JPH10270523A - 基板処理装置、並びに基板搬送装置及び基板移載装置 - Google Patents
基板処理装置、並びに基板搬送装置及び基板移載装置Info
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- JPH10270523A JPH10270523A JP9068201A JP6820197A JPH10270523A JP H10270523 A JPH10270523 A JP H10270523A JP 9068201 A JP9068201 A JP 9068201A JP 6820197 A JP6820197 A JP 6820197A JP H10270523 A JPH10270523 A JP H10270523A
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Abstract
トの配置の自由度が高い基板処理装置を提供すること。 【解決手段】 ユニット配置部10は、最下部に、ケミ
カルキャビネット11を備え、この上側であって装置の
4隅には、液処理ユニットとして、基板にレジスト被膜
を形成する塗布処理ユニットSC1、SC2と、露光後の
基板に現像処理を行う現像処理ユニットSD1、SD2と
が配置されている。さらに、これらの液処理ユニットの
上側には、基板に熱処理を行う多段熱処理ユニット20
が装置の前部及び後部に配置されている。なお、装置の
前側であって塗布処理ユニットSC1、SC2の間には、
基板処理ユニットとして、基板に純水等の洗浄液を供給
して基板を洗浄する洗浄処理ユニットSSが配置されて
いる。
Description
晶ガラス基板などの薄板状基板(以下、単に「基板」と
称する)に対して加熱処理、冷却処理および処理液処理
を含む一連の処理を行う基板処理装置並びに及びこれに
用いる基板搬送装置及び基板移載装置に関する。
おいては、基板搬送ロボットにより、基板に加熱処理を
行う加熱処理ユニット、冷却処理を行う冷却処理ユニッ
トおよび薬液処理を行う薬液処理ユニット等間で基板の
循環搬送を行い、一連の基板処理を達成している。
示の基板処理装置では、装置中央に配置され上下動及び
旋回可能な基板搬送ロボットの周囲に、枚葉式の各種処
理ユニットを多段に積層した複数組の多段ユニットが配
置されている。ここで、多段ユニットは、同種の処理ユ
ニットを多段に積層したものとなっており、基板に加熱
処理や冷却処理を行う複数の熱処理ユニットのみを積層
した熱処理系多段ユニットと、複数の薬液処理ユニット
のみを多段に積層した薬液処理系多段ユニットとに分か
れている。
理装置では、同種の処理ユニットを多段に積層するの
で、薬液処理系多段ユニットに関して、薬液を扱う関係
上、特に上段側の処理ユニットでメンテナンス性が悪く
なるという問題がある。
中央に配置された基板搬送ロボットの周囲に、複数組の
多段ユニットを基本的に分離して配置する構造となって
いるので、一般に処理ユニットの配置の自由度が低くな
る傾向があり、設置条件等に応じた機能的な設計や、目
的に応じた効率的な搬送・処理を図る上で不利となり易
い。
送ロボットの垂直方向の駆動をボールスクリューにて行
っているので、処理ユニットのメンテナンス時には、基
板搬送ロボットごと上側に引き抜く必要があり、メンテ
ナンス時の作業性が悪いという問題がある。
送ロボットがその周囲に配置された複数の多段ユニット
を構成する全処理ユニットに対してアクセスできるよう
に、基板搬送ロボットのアームのストロークを十分に稼
ぐ必要がある。このため、搬送ロボットのアーム等が大
型化し、さらにその旋回スペースを確保するため、基板
処理装置全体の大型化を招く結果となっている。
業性が良く、処理ユニットの配置の自由度が高い基板処
理装置を提供することを目的とする。
メンテナンス性の良いものとする基板搬送装置を提供す
ることを目的とする。
め、請求項1記載の基板処理装置は、鉛直方向に移動可
能であるとともに鉛直軸回りに回転可能な基板搬送手段
と、前記基板搬送手段の周囲に配置され、基板に所定の
処理液による処理を行う複数の液処理ユニットと、前記
複数のうちの1つ以上の液処理ユニットの上方に配置さ
れ、基板に熱処理を行う熱処理ユニットとを備えること
を特徴とする。
記液処理ユニットのうちの少なくとも1つが、基板に被
膜を形成するための塗布処理ユニットであることを特徴
とする。
記液処理ユニットのうちの少なくとも1つが、基板に現
像処理を行う現像処理ユニットであることを特徴とす
る。
記液処理ユニットのうちの少なくとも1つが、洗浄液を
供給して基板を洗浄する洗浄処理ユニットであることを
特徴とする。
直方向に伸縮移動可能であるとともに鉛直軸回りに回転
可能な基板搬送手段と、前記基板搬送手段の周囲に、1
組以上で多段に積層されて配置された複数の処理ユニッ
トとを備えたことを特徴とする。
記複数の処理ユニットのうちの少なくとも1つが、基板
に被膜を形成するための塗布処理ユニットであることを
特徴とする。
記複数の処理ユニットのうちの少なくとも1つが、基板
に現像処理を行う現像処理ユニットであることを特徴と
する。
記複数の処理ユニットのうちの少なくとも1つが、洗浄
液を供給して基板を洗浄する洗浄処理ユニットであるこ
とを特徴とする。
記複数の基板搬送手段が、鉛直方向に伸縮するパンタグ
ラフ構造を有することを特徴とする。
多段に積層された前記複数の処理ユニットの上段には、
熱処理ユニットが配置されることを特徴とする。
複数の処理ユニットを備えた基板処理装置に用いられる
基板搬送装置において、基板を保持する搬送アームを鉛
直軸回りに回転させる回転機構と、前記搬送アームを水
