JPH10268015A - ジッタ計測器用校正信号発生装置 - Google Patents
ジッタ計測器用校正信号発生装置Info
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- JPH10268015A JPH10268015A JP9322197A JP9322197A JPH10268015A JP H10268015 A JPH10268015 A JP H10268015A JP 9322197 A JP9322197 A JP 9322197A JP 9322197 A JP9322197 A JP 9322197A JP H10268015 A JPH10268015 A JP H10268015A
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- 239000003990 capacitor Substances 0.000 description 13
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- 239000000284 extract Substances 0.000 description 3
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Landscapes
- Signal Processing For Digital Recording And Reproducing (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】 ジッタ計測器での計測値の信頼性を高める。
【解決手段】 ガウシャンノイズ発生手段２３により、
電圧分布がガウス曲線に従うガウシャンノイズを発生す
る。ＰＷＭ変調手段２６はガウシャンノイズを変調信号
として、ＥＦＭ信号中の３Ｔに相当する周波数のパルス
にＰＷＭ変調し、この際、パルス幅の変動中心値をＥＦ
Ｍ信号中の３Ｔと一致させ、ＰＷＭ変調出力ＴＤを得
る。このＰＷＭ変調出力ＴＤは、ＣＤプレーヤのＥＦＭ
信号のジッタを計測するアナログ式ジッタ計測器の校正
信号として用いる。なお、ゲイン可変アンプ２４のゲイ
ンを可変することで、ＰＷＭ変調出力ＴＤのジッタの分
布の標準偏差を任意の所望値に設定できる。
電圧分布がガウス曲線に従うガウシャンノイズを発生す
る。ＰＷＭ変調手段２６はガウシャンノイズを変調信号
として、ＥＦＭ信号中の３Ｔに相当する周波数のパルス
にＰＷＭ変調し、この際、パルス幅の変動中心値をＥＦ
Ｍ信号中の３Ｔと一致させ、ＰＷＭ変調出力ＴＤを得
る。このＰＷＭ変調出力ＴＤは、ＣＤプレーヤのＥＦＭ
信号のジッタを計測するアナログ式ジッタ計測器の校正
信号として用いる。なお、ゲイン可変アンプ２４のゲイ
ンを可変することで、ＰＷＭ変調出力ＴＤのジッタの分
布の標準偏差を任意の所望値に設定できる。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明はジッタ計測器用校正
信号発生装置に係り、とくにＣＤプレーヤ、ＣＤ−ＲＯ
Ｍプレーヤ、ＭＤプレーヤ、ＤＶＤプレーヤなどの光デ
ィスク再生装置におけるＥＦＭ信号、８−１６変調信号
（ＥＦＭ+ 信号）、ＤＡＴなど磁気記録・再生装置にお
ける８−１０変調信号等のジッタを測定するアナログ式
ジッタ計測器の校正に好適なジッタ計測器用校正信号発
生装置に関する。
信号発生装置に係り、とくにＣＤプレーヤ、ＣＤ−ＲＯ
Ｍプレーヤ、ＭＤプレーヤ、ＤＶＤプレーヤなどの光デ
ィスク再生装置におけるＥＦＭ信号、８−１６変調信号
（ＥＦＭ+ 信号）、ＤＡＴなど磁気記録・再生装置にお
ける８−１０変調信号等のジッタを測定するアナログ式
ジッタ計測器の校正に好適なジッタ計測器用校正信号発
生装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】例えば、ＣＤプレーヤでは、ＣＤから検
出したＲＦ信号を２値化してＥＦＭ信号（ＮＲＺＩ波
形）を得、クロック再生をしてビットデータを読み取
る。そして、同期検出をしたのちＥＦＭ復調をし、ディ
インタリーブと、誤り検出及び訂正を施して音楽データ
を復調するようになっている。ＮＲＺＩ波形の形でのＥ
ＦＭ信号は、３Ｔ〜１１Ｔ（Ｔは単位チャネル周期）の
長さのパルスを有するが、ＣＤに記録されたピットの長
さのバラツキ、レーザビームスポットが有限な大きさを
持つこと、ＣＤの回転ムラ、光ピックアップ光学系の収
差や隣接トラックからのビーム反射光のクロストーク、
回路雑音等でジッタ（パルス幅の規定値からの偏差）の
発生が避けられない。ＥＦＭ信号のジッタが大きすぎる
と、音楽データの復調エラーが生じて正しく再生できな
くなってしまう。このため、ＣＤプレーヤの組立時、Ｅ
ＦＭ信号のジッタのジッタ量（例えば、ジッタの大きさ
分布の標準偏差）を測定し、一定量を越えていれば、フ
ォーカスバイアス電圧の調整をして一定量以下に収まる
ようにする。
出したＲＦ信号を２値化してＥＦＭ信号（ＮＲＺＩ波
形）を得、クロック再生をしてビットデータを読み取
る。そして、同期検出をしたのちＥＦＭ復調をし、ディ
インタリーブと、誤り検出及び訂正を施して音楽データ
を復調するようになっている。ＮＲＺＩ波形の形でのＥ
ＦＭ信号は、３Ｔ〜１１Ｔ（Ｔは単位チャネル周期）の
長さのパルスを有するが、ＣＤに記録されたピットの長
さのバラツキ、レーザビームスポットが有限な大きさを
持つこと、ＣＤの回転ムラ、光ピックアップ光学系の収
差や隣接トラックからのビーム反射光のクロストーク、
回路雑音等でジッタ（パルス幅の規定値からの偏差）の
発生が避けられない。ＥＦＭ信号のジッタが大きすぎる
と、音楽データの復調エラーが生じて正しく再生できな
くなってしまう。このため、ＣＤプレーヤの組立時、Ｅ
ＦＭ信号のジッタのジッタ量（例えば、ジッタの大きさ
分布の標準偏差）を測定し、一定量を越えていれば、フ
ォーカスバイアス電圧の調整をして一定量以下に収まる
ようにする。
【０００３】ＥＦＭ信号のジッタ量の測定にはジッタ計
測器を用いる。このジッタ計測器には大別して、周波数
カウンタ式とアナログ式が有り、前者は例えば、各３Ｔ
パルスの長さを高速クロックのカウントによりディジタ
ル的に計測し、計測値が或るサンプル数分集まったとこ
ろで、ジッタの大きさ分布の標準偏差を計算し、ジッタ
量を表示する。
測器を用いる。このジッタ計測器には大別して、周波数
カウンタ式とアナログ式が有り、前者は例えば、各３Ｔ
パルスの長さを高速クロックのカウントによりディジタ
ル的に計測し、計測値が或るサンプル数分集まったとこ
ろで、ジッタの大きさ分布の標準偏差を計算し、ジッタ
量を表示する。
【０００４】後者のアナログ式ジッタ計測器の一例を図
５のブロック図と、図６のタイムチャートを参照して説
明すると、ＣＤプレーヤのＲＦアンプから入力したＥＦ
Ｍ信号に対し、３Ｔ抽出回路１で３Ｔパルスの抜き取り
