JPH10281871A - 吸光特性測定ユニット及び吸光特性測定方法 - Google Patents
吸光特性測定ユニット及び吸光特性測定方法Info
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- JPH10281871A JPH10281871A JP9075797A JP9075797A JPH10281871A JP H10281871 A JPH10281871 A JP H10281871A JP 9075797 A JP9075797 A JP 9075797A JP 9075797 A JP9075797 A JP 9075797A JP H10281871 A JPH10281871 A JP H10281871A
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 光学系を簡素化し、取扱を容易とする。
【解決手段】 コントロール部4は、制御用コンピュー
タ2からの指示に基づいて一の発光ダイオード5-1〜5
-nを順次選択し、駆動すべく駆動制御データDDRVを出
力し、各発光ダイオード5-1〜5-nは、駆動制御データ
DDRVに基づいて互いに相異なる発光波長を有する測定
光L1〜Lnを射出部からそれぞれ射出し、フォトダイオ
ード6は、測定対象試料を透過した測定光L1〜Lnを受
光して原検出信号S0を出力するので、光学系を簡素化
でき、取扱が容易となり、後段の増幅系で、低い増幅率
で信号を取り扱え、雑音や温度ドリフトの影響を受ける
ことが少なくなる。さらに発光波長の異なる複数の発光
ダイオード5-1〜5-nを順次駆動するので、スペクトル
成分を定量的に把握できる。発光ダイオード5-1〜5-n
は、赤外線の射出がほとんどなく、測定対象試料の乾燥
を防止でき、乾燥を嫌う試料も正確に測定できる。
タ2からの指示に基づいて一の発光ダイオード5-1〜5
-nを順次選択し、駆動すべく駆動制御データDDRVを出
力し、各発光ダイオード5-1〜5-nは、駆動制御データ
DDRVに基づいて互いに相異なる発光波長を有する測定
光L1〜Lnを射出部からそれぞれ射出し、フォトダイオ
ード6は、測定対象試料を透過した測定光L1〜Lnを受
光して原検出信号S0を出力するので、光学系を簡素化
でき、取扱が容易となり、後段の増幅系で、低い増幅率
で信号を取り扱え、雑音や温度ドリフトの影響を受ける
ことが少なくなる。さらに発光波長の異なる複数の発光
ダイオード5-1〜5-nを順次駆動するので、スペクトル
成分を定量的に把握できる。発光ダイオード5-1〜5-n
は、赤外線の射出がほとんどなく、測定対象試料の乾燥
を防止でき、乾燥を嫌う試料も正確に測定できる。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、吸光特性測定装置
及び吸光特性測定方法に係り、特に物質固有の吸光特性
を測定することにより物質の成分を定量したり、化学反
応の進行程度を把握するため等に用いられる吸光特性測
定ユニット及び吸光特性測定方法に関する。
及び吸光特性測定方法に係り、特に物質固有の吸光特性
を測定することにより物質の成分を定量したり、化学反
応の進行程度を把握するため等に用いられる吸光特性測
定ユニット及び吸光特性測定方法に関する。
【0002】
【従来の技術】可視部あるいは近紫外部及び近赤外部も
含めて特定波長における物質の吸光度あるいは反射吸光
度を光電的に測定し、溶液あるいは固体マトリックスに
よる光の吸収が濃度に依存することを表すベールの法則
によって溶液濃度の測定を行う方法として吸光光度分析
等の吸光分析が知られている。
含めて特定波長における物質の吸光度あるいは反射吸光
度を光電的に測定し、溶液あるいは固体マトリックスに
よる光の吸収が濃度に依存することを表すベールの法則
によって溶液濃度の測定を行う方法として吸光光度分析
等の吸光分析が知られている。
【0003】吸光分析の利用は、多岐にわたり、例え
ば、以下のような利用がされている。 (1) 植物の採取位置で異なる葉色の相違を比較す
る。より具体的には、稲の発育状況検査である。 (2) 化学物質水溶液中の濃度を中和滴定する際に発
色剤による固有の呈色反応で確認する。より具体的に
は、中和検定である。
ば、以下のような利用がされている。 (1) 植物の採取位置で異なる葉色の相違を比較す
る。より具体的には、稲の発育状況検査である。 (2) 化学物質水溶液中の濃度を中和滴定する際に発
色剤による固有の呈色反応で確認する。より具体的に
は、中和検定である。
【0004】(3) 特定の化学成分に対して特定の波
長域で吸光現象を示す色素を生成する物質、あるいは、
吸光波長特性が変化する物質を塗布した膜に検体を浸透
させたときの吸光値から検体中の特定物質濃度を検定す
る。より具体的には血液分析用乾式多層フィルム、河川
の水質検査などである。
長域で吸光現象を示す色素を生成する物質、あるいは、
吸光波長特性が変化する物質を塗布した膜に検体を浸透
させたときの吸光値から検体中の特定物質濃度を検定す
る。より具体的には血液分析用乾式多層フィルム、河川
の水質検査などである。
【0005】(4) その他、透過あるいは反射による
比色検査第1従来例 図8に第1従来例の吸光度測定装置の概要構成図を示
す。吸光度測定装置100は、原測定光L’を出射する
光源101と、光源101から出射された原測定光L’
を反射して導くミラー102と、入射した原測定光L’
の一部を反射し、他の一部を透過するハーフミラー10
3と、ハーフミラー103側から入射した原測定光L’
を集光するレンズ104と、原測定光L’の一部を通過
させるスリット105と、スリット105を通過した原
測定光L’を平行光とするコリメータミラー106と、
原測定光L’が入射され、原測定光L’の回折光相互の
干渉により、スペクトルである測定光LSを生成する回
折格子(グレーティング)107と、回折格子107に
より生成され、コリメータミラー106により反射さ
れ、スリット105、レンズ104及びハーフミラー1
03を透過した測定光LSを集光するレンズ108と、
測定光LSを二つの等価な測定光LS1、LS2に分ける
ビームスプリッタ109と、測定光LS1を反射し、測
定対象試料SMPMEASに入射させるミラー110と、測
定光LS2を反射し、測定参照試料SMPREFに入射させ
るミラー111と、測定対象試料SMPMEASを透過した
測定光LS1を受光して、光電変換を行い測定信号SMEA
Sを出力するフォトダイオード112と、測定参照試料
SMPREFを透過した測定光LS2を受光して、光電変換
を行い参照信号SREFを出力するフォトダイオード11
3と、測定信号SMEAS及び参照信号SREFの対数差動増
幅を行って、測定電圧信号VOUTとして出力する対数差
動アンプ114と、を備えて構成されている。
比色検査第1従来例 図8に第1従来例の吸光度測定装置の概要構成図を示
す。吸光度測定装置100は、原測定光L’を出射する
光源101と、光源101から出射された原測定光L’
を反射して導くミラー102と、入射した原測定光L’
の一部を反射し、他の一部を透過するハーフミラー10
3と、ハーフミラー103側から入射した原測定光L’
を集光するレンズ104と、原測定光L’の一部を通過
させるスリット105と、スリット105を通過した原
測定光L’を平行光とするコリメータミラー106と、
原測定光L’が入射され、原測定光L’の回折光相互の
干渉により、スペクトルである測定光LSを生成する回
折格子(グレーティング)107と、回折格子107に
より生成され、コリメータミラー106により反射さ
れ、スリット105、レンズ104及びハーフミラー1
03を透過した測定光LSを集光するレンズ108と、
測定光LSを二つの等価な測定光LS1、LS2に分ける
ビームスプリッタ109と、測定光LS1を反射し、測
定対象試料SMPMEASに入射させるミラー110と、測
定光LS2を反射し、測定参照試料SMPREFに入射させ
るミラー111と、測定対象試料SMPMEASを透過した
測定光LS1を受光して、光電変換を行い測定信号SMEA
Sを出力するフォトダイオード112と、測定参照試料
SMPREFを透過した測定光LS2を受光して、光電変換
を行い参照信号SREFを出力するフォトダイオード11
3と、測定信号SMEAS及び参照信号SREFの対数差動増
幅を行って、測定電圧信号VOUTとして出力する対数差
動アンプ114と、を備えて構成されている。
【0006】この場合において、レンズ104、スリッ
ト105、コリメータミラー106及び回折格子107
は、モノクロメータを構成している。次に概要動作を説
明する。吸光度測定装置100の光源101から出射さ
れた測定光L’は、ミラー102及びハーフミラー10
3により反射されて、モノクロメータ内に入射される。
ト105、コリメータミラー106及び回折格子107
は、モノクロメータを構成している。次に概要動作を説
明する。吸光度測定装置100の光源101から出射さ
れた測定光L’は、ミラー102及びハーフミラー10
3により反射されて、モノクロメータ内に入射される。
【0007】モノクロメータ内に入射した原測定光L’
は、レンズ104により集光され、スリット105を通
過して、コリメータミラー106により平行光とされて
回折格子107に入射することとなる。回折格子107
に入射した原測定光L’は、原測定光L’の回折光相互
の干渉により、スペクトルである測定光LSを生成し、
測定光LSをコリメータミラー106に反射する。
は、レンズ104により集光され、スリット105を通
過して、コリメータミラー106により平行光とされて
回折格子107に入射することとなる。回折格子107
に入射した原測定光L’は、原測定光L’の回折光相互
の干渉により、スペクトルである測定光LSを生成し、
測定光LSをコリメータミラー106に反射する。
【0008】これらにより、測定光LSは、コリメータ
ミラー106により再び反射され、スリット105、レ
ンズ104及びハーフミラー103を透過してレンズ1
08に至ることとなる。レンズ108は、測定光LSを
集光し、ビームスプリッタ109に導き、ビームスプリ
ッタ109は、測定光LSを二つの等価な測定光LS
1、LS2に分け、測定光LS1をミラー110を介し
て、測定対象試料SMPMEASに入射させ、測定光LS2
をミラー111を介して測定参照試料SMPREFに入射
させる。
ミラー106により再び反射され、スリット105、レ
ンズ104及びハーフミラー103を透過してレンズ1
08に至ることとなる。レンズ108は、測定光LSを
集光し、ビームスプリッタ109に導き、ビームスプリ
ッタ109は、測定光LSを二つの等価な測定光LS
1、LS2に分け、測定光LS1をミラー110を介し
て、測定対象試料SMPMEASに入射させ、測定光LS2
をミラー111を介して測定参照試料SMPREFに入射
させる。
【0009】そして、フォトダイオード112は、測定
対象試料SMPMEASを透過した測定光LS1を受光し
て、光電変換を行い測定信号SMEASを対数差動アンプに
出力し、フォトダイオード113は、測定参照試料SM
PREFを透過した測定光LS2を受光して、光電変換を行
い参照信号SREFを対数差動アンプに出力する。
対象試料SMPMEASを透過した測定光LS1を受光し
て、光電変換を行い測定信号SMEASを対数差動アンプに
出力し、フォトダイオード113は、測定参照試料SM
PREFを透過した測定光LS2を受光して、光電変換を行
い参照信号SREFを対数差動アンプに出力する。
【0010】これらの結果、出対数差動アンプ114
は、測定信号SMEAS及び参照信号SREFの対数差動増幅
を行って、測定電圧信号VOUTとして出力する。このと
き、吸光度Aは、 A=−VOUT により表されることとなる。第2従来例 複数の光源からの測定光を測定対象試料に照射する場合
の第2従来例を図9に示す。
は、測定信号SMEAS及び参照信号SREFの対数差動増幅
を行って、測定電圧信号VOUTとして出力する。このと
き、吸光度Aは、 A=−VOUT により表されることとなる。第2従来例 複数の光源からの測定光を測定対象試料に照射する場合
の第2従来例を図9に示す。
【0011】吸光特性測定ユニット200は、R(Re
d)単波長成分のR測定光LRを射出するR光源201
と、G(Green)単波長成分のG測定光LGを射出するG
