JPH10241362A - 同期型半導体記憶装置及び論理半導体装置 - Google Patents
同期型半導体記憶装置及び論理半導体装置Info
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- JPH10241362A JPH10241362A JP9040945A JP4094597A JPH10241362A JP H10241362 A JPH10241362 A JP H10241362A JP 9040945 A JP9040945 A JP 9040945A JP 4094597 A JP4094597 A JP 4094597A JP H10241362 A JPH10241362 A JP H10241362A
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- G11C—STATIC STORES
- G11C7/00—Arrangements for writing information into, or reading information out from, a digital store
- G11C7/10—Input/output [I/O] data interface arrangements, e.g. I/O data control circuits, I/O data buffers
- G11C7/1072—Input/output [I/O] data interface arrangements, e.g. I/O data control circuits, I/O data buffers for memories with random access ports synchronised on clock signal pulse trains, e.g. synchronous memories, self timed memories
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- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C7/00—Arrangements for writing information into, or reading information out from, a digital store
- G11C7/22—Read-write [R-W] timing or clocking circuits; Read-write [R-W] control signal generators or management
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 ストロボ信号をトリガーに利用する同期型D
RAMにおいて、ストロボ信号の数を削減する。 【解決手段】 各モジュールにおいて、隣合った2個の
メモリチップMC(i−1),MCiを1組として、当
該1組毎からストロボ信号QSを出力させる。各組にお
いて、第2メモリチップMCiは、隣の第1メモリチッ
プMC(i−1)に入力するデータマスク信号DQM
(i−1)をデータマスク制御信号DQMCiとして受
け取り、両信号DQMi,DQMCiが共に活性化され
たときに、ストロボ信号QSの出力を停止する。各メモ
リチップMCiは、マスク信号DQMiを受けて、その
データ出力を停止する。
RAMにおいて、ストロボ信号の数を削減する。 【解決手段】 各モジュールにおいて、隣合った2個の
メモリチップMC(i−1),MCiを1組として、当
該1組毎からストロボ信号QSを出力させる。各組にお
いて、第2メモリチップMCiは、隣の第1メモリチッ
プMC(i−1)に入力するデータマスク信号DQM
(i−1)をデータマスク制御信号DQMCiとして受
け取り、両信号DQMi,DQMCiが共に活性化され
たときに、ストロボ信号QSの出力を停止する。各メモ
リチップMCiは、マスク信号DQMiを受けて、その
データ出力を停止する。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】この発明は、同期型半導体記
憶装置及び論理半導体装置に関するものであり、特に、
外部から周期的に与えられるシステムクロック信号に同
期してマスク信号等の外部信号の取込を行なうと共に、
上記システムクロック信号の両エッジに同期してデータ
の入出力を行い且つ外部へストロボ信号を出力する、同
期型半導体記憶装置のマスク制御の技術に関している。
より特定的には、この発明は、ランダムにアクセス可能
な同期型ダイナミックランダムアクセスメモリ(以下、
SDRAMと称す)及びメモリモジュールのマスク制御
に適用して好適な技術に関する。
憶装置及び論理半導体装置に関するものであり、特に、
外部から周期的に与えられるシステムクロック信号に同
期してマスク信号等の外部信号の取込を行なうと共に、
上記システムクロック信号の両エッジに同期してデータ
の入出力を行い且つ外部へストロボ信号を出力する、同
期型半導体記憶装置のマスク制御の技術に関している。
より特定的には、この発明は、ランダムにアクセス可能
な同期型ダイナミックランダムアクセスメモリ(以下、
SDRAMと称す)及びメモリモジュールのマスク制御
に適用して好適な技術に関する。
【0002】
【従来の技術】主記憶装置として用いられるダイナミッ
クランダムアクセスメモリ(以下、DRAMと称す)は
高速化されてきているものの、その動作速度は、依然、
マイクロプロセッサ(以下、MPUと称す)の動作速度
に追随することができない状況にある。このため、DR
AMのアクセスタイム及びサイクルタイムがボトルネッ
クとなり、システム全体の性能が低下するということが
よく言われる。しかし、近年では、高速MPU用の主記
憶装置として、外部からのシステムクロック信号に同期
して動作するSDRAMが提案されている。
クランダムアクセスメモリ(以下、DRAMと称す)は
高速化されてきているものの、その動作速度は、依然、
マイクロプロセッサ(以下、MPUと称す)の動作速度
に追随することができない状況にある。このため、DR
AMのアクセスタイム及びサイクルタイムがボトルネッ
クとなり、システム全体の性能が低下するということが
よく言われる。しかし、近年では、高速MPU用の主記
憶装置として、外部からのシステムクロック信号に同期
して動作するSDRAMが提案されている。
【0003】SDRAMにおいては、高速アクセスを実
現するために、システムクロック信号に同期して連続し
たアクセス、例えば1つのデータ入出力端子について8
ビットの連続ビットに高速アクセスする仕様が、提案さ
れている。この連続アクセスの仕様を満たす標準的なタ
イミングチャートを、図21及び図22に示す。
現するために、システムクロック信号に同期して連続し
たアクセス、例えば1つのデータ入出力端子について8
ビットの連続ビットに高速アクセスする仕様が、提案さ
れている。この連続アクセスの仕様を満たす標準的なタ
イミングチャートを、図21及び図22に示す。
【0004】両図は、8つのデータ入出力端子のそれぞ
れの8ビットのデータ(即ち、バイトデータ)の入力お
よび出力が可能なSDRAMの動作を示しており、同S
DRAMは、連続して8ビットのデータ(8X8の合計
64ビットのデータ)を書き込み、または読み出す動作
を行う。連続して読み出されるデータのビット数は「バ
ースト長」と呼ばれ、SDRAMではモードレジスタに
よってバースト長を変更することが可能である。
れの8ビットのデータ(即ち、バイトデータ)の入力お
よび出力が可能なSDRAMの動作を示しており、同S
DRAMは、連続して8ビットのデータ(8X8の合計
64ビットのデータ)を書き込み、または読み出す動作
を行う。連続して読み出されるデータのビット数は「バ
ースト長」と呼ばれ、SDRAMではモードレジスタに
よってバースト長を変更することが可能である。
【0005】図21,図22に示すSDRAMにおいて
は、たとえばシステムクロックである外部からのクロッ
ク信号ext.CLKの立ち上がりエッジに同期して、
外部からの制御信号(例えば、ロウアドレスストローブ
信号/RAS、コラムアドレスストローブ信号/CA
S、アドレス信号Add.、ライトイネーブル信号/W
E等)がメモリチップに取り込まれる。
は、たとえばシステムクロックである外部からのクロッ
ク信号ext.CLKの立ち上がりエッジに同期して、
外部からの制御信号(例えば、ロウアドレスストローブ
信号/RAS、コラムアドレスストローブ信号/CA
S、アドレス信号Add.、ライトイネーブル信号/W
E等)がメモリチップに取り込まれる。
【0006】アドレス信号Add.は、行アドレス信号
Xと列アドレス信号Yとが時分割的に多重化されて与え
られる。ロウアドレスストローブ信号/RASが外部ク
ロック信号ext.CLKの立ち上がりエッジにおいて
活性状態の“L”レベルにあれば、そのときのアドレス
信号Add.が行アドレス信号Xaとして取り込まれ
る。
Xと列アドレス信号Yとが時分割的に多重化されて与え
られる。ロウアドレスストローブ信号/RASが外部ク
ロック信号ext.CLKの立ち上がりエッジにおいて
活性状態の“L”レベルにあれば、そのときのアドレス
信号Add.が行アドレス信号Xaとして取り込まれ
る。
【0007】次に、コラムアドレスストローブ信号/C
ASが外部クロック信号ext.CLKの立ち上がりエ
ッジにおいて活性状態の“L”レベルにあれば、そのと
きのアドレス信号Add.が列アドレスYbとして取り
込まれる。この取り込まれた行アドレス信号Xaおよび
列アドレス信号Ybに従って、SDRAMのメモリチッ
プ内における行および列の選択動作が実施される。
ASが外部クロック信号ext.CLKの立ち上がりエ
ッジにおいて活性状態の“L”レベルにあれば、そのと
きのアドレス信号Add.が列アドレスYbとして取り
込まれる。この取り込まれた行アドレス信号Xaおよび
列アドレス信号Ybに従って、SDRAMのメモリチッ
プ内における行および列の選択動作が実施される。
【0008】列アドレスストローブ信号/CASが”