を行い、タイミング制御回路２に入力する。一方、定電
流源回路３とコンデンサ４との間に制御信号ＴＣ1 によ
り切り換え制御されるスイッチ５を設け、タイミング制
御回路２は３Ｔパルスの開始時点でスイッチ５を定電流
源回路３の側に切り換え、コンデンサ４を充電する。そ
して、３Ｔパルスの終了時点でスイッチ５を中立状態と
し、コンデンサ４の出力側に設けたサンプル＆ホールド
回路６にサンプルパルスＴＣ2 を出力し、コンデンサ４
の充電電圧をサンプル＆ホールドする。このあと、スイ
ッチ５をアース側（放電路側）に切り換えてコンデンサ
４を完全に放電させる。以下、３Ｔパルスが抜き取られ
る毎に同様の動作を繰り返す。この結果、サンプル＆ホ
ールド回路６からは、直前に入力された３Ｔパルスの長
さに比例した電圧が出力される。ＥＦＭ信号にジッタが
生じていることから、サンプル＆ホールド回路６の出力
は、新たな３Ｔパルスによりコンデンサ４が充電し直さ
れる度に変化する。サンプル＆ホールド回路６の出力側
に設けた直流カットコンデンサ７により、サンプル＆ホ
ールド回路６の出力の内、電圧変動分（ＡＣ成分）だ
け、すなわち各３Ｔパルスの長さの変動分だけ取り出
し、シグマ回路８でジッタの分布の標準偏差を検出した
あと、レベル調整回路９を経てメータ１０に入力し、指
針を振らせる。
５のブロック図と、図６のタイムチャートを参照して説
明すると、ＣＤプレーヤのＲＦアンプから入力したＥＦ
Ｍ信号に対し、３Ｔ抽出回路１で３Ｔパルスの抜き取り
を行い、タイミング制御回路２に入力する。一方、定電
流源回路３とコンデンサ４との間に制御信号ＴＣ1 によ
り切り換え制御されるスイッチ５を設け、タイミング制
御回路２は３Ｔパルスの開始時点でスイッチ５を定電流
源回路３の側に切り換え、コンデンサ４を充電する。そ
して、３Ｔパルスの終了時点でスイッチ５を中立状態と
し、コンデンサ４の出力側に設けたサンプル＆ホールド
回路６にサンプルパルスＴＣ2 を出力し、コンデンサ４
の充電電圧をサンプル＆ホールドする。このあと、スイ
ッチ５をアース側（放電路側）に切り換えてコンデンサ
４を完全に放電させる。以下、３Ｔパルスが抜き取られ
る毎に同様の動作を繰り返す。この結果、サンプル＆ホ
ールド回路６からは、直前に入力された３Ｔパルスの長
さに比例した電圧が出力される。ＥＦＭ信号にジッタが
生じていることから、サンプル＆ホールド回路６の出力
は、新たな３Ｔパルスによりコンデンサ４が充電し直さ
れる度に変化する。サンプル＆ホールド回路６の出力側
に設けた直流カットコンデンサ７により、サンプル＆ホ
ールド回路６の出力の内、電圧変動分（ＡＣ成分）だ
け、すなわち各３Ｔパルスの長さの変動分だけ取り出
し、シグマ回路８でジッタの分布の標準偏差を検出した
あと、レベル調整回路９を経てメータ１０に入力し、指
針を振らせる。
【０００５】アナログ式に比して周波数カウンタ式ジッ
タ計測器の方が精度が高いがディジタル的に計測するの
で構成が複雑で、価格が高価であるなどの欠点を有す
る。このため、量産セットを対象としたジッタの計測に
は、価格の安価なアナログ式ジッタ計測器が広く使用さ
れている。
タ計測器の方が精度が高いがディジタル的に計測するの
で構成が複雑で、価格が高価であるなどの欠点を有す
る。このため、量産セットを対象としたジッタの計測に
は、価格の安価なアナログ式ジッタ計測器が広く使用さ
れている。
【０００６】ところで、アナログ式ジッタ計測器を長く
使用していると、回路定数の経時変化などのため、同じ
ジッタ量のＥＦＭ信号を対象に計測しても、計測値が変
わってきてしまう。よって、定期的に計測器を校正する
必要がある。校正は、ジッタ量（例えば、ジッタの分布
の標準偏差）の明らかな校正信号を発生してアナログ式
ジッタ計測器に入力し、メータ１０の指針が規定のジッ
タ量を指示するようにレベル調整回路９を調整して行
う。従来、校正信号には、ジッタが或る単一の周波数成
分だけから成り、ジッタの大きさが正弦波状に変化する
３Ｔパルスを含む信号を用いていた（例えば、特開平３
−２７８３７６号公報参照）。この校正信号におけるジ
ッタの分布の標準偏差は計算で簡単に求めることができ
るが、周波数カウンタ式ジッタ計測器で校正信号のジッ
タを計測しても良い。
使用していると、回路定数の経時変化などのため、同じ
ジッタ量のＥＦＭ信号を対象に計測しても、計測値が変
わってきてしまう。よって、定期的に計測器を校正する
必要がある。校正は、ジッタ量（例えば、ジッタの分布
の標準偏差）の明らかな校正信号を発生してアナログ式
ジッタ計測器に入力し、メータ１０の指針が規定のジッ
タ量を指示するようにレベル調整回路９を調整して行
う。従来、校正信号には、ジッタが或る単一の周波数成
分だけから成り、ジッタの大きさが正弦波状に変化する
３Ｔパルスを含む信号を用いていた（例えば、特開平３
−２７８３７６号公報参照）。この校正信号におけるジ
ッタの分布の標準偏差は計算で簡単に求めることができ
るが、周波数カウンタ式ジッタ計測器で校正信号のジッ
タを計測しても良い。
【０００７】
【発明が解決しようとする課題】けれども、アナログ式
ジッタ計測器をジッタの大きさが正弦波状に変化する校
正信号で校正したとき、以下のような問題が起きてい
た。すなわち、仮に実際のＣＤプレーヤで再生したＥＦ
Ｍ信号のジッタが校正信号と同じ単一の周波数成分だけ
を含んでいれば、校正後のアナログ式ジッタ計測器によ
り、正確なジッタの計測ができる。しかしながら、実際
のＣＤプレーヤのＥＦＭ信号に生じるジッタは、前記し
た如く、ＣＤに記録されたピットの長さのバラツキ、レ
ーザビームスポットが有限な大きさを持つこと、ＣＤの
回転ムラ、光ピックアップ光学系の収差やレーザ反射光
の隣接トラックからのクロストーク、回路雑音等の原因
により、広い周波数成分を有する複雑なものとなってい
る。周波数カウンタ式ジッタ計測器は低域から高域まで
の広い周波数範囲のジッタに追従できるため比較的正確
な計測を行えるが、アナログ式ジッタ計測器はコンデン
サへの充電により３Ｔパルス幅を検出するので、原理的
にＥＦＭ信号のジッタの高域成分に対する計測系の感度
が低い。
ジッタ計測器をジッタの大きさが正弦波状に変化する校
正信号で校正したとき、以下のような問題が起きてい
た。すなわち、仮に実際のＣＤプレーヤで再生したＥＦ
Ｍ信号のジッタが校正信号と同じ単一の周波数成分だけ
を含んでいれば、校正後のアナログ式ジッタ計測器によ
り、正確なジッタの計測ができる。しかしながら、実際
のＣＤプレーヤのＥＦＭ信号に生じるジッタは、前記し
た如く、ＣＤに記録されたピットの長さのバラツキ、レ
ーザビームスポットが有限な大きさを持つこと、ＣＤの
回転ムラ、光ピックアップ光学系の収差やレーザ反射光
の隣接トラックからのクロストーク、回路雑音等の原因
により、広い周波数成分を有する複雑なものとなってい
る。周波数カウンタ式ジッタ計測器は低域から高域まで
の広い周波数範囲のジッタに追従できるため比較的正確
