JPH10241789A - Ｉｃ試験装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】 本体とテストヘッド間をケーブル接続する場
合のコネクタの着脱動作を簡略化すると共に、１本のケ
ーブルでも大電流を流せるようにし、更に複数個のコネ
クタを使用するときでも誤挿入が防止されるＩＣ試験装
置を提供する。 【解決手段】 誤挿入防止板５と誤挿入防止板６が取り
付けられているオス型コネクタ３とメス型コネクタ４に
よりマルチバンドコネクタ７を構成し、マルチバンドコ
ネクタ７を本体１とテストヘッド２に設置してケーブル
８により本体１からテストヘッド２へ電力を供給する。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】この発明はＩＣ試験装置、特
にマルチバンドコネクタを利用して本体からテストヘッ
ドへ電力を供給するためのケーブルの接続機構ならびに
コネクタの着脱機構及び誤挿入防止機構を具備したＩＣ
試験装置に関する。

【０００２】

【従来の技術】従来のＩＣ試験装置では、本体１とテス
トヘッド２に（図５（Ｃ））、図５（Ａ）に示すキャノ
ンコネクタ２７や、図５（Ｂ）に示すネジ止め接続方式
２８を採用し、両者間をケーブル２３で接続し数百アン
ペアの電流を流すことにより、本体１からテストヘッド
２へ電力を供給している。

【０００３】キャノンコネクタ２７は（図５（Ａ））、
例えば、本体１又はテストヘッド２のフレーム２２にオ
ス型コネクタ２１を取り付け、このオス型コネクタ２１
に対してメス型コネクタ２０を回転させながらねじ込む
ことにより、両コネクタを接続する。

【０００４】また、ネジ止め接続方式２８は（図５
（Ｂ））、例えば、本体１又はテストヘッド２のフレー
ム銅バー２６側に、ケーブル２３をボルト２５により固
定することにより、ケーブル接続をする。

【０００５】更に、従来は、このようなキャノンコネク
タ２７又はネジ止め接続方式２８を採用し、図５（Ｃ）
に示すように、本体１とテストヘッド２間を４〜６本の
ケーブル２３で分割配線することにより、数百アンペア
の電流を流している。

【０００６】

【発明が解決しようとする課題】

（１）コネクタの着脱が面倒で時間がかかる。 従来のキャノンコネクタ２７は、接続する場合には、オ
ス型コネクタ２１に対してメス型コネクタ２０を回転さ
せながらねじ込み（図５（Ａ））、切り離す場合には、
オス型コネクタ２１に対してメス型コネクタ２０を逆方
向に回転させながら外す。

【０００７】従って、キャノンコネクタ２７は、着脱の
際にメス型コネクタ２０の回転動作を伴い、面倒で時間
がかかる。

【０００８】また、ネジ止め接続方式２８は（図５
（Ｂ））、接続する場合には、ケーブル２３をボルト２
５で固定し、切り離す場合には、逆にこのボルト２５を
取り外す。

【０００９】従って、ネジ止め接続方式２８は、着脱の
際にボルト２５の着脱動作が更に加わり、前記キャノン
コネクタ２７と同様に、面倒で時間がかかる。

【００１０】（２）ケーブルの本数が多い。 本体１からテストヘッド２へ流す電流は最大で数百アン
ペア、例えば、３００アンペアである。

【００１１】ところが、例えば、キャノンコネクタ２７
では（図５（Ａ））、ケーブル１本当り５０アンペア程
度しか流せず、本体１からテストヘッド２へ前記３００
アンペアの電流を流す場合には、６本のケーブルで本体
１とテストヘッド２間を分割配線しなければならず（図
５（Ｃ））、ケーブルの本数が多くなる。

【００１２】この結果、ケーブルの設置領域が広くなら
ざるを得ず装置の小型化が妨げられ、また、ケーブルの
配線作業の効率が低下する等の弊害がある。

【００１３】（３）コネクタの誤挿入の危険がある。 また、（２）で述べたケーブル本数が多くなることに起
因して、コネクタの誤挿入の危険がある。例えば、図５
（Ｃ）において、ケーブル８の本数が１〜２本であれ
ば、キャノンコネクタ２７の誤挿入はないといってよ
い。

【００１４】しかし、前記したようにケーブル２３を６
本も必要とする場合は、それに比例して使用されるキャ
ノンコネクタ２７の個数も増え、誤挿入の危険も多くな
る傾向がある。

【００１５】この発明の目的は、本体とテストヘッド間
をケーブル接続する場合のコネクタの着脱動作を簡略化
すると共に、１本のケーブルでも大電流を流せるように
し、更に複数個のコネクタを使用するときでも誤挿入が
防止されるＩＣ試験装置を提供する。

