尤度差DM
iが入力されると、絶対値変換回路71でその絶対値が
取られる。同時に、前記DMiの符号ビットがパス選択
回路73に入力される。一方、前記絶対値は、比較回路
72にてしきい値DMと大小関係が比較される。実際の
処理は、前記絶対値から前記しきい値DMを差し引き、
その符号ビットをパス選択回路73に出力する。パス選
択回路73は、前記DMiの符号ビット及び比較回路7
2の出力の2ビットから、best系列及び2nd系列
に対する生き残りパス情報Ci−1,Ci−2(i=
0,・・・,7)をパスメモリ回路63に出力する。図
7に示す構成の処理により、尤度差DMiの所属する判
定領域A,B,C,D(図23(b)参照)を特定し、
これに対する生き残りパス情報Ci−1,Ci−2を決
定できる。
(62)の構成である。図は、しきい値判定法を適用す
ることによりbest,2nd系列を求めている。図に
おいて、加算、比較までの処理は従来発明及び第1実施
例と同じである。すなわち、各状態毎にブランチメトリ
ックと、状態尤度が、EPR4状態遷移図(図24参
照)に従って加算器100により加算され、比較回路1
11で値の小さい方の尤度を出力し、対応する遅延素子
102にそれぞれ記憶される。尚、図では繁雑を避ける
ため、太い矢印で示した信号線は、S0,・・・,S7
と記した箇所(遅延素子102出力から加算器100入
力)にそれぞれ帰還接続されているものとする。本実施
例では、比較器111出力として、生き残りパスの代わ
りに尤度差DM0,・・・,DM7を出力する。前記尤
度差DMi(i=0,・・・,7)は、パス判定回路7
に入力される。ここでは先に述べた原理に基づき、DM
iの値によってbest系列及び2nd系列を示す生き
残りパス情報(C0−1,C0−2),・・・,(C7
−1,C7−2)をパスメモリ回路に出力する。ここ
で、前記(Ci−1,Ci−2)(i=0,・・・,
7)は0または1の1ビットで表現される。前記パス判
定回路7の構成を図7に示す。図において、尤度差DM
iが入力されると、絶対値変換回路71でその絶対値が
取られる。同時に、前記DMiの符号ビットがパス選択
回路73に入力される。一方、前記絶対値は、比較回路
72にてしきい値DMと大小関係が比較される。実際の
処理は、前記絶対値から前記しきい値DMを差し引き、
その符号ビットをパス選択回路73に出力する。パス選
択回路73は、前記DMiの符号ビット及び比較回路7
2の出力の2ビットから、best系列及び2nd系列
に対する生き残りパス情報Ci−1,Ci−2(i=
0,・・・,7)をパスメモリ回路63に出力する。図
7に示す構成の処理により、尤度差DMiの所属する判
定領域A,B,C,D(図23(b)参照)を特定し、
これに対する生き残りパス情報Ci−1,Ci−2を決
定できる。
【0049】一方、パスメモリ回路63では前記生き残
りパス情報からトレースバック処理によりbest,2
nd系列に対するビタビ復号結果を出力する。図22に
パスメモリ回路63の構成概念図を示す。図において、
セレクタ(0.1,0.2),・・・セレクタ(7.
1,7.2)(221)はそれぞれ、状態S0,・・
・,S7においてbest系列及び2nd系列に対する
パスメモリレジスタ200((reg0.1.1,re
g0.1.2),・・・,(reg7.1.1,reg
7.1.2)及び(reg0.2.1,reg0.2.
2),・・・,(reg7.2.1,reg7.2.
2))から、生き残りパス情報(Ci−1,Ci−2)
(i=0,・・・,7)に対応したレジスタを選択する
回路である。パスメモリレジスタ200にはそれぞれ、
各状態に至るパスのbestデータ履歴R0,・・・,
R7及び2ndデータ履歴R0’,・・・,R7’がパ
スメモリ長分記憶されている。これらはそれぞれ、表記
されている信号線に帰還接続されている。生き残りパス
情報(Ci−1,Ci−2)が入力されると、これらに
よって、セレクタ221は対応するパスメモリレジスタ
200を選択し、レジスタ(ri.1,ri.2)(2
02)にそれぞれ出力される。一方、データ選択回路2
22では、前記生き残りパス情報(Ci−1,Ci−
2)により、対応するデータを出力する。前記レジスタ
(ri.1,ri.2)(202)はシフトレジスタで
もあり、選択されたbestパス及び2ndパスに対す
るデータ(前記データ選択回路222の出力)がシリア
ル入力される。シフトアウトされたデータが復号出力で
ある。パスメモリ長を十分長くすれば、前記シリアル出
力はいずれの状態においても同じである(トレースバッ
ク後のパスはマージしている)。よって、ここでは状態
S0におけるシリアル出力を用いてそれぞれ、best
系列、2nd系列に対するビタビ復号結果を得ている。
りパス情報からトレースバック処理によりbest,2
nd系列に対するビタビ復号結果を出力する。図22に
パスメモリ回路63の構成概念図を示す。図において、
セレクタ(0.1,0.2),・・・セレクタ(7.
1,7.2)(221)はそれぞれ、状態S0,・・
・,S7においてbest系列及び2nd系列に対する
パスメモリレジスタ200((reg0.1.1,re
g0.1.2),・・・,(reg7.1.1,reg
7.1.2)及び(reg0.2.1,reg0.2.
2),・・・,(reg7.2.1,reg7.2.