な計測を行えるが、アナログ式ジッタ計測器はコンデン
サへの充電により３Ｔパルス幅を検出するので、原理的
にＥＦＭ信号のジッタの高域成分に対する計測系の感度
が低い。
【０００８】このため、ジッタの周波数成分が低い校正
信号で校正すると、アナログ式ジッタ計測器の計測系は
ＥＦＭ信号のジッタの低域成分に対して適性な感度にな
るが、高域成分に対する計測感度が大幅に不足し、校正
後のアナログ式ジッタ計測器を用いて、実際のＣＤプレ
ーヤのＥＦＭ信号に生じたジッタを計測すると、高域の
ジッタ成分に対し大きな計測誤差が発生する。逆にジッ
タの周波数成分が高い校正信号で校正したあとのアナロ
グ式ジッタ計測器を用いて、実際のＣＤプレーヤのＥＦ
Ｍ信号に生じたジッタを計測すると、高域成分に対して
計測系が適性な感度になるが、低域成分に対する計測感
度が過大となり、校正後のアナログ式ジッタ計測器を用
いて、実際のＣＤプレーヤのＥＦＭ信号に生じたジッタ
を計測すると、低域のジッタ成分に対し大きな計測誤差
が発生する。この結果、校正後のアナログ式ジッタ計測
器を用いて実際のＣＤプレーヤのＥＦＭ信号に生じたジ
ッタを計測すると、同一のＣＤプレーヤのジッタを周波
数カウンタ式ジッタ計測器で計測したときの計測値と大
きな差が生じ、アナログ式ジッタ計測器での計測値の信
頼性に欠けるという問題があった。
信号で校正すると、アナログ式ジッタ計測器の計測系は
ＥＦＭ信号のジッタの低域成分に対して適性な感度にな
るが、高域成分に対する計測感度が大幅に不足し、校正
後のアナログ式ジッタ計測器を用いて、実際のＣＤプレ
ーヤのＥＦＭ信号に生じたジッタを計測すると、高域の
ジッタ成分に対し大きな計測誤差が発生する。逆にジッ
タの周波数成分が高い校正信号で校正したあとのアナロ
グ式ジッタ計測器を用いて、実際のＣＤプレーヤのＥＦ
Ｍ信号に生じたジッタを計測すると、高域成分に対して
計測系が適性な感度になるが、低域成分に対する計測感
度が過大となり、校正後のアナログ式ジッタ計測器を用
いて、実際のＣＤプレーヤのＥＦＭ信号に生じたジッタ
を計測すると、低域のジッタ成分に対し大きな計測誤差
が発生する。この結果、校正後のアナログ式ジッタ計測
器を用いて実際のＣＤプレーヤのＥＦＭ信号に生じたジ
ッタを計測すると、同一のＣＤプレーヤのジッタを周波
数カウンタ式ジッタ計測器で計測したときの計測値と大
きな差が生じ、アナログ式ジッタ計測器での計測値の信
頼性に欠けるという問題があった。
【０００９】本発明は上記した従来技術の問題に鑑み、
ジッタ計測器での計測値の信頼性を高めることのできる
ジッタ計測器用校正信号発生装置を提供することを、そ
の目的とする。
ジッタ計測器での計測値の信頼性を高めることのできる
ジッタ計測器用校正信号発生装置を提供することを、そ
の目的とする。
【００１０】
【課題を解決するための手段】本発明の請求項１記載の
ジッタ計測器用校正信号発生装置では、電圧分布がガウ
ス曲線に従うガウシャンノイズを発生するガウシャンノ
イズ発生手段と、ガウシャンノイズを変調信号として、
所定周波数のパルス列にＰＷＭ変調し、この際、パルス
幅の中心値を所定幅とするＰＷＭ変調手段と、を備えた
ことを特徴としている。例えば、光ディスク装置で再生
した光ディスク記録信号のジッタは、ジッタの分布がほ
ぼガウス曲線に従っているが、ガウシャンノイズを変調
信号として、所定周波数のパルス列にＰＷＭ変調し、こ
の際、パルス幅の中心値を光ディスク記録信号中のパル
スのパルス幅と一致させることで、実際の光ディスク装
置を再生したときの光ディスク記録信号に生じているジ
ッタの分布とほぼ相似した分布を持ち、ジッタ量の一定
なジッタを生じる校正信号を得ることができる。この校
正信号のジッタ量は周波数カウンタ式ジッタ計測器で簡
単に計測できる。実際の光ディスク装置で再生した光デ
ィスク記録信号に生じているジッタのジッタ量は通常、
校正信号のジッタ量とは異なるが、ジッタの分布の形は
校正信号のジッタの分布とほぼ相似である。よって、Ｐ
ＷＭ変調出力を用いて校正した後のアナログ式ジッタ計
測器により、実際の光ディスク装置で再生した光ディス
ク記録信号に生じているジッタを計測したとき、その計
測値はほぼ、校正信号のジッタ量に、実際の光ディスク
装置で再生した光ディスク記録信号に生じているジッタ
の真のジッタ量と校正信号のジッタ量の比を乗じた値と
なる。従って、実際の光ディスク装置で再生した光ディ
スク記録信号に生じているジッタをアナログ式ジッタ計
測器で計測すると、当該ジッタを周波数カウンタ式ジッ
タ計測器で計測したときの計測値に近い値とさせること
ができ、アナログ式ジッタ計測器での計測値の信頼性が
向上する。
ジッタ計測器用校正信号発生装置では、電圧分布がガウ
ス曲線に従うガウシャンノイズを発生するガウシャンノ
イズ発生手段と、ガウシャンノイズを変調信号として、
所定周波数のパルス列にＰＷＭ変調し、この際、パルス
幅の中心値を所定幅とするＰＷＭ変調手段と、を備えた
ことを特徴としている。例えば、光ディスク装置で再生
した光ディスク記録信号のジッタは、ジッタの分布がほ
ぼガウス曲線に従っているが、ガウシャンノイズを変調
信号として、所定周波数のパルス列にＰＷＭ変調し、こ
の際、パルス幅の中心値を光ディスク記録信号中のパル
スのパルス幅と一致させることで、実際の光ディスク装
置を再生したときの光ディスク記録信号に生じているジ
ッタの分布とほぼ相似した分布を持ち、ジッタ量の一定
なジッタを生じる校正信号を得ることができる。この校
正信号のジッタ量は周波数カウンタ式ジッタ計測器で簡
単に計測できる。実際の光ディスク装置で再生した光デ
ィスク記録信号に生じているジッタのジッタ量は通常、
校正信号のジッタ量とは異なるが、ジッタの分布の形は
校正信号のジッタの分布とほぼ相似である。よって、Ｐ
ＷＭ変調出力を用いて校正した後のアナログ式ジッタ計
測器により、実際の光ディスク装置で再生した光ディス
ク記録信号に生じているジッタを計測したとき、その計
測値はほぼ、校正信号のジッタ量に、実際の光ディスク
装置で再生した光ディスク記録信号に生じているジッタ
の真のジッタ量と校正信号のジッタ量の比を乗じた値と
なる。従って、実際の光ディスク装置で再生した光ディ
スク記録信号に生じているジッタをアナログ式ジッタ計
測器で計測すると、当該ジッタを周波数カウンタ式ジッ
タ計測器で計測したときの計測値に近い値とさせること
ができ、アナログ式ジッタ計測器での計測値の信頼性が
向上する。
【００１１】本発明の請求項３記載のジッタ計測器用校
正信号発生装置では、周波数成分分布がガウス曲線に従
うガウシャンノイズを発生するガウシャンノイズ発生手
段と、ガウシャンノイズを変調信号として、所定周波数
のパルス列にＰＷＭ変調するＰＷＭ変調手段と、ＰＷＭ
変調手段の出力を動作クロックとして、所定のディジタ
ルソース信号を、所定の記録媒体への所定の記録信号に
エンコードするエンコード手段を設けたことを特徴とし