平方向に直線的に複数段にわたって伸縮する伸縮機構と
を備えたことを特徴とする。
請求項11記載の基板搬送装置を備え、前記複数の処理
ユニットが前記基板搬送装置の周囲に配置されているこ
とを特徴とする。
前記基板処理ユニットとして、前記基板に処理液を供給
して所定の処理液による処理を行う液処理ユニットと、
当該液処理ユニットの上方に前記基板に熱処理を行う熱
処理ユニットとを前記基板搬送装置の周囲に備えるとと
もに、鉛直方向に移動可能に構成されたことを特徴とす
る。
略四角形の底面領域を有する装置本体の4隅の位置にそ
れぞれ所定の処理液による処理を行う複数の液処理ユニ
ットを配置するとともに、前記装置本体の中心位置に鉛
直軸回りに回転可能な基板搬送手段を配置し、前記複数
の液処理ユニット間の少なくとも1つ以上の位置に基板
に対して所定の処理を行う基板処理ユニットを配置した
ことを特徴とする。
前記基板処理ユニットが、前記基板に被膜を形成するた
めの塗布処理ユニットであることを特徴とする。
前記複数の液処理ユニットが、前記基板に被膜を形成す
るための塗布処理ユニットと基板に現像処理を行う現像
処理ユニットとの少なくともいずれかを含み、前記基板
処理ユニットが、洗浄液を供給して基板を洗浄する洗浄
処理ユニットであることを特徴とする。
前記複数の液処理ユニットが、基板の裏面に洗浄液を供
給して基板裏面を洗浄する裏面洗浄用の洗浄処理ユニッ
トを含み、前記基板処理ユニットが、基板の表面と裏面
とを反転させる基板反転ユニットであることを特徴とす
る。
前記複数の液処理ユニットの上方に、前記基板に熱処理
を行う熱処理ユニットを配置したことを特徴とする。
基板搬送装置を囲んで複数の処理ユニットが配置された
ユニット配置部に対し、基板を受け渡す基板移載装置で
あって、基板を収納するカセットとの間で基板を授受す
る第1のハンドと、前記ユニット配置部側に移動して当
該基板搬送手段との間で授受する第2のハンドとを備え
ることを特徴とする。
ついて図面を参照しつつ詳細に説明する。
る。図1(a)は、装置の平面図であり、図1(b)
は、装置の正面図である。図示のように、本実施の形態
においては、基板処理装置は、基板の搬出入を行うイン
デクサIDと、基板に処理を行う複数の処理ユニットと
各処理ユニットに基板を搬送する基板搬送手段が配置さ
れるユニット配置部10と、露光装置に接続されている
インターフェイスIFとから構成されている。
貯留するタンクや配管等を収納するケミカルキャビネッ
ト11を備え、この上側であってその4隅には、基板に
処理液による処理を施す液処理ユニットとして、基板に
レジスト被膜を形成する塗布処理ユニットSC1、SC2
と、露光後の基板に現像処理を行う現像処理ユニットS
D1、SD2とが配置されている。さらに、これらの液処
理ユニットの上側には、基板に熱処理を行う多段熱処理
ユニット20が装置の前部及び後部に配置されている。
なお、装置の前側であって両塗布処理ユニットSC1、
SC2の間には、基板処理ユニットとして、基板に純水
等の洗浄液を供給して基板を洗浄する洗浄処理ユニット
SSが配置されている。
ユニットSD1、SD2に挟まれた装置中央部には、周囲
の全処理ユニットにアクセスしてこれらとの間で基板の
受け渡しを行うための基板搬送手段として、搬送ロボッ
トTR1が配置されている。この搬送ロボットTR1は、
鉛直方向に移動可能であるとともに中心の鉛直軸回りに
回転可能となっている。
ンエアのダウンフローを形成するフィルタファンユニッ
トFFUが設置されている。多段熱処理ユニット20の
直下にも、液処理ユニット側にクリーンエアのダウンフ
ローを形成するフィルタファンユニットFFUが設置さ
れている。
説明する図である。塗布処理ユニットSC1の上方に
は、多段熱処理ユニット20として、3段構成の熱処理
ユニットTU1、TU2、TU3が配置されている。この
うち、上段位置の熱処理ユニットTU1は、内部に密着
強化部AHとクールプレート部CP1とを備え、中段位
置の熱処理ユニットTU2は、内部にホットプレート部
HP2とクールプレート部CP2とを備え、下段位置の熱
処理ユニットTU3は、内部にホットプレート部HP3と
クールプレート部CP3とを備える。
熱処理ユニット20として、3段構成の熱処理ユニット
TU0、TU4、TU5が配置されている。このうち、上
段位置の熱処理ユニットTU0は、内部にホットプレー
ト部HP0とクールプレート部CP0とを備え、中段位置
の熱処理ユニットTU4は、内部にホットプレート部H
P4とクールプレート部CP4とを備え、下段位置の熱処
理ユニットTU5は、内部にホットプレート部HP5とク
ールプレート部CP5とを備える。
熱処理ユニット20として、2段構成の熱処理ユニット
TU6、TU7が配置されている。このうち、中段位置の
熱処理ユニットTU6は、内部にホットプレート部HP6
とクールプレート部CP6とを備え、下段位置の熱処理
ユニットTU7は、内部にホットプレート部HP7とクー
ルプレート部CP7とを備える。なお、上段位置は、本
実施形態の装置の場合、空状態となっているが、用途及
び目的に応じてホットプレート部やクールプレート部を
内蔵する熱処理ユニットを組み込むことができる。
熱処理ユニット20として、この場合1段構成の熱処理
ユニットTU8が配置されている。この熱処理ユニット
TU8は、内部に露光後ベークプレート部PEBとクー
ルプレート部CP8とを備える。なお、上段及び中段位
置は、本実施形態の装置の場合ともに空状態となってい
るが、用途及び目的に応じてホットプレート部やクール
プレート部を内蔵する熱処理ユニットを適宜組み込むこ
とができる。
