JPH10283685A - 情報の記録再生方法及び記録再生装置 - Google Patents
情報の記録再生方法及び記録再生装置Info
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- JPH10283685A JPH10283685A JP9977197A JP9977197A JPH10283685A JP H10283685 A JPH10283685 A JP H10283685A JP 9977197 A JP9977197 A JP 9977197A JP 9977197 A JP9977197 A JP 9977197A JP H10283685 A JPH10283685 A JP H10283685A
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Abstract
(57)【要約】
【課題】本発明は、低いDC電圧の印加のもとにおいて
も、記録部分からの出力信号と非記録部分からの出力信
号の差をより大きくしてS/N比の一層の向上を図るこ
とのできる情報の記録再生方法及び記録再生装置を提供
することを目的としている。 【解決手段】本発明は、電極層上に電圧印加により発光
する有機化合物からなる記録媒体層が形成された記録媒
体と、該記録媒体層に導電部を有する探針を近接させて
記録再生を行う情報の記録再生方法または装置におい
て、該記録媒体の電極層と該探針の導電部とが仕事関数
の異なる組み合わせからなり、いずれか一方の仕事関数
の小さい方を正電圧として該記録媒体の任意の位置でパ
ルス電圧を印加して記録を行い、該記録された情報の再
生をいずれか一方の仕事関数の大きい方を正電圧として
行うことを特徴とするものである。
も、記録部分からの出力信号と非記録部分からの出力信
号の差をより大きくしてS/N比の一層の向上を図るこ
とのできる情報の記録再生方法及び記録再生装置を提供
することを目的としている。 【解決手段】本発明は、電極層上に電圧印加により発光
する有機化合物からなる記録媒体層が形成された記録媒
体と、該記録媒体層に導電部を有する探針を近接させて
記録再生を行う情報の記録再生方法または装置におい
て、該記録媒体の電極層と該探針の導電部とが仕事関数
の異なる組み合わせからなり、いずれか一方の仕事関数
の小さい方を正電圧として該記録媒体の任意の位置でパ
ルス電圧を印加して記録を行い、該記録された情報の再
生をいずれか一方の仕事関数の大きい方を正電圧として
行うことを特徴とするものである。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、電圧印加により発
光する材料からなる記録媒体を用いた情報の記録再生方
法及び記録再生装置に関する。
光する材料からなる記録媒体を用いた情報の記録再生方
法及び記録再生装置に関する。
【0002】
【従来の技術】近年メモリ材料の用途は、コンピュータ
及びその関連機器、ビデオディスク、デジタルオーディ
オディスク等のエレクトロニクス産業の中枢をなすもの
であり、情報の記録再生は各種製品に応用されている。
現在においては勿論のこと今後においても、メモリに要
求されるのは、より一層(1)高密度で記録容量が大き
いこと、(2)記録再生の応答速度が速いこと、(3)
生産性が高く価格が安いこと、(4)消費電力が少ない
こと、等の仕様である。その中で最近、導体の表面原子
の電子構造を直接観察できる走査型トンネル顕微鏡(S
TM)が開発され[G.Binnig et al,P
hys.Rev.Lett.,49,57(198
2)]、これは面内方向の分解能が1Å以下程度でかつ
非破壊で試料表面の実空間像を観察できる特徴を有して
いることにより、広範囲な応用が期待されている。例え
ば上記のメモリー技術の観点から考えると分子オーダー
以下(nm)から原子オーダー(数Å)で情報の高密度
記録再生を行なうことが可能になる。実際、電子線・イ
オン線等の粒子線、或いはX線等の高エネルギー電磁波
及び可視・紫外光等のエネルギー線を用いて適当な記録
層の表面状態を変化させて記録しSTMで再生する方法
や、記録層として電圧電流のスイッチング特性に対して
メモリ効果を持つ材料からなる薄膜層を用いて、情報の
記録再生をSTMを用いて行なう方法等が提案されてい
る。
及びその関連機器、ビデオディスク、デジタルオーディ
オディスク等のエレクトロニクス産業の中枢をなすもの
であり、情報の記録再生は各種製品に応用されている。
現在においては勿論のこと今後においても、メモリに要
求されるのは、より一層(1)高密度で記録容量が大き
いこと、(2)記録再生の応答速度が速いこと、(3)
生産性が高く価格が安いこと、(4)消費電力が少ない
こと、等の仕様である。その中で最近、導体の表面原子
の電子構造を直接観察できる走査型トンネル顕微鏡(S
TM)が開発され[G.Binnig et al,P
hys.Rev.Lett.,49,57(198
2)]、これは面内方向の分解能が1Å以下程度でかつ
非破壊で試料表面の実空間像を観察できる特徴を有して
いることにより、広範囲な応用が期待されている。例え
ば上記のメモリー技術の観点から考えると分子オーダー
以下(nm)から原子オーダー(数Å)で情報の高密度
記録再生を行なうことが可能になる。実際、電子線・イ
オン線等の粒子線、或いはX線等の高エネルギー電磁波
及び可視・紫外光等のエネルギー線を用いて適当な記録
層の表面状態を変化させて記録しSTMで再生する方法
や、記録層として電圧電流のスイッチング特性に対して
メモリ効果を持つ材料からなる薄膜層を用いて、情報の
記録再生をSTMを用いて行なう方法等が提案されてい
る。
【0003】また試料と先端径の小さな探針(プロー
ブ)間に働く原子間力を検出し試料表面の凹凸形状を観
察する手段として原子間力顕微鏡(AFM)が開発され
[G.Binnig et al,Phys.Rev.
Lett.,56,930(1986)]、観察試料が
導体のみならず絶縁体の場合でも表面形状の直接観察が
可能となっている。AFMによる分解能は試料面内方向
で1nm以下であるので、例えば試料表面に10nm程
度の間隔で微細な凹凸を形成し、それをAFMを用いて
読み出すことによって、1012ビット/cm2に近い高
密度メモリを作製することも可能である。
ブ)間に働く原子間力を検出し試料表面の凹凸形状を観
察する手段として原子間力顕微鏡(AFM)が開発され
[G.Binnig et al,Phys.Rev.
Lett.,56,930(1986)]、観察試料が
導体のみならず絶縁体の場合でも表面形状の直接観察が
可能となっている。AFMによる分解能は試料面内方向
で1nm以下であるので、例えば試料表面に10nm程
度の間隔で微細な凹凸を形成し、それをAFMを用いて
読み出すことによって、1012ビット/cm2に近い高
密度メモリを作製することも可能である。
【0004】更に前記STMによる試料の導電性情報と
前記AFMによる試料面内の凹凸情報を同時に計測する
ことで、より厳密に試料の表面状態を観察する装置が開
示されている(特開平3−277903号公報、以下こ
れをAFM/STMという)。この装置は、導電性探針
(プローブ電極)を用い、該探針を試料表面に接近させ
た際に該探針と該試料表面との間に発生する原子間力に
よってもたらされるカンチレバーの変位を検出し(AF
M像)、同時に該探針と試料との間に電圧を加えて両者
間を流れる電流を検出(STM像)する装置である。従
って、例えばAFM像で試料の微小部分の凹凸を観察し
ながら該微小部分の導電性情報をSTM像によって同時
に得ることができる。その他、電圧パルスを印加するこ
とで記録層上に分子を捕捉し、選択的にデータビットを
記録し、またそれを再生し、消去を行なう方法、装置の
提案がある(特開平1−196751号公報)。
前記AFMによる試料面内の凹凸情報を同時に計測する
ことで、より厳密に試料の表面状態を観察する装置が開
示されている(特開平3−277903号公報、以下こ
れをAFM/STMという)。この装置は、導電性探針
(プローブ電極)を用い、該探針を試料表面に接近させ
た際に該探針と該試料表面との間に発生する原子間力に
よってもたらされるカンチレバーの変位を検出し(AF
M像)、同時に該探針と試料との間に電圧を加えて両者
間を流れる電流を検出(STM像)する装置である。従
って、例えばAFM像で試料の微小部分の凹凸を観察し
ながら該微小部分の導電性情報をSTM像によって同時
に得ることができる。その他、電圧パルスを印加するこ
とで記録層上に分子を捕捉し、選択的にデータビットを
記録し、またそれを再生し、消去を行なう方法、装置の
提案がある(特開平1−196751号公報)。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】上記の記録再生方法に
おいて、例えば記録情報を再生する場合には記録媒体に
DC電圧を印加する必要があるが、該DC電圧印加は記
録媒体からの漏れ電流・記録媒体の損傷等を防ぐために
もなるべく低いDC電圧を印加することが好ましい。ま
た、記録情報を確実に再生するため、記録部分からの出
力信号と非記録部分(バックグラウンドも含めて)から
の出力信号の差をより大きくして、S/N比を一層向上