光源202と、B(Blue)単波長成分のB測定光LBを
射出するB光源203と、R光源201により射出され
たR測定光LRの光軸に対し45[゜]の位置に配置さ
れた第1ハーフミラー204と、G光源202により射
出されたG測定光LGの光軸に対し45[゜]の位置に
配置された第2ハーフミラー205と、B光源203に
より射出されたB測定光LBの光軸に対し45[゜]の
位置に配置された第3ハーフミラー206と、第1ハー
フミラー204により反射され、測定対象試料SMP’
により反射され、第1〜第3ハーフミラー204〜20
6を透過したR測定光LRの光軸上に配置されたフォト
ダイオード207と、を備えて構成されている。
d)単波長成分のR測定光LRを射出するR光源201
と、G(Green)単波長成分のG測定光LGを射出するG
光源202と、B(Blue)単波長成分のB測定光LBを
射出するB光源203と、R光源201により射出され
たR測定光LRの光軸に対し45[゜]の位置に配置さ
れた第1ハーフミラー204と、G光源202により射
出されたG測定光LGの光軸に対し45[゜]の位置に
配置された第2ハーフミラー205と、B光源203に
より射出されたB測定光LBの光軸に対し45[゜]の
位置に配置された第3ハーフミラー206と、第1ハー
フミラー204により反射され、測定対象試料SMP’
により反射され、第1〜第3ハーフミラー204〜20
6を透過したR測定光LRの光軸上に配置されたフォト
ダイオード207と、を備えて構成されている。
【0012】次に動作を説明する。吸光特性測定ユニッ
ト200のR光源201から射出されたR測定光LR
は、第1ハーフミラー204により反射され、測定対象
試料SMP’により反射され、第1〜第3ハーフミラー
204〜206を透過してフォトダイオード207に入
射する。
ト200のR光源201から射出されたR測定光LR
は、第1ハーフミラー204により反射され、測定対象
試料SMP’により反射され、第1〜第3ハーフミラー
204〜206を透過してフォトダイオード207に入
射する。
【0013】また、G光源202から射出されたG測定
光LGは、第2ハーフミラー205により反射され、第
1ハーフミラー204を透過して、測定対象試料SM
P’により反射され、さらに第1〜第3ハーフミラー2
04〜206を透過してフォトダイオード207に入射
する。
光LGは、第2ハーフミラー205により反射され、第
1ハーフミラー204を透過して、測定対象試料SM
P’により反射され、さらに第1〜第3ハーフミラー2
04〜206を透過してフォトダイオード207に入射
する。
【0014】さらにB光源203から出射されたB測定
光LBは、第3ハーフミラー206により反射され、第
2ハーフミラー205及び第1ハーフミラー204を透
過して、測定対象試料SMP’により反射されて第1〜
第3ハーフミラー204〜206を透過してフォトダイ
オード207に入射することとなっていた。第3従来例 図10にビデオカメラなどのホワイトバランス回路で用
いられている色温度識別装置の光学系の概要構成図を示
す。
光LBは、第3ハーフミラー206により反射され、第
2ハーフミラー205及び第1ハーフミラー204を透
過して、測定対象試料SMP’により反射されて第1〜
第3ハーフミラー204〜206を透過してフォトダイ
オード207に入射することとなっていた。第3従来例 図10にビデオカメラなどのホワイトバランス回路で用
いられている色温度識別装置の光学系の概要構成図を示
す。
【0015】色温度識別装置300は、白色光である測
定光L”を射出する光源301と、測定対象試料SM
P”を透過した測定光L”のうちB(Blue)成分を中心
とする周波数帯域についての受光を担うBフォトダイオ
ード302と、測定対象試料SMP”を透過した測定光
L”のうち、G(Green)成分を中心とする周波数帯域
についての受光を担うGフォトダイオード303と、測
定対象試料SMP”を透過した測定光L”のうち、R
(Red)成分を中心とする周波数帯域についての受光を
担うRフォトダイオード304と、を備えて構成されて
いる。
定光L”を射出する光源301と、測定対象試料SM
P”を透過した測定光L”のうちB(Blue)成分を中心
とする周波数帯域についての受光を担うBフォトダイオ
ード302と、測定対象試料SMP”を透過した測定光
L”のうち、G(Green)成分を中心とする周波数帯域
についての受光を担うGフォトダイオード303と、測
定対象試料SMP”を透過した測定光L”のうち、R
(Red)成分を中心とする周波数帯域についての受光を
担うRフォトダイオード304と、を備えて構成されて
いる。
【0016】次に動作を説明する。光源301により射
出された測定光L”は、測定対象試料SMP”を透過
し、B成分はBフォトダイオード302に受光され、G
成分はGフォトダイオード303に受光され、R成分は
Rフォトダイオード304に受光される。
出された測定光L”は、測定対象試料SMP”を透過
し、B成分はBフォトダイオード302に受光され、G
成分はGフォトダイオード303に受光され、R成分は
Rフォトダイオード304に受光される。
【0017】そして各フォトダイオード302〜304
の出力信号を図示しない対数アンプにより増幅し、B成
分とG成分との比、 B/G 及び、G成分とR成分との比、 G/R に基づいて色温度を判別している。
の出力信号を図示しない対数アンプにより増幅し、B成
分とG成分との比、 B/G 及び、G成分とR成分との比、 G/R に基づいて色温度を判別している。
【0018】
【発明が解決しようとする課題】上記第1従来例の吸光
度測定装置においては、所望の波長の測定光を得るため
にスリット、ビームスプリッタ、ミラー群等の複雑な光
学機構が必要とされるという問題点があった。
度測定装置においては、所望の波長の測定光を得るため
にスリット、ビームスプリッタ、ミラー群等の複雑な光
学機構が必要とされるという問題点があった。
【0019】さらにこれらの複雑な光学系はその性能を
十分に発揮させるためには、微妙な機構調整が必要であ
り、温度変化、あるいは、経年変化による光学系のずれ
を補正すべく定期的に較正する必要があるという問題点
があった。さらにまた、これらの精密な光学系を防震状
態で保持する機構も不可欠であり、吸光特性測定装置の
構成をさらに複雑化することとなっていた。
十分に発揮させるためには、微妙な機構調整が必要であ
り、温度変化、あるいは、経年変化による光学系のずれ
を補正すべく定期的に較正する必要があるという問題点
があった。さらにまた、これらの精密な光学系を防震状
態で保持する機構も不可欠であり、吸光特性測定装置の
構成をさらに複雑化することとなっていた。
【0020】計測の原理的に差動信号を用いているた
め、得られる信号は微弱であり、増幅を行う際にノイズ
及び温度ドリフトの影響を受けやすいという問題点があ
った。測定用光源から射出された測定光が試料に照射さ
れるまでの間の光路中には、スリットや多数のミラーが
介在するため、光路途中における測定光の減衰が大き
い。
め、得られる信号は微弱であり、増幅を行う際にノイズ
及び温度ドリフトの影響を受けやすいという問題点があ
った。測定用光源から射出された測定光が試料に照射さ
れるまでの間の光路中には、スリットや多数のミラーが
介在するため、光路途中における測定光の減衰が大き
い。
【0021】これを補償すべく、光源出力を大きくする
と光源からの熱放散により試料を保持する測定セル内の
温度上昇を招き、測定精度が劣化するという問題点が生
じる。逆に測定精度を向上すべく光源出力を小さくする
と、試料に対する照射光量が低下し、得られる測定信号
(差動信号)が微弱となって、低ノイズで高い増幅率を
有する信号処理回路が必要となるという問題点が生じ
る。
と光源からの熱放散により試料を保持する測定セル内の
温度上昇を招き、測定精度が劣化するという問題点が生
じる。逆に測定精度を向上すべく光源出力を小さくする
と、試料に対する照射光量が低下し、得られる測定信号
(差動信号)が微弱となって、低ノイズで高い増幅率を
有する信号処理回路が必要となるという問題点が生じ
る。
【0022】また、上記第2従来例においては、上述し
たように、複数の光源201〜203の光軸をハーフミ
ラー204〜206により合成するように構成している
ため、照射効率が悪くなってしまうという問題点があっ
た。より詳細には、B光源203から出射されたB測定
光LBは、各ハーフミラーの反射率を1/2(=50
[%])とすると、フォトダイオード207に至るまで
の総合的な照射効率は1/64(=(1/2)6)とな
り、非常に照射効率が悪くなってしまっていた。
たように、複数の光源201〜203の光軸をハーフミ
ラー204〜206により合成するように構成している
ため、照射効率が悪くなってしまうという問題点があっ
た。より詳細には、B光源203から出射されたB測定
光LBは、各ハーフミラーの反射率を1/2(=50
[%])とすると、フォトダイオード207に至るまで
の総合的な照射効率は1/64(=(1/2)6)とな
り、非常に照射効率が悪くなってしまっていた。
【0023】さらに測定対象試料に照射した測定光のう
ち、測定対象試料内部で吸光散乱される光成分のみを受
光するのが理想的であるが、図9に示すように、測定光
の入射方向及び出射方向が測定対象試料の表面に対し垂
直となっていたため、測定対象試料表面で測定光がその
まま反射され、所望の信号がマスキングされてしまうと
いう問題点があった。
ち、測定対象試料内部で吸光散乱される光成分のみを受
光するのが理想的であるが、図9に示すように、測定光
の入射方向及び出射方向が測定対象試料の表面に対し垂
直となっていたため、測定対象試料表面で測定光がその
まま反射され、所望の信号がマスキングされてしまうと
いう問題点があった。
【0024】特に測定対象試料表面が光沢がある場合に
は測定が困難になってしまうという問題点があった。さ
らにまた、上記第3従来例においては、測定対象試料を
透過した測定光に含まれるスペクトル成分を定量的に把
握することはできないという問題点があった。
は測定が困難になってしまうという問題点があった。さ
らにまた、上記第3従来例においては、測定対象試料を
透過した測定光に含まれるスペクトル成分を定量的に把
握することはできないという問題点があった。
【0025】より具体的には、肉眼では緑色に見える色
であっても、緑色を反射する色素による着色と、青色を
吸収する色素及び黄色を吸収する色素の混合物による着
色は得られるスペクトルは異なるにも関わらず、色温度
が類似しているため識別することはできない。
であっても、緑色を反射する色素による着色と、青色を
吸収する色素及び黄色を吸収する色素の混合物による着
色は得られるスペクトルは異なるにも関わらず、色温度
が類似しているため識別することはできない。
【0026】また、従来の吸光特性測定装置において
は、測定用光源として、赤外線、遠赤外線などを含む熱
作用の大きな光を射出するものを用いる場合があり、試
料が加熱されて乾燥してしまうという問題点があった。
特に多層分析フィルムの反射測定のように、測定光の照
射による乾燥を嫌う試料を大気中に暴露しながら測定を
行う場合には、熱作用の少ない測定光源が望まれること
となっていた。
は、測定用光源として、赤外線、遠赤外線などを含む熱
作用の大きな光を射出するものを用いる場合があり、試
料が加熱されて乾燥してしまうという問題点があった。
特に多層分析フィルムの反射測定のように、測定光の照
射による乾燥を嫌う試料を大気中に暴露しながら測定を
行う場合には、熱作用の少ない測定光源が望まれること
となっていた。
【0027】そこで本発明の目的は、光学系を簡素化す
ることが可能で、取扱が容易で、大きな測定信号が得ら
れ、スペクトル成分を定量的に把握することができ、試
料の乾燥を防止することが可能な吸光特性測定ユニット
及び吸光特性測定方法を提供することにある。
ることが可能で、取扱が容易で、大きな測定信号が得ら
れ、スペクトル成分を定量的に把握することができ、試
料の乾燥を防止することが可能な吸光特性測定ユニット
及び吸光特性測定方法を提供することにある。
【0028】
【課題を解決するための手段】上記課題を解決するた
め、請求項1記載の発明は、射出部を有し、駆動信号に
基づいて互いに相異なる発光波長を有する測定光を前記
