JPH10232642A - 表示装置および検査回路 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】 発光素子ごとに駆動回路を有する表示装置の
駆動回路の検査を容易にする。 【解決手段】 発光素子とその駆動回路から成る発光部
をマトリクス状に配列した蛍光表示管に、２入力論理積
回路を順に接続した多段論理積回路を備え、各段の入力
に各駆動回路の出力を接続する。最前段の他方の入力を
電源ラインに接続し、最後段の出力を検査端子に接続し
て、検査端子に駆動電圧が現れるか否かによって検査を
行う。全駆動回路を同時に駆動させて動作時の全駆動回
路の良否をまとめて調べ、１つの駆動回路を停止させて
非動作時の全駆動回路の良否を個別に調べる。多段論理
積回路に代えて多段論理和回路を備え、最前段の他方の
入力を接地し、最後段の出力を検査端子に接続してもよ
い。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、複数の発光素子を
それぞれに対して設けた駆動回路によって個別に駆動す
る表示装置、およびそのような駆動回路の検査に適する
検査回路に関する。

【０００２】

【従来の技術】複数の発光素子を所定の位置関係でまた
はマトリクス状に規則正しく配設して、各発光素子の発
光と非発光を個別に制御することで、所望の表示像を形
成する表示装置が知られている。

【０００３】発光素子を所定の位置関係に配設する代表
的例として、数字やアルファベットを７画素で表すセグ
メント方式の発光ダイオード（ＬＥＤ）表示装置があげ
られる。このような表示装置では、画素数が比較的少な
く、発光素子それぞれに対して駆動回路を備えて、発光
を個別に制御するのが通例である。

【０００４】発光素子をマトリクス状に配設する表示装
置に、画素である蛍光体を縦横に配列して、熱電子によ
り発光させる蛍光表示管がある。従来の蛍光表示管で
は、帯状電極を用いる時分割駆動により発光させる画素
を選択していたが、近年では、時分割駆動に固有の不都
合を回避するために、画素ごとに駆動回路を備えて発光
を個別に制御することが行われている。

【０００５】画素ごとに駆動回路を備えると、駆動電圧
を低くすることが可能になり、消費電力の低減、発熱量
の低減、駆動回路の簡素化、蛍光体の長寿命化等多くの
利点がある。その反面、画素と同数の駆動回路が必要で
あるから、高解像度の像を表示するためには多数の駆動
回路を形成する必要がある。

【０００６】画素ごとに駆動回路を備える蛍光表示管
は、駆動回路と電極をマトリクス状に形成した半導体チ
ップの各電極の表面に蛍光体を付着して、この半導体チ
ップと熱陰極をグリッドを挟んで対向させ、全体を管に
収容して管内を真空にした構成である。電極は駆動回路
上の半導体表面に形成され、駆動回路によって電圧を変
えられる。電極の電圧の変化によって発光体への熱電子
の放射量が変わり、これにより発光を制御することがで
きる。

【０００７】

【発明が解決しようとする課題】一般に、半導体に形成
された駆動回路の良否の検査は、その出力パッドにプロ
ーブ針を当てて電圧を測定することにより行っている。
しかしながら、上記構成の蛍光表示管では、この方法を
採用することがきわめて難しい。駆動回路はパッド等を
介さず電極に直接接続されており、電極は駆動回路上に
形成されているからである。プローブ針を電極に当てる
と駆動回路を損傷することになる。

【０００８】したがって、この蛍光表示管の駆動回路の
検査は、実際の発光動作を確認することにより行われ
る。すなわち、駆動回路を動作させて電極に駆動電圧を
与え、蛍光体が光を発するか否かを、肉眼による観察ま
たは光学装置による測定で調べる。

【０００９】ところが、蛍光表示管が発光し得るのは、
電極に発光体が付着され、熱陰極が設けられ、真空の環
境に設定された後である。換言すれば、蛍光表示管は製
品となってはじめて発光動作を行うことが可能になるの
であって、製造の途中の段階で駆動回路の検査を行うこ
とは事実上できない。このため、駆動回路が不良であっ
ても製品の形態にまで製造工程を進めることになり、製
造効率が悪くなっていた。