内における特定の基板の搬送及び処理のフローを説明す
る図である。
サIDから受け取った基板を洗浄処理ユニットSSまで
搬送し、この基板を洗浄処理ユニットSSで処理済みの
基板と交換する。洗浄処理ユニットSSは、ここに移載
されてきた基板の表面に純水を供給し基板表面を洗浄す
る。
ニットSSで洗浄処理を終了した基板を熱処理ユニット
TU0まで搬送する。熱処理ユニットTU0は、この基板
に対し、ホットプレート部HP0及びクールプレート部
CP0にてそれぞれ加熱及び冷却の熱処理(ここで、冷
却は強制的な冷却でない非熱状態を含む)を施す。
ットTU0で熱処理を終了した基板を熱処理ユニットT
U1まで搬送する。熱処理ユニットTU1は、この基板に
対し、密着強化部AHにて密着強化ガス雰囲気下で加熱
処理を施し、クールプレート部CP1にて冷却処理を施
す。
ットTU1で熱処理を終了した基板を塗布処理ユニット
SC1まで搬送する。塗布処理ユニットSC1は、この基
板に対し、スピンコーティングによってレジスト液を塗
布する。
ニットSC1で塗布処理を終了した基板を熱処理ユニッ
トTU2及び熱処理ユニットTU3のいずれかに搬送す
る。熱処理ユニットTU2、TU3は、この基板に対し、
ホットプレート部HP2、HP3及びクールプレート部C
P2、CP3にてそれぞれ加熱及び冷却からなるレジスト
硬化処理を施す。なお、両熱処理ユニットTU2、TU3
で並列処理を行っているのは、この工程(熱処理ユニッ
トTU2、TU3での熱処理)が他の処理ユニットに比較
して時間を要するからである。
ットTU2、TU3で熱処理を終了した基板を塗布処理ユ
ニットSC2まで搬送する。塗布処理ユニットSC2は、
この基板に対し、スピンコーティングによってレジスト
上に保護膜を形成する。
ニットSC2で塗布処理を終了した基板を熱処理ユニッ
トTU4及び熱処理ユニットTU5のいずれかに搬送す
る。熱処理ユニットTU4、TU5は、この基板に対し、
ホットプレート部HP4、HP5及びクールプレート部C
P4、CP5にてそれぞれ加熱及び冷却からなる保護膜硬
化処理を施す。以上の工程により、本実施形態の基板処
理装置における順方向の処理が完了する。
ットTU4、TU5で熱処理を終了した基板をインターフ
ェスIF側に渡す。なお、インターフェスIFは、露光
装置のスループットとの時間調整を図るためにユニット
配置部10側からの露光前の基板を一時的に保持した後
に露光装置側に送るとともに、露光装置側からの露光後
の基板を一時的に保持した後に基板処理装置10側に戻
す役割を有する。
ェスIFに戻ってきた露光後の基板を熱処理ユニットT
U8に搬送する。熱処理ユニットTU8は、この基板に対
し、露光後ベークプレート部PEB及びクールプレート
部CP8にて加熱及び冷却からなるポストエクスポージ
ャベーク処理を施す。
ットTU8でポストエクスポージャベーク処理を終了し
た基板を現像処理ユニットSD1及び現像処理ユニット
SD2のいずれかに搬送する。現像処理ユニットSD1、
SD2は、この基板に対し、露光後のレジストの現像処
理を実行する。
ニットSD1、SD2で現像処理を終了した基板を熱処理
ユニットTU6及び熱処理ユニットTU7のいずれかに搬
送する。熱処理ユニットTU6、TU7は、この基板に対
し、ホットプレート部HP6、HP7及びクールプレート
部CP6、CP7にてそれぞれ加熱及び冷却からなるポス
トベーク処理を施す。
ニットTU6、TU7で熱処理を終了した仕上げ後の基板
をインデクサID側に戻す。以上の工程により、本実施
形態の基板処理装置における逆方向の処理が完了する。
板の搬送、インデクサID内における基板の搬送、ユニ
ット配置部10及びインデクサID間における基板の受
渡を説明する図である。
2は、ユニット配置部10側の搬送ロボットTR1との間
で基板を授受する第1ハンド50と、カセットCAに対
し基板WFを搬出入する第2ハンド60とを備える。
部10側の搬送ロボットTR1によって受渡ポジション
P1まで搬送されてきた基板WFを受け取ってカセット
CA中に収納するとともに、カセットCA中の基板WF
をカセットCA外に取り出し、受渡ポジションP1まで
移動させて搬送ロボットTR1に渡す。
して、インデクサIDに設けた通路上をY方向に往復移
動可能となっている。そして、図示の位置では、第1ハ
ンド50が±Z方向(すなわち鉛直方向)及びX方向
(すなわちユニット配置部10側)に移動して正面の搬
送ロボットTR1との間で基板WFの授受を行う。一
方、移載ロボットTR2が図示の位置から±Y方向に移
動していずれかのカセットCAの正面に対向する状態と
なると、第2ハンド60が±Z方向及び−X方向に移動
してカセットCAとの間で基板WFの授受を行う。
ボットTR1は、受渡ポジションP1で移載ロボットTR
2から受け取った基板WFを周囲の処理ユニット(例え
ば、洗浄処理ユニットSS)に渡す。
鉛直方向に昇降可能であるステージ41と、このステー
ジ41上に取り付けられて鉛直軸回りに回転可能なヘッ
ド42とを備える。このヘッド42は、基板WFを支持
しつつ周囲の全処理ユニットにアクセス可能なハンド4
0を備える。このハンド40は、XY面内で水平方向に
独立に伸縮する上下一対のホルダ部材を有しており、処
理ユニットにアクセスした際に、処理ユニット内の処理
後の基板WFとホルダ部材上の処理前の基板WFとを交
換する。
て、処理前の基板WFと処理後の基板WFとを交換しつ
つ、図3と同様のフローで基板WFを搬送する循環搬送
を一巡させることにより、ユニット配置部10中の各処
理ユニット(並列処理の処理ユニットを除く)中の基板
WFの処理が1段階進行する。