射出部からそれぞれ射出する複数の発光素子と、外部か
らの指示に基づいて一の前記発光素子を順次選択し、駆
動すべく前記駆動信号を出力する選択駆動手段と、前記
発光素子により射出され、かつ、測定対象試料を透過し
た前記測定光を受光して受光信号を出力する受光手段
と、を備えて構成する。
め、請求項1記載の発明は、射出部を有し、駆動信号に
基づいて互いに相異なる発光波長を有する測定光を前記
射出部からそれぞれ射出する複数の発光素子と、外部か
らの指示に基づいて一の前記発光素子を順次選択し、駆
動すべく前記駆動信号を出力する選択駆動手段と、前記
発光素子により射出され、かつ、測定対象試料を透過し
た前記測定光を受光して受光信号を出力する受光手段
と、を備えて構成する。
【0029】請求項1記載の発明によれば、選択駆動手
段は、外部からの指示に基づいて一の発光素子を順次選
択し、駆動すべく駆動信号を出力する。各発光素子は、
駆動信号に基づいて互いに相異なる発光波長を有する測
定光を射出部からそれぞれ射出する。
段は、外部からの指示に基づいて一の発光素子を順次選
択し、駆動すべく駆動信号を出力する。各発光素子は、
駆動信号に基づいて互いに相異なる発光波長を有する測
定光を射出部からそれぞれ射出する。
【0030】これにより受光手段は、測定対象試料を透
過した測定光を受光して受光信号を出力する。請求項2
記載の発明は、射出部を有し、駆動信号に基づいて互い
に相異なる発光波長を有する測定光を前記射出部からそ
れぞれ射出する複数の発光素子と、外部からの指示に基
づいて一の前記発光素子を順次選択し、駆動すべく前記
駆動信号を出力する選択駆動手段と、前記発光素子によ
り射出され、かつ、測定対象試料により反射された前記
測定光を受光して受光信号を出力する受光手段と、を備
えて構成する。
過した測定光を受光して受光信号を出力する。請求項2
記載の発明は、射出部を有し、駆動信号に基づいて互い
に相異なる発光波長を有する測定光を前記射出部からそ
れぞれ射出する複数の発光素子と、外部からの指示に基
づいて一の前記発光素子を順次選択し、駆動すべく前記
駆動信号を出力する選択駆動手段と、前記発光素子によ
り射出され、かつ、測定対象試料により反射された前記
測定光を受光して受光信号を出力する受光手段と、を備
えて構成する。
【0031】請求項2記載の発明によれば、選択駆動手
段は、外部からの指示に基づいて一の発光素子を順次選
択し、駆動すべく駆動信号を出力する。各発光素子は、
駆動信号に基づいて互いに相異なる発光波長を有する測
定光を射出部からそれぞれ射出する。
段は、外部からの指示に基づいて一の発光素子を順次選
択し、駆動すべく駆動信号を出力する。各発光素子は、
駆動信号に基づいて互いに相異なる発光波長を有する測
定光を射出部からそれぞれ射出する。
【0032】これにより、受光手段は、測定対象試料に
より反射された測定光を受光して受光信号を出力する。
請求項3記載の発明は、請求項1または請求項2記載の
発明において、前記発光素子と前記測定対象試料との光
路中に配置されるとともに、前記複数の発光素子の主光
軸をほぼ一致させる集光手段を備えて構成する。
より反射された測定光を受光して受光信号を出力する。
請求項3記載の発明は、請求項1または請求項2記載の
発明において、前記発光素子と前記測定対象試料との光
路中に配置されるとともに、前記複数の発光素子の主光
軸をほぼ一致させる集光手段を備えて構成する。
【0033】請求項3記載の発明によれば、請求項1ま
たは請求項2記載の発明の作用に加えて、集光手段は、
複数の発光素子の主光軸をほぼ一致させる。請求項4記
載の発明は、請求項3記載の発明において、前記集光手
段は、プリズムを有しており、前記複数の発光素子は、
前記プリズムから射出される前記測定光の主光軸がほぼ
一致するように前記測定光の前記プリズムへの入射角が
設定され、配置されているように構成する。
たは請求項2記載の発明の作用に加えて、集光手段は、
複数の発光素子の主光軸をほぼ一致させる。請求項4記
載の発明は、請求項3記載の発明において、前記集光手
段は、プリズムを有しており、前記複数の発光素子は、
前記プリズムから射出される前記測定光の主光軸がほぼ
一致するように前記測定光の前記プリズムへの入射角が
設定され、配置されているように構成する。
【0034】請求項4記載の発明によれば、請求項3記
載の発明の作用に加えて、複数の発光素子はその配置に
基づき、集光手段のプリズムから射出される測定光の主
光軸をほぼ一致させる。請求項5記載の発明は、請求項
3記載の発明において、前記集光手段は、対応する発光
素子の前記測定光を反射する反射手段及び前記反射手段
により反射された前記測定光が入射されるプリズムを有
しており、前記反射手段及び前記複数の発光素子は、前
記プリズムから射出される前記測定光の主光軸がほぼ一
致するように前記測定光の前記反射手段への入射角及び
前記反射手段による前記測定光の反射光の前記プリズム
への入射角が設定され、配置されているように構成す
る。
載の発明の作用に加えて、複数の発光素子はその配置に
基づき、集光手段のプリズムから射出される測定光の主
光軸をほぼ一致させる。請求項5記載の発明は、請求項
3記載の発明において、前記集光手段は、対応する発光
素子の前記測定光を反射する反射手段及び前記反射手段
により反射された前記測定光が入射されるプリズムを有
しており、前記反射手段及び前記複数の発光素子は、前
記プリズムから射出される前記測定光の主光軸がほぼ一
致するように前記測定光の前記反射手段への入射角及び
前記反射手段による前記測定光の反射光の前記プリズム
への入射角が設定され、配置されているように構成す
る。
【0035】請求項5記載の発明によれば、請求項3記
載の発明の作用に加えて、反射手段及び複数の発光素子
は、それらの配置に基づき、集光手段のプリズムから射
出される測定光の主光軸をほぼ一致させる。請求項6記
載の発明は、請求項2記載の発明において、前記測定対
象試料の測定対象中心にほぼ垂直な直線を仮定し、前記
直線上であって、前記測定対象試料と対向する位置に前
記受光手段の受光面を配置し、前記測定対象中心を通り
前記直線に垂直な平面で前記測定対象中心を中心とする
球を分割した半球を仮定し、前記測定光の主光軸が前記
半球のうち前記測定対象中心に対して前記受光面と同一
方向にある半球の球面を通り前記測定対象中心を端点と
する半直線の一部を含み、かつ、前記測定光が前記受光
面に入射する位置に前記射出部を配置するように構成す
る。
載の発明の作用に加えて、反射手段及び複数の発光素子
は、それらの配置に基づき、集光手段のプリズムから射
出される測定光の主光軸をほぼ一致させる。請求項6記
載の発明は、請求項2記載の発明において、前記測定対
象試料の測定対象中心にほぼ垂直な直線を仮定し、前記
直線上であって、前記測定対象試料と対向する位置に前
記受光手段の受光面を配置し、前記測定対象中心を通り
前記直線に垂直な平面で前記測定対象中心を中心とする
球を分割した半球を仮定し、前記測定光の主光軸が前記
半球のうち前記測定対象中心に対して前記受光面と同一
方向にある半球の球面を通り前記測定対象中心を端点と
する半直線の一部を含み、かつ、前記測定光が前記受光
面に入射する位置に前記射出部を配置するように構成す
る。
【0036】請求項6記載の発明によれば、請求項2記
載の発明の作用に加えて、測定対象試料の表面により直
接反射された測定光が受光手段の受光面に入射するのを
抑制しつつ、測定光を受光手段の受光面に入射させるこ
とができる。請求項7記載の発明は、請求項2記載の発
明において、前記測定対象試料の測定対象中心にほぼ垂
直な直線を仮定し、前記直線上であって、前記測定対象
試料と対向する位置に前記受光手段の受光面を配置し、
前記射出部から射出された前記測定光の主光軸が前記測
定対象中心を通り、かつ、前記測定光が前記受光面に入
射するように前記測定光の光路中に前記測定光を反射す
る反射手段を設けて構成する。
載の発明の作用に加えて、測定対象試料の表面により直
接反射された測定光が受光手段の受光面に入射するのを
抑制しつつ、測定光を受光手段の受光面に入射させるこ
とができる。請求項7記載の発明は、請求項2記載の発
明において、前記測定対象試料の測定対象中心にほぼ垂
直な直線を仮定し、前記直線上であって、前記測定対象
試料と対向する位置に前記受光手段の受光面を配置し、
前記射出部から射出された前記測定光の主光軸が前記測
定対象中心を通り、かつ、前記測定光が前記受光面に入
射するように前記測定光の光路中に前記測定光を反射す
る反射手段を設けて構成する。
【0037】請求項7記載の発明によれば、請求項2記
載の発明の作用に加えて、反射手段は、射出部から射出
された測定光の主光軸が測定対象中心を通り、かつ、測
定光が受光手段の受光面に入射させる。請求項8記載の
発明は、請求項7記載の発明において、前記直線に垂直
な一または複数の平面を仮定し、前記平面のうち、一ま
たは複数の平面上に前記射出部を配置して構成する。
載の発明の作用に加えて、反射手段は、射出部から射出
された測定光の主光軸が測定対象中心を通り、かつ、測
定光が受光手段の受光面に入射させる。請求項8記載の
発明は、請求項7記載の発明において、前記直線に垂直
な一または複数の平面を仮定し、前記平面のうち、一ま
たは複数の平面上に前記射出部を配置して構成する。
【0038】請求項8記載の発明によれば、請求項7記
載の記載の発明の作用に加えて、車種部部は、一または
複数の平面上に射出部を配置されるので、発光特性の差
を考慮した配置にできる。請求項9記載の発明は、射出
部を有し、駆動信号に基づいて互いに相異なる発光波長
を有する測定光を前記射出部からそれぞれ射出する複数
の発光素子を備えた吸光特性測定装置における吸光特性
測定方法であって、外部からの指示に基づいて一の前記
発光素子を順次選択し、前記選択した前記発光素子を駆
動する選択駆動工程と、前記発光素子により射出され、
かつ、測定対象試料を透過した前記測定光を受光する受
光工程と、を備えて構成する。
載の記載の発明の作用に加えて、車種部部は、一または
複数の平面上に射出部を配置されるので、発光特性の差
を考慮した配置にできる。請求項9記載の発明は、射出
部を有し、駆動信号に基づいて互いに相異なる発光波長
を有する測定光を前記射出部からそれぞれ射出する複数
の発光素子を備えた吸光特性測定装置における吸光特性
測定方法であって、外部からの指示に基づいて一の前記
発光素子を順次選択し、前記選択した前記発光素子を駆
動する選択駆動工程と、前記発光素子により射出され、
かつ、測定対象試料を透過した前記測定光を受光する受
光工程と、を備えて構成する。
【0039】請求項9記載の発明によれば、選択駆動工
程は、外部からの指示に基づいて一の発光素子を順次選
択し、選択した発光素子を駆動する。受光工程は、発光
素子により射出され、かつ、測定対象試料を透過した測
定光を受光する。
程は、外部からの指示に基づいて一の発光素子を順次選
択し、選択した発光素子を駆動する。受光工程は、発光
素子により射出され、かつ、測定対象試料を透過した測
定光を受光する。
【0040】請求項10記載の発明は、射出部を有し、
駆動信号に基づいて互いに相異なる発光波長を有する測
定光を前記射出部からそれぞれ射出する複数の発光素子
を備えた吸光特性測定装置において、外部からの指示に
基づいて一の前記発光素子を順次選択し、前記選択した
前記発光素子を駆動する選択駆動工程と、前記発光素子
により射出され、かつ、測定対象試料により反射された
前記測定光を受光する受光工程と、を備えて構成する。
駆動信号に基づいて互いに相異なる発光波長を有する測
定光を前記射出部からそれぞれ射出する複数の発光素子
を備えた吸光特性測定装置において、外部からの指示に
基づいて一の前記発光素子を順次選択し、前記選択した
前記発光素子を駆動する選択駆動工程と、前記発光素子
により射出され、かつ、測定対象試料により反射された
前記測定光を受光する受光工程と、を備えて構成する。
【0041】請求項10記載の発明によれば、選択駆動
工程は、外部からの指示に基づいて一の発光素子を順次
選択し、選択した発光素子を駆動する。受光工程は、発
光素子により射出され、かつ、測定対象試料により反射
された測定光を受光する。
工程は、外部からの指示に基づいて一の発光素子を順次
選択し、選択した発光素子を駆動する。受光工程は、発
光素子により射出され、かつ、測定対象試料により反射
