JPH10266959A - 真空排気システム - Google Patents
真空排気システムInfo
- Publication number
- JPH10266959A JPH10266959A JP8875297A JP8875297A JPH10266959A JP H10266959 A JPH10266959 A JP H10266959A JP 8875297 A JP8875297 A JP 8875297A JP 8875297 A JP8875297 A JP 8875297A JP H10266959 A JPH10266959 A JP H10266959A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- trap
- chamber
- regeneration
- exhaust gas
- path
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 238000003860 storage Methods 0.000 claims abstract description 12
- 230000001172 regenerating effect Effects 0.000 claims abstract description 10
- 230000008929 regeneration Effects 0.000 claims description 56
- 238000011069 regeneration method Methods 0.000 claims description 56
- 239000007788 liquid Substances 0.000 claims description 25
- 238000011282 treatment Methods 0.000 claims description 20
- 238000004140 cleaning Methods 0.000 claims description 18
- 239000000470 constituent Substances 0.000 abstract 2
- 239000007789 gas Substances 0.000 description 59
- 238000000034 method Methods 0.000 description 13
- 239000003507 refrigerant Substances 0.000 description 7
- IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N Atomic nitrogen Chemical compound N#N IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 6
- 238000000859 sublimation Methods 0.000 description 6
- 230000008022 sublimation Effects 0.000 description 6
- 239000006227 byproduct Substances 0.000 description 5
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 description 5
- 238000007789 sealing Methods 0.000 description 5
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 4
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 4
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 3
- 229910052757 nitrogen Inorganic materials 0.000 description 3
- 239000007795 chemical reaction product Substances 0.000 description 2
- 238000005229 chemical vapour deposition Methods 0.000 description 2
- 238000011109 contamination Methods 0.000 description 2
- 239000002826 coolant Substances 0.000 description 2
- 238000001816 cooling Methods 0.000 description 2
- 238000007599 discharging Methods 0.000 description 2
- 239000000463 material Substances 0.000 description 2
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 2
- 239000003921 oil Substances 0.000 description 2
- 239000002244 precipitate Substances 0.000 description 2
- 238000011144 upstream manufacturing Methods 0.000 description 2
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Substances O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 238000010521 absorption reaction Methods 0.000 description 1
- 230000002411 adverse Effects 0.000 description 1
- 239000000498 cooling water Substances 0.000 description 1