ている。これにより、たとえば、ＣＤ，ＣＤ−ＲＯＭに
対するＥＦＭ信号、ＤＶＤに対する８−１６変調信号、
ＤＡＴカセットテープに対する８−１０変調信号等、所
定の記録媒体への所定の記録信号と同じ信号形式で、か
つ最小パルスから最大パルスまでの全てのパルスにつ
き、ジッタの分布がほぼガウス曲線に従ったジッタを生
じさせた校正信号を生成することができ、最小パルスか
ら最大パルスまでの内、任意のパルス幅のパルスを対象
にジッタを計測する計測器の校正が可能となり、また、
校正信号を、実際の再生装置または記録・再生装置から
再生した記録信号により近い形にできるので、校正精度
が向上する。
正信号発生装置では、周波数成分分布がガウス曲線に従
うガウシャンノイズを発生するガウシャンノイズ発生手
段と、ガウシャンノイズを変調信号として、所定周波数
のパルス列にＰＷＭ変調するＰＷＭ変調手段と、ＰＷＭ
変調手段の出力を動作クロックとして、所定のディジタ
ルソース信号を、所定の記録媒体への所定の記録信号に
エンコードするエンコード手段を設けたことを特徴とし
ている。これにより、たとえば、ＣＤ，ＣＤ−ＲＯＭに
対するＥＦＭ信号、ＤＶＤに対する８−１６変調信号、
ＤＡＴカセットテープに対する８−１０変調信号等、所
定の記録媒体への所定の記録信号と同じ信号形式で、か
つ最小パルスから最大パルスまでの全てのパルスにつ
き、ジッタの分布がほぼガウス曲線に従ったジッタを生
じさせた校正信号を生成することができ、最小パルスか
ら最大パルスまでの内、任意のパルス幅のパルスを対象
にジッタを計測する計測器の校正が可能となり、また、
校正信号を、実際の再生装置または記録・再生装置から
再生した記録信号により近い形にできるので、校正精度
が向上する。
【００１２】本発明の請求項２、請求項４記載のジッタ
計測器用校正信号発生装置では、請求項１、請求項３記
載の装置において、ガウシャンノイズ発生手段とＰＷＭ
変調手段との間に、ノイズの振幅レベルを可変できるレ
ベル可変手段を設けたことを特徴としている。これによ
り、校正信号のジッタ量を所望の値に調整可能となる。
計測器用校正信号発生装置では、請求項１、請求項３記
載の装置において、ガウシャンノイズ発生手段とＰＷＭ
変調手段との間に、ノイズの振幅レベルを可変できるレ
ベル可変手段を設けたことを特徴としている。これによ
り、校正信号のジッタ量を所望の値に調整可能となる。
【００１３】
【実施例】図１は本発明の第１実施例に係る校正信号発
生装置の構成を示すブロック図である。２０はアナログ
式ジッタ計測器用の校正信号を発生する校正信号発生装
置である。校正信号発生装置２０の内、２１はＭ系列符
号を発生するＭ系列符号発生器であり、フィードバック
ループを含むｎ段のシフトレジスタから成る。２２はＬ
ＰＦであり、Ｍ系列符号発生器２１の出力の低域成分を
取り出す。Ｃ１は直流カットコンデンサであり、ＬＰＦ
２２の出力中の直流成分をカットすることで、電圧分布
（横軸に瞬時電圧値、縦軸に出現頻度または出現確率を
取り、時間の推移に伴い変化する瞬時電圧値の出現頻度
または出現確率を表したヒストグラム）がほぼガウス曲
線に従ったガウシャンノイズを作成する。ガウシャンノ
イズの電圧分布は０（Ｖ）を対象軸（平均値）として＋
側と−側が対象である。Ｍ系列符号発生器２１、ＬＰＦ
２２、直流カットコンデンサ Ｃ１により、ガウシャン
ノイズ発生手段２３が構成されている。
生装置の構成を示すブロック図である。２０はアナログ
式ジッタ計測器用の校正信号を発生する校正信号発生装
置である。校正信号発生装置２０の内、２１はＭ系列符
号を発生するＭ系列符号発生器であり、フィードバック
ループを含むｎ段のシフトレジスタから成る。２２はＬ
ＰＦであり、Ｍ系列符号発生器２１の出力の低域成分を
取り出す。Ｃ１は直流カットコンデンサであり、ＬＰＦ
２２の出力中の直流成分をカットすることで、電圧分布
（横軸に瞬時電圧値、縦軸に出現頻度または出現確率を
取り、時間の推移に伴い変化する瞬時電圧値の出現頻度
または出現確率を表したヒストグラム）がほぼガウス曲
線に従ったガウシャンノイズを作成する。ガウシャンノ
イズの電圧分布は０（Ｖ）を対象軸（平均値）として＋
側と−側が対象である。Ｍ系列符号発生器２１、ＬＰＦ
２２、直流カットコンデンサ Ｃ１により、ガウシャン
ノイズ発生手段２３が構成されている。
【００１４】２４はゲイン可変操作手段としてのつまみ
２５を回してゲインを可変させることのできるゲイン可
変アンプであり、ガウシャンノイズ発生手段２３から出
力されたガウシャンノイズ信号の振幅レベルを可変させ
る。２６はゲイン可変アンプ２５でレベル調整後のガウ
シャンノイズ信号ＧＮを変調信号として、所定周波数の
パルス列にＰＷＭ変調するＰＷＭ変調手段であり、２７
は周波数ｆCKのクロックＣＫを発生するクロック発生
器、２８はクロックＣＫを用いて周波数ｆCKののこぎり
波ＰＬを発生するのこぎり波発生器、２９はガウシャン
ノイズ信号ＧＮとのこぎり波ＰＬの電圧値を比較し、Ｇ
Ｎ＞ＰＬのときハイレベル、ＧＮ＜ＰＬのときローレベ
ルを出力することでＰＷＭ変調出力ＴＤを行うコンパレ
ータである。
２５を回してゲインを可変させることのできるゲイン可
変アンプであり、ガウシャンノイズ発生手段２３から出
力されたガウシャンノイズ信号の振幅レベルを可変させ
る。２６はゲイン可変アンプ２５でレベル調整後のガウ
シャンノイズ信号ＧＮを変調信号として、所定周波数の
パルス列にＰＷＭ変調するＰＷＭ変調手段であり、２７
は周波数ｆCKのクロックＣＫを発生するクロック発生
器、２８はクロックＣＫを用いて周波数ｆCKののこぎり
波ＰＬを発生するのこぎり波発生器、２９はガウシャン
ノイズ信号ＧＮとのこぎり波ＰＬの電圧値を比較し、Ｇ
Ｎ＞ＰＬのときハイレベル、ＧＮ＜ＰＬのときローレベ
ルを出力することでＰＷＭ変調出力ＴＤを行うコンパレ
ータである。
【００１５】図２はＰＷＭ変調手段２６の各部の動作を
示すタイムチャートである。ガウシャンノイズ信号ＧＮ
は０（Ｖ）を中心にして上下に変化する。のこぎり波Ｐ
ＬはクロックＣＬの立ち上がりタイミングで瞬間的に−
Ｅ（Ｅは正の値）（Ｖ）に落ちたあと、時間の経過とと
もに電圧値を上昇させ、クロックＣＬの１周期経過した
時点で＋Ｅ（Ｖ）に達する。クロックＣＫの周期をτと
して、ガウシャンノイズ信号ＧＮが仮に０（Ｖ）で一定
のとき、ＰＷＭ変調出力ＰＤのパルス幅はτ／２で一定
となる。ＧＮが０（Ｖ）より高くなればＰＤのパルス幅
はτ／２より長くなり、逆に、ＧＮが０（Ｖ）より低く
なればＴＤのパルス幅はτ／２より短くなる。ＧＮが０
（Ｖ）を中心に上下に変化すると、ＴＤのパルス幅には
τ／２を中心にしたジッタが生じる。ガウシャンノイズ
信号ＧＮの電圧値は０（Ｖ）を中心にして上下に、電圧
確率分布がほぼガウス曲線に従うように変化することか
ら、ＴＤのパルス幅に生じるジッタは分布がほぼガウス
曲線に従うように変化することになる。
示すタイムチャートである。ガウシャンノイズ信号ＧＮ