フェースIFとに関しては、受渡ポジションP1、P2が
一種の処理ユニットのように機能し、ここで基板の交換
が行われる。すなわち、搬送ロボットTR1は、順方向
に関する最後の処理ユニット(例えば、熱処理ユニット
TU4)で処理を終了した基板WFを受渡ポジションP2
まで移動させてここでインターフェスIFとの基板交換
を行う。また、搬送ロボットTR1は、逆方向に関する
最後の処理ユニット(例えば、熱処理ユニットTU6)
で処理を終了した基板WFを受渡ポジションP1まで移
動させてここでインデクサIDとの基板交換を行う。
な循環搬送を繰返すことにより、図3と同一のフローで
基板WFの処理が漸次進行することになる。
び動作を説明する図であり、図5は、搬送ロボットTR
1の斜視図であり、図6は、搬送ロボットTR1の裏面及
び側面の構造を示す図であり、図7は、搬送ロボットT
R1のハンドの動作を説明する図である。
ヘッド42を支持するステージ41は、基台44との間
に設けたZ軸駆動機構45によって、±Z方向に昇降可
能になっている。このZ軸駆動機構45は、パンタグラ
フ構造を有し、基台44上に固定されたモータ45aの
正逆回転によってネジ軸45bが回転し、このネジ軸4
5bに螺合された連結部材45cが±Y方向に移動す
る。そして、連結部材45cの移動にともなって、その
連結部材45cの両端に連結された一対のパンタグラフ
リンク45dが屈伸駆動することとなる。一対のパンタ
グラフリンク45dの上端にはステージ41が連結支持
されており、結果として、モータ45aの正逆回転がパ
ンタグラフリンク45dの屈伸駆動を介してステージ4
1の昇降運動に変換されることになる。
るが、ヘッド42の中央下部から延びる鉛直回転軸42
bを回転駆動する回転駆動機構を内蔵しており、この回
転駆動機構により、ヘッド42は、旋回してZ軸回りの
任意の位置に回転移動可能となる。また、ヘッド42上
に設けたハンド40は、それぞれが基板WFを支持可能
な一対のホルダ部材40a、40bからなっている。各
ホルダ部材40a、40bは、図示の状態で、ヘッド4
2内に設けた機構によって−X方向に進退可能になって
いる。
図に示すように、一方のホルダ部材40bは、ヘッド4
2に内蔵された伸縮駆動機構70によって、AB方向に
往復移動可能になっている。なお、他方のホルダ部材4
0aも、図示を省略しているが、上記伸縮駆動機構70
と同様の機構によって、AB方向に往復移動可能になっ
ている。
部材40bとの間にストロークを稼ぐためのブーム71
を介在させた2段構造となっている。このブーム71に
は、ヘッド42側に設けたガイド72に案内されてAB
方向に往復移動する摺動部材73が固設されている。ま
た、ホルダ部材40bには、ブーム71側に設けたガイ
ド74に案内されてAB方向に往復移動する摺動部材7
5が固設されている。ブーム71の側面に設けた一対の
プーリPU1には、ベルトBEがかけられており、この
ベルトBEの一部には、摺動部材75が固定されてい
る。ヘッド42内部に設けた複数のプーリPU2、PU
3、PU4にも、ベルトBEがかけられており、このベル
トBEの一部には、ブーム71が固定されている。な
お、プーリPU4は、モータMOに連結されており、こ
のモータMOに駆動されて適宜回転する。
動を説明する図である。ヘッド42に内蔵されたモータ
に駆動されてプーリPU4が一方向に回転すると、ベル
トBEに接続されたブーム71がAB方向に前進し、ヘ
ッド42からせり出す。ブーム71がヘッド42からせ
り出すと、ブーム71のプーリPU1にかけられたベル
トBEも、係止部材77を介してヘッド42に固定され
ていることに原因して回転し、このベルトBEに接続さ
れたホルダ部材40bがAB方向に前進し、ブーム71
からせり出し、結果的にホルダ部材40bはハンド40
が最も伸張した実線の位置まで移動する。なお、点線
は、ハンド40が最も縮小した状態を示している。
ットTR2の詳細を説明する図である。第1ハンド50
は、第2ハンド60との間で基板WFの授受を行うとと
もに、ユニット配置部10側の搬送ロボットTR1との
間でも基板WFの授受を行う。第2ハンド60は、カセ
ットCAとの間で基板WFの授受を行うとともに、第1
ハンド50との間でも基板WFの授受を行う。
て基板WFを水平に保持する。そして、この第1ハンド
50は、Y方向に往復移動可能な支柱52に対して、駆
動機構80によってX方向及びZ方向に往復移動可能と
なっている。結果的に、第1ハンド50は、X、Y、Z
方向の各方向に往復移動可能となっている。ここで、第
1ハンド50のZ方向の往復移動は、図9にも示すエア
シリンダ81によって行う。また、第1ハンド50のX
方向の往復移動は、ガイド82と、摺動部材83と、図
示を省略するベルト機構とによって行う。なお、第2ハ
ンド60は、支柱61に支持されて、図示を省略する機
構によって、X、Y、Z方向の各方向に移動可能となっ
ている。
ら移載ロボットTR2への基板WFの受渡を説明する図
である。まず、図10の状態では、ユニット配置部10
における逆方向の処理を終了した基板WFが搬送ロボッ
トTR1のホルダ部材40b上に支持された状態となっ
ており、移載ロボットTR2が、第1ハンド50上面を
搬送ロボットTR1のホルダ部材40bの下面よりわず
かに低い位置に上昇させ、搬送ロボットTR1に対抗す
る位置水平移動してくる。次に、図11の状態では、第
1ハンド50を+X方向に前進させて受渡ポジションま
で移動させる。次に、図12の状態では、搬送ロボット
TR1側のホルダ部材40bを−X方向に前進させて基
板WFを受渡ポジションまで移動させる。この際、第1
ハンド50の上面は、ホルダ部材40bの下面よりもわ
