JPH10232180A - 溶接の気密性検査方法および検査装置 - Google Patents
溶接の気密性検査方法および検査装置Info
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- JPH10232180A JPH10232180A JP9035364A JP3536497A JPH10232180A JP H10232180 A JPH10232180 A JP H10232180A JP 9035364 A JP9035364 A JP 9035364A JP 3536497 A JP3536497 A JP 3536497A JP H10232180 A JPH10232180 A JP H10232180A
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- rupture
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- Y02E60/10—Energy storage using batteries
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- Y02—TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
- Y02P—CLIMATE CHANGE MITIGATION TECHNOLOGIES IN THE PRODUCTION OR PROCESSING OF GOODS
- Y02P70/00—Climate change mitigation technologies in the production process for final industrial or consumer products
- Y02P70/50—Manufacturing or production processes characterised by the final manufactured product
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 溶接後における溶接の気密性を容易に検査で
き、気密が不良な部材が次工程に流れることを確実に防
止できる溶接の気密性検査装置を提供する。 【解決手段】 キャップ体11を受体30上に載置する。押
体32が下降し、キャップ体11に溶接されたラプチャ12を
上方から押圧し、キャップ体11の一面は弾性体による受
体30の上面に圧接し、ラプチャ12のラプチャ溶接部13に
通じる密閉空間27を形成する。密閉空間27に圧力調節手
段34によりドライエアを供給し、外部の圧力と異なる一
定圧力に調節する。一定時間後における密閉空間27内の
圧力を圧力スイッチ36で検出する。ラプチャ12のラプチ
ャ溶接部13の気密状態が良好でリークが無い場合は、圧
力低下はほとんど無く圧力スイッチ36は動作しない。気
密状態が不良でリークが生じている場合、密閉空間27内
の圧力は低下し、圧力スイッチ36が動作して圧力低下を
検出する。
き、気密が不良な部材が次工程に流れることを確実に防
止できる溶接の気密性検査装置を提供する。 【解決手段】 キャップ体11を受体30上に載置する。押
体32が下降し、キャップ体11に溶接されたラプチャ12を
上方から押圧し、キャップ体11の一面は弾性体による受
体30の上面に圧接し、ラプチャ12のラプチャ溶接部13に
通じる密閉空間27を形成する。密閉空間27に圧力調節手
段34によりドライエアを供給し、外部の圧力と異なる一
定圧力に調節する。一定時間後における密閉空間27内の
圧力を圧力スイッチ36で検出する。ラプチャ12のラプチ
ャ溶接部13の気密状態が良好でリークが無い場合は、圧
力低下はほとんど無く圧力スイッチ36は動作しない。気
密状態が不良でリークが生じている場合、密閉空間27内
の圧力は低下し、圧力スイッチ36が動作して圧力低下を
検出する。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、気密性を要求され
る部材の溶接の気密性検査方法および検査装置に関す
る。
る部材の溶接の気密性検査方法および検査装置に関す
る。
【０００２】
【従来の技術】一般に、リチウムイオン２次電池などの
外包体は、アウタ缶にキャップ体をシーム溶接すること
により構成され、キャップ体には安全弁としてラプチャ
を同様にシーム溶接して一体に取り付けている。このよ
うに構成される外包体は高い密閉性が要求されるが、溶
接不良などの原因で密閉性が損なわれることがあり、所