- 238000000354 decomposition reaction Methods 0.000 description 1
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 1
- 238000001784 detoxification Methods 0.000 description 1
- 238000009792 diffusion process Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000005530 etching Methods 0.000 description 1
- 239000002360 explosive Substances 0.000 description 1
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 description 1
- 239000001307 helium Substances 0.000 description 1
- 229910052734 helium Inorganic materials 0.000 description 1
- SWQJXJOGLNCZEY-UHFFFAOYSA-N helium atom Chemical compound [He] SWQJXJOGLNCZEY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000011086 high cleaning Methods 0.000 description 1
- 239000011810 insulating material Substances 0.000 description 1
- 238000009413 insulation Methods 0.000 description 1
- 239000010687 lubricating oil Substances 0.000 description 1
- 239000003566 sealing material Substances 0.000 description 1
- 239000007787 solid Substances 0.000 description 1
- 238000001179 sorption measurement Methods 0.000 description 1
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 1
- 230000005676 thermoelectric effect Effects 0.000 description 1
- 231100000331 toxic Toxicity 0.000 description 1
- 230000002588 toxic effect Effects 0.000 description 1
- 238000009834 vaporization Methods 0.000 description 1
- 230000008016 vaporization Effects 0.000 description 1
- 238000005406 washing Methods 0.000 description 1
- 238000003466 welding Methods 0.000 description 1
Landscapes
- Compressors, Vaccum Pumps And Other Relevant Systems (AREA)
- Drying Of Semiconductors (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】 PFCなどのガスの大気への放出を防止する
とともに、排ガス処理装置の負担軽減、真空ポンプの長
寿命化を図って、環境保全、運転の信頼性と安全性の向
上、更には設備や運転コストの低減を図る。 【解決手段】 真空チャンバ10と真空ポンプ12の間
の排気経路14に、排ガスの成分をトラップ部18でト
ラップするトラップ室32aとトラップされた成分を再
生する再生室34aとを有するトラップ装置20が設け
られ、再生室から延びる再生経路16には排ガス処理装
置22と排ガス処理装置で処理できないガスを貯蔵する
ガス貯蔵容器24が設けられていることを特徴とする。
とともに、排ガス処理装置の負担軽減、真空ポンプの長
寿命化を図って、環境保全、運転の信頼性と安全性の向
上、更には設備や運転コストの低減を図る。 【解決手段】 真空チャンバ10と真空ポンプ12の間
の排気経路14に、排ガスの成分をトラップ部18でト
ラップするトラップ室32aとトラップされた成分を再
生する再生室34aとを有するトラップ装置20が設け
られ、再生室から延びる再生経路16には排ガス処理装
置22と排ガス処理装置で処理できないガスを貯蔵する
ガス貯蔵容器24が設けられていることを特徴とする。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、例えば半導体製造
装置等の真空チャンバを真空にするために用いる真空排
気システムに関するものである。
装置等の真空チャンバを真空にするために用いる真空排
気システムに関するものである。
【0002】
【従来の技術】従来の真空排気システムを、図5を参照
して説明する。ここにおいて、真空チャンバ101は、
例えばエッチング装置や化学気相成長装置(CVD)等
の半導体製造工程に用いるプロセスチャンバであり、こ
の真空チャンバ101は、配管102を通じて真空ポン
プ103に接続されている。真空ポンプ103は、真空
チャンバ101からのプロセスの排ガスを大気圧まで昇
圧するためのもので、従来は油回転式ポンプが、現在は
ドライポンプが主に使用されている。
して説明する。ここにおいて、真空チャンバ101は、
例えばエッチング装置や化学気相成長装置(CVD)等
の半導体製造工程に用いるプロセスチャンバであり、こ
の真空チャンバ101は、配管102を通じて真空ポン
プ103に接続されている。真空ポンプ103は、真空
チャンバ101からのプロセスの排ガスを大気圧まで昇
圧するためのもので、従来は油回転式ポンプが、現在は
ドライポンプが主に使用されている。