ずかに低くなっており、またホルダ部材40bに支持さ
れた基板WFの下面は、第1ハンド50に突設されたピ
ン51の先端よりも高くなっており、第1ハンド50と
ホルダ部材40bとの干渉が防止される。次に、図13
の状態では、搬送ロボットTR1がわずかに下降し、ホ
ルダ部材40b上に支持されていた基板WFが第1ハン
ド50側(正確にはピン51)に渡される。次に、図1
4の状態では、搬送ロボットTR1側のホルダ部材40
bを後退させてもとの位置に戻す。最後に、図15の状
態では、移載ロボットTR2側の第1ハンド50が後退
してもとの位置に戻る。なお、第1ハンド50上の基板
WFは、図示を省略する第2ハンド60との相対的昇降
動作によって、この第2ハンド60に渡され、最終的に
はインデクサIDのカセットCAに収納される。以上、
搬送ロボットTR1から移載ロボットTR2への基板WF
の受渡を説明したが、移載ロボットTR2から搬送ロボ
ットTR1への基板WFの受渡は、上記と逆の手順によ
る。
0の構造を説明する平面図であり、図17は、熱処理ユ
ニットTU0の側面図である。図示の熱処理ユニットT
U0は、ケース90に収納されおり、ケース90内部は
加熱処理を行うホットプレート部HP0と冷却処理を行
うクールプレート部CP0とに分かれる。なお、この熱
処理ユニットTU0の開口90aは、クールプレート部
CP0の正面にのみ形成されている。これは、ホットプ
レート部HP0とクールプレート部CP0との間では、後
に詳細に説明するようにケース90内で基板WFの交換
が可能となっており、熱処理ユニットTU0に対する基
板WFの出し入れはクールプレート部CP0側のみで行
えば足りるからである。
内蔵した加熱手段であるプレート91aとこれを覆うチ
ャンバ91bとが配置されており、クールプレート部C
P0側には、ペルチエ素子等の冷却素子を内蔵した冷却
手段であるプレート92aとこれを覆うチャンバ92b
とが配置されている。両チャンバ91b、92bは、そ
れぞれエアシリンダ93aを含む昇降機構93に案内・
駆動されて昇降移動するようになっている。
れぞれリフトピン駆動アーム94が配置されており、モ
ータ等を内蔵する昇降機構95に案内・駆動されて昇降
移動するようになっている。リフトピン駆動アーム94
が上昇すると、各プレート91a、91bの表面からリ
フトピンLPが突出し、プレート91a、92a上の基
板WFを上方に移動させることができる。なお、昇降機
構95は、リフトピン駆動アーム94を段階的に昇降さ
せることができるようになっており、プレート91a、
92a上の基板WFも段階的に昇降させることができ
る。
トプレート部HP0とクールプレート部CP0との間で基
板WFを交換するため、移送手段として、上下一対の搬
送アーム96、97が配置されている。上側の第1搬送
アーム96の下面には、基板WFを保持するため一対の
ツメ96a、96bが突設されており、両チャンバ91
b、92bを上昇させて上方に退避させた状態で搬送ア
ーム96を水平方向CDに移動させることにより、両プ
レート91a、92a相互間で基板WFを移送できるよ
うになっている。下側の第2搬送アーム97の下面に
も、基板WFを保持するため一対のツメ97a、97b
が突設されており、両チャンバ91b、92bを上昇さ
せて上方に退避させた状態で搬送アーム97を水平方向
CDに移動させることにより、両プレート91a、92
a相互間で基板WFを移送できるようになっている。
は、案内部材98に設けたガイド98aに沿って摺動可
能となっており、第1搬送アーム96の水平方向CDの
直線的移動を許容する。下側の第2搬送アーム97の基
部97cも、案内部材98に設けたガイド98bに沿っ
て摺動可能となっており、第2搬送アーム97の水平方
向CDの直線的移動を許容する。
U6が取り付けられており、両プーリPU6には、ベルト
BEが掛けられている。ベルトBEの一対の対称位置に
は、第1搬送アーム96の基部96cと第2搬送アーム
97の基部97cとがそれぞれ連結されており、両搬送
アーム96、97は常に反対方向に移動する。そして、
両搬送アーム96、97は、これらが最も離間したとき
には両チャンバ91b、92bの外側の退避位置まで移
動し、最も近接したときには図17の実線で示すような
内側の退避位置まで移動する。また、両搬送アーム9
6、97は、図17の一点鎖線で示すような基板受渡位
置でリフトピンLPを適宜昇降させることにより、両プ
レート91a、92aとの間で基板WFの授受が可能と
なっている。
移動は、両プーリPU6に掛け渡されているベルトBE
を駆動するモータ100の回転を適宜制御することによ
って行われる。
ルプレート部CP0とホットプレート部HP0との間に
は、クリーンエアのダウンフローが形成されるようにし
てあり、クールプレート部CP0とホットプレート部H
P0とは熱的に遮断されるようになっている。なお、ク
ールプレート部CP0とホットプレート部HP0との間の
熱的遮断をより効果的という観点からは、両搬送アーム
96、97を外側の退避位置に配置することが望まし
い。また、基板WFが両搬送アーム96、97によって
急冷または急熱されたりしないように、第1搬送アーム
96側を冷たい基板WFの搬送専用とし、第2搬送アー
ム97側を熱い基板WFの搬送専用とすることなどがで
きる。
ユニットTU0内における基板WFの交換を説明する図
である。図18(a)は、クールプレート部CP0にお
けるリフトピンLPとチャンバ92bの位置を示し、図
18(b)は、ホットプレート部HP0におけるリフト
ピンLPとチャンバ91bの位置を示す。
熱処理が終了する直前に、クールプレート部CP0側で
