JPH10294352A - 基板処理装置 - Google Patents
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- JPH10294352A JPH10294352A JP11633897A JP11633897A JPH10294352A JP H10294352 A JPH10294352 A JP H10294352A JP 11633897 A JP11633897 A JP 11633897A JP 11633897 A JP11633897 A JP 11633897A JP H10294352 A JPH10294352 A JP H10294352A
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Abstract
ト数を増加することができ、効率的に基板を処理するこ
とができる基板処理装置を提供することを目的とする。 【解決手段】 基板処理装置は、上下一対の基板搬送ア
ーム11a、11bを備えた第1の基板搬送機構12
と、第1の基板搬送機構12を取り囲むように配設され
たスピンコータ13、スピンデベロッパ14および載置
台15、16とを有する第1の基板処理部10と、上下
一対の基板搬送アーム21a、21bを備えた第2の基
板搬送機構22と、当該第2の基板搬送機構22の搬送
路25に沿って配設された加熱ユニット23およびアド
ヒュージョンユニット24とを有する第2の基板処理部
20と、第1の基板搬送機構12と第2の基板搬送機構
22との間で基板を受け渡しするための受渡部としての
冷却ユニット30とを備える。
Description
液晶表示パネル用ガラス基板あるいは半導体製造装置用
マスク基板等の基板に対して、熱処理や薬液処理を行う
基板処理装置に関する。
トプレート上に基板を載置することにより当該基板を加
熱処理する加熱ユニットやクールプレート上に基板を載
置することにより当該基板を冷却処理する冷却ユニット
等の熱処理ユニットや、回転する基板上にレジストや現
像液を供給することにより当該基板にレジスト塗布また
は現像処理を行う薬液処理ユニットに対し、基板搬送ア
ームを有する基板搬送機構で基板の循環搬送を行うこと
により、基板に対して一連の処理を実行している。
を効率よく処理するため、各処理ユニットを各々複数個
配置している。そして、各処理ユニットの配置方式とし
ては、鉛直軸を回転中心として回転可能な基板搬送アー
ムを備えた基板搬送機構を装置の中央に配置し、この基
板搬送機構に外側に基板搬送機構を取り囲むように複数
の処理ユニットを配置するいわゆるクラスター配置方式
や、水平方向を向く搬送路を往復移動可能な基板搬送ア
ームを備えた基板搬送機構における搬送路の片側もしく
は両側に沿って、複数の処理ユニットを配置するいわゆ
る並列配置方式等が採用されている。
においては、基板搬送アームを回転させることによりそ
の周囲に配置された処理ユニットに基板を搬送する方式
であるため、基板を処理ユニット間で高速に受け渡しで
きるという利点がある。しかしながら、このクラスタ配
置方式においては、各処理ユニットは基板搬送機構の周
囲にしか配置できないことから、処理ユニット数を増加
するためには、各処理ユニットを互いに重畳することに
より多段化するしかない。このため、各処理ユニット数
の増加には限界があり、装置構成の拡張性が乏しくフレ
キシビリティーに欠けるという問題がある。
路を延長することにより処理ユニット数を増加すること
が可能であるが、搬送路を延長すると装置全体の占有床
面積が増大する。また、この並列配置方式においては、
基板搬送アームが水平方向を向く搬送路を往復移動する
構成であるため、基板搬送アームを長いストロークで上
下移動させると基板搬送アームを高速で安定して水平移
動することが困難となり、装置の多段化が制限されると
いう問題がある。
れたものであり、占有床面積を増大させることなく処理
ユニット数を増加することができ、効率的に基板を処理
することができる基板処理装置を提供することを目的と
する。
は、鉛直軸を回転中心として回転可能な基板搬送アーム
を備えた第1の基板搬送機構と、当該第1の基板搬送機