【0003】真空チャンバ101が必要とする真空度が
ドライポンプ103の到達真空度よりも高い場合には、
ドライポンプの上流側にさらにターボ分子ポンプ等の超
高真空ポンプが配置されることもある。プロセスの排ガ
スは、プロセスの種類により毒性や爆発性があるので、
そのまま大気に放出できない。そのため、真空ポンプ1
03の下流には排ガス処理装置104が配備されてい
る。大気圧まで昇圧されたプロセスの排ガスのうち、上
記のような大気に放出できないものは、ここで吸着、分
解、吸収等の処理が行われて無害なガスのみが大気に放
出される。なお、配管102には必要に応じて適所にバ
ルブが設けられている。
ドライポンプ103の到達真空度よりも高い場合には、
ドライポンプの上流側にさらにターボ分子ポンプ等の超
高真空ポンプが配置されることもある。プロセスの排ガ
スは、プロセスの種類により毒性や爆発性があるので、
そのまま大気に放出できない。そのため、真空ポンプ1
03の下流には排ガス処理装置104が配備されてい
る。大気圧まで昇圧されたプロセスの排ガスのうち、上
記のような大気に放出できないものは、ここで吸着、分
解、吸収等の処理が行われて無害なガスのみが大気に放
出される。なお、配管102には必要に応じて適所にバ
ルブが設けられている。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】ここに、例えば半導体
製造過程で使用されるCF4やC2F6などのPFCガス
は、人体には無害であるが、地球環境に対して有害であ
ることが判っており、何らかの手法で大気への放出を防
ぐことが望まれているが、従来の真空排気システムで
は、このPFCガスを排ガス処理装置で処理できずに大
気中に放出されており、この要望に応えることができな
いのが現状であった。
製造過程で使用されるCF4やC2F6などのPFCガス
は、人体には無害であるが、地球環境に対して有害であ
ることが判っており、何らかの手法で大気への放出を防
ぐことが望まれているが、従来の真空排気システムで
は、このPFCガスを排ガス処理装置で処理できずに大
気中に放出されており、この要望に応えることができな
いのが現状であった。
【0005】しかも、真空ポンプの下流側に排ガス処理
装置が置かれているため、真空ポンプの希釈パージ用N
2ガスが排ガスと一緒に排ガス処理装置に流れ込んで、
この大型化に繋がってしまうばかりでなく、ランニング
コストも高くなってしまう。
装置が置かれているため、真空ポンプの希釈パージ用N
2ガスが排ガスと一緒に排ガス処理装置に流れ込んで、
この大型化に繋がってしまうばかりでなく、ランニング
コストも高くなってしまう。
【0006】また、真空チャンバ内での反応生成物の中
に昇華温度の高い物質があると、排ガスを真空ポンプで
排気する際に、ポンプ内での昇圧の途中にガスが固形化
し、真空ポンプ内に析出して真空ポンプの故障の原因に
なるといった問題があった。
に昇華温度の高い物質があると、排ガスを真空ポンプで
排気する際に、ポンプ内での昇圧の途中にガスが固形化
し、真空ポンプ内に析出して真空ポンプの故障の原因に
なるといった問題があった。
【0007】本発明は上述の事情に鑑みなされたもので
あり、PFCなどのガスの大気への放出を防止するとと
もに、排ガス処理装置の負担軽減、真空ポンプの長寿命
化を図って、環境保全、運転の信頼性と安全性の向上、
更には設備や運転コストの低減を図ることができる真空
排気システムを提供することを目的としている。
あり、PFCなどのガスの大気への放出を防止するとと
もに、排ガス処理装置の負担軽減、真空ポンプの長寿命
化を図って、環境保全、運転の信頼性と安全性の向上、
更には設備や運転コストの低減を図ることができる真空
排気システムを提供することを目的としている。
【0008】
【課題を解決するための手段】請求項1に記載の発明
は、真空チャンバから排気する排気経路に、排ガスの成
分をトラップ部でトラップするトラップ室と該トラップ
部でトラップされた成分を再生する再生室とを有するト
ラップ装置が設けられ、前記再生室から延びる再生経路
に排ガス処理装置と該排ガス処理装置で処理できないガ
スを貯蔵するガス貯蔵容器が設けられていることを特徴
とする真空排気システムである。
は、真空チャンバから排気する排気経路に、排ガスの成
分をトラップ部でトラップするトラップ室と該トラップ
部でトラップされた成分を再生する再生室とを有するト
ラップ装置が設けられ、前記再生室から延びる再生経路
に排ガス処理装置と該排ガス処理装置で処理できないガ
スを貯蔵するガス貯蔵容器が設けられていることを特徴
とする真空排気システムである。
【0009】これにより、例えばPFCガスを排ガスか
らトラップ装置のトラップ部でトラップし、再生室で再
生した後、ガス貯蔵容器内に貯蔵して、この大気への放
出を防止しつつ、この再利用を図ることができる。しか
も、真空ポンプの上流側にトラップ装置を配置し、これ
で昇華温度の高い反応生成物をトラップして、真空ポン
プ内に固形物が析出することを防止し、更に再生室から
延びる再生経路にガス処理装置を設けて、この小型化を
図ることができる。
らトラップ装置のトラップ部でトラップし、再生室で再
生した後、ガス貯蔵容器内に貯蔵して、この大気への放
出を防止しつつ、この再利用を図ることができる。しか
も、真空ポンプの上流側にトラップ装置を配置し、これ
で昇華温度の高い反応生成物をトラップして、真空ポン
プ内に固形物が析出することを防止し、更に再生室から
延びる再生経路にガス処理装置を設けて、この小型化を
図ることができる。
【0010】真空チャンバは、例えば、CF4やC2F6
などのPFCガスを流す半導体製造装置用のプロセスチ
ャンバである。真空ポンプとしては、油による逆拡散に
よるチャンバの汚染を防ぐために潤滑油を用いないドラ
イポンプを用いるのが好ましい。
などのPFCガスを流す半導体製造装置用のプロセスチ
ャンバである。真空ポンプとしては、油による逆拡散に
よるチャンバの汚染を防ぐために潤滑油を用いないドラ
イポンプを用いるのが好ましい。
【0011】請求項2に記載の発明は、前記トラップ装
置は、前記トラップ部を冷却して前記成分を析出させる
低温トラップであることを特徴とする請求項1に記載の
真空排気システムである。
置は、前記トラップ部を冷却して前記成分を析出させる
