JPH10274667A - 電子部品の自動温度特性試験装置 - Google Patents
電子部品の自動温度特性試験装置Info
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- JPH10274667A JPH10274667A JP9080130A JP8013097A JPH10274667A JP H10274667 A JPH10274667 A JP H10274667A JP 9080130 A JP9080130 A JP 9080130A JP 8013097 A JP8013097 A JP 8013097A JP H10274667 A JPH10274667 A JP H10274667A
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 電子部品の温度特性試験を短時間で正確に行
うことができる自動温度特性試験装置を提供すること。 【解決手段】 複数の温度チャンバ３ａ〜３ｎを設け、
この温度チャンバ３ａ〜３ｎをそれぞれ異なる所定の測
定温度に設定すると共に、その複数の温度チャンバ３ａ
〜３ｎの間で水晶振動子を移送するようにしているた
め、水晶振動子の温度特性試験を連続的に行うことがで
きる。
うことができる自動温度特性試験装置を提供すること。 【解決手段】 複数の温度チャンバ３ａ〜３ｎを設け、
この温度チャンバ３ａ〜３ｎをそれぞれ異なる所定の測
定温度に設定すると共に、その複数の温度チャンバ３ａ
〜３ｎの間で水晶振動子を移送するようにしているた
め、水晶振動子の温度特性試験を連続的に行うことがで
きる。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、温度特性試験槽を
用いた電子部品の自動温度特性試験装置に関するもので
ある。
用いた電子部品の自動温度特性試験装置に関するもので
ある。
【０００２】
【従来の技術】従来から各種電子部品の製造工程におい
ては、一般的に製造された電子部品の電気性能試験や温
度性能試験が行われている。特に、各種電子機器の周波
数制御素子として広く用いられている水晶振動子では、
温度の変化に対してその電気的なインピーダンスの変化
率が比較的大きく、例えば三次曲線を描くように変化す
る。このため、水晶振動子の温度特性試験においては複
数の温度ポイントで発振周波数などの測定を行い、その
測定結果に基づいて適宣分類することが行われている。
ては、一般的に製造された電子部品の電気性能試験や温
度性能試験が行われている。特に、各種電子機器の周波
数制御素子として広く用いられている水晶振動子では、
温度の変化に対してその電気的なインピーダンスの変化
率が比較的大きく、例えば三次曲線を描くように変化す
る。このため、水晶振動子の温度特性試験においては複
数の温度ポイントで発振周波数などの測定を行い、その
測定結果に基づいて適宣分類することが行われている。
【０００３】水晶振動子の温度特性試験を行う自動温度
特性試験装置は、一般に温度特性試験槽として外界の温
度と無関係に槽内の雰囲気を所定の温度に設定すると共
に、その設定温度に保つことができる恒温槽が用いられ
ており、水晶振動子の自動温度特性試験を行う場合は、
このような温度特性試験槽内に複数の水晶振動子をセッ
トした後、槽内の気体雰囲気の温度を連続的に変化させ
て複数の温度ポイントで自動的に発振周波数やインピー
ダンスの測定を行うようにしている。
特性試験装置は、一般に温度特性試験槽として外界の温
度と無関係に槽内の雰囲気を所定の温度に設定すると共
に、その設定温度に保つことができる恒温槽が用いられ
ており、水晶振動子の自動温度特性試験を行う場合は、
このような温度特性試験槽内に複数の水晶振動子をセッ
トした後、槽内の気体雰囲気の温度を連続的に変化させ
て複数の温度ポイントで自動的に発振周波数やインピー
ダンスの測定を行うようにしている。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】ところで、上記したよ
うな従来の自動温度特性試験装置によって水晶振動子の
温度特性試験を行った場合は、先ず水晶振動子がセット
された温度特性試験槽内の気体雰囲気が所定の温度に達
し、その後セットされた水晶振動子が槽内の雰囲気によ
って所定の温度に達することになる。
うな従来の自動温度特性試験装置によって水晶振動子の
温度特性試験を行った場合は、先ず水晶振動子がセット
された温度特性試験槽内の気体雰囲気が所定の温度に達
し、その後セットされた水晶振動子が槽内の雰囲気によ
って所定の温度に達することになる。
【０００５】しかしながら、水晶振動子は気体雰囲気の
温度変化に対するレスポンスが遅く、水晶振動子が所定
の温度に到達するまでの時間が長いため（例えば１５分
〜２０程度）、槽内の気体雰囲気の温度を連続的に変化
させて複数の温度ポイントで各種測定を行う水晶振動子
の温度特性試験は長い時間が必要であった。そのため、
水晶振動子の製造ラインに温度特性試験の工程を組み入