構を取り囲むように配設された複数の処理ユニットとを
有する第1の基板処理部と、水平方向を向く搬送路を往
復移動可能な基板搬送アームを備えた第2の基板搬送機
構と、当該第2の基板搬送機構の搬送路に沿って配設さ
れた複数の処理ユニットとを有し、前記第1の基板処理
部の上方または下方に配置された第2の基板処理部と、
前記第1の基板搬送機構と第2の基板搬送機構との間で
基板を受け渡しするための受渡部とを備えたことを特徴
とする。
心として回転可能な基板搬送アームを備えた第1の基板
搬送機構と、当該第1の基板搬送機構を取り囲むように
配設され、基板に対して薬液を供給することにより当該
基板を薬液処理する複数の薬液ユニットとを有する第1
の基板処理部と、水平方向を向く搬送路を往復移動可能
な基板搬送アームを備えた第2の基板搬送機構と、当該
第2の基板搬送機構の搬送路に沿って配設された少なく
とも加熱ユニットを含む複数の熱処理ユニットとを有
し、前記第1の基板処理部の上方または下方に配置され
た第2の基板処理部と、前記第1の基板搬送機構と第2
の基板搬送機構との間で基板を受け渡しするための受渡
部とを備えたことを特徴とする。
の発明において、前記第2の基板処理部は前記第1の基
板処理部の上方に配置されている。
いずれかに記載の発明において、前記受渡部は、基板を
冷却処理する冷却ユニットから構成されている。
いずれかに記載の発明において、前記第1基板搬送機構
または前記第2基板搬送機構のうち、上方に配置される
基板搬送機構の下方にフィルタユニットを配設してい
る。
面に基づいて説明する。図1はこの発明に係る基板処理
装置の右側面図であり、図2はその平面的な配置を示す
概要図である。なお、図2(a)は図1におけるAA断
面の配置を、図2(b)は図1におけるBB断面の配置
を、図2(c)は図1におけるCC断面の配置を各々示
している。
アーム11a、11bを備えた第1の基板搬送機構12
と、第1の基板搬送機構12を取り囲むように配設され
た薬液ユニットとしてのスピンコータ(回転式レジスト
塗布装置)13およびスピンデベロッパ(回転式現像装
置)14と、一対の載置台15、16とを有する第1の
基板処理部10(図2(c)参照)と、上下一対の基板
搬送アーム21a、21bを備えた第2の基板搬送機構
22と、当該第2の基板搬送機構22の搬送路25に沿
って配設された熱処理ユニットとしての加熱ユニット2
3およびアドヒュージョンユニット24とを有する第2
の基板処理部20(図2(a)参照)と、第1の基板搬
送機構12と第2の基板搬送機構22との間で基板を受
け渡しするための受渡部としての冷却ユニット30(図
2(b)参照)とを備える。
基板搬送機構12は、スピンコータ13と、スピンデベ
ロッパ14と、載置台15、16と、冷却ユニット30
との間で基板を搬送するためのものである。
視図である。
51に対して回転可能に支持された基台52を備える。
この基台52は、モータ機構53の駆動により、鉛直方
向を向く軸を中心に回転する。また、この基台52上に
は、基板の端縁部を支持して搬送するための、互いに重
畳して配置された一対の基板基板搬送アーム11a、1
1bが配設されている。これらの基板基板搬送アーム1
1a、11bは、基台52に内蔵されたアーム駆動機構
と各々接続されており、互いに独立して前後方向に往復
移動可能に構成されている。
は、装置本体に連結するテーブル61に立設されたガイ
ド部材54に対し、摺動可能に連結されている。また、
昇降部材51の他端は、モータ55の駆動により回転す
るボールネジ56と螺合している。このため、昇降部材
51は、モータ55の駆動により、ガイド部材54に沿
って上下移動する。
2は、モータ機構53と、モータ55により回転するボ
ールネジ56との駆動により、スピンコータ13、スピ
ンデベロッパ14、載置台15、16および冷却ユニッ
ト30の各々と対向する位置に移動し、その状態におい
て一対の基板搬送アーム11a、11bを往復移動させ
ることにより、基板の受け渡しを実行することができ
る。
の基板処理部10におけるスピンコータ13は、基板を
保持して回転するスピンチャック57と、このスピンチ
ャック57の周囲に配設された内カップ58と、図示し