2))から、生き残りパス情報(Ci−1,Ci−2)
(i=0,・・・,7)に対応したレジスタを選択する
回路である。パスメモリレジスタ200にはそれぞれ、
各状態に至るパスのbestデータ履歴R0,・・・,
R7及び2ndデータ履歴R0’,・・・,R7’がパ
スメモリ長分記憶されている。これらはそれぞれ、表記
されている信号線に帰還接続されている。生き残りパス
情報(Ci−1,Ci−2)が入力されると、これらに
よって、セレクタ221は対応するパスメモリレジスタ
200を選択し、レジスタ(ri.1,ri.2)(2
02)にそれぞれ出力される。一方、データ選択回路2
22では、前記生き残りパス情報(Ci−1,Ci−
2)により、対応するデータを出力する。前記レジスタ
(ri.1,ri.2)(202)はシフトレジスタで
もあり、選択されたbestパス及び2ndパスに対す
るデータ(前記データ選択回路222の出力)がシリア
ル入力される。シフトアウトされたデータが復号出力で
ある。パスメモリ長を十分長くすれば、前記シリアル出
力はいずれの状態においても同じである(トレースバッ
ク後のパスはマージしている)。よって、ここでは状態
S0におけるシリアル出力を用いてそれぞれ、best
系列、2nd系列に対するビタビ復号結果を得ている。
【0050】尚、ここでは動作概念の理解を容易にする
ために、図においてパスメモリレジスタ200を示して
あるが、実際の回路構成では前記パスメモリレジスタ2
00を用いずに、レジスタri.1及びri.2(20
2)のみを用いて直接セレクタ221に接続することで
上記動作を実現できる。
ために、図においてパスメモリレジスタ200を示して
あるが、実際の回路構成では前記パスメモリレジスタ2
00を用いずに、レジスタri.1及びri.2(20
2)のみを用いて直接セレクタ221に接続することで
上記動作を実現できる。
【0051】以上の処理により、図6におけるビタビ検
出器では、パスメモリ回路63よりbest及び2nd
系列に対する復号データを消失誤り検出回路2(64)
に出力する。これ以後の処理は、第2実施例と同じであ
る(図9)。すなわち消失誤り検出回路2では、パラレ
ル変換された前記best及び2nd系列データの各ビ
ット毎の排他的論理和を取ることで消失誤りビットの検
出を行い、消失誤りビット検出フラグflg−ebit
を記録復号器25に出力する。
出器では、パスメモリ回路63よりbest及び2nd
系列に対する復号データを消失誤り検出回路2(64)
に出力する。これ以後の処理は、第2実施例と同じであ
る(図9)。すなわち消失誤り検出回路2では、パラレ
ル変換された前記best及び2nd系列データの各ビ
ット毎の排他的論理和を取ることで消失誤りビットの検
出を行い、消失誤りビット検出フラグflg−ebit
を記録復号器25に出力する。
【0052】記録復号器25では、前記ビタビ復号結果
と消失誤りビット検出フラグとを入力し、記録復号処理
を行う。ここではバイト単位での処理がなされる。よっ
て、消失誤りビット検出フラグが1の時は、復号後のバ
イトに誤りのあることがわかり、復号結果とともに消失
誤りバイト検出フラグflg−ebyte=1として、
誤り訂正復号器に出力する。消失誤りビット検出フラグ
が0の時は、復号後のバイトに消失誤りはないものと判
断し、復号結果とともに消失誤りバイト検出フラグfl
g−ebyte=0として、誤り訂正復号器26に出力
する。
と消失誤りビット検出フラグとを入力し、記録復号処理
を行う。ここではバイト単位での処理がなされる。よっ
て、消失誤りビット検出フラグが1の時は、復号後のバ
イトに誤りのあることがわかり、復号結果とともに消失
誤りバイト検出フラグflg−ebyte=1として、
誤り訂正復号器に出力する。消失誤りビット検出フラグ
が0の時は、復号後のバイトに消失誤りはないものと判
断し、復号結果とともに消失誤りバイト検出フラグfl
g−ebyte=0として、誤り訂正復号器26に出力
する。
【0053】誤り訂正復号器26は、前記記録復号結果
と消失誤りバイト検出フラグを入力し、消失誤り訂正を
行う。第1、第2実施例で述べたように、消失誤りを的
確に検出できれば、その訂正能力はランダム誤り訂正の
約2倍に向上する。
と消失誤りバイト検出フラグを入力し、消失誤り訂正を
行う。第1、第2実施例で述べたように、消失誤りを的
確に検出できれば、その訂正能力はランダム誤り訂正の
約2倍に向上する。
【0054】よって、本実施例により、最尤系列推定時
における復号誤りを検出し、これから導かれる消失誤り
バイトを訂正することで、再生処理としての復号誤り特
性を向上させることが可能となる。
における復号誤りを検出し、これから導かれる消失誤り
バイトを訂正することで、再生処理としての復号誤り特
性を向上させることが可能となる。
【0055】次に、図3を用いて本発明の第2の方法に
よる実施例について説明する。図において、(a)は装
置の全体構成図、(b)はデータの構成である。図3
(a)に示すように、第2の方法においては、従来発明
(図2)における記録符号器11及び記録復号器22の
代わりに、誤り訂正符号器1(11)及び誤り訂正復号
器1(28)を設ける。すなわち、記録符号に誤り訂正
能力を付加することで、ビタビ検出器の復号能力の向上
を図るのが、本発明の第2の方法の趣旨である。
よる実施例について説明する。図において、(a)は装
置の全体構成図、(b)はデータの構成である。図3
(a)に示すように、第2の方法においては、従来発明
(図2)における記録符号器11及び記録復号器22の
代わりに、誤り訂正符号器1(11)及び誤り訂正復号
器1(28)を設ける。すなわち、記録符号に誤り訂正
能力を付加することで、ビタビ検出器の復号能力の向上
を図るのが、本発明の第2の方法の趣旨である。
【0056】図において、記録側においては、ディジタ
ル情報Aは、従来発明と同様誤り訂正符号器10により
リード、ソロモン符号等を用いて誤り訂正符号化が施さ
れる。前記の誤り訂正符号化された系列は、誤り訂正符
号器1(11)で第2の符号化がなされる。ここで、前
記第2の誤り訂正符号は、ハミング符号やパリティチェ
ック符号等が適用できる。前記誤り訂正符号器1は、図
3(b)に示すデータブロック内における各記録ブロッ
ク毎に誤り訂正符号ブロック1を形成する。図におい