は０（Ｖ）を中心にして上下に変化する。のこぎり波Ｐ
ＬはクロックＣＬの立ち上がりタイミングで瞬間的に−
Ｅ（Ｅは正の値）（Ｖ）に落ちたあと、時間の経過とと
もに電圧値を上昇させ、クロックＣＬの１周期経過した
時点で＋Ｅ（Ｖ）に達する。クロックＣＫの周期をτと
して、ガウシャンノイズ信号ＧＮが仮に０（Ｖ）で一定
のとき、ＰＷＭ変調出力ＰＤのパルス幅はτ／２で一定
となる。ＧＮが０（Ｖ）より高くなればＰＤのパルス幅
はτ／２より長くなり、逆に、ＧＮが０（Ｖ）より低く
なればＴＤのパルス幅はτ／２より短くなる。ＧＮが０
（Ｖ）を中心に上下に変化すると、ＴＤのパルス幅には
τ／２を中心にしたジッタが生じる。ガウシャンノイズ
信号ＧＮの電圧値は０（Ｖ）を中心にして上下に、電圧
確率分布がほぼガウス曲線に従うように変化することか
ら、ＴＤのパルス幅に生じるジッタは分布がほぼガウス
曲線に従うように変化することになる。
【００１６】実際のＣＤプレーヤで再生したＥＦＭ信号
（但し、ＮＲＺＩ波形の形）のジッタをタイムインター
バルアナライザで分析したり、実際のＤＶＤプレーヤで
再生した８−１６変調信号（但し、ＮＲＺＩ波形の形）
のジッタをタイムインターバルアナライザで分析した
り、実際のＤＡＴで再生した８−１０変調信号（但し、
ＮＲＺＩ波形の形）のジッタをタイムインターバルアナ
ライザで分析すると、ジッタの分布がほぼガウス曲線に
従っている。よって、コンパレータ２９の出力ＴＤによ
り、実際のＣＤプレーヤを再生したときのＥＦＭ信号に
生じているジッタ、または実際のＤＶＤプレーヤで再生
したときの８−１６変調信号に生じているジッタ、また
は実際のＤＡＴを再生したときの８−１０変調信号に生
じているジッタの分布とほぼ相似したジッタの分布を持
ち、ジッタ量の一定なジッタを生じる校正信号を得るこ
とができる。この校正信号のジッタ量は周波数カウンタ
式ジッタ計測器で簡単に計測できる。
（但し、ＮＲＺＩ波形の形）のジッタをタイムインター
バルアナライザで分析したり、実際のＤＶＤプレーヤで
再生した８−１６変調信号（但し、ＮＲＺＩ波形の形）
のジッタをタイムインターバルアナライザで分析した
り、実際のＤＡＴで再生した８−１０変調信号（但し、
ＮＲＺＩ波形の形）のジッタをタイムインターバルアナ
ライザで分析すると、ジッタの分布がほぼガウス曲線に
従っている。よって、コンパレータ２９の出力ＴＤによ
り、実際のＣＤプレーヤを再生したときのＥＦＭ信号に
生じているジッタ、または実際のＤＶＤプレーヤで再生
したときの８−１６変調信号に生じているジッタ、また
は実際のＤＡＴを再生したときの８−１０変調信号に生
じているジッタの分布とほぼ相似したジッタの分布を持
ち、ジッタ量の一定なジッタを生じる校正信号を得るこ
とができる。この校正信号のジッタ量は周波数カウンタ
式ジッタ計測器で簡単に計測できる。
【００１７】次に、図３を参照して上記した校正信号発
生装置２０を用いてＣＤプレーヤで再生したＥＦＭ信号
中の３Ｔパルスのジッタのジッタ量を計測するアナログ
式ジッタ計測器（図５参照）の校正原理を説明する。ジ
ッタ量はジッタの分布の標準偏差で表すものとする。校
正対象のアナログ式ジッタ計測器がＥＦＭ信号中の３Ｔ
パルスを抜き出してジッタを計測する場合、Ｍ系列符号
発生器２１のシフトレジスタのシフトクロック周波数ｆ
T ＝４．３２１８ＭＨｚ、ＬＰＦ２２のカットオフ周波
数ｆC ＝２５０ｋＨｚ、クロック発生器２５のクロック
周波数ｆCK＝７２０．３ｋＨｚ、τ／２＝３Ｔ（ＴはＥ
ＦＭ信号の１チャネル周期＝１／４．３２１８ＭＨｚ）
とし、直流カットコンデンサＣ１の出力点におけるガウ
シャンノイズ信号ＧＮの電圧分布で見た標準偏差は例え
ば、０．６（Ｖ）程度となるようにする。
生装置２０を用いてＣＤプレーヤで再生したＥＦＭ信号
中の３Ｔパルスのジッタのジッタ量を計測するアナログ
式ジッタ計測器（図５参照）の校正原理を説明する。ジ
ッタ量はジッタの分布の標準偏差で表すものとする。校
正対象のアナログ式ジッタ計測器がＥＦＭ信号中の３Ｔ
パルスを抜き出してジッタを計測する場合、Ｍ系列符号
発生器２１のシフトレジスタのシフトクロック周波数ｆ
T ＝４．３２１８ＭＨｚ、ＬＰＦ２２のカットオフ周波
数ｆC ＝２５０ｋＨｚ、クロック発生器２５のクロック
周波数ｆCK＝７２０．３ｋＨｚ、τ／２＝３Ｔ（ＴはＥ
ＦＭ信号の１チャネル周期＝１／４．３２１８ＭＨｚ）
とし、直流カットコンデンサＣ１の出力点におけるガウ
シャンノイズ信号ＧＮの電圧分布で見た標準偏差は例え
ば、０．６（Ｖ）程度となるようにする。
【００１８】校正信号発生装置２０から出力される校正
信号ＴＤのジッタのジッタ量は、ゲイン可変アンプ２４
のゲインを可変して調整することができる。アナログ式
ジッタ計測器の校正に先立って、図３（１）に示す如
く、校正信号発生装置２０の出力ＴＤを校正基準器とし
ての周波数カウンタ式ジッタ計測器３０に入力し、つま
み２５を回してゲイン可変アンプ２４のゲインを可変
し、周波数カウンタ式ジッタ計測器３０の指示するジッ
タ量が所望値σ0 となるように調整しておく。σ0はア
ナログ式ジッタ計測器の校正値に設定する。具体的に
は、例えば、メータ１０のフルスケールが３０（ｎｓ）
の場合、σ0 ＝２６（ｎｓ）とする。
信号ＴＤのジッタのジッタ量は、ゲイン可変アンプ２４
のゲインを可変して調整することができる。アナログ式
ジッタ計測器の校正に先立って、図３（１）に示す如
く、校正信号発生装置２０の出力ＴＤを校正基準器とし
ての周波数カウンタ式ジッタ計測器３０に入力し、つま
み２５を回してゲイン可変アンプ２４のゲインを可変
し、周波数カウンタ式ジッタ計測器３０の指示するジッ
タ量が所望値σ0 となるように調整しておく。σ0はア
ナログ式ジッタ計測器の校正値に設定する。具体的に
は、例えば、メータ１０のフルスケールが３０（ｎｓ）
の場合、σ0 ＝２６（ｎｓ）とする。
【００１９】次に、図３（２）に示す如く、校正信号発
生装置２０から出力された校正信号ＰＤを校正対象であ
るアナログ式ジッタ計測器４０に入力し、メータ（図５
の符号１０参照）の指示値がσ0 と一致するようにレベ
ル調整回路（図５の符号９参照）でレベル調整を行う。
生装置２０から出力された校正信号ＰＤを校正対象であ
るアナログ式ジッタ計測器４０に入力し、メータ（図５
の符号１０参照）の指示値がσ0 と一致するようにレベ
ル調整回路（図５の符号９参照）でレベル調整を行う。
【００２０】このようにして校正を終えたならば、図３
（３）に示す如く、アナログ式ジッタ計測器４０に実際
のＣＤプレーヤ５０で再生されたＥＦＭ信号ＵＤを入力
してジッタを計測する。ＥＦＭ信号ＵＤの３Ｔパルスに
生じているジッタのジッタ量は、通常、σ0 とは異なる
値である。しかし、ＥＦＭ信号ＵＤの３Ｔパルスに生じ
ているジッタの分布の形は校正信号ＴＤのジッタの分布
とほぼ相似である。よって、ＥＦＭ信号ＵＤの３Ｔパル
スに生じているジッタを計測したとき、その計測値σA