ないレジスト供給ノズルとを有し、スピンチャック57
に保持されて回転する基板の表面にレジストを供給する
ことにより、基板の表面にレジストの薄膜を形成するも
のである。
デベロッパ14は、スピンコータ13と同様のスピンチ
ャック57および内カップ58と、図示しない現像液供
給ノズルとを有し、スピンチャック57に保持されて回
転する基板の表面に現像液を供給することにより、基板
の表面における露光済レジストを現像処理するものであ
る。
基板搬送機構22は、加熱ユニット23と、アドヒュー
ジョンユニット24と、冷却ユニット30との間で基板
を搬送するためのものである。
視図である。
の基板搬送機構12と同様、昇降部材51に対して回転
可能に支持された基台52を備える。この基台52は、
モータ機構53の駆動により、鉛直方向を向く軸を中心
に回転する。また、この基台52上には、基板の端縁部
を支持して搬送するための、互いに重畳して配置された
一対の基板基板搬送アーム21a、21bが配設されて
いる。これらの基板基板搬送アーム21a、21bは、
基台52に内蔵されたアーム駆動機構と各々接続されて
おり、互いに独立して前後方向に往復移動可能に構成さ
れている。
は、移動テーブル62に立設されたガイド部材54に対
し、摺動可能に連結されている。また、昇降部材51の
他端は、モータ55の駆動により回転するボールネジ5
6と螺合している。このため、昇降部材51は、モータ
55の駆動により、ガイド部材54に沿って上下移動す
る。
たガイド部材63に対し、摺動可能に連結されている。
また、移動テーブル62は、モータ64の駆動により回
転するボールネジ65と螺合している。このため、移動
テーブル62は、上述した搬送路25に沿って往復移動
する。
2は、モータ機構53と、モータ55により回転するボ
ールネジ56と、モータ64により回転するボールネジ
65との駆動により、加熱ユニット23、アドヒュージ
ョンユニット24および冷却ユニット30の各々と対向
する位置に移動し、その状態において一対の基板搬送ア
ーム21a、21bを往復移動させることにより、基板
の受け渡しを実行することができる。
の基板処理部20における加熱ユニット23は、基板に
対しレジスト塗布または現像処理を実行する前後におい
て基板を加熱するためのものである。この加熱ユニット
23は、第2の基板搬送機構22の搬送路25に沿って
2段に16個配設されており、その各々が基板を加熱す
るためのホットプレート26を内蔵する。
ュージョンユニット24は、レジスト塗布前の基板に対
してHMDS処理を行うためのものである。このアドヒ
ュージョンユニット24は、第2の基板搬送機構22の
搬送路25に沿って8個(すなわち、各加熱ユニット2
3の下方にそれぞれ1個ずつ)配設されており、加熱ユ
ニット23と同様、その各々が基板を加熱するためのホ
ットプレート26を内蔵する。
3またはアドヒュージョンユニット24により加熱され
た基板を、スピンコータ13またはスピンデベロッパ1
4に搬送する前に予め冷却することにより、基板の温度
を設定温度まで降温させるためのものである。また、こ
の冷却ユニット30は、上述したように、第1の基板搬
送機構12と第2の基板搬送機構22との間で基板を受
け渡しするための受渡部として機能する。
ある。
内に配設されたクールプレート72を有する。このケー
シング71には、第1の基板搬送機構12の基板搬送ア
ーム11a、11bが基板を保持して通過するための開
口部73と、第2の基板搬送機構22の基板搬送アーム
21a、21bが基板を保持して通過するための開口部
74とが形成されている。これらの開口部73、74
は、図示しないシャッターにより開閉可能に構成されて
いる。
レート72を貫通するように配設された基板支持ピン7
5を備える。この基板支持ピン75は、一対のエアシリ
ンダ76、77の駆動により、図5において実線で示す
第1の位置と、一点鎖線で示す第2の位置と、二点鎖線
で示す第3の位置との間を昇降可能に構成されている。
前記第1の位置は、基板支持ピン75により支持した基
板をクールプレート72上に載置して、この基板を冷却
する位置である。また、前記第2の位置は、第1の基板