させることが望まれる。
おいて、例えば記録情報を再生する場合には記録媒体に
DC電圧を印加する必要があるが、該DC電圧印加は記
録媒体からの漏れ電流・記録媒体の損傷等を防ぐために
もなるべく低いDC電圧を印加することが好ましい。ま
た、記録情報を確実に再生するため、記録部分からの出
力信号と非記録部分(バックグラウンドも含めて)から
の出力信号の差をより大きくして、S/N比を一層向上
させることが望まれる。
【0006】そこで、本発明は、上記した課題を解決す
るため、低いDC電圧の印加のもとにおいても、記録部
分からの出力信号と非記録部分からの出力信号の差をよ
り大きくしてS/N比の一層の向上を図ることのできる
情報の記録再生方法及び記録再生装置を提供することを
目的としている。
るため、低いDC電圧の印加のもとにおいても、記録部
分からの出力信号と非記録部分からの出力信号の差をよ
り大きくしてS/N比の一層の向上を図ることのできる
情報の記録再生方法及び記録再生装置を提供することを
目的としている。
【0007】
【課題を解決するための手段】本発明は、上記課題を解
決するため、情報の記録再生方法及び記録再生装置をつ
ぎのように構成したことを特徴とするものである。すな
わち、本発明の情報の記録再生方法は、電極層上に電圧
印加により発光する有機化合物からなる記録媒体層が形
成された記録媒体と、該記録媒体層に導電部を有する探
針を近接させて記録再生を行う情報の記録再方法におい
て、該記録媒体の電極層と該探針の導電部とが仕事関数
の異なる組み合わせからなり、いずれか一方の仕事関数
の小さい方を正電圧として該記録媒体の任意の位置でパ
ルス電圧を印加して記録を行い、該記録された情報の再
生をいずれか一方の仕事関数の大きい方を正電圧として
行うことを特徴としている。また、本発明の情報の記録
再生装置は、電極層上に電圧印加により発光する有機化
合物からなる記録媒体層が形成された記録媒体と、該記
録媒体層に導電部を有する探針を近接させて記録再生を
行う情報の記録再生装置において、該記録媒体の電極層
と該探針の導電部とを仕事関数の異なる組み合わせによ
って構成したことを特徴としている。また、本発明の情
報の記録再生方法または装置は、前記有機化合物が高分
子化合物を含むことを特徴としている。また、本発明の
情報の記録再生方法または装置は、前記電極層もしくは
前記探針導電部のいずれか一方の仕事関数の大きい部分
に接合して、正孔輸送能の高い層を介在させたことを特
徴としている。また、本発明の情報の記録再生方法また
は装置は、前記電極層もしくは前記探針導電部のいずれ
か一方の仕事関数の小さい部分に接合して、電子輸送能
の高い層を介在させたことを特徴としている。また、本
発明の情報の記録再生方法または装置は、前記電極層も
しくは前記探針導電部のいずれか一方の仕事関数の大き
い部分に接合して正孔輸送能の高い層を介在させ、同時
に、前記電極層もしくは前記探針導電部のいずれか一方
の仕事関数の小さい部分に接合して電子輸送能の高い層
を介在させたことを特徴としている。
決するため、情報の記録再生方法及び記録再生装置をつ
ぎのように構成したことを特徴とするものである。すな
わち、本発明の情報の記録再生方法は、電極層上に電圧
印加により発光する有機化合物からなる記録媒体層が形
成された記録媒体と、該記録媒体層に導電部を有する探
針を近接させて記録再生を行う情報の記録再方法におい
て、該記録媒体の電極層と該探針の導電部とが仕事関数
の異なる組み合わせからなり、いずれか一方の仕事関数
の小さい方を正電圧として該記録媒体の任意の位置でパ
ルス電圧を印加して記録を行い、該記録された情報の再
生をいずれか一方の仕事関数の大きい方を正電圧として
行うことを特徴としている。また、本発明の情報の記録
再生装置は、電極層上に電圧印加により発光する有機化
合物からなる記録媒体層が形成された記録媒体と、該記
録媒体層に導電部を有する探針を近接させて記録再生を
行う情報の記録再生装置において、該記録媒体の電極層
と該探針の導電部とを仕事関数の異なる組み合わせによ
って構成したことを特徴としている。また、本発明の情
報の記録再生方法または装置は、前記有機化合物が高分
子化合物を含むことを特徴としている。また、本発明の
情報の記録再生方法または装置は、前記電極層もしくは
前記探針導電部のいずれか一方の仕事関数の大きい部分
に接合して、正孔輸送能の高い層を介在させたことを特
徴としている。また、本発明の情報の記録再生方法また
は装置は、前記電極層もしくは前記探針導電部のいずれ
か一方の仕事関数の小さい部分に接合して、電子輸送能
の高い層を介在させたことを特徴としている。また、本
発明の情報の記録再生方法または装置は、前記電極層も
しくは前記探針導電部のいずれか一方の仕事関数の大き
い部分に接合して正孔輸送能の高い層を介在させ、同時
に、前記電極層もしくは前記探針導電部のいずれか一方
の仕事関数の小さい部分に接合して電子輸送能の高い層
を介在させたことを特徴としている。
【0008】
【発明の実施の形態】本発明は、上記したように記録媒
体の電極層と探針の導電部とを、仕事関数の異なる組み
合わせにより構成し、いずれか一方の仕事関数の小さい
方を正電圧として該記録媒体の任意の位置でパルス電圧
を印加して記録を行い、該記録された情報の再生をいず
れか一方の仕事関数の大きい方を正電圧として行うこと
によって、記録情報の再生に際して、非記録部分(バッ
クグラウンドも含めて)からの出力信号と記録部分から
の出力信号とがクロストークすることなく記録信号を再
生することができ、S/N比の向上を図ることが可能と
なる。また、このような本発明の構成によると、記録情
報を再生する場合のDC電圧は、記録媒体の発光に必要
な電圧値の半分以下の低電圧の印加で、例えば、2Vの
ような低電圧の印加で記録情報の再生を行うことがで
き、システムの消費電力の低減化を図ることが可能とな
る。
体の電極層と探針の導電部とを、仕事関数の異なる組み
合わせにより構成し、いずれか一方の仕事関数の小さい
方を正電圧として該記録媒体の任意の位置でパルス電圧
を印加して記録を行い、該記録された情報の再生をいず
れか一方の仕事関数の大きい方を正電圧として行うこと
によって、記録情報の再生に際して、非記録部分(バッ
クグラウンドも含めて)からの出力信号と記録部分から
の出力信号とがクロストークすることなく記録信号を再
生することができ、S/N比の向上を図ることが可能と
なる。また、このような本発明の構成によると、記録情
報を再生する場合のDC電圧は、記録媒体の発光に必要
な電圧値の半分以下の低電圧の印加で、例えば、2Vの
ような低電圧の印加で記録情報の再生を行うことがで
き、システムの消費電力の低減化を図ることが可能とな
る。
【0009】つぎに、本発明の内容を図に基づいて更に
詳細に説明する。図1aは本発明の記録再生方法を表わ
す一例である。10はガラス・石英・非ドープ型シリコ
ンウエハ等の絶縁性基板である。11はその上に記録媒
体13を直接に形成するための電極基板であり、該基板
はその表面が導電性であり平滑なものであればどのよう
な材料を用いてもよく、例えば金、白金、銀、銅、パラ
ジウム、アルミニウム、インジウム、タングステン、ス
ズ、鉛などの金属もしくはこれらの合金、更にはグラフ
ァイトやシリサイド、またさらにはITO等の導電性酸
化物、nまたはp−ドープシリコン等数多くの材料が挙
げられる。該基板11の一部に上記と同様の導電性材料
からなる引き出し電極12を形成しておき、後述のよう
に記録媒体13に電圧を印加できるようにする。上記1
1及び12の作製方法としては真空蒸着法、スパッタリ
ング法、印刷法などを用いることができる。なお、該基
板11表面に必要に応じてその表面を一様に疎水性もし
くは親水性を付与する。方法は特に限定しないが、上記
に掲げた導電性基板11の種類によって最適な方法を選
択することが好ましい。疎水性付与の場合、例えば貴金
属や金属酸化物材料に対しては該基板表面を適当な方法
で洗浄した後に後述のラングミュア・ブロジェット(以
下LB)法により脂肪酸もしくはその誘導体などの両親
媒性物質を積層することで達成される。特に金の場合、
チオール基やアミノ基を末端に有する炭化水素化合物と
反応させることも可能である。またシリコンを用いる場
合、該基板表面を適当な方法で洗浄した後に上記のLB
法で両親媒性物質またはフッ化水素酸もしくは同塩を含
む溶液で処理する、もしくは前記洗浄後にシランカップ
リング剤で処理する方法等がある。親水性付与の場合、
オゾンアッシング処理・クロム酸混液浸漬等を行う。
詳細に説明する。図1aは本発明の記録再生方法を表わ
す一例である。10はガラス・石英・非ドープ型シリコ
ンウエハ等の絶縁性基板である。11はその上に記録媒
体13を直接に形成するための電極基板であり、該基板
はその表面が導電性であり平滑なものであればどのよう
な材料を用いてもよく、例えば金、白金、銀、銅、パラ
ジウム、アルミニウム、インジウム、タングステン、ス
ズ、鉛などの金属もしくはこれらの合金、更にはグラフ
ァイトやシリサイド、またさらにはITO等の導電性酸
化物、nまたはp−ドープシリコン等数多くの材料が挙
げられる。該基板11の一部に上記と同様の導電性材料
からなる引き出し電極12を形成しておき、後述のよう