て、データブロックは同期信号、記録ブロック、誤り訂
正符号ブロックで構成される。同期信号は、データブロ
ックの先頭を検出するためのオーバヘッドである。オー
バヘッド部は装置への入力時に除去されるため、前記同
期信号が磁気情報として記録されることはない。記録ブ
ロックは情報Aが複数個の小ブロックに分割、格納され
るところであり、誤り訂正ブロックとともに磁気情報と
して記録される。誤り訂正符号ブロックは、情報Aに対
し、前記誤り訂正符号器10により形成される。本発明
では、情報A及び誤り訂正符号ブロックに対し、前記記
録ブロック毎に、前記第2の誤り訂正符号化を行ってい
る。ここで、図3(b)中の誤り訂正符号ブロック長
を、記録ブロック長の倍数に等しくなるよう構成する。
その上で、誤り訂正符号ブロックについてもこれを記録
ブロック単位に分割し、前記第2の誤り訂正符号化を行
う。このためデータブロックは従来と異なり、各記録ブ
ロック単位で誤り訂正符号ブロック1が挿入された構成
となる。前記により符号化された系列は、従来発明と同
様に、プリコーダ12、増幅器13、記録ヘッド14を
通して磁気ディスク等の記録媒体15に磁気的に記録さ
れる。
ル情報Aは、従来発明と同様誤り訂正符号器10により
リード、ソロモン符号等を用いて誤り訂正符号化が施さ
れる。前記の誤り訂正符号化された系列は、誤り訂正符
号器1(11)で第2の符号化がなされる。ここで、前
記第2の誤り訂正符号は、ハミング符号やパリティチェ
ック符号等が適用できる。前記誤り訂正符号器1は、図
3(b)に示すデータブロック内における各記録ブロッ
ク毎に誤り訂正符号ブロック1を形成する。図におい
て、データブロックは同期信号、記録ブロック、誤り訂
正符号ブロックで構成される。同期信号は、データブロ
ックの先頭を検出するためのオーバヘッドである。オー
バヘッド部は装置への入力時に除去されるため、前記同
期信号が磁気情報として記録されることはない。記録ブ
ロックは情報Aが複数個の小ブロックに分割、格納され
るところであり、誤り訂正ブロックとともに磁気情報と
して記録される。誤り訂正符号ブロックは、情報Aに対
し、前記誤り訂正符号器10により形成される。本発明
では、情報A及び誤り訂正符号ブロックに対し、前記記
録ブロック毎に、前記第2の誤り訂正符号化を行ってい
る。ここで、図3(b)中の誤り訂正符号ブロック長
を、記録ブロック長の倍数に等しくなるよう構成する。
その上で、誤り訂正符号ブロックについてもこれを記録
ブロック単位に分割し、前記第2の誤り訂正符号化を行
う。このためデータブロックは従来と異なり、各記録ブ
ロック単位で誤り訂正符号ブロック1が挿入された構成
となる。前記により符号化された系列は、従来発明と同
様に、プリコーダ12、増幅器13、記録ヘッド14を
通して磁気ディスク等の記録媒体15に磁気的に記録さ
れる。
【0057】再生側においても、磁気記録媒体15に記
録された情報が再生ヘッド16、増幅器17により電気
的なアナログ信号として再生され、可変利得増幅器1
8、A/D変換器19を通して、適切なタイミングでサ
ンプルされたディジタル信号としてPR等化回路(ここ
ではEPR4等化)20に入力される。前記EPR4等
化された系列は、ビタビ検出器27で最尤復号がなされ
る。ビタビ検出器27は前記最尤系列推定により得られ
た復号結果(実施例によっては2nd系列とともに出力
する場合あり)を誤り訂正復号器1(28)に出力す
る。誤り訂正復号器1(28)では、前記ビタビ復号結
果と消失誤りビット検出フラグを用い、記録ブロック毎
に第2の誤り訂正復号化をおこなう。これにより、ビタ
ビ復号で訂正不能な誤りを修復する。前記の修復された
系列は、更に誤り訂正復号器26でリード・ソロモン復
号等によりランダムバイト誤り訂正がなされた後、復元
情報A’が再生される。
録された情報が再生ヘッド16、増幅器17により電気
的なアナログ信号として再生され、可変利得増幅器1
8、A/D変換器19を通して、適切なタイミングでサ
ンプルされたディジタル信号としてPR等化回路(ここ
ではEPR4等化)20に入力される。前記EPR4等
化された系列は、ビタビ検出器27で最尤復号がなされ
る。ビタビ検出器27は前記最尤系列推定により得られ
た復号結果(実施例によっては2nd系列とともに出力
する場合あり)を誤り訂正復号器1(28)に出力す
る。誤り訂正復号器1(28)では、前記ビタビ復号結
果と消失誤りビット検出フラグを用い、記録ブロック毎
に第2の誤り訂正復号化をおこなう。これにより、ビタ
ビ復号で訂正不能な誤りを修復する。前記の修復された
系列は、更に誤り訂正復号器26でリード・ソロモン復
号等によりランダムバイト誤り訂正がなされた後、復元
情報A’が再生される。
【0058】図14は本発明の第2の方法による第1実
施例を示すビタビ検出器27及び誤り訂正復号器1(2
8)の構成である。図において、ビタビ検出器27はブ
ランチメトリック計算回路41、ACS回路1(5
2)、パスメモリ回路53で構成されるが、これらは、
本発明の第1の方法における第1実施例で述べた構成
(図5,11,20参照)と全く同じであるので、その
説明は省く。前記により得られたビタビ復号結果(1,
0,X)は、誤り訂正復号器1(28)に入力される。
ここで、誤り訂正復号器1(28)においては図17に
示す構成の消失誤り訂正回路を用いる。本実施例では、
ビタビ復号出力は1,0,及び消失X(=0.5)の3
値であり、図17における消失誤り訂正回路はこれらを
用いて、消失誤り訂正処理を行う。すなわち、前記ビタ
ビ復号結果はS/P変換器170でシリアルデータから
パラレルデータ(データ長は記録ブロックと誤り訂正符
号ブロック1との和(図3(b))に等しい)に変換さ
れ、消失誤り訂正復号部171で消失誤りが訂正され
る。訂正された結果は復号出力となる。一方、消失誤り
訂正復号部171で訂正不能な場合は、消失誤りバイト
検出フラグflg−ebyte=1として、前記復号結
果とともに誤り訂正復号器26に出力する。誤り訂正復
号器26は、前記復号結果と消失誤りバイト検出フラグ
を入力し、消失誤り訂正を行う。第1の方法による実施
例で述べたように、消失誤りを的確に検出できれば、そ
の訂正能力はランダム誤り訂正の約2倍に向上する。
施例を示すビタビ検出器27及び誤り訂正復号器1(2