搬送機構12の基板搬送アーム11a、11bとの間で
基板を受け渡す位置である。さらに、前記第3の位置
は、第2の基板搬送機構22の基板搬送アーム21a、
21bとの間で基板を受け渡す位置である。
2の基板搬送機構22の下面全域には、フィルタユニッ
ト81が配設されている。このフィルタユニット81
は、HEPA(High Efficiency Pa
rticulate)フィルタまたはULPA(Ult
ra High Efficiency Partic
ulate)フィルタ等のパーティクル除去フィルタを
備える。基板の搬送に伴い、第2の基板搬送機構22で
発生したパーティクルは、クリーンルームにおいて形成
されるダウンフロー等によりこのフィルタユニット81
により捕獲される。このため、フィルタユニット81の
下方に配設された第1の基板搬送機構12による基板搬
送時等において、基板にパーティクルが付着することを
防止することができる。
ット23とアドヒュージョンユニット24との上方には
フィルタユニット81同様のフィルタユニット84が、
また、スピンコータ13の上方にはフィルタユニット8
1同様のフィルタユニット82が、さらに、スピンデベ
ロッパ14の上方にはフィルタユニット81同様のフィ
ルタユニット83が、各々配設されている。
略しているが、基板処理装置の一端にはインデクサ部
が、また、基板処理装置の他端にはインターフェース部
が配設されている。
内に収納された基板を基板処理装置における載置台15
に供給し、または、載置台15に載置された基板を基板
搬送用カセット内に格納する図示しない基板移載機構を
有する。前段の処理工程より基板搬送用カセットに収納
されて搬送された基板は、インデクサ部の基板移載機構
により一枚ずつ取り出され、載置台15における支持ピ
ン17上に載置される。また、処理を終了して載置台1
5の支持ピン17上に載置された基板は、インデクサ部
の基板移載機構により基板搬送用カセット内に格納され
る。
台16に載置された基板を図示を省略したステッパーに
搬入し、または、ステッパーから搬出された基板を載置
台16に載置するための図示しない基板移載機構を有す
る。基板処理装置においてレジストを塗布され、載置台
16の支持ピン18上に載置された基板は、インターフ
ェース部の基板移載機構により後段のステッパーに搬送
される。また、ステッパーから搬入された露光済の基板
は、インタフェース部の基板移載機構により載置台16
の支持ピン18上に載置される。
の処理手順について説明する。図6は、上述した基板処
理装置における基板の処理手順を示す説明図である。
理装置の一端に配設された図示しないインデクサ部を、
「TB15」は載置台15を、「CP」は冷却ユニット3
0を、「HP」は加熱ユニット23を、「AH」はアド
ヒュージョンユニット24を、「SC」はスピンコータ
13を、「TB16」は載置台16を、「IF」は基板処
理装置の一端に配設された図示しないインタフェース部
を、また「SD」はスピンデベロッパ14を指してい
る。また、符号「11」を付した矢印は基板が第1の基
板搬送機構12における基板搬送アーム11aまたは1
1bにより搬送されることを示し、符号「21」を付し
た矢印は基板が第2の基板搬送機構22における基板搬
送アーム21aまたは21bにより搬送されることを示
す。
理装置においては、第1、第2の基板搬送機構12、2
2における一対の基板搬送アーム11a、11b(また
は21a、21b)のうち一方の搬送アームにより各種
の処理ユニット内にある基板を取り出した後、他方の搬
送アームにより保持した基板を各処理ユニット内に格納
することにより、複数の基板を各種の処理ユニットに順
次搬送するように構成されている。但し、以下の説明に
おいては、基板をどの基板搬送機構を使用して搬送する
かについてのみ記載し、交換動作に関する詳細な説明は
省略する。
理する場合においては、各々複数個配設されたスピンコ
ータ13、スピンデベロッパ14、加熱ユニット23、
アドヒュージョンユニット24および冷却ユニット30
を適宜利用することにより、複数の基板に対して並行し
て処理が実行される。以下の説明においては詳細な説明
は省略するが、一枚の基板に対しては、各々複数個配設