L”レベルに立ち下がってから所定のクロック期間(図
21においては、上記期間は3クロックサイクル)が経
過した後、最初の8ビットデータD/Qが出力される。
このコラムアドレスストローブ信号/CASが”L”レ
ベルに立ち下がってからデータD/Qが出力されるまで
のクロック数は、「カスレイテンシ」と呼ばれ、バース
ト長と同様に、モードレジスタによってこれを設定する
ことができる。以降、クロック信号ext.CLKの立
ち上がりに応答してデータq1〜q7が順次に出力され
る。
L”レベルに立ち下がってから所定のクロック期間(図
21においては、上記期間は3クロックサイクル)が経
過した後、最初の8ビットデータD/Qが出力される。
このコラムアドレスストローブ信号/CASが”L”レ
ベルに立ち下がってからデータD/Qが出力されるまで
のクロック数は、「カスレイテンシ」と呼ばれ、バース
ト長と同様に、モードレジスタによってこれを設定する
ことができる。以降、クロック信号ext.CLKの立
ち上がりに応答してデータq1〜q7が順次に出力され
る。
【0009】書き込み動作時においては、行アドレス信
号Xcの取り込みは、上記のデータ読み出し時と同様で
ある。クロック信号ext.CLKの立ち上がりエッジ
時において、コラムアドレスストローブ信号/CASお
よびライトイネーブル信号/WEが共に活性状態の”
L”レベルにあれば、列アドレス信号Ydが取り込まれ
るとともに、そのときに与えられていたデータd0が最
初の書き込みデータとして取り込まれる。これらの外部
制御信号/RASおよび/CASの立ち下がりに応答し
て、SDRAM内部においては、行および列の選択動作
が実行される。以降、クロック信号ext.CLKに同
期して順次に入力データd1,…d7が取り込まれ、こ
れらの入力データd1〜d7が順次に各メモリセル内に
書き込まれる。
号Xcの取り込みは、上記のデータ読み出し時と同様で
ある。クロック信号ext.CLKの立ち上がりエッジ
時において、コラムアドレスストローブ信号/CASお
よびライトイネーブル信号/WEが共に活性状態の”
L”レベルにあれば、列アドレス信号Ydが取り込まれ
るとともに、そのときに与えられていたデータd0が最
初の書き込みデータとして取り込まれる。これらの外部
制御信号/RASおよび/CASの立ち下がりに応答し
て、SDRAM内部においては、行および列の選択動作
が実行される。以降、クロック信号ext.CLKに同
期して順次に入力データd1,…d7が取り込まれ、こ
れらの入力データd1〜d7が順次に各メモリセル内に
書き込まれる。
【0010】このように、SDRAMの動作は、従来の
DRAMにおける方式、即ち、ロウアドレスストローブ
信号/RASおよびコラムアドレスストローブ信号/C
ASという外部制御信号に同期してアドレス信号および
入力データなどを取り込んで動作させる方式と異なって
おり、SDRAMにおいては、外部から与えられるシス
テムクロック信号ext.CLKの立ち上がりエッジ時
に、各アドレスストローブ信号/RAS,/CAS,ア
ドレス信号Add.,ライトイネーブル信号WEおよび
入力データD/Qなどの外部信号を取り込む。
DRAMにおける方式、即ち、ロウアドレスストローブ
信号/RASおよびコラムアドレスストローブ信号/C
ASという外部制御信号に同期してアドレス信号および
入力データなどを取り込んで動作させる方式と異なって
おり、SDRAMにおいては、外部から与えられるシス
テムクロック信号ext.CLKの立ち上がりエッジ時
に、各アドレスストローブ信号/RAS,/CAS,ア
ドレス信号Add.,ライトイネーブル信号WEおよび
入力データD/Qなどの外部信号を取り込む。
【0011】以上の様に、外部からのクロック信号に同
期させて外部からの制御信号およびデータの取り込みや
データの読み出し動作を実行することの利点とは、アド
レス信号のスキュー(タイミングのずれ)に起因した、
データ入出力時間に対するマージンを確保する必要性を
なくして、サイクルタイムを短縮することができること
等にある。このような同期動作を実行することができれ
ば、連続アクセスタイムを高速化することが可能とな
る。
期させて外部からの制御信号およびデータの取り込みや
データの読み出し動作を実行することの利点とは、アド
レス信号のスキュー(タイミングのずれ)に起因した、
データ入出力時間に対するマージンを確保する必要性を
なくして、サイクルタイムを短縮することができること
等にある。このような同期動作を実行することができれ
ば、連続アクセスタイムを高速化することが可能とな
る。
【0012】このようなSDRAMを使用したシステム
の一例を、図20のブロック図に模式的に示す。本シス
テムは、システムクロック信号ext.CLKを発生す
るクロックジェネレータ2P、メモリコントローラ3
P、SDRAM装置(メモリ)1Pからなる。メモリコ
ントローラ3Pもメモリ1Pも、システムクロック信号
ext.CLKをトリガーにして、データの転送を行
う。図20中、符号4Pは、上述した外部の制御信号及
びデータを総称的に示している。
の一例を、図20のブロック図に模式的に示す。本シス
テムは、システムクロック信号ext.CLKを発生す
るクロックジェネレータ2P、メモリコントローラ3
P、SDRAM装置(メモリ)1Pからなる。メモリコ
ントローラ3Pもメモリ1Pも、システムクロック信号
ext.CLKをトリガーにして、データの転送を行
う。図20中、符号4Pは、上述した外部の制御信号及
びデータを総称的に示している。
【0013】しかしながら、図20〜図22の構成のS
DRAMでは、動作周波数が高速になればなる程に、各
モジュール間ないし各素子間における信号の遅延時間が
無視できなくなるという問題を生じさせる。例えば、メ
モリコントローラ3Pからそれぞれのモジュールのメモ
リチップにアクセスした場合、システムクロック信号e
xt.CLKがそれぞれのメモリチップに伝達するまで
の時間差と、それぞれのメモリチップからメモリコント
ローラ3Pへ出力されたデータ間の時間差との和が、メ
モリコントローラ3Pがデータを受け取るときにスキュ
ーとして現れる。
DRAMでは、動作周波数が高速になればなる程に、各
モジュール間ないし各素子間における信号の遅延時間が
無視できなくなるという問題を生じさせる。例えば、メ
モリコントローラ3Pからそれぞれのモジュールのメモ
リチップにアクセスした場合、システムクロック信号e
xt.CLKがそれぞれのメモリチップに伝達するまで
の時間差と、それぞれのメモリチップからメモリコント
ローラ3Pへ出力されたデータ間の時間差との和が、メ
モリコントローラ3Pがデータを受け取るときにスキュ
ーとして現れる。
【0014】そこで、このスキューを減らすために、デ
ータの出力時に同時にトリガー用の信号であるストロボ
信号QSPを各メモリチップがメモリコントローラに対
して出力する機能を、上述のSDRAMに付加する構成
が、提案されている。そのようなSDRAMを利用した
システムの構成を図23に、そのSDRAMの各メモリ
チップの動作のタイミングの一例を図25に、それぞれ
示す。
ータの出力時に同時にトリガー用の信号であるストロボ
信号QSPを各メモリチップがメモリコントローラに対
して出力する機能を、上述のSDRAMに付加する構成
が、提案されている。そのようなSDRAMを利用した
システムの構成を図23に、そのSDRAMの各メモリ
チップの動作のタイミングの一例を図25に、それぞれ
示す。
【0015】図25のシステム動作の一例は、データの
読出し時にデータ出力にマスクをかける場合、即ちデー
タマスクの制御動作を示している。このSDRAMは、
図20の場合とは異なり、システムクロック信号ex
t.CLKの両エッジを利用してデータ転送を行う構成
を有する。図25中、DQM,QSは、各々データマス
ク信号、ストロボ信号である。
読出し時にデータ出力にマスクをかける場合、即ちデー
タマスクの制御動作を示している。このSDRAMは、
図20の場合とは異なり、システムクロック信号ex
t.CLKの両エッジを利用してデータ転送を行う構成
を有する。図25中、DQM,QSは、各々データマス
ク信号、ストロボ信号である。
【0016】図23のSDRAM装置1Pの内部構成
を、図24に示す。図24の各メモリチップMCP1〜
MCPnの動作タイミングが、先程の図25である。
を、図24に示す。図24の各メモリチップMCP1〜
MCPnの動作タイミングが、先程の図25である。
【0017】ストロボ信号QSPは、データDQが出力
される前に予め活性化されており、データDQの出力が
終了した段階で、中間電位Hi‐Zに戻る。したがっ
て、図25に示すように、データマスク信号DQMをメ
モリコントローラ3P(図23)より入力してデータの
マスクを実行した時にも、ストロボ信号QSPは中間電
位Hi‐Zに戻る。
される前に予め活性化されており、データDQの出力が
終了した段階で、中間電位Hi‐Zに戻る。したがっ
て、図25に示すように、データマスク信号DQMをメ
モリコントローラ3P(図23)より入力してデータの
マスクを実行した時にも、ストロボ信号QSPは中間電
位Hi‐Zに戻る。
【0018】
【発明が解決しようとする課題】上述したように、各メ
モリチップより、データの出力と共にトリガー用のスト
ロボ信号を出力し、マスクによりデータ出力を終了する
ときにはストロボ信号の出力を停止する、というSDR
AMの構成によれば、スキューの問題は解決され、外部
のメモリコントローラは、転送されてきた各データがど
のメモリチップより出力されたものであるかを明確に認
識することができる。
モリチップより、データの出力と共にトリガー用のスト
ロボ信号を出力し、マスクによりデータ出力を終了する
ときにはストロボ信号の出力を停止する、というSDR
AMの構成によれば、スキューの問題は解決され、外部
のメモリコントローラは、転送されてきた各データがど
のメモリチップより出力されたものであるかを明確に認
識することができる。
【0019】しかしながら、図23〜図25で例示した
構成のSDRAMにおいては、同一モジュール上の各メ
モリチップ毎にストロボ信号QSPをデータDQと共に
出力しているため、モジュール上の配線を増大させてし