された測定光を受光する。
【0042】請求項11記載の発明は、請求項9または
請求項10記載の発明において、少なくとも前記測定対
象試料に前記測定光が入射する時点では、前記複数の発
光素子の主光軸をほぼ一致させる集光工程を備えて構成
する。請求項11記載の発明によれば、請求項9または
請求項10記載の発明の作用に加えて、集光工程は、少
なくとも測定対象試料に測定光が入射する時点では、複
数の発光素子の主光軸をほぼ一致させる。
請求項10記載の発明において、少なくとも前記測定対
象試料に前記測定光が入射する時点では、前記複数の発
光素子の主光軸をほぼ一致させる集光工程を備えて構成
する。請求項11記載の発明によれば、請求項9または
請求項10記載の発明の作用に加えて、集光工程は、少
なくとも測定対象試料に測定光が入射する時点では、複
数の発光素子の主光軸をほぼ一致させる。
【0043】
【発明の実施の形態】次に図面を参照して本発明の実施
形態を説明する。第1実施形態 図1に吸光特性測定装置の概要構成ブロック図を示す。
形態を説明する。第1実施形態 図1に吸光特性測定装置の概要構成ブロック図を示す。
【0044】吸光特性測定装置1は、外部の制御用コン
ピュータ2のセントロニクス準拠プリンタポート(8ビ
ットのパラレルデータラインPDL、1ビットの制御ラ
インCMDL、状態情報ラインである1ビットのビジー
(BUSY)ラインBSYL、状態情報ラインである1ビッ
トのスタンドバイ(STB)ラインSTBLを備えてい
る。)との間でインターフェース動作を行うパラレルイ
ンターフェース部3と、パラレルインターフェース部3
を介して入力される制御ディジタルデータCDに基づい
て吸光特性測定装置1全体の制御を行うコントロール部
4と、コントロール部4の出力する駆動制御データDDR
V制御下で、互いに相異なる発光波長を有する測定光L1
〜Lnを射出部E1〜Enからそれぞれ射出するn個
(n:2以上の整数)の発光ダイオード(LED)5-1
〜5-nを備えた測定光射出部5と、図示しない測定対象
試料により反射されたあるいは測定対象試料を透過した
測定光L1〜Lnを受光し、原検出信号S0を出力するフ
ォトダイオード6と、原検出信号S0の前置増幅を行い
前置増幅検出信号S1を出力する前置増幅回路7と、前
置増幅検出信号S1を増幅して増幅検出信号S2として出
力する増幅回路8と、増幅検出信号S2を予め設定され
た基準検出信号と比較することにより検出信号Sを出力
する比較回路9と、検出信号Sのアナログ/ディジタル
変換を行い、検出データDを出力するA/D変換回路1
0と、同一測定対象試料に対応する複数の検出データ、
すなわち、制御ディジタルデータCDにより指定した一
または複数の発光ダイオードに対応する一または複数の
検出データDを選択してパラレル/シリアル変換し、ビ
ジー(BUSY)信号ラインBSYLを介してシリアル検出
データDSとして順次出力するシリアルデータ信号選択
回路11と、発光ダイオード5-1〜5-nに駆動用電源を
供給するダイオード駆動電源12と、を備えて構成され
ている。
ピュータ2のセントロニクス準拠プリンタポート(8ビ
ットのパラレルデータラインPDL、1ビットの制御ラ
インCMDL、状態情報ラインである1ビットのビジー
(BUSY)ラインBSYL、状態情報ラインである1ビッ
トのスタンドバイ(STB)ラインSTBLを備えてい
る。)との間でインターフェース動作を行うパラレルイ
ンターフェース部3と、パラレルインターフェース部3
を介して入力される制御ディジタルデータCDに基づい
て吸光特性測定装置1全体の制御を行うコントロール部
4と、コントロール部4の出力する駆動制御データDDR
V制御下で、互いに相異なる発光波長を有する測定光L1
〜Lnを射出部E1〜Enからそれぞれ射出するn個
(n:2以上の整数)の発光ダイオード(LED)5-1
〜5-nを備えた測定光射出部5と、図示しない測定対象
試料により反射されたあるいは測定対象試料を透過した
測定光L1〜Lnを受光し、原検出信号S0を出力するフ
ォトダイオード6と、原検出信号S0の前置増幅を行い
前置増幅検出信号S1を出力する前置増幅回路7と、前
置増幅検出信号S1を増幅して増幅検出信号S2として出
力する増幅回路8と、増幅検出信号S2を予め設定され
た基準検出信号と比較することにより検出信号Sを出力
する比較回路9と、検出信号Sのアナログ/ディジタル
変換を行い、検出データDを出力するA/D変換回路1
0と、同一測定対象試料に対応する複数の検出データ、
すなわち、制御ディジタルデータCDにより指定した一
または複数の発光ダイオードに対応する一または複数の
検出データDを選択してパラレル/シリアル変換し、ビ
ジー(BUSY)信号ラインBSYLを介してシリアル検出
データDSとして順次出力するシリアルデータ信号選択
回路11と、発光ダイオード5-1〜5-nに駆動用電源を
供給するダイオード駆動電源12と、を備えて構成され
ている。
【0045】ところで、発光ダイオード5-1〜5-nの許
容電流が規制されているため、直流電源で連続発光させ
るとするならば、ピーク輝度は連続許容電流に比例した
ものとなるため、本実施形態のダイオード駆動電源12
は、パルス駆動(例えば、1[msec]毎に1[ms
ec]点灯)することとし、ピーク輝度を高くして用い
ている。なお、発光素子として半導体レーザなどの他の
素子を用いる場合でも許容電流は規制されているため、
同様の取扱が可能となる。
容電流が規制されているため、直流電源で連続発光させ
るとするならば、ピーク輝度は連続許容電流に比例した
ものとなるため、本実施形態のダイオード駆動電源12
は、パルス駆動(例えば、1[msec]毎に1[ms
ec]点灯)することとし、ピーク輝度を高くして用い
ている。なお、発光素子として半導体レーザなどの他の
素子を用いる場合でも許容電流は規制されているため、
同様の取扱が可能となる。
【0046】次に発光ダイオード5-1〜5-nの具体例に
ついて説明する。発光ダイオード5-1〜5-nとしては、
例えば、図2に示すように、発光波長(ピーク波長)が
波長450[nm]、470[nm]、555[n
m]、562[nm]、565[nm]、590[n
m]、610[nm]、623[nm]、635[n
m]、644[nm]、660[nm]、波長700
[nm]のように互いに相異なる発光波長を有する発光
ダイオードのうちから、測定対象試料に応じた複数の発
光ダイオードを任意に選択して用いるようにすればよ
い。
ついて説明する。発光ダイオード5-1〜5-nとしては、
例えば、図2に示すように、発光波長(ピーク波長)が
波長450[nm]、470[nm]、555[n
m]、562[nm]、565[nm]、590[n
m]、610[nm]、623[nm]、635[n
m]、644[nm]、660[nm]、波長700
[nm]のように互いに相異なる発光波長を有する発光
ダイオードのうちから、測定対象試料に応じた複数の発
光ダイオードを任意に選択して用いるようにすればよ
い。
【0047】発光ダイオードの発光波長は、材料とする
半導体の成分やその割合で様々に変化し、例えば、発光
波長590[nm]の発光ダイオードの接合部材料は、 InGaAlP/GaP である。
半導体の成分やその割合で様々に変化し、例えば、発光
波長590[nm]の発光ダイオードの接合部材料は、 InGaAlP/GaP である。
【0048】次に具体的な測定動作の説明に先立ち、発
光ダイオード及びフォトダイオードの配置について図3
乃至図7を参照して具体的に説明する。1)透過法の場合 まず、透過法により測定対象試料の吸光特性を測定する
場合の発光ダイオード及びフォトダイオードの配置につ
いて説明する。以下の説明においては、説明の簡略化の
ため、発光ダイオードの個数n=6の場合について説明
する。
光ダイオード及びフォトダイオードの配置について図3
乃至図7を参照して具体的に説明する。1)透過法の場合 まず、透過法により測定対象試料の吸光特性を測定する
場合の発光ダイオード及びフォトダイオードの配置につ
いて説明する。以下の説明においては、説明の簡略化の
ため、発光ダイオードの個数n=6の場合について説明
する。
【0049】発光ダイオード5-1〜5-6は、図3に示す
ように、それぞれの射出部E1〜E6が紙面に含まれる仮
想直線VL上に配置され、発光ダイオード5-1〜5-6と
フォトダイオード6との間の光路中には、集光手段とし
て機能する複数のミラーM1〜M6及び三角柱状のプリズ
ムPLが配置されている。
ように、それぞれの射出部E1〜E6が紙面に含まれる仮
想直線VL上に配置され、発光ダイオード5-1〜5-6と
フォトダイオード6との間の光路中には、集光手段とし
て機能する複数のミラーM1〜M6及び三角柱状のプリズ
ムPLが配置されている。
【0050】この場合において、ミラーM1〜M6は、対
応する発光ダイオード5-1〜5-6の測定光L1〜L6を反
射してプリズムPLに入射するようになされており、発
光ダイオードL5-1〜5-6とミラーM1〜M6は、プリズ
ムPLから射出される測定光L1〜L6の主光軸がほぼ一
致するように測定光L1〜L6のミラーM1〜M6への入射
角及びミラーM1〜M6についての測定光L1〜L6の反射
光のプリズムPLへの入射角が設定され、配置されてい
る。
応する発光ダイオード5-1〜5-6の測定光L1〜L6を反
射してプリズムPLに入射するようになされており、発
光ダイオードL5-1〜5-6とミラーM1〜M6は、プリズ
ムPLから射出される測定光L1〜L6の主光軸がほぼ一
致するように測定光L1〜L6のミラーM1〜M6への入射
角及びミラーM1〜M6についての測定光L1〜L6の反射
光のプリズムPLへの入射角が設定され、配置されてい
る。
【0051】なお、測定対象試料SMPが十分均一であ
ると見なせる領域に測定光L1〜L6が入射するのであれ
ば、主光軸を厳密に一致させる必要はない。これらの結
果、ミラーM1〜M6及びプリズムPLにおける反射損失
はきわめて少ないので、測定光の照射効率を非常に高く
維持することが可能となり、高精度の測定を可能として
いる。
ると見なせる領域に測定光L1〜L6が入射するのであれ
ば、主光軸を厳密に一致させる必要はない。これらの結
果、ミラーM1〜M6及びプリズムPLにおける反射損失
はきわめて少ないので、測定光の照射効率を非常に高く
維持することが可能となり、高精度の測定を可能として
いる。
【0052】上記構成では、発光ダイオード5-1〜5-6
の射出部E1〜E6を仮想直線VL上に配置するように構
成していたが、各発光ダイオード5-1〜5-6の発光特性
に基づいて各発光ダイオード5-1〜5-6の射出部E1〜
E6からフォトダイオード6までの距離を適宜設定する
ことも可能である。
の射出部E1〜E6を仮想直線VL上に配置するように構
成していたが、各発光ダイオード5-1〜5-6の発光特性
に基づいて各発光ダイオード5-1〜5-6の射出部E1〜
E6からフォトダイオード6までの距離を適宜設定する
ことも可能である。
【0053】また、上記構成では、ミラーM1〜M6を介
して測定光L1〜L6をプリズムPLに入射する構成とし
ていたが、発光ダイオードの配置、組立上の制限、装置
寸法などの制限を考慮しなければ、直接発光ダイオード
5-1〜5-6から測定光L1〜L6をプリズムPLに入射す
るように発光ダイオード5-1〜5-6を配置することも可
能である。
して測定光L1〜L6をプリズムPLに入射する構成とし
ていたが、発光ダイオードの配置、組立上の制限、装置
寸法などの制限を考慮しなければ、直接発光ダイオード
5-1〜5-6から測定光L1〜L6をプリズムPLに入射す
るように発光ダイオード5-1〜5-6を配置することも可
能である。
【0054】例えば、発光ダイオード5-1〜5-6をミラ
ーM1〜M6の位置に配置すればよい。2)反射法の場合 次に反射法により測定対象試料の吸光特性を測定する場
合の発光ダイオード及びフォトダイオードの配置につい
て説明する。
ーM1〜M6の位置に配置すればよい。2)反射法の場合 次に反射法により測定対象試料の吸光特性を測定する場
合の発光ダイオード及びフォトダイオードの配置につい
て説明する。
【0055】2−1) ミラー及びプリズムを用いる構
成の場合 発光ダイオード5-1〜5-6は、図4に示すように、それ
ぞれの射出部E1〜E6が紙面に含まれる仮想直線VL上
に配置されるように配置され、発光ダイオード5-1〜5
-6とフォトダイオード6との間の光路中には、集光手段
として機能する複数のミラーM1〜M6及び三角柱状のプ
リズムPLが配置されている。
成の場合 発光ダイオード5-1〜5-6は、図4に示すように、それ
ぞれの射出部E1〜E6が紙面に含まれる仮想直線VL上
に配置されるように配置され、発光ダイオード5-1〜5
-6とフォトダイオード6との間の光路中には、集光手段
として機能する複数のミラーM1〜M6及び三角柱状のプ
リズムPLが配置されている。
【0056】この場合においても、ミラーM1〜M6は、
対応する発光ダイオード5-1〜5-6の測定光L1〜L6を
反射してプリズムPLに入射するようになされており、
発光ダイオード5-1〜5-6とミラーM1〜M6は、プリズ
ムPLから射出される測定光L1〜L6の主光軸がほぼ一
致するように測定光L1〜L6のミラーM1〜M6への入射
角及びミラーM1〜M6についての測定光L1〜L6の反射
光のプリズムPLへの入射角が設定され、配置されてい
る。
対応する発光ダイオード5-1〜5-6の測定光L1〜L6を
反射してプリズムPLに入射するようになされており、
発光ダイオード5-1〜5-6とミラーM1〜M6は、プリズ
ムPLから射出される測定光L1〜L6の主光軸がほぼ一
致するように測定光L1〜L6のミラーM1〜M6への入射
角及びミラーM1〜M6についての測定光L1〜L6の反射
光のプリズムPLへの入射角が設定され、配置されてい
る。
【0057】しかしながら、プリズムPLを出射した測
定光L1〜L6の測定対象試料に対する入射角θINは、測
定対象試料SMPの法線LXに対するフォトダイオード
6の方向角θOUTを入射角θINとは適宜異ならせる、す
なわち、 θIN≠θOUT とする必要がある。なぜなら、 θIN=θOUT とすると、測定対象試料SMPの表面で直接反射した測
定光L1〜L6がフォトダイオード6に入射することとな
るが、測定対象試料SMPの表面で直接反射した測定光
L1〜L6には測定対象試料の吸光特性は反映されないの
で、誤差を含む測定を行うこととなるためである。
定光L1〜L6の測定対象試料に対する入射角θINは、測
定対象試料SMPの法線LXに対するフォトダイオード
6の方向角θOUTを入射角θINとは適宜異ならせる、す
なわち、 θIN≠θOUT とする必要がある。なぜなら、 θIN=θOUT とすると、測定対象試料SMPの表面で直接反射した測
定光L1〜L6がフォトダイオード6に入射することとな
るが、測定対象試料SMPの表面で直接反射した測定光
L1〜L6には測定対象試料の吸光特性は反映されないの
で、誤差を含む測定を行うこととなるためである。
【0058】従って、方向角θOUTはフォトダイオード
6の入射光量の減少及び測定対象試料SMPの表面で反
射した測定光の入射光量を考慮した適当な角度に設定す
る必要があるのである。より詳細には、測定対象試料S
MP表面で直接反射した測定光(直接反射光)のフォト
ダイオード6への入射が少なく、測定対象試料SMP内
部で一部が吸収され反射された測定光(測定対象反射
光)のフォトダイオード6への入射量が測定に十分とな
るように方向角θOUTを設定する。例えば、直接反射角
の出射角に対して、方向角θOUTを10[゜]〜60
[゜]ずらして設定する。
6の入射光量の減少及び測定対象試料SMPの表面で反
射した測定光の入射光量を考慮した適当な角度に設定す
る必要があるのである。より詳細には、測定対象試料S
MP表面で直接反射した測定光(直接反射光)のフォト
ダイオード6への入射が少なく、測定対象試料SMP内
部で一部が吸収され反射された測定光(測定対象反射
光)のフォトダイオード6への入射量が測定に十分とな
るように方向角θOUTを設定する。例えば、直接反射角
の出射角に対して、方向角θOUTを10[゜]〜60
[゜]ずらして設定する。
【0059】なお、透過法の場合と同様に、測定対象試
料SMPが十分均一であると見なせる領域に測定光L1
〜L6が入射するのであれば、主光軸を厳密に一致させ
る必要はない。上記説明においては、組立を容易にすべ
く、発光ダイオード5-1〜5-6の射出部E1〜E6が紙面
に含まれる仮想直線VL上に配置されるように配置して
いたが、あくまで、射出部E1〜E6がミラーM1〜M6に
対向するようにし、フォトダイオード6への入射光量が
確保されれば、その配置は任意である。逆に各発光ダイ
オード5-1〜5-6の発光特性の差を考慮して、光量調整
を行うべく、フォトダイオード6までの光路長を適宜調
整して配置するように構成することも可能である。
料SMPが十分均一であると見なせる領域に測定光L1
〜L6が入射するのであれば、主光軸を厳密に一致させ
る必要はない。上記説明においては、組立を容易にすべ
く、発光ダイオード5-1〜5-6の射出部E1〜E6が紙面
に含まれる仮想直線VL上に配置されるように配置して
いたが、あくまで、射出部E1〜E6がミラーM1〜M6に
対向するようにし、フォトダイオード6への入射光量が
確保されれば、その配置は任意である。逆に各発光ダイ
オード5-1〜5-6の発光特性の差を考慮して、光量調整
を行うべく、フォトダイオード6までの光路長を適宜調
整して配置するように構成することも可能である。
【0060】2−2) 測定光を直接測定対象試料に照
射する構成の場合 発光ダイオード5-1〜5-6は、図5(a)、(b)に示
すように、それぞれの射出部E1〜E6を測定対象試料S
MPの測定対象中心P0を中心とする球CCを仮定し、
球CCの中心(=P0)を通る仮想直線LL1に垂直な
平面PPと球CCの球面とが交差することにより得られ
る球面曲線である円CLの上に測定光L1〜L6の主光軸
が球CCの中心(=P0)を通るように配置されてい
る。
射する構成の場合 発光ダイオード5-1〜5-6は、図5(a)、(b)に示
すように、それぞれの射出部E1〜E6を測定対象試料S
MPの測定対象中心P0を中心とする球CCを仮定し、
球CCの中心(=P0)を通る仮想直線LL1に垂直な
平面PPと球CCの球面とが交差することにより得られ
る球面曲線である円CLの上に測定光L1〜L6の主光軸
が球CCの中心(=P0)を通るように配置されてい
る。
【0061】さらに仮想直線LL1上にフォトダイオー
ド6の受光面を配置している。従って、上述の(2−
1)の場合と同様に、測定対象試料SMPの表面で直接
反射した測定光L1〜L6がフォトダイオード6に入射す
るのを抑制することができる。
ド6の受光面を配置している。従って、上述の(2−
1)の場合と同様に、測定対象試料SMPの表面で直接
反射した測定光L1〜L6がフォトダイオード6に入射す
るのを抑制することができる。
【0062】上記発光ダイオード5-1〜5-6の配置は、
一例であり、測定対象試料SMPの測定対象中心P0に
ほぼ垂直な直線を仮定し、この仮想直線上であって、測
定対象試料SMPと対向する位置にフォトダイオード6
の受光面を配置し、測定対象中心P0を通り前記仮想直
線に垂直な平面で測定対象中心P0を中心とする球を分
割した半球を仮定し、測定光L1〜L6の主光軸が半球の
うち測定対象中心に対してフォトダイオード6の受光面
と同一方向にある半球の球面を通り測定対象中心P0を
端点とする半直線の一部を含み、かつ、測定光L1〜L6
がフォトダイオード6の受光面に入射する位置に射出部
E1〜E6を配置するように構成することにより、同様の
効果が得られる。
一例であり、測定対象試料SMPの測定対象中心P0に
ほぼ垂直な直線を仮定し、この仮想直線上であって、測
定対象試料SMPと対向する位置にフォトダイオード6
の受光面を配置し、測定対象中心P0を通り前記仮想直
線に垂直な平面で測定対象中心P0を中心とする球を分
割した半球を仮定し、測定光L1〜L6の主光軸が半球の
うち測定対象中心に対してフォトダイオード6の受光面
と同一方向にある半球の球面を通り測定対象中心P0を
端点とする半直線の一部を含み、かつ、測定光L1〜L6
がフォトダイオード6の受光面に入射する位置に射出部
E1〜E6を配置するように構成することにより、同様の
効果が得られる。
【0063】2−3) 測定光を反射筒を介して測定対
象試料に照射する構成の場合 フォトダイオード6の受光面は、図6(a)、(b)に
示すように、測定対象試料SMPの測定対象中心P0を
通る仮想直線LL1上であって、測定対象試料SMPと
対向する位置配置されている。
象試料に照射する構成の場合 フォトダイオード6の受光面は、図6(a)、(b)に
示すように、測定対象試料SMPの測定対象中心P0を
通る仮想直線LL1上であって、測定対象試料SMPと
対向する位置配置されている。
【0064】また、発光ダイオード5-1〜5-6は、仮想
直線LL1に垂直な平面PP1を仮定し、仮想直線LL
1と平面PP1の交点X0を中心とする平面PP1上の
円CL1の円周上に射出部E1〜E6を配置している。さ
らに測定光L1〜L6の主光軸が測定対象試料SMPの中
心P0を通るように測定光L1〜L6の光路中に測定光L1
〜L6を反射する反射筒20が配置されている。
直線LL1に垂直な平面PP1を仮定し、仮想直線LL
1と平面PP1の交点X0を中心とする平面PP1上の
円CL1の円周上に射出部E1〜E6を配置している。さ
らに測定光L1〜L6の主光軸が測定対象試料SMPの中
心P0を通るように測定光L1〜L6の光路中に測定光L1
〜L6を反射する反射筒20が配置されている。
【0065】この結果、上述の(2−1)の場合と同様
に、測定対象試料SMPの表面で直接反射した測定光L
1〜L6がフォトダイオード6に入射するのを抑制するこ
とができる。上記発光ダイオード5-1〜5-6の配置は、
一例であり、測定対象試料SMPの測定対象中心P0に
ほぼ垂直な直線を仮定し、この仮想直線上であって、測
定対象試料SMPと対向する位置にフォトダイオード6
の受光面を配置し、射出部E1〜E6から射出された測定
光L1〜L6の主光軸が測定対象中心P0を通り、かつ、
測定光L1〜L6がフォトダイオード6の受光面に入射す
るように測定光L1〜L6の光路中に測定光L1〜L6を反
射する同様の反射手段(ミラーなど)を設けることによ
り同様の効果が得られる。実施形態の測定動作 次に具体的な測定動作を説明する。
に、測定対象試料SMPの表面で直接反射した測定光L
1〜L6がフォトダイオード6に入射するのを抑制するこ
とができる。上記発光ダイオード5-1〜5-6の配置は、
一例であり、測定対象試料SMPの測定対象中心P0に
ほぼ垂直な直線を仮定し、この仮想直線上であって、測
定対象試料SMPと対向する位置にフォトダイオード6
の受光面を配置し、射出部E1〜E6から射出された測定
光L1〜L6の主光軸が測定対象中心P0を通り、かつ、
測定光L1〜L6がフォトダイオード6の受光面に入射す
るように測定光L1〜L6の光路中に測定光L1〜L6を反
射する同様の反射手段(ミラーなど)を設けることによ
り同様の効果が得られる。実施形態の測定動作 次に具体的な測定動作を説明する。
【0066】まず、外部の制御用コンピュータ2は、操
作者の操作により、予めプログラムされた手順により、
セントロニクス準拠プリンタポートを介して測定制御デ
ータ群を吸光特性測定装置1のパラレルインターフェー
ス部3に出力する。これによりパラレルインターフェー
ス部3は、インターフェース動作を行い、パラレルデー
タラインPDLを介して制御ディジタルデータCDをコ
ントロール部4及びシリアルデータ転送信号選択回路1
1に出力し、制御ラインCMDLを介して制御信号をコ
ントロール部4に出力する。
作者の操作により、予めプログラムされた手順により、
セントロニクス準拠プリンタポートを介して測定制御デ
ータ群を吸光特性測定装置1のパラレルインターフェー
ス部3に出力する。これによりパラレルインターフェー
ス部3は、インターフェース動作を行い、パラレルデー
タラインPDLを介して制御ディジタルデータCDをコ
ントロール部4及びシリアルデータ転送信号選択回路1
1に出力し、制御ラインCMDLを介して制御信号をコ
ントロール部4に出力する。
【0067】コントロール部4は、信号保持回路(デー
タラッチ)4Aに制御ディジタルデータCD及び制御信
号をラッチし、発光素子選択回路4Bにより駆動制御デ
ータDDRVを測定光射出部5に出力する。測定光射出部
5は、駆動制御データDDRVに基づいて当該駆動制御デ
ータDDRVに対応する一または複数の発光ダイオードを
ダイオード駆動電源12から供給される駆動用電源を用
いて所定時間間隔(測定時間間隔)毎に順次パルス点灯
させる。この場合において、各発光ダイオードに印加さ
れるパルス電圧は、各発光ダイオードの発光特性に応じ
て補正されている。
タラッチ)4Aに制御ディジタルデータCD及び制御信
号をラッチし、発光素子選択回路4Bにより駆動制御デ
ータDDRVを測定光射出部5に出力する。測定光射出部
5は、駆動制御データDDRVに基づいて当該駆動制御デ
ータDDRVに対応する一または複数の発光ダイオードを
ダイオード駆動電源12から供給される駆動用電源を用
いて所定時間間隔(測定時間間隔)毎に順次パルス点灯
させる。この場合において、各発光ダイオードに印加さ
れるパルス電圧は、各発光ダイオードの発光特性に応じ
て補正されている。
【0068】これによりフォトダイオード6は、測定対
象試料SMP(図3乃至図6参照)により反射されたあ
るいは測定対象試料を透過した測定光L1〜Lnを受光
し、原検出信号S0を前置増幅回路7に出力する。前置
増幅回路7は、原検出信号S0の前置増幅を行い前置増
幅検出信号S1を増幅回路8に出力する。
象試料SMP(図3乃至図6参照)により反射されたあ
るいは測定対象試料を透過した測定光L1〜Lnを受光
し、原検出信号S0を前置増幅回路7に出力する。前置
増幅回路7は、原検出信号S0の前置増幅を行い前置増
幅検出信号S1を増幅回路8に出力する。
【0069】増幅回路8は、前置増幅検出信号S1を増
幅して増幅検出信号S2として比較回路9に出力する。
比較回路9は、増幅検出信号S2を予め設定された基準
検出信号と比較することにより検出信号SをA/D変換
回路10に出力する。A/D変換回路10は、検出信号
Sのアナログ/ディジタル変換を行い、検出データDを
シリアルデータ転送信号選択回路11は、同一測定対象
試料に対応する複数の検出データ、すなわち、制御ディ
ジタルデータCDにより指定した一または複数の発光ダ
イオードに対応する一または複数の検出データDを選択
してパラレル/シリアル変換し、ビジー(BUSY)信号ラ
インBSYLを介してシリアル検出データDSとして外
部の制御用コンピュータ2に順次出力する。
幅して増幅検出信号S2として比較回路9に出力する。
比較回路9は、増幅検出信号S2を予め設定された基準
検出信号と比較することにより検出信号SをA/D変換
回路10に出力する。A/D変換回路10は、検出信号
Sのアナログ/ディジタル変換を行い、検出データDを
シリアルデータ転送信号選択回路11は、同一測定対象
試料に対応する複数の検出データ、すなわち、制御ディ
ジタルデータCDにより指定した一または複数の発光ダ
イオードに対応する一または複数の検出データDを選択
してパラレル/シリアル変換し、ビジー(BUSY)信号ラ
インBSYLを介してシリアル検出データDSとして外
部の制御用コンピュータ2に順次出力する。
【0070】この結果、外部の制御用コンピュータ2
は、入力された一または複数のシリアル検出データDS
に基づいて単一波長による吸光特性あるいは複数波長に
よる吸光特性により定性分析処理や定量分析処理を行
い、図示しないディスプレイに吸光特性測定結果を表示
することとなる。
は、入力された一または複数のシリアル検出データDS
に基づいて単一波長による吸光特性あるいは複数波長に
よる吸光特性により定性分析処理や定量分析処理を行
い、図示しないディスプレイに吸光特性測定結果を表示
することとなる。
【0071】以上の説明のように本実施形態によれば、
単純な光学系を有するにも関わらず、発光波長が異なる
複数の発光ダイオード(発光素子)による複数の検出デ
ータDに基づいて測定対象試料の吸光値を比較すること
ができるので、単波長の吸光測定に比較して精度の高い
測定(検量)が可能となる。この結果、参照系統の測定
を省略することができる。さらに光学系が簡素化された
結果、測定光の減衰も少なくなるため、後段で高増幅率
のアンプを用いる必要がなくなり、ノイズ及び温度ドリ
フトの影響を低減することが可能となる。
単純な光学系を有するにも関わらず、発光波長が異なる
複数の発光ダイオード(発光素子)による複数の検出デ
ータDに基づいて測定対象試料の吸光値を比較すること
ができるので、単波長の吸光測定に比較して精度の高い
測定(検量)が可能となる。この結果、参照系統の測定
を省略することができる。さらに光学系が簡素化された
結果、測定光の減衰も少なくなるため、後段で高増幅率
のアンプを用いる必要がなくなり、ノイズ及び温度ドリ
フトの影響を低減することが可能となる。
【0072】また、以上の説明においては、発光素子と
して、発光ダイオードを用いていたが、半導体レーザな
どの発熱の少ない光源を用いることも可能である。さら
に光源の発熱及び測定光に含まれる熱エネルギーを低減
することができるため測定対象試料の乾燥を抑制するこ
とも可能となっている。
して、発光ダイオードを用いていたが、半導体レーザな
どの発熱の少ない光源を用いることも可能である。さら
に光源の発熱及び測定光に含まれる熱エネルギーを低減
することができるため測定対象試料の乾燥を抑制するこ
とも可能となっている。
【0073】さらにまた、装置構成も簡略化され、複雑
な光学系を設ける必要がないので、安定、かつ、経済的
な吸光特性測定装置を実現することができる。また、装
置構成の簡略化に伴い、その操作も制御用コンピュータ
を介して容易に行うことができるため、小中学校におけ
る理科教育、在宅臨床検査、一般市民による屋外での環
境検査などの場合のように、機器の操作に熟達していな
い操作者が容易に吸光特性測定(比色測定)を行える。第1実施形態の変形例 上記吸光特性測定装置1における測定可能な波長域は発
光素子(発光ダイオード)の組み合わせにより定まる。
な光学系を設ける必要がないので、安定、かつ、経済的
な吸光特性測定装置を実現することができる。また、装
置構成の簡略化に伴い、その操作も制御用コンピュータ
を介して容易に行うことができるため、小中学校におけ
る理科教育、在宅臨床検査、一般市民による屋外での環
境検査などの場合のように、機器の操作に熟達していな
い操作者が容易に吸光特性測定(比色測定)を行える。第1実施形態の変形例 上記吸光特性測定装置1における測定可能な波長域は発
光素子(発光ダイオード)の組み合わせにより定まる。
【0074】従って、相異なる発光波長を有する発光素
子を多く、かつ、その総合的な発光波長領域を広くすれ
ばするほど広帯域で高分解能の測定が可能である。しか
し、農作物の葉色比較や血液、尿などの分析など、用途
が限定された測定装置においては、試薬や吸収波長が定
まっているため、広帯域の測定は不要である。
子を多く、かつ、その総合的な発光波長領域を広くすれ
ばするほど広帯域で高分解能の測定が可能である。しか
し、農作物の葉色比較や血液、尿などの分析など、用途
が限定された測定装置においては、試薬や吸収波長が定
まっているため、広帯域の測定は不要である。
【0075】例えば、グルコース測定用スライドを例に
採って説明する。グルコース測定用スライドフィルムに
は、検出試薬として周知のトラインダー試薬(トライン
ダー試薬はグルコースオキシターゼ、ベルオキシター
ゼ、アミノアンチピリン、ジヒドロナフタレンなど)を
ゼラチンに分散させたものである。
採って説明する。グルコース測定用スライドフィルムに
は、検出試薬として周知のトラインダー試薬(トライン
ダー試薬はグルコースオキシターゼ、ベルオキシター
ゼ、アミノアンチピリン、ジヒドロナフタレンなど)を
ゼラチンに分散させたものである。
【0076】このグルコース測定用スライドフィルムに
血液を滴下すると、血液中のグルコースがトラインダー
試薬を含浸させた試薬層に拡散し、グルコースオキシタ
ーゼによりグルコース分解されトラインダー試薬との反
応が進行すると色素生成反応が定量的に進行する。
血液を滴下すると、血液中のグルコースがトラインダー
試薬を含浸させた試薬層に拡散し、グルコースオキシタ
ーゼによりグルコース分解されトラインダー試薬との反
応が進行すると色素生成反応が定量的に進行する。
【0077】グルコース分解反応により生じた色素の吸
収波長は505[nm]近傍である。しかし、図2に示
したように、発光波長が505[nm]である発光ダイ
オードはないので、この色素の吸収波長近傍の発光波長
を有する発光ダイオードを用いて単波長での吸光測定が
原理的には可能である。
収波長は505[nm]近傍である。しかし、図2に示
したように、発光波長が505[nm]である発光ダイ
オードはないので、この色素の吸収波長近傍の発光波長
を有する発光ダイオードを用いて単波長での吸光測定が
原理的には可能である。
【0078】しかしながら、現実的には以下の要因が複
雑に絡んで定量化は困難である。 1) 原検出信号を増幅する前置増幅回路7や増幅回路
8の増幅率調整誤差 2) 前置増幅回路7や増幅回路8のドリフト 3) 発光ダイオードの輝度調節誤差 4) 測定対象試料SMPの保持姿勢の誤差による投受
光角度の変動 5) グルコース測定用スライドフィルムの試薬層の特
性差 6) 温度差に起因する反応速度と呈色誤差 そこで、これらの要因に起因する測定誤差を除去すべ
く、測定対象試料であるグルコース測定用スライドフィ
ルム測定対象が吸収しない発光波長を有する発光ダイオ
ードによる測定光を参照光として照射し、参照データと
しての検出データDを得る。
雑に絡んで定量化は困難である。 1) 原検出信号を増幅する前置増幅回路7や増幅回路
8の増幅率調整誤差 2) 前置増幅回路7や増幅回路8のドリフト 3) 発光ダイオードの輝度調節誤差 4) 測定対象試料SMPの保持姿勢の誤差による投受
光角度の変動 5) グルコース測定用スライドフィルムの試薬層の特
性差 6) 温度差に起因する反応速度と呈色誤差 そこで、これらの要因に起因する測定誤差を除去すべ
く、測定対象試料であるグルコース測定用スライドフィ
ルム測定対象が吸収しない発光波長を有する発光ダイオ
ードによる測定光を参照光として照射し、参照データと
しての検出データDを得る。
【0079】そして、次に測定対象を保持したまま、測
定対象試料であるグルコース測定用スライドフィルムの
吸収波長に最も近い波長を有する発光ダイオードによる
測定光を照射し、測定データとしての検出データDを得
る。これにより外部の制御用コンピュータは、得られた
参照データとしての検出データD及び測定データとして
の検出データの差あるいは比を求めることにより定量を
行い、図示しないディスプレイなどに表示するようにす
る。
定対象試料であるグルコース測定用スライドフィルムの
吸収波長に最も近い波長を有する発光ダイオードによる
測定光を照射し、測定データとしての検出データDを得
る。これにより外部の制御用コンピュータは、得られた
参照データとしての検出データD及び測定データとして
の検出データの差あるいは比を求めることにより定量を
行い、図示しないディスプレイなどに表示するようにす
る。
【0080】この手法によれば、従来の検査試料と参照
試料の二つの相異なる試料を2系統の測定系を用いて測
定する手法と比較して、単純かつ、誤差の少ない測定を
行うことが可能となる。第2実施形態 次に色温度識別装置として吸光特性測定装置を構成した
場合の第2実施形態について説明する。
試料の二つの相異なる試料を2系統の測定系を用いて測
定する手法と比較して、単純かつ、誤差の少ない測定を
行うことが可能となる。第2実施形態 次に色温度識別装置として吸光特性測定装置を構成した
場合の第2実施形態について説明する。
【0081】本第2実施形態の場合においても吸光特性
測定装置の構成は第1実施形態と同様であるので、発光
ダイオードと対応するフォトダイオード及び測定対象試
料の配置についてのみ図7(a)を参照して説明する。
以下の説明においては、発光ダイオードの個数n=3の
場合について説明する。
測定装置の構成は第1実施形態と同様であるので、発光
ダイオードと対応するフォトダイオード及び測定対象試
料の配置についてのみ図7(a)を参照して説明する。
以下の説明においては、発光ダイオードの個数n=3の
場合について説明する。
【0082】赤色に相当する発光波長を有する発光ダイ
オード5-1は、測定対象試料SMPを介して対応するフ
ォトダイオード6-1に対向する位置に配置されている。
同様に緑色に相当する発光波長を有する発光ダイオード
5-2は、測定対象試料SMPを介して対応するフォトダ
イオード6-2に対向する位置に配置され、青色に相当す
る発光波長を有する発光ダイオード5-3は、測定対象試
料SMPを介して対応するフォトダイオード6-3に対向
する位置に配置されている。
オード5-1は、測定対象試料SMPを介して対応するフ
ォトダイオード6-1に対向する位置に配置されている。
同様に緑色に相当する発光波長を有する発光ダイオード
5-2は、測定対象試料SMPを介して対応するフォトダ
イオード6-2に対向する位置に配置され、青色に相当す
る発光波長を有する発光ダイオード5-3は、測定対象試
料SMPを介して対応するフォトダイオード6-3に対向
する位置に配置されている。
【0083】この結果、肉眼では緑色に見える場合で
も、緑色を吸収しない色素による着色と、青色を吸収し
ない色素及び黄色を吸収しない色素の混合物による着色
は、スペクトルが全く異なるため容易に識別することが
できる。この場合において、各発光ダイオード5-1〜5
-3の点灯は順次行っても良いが、別々のフォトダイオー
ド6-1〜6-3を設けているため同時に点灯して瞬時に測
定を終了するように構成することも可能である。第2実施形態の変形例 上記第2実施形態においては、各発光素子(発光ダイオ
ード)に対して対応する受光素子(フォトダイオード)
を設けているため、対応する信号処理回路も複数設ける
必要があり装置構成が複雑となる。
も、緑色を吸収しない色素による着色と、青色を吸収し
ない色素及び黄色を吸収しない色素の混合物による着色
は、スペクトルが全く異なるため容易に識別することが
できる。この場合において、各発光ダイオード5-1〜5
-3の点灯は順次行っても良いが、別々のフォトダイオー
ド6-1〜6-3を設けているため同時に点灯して瞬時に測
定を終了するように構成することも可能である。第2実施形態の変形例 上記第2実施形態においては、各発光素子(発光ダイオ
ード)に対して対応する受光素子(フォトダイオード)
を設けているため、対応する信号処理回路も複数設ける
必要があり装置構成が複雑となる。
【0084】さらに各発光素子を同時に点灯した場合に
は、光線漏れによる計測誤差が生じやすい。そこで、図
7(b)に示すように、発光素子である発光ダイオード
のみを複数(図では3個;発光ダイオード5-1〜5-3)
設け、走査を行い、順次発光ダイオード5-1〜5-3を点
灯することにより1個のフォトダイオード6-4に入射さ
せるようにして、受光系統の構成を簡略化することが可
能である。
は、光線漏れによる計測誤差が生じやすい。そこで、図
7(b)に示すように、発光素子である発光ダイオード
のみを複数(図では3個;発光ダイオード5-1〜5-3)
設け、走査を行い、順次発光ダイオード5-1〜5-3を点
灯することにより1個のフォトダイオード6-4に入射さ
せるようにして、受光系統の構成を簡略化することが可
能である。
【0085】以上の各実施形態においては、外部の制御
用コンピュータと吸光特性測定装置との間をセントロニ
クス準拠プリンタポートを介して接続していたが、デー
タ入出力制御を周知の方法で行うことにより、シリアル
入出力ポート(例えば、RS232C)ユニバーサルI
/Oバスなど他の公知のインターフェース回路を用いる
ように構成することも可能である。
用コンピュータと吸光特性測定装置との間をセントロニ
クス準拠プリンタポートを介して接続していたが、デー
タ入出力制御を周知の方法で行うことにより、シリアル
入出力ポート(例えば、RS232C)ユニバーサルI
/Oバスなど他の公知のインターフェース回路を用いる
ように構成することも可能である。
【0086】また、測定対象試料としては、気体、液
体、固体のいずれの場合であっても、容器形状あるいは
反射測定もしくは透過測定を行うことにより、本実施形
態の適用が可能である。以上の説明のように、各実施形
態によれば、光学系を簡略化でき、操作も簡易なものと
することができ、装置コストも低減することができるの
で、小中学生、老人など機器の操作に熟練していないユ
ーザにも取扱が容易となり、学習用吸収特性測定装置あ
るいは家庭医療用吸収特性測定装置として用いることが
可能となる。
体、固体のいずれの場合であっても、容器形状あるいは
反射測定もしくは透過測定を行うことにより、本実施形
態の適用が可能である。以上の説明のように、各実施形
態によれば、光学系を簡略化でき、操作も簡易なものと
することができ、装置コストも低減することができるの
で、小中学生、老人など機器の操作に熟練していないユ
ーザにも取扱が容易となり、学習用吸収特性測定装置あ
るいは家庭医療用吸収特性測定装置として用いることが
可能となる。
【0087】
【発明の効果】請求項1記載の発明によれば、選択駆動
手段は、外部からの指示に基づいて一の発光素子を順次
選択し、駆動すべく駆動信号を出力し、各発光素子は、
駆動信号に基づいて互いに相異なる発光波長を有する測
定光を射出部からそれぞれ射出し、受光手段は、測定対
象試料を透過した測定光を受光して受光信号を出力する
ので、光学系を簡素化することができ、取扱が容易とな
る。
手段は、外部からの指示に基づいて一の発光素子を順次
選択し、駆動すべく駆動信号を出力し、各発光素子は、
駆動信号に基づいて互いに相異なる発光波長を有する測
定光を射出部からそれぞれ射出し、受光手段は、測定対
象試料を透過した測定光を受光して受光信号を出力する
ので、光学系を簡素化することができ、取扱が容易とな
る。
【0088】さらに光学系が簡素化された結果、受光手
段における信号強度が大きくなり、低い増幅率で信号を
取り扱うことができ、雑音や温度ドリフトの影響を受け
ることが少なくなる。さらに発光波長の異なる複数の発
光素子を順次駆動するので、スペクトル成分を定量的に
把握することができる。
段における信号強度が大きくなり、低い増幅率で信号を
取り扱うことができ、雑音や温度ドリフトの影響を受け
ることが少なくなる。さらに発光波長の異なる複数の発
光素子を順次駆動するので、スペクトル成分を定量的に
把握することができる。
【0089】さらにまた、発光素子として、発光ダイオ
ード、レーザダイオードなどを用いれば、赤外線の射出
がほとんどないため、測定対象試料の乾燥を防止するこ
とができ、乾燥を嫌う試料であっても正確な測定を行う
ことができる。請求項2記載の発明によれば、選択駆動
手段は、外部からの指示に基づいて一の発光素子を順次
選択し、駆動すべく駆動信号を出力し、各発光素子は、
駆動信号に基づいて互いに相異なる発光波長を有する測
定光を射出部からそれぞれ射出し、受光手段は、測定対
象試料により反射された測定光を受光して受光信号を出
力するので、反射光学系においても、光学系を簡素化す
ることができ、取扱が容易となる。
ード、レーザダイオードなどを用いれば、赤外線の射出
がほとんどないため、測定対象試料の乾燥を防止するこ
とができ、乾燥を嫌う試料であっても正確な測定を行う
ことができる。請求項2記載の発明によれば、選択駆動
手段は、外部からの指示に基づいて一の発光素子を順次
選択し、駆動すべく駆動信号を出力し、各発光素子は、
駆動信号に基づいて互いに相異なる発光波長を有する測
定光を射出部からそれぞれ射出し、受光手段は、測定対
象試料により反射された測定光を受光して受光信号を出
力するので、反射光学系においても、光学系を簡素化す
ることができ、取扱が容易となる。
【0090】さらに光学系が簡素化された結果、受光手
段における信号強度が大きくなり、低い増幅率で信号を
取り扱うことができ、雑音や温度ドリフトの影響を受け
ることが少なくなる。さらに発光波長の異なる複数の発
光素子を順次駆動するので、スペクトル成分を定量的に
把握することができる。
段における信号強度が大きくなり、低い増幅率で信号を
取り扱うことができ、雑音や温度ドリフトの影響を受け
ることが少なくなる。さらに発光波長の異なる複数の発
光素子を順次駆動するので、スペクトル成分を定量的に
把握することができる。
【0091】さらにまた、発光素子として、発光ダイオ
ード、レーザダイオードなどを用いれば、赤外線の射出
がほとんどないため、測定対象試料の乾燥を防止するこ
とができ、乾燥を嫌う試料であっても正確な測定を行う
ことができる。請求項3記載の発明によれば、請求項1
または請求項2記載の発明の効果に加えて、集光手段
は、複数の発光素子の主光軸をほぼ一致させるので、測
定条件を複数の発光素子間で共通化することができ測定
結果の信頼性を向上させることができる。
ード、レーザダイオードなどを用いれば、赤外線の射出
がほとんどないため、測定対象試料の乾燥を防止するこ
とができ、乾燥を嫌う試料であっても正確な測定を行う
ことができる。請求項3記載の発明によれば、請求項1
または請求項2記載の発明の効果に加えて、集光手段
は、複数の発光素子の主光軸をほぼ一致させるので、測
定条件を複数の発光素子間で共通化することができ測定
結果の信頼性を向上させることができる。
【0092】請求項4記載の発明によれば、請求項3記
載の発明の効果に加えて、複数の発光素子はその配置に
基づき、集光手段のプリズムから射出される測定光の主
光軸をほぼ一致させるので、光学系を簡素化できるにも
かかわらず、測定条件を複数の発光素子間で共通化する
ことができ測定結果の信頼性を向上させることができ
る。
載の発明の効果に加えて、複数の発光素子はその配置に
基づき、集光手段のプリズムから射出される測定光の主
光軸をほぼ一致させるので、光学系を簡素化できるにも
かかわらず、測定条件を複数の発光素子間で共通化する
ことができ測定結果の信頼性を向上させることができ
る。
【0093】請求項5記載の発明によれば、請求項3記
載の発明の効果に加えて、反射手段及び複数の発光素子
は、それらの配置に基づき、集光手段のプリズムから射
出される測定光の主光軸をほぼ一致させるので、発光素
子の配置を容易とすることができ、光学系を簡素に構成
できるにもかかわらず、測定条件を複数の発光素子間で
共通化することができ測定結果の信頼性を向上させるこ
とができる。
載の発明の効果に加えて、反射手段及び複数の発光素子
は、それらの配置に基づき、集光手段のプリズムから射
出される測定光の主光軸をほぼ一致させるので、発光素
子の配置を容易とすることができ、光学系を簡素に構成
できるにもかかわらず、測定条件を複数の発光素子間で
共通化することができ測定結果の信頼性を向上させるこ
とができる。
【0094】請求項6記載の発明によれば、請求項2記
載の発明の効果に加えて、測定対象試料の表面により直
接反射された測定光が受光手段の受光面に入射するのを
抑制しつつ、測定光を受光手段の受光面に入射させるこ
とができるので、表面が光沢な測定対象試料であっても
測定光がマスキングされることなく正確な測定結果を得
ることが可能となる。
載の発明の効果に加えて、測定対象試料の表面により直
接反射された測定光が受光手段の受光面に入射するのを
抑制しつつ、測定光を受光手段の受光面に入射させるこ
とができるので、表面が光沢な測定対象試料であっても
測定光がマスキングされることなく正確な測定結果を得
ることが可能となる。
【0095】請求項7記載の発明によれば、請求項2記
載の発明の効果に加えて、反射手段は、射出部から射出
された測定光の主光軸が測定対象中心を通り、かつ、測
定光が受光手段の受光面に入射させるので、光学系を簡
素化することができ留にも関わらず、表面が光沢な測定
対象試料であっても測定光がマスキングされることなく
正確な測定結果を得ることが可能となる。
載の発明の効果に加えて、反射手段は、射出部から射出
された測定光の主光軸が測定対象中心を通り、かつ、測
定光が受光手段の受光面に入射させるので、光学系を簡
素化することができ留にも関わらず、表面が光沢な測定
対象試料であっても測定光がマスキングされることなく
正確な測定結果を得ることが可能となる。
【0096】請求項8記載の発明によれば、請求項7記
載の記載の発明の効果に加えて、車種部部は、一または
複数の平面上に射出部を配置されるので、発光特性の差
を考慮した配置にでき、設計の自由度が向上するととも
に、測定条件を複数の発光素子間で共通化することがで
き測定結果の信頼性を向上させることができる。
載の記載の発明の効果に加えて、車種部部は、一または
複数の平面上に射出部を配置されるので、発光特性の差
を考慮した配置にでき、設計の自由度が向上するととも
に、測定条件を複数の発光素子間で共通化することがで
き測定結果の信頼性を向上させることができる。
【0097】請求項9記載の発明によれば、選択駆動工
程は、外部からの指示に基づいて一の発光素子を順次選
択し、選択した発光素子を駆動し、受光工程は、発光素
子により射出され、かつ、測定対象試料を透過した測定
光を受光するので、光学系を簡素化することができ、取
扱が容易となる。さらに発光波長の異なる複数の発光素
子を順次駆動するので、スペクトル成分を定量的に把握
することができる。
程は、外部からの指示に基づいて一の発光素子を順次選
択し、選択した発光素子を駆動し、受光工程は、発光素
子により射出され、かつ、測定対象試料を透過した測定
光を受光するので、光学系を簡素化することができ、取
扱が容易となる。さらに発光波長の異なる複数の発光素
子を順次駆動するので、スペクトル成分を定量的に把握
することができる。
【0098】請求項10記載の発明によれば、選択駆動
工程は、外部からの指示に基づいて一の発光素子を順次
選択し、選択した発光素子を駆動し、受光工程は、発光
素子により射出され、かつ、測定対象試料により反射さ
れた測定光を受光するので、反射光学系においても、光
学系を簡素化することができ、取扱が容易となる。
工程は、外部からの指示に基づいて一の発光素子を順次
選択し、選択した発光素子を駆動し、受光工程は、発光
素子により射出され、かつ、測定対象試料により反射さ
れた測定光を受光するので、反射光学系においても、光
学系を簡素化することができ、取扱が容易となる。
【0099】さらに発光波長の異なる複数の発光素子を
順次駆動するので、スペクトル成分を定量的に把握する
ことができる。請求項11記載の発明によれば、請求項
9または請求項10記載の発明の効果に加えて、集光工
程は、少なくとも測定対象試料に測定光が入射する時点
では、複数の発光素子の主光軸をほぼ一致させるので、
光学系を簡素化できるにもかかわらず、測定条件を複数
の発光素子間で共通化することができ測定結果の信頼性
を向上させることができる。
順次駆動するので、スペクトル成分を定量的に把握する
ことができる。請求項11記載の発明によれば、請求項
9または請求項10記載の発明の効果に加えて、集光工
程は、少なくとも測定対象試料に測定光が入射する時点
では、複数の発光素子の主光軸をほぼ一致させるので、
光学系を簡素化できるにもかかわらず、測定条件を複数
の発光素子間で共通化することができ測定結果の信頼性
を向上させることができる。
【図1】吸光特性測定装置の概要構成ブロック図であ
る。
る。
【図2】発光ダイオードの材料説明図である。
【図3】第1実施形態の透過型光学系の説明図である。
【図4】第1実施形態の反射型光学系の説明図である。
【図5】第1実施形態において測定光を直接測定対象試
料に照射する場合の説明図である。
料に照射する場合の説明図である。
【図6】第1実施形態において測定光を間接的に測定対
象試料に照射する場合の説明図である。
象試料に照射する場合の説明図である。
【図7】第2実施形態の説明図である。
【図8】従来の吸光度測定装置の概要構成図である。
【図9】複数光源を用いた従来例の光学系の説明図であ
る。
る。
【図10】従来の色温度識別装置の光学系の説明図であ
る。
る。
1 吸光特性測定装置 2 制御用コンピュータ 3 パラレルインターフェース部 4 コントロール部 5 測定光射出部 5-1〜5-n 発光ダイオード(LED) 6 フォトダイオード 7 前置増幅回路 8 増幅回路 9 比較回路 10 A/D変換回路 11 シリアルデータ信号選択回路 12 ダイオード駆動電源 CD 制御ディジタルデータ DDRV 駆動制御データ D 検出データ DS シリアル検出データ E1〜En 射出部 L1〜Ln 測定光 S 検出信号 S0 原検出信号 S1 前置増幅検出信号 S2 増幅検出信号
Claims (11)
- 【請求項1】 射出部を有し、駆動信号に基づいて互い
に相異なる発光波長を有する測定光を前記射出部からそ
れぞれ射出する複数の発光素子と、 外部からの指示に基づいて一の前記発光素子を順次選択
し、駆動すべく前記駆動信号を出力する選択駆動手段
と、 前記発光素子により射出され、かつ、測定対象試料を透
過した前記測定光を受光して受光信号を出力する受光手
段と、 を備えたことを特徴とする吸光特性測定ユニット。 - 【請求項2】 射出部を有し、駆動信号に基づいて互い
に相異なる発光波長を有する測定光を前記射出部からそ
れぞれ射出する複数の発光素子と、 外部からの指示に基づいて一の前記発光素子を順次選択
し、駆動すべく前記駆動信号を出力する選択駆動手段
と、 前記発光素子により射出され、かつ、測定対象試料によ
り反射された前記測定光を受光して受光信号を出力する
受光手段と、 を備えたことを特徴とする吸光特性測定ユニット。 - 【請求項3】 請求項1または請求項2記載の吸光特性
測定ユニットにおいて、 前記発光素子と前記測定対象試料との光路中に配置され
るとともに、前記複数の発光素子の主光軸をほぼ一致さ
せる集光手段を備えたことを特徴とする吸光特性測定ユ
ニット。 - 【請求項4】 請求項3記載の吸光特性測定ユニットに
おいて、 前記集光手段は、プリズムを有しており、 前記複数の発光素子は、前記プリズムから射出される前
記測定光の主光軸がほぼ一致するように前記測定光の前
記プリズムへの入射角が設定され、配置されていること
を特徴とする吸光特性測定ユニット。 - 【請求項5】 請求項3記載の吸光特性測定ユニットに
おいて、 前記集光手段は、対応する発光素子の前記測定光を反射
する反射手段及び前記反射手段により反射された前記測
定光が入射されるプリズムを有しており、 前記反射手段及び前記複数の発光素子は、前記プリズム
から射出される前記測定光の主光軸がほぼ一致するよう
に前記測定光の前記反射手段への入射角及び前記反射手
段による前記測定光の反射光の前記プリズムへの入射角
が設定され、配置されていることを特徴とする吸光特性
測定ユニット。 - 【請求項6】 請求項2記載の吸光特性測定ユニットに
おいて、 前記測定対象試料の測定対象中心にほぼ垂直な直線を仮
定し、前記直線上であって、前記測定対象試料と対向す
る位置に前記受光手段の受光面を配置し、 前記測定対象中心を通り前記直線に垂直な平面で前記測
定対象中心を中心とする球を分割した半球を仮定し、前
記測定光の主光軸が前記半球のうち前記測定対象中心に
対して前記受光面と同一方向にある半球の球面を通り前
記測定対象中心を端点とする半直線の一部を含み、か
つ、前記測定光が前記受光面に入射する位置に前記射出
部を配置したことを特徴とする吸光特性測定ユニット。 - 【請求項7】 請求項2記載の吸光特性測定ユニットに
おいて、 前記測定対象試料の測定対象中心にほぼ垂直な直線を仮
定し、前記直線上であって、前記測定対象試料と対向す
る位置に前記受光手段の受光面を配置し、 前記射出部から射出された前記測定光の主光軸が前記測
定対象中心を通り、かつ、前記測定光が前記受光面に入
射するように前記測定光の光路中に前記測定光を反射す
る反射手段を設けたことを特徴とする吸光特性測定ユニ
ット。 - 【請求項8】 請求項7記載の吸光特性測定ユニットに
おいて、 前記直線に垂直な一または複数の平面を仮定し、前記平
面のうち、一または複数の平面上に前記射出部を配置し
たことを特徴とする吸光特性測定ユニット。 - 【請求項9】 射出部を有し、駆動信号に基づいて互い
に相異なる発光波長を有する測定光を前記射出部からそ
れぞれ射出する複数の発光素子を備えた吸光特性測定装
置における吸光特性測定方法であって、 外部からの指示に基づいて一の前記発光素子を順次選択
し、前記選択した前記発光素子を駆動する選択駆動工程
と、 前記発光素子により射出され、かつ、測定対象試料を透
過した前記測定光を受光する受光工程と、 を備えたことを特徴とする吸光特性測定方法。 - 【請求項10】 射出部を有し、駆動信号に基づいて互
いに相異なる発光波長を有する測定光を前記射出部から
それぞれ射出する複数の発光素子を備えた吸光特性測定
装置における吸光特性測定方法であって、 外部からの指示に基づいて一の前記発光素子を順次選択
し、前記選択した前記発光素子を駆動する選択駆動工程
と、 前記発光素子により射出され、かつ、測定対象試料によ
り反射された前記測定光を受光する受光工程と、 を備えたことを特徴とする吸光特性測定方法。 - 【請求項11】 請求項9または請求項10記載の吸光
特性測定方法において、 少なくとも前記測定対象試料に前記測定光が入射する時
点では、前記複数の発光素子の主光軸をほぼ一致させる
集光工程を備えたことを特徴とする吸光特性測定方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9075797A JPH10281871A (ja) | 1997-04-09 | 1997-04-09 | 吸光特性測定ユニット及び吸光特性測定方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9075797A JPH10281871A (ja) | 1997-04-09 | 1997-04-09 | 吸光特性測定ユニット及び吸光特性測定方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH10281871A true JPH10281871A (ja) | 1998-10-23 |
Family
ID=14007489
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP9075797A Withdrawn JPH10281871A (ja) | 1997-04-09 | 1997-04-09 | 吸光特性測定ユニット及び吸光特性測定方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH10281871A (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN102879339A (zh) * | 2012-09-19 | 2013-01-16 | 上海新中佳精密仪器有限公司 | 一种光致变色镜片光谱分析系统 |
| JP2015524047A (ja) * | 2012-05-09 | 2015-08-20 | アルシメジュ テクノロジィArchimej Technology | 制御されたスペクトルの光ビームを発するための発光装置 |
| EP3330685A1 (de) * | 2016-12-05 | 2018-06-06 | Sick Ag | Messvorrichtung für absorptionsspektroskopie |
| KR20230158171A (ko) * | 2022-05-11 | 2023-11-20 | 경상국립대학교산학협력단 | 불투명 유체 내 입자 진단장치 |
-
1997
- 1997-04-09 JP JP9075797A patent/JPH10281871A/ja not_active Withdrawn
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2015524047A (ja) * | 2012-05-09 | 2015-08-20 | アルシメジュ テクノロジィArchimej Technology | 制御されたスペクトルの光ビームを発するための発光装置 |
| CN102879339A (zh) * | 2012-09-19 | 2013-01-16 | 上海新中佳精密仪器有限公司 | 一种光致变色镜片光谱分析系统 |
| EP3330685A1 (de) * | 2016-12-05 | 2018-06-06 | Sick Ag | Messvorrichtung für absorptionsspektroskopie |
| KR20230158171A (ko) * | 2022-05-11 | 2023-11-20 | 경상국립대학교산학협력단 | 불투명 유체 내 입자 진단장치 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A300 | Withdrawal of application because of no request for examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300 Effective date: 20040706 |