されたスピンコータ13、スピンデベロッパ14、加熱
ユニット23、アドヒュージョンユニット24および冷
却ユニット30のいずれかを利用して処理が実行され
る。
部から載置台15に搬入された基板は、第1の基板搬送
機構12の基板搬送アーム11aまたは11bにより冷
却ユニット30に搬送され、図5において一点鎖線で示
す第2の位置にある基板支持ピン75に基板を載置す
る。基板を受け取った基板支持ピン75は、エアシリン
ダ76または77の駆動により、図5において二点鎖線
で示す第3の位置まで上昇する。そして、第2の基板搬
送機構22の基板搬送アーム21aまたは21bが第3
の位置にある基板支持ピン75上の基板を受け取り、こ
の基板をアドヒュージョンユニット24に向けて搬送す
る。
0に搬入された基板は、クールプレート72上に載置さ
れ冷却されることなく冷却ユニット30から搬出され
る。この工程においては、冷却ユニット30は、第1の
基板搬送機構12と第2の基板搬送機構22との間で基
板を受け渡しするための受渡部として機能する。
21aまたは21bによりアドヒュージョンユニット2
4のホットプレート26上に載置された基板には、HM
DS処理が施される。HMDS処理後の基板は、第2の
基板搬送機構22の基板搬送アーム21aまたは21b
により冷却ユニット30に搬送される。
5において二点鎖線で示す第3の位置にある基板支持ピ
ン75上に載置される。基板を受け取った基板支持ピン
75は、エアシリンダ76または77の駆動により、図
5において実線で示す第1の位置まで下降する。これに
より、基板はクールプレート72上に載置され、設定温
度まで冷却される。この場合においては、冷却ユニット
30は基板を冷却処理するためのユニットとして機能す
る。
ン75は、エアシリンダ76または77の駆動により、
図5において一点鎖線で示す第2の位置まで上昇する。
そして、第1の基板搬送機構12の基板搬送アーム11
aまたは11bが基板支持ピン75上の基板を受け取
り、この基板をスピンコータ13に向けて搬送する。ス
ピンコータ13に搬送された基板は、その表面にレジス
トが塗布される。
れた基板は、第1の基板搬送機構12の基板搬送アーム
11aまたは11bにより冷却ユニット30に一旦搬送
された後、冷却ユニット30において冷却されることな
く第2の基板搬送機構22の基板搬送アーム21aまた
は21bに受け渡され、第2の基板搬送機構22の基板
搬送アーム21aまたは21bにより冷却ユニット30
から加熱ユニット23に搬送される。この場合において
も、冷却ユニット30は、第1の基板搬送機構12と第
2の基板搬送機構22との間で基板を受け渡しするため
の受渡部として機能する。
加熱処理の一種であるプリベークが施される。そして、
プリベーク後の基板は、第2の基板搬送機構22の基板
搬送アーム21aまたは21bにより冷却ユニット30
に搬送される。冷却ユニット30に搬送された基板は、
クールプレート72上に載置されることにより、設定温
度まで冷却される。冷却ユニット30により冷却された
基板は、第1の基板搬送機構12の基板搬送アーム11
aまたは11bにより載置台16に搬送される。
いインターフェース部の基板移載装置によりステッパー
に搬送され、所定のパターンの露光が行われる。露光済
の基板は、図示しないインターフェース部の基板移載装
置により、再度、載置台16に載置される。
構12の基板搬送アーム11aまたは11bにより冷却
ユニット30に一旦搬送された後、冷却ユニット30に
おいて冷却されることなく第2の基板搬送機構22の基
板搬送アーム21aまたは21bに受け渡され、第2の
基板搬送機構22の基板搬送アーム21aまたは21b
により冷却ユニット30から加熱ユニット23に搬送さ
れる。
加熱処理の一種であるポストエクスポージャーベーク
(PEB)が施される。ポストエクスポージャーベーク
を完了した基板は、第2の基板搬送機構22の基板搬送
アーム21aまたは21bにより冷却ユニット30に搬
送され、クールプレート72上に載置されることによ
り、設定温度まで冷却される。
は、第1の基板搬送機構12の基板搬送アーム11aま
たは11bによりスピンデベロッパ14に搬送され、露