まうという問題点を顕出させる。
構成のSDRAMにおいては、同一モジュール上の各メ
モリチップ毎にストロボ信号QSPをデータDQと共に
出力しているため、モジュール上の配線を増大させてし
まうという問題点を顕出させる。
【0020】この発明は、かかる問題点を克服すべくな
されたものであり、その目的は、モジュール上のデータ
ストロボ信号の数を減らすことが可能な同期型半導体記
憶装置のマスク制御技術を提供することにある。
されたものであり、その目的は、モジュール上のデータ
ストロボ信号の数を減らすことが可能な同期型半導体記
憶装置のマスク制御技術を提供することにある。
【0021】
【課題を解決するための手段】請求項1記載の同期型半
導体記憶装置は、同一モジュール内に順次に一列で配列
されており、且つ外部から周期的に与えられる外部クロ
ック信号に同期して制御用の外部信号の取込みを行うと
共に、前記外部クロック信号に同期したデータ転送動作
を行う、複数の同期型メモリチップを備え、前記複数の
同期型メモリチップは、それぞれ、前記外部信号の一つ
として、前記データ転送動作の禁止を指示するデータマ
スク信号を受けて当該データ出力を停止すると共に、前
記複数の同期型メモリチップの内で1個以上の第2メモ
リチップと定義されるメモリチップは、当該第2メモリ
チップ用の前記データマスク信号と当該第2メモリチッ
プ以外の1個以上の第1メモリチップと定義されるメモ
リチップ用の前記データマスク信号とに基づいて、前記
第1及び第2メモリチップのデータ転送動作が共に出力
停止状態へ移行するのを検出することを特徴とする。
導体記憶装置は、同一モジュール内に順次に一列で配列
されており、且つ外部から周期的に与えられる外部クロ
ック信号に同期して制御用の外部信号の取込みを行うと
共に、前記外部クロック信号に同期したデータ転送動作
を行う、複数の同期型メモリチップを備え、前記複数の
同期型メモリチップは、それぞれ、前記外部信号の一つ
として、前記データ転送動作の禁止を指示するデータマ
スク信号を受けて当該データ出力を停止すると共に、前
記複数の同期型メモリチップの内で1個以上の第2メモ
リチップと定義されるメモリチップは、当該第2メモリ
チップ用の前記データマスク信号と当該第2メモリチッ
プ以外の1個以上の第1メモリチップと定義されるメモ
リチップ用の前記データマスク信号とに基づいて、前記
第1及び第2メモリチップのデータ転送動作が共に出力
停止状態へ移行するのを検出することを特徴とする。
【0022】請求項2記載の同期型半導体記憶装置で
は、請求項1記載の同期型半導体記憶装置において、前
記複数の同期型メモリチップは前記第1及び第2メモリ
チップから成る複数の組から成り、前記複数の組の各々
について、前記第2メモリチップが、前記データ転送の
前に活性化されているトリガー用のストロボ信号を外部
へ出力する機能を有し、且つ、前記第2メモリチップ
は、前記第1メモリチップ用の前記データマスク信号を
データマスク制御信号として受取り、前記第2メモリチ
ップ用の前記データマスク信号及び前記データマスク制
御信号が共に前記外部クロック信号に同期して活性化さ
れたときにのみ、前記ストロボ信号の出力を停止するこ
とを特徴とする。
は、請求項1記載の同期型半導体記憶装置において、前
記複数の同期型メモリチップは前記第1及び第2メモリ
チップから成る複数の組から成り、前記複数の組の各々
について、前記第2メモリチップが、前記データ転送の
前に活性化されているトリガー用のストロボ信号を外部
へ出力する機能を有し、且つ、前記第2メモリチップ
は、前記第1メモリチップ用の前記データマスク信号を
データマスク制御信号として受取り、前記第2メモリチ
ップ用の前記データマスク信号及び前記データマスク制
御信号が共に前記外部クロック信号に同期して活性化さ
れたときにのみ、前記ストロボ信号の出力を停止するこ
とを特徴とする。
【0023】請求項3記載の同期型半導体記憶装置で
は、請求項2記載の前記データマスク信号と前記データ
マスク制御信号とを受け、前記データマスク信号によ
り、データ出力を停止し、前記データマスク信号及び前
記データマスク制御信号により、前記ストロブ信号を停
止する機能を有することを特徴とする。
は、請求項2記載の前記データマスク信号と前記データ
マスク制御信号とを受け、前記データマスク信号によ
り、データ出力を停止し、前記データマスク信号及び前
記データマスク制御信号により、前記ストロブ信号を停
止する機能を有することを特徴とする。
【0024】請求項4記載の同期型半導体記憶装置で
は、請求項1記載の同期型半導体記憶装置において、前
記複数の同期型メモリチップの数をn(n≧2)とする
と、第1番目の前記メモリチップは、当該メモリチップ
用の前記データマスク信号と常に活性化状態にある当該
メモリチップ用のデータマスク制御信号とを受けて、前
記データマスク信号及びデータマスク制御信号が共に前
記外部クロック信号に同期して活性化されたときにの
み、活性化レベルにある信号を第2番目の前記メモリチ
ップ用の前記データマスク制御信号として前記第2番目
の前記メモリチップに出力し、前記第2番目から第(n
−1)番目までの任意の第i番目の前記メモリチップ
は、(i−1)番目の前記メモリチップが出力する前記
i番目のメモリチップ用の前記データマスク制御信号
と、前記第i番目のメモリチップ用の前記データマスク
信号とが、共に前記外部クロック信号に同期して活性化
されたときにのみ、前記活性化レベルにある(i+1)
番目の前記メモリチップ用の前記データマスク制御信号
を前記(i+1)番目のメモリチップに出力すると共
に、第n番目の前記メモリチップのみが、前記データ転
送の前に活性化されているトリガー用のストロボ信号を
外部へ出力する機能を有し、且つ、第n番目の前記メモ
リチップは、第(n−1)番目の前記メモリチップが出
力する前記n番目のメモリチップ用の前記データマスク
制御信号と、前記第n番目のメモリチップ用の前記デー
タマスク信号とが、共に前記外部クロック信号に同期し
て活性化されたときにのみ、前記ストロボ信号の前記出
力を停止することを特徴とする。
は、請求項1記載の同期型半導体記憶装置において、前
記複数の同期型メモリチップの数をn(n≧2)とする
と、第1番目の前記メモリチップは、当該メモリチップ
用の前記データマスク信号と常に活性化状態にある当該
メモリチップ用のデータマスク制御信号とを受けて、前
記データマスク信号及びデータマスク制御信号が共に前
記外部クロック信号に同期して活性化されたときにの
み、活性化レベルにある信号を第2番目の前記メモリチ
ップ用の前記データマスク制御信号として前記第2番目
の前記メモリチップに出力し、前記第2番目から第(n
−1)番目までの任意の第i番目の前記メモリチップ
は、(i−1)番目の前記メモリチップが出力する前記
i番目のメモリチップ用の前記データマスク制御信号
と、前記第i番目のメモリチップ用の前記データマスク
信号とが、共に前記外部クロック信号に同期して活性化
されたときにのみ、前記活性化レベルにある(i+1)
番目の前記メモリチップ用の前記データマスク制御信号
を前記(i+1)番目のメモリチップに出力すると共
に、第n番目の前記メモリチップのみが、前記データ転
送の前に活性化されているトリガー用のストロボ信号を
外部へ出力する機能を有し、且つ、第n番目の前記メモ
リチップは、第(n−1)番目の前記メモリチップが出
力する前記n番目のメモリチップ用の前記データマスク
制御信号と、前記第n番目のメモリチップ用の前記デー
タマスク信号とが、共に前記外部クロック信号に同期し
て活性化されたときにのみ、前記ストロボ信号の前記出
力を停止することを特徴とする。
【0025】請求項5記載の同期型半導体記憶装置で
は、請求項4記載のn個の同期型メモリチップの順列
を、同一モジュール内に複数有することを特徴とする。
は、請求項4記載のn個の同期型メモリチップの順列
を、同一モジュール内に複数有することを特徴とする。
【0026】請求項6記載の同期型半導体記憶装置で
は、請求項4及び5の複数の同期型メモリチップを実現
するため、前記データマスク信号とデータマスク制御信
号とを受け、前記データマスク制御信号を出力する機能
を有することを特徴とする。
は、請求項4及び5の複数の同期型メモリチップを実現
するため、前記データマスク信号とデータマスク制御信
号とを受け、前記データマスク制御信号を出力する機能
を有することを特徴とする。
【0027】請求項7記載の同期型半導体記憶装置で
は、請求項2ないし6のいずれかに記載の同期型半導体
記憶装置において、前記第1及び第2メモリチップは、
前記外部クロック信号を2逓倍して内部クロック信号を
生成し、前記内部クロック信号の一方のエッジに同期し
て前記第1及びデータマスク制御信号が共に活性化され
たか否かを検出することを特徴とする。
は、請求項2ないし6のいずれかに記載の同期型半導体
記憶装置において、前記第1及び第2メモリチップは、
前記外部クロック信号を2逓倍して内部クロック信号を
生成し、前記内部クロック信号の一方のエッジに同期し
て前記第1及びデータマスク制御信号が共に活性化され
たか否かを検出することを特徴とする。
【0028】請求項8記載の論理半導体装置では、複数
のデータマスク信号が入力され、活性化したデータマス
ク信号の論理により、ストロボ信号を1つまたは複数出
力することを特徴とする。
のデータマスク信号が入力され、活性化したデータマス
ク信号の論理により、ストロボ信号を1つまたは複数出
力することを特徴とする。
【0029】請求項9記載の同期型半導体記憶装置で
は、請求項8記載の論理半導体装置のチップを同一モジ
ュール上に搭載することを特徴とする。
は、請求項8記載の論理半導体装置のチップを同一モジ
ュール上に搭載することを特徴とする。
【0030】
【発明の実施の形態】この発明の特徴点を要約列記すれ
ば、次の2点の通りとなる。
ば、次の2点の通りとなる。
【0031】1.同一モジュール上の別のメモリチップ
のデータマスク信号DQMをデータマスク制御信号DQ
MCとして受け取るバッファ機能を当該メモリチップ内
に設け、当該メモリチップは、データマスク信号DQM