低温トラップであることを特徴とする請求項1に記載の
真空排気システムである。
【0012】トラップ部を低温トラップとして構成する
場合、外部から温度媒体をトラップ部に流通させる方法
があり、液化ガスの気化熱(例えば液体窒素)、あるい
は冷却水、冷媒などがある。また、熱電素子(ペルチェ
素子)や、パルスチューブ冷凍機などを用いて温度媒体
そのものを流さずにトラップ部で低温を発生させる方法
もある。例えば、トラップ部は、ヘリウム冷凍器等によ
って、−200℃程度まで冷却される。
場合、外部から温度媒体をトラップ部に流通させる方法
があり、液化ガスの気化熱(例えば液体窒素)、あるい
は冷却水、冷媒などがある。また、熱電素子(ペルチェ
素子)や、パルスチューブ冷凍機などを用いて温度媒体
そのものを流さずにトラップ部で低温を発生させる方法
もある。例えば、トラップ部は、ヘリウム冷凍器等によ
って、−200℃程度まで冷却される。
【0013】請求項3に記載の発明は、前記再生室は前
記トラップ室に隣接して配置され、前記トラップ部が前
記トラップ室と再生室との間を切替移動自在に構成され
ていることを特徴とする請求項1または2に記載のトラ
ップ装置である。これにより、トラップ室内にあったト
ラップ部をトラップ室から再生室に移動させることによ
って、トラップ部を取り外すことなく、トラップと再生
を連続的に繰り返すことができる。また、適当な切替タ
イミング判定手段を用いて完全な自動化を図ることも容
易である。
記トラップ室に隣接して配置され、前記トラップ部が前
記トラップ室と再生室との間を切替移動自在に構成され
ていることを特徴とする請求項1または2に記載のトラ
ップ装置である。これにより、トラップ室内にあったト
ラップ部をトラップ室から再生室に移動させることによ
って、トラップ部を取り外すことなく、トラップと再生
を連続的に繰り返すことができる。また、適当な切替タ
イミング判定手段を用いて完全な自動化を図ることも容
易である。
【0014】トラップ部の切替駆動は、エアーシリンダ
で行なうようにしてもよい。その場合は、ソレノイドバ
ルブ、スピードコントローラで構成されたエアー駆動制
御機器により制御するようにしてもよく、さらに、エア
ー駆動制御機器を、シーケンサあるいは、リレーによる
制御信号により、制御するようにしてもよい。
で行なうようにしてもよい。その場合は、ソレノイドバ
ルブ、スピードコントローラで構成されたエアー駆動制
御機器により制御するようにしてもよく、さらに、エア
ー駆動制御機器を、シーケンサあるいは、リレーによる
制御信号により、制御するようにしてもよい。
【0015】トラップ部の切替を人手を介することなく
完全に自動的に行なう方法としては、例えば、トラップ
部の前後の差圧を検出するセンサを設けてこれの検出値
が所定値になったときに切替を行なう方法、あるいはよ
り実用的な方法として予め適当な切替時間を設定してお
く方法がある。排気経路と再生ガス循環経路が1対1で
ある場合には、トラップと再生の時間は同一となるの
で、再生終了時間の方が短くなるように再生能力をトラ
ップ能力より高めておくのが望ましい。
完全に自動的に行なう方法としては、例えば、トラップ
部の前後の差圧を検出するセンサを設けてこれの検出値
が所定値になったときに切替を行なう方法、あるいはよ
り実用的な方法として予め適当な切替時間を設定してお
く方法がある。排気経路と再生ガス循環経路が1対1で
ある場合には、トラップと再生の時間は同一となるの
で、再生終了時間の方が短くなるように再生能力をトラ
ップ能力より高めておくのが望ましい。
【0016】請求項4に記載の発明は、前記再生室内に
洗浄液を循環させる洗浄液経路が付設されていることを
特徴とする請求項1乃至3のいずれかに記載の真空排気
システムである。これにより、再生室の内部を洗浄能力
の高い洗浄液で確実かつ迅速に洗浄することができる。
洗浄液を循環させる洗浄液経路が付設されていることを
特徴とする請求項1乃至3のいずれかに記載の真空排気
システムである。これにより、再生室の内部を洗浄能力
の高い洗浄液で確実かつ迅速に洗浄することができる。
【0017】
【発明の実施の形態】以下、図面を用いて本発明の実施
の形態について説明する。図1に示すのは、真空チャン
バ10を真空ポンプ12により排気する排気経路14に
隣接して再生経路16が配置され、この排気経路14及
び再生経路16に交差する方向(以下、交差方向とい
う)に直進移動して切替可能に配置されたトラップ部1
8を有するトラップ装置20が設けられているものであ
る。真空ポンプ12は、この例では一段であるが多段と
しても良い。排気経路14には、必要に応じて排ガス処
理装置19が配置されている。
の形態について説明する。図1に示すのは、真空チャン
バ10を真空ポンプ12により排気する排気経路14に
隣接して再生経路16が配置され、この排気経路14及
び再生経路16に交差する方向(以下、交差方向とい
う)に直進移動して切替可能に配置されたトラップ部1
8を有するトラップ装置20が設けられているものであ
る。真空ポンプ12は、この例では一段であるが多段と
しても良い。排気経路14には、必要に応じて排ガス処
理装置19が配置されている。
【0018】このトラップ装置20は、以下に詳細に説
明するように、ケーシング26内に位置してトラップ室
32aと再生室34aとを有し、このトラップ室32a
と再生室34aとの間をトラップ部18が移動するよう
になっている。そして、排気経路14はトラップ室32
aと、再生経路16は再生室34aとそれぞれ接続され
ている。
明するように、ケーシング26内に位置してトラップ室
32aと再生室34aとを有し、このトラップ室32a
と再生室34aとの間をトラップ部18が移動するよう
になっている。そして、排気経路14はトラップ室32
aと、再生経路16は再生室34aとそれぞれ接続され
ている。
【0019】前記排気経路14に並列して再生室34a
内を通る洗浄液循環経路70が付設されている。すなわ
ち、この洗浄液循環経路70には、循環ポンプ72と洗
浄液槽74が設けられ、この循環ポンプ72の駆動に伴
って、再生室34a内を洗浄液が循環して、この内部に
付着した昇華温度の高い副生成物等を該洗浄液で洗浄す
るようになっている。再生経路16には、排ガス処理装