【００１０】また、肉眼による発光の確認も容易ではな
い。小数の画素を広い間隔で配置した表示管では全画素
を同時に発光させて観察することも可能であるが、多数
の画素が近接して配置されている表示管では、全画素を
同時に発光させると発光しない画素を見落とす可能性が
ある。そのため、画素を個別に発光させる必要が生じ
て、検査に多大な労力と長時間を要することになる。光
学装置を用いて光を検出すると検査能率は向上するが、
多数の画素を近接して配置した蛍光表示管では、やはり
個別に発光させる必要があり、検査時間は長くなる。

【００１１】前述のＬＥＤ表示装置では、駆動回路に出
力パッドが設けられるため、プローブ針を用いる検査方
法を採用することができる。したがって、発光動作を行
わせることなく駆動回路を検査することが可能である。
しかしながら、個々の駆動回路の出力電圧を、プローブ
針を当てるパッドを変えながら測定しなければならず、
画素数が多くなるにつれて検査時間は長くなる。

【００１２】このように、発光素子それぞれに駆動回路
を設ける従来の表示装置は、駆動回路の検査が容易では
なく、発光の方式によっては、製造途中で駆動回路の検
査を行うことができなかった。また、多数の発光素子を
有する表示装置では検査に長時間を要していた。

【００１３】本発明は、発光の方式にかかわらず製造工
程の途中でも駆動回路の検査を行うことが可能で、しか
も、発光素子の数にかかわらず全駆動回路を短時間に検
査し得る表示装置を提供することを目的とする。また、
そのような検査に適する検査回路を提供することを目的
とする。

【００１４】

【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、本発明では、発光素子とその駆動回路から成る発光
部を複数有する表示装置において、第１の入力端子、第
２の入力端子および出力端子を有し、第１の入力端子へ
の入力と第２の入力端子への入力の論理演算を行って演
算結果を出力端子に出力する論理回路を各発光部に備
え、発光部ごとに駆動回路の出力端子を論理回路の第１
の入力端子に接続し、発光部間で論理回路の出力端子を
論理回路の第２の入力端子に接続して論理回路を多段に
接続する。

【００１５】発光素子の発光と非発光はその駆動回路の
出力の有無によって制御され、各発光部は個別に発光し
て、全体の発光と非発光のパターンにより表示像が形成
される。多段に接続された各段の論理回路は、最前段の
論理回路を除き、その発光部の駆動回路の出力と前段の
論理回路の出力を論理演算して演算結果を出力する。し
たがって、最後段の論理回路の出力は、全駆動回路の出
力の有無に応じた出力をすることになり、これから全駆
動回路の動作状態に関する情報が得られる。各段の論理
回路の種類および最前段の論理回路の第２の入力端子に
与える入力によって、最後段の出力から得られる情報は
違ってくる。

【００１６】各発光部の論理回路を論理積回路とする
と、最後段の論理回路は全駆動回路の出力の論理積を表
すことになる。すなわち、最後段の出力は、全ての駆動
回路が出力をしているときに限り真になり、いずれか１
つの駆動回路でも出力をしなければ偽になる。

【００１７】各発光部の論理回路を論理和回路とする
と、最後段の論理回路は全駆動回路の出力の論理和を表
すことになる。すなわち、最後段の出力は、全ての駆動
回路が出力をしていないときに限り偽になり、いずれか
１つの駆動回路でも出力をすれば真になる。

【００１８】多段に接続した論理回路を２組備え、一方
の組の論理回路を全て論理積回路とし、他方の組の論理
回路を全て論理和回路とし、さらに排他的論理和回路を
備えて、各組の最後段の論理回路の出力端子を排他的論
理和回路の入力端子に接続してもよい。排他的論理和回
路の出力は、全ての駆動回路が出力をしているときと全
ての駆動回路が出力をしていないときに真になり、一部
の駆動回路が出力をしていれば偽になる。

【００１９】各発光素子を蛍光発光体により構成し、複
数の発光部を真空の管内に収容して蛍光表示管としても
よい。蛍光発光管の場合、完成した状態でなければ発光
させることはできないが、駆動回路のみを動作させて最
後段の論理回路の出力を調べることにより、真空の管内
に収容する前に駆動回路を検査することができる。