は校正信号ＴＤのジッタ量としてメータ（図５の符号１
０参照）の指示値を校正した校正値σ0 に、ＥＦＭ信号
ＵＤの３Ｔパルスに生じているジッタの真のジッタ量σ
A ´と校正信号ＴＤの真のジッタ量σ0 の比を乗じた値
とほぼ一致する。式で表すと、次の関係になる。 （１）式から、計測値σA は真のジッタ量σA ´とほぼ
同じ値となることが判る。ＥＦＭ信号ＵＤに生じている
ジッタを周波数カウンタ式ジッタ計測器３０で計測した
ときの計測値はσA ´となり、アナログ式ジッタ計測器
４０の計測値は周波数カウンタ式ジッタ計測器３０の計
測値にほぼ一致するので、アナログ式ジッタ計測器４０
の計測値の信頼性が向上する。
（３）に示す如く、アナログ式ジッタ計測器４０に実際
のＣＤプレーヤ５０で再生されたＥＦＭ信号ＵＤを入力
してジッタを計測する。ＥＦＭ信号ＵＤの３Ｔパルスに
生じているジッタのジッタ量は、通常、σ0 とは異なる
値である。しかし、ＥＦＭ信号ＵＤの３Ｔパルスに生じ
ているジッタの分布の形は校正信号ＴＤのジッタの分布
とほぼ相似である。よって、ＥＦＭ信号ＵＤの３Ｔパル
スに生じているジッタを計測したとき、その計測値σA
は校正信号ＴＤのジッタ量としてメータ（図５の符号１
０参照）の指示値を校正した校正値σ0 に、ＥＦＭ信号
ＵＤの３Ｔパルスに生じているジッタの真のジッタ量σ
A ´と校正信号ＴＤの真のジッタ量σ0 の比を乗じた値
とほぼ一致する。式で表すと、次の関係になる。 （１）式から、計測値σA は真のジッタ量σA ´とほぼ
同じ値となることが判る。ＥＦＭ信号ＵＤに生じている
ジッタを周波数カウンタ式ジッタ計測器３０で計測した
ときの計測値はσA ´となり、アナログ式ジッタ計測器
４０の計測値は周波数カウンタ式ジッタ計測器３０の計
測値にほぼ一致するので、アナログ式ジッタ計測器４０
の計測値の信頼性が向上する。
【００２１】なお、上記した実施例では、アナログ式ジ
ッタ計測器４０が実際のＣＤプレーヤ５０から入力した
ＥＦＭ信号ＰＤの中から３Ｔパルスを抜き出し、該３Ｔ
パルスのジッタを計測する構造となっているので、校正
信号発生装置２０から出力される校正信号ＰＤのパルス
幅の中心値を３Ｔと一致するようにしたが、アナログ式
ジッタ計測器４０が３Ｔ以外を抜き出す場合、該抜き出
すパルス幅に一致するようにすれば良い。
ッタ計測器４０が実際のＣＤプレーヤ５０から入力した
ＥＦＭ信号ＰＤの中から３Ｔパルスを抜き出し、該３Ｔ
パルスのジッタを計測する構造となっているので、校正
信号発生装置２０から出力される校正信号ＰＤのパルス
幅の中心値を３Ｔと一致するようにしたが、アナログ式
ジッタ計測器４０が３Ｔ以外を抜き出す場合、該抜き出
すパルス幅に一致するようにすれば良い。
【００２２】図４は本発明の第２実施例に係る校正信号
発生装置の構成を示すブロック図である。なお、図１と
同一の構成部分には同一の符号が付してある。図４で
は、校正信号発生装置２０Ａの内、ＰＷＭ変調手段２６
Ａの出力がＣＤエンコーダ６０の外部クロック入力端子
ＥＸＥ−ＣＫと接続してある。ＣＤエンコーダ６０は外
部からサンプリング周波数が４４．１ｋＨｚのディジタ
ルオーディオ信号を入力し、インタリーブ、誤り検出／
訂正符号の付加等を行ってＣＤ記録用フレームデータに
変換し、更に、ＥＦＭ変調を施して、ＥＦＭ変調信号
（但し、ＮＲＺＩ波形の形）ＳＤを校正信号として出力
する機能を有している。その他の構成部分は図１と同様
に構成されている。
発生装置の構成を示すブロック図である。なお、図１と
同一の構成部分には同一の符号が付してある。図４で
は、校正信号発生装置２０Ａの内、ＰＷＭ変調手段２６
Ａの出力がＣＤエンコーダ６０の外部クロック入力端子
ＥＸＥ−ＣＫと接続してある。ＣＤエンコーダ６０は外
部からサンプリング周波数が４４．１ｋＨｚのディジタ
ルオーディオ信号を入力し、インタリーブ、誤り検出／
訂正符号の付加等を行ってＣＤ記録用フレームデータに
変換し、更に、ＥＦＭ変調を施して、ＥＦＭ変調信号
（但し、ＮＲＺＩ波形の形）ＳＤを校正信号として出力
する機能を有している。その他の構成部分は図１と同様
に構成されている。
【００２３】図４の実施例において、Ｍ系列符号発生器
２１Ａのシフトレジスタのシフトクロック周波数ｆT ＝
４．３２１８ＭＨｚ、ＬＰＦ２２Ａのカットオフ周波数
ｆC＝２５０ｋＨｚ、クロック発生器２５Ａのクロック
周波数ｆCK＝４．３２１８ＭＨｚとし、直流カットコン
デンサＣ１の出力点におけるガウシャンノイズ信号ＧＮ
の電圧分布で見た標準偏差は０．６（Ｖ）程度となるよ
うにする。ＰＷＭ変調手段２６Ａの出力ＴＤは、周波数
ｆCKでかつジッタの分布がガウス曲線に従うジッタを有
するクロックとなっているので、ＣＤエンコーダ６０か
ら出力されるＥＦＭ信号ＳＤの各３Ｔ〜１１Ｔパルスに
も同じくジッタ分布がガウス曲線に従うジッタが生じ
る。ジッタ量は、ＥＦＭ信号ＳＤを周波数カウンタ式ジ
ッタ計測器３０に入力し、ゲイン可変アンプ２４Ａのゲ
インを可変して、計測値が所望値σ0 （２６（ｎｓ）程
度）となるように調整する。
２１Ａのシフトレジスタのシフトクロック周波数ｆT ＝
４．３２１８ＭＨｚ、ＬＰＦ２２Ａのカットオフ周波数
ｆC＝２５０ｋＨｚ、クロック発生器２５Ａのクロック
周波数ｆCK＝４．３２１８ＭＨｚとし、直流カットコン
デンサＣ１の出力点におけるガウシャンノイズ信号ＧＮ
の電圧分布で見た標準偏差は０．６（Ｖ）程度となるよ
うにする。ＰＷＭ変調手段２６Ａの出力ＴＤは、周波数
ｆCKでかつジッタの分布がガウス曲線に従うジッタを有
するクロックとなっているので、ＣＤエンコーダ６０か
ら出力されるＥＦＭ信号ＳＤの各３Ｔ〜１１Ｔパルスに
も同じくジッタ分布がガウス曲線に従うジッタが生じ
る。ジッタ量は、ＥＦＭ信号ＳＤを周波数カウンタ式ジ
ッタ計測器３０に入力し、ゲイン可変アンプ２４Ａのゲ
インを可変して、計測値が所望値σ0 （２６（ｎｓ）程
度）となるように調整する。
【００２４】このようにして生成したＥＦＭ信号ＳＤ
は、実際のＣＤプレーヤにより再生したＥＦＭ信号（図
３（３）の符号ＵＤ参照）と同じ信号形式とでき、か
つ、ジッタの分布とジッタ量も実際のＣＤプレーヤの平
均的な状態とほぼ一致させることができる。よって、ア
ナログ式ジッタ計測器の実際の使用状態に近い状態で校
正できることから、校正精度が向上する。また、アナロ
グ式ジッタ計測器が３Ｔ〜１１Ｔの内、どのパルス幅の
パルスを抜き出してジッタを計測するか、タイプを選ば
ずに校正することができる。
は、実際のＣＤプレーヤにより再生したＥＦＭ信号（図
３（３）の符号ＵＤ参照）と同じ信号形式とでき、か
つ、ジッタの分布とジッタ量も実際のＣＤプレーヤの平
均的な状態とほぼ一致させることができる。よって、ア
ナログ式ジッタ計測器の実際の使用状態に近い状態で校
正できることから、校正精度が向上する。また、アナロ
グ式ジッタ計測器が３Ｔ〜１１Ｔの内、どのパルス幅の
パルスを抜き出してジッタを計測するか、タイプを選ば
ずに校正することができる。