望の密閉性が保たれているかについて検査が必要とな
る。
外包体は、アウタ缶にキャップ体をシーム溶接すること
により構成され、キャップ体には安全弁としてラプチャ
を同様にシーム溶接して一体に取り付けている。このよ
うに構成される外包体は高い密閉性が要求されるが、溶
接不良などの原因で密閉性が損なわれることがあり、所
望の密閉性が保たれているかについて検査が必要とな
る。
【０００３】そして、従来の密閉性の検査作業は、外観
が完成した外包体であるワークに電解液を注入して気密
封止して素電池を形成するとともに、この素電池をヘリ
ウムガス加圧室に入れ、ヘリウムガスにより加圧する。
が完成した外包体であるワークに電解液を注入して気密
封止して素電池を形成するとともに、この素電池をヘリ
ウムガス加圧室に入れ、ヘリウムガスにより加圧する。
【０００４】次に、この素電池を排気室にいれて排気
し、このとき検出されるヘリウムガスの検出量により気
密性を検査する、いわゆるヘリウムリーク検出方法が用
いられている。
し、このとき検出されるヘリウムガスの検出量により気
密性を検査する、いわゆるヘリウムリーク検出方法が用
いられている。
【０００５】しかし、ヘリウムリーク検査方法では高価
なヘリウムガスを用いるためコスト高となる。また、外
観が完成したワークに対する電解液の注入・封止工程が
終了し、電池が密閉された状態でしか検査できない。し
たがって、ラプチャの溶接やキャップの溶接時の溶接不
良により気密性が損なわれていても、溶接直後に検査で
きないため、この気密不良の部材が次工程に流され、所
定形状のワークとして形成されてしまう。このように、
一連の加工工程終了後に気密性の良否判定が行なわれる
ので、不良部材も最後まで組み立てられることとなり、
供給部材に無駄が生じることがあり、生産コストなどに
悪影響を与えるおそれがある。
なヘリウムガスを用いるためコスト高となる。また、外
観が完成したワークに対する電解液の注入・封止工程が
終了し、電池が密閉された状態でしか検査できない。し
たがって、ラプチャの溶接やキャップの溶接時の溶接不
良により気密性が損なわれていても、溶接直後に検査で
きないため、この気密不良の部材が次工程に流され、所
定形状のワークとして形成されてしまう。このように、
一連の加工工程終了後に気密性の良否判定が行なわれる
ので、不良部材も最後まで組み立てられることとなり、
供給部材に無駄が生じることがあり、生産コストなどに
悪影響を与えるおそれがある。
【０００６】また、不良発生が設備異常によるものであ
っても、その異常の発見・対応が遅れてしまう。
っても、その異常の発見・対応が遅れてしまう。
【０００７】さらに、注入液の液漏れが生じた場合は、
設備に対するダメージが大きく、メインテナンスも困難
になるおそれがある。
設備に対するダメージが大きく、メインテナンスも困難
になるおそれがある。
【０００８】
【発明が解決しようとする課題】上述のように、従来は
高価なヘリウムガスが必要であり、気密不良が生じた部
材も次工程に流れてしまうため、供給部材に無駄が生じ
たり、設備不良の発見・対応が遅れ、さらに、注入液の
液漏れが生じることも考えられ、設備に大きなダメージ
を与えるおそれがある問題を有している。
高価なヘリウムガスが必要であり、気密不良が生じた部
材も次工程に流れてしまうため、供給部材に無駄が生じ
たり、設備不良の発見・対応が遅れ、さらに、注入液の
液漏れが生じることも考えられ、設備に大きなダメージ
を与えるおそれがある問題を有している。
【０００９】本発明は、上記問題点に鑑みなされたもの
で、溶接後における溶接の気密性を容易に検査でき、気
密が不良な部材が次工程に流れることを確実に防止でき
る溶接の気密性検査方法および検査装置を提供すること
を目的とする。
で、溶接後における溶接の気密性を容易に検査でき、気
密が不良な部材が次工程に流れることを確実に防止でき
る溶接の気密性検査方法および検査装置を提供すること
を目的とする。
【００１０】
【課題を解決するための手段】本発明は、溶接された部
材の溶接された部分を外周に含んで密閉空間を形成し、
この密閉空間の内外の圧力を異ならせ、一定時間後にお
ける上記密閉空間の内外の圧力差の大きさを測定するも
ので、密閉空間内を外部とは異なる一定圧力に調節した
後、一定時間後における密閉空間内の圧力の変化を測定
することにより、溶接の気密性を判定する。
材の溶接された部分を外周に含んで密閉空間を形成し、
この密閉空間の内外の圧力を異ならせ、一定時間後にお
ける上記密閉空間の内外の圧力差の大きさを測定するも
ので、密閉空間内を外部とは異なる一定圧力に調節した
後、一定時間後における密閉空間内の圧力の変化を測定