【００２０】上記目的を達成するために、本発明ではま
た、動作時に第１の電圧、非動作時に第１の電圧よりも
低い第２の電圧を出力する複数の電気回路を検査する検
査回路において、演算結果に応じて第１または第２の電
圧を出力する同種の２入力論理演算回路を順に接続した
多段論理回路を備えて、各段の入力に順に複数の電気回
路の出力を接続し、最前段の入力に第１または第２の電
圧を与えて、最後段の出力電圧により複数の電気回路の
動作の良否を表すようにする。

【００２１】多段論理回路の最前段は、与えられた第１
または第２の電圧と電気回路の出力電圧とを論理演算し
て演算結果を出力する。第２段以降は前段が出力する第
１または第２の電圧と電気回路の出力電圧とを論理演算
して演算結果を出力する。したがって、最後段は全ての
電気回路の出力電圧を論理演算した結果を出力すること
になり、その電圧から全電気回路の動作の良否に関する
情報が得られる。すなわち、電気回路の動作の良否が最
後段の出力電圧により表される。各段の論理演算回路の
種類および最前段に第１、第２の電圧のいずれを与える
かによって、最後段の出力電圧がどの電気回路のどの状
態での良否を表すかが異なり、また、出力電圧の値と良
否との対応関係が違ってくる。

【００２２】例えば、多段論理回路を論理積回路で構成
し、最前段の入力に第１の電圧を与えて、全電気回路を
動作させた状態での最後段の出力電圧により電気回路の
動作時の良否をまとめて表し、１つの電気回路のみを動
作させない状態での最後段の出力電圧により電気回路の
非動作時の良否を個別に表すができる。

【００２３】あるいは、多段論理回路を論理和回路で構
成し、最前段の入力に第２の電圧を与えて、全電気回路
を動作させない状態での最後段の出力電圧により電気回
路の非動作時の良否をまとめて表し、１つの電気回路の
みを動作させた状態での最後段の出力電圧により電気回
路の動作時の良否を個別に表すこともできる。

【００２４】

【発明の実施の形態】以下、本発明について図面を参照
して説明する。図１は本発明の第１の実施形態である蛍
光表示管の構成を模式的に表す平面図である。蛍光表示
管１は、透明なガラス管３の中に２列に並べられた１６
個の半導体チップ２を備え、真空にされている。各チッ
プ２は５．４×５．６ｍｍの大きさであり、正方形の表
示部２ａと１端縁に沿う入出力部２ｂを有している。

【００２５】半導体チップ２の平面図を図３に示す。チ
ップ２の上面には、表示部２ａを成す２５６個の画素１
１、および入出力部２ｂを成す１１個の入出力端子１２
が形成されている。各画素１１は略０．２×０．２ｍｍ
の大きさを有しており、等間隔で１６×１６のマトリク
ス状に配列されている。最も外側の画素からチップの端
縁まで距離は画素間隔の略１／２に設定されている。こ
のため、チップ２同士を接して図１のように配列したと
き、全ての画素間隔が等しくなり、全体として切れ目の
ない像を表示することができる。

【００２６】入出力端子１２は、電力供給端子、信号供
給端子の各入力端子のほか接地端子と出力端子１２ａを
含んでいる。出力端子１２ａは、後述するように、チッ
プ２に形成されている駆動回路の検査に用いる検査端子
である。

【００２７】図２に蛍光表示管１の断面の一部を示す。
ガラス基板３ａ上に半導体チップ２が固定設置され、そ
の上方に複数本の熱陰極４が平行に配設されている。チ
ップ２と熱陰極４の間には、表示部２ａ全体を覆う１枚
のグリッド５が設けられている。チップ２、熱陰極４お
よびグリッド５は、ガラス基板３ａとともにガラス管３
を成すガラス板３ｂ、３ｃで囲われて、環境を真空にさ
れている。

【００２８】半導体チップ２の内部には、画素１１とな
る位置に、２５６個の駆動回路１３が形成されいる。各
駆動回路１３の上部には電極１４が形成されており、電
極１４には駆動回路１３の出力電圧が与えられる。各電
極１４の上面には、蛍光体１５が付着されており、駆動
回路１３、電極１４および蛍光体１５の１組で１つの発
光部が構成されている。