は、チャンバ92bを退避位置まで十分に上昇させ、リ
フトピンLPの先端を上側リフト位置まで上昇させる。
そして、クールプレート部CP0の前面の開口90aか
ら図4等に示す搬送ロボットTR1のハンド40を挿入
し、ハンド40上の処理前の基板WF(○印)とリフト
ピンLP上の熱処理後の基板WF(□印)とを交換す
る。
板WFの加熱処理が終了すると、チャンバ91bを退避
位置まで十分に上昇させ、リフトピンLPの先端を下側
リフト位置まで上昇させ、加熱処理後の基板WF(△
印)を下側のリフト位置まで上昇させる。そして、第1
搬送アーム96と第2搬送アーム97とを内側の退避位
置からそれぞれプレート92a中央上方の基板受渡位置
とプレート91a中央上方の基板受渡位置とに移動させ
る。この際、加熱処理前の上側リフト位置にある基板W
Fは、第1搬送アーム96本体とツメ96a、96bと
の間を通過するようになっており、加熱処理後の下側リ
フト位置にある基板WFは、第2搬送アーム97本体と
ツメ97a、97bとの間を通過するようになってい
る。これにより、両搬送アーム96、97と基板WFと
の干渉が回避される。
a、91a中央上方の基板受渡位置に到着した段階で、
リフトピンLPの降下を開始する。リフトピンLPがあ
る程度降下すると、処理前の基板WF(○印)は、第1
搬送アーム96に渡され、加熱処理後の基板WF(△
印)は、第2送アーム97に渡される。
7への基板WFの移載が完了した段階で、両搬送アーム
96、97の位置交換を行う。すなわち、処理前の基板
WF(○印)をホットプレート部HP0側に移動させ、
加熱処理後の基板WF(△印)をクールプレート部CP
0側に移動させる。
到着し、第2搬送アーム97がプレート92a上に移動
して、両搬送アーム96、97の位置交換が完了した段
階で、プレート92a側のリフトピンLPを下側リフト
位置まで上昇させ、予めある程度上昇させておいたプレ
ート91a側のリフトピンLPを上側リフト位置まで上
昇させる。リフトピンLPがある程度上昇すると、処理
前の基板WF(○印)は、プレート91a側のリフトピ
ンLPに渡され、加熱処理後の基板WF(△印)は、プ
レート92a側のリフトピンLPに渡される。
Pへの基板WFの移載が完了した段階で、両搬送アーム
96、97を内側の退避位置まで移動させる。
段階で、リフトピンLPとともに基板WFを降下させ
て、加熱処理後の基板WF(△印)をプレート92a上
に微小間隙を介在させた状態で載置し、処理前の基板W
F(○印)をプレート91a上に微小間隙を介在させた
状態で載置する。これと同時に、両チャンバ91b、9
2bも降下させて両プレート91a、92b上面の周囲
に半密閉空間を形成する。
の基板WF(△印)は、ここで冷却され、プレート91
a上に吸着された処理前の基板WF(○印)は、ここで
所定のプロセスで加熱処理される。
説明したが、この発明は、上記実施形態に限定されるも
のではない。薬液で基板WFを処理する液処理ユニット
である塗布処理ユニットSC1、SC2、現像処理ユニッ
トSD1、SD2等の配置の組み合わせは、多段熱処理ユ
ニット20の下側とする限り任意である。また、液処理
ユニットのいずれか(例えば、塗布処理ユニットSC
1)を上記多段熱処理ユニット20と同様の多段熱処理
ユニットに置き換えることも自由である。
に基板処理ユニットとして洗浄処理ユニットSSが配置
されているが、洗浄処理ユニットSSを組み込まない構
成も可能である。
トをすべて洗浄処理ユニットSS1〜SS4で構成するこ
とも可能である。この場合、洗浄処理ユニットSS1と
洗浄処理ユニットSS2との間に基板を反転させて表裏
を入れ替える基板反転ユニットを配置することができ
る。
理ユニットTU0の代わりに、単一のプレートで基板W
Fを加熱冷却することもできる。この場合、搬送アーム
96、97のような基板交換のための移送手段を設ける
必要がないが、単一のプレートに加熱及び冷却の機能を
持たせる必要がある。図20は、このようなプレートの
温度調節装置を説明する図である。図20(a)は、加
熱及び冷却が可能なペルチエ素子100aを内部に組み
込んだタイプのプレート100である。ペルチエ素子1
00aに加熱側の電流を印加すればプレート100が加
熱され基板WFも加熱され、冷却側の電流を印加すれば
プレート100が冷却され基板WFも冷却される。図2
0(b)は、加熱のためのヒータ200aと冷却液が供
給される配管200bとを組み込んだタイプのプレート
200である。なお、配管200bには、比較的融点が
高い油等を予め冷却して供給する。また、配管200b
は、プレート200が均一に冷却されるよう、基板WF
直下にほぼ均等な密度で配置する。
段の周囲に複数の液処理ユニットが配置される構成にお
いて、熱処理ユニットを液処理ユニットの上方に配置す
る構成としたので、液処理ユニット間で囲われた領域の
雰囲気が、熱処理ユニットからの熱的影響を受けず、液
処理ユニットにおいて基板の安定した処理を行うことが
できる。
は、ここで説明したものに限定されるものではない。例
えば、伸縮駆動機構70については、プーリとベルトを
用いたベルト送り機構の代わりに、ネジ軸とナット部材
とを用いた機構を使用してもよく、その他の公知の手段
を適用することが可能である。さらに、Z軸駆動機構4
5についても、パンタグラフ構造に限定されず、その他
の伸縮昇降機構、例えばプーリとワイヤを用いた巻き掛
け連動機構を用いても、上記と同様の効果を得ることが
できる。
項1記載の装置によれば、鉛直方向に移動可能であると
ともに鉛直軸回りに回転可能な基板搬送手段と、前記基
板搬送手段の周囲に配置され基板に所定の処理液による