置22と、この下流に位置して該排ガス処理装置22で
処理できなかったガスを貯蔵するガス貯蔵容器24が配
置されている。
内を通る洗浄液循環経路70が付設されている。すなわ
ち、この洗浄液循環経路70には、循環ポンプ72と洗
浄液槽74が設けられ、この循環ポンプ72の駆動に伴
って、再生室34a内を洗浄液が循環して、この内部に
付着した昇華温度の高い副生成物等を該洗浄液で洗浄す
るようになっている。再生経路16には、排ガス処理装
置22と、この下流に位置して該排ガス処理装置22で
処理できなかったガスを貯蔵するガス貯蔵容器24が配
置されている。
【0020】図2及び図3は、トラップ装置20を示す
もので、これは、排気経路14と再生経路16(及び洗
浄液循環経路70)に跨って配置された直方体状のケー
シング26と、このケーシング26を交差方向に貫通す
る軸体28と、この軸体28を軸方向に往復移動させる
駆動手段であるエアシリンダ30を備えている。ケーシ
ング26は、内部をトラップ室32aとしたトラップ容
器32と、内部を再生室34aとした再生容器34とを
有している。
もので、これは、排気経路14と再生経路16(及び洗
浄液循環経路70)に跨って配置された直方体状のケー
シング26と、このケーシング26を交差方向に貫通す
る軸体28と、この軸体28を軸方向に往復移動させる
駆動手段であるエアシリンダ30を備えている。ケーシ
ング26は、内部をトラップ室32aとしたトラップ容
器32と、内部を再生室34aとした再生容器34とを
有している。
【0021】トラップ容器32には、排気経路14に接
続されてトラップ室32a内に排ガスを導入する排ガス
導入口32bと、このトラップ室32a内の排ガスを排
出する排ガス排出口32cが設けられている。また再生
容器34には、再生経路16に接続されて再生室34a
内に高温の再生用ガスを注入する注入口34bと、この
再生室34a内の再生ガスを排出する排出口34cが設
けられている。
続されてトラップ室32a内に排ガスを導入する排ガス
導入口32bと、このトラップ室32a内の排ガスを排
出する排ガス排出口32cが設けられている。また再生
容器34には、再生経路16に接続されて再生室34a
内に高温の再生用ガスを注入する注入口34bと、この
再生室34a内の再生ガスを排出する排出口34cが設
けられている。
【0022】この再生容器34の注入口34b及び排出
口34cは、図1に示す洗浄液循環経路70の液注入口
及び液排出口を兼ね、同図に示す循環ポンプ72の駆動
に伴って、この注入口34bから再生室34aの内部に
洗浄液が注入され、排出口34cから洗浄液が排出され
るようになっている。
口34cは、図1に示す洗浄液循環経路70の液注入口
及び液排出口を兼ね、同図に示す循環ポンプ72の駆動
に伴って、この注入口34bから再生室34aの内部に
洗浄液が注入され、排出口34cから洗浄液が排出され
るようになっている。
【0023】軸体28には、断熱性を有する素材からな
る一対のシール板40が配置され、その間に複数のバッ
フル板42が熱伝導を良くするために溶接等により軸体
28に一体に取付けられて前記トラップ部18が構成さ
れている。トラップ容器32と再生室34との隣接側に
は、バッフル板42は通過できるがシール板40は通過
できないような大きさの開口部36が設けられている。
更に、軸体28のケーシング26からの両突出部には、
ベローズ44が設けられており、排気経路14及び再生
経路16と外部環境との間の気密性を維持している。
る一対のシール板40が配置され、その間に複数のバッ
フル板42が熱伝導を良くするために溶接等により軸体
28に一体に取付けられて前記トラップ部18が構成さ
れている。トラップ容器32と再生室34との隣接側に
は、バッフル板42は通過できるがシール板40は通過
できないような大きさの開口部36が設けられている。
更に、軸体28のケーシング26からの両突出部には、
ベローズ44が設けられており、排気経路14及び再生
経路16と外部環境との間の気密性を維持している。
【0024】トラップ容器32の前記開口部36を挟ん
だ両側と該開口部36と対面する内面、及び再生容器3
4の前記開口部36と対面する内面の合計4カ所には、
シール板40の外形に沿った形状に形成されたシール板
収納部46が設けられている。シール板40は断熱性の
高い素材で形成されて、トラップ室32aと再生室34
aの間の熱移動を阻止するようにしているとともに、こ
の外周端面は、横断面円状に形成され、ここにシール部
48が設けられている。このシール部48は、シール板
40の外周端面に設けた凹部40a内にシール材として
のOリング50を嵌着して構成され、このシール板40
がシール板収納部46内に位置した時、Oリング50が
シール板収納部46の内周面に圧接するようになってい
る。ここに、このシール板収納部46の内周面は、シー
ル板40が入り易くなるように、テーパ状に形成されて
いる。
だ両側と該開口部36と対面する内面、及び再生容器3
4の前記開口部36と対面する内面の合計4カ所には、
シール板40の外形に沿った形状に形成されたシール板
収納部46が設けられている。シール板40は断熱性の
高い素材で形成されて、トラップ室32aと再生室34
aの間の熱移動を阻止するようにしているとともに、こ
の外周端面は、横断面円状に形成され、ここにシール部
48が設けられている。このシール部48は、シール板
40の外周端面に設けた凹部40a内にシール材として
のOリング50を嵌着して構成され、このシール板40
がシール板収納部46内に位置した時、Oリング50が
シール板収納部46の内周面に圧接するようになってい
る。ここに、このシール板収納部46の内周面は、シー
ル板40が入り易くなるように、テーパ状に形成されて
いる。
【0025】更に、シール板40の側端面または該側端
面が当接するシール板収納部46の壁面の一方には、第
2のシール部52が設けられている。この例では、1枚
のシール板40の1側端面に第2のシール部52を、3
つのシール板収納部46に第2のシール部52をそれぞ
れ設けた例を示している。即ち、シール板40にあって
は、その側端面にリング状の凹部40bを設け、この凹
部40b内にOリング54を嵌着することによって、ま
たシール板収納部46にあっては、この壁面にリング状