【００２９】熱陰極４が発する熱電子はグリッド５を透
過して蛍光体１５に衝突し、蛍光体１５を発光させる。
熱電子が蛍光体１５に衝突するか否かは電極１４の電圧
に応じて変わり、蛍光体１５の発光は、駆動電圧によっ
て発光部ごとにすなわち画素ごとに制御することができ
る。蛍光体１５は、駆動回路１３が駆動電圧を出力して
いる間は継続して発光し、駆動回路１３が駆動電圧を出
力しなくなると発光を停止する。

【００３０】半導体チップ２の図示しない部位には制御
回路が設けられている。全ての駆動回路１３はこの制御
回路および電力供給端子に接続されており、制御回路か
ら与えられる制御信号によって出力動作を制御される。
制御回路は信号供給端子に接続されており、信号供給端
子を介して外部から与えられる信号に応じて各駆動回路
１３を制御する。これにより、適切な画素１１が選択さ
れて発光し、像が表示される。

【００３１】上記半導体チップ２においては、各発光部
ごとに駆動回路１３の検査用の２入力論理積回路が設け
られており、全ての論理積回路を出力端子と入力端子間
で順に接続して、多段論理積回路が形成されている。多
段論理積回路の構成を図４に示す。

【００３２】多段論理積回路２０の各段の論理積回路２
１の一方の入力端子には駆動回路１３の出力が接続さ
れ、他方の入力端子には、最前段を除き、前段の出力端
子が接続されている。最前段の他方の入力端子には、各
駆動回路１３が出力する駆動電圧と同電圧の電源ライン
１８に接続されている。最後段の論理積回路２１の出力
は前述の検査端子１２ａに接続されている。

【００３３】各段の論理積回路２１は２つの入力の論理
積をとって、演算結果が真のときは、駆動回路１３が出
力する駆動電圧に等しい電圧を、演算結果が偽のとき
は、グランド電圧を出力端子に出力する。最後段の論理
積回路２１の出力は、全ての駆動回路１３が駆動電圧を
出力しているときに限りそれと同電圧になり、いずれか
１つの駆動回路でも駆動電圧を出力しないときにはグラ
ンド電圧となる。

【００３４】上記多段論理積回路２０を備える半導体チ
ップ２は、駆動回路１３の形成後任意の時に、駆動回路
１３の動作を検査することができる。検査は次のように
行う。まず、全ての駆動回路１３に駆動電圧の出力を命
じる制御信号を与え、検査端子１２ａの電圧を測定す
る。これで駆動電圧が検出されれば、全ての駆動回路１
３が駆動電圧を出力し得ることが判る。逆にグランド電
圧が検出されれば、いずれか１つまたは複数の駆動回路
が、回路内に接続不良がある等何らかの理由によって、
駆動電圧を出力し得ない不良回路であることが判る。こ
の検査で全駆動回路１３の動作時の良否をまとめて調べ
ることができる。

【００３５】上記動作時の検査で不良でないときは、１
つの駆動回路１３に駆動電圧の出力を禁じる制御信号を
与え、他の全ての駆動回路１３に駆動電圧の出力を命じ
る制御信号を与えて、検査端子１２ａの電圧を測定す
る。これでグランド電圧が検出されればその１つの駆動
回路は駆動電圧の出力を停止し得ることが判り、逆に駆
動電圧が検出されれば、回路内に短絡がある等何らかの
理由によって、その駆動回路が常時駆動電圧を出力する
不良回路であることが判る。駆動電圧の出力を禁じる制
御信号を与える駆動回路を順に変えていくことにより、
全ての駆動回路１３の非動作時の良否を個別に調べるこ
とができる。

【００３６】このようにして検査を行い、動作時にも非
動作時にも正しく機能する半導体チップ２を図１に示し
たように配列し、熱陰極４やグリッド５を設けて、蛍光
表示管１とする。製品である蛍光表示管１は、実際に発
光を行わせる最終的な検査を受けるが、このとき、駆動
回路１３についての検査を行う必要はない。

