JPH10223836A - 半導体集積回路のトリミングパターン - Google Patents

半導体集積回路のトリミングパターン

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Publication number
JPH10223836A
JPH10223836A JP9035712A JP3571297A JPH10223836A JP H10223836 A JPH10223836 A JP H10223836A JP 9035712 A JP9035712 A JP 9035712A JP 3571297 A JP3571297 A JP 3571297A JP H10223836 A JPH10223836 A JP H10223836A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
resistance
resistor
value
adjusting
integrated circuit
Prior art date
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Pending
Application number
JP9035712A
Other languages
English (en)
Inventor
Michiyasu Deguchi
充康 出口
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
New Japan Radio Co Ltd
Original Assignee
New Japan Radio Co Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by New Japan Radio Co Ltd filed Critical New Japan Radio Co Ltd
Priority to JP9035712A priority Critical patent/JPH10223836A/ja
Publication of JPH10223836A publication Critical patent/JPH10223836A/ja
Pending legal-status Critical Current

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Abstract

(57)【要約】 【課題】 半導体集積回路の分圧抵抗の分圧比を調整す
るための調整抵抗とこれを短絡するリンク部材を共通化
し、半導体回路の基盤面積を縮小する。 【解決手段】 分圧抵抗を構成する2個の抵抗の内の第
1の抵抗に複数の調整抵抗を設け、第2の抵抗にこの複
数の調整抵抗の抵抗値の総和に第2の抵抗と第1の抵抗
の抵抗比を乗じた値にほぼ等しい1個の調整抵抗を設け
る。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、半導体集積回路の
トリミングパターン、特に分圧抵抗の分圧比の微調整を
行うためのトリミングパターンに関する。
【0002】
【従来の技術】半導体集積回路上に抵抗素子を形成する
場合、通常、製造工程のばらつき等のため形成された素
子の抵抗値にばらつきが伴う。このため、正確な抵抗値
を必要とする場合等には、図2に示すように、主たる抵
抗素子と、例えばこれと直列に接続し、それぞれがリン
ク部材で短絡された複数の調整用抵抗素子とからなる抵
抗パターンを半導体集積回路上に形成し、形成された抵
抗の実測値に従ってリンク部材を例えばレーザービーム
等により適宜切断してトリミングを行うことにより所望
の値に最も近い抵抗値を得ている。
【0003】図2はこのような主たる抵抗RAに対して
調整抵抗R1〜R4を4段設けた例を示しているが、そ
れぞれの抵抗値をrA、r1〜r4とするとき、r(n
+1)=2rn(但しn=1、2、3)となるようにパ
ターンを形成することにより、形成誤差はあるもののr
AからrA+(24 −1)r1の範囲でr1単位に16
通りの値にトリミングすることができる。図2の例では
調整抵抗を4段としてあるが、段数を増やすことによ
り、より細かく抵抗値を調整することができる。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、調整抵
抗の段数が多いほど大きな基盤面積を必要とし、半導体
集積回路の製造コストもアップする。特に、半導体集積
回路では、例えば基準電圧を得る等のため、直列接続し
た2個の抵抗からなる分圧抵抗を用いて電圧を所望の比
率で分圧することが行われるが、この2個の抵抗のそれ
ぞれに同じような調整抵抗を設けるとより多くの基盤面
積が必要となる。
【0005】本発明はかかる問題点を解決するためにな
されたものであり、このような分圧抵抗を構成する2個
の抵抗の一方に設けた調整抵抗により、等価的に他方の
抵抗の微調整を行わせしめ、調整抵抗とリンク部材を節
減し、半導体集積回路の基盤面積の縮小を図ることを目
的とする。
【0006】
【課題を解決するための手段】本発明の、調整抵抗を短
絡するリンク部材を切断することにより抵抗値を変化さ
せて分圧比を調整する半導体集積回路のトリミングパタ
ーンは、それぞれがリンク部材により短絡された複数の
調整抵抗が直列に接続された第1の抵抗と、第2の抵抗
と、リンク部材により短絡され、前記複数の調整抵抗の
抵抗値の総和にこの第2の抵抗と前記第1の抵抗の抵抗
比を乗じた値にほぼ等しい抵抗値を持つ、1個の調整抵
抗との直列接続を備えたことを特徴とする。また、前記
複数の調整抵抗は、それぞれの抵抗値が比2の等比数列
を構成するよう設定されていることを特徴とする。
【0007】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態につい
て図面を参照して説明する。図1は、本発明に係る半導
体集積回路のトリミングパターンの一実施形態を示す回
路図であり、それぞれが、リンク部材L1〜Lnで短絡
されたn個の調整抵抗R1〜Rnが直列に接続された第
1の抵抗RAと、同じくリンク部材L0により短絡され
た1個の調整抵抗R0が直列に接続された第2の抵抗R
Bとからなる分圧抵抗のパターンを表し、入力端子1、
2間に印可された電圧に比例する分圧電圧が抵抗RAと
抵抗RBの中点に設けられた出力端子3から出力され
る。
【0008】抵抗RA、RB、また調整抵抗R0、R1
〜Rnの抵抗値をそれぞれ、rA、rB、r0、r1〜
rnとするとき、リンク部材L0、L1〜Lnが切断さ
れていないときの分圧比Pは、 P=rB/(rA+rB) で与えられるが、これが製造上のばらつきにより、設計
値Pdに比べ大きくなった場合は、抵抗RAの抵抗値r
Aの値を等価的に大きくすることにより分圧比Pを設計
値Pd近くに調整することができる。
【0009】すなわち、例えば前述のように調整抵抗R
1〜Rnの抵抗値r1〜rnをri=2i-1 a(i=
1、2、・・・n)に設定し、リンク部材L1〜Lnの
適当なものを1つまたは複数切断することにより、分圧
比PをrB/(rA+rB+a(2n −1))〜rB/
(rA+rB)の範囲の2n −1通りの値の内のどれか
に調整することができる。
【0010】また、製造ばらつきにより、分圧比Pが設
計値Pdに比べ小さくなってしまった場合、すなわち、
抵抗RAの抵抗値rAを等価的に小さくしたい場合に
は、リンク部材L0を切断し抵抗RBの抵抗値rBの値
を等価的に大きくした上で、抵抗RAの抵抗値rAの値
を等価的に大きくすることにより分圧比Pを設計値Pd
近くに調整することができる。
【0011】すなわち、例えば、調整抵抗R0の抵抗値
r0を、 r0=(rB/rA)・Σi ri=a・rB・(2n
1)/rA に設定することにより、リンク部材L0を切断し、また
必要によりL1〜Lnの適当なものを幾つか切断するこ
とにより、分圧比PをrB/(rA+rB)〜(rA・
rB+a・rB・(2n −1))/(rA2 +rA・r
B+a・rB・(2n −1))の範囲の2n 通りの値の
内のどれかに調整することができる。
【0012】
【発明の効果】以上説明したように、本発明の半導体集
積回路のトリミングパターンによれば、電圧検知回路
や、ボルテージレギュレータ等に用いられる分圧抵抗に
おいて、一方の抵抗に設けた調整抵抗により、他方の抵
抗の値を等価的に微調整できるので、調整抵抗とリンク
部材を節減でき半導体集積回路の基盤面積を小さくする
ことができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施形態を説明する回路図である。
【図2】調整抵抗を4段有する抵抗素子パターンの一例
を説明する回路図である。
【符号の説明】
1、2 入力端子 3 出力端子 RA、RB 抵抗 R0、R1〜Rn 調整抵抗 L0、L1〜Ln リンク部材