の凹部46aを設け、この凹部46a内にOリング54
を嵌着することによって、第2のシール部52が構成さ
れている。
面が当接するシール板収納部46の壁面の一方には、第
2のシール部52が設けられている。この例では、1枚
のシール板40の1側端面に第2のシール部52を、3
つのシール板収納部46に第2のシール部52をそれぞ
れ設けた例を示している。即ち、シール板40にあって
は、その側端面にリング状の凹部40bを設け、この凹
部40b内にOリング54を嵌着することによって、ま
たシール板収納部46にあっては、この壁面にリング状
の凹部46aを設け、この凹部46a内にOリング54
を嵌着することによって、第2のシール部52が構成さ
れている。
【0026】このように、シール板40とケーシング2
6(トラップ容器32及び再生容器34)との間をシー
ル板40の外周端面と側端面で二重にシールすることに
より、ここでのシールの完全性を図って、排気経路14
と再生経路16の気密性を維持している。
6(トラップ容器32及び再生容器34)との間をシー
ル板40の外周端面と側端面で二重にシールすることに
より、ここでのシールの完全性を図って、排気経路14
と再生経路16の気密性を維持している。
【0027】軸体28は、金属等の熱伝導性の良い材料
により形成された2重円筒体として形成され、冷媒供給
管56から供給された冷媒が軸体28の内側の管の内部
を通った後、両管の間の隙間を流れて冷媒排出管58か
ら排出され、これによって、バッフル板42が冷却され
るようになっている。ここにこの冷媒としては、例えば
液体窒素のような液体又は冷却された空気又は水等が使
用される。なお、再生の際には、この冷媒の供給を停止
するとともに、冷媒の替わりに再生用の加熱用熱媒体を
流通させることもできる。
により形成された2重円筒体として形成され、冷媒供給
管56から供給された冷媒が軸体28の内側の管の内部
を通った後、両管の間の隙間を流れて冷媒排出管58か
ら排出され、これによって、バッフル板42が冷却され
るようになっている。ここにこの冷媒としては、例えば
液体窒素のような液体又は冷却された空気又は水等が使
用される。なお、再生の際には、この冷媒の供給を停止
するとともに、冷媒の替わりに再生用の加熱用熱媒体を
流通させることもできる。
【0028】エアシリンダ30の駆動用のエアー配管
は、図4に示すようになっている。すなわち、エアー源
からのエアーはレギュレータ80で減圧され、ソレノイ
ドバルブ82に送られ、これの電磁信号による開閉の切
替によって制御されてシリンダ30に送られ、ピストン
が前進又は後退をする。この時のシリンダ30の駆動速
度はスピードコントローラ84で制御される。ソレノイ
ドバルブ82は、例えば、シーケンサ、リレー等からの
制御信号により、この例では一定時間毎に切替動作が行
われるように制御される。
は、図4に示すようになっている。すなわち、エアー源
からのエアーはレギュレータ80で減圧され、ソレノイ
ドバルブ82に送られ、これの電磁信号による開閉の切
替によって制御されてシリンダ30に送られ、ピストン
が前進又は後退をする。この時のシリンダ30の駆動速
度はスピードコントローラ84で制御される。ソレノイ
ドバルブ82は、例えば、シーケンサ、リレー等からの
制御信号により、この例では一定時間毎に切替動作が行
われるように制御される。
【0029】なお、トラップ部18のバッフル板42等
の所定位置に温度センサ66が、また、排ガス循環経路
16のトラップ部18の前後に圧力センサ68が設けら
れ、これにより温度や差圧を検知することができるよう
になっている。
の所定位置に温度センサ66が、また、排ガス循環経路
16のトラップ部18の前後に圧力センサ68が設けら
れ、これにより温度や差圧を検知することができるよう
になっている。
【0030】次に、前記のような構成の発明の実施の形
態の真空排気システムの作用を説明する。図2に示す位
置において、トラップ室32a内に位置するトラップ部
18には冷媒供給管56から液体窒素や冷却空気又は水
等の冷媒が供給され、これは軸体28と、これを介して
バッフル板42を冷却する。従って、これに接触した排
ガス中のPFCガスや昇華温度の高い副生成物といった
成分は、ここで析出しこれらに付着してトラップされ
る。
態の真空排気システムの作用を説明する。図2に示す位
置において、トラップ室32a内に位置するトラップ部
18には冷媒供給管56から液体窒素や冷却空気又は水
等の冷媒が供給され、これは軸体28と、これを介して
バッフル板42を冷却する。従って、これに接触した排
ガス中のPFCガスや昇華温度の高い副生成物といった
成分は、ここで析出しこれらに付着してトラップされ
る。
【0031】所定時間の経過後にエアシリンダ30が動
作し、図3に示すように、トラップ室32aにあったト
ラップ部18が再生室34a内に位置するように切り替
えられ、同時にこの内部に高温の再生用ガスが導入され
て、バッフル板42が昇温させられる。すると、トラッ
プ部18にトラップされた析出物が再び気化され、この
気化した再生ガスは、再生経路16に沿って排ガス処理
装置22に導かれて、ここで除害処理を受ける。この排
ガス処理装置22で処理できないPFCガス等は、ガス
貯蔵容器24内に貯蔵される。また、この状態で、必要
により、洗浄液循環経路70を介して再生室34a内に
洗浄液を注入することにより、この内部に析出した昇華
温度の高い副生成物等を該洗浄液で洗浄する。
作し、図3に示すように、トラップ室32aにあったト
ラップ部18が再生室34a内に位置するように切り替
えられ、同時にこの内部に高温の再生用ガスが導入され
て、バッフル板42が昇温させられる。すると、トラッ
プ部18にトラップされた析出物が再び気化され、この
気化した再生ガスは、再生経路16に沿って排ガス処理
装置22に導かれて、ここで除害処理を受ける。この排
ガス処理装置22で処理できないPFCガス等は、ガス
貯蔵容器24内に貯蔵される。また、この状態で、必要
により、洗浄液循環経路70を介して再生室34a内に
洗浄液を注入することにより、この内部に析出した昇華
温度の高い副生成物等を該洗浄液で洗浄する。
【0032】このようにして、地球環境に悪いPFCガ
スが大気に放出されることを防止し再利用するととも
