JPH10253697A - ランプ点灯試験装置 - Google Patents
ランプ点灯試験装置Info
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- JPH10253697A JPH10253697A JP5263997A JP5263997A JPH10253697A JP H10253697 A JPH10253697 A JP H10253697A JP 5263997 A JP5263997 A JP 5263997A JP 5263997 A JP5263997 A JP 5263997A JP H10253697 A JPH10253697 A JP H10253697A
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- lamp current
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 本発明は信頼性の高いランプ点灯試験装置を
提供することを課題としている。 【解決手段】 本発明のランプ点灯試験装置は、並列状
態に接続された複数個のランプを予め定めた区分に従っ
て順次点灯するランプテスト制御回路８と、ランプテス
ト制御回路８によって点灯された区分毎のランプに流れ
るランプ電流の合計値を検出し、ランプ電流の合計値を
予め定めたランプ電流設定値と比較して予め定めたラン
プ電流許容値を逸脱した場合に異常信号を出力するラン
プ電流検出・比較回路１２とを備えたことを特徴として
いる。 【効果】 本発明によりランプ点灯試験装置の操作安全
性を向上させることができる。
提供することを課題としている。 【解決手段】 本発明のランプ点灯試験装置は、並列状
態に接続された複数個のランプを予め定めた区分に従っ
て順次点灯するランプテスト制御回路８と、ランプテス
ト制御回路８によって点灯された区分毎のランプに流れ
るランプ電流の合計値を検出し、ランプ電流の合計値を
予め定めたランプ電流設定値と比較して予め定めたラン
プ電流許容値を逸脱した場合に異常信号を出力するラン
プ電流検出・比較回路１２とを備えたことを特徴として
いる。 【効果】 本発明によりランプ点灯試験装置の操作安全
性を向上させることができる。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、監視操作盤や制御
盤などに設置される集合表示灯の断線などを試験するラ
ンプ点灯試験装置に関する。
盤などに設置される集合表示灯の断線などを試験するラ
ンプ点灯試験装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】従来のランプ点灯試験装置は、例えば図
６に示すようにランプ点灯接点１が閉回路となるとラン
プ点灯接点増幅リレー（継電器）を励磁し、ランプ表示
用接点２２が動作して集合表示灯を点灯させている。ま
た、現場に設置されたランプテストスイッチ３を動作さ
せることランプＬ１〜Ｌ３，Ｌ１１〜Ｌ１３から構成さ
れる集合表示灯２０を一括して点灯させ、ランプ切れな
どのランプ故障を目視によってチェック（点検）してい
た。
６に示すようにランプ点灯接点１が閉回路となるとラン
プ点灯接点増幅リレー（継電器）を励磁し、ランプ表示
用接点２２が動作して集合表示灯を点灯させている。ま
た、現場に設置されたランプテストスイッチ３を動作さ
せることランプＬ１〜Ｌ３，Ｌ１１〜Ｌ１３から構成さ
れる集合表示灯２０を一括して点灯させ、ランプ切れな
どのランプ故障を目視によってチェック（点検）してい
た。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】従来のランプ点灯試験
装置では、集合表示灯などを全点灯させるので一時的に
ランプ消費電流が過大となるため、配線を太くしなけれ
ばならない。また、盤面が広い場合には分割点灯を用い
ているが、操作性が悪く、目視チェックでの見落としが
生じる危険性があった。
装置では、集合表示灯などを全点灯させるので一時的に
ランプ消費電流が過大となるため、配線を太くしなけれ
ばならない。また、盤面が広い場合には分割点灯を用い
ているが、操作性が悪く、目視チェックでの見落としが
生じる危険性があった。
【０００４】更に、従来のランプテスト回路は、現場で
の目視チェックを行なうためのもので、遠方からのラン
プテストに対応できなかった。このため現場でランプテ