8)の構成である。図において、ビタビ検出器27はブ
ランチメトリック計算回路41、ACS回路1(5
2)、パスメモリ回路53で構成されるが、これらは、
本発明の第1の方法における第1実施例で述べた構成
(図5,11,20参照)と全く同じであるので、その
説明は省く。前記により得られたビタビ復号結果(1,
0,X)は、誤り訂正復号器1(28)に入力される。
ここで、誤り訂正復号器1(28)においては図17に
示す構成の消失誤り訂正回路を用いる。本実施例では、
ビタビ復号出力は1,0,及び消失X(=0.5)の3
値であり、図17における消失誤り訂正回路はこれらを
用いて、消失誤り訂正処理を行う。すなわち、前記ビタ
ビ復号結果はS/P変換器170でシリアルデータから
パラレルデータ(データ長は記録ブロックと誤り訂正符
号ブロック1との和(図3(b))に等しい)に変換さ
れ、消失誤り訂正復号部171で消失誤りが訂正され
る。訂正された結果は復号出力となる。一方、消失誤り
訂正復号部171で訂正不能な場合は、消失誤りバイト
検出フラグflg−ebyte=1として、前記復号結
果とともに誤り訂正復号器26に出力する。誤り訂正復
号器26は、前記復号結果と消失誤りバイト検出フラグ
を入力し、消失誤り訂正を行う。第1の方法による実施
例で述べたように、消失誤りを的確に検出できれば、そ
の訂正能力はランダム誤り訂正の約2倍に向上する。
【0059】よって、本実施例により、最尤系列推定時
における復号誤りを検出し、これから導かれる消失誤り
バイトを訂正することで、再生処理としての復号誤り特
性を向上させることが可能となる。
における復号誤りを検出し、これから導かれる消失誤り
バイトを訂正することで、再生処理としての復号誤り特
性を向上させることが可能となる。
【0060】図15は本発明の第2の方法による第2実
施例を示すビタビ検出器27及び誤り訂正復号器1(2
8)の構成である。図において、ビタビ検出器27はブ
ランチメトリック計算回路41、ACS回路2または3
(62)、パスメモリ回路(63)で構成されるが、こ
れらは、本発明の第1の方法における第2及び第3実施
例で述べた構成(図6,12,21,13,22参照)
と全く同じであるので、その説明は省く。本実施例で
は、ビタビ検出器より、第1の方法における第2及び第
3実施例で述べた手法(組織的探索法またはしきい値判
定法)によってbest系列と2nd系列とを誤り訂正
復号器1(28)に出力する。ここで、誤り訂正復号器
1(28)においては図18に示す構成の復号誤り検出
回路を用いる。図において、best,2nd系列はそ
れぞれ、S/P変換器170でパラレルデータ(データ
長は記録ブロックと誤り訂正符号ブロック1との和(図
3(b))に等しい)に変換され、誤り検出回路180
ではブロック単位での処理がなされる。前記誤り検出回
路180では、best及び2nd系列のそれぞれに対
し、同時かつ独立ににパリティチェック等の誤り検出が
なされる。前記誤り検出回路180は、best及び2
nd系列のそれぞれに対するシンドロームS1,S2を
それぞれ算出し、前記best及び2nd系列とともに
セレクタ181に出力する。セレクタ181は、前記S
1,S2が0の方の系列を正しい復号結果と判断し、こ
れを選択出力する。同時に、消失誤りバイト検出フラグ
flg−ebyteを0として出力する。 S1,S2
がともに0の場合はbest,2ndのいずれを出力し
てもよい。この時消失誤りバイト検出フラグflg−e
byteは0である。 S1,S2がともに1の場合
は、両系列ともに誤りが発生していることになるので、
消失誤りバイト検出フラグflg−ebyteは1にな
る。セレクタ181により選択された系列は、 復号結
果としてflg−ebyteとともににおける誤り訂正
復号器26に送られる。誤り訂正復号器26は、前記復
号結果と消失誤りバイト検出フラグを入力し、消失誤り
訂正を行う。上記実施例で述べたように、消失誤りを的
確に検出できれば、その訂正能力はランダム誤り訂正の
約2倍に向上する。
施例を示すビタビ検出器27及び誤り訂正復号器1(2
8)の構成である。図において、ビタビ検出器27はブ
ランチメトリック計算回路41、ACS回路2または3
(62)、パスメモリ回路(63)で構成されるが、こ
れらは、本発明の第1の方法における第2及び第3実施
例で述べた構成(図6,12,21,13,22参照)
と全く同じであるので、その説明は省く。本実施例で
は、ビタビ検出器より、第1の方法における第2及び第
3実施例で述べた手法(組織的探索法またはしきい値判
定法)によってbest系列と2nd系列とを誤り訂正
復号器1(28)に出力する。ここで、誤り訂正復号器
1(28)においては図18に示す構成の復号誤り検出
回路を用いる。図において、best,2nd系列はそ
れぞれ、S/P変換器170でパラレルデータ(データ
長は記録ブロックと誤り訂正符号ブロック1との和(図
3(b))に等しい)に変換され、誤り検出回路180
ではブロック単位での処理がなされる。前記誤り検出回
路180では、best及び2nd系列のそれぞれに対
し、同時かつ独立ににパリティチェック等の誤り検出が
なされる。前記誤り検出回路180は、best及び2
nd系列のそれぞれに対するシンドロームS1,S2を
それぞれ算出し、前記best及び2nd系列とともに
セレクタ181に出力する。セレクタ181は、前記S
1,S2が0の方の系列を正しい復号結果と判断し、こ
れを選択出力する。同時に、消失誤りバイト検出フラグ
flg−ebyteを0として出力する。 S1,S2
がともに0の場合はbest,2ndのいずれを出力し
てもよい。この時消失誤りバイト検出フラグflg−e
byteは0である。 S1,S2がともに1の場合
は、両系列ともに誤りが発生していることになるので、
消失誤りバイト検出フラグflg−ebyteは1にな
る。セレクタ181により選択された系列は、 復号結
果としてflg−ebyteとともににおける誤り訂正
復号器26に送られる。誤り訂正復号器26は、前記復
号結果と消失誤りバイト検出フラグを入力し、消失誤り
訂正を行う。上記実施例で述べたように、消失誤りを的
確に検出できれば、その訂正能力はランダム誤り訂正の
約2倍に向上する。
【0061】よって、本実施例により、最尤系列推定時
における復号誤りを検出し、これから導かれる消失誤り