【００１６】

【課題を解決するための手段】前記課題を解決するた
め、この発明では、各種ユニットを搭載した本体１とピ
ンカードを搭載したテストヘッド２から成るＩＣ試験装
置において、前記本体１とテストヘッド２は、いずれも
マルチバンドコネクタ７を備え、本体１のマルチバンド
コネクタ７とテストヘッド２のマルチバンドコネクタ７
とは、本体１からテストヘッド２へ電力を供給するため
のケーブル８により接続され、前記マルチバンドコネク
タ７はオス型コネクタ３とメス型コネクタ４により構成
されていると共に、オス型コネクタ３には所定の位置に
爪５ｂ又は切欠部６ｂが設けられた誤挿入防止板５が、
メス型コネクタ４には前記爪５ｂ又は切欠部６ｂに対応
する所定の位置に切欠部６ｂ又は爪５ｂが設けられた誤
挿入防止板６がそれぞれ取り付けられ、爪５ｂと切欠部
６ｂが嵌合可能であるという手段が講じられている。

【００１７】この構成によれば、マルチバンドコネクタ
７のオス型コネクタ３とメス型コネクタ４の着脱の際に
は、回転止めや（図５（Ａ））ネジ止め（図５（Ｂ））
なしでいわばワンアクションで着脱が可能であり、また
千アンペア前後の電流が流せるマルチバンドコネクタ７
を使用したことにより、１本のケーブル８でも大電流が
流せ、更に、前記オス型コネクタ３とメス型コネクタ４
に誤挿入防止板５と６を取り付けたので、複数個のコネ
クタを使用するときでも誤挿入が防止される。

【００１８】

【発明の実施の形態】以下、この発明を実施形態により
添付図面を参照して説明する。

【００１９】図１は、この発明の実施形態を示す全体図
である。図１に示すＩＣ試験装置は、各種ユニットを搭
載した本体１と、ピンカードを搭載したテストヘッド２
を備えている。

【００２０】また、本体１とテストヘッド２は、いずれ
もマルチバンドコネクタ７を備えている。

【００２１】マルチバンドコネクタ７の詳細は、図２に
示され、オス型コネクタ３（図２（Ａ））とメス型コネ
クタ４（図２（Ｂ））により構成されている。

【００２２】本実施形態においては、オス型コネクタ３
は、本体１とテストヘッド２（図１）を接続するケーブ
ル８側であり、メス型コネクタ４は、本体１又はテスト
ヘッド２のフレーム側に設けられている。

【００２３】オス型コネクタ３にはケーブル８が圧着さ
れ、オス型コネクタ３の前端面３ａには、後述する誤挿
入防止板５が取り付けられ、図示するように、ピン１１
が誤挿入防止板５の開口部５ｃ（図３（Ａ））を貫通し
て突出している。

【００２４】メス型コネクタ４には、本体１又はテスト
ヘッド２側のケーブル１０がネジ１３により接続されて
いる。

【００２５】また、メス型コネクタ４の前端面４ａに
は、後述する誤挿入防止板６が取り付けられ、誤挿入防
止板６の開口部６ｃ内を前記オス型コネクタ３のピン１
１が貫通して両コネクタが接続されるようになってい
る。

【００２６】この構成により、オス型コネクタ３のピン
１１をメス型コネクタ４に挿入するだけで両コネクタを
接続でき、またピン１１を抜くだけで両コネクタを切り
離すことができ、ワンアクションで着脱が可能であり、
着脱動作が極めて簡略化された。

【００２７】マルチバンドコネクタ７は、本来千アンペ
ア前後の電流を流すことができる。

【００２８】このため、図１に示すように、本体１とテ
ストヘッド２がいずれもマルチバンドコネクタ７を備え
ている場合には、両コネクタ間を接続するケーブル８と
しては大容量のケーブルを使用することができる。

【００２９】従って、本体１からテストヘッド２へは数
百アンペア、例えば３００アンペアの電流を流して電力
を供給する必要があるが、この発明によれば、マルチバ
ンドコネクタ７を使用したことにより、前記したよう
に、大容量のケーブル８を１本使用するだけで十分３０
０アンペアの電流を流すことができる。

【００３０】図３は、誤挿入防止板５（図３（Ａ））と
誤挿入防止板６（図３（Ｂ））の詳細を示す図である。

【００３１】誤挿入防止板５と６は、本実施形態では、
前記円筒状のオス型コネクタ３とメス型コネクタ４に対
応して円板状に形成され、中央部には、既述した円形の
開口部５ｃと６ｃが形成されている。

【００３２】誤挿入防止板５には、位置決め穴５ａが形
成され、この位置決め穴５ａを基準として所定の位置に
爪５ｂが設けられている。

【００３３】一方、誤挿入防止板６には、位置決めピン
６ａが設けられ、この位置決めピン６ａを基準として、
前記爪５ｂに対応する所定の位置に切欠部６ｂが設けら
れている。

【００３４】従って、位置決め穴５ａに位置決めピン６
ａを挿入することにより、互いに対応する位置の爪５ｂ
と切欠部６ｂは嵌合し、オス型コネクタ３のビン１１が
メス型コネクタ４に挿入されることにより両コネクタは
接続される（図４）。