と上記データマスク制御信号DQMCとが両方共に活性
化されたときに、データストロボ信号QSの出力を止め
る。各メモリチップからのデータ出力は、当該メモリチ
ップ用のデータマスク信号DQMが活性化されて入力さ
れたときに停止される。この結果、2個のメモリチップ
の内の一方が、ストロボ信号QSの出力・停止機能を担
う。
のデータマスク信号DQMをデータマスク制御信号DQ
MCとして受け取るバッファ機能を当該メモリチップ内
に設け、当該メモリチップは、データマスク信号DQM
と上記データマスク制御信号DQMCとが両方共に活性
化されたときに、データストロボ信号QSの出力を止め
る。各メモリチップからのデータ出力は、当該メモリチ
ップ用のデータマスク信号DQMが活性化されて入力さ
れたときに停止される。この結果、2個のメモリチップ
の内の一方が、ストロボ信号QSの出力・停止機能を担
う。
【0032】2.各メモリチップは、入力するデータマ
スク信号DQM,データマスク制御信号DQMCの両方
が活性化されたときに活性する信号を隣のメモリチップ
に出力し、この信号を、隣のメモリチップは、データマ
スク制御信号DQMCとして入力する。この結果、同一
モジュール上の最後のメモリチップのみがストロボ信号
QSの出力・停止機能を担う。
スク信号DQM,データマスク制御信号DQMCの両方
が活性化されたときに活性する信号を隣のメモリチップ
に出力し、この信号を、隣のメモリチップは、データマ
スク制御信号DQMCとして入力する。この結果、同一
モジュール上の最後のメモリチップのみがストロボ信号
QSの出力・停止機能を担う。
【0033】以下、上記特徴点1.,2.をそれぞれ実
施の形態1,2として、図面を参照しつつ詳述する。
施の形態1,2として、図面を参照しつつ詳述する。
【0034】(実施の形態1)図1は、本発明の同期型
半導体装置1を用いたメモリシステムの全体構成を模式
的に示すブロック図である。同図において、クロックジ
ェネレータ2は、システムクロック信号ext.CLK
(以下、外部クロック信号と称す)を、メモリコントロ
ーラ3,同期型半導体装置(ここでは、SDRAM)1
へ出力する。外部のメモリコントローラ3は、SDRA
M1内の各モジュール上の各メモリチップに対して、外
部制御信号4や書き込み時のデータ信号を出力すると共
に、各メモリチップが出力するデータを受け取る。又、
同コントローラ3は、各モジュールから、データ出力動
作に際して、データ出力前に活性化されて出力される、
トリガー用のストロボ信号QSをも受け取る。
半導体装置1を用いたメモリシステムの全体構成を模式
的に示すブロック図である。同図において、クロックジ
ェネレータ2は、システムクロック信号ext.CLK
(以下、外部クロック信号と称す)を、メモリコントロ
ーラ3,同期型半導体装置(ここでは、SDRAM)1
へ出力する。外部のメモリコントローラ3は、SDRA
M1内の各モジュール上の各メモリチップに対して、外
部制御信号4や書き込み時のデータ信号を出力すると共
に、各メモリチップが出力するデータを受け取る。又、
同コントローラ3は、各モジュールから、データ出力動
作に際して、データ出力前に活性化されて出力される、
トリガー用のストロボ信号QSをも受け取る。
【0035】図1に示す外部制御信号4とは、例えば図
21,図22に示したロウアドレスストロボ信号(ex
t.)/RAS,コラムアドレスストロボ信号(ex
t.)/CAS,ライトイネーブル信号(ext.)/
WE,アドレス信号(ext.)Add.や、図25に
示したデータマスク信号DQMや、読出し・書込みのコ
マンド信号等を総体的に示すものである。
21,図22に示したロウアドレスストロボ信号(ex
t.)/RAS,コラムアドレスストロボ信号(ex
t.)/CAS,ライトイネーブル信号(ext.)/
WE,アドレス信号(ext.)Add.や、図25に
示したデータマスク信号DQMや、読出し・書込みのコ
マンド信号等を総体的に示すものである。
【0036】又、図1のSDRAM1内の複数個のモジ
ュールMD1,…,MDm(m>1)は、例えば、DI
MM(Dual Inline Memory Module)であっても良い
し、例えば、SIMM(Single Inline Memory Module)
であっても良い。
ュールMD1,…,MDm(m>1)は、例えば、DI
MM(Dual Inline Memory Module)であっても良い
し、例えば、SIMM(Single Inline Memory Module)
であっても良い。
【0037】本SDRAM装置1においてもまた、その
データの読み出し・データの書き込み動作は、基本的に
は、図25に示したものと同一である。即ち、各メモリ
チップにおいては、外部からの各制御信号は、外部クロ
ック信号ext.CLKの立上がりエッジ時に同期して
取り込まれ、データの読出し・書込みは、外部クロック
信号ext.CLKの両エッジに同期している。そし
て、後述する通り、一部のメモリチップのみが、外部ク
ロック信号ext.CLKの両エッジに同期して、デー
タ出力の前に活性化されたストロボ信号QSを出力す
る。
データの読み出し・データの書き込み動作は、基本的に
は、図25に示したものと同一である。即ち、各メモリ
チップにおいては、外部からの各制御信号は、外部クロ
ック信号ext.CLKの立上がりエッジ時に同期して
取り込まれ、データの読出し・書込みは、外部クロック
信号ext.CLKの両エッジに同期している。そし
て、後述する通り、一部のメモリチップのみが、外部ク
ロック信号ext.CLKの両エッジに同期して、デー
タ出力の前に活性化されたストロボ信号QSを出力す
る。
【0038】尚、本実施の形態の説明では、各信号の記
号の前に付したスラッシュ記号は、その信号の活性化レ
ベルが“L”レベル(第1レベル)であることを示して
いる。
号の前に付したスラッシュ記号は、その信号の活性化レ
ベルが“L”レベル(第1レベル)であることを示して
いる。
【0039】本SDRAM装置1は、いわゆるデータマ
スク(DQM)機能を有している。同機能について簡単
に述べれば、データの書き込み指令時には、データマス
ク信号が活性化されると、外部データの一部がマスキン
グされて書き込まれなくなる一方、データの読出し時に
は、データマスク信号が活性化されると、データ出力が
停止される(図2参照)。本装置1では、データの読出
し時のデータマスク機能の場合のストロボ信号QSの出
力とその停止の制御とを、ストロボ信号QSの数の削減
という観点から、取り扱っている。
スク(DQM)機能を有している。同機能について簡単
に述べれば、データの書き込み指令時には、データマス
ク信号が活性化されると、外部データの一部がマスキン
グされて書き込まれなくなる一方、データの読出し時に
は、データマスク信号が活性化されると、データ出力が
停止される(図2参照)。本装置1では、データの読出
し時のデータマスク機能の場合のストロボ信号QSの出
力とその停止の制御とを、ストロボ信号QSの数の削減
という観点から、取り扱っている。
【0040】データストロボ信号QS(以下、単にスト
ロボ信号と称す)の数を減らすための解決策としては、
図3に示すように、2つのメモリチップ毎に、1つのス
トロボ信号QSを出力する構成が考えられる。この構成
は、1つのストロボ信号QSをトリガーにして、2つの
メモリチップ(MC1,MC2他)から出力したデータ
(DQ1,DQ2他)の転送を行うものである。ここで
は、同一モジュール内で一列に配列された各メモリチッ
プから出力されるデータDQ1,…,DQn等が外部の
メモリコントローラ3(図1)に到達するまでの時間に
は、それ程の違いはないということに、着眼している。
ロボ信号と称す)の数を減らすための解決策としては、
図3に示すように、2つのメモリチップ毎に、1つのス
トロボ信号QSを出力する構成が考えられる。この構成
は、1つのストロボ信号QSをトリガーにして、2つの
メモリチップ(MC1,MC2他)から出力したデータ
(DQ1,DQ2他)の転送を行うものである。ここで
は、同一モジュール内で一列に配列された各メモリチッ
プから出力されるデータDQ1,…,DQn等が外部の
メモリコントローラ3(図1)に到達するまでの時間に
は、それ程の違いはないということに、着眼している。
【0041】しかしながら、図3の構成を採用した場
合には、2つのメモリチップの各々に入力される対応し
たデータマスク信号DQM(DQM1,…,DQMn)
が共に活性化されたときにストロボ信号QS(QS1,
…,QS(n/2))の出力を停止する必要があるにも
拘らず、ストロボ信号QSを出力する側のメモリチップ
単体(例えば、メモリチップMC2,MCn)では、他
方のメモリチップ(例えば、メモリチップMC1,MC
(n−1))側のデータ出力状態を知ることができない
ので、かかる状態を判断することはできない。
合には、2つのメモリチップの各々に入力される対応し
たデータマスク信号DQM(DQM1,…,DQMn)
が共に活性化されたときにストロボ信号QS(QS1,
…,QS(n/2))の出力を停止する必要があるにも
拘らず、ストロボ信号QSを出力する側のメモリチップ
単体(例えば、メモリチップMC2,MCn)では、他
方のメモリチップ(例えば、メモリチップMC1,MC
(n−1))側のデータ出力状態を知ることができない
ので、かかる状態を判断することはできない。
【0042】しかも、データのマスク処理は、1バイ
ト毎に設けられ、且つバイトコントロールを行うために
使われるため、外部のメモリコントローラ3(図1)の
側でストロボ信号の出力停止の制御を行うようにするこ
ともできない。
ト毎に設けられ、且つバイトコントロールを行うために
使われるため、外部のメモリコントローラ3(図1)の
側でストロボ信号の出力停止の制御を行うようにするこ
ともできない。
【0043】そこで、本願出願人は、図3の回路の基本
的な技術的思想を採用しつつも、図3の回路の上記問題
点,を解決して、ストロボ信号の数を削減するため
の方法として、図4に示す回路構成のSDRAM1を提
案する。即ち、同一モジュール(MD1,…,MDm)
上に一列に配設されたn(n≧2:8×8ビットの例の