【００３７】多段論理積回路２０は表示部２ａ以外の場
所に形成してもよいが、個々の駆動回路１３に論理回路
２１を組み込み、各論理回路２１を配線によって接続し
て多段論理積回路２０とする方が好ましい。前者の構成
では、多段論理積回路の形成を駆動回路の形成と別に行
う必要が生じて製造工程が複雑になる上、多段論理積回
路を形成する領域を半導体チップ２に確保する必要があ
り、チップ２の大型化を招くことになる。後者の構成で
は、各駆動回路１３が僅かに複雑になるだけで、多段論
理積回路を別工程で形成する必要がなく、また、チップ
２の大型化が最小限ですむようになる。

【００３８】上記多段論理積回路２０の変形例を図５に
示す。この多段論理積回路２０ａは駆動回路１３の総数
よりも１つ少ない２５５段からなり、最前段の２つの入
力端子に、２つの駆動回路１３の出力が接続されてい
る。第２段以降の構成は図４と同じである。この多段論
理積回路２０ａにおいても、前述の方法と全く同様にし
て、駆動時の全駆動回路１３の検査をまとめて、非駆動
時の駆動回路１３の検査を個別に行うことができる。

【００３９】本発明の第２の実施形態の蛍光表示管につ
いて説明する。本実施形態の蛍光表示管の構成は、多段
論理積回路に代えて多段論理和回路を半導体チップに備
える点でのみ、第１の実施形態の蛍光表示管１と異な
る。

【００４０】多段論理和回路３０の構成を図６に示す。
２５６個の２入力論理和回路３１が、出力端子と入力端
子間で順に接続されており、最前段の論理和回路３１の
一方の入力端子は接地ライン１９に接続されている。各
段の論理和回路３１の残りの入力端子には駆動回路１３
の出力が接続されている。最後段の論理和回路３１の出
力は検査端子１２ａに接続されている。

【００４１】各段の論理和回路３１は２つの入力の論理
和をとって、演算結果が真のときは、駆動回路１３が出
力する駆動電圧に等しい電圧を、演算結果が偽のとき
は、グランド電圧を出力端子に出力する。最後段の論理
和回路３１の出力は、全ての駆動回路１３が駆動電圧を
出力していないときに限りグランド電圧になり、いずれ
か１つの駆動回路でも駆動電圧を出力しているときには
駆動電圧となる。

【００４２】本実施形態では駆動回路１３の検査を次の
ように行う。まず、全ての駆動回路１３に駆動電圧の出
力を禁じる制御信号を与え、検査端子１２ａの電圧を測
定する。これでグランド電圧が検出されれば、全ての駆
動回路１３が駆動電圧の出力を停止し得ることが判る。
逆に駆動電圧が検出されれば、いずれか１つまたは複数
の駆動回路が、短絡等により常時駆動電圧を出力する不
良回路であることが判る。この検査で全駆動回路１３の
非動作時の良否をまとめて調べることができる。

【００４３】上記非動作時の検査で不良でないときは、
１つの駆動回路１３に駆動電圧の出力を命じる制御信号
を与え、他の全ての駆動回路１３に駆動電圧の出力を禁
じる制御信号を与えて、検査端子１２ａの電圧を測定す
る。これで駆動電圧が検出されればその１つの駆動回路
は駆動電圧を出力し得ることが判り、逆にグランド電圧
が検出されれば、その駆動回路が、接続不良等により駆
動電圧を出力し得ないことが判る。駆動電圧の出力を命
じる制御信号を与える駆動回路を順に変えていくことに
より、全ての駆動回路１３の動作時の良否を個別に調べ
ることができる。

【００４４】本実施形態の多段論理和回路３０において
も、図５に示した変形例の多段論理積回路２０ａと同様
に、論理和回路３１を１段省略し、最前段に２つの駆動
回路１３の出力を接続するようにしてもよい。その変形
例でも、検査方法は上記と全く同じである。