【００２５】なお、上記した各実施例では、ゲイン可変
アンプ２４によりガウシャンノイズの振幅レベルを可変
できるようにしたが、図１のＰＷＭ変調出力ＴＤ、図４
のＥＦＭ信号出力ＳＤに適当なジッタ量を持たせられる
ゲイン固定アンプに置き換えても良い。また、アナログ
式ジッタ計測器がＣＤプレーヤで再生したＥＦＭ信号を
対象とする場合につき説明したが、本発明は何らこれに
限定されるものでなく、ＤＶＤプレーヤで再生した８−
１６変調信号（ＥＦＭ+ 信号）、ＤＡＴで再生した８−
１０変調信号を対象とするアナログ式ジッタ計測器にも
同様に適用することができる。
アンプ２４によりガウシャンノイズの振幅レベルを可変
できるようにしたが、図１のＰＷＭ変調出力ＴＤ、図４
のＥＦＭ信号出力ＳＤに適当なジッタ量を持たせられる
ゲイン固定アンプに置き換えても良い。また、アナログ
式ジッタ計測器がＣＤプレーヤで再生したＥＦＭ信号を
対象とする場合につき説明したが、本発明は何らこれに
限定されるものでなく、ＤＶＤプレーヤで再生した８−
１６変調信号（ＥＦＭ+ 信号）、ＤＡＴで再生した８−
１０変調信号を対象とするアナログ式ジッタ計測器にも
同様に適用することができる。
【００２６】例えば、ＤＡＴで再生した８−１０変調信
号を対象とする場合、アナログ式ジッタ計測器が８−１
０変調信号中の０．８Ｔパルスを抜き出してジッタを計
測するタイプであれば、図１の校正信号発生装置の場
合、Ｍ系列符号発生器２１のシフトレジスタのシフトク
ロック周波数ｆT ＝１８．８１６ＭＨｚ、ＬＰＦ２２の
カットオフ周波数ｆC ＝１．６ＭＨｚ、クロック発生器
２５のクロック周波数ｆCK＝４．７０４ＭＨｚとし、直
流カットコンデンサＣ１の出力点におけるガウシャンノ
イズ信号ＧＮの電圧分布で見た標準偏差は０．６（Ｖ）
程度となるようにする。そして、ＰＷＭ変調出力ＴＤを
周波数カウンタ式ジッタ計測器に入力したとき、計測値
が所望値σ0 （１６（ｎｓ）程度）となるようにゲイン
可変アンプ２４Ａのゲインを調整する。
号を対象とする場合、アナログ式ジッタ計測器が８−１
０変調信号中の０．８Ｔパルスを抜き出してジッタを計
測するタイプであれば、図１の校正信号発生装置の場
合、Ｍ系列符号発生器２１のシフトレジスタのシフトク
ロック周波数ｆT ＝１８．８１６ＭＨｚ、ＬＰＦ２２の
カットオフ周波数ｆC ＝１．６ＭＨｚ、クロック発生器
２５のクロック周波数ｆCK＝４．７０４ＭＨｚとし、直
流カットコンデンサＣ１の出力点におけるガウシャンノ
イズ信号ＧＮの電圧分布で見た標準偏差は０．６（Ｖ）
程度となるようにする。そして、ＰＷＭ変調出力ＴＤを
周波数カウンタ式ジッタ計測器に入力したとき、計測値
が所望値σ0 （１６（ｎｓ）程度）となるようにゲイン
可変アンプ２４Ａのゲインを調整する。
【００２７】図４の校正信号発生装置の場合は、Ｍ系列
符号発生器２１Ａのシフトレジスタのシフトクロック周
波数ｆT ＝１８．８１６ＭＨｚ、ＬＰＦ２２Ａのカット
オフ周波数ｆC ＝１．６ＭＨｚ、クロック発生器２５Ａ
のクロック周波数ｆCK＝９．４０８ＭＨｚとし、直流カ
ットコンデンサＣ１の出力点におけるガウシャンノイズ
信号ＧＮの電圧分布で見た標準偏差は０．６（Ｖ）程度
となるようにする。そして、ＣＤエンコーダ６０は、Ｄ
ＡＴエンコーダに置き換える。このＤＡＴエンコーダは
外部からサンプリング周波数が４８ｋＨｚのディジタル
オーディオ信号を入力し、インタリーブ、誤り検出／訂
正符号の付加等を行ってＤＡＴ記録用フレームデータに
変換し、更に、８−１０変調を施して、８−１０変調信
号（但し、ＮＲＺＩ波形の形）を校正信号として出力す
る。８−１０変調信号出力を周波数カウンタ式ジッタ計
測器に入力したとき、計測値が所望値σ0 （１６（ｎ
ｓ）程度）となるようにゲイン可変アンプ２４Ａのゲイ
ンを調整する。
符号発生器２１Ａのシフトレジスタのシフトクロック周
波数ｆT ＝１８．８１６ＭＨｚ、ＬＰＦ２２Ａのカット
オフ周波数ｆC ＝１．６ＭＨｚ、クロック発生器２５Ａ
のクロック周波数ｆCK＝９．４０８ＭＨｚとし、直流カ
ットコンデンサＣ１の出力点におけるガウシャンノイズ
信号ＧＮの電圧分布で見た標準偏差は０．６（Ｖ）程度
となるようにする。そして、ＣＤエンコーダ６０は、Ｄ
ＡＴエンコーダに置き換える。このＤＡＴエンコーダは
外部からサンプリング周波数が４８ｋＨｚのディジタル
オーディオ信号を入力し、インタリーブ、誤り検出／訂
正符号の付加等を行ってＤＡＴ記録用フレームデータに
変換し、更に、８−１０変調を施して、８−１０変調信
号（但し、ＮＲＺＩ波形の形）を校正信号として出力す
る。８−１０変調信号出力を周波数カウンタ式ジッタ計
測器に入力したとき、計測値が所望値σ0 （１６（ｎ
ｓ）程度）となるようにゲイン可変アンプ２４Ａのゲイ
ンを調整する。
【００２８】
【発明の効果】本発明に係る校正信号発生装置によれ
ば、電圧分布がガウス曲線に従うガウシャンノイズを発
生するガウシャンノイズ発生手段と、ガウシャンノイズ
を変調信号として、所定周波数のパルス列にＰＷＭ変調
し、この際、パルス幅の中心値を所定幅とするＰＷＭ変
調手段とを備えたことで、実際の光ディスク装置を再生
したときの光ディスク記録信号に生じているジッタの分
布とほぼ相似したジッタの分布を持ち、ジッタ量の一定
なジッタを生じる校正信号を得ることができる。実際の
光ディスク装置で再生した光ディスク記録信号に生じて
いるジッタのジッタ量は通常、校正信号のジッタ量とは
異なるが、ジッタの分布の形は校正信号のジッタの分布
とほぼ相似である。よって、ＰＷＭ変調出力を用いて校
正した後のアナログ式ジッタ計測器により、実際の光デ
ィスク装置で再生した光ディスク記録信号に生じている
ジッタを計測したとき、その計測値はほぼ、校正信号の
ジッタ量に、実際の光ディスク装置で再生した光ディス
ク記録信号に生じているジッタの真のジッタ量と校正信
号のジッタ量の比を乗じた値となる。従って、実際の光
ディスク装置で再生した光ディスク記録信号に生じてい
るジッタをアナログ式ジッタ計測器で計測すると、当該
ジッタを周波数カウンタ式ジッタ計測器で計測したとき
の計測値に近い値とさせることができ、アナログ式ジッ
タ計測器での計測値の信頼性が向上する。
ば、電圧分布がガウス曲線に従うガウシャンノイズを発
生するガウシャンノイズ発生手段と、ガウシャンノイズ
を変調信号として、所定周波数のパルス列にＰＷＭ変調
し、この際、パルス幅の中心値を所定幅とするＰＷＭ変
調手段とを備えたことで、実際の光ディスク装置を再生
したときの光ディスク記録信号に生じているジッタの分
布とほぼ相似したジッタの分布を持ち、ジッタ量の一定
なジッタを生じる校正信号を得ることができる。実際の
光ディスク装置で再生した光ディスク記録信号に生じて
いるジッタのジッタ量は通常、校正信号のジッタ量とは
異なるが、ジッタの分布の形は校正信号のジッタの分布
とほぼ相似である。よって、ＰＷＭ変調出力を用いて校