ときには、n=8となる)個のメモリチップを、隣合っ
たメモリチップMC(i−1),MCi(2≦i≦n)
を一組とするn/2個の組に分類する。このとき、各組
において、隣のメモリチップMC(i−1)(これを第
1メモリチップと呼ぶ)のデータマスク信号DQM(i
−1)を、当該メモリチップMCi(これを第2メモリ
チップと称す)のデータマスク制御信号DQMCiとし
て入力して、2つの信号DQMi,DQMCiが共に活
性化されたときに(ここでは、活性化レベルを“H”レ
ベル(第2レベル)としている。)、メモリチップMC
iより出力されているストロボ信号QS(i/2)を中
間電極Hi‐Zに戻すこととする。この場合、各メモリ
チップMCiのデータDQiの出力は、データマスク信
号DQMiのみでコントロールされ、データマスク制御
信号DQMCiとは無関係である。但し、ストロボ信号
QS(i/2)を出力しない側のメモリチップ、即ち第
1メモリチップMC(i−1)のデータマスク制御信号
DQMC(i−1)には、固定電源値を用いる。尚、デ
ータマスク信号,データマスク制御信号,ストロボ信号
を総称するときには、それぞれ記号DQM,DQMC,
QSを用いる。
的な技術的思想を採用しつつも、図3の回路の上記問題
点,を解決して、ストロボ信号の数を削減するため
の方法として、図4に示す回路構成のSDRAM1を提
案する。即ち、同一モジュール(MD1,…,MDm)
上に一列に配設されたn(n≧2:8×8ビットの例の
ときには、n=8となる)個のメモリチップを、隣合っ
たメモリチップMC(i−1),MCi(2≦i≦n)
を一組とするn/2個の組に分類する。このとき、各組
において、隣のメモリチップMC(i−1)(これを第
1メモリチップと呼ぶ)のデータマスク信号DQM(i
−1)を、当該メモリチップMCi(これを第2メモリ
チップと称す)のデータマスク制御信号DQMCiとし
て入力して、2つの信号DQMi,DQMCiが共に活
性化されたときに(ここでは、活性化レベルを“H”レ
ベル(第2レベル)としている。)、メモリチップMC
iより出力されているストロボ信号QS(i/2)を中
間電極Hi‐Zに戻すこととする。この場合、各メモリ
チップMCiのデータDQiの出力は、データマスク信
号DQMiのみでコントロールされ、データマスク制御
信号DQMCiとは無関係である。但し、ストロボ信号
QS(i/2)を出力しない側のメモリチップ、即ち第
1メモリチップMC(i−1)のデータマスク制御信号
DQMC(i−1)には、固定電源値を用いる。尚、デ
ータマスク信号,データマスク制御信号,ストロボ信号
を総称するときには、それぞれ記号DQM,DQMC,
QSを用いる。
【0044】このような構成にすると、外部のメモリコ
ントローラ3(図1)側に特別な制御を要求することな
く、SDRAM1内において、各組の第2メモリチップ
MCiは、隣の第1メモリチップMC(i−1)のデー
タ出力状況と自己のデータ出力状況との両方を、それぞ
れ信号DQMCi,DQMiによって検出することが可
能となる。つまり、バイト毎のコントロールも、ストロ
ボ信号QSのコントロールも、共に可能となる。
ントローラ3(図1)側に特別な制御を要求することな
く、SDRAM1内において、各組の第2メモリチップ
MCiは、隣の第1メモリチップMC(i−1)のデー
タ出力状況と自己のデータ出力状況との両方を、それぞ
れ信号DQMCi,DQMiによって検出することが可
能となる。つまり、バイト毎のコントロールも、ストロ
ボ信号QSのコントロールも、共に可能となる。
【0045】図4の構成によるSDRAM装置の動作タ
イミングの一例を、図5に示す。図5の場合では、便宜
上、外部制御信号4(図1)の内で、ロウアドレススト
ローブ信号ext./RAS,ライトイネーブル信号e
xt./WE,ライト・リード指令信号等を図示してい
ない。図5のタイミングは、データの読出しの場合であ
る。ここでは、データマスク信号DQM、データマスク
制御信号DQMCは、一旦、活性化されると、当該デー
タ読出し期間中は、活性レベルに維持される信号であ
る。このような場合を、ここでは、便宜上、「レベル方
式」と称する。
イミングの一例を、図5に示す。図5の場合では、便宜
上、外部制御信号4(図1)の内で、ロウアドレススト
ローブ信号ext./RAS,ライトイネーブル信号e
xt./WE,ライト・リード指令信号等を図示してい
ない。図5のタイミングは、データの読出しの場合であ
る。ここでは、データマスク信号DQM、データマスク
制御信号DQMCは、一旦、活性化されると、当該デー
タ読出し期間中は、活性レベルに維持される信号であ
る。このような場合を、ここでは、便宜上、「レベル方
式」と称する。
【0046】次に、図4に示した各メモリチップMCi
の具体的な回路構成を、当該回路MCiが図5のタイミ
ング動作を行う場合について、示す。
の具体的な回路構成を、当該回路MCiが図5のタイミ
ング動作を行う場合について、示す。
【0047】図6は、メモリチップMCiの構成を示す
ものであり、同チップMCiは、大別して、メモリ部M
P(図7,図8)と内部コントローラMIC(図9)と
より成る。
ものであり、同チップMCiは、大別して、メモリ部M
P(図7,図8)と内部コントローラMIC(図9)と
より成る。
【0048】図7,図8は、上記メモリ部MPのブロッ
ク図である。同メモリ部MPは、2バンク構成として、
一度に2ビットのデータを読み出すことが可能な2ビッ
ト・プリフェッチ構成のものである。
ク図である。同メモリ部MPは、2バンク構成として、
一度に2ビットのデータを読み出すことが可能な2ビッ
ト・プリフェッチ構成のものである。
【0049】同メモリ部MPのセレクタ7は、2ビット
データをそこから読み出すべき又はそこへ書き込むべ
き、メモリアレイバンク(AO,BO),(A1,B
1)の切り替えを行う。入出力バッファ8は、OEM信
号(φOEM信号とも称す)に応じてデータDQiの入
出力を行う。同バッファ8の内部構成は、後程示される
であろう。
データをそこから読み出すべき又はそこへ書き込むべ
き、メモリアレイバンク(AO,BO),(A1,B
1)の切り替えを行う。入出力バッファ8は、OEM信
号(φOEM信号とも称す)に応じてデータDQiの入
出力を行う。同バッファ8の内部構成は、後程示される
であろう。
【0050】図9は、図6のメモリチップMCi内部の
コントローラMICの構成を示すブロック図であり、同
コントローラMICは、既述した各外部制御信号を受取
るバッファ9と、図7,図8のメモリ部MPへの各種制
御信号を生成する制御信号発生回路10と、ストロボ信
号生成回路12と、クロックバッファ13と、X,Yア
ドレスバッファ14,15と、Yアドレスオペレーショ
ン回路16と、クロックカウンタ17とに大別される。
その内、制御信号発生回路10は、上記OEM信号生成
回路11を有する。尚、図9中で(他の図面中でも)用
いている「ext.」の記号は、外部制御信号の「外
部」を意味する。ext.COM.は、図2に示したリ
ード・ライトのコマンド信号である。
コントローラMICの構成を示すブロック図であり、同
コントローラMICは、既述した各外部制御信号を受取
るバッファ9と、図7,図8のメモリ部MPへの各種制
御信号を生成する制御信号発生回路10と、ストロボ信
号生成回路12と、クロックバッファ13と、X,Yア
ドレスバッファ14,15と、Yアドレスオペレーショ
ン回路16と、クロックカウンタ17とに大別される。
その内、制御信号発生回路10は、上記OEM信号生成
回路11を有する。尚、図9中で(他の図面中でも)用
いている「ext.」の記号は、外部制御信号の「外
部」を意味する。ext.COM.は、図2に示したリ
ード・ライトのコマンド信号である。
【0051】ここで、外部クロック信号ext.CLK
の両エッジを用いている点は、同信号ext.CLKの
立ち上がりエッジと、当該立上がりエッジと次の立ち上
がりエッジとの中間に立上がりエッジとを有するクロッ
クをSDRAM装置1の内部で発生させ、この内部クロ
ックに各信号を同期させることによっても実現可能であ
る。これにより、回路構成を容易とすることができる
し、仮に外部クロック信号ext.CLKが完全にデュ
ーティ50%を有していなかったとしても、その影響を
除去できる。
の両エッジを用いている点は、同信号ext.CLKの
立ち上がりエッジと、当該立上がりエッジと次の立ち上
がりエッジとの中間に立上がりエッジとを有するクロッ
クをSDRAM装置1の内部で発生させ、この内部クロ
ックに各信号を同期させることによっても実現可能であ
る。これにより、回路構成を容易とすることができる
し、仮に外部クロック信号ext.CLKが完全にデュ
ーティ50%を有していなかったとしても、その影響を
除去できる。
【0052】そこで、本装置1では、図9のクロックバ
ッファ13が、外部クロック信号ext.CLKをその
まま出力すると共に、同信号ext.CLKを2逓倍し
ている。即ち、内部クロック信号CLK,CLKx2
は、それぞれ外部クロック信号ext.CLKと同じ周
波数のクロック、外部クロック信号ext.CLKの両
エッジを利用した出力を達成するために使用する上記周
波数の2倍の周波数のクロックである。各クロックex
t.CLK,CLK,CLK×2のタイミングを図10
に示す。
ッファ13が、外部クロック信号ext.CLKをその
まま出力すると共に、同信号ext.CLKを2逓倍し
ている。即ち、内部クロック信号CLK,CLKx2
は、それぞれ外部クロック信号ext.CLKと同じ周
波数のクロック、外部クロック信号ext.CLKの両
エッジを利用した出力を達成するために使用する上記周
波数の2倍の周波数のクロックである。各クロックex
t.CLK,CLK,CLK×2のタイミングを図10
に示す。
【0053】図11は、上記OEM信号生成回路11の
内部構成を示す。同回路11は、8つのラッチLAと、
内部クロックCLK×2により駆動される4つのNMO
SトランジスタNTr1と、その反転クロック/CLK
×2により駆動されるNMOSトランジスタNTr2と
から成る。この回路11によって、データマスク信号D
QM,データマスク制御信号DQMCは、共に外部クロ