光済のレジストを現像処理される。
た基板は、第1の基板搬送機構12の基板搬送アーム1
1aまたは11bにより冷却ユニット30に一旦搬送さ
れた後、冷却ユニット30で冷却されることなく第2の
基板搬送機構22の基板搬送アーム21aまたは21b
に受け渡され、第2の基板搬送機構22の基板搬送アー
ム21aまたは21bにより冷却ユニット30から加熱
ユニット23に搬送される。
加熱処理の一種であるポストベークが施される。そし
て、ポストベーク後の基板は、第2の基板搬送機構22
の基板搬送アーム21aまたは21bにより冷却ユニッ
ト30に搬送され、クールプレート72上に載置される
ことにより、設定温度まで冷却される。冷却ユニット3
0により冷却された基板は、第1の基板搬送機構12の
基板搬送アーム11aまたは11bにより載置台15に
搬送される。
いインデクサ部の基板移載装置により基板搬送用カセッ
ト内に格納される。
に、この実施形態に係る基板処理装置においては、薬液
処理ユニットとしてのスピンコータ13およびスピンデ
ベロッパ14にアクセスする第1の基板搬送機構12
は、冷却処理ユニット兼受渡部としての冷却ユニット3
0にはアクセスするがホットプレート26を備えた加熱
処理ユニットとしての加熱ユニット23またはアドヒュ
ージョンユニット24にはアクセスしない。また、加熱
ユニット23またはアドヒュージョンユニット24にア
クセスする第2の基板搬送機構22は、冷却ユニット3
0にはアクセスするがスピンコータ13およびスピンデ
ベロッパ14にはアクセスしない。
デベロッパ14にアクセスする第1の基板搬送機構12
が加熱ユニット23またはアドヒュージョンユニット2
4により暖められたり、スピンコータ13およびスピン
デベロッパ14が加熱ユニット23にアクセスする第2
の基板搬送機構22により暖められることを防止するこ
とができる。従って、基板に対する熱の影響を防止し
て、基板を精度よく処理することが可能となる。
却ユニット30を基板の受渡部としても使用している。
このため、基板処理装置全体をコンパクトに構成するこ
とができる。ただし、冷却ユニット30を基板の冷却処
理専用に使用し、受渡部を冷却ユニット30以外の場所
に配設してもよい。この場合、受渡部は第1の基板搬送
機構12と第2の基板搬送機構22とがアクセスしうる
位置であれば、任意の位置に設置することができる。ま
た、受渡部としては、基板を保持しうるチャック等を有
する構成のものや、単に基板を載置しうる構成のもので
あってもよく、さらには、第1の基板搬送機構12と第
2の基板搬送機構22との間で基板を受け渡ししうる領
域のみからなるものでもよい。
専用に使用する場合においては、この冷却ユニットは第
2の基板処理部20内に配置すればよい。
回転中心として回転可能な基板搬送アーム11a、11
bを備えた第1の基板搬送機構12を中央に配置し、こ
の第1の基板搬送機構12を取り囲むように薬液ユニッ
トとしての複数のスピンコータ13およびスピンデベロ
ッパ14と一対の載置台15、16とを配置したクラス
ター配置方式の第1の基板処理部10と、水平方向を向
く搬送路25を往復移動可能な基板搬送アーム21a、
21bを備えた第2の基板搬送機構22における搬送路
25の両側に沿って、熱処理ユニットとしての複数の加
熱ユニット23およびアドヒュージョンユニット24を
配置する並列配置方式の第2の基板処理部とを、第2の
基板処理部20が第1の基板処理部10の上方に位置す
る状態で配置している。これは、以下のような理由によ
る。
4等の薬液ユニットは、その占有面積が大きいことや、
加熱ユニット23やアドヒュージョンユニット24等の
熱処理ユニットに比べ全体の処理工程で必要とされる個
数が比較的少ないことから、クラスター配置方式とする
のに適している。一方、加熱ユニット23やアドヒュー
ジョンユニット24等の熱処理ユニットは、その占有面
積が小さく複数個を並列配置し易いことや、全体の処理
工程で必要とされる個数が多いことから並列配置方式と
するのに適している。また、スピンコータ13やスピン
コータ14等の薬液ユニットは、その高さが比較的大き
く複数個を重畳して配置することが困難であるが、加熱