れるといったことができず、生産性が良くないという問
題点があった。
温度変化に対するレスポンスが遅く、水晶振動子が所定
の温度に到達するまでの時間が長いため（例えば１５分
〜２０程度）、槽内の気体雰囲気の温度を連続的に変化
させて複数の温度ポイントで各種測定を行う水晶振動子
の温度特性試験は長い時間が必要であった。そのため、
水晶振動子の製造ラインに温度特性試験の工程を組み入
れるといったことができず、生産性が良くないという問
題点があった。
【０００６】また、従来の自動温度特性試験装置に用い
られている温度特性試験槽は、雰囲気の流れなどの影響
によって槽内の機体雰囲気の温度にバラツキが大きく、
正確な温度特性試験を行うことができないという問題点
もあった。
られている温度特性試験槽は、雰囲気の流れなどの影響
によって槽内の機体雰囲気の温度にバラツキが大きく、
正確な温度特性試験を行うことができないという問題点
もあった。
【０００７】本発明はこのような問題点を解決するため
になされたもので、電子部品の温度特性試験を比較的短
時間で正確に行うことができる自動温度特性試験装置を
提供することを目的としている。
になされたもので、電子部品の温度特性試験を比較的短
時間で正確に行うことができる自動温度特性試験装置を
提供することを目的としている。
【０００８】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するた
め、所定の液面となるように投入されている液体を所望
の温度に設定することができる恒温液体槽と、複数個の
被測定部品を恒温液体槽の液体に接触（浸漬）させた状
態で回転保持することができる保持部と、この保持部に
よって所定の位置まで移送された被測定部品の特性を測
定する測定部を備えている複数の温度特性試験槽と、複
数の温度特性試験槽の間で被測定部品を移送する移送手
段を備え、複数の温度特性試験槽をそれぞれ異なる所定
の測定温度に設定することによって、連続的に被測定部
品の温度特性を測定するようにした。
め、所定の液面となるように投入されている液体を所望
の温度に設定することができる恒温液体槽と、複数個の
被測定部品を恒温液体槽の液体に接触（浸漬）させた状
態で回転保持することができる保持部と、この保持部に
よって所定の位置まで移送された被測定部品の特性を測
定する測定部を備えている複数の温度特性試験槽と、複
数の温度特性試験槽の間で被測定部品を移送する移送手
段を備え、複数の温度特性試験槽をそれぞれ異なる所定
の測定温度に設定することによって、連続的に被測定部
品の温度特性を測定するようにした。
【０００９】また、上記恒温液体槽の空間部分を乾燥し
た気体で満たすようにし、この気体は恒温液体槽に浸漬
されているパイプを介して供給するようにした。また、
上記電子部品は水晶振動子とした。
た気体で満たすようにし、この気体は恒温液体槽に浸漬
されているパイプを介して供給するようにした。また、
上記電子部品は水晶振動子とした。
【００１０】本発明によれば、温度特性試験槽とされる
複数の恒温液体槽をそれぞれ異なる所定の測定温度に設
定すると共に、移送手段によってその複数の恒温液体槽
の間で被測定部品を移送するようにしているため、被測
定部品の温度特性試験を連続的に行うことができる。
複数の恒温液体槽をそれぞれ異なる所定の測定温度に設
定すると共に、移送手段によってその複数の恒温液体槽
の間で被測定部品を移送するようにしているため、被測
定部品の温度特性試験を連続的に行うことができる。
【００１１】
【発明の実施の形態】図１は、本発明の電子部品の温度
特性試験装置の概要をブロック図として示したものであ
る。なお、本実施の形態では被測定部品を水晶振動子と
すると共に、その水晶振動子の形状は水晶片が金属容器
によって密閉され、電極がリード足によって引き出され
ているものとする。
特性試験装置の概要をブロック図として示したものであ
る。なお、本実施の形態では被測定部品を水晶振動子と
すると共に、その水晶振動子の形状は水晶片が金属容器
によって密閉され、電極がリード足によって引き出され
ているものとする。
【００１２】この図において、供給部１は被測定部品と
される多数の水晶振動子の方向を整列して搬送ベルトな
どにより連続的に供給するようにされる。リード矯正部
２は供給部１から搬送ベルトなどを介して供給される水
晶振動子のリード足の曲がりや引き出し方向等の矯正を
行うようにされる。
される多数の水晶振動子の方向を整列して搬送ベルトな
どにより連続的に供給するようにされる。リード矯正部
２は供給部１から搬送ベルトなどを介して供給される水
晶振動子のリード足の曲がりや引き出し方向等の矯正を
行うようにされる。
【００１３】温度特性試験部５にはそれぞれ所望の温度
に設定することができる複数の温度チャンバ（温度特性
試験槽）３ａ〜３ｎが設けられており、リード矯正部２
から搬送される水晶振動子がこの温度特性試験部５の温
度チャンバ３ａ〜３ｎに順次搬入されることにより、所
定の温度における水晶振動子の温度特性試験が行われ
る。
に設定することができる複数の温度チャンバ（温度特性
試験槽）３ａ〜３ｎが設けられており、リード矯正部２
から搬送される水晶振動子がこの温度特性試験部５の温
度チャンバ３ａ〜３ｎに順次搬入されることにより、所
定の温度における水晶振動子の温度特性試験が行われ
る。
【００１４】この温度特性試験部５に設けられている温
度チャンバの構造については後述するが、それぞれの温
度チャンバ３ａ〜３ｎは、その内部に所定量の液体が注
入されており、この液体の温度を例えば−３０℃〜８５
℃の範囲内で自由に設定する温度設定機能が設けられて
いる。
度チャンバの構造については後述するが、それぞれの温
度チャンバ３ａ〜３ｎは、その内部に所定量の液体が注
入されており、この液体の温度を例えば−３０℃〜８５
℃の範囲内で自由に設定する温度設定機能が設けられて
いる。
【００１５】例えば試験温度範囲が−３０℃〜７０℃と
される水晶振動子の温度特性試験を行う場合は、温度特
性試験槽５に５組の温度チャンバを配置し、各温度チャ
ンバの液体温度を例えば７０℃、５０℃、２５℃（常
温）、−１０℃、−３０℃にして水晶振動子の温度特性
試験をする。
される水晶振動子の温度特性試験を行う場合は、温度特
性試験槽５に５組の温度チャンバを配置し、各温度チャ
ンバの液体温度を例えば７０℃、５０℃、２５℃（常
温）、−１０℃、−３０℃にして水晶振動子の温度特性
試験をする。
【００１６】この場合、リード矯正部２でリード足が矯
正された水晶振動子は、先ず第１の温度チャンバに搬入
され、この温度チャンバ内の液体（７０℃）にその表面
が浸漬あるいは接触されるように保持される。これによ
り水晶振動子は速やかに所定温度（７０℃）になると共
に、槽内に設けられている測定部でこの温度における発
振周波数やインピーダンスなどの各種測定が行われるこ
とになる。
正された水晶振動子は、先ず第１の温度チャンバに搬入
され、この温度チャンバ内の液体（７０℃）にその表面
が浸漬あるいは接触されるように保持される。これによ
り水晶振動子は速やかに所定温度（７０℃）になると共
に、槽内に設けられている測定部でこの温度における発
振周波数やインピーダンスなどの各種測定が行われるこ
とになる。
【００１７】その後、水晶振動子は第１の温度チャンバ
から取り出され、第２の温度チャンバ内に順次移送さ
れ、この第２の温度チャンバ内の液体（５０℃）にその
表面が浸漬あるいは接触されるように保持される。これ
により水晶振動子は速やかに所定温度（５０℃）になる
と共に、槽内の測定部でその温度における発振周波数や
内部インピーダンスなどの各種測定が行われることにな
る。
から取り出され、第２の温度チャンバ内に順次移送さ
れ、この第２の温度チャンバ内の液体（５０℃）にその
表面が浸漬あるいは接触されるように保持される。これ
により水晶振動子は速やかに所定温度（５０℃）になる
と共に、槽内の測定部でその温度における発振周波数や
内部インピーダンスなどの各種測定が行われることにな
る。
【００１８】このようにリード矯正部２から供給される
水晶振動子は、後続する各温度チャンバに順次移送さ
れ、最後の温度チャンバに搬入されて、その温度チャン
バ内の液体（−３０℃）の温度とされて発振周波数や内
部インピーダンス等の各種測定が行われると、一連の温
度特性の試験が終了することになる。なお、温度チャン
バ３ａ〜３ｎに設けられている液切部４ａ〜４ｎは、水
晶振動子に付着した液体を各槽内に戻すものであって、
各温度チャンバから次の温度チャンバに移送される側に
設けられている。
水晶振動子は、後続する各温度チャンバに順次移送さ
れ、最後の温度チャンバに搬入されて、その温度チャン
バ内の液体（−３０℃）の温度とされて発振周波数や内
部インピーダンス等の各種測定が行われると、一連の温
度特性の試験が終了することになる。なお、温度チャン
バ３ａ〜３ｎに設けられている液切部４ａ〜４ｎは、水
晶振動子に付着した液体を各槽内に戻すものであって、
各温度チャンバから次の温度チャンバに移送される側に
設けられている。
【００１９】このようにして、温度特性試験部５で測定
された各温度に対する各種測定データは、コンピュータ
装置８に入力され、水晶振動子ごとにそれぞれ管理され
ることになる。
された各温度に対する各種測定データは、コンピュータ
装置８に入力され、水晶振動子ごとにそれぞれ管理され
ることになる。
【００２０】印刷部６ではコンピュータ装置８に記憶さ
れたデータに基づいて水晶振動子の金属容器の表面に型
番や製造番号、製造年月日、メーカ名などを印刷する。
また、温度特性試験部５で測定した発振周波数特性や水
晶振動子のインピーダンス特性は文字や数字、バーコー
ドで表示して印刷したり、あるいは温度特性試験部５で
測定した発振周波数を所定の周波数範囲に分類し、その
分類を色で表示して印刷している。
れたデータに基づいて水晶振動子の金属容器の表面に型
番や製造番号、製造年月日、メーカ名などを印刷する。
また、温度特性試験部５で測定した発振周波数特性や水
晶振動子のインピーダンス特性は文字や数字、バーコー
ドで表示して印刷したり、あるいは温度特性試験部５で
測定した発振周波数を所定の周波数範囲に分類し、その
分類を色で表示して印刷している。
【００２１】分類収納部７は印刷部６から搬送されてく
る水晶振動子を温度特性試験部５で測定した発振周波数
特性に基づいて分類して収納したり、温度特性試験部５
で不合格とされた水晶振動子を分類して収納できるよう
にされている。
る水晶振動子を温度特性試験部５で測定した発振周波数
特性に基づいて分類して収納したり、温度特性試験部５
で不合格とされた水晶振動子を分類して収納できるよう
にされている。
【００２２】このように本実施の形態である水晶振動子
の自動温度特性試験装置においては、温度特性試験部５
にそれぞれ異なる温度に設定された複数の温度チャンバ
３ａ〜３ｎを設け、この温度チャンバ３ａ〜３ｎに被測
定部品とされる水晶振動子を順次搬送することにより、
温度特性試験を極めて短時間でしかも連続的に行うこと
が可能になるため、印刷や分類・収納といった一連の工
程に温度特性試験を組み入れることができるようにな
る。
の自動温度特性試験装置においては、温度特性試験部５
にそれぞれ異なる温度に設定された複数の温度チャンバ
３ａ〜３ｎを設け、この温度チャンバ３ａ〜３ｎに被測
定部品とされる水晶振動子を順次搬送することにより、
温度特性試験を極めて短時間でしかも連続的に行うこと
が可能になるため、印刷や分類・収納といった一連の工
程に温度特性試験を組み入れることができるようにな
る。
【００２３】次に、上記したような自動温度特性試験装
置に用いられている温度チャンバ３の内部構造を図２〜
図４を用いて具体的に説明する。図２（ａ）は温度チャ
ンバ３の内部構造を示した断面図、図２（ｂ）は温度チ
ャンバ３の内部構造を示した上面図である。この図
（ａ）に示すように温度チャンバ３は、開口部１１ａ．
１１ｂを有する容器１１によって形成されている。開口
部１１ａは水晶振動子を容器１１内に搬入するために設
けられ、開口部１１ｂは容器１１内の水晶振動子を取り
出すために設けられている。
置に用いられている温度チャンバ３の内部構造を図２〜
図４を用いて具体的に説明する。図２（ａ）は温度チャ
ンバ３の内部構造を示した断面図、図２（ｂ）は温度チ
ャンバ３の内部構造を示した上面図である。この図
（ａ）に示すように温度チャンバ３は、開口部１１ａ．
１１ｂを有する容器１１によって形成されている。開口
部１１ａは水晶振動子を容器１１内に搬入するために設
けられ、開口部１１ｂは容器１１内の水晶振動子を取り
出すために設けられている。
【００２４】この開口部１１ａ、１１ｂの上方にはそれ
ぞれ蓋１２、１３が設けられており、通常、開口部１１
ａ、１１ｂは蓋１２，１３によって閉じられた状態とさ
れ、容器１１内はほぼ密閉状態に保たれている。また、
この容器１１には液体（フロリナート）１４が所定の液
面となるように充填されており、容器１１の例えば下面
に配置されている図示していない加温及び減温可能な温
度設定装置によって液体１４の温度を例えば−３５℃〜
８５℃の範囲内で自由に設定することができるようにさ
れる。
ぞれ蓋１２、１３が設けられており、通常、開口部１１
ａ、１１ｂは蓋１２，１３によって閉じられた状態とさ
れ、容器１１内はほぼ密閉状態に保たれている。また、
この容器１１には液体（フロリナート）１４が所定の液
面となるように充填されており、容器１１の例えば下面
に配置されている図示していない加温及び減温可能な温
度設定装置によって液体１４の温度を例えば−３５℃〜
８５℃の範囲内で自由に設定することができるようにさ
れる。
【００２５】容器１１の内部に入っている液体１４は例
えばフロリナート（商品名）とされ、この液体１４は、
容器１１の温度設定装置によって所定の温度に設定され
ている。このように容器１１の温度設定装置によって液
体１４の温度を設定するようにした場合は、液体１４の
温度を高精度（±０．０１℃）に設定することが可能と
なる。なお、液体１４はフロリナートに限定されるもの
ではなく、少なくとも容器１１の温度設定装置の設定可
能な範囲内で気化したりあるいは固化しない液体であれ
ば他の液体であっても良い。
えばフロリナート（商品名）とされ、この液体１４は、
容器１１の温度設定装置によって所定の温度に設定され
ている。このように容器１１の温度設定装置によって液
体１４の温度を設定するようにした場合は、液体１４の
温度を高精度（±０．０１℃）に設定することが可能と
なる。なお、液体１４はフロリナートに限定されるもの
ではなく、少なくとも容器１１の温度設定装置の設定可
能な範囲内で気化したりあるいは固化しない液体であれ
ば他の液体であっても良い。
【００２６】容器１１内の液体１４の液面と接する位置
には回転軸１５によって支持された回転板１６が設けら
れている。この回転板１６は少なくとも一方向（時計周
り方向、または反時計周り方向）に回転可能とされてい
る。また、同図（ｂ）に示すようにその円周上には切欠
部２１が多数形成されている。
には回転軸１５によって支持された回転板１６が設けら
れている。この回転板１６は少なくとも一方向（時計周
り方向、または反時計周り方向）に回転可能とされてい
る。また、同図（ｂ）に示すようにその円周上には切欠
部２１が多数形成されている。
【００２７】切欠部２１は例えば搬送アームによって開
口部１１ａから容器１１の内部に搬入された水晶振動子
を保持する形状の大きさとされている。これにより温度
チャンバ３の内部に搬入された水晶振動子は、この切欠
部２１によって液体１４内にその表面の大部分が浸漬あ
るいは表面接触した状態で保持されることになる。
口部１１ａから容器１１の内部に搬入された水晶振動子
を保持する形状の大きさとされている。これにより温度
チャンバ３の内部に搬入された水晶振動子は、この切欠
部２１によって液体１４内にその表面の大部分が浸漬あ
るいは表面接触した状態で保持されることになる。
【００２８】測定部１７は、開口部１１ａから搬入さ
れ、回転板１６によって保持された水晶振動子が回転板
１６の回転によってほぼ１８０度回転し、所定の位置ま
で移動した時に水晶振動子のリード足に接触するコネク
タを備えており、このコネクタを介して供給される電圧
又は電流を測定することによって、各種測定を行うよう
にされる。
れ、回転板１６によって保持された水晶振動子が回転板
１６の回転によってほぼ１８０度回転し、所定の位置ま
で移動した時に水晶振動子のリード足に接触するコネク
タを備えており、このコネクタを介して供給される電圧
又は電流を測定することによって、各種測定を行うよう
にされる。
【００２９】容器１１内の液体１４が入っていない空間
１８には、外部から管（パイプ）１９を介して不活性ガ
ス、例えば窒素（Ｎ2 ）などの乾燥した気体が送り込ま
れている。これにより容器１１内の空間１８は乾燥した
気体によって満たされた状態とされている。この乾燥し
た気体は管１９が容器１１内の液体１４の中を通ってい
るためほぼ液体１４と同じ温度とされている。
１８には、外部から管（パイプ）１９を介して不活性ガ
ス、例えば窒素（Ｎ2 ）などの乾燥した気体が送り込ま
れている。これにより容器１１内の空間１８は乾燥した
気体によって満たされた状態とされている。この乾燥し
た気体は管１９が容器１１内の液体１４の中を通ってい
るためほぼ液体１４と同じ温度とされている。
【００３０】このように容器１１内の空間１８に乾燥し
た気体を送り込むようにすると、容器１１内の空間１８
に含まれる水分が除去されるため、例えば容器１１内の
液体１４の温度を低温（例えば−３０℃）に設定した時
に、空間１８に含まれる水分が低温となった回転軸１５
や回転板１６に接することによって生じる霜や、結露を
防止することができる。従って、特に低温の温度チャン
バ３で生じ易い、回転軸１５や回転板１６に発生する霜
をなくして電気的不具合や機械的不具合を防止すること
ができる。なお、本例では乾燥した気体として窒素（Ｎ
2 ）を用いているが、不活性ガスであればよく、特に窒
素に限定されるものではない。
た気体を送り込むようにすると、容器１１内の空間１８
に含まれる水分が除去されるため、例えば容器１１内の
液体１４の温度を低温（例えば−３０℃）に設定した時
に、空間１８に含まれる水分が低温となった回転軸１５
や回転板１６に接することによって生じる霜や、結露を
防止することができる。従って、特に低温の温度チャン
バ３で生じ易い、回転軸１５や回転板１６に発生する霜
をなくして電気的不具合や機械的不具合を防止すること
ができる。なお、本例では乾燥した気体として窒素（Ｎ
2 ）を用いているが、不活性ガスであればよく、特に窒
素に限定されるものではない。
【００３１】次に、上記したような温度チャンバ３の動
作を図３及び図４を参照しながら説明する。なお、図３
及び図４では容器１１の空間１８に満たされている窒素
ガス（Ｎ2 ）及び窒素ガス送り込むための管１９は省略
する。先ず、図１に示した供給部１から供給され、リー
ド矯正部２でリード足が矯正された水晶振動子３０は、
例えば図３（ａ）に示すような搬送アーム３１によって
温度チャンバ３の容器１１の開口部１１ａから内部に搬
入される。
作を図３及び図４を参照しながら説明する。なお、図３
及び図４では容器１１の空間１８に満たされている窒素
ガス（Ｎ2 ）及び窒素ガス送り込むための管１９は省略
する。先ず、図１に示した供給部１から供給され、リー
ド矯正部２でリード足が矯正された水晶振動子３０は、
例えば図３（ａ）に示すような搬送アーム３１によって
温度チャンバ３の容器１１の開口部１１ａから内部に搬
入される。
【００３２】搬送アーム３１によって搬入された水晶振
動子は、開口部１１ａのはぼ真下に位置する回転板１６
の切欠部２１ａ（図３（ｂ）参照）によって保持され
る。これにより水晶振動子３０は回転板１６に保持され
た状態で液体１４にその表面が浸漬あるいは接触される
ことになる。
動子は、開口部１１ａのはぼ真下に位置する回転板１６
の切欠部２１ａ（図３（ｂ）参照）によって保持され
る。これにより水晶振動子３０は回転板１６に保持され
た状態で液体１４にその表面が浸漬あるいは接触される
ことになる。
【００３３】回転板１６は次の水晶振動子が容器１１内
に搬入されるまでの間に次の切欠部２１ｂが開口部１１
ａのはぼ真下に位置するように回転移動を行い、搬送ア
ーム３１によって新たに搬入される水晶振動子３０を切
欠部２１ｂに保持するようにされる。なお、容器１１の
開口部１１ａの蓋１２は搬送アーム３１の搬送動作にし
たがって開閉動作を行うように制御されている。
に搬入されるまでの間に次の切欠部２１ｂが開口部１１
ａのはぼ真下に位置するように回転移動を行い、搬送ア
ーム３１によって新たに搬入される水晶振動子３０を切
欠部２１ｂに保持するようにされる。なお、容器１１の
開口部１１ａの蓋１２は搬送アーム３１の搬送動作にし
たがって開閉動作を行うように制御されている。
【００３４】このような動作が繰り返し行われることに
よって、回転板１６の切欠部２１に順次水晶振動子３０
が保持されると共に、保持された水晶振動子３０が回転
板１６の円周上を移動することになる。そして、図４
（ａ）に示すように最初に搬入されて切欠部２１に保持
された水晶振動子３０が回転板１６の円周上を半周移動
すると、測定部１７において水晶振動子３０の発振周波
数やインピーダンス（Ｌ、Ｃ）等の測定が行われること
になる。
よって、回転板１６の切欠部２１に順次水晶振動子３０
が保持されると共に、保持された水晶振動子３０が回転
板１６の円周上を移動することになる。そして、図４
（ａ）に示すように最初に搬入されて切欠部２１に保持
された水晶振動子３０が回転板１６の円周上を半周移動
すると、測定部１７において水晶振動子３０の発振周波
数やインピーダンス（Ｌ、Ｃ）等の測定が行われること
になる。
【００３５】このように搬入された水晶振動子３０を所
定の温度に設定された液体１４に浸漬あるいは接触させ
た場合は、水晶振動子３０の温度が従来の雰囲気中の温
度と一致するまでの時間に比べて極めて短時間（数十秒
〜一分程度）で液体１４の温度に一致するため、温度チ
ャンバ３における水晶振動子３０の温度特性試験を極め
て短時間で行うことができる。
定の温度に設定された液体１４に浸漬あるいは接触させ
た場合は、水晶振動子３０の温度が従来の雰囲気中の温
度と一致するまでの時間に比べて極めて短時間（数十秒
〜一分程度）で液体１４の温度に一致するため、温度チ
ャンバ３における水晶振動子３０の温度特性試験を極め
て短時間で行うことができる。
【００３６】そして測定終了後は、図４（ｂ）に示すよ
うに搬送アーム３２によって水晶振動子３０が容器１１
の開口部１１ｂから取り出され、次の温度チャンバ３に
搬入され、同様の温度特性試験が行われることになる。
なお、開口部１１ｂの蓋１３も搬送アーム３２の動作に
したがって開閉動作を行うように制御されている。
うに搬送アーム３２によって水晶振動子３０が容器１１
の開口部１１ｂから取り出され、次の温度チャンバ３に
搬入され、同様の温度特性試験が行われることになる。
なお、開口部１１ｂの蓋１３も搬送アーム３２の動作に
したがって開閉動作を行うように制御されている。
【００３７】なお、容器１１内の液体１４は水晶振動子
に付着することによって微少ながら減少していくため、
液体１４を補充する補充機能が設けられている。
に付着することによって微少ながら減少していくため、
液体１４を補充する補充機能が設けられている。
【００３８】このように温度チャンバ３においては、水
晶振動子３０を液体１４によって所定の温度に設定する
ようにしているため、従来の気体雰囲気の温度によって
水晶振動子の温度を設定する場合に比べて極めて短時間
で、しかも高精度の温度特性試験を行うことができるよ
うになる。
晶振動子３０を液体１４によって所定の温度に設定する
ようにしているため、従来の気体雰囲気の温度によって
水晶振動子の温度を設定する場合に比べて極めて短時間
で、しかも高精度の温度特性試験を行うことができるよ
うになる。
【００３９】また、水晶振動子３０は回転板１６によっ
て保持されている間、水晶振動子を液体１４に浸漬ある
いは接触した状態で保持されることになるため、例えば
回転板１６に５０個の切欠部２１を形成すれば、数秒〜
数十秒間隔で温度チャンバ３に連続的に水晶振動子３０
を搬送することができる。
て保持されている間、水晶振動子を液体１４に浸漬ある
いは接触した状態で保持されることになるため、例えば
回転板１６に５０個の切欠部２１を形成すれば、数秒〜
数十秒間隔で温度チャンバ３に連続的に水晶振動子３０
を搬送することができる。
【００４０】さらに、温度チャンバ３内の空間１８に乾
燥した気体を送り込むようにしているため、容器１１内
の回転軸１５や回転板１６に霜や結露が発生することな
く、電気的不具合や機械的不具合などのを防止すること
もできる。
燥した気体を送り込むようにしているため、容器１１内
の回転軸１５や回転板１６に霜や結露が発生することな
く、電気的不具合や機械的不具合などのを防止すること
もできる。
【００４１】なお、本実施の形態においては、リード足
を有する水晶振動子の温度特性試験を行う場合について
のみ説明したが、これに限定されることなく例えば表面
実装型の水晶振動子の温度特性試験を行うことも可能で
ある。例えば表面実装型の水晶振動子の温度特性試験を
行う場合は回転板１６の切欠部２１の形状を表面実装型
の水晶振動子を保持することができるような形状にすれ
ば良い。また、本実施の形態においては電子部品として
水晶振動子を用いた場合について説明したが、これに限
定されるものでなく他の電子部品においても同様の温度
特性試験を行うことももちろん可能である。
を有する水晶振動子の温度特性試験を行う場合について
のみ説明したが、これに限定されることなく例えば表面
実装型の水晶振動子の温度特性試験を行うことも可能で
ある。例えば表面実装型の水晶振動子の温度特性試験を
行う場合は回転板１６の切欠部２１の形状を表面実装型
の水晶振動子を保持することができるような形状にすれ
ば良い。また、本実施の形態においては電子部品として
水晶振動子を用いた場合について説明したが、これに限
定されるものでなく他の電子部品においても同様の温度
特性試験を行うことももちろん可能である。
【００４２】
【発明の効果】以上、説明したように本発明の電子部品
の自動温度特性試験装置は、温度特性試験槽とされる複
数の恒温液体槽をそれぞれ異なる所定の測定温度に設定
すると共に、移送手段によってその複数の恒温液体槽の
間で被測定部品を移送するようにしているため、被測定
部品の温度特性試験を連続的に行うことができる。これ
により電子部品の温度特性試験を一連の製造工程をライ
ンに組み入れることができるようになる。
の自動温度特性試験装置は、温度特性試験槽とされる複
数の恒温液体槽をそれぞれ異なる所定の測定温度に設定
すると共に、移送手段によってその複数の恒温液体槽の
間で被測定部品を移送するようにしているため、被測定
部品の温度特性試験を連続的に行うことができる。これ
により電子部品の温度特性試験を一連の製造工程をライ
ンに組み入れることができるようになる。
【００４３】また、恒温液体槽の空間部分に乾燥した気
体を満たすようにすれば、電気的不具合や機械的不具合
が生じることがないという効果がある。
体を満たすようにすれば、電気的不具合や機械的不具合
が生じることがないという効果がある。
【図１】本発明の電子部品の自動温度特性試験装置の概
要を示したブロック図である。
要を示したブロック図である。
【図２】本発明の温度チャンバとされる温度チャンバの
内部の構造を示した側面図及び上面図である。
内部の構造を示した側面図及び上面図である。
【図３】本発明の温度チャンバの動作を説明した図であ
る。
る。
【図４】本発明の温度チャンバの動作を説明した図であ
る。
る。
１ 供給部 ２ リード矯正部 ３ａ〜３ｎ 温度チャンバ ４ａ〜４ｎ 液切部 ５ 温度特性試験部 ６ 印刷部 ７ 分類・収納部 ８ コンピュータ装置 １１ 容器 １１ａ，１１ｂ 開口部 １２，１３ 蓋 １４ 液体 １５ 回転軸 １６ 回転板 １７ 測定部 １８ 空間 １９ 管 ２１ 切欠部 ３０ 水晶振動子 ３１，３２ 搬送アーム
Claims (4)
- 【請求項１】 所定の液面となるように投入されている
液体を所望の温度に設定することができる恒温液体槽
と、複数個の被測定部品を前記恒温液体槽の液体に接触
させた状態で回転保持することができる保持部と、該保
持部によって所定の位置まで移送された前記被測定部品
の特性を測定する測定部を備えている複数の温度特性試
験槽と、 該複数の温度特性試験槽の間で前記被測定部品を移送す
る移送手段を備え、 前記複数の温度特性試験槽をそれぞれ異なる所定の測定
温度に設定することによって、連続的に前記被測定部品
の温度特性を測定するようにしたことを特徴とする電子
部品の自動温度特性試験装置。 - 【請求項２】 上記恒温液体槽の空間部分を乾燥した気
体で満たすようにしたことを特徴とする請求項１に記載
の電子部品の自動温度特性試験装置。 - 【請求項３】 上記気体は上記恒温液体槽に浸漬されて
いるパイプを介して供給されることを特徴とする請求項
２に記載の電子部品の自動温度特性試験装置。 - 【請求項４】 上記電子部品は水晶振動子とされている
ことを特徴とする請求項１に記載の電子部品の自動温度
特性試験装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9080130A JPH10274667A (ja) | 1997-03-31 | 1997-03-31 | 電子部品の自動温度特性試験装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9080130A JPH10274667A (ja) | 1997-03-31 | 1997-03-31 | 電子部品の自動温度特性試験装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH10274667A true JPH10274667A (ja) | 1998-10-13 |
Family
ID=13709655
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP9080130A Pending JPH10274667A (ja) | 1997-03-31 | 1997-03-31 | 電子部品の自動温度特性試験装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH10274667A (ja) |
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2010025561A (ja) * | 2008-07-15 | 2010-02-04 | Akim Kk | 音叉型振動部品の特性検査装置、特性検査方法 |
| JP2012032157A (ja) * | 2010-07-28 | 2012-02-16 | Risoh Kesoku Kk Ltd | 熱衝撃試験装置 |
| WO2017056607A1 (ja) * | 2015-09-29 | 2017-04-06 | 株式会社村田製作所 | 電子部品の検査装置及び検査方法 |
| CN115902498A (zh) * | 2023-01-03 | 2023-04-04 | 天津伍嘉联创科技发展股份有限公司 | 一种石英晶体温度特性测试机 |
| JP2024085354A (ja) * | 2022-12-14 | 2024-06-26 | 株式会社Pfa | 温度補償型発振器の製造装置 |
Citations (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6191147U (ja) * | 1984-11-20 | 1986-06-13 | ||
| JPS648640A (en) * | 1987-07-01 | 1989-01-12 | Hitachi Ltd | Device for inspecting semiconductor |
| JPH01320483A (ja) * | 1988-06-22 | 1989-12-26 | Mitsubishi Electric Corp | Ｉｃハンドラ |
| JPH0511017A (ja) * | 1991-07-01 | 1993-01-19 | Fujitsu Miyagi Electron:Kk | 温度特性試験装置 |
| JPH05288800A (ja) * | 1992-04-13 | 1993-11-02 | Sumitomo Electric Ind Ltd | 温度特性試験装置 |
| JPH0727809A (ja) * | 1993-07-14 | 1995-01-31 | Advantest Corp | 表面実装型クリスタルデバイス自動試験システムにおける測定系の校正方法。 |
| JPH07167905A (ja) * | 1993-08-04 | 1995-07-04 | Franz L Sauerland | 電子部品の温度特性試験装置 |
-
1997
- 1997-03-31 JP JP9080130A patent/JPH10274667A/ja active Pending
Patent Citations (7)
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| WO2017056607A1 (ja) * | 2015-09-29 | 2017-04-06 | 株式会社村田製作所 | 電子部品の検査装置及び検査方法 |
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| JP2024085354A (ja) * | 2022-12-14 | 2024-06-26 | 株式会社Pfa | 温度補償型発振器の製造装置 |
| WO2024150725A1 (ja) * | 2022-12-14 | 2024-07-18 | 株式会社Pfa | 温度補償型発振器の製造装置 |
| CN115902498A (zh) * | 2023-01-03 | 2023-04-04 | 天津伍嘉联创科技发展股份有限公司 | 一种石英晶体温度特性测试机 |
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| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20040316 |
|
| A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20060725 |
|
| A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20060808 |
|
| A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20061205 |