バイトを訂正することで、再生処理としての復号誤り特
性を向上させることが可能となる。
における復号誤りを検出し、これから導かれる消失誤り
バイトを訂正することで、再生処理としての復号誤り特
性を向上させることが可能となる。
【0062】図16は本発明の第2の方法による第3実
施例を示すビタビ検出器27及び誤り訂正復号器1(2
8)の構成である。図において、ビタビ検出器27はブ
ランチメトリック計算回路41、ACS回路2または3
(62)、パスメモリ回路63で構成されるが、これら
は、本発明の第1の方法における第2及び第3実施例で
述べた構成(図6,12,21,13,22参照)と全
く同じであるので、その説明は省く。本実施例では、ビ
タビ検出器27より、第1の方法における第2及び第3
実施例で述べた手法(組織的探索法またはしきい値判定
法)によってbest系列と2nd系列とを誤り訂正復
号器1(28)に出力する。ここで、誤り訂正復号器1
(28)においては図19に示す構成の消失誤り訂正回
路を用いる。図において、best,2nd系列はそれ
ぞれ、S/P変換器170でパラレルデータ(データ長
は記録ブロックと誤り訂正符号ブロック1との和(図3
(b))に等しい)に変換され、ブロック単位での処理
がなされる。前記のパラレルデータに変換されたbes
t,2nd系列は、排他的論理和回路190でビット毎
に排他的論理和が取られる。その結果は、消失誤り検出
信号として、消失誤り訂正復号回路191に出力され
る。前記消失誤り検出信号の全ビットが0の場合は、消
失誤りは発生していないものと判断できる。前記消失誤
り検出信号のいずれかのビットが1の場合は、そのビッ
ト位置で消失誤りが発生したと考えられる。消失誤り訂
正復号回路191は、前記のパラレルデータに変換され
たbest系列と前記消失誤り検出信号を入力し、消失
誤り訂正復号処理を行う。その結果、誤りが訂正された
場合は消失誤りバイト検出フラグflg−ebyte=
0、訂正不能な場合はflg−ebyte=1を出力す
る。前記処理により消失誤り訂正復号された系列は復号
結果として、flg−ebyteとともに誤り訂正復号
器26に送られる。誤り訂正復号器26は、前記復号結
果と消失誤りバイト検出フラグを入力し、消失誤り訂正
を行う。上記実施例で述べたように、消失誤りを的確に
検出できれば、その訂正能力はランダム誤り訂正の約2
倍に向上する。
施例を示すビタビ検出器27及び誤り訂正復号器1(2
8)の構成である。図において、ビタビ検出器27はブ
ランチメトリック計算回路41、ACS回路2または3
(62)、パスメモリ回路63で構成されるが、これら
は、本発明の第1の方法における第2及び第3実施例で
述べた構成(図6,12,21,13,22参照)と全
く同じであるので、その説明は省く。本実施例では、ビ
タビ検出器27より、第1の方法における第2及び第3
実施例で述べた手法(組織的探索法またはしきい値判定
法)によってbest系列と2nd系列とを誤り訂正復
号器1(28)に出力する。ここで、誤り訂正復号器1
(28)においては図19に示す構成の消失誤り訂正回
路を用いる。図において、best,2nd系列はそれ
ぞれ、S/P変換器170でパラレルデータ(データ長
は記録ブロックと誤り訂正符号ブロック1との和(図3
(b))に等しい)に変換され、ブロック単位での処理
がなされる。前記のパラレルデータに変換されたbes
t,2nd系列は、排他的論理和回路190でビット毎
に排他的論理和が取られる。その結果は、消失誤り検出
信号として、消失誤り訂正復号回路191に出力され
る。前記消失誤り検出信号の全ビットが0の場合は、消
失誤りは発生していないものと判断できる。前記消失誤
り検出信号のいずれかのビットが1の場合は、そのビッ
ト位置で消失誤りが発生したと考えられる。消失誤り訂
正復号回路191は、前記のパラレルデータに変換され
たbest系列と前記消失誤り検出信号を入力し、消失
誤り訂正復号処理を行う。その結果、誤りが訂正された
場合は消失誤りバイト検出フラグflg−ebyte=
0、訂正不能な場合はflg−ebyte=1を出力す
る。前記処理により消失誤り訂正復号された系列は復号
結果として、flg−ebyteとともに誤り訂正復号
器26に送られる。誤り訂正復号器26は、前記復号結
果と消失誤りバイト検出フラグを入力し、消失誤り訂正
を行う。上記実施例で述べたように、消失誤りを的確に
検出できれば、その訂正能力はランダム誤り訂正の約2
倍に向上する。
【0063】よって、本実施例により、最尤系列推定時
における復号誤りを検出し、これから導かれる消失誤り
バイトを訂正することで、再生処理としての復号誤り特
性を向上させることが可能となる。
における復号誤りを検出し、これから導かれる消失誤り
バイトを訂正することで、再生処理としての復号誤り特
性を向上させることが可能となる。
【0064】以上のように、本発明により、ビタビ検出
における復号誤りを検出し、これから導かれる消失誤り
バイトを訂正する手段を設けることで、簡易な構成で再
生処理の復号誤り特性を向上させることができ、EPR
4MLを上回る特性を実現することができる。トレリス
符号を用いていないので、状態数を増やすことなくEP
R4MLの特性向上化を図れる。従って、簡易な構成で
従来よりも高密度記録が可能なディジタル磁気記録再生
装置を提供できる。
における復号誤りを検出し、これから導かれる消失誤り
バイトを訂正する手段を設けることで、簡易な構成で再
生処理の復号誤り特性を向上させることができ、EPR
4MLを上回る特性を実現することができる。トレリス
符号を用いていないので、状態数を増やすことなくEP
R4MLの特性向上化を図れる。従って、簡易な構成で
従来よりも高密度記録が可能なディジタル磁気記録再生
装置を提供できる。
【0065】尚、本発明は、EPR4チャネル以外の任
意のPRチャネル(PR4,EEPR4等)にも適用可
能である。また、一般にビタビ復号等の概念に基づく最
尤検出機能を適用した信号処理方式、例えばDFE−F
DTS(DecisionFeedback Equa
lizer with Finite Delay Tre
e Search)方式等にも適用可能である。
意のPRチャネル(PR4,EEPR4等)にも適用可
能である。また、一般にビタビ復号等の概念に基づく最