することにより、溶接の気密性を判定する。
【００１１】
【発明の実施の形態】以下、本発明の一実施の形態を図
面を参照して説明する。
面を参照して説明する。
【００１２】図１および図２に示すように、溶接される
部材であるたとえばリチウムイオン２次電池の外包体を
構成する部材としてのキャップ体11の所定位置にラプチ
ャ12をシーム溶接してラプチャ溶接部13を形成するとと
もに、このラプチャ溶接部13の気密性を検査するもの
で、このラプチャ溶接部13およびラプチャ溶接部13の側
方に配置された検査部14を有している。
部材であるたとえばリチウムイオン２次電池の外包体を
構成する部材としてのキャップ体11の所定位置にラプチ
ャ12をシーム溶接してラプチャ溶接部13を形成するとと
もに、このラプチャ溶接部13の気密性を検査するもの
で、このラプチャ溶接部13およびラプチャ溶接部13の側
方に配置された検査部14を有している。
【００１３】また、このラプチャ溶接部13は、上述のよ
うに、キャップ体11の所定位置にラプチャ12をシーム溶
接してラプチャ溶接部13を形成し、図示しない絶縁シー
ルを貼り付けるもので、検査部14との間には移載用のト
ランスファ15が設けられている。
うに、キャップ体11の所定位置にラプチャ12をシーム溶
接してラプチャ溶接部13を形成し、図示しない絶縁シー
ルを貼り付けるもので、検査部14との間には移載用のト
ランスファ15が設けられている。
【００１４】そして、検査部14の上面にはロータリテー
ブル17が支軸18を中心に回動可能に設けられている。こ
のロータリテーブル17は等間隔に配置された４個の検査
ヘッド19を有しており、図示しない回転駆動機構によ
り、９０°の回動角で間欠駆動される。したがって、こ
れら各検査ヘッド19は、９０°毎に設定された各位置Ｉ
ないし位置IVに順次停止しながら移動する。
ブル17が支軸18を中心に回動可能に設けられている。こ
のロータリテーブル17は等間隔に配置された４個の検査
ヘッド19を有しており、図示しない回転駆動機構によ
り、９０°の回動角で間欠駆動される。したがって、こ
れら各検査ヘッド19は、９０°毎に設定された各位置Ｉ
ないし位置IVに順次停止しながら移動する。
【００１５】また、トランスファ15は、ラプチャ溶接部
13にてラプチャ12が溶接されたキャップ体11を、位置Ｉ
に停止している検査ヘッド19上に移載する。そして、最
終位置である位置IVにも別のトランスファ21が設けられ
ており、検査の終了したキャップ体11を検査ヘッド19上
から取り出し、良品はパレット22に、不良品は不良品ボ
ックス23に、それぞれ排出する。
13にてラプチャ12が溶接されたキャップ体11を、位置Ｉ
に停止している検査ヘッド19上に移載する。そして、最
終位置である位置IVにも別のトランスファ21が設けられ
ており、検査の終了したキャップ体11を検査ヘッド19上
から取り出し、良品はパレット22に、不良品は不良品ボ
ックス23に、それぞれ排出する。
【００１６】さらに、検査ヘッド19の上面には、密閉空
間保持手段25が設けられている。この密閉空間保持手段
25は、キャップ体11の一方の面、たとえば下面に圧接さ
れ、この圧接状態にてラプチャ12とのラプチャ溶接部13
に通じる密閉空間27を形成するものである。
間保持手段25が設けられている。この密閉空間保持手段
25は、キャップ体11の一方の面、たとえば下面に圧接さ
れ、この圧接状態にてラプチャ12とのラプチャ溶接部13
に通じる密閉空間27を形成するものである。
【００１７】すなわち、この密閉空間保持手段25は、検
査ヘッド19上に固着されたガイド29およびその内側に設
けられた受体30を有し、ガイド29によってキャップ体11
の周辺を案内し、キャップ体11の一面を受体30上に接合
させる。なお、受体30は弾性体でつくられており、キャ
ップ体11の溶接部26との対向部には、密閉空間27となる
孔31が形成されている。
査ヘッド19上に固着されたガイド29およびその内側に設
けられた受体30を有し、ガイド29によってキャップ体11
の周辺を案内し、キャップ体11の一面を受体30上に接合
させる。なお、受体30は弾性体でつくられており、キャ
ップ体11の溶接部26との対向部には、密閉空間27となる
孔31が形成されている。
【００１８】また、受体30の上方には押体32が上下動可
能に設けられており、下降時にこの受体30上のキャップ
体11に溶接されたラプチャ12を上方から押圧し、キャッ
プ体11の一面を弾性体の受体30上に圧接させ、孔31によ
る密閉空間27を形成する。
能に設けられており、下降時にこの受体30上のキャップ