に記録媒体13に電圧を印加できるようにする。上記1
1及び12の作製方法としては真空蒸着法、スパッタリ
ング法、印刷法などを用いることができる。なお、該基
板11表面に必要に応じてその表面を一様に疎水性もし
くは親水性を付与する。方法は特に限定しないが、上記
に掲げた導電性基板11の種類によって最適な方法を選
択することが好ましい。疎水性付与の場合、例えば貴金
属や金属酸化物材料に対しては該基板表面を適当な方法
で洗浄した後に後述のラングミュア・ブロジェット(以
下LB)法により脂肪酸もしくはその誘導体などの両親
媒性物質を積層することで達成される。特に金の場合、
チオール基やアミノ基を末端に有する炭化水素化合物と
反応させることも可能である。またシリコンを用いる場
合、該基板表面を適当な方法で洗浄した後に上記のLB
法で両親媒性物質またはフッ化水素酸もしくは同塩を含
む溶液で処理する、もしくは前記洗浄後にシランカップ
リング剤で処理する方法等がある。親水性付与の場合、
オゾンアッシング処理・クロム酸混液浸漬等を行う。
【0010】該基板11上に記録媒体13として電圧印
加により発光する有機化合物を薄膜として塗布する。本
来、該記録媒体13の材料は電圧印加により発光する有
機化合物であればその種類を特に制限をしないが、後述
の薄膜化の際に該薄腹が上記電極形状の端面で断裂した
り、該薄膜中にピンホール等の欠陥が生じにくいよう高
分子化合物を使用するのが好ましい。例えば[J.Ch
em.Soc.,Chem.Commun.,101
4,1988]に開示されているところのポリ(p−フ
ェニレンビニレン)をはじめ、溶媒に可溶な各種高分子
化合物[Appl.Phys.Lett.,58,19
82(1991)、Macromol.Chem.Ph
ys.,195,1933(1994)]を用いること
もできる。塗布法は該材料の溶液または混合液を使用し
て印刷法、スピンコーティング法、キャスティング法、
ディッピング法、バーコート法、ロールコート法、LB
法等を用いることが出来る。LB法は、得られる累積膜
の均一性が高く、また膜厚を1分子のオーダーで制御で
きるという特徴があり、さらに単位面積当たりの材料密
度が高く、かつ均一であり、累積膜作成時の条件が温和
であって、公知の方法もしくは装置を使用することがで
き特別な改造を必要としない等の特徴がある。前記記録
媒体13の膜厚としては1nm〜1μmが好ましく、さ
らに好ましくは1〜500nmである。また、前記引き
出し部12等、薄膜が不要の部分は溶剤で拭き取る等の
処理をしておく。
加により発光する有機化合物を薄膜として塗布する。本
来、該記録媒体13の材料は電圧印加により発光する有
機化合物であればその種類を特に制限をしないが、後述
の薄膜化の際に該薄腹が上記電極形状の端面で断裂した
り、該薄膜中にピンホール等の欠陥が生じにくいよう高
分子化合物を使用するのが好ましい。例えば[J.Ch
em.Soc.,Chem.Commun.,101
4,1988]に開示されているところのポリ(p−フ
ェニレンビニレン)をはじめ、溶媒に可溶な各種高分子
化合物[Appl.Phys.Lett.,58,19
82(1991)、Macromol.Chem.Ph
ys.,195,1933(1994)]を用いること
もできる。塗布法は該材料の溶液または混合液を使用し
て印刷法、スピンコーティング法、キャスティング法、
ディッピング法、バーコート法、ロールコート法、LB
法等を用いることが出来る。LB法は、得られる累積膜
の均一性が高く、また膜厚を1分子のオーダーで制御で
きるという特徴があり、さらに単位面積当たりの材料密
度が高く、かつ均一であり、累積膜作成時の条件が温和
であって、公知の方法もしくは装置を使用することがで
き特別な改造を必要としない等の特徴がある。前記記録
媒体13の膜厚としては1nm〜1μmが好ましく、さ
らに好ましくは1〜500nmである。また、前記引き
出し部12等、薄膜が不要の部分は溶剤で拭き取る等の
処理をしておく。
【0011】図1aにおいて導電性を有する探針14
は、蒸着・スパッタリング等の方法で導電性被覆15を
形成するが、該導電性被覆15は上記の電極基板11に
用いる材料の仕事関数と異なる値の仕事関数を有する材
料を用いる。即ち前記電極基板11にITO、Pt、A
uの如く仕事関数の大きな材料を用いた場合、該導電性
材料は仕事関数の小さなAl、Mg、Ag等の材料を単
独もしくは混合して用いることが好ましい。また、前記
電極基板に仕事関数の小さな前記材料を用いた場合は前
記探針を被覆する導電性材料は仕事関数の大きな前記材
料を用いることが好ましい。次に前記記録媒体13表面
に前記導電性探針14を近接させる。該近接の方法は金
属の探針(プローブ電極)を、該探針と導電性物質との
間に流れるトンネル電流をモニターしながら走査して実
空間の表面構造を描くことができる走査型トンネル顕微
鏡(STM、前出のG.Binnig et al,1
982)、試料と探針間に働く原子間力を検出して試料
表面の形状を観察する原子間力顕微鏡(AFM、前出の
Binnig et al,1986)、またそれらの
複合装置(AFM/STM、特開平3−277903号
公報)等の原理を直接応用することでナノメーターオー
ダーの位置分解能が得られる。
は、蒸着・スパッタリング等の方法で導電性被覆15を
形成するが、該導電性被覆15は上記の電極基板11に
用いる材料の仕事関数と異なる値の仕事関数を有する材
料を用いる。即ち前記電極基板11にITO、Pt、A
uの如く仕事関数の大きな材料を用いた場合、該導電性
材料は仕事関数の小さなAl、Mg、Ag等の材料を単
独もしくは混合して用いることが好ましい。また、前記
電極基板に仕事関数の小さな前記材料を用いた場合は前
記探針を被覆する導電性材料は仕事関数の大きな前記材
料を用いることが好ましい。次に前記記録媒体13表面
に前記導電性探針14を近接させる。該近接の方法は金
属の探針(プローブ電極)を、該探針と導電性物質との
間に流れるトンネル電流をモニターしながら走査して実
空間の表面構造を描くことができる走査型トンネル顕微
鏡(STM、前出のG.Binnig et al,1
982)、試料と探針間に働く原子間力を検出して試料
表面の形状を観察する原子間力顕微鏡(AFM、前出の
Binnig et al,1986)、またそれらの
複合装置(AFM/STM、特開平3−277903号
公報)等の原理を直接応用することでナノメーターオー
ダーの位置分解能が得られる。
【0012】引き続き、該導電性探針14を通じ記録媒
体13上の任意の位置においてパルス電圧を印加する。
この際、例えば前記電極11の仕事関数が前記導電性探
針14の仕事関数より大きい場合、仕事関数の小さい方
を+として該記録媒体13に電圧を印加する。その電圧
値は例えば該記録媒体13の発光電圧と同等もしくはそ
の半分程度の波高値でよい。以上の操作により該電圧印
加部分で該探針先端の直径10nm以下程度の範囲で導
通状態となり情報が書き込まれることになる(記録、図
1の16)。引き続き前記探針13をx及びy方向に試
料表面で走査し、同様の電圧印加を行う。このように、
該パルス電圧印加を適当な領域で行った後、今度は前記
電極11の材料と該導電性探針14の導電部とで仕事関
数の大きい方を+として該記録媒体13にDC電圧を印
加し、出力電流を検出しながら該領域を再走査する。そ
の際のDC印加電圧値は前記記録媒体13の発光に必要
な電圧値の半分以下でよい。この時、前記パルス電圧を
印加した部分では大電流を検出するが、それ以外の記録
媒体部分では微少な電流が検出され、上記で情報記録さ
れた部分、すなわち図1において示された16の部分を
良好なS/N比によって検出し、再生を行うことができ
る。
体13上の任意の位置においてパルス電圧を印加する。
この際、例えば前記電極11の仕事関数が前記導電性探
針14の仕事関数より大きい場合、仕事関数の小さい方
を+として該記録媒体13に電圧を印加する。その電圧
値は例えば該記録媒体13の発光電圧と同等もしくはそ
の半分程度の波高値でよい。以上の操作により該電圧印
加部分で該探針先端の直径10nm以下程度の範囲で導
通状態となり情報が書き込まれることになる(記録、図
1の16)。引き続き前記探針13をx及びy方向に試
料表面で走査し、同様の電圧印加を行う。このように、
該パルス電圧印加を適当な領域で行った後、今度は前記
電極11の材料と該導電性探針14の導電部とで仕事関
数の大きい方を+として該記録媒体13にDC電圧を印
加し、出力電流を検出しながら該領域を再走査する。そ
の際のDC印加電圧値は前記記録媒体13の発光に必要
な電圧値の半分以下でよい。この時、前記パルス電圧を
印加した部分では大電流を検出するが、それ以外の記録
媒体部分では微少な電流が検出され、上記で情報記録さ
れた部分、すなわち図1において示された16の部分を
良好なS/N比によって検出し、再生を行うことができ
る。
【0013】次に、本発明の作製方法で作製した記録媒
体を用いる記録・再生装置を図5のブロック図を用いて
説明する。探針54の先端には導電性被覆56が施され
ている。該探針54の原点位置を、探針変位検出手段5
6を用いて設定する。測定したい原子間力の範囲を設定
するために、カンチレバー55の持つ既知のばね定数か
ら見積もった探針54の原点からの変位量を設定する。