ック信号ext.CLKの一周期分だけシフトされる。
内部構成を示す。同回路11は、8つのラッチLAと、
内部クロックCLK×2により駆動される4つのNMO
SトランジスタNTr1と、その反転クロック/CLK
×2により駆動されるNMOSトランジスタNTr2と
から成る。この回路11によって、データマスク信号D
QM,データマスク制御信号DQMCは、共に外部クロ
ック信号ext.CLKの一周期分だけシフトされる。
【0054】同図11に示すOEMf信号は、読み出し
データDQiが出力されるべきタイミングの間、“H”
レベルに活性化される信号である。同信号と各クロック
とのタイミング関係を、図14に示す。したがって、読
み出しコマンドext.COM.(これを/READと
定義する)が入力された後、カスレイテンシ分の内部ク
ロック信号CLKx2のパルス数を図9のカウンタ17
でカウントして、OEMf信号は活性化される。その
後、バースト長分の内部クロック信号CLK×2のパル
ス数をカウンタ17がカウントすると、OEMf信号は
非活性となる。
データDQiが出力されるべきタイミングの間、“H”
レベルに活性化される信号である。同信号と各クロック
とのタイミング関係を、図14に示す。したがって、読
み出しコマンドext.COM.(これを/READと
定義する)が入力された後、カスレイテンシ分の内部ク
ロック信号CLKx2のパルス数を図9のカウンタ17
でカウントして、OEMf信号は活性化される。その
後、バースト長分の内部クロック信号CLK×2のパル
ス数をカウンタ17がカウントすると、OEMf信号は
非活性となる。
【0055】図15に、上記OEMf信号の生成回路を
示す。同回路も図9の回路11の一部分である。図15
中のスイッチSW1は、バースト長の時間経過により入
力を切り換え、スイッチSW2は、カスレイテンシ分の
時間経過によって、その入力を切換える。
示す。同回路も図9の回路11の一部分である。図15
中のスイッチSW1は、バースト長の時間経過により入
力を切り換え、スイッチSW2は、カスレイテンシ分の
時間経過によって、その入力を切換える。
【0056】図12は、図9のストロボ信号生成回路1
2の構成を示す図である。リセット信号/Reset
は、読み出しコマンド/READの入力に応じてデータ
出力前に活性化され、このときOEMS信号は“L”レ
ベルにあるため、ストロボ信号QSが活性化されて出力
される。その後に、データマスク信号DOMとデータマ
スク制御信号DQMCとが活性化されると、OEMS信
号も“H”レベルに活性化されるため(図11参照)、
データストロボ信号QSは中間電位レベルHi−Zに戻
る。
2の構成を示す図である。リセット信号/Reset
は、読み出しコマンド/READの入力に応じてデータ
出力前に活性化され、このときOEMS信号は“L”レ
ベルにあるため、ストロボ信号QSが活性化されて出力
される。その後に、データマスク信号DOMとデータマ
スク制御信号DQMCとが活性化されると、OEMS信
号も“H”レベルに活性化されるため(図11参照)、
データストロボ信号QSは中間電位レベルHi−Zに戻
る。
【0057】図13は、図7の入出力バッファ8の内部
構成を示す図である。OEM信号は、図11の構成より
明らかな通り、データマスク信号DQMiの活性化タイ
ミングに応じて“H”レベルに活性化されると、データ
D/Qiの出力が停止される。
構成を示す図である。OEM信号は、図11の構成より
明らかな通り、データマスク信号DQMiの活性化タイ
ミングに応じて“H”レベルに活性化されると、データ
D/Qiの出力が停止される。
【0058】このように、データ信号D/Qは、データ
マスク信号DQMの活性により制御され、ストロボ信号
QSは、両信号DQM,DQMCが共に活性化されたと
きにのみ、中間電位Hi‐Zに戻る。
マスク信号DQMの活性により制御され、ストロボ信号
QSは、両信号DQM,DQMCが共に活性化されたと
きにのみ、中間電位Hi‐Zに戻る。
【0059】(実施の形態1の変形例)図5で示したレ
ベル方式のデータマスク信号DQM(従って、データマ
スク制御信号DQMC)に代えて、図16に示すような
1shot型のパルスを両信号DQM,DQMCに用い
ても良い。この場合を、「パルス方式」と便宜上称す
る。本実施の形態で言う、「両信号DQM,DQMCが
共に活性化されたとき」とは、図16に示すような1s
hot型のパルスとして両信号DQM,DQMCが活性
化される場合をも含む概念である。
ベル方式のデータマスク信号DQM(従って、データマ
スク制御信号DQMC)に代えて、図16に示すような
1shot型のパルスを両信号DQM,DQMCに用い
ても良い。この場合を、「パルス方式」と便宜上称す
る。本実施の形態で言う、「両信号DQM,DQMCが
共に活性化されたとき」とは、図16に示すような1s
hot型のパルスとして両信号DQM,DQMCが活性
化される場合をも含む概念である。
【0060】このときには、図11に示した回路11
は、図17に示す回路11Aに置き換えられる。その他
は同一である。
は、図17に示す回路11Aに置き換えられる。その他
は同一である。
【0061】(付記)尚、本実施の形態の形態1で述べ
た各信号の活性化レベルを反転した場合でも、本発明は
適用可能である。
た各信号の活性化レベルを反転した場合でも、本発明は
適用可能である。
【0062】又、上記説明では、隣り合うもの同士をそ
れぞれ第1及び第2メモリチップとしたが、複数個のメ
モリチップの内の任意の2つのメモリチップの組み合わ
せで以て、それぞれを第1及び第2メモリチップとして
もよい。
れぞれ第1及び第2メモリチップとしたが、複数個のメ
モリチップの内の任意の2つのメモリチップの組み合わ
せで以て、それぞれを第1及び第2メモリチップとして
もよい。
【0063】(実施の形態2)本実施の形態では、実施
の形態1の図4のように、隣のメモリチップに入力する
データマスク信号DQMをデータマスク制御信号DQM
Cとして入力するのではなく(つまり、2個のメモリチ
ップ毎に1つのストロボ信号を出力するのではなく)、
それぞれのメモリチップは、当該チップ用のデータマス
ク信号DQMと当該チップ用のデータマスク制御信号D
QMCとが共に活性されたとき(ここでは“H”レベル
になったとき)に活性化される信号を、隣のメモリチッ
プ用のデータマスク制御信号として出力し、このデータ
マスク制御信号を、隣のメモリチップは、当該チップ用
のデータマスク制御信号DQMCとして受け取ることと
しており、そして、この処理が各メモリチップによって
順次に行われることとなる。
の形態1の図4のように、隣のメモリチップに入力する
データマスク信号DQMをデータマスク制御信号DQM
Cとして入力するのではなく(つまり、2個のメモリチ
ップ毎に1つのストロボ信号を出力するのではなく)、
それぞれのメモリチップは、当該チップ用のデータマス
ク信号DQMと当該チップ用のデータマスク制御信号D
QMCとが共に活性されたとき(ここでは“H”レベル
になったとき)に活性化される信号を、隣のメモリチッ
プ用のデータマスク制御信号として出力し、このデータ
マスク制御信号を、隣のメモリチップは、当該チップ用
のデータマスク制御信号DQMCとして受け取ることと
しており、そして、この処理が各メモリチップによって
順次に行われることとなる。
【0064】このような構成とすれば、実施の形態1と
は違い、各メモリチップは先行する隣のメモリチップの
データ出力停止状態のみを判断するだけで良いこととな
り、同一モジュール内では、最後の1つのメモリチップ
だけがストロボ信号QSの出力・停止を担う構成を実現
することができる。但し、ここでは、上述の「レベル方
式」のみが妥当する。
は違い、各メモリチップは先行する隣のメモリチップの
データ出力停止状態のみを判断するだけで良いこととな
り、同一モジュール内では、最後の1つのメモリチップ
だけがストロボ信号QSの出力・停止を担う構成を実現
することができる。但し、ここでは、上述の「レベル方
式」のみが妥当する。
【0065】図18は、そのような構成を採用したSD
RAMの内部構成を示すブロック図であり、ここでも、
同一モジュール内に一列方向に配設されるメモリチップ
の数を、一般化して、n(n≧2)として表している。
又、モジュールの数も一般化してmとして表している。
RAMの内部構成を示すブロック図であり、ここでも、
同一モジュール内に一列方向に配設されるメモリチップ
の数を、一般化して、n(n≧2)として表している。
又、モジュールの数も一般化してmとして表している。
【0066】図18の回路構成が図4の場合と相違する
のは、各メモリチップMCiは、同一モジュール(MD
1,…,MDm)上の隣のメモリチップMC(i−1)
が生成・出力する信号をデータマスク制御信号DQMC
iとして受け取って、両信号DQMi,DQMCiの活
性化タイミングに基づき、次の隣のメモリチップMC
(i+1)用のデータマスク制御信号DQMC(i+
1)を生成・出力するだけにある。従って、データマス
ク制御信号DQMC(n−1)が生成・出力されたとき
には、(n−1)個のメモリチップMC1〜MC(n−
1)のデータ出力停止状態が全てメモリチップMCnに
とっては判別された状態となっているため、最後のn番
目のメモリチップMCnのみがストロボ信号QSの出力
・停止機能を担うだけとなり、ストロボ信号QSの配線
数は1つだけとなる。
のは、各メモリチップMCiは、同一モジュール(MD
1,…,MDm)上の隣のメモリチップMC(i−1)
が生成・出力する信号をデータマスク制御信号DQMC
iとして受け取って、両信号DQMi,DQMCiの活
性化タイミングに基づき、次の隣のメモリチップMC
(i+1)用のデータマスク制御信号DQMC(i+
1)を生成・出力するだけにある。従って、データマス
ク制御信号DQMC(n−1)が生成・出力されたとき
には、(n−1)個のメモリチップMC1〜MC(n−
1)のデータ出力停止状態が全てメモリチップMCnに
とっては判別された状態となっているため、最後のn番
目のメモリチップMCnのみがストロボ信号QSの出力
・停止機能を担うだけとなり、ストロボ信号QSの配線