【００３５】しかし、爪５ｂが位置決め穴５ａを基準と
して、例えば、１８０°の位置に設けられているが、切
欠部６ｂが位置決めピン６ａを基準として、例えば、９
０°の位置に設けられている場合には、たとえ位置決め
穴５ａに位置決めピン６ａを挿入しても爪５ｂと切欠部
６ｂは嵌合せず、これにより、コネクタの誤挿入を防止
することができる。

【００３６】また、本実施形態では、図３に示すよう
に、爪５ｂが誤挿入防止板５に、切欠部６ｂが誤挿入防
止板６に設けられているが、爪５ｂを誤挿入防止板６
に、切欠部６ｂを誤挿入防止板５に設けても同様の効果
がある。

【００３７】このことは、位置決め穴５ａと位置決めピ
ン６ａについても同様である。

【００３８】以下、前記構成を備えたこの発明の作用を
説明する。 （１）コネクタの接続 先ず、本体１とテストヘッド２にマルチバンドコネクタ
７のメス型コネクタ４を設置しておいて、このメス型コ
ネクタ４にオス型コネクタ３を接続する。

【００３９】この場合、オス型コネクタ３の位置決め穴
５ａにメス型コネクタ４の位置決めピン６ａに挿入すれ
ば、爪５ｂと切欠部６ｂが嵌合し、ピン１１がメス型コ
ネクタ４に挿入されることにより、ワンアクションで両
コネクタを接続できる。

【００４０】また、オス型コネクタ３の位置決め穴５ａ
にメス型コネクタ４の位置決めピン６ａに挿入しても、
爪５ｂと切欠部６ｂが異なる位置に設けられていれば爪
５ｂと切欠部６ｂは嵌合せず、コネクタの誤挿入が防止
される。

【００４１】（２）電力の供給 マルチバンドコネクタ７は、千アンペア前後の電流を流
せるコネクタであることから、本体１のマルチバンドコ
ネクタ７とテストヘッド２のマルチバンドコネクタ７を
接続するケーブル８も大容量のケーブルである。

【００４２】従って、１本のケーブル８内を（図１）例
えば、３００アンペアの電流が流れ、本体１からテスト
ヘッド２へ電力が供給され、試験が行われる。

【００４３】（３）コネクタの切離し 試験終了後、メス型コネクタ４からオス型コネクタ３を
切り離す場合には、（１）のコネクタの接続の場合より
も一層簡単であり、単にオス型コネクタ３をメス型コネ
クタ４から抜くだけでよい。

【００４４】

【発明の効果】この発明によれば、ＩＣ試験装置を、マ
ルチバンドコネクタを利用して本体とテストヘッドを１
本のケーブルにより接続し、マルチバンドコネクタを構
成するオス型コネクタとメス型コネクタに誤挿入防止板
を取り付けるように、構成したことにより、コネクタの
着脱動作を簡略化すると共に、１本のケーブルでも大電
流を流せるようにし、更に複数個のコネクタを使用する
ときでも誤挿入が防止されるという効果がある。

【００４５】

【図面の簡単な説明】

【図１】この発明の実施形態を示す全体図である。

【図２】この発明を構成するマルチバンドコネクタの詳
細図である。

【図３】この発明を構成する誤挿入防止板の詳細図であ
る。

【図４】この発明を構成するマルチバンドコネクタの接
続状態を示す図である。

【図５】従来技術の説明図である。

【符号の説明】

１ 本体 ２ テストヘッド ３ マルチバンドコネクタのオス型コネクタ ４ マルチバンドコネクタのメス型コネクタ ５ オス型コネクタの誤挿入防止板 ６ メス型コネクタの誤挿入防止板 ７ マルチバンドコネクタ ８ ケーブル

Claims (2)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 各種ユニットを搭載した本体（１）とピ
   ンカードを搭載したテストヘッド（２）から成るＩＣ試
   験装置において、 前記本体（１）とテストヘッド（２）は、いずれもマル
   チバンドコネクタ（７）を備え、 本体（１）のマルチバンドコネクタ（７）とテストヘッ
   ド（２）のマルチバンドコネクタ（７）とは、本体
   （１）からテストヘッド（２）へ電力を供給するための
   ケーブル（８）により接続され、 前記マルチバンドコネクタ（７）は、オス型コネクタ
   （３）とメス型コネクタ（４）により構成されていると
   共に、オス型コネクタ（３）には所定の位置に爪（５
   ｂ）又は切欠部（６ｂ）が設けられた誤挿入防止板
   （５）が、メス型コネクタ（４）には前記爪（５ｂ）又
   は切欠部（６ｂ）に対応する所定の位置に切欠部（６
   ｂ）又は爪（５ｂ）が設けられた誤挿入防止板（６）が
   それぞれ取り付けられ、爪（５ｂ）と切欠部（６ｂ）が
   嵌合可能であることを特徴とするＩＣ試験装置。
2. 【請求項２】 前記誤挿入防止板（５）には位置決め穴
   （５ａ）を基準として所定の位置に爪（５ｂ）が、誤挿
   入防止板（６）には位置決めピン（６ａ）を基準として
   爪（５ｂ）に対応する位置に切欠部（６ｂ）がそれぞれ
   設けられている請求項１記載のＩＣ試験装置。