この時の変位量が探針54と記録媒体53の間に作用す
る原子間力に相当する。次に記録媒体53と探針54の
間隔を近付けて測定を開始すると、探針54の先端と記
録媒体53表面との間で原子間力が生じ、この力によっ
てカンチレバー55全体がたわみにより変位する。即
ち、記録媒体53をxy方向に走査したときに探針変位
検出手段56(例えば「光てこ」法)からの出力信号及
び圧電アクチュエータ58に印加されるフィードバック
信号を走査信号に合わせて記録し、これらの信号に基づ
いて表面凹凸像(AFM像)をコンピュータ511を通
して表示装置510に表示する。この信号はサーボ制御
手段57にフィードバックされる。サーボ制御手段57
では設定した探針54の変位量を保つように3次元方向
に駆動自在な圧電アクチュエータ58にドライブ電圧が
印加されフィードバック動作を行なう。
体を用いる記録・再生装置を図5のブロック図を用いて
説明する。探針54の先端には導電性被覆56が施され
ている。該探針54の原点位置を、探針変位検出手段5
6を用いて設定する。測定したい原子間力の範囲を設定
するために、カンチレバー55の持つ既知のばね定数か
ら見積もった探針54の原点からの変位量を設定する。
この時の変位量が探針54と記録媒体53の間に作用す
る原子間力に相当する。次に記録媒体53と探針54の
間隔を近付けて測定を開始すると、探針54の先端と記
録媒体53表面との間で原子間力が生じ、この力によっ
てカンチレバー55全体がたわみにより変位する。即
ち、記録媒体53をxy方向に走査したときに探針変位
検出手段56(例えば「光てこ」法)からの出力信号及
び圧電アクチュエータ58に印加されるフィードバック
信号を走査信号に合わせて記録し、これらの信号に基づ
いて表面凹凸像(AFM像)をコンピュータ511を通
して表示装置510に表示する。この信号はサーボ制御
手段57にフィードバックされる。サーボ制御手段57
では設定した探針54の変位量を保つように3次元方向
に駆動自在な圧電アクチュエータ58にドライブ電圧が
印加されフィードバック動作を行なう。
【0014】実際の記録再生は次のように実施される。
まず探針54を記録媒体53のxy面内を走査させる。
この際得られるAFM信号と同期してコンピュータ51
1より電圧印加電源512を通して記録媒体53上の任
意の位置においてパルス印加信号を出力し、記録媒体5
4上に情報を記録する。記録された情報を再生する場合
は、電圧印加電源512より探針54と導電性基板52
間にバイアスDC電圧を印加しながら記録動作を行なっ
た領域を走査し、前記の記録操作によって情報が記録さ
れた局所部分(記録ビット)の電流を探針54を通して
電流検出手段59により検出する。該検出された電流値
をコンピュータ511により探針54の位置情報とあわ
せて再構成し、微小出力を適宜カットオフして表示装置
510に前記AFM像と同時に表示される。
まず探針54を記録媒体53のxy面内を走査させる。
この際得られるAFM信号と同期してコンピュータ51
1より電圧印加電源512を通して記録媒体53上の任
意の位置においてパルス印加信号を出力し、記録媒体5
4上に情報を記録する。記録された情報を再生する場合
は、電圧印加電源512より探針54と導電性基板52
間にバイアスDC電圧を印加しながら記録動作を行なっ
た領域を走査し、前記の記録操作によって情報が記録さ
れた局所部分(記録ビット)の電流を探針54を通して
電流検出手段59により検出する。該検出された電流値
をコンピュータ511により探針54の位置情報とあわ
せて再構成し、微小出力を適宜カットオフして表示装置
510に前記AFM像と同時に表示される。
【0015】本発明による記録媒体13には、例えば電
極21が探針24の導電部25に比較して大きな仕事関
数を有する場合、図2aの如く記録媒体23と電極21
との間に正孔輸送材料を含有する正孔輸送層27を設け
ることも可能である。また、電極21が探針24の導電
部25に比較して小さな仕事関数を有する場合、図2b
の如く該記録媒体23と該探針24との間に正孔輸送材
料を含有する正孔輸送層27を設けることも可能であ
る。更に、例えば電極31が探針34の導電部35に比
較して大きな仕事関数を有する場合、図3aの如く記録
媒体33と該探針34との間に電子輸送材料を含有する
電子輸送層37を設けることも可能である。また、前記
電極31が前記探針34の導電部35に比較して小さな
仕事関数を有する場合、図3bの如く該電極31と該記
録媒体33との間に電子輪送材料を含有する正孔輪送層
37を設けることも可能である。更に、例えば電極41
が探針44の導電部45に比較して大きな仕事関数を有
する場合、図4aの如く記録媒体43と電極41との間
に正孔輸送材料を含有する正孔輸送層47を設け、同時
に該記録媒体43と前記探針44との間に電子輸送材料
を含有する電子輸送層48を設けることも可能である。
また、前記電極41が前記探針44の導電部45に比較
して小さな仕事関数を有する場合、図4bの如く該電極
41と該記録媒体43との間に電子輪送材料を含有する
電子輸送層48を設け、同時に該記録媒体43と前記探
針44との間に正孔輪送材料を含有する正孔輸送層47
を設けることも可能である。
極21が探針24の導電部25に比較して大きな仕事関
数を有する場合、図2aの如く記録媒体23と電極21
との間に正孔輸送材料を含有する正孔輸送層27を設け
ることも可能である。また、電極21が探針24の導電
部25に比較して小さな仕事関数を有する場合、図2b
の如く該記録媒体23と該探針24との間に正孔輸送材
料を含有する正孔輸送層27を設けることも可能であ
る。更に、例えば電極31が探針34の導電部35に比
較して大きな仕事関数を有する場合、図3aの如く記録
媒体33と該探針34との間に電子輸送材料を含有する
電子輸送層37を設けることも可能である。また、前記
電極31が前記探針34の導電部35に比較して小さな
仕事関数を有する場合、図3bの如く該電極31と該記
録媒体33との間に電子輪送材料を含有する正孔輪送層
37を設けることも可能である。更に、例えば電極41
が探針44の導電部45に比較して大きな仕事関数を有
する場合、図4aの如く記録媒体43と電極41との間
に正孔輸送材料を含有する正孔輸送層47を設け、同時
に該記録媒体43と前記探針44との間に電子輸送材料
を含有する電子輸送層48を設けることも可能である。
また、前記電極41が前記探針44の導電部45に比較
して小さな仕事関数を有する場合、図4bの如く該電極
41と該記録媒体43との間に電子輪送材料を含有する
電子輸送層48を設け、同時に該記録媒体43と前記探
針44との間に正孔輪送材料を含有する正孔輸送層47
を設けることも可能である。
【0016】上記の電子輸送材料または正孔輸送材料と
しては公知のものが使用でき特に限定されないが、正孔
輸送材料の例としてピラゾリン誘導体、アリールアミン
誘導体、スチルベン誘導体、トリフェニルジアミン誘導
体等が挙げられる。また、電子輸送材料の例としてはオ
キサジアゾール誘導体、アントラキノジメタンおよびそ
の誘導体、ベンゾキノンおよびその誘導体、ナフトキノ
ンおよびその誘導体、アントラキノンおよびその誘導
体、テトラシアノアンスラキノジメタンおよびその誘導
体、フルオレノン誘導体、ジフェニルジシアノエチレン
およびその誘導体、ジフェノキノン誘導体、8−ヒドロ
キシキノリンおよびその誘導体の金属錯体等が挙げられ
る。これらは単独で用いてもよいし、2種類以上を混合
して用いてもよい。上記の正孔輸送層18および電子輸
送層19は該層材料の溶液または混合液を使用して印刷
法、スピンコーティング法、キャスティング法、ディッ
ピング法、バーコート法、ロールコート法、LB法等を
用いて形成することが出来る。
しては公知のものが使用でき特に限定されないが、正孔
輸送材料の例としてピラゾリン誘導体、アリールアミン
誘導体、スチルベン誘導体、トリフェニルジアミン誘導
体等が挙げられる。また、電子輸送材料の例としてはオ
キサジアゾール誘導体、アントラキノジメタンおよびそ
の誘導体、ベンゾキノンおよびその誘導体、ナフトキノ
ンおよびその誘導体、アントラキノンおよびその誘導
体、テトラシアノアンスラキノジメタンおよびその誘導
体、フルオレノン誘導体、ジフェニルジシアノエチレン
およびその誘導体、ジフェノキノン誘導体、8−ヒドロ
キシキノリンおよびその誘導体の金属錯体等が挙げられ
る。これらは単独で用いてもよいし、2種類以上を混合
して用いてもよい。上記の正孔輸送層18および電子輸
送層19は該層材料の溶液または混合液を使用して印刷
法、スピンコーティング法、キャスティング法、ディッ
ピング法、バーコート法、ロールコート法、LB法等を
用いて形成することが出来る。
【0017】
【実施例】以下に、本発明の実施例について説明する
が、これらは本発明の範囲を何ら制限するものではな
い。 [実施例1]本発明の実施例1の基本構成を図1に示
す。本実施例で用いる基板を以下の処方で作成した。基
板10として厚さ0.5mmの非ドープ型シリコンウエ
ハを用い、該基板10にAu/Crを1000Åの厚さ
でパターン蒸着し、電極11及び引き出し部12を形成
した。次に、該基板10をUV−O3洗浄(60℃、3