処理を行う複数の液処理ユニットと、前記複数のうちの
1つ以上の液処理ユニットの上方に配置され基板に熱処
理を行う熱処理ユニットとを備えるので、液処理ユニッ
トがすべて下方側に配置されメンテナンス性が良い。し
かも、液処理ユニットを上下に配置せず、基板搬送手段
の周囲の任意の位置に配置できるようにしているので、
処理ユニットの配置の自由度が高まり、設置条件等に応
じた機能的な設計や、目的に応じた効率的な搬送・処理
を図ることができる。
液処理ユニットのうちの少なくとも1つが、基板に被膜
を形成するための塗布処理ユニットであるので、効率的
な塗布処理が可能で、かつこの塗布処理ユニットのメン
テナンスが容易である。
液処理ユニットのうちの少なくとも1つが、基板に現像
処理を行う現像処理ユニットであるので、効率的な現像
処理が可能で、かつこの現像処理ユニットのメンテナン
スが容易である。
液処理ユニットのうちの少なくとも1つが、洗浄液を供
給して基板を洗浄する洗浄処理ユニットであるので、効
率的な洗浄処理が可能で、かつこの洗浄処理ユニットの
メンテナンスが容易である。
方向に伸縮移動可能であるとともに鉛直軸回りに回転可
能な基板搬送手段と、前記基板搬送手段の周囲に、1組
以上で多段に積層されて配置された複数の処理ユニット
とを備えるので、処理ユニットのメンテナンス時には基
板搬送手段を縮めて背を低くするだけで足り、基板搬送
手段を取り除く必要がないので、メンテナンス性が良く
なる。
複数の処理ユニットのうちの少なくとも1つが、基板に
被膜を形成するための塗布処理ユニットであるので、こ
の塗布処理ユニットのメンテナンスが良好である。
複数の処理ユニットのうちの少なくとも1つが、基板に
現像処理を行う現像処理ユニットであるので、この現像
処理ユニットのメンテナンスが良好である。
複数の処理ユニットのうちの少なくとも1つが、洗浄液
を供給して基板を洗浄する洗浄処理ユニットであるの
で、洗浄処理ユニットのメンテナンスが良好である。
複数の基板搬送手段が、鉛直方向に伸縮するパンタグラ
フ構造を有するので、簡易な構造によって基板搬送手段
を伸縮することができる。
段に積層された前記複数の処理ユニットの上段に熱処理
ユニットが配置されるので、液処理ユニットがすべて下
方側に配置されメンテナンス性が良く、処理ユニットの
配置の自由度が高まる。
板を保持する搬送アームを鉛直軸回りに回転させる回転
機構と、前記搬送アームを水平方向に直線的に複数段に
わたって伸縮する伸縮機構とを備えるので、搬送アーム
のストロークを十分に確保して基板搬送装置の周囲に配
置した全処理ユニットにアクセスできるようにしたまま
で、搬送アームのサイズすなわち旋回スペースを小さく
することができ、基板搬送装置自体を小型化することが
できる。
求項11記載の基板搬送装置を備え、前記複数の処理ユ
ニットが前記基板搬送装置の周囲に配置されているの
で、基板搬送装置の小型化によって、基板処理装置全体
を小型化することができる。
処理ユニットとして、前記基板に処理液を供給して所定
の処理液による処理を行う液処理ユニットと、当該液処
理ユニットの上方に前記基板に熱処理を行う熱処理ユニ
ットとを前記基板搬送装置の周囲に備えるとともに、鉛
直方向に移動可能に構成されているので、液処理ユニッ
トがすべて下方側に配置されメンテナンス性が良い。し
かも、液処理ユニットを基板搬送手段の周囲の任意の位
置に配置できるようにしているので、処理ユニットの配
置の自由度が高まり、機能的な設計や効率的な搬送・処
理を図ることができる。
四角形の底面領域を有するユニット配置部の4隅の位置
にそれぞれ所定の処理液による処理を行う複数の液処理
ユニットを配置するとともに、前記ユニット配置部の中
心位置に鉛直軸回りに回転可能な基板搬送手段を配置
し、前記複数の液処理ユニット間の少なくとも1つ以上
の位置に基板に対して所定の処理を行う基板処理ユニッ
トを配置しているので、液処理ユニットのフットスペー
スを十分に確保しつつ、スペース効率のよい配置が可能
となり、基板処理装置を小型化することができる。
記基板処理ユニットが、前記基板に被膜を形成するため
の塗布処理ユニットであるので、処理ユニットの効率的
な配置が可能となる。
記複数の液処理ユニットが、前記基板に被膜を形成する
ための塗布処理ユニットと基板に現像処理を行う現像処
理ユニットとの少なくともいずれかを含み、前記基板処
理ユニットが、洗浄液を供給して基板を洗浄する洗浄処
理ユニットであるので、スペース的に処理ユニットの効
率的な配置が可能となる。
記複数の液処理ユニットが、基板の裏面に洗浄液を供給
して基板裏面を洗浄する裏面洗浄用の洗浄処理ユニット
を含み、前記基板処理ユニットが、基板の表面と裏面と
を反転させる基板反転ユニットであるので、スペース的
に処理ユニットの効率的な配置が可能となる。
記複数の液処理ユニットの上方に、前記基板に熱処理を
行う熱処理ユニットを配置しているので、液処理ユニッ
トがすべて下方側に配置されメンテナンス性が良い。し
かも、液処理ユニットを装置本体の4隅の任意の位置に
配置できるようにしているので、処理ユニットの配置の
自由度が高まり、機能的な設計や効率的な搬送・処理を
図ることができる。
板搬送手段を囲んで複数の処理ユニットが配置されたユ
ニット配置部に対し、基板を受け渡す基板移載装置であ
って、基板を収納するカセットとの間で基板を授受する
第1のハンドと、前記ユニット配置部側に移動して当該
基板搬送手段との間で基板を授受する第2のハンドとを
備えるので、基板搬送手段のストロークを周囲の処理ユ
ニットへのアクセスを可能にする最小限の大きさに保っ
たままで、当該基板搬送手段と第2のハンドとの間での