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 調整抵抗を短絡するリンク部材を切断す
    ることにより抵抗値を変化させて分圧比を調整する半導
    体集積回路のトリミングパターンにおいて、 それぞれがリンク部材により短絡された複数の調整抵抗
    が直列に接続された第1の抵抗と、 第2の抵抗と、 リンク部材により短絡され、前記複数の調整抵抗の抵抗
    値の総和にこの第2の抵抗と前記第1の抵抗の抵抗比を
    乗じた値にほぼ等しい抵抗値を持つ、1個の調整抵抗と
    の直列接続を備えたことを特徴とする半導体集積回路の
    トリミングパターン。
  2. 【請求項2】 前記複数の調整抵抗は、それぞれの抵抗
    値が比2の等比数列を構成するよう設定されていること
    を特徴とする請求項1に記載の半導体集積回路のトリミ
    ングパターン。
JP9035712A 1997-02-05 1997-02-05 半導体集積回路のトリミングパターン Pending JPH10223836A (ja)

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JP9035712A JPH10223836A (ja) 1997-02-05 1997-02-05 半導体集積回路のトリミングパターン

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JPH10223836A true JPH10223836A (ja) 1998-08-21

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ID=12449481

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JP9035712A Pending JPH10223836A (ja) 1997-02-05 1997-02-05 半導体集積回路のトリミングパターン

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN116632002A (zh) * 2023-07-24 2023-08-22 江苏兴宙微电子有限公司 一种电阻修调电路、设计方法及其设计装置

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