体11に溶接されたラプチャ12を上方から押圧し、キャッ
プ体11の一面を弾性体の受体30上に圧接させ、孔31によ
る密閉空間27を形成する。
【００１９】さらに、34は圧力調節手段で、この圧力調
節手段34は検査ヘッド19に穿設された空気孔35を介して
密閉空間27内にドライエアを供給し、この密閉空間27内
を外部の圧力とは異なる一定圧力ｐ、たとえば２ｋｇｆ
／ｃｍ2 に調節する。
節手段34は検査ヘッド19に穿設された空気孔35を介して
密閉空間27内にドライエアを供給し、この密閉空間27内
を外部の圧力とは異なる一定圧力ｐ、たとえば２ｋｇｆ
／ｃｍ2 に調節する。
【００２０】また、36は圧力測定手段としての圧力スイ
ッチで、この圧力スイッチ36は圧力調節手段34による調
節が停止してから一定時間ｔ、たとえば５秒後の密閉空
間27内の圧力を測定する。この圧力スイッチ36として
は、たとえば一定圧力ｐに対し、予め所定の差圧Δｐ、
たとえば０．２ｋｇｆ／ｃｍ2 だけずらした圧力、すな
わち１．８ｋｇｆ／ｃｍ2 に動作点を設定した圧力スイ
ッチ36を用いる。
ッチで、この圧力スイッチ36は圧力調節手段34による調
節が停止してから一定時間ｔ、たとえば５秒後の密閉空
間27内の圧力を測定する。この圧力スイッチ36として
は、たとえば一定圧力ｐに対し、予め所定の差圧Δｐ、
たとえば０．２ｋｇｆ／ｃｍ2 だけずらした圧力、すな
わち１．８ｋｇｆ／ｃｍ2 に動作点を設定した圧力スイ
ッチ36を用いる。
【００２１】次に、上記実施の形態の動作について説明
する。
する。
【００２２】まず、図２で示したラプチャ溶接部13によ
り所定位置にラプチャ12をシーム溶接したラプチャ溶接
部13を有するキャップ体11は、トランスファ15により、
検査部14の位置Ｉに位置する検査ヘッド19上に移載され
る。すなわち、図１で示すように、キャップ体11はガイ
ド29により周辺部が案内され、受体30上に所定の位置関
係にて載置される。この状態で押体32が下降し、キャッ
プ体11に溶接されたラプチャ12を上方から押圧する。こ
の動作により、キャップ体11の一面は、弾性体による受
体30の上面に圧接し、ラプチャ12のラプチャ溶接部13に
通じる密閉空間27が形成される。
り所定位置にラプチャ12をシーム溶接したラプチャ溶接
部13を有するキャップ体11は、トランスファ15により、
検査部14の位置Ｉに位置する検査ヘッド19上に移載され
る。すなわち、図１で示すように、キャップ体11はガイ
ド29により周辺部が案内され、受体30上に所定の位置関
係にて載置される。この状態で押体32が下降し、キャッ
プ体11に溶接されたラプチャ12を上方から押圧する。こ
の動作により、キャップ体11の一面は、弾性体による受
体30の上面に圧接し、ラプチャ12のラプチャ溶接部13に
通じる密閉空間27が形成される。
【００２３】この状態で、ロータリテーブル17は回動角
９０°毎に停止しながら回動し、検査ヘッド19は位置Ｉ
から位置IVまで順次移動する。この間、密閉空間27に
は、圧力調節手段34によりドライエアが供給され、この
密閉空間27内を外部の圧力と異なる一定圧力ｐに調節す
る。この一定圧力ｐへの調節が終わってから一定時間ｔ
後における密閉空間27内の圧力を、圧力スイッチ36によ
って検出する。
９０°毎に停止しながら回動し、検査ヘッド19は位置Ｉ
から位置IVまで順次移動する。この間、密閉空間27に
は、圧力調節手段34によりドライエアが供給され、この
密閉空間27内を外部の圧力と異なる一定圧力ｐに調節す
る。この一定圧力ｐへの調節が終わってから一定時間ｔ
後における密閉空間27内の圧力を、圧力スイッチ36によ
って検出する。
【００２４】ここで、ラプチャ12のラプチャ溶接部13の
気密状態が良好でリークが無い場合は、密閉空間27の圧
力低下はほとんど無く、一定時間ｔ後においても一定圧
力ｐとの差圧はΔｐは生じず、圧力スイッチ36は動作し
ない。
気密状態が良好でリークが無い場合は、密閉空間27の圧
力低下はほとんど無く、一定時間ｔ後においても一定圧
力ｐとの差圧はΔｐは生じず、圧力スイッチ36は動作し
ない。
【００２５】これに対し、ラプチャ溶接部13の気密状態
が不良でリークが生じている場合、密閉空間27内の圧力
は低下し、一定時間ｔ後には一定圧力ｐとの差圧Δｐ以
上となり、圧力スイッチ36が動作して圧力低下を検出す
る。
が不良でリークが生じている場合、密閉空間27内の圧力
は低下し、一定時間ｔ後には一定圧力ｐとの差圧Δｐ以
上となり、圧力スイッチ36が動作して圧力低下を検出す
る。
【００２６】すなわち、圧力スイッチ36の動作の有無に
より気密状態の良否を判定することができる。この判定