尤検出機能を適用した信号処理方式、例えばDFE−F
DTS(DecisionFeedback Equa
lizer with Finite Delay Tre
e Search)方式等にも適用可能である。
【0066】
【発明の効果】本発明により、ビタビ検出器に、復号誤
りが生じた可能性が高いと判断される消失誤りビットを
検出する機能を付加することで、最尤系列推定の復号誤
りを検出し、これを消失誤り訂正することで、チャネル
状態数を増やすことなくビタビ検出器の誤り訂正能力を
向上させることができる。よって、再生処理全体の復号
誤り特性を向上させることができ、簡易な構成で従来よ
りも高密度記録が可能なディジタル磁気記録再生装置を
提供できる。本発明は、EPR4チャネル以外の任意の
PRチャネルや、DFEにも適用可能である。
りが生じた可能性が高いと判断される消失誤りビットを
検出する機能を付加することで、最尤系列推定の復号誤
りを検出し、これを消失誤り訂正することで、チャネル
状態数を増やすことなくビタビ検出器の誤り訂正能力を
向上させることができる。よって、再生処理全体の復号
誤り特性を向上させることができ、簡易な構成で従来よ
りも高密度記録が可能なディジタル磁気記録再生装置を
提供できる。本発明は、EPR4チャネル以外の任意の
PRチャネルや、DFEにも適用可能である。
【図1】本発明の第1の方法を示すディジタル磁気記録
再生装置の構成図である。
再生装置の構成図である。
【図2】従来発明によるディジタル磁気記録再生装置の
構成図である。
構成図である。
【図3】本発明の第2の方法を示すディジタル磁気記録
再生装置の構成図である。
再生装置の構成図である。
【図4】従来発明によるビタビ検出器の構成図である。
【図5】本発明の第1の方法による第1実施例における
ビタビ検出器の構成図である。
ビタビ検出器の構成図である。
【図6】本発明の第1の方法による第2及び第3実施例
におけるビタビ検出器の構成図である。
におけるビタビ検出器の構成図である。
【図7】本発明の第1の方法による第3実施例における
ビタビ検出器に用いるパス判定回路の構成図である。
ビタビ検出器に用いるパス判定回路の構成図である。
【図8】本発明の第1の方法による第1実施例における
消失誤り検出回路の構成図である。
消失誤り検出回路の構成図である。
【図9】本発明の第1の方法による第2及び第3実施例
における消失誤り検出回路の構成図である。
における消失誤り検出回路の構成図である。
【図10】従来発明によるACS回路の構成図である。
【図11】本発明の第1及び第2の方法による第1実施
例におけるACS回路の構成図である。
例におけるACS回路の構成図である。
【図12】本発明の第1及び第2の方法による第2実施
例におけるACS回路の構成図である。
例におけるACS回路の構成図である。
【図13】本発明の第1及び第2の方法による第3実施
例におけるACS回路の構成図である。
例におけるACS回路の構成図である。
【図14】本発明の第2の方法による第1実施例におけ
るビタビ検出器の構成図である。
るビタビ検出器の構成図である。
【図15】本発明の第2の方法による第2実施例におけ
るビタビ検出器の構成図である。
るビタビ検出器の構成図である。
【図16】本発明の第2の方法による第3実施例におけ
るビタビ検出器の構成図である。
るビタビ検出器の構成図である。
【図17】本発明の第2の方法による第1実施例におけ
る誤り訂正復号器の構成図である。
る誤り訂正復号器の構成図である。
【図18】本発明の第2の方法による第2実施例におけ
る誤り訂正復号器の構成図である。
る誤り訂正復号器の構成図である。
【図19】本発明の第2の方法による第3実施例におけ
る誤り訂正復号器の構成図である。
る誤り訂正復号器の構成図である。
【図20】本発明の第1及び第2の方法による第1実施
例におけるパスメモリ回路の構成図である。
例におけるパスメモリ回路の構成図である。
【図21】本発明の第1及び第2の方法による第2実施
例におけるパスメモリ回路の構成図である。
例におけるパスメモリ回路の構成図である。
【図22】本発明の第1及び第2の方法による第3実施
例におけるパスメモリ回路の構成図である。
例におけるパスメモリ回路の構成図である。
【図23】本発明のビタビ検出器による、best系列
及び2nd系列の探索方法を示す原理図である。
及び2nd系列の探索方法を示す原理図である。
【図24】本発明の2nd系列探索方式による、EPR
4MLにおける復号誤りの救済効果を説明するための図
である。
4MLにおける復号誤りの救済効果を説明するための図
である。
10・・・誤り訂正符号器、11・・・記録符号器、1
2・・・プリコーダ、13,17・・・増幅器、14・
・・記録ヘッド、15・・・磁気記録媒体、16・・・
再生ヘッド、18・・・可変利得増幅器、19・・・A
/D変換器、20・・・PR等化回路、21,24,2
7・・・ビタビ検出器、22,25・・・記録復号器、
23,26,28・・・誤り訂正復号器、41・・・ブ
ランチメトリック計算回路、42,52,62・・・A
CS回路、43,53,63・・・パスメモリ回路、5
4,64 ・・・消失誤り検出回路、7・・・パス判定
回路、71・・・絶対値変換回路、72,93,10
1,111,211・・・比較回路、73・・・パス選
択回路、81,112・・・しきい値判定回路、91,
170・・・S/P変換回路、92,190・・・排他
的論理和回路、100・・・加算器、102・・・遅延
素子、103,113,214,222・・・データ選
択回路、120・・・ソーティング回路、121,18
1,191,201,210,213,221・・・セ
レクタ回路、171,191・・・消失誤り訂正回路、
180・・・復号誤り検出回路、200,202,21
2・・・レジスタ回路。
2・・・プリコーダ、13,17・・・増幅器、14・
・・記録ヘッド、15・・・磁気記録媒体、16・・・
再生ヘッド、18・・・可変利得増幅器、19・・・A
/D変換器、20・・・PR等化回路、21,24,2
7・・・ビタビ検出器、22,25・・・記録復号器、
23,26,28・・・誤り訂正復号器、41・・・ブ
ランチメトリック計算回路、42,52,62・・・A
CS回路、43,53,63・・・パスメモリ回路、5
4,64 ・・・消失誤り検出回路、7・・・パス判定