【００４５】本発明の第３の実施形態の蛍光表示管につ
いて説明する。本実施形態の蛍光表示管の構成は、第１
の実施形態の多段論理積回路２０と第２の実施形態の多
段論理和回路３０をともに備え、さらに排他的論理和回
路を１つ備えるものである。これ以外の構成は第１の実
施形態の蛍光表示管１と同じであり、重複する説明は省
略する。

【００４６】図７に本実施形態の多段論理回路の構成を
示す。本実施形態では、多段論理積回路２０と多段論理
和回路３０を並列に配して多段論理回路４０を構成し、
最終段の論理積回路２１の出力を排他的論理和回路４１
の一方の入力端子に、最終段の論理和回路３１の出力を
排他的論理和回路４１の他方の入力端子に接続してい
る。排他的論理和回路４１の出力は検査端子１２ａに接
続されている。

【００４７】排他的論理和回路４１の出力は、多段論理
積回路２０と多段論理積回路３０のいずれか一方が駆動
電圧を出力し他方がグランド電圧を出力するときに駆動
電圧となり、２つの多段論理回路２０、３０がともに駆
動電圧を出力するとき、およびともにグランド電圧を出
力するときに、グランド電圧になる。すなわち、全ての
駆動回路１３が駆動電圧を出力しているときと、全ての
駆動回路１３がグランド電圧を出力しているときに限
り、排他的論理和回路４１の出力はグランド電圧にな
る。

【００４８】本実施形態では駆動回路１３の検査を、次
のように行う。まず、全ての駆動回路１３に駆動電圧の
出力を命じる制御信号を与え、検査端子１２ａの電圧を
測定する。これでグランド電圧が検出されれば、全ての
駆動回路１３が駆動電圧を出力し得ることが判る。逆に
駆動電圧が検出されれば、いずれか１つまたは複数の駆
動回路が、接続不良等により、駆動電圧を出力し得ない
不良回路であることが判る。この検査で全駆動回路１３
の動作時の良否をまとめて調べることができる。

【００４９】次いで、全ての駆動回路１３に駆動電圧の
出力を禁じる制御信号を与え、検査端子１２ａの電圧を
測定する。これでグランド電圧が検出されれば、全ての
駆動回路１３が駆動電圧の出力を停止し得ることが判
る。逆に駆動電圧が検出されれば、いずれか１つまたは
複数の駆動回路が、短絡等により常時駆動電圧を出力す
る不良回路であることが判る。この検査で全駆動回路１
３の非動作時の良否をまとめて調べることができる。

【００５０】以上２回の電圧測定で、全ての駆動回路１
３の動作時と非動作時の良否を検査することができる。
ただし、全ての駆動回路１３が、制御信号にかかわら
ず、常に駆動電圧を出力する不良回路である場合、また
は常に駆動電圧を出力しない不良回路である場合、上記
２回の電圧測定のいずれでもグランド電圧が検出される
ことになる。しかしながら、このような事態はきわめて
稀であり、実際上は生じ得ないといえる。

【００５１】仮に、全駆動回路１３が上記のような不良
回路であったとしても、いずれか１つの駆動回路に他と
異なる動作を命じる制御信号を与えることで、全てが正
常な駆動回路である場合と判別し得る。すなわち、１つ
の駆動回路に駆動電圧の出力を命じる制御信号を与え、
他の駆動回路に駆動電圧の出力を禁じる制御信号を与え
ると、全駆動回路が正常であれば検査端子１２ａに駆動
電圧が現れ、全駆動回路が異常であれば検査端子１２ａ
にグランド電圧が現れる。１つの駆動回路に駆動電圧の
出力を禁じる制御信号を与え、他の駆動回路に駆動電圧
の出力を命じる制御信号を与えても、同様である。

【００５２】したがって、きわめて特殊な場合を含め
て、３回の測定で検査を完了することが可能である。な
お、この３回の測定だけでは隣接する駆動回路１３が短
絡していることは検出できないが、駆動電圧の出力を命
じる制御信号を与える駆動回路を順に変えることで動作
時の良否を個別に検査することができ、駆動電圧の出力
を禁じる制御信号を与える駆動回路を順に変えることで
非動作時の良否を個別に検査することができる。