基板の授受が可能となり、基板搬送手段を小型にするこ
とができ、ひいては基板処理装置も小型化することがで
きる。
正面図である。
明する図である。
一例を説明する図である。
渡を説明する図である。
側面図である。
る。
る図である。
の受渡を説明する図である。
の受渡を説明する図である。
の受渡を説明する図である。
の受渡を説明する図である。
の受渡を説明する図である。
の受渡を説明する図である。
平面図である。
側面図である。
おける基板の交換を説明する図である。
ある。
形例を説明する図である。
Claims (19)
- 【請求項1】 鉛直方向に移動可能であるとともに鉛直
軸回りに回転可能な基板搬送手段と、 前記基板搬送手段の周囲に配置され、基板に所定の処理
液による処理を行う複数の液処理ユニットと、 前記複数のうちの1つ以上の液処理ユニットの上方に配
置され、基板に熱処理を行う熱処理ユニットとを備える
ことを特徴とする基板処理装置。 - 【請求項2】 前記液処理ユニットのうちの少なくとも
1つは、基板に被膜を形成するための塗布処理ユニット
であることを特徴とする請求項1記載の基板処理装置。 - 【請求項3】 前記液処理ユニットのうちの少なくとも
1つは、基板に現像処理を行う現像処理ユニットである
ことを特徴とする請求項1または請求項2記載の基板処
理装置。 - 【請求項4】 前記液処理ユニットのうちの少なくとも
1つは、洗浄液を供給して基板を洗浄する洗浄処理ユニ
ットであることを特徴とする請求項1、請求項2または
請求項3記載の基板処理装置。 - 【請求項5】 鉛直方向に伸縮移動可能であるとともに
鉛直軸回りに回転可能な基板搬送手段と、 前記基板搬送手段の周囲に、1組以上で多段に積層され
て配置された複数の処理ユニットとを備えたことを特徴
とする基板処理装置。 - 【請求項6】 前記複数の処理ユニットのうちの少なく
とも1つは、基板に被膜を形成するための塗布処理ユニ
ットであることを特徴とする請求項5記載の基板処理装
置。 - 【請求項7】 前記複数の処理ユニットのうちの少なく
とも1つは、基板に現像処理を行う現像処理ユニットで
あることを特徴とする請求項5または請求項6記載の基
板処理装置。 - 【請求項8】 前記複数の処理ユニットのうちの少なく
とも1つは、洗浄液を供給して基板を洗浄する洗浄処理
ユニットであることを特徴とする請求項5、請求項6ま
たは請求項7記載の基板処理装置。 - 【請求項9】 前記複数の基板搬送手段は、鉛直方向に
伸縮するパンタグラフ構造を有することを特徴とする請
求項5、請求項6、請求項7または請求項8記載の基板
処理装置。 - 【請求項10】 多段に積層された前記複数の処理ユニ
ットの上段には、熱処理ユニットが配置されることを特
徴とする請求項5、請求項6、請求項7、請求項8また
は請求項9記載の基板処理装置。 - 【請求項11】 複数の処理ユニットを備えた基板処理
装置に用いられる基板搬送装置において、 基板を保持する搬送アームを鉛直軸回りに回転させる回
転機構と、 前記搬送アームを水平方向に直線的に複数段にわたって
伸縮する伸縮機構とを備えたことを特徴とする基板搬送
装置。 - 【請求項12】 請求項11記載の基板搬送装置を備
え、前記複数の処理ユニットが前記基板搬送装置の周囲
に配置されていることを特徴とする基板処理装置。 - 【請求項13】 前記基板処理装置は、前記基板処理ユ
ニットとして、前記基板に処理液を供給して所定の処理
液による処理を行う液処理ユニットと、当該液処理ユニ
ットの上方に前記基板に熱処理を行う熱処理ユニットと
を前記基板搬送装置の周囲に備えるとともに、前記基板
搬送装置は、鉛直方向に移動可能に構成されたことを特
徴とする請求項12記載の基板処理装置。 - 【請求項14】 略四角形の底面領域を有するユニット
配置部の4隅の位置にそれぞれ所定の処理液による処理
を行う複数の液処理ユニットを配置するとともに、前記
ユニット配置部の中心位置に鉛直軸回りに回転可能な基
板搬送手段を配置し、前記複数の液処理ユニット間の少
なくとも1つ以上の位置に基板に対して所定の処理を行
う基板処理ユニットを配置したことを特徴とする基板処
理装置。 - 【請求項15】 前記基板処理ユニットが、前記基板に
被膜を形成するための塗布処理ユニットであることを特
徴とする請求項14記載の基板処理装置。 - 【請求項16】 前記複数の液処理ユニットが、前記基
板に被膜を形成するための塗布処理ユニットと基板に現
像処理を行う現像処理ユニットとの少なくともいずれか
を含み、前記基板処理ユニットが、洗浄液を供給して基
板を洗浄する洗浄処理ユニットであることを特徴とする
請求項14記載の基板処理装置。 - 【請求項17】 前記複数の液処理ユニットが、基板の
裏面に洗浄液を供給して基板裏面を洗浄する裏面洗浄用
の洗浄処理ユニットを含み、前記基板処理ユニットが、
基板の表面と裏面とを反転させる基板反転ユニットであ
ることを特徴とする請求項14記載の基板処理装置。 - 【請求項18】 前記複数の液処理ユニットの上方に、
前記基板に熱処理を行う熱処理ユニットを配置したこと
を特徴とする請求項14、請求項15、請求項16また
は請求項17記載の基板処理装置。 - 【請求項19】 基板搬送手段を囲んで複数の処理ユニ
ットが配置されたユニット配置部に対し、基板を受け渡
す基板移載装置であって、 基板を収納するカセットとの間で基板を授受する第1の
ハンドと、前記ユニット配置部側に移動して当該基板搬
送手段との間で基板を授受する第2のハンドとを備える
ことを特徴とする基板移載装置。
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