回路、71・・・絶対値変換回路、72,93,10
1,111,211・・・比較回路、73・・・パス選
択回路、81,112・・・しきい値判定回路、91,
170・・・S/P変換回路、92,190・・・排他
的論理和回路、100・・・加算器、102・・・遅延
素子、103,113,214,222・・・データ選
択回路、120・・・ソーティング回路、121,18
1,191,201,210,213,221・・・セ
レクタ回路、171,191・・・消失誤り訂正回路、
180・・・復号誤り検出回路、200,202,21
2・・・レジスタ回路。
Claims (16)
- 【請求項1】ディジタル情報を、誤り訂正符号化手段、
記録符号化手段により記録媒体に記録する手段、前記記
録媒体より再生信号を出力する手段、前記再生信号か
ら、パーシャルレスポンス等化とビタビ検出により最尤
系列推定を行う手段、及び記録復号化手段、誤り訂正復
号化手段によりディジタル情報を復元する手段とで構成
される磁気記録再生回路において、前記ビタビ検出によ
ってビタビ検出手段におけるACS(Add,Comp
are,Select)演算手段にて、best系列と
ともに、2nd系列を求める手段を設けて最尤復号され
たデータの消失誤りビットを検出し、これを用いて、消
失誤り訂正を行うことを特徴とするディジタル磁気記録
再生回路。 - 【請求項2】ビタビ検出より最尤復号データ、及び消失
誤りビット検出信号を出力し、記録復号化手段は、消失
誤りビット検出信号より消失バイト誤り検出信号を、記
録復号データとともに出力し、前記誤り訂正復号化手段
は、前記消失誤りバイト検出信号を用いて消失誤り訂正
を行うことを特徴とする請求項1記載のディジタル磁気
記録再生回路。 - 【請求項3】記録符号化手段及び記録復号化手段を、そ
れぞれ第2の誤り訂正符号化手段及び第2の誤り訂正復
号化手段に置き換え、ビタビ検出によって最尤復号され
たデータの消失誤りビットを検出し、これを用いて、前
記第2の誤り訂正復号化手段にて消失誤り訂正を行うこ
とを特徴とする請求項1記載のディジタル磁気記録再生
回路。 - 【請求項4】ビタビ検出手段にて、best系列(最尤
推定された系列)とともに、2nd系列(best系列
の次に確からしい系列)を求める手段を設け、前記be
st及び2nd系列から、その排他的論理和を取ること
で消失誤りを検出し、消失誤りビット検出フラグを出力
する手段、パスメモリよりトレースバックされたデータ
と、前記消失誤りビット検出フラグを記録復号器に出力
することを特徴とする請求項2記載のディジタル磁気記
録再生回路。 - 【請求項5】ビタビ検出手段におけるACS演算手段に
て、比較すべき尤度の差を算出し、前記尤度差をしきい
値と比較し、その大小関係によりbest系列ととも
に、2nd系列を求めることを特徴とする請求項2記載
のディジタル磁気記録再生回路。 - 【請求項6】ビタビ検出手段におけるACS演算手段に
て、best系列とともに、2nd系列を求める手段を
設け、第2の誤り訂正復号化手段として復号誤り検出手
段を設けたことを特徴とする請求項3記載のディジタル
磁気記録再生回路。 - 【請求項7】ビタビ検出手段におけるACS演算手段に
て、best系列とともに、2nd系列を求める手段を
設け、手段と、第2の誤り訂正復号化手段として復号誤
り検出手段を設けたことを特徴とする請求項6記載のデ
ディジタル磁気記録再生回路。 - 【請求項8】ビタビ検出手段におけるACS演算手段に
て、best系列とともに、2nd系列を求める手段を
設け、第2の誤り訂正復号化手段として復号誤り検出手
段を設けたことを特徴とする請求項6記載のディジタル
磁気記録再生回路。 - 【請求項9】ディジタル情報を、誤り訂正符号化手段、
記録符号化手段により記録媒体に記録する手段、前記記
録媒体より再生信号を出力する手段、前記再生信号か
ら、パーシャルレスポンス等化とビタビ検出により最尤
系列推定を行う手段、及び記録復号化手段、誤り訂正復
号化手段によりディジタル情報を復元する手段とで構成
される磁気記録再生装置において、前記ビタビ検出によ
ってビタビ検出手段におけるACS(Add,Comp
are,Select)演算手段にて、best系列と
ともに、2nd系列を求める手段を設けて最尤復号され
たデータの消失誤りビットを検出し、これを用いて、消
失誤り訂正を行う回路を有することを特徴とするディジ
タル磁気記録再生装置。 - 【請求項10】ビタビ検出より最尤復号データ、及び消
失誤りビット検出信号を出力し、記録復号化手段は、消
失誤りビット検出信号より消失バイト誤り検出信号を、
記録復号データとともに出力し、前記誤り訂正復号化手
段は、前記消失誤りバイト検出信号を用いて消失誤り訂
正を行う回路を有することを特徴とする請求項9記載の
ディジタル磁気記録再生装置。 - 【請求項11】記録符号化手段及び記録復号化手段を、
それぞれ第2の誤り訂正符号化手段及び第2の誤り訂正
復号化手段に置き換え、ビタビ検出によって最尤復号さ
れたデータの消失誤りビットを検出し、これを用いて、
前記第2の誤り訂正復号化手段にて消失誤り訂正を行う
回路を有することを特徴とする請求項9記載のディジタ
ル磁気記録再生回路。 - 【請求項12】ビタビ検出手段にて、best系列(最
尤推定された系列)とともに、2nd系列(best系
列の次に確からしい系列)を求める手段を設け、前記b
est及び2nd系列から、その排他的論理和を取るこ
とで消失誤りを検出し、消失誤りビット検出フラグを出
力する手段、パスメモリよりトレースバックされたデー
タと、前記消失誤りビット検出フラグを記録復号器に出
力する回路を有することを特徴とする請求項10記載の
ディジタル磁気記録再生装置。 - 【請求項13】ビタビ検出手段におけるACS演算手段
にて、比較すべき尤度の差を算出し、前記尤度差をしき
い値と比較し、その大小関係によりbest系列ととも
に、2nd系列を求める回路を有することを特徴とする
請求項10記載のディジタル磁気記録再生装置。 - 【請求項14】ビタビ検出手段におけるACS演算手段
にて、best系列とともに、2nd系列を求める手段
を設け、第2の誤り訂正復号化手段として復号誤り検出
手段を設けた回路を有することを特徴とする請求項11
記載のディジタル磁気記録再生装置。 - 【請求項15】ビタビ検出手段におけるACS演算手段