数は1つだけとなる。
【0067】尚、図19に、ここでの各メモリチップM
Ciのデータマスク制御信号生成回路を示す。同回路
は、単にAND回路のみで構成される。
Ciのデータマスク制御信号生成回路を示す。同回路
は、単にAND回路のみで構成される。
【0068】(付記)図18に上述したn個の同期型メ
モリチップの順列を、同一モジュール内に複数個有する
ようにしても良い。
モリチップの順列を、同一モジュール内に複数個有する
ようにしても良い。
【0069】
【発明の効果】請求項1の発明によれば、同一モジュー
ル上のメモリチップの内、一方のもの(第2メモリチッ
プ)は他方のもの(第1メモリチップ)のデータ転送状
態の有無を常に検出することができるので、上記一方側
のメモリチップは、両者のデータ出力が停止状態に移行
したことを確認することができる。これにより、各メモ
リチップが出力するストロボ信号をトリガーとして、デ
ータ転送を外部のコントローラが検出する同期型半導体
装置内に、上記外部のコントローラによる制御によるこ
となく、本装置自らにおいて上記ストロボ信号の数を減
らすことができる基礎を確立することが可能となる。
ル上のメモリチップの内、一方のもの(第2メモリチッ
プ)は他方のもの(第1メモリチップ)のデータ転送状
態の有無を常に検出することができるので、上記一方側
のメモリチップは、両者のデータ出力が停止状態に移行
したことを確認することができる。これにより、各メモ
リチップが出力するストロボ信号をトリガーとして、デ
ータ転送を外部のコントローラが検出する同期型半導体
装置内に、上記外部のコントローラによる制御によるこ
となく、本装置自らにおいて上記ストロボ信号の数を減
らすことができる基礎を確立することが可能となる。
【0070】請求項2および3の発明によれば、各組の
第2メモリチップは、第1メモリチップ用のデータマス
ク信号をデータマスク制御信号として受け取ることで、
第1メモリチップがデータ出力停止状態に入ったことを
確認することができる。又、第2メモリチップは、自己
用のマスク信号を受取ることで、自己のデータ出力を停
止させる。これにより、第2メモリチップは、出力状態
にあるストロボ信号を停止させる。従って、各組毎に、
第2メモリチップのみからストロボ信号を出力させれば
良く、対応する第1メモリチップがストロボ信号を出力
する必要性はなくなる。これにより、外部のメモリコン
トロール側で特別な制御を行うことなく、従来通り、1
バイト毎にデータマスク信号を設定させつつ、2個のメ
モリチップ毎に1つのストロボ信号を外部へ出力させる
ことが本半導体装置内でコントロール可能となり、スト
ロボ信号の数を効果的に削減することができる。
第2メモリチップは、第1メモリチップ用のデータマス
ク信号をデータマスク制御信号として受け取ることで、
第1メモリチップがデータ出力停止状態に入ったことを
確認することができる。又、第2メモリチップは、自己
用のマスク信号を受取ることで、自己のデータ出力を停
止させる。これにより、第2メモリチップは、出力状態
にあるストロボ信号を停止させる。従って、各組毎に、
第2メモリチップのみからストロボ信号を出力させれば
良く、対応する第1メモリチップがストロボ信号を出力
する必要性はなくなる。これにより、外部のメモリコン
トロール側で特別な制御を行うことなく、従来通り、1
バイト毎にデータマスク信号を設定させつつ、2個のメ
モリチップ毎に1つのストロボ信号を外部へ出力させる
ことが本半導体装置内でコントロール可能となり、スト
ロボ信号の数を効果的に削減することができる。
【0071】請求項4,5および6の発明では、先ず、
第1番目のメモリチップは、自己用のデータマスク信号
の入力に応じてデータ出力を停止すると共に、既に自己
用のデータマスク信号は活性化状態にあるため、同時
に、データ出力停止状態を指示する信号を第2番目のメ
モリチップに出力する。このデータマスク信号を受け
て、第2番目のメモリチップは第1番目のメモリチップ
のデータ転送の状態を確認すると共に、自己用のデータ
マスク信号の活性化に応じてデータ出力を停止し、デー
タマスク信号及びデータマスク制御信号の活性化に応じ
て、自己がデータ出力停止状態に移行したことを指示す
る信号を次のメモリチップに出力する。このような連鎖
的な処理が最終の第n番目のメモリチップにまで到達す
ると、第n番目のメモリチップは、n個のメモリチップ
全てがデータ出力停止状態に移行したことを確認しうる
ので、この確認を以て、出力状態にあるストロボ信号を
停止することとなる。このように、本発明によれば、各
メモリチップは直前のメモリチップのデータ転送状態の
みを検出すれば良いこととなり、最終のメモリチップに
のみストロボ信号の出力・停止機能をもたせれば済むこ
ととなる。即ち、従来のバイト毎のデータマスク信号の
コントロールを可能とさせつつ、同一モジュール内で1
個のストロボ信号の出力・その停止を可能とすることが
でき、これにより、ストロボ信号の数を格段に削減する
ことができる。
第1番目のメモリチップは、自己用のデータマスク信号
の入力に応じてデータ出力を停止すると共に、既に自己
用のデータマスク信号は活性化状態にあるため、同時
に、データ出力停止状態を指示する信号を第2番目のメ
モリチップに出力する。このデータマスク信号を受け
て、第2番目のメモリチップは第1番目のメモリチップ
のデータ転送の状態を確認すると共に、自己用のデータ
マスク信号の活性化に応じてデータ出力を停止し、デー
タマスク信号及びデータマスク制御信号の活性化に応じ
て、自己がデータ出力停止状態に移行したことを指示す
る信号を次のメモリチップに出力する。このような連鎖
的な処理が最終の第n番目のメモリチップにまで到達す
ると、第n番目のメモリチップは、n個のメモリチップ
全てがデータ出力停止状態に移行したことを確認しうる
ので、この確認を以て、出力状態にあるストロボ信号を
停止することとなる。このように、本発明によれば、各
メモリチップは直前のメモリチップのデータ転送状態の
みを検出すれば良いこととなり、最終のメモリチップに
のみストロボ信号の出力・停止機能をもたせれば済むこ
ととなる。即ち、従来のバイト毎のデータマスク信号の
コントロールを可能とさせつつ、同一モジュール内で1
個のストロボ信号の出力・その停止を可能とすることが
でき、これにより、ストロボ信号の数を格段に削減する
ことができる。
【0072】請求項7の発明によれば、2逓倍の内部ク
ロック信号を利用してデータ転送の外部クロック信号の
両エッジ同期を実現しているので、同期型半導体装置内
の回路構成を容易にすることができる利点がある。
ロック信号を利用してデータ転送の外部クロック信号の
両エッジ同期を実現しているので、同期型半導体装置内
の回路構成を容易にすることができる利点がある。
【0073】請求項8,9の発明によれば、メモリチッ
プに前記機能を備えていなくとも同様な構成が可能であ
る。
プに前記機能を備えていなくとも同様な構成が可能であ
る。
【図1】 SDRAM装置とその外部の各装置との関係
を示すブロック図である。
を示すブロック図である。
【図2】 データマスク機能を説明するためのタイミン
グチャートである。
グチャートである。
【図3】 ストロボ信号削減化のために考えうるSDR
AM装置の内部構成を示すブロック図である。
AM装置の内部構成を示すブロック図である。
【図4】 本発明の実施の形態1におけるSDRAM装
置の内部構成を模式的に示すブロック図である。
置の内部構成を模式的に示すブロック図である。
【図5】 図4のSDRAM装置の動作例を説明するた
めのタイミングチャートである。
めのタイミングチャートである。
【図6】 SDRAM装置の各メモリチップの内部構成
を示すブロック図である。
を示すブロック図である。
【図7】 各メモリチップのメモリ部の全体構成を示す
ブロック図である。
ブロック図である。
【図8】 各メモリチップのメモリ部の全体構成を示す
ブロック図である。
ブロック図である。
【図9】 各メモリチップの内部コントローラの各部を
示すブロック図である。
示すブロック図である。
【図10】 クロックバッファの動作を示すタイミング
チャートである。
チャートである。
【図11】 内部コントローラ内の制御信号発生回路の
一部の構成を示す図である。
一部の構成を示す図である。
【図12】 ストロボ信号生成回路の構成を示す図であ
る。
る。
【図13】 入出力バッファの構成を示す図である。
【図14】 各信号を時系列的に変化を示すタイミング
チャートである。
チャートである。
【図15】 内部コントローラ内の制御信号発生回路の
一部の構成を示す図である。
一部の構成を示す図である。
【図16】 パルス方式の場合のタイミングチャートで
ある。
ある。
【図17】 パルス方式の場合の制御信号発生回路の一
部の構成を示す図である。
部の構成を示す図である。
【図18】 実施の形態2に係るSDRAM装置の構成
を示すブロック図である。
を示すブロック図である。
【図19】 実施の形態2に係るデータマスク制御信号
生成回路の構成を示す図である。
生成回路の構成を示す図である。
【図20】 従来の第1のシステムの構成を示すブロッ
ク図である。
ク図である。
【図21】 SDRAMを説明するためのタイミングチ
ャートである。
ャートである。
【図22】 SDRAMを説明するためのタイミングチ
ャートである。
ャートである。
【図23】 従来の第2のシステムの構成を示すブロッ
ク図である。
ク図である。
【図24】 図23のSDRAM装置の内部を示すブロ
ック図である。
ック図である。
【図25】 従来のシステムの問題点を説明するための
タイミングチャートである。
タイミングチャートである。
DQ1〜DQn データ信号、DQM1〜DQMn デ
ータマスク信号、DQMC1〜DQMCn データマス
ク制御信号、MC1〜MCn メモリチップ、ext.
CLK 外部クロック信号、QS1〜QS(n/2),
QS ストロボ信号、CLK,CLK×2 内部クロッ
ク信号、1 SDRAM装置、2 クロックジェネレー
タ、3 メモリコントローラ、4 外部信号。
ータマスク信号、DQMC1〜DQMCn データマス
ク制御信号、MC1〜MCn メモリチップ、ext.