の結果、位置IVにおいてトランスファ21により、良品は
パレット22に、不良品は不良品ボックスに、それぞれ排
出される。
より気密状態の良否を判定することができる。この判定
の結果、位置IVにおいてトランスファ21により、良品は
パレット22に、不良品は不良品ボックスに、それぞれ排
出される。
【００２７】このように、シーム溶接などの作業部の直
後に検査部14を設置したことにより、後工程には検査後
の良品のみが流れる。したがって、従来のように未検査
のために不良品が後工程に流れ、不良品を加工してしま
うようなことはなく、製品コストを低減でき、供給材料
の無駄を省くことができる。また、設備の異常によって
不良品が連続発生しても、その異常の発見・対応を迅速
にできる。さらに、検査ヘッド19を複数配列することに
より製造時のタクトタイムを短縮できる。
後に検査部14を設置したことにより、後工程には検査後
の良品のみが流れる。したがって、従来のように未検査
のために不良品が後工程に流れ、不良品を加工してしま
うようなことはなく、製品コストを低減でき、供給材料
の無駄を省くことができる。また、設備の異常によって
不良品が連続発生しても、その異常の発見・対応を迅速
にできる。さらに、検査ヘッド19を複数配列することに
より製造時のタクトタイムを短縮できる。
【００２８】そして、上記実施の形態では、密閉空間27
内を外部の圧力と異なる一定圧力に調節するに際して、
密閉空間27内にドライエアを供給することにより正圧を
加えているが、圧力調節手段34によって密閉空間27内に
一定の負圧を加えるようにしても良い。
内を外部の圧力と異なる一定圧力に調節するに際して、
密閉空間27内にドライエアを供給することにより正圧を
加えているが、圧力調節手段34によって密閉空間27内に
一定の負圧を加えるようにしても良い。
【００２９】この場合も、ラプチャ12との溶接部26の気
密状態が良好で、リークが無いときは密閉空間27内の負
圧低下はほとんど無く、一定時間ｔ後においても一定圧
力ｐとの差圧Δｐは生じず圧力スイッチ36は動作しな
い。これに対し、ラプチャ溶接部13の気密状態が不良で
リークが生じている場合、密閉空間27内に負圧低下が生
じ、一定時間ｔ後には、一定圧力ｐとの差圧はΔｐ以上
となり、圧力スイッチ36が動作して圧力低下を検出す
る。
密状態が良好で、リークが無いときは密閉空間27内の負
圧低下はほとんど無く、一定時間ｔ後においても一定圧
力ｐとの差圧Δｐは生じず圧力スイッチ36は動作しな
い。これに対し、ラプチャ溶接部13の気密状態が不良で
リークが生じている場合、密閉空間27内に負圧低下が生
じ、一定時間ｔ後には、一定圧力ｐとの差圧はΔｐ以上
となり、圧力スイッチ36が動作して圧力低下を検出す
る。
【００３０】このように、密閉空間27内を負圧にして
も、溶接部26の気密性の良否を検出することができる。
も、溶接部26の気密性の良否を検出することができる。
【００３１】また、上記実施の形態では、気密性の検査
対象である溶接された部材として、ラプチャ12がシーム
溶接されたキャップ体11を示したが、キャップ体11がシ
ーム溶接された図示しないアウタ缶や、その他、気密性
の検査を要するものには何でも適用可能である。すなわ
ち、溶接した部分を外周の一部にして気密性の検査を要
する部分に通じる密閉空間27を形成し、この密閉空間27
内の圧力を外部と異なる一定圧力に調節し、一定時間後
における密閉空間27内の圧力変化を測定することによ
り、容易に気密性の良否を判定することができる。
対象である溶接された部材として、ラプチャ12がシーム
溶接されたキャップ体11を示したが、キャップ体11がシ
ーム溶接された図示しないアウタ缶や、その他、気密性
の検査を要するものには何でも適用可能である。すなわ
ち、溶接した部分を外周の一部にして気密性の検査を要
する部分に通じる密閉空間27を形成し、この密閉空間27
内の圧力を外部と異なる一定圧力に調節し、一定時間後
における密閉空間27内の圧力変化を測定することによ
り、容易に気密性の良否を判定することができる。
【００３２】また、ドライエアを用いることにより、高
価なヘリウムガスが不要となり、製造コストを低減でき
る。
価なヘリウムガスが不要となり、製造コストを低減でき
る。
【００３３】
【発明の効果】本発明によれば、密閉空間内を外部とは
異なる一定圧力に調節した後、一定時間後における密閉
空間内の圧力の変化を測定することにより、溶接などの
作業後に直ちに気密性の検査をできるので、後工程には
検査後の良品のみが送られることになり、従来のように
未検査の不良品が後工程に送られ、この不良品に対する