【００５３】上記の第１〜第３の実施形態の蛍光表示管
では、検査端子１２ａをただ１つ備えるだけで全ての駆
動回路の検査をすることが可能になっており、検査端子
を設けることによる半導体チップの大型化を最小限に抑
えている。また、１端子の電圧のみを測定するものであ
るから、検査に要する時間は短い。

【００５４】多段論理回路２０、３０、４０は、ＬＥＤ
表示装置等にも適用可能であり、発光素子ごとに駆動回
路を備えるあらゆる表示装置において、実際に発光させ
ることなく駆動回路の検査をすることを可能とする。ま
た、表示装置に限らず、２値電圧を出力する複数の電気
回路の検査回路として有用である。

【００５５】

【発明の効果】請求項１の表示装置によるときは、発光
素子の発光を観察または測定することなく、それぞれを
駆動する駆動回路の動作を、多段に接続された論理回路
の出力によって調べることができる。すなわち、駆動回
路の動作を純電気的に検査することができて、肉眼や光
学装置を使用する必要がない。純電気的な検査は容易で
あり、所要時間も短くて済む。特に、発光部を微小に形
成した表示装置や多数の発光部を有する表示装置では、
肉眼や光学装置による場合に比べて、検査労力が著しく
軽減され、検査時間も大幅に短縮される。

【００５６】しかも、最後段の出力のみを利用して検査
することが可能であるから、検査用の出力端子をただ１
つ備えればよく、表示装置の外面上の構成が複雑になら
ない。また、各発光部の構成は同一であるから、駆動回
路と論理回路をただ１種類のみ用意すればよく、回路の
設計や製造が容易である。さらに、表示装置を製品とし
て完成させる前に駆動回路の検査をすることができるか
ら、製造効率も向上する。

【００５７】請求項２の表示装置では、全ての駆動回路
が出力をしていることをただ１回の測定で知ることがで
きる。すなわち、出力すべきときに出力をし得ない駆動
回路が１つでもあればそのことが１回の測定で判り、検
査時間が短い。また、出力すべきでないときに出力を停
止し得るか否かを、個々の駆動回路について調べること
ができる。

【００５８】請求項３の表示装置では、全ての駆動回路
が出力をしていないことをただ１回の測定で知ることが
できる。すなわち、出力をすべきでないときに出力をし
てしまう駆動回路が１つでもあればそのことが１回の測
定で判り、検査時間が短い。また、出力すべきときに出
力し得るか否かを、個々の駆動回路について調べること
ができる。

【００５９】請求項４の表示装置では、全ての駆動回路
が出力をしていることおよび全ての駆動回路が出力をし
ていないことを、それぞれ一回の測定で知ることができ
て、出力すべきときに出力をしない、あるいは出力をす
べきでないときに出力をするという異常動作を一部の駆
動回路がする場合、その異常がきわめて容易に判る。ま
た、出力すべきときに出力し得るか否か、および出力す
べきでないときに出力を停止し得るか否かを、個々の駆
動回路について調べることができる。

【００６０】請求項５の表示装置は、各発光素子を微小
な大きさに形成することや多数の発光部を形成すること
が可能である上、発光素子の輝度が高いため、小型で解
像度が高くかつ明るい表示装置が得られる。しかも、従
来の蛍光表示管では困難であった装置完成前の駆動回路
の検査が容易になり、製造効率が大幅に向上する。

【００６１】請求項６の検査回路によるときは、複数の
電気回路の動作の良否をまとめて検査することができ
る。しかも、多段論理回路の最後段の出力のみで検査結
果を表すから、出力端子は１つだけ設ければよく、検査
回路の外面上の構成が簡素である。また、各論理演算回
路は最も基本的な２入力回路であるから、多段論理回路
の構成は簡素であり、製造が容易である。

【００６２】請求項７の検査回路では、全電気回路の動
作時の良否を、１回の測定で、きわめて短時間に検査す
ることができる。しかも、電気回路の非動作時の良否を
個別に検査することも可能であるから、短絡等により非
動作時の出力が異常になる電気回路が１つある場合、そ
の電気回路を特定することができる。