にて、best系列とともに、2nd系列を求める手段
を設け、手段と、第2の誤り訂正復号化手段として復号
誤り検出手段を設けた回路を有することを特徴とする請
求項14記載のデディジタル磁気記録再生装置。 - 【請求項16】ビタビ検出手段におけるACS演算手段
にて、best系列とともに、2nd系列を求める手段
を設け、第2の誤り訂正復号化手段として復号誤り検出
手段を設けた回路を有することを特徴とする請求項14
記載のディジタル磁気記録再生装置。
Priority Applications (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9018237A JPH10214461A (ja) | 1997-01-31 | 1997-01-31 | ディジタル磁気記録再生回路及びこれを用いた装置 |
| KR1019980002307A KR19980070857A (ko) | 1997-01-31 | 1998-01-26 | 디지탈 자기기록재생장치 |
| SG1998000211A SG63808A1 (en) | 1997-01-31 | 1998-01-27 | Digital magnetic recording and reproducing apparatus |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9018237A JPH10214461A (ja) | 1997-01-31 | 1997-01-31 | ディジタル磁気記録再生回路及びこれを用いた装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH10214461A true JPH10214461A (ja) | 1998-08-11 |
Family
ID=11966081
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP9018237A Pending JPH10214461A (ja) | 1997-01-31 | 1997-01-31 | ディジタル磁気記録再生回路及びこれを用いた装置 |
Country Status (3)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH10214461A (ja) |
| KR (1) | KR19980070857A (ja) |
| SG (1) | SG63808A1 (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2001026111A1 (en) * | 1999-10-01 | 2001-04-12 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Digital reproduced signal processing device |
| JP2007511031A (ja) * | 2003-11-11 | 2007-04-26 | サムスン エレクトロニクス カンパニー リミテッド | 信号特性決定方法及びその装置 |
| US7804755B2 (en) | 2003-11-11 | 2010-09-28 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Method for determining characteristics of signal and apparatus using the same |
-
1997
- 1997-01-31 JP JP9018237A patent/JPH10214461A/ja active Pending
-
1998
- 1998-01-26 KR KR1019980002307A patent/KR19980070857A/ko not_active Withdrawn
- 1998-01-27 SG SG1998000211A patent/SG63808A1/en unknown
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2001026111A1 (en) * | 1999-10-01 | 2001-04-12 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Digital reproduced signal processing device |
| US6834035B1 (en) | 1999-10-01 | 2004-12-21 | Matsushita Electric Industrial Co. Ltd. | Digital reproduced signal processing device |
| JP2007511031A (ja) * | 2003-11-11 | 2007-04-26 | サムスン エレクトロニクス カンパニー リミテッド | 信号特性決定方法及びその装置 |
| US7804755B2 (en) | 2003-11-11 | 2010-09-28 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Method for determining characteristics of signal and apparatus using the same |
| US8385173B2 (en) | 2003-11-11 | 2013-02-26 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Method for determining characteristics of signal and apparatus using the same |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| SG63808A1 (en) | 1999-03-30 |
| KR19980070857A (ko) | 1998-10-26 |
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