無用な加工することがないので、生産効率が向上すると
ともに、設備異常発生を早期に検出して対応できる。
異なる一定圧力に調節した後、一定時間後における密閉
空間内の圧力の変化を測定することにより、溶接などの
作業後に直ちに気密性の検査をできるので、後工程には
検査後の良品のみが送られることになり、従来のように
未検査の不良品が後工程に送られ、この不良品に対する
無用な加工することがないので、生産効率が向上すると
ともに、設備異常発生を早期に検出して対応できる。
【図１】本発明の溶接の気密性検査装置の一実施の形態
を示す断面図である。
を示す断面図である。
【図２】同上全体構成を示す平面図である。
11 部材としてのキャップ体 25 密閉空間保持手段 27 密閉空間 34 圧力調節手段 36 圧力測定手段としての圧力スイッチ
Claims (2)
- 【請求項１】 溶接された部材の溶接された部分を外周
に含んで密閉空間を形成し、 この密閉空間の内外の圧力を異ならせ、 一定時間後における上記密閉空間の内外の圧力差の大き
さを測定することを特徴とする溶接の気密性検査方法。 - 【請求項２】 溶接された部材の溶接された部分を外周
に含んで密閉空間を形成する密閉空間保持手段と、 この密閉空間内に外部の圧力と異なる一定圧力を加える
圧力調節手段と、 この圧力調節手段による調節が停止してから一定時間後
の前記密閉空間内圧力を測定する圧力測定手段とを具備
したことを特徴とする溶接の気密性検査装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9035364A JPH10232180A (ja) | 1997-02-19 | 1997-02-19 | 溶接の気密性検査方法および検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9035364A JPH10232180A (ja) | 1997-02-19 | 1997-02-19 | 溶接の気密性検査方法および検査装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH10232180A true JPH10232180A (ja) | 1998-09-02 |
Family
ID=12439855
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP9035364A Pending JPH10232180A (ja) | 1997-02-19 | 1997-02-19 | 溶接の気密性検査方法および検査装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH10232180A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN103776601A (zh) * | 2014-02-28 | 2014-05-07 | 奇瑞汽车股份有限公司 | 一种电池极柱密封性检测设备及其检测方法 |
| JP2016105407A (ja) * | 2016-01-07 | 2016-06-09 | ソニー株式会社 | フィルム外装電池の製造方法 |
| WO2024237282A1 (ja) * | 2023-05-17 | 2024-11-21 | 東邦シートフレーム株式会社 | 金属製の梱包容器の検査方法及び製造方法、梱包体の製造方法、並びに梱包容器集合体及び梱包体集合体 |
-
1997
- 1997-02-19 JP JP9035364A patent/JPH10232180A/ja active Pending
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN103776601A (zh) * | 2014-02-28 | 2014-05-07 | 奇瑞汽车股份有限公司 | 一种电池极柱密封性检测设备及其检测方法 |
| JP2016105407A (ja) * | 2016-01-07 | 2016-06-09 | ソニー株式会社 | フィルム外装電池の製造方法 |
| WO2024237282A1 (ja) * | 2023-05-17 | 2024-11-21 | 東邦シートフレーム株式会社 | 金属製の梱包容器の検査方法及び製造方法、梱包体の製造方法、並びに梱包容器集合体及び梱包体集合体 |
| JPWO2024237282A1 (ja) * | 2023-05-17 | 2024-11-21 |
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