0分)にて洗浄後、LB膜作製装置の基板駆動機構に電
極面が水面に垂直になるように装着し、直ちに純水水相
中に浸漬した。続いて、オクタデシルアミン(0.3m
g/ml)をクロロホルムに溶解し、それを該水面上に
展開して表面圧20mN/mまで圧縮し、この表面圧を
維持したまま5分間静置した。次に、前記基板駆動機構
33を作動させ、該機構に装着した基板30を速度10
mm/minで上昇させた。この結果、基板にオクタデ
シルアミンが1層疎水基を外側にして転写され、基板最
表面を疎水化できた。
が、これらは本発明の範囲を何ら制限するものではな
い。 [実施例1]本発明の実施例1の基本構成を図1に示
す。本実施例で用いる基板を以下の処方で作成した。基
板10として厚さ0.5mmの非ドープ型シリコンウエ
ハを用い、該基板10にAu/Crを1000Åの厚さ
でパターン蒸着し、電極11及び引き出し部12を形成
した。次に、該基板10をUV−O3洗浄(60℃、3
0分)にて洗浄後、LB膜作製装置の基板駆動機構に電
極面が水面に垂直になるように装着し、直ちに純水水相
中に浸漬した。続いて、オクタデシルアミン(0.3m
g/ml)をクロロホルムに溶解し、それを該水面上に
展開して表面圧20mN/mまで圧縮し、この表面圧を
維持したまま5分間静置した。次に、前記基板駆動機構
33を作動させ、該機構に装着した基板30を速度10
mm/minで上昇させた。この結果、基板にオクタデ
シルアミンが1層疎水基を外側にして転写され、基板最
表面を疎水化できた。
【0018】次にポリ(p−フェニレンビニレン)の溶
媒可溶性前駆体を[M.Era et al Che
m.Lett.,1097(1988)]に記載の処方
に従って前記基板30に10層累積した。引き続き該基
板30を200℃2時間、減圧下で加熱し、最終産物と
してポリ(p−フェニレンビニレン)薄膜を得た。
媒可溶性前駆体を[M.Era et al Che
m.Lett.,1097(1988)]に記載の処方
に従って前記基板30に10層累積した。引き続き該基
板30を200℃2時間、減圧下で加熱し、最終産物と
してポリ(p−フェニレンビニレン)薄膜を得た。
【0019】次に、本発明による装置(図5)に記録媒
体53として本実施例で作成した薄膜付き基板を装着し
た。次に、導電性被覆としてAlを500Å蒸着した探
針54を該記録媒体53に近接させ、10μm□範囲の
表面を走査して凹凸状況を評価したところ、該凹凸は走
査範囲内で1nm以下であった。次に、該探針54を走
査しながら図6に示す電圧パルスを前記探針54側が+
になるよう印加し、記録を行った。該探針54を走査原
点に戻した上で、今度は該記録媒体53−該探針54間
に該記録媒体側+となるよう1VのDC電圧を印加しな
がら該探針54を該記録媒体53表面上で再び走査さ
せ、検出された電流値をコンピュータ511により探針
54の位置情報とあわせて画像として再構成し、検出さ
れた電流値の内10nA(実測値)以下をカットオフし
たところ、上記でパルス印加を行った位置のみにおいて
直径約10nmの領域で少なくとも150nA以上の電
流(実測値)が観測された。また、上記の方法で記録が
行われた記録媒体を常温常圧で保管し、第1回目の再生
から時間の経過と共に再生動作を行ったところ、再生状
態に特に変化を見なかった。
体53として本実施例で作成した薄膜付き基板を装着し
た。次に、導電性被覆としてAlを500Å蒸着した探
針54を該記録媒体53に近接させ、10μm□範囲の
表面を走査して凹凸状況を評価したところ、該凹凸は走
査範囲内で1nm以下であった。次に、該探針54を走
査しながら図6に示す電圧パルスを前記探針54側が+
になるよう印加し、記録を行った。該探針54を走査原
点に戻した上で、今度は該記録媒体53−該探針54間
に該記録媒体側+となるよう1VのDC電圧を印加しな
がら該探針54を該記録媒体53表面上で再び走査さ
せ、検出された電流値をコンピュータ511により探針
54の位置情報とあわせて画像として再構成し、検出さ
れた電流値の内10nA(実測値)以下をカットオフし
たところ、上記でパルス印加を行った位置のみにおいて
直径約10nmの領域で少なくとも150nA以上の電
流(実測値)が観測された。また、上記の方法で記録が
行われた記録媒体を常温常圧で保管し、第1回目の再生
から時間の経過と共に再生動作を行ったところ、再生状
態に特に変化を見なかった。
【0020】[実施例2]本発明の実施例2を図1に基
づいて説明する。まず、本実施例で用いる基板を以下の
処方で作成した。基板10として厚さ0.5mmの非ド
ープ型シリコンウエハを用い、該基板10にAlを10
00Åの厚さでパターン蒸着し、電極11及び引き出し
部12を形成した。次に、該基板10の最表面を実施例
1に記載の処方に従って疎水化した。次に、ポリ(p−
フェニレンビニレン)の溶媒可溶性前駆体を実施例1に
記載の処方に従って基板に10層累積し、加熱処理を経
て最終産物としてポリ(p−フェニレンビニレン)薄膜
を得た。次に、本発明による装置(図5)に記録媒体5
3として本実施例で作成した薄膜付き基板を装着した。
次に、導電性被覆としてAuを500Åの厚さで蒸着し
た探針54を該記録媒体53に近接させ、10μm□範
囲の表面を走査して凹凸状況を評価したところ、該凹凸
は走査範囲内で1nm以下であった。
づいて説明する。まず、本実施例で用いる基板を以下の
処方で作成した。基板10として厚さ0.5mmの非ド
ープ型シリコンウエハを用い、該基板10にAlを10
00Åの厚さでパターン蒸着し、電極11及び引き出し
部12を形成した。次に、該基板10の最表面を実施例
1に記載の処方に従って疎水化した。次に、ポリ(p−
フェニレンビニレン)の溶媒可溶性前駆体を実施例1に
記載の処方に従って基板に10層累積し、加熱処理を経
て最終産物としてポリ(p−フェニレンビニレン)薄膜
を得た。次に、本発明による装置(図5)に記録媒体5
3として本実施例で作成した薄膜付き基板を装着した。
次に、導電性被覆としてAuを500Åの厚さで蒸着し
た探針54を該記録媒体53に近接させ、10μm□範
囲の表面を走査して凹凸状況を評価したところ、該凹凸
は走査範囲内で1nm以下であった。
【0021】次に、該探針54を走査しながら図6に示
す電圧パルスを前記記録媒体53側が+になるよう印加
し、記録を行った。該探針54を走査原点に戻した上
で、今度は該記録媒体53−該探針54間に該探針54
側+となるよう1VのDC電圧を印加しながら該探針5
4を該記録媒体53表面上で再び走査させ、検出された
電流値をコンピュータ511により探針54の位置情報
とあわせて画像として再構成したところ、実施例1と同
様の結果を得ることができた。また、上記の方法で記録
が行われた記録媒体を常温常圧で保管し、第1回目の再
生から時間の経過と共に再生動作を行ったところ、再生
状態に特に変化を見なかった。
す電圧パルスを前記記録媒体53側が+になるよう印加
し、記録を行った。該探針54を走査原点に戻した上
で、今度は該記録媒体53−該探針54間に該探針54
側+となるよう1VのDC電圧を印加しながら該探針5
4を該記録媒体53表面上で再び走査させ、検出された
電流値をコンピュータ511により探針54の位置情報
とあわせて画像として再構成したところ、実施例1と同
様の結果を得ることができた。また、上記の方法で記録
が行われた記録媒体を常温常圧で保管し、第1回目の再
生から時間の経過と共に再生動作を行ったところ、再生
状態に特に変化を見なかった。
【0022】[実施例3]実施例3においては、まず、
本実施例で用いる基板を実施例1の記載の処方で作成し
た。次に、ポリイソブチルメタクリレートとN、N’−
ビス(3−メチルフェニル)−1、1’−ビフェニル−
4−4’−ジアミン(TPD)をモル比1:1でクロロ
フォルム中に混合溶解し、実施例1に用いたLB膜作製
装置により、前記基板に20層累積した。次に、ポリ
(p−フェニレンビニレン)の溶媒可溶性前駆体を実施
例1に記載の処方に従って基板に10層累積し、加熱処
理を経て最終産物としてポリ(p−フェニレンビニレ
ン)薄膜を得た。本実施例における基板及び記録媒体の
構成模式図は図2aの様になる。以下、実施例1に記載
の装置に該記録媒体を装着し、実施例1に記載と同様の
方法により記録再生動作を行ったところ、実施例1と同
様の結果を得ることができた。また、上記の方法で記録
が行われた記録媒体を常温常圧で保管し、第1回目の再
生から時間の経過と共に再生動作を行ったところ、再生
状態に特に変化を見なかった。
本実施例で用いる基板を実施例1の記載の処方で作成し
た。次に、ポリイソブチルメタクリレートとN、N’−
ビス(3−メチルフェニル)−1、1’−ビフェニル−
4−4’−ジアミン(TPD)をモル比1:1でクロロ
フォルム中に混合溶解し、実施例1に用いたLB膜作製
装置により、前記基板に20層累積した。次に、ポリ
(p−フェニレンビニレン)の溶媒可溶性前駆体を実施
例1に記載の処方に従って基板に10層累積し、加熱処
理を経て最終産物としてポリ(p−フェニレンビニレ
ン)薄膜を得た。本実施例における基板及び記録媒体の
構成模式図は図2aの様になる。以下、実施例1に記載
の装置に該記録媒体を装着し、実施例1に記載と同様の
方法により記録再生動作を行ったところ、実施例1と同