に、洗浄液循環経路70を付設することにより、再生室
34aの内部を容易且つ迅速に洗浄することができる。
スが大気に放出されることを防止し再利用するととも
に、洗浄液循環経路70を付設することにより、再生室
34aの内部を容易且つ迅速に洗浄することができる。
【0033】ここで、シール板40は断熱性を持ってい
て、トラップ室32aと再生室34aが相互に断熱され
ているので、熱エネルギーのロスがなく、それぞれトラ
ップと再生が効率的に行われる。また、軸体28の両突
出部は、伸縮するベローズ44により気密を維持されて
いるので、外部との間の熱移動によるエネルギーロスや
処理の効率低下が抑えられ、安定したトラップと再生処
理が行われるとともに、外部からの汚染要素が排気経路
14に侵入することも防止される。
て、トラップ室32aと再生室34aが相互に断熱され
ているので、熱エネルギーのロスがなく、それぞれトラ
ップと再生が効率的に行われる。また、軸体28の両突
出部は、伸縮するベローズ44により気密を維持されて
いるので、外部との間の熱移動によるエネルギーロスや
処理の効率低下が抑えられ、安定したトラップと再生処
理が行われるとともに、外部からの汚染要素が排気経路
14に侵入することも防止される。
【0034】なお、トラップのための冷却手段として、
熱電効果により冷却を行なう熱電素子(ペルチェ素子)
を用いた冷却器を使用しても良いことは勿論である。こ
の種の冷却器は、2枚の金属板の間に熱電素子を間隔を
置いて配置することによって構成される。
熱電効果により冷却を行なう熱電素子(ペルチェ素子)
を用いた冷却器を使用しても良いことは勿論である。こ
の種の冷却器は、2枚の金属板の間に熱電素子を間隔を
置いて配置することによって構成される。
【0035】以上の実施の形態では、トラップ部18は
ケーシング26内を直線的に移動して切り替えられるよ
うになっているが、ケーシングを環状に形成し、トラッ
プ部をロータリー運動させることによって移動させても
良い。この場合には、1つの排気経路に対してトラップ
部18を3以上設けて2以上の再生室で同時に再生させ
ることができる。通常、トラップの速度より再生の速度
が遅いので、この点は特に有利である。
ケーシング26内を直線的に移動して切り替えられるよ
うになっているが、ケーシングを環状に形成し、トラッ
プ部をロータリー運動させることによって移動させても
良い。この場合には、1つの排気経路に対してトラップ
部18を3以上設けて2以上の再生室で同時に再生させ
ることができる。通常、トラップの速度より再生の速度
が遅いので、この点は特に有利である。
【0036】
【発明の効果】以上説明したように、この発明によれ
ば、PFCのような排ガス処理装置で処理できず地球環
境に悪影響を及ぼすガスが大気中に放出されてしまうこ
とを防止するとともに、これを回収し高い純度で再利用
することができる。しかも、排ガス処理装置内に流入す
るガス量を減らして、この小型化を図るとともに、真空
ポンプに流入する副生成物をポンプの前でトラップする
ことにより、この副生成物が真空ポンプ内で固定化する
のを防止して、長期間の安定した運転を行うことができ
る。
ば、PFCのような排ガス処理装置で処理できず地球環
境に悪影響を及ぼすガスが大気中に放出されてしまうこ
とを防止するとともに、これを回収し高い純度で再利用
することができる。しかも、排ガス処理装置内に流入す
るガス量を減らして、この小型化を図るとともに、真空
ポンプに流入する副生成物をポンプの前でトラップする
ことにより、この副生成物が真空ポンプ内で固定化する
のを防止して、長期間の安定した運転を行うことができ
る。
【図1】この発明の1つの実施の形態の真空排気システ
ムの構造を示す図である。
ムの構造を示す図である。
【図2】図1の実施の形態で使用されるトラップ装置を
一部を破断して示す正面図である。
一部を破断して示す正面図である。
【図3】図2のトラップ装置の切替後の状態を一部を破
断して示す正面図である。
断して示す正面図である。
【図4】エアシリンダの駆動系を示す図である。
【図5】従来の真空排気システムの構造を示す図であ
る。
る。
10 真空チャンバ 12 真空ポンプ 14 排気経路 16 再生経路 18 トラップ部 20 トラップ装置 22 排ガス処理装置 24 ガス貯蔵容器 26 ケーシング 28 軸体 30 エアシリンダ(駆動手段) 32 トラップ容器 32a トラップ室 34 再生容器 34a 再生室 42 バッフル板 46 シール板収納部 48,52 シール部 70 洗浄液循環経路 72 循環ポンプ
Claims (4)
- 【請求項1】 真空チャンバと真空ポンプの間の排気経
路に、排ガスの成分をトラップ部でトラップするトラッ
プ室とトラップされた成分を再生する再生室とを有する
トラップ装置が設けられ、前記再生室から延びる再生経
路には排ガス処理装置と該排ガス処理装置で処理できな
いガスを貯蔵するガス貯蔵容器が設けられていることを
特徴とする真空排気システム。 - 【請求項2】 前記トラップ装置は、前記トラップ部を
冷却して前記成分を析出させる低温トラップであること
を特徴とする請求項1に記載の真空排気システム。 - 【請求項3】 前記再生室は、前記トラップ室に隣接し
て配置され、前記トラップ部が前記トラップ室と再生室
との間を切替移動自在に構成されていることを特徴とす
る請求項1または2に記載の真空排気システム。 - 【請求項4】 前記再生室内に洗浄液を循環させる洗浄
液経路が付設されていることを特徴とする請求項1乃至
3のいずれかに記載の真空排気システム。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP08875297A JP3227104B2 (ja) | 1997-03-24 | 1997-03-24 | 真空排気システム |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP08875297A JP3227104B2 (ja) | 1997-03-24 | 1997-03-24 | 真空排気システム |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH10266959A true JPH10266959A (ja) | 1998-10-06 |