【００６３】請求項８の検査回路では、全電気回路の非
動作時の良否を、１回の測定で、きわめて短時間に検査
することができる。しかも、電気回路の動作時の良否を
個別に検査することも可能であるから、接続不良等によ
り動作時の出力が異常になる電気回路が１つある場合、
その電気回路を特定することができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】 第１の実施形態の蛍光表示管の構成を示す平
面図。

【図２】 上記蛍光表示管の部分断面図。

【図３】 上記蛍光表示管に用いられる半導体チップの
平面図。

【図４】 上記半導体チップに形成された多段論理積回
路の構成を示す図。

【図５】 多段論理積回路の変形例の構成を示す図。

【図６】 第２の実施形態の多段論理和回路の構成を示
す図。

【図７】 第３の実施形態の多段論理回路の構成を示す
図。

【符号の説明】

１ 蛍光表示管 ２ 半導体チップ ２ａ 表示部 ２ｂ 入出力部 ３ ガラス管 ４ 熱陰極 ５ グリッド １１ 画素 １２ 入出力端子 １２ａ 検査端子 １３ 駆動回路 １４ 電極 １５ 蛍光体 ２０ 多段論理積回路 ２０ａ 多段論理積回路 ２１ 論理積回路 ３０ 多段論理和回路 ３１ 論理和回路 ４０ 多段論理回路 ４１ 排他的論理和回路

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.⁶ 識別記号 ＦＩ Ｈ０１Ｊ 31/15 Ｈ０１Ｊ 31/15 Ａ

Claims (8)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 発光素子とその駆動回路から成る発光部
   を複数有する表示装置において、 第１の入力端子、第２の入力端子および出力端子を有
   し、第１の入力端子への入力と第２の入力端子への入力
   の論理演算を行って演算結果を出力端子に出力する論理
   回路を各発光部に備え、 発光部ごとに駆動回路の出力端子を論理回路の第１の入
   力端子に接続し、 発光部間で論理回路の出力端子を論理回路の第２の入力
   端子に接続して論理回路を多段に接続したことを特徴と
   する表示装置。
2. 【請求項２】 各発光部の論理回路は論理積回路である
   ことを特徴とする請求項１に記載の表示装置。
3. 【請求項３】 各発光部の論理回路は論理和回路である
   ことを特徴とする請求項１に記載の表示装置。
4. 【請求項４】 前記多段に接続した論理回路を２組備
   え、一方の組の論理回路を全て論理積回路とし、他方の
   組の論理回路を全て論理和回路とし、各組の最後段の論
   理回路の出力端子を排他的論理和回路の入力端子に接続
   したことを特徴とする請求項１に記載の表示装置。
5. 【請求項５】 各発光素子を蛍光発光体により構成し、
   前記複数の発光部を真空の管内に収容して蛍光表示管と
   したことを特徴とする請求項１に記載の表示装置。
6. 【請求項６】 動作時に第１の電圧、非動作時に第１の
   電圧よりも低い第２の電圧を出力する複数の電気回路を
   検査する検査回路において、 演算結果に応じて前記第１または第２の電圧を出力する
   同種の２入力論理演算回路を順に接続した多段論理回路
   を備えて、各段の入力に順に前記複数の電気回路の出力
   を接続し、最前段の入力に前記第１または第２の電圧を
   与えて、最後段の出力電圧により前記複数の電気回路の
   良否を表すことを特徴とする検査回路。
7. 【請求項７】 前記２入力論理演算回路は論理積回路で
   あり、最前段の入力に前記第１の電圧を与えて、 全電気回路を動作させた状態での最後段の出力電圧によ
   り電気回路の動作時の良否をまとめて表し、１つの電気
   回路のみを動作させない状態での最後段の出力電圧によ
   り電気回路の非動作時の良否を個別に表すことを特徴と
   する請求項６に記載の検査回路。
8. 【請求項８】 前記２入力論理演算回路は論理和回路で
   あり、最前段の入力に前記第２の電圧を与えて、 全電気回路を動作させない状態での最後段の出力電圧に
   より電気回路の非動作時の良否をまとめて表し、１つの
   電気回路のみを動作させた状態での最後段の出力電圧に
   より電気回路の動作時の良否を個別に表すことを特徴と
   する請求項６に記載の検査回路。