様の結果を得ることができた。また、上記の方法で記録
が行われた記録媒体を常温常圧で保管し、第1回目の再
生から時間の経過と共に再生動作を行ったところ、再生
状態に特に変化を見なかった。
【0023】[実施例4]実施例4においては、まず、
本実施例で用いる基板を実施例2に記載の処方で作成し
た。次にポリ(p−フェニレンビニレン)の溶媒可溶性
前駆体を実施例1に記載の処方に従って基板に10層累
積し、加熱処理を経て最終産物としてポリ(p−フェニ
レンビニレン)薄膜を得た。次に、実施例3に記載の処
方でポリイソブチルメタクリレートとN、N’−ビス
(3−メチルフェニル)−1、1’−ビフェニル−4、
4’−ジアミン(TPD)を混合し、既に上記で累積さ
れたポリ(p−フェニレンビニレン)薄膜基板上に20
層重畳累積した。本実施例における基板及び記録媒体の
構成模式図は図2bの様になる。以下、実施例2に記載
の装置に該記録媒体を装着し、実施例2に記載と同様の
方法により記録再生動作を行ったところ、実施例2と同
様の結果を得ることができた。また、上記の方法で記録
が行われた記録媒体を常温常圧で保管し、第1回目の再
生から時間の経過と共に再生動作を行ったところ、再生
状態に特に変化を見なかった。
本実施例で用いる基板を実施例2に記載の処方で作成し
た。次にポリ(p−フェニレンビニレン)の溶媒可溶性
前駆体を実施例1に記載の処方に従って基板に10層累
積し、加熱処理を経て最終産物としてポリ(p−フェニ
レンビニレン)薄膜を得た。次に、実施例3に記載の処
方でポリイソブチルメタクリレートとN、N’−ビス
(3−メチルフェニル)−1、1’−ビフェニル−4、
4’−ジアミン(TPD)を混合し、既に上記で累積さ
れたポリ(p−フェニレンビニレン)薄膜基板上に20
層重畳累積した。本実施例における基板及び記録媒体の
構成模式図は図2bの様になる。以下、実施例2に記載
の装置に該記録媒体を装着し、実施例2に記載と同様の
方法により記録再生動作を行ったところ、実施例2と同
様の結果を得ることができた。また、上記の方法で記録
が行われた記録媒体を常温常圧で保管し、第1回目の再
生から時間の経過と共に再生動作を行ったところ、再生
状態に特に変化を見なかった。
【0024】[実施例5]実施例5においては、まず、
本実施例で用いる基板を実施例1に記載の処方で作成し
た。次にポリ(p−フェニレンビニレン)の溶媒可溶性
前駆体を実施例1に記載の処方に従って基板に10層累
積し、加熱処理を経て最終産物としてポリ(p−フェニ
レンビニレン)薄膜を得た。次に、ポリイソブチルメタ
クリレートと2−(4−ビフェニリル)−5−(4−t
−ブチルフェニル)−1,3,4−オキサジアゾール
(PBD)をモル比1:1でクロロフォルム中に混合溶
解し、実施例1に用いたLB膜作製装置により、前記薄
膜上に20層重畳累積した。本実施例における基板及び
記録媒体の構成模式図は図3aの様になる。以下、実施
例1に記載の装置に該記録媒体を装着し、実施例1に記
載と同様の方法により記録再生動作を行ったところ、実
施例1と同様の結果を得ることができた。また、上記の
方法で記録が行われた記録媒体を常温常圧で保管し、第
1回目の再生から時間の経過と共に再生動作を行ったと
ころ、再生状態に特に変化を見なかった。
本実施例で用いる基板を実施例1に記載の処方で作成し
た。次にポリ(p−フェニレンビニレン)の溶媒可溶性
前駆体を実施例1に記載の処方に従って基板に10層累
積し、加熱処理を経て最終産物としてポリ(p−フェニ
レンビニレン)薄膜を得た。次に、ポリイソブチルメタ
クリレートと2−(4−ビフェニリル)−5−(4−t
−ブチルフェニル)−1,3,4−オキサジアゾール
(PBD)をモル比1:1でクロロフォルム中に混合溶
解し、実施例1に用いたLB膜作製装置により、前記薄
膜上に20層重畳累積した。本実施例における基板及び
記録媒体の構成模式図は図3aの様になる。以下、実施
例1に記載の装置に該記録媒体を装着し、実施例1に記
載と同様の方法により記録再生動作を行ったところ、実
施例1と同様の結果を得ることができた。また、上記の
方法で記録が行われた記録媒体を常温常圧で保管し、第
1回目の再生から時間の経過と共に再生動作を行ったと
ころ、再生状態に特に変化を見なかった。
【0025】[実施例6]実施例6においては、まず、
本実施例で用いる基板を実施例2に記載の処方で作成し
た。次に、実施例5に記載の処方でポリイソブチルメタ
クリレートと2−(4−ビフェニリル)−5−(4−t
−ブチルフェニル)−1,3,4−オキサジアゾール
(PBD)を混合し、上記基板上に20層累積した。次
にポリ(p−フェニレンビニレン)の溶媒可溶性前駆体
を実施例1に記載の処方に従って基板に10層累積し、
加熱処理を経て最終産物としてポリ(p−フェニレンビ
ニレン)薄膜を得た。本実施例における基板及び記録媒
体の構成模式図は図3bの様になる。以下、実施例2に
記載の装置に該記録媒体を装着し、実施例2に記載と同
様の方法により記録再生動作を行ったところ、実施例2
と同様の結果を得ることができた。また、上記の方法で
記録が行われた記録媒体を常温常圧で保管し、第1回目
の再生から時間の経過と共に再生動作を行ったところ、
再生状態に特に変化を見なかった。また、上記の方法で
記録が行われた記録媒体を常温常圧で保管し、第1回目
の再生から時間の経過と共に再生動作を行ったところ、
再生状態に特に変化を見なかった。
本実施例で用いる基板を実施例2に記載の処方で作成し
た。次に、実施例5に記載の処方でポリイソブチルメタ
クリレートと2−(4−ビフェニリル)−5−(4−t
−ブチルフェニル)−1,3,4−オキサジアゾール
(PBD)を混合し、上記基板上に20層累積した。次
にポリ(p−フェニレンビニレン)の溶媒可溶性前駆体
を実施例1に記載の処方に従って基板に10層累積し、
加熱処理を経て最終産物としてポリ(p−フェニレンビ
ニレン)薄膜を得た。本実施例における基板及び記録媒
体の構成模式図は図3bの様になる。以下、実施例2に
記載の装置に該記録媒体を装着し、実施例2に記載と同
様の方法により記録再生動作を行ったところ、実施例2
と同様の結果を得ることができた。また、上記の方法で
記録が行われた記録媒体を常温常圧で保管し、第1回目
の再生から時間の経過と共に再生動作を行ったところ、
再生状態に特に変化を見なかった。また、上記の方法で
記録が行われた記録媒体を常温常圧で保管し、第1回目
の再生から時間の経過と共に再生動作を行ったところ、
再生状態に特に変化を見なかった。
【0026】[実施例7]実施例7においては、まず、
本実施例で用いる基板を実施例1に記載の処方で作成し
た。次に、実施例3に記載の処方でポリイソブチルメタ
クリレートとN、N’−ビス(3−メチルフェニル)−
1、1’−ビフェニル−4、4’−ジアミン(TPD)
を混合し、上記基板上に20層累積した。次に、ポリ
(p−フェニレンビニレン)の溶媒可溶性前駆体を実施
例1に記載の処方に従って基板に10層累積し、加熱処
理を経て最終産物としてポリ(p−フェニレンビニレ
ン)薄膜を得た。次に、実施例5に記載の処方でポリイ
ソブチルメタクリレートと2−(4−ビフェニリル)−
5−(4−t−ブチルフェニル)−1,3,4−オキサ
ジアゾール(PBD)を混合し、前記薄膜上に20層重
畳累積した。本実施例における基板及び記録媒体の構成
模式図は図4aの様になる。以下、実施例1に記載の装
置に該記録媒体を装着し、実施例1に記載と同様の方法
により記録再生動作を行ったところ、実施例1と同様の
結果を得ることができた。また、上記の方法で記録が行
われた記録媒体を常温常圧で保管し、第1回目の再生か
ら時間の経過と共に再生動作を行ったところ、再生状態
に特に変化を見なかった。
本実施例で用いる基板を実施例1に記載の処方で作成し
た。次に、実施例3に記載の処方でポリイソブチルメタ
クリレートとN、N’−ビス(3−メチルフェニル)−
1、1’−ビフェニル−4、4’−ジアミン(TPD)
を混合し、上記基板上に20層累積した。次に、ポリ
(p−フェニレンビニレン)の溶媒可溶性前駆体を実施
例1に記載の処方に従って基板に10層累積し、加熱処
理を経て最終産物としてポリ(p−フェニレンビニレ
ン)薄膜を得た。次に、実施例5に記載の処方でポリイ
ソブチルメタクリレートと2−(4−ビフェニリル)−
5−(4−t−ブチルフェニル)−1,3,4−オキサ
ジアゾール(PBD)を混合し、前記薄膜上に20層重
畳累積した。本実施例における基板及び記録媒体の構成
模式図は図4aの様になる。以下、実施例1に記載の装
置に該記録媒体を装着し、実施例1に記載と同様の方法
により記録再生動作を行ったところ、実施例1と同様の
結果を得ることができた。また、上記の方法で記録が行
われた記録媒体を常温常圧で保管し、第1回目の再生か
ら時間の経過と共に再生動作を行ったところ、再生状態
に特に変化を見なかった。
【0027】[実施例8]実施例8においては、まず、
本実施例で用いる基板を実施例2に記載の処方で作成し
た。次に、実施例5に記載の処方でポリイソブチルメタ
クリレートと2−(4−ビフェニリル)−5−(4−t
−ブチルフェニル)−1,3,4−オキサジアゾール
(PBD)を混合し、前記基板上に20層累積した。次
に、ポリ(p−フェニレンビニレン)の溶媒可溶性前駆
体を実施例1に記載の処方に従って基板に10層累積
し、加熱処理を経て最終産物としてポリ(p−フェニレ
ンビニレン)薄膜を得た。次に、実施例3に記載の処方
でポリイソブチルメタクリレートとN、N’−ビス(3
−メチルフェニル)−1、1’−ビフェニル−4、4’
−ジアミン(TPD)を混合し、上記薄膜上に20層重
畳累積した。本実施例における基板及び記録媒体の構成
模式図は図4bの様になる。以下、実施例2に記載の装
置に該記録媒体を装着し、実施例2に記載と同様の方法
により記録再生動作を行ったところ、実施例2と同様の
結果を得ることができた。また、上記の方法で記録が行
われた記録媒体を常温常圧で保管し、第1回目の再生か
ら時間の経過と共に再生動作を行ったところ、再生状態
に特に変化を見なかった。
本実施例で用いる基板を実施例2に記載の処方で作成し
た。次に、実施例5に記載の処方でポリイソブチルメタ
クリレートと2−(4−ビフェニリル)−5−(4−t
−ブチルフェニル)−1,3,4−オキサジアゾール
(PBD)を混合し、前記基板上に20層累積した。次
に、ポリ(p−フェニレンビニレン)の溶媒可溶性前駆
体を実施例1に記載の処方に従って基板に10層累積
し、加熱処理を経て最終産物としてポリ(p−フェニレ
ンビニレン)薄膜を得た。次に、実施例3に記載の処方
でポリイソブチルメタクリレートとN、N’−ビス(3
−メチルフェニル)−1、1’−ビフェニル−4、4’
−ジアミン(TPD)を混合し、上記薄膜上に20層重
畳累積した。本実施例における基板及び記録媒体の構成
模式図は図4bの様になる。以下、実施例2に記載の装
置に該記録媒体を装着し、実施例2に記載と同様の方法
により記録再生動作を行ったところ、実施例2と同様の
結果を得ることができた。また、上記の方法で記録が行
われた記録媒体を常温常圧で保管し、第1回目の再生か
ら時間の経過と共に再生動作を行ったところ、再生状態
に特に変化を見なかった。
【0028】[実施例9]実施例9においては、まず、
本実施例で用いる基板を実施例1に記載の処方で作成し
た。本実施例では他の有機化合物を用いて記録媒体を作
成した。実施例1と同様の処方で作成した基板に[I.
Watanabe,et al.ICSM 1988,
Santa Fe]に記載の処方に基づきポリヘキシル
チオフェンLB膜を10層、記録媒体として作製した。
以下、実施例1に記載の装置に該記録媒体を装着し、実
施例1に記載と同様の方法により記録再生動作を行った
ところ、実施例1と同様の結果を得ることができた。ま
た、上記の方法で記録が行われた記録媒体を常温常圧で
保管し、第1回目の再生から時間の経過と共に再生動作
を行ったところ、再生状態に特に変化を見なかった。
本実施例で用いる基板を実施例1に記載の処方で作成し
た。本実施例では他の有機化合物を用いて記録媒体を作
成した。実施例1と同様の処方で作成した基板に[I.
Watanabe,et al.ICSM 1988,
Santa Fe]に記載の処方に基づきポリヘキシル
チオフェンLB膜を10層、記録媒体として作製した。
以下、実施例1に記載の装置に該記録媒体を装着し、実
施例1に記載と同様の方法により記録再生動作を行った
ところ、実施例1と同様の結果を得ることができた。ま
た、上記の方法で記録が行われた記録媒体を常温常圧で
保管し、第1回目の再生から時間の経過と共に再生動作
を行ったところ、再生状態に特に変化を見なかった。
【0029】[実施例10]実施例10においては、ま
ず、本実施例で用いる基板を実施例2に記載の処方で作
成した。次に、実施例9に記載の処方に基づきポリヘキ
シルチオフェンLB膜を10層、記録媒体として作製し
た。以下、実施例2に記載の装置に該記録媒体を装着
し、実施例2に記載と同様の方法により記録再生動作を
行ったところ、実施例2と同様の結果を得ることができ
た。また、上記の方法で記録が行われた記録媒体を常温
常圧で保管し、第1回目の再生から時間の経過と共に再
生動作を行ったところ、再生状態に特に変化を見なかっ
た。また、上記の方法で記録が行われた記録媒体を常温
常圧で保管し、第1回目の再生から時間の経過と共に再
生動作を行ったところ、再生状態に特に変化を見なかっ
た。
ず、本実施例で用いる基板を実施例2に記載の処方で作
成した。次に、実施例9に記載の処方に基づきポリヘキ
シルチオフェンLB膜を10層、記録媒体として作製し
た。以下、実施例2に記載の装置に該記録媒体を装着
し、実施例2に記載と同様の方法により記録再生動作を
行ったところ、実施例2と同様の結果を得ることができ
た。また、上記の方法で記録が行われた記録媒体を常温
常圧で保管し、第1回目の再生から時間の経過と共に再
生動作を行ったところ、再生状態に特に変化を見なかっ
た。また、上記の方法で記録が行われた記録媒体を常温
常圧で保管し、第1回目の再生から時間の経過と共に再
生動作を行ったところ、再生状態に特に変化を見なかっ
た。
【0030】[実施例11]実施例11の基本構成は、
図1に示されるものであり、その基板を以下の処方で作
成した。基板10として厚さ0.5mmの非ドープ型シ
リコンウエハを用い、該基板10にCrを1000Åの
厚さでパターン蒸着し、電極11及び引き出し部12を
形成した。次に該基板10をUV−O3洗浄(60℃、
30分)にて洗浄後、LB膜作製装置の基板駆動機構に
電極面が水面に垂直になるように装着し、直ちに純水水
相中に浸漬した。続いてオクタデシルアミン(0.3m
g/ml)をクロロホルムに溶解し、それを該水面上に
展開して表面圧20mN/mまで圧縮し、この表面圧を
維持したまま5分間静置した。次に前記基板駆動機構3
3を作動させ、該機構に装着した基板30を速度10m
m/minで上昇させた。この結果、基板にオクタデシ
ルアミンが1層疎水基を外側にして転写され、基板最表
面を疎水化できた。
図1に示されるものであり、その基板を以下の処方で作
成した。基板10として厚さ0.5mmの非ドープ型シ
リコンウエハを用い、該基板10にCrを1000Åの
厚さでパターン蒸着し、電極11及び引き出し部12を
形成した。次に該基板10をUV−O3洗浄(60℃、
30分)にて洗浄後、LB膜作製装置の基板駆動機構に
電極面が水面に垂直になるように装着し、直ちに純水水
相中に浸漬した。続いてオクタデシルアミン(0.3m
g/ml)をクロロホルムに溶解し、それを該水面上に
展開して表面圧20mN/mまで圧縮し、この表面圧を
維持したまま5分間静置した。次に前記基板駆動機構3
3を作動させ、該機構に装着した基板30を速度10m
m/minで上昇させた。この結果、基板にオクタデシ
ルアミンが1層疎水基を外側にして転写され、基板最表
面を疎水化できた。
【0031】次に、ポリ(p−フェニレンビニレン)の
溶媒可溶性前駆体を実施例1に記載の処方に従って基板
に10層累積し、加熱処理を経て最終産物としてポリ
(p−フェニレンビニレン)薄膜を得た。次に実施例1
で使用した装置に記録媒体として本実施例で作成した薄
膜付き基板を装着した。次に導電性被覆としてTiを5
00Å蒸着した探針を該記録媒体に近接させ、10μm
□範囲の表面を走査して凹凸状況を評価したところ、該
凹凸は走査範囲0.5nm以下であった。引き続き実施
例1と同様の方法により記録再生動作を行ったところ、
実施例1と同様の結果を得ることができた。また、上記
の方法で記録が行われた記録媒体を常温常圧で保管し、
第1回目の再生から時間の経過と共に再生動作を行った
ところ、再生状態に特に変化を見なかった。
溶媒可溶性前駆体を実施例1に記載の処方に従って基板
に10層累積し、加熱処理を経て最終産物としてポリ
(p−フェニレンビニレン)薄膜を得た。次に実施例1
で使用した装置に記録媒体として本実施例で作成した薄
膜付き基板を装着した。次に導電性被覆としてTiを5
00Å蒸着した探針を該記録媒体に近接させ、10μm
□範囲の表面を走査して凹凸状況を評価したところ、該
凹凸は走査範囲0.5nm以下であった。引き続き実施
例1と同様の方法により記録再生動作を行ったところ、
実施例1と同様の結果を得ることができた。また、上記
の方法で記録が行われた記録媒体を常温常圧で保管し、
第1回目の再生から時間の経過と共に再生動作を行った
ところ、再生状態に特に変化を見なかった。
【0032】[実施例12]実施例12においては、ま
ず、本実施例で用いる基板を実施例1に記載の処方で作
成した。次に、ポリフェニレンビニレンのメタノール可
溶性誘導体を[Y−E Kimet al,Apl.P
hys.Lett., 69,599(1996)]に
記載の処方に従って前記基板に70Å、スピンコートに
より塗布した。引き続き該基板を100℃で1時間加熱
し、メタノールを完全に乾燥させた。次に実施例1で使
用した装置に記録媒体として本実施例で作成した薄膜付
き基板を装着し、実施例1と同様の評価を行った。導電
性被覆としてAlを500Å蒸着した探針による記録媒
体の凹凸状況を評価したところ、該凹凸は走査範囲で3
nm以下であり、平滑性という点で他の実施例にあるL
B膜に劣った。引き続き実施例1と同様の方法により記
録再生動作を行ったところ、実施例1と同様の結果を得
ることができた。また、上記の方法で記録が行われた記
録媒体を常温常圧で保管し、第1回目の再生から時間の
経過と共に再生動作を行ったところ、再生状態に特に変
化を見なかった。
ず、本実施例で用いる基板を実施例1に記載の処方で作
成した。次に、ポリフェニレンビニレンのメタノール可
溶性誘導体を[Y−E Kimet al,Apl.P
hys.Lett., 69,599(1996)]に
記載の処方に従って前記基板に70Å、スピンコートに
より塗布した。引き続き該基板を100℃で1時間加熱
し、メタノールを完全に乾燥させた。次に実施例1で使
用した装置に記録媒体として本実施例で作成した薄膜付
き基板を装着し、実施例1と同様の評価を行った。導電
性被覆としてAlを500Å蒸着した探針による記録媒
体の凹凸状況を評価したところ、該凹凸は走査範囲で3
nm以下であり、平滑性という点で他の実施例にあるL
B膜に劣った。引き続き実施例1と同様の方法により記
録再生動作を行ったところ、実施例1と同様の結果を得
ることができた。また、上記の方法で記録が行われた記
録媒体を常温常圧で保管し、第1回目の再生から時間の
経過と共に再生動作を行ったところ、再生状態に特に変
化を見なかった。
【0033】
【発明の効果】本発明は、以上のように記録媒体の電極
層と探針の導電部とを、仕事関数の異なる組み合わせに
より構成し、いずれか一方の仕事関数の小さい方を正電
圧として該記録媒体の任意の位置でパルス電圧を印加し
て記録を行い、該記録された情報の再生をいずれか一方
の仕事関数の大きい方を正電圧として行うようにするこ
とによって、記録情報の再生に際して、非記録部分(バ
ックグラウンドも含めて)からの出力信号と記録部分か
らの出力信号とがクロストークすることなく記録信号を
再生し、S/N比のより高い情報の記録再生方法及び記
録再生装置を実現することができる。また、このような
本発明の構成によると、記録情報を再生する場合のDC
電圧は、記録媒体の発光に必要な電圧値の半分以下の低
電圧の印加で、例えば、2Vのような低電圧の印加で、
記録情報の再生を行うことができ、システムの消費電力
の低減化を図ることが可能となる。
層と探針の導電部とを、仕事関数の異なる組み合わせに
より構成し、いずれか一方の仕事関数の小さい方を正電
圧として該記録媒体の任意の位置でパルス電圧を印加し
て記録を行い、該記録された情報の再生をいずれか一方
の仕事関数の大きい方を正電圧として行うようにするこ
とによって、記録情報の再生に際して、非記録部分(バ
ックグラウンドも含めて)からの出力信号と記録部分か
らの出力信号とがクロストークすることなく記録信号を
再生し、S/N比のより高い情報の記録再生方法及び記
録再生装置を実現することができる。また、このような
本発明の構成によると、記録情報を再生する場合のDC
電圧は、記録媒体の発光に必要な電圧値の半分以下の低
電圧の印加で、例えば、2Vのような低電圧の印加で、
記録情報の再生を行うことができ、システムの消費電力
の低減化を図ることが可能となる。
【図1】本発明に用いられる基板及び記録媒体の構成を
示す模式図である。
示す模式図である。
【図2】本発明に用いられる基板及び記録媒体の構成を
示す模式図である。
示す模式図である。
【図3】本発明に用いられる基板及び記録媒体の構成を
示す模式図である。
示す模式図である。
【図4】本発明に用いられる基板及び記録媒体の構成を
示す模式図である。
示す模式図である。
【図5】本発明に用いられる記録再生装置のブロック図
である。
である。
【図6】記録媒体へ情報記録を行うために該記録媒体に
印加されるパルス電圧の波形図である。
印加されるパルス電圧の波形図である。
10,20,30,40,50…絶縁性基板 11,21,31,41,51…導電性基板 12,22,23,42…引き出し部 13,23,33,43,53…記録媒体 14,24,34,44,54…探針 55…カンチレバー 15,25,35,45…導電性被覆 16,26,36,46,52…記録部 27,47…正孔輸送層 37,48…電子輸送層 56…探針変位検出手段 57…サーボ制御手段 58…圧電アクチュエータ 59…電流検出手段 510…表示装置 511…コンピュータ 512…電圧印加電源
Claims (10)
- 【請求項1】電極層上に電圧印加により発光する有機化
合物からなる記録媒体層が形成された記録媒体と、該記
録媒体層に導電部を有する探針を近接させて記録再生を
行う情報の記録再生方法において、該記録媒体の電極層
と該探針の導電部とが仕事関数の異なる組み合わせから
なり、いずれか一方の仕事関数の小さい方を正電圧とし
て該記録媒体の任意の位置でパルス電圧を印加して記録
を行い、該記録された情報の再生をいずれか一方の仕事
関数の大きい方を正電圧として行うことを特徴とする情
報の記録再生方法。 - 【請求項2】前記有機化合物が、高分子化合物を含むこ
とを特徴とする請求第1項に記載の情報の記録再生方
法。 - 【請求項3】前記電極層もしくは前記探針導電部のいず
れか一方の仕事関数の大きい部分に接合して、正孔輸送
能の高い層を介在させたことを特徴とする請求項1また
は請求項2に記載の情報の記録再生方法。 - 【請求項4】前記電極層もしくは前記探針導電部のいず
れか一方の仕事関数の小さい部分に接合して、電子輸送
能の高い層を介在させたことを特徴とする請求項1また
は請求項2に記載の情報の記録再生方法。 - 【請求項5】前記電極層もしくは前記探針導電部のいず
れか一方の仕事関数の大きい部分に接合して正孔輸送能
の高い層を介在させ、同時に、前記電極層もしくは前記
探針導電部のいずれか一方の仕事関数の小さい部分に接
合して電子輸送能の高い層を介在させたことを特徴とす
る請求項1または請求項2に記載の情報の記録再生方
法。 - 【請求項6】電極層上に電圧印加により発光する有機化
合物からなる記録媒体層が形成された記録媒体と、該記
録媒体層に導電部を有する探針を近接させて記録再生を
行う情報の記録再生装置において、該記録媒体の電極層
と該探針の導電部とを仕事関数の異なる組み合わせによ
って構成したことを特徴とする情報の記録再装置。 - 【請求項7】前記有機化合物が、高分子化合物を含むこ
とを特徴とする請求第6項に記載の情報の記録再生装
置。 - 【請求項8】前記電極層もしくは前記探針導電部のいず
れか一方の仕事関数の大きい部分に接合して、正孔輸送
能の高い層を介在させたことを特徴とする請求項6また
は請求項7に記載の情報の記録再生装置。 - 【請求項9】前記電極層もしくは前記探針導電部のいず
れか一方の仕事関数の小さい部分に接合して、電子輸送
能の高い層を介在させたことを特徴とする請求項6また
は請求項7に記載の情報の記録再生装置。 - 【請求項10】前記電極層もしくは前記探針導電部のい
ずれか一方の仕事関数の大きい部分に接合して正孔輸送
能の高い層を介在させ、同時に、前記電極層もしくは前
記探針導電部のいずれか一方の仕事関数の小さい部分に
接合して電子輸送能の高い層を介在させたことを特徴と
する請求項6または請求項7に記載の情報の記録再生装
置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9977197A JPH10283685A (ja) | 1997-04-01 | 1997-04-01 | 情報の記録再生方法及び記録再生装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9977197A JPH10283685A (ja) | 1997-04-01 | 1997-04-01 | 情報の記録再生方法及び記録再生装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH10283685A true JPH10283685A (ja) | 1998-10-23 |
Family
ID=14256240
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP9977197A Pending JPH10283685A (ja) | 1997-04-01 | 1997-04-01 | 情報の記録再生方法及び記録再生装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH10283685A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO1999059147A1 (fr) * | 1998-05-11 | 1999-11-18 | Seiko Instruments Inc. | Tete optique en champ proche et procede de reproduction |
-
1997
- 1997-04-01 JP JP9977197A patent/JPH10283685A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO1999059147A1 (fr) * | 1998-05-11 | 1999-11-18 | Seiko Instruments Inc. | Tete optique en champ proche et procede de reproduction |
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