正した後のアナログ式ジッタ計測器により、実際の光デ
ィスク装置で再生した光ディスク記録信号に生じている
ジッタを計測したとき、その計測値はほぼ、校正信号の
ジッタ量に、実際の光ディスク装置で再生した光ディス
ク記録信号に生じているジッタの真のジッタ量と校正信
号のジッタ量の比を乗じた値となる。従って、実際の光
ディスク装置で再生した光ディスク記録信号に生じてい
るジッタをアナログ式ジッタ計測器で計測すると、当該
ジッタを周波数カウンタ式ジッタ計測器で計測したとき
の計測値に近い値とさせることができ、アナログ式ジッ
タ計測器での計測値の信頼性が向上する。
【図１】本発明の第１実施例に係る校正信号発生装置の
構成を示すブロック図である。
構成を示すブロック図である。
【図２】図１中のＰＷＭ変調手段の動作を示す波形図で
ある。
ある。
【図３】図１の校正信号発生装置の使用法を示す説明図
である。
である。
【図４】本発明の第２実施例に係る校正信号発生装置の
構成を示すブロック図である。
構成を示すブロック図である。
【図５】従来のアナログ式ジッタ計測器の構成を示すブ
ロック図である。
ロック図である。
【図６】図５のアナログ式ジッタ計測器の動作を示す波
形図である。
形図である。
２０、２０Ａ 校正信号発生装置 ２３、２３Ａ ガウシャンノイズ発生手段 ２４ ゲイン可変アンプ ２５ つまみ ２６、２６Ａ ＰＷＭ変調手段 ３０ 周波数カウンタ式ジッタ計測器 ４０ アナログ式ジッタ計測器 ５０ ＣＤプレーヤ ６０ ＣＤエンコーダ
Claims (4)
- 【請求項１】 電圧分布がガウス曲線に従うガウシャン
ノイズを発生するガウシャンノイズ発生手段と、 ガウシャンノイズを変調信号として、所定周波数のパル
ス列にＰＷＭ変調し、この際、パルス幅の中心値を所定
幅とするＰＷＭ変調手段と、 を備えたことを特徴とするジッタ計測器用校正信号発生
装置。 - 【請求項２】 ガウシャンノイズ発生手段とＰＷＭ変調
手段との間に、ノイズの振幅レベルを可変できるレベル
可変手段を設けたこと、 を特徴とする請求項１記載のジッタ計測器用校正信号発
生装置。 - 【請求項３】 電圧分布がガウス曲線に従うガウシャン
ノイズを発生するガウシャンノイズ発生手段と、 ガウシャンノイズを変調信号として、所定周波数のパル
ス列にＰＷＭ変調するＰＷＭ変調手段と、 ＰＷＭ変調手段の出力を動作クロックとして、所定のデ
ィジタルソース信号を、所定の記録媒体への所定の記録
信号にエンコードするエンコード手段を設けたこと、 を特徴とするジッタ計測器用校正信号発生装置。 - 【請求項４】 ガウシャンノイズ発生手段とＰＷＭ変調
手段との間に、ノイズの振幅レベルを可変できるレベル
可変手段を設けたこと、 を特徴とする請求項３記載のジッタ計測器用校正信号発
生装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9322197A JPH10268015A (ja) | 1997-03-26 | 1997-03-26 | ジッタ計測器用校正信号発生装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9322197A JPH10268015A (ja) | 1997-03-26 | 1997-03-26 | ジッタ計測器用校正信号発生装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH10268015A true JPH10268015A (ja) | 1998-10-09 |
Family
ID=14076516
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP9322197A Pending JPH10268015A (ja) | 1997-03-26 | 1997-03-26 | ジッタ計測器用校正信号発生装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH10268015A (ja) |
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP1039310A3 (de) * | 1999-03-26 | 2001-09-26 | Acterna Eningen GmbH | Verfahren und Vorrichtung zum Prüfen eines Jittergenerators |
| CN104764913A (zh) * | 2015-04-23 | 2015-07-08 | 北京出入境检验检疫局检验检疫技术中心 | 无线设备比吸收率和辐射性能测试比对用调制参考源 |
| CN105785085A (zh) * | 2016-04-14 | 2016-07-20 | 云南电网有限责任公司电力科学研究院 | 基于同步时钟信号下的合并单元检测模拟源及输出方法 |
| FR3054392A1 (fr) * | 2016-07-25 | 2018-01-26 | Valeo Systemes Thermiques | « procede de controle d’une machine electrique tournante a l’aide d’un signal pwm a frequence aleatoire » |
| CN109655644A (zh) * | 2018-12-26 | 2019-04-19 | 中电科仪器仪表有限公司 | 一种降低任意波信号输出抖动的方法和装置 |
| CN115598578A (zh) * | 2022-10-10 | 2023-01-13 | 西安航天动力测控技术研究所（Cn） | 一种单元测试仪校准系统及校准方法 |
-
1997
- 1997-03-26 JP JP9322197A patent/JPH10268015A/ja active Pending
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| WO2018020125A1 (fr) * | 2016-07-25 | 2018-02-01 | Valeo Systemes Thermiques | Procédé de contrôle d'une machine électrique tournante à l'aide d'un signal pwm à fréquence aléatoire |
| CN109655644A (zh) * | 2018-12-26 | 2019-04-19 | 中电科仪器仪表有限公司 | 一种降低任意波信号输出抖动的方法和装置 |
| CN115598578A (zh) * | 2022-10-10 | 2023-01-13 | 西安航天动力测控技术研究所（Cn） | 一种单元测试仪校准系统及校准方法 |
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