| JP3227104B2 JP3227104B2 (ja) | 2001-11-12 |
Family
ID=13951640
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP08875297A Expired - Fee Related JP3227104B2 (ja) | 1997-03-24 | 1997-03-24 | 真空排気システム |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3227104B2 (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2000026592A1 (fr) * | 1998-10-29 | 2000-05-11 | Ebara Corporation | Procede et dispositif de recuperation de gaz de type pfc |
| JP2019176054A (ja) * | 2018-03-29 | 2019-10-10 | 東京エレクトロン株式会社 | 基板処理システム及びガスの流量を求める方法 |
-
1997
- 1997-03-24 JP JP08875297A patent/JP3227104B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2000026592A1 (fr) * | 1998-10-29 | 2000-05-11 | Ebara Corporation | Procede et dispositif de recuperation de gaz de type pfc |
| EP1052466A4 (en) * | 1998-10-29 | 2002-09-18 | Ebara Corp | METHOD AND DEVICE FOR RECOVERING PFC GAS |
| KR100616583B1 (ko) * | 1998-10-29 | 2006-08-28 | 가부시키가이샤 에바라 세이사꾸쇼 | Pfc계 가스회수방법 및 장치 |
| JP2019176054A (ja) * | 2018-03-29 | 2019-10-10 | 東京エレクトロン株式会社 | 基板処理システム及びガスの流量を求める方法 |
| CN110323158A (zh) * | 2018-03-29 | 2019-10-11 | 东京毅力科创株式会社 | 基板处理系统及求出气体流量的方法 |
| CN110323158B (zh) * | 2018-03-29 | 2023-06-23 | 东京毅力科创株式会社 | 基板处理系统及求出气体流量的方法 |
| TWI820101B (zh) * | 2018-03-29 | 2023-11-01 | 日商東京威力科創股份有限公司 | 基板處理系統及求氣體流量之方法 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP3227104B2 (ja) | 2001-11-12 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JP3544604B2 (ja) | 切替式トラップ装置 | |
| KR101290051B1 (ko) | 트랩 장치, 배기계 및 이것을 이용한 처리 시스템 | |
| US6553811B2 (en) | Trap apparatus | |
| US6554879B1 (en) | Trap apparatus | |
| JP3643474B2 (ja) | 半導体処理システム及び半導体処理システムの使用方法 | |
| US6051053A (en) | Trapping device and method of operation therefor | |
| JP3227105B2 (ja) | 真空排気システム | |
| JP3630522B2 (ja) | 真空排気システム | |
| JP3227104B2 (ja) | 真空排気システム | |
| JP3162648B2 (ja) | トラップ装置 | |
| JP3162647B2 (ja) | トラップ装置 | |
| JPH1073078A (ja) | 真空排気システム | |
| JP3162649B2 (ja) | トラップ装置及びその再生方法 | |
| US6368371B1 (en) | Trap device and trap system | |
| JP3162650B2 (ja) | トラップ装置及びその再生方法 | |
| JP3129980B2 (ja) | トラップ装置及びその再生方法 | |
| JPH10176664A (ja) | シランの回収方法及び装置 | |
| JP3543901B2 (ja) | トラップ装置 | |
| JP3630518B2 (ja) | トラップ装置 | |
| JP3979458B2 (ja) | トラップ装置 | |
| JP2001323875A (ja) | 切替式トラップ装置 | |
| JPH11230035A (ja) | トラップシステム | |
| JPH074515B2 (ja) | 真空処理装置の運転方法 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| FPAY | Renewal fee payment (prs date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080831 Year of fee payment: 7 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (prs date is renewal date of database) |
Year of fee payment: 8 Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090831 |
|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |