JPH102766A - 表示装置の監視装置 - Google Patents
表示装置の監視装置Info
- Publication number
- JPH102766A JPH102766A JP8152032A JP15203296A JPH102766A JP H102766 A JPH102766 A JP H102766A JP 8152032 A JP8152032 A JP 8152032A JP 15203296 A JP15203296 A JP 15203296A JP H102766 A JPH102766 A JP H102766A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- display
- test
- pattern
- unit
- memory
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- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Withdrawn
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- Testing Or Calibration Of Command Recording Devices (AREA)
- Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)
- Liquid Crystal (AREA)
- Control Of Indicators Other Than Cathode Ray Tubes (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】 表示器の不良は全ドットを表示させて、点検
員の目視により確認していたので、作業負荷が大きく、
不良検出精度が一定していなかった。 【解決手段】 ドットマトリクス表示器５のテスト表示
パターンの表示データをメモリ２に出力するテストパタ
ーン出力部10と、テスト表示パターンを表示するときの
当該ドットマトリクス表示器５の消費電流を計測する電
流計測部７とを設け、電流計測部が計測したテスト表示
パターンを表示したときの消費電流が所定値より小さい
か否かにより表示装置の不良を判定部11が判定する。
員の目視により確認していたので、作業負荷が大きく、
不良検出精度が一定していなかった。 【解決手段】 ドットマトリクス表示器５のテスト表示
パターンの表示データをメモリ２に出力するテストパタ
ーン出力部10と、テスト表示パターンを表示するときの
当該ドットマトリクス表示器５の消費電流を計測する電
流計測部７とを設け、電流計測部が計測したテスト表示
パターンを表示したときの消費電流が所定値より小さい
か否かにより表示装置の不良を判定部11が判定する。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は表示装置、特にドッ
トマトリクスタイプ表示装置の監視装置に関する。
トマトリクスタイプ表示装置の監視装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】従来の表示器の不良の有無を判定する技
術を図４に示す。ドットマトリクス表示器５を有した表
示器６において、前記ドットマトリクス表示器５の点検
用スイッチ９が設けられている。通常表示器６は不使用
状態が一定時間経過すると、消費電力対策等により、消
灯するように設計されている。図４（ａ）は消灯してい
る状態である。
術を図４に示す。ドットマトリクス表示器５を有した表
示器６において、前記ドットマトリクス表示器５の点検
用スイッチ９が設けられている。通常表示器６は不使用
状態が一定時間経過すると、消費電力対策等により、消
灯するように設計されている。図４（ａ）は消灯してい
る状態である。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】表示器６の不良として
は、（図１の参考）ホストＣＰＵ８からインターフェイ
スＣＰＵ１へデータが正常に転送できなかった場合や、
Ｙドライバ３またはＸドライバ４の不動作等が上げられ
る。これらの不良により、期待する表示が得られないこ
とや、不点灯箇所が増えることにより表示文字が判読で
きなくなる問題があった。従来は、上記の問題を自動的
に監視する手段がなかったため、点検時に表示点検スイ
ッチ９を押すことによりドットマトリクス表示器５の全
ドットを点灯（図４（ｂ）の状態）させて表示不良の有
無を点検者の目で確認作業を行っていた。よって、作業
負荷も大きく、不良の検出精度も一定していなかった。
本発明は、表示器６の不良の有無を自動監視により実現
することを目的としている。
は、（図１の参考）ホストＣＰＵ８からインターフェイ
スＣＰＵ１へデータが正常に転送できなかった場合や、
Ｙドライバ３またはＸドライバ４の不動作等が上げられ
る。これらの不良により、期待する表示が得られないこ
とや、不点灯箇所が増えることにより表示文字が判読で
きなくなる問題があった。従来は、上記の問題を自動的
に監視する手段がなかったため、点検時に表示点検スイ
ッチ９を押すことによりドットマトリクス表示器５の全
ドットを点灯（図４（ｂ）の状態）させて表示不良の有
無を点検者の目で確認作業を行っていた。よって、作業
負荷も大きく、不良の検出精度も一定していなかった。
本発明は、表示器６の不良の有無を自動監視により実現
することを目的としている。
【０００４】
【課題を解決するための手段】本発明の表示装置の監視
装置は、演算部より出力される表示データを格納するメ
モリ、このメモリに格納された表示データに従い発光さ
せるドットに該当するラインに出力を与えるＸ軸ドライ
バおよびＹ軸ドライバ、そしてＸ軸ドライバおよびＹ軸
ドライバからの出力の交点のドットが点灯されるドット
マトリクス表示器を備える表示装置の監視装置におい
て、ドットマトリクス表示器のテスト表示パターンの表
示データをメモリに出力するテストパターン出力部10
と、テスト表示パターンが格納されたメモリの表示デー
タに従いドットマトリクス表示器をテスト表示パターン
を表示するときの当該ドットマトリクス表示器の消費電
流を計測する電流計測部７と、電流計測部が計測したテ
スト表示パターンを表示したときの消費電流が所定値よ
り小さいか否かにより表示装置の不良を判定する判定部
11を具備する。
装置は、演算部より出力される表示データを格納するメ
モリ、このメモリに格納された表示データに従い発光さ
せるドットに該当するラインに出力を与えるＸ軸ドライ
バおよびＹ軸ドライバ、そしてＸ軸ドライバおよびＹ軸
ドライバからの出力の交点のドットが点灯されるドット
マトリクス表示器を備える表示装置の監視装置におい
て、ドットマトリクス表示器のテスト表示パターンの表
示データをメモリに出力するテストパターン出力部10
と、テスト表示パターンが格納されたメモリの表示デー
タに従いドットマトリクス表示器をテスト表示パターン
を表示するときの当該ドットマトリクス表示器の消費電
流を計測する電流計測部７と、電流計測部が計測したテ
スト表示パターンを表示したときの消費電流が所定値よ
り小さいか否かにより表示装置の不良を判定する判定部
11を具備する。
【０００５】したがって、表示装置を点検・監視すると
き、テスト表示パターンの表示データを出力し、そのと
きのドットマトリクス表示器の消費電流が所定値により
小さいとき表示装置の不良と判定する。
き、テスト表示パターンの表示データを出力し、そのと
きのドットマトリクス表示器の消費電流が所定値により
小さいとき表示装置の不良と判定する。
【０００６】また、判定部の前記所定値をドットマトリ
クス表示器の周辺部分と中央部分に差を持たせたもので
ある。また、複数のテスト表示パターンの表示データを
記憶するテストパターンデータ記憶部12、所定の点検周
期あるいは点検員からの点検指令を入力したとき前記テ
ストパターンデータ記憶部に記憶されるテスト表示パタ
ーンの表示データを前記メモリに出力するテストパター
ン出力部10、および電流計測部が計測したテスト表示パ
ターンを表示したときの消費電流を所定値あるいは他の
テスト表示パターンを表示したとき計測した消費電流と
比較し表示装置の不良を判定する判定部11を備えるもの
である。したがって、本発明によればテスト表示パター
ン表示器に表示させ、そのときの消費電流を判定する構
成としたので、自動監視が可能となる。
クス表示器の周辺部分と中央部分に差を持たせたもので
ある。また、複数のテスト表示パターンの表示データを
記憶するテストパターンデータ記憶部12、所定の点検周
期あるいは点検員からの点検指令を入力したとき前記テ
ストパターンデータ記憶部に記憶されるテスト表示パタ
ーンの表示データを前記メモリに出力するテストパター
ン出力部10、および電流計測部が計測したテスト表示パ
ターンを表示したときの消費電流を所定値あるいは他の
テスト表示パターンを表示したとき計測した消費電流と
比較し表示装置の不良を判定する判定部11を備えるもの
である。したがって、本発明によればテスト表示パター
ン表示器に表示させ、そのときの消費電流を判定する構
成としたので、自動監視が可能となる。
【０００７】
【発明の実施の形態】本発明の実施の一形態を図１によ
って説明する。表示のためのデータを格納するメモリ２
と、メモリ２の出力により駆動されるＸドライバ４およ
びＹドライバ３と、Ｘドライバ４およびＹドライバ３に
より発光を行うドットマトリクス表示器５と、前記メモ
リ２の制御と外部とのインターフェイスを行うインター
フェイスＣＰＵ１を有する表示器６と、前記表示器６を
制御するホストＣＰＵ８にて構成される表示装置におい
て、前記表示器６内ドットマトリクス表示器５の消費電
流を計測する電流計測部７を設け、その電流計測部７の
出力をホストＣＰＵ８に取り込む構成としている。ここ
で、ドットマトリクス表示器５は横640 縦400 のドット
を有するものとすると、Ｘドライバ４はＸ0 〜Ｘ639 の
出力ラインを、またＹドライバ３はＹ0 〜Ｙ399 の出力
ラインを有している。
って説明する。表示のためのデータを格納するメモリ２
と、メモリ２の出力により駆動されるＸドライバ４およ
びＹドライバ３と、Ｘドライバ４およびＹドライバ３に
より発光を行うドットマトリクス表示器５と、前記メモ
リ２の制御と外部とのインターフェイスを行うインター
フェイスＣＰＵ１を有する表示器６と、前記表示器６を
制御するホストＣＰＵ８にて構成される表示装置におい
て、前記表示器６内ドットマトリクス表示器５の消費電
流を計測する電流計測部７を設け、その電流計測部７の
出力をホストＣＰＵ８に取り込む構成としている。ここ
で、ドットマトリクス表示器５は横640 縦400 のドット
を有するものとすると、Ｘドライバ４はＸ0 〜Ｘ639 の
出力ラインを、またＹドライバ３はＹ0 〜Ｙ399 の出力
ラインを有している。
【０００８】次に、図２を参照し、自動監視のステップ
を説明する。上記構成において、図２（ａ）のステップ
ではホストＣＰＵ８によりドットマトリクス表示器５の
Ｙ0 〜Ｙ399 とＸ0 〜Ｘ299 の交差するドットを消灯、
またＹ0 〜Ｙ399 とＸ300 〜Ｘ599 の交差するドットを
点灯させ、この時の電流計測部７の出力Ｉｄｓｐａを入
力し記憶する。次に、図２（ｂ）のステップではドット
マトリクス表示器５のＹ0 〜Ｙ399 とＸ300 〜Ｘ599 の
交差するドットを消灯、またＹ0 〜Ｙ399 とＸ0 〜Ｘ
299 の交差するドットを点灯させた時の電流計測部７の
出力Ｉｄｓｐｂを入力し記憶する。以上のテストパター
ン表示において、ドットマトリクス表示器５の全ドット
を点灯した場合の消費電流は下記（１）式であるから、
前記Ｉｄｓｐａ及びＩｄｓｐｂの消費電流は（１）式の
約１／２となることが条件である。したがって、表示器
６の動作及びドットマトリクス表示器５の動作が正常で
あれば消費電流は概略下記（２）の値となる。
を説明する。上記構成において、図２（ａ）のステップ
ではホストＣＰＵ８によりドットマトリクス表示器５の
Ｙ0 〜Ｙ399 とＸ0 〜Ｘ299 の交差するドットを消灯、
またＹ0 〜Ｙ399 とＸ300 〜Ｘ599 の交差するドットを
点灯させ、この時の電流計測部７の出力Ｉｄｓｐａを入
力し記憶する。次に、図２（ｂ）のステップではドット
マトリクス表示器５のＹ0 〜Ｙ399 とＸ300 〜Ｘ599 の
交差するドットを消灯、またＹ0 〜Ｙ399 とＸ0 〜Ｘ
299 の交差するドットを点灯させた時の電流計測部７の
出力Ｉｄｓｐｂを入力し記憶する。以上のテストパター
ン表示において、ドットマトリクス表示器５の全ドット
を点灯した場合の消費電流は下記（１）式であるから、
前記Ｉｄｓｐａ及びＩｄｓｐｂの消費電流は（１）式の
約１／２となることが条件である。したがって、表示器
６の動作及びドットマトリクス表示器５の動作が正常で
あれば消費電流は概略下記（２）の値となる。
【０００９】
【数１】 全ドット点灯時の消費電流 400 ×600 ×ｄｉ＝Ｉｄｓｐ …（１） ｄｉは１ドット当たりの消費電流
【００１０】
【数２】 正常時の場合：Ｉｄｓｐａ＝＊Ｉｄｓｐｂ＝＊Ｉｄｓｐ／２ …（２） したがって、Ｉｄｓｐａ，Ｉｄｓｐｂの値がＩｄｓｐ／
２に対して差が大きければ大きいほど、テストパターン
が正しく表示していないことになり、図２（Ｃ）斜線部
分である判定レベルＤＳｆを越えた場合には表示器６の
不良と判断することができる。（２）式中、記号＝＊
は、ほぼイコールを示す。
２に対して差が大きければ大きいほど、テストパターン
が正しく表示していないことになり、図２（Ｃ）斜線部
分である判定レベルＤＳｆを越えた場合には表示器６の
不良と判断することができる。（２）式中、記号＝＊
は、ほぼイコールを示す。
【００１１】本実施の形態によれば、ホストＣＰＵ８に
よりドットマトリクス表示器５をテストパターン表示と
し、その時の電流変化分を電流計測部７の出力からホス
トＣＰＵ８に取り込むことにより、テストパターンの表
示を得たか否かを判断することができる。
よりドットマトリクス表示器５をテストパターン表示と
し、その時の電流変化分を電流計測部７の出力からホス
トＣＰＵ８に取り込むことにより、テストパターンの表
示を得たか否かを判断することができる。
【００１２】したがって、点検員による点検を必要とせ
ず表示器６の自動監視が可能となる。また、テストパタ
ーンとしては、図２の左右半分のパターンの他に、上下
半分のパターンや１／Ｎのブロックごとのパターンとし
ても同様に実現できる。
ず表示器６の自動監視が可能となる。また、テストパタ
ーンとしては、図２の左右半分のパターンの他に、上下
半分のパターンや１／Ｎのブロックごとのパターンとし
ても同様に実現できる。
【００１３】本発明は上記実施の形態に限定されるもの
ではなく、次のような変形例がある。図３を用い説明す
る。ドットマトリクス表示器５の監視対象を、例えば
（ａ）の斜線の表示範囲と、（ｂ）の斜線の表示範囲と
に分ける。一般的には、表示器の中央部に表示を集める
ので、中央部が正常に動作すれば問題はない。したがっ
て、不良と判定するレベルを下記の如く差をもたせ、よ
り柔軟な監視を行うこともできる。
ではなく、次のような変形例がある。図３を用い説明す
る。ドットマトリクス表示器５の監視対象を、例えば
（ａ）の斜線の表示範囲と、（ｂ）の斜線の表示範囲と
に分ける。一般的には、表示器の中央部に表示を集める
ので、中央部が正常に動作すれば問題はない。したがっ
て、不良と判定するレベルを下記の如く差をもたせ、よ
り柔軟な監視を行うこともできる。
【００１４】
【数３】ＤＳｆ＜ＤＳｆ′ ・（ａ）の斜線部分の判定レベル ＤＳｆ ・（ｂ）の斜線部分の判定レベル ＤＳｆ′
【００１５】
【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
点検員による点検を必要としないため、あいまいな判定
とならず、表示器６の不良の有無を自動監視により判定
することが可能となる。また、監視対象を分け、不良の
判定レベルに差をもたせた結果、より柔軟な監視を行う
ことができる。
点検員による点検を必要としないため、あいまいな判定
とならず、表示器６の不良の有無を自動監視により判定
することが可能となる。また、監視対象を分け、不良の
判定レベルに差をもたせた結果、より柔軟な監視を行う
ことができる。
【図１】本発明による表示装置の監視装置一実施の形態
の構成図
の構成図
【図２】本発明のテストパターン説明図
【図３】他の実施の形態のテストパターン図
【図４】従来の表示器の構成図
１…インターフェイスＣＰＵ、２…メモリ、３…Ｙドラ
イバ、４…Ｘドライバ、５…ドットマトリクス表示器、
６…表示装置。７…電流計測部、８…演算部（ホストＣ
ＰＵ）、９…点検スイッチ、10…テストパターン出力
部、11…判定部、12…テストパターンデータ記憶部。
イバ、４…Ｘドライバ、５…ドットマトリクス表示器、
６…表示装置。７…電流計測部、８…演算部（ホストＣ
ＰＵ）、９…点検スイッチ、10…テストパターン出力
部、11…判定部、12…テストパターンデータ記憶部。
Claims (3)
- 【請求項１】 演算部より出力される表示データを格納
するメモリと、このメモリに格納された表示データに従
い発光させるドットに該当するラインに出力を与えるＸ
軸ドライバおよびＹ軸ドライバと、前記Ｘ軸ドライバお
よびＹ軸ドライバからの出力の交点のドットが点灯され
るドットマトリクス表示器を備える表示装置の監視装置
において、前記ドットマトリクス表示器のテスト表示パ
ターンの表示データを前記メモリに出力するテストパタ
ーン出力部と、前記テスト表示パターンが格納された前
記メモリの表示データに従い前記ドットマトリクス表示
器がテスト表示パターンを表示するときの当該ドットマ
トリクス表示器の消費電流を計測する電流計測部と、前
記電流計測部が計測したテスト表示パターンを表示した
ときの消費電流が所定値より小さいか否かにより表示装
置の不良を判定する判定部を具備することを特徴とする
表示装置の監視装置。 - 【請求項２】 前記判定部の前記所定値をドットマトリ
クス表示器のの周辺部部と中央部分に差を持たせたこと
を特徴とする請求項１記載の表示装置の監視装置。 - 【請求項３】 演算部より出力される表示データを格納
するメモリと、このメモリに格納された表示データに従
い発光素子を点灯させる表示器を備える表示装置の監視
装置において、前記表示器の複数のテスト表示パターン
の表示データを記憶するテストパターンデータ記憶部
と、所定の点検周期あるいは点検員からの点検指令を入
力したとき前記テストパターンデータ記憶部に記憶され
るテスト表示パターンの表示データを前記メモリに出力
するテストパターン出力部と、前記テスト表示パターン
が格納された前記メモリの表示データに従い前記表示器
がテスト表示パターンを表示するときの当該表示器の消
費電流を計測する電流計測部と、前記電流計測部が計測
したテスト表示パターンを表示したときの消費電流を所
定値あるいは他のテスト表示パターンを表示したとき計
測した消費電流と比較し表示装置の不良を判定する判定
部を備えることを特徴とする表示装置の監視装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8152032A JPH102766A (ja) | 1996-06-13 | 1996-06-13 | 表示装置の監視装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8152032A JPH102766A (ja) | 1996-06-13 | 1996-06-13 | 表示装置の監視装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH102766A true JPH102766A (ja) | 1998-01-06 |
Family
ID=15531573
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP8152032A Withdrawn JPH102766A (ja) | 1996-06-13 | 1996-06-13 | 表示装置の監視装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH102766A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100804557B1 (ko) * | 2001-10-17 | 2008-02-20 | 윈테스트 가부시키가이샤 | 유기이엘 디스플레이의 평가장치 및 평가방법 |
-
1996
- 1996-06-13 JP JP8152032A patent/JPH102766A/ja not_active Withdrawn
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100804557B1 (ko) * | 2001-10-17 | 2008-02-20 | 윈테스트 가부시키가이샤 | 유기이엘 디스플레이의 평가장치 및 평가방법 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| RD02 | Notification of acceptance of power of attorney |
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|
| A521 | Request for written amendment filed |
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|
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Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A712 Effective date: 20040804 |
|
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|
| A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20060308 |
|
| A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20060725 |
|
| A761 | Written withdrawal of application |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A761 Effective date: 20060921 |