ストを行なわずに誤認識のまま制御または操作を実施し
てしまうといった危険性があった。
の目視チェックを行なうためのもので、遠方からのラン
プテストに対応できなかった。このため現場でランプテ
ストを行なわずに誤認識のまま制御または操作を実施し
てしまうといった危険性があった。
【０００５】本発明は、これらの危険性を排除し信頼性
と安全性の高いランプ点灯試験装置を提供することを目
的としている。
と安全性の高いランプ点灯試験装置を提供することを目
的としている。
【０００６】
【課題を解決するための手段】本発明のランプ点灯試験
装置は、並列状態に接続された複数個のランプを予め定
めた区分に従って順次点灯するランプテスト制御回路
と、このランプテスト制御回路によって点灯された区分
毎のランプに流れるランプ電流の合計値を検出するラン
プ電流検出回路と、このランプ電流検出回路によって検
出したランプ電流の合計値を予め定めたランプ電流設定
値と比較して予め定めたランプ電流許容値を逸脱した場
合に異常信号を出力するランプ電流比較回路とを備えた
ことを特徴としている。
装置は、並列状態に接続された複数個のランプを予め定
めた区分に従って順次点灯するランプテスト制御回路
と、このランプテスト制御回路によって点灯された区分
毎のランプに流れるランプ電流の合計値を検出するラン
プ電流検出回路と、このランプ電流検出回路によって検
出したランプ電流の合計値を予め定めたランプ電流設定
値と比較して予め定めたランプ電流許容値を逸脱した場
合に異常信号を出力するランプ電流比較回路とを備えた
ことを特徴としている。
【０００７】請求項２に記載したランプ点灯試験装置
は、ランプ電流比較回路から出力された異常信号によっ
てランプテスト制御回路の作動を一時的に停止させるラ
ンプ制御一時停止回路を備えたことを特徴としている。
は、ランプ電流比較回路から出力された異常信号によっ
てランプテスト制御回路の作動を一時的に停止させるラ
ンプ制御一時停止回路を備えたことを特徴としている。
【０００８】請求項３に記載したランプ点灯試験装置
は、並列状態に接続された複数個のランプを予め定めた
区分に従って順次点灯するランプテスト制御回路と、こ
のランプテスト制御回路によって点灯された区分毎のラ
ンプに流れるランプ電流の合計値を検出するランプ電流
検出回路と、このランプ電流検出回路によって検出した
ランプ電流の合計値をランプ電流ホールド値として保持
するランプ電流値ホールド回路とを備え、ランプ電流検
出回路によって検出したランプ電流の合計値とランプ電
流ホールド値とを比較しランプ電流の合計値がランプ電
流ホールド値を超過した場合に超過信号を出力するラン
プ電流比較回路とを備えたことを特徴としている。
は、並列状態に接続された複数個のランプを予め定めた
区分に従って順次点灯するランプテスト制御回路と、こ
のランプテスト制御回路によって点灯された区分毎のラ
ンプに流れるランプ電流の合計値を検出するランプ電流
検出回路と、このランプ電流検出回路によって検出した
ランプ電流の合計値をランプ電流ホールド値として保持
するランプ電流値ホールド回路とを備え、ランプ電流検
出回路によって検出したランプ電流の合計値とランプ電
流ホールド値とを比較しランプ電流の合計値がランプ電
流ホールド値を超過した場合に超過信号を出力するラン
プ電流比較回路とを備えたことを特徴としている。
【０００９】請求項４に記載したランプ点灯試験装置
は、並列状態に接続された複数個のランプを予め定めた
第１区分に従って順次点灯し、その後区分の仕方を変更
し得られた第２区分に従って再び順次点灯する二重ラン
プテスト制御回路と、このランプテスト制御回路によっ
て点灯された第１または第２区分毎のランプに流れるラ
ンプ電流の合計値を検出するランプ電流検出回路と、こ
のランプ電流検出回路によって検出したランプ電流の合
計値を予め定めたランプ電流設定値と比較して予め定め
たランプ電流許容値を逸脱した場合に第１または第２区
分毎に逸脱信号を出力するランプ電流比較回路と、この
ランプ電流比較回路から出力された第１または第２区分
毎の逸脱信号から特性が劣化したランプを特定する不良
ランプ特定回路とを備えたことを特徴としている。
は、並列状態に接続された複数個のランプを予め定めた
第１区分に従って順次点灯し、その後区分の仕方を変更
し得られた第２区分に従って再び順次点灯する二重ラン
プテスト制御回路と、このランプテスト制御回路によっ
て点灯された第１または第２区分毎のランプに流れるラ
ンプ電流の合計値を検出するランプ電流検出回路と、こ
のランプ電流検出回路によって検出したランプ電流の合
計値を予め定めたランプ電流設定値と比較して予め定め
たランプ電流許容値を逸脱した場合に第１または第２区
分毎に逸脱信号を出力するランプ電流比較回路と、この
ランプ電流比較回路から出力された第１または第２区分
毎の逸脱信号から特性が劣化したランプを特定する不良
ランプ特定回路とを備えたことを特徴としている。
【００１０】請求項５に記載したランプ点灯試験装置
は、並列状態に接続された複数個のランプを予め定めた
第１区分に従って順次点灯し、その後区分の仕方を変更
し得られた第２区分に従って再び順次点灯する二重ラン
プテスト制御回路と、このランプテスト制御回路によっ
て点灯された第１または第２区分毎のランプに流れるラ
ンプ電流の合計値を検出するランプ電流検出回路と、こ
のランプ電流検出回路によって検出したランプ電流の合
計値をランプ電流ホールド値とを比較しランプ電流の合
計値がランプ電流ホールド値を超過した場合に超過信号
を出力するランプ電流比較回路と、このランプ電流比較
回路から出力された第１または第２区分毎の逸脱信号か
ら特性が劣化したランプを特定する不良ランプ特定回路
とを備えたことを特徴としている。
は、並列状態に接続された複数個のランプを予め定めた
第１区分に従って順次点灯し、その後区分の仕方を変更
し得られた第２区分に従って再び順次点灯する二重ラン
プテスト制御回路と、このランプテスト制御回路によっ
て点灯された第１または第２区分毎のランプに流れるラ
ンプ電流の合計値を検出するランプ電流検出回路と、こ
のランプ電流検出回路によって検出したランプ電流の合
計値をランプ電流ホールド値とを比較しランプ電流の合
計値がランプ電流ホールド値を超過した場合に超過信号
を出力するランプ電流比較回路と、このランプ電流比較
回路から出力された第１または第２区分毎の逸脱信号か
ら特性が劣化したランプを特定する不良ランプ特定回路
とを備えたことを特徴としている。
【００１１】請求項６に記載したランプ点灯試験装置
は、異常信号または超過信号または逸脱信号をＢＣＤコ
ードに変換する信号変換装置と、変換されたＢＣＤコー
ドを伝送する伝送装置とを備えたことを特徴としてい
る。
は、異常信号または超過信号または逸脱信号をＢＣＤコ
ードに変換する信号変換装置と、変換されたＢＣＤコー
ドを伝送する伝送装置とを備えたことを特徴としてい
る。
【００１２】
【発明の実施の形態】次に本発明のランプ点灯試験装置
の実施の形態を説明する。図１において、母線Ｐに接続
されたランプ点灯接点１が閉回路となると通常表示キャ
ンセル（消去）信号９が出力されていない場合には接点
１ｂが閉回路となっているので集合表示灯２０を構成す
るランプＬ１が点灯する。
の実施の形態を説明する。図１において、母線Ｐに接続
されたランプ点灯接点１が閉回路となると通常表示キャ
ンセル（消去）信号９が出力されていない場合には接点
１ｂが閉回路となっているので集合表示灯２０を構成す
るランプＬ１が点灯する。
【００１３】現場／遠方切換スイッチ２はランプ点灯試
験装置の制御を現場または遠方に切り換えるスイッチで
あり、現場／遠方切換スイッチ２の現場側出力端子には
現場ランプテストスイッチ３および現場ランプ点灯確認
スイッチ５が並列に接続されている。また、現場／遠方
切換スイッチ２の遠方側出力端子には遠方ランプテスト
接点４が接続されている。そして、これらランプ点灯接
点１、現場／遠方切換スイッチ２、ランプテストスイッ
チ３、遠方ランプテスト接点４および現場ランプ点灯確
認スイッチ５はいずれもランプ点灯試験装置には内蔵さ
れず盤外のシーケンス（接続配線）回路として設置され
る。
験装置の制御を現場または遠方に切り換えるスイッチで
あり、現場／遠方切換スイッチ２の現場側出力端子には
現場ランプテストスイッチ３および現場ランプ点灯確認
スイッチ５が並列に接続されている。また、現場／遠方
切換スイッチ２の遠方側出力端子には遠方ランプテスト
接点４が接続されている。そして、これらランプ点灯接
点１、現場／遠方切換スイッチ２、ランプテストスイッ
チ３、遠方ランプテスト接点４および現場ランプ点灯確
認スイッチ５はいずれもランプ点灯試験装置には内蔵さ
れず盤外のシーケンス（接続配線）回路として設置され
る。
【００１４】ランプテスト入力回路６は現場／遠方切換
スイッチ２、ランプテストスイッチ３、遠方ランプテス
ト接点４および現場ランプ点灯確認スイッチ５に接続さ
れ、ランプテストに必要な外部条件を入力する回路であ
り、ランプテスト制御回路８にランプテスト条件信号７
を出力する。
スイッチ２、ランプテストスイッチ３、遠方ランプテス
ト接点４および現場ランプ点灯確認スイッチ５に接続さ
れ、ランプテストに必要な外部条件を入力する回路であ
り、ランプテスト制御回路８にランプテスト条件信号７
を出力する。
【００１５】ランプテスト制御回路８は、請求項１の場
合は並列状態に接続された複数個のランプを予め定めた
区分、例えば図２に示す集合表示灯２０の横列方向に従
ってランプＬ１〜Ｌ３，Ｌ１１〜Ｌ１３の順に順次点灯
する回路であり、請求項５および請求項６の場合は並列
状態に接続された複数個のランプを予め定めた第１区
分、例えば図２に示す集合表示灯２０の横列方向に従っ
て順次点灯し、その後区分の仕方を変更し得られた第２
区分、例えば図２に示す集合表示灯２０の縦列方向に従
って再びランプＬ１・Ｌ１１，次にランプＬ２・Ｌ１
２、そしてランプＬ３・Ｌ１３の順に順次点灯する二重
ランプテスト制御回路としての機能を有しており、ラン
プテスト条件信号７を入力し、通常表示キャンセル信号
９、ランプテスト順次点灯信号１０、そして、異常信号
または超過信号または逸脱信号などのランプテスト異常
信号１９を出力する。
合は並列状態に接続された複数個のランプを予め定めた
区分、例えば図２に示す集合表示灯２０の横列方向に従
ってランプＬ１〜Ｌ３，Ｌ１１〜Ｌ１３の順に順次点灯
する回路であり、請求項５および請求項６の場合は並列
状態に接続された複数個のランプを予め定めた第１区
分、例えば図２に示す集合表示灯２０の横列方向に従っ
て順次点灯し、その後区分の仕方を変更し得られた第２
区分、例えば図２に示す集合表示灯２０の縦列方向に従
って再びランプＬ１・Ｌ１１，次にランプＬ２・Ｌ１
２、そしてランプＬ３・Ｌ１３の順に順次点灯する二重
ランプテスト制御回路としての機能を有しており、ラン
プテスト条件信号７を入力し、通常表示キャンセル信号
９、ランプテスト順次点灯信号１０、そして、異常信号
または超過信号または逸脱信号などのランプテスト異常
信号１９を出力する。
【００１６】ランプ電流検出・比較回路１２は請求項１
に記載したランプ電流検出回路とランプ電流比較回路の
機能を有し、ランプテスト制御回路８に接続され、ラン
プテスト制御回路８によって点灯された区分毎のランプ
に流れるランプ電流の合計値を検出する機能と、検出し
たランプ電流の合計値を予め定めたランプ電流設定値と
比較して予め定めたランプ電流許容値を逸脱した場合に
異常信号を出力する機能とを備えている。
に記載したランプ電流検出回路とランプ電流比較回路の
機能を有し、ランプテスト制御回路８に接続され、ラン
プテスト制御回路８によって点灯された区分毎のランプ
に流れるランプ電流の合計値を検出する機能と、検出し
たランプ電流の合計値を予め定めたランプ電流設定値と
比較して予め定めたランプ電流許容値を逸脱した場合に
異常信号を出力する機能とを備えている。
【００１７】そして、ランプ電流検出・比較回路１２は
ランプテスト制御回路８からランプ電流検出信号１１を
入力し、ランプ電流比較判定信号を出力する。また、ラ
ンプ電流検出・比較回路１２は集合表示器２０に接続さ
れ、区分毎のランプに流れるランプ電流１３を母線Ｎに
流している。
ランプテスト制御回路８からランプ電流検出信号１１を
入力し、ランプ電流比較判定信号を出力する。また、ラ
ンプ電流検出・比較回路１２は集合表示器２０に接続さ
れ、区分毎のランプに流れるランプ電流１３を母線Ｎに
流している。
【００１８】ランプ電流値ホールド回路１６は請求項３
または請求項５に記載した検出したランプ電流の合計値
をランプ電流ホールド値とを比較しランプ電流の合計値
がランプ電流ホールド値を超過した場合に超過信号を出
力する機能と、例えば横列方向の第１区分毎の逸脱信号
と、例えば縦列方向の第２区分毎の逸脱信号とから十文
字に検索して特性が劣化したランプを特定する機能とを
備えており、ランプテスト制御回路８およびランプ電流
検出・比較回路１２に接続されてランプ電流値更新信号
１５、１７を入力し、ランプ電流前回値１８をランプ電
流検出・比較回路１２に出力している。
または請求項５に記載した検出したランプ電流の合計値
をランプ電流ホールド値とを比較しランプ電流の合計値
がランプ電流ホールド値を超過した場合に超過信号を出
力する機能と、例えば横列方向の第１区分毎の逸脱信号
と、例えば縦列方向の第２区分毎の逸脱信号とから十文
字に検索して特性が劣化したランプを特定する機能とを
備えており、ランプテスト制御回路８およびランプ電流
検出・比較回路１２に接続されてランプ電流値更新信号
１５、１７を入力し、ランプ電流前回値１８をランプ電
流検出・比較回路１２に出力している。
【００１９】そして、これらランプテスト制御回路８、
ランプ電流検出・比較回路１２およびランプ電流値ホー
ルド回路１６によってランプテスト装置２１を構成して
いる。 図３は正常時のランプテスト結果を示すタイム
チャート（時間経過図）であり、ランプテストスイッチ
３が操作された場合にランプテスト信号３ａが発生し、
通常表示キャンセル信号９およびランプテスト順次点灯
信号１０が縦１列目、縦２列目、縦３列目、次に横３列
目、横２列目と順次推移し、集合表示器２０のランプが
縦、横各１列ごとに順次点灯することを示している。
ランプ電流検出・比較回路１２およびランプ電流値ホー
ルド回路１６によってランプテスト装置２１を構成して
いる。 図３は正常時のランプテスト結果を示すタイム
チャート（時間経過図）であり、ランプテストスイッチ
３が操作された場合にランプテスト信号３ａが発生し、
通常表示キャンセル信号９およびランプテスト順次点灯
信号１０が縦１列目、縦２列目、縦３列目、次に横３列
目、横２列目と順次推移し、集合表示器２０のランプが
縦、横各１列ごとに順次点灯することを示している。
【００２０】また、破線Ｒおよび経過Ｓは現場ランプテ
スト時を示し、経過Ｓと経過Ｔとは遠方テスト時の場合
のタイムチャートを示しており、現場でのランプテスト
は縦列のみ順次点灯させ、遠方からのランプテストでは
縦列、横列両方のランプを順次点灯させている。また、
現場でのランプテストではランプ電流値に異常が発生し
た列を現場ランプ点灯確認スイッチ５が押されるか、予
め設定されたタイマ時間経過後に次の列に移行する。
スト時を示し、経過Ｓと経過Ｔとは遠方テスト時の場合
のタイムチャートを示しており、現場でのランプテスト
は縦列のみ順次点灯させ、遠方からのランプテストでは
縦列、横列両方のランプを順次点灯させている。また、
現場でのランプテストではランプ電流値に異常が発生し
た列を現場ランプ点灯確認スイッチ５が押されるか、予
め設定されたタイマ時間経過後に次の列に移行する。
【００２１】図４は電流値が異常値の場合のタイムチャ
ートを示しており、信号Ｋはランプテスト順次点灯信号
１０より長い時間経過することによって縦２列目のラン
プ電流値が異常であることを示し、ランプ確認信号５を
出力している。
ートを示しており、信号Ｋはランプテスト順次点灯信号
１０より長い時間経過することによって縦２列目のラン
プ電流値が異常であることを示し、ランプ確認信号５を
出力している。
【００２２】図５はランプ電流の比較および更新を説明
するフローチャート説明図であり、ランプ電流検出・比
較回路１２に内蔵されているランプ電流検出回路１２ａ
とランプ電流比較回路１２ｃの機能を示している。１２
ｂは前回のランプ電流が零であるか否かを判定する判定
回路であり、ランプ電流検出信号１１によってランプ電
流１３を検出し、ランプ電流値ホールド回路１６に保存
されているランプ電流前回値信号１８と比較し、ランプ
電流比較判定信号１４の他にランプ電流値更新信号１７
およびランプ電流値更新不可信号１７ｂが出力される。
するフローチャート説明図であり、ランプ電流検出・比
較回路１２に内蔵されているランプ電流検出回路１２ａ
とランプ電流比較回路１２ｃの機能を示している。１２
ｂは前回のランプ電流が零であるか否かを判定する判定
回路であり、ランプ電流検出信号１１によってランプ電
流１３を検出し、ランプ電流値ホールド回路１６に保存
されているランプ電流前回値信号１８と比較し、ランプ
電流比較判定信号１４の他にランプ電流値更新信号１７
およびランプ電流値更新不可信号１７ｂが出力される。
【００２３】尚、ランプテスト異常信号１９は遠方から
のランプテスト時のみ出力され、請求項６に記載したよ
うにＢＣＤ（バイナリ・コード・デシマル）などの信号
に変換されて遠方に伝送され、ランプ故障の確認が行な
われる。
のランプテスト時のみ出力され、請求項６に記載したよ
うにＢＣＤ（バイナリ・コード・デシマル）などの信号
に変換されて遠方に伝送され、ランプ故障の確認が行な
われる。
【００２４】本実施例では集合表示灯などのランプテス
トを行なう場合に、縦１列ごとに順次点灯を行なうため
に、一時的に発生するランプ消費電流を少なくし、配線
も特に太くする必要がなくなった。また、ランプの故障
箇所において順次点灯することを停止する順次点灯中止
機能を有するため、従来用いられた分割点灯による目視
チェックの見落としを防止することが可能である。
トを行なう場合に、縦１列ごとに順次点灯を行なうため
に、一時的に発生するランプ消費電流を少なくし、配線
も特に太くする必要がなくなった。また、ランプの故障
箇所において順次点灯することを停止する順次点灯中止
機能を有するため、従来用いられた分割点灯による目視
チェックの見落としを防止することが可能である。
【００２５】更に、本実施例では、遠方からのランプテ
ストが可能となり、ランプ故障を遠方にて把握できるこ
とから、現場でランプテストを行なわなくても誤認識す
ることを防止することができ信頼性と安全性を著しく向
上させることが可能である。
ストが可能となり、ランプ故障を遠方にて把握できるこ
とから、現場でランプテストを行なわなくても誤認識す
ることを防止することができ信頼性と安全性を著しく向
上させることが可能である。
【００２６】
【発明の効果】本発明により、ランプ点灯試験装置の操
作安全性を向上させることができる。
作安全性を向上させることができる。
【図１】本発明の一実施例を示すランプ点灯試験装置の
構成図である。
構成図である。
【図２】図１の集合表示灯の一例を示す正面図である。
【図３】正常時のランプテストを示すタイムチャート説
明図である。
明図である。
【図４】ランプ電流異常時のランプテストを示すタイム
チャート説明図である。
チャート説明図である。
【図５】ランプ電流の比較および更新を示すフローチャ
ート説明図である。
ート説明図である。
【図６】従来のランプ点灯試験装置を示す構成図であ
る。
る。
１ ランプ点灯接点 ２ 現場／遠方接点 ３ 現場ランプテストスイッチ ４ 遠方ランプテスト接点 ５ 現場ランプ点灯確認スイッチ ６ ランプテスト入力回路 ８ ランプテスト制御回路 １２ ランプ電流検出・比較回路 １６ ランプ電流値ホールド回路 ２０ 集合表示灯 ２１ ランプテスト装置
Claims (6)
- 【請求項１】 並列状態に接続された複数個のランプを
予め定めた区分に従って順次点灯するランプテスト制御
回路と、このランプテスト制御回路によって点灯された
区分毎のランプに流れるランプ電流の合計値を検出する
ランプ電流検出回路と、このランプ電流検出回路によっ
て検出した前記ランプ電流の合計値を予め定めたランプ
電流設定値と比較して予め定めたランプ電流許容値を逸
脱した場合に異常信号を出力するランプ電流比較回路
と、を具備してなるランプ点灯試験装置。 - 【請求項２】 前記ランプ電流比較回路から出力された
前記異常信号によって前記ランプテスト制御回路の作動
を一時的に停止させるランプ制御一時停止回路を備えた
ことを特徴とする前記請求項１に記載したランプ点灯試
験装置。 - 【請求項３】 並列状態に接続された複数個のランプを
予め定めた区分に従って順次点灯するランプテスト制御
回路と、このランプテスト制御回路によって点灯された
前記区分毎のランプに流れるランプ電流の合計値を検出
するランプ電流検出回路と、このランプ電流検出回路に
よって検出した前記ランプ電流の合計値をランプ電流ホ
ールド値として保持するランプ電流値ホールド回路と、
前記ランプ電流検出回路によって検出した前記ランプ電
流の合計値と前記ランプ電流ホールド値とを比較し前記
ランプ電流の合計値が前記ランプ電流ホールド値を超過
した場合に超過信号を出力するランプ電流比較回路と、
を具備してなるランプ点灯試験装置。 - 【請求項４】 並列状態に接続された複数個のランプを
予め定めた第１区分に従って順次点灯し、その後前記区
分の仕方を変更し得られた第２区分に従って再び順次点
灯する二重ランプテスト制御回路と、このランプテスト
制御回路によって点灯された前記第１または第２区分毎
のランプに流れるランプ電流の合計値を検出するランプ
電流検出回路と、このランプ電流検出回路によって検出
した前記ランプ電流の合計値を予め定めたランプ電流設
定値と比較して予め定めたランプ電流許容値を逸脱した
場合に前記第１または第２区分毎に逸脱信号を出力する
ランプ電流比較回路と、このランプ電流比較回路から出
力された前記第１または第２区分毎の逸脱信号から特性
が劣化したランプを特定する不良ランプ特定回路と、を
具備してなるランプ点灯試験装置。 - 【請求項５】 並列状態に接続された複数個のランプを
予め定めた第１区分に従って順次点灯し、その後前記区
分の仕方を変更し得られた第２区分に従って再び順次点
灯する二重ランプテスト制御回路と、このランプテスト
制御回路によって点灯された前記第１または第２区分毎
のランプに流れるランプ電流の合計値を検出するランプ
電流検出回路と、このランプ電流検出回路によって検出
した前記ランプ電流の合計値を前記ランプ電流ホールド
値とを比較し前記ランプ電流の合計値が前記ランプ電流
ホールド値を超過した場合に超過信号を出力するランプ
電流比較回路と、このランプ電流比較回路から出力され
た前記第１または第２区分毎の逸脱信号から特性が劣化
したランプを特定する不良ランプ特定回路と、を具備し
てなるランプ点灯試験装置。 - 【請求項６】 前記異常信号または前記超過信号または
前記逸脱信号をＢＣＤコードに変換する信号変換装置
と、変換された前記ＢＣＤコードを伝送する伝送装置と
を具備したことを特徴とする請求項１乃至請求項６に記
載したランプ点灯試験装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5263997A JPH10253697A (ja) | 1997-03-07 | 1997-03-07 | ランプ点灯試験装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5263997A JPH10253697A (ja) | 1997-03-07 | 1997-03-07 | ランプ点灯試験装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH10253697A true JPH10253697A (ja) | 1998-09-25 |
Family
ID=12920412
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP5263997A Pending JPH10253697A (ja) | 1997-03-07 | 1997-03-07 | ランプ点灯試験装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH10253697A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR101020489B1 (ko) | 2010-03-22 | 2011-03-09 | 엘지이노텍 주식회사 | 엘이디 램프 검사장치 및 검사방법 |
| KR101039652B1 (ko) | 2010-03-22 | 2011-06-09 | 엘지이노텍 주식회사 | 엘이디 램프 검사장치의 동작방법 |
| US8705023B2 (en) | 2010-03-22 | 2014-04-22 | Lg Innotek Co., Ltd. | Testing apparatus and method for testing light emitting diode lamp |
-
1997
- 1997-03-07 JP JP5263997A patent/JPH10253697A/ja active Pending
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR101020489B1 (ko) | 2010-03-22 | 2011-03-09 | 엘지이노텍 주식회사 | 엘이디 램프 검사장치 및 검사방법 |
| KR101039652B1 (ko) | 2010-03-22 | 2011-06-09 | 엘지이노텍 주식회사 | 엘이디 램프 검사장치의 동작방법 |
| US8670112B2 (en) | 2010-03-22 | 2014-03-11 | Lg Innotek Co., Ltd. | Testing apparatus for testing light emitting diode lamp and method for operating the same |
| US8705023B2 (en) | 2010-03-22 | 2014-04-22 | Lg Innotek Co., Ltd. | Testing apparatus and method for testing light emitting diode lamp |
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