CLK 外部クロック信号、QS1〜QS(n/2),
QS ストロボ信号、CLK,CLK×2 内部クロッ
ク信号、1 SDRAM装置、2 クロックジェネレー
タ、3 メモリコントローラ、4 外部信号。
【手続補正書】
【提出日】平成9年3月26日
【手続補正1】
【補正対象書類名】図面
【補正対象項目名】図9
【補正方法】変更
【補正内容】
【図9】
Claims (9)
- 【請求項1】 同一モジュール内に順次に一列で配列さ
れており、且つ外部から周期的に与えられる外部クロッ
ク信号に同期して制御用の外部信号の取込みを行うと共
に、前記外部クロック信号に同期したデータ転送動作を
行う、複数の同期型メモリチップを備え、 前記複数の同期型メモリチップは、それぞれ、前記外部
信号の一つとして、前記データ転送動作の禁止を指示す
るデータマスク信号を受けて当該データ出力を停止する
と共に、 前記複数の同期型メモリチップの内で1個以上の第2メ
モリチップと定義されるメモリチップは、当該第2メモ
リチップ用の前記データマスク信号と当該第2メモリチ
ップ以外の1個以上の第1メモリチップと定義されるメ
モリチップ用の前記データマスク信号とに基づいて、前
記第1及び第2メモリチップのデータ転送動作が共に出
力停止状態へ移行するのを検出することを特徴とする、
同期型半導体記憶装置。 - 【請求項2】 請求項1記載の同期型半導体記憶装置に
おいて、 前記複数の同期型メモリチップは前記第1及び第2メモ
リチップから成る複数の組から成り、 前記複数の組の各々について、 前記第2メモリチップが、前記データ転送の前に活性化
されているトリガー用のストロボ信号を外部へ出力する
機能を有し、且つ、 前記第2メモリチップは、前記第1メモリチップ用の前
記データマスク信号をデータマスク制御信号として受取
り、前記第2メモリチップ用の前記データマスク信号及
び前記データマスク制御信号が共に前記外部クロック信
号に同期して活性化されたときにのみ、前記ストロボ信
号の出力を停止することを特徴とする、同期型半導体記
憶装置。 - 【請求項3】 請求項2記載の前記データマスク信号と
前記データマスク制御信号とを受け、前記データマスク
信号により、データ出力を停止し、前記データマスク信
号及び前記データマスク制御信号により、前記ストロブ
信号を停止する機能を有した、同期型半導体記憶装置。 - 【請求項4】 請求項1記載の同期型半導体記憶装置に
おいて、 前記複数の同期型メモリチップの数をn(n≧2)とす
ると、 第1番目の前記メモリチップは、当該メモリチップ用の
前記データマスク信号と常に活性化状態にある当該メモ
リチップ用のデータマスク制御信号とを受けて、前記デ
ータマスク信号及びデータマスク制御信号が共に前記外
部クロック信号に同期して活性化されたときにのみ、活
性化レベルにある信号を第2番目の前記メモリチップ用
の前記データマスク制御信号として前記第2番目の前記
メモリチップに出力し、 前記第2番目から第(n−1)番目までの任意の第i番
目の前記メモリチップは、(i−1)番目の前記メモリ
チップが出力する前記i番目のメモリチップ用の前記デ
ータマスク制御信号と、前記第i番目のメモリチップ用
の前記データマスク信号とが、共に前記外部クロック信
号に同期して活性化されたときにのみ、前記活性化レベ
ルにある(i+1)番目の前記メモリチップ用の前記デ
ータマスク制御信号を前記(i+1)番目のメモリチッ
プに出力すると共に、 第n番目の前記メモリチップのみが、前記データ転送の
前に活性化されているトリガー用のストロボ信号を外部
へ出力する機能を有し、且つ、 第n番目の前記メモリチップは、第(n−1)番目の前
記メモリチップが出力する前記n番目のメモリチップ用
の前記データマスク制御信号と、前記第n番目のメモリ
チップ用の前記データマスク信号とが、共に前記外部ク
ロック信号に同期して活性化されたときにのみ、前記ス
トロボ信号の前記出力を停止することを特徴とする、同
期型半導体記憶装置。 - 【請求項5】 請求項4記載のn個の同期型メモリチッ
プの順列を、同一モジュール内に複数有する同期型半導
体記憶装置。 - 【請求項6】 請求項4及び5の複数の同期型メモリチ
ップを実現するため、前記データマスク信号とデータマ
スク制御信号とを受け、前記データマスク制御信号を出
力する機能を有した同期型半導体記憶装置。 - 【請求項7】 請求項2ないし6のいずれかに記載の同
期型半導体記憶装置において、 前記第1及び第2メモリチップは、前記外部クロック信
号を2逓倍して内部クロック信号を生成し、前記内部ク
ロック信号の一方のエッジに同期して前記第1及びデー
タマスク制御信号が共に活性化されたか否かを検出する
ことを特徴とする、同期型半導体記憶装置。 - 【請求項8】 複数のデータマスク信号が入力され、活
性化したデータマスク信号の論理により、ストロボ信号
を1つまたは複数出力する論理半導体装置。 - 【請求項9】 請求項8記載の論理半導体装置のチップ
を同一モジュール上に搭載した同期型半導体記憶装置。
Priority Applications (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9040945A JPH10241362A (ja) | 1997-02-25 | 1997-02-25 | 同期型半導体記憶装置及び論理半導体装置 |
| US08/917,211 US5940328A (en) | 1997-02-25 | 1997-08-25 | Synchronous semiconductor device with memory chips in a module for controlling output of strobe signal for trigger in reading data |
| DE19752664A DE19752664C2 (de) | 1997-02-25 | 1997-11-27 | Synchrone Halbleitervorrichtung mit Speicherchips in einem Modul zur Steuerung eines Freigabesignals als Auslöser beim Lesen von Daten |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9040945A JPH10241362A (ja) | 1997-02-25 | 1997-02-25 | 同期型半導体記憶装置及び論理半導体装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH10241362A true JPH10241362A (ja) | 1998-09-11 |
Family
ID=12594656
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP9040945A Pending JPH10241362A (ja) | 1997-02-25 | 1997-02-25 | 同期型半導体記憶装置及び論理半導体装置 |
Country Status (3)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US5940328A (ja) |
| JP (1) | JPH10241362A (ja) |
| DE (1) | DE19752664C2 (ja) |
Cited By (4)
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|---|---|---|---|---|
| JP2000132964A (ja) * | 1998-10-27 | 2000-05-12 | Nec Corp | 同期型半導体記憶装置 |
| JP2000187986A (ja) * | 1998-12-22 | 2000-07-04 | Hyundai Electronics Ind Co Ltd | 高速の半導体メモリ装置のデ―タ入力バッファリング方法及び装置 |
| US6744678B2 (en) | 2001-09-24 | 2004-06-01 | Hynix Semiconductor Inc. | Semiconductor memory device capable of masking undesired column access signal |
| KR100789002B1 (ko) | 2005-07-08 | 2007-12-26 | 인피니언 테크놀로지스 아게 | 반도체 메모리 모듈 |
Families Citing this family (10)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP3929116B2 (ja) * | 1997-07-04 | 2007-06-13 | 富士通株式会社 | メモリサブシステム |
| KR100364127B1 (ko) * | 1997-12-29 | 2003-04-11 | 주식회사 하이닉스반도체 | 칩-세트 |
| US6557071B2 (en) * | 1998-06-22 | 2003-04-29 | Intel Corporation | Memory system including a memory controller having a data strobe generator and method for accesing a memory using a data storage |
| US6205062B1 (en) * | 1998-11-13 | 2001-03-20 | Hyundai Electronics Industries Co. Ltd. | CAS latency control circuit |
| KR100287190B1 (ko) * | 1999-04-07 | 2001-04-16 | 윤종용 | 선택되는 메모리 모듈만을 데이터 라인에 연결하는 메모리 모듈 시스템 및 이를 이용한 데이터 입출력 방법 |
| JP2001035153A (ja) * | 1999-07-23 | 2001-02-09 | Fujitsu Ltd | 半導体記憶装置 |
| KR100708826B1 (ko) * | 2000-03-30 | 2007-04-17 | 삼성전자주식회사 | 복수 개의 메모리 모듈들에 적합한 클럭 신호를 출력하는컴퓨터 시스템 및 그 방법 |
| KR100387523B1 (ko) | 2000-07-27 | 2003-06-18 | 삼성전자주식회사 | 데이터와 에코 클럭간 트래킹을 위한 장치 및 방법 |
| US20070299998A1 (en) * | 2006-06-23 | 2007-12-27 | Mordechay Beck | Method and System for Facilitating Faster Data Transmission between a Central Processing Unit and a Connected Memory Device |
| KR101046273B1 (ko) * | 2010-01-29 | 2011-07-04 | 주식회사 하이닉스반도체 | 반도체 장치 |
Family Cites Families (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5513135A (en) * | 1994-12-02 | 1996-04-30 | International Business Machines Corporation | Synchronous memory packaged in single/dual in-line memory module and method of fabrication |
| US5526320A (en) * | 1994-12-23 | 1996-06-11 | Micron Technology Inc. | Burst EDO memory device |
-
1997
- 1997-02-25 JP JP9040945A patent/JPH10241362A/ja active Pending
- 1997-08-25 US US08/917,211 patent/US5940328A/en not_active Expired - Fee Related
- 1997-11-27 DE DE19752664A patent/DE19752664C2/de not_active Expired - Fee Related
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2000132964A (ja) * | 1998-10-27 | 2000-05-12 | Nec Corp | 同期型半導体記憶装置 |
| JP2000187986A (ja) * | 1998-12-22 | 2000-07-04 | Hyundai Electronics Ind Co Ltd | 高速の半導体メモリ装置のデ―タ入力バッファリング方法及び装置 |
| US6744678B2 (en) | 2001-09-24 | 2004-06-01 | Hynix Semiconductor Inc. | Semiconductor memory device capable of masking undesired column access signal |
| KR100789002B1 (ko) | 2005-07-08 | 2007-12-26 | 인피니언 테크놀로지스 아게 | 반도체 메모리 모듈 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| US5940328A (en) | 1999-08-17 |
| DE19752664C2 (de) | 1999-12-23 |
| DE19752664A1 (de) | 1998-09-03 |
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