ユニット23やアドヒュージョンユニット24等の熱処
理ユニットはその高さが極めて小さいことから、これら
を重畳して配置しても基板搬送アーム21a、21bの
上下ストロークは小さく、基板搬送アーム21a、21
bが高速で往復走行することの支障とはならない。
スピンコータ14等の薬液ユニットをクラスター配置方
式をなす第1の基板処理部10に配置し、加熱ユニット
23やアドヒュージョンユニット24等の熱処理ユニッ
トを並列配置方式をなす第2の基板処理部に配置してい
るのである。
4等の薬液ユニットは、その下方に薬液供給機構や排液
処理機構を備える必要があることや、薬液を使用するこ
とにより生ずる汚れに対する清掃等のメンテナンスを行
う必要があることから、比較的低い位置に配置すること
が好ましい。一方、加熱ユニット23やアドヒュージョ
ンユニット24等の熱処理ユニットにはこのような制約
はない。
スピンコータ14等の薬液ユニット備えた第1の基板処
理部10を下方に配置し、加熱ユニット23やアドヒュ
ージョンユニット24等の熱処理ユニットを備えた第2
の基板処理部20を上方に配置しているのである。
2の基板処理部20には基板を加熱して処理する加熱ユ
ニット23およびアドヒュージョンユニット24のみを
配設しているが、上述した冷却ユニット30を基板の冷
却処理専用に使用する場合や、冷却ユニットの個数が不
足する場合等においては、第2の基板処理部20におけ
るいずれかの処理ユニットに換えて、または、第2の基
板処理部20をさらに重畳した構成として、そこに冷却
ユニットを配設するようにすればよい。
るクラスター配置方式の第1の基板処理部と、いわゆる
並列配置方式の第2の基板処理部とを上下方向に配置
し、受渡部を介して第1、第2の基板処理部間で基板を
受け渡すことから、基板処理装置の占有床面積を増大さ
せることなく処理ユニット数を増加することができ、効
率的に基板を処理することができる。
クラスター配置方式の第1の基板処理部と、いわゆる並
列配置方式の第2の基板処理部とを上下方向に配置し、
受渡部を介して第1、第2の基板処理部間で基板を受け
渡すことから、基板処理装置の占有床面積を増大させる
ことなく処理ユニット数を増加することができ、効率的
に基板を処理することができる。このとき、薬液ユニッ
トを第1の基板処理部に配置し、熱処理ユニットを第2
の基板処理部に配置することから、各処理ユニットを効
率的に配置することができる。また、薬液ユニットにア
クセスする第1の基板搬送機構が熱処理ユニットにより
暖められたり、薬液ユニットが熱処理ユニットにアクセ
スする第2の基板搬送機構により暖められることを防止
することができ、基板に対する熱の影響を防止して、基
板を精度よく処理することが可能となる。
板処理部を第1の基板処理部の上方に配置していること
から、薬液ユニットに関する薬液供給機構や排液処理機
構の配置やメンテナンスに支障を生ずることなく、各処
理ユニットを配置することができる。
基板を冷却処理する冷却ユニットから構成されているこ
とから、基板処理装置全体をさらにコンパクトに構成す
ることができる。
搬送機構または前記第2基板搬送機構のうち上方に配置
される基板搬送機構の下方にフィルタユニットを配設し
ていることから、上方に配置される基板搬送機構で発生
したパーティクルが、その下方の処理ユニット内や基板
搬送機構内に存在する基板上に落下することを防止する
ことができる。
る。
示す概要図である。
明図である。
Claims (5)
- 【請求項1】 鉛直軸を回転中心として回転可能な基板
搬送アームを備えた第1の基板搬送機構と、当該第1の
基板搬送機構を取り囲むように配設された複数の処理ユ
ニットとを有する第1の基板処理部と、 水平方向を向く搬送路を往復移動可能な基板搬送アーム
を備えた第2の基板搬送機構と、当該第2の基板搬送機
構の搬送路に沿って配設された複数の処理ユニットとを
有し、前記第1の基板処理部の上方または下方に配置さ
れた第2の基板処理部と、 前記第1の基板搬送機構と第2の基板搬送機構との間で
基板を受け渡しするための受渡部と、 を備えたことを特徴とする基板処理装置。 - 【請求項2】 鉛直軸を回転中心として回転可能な基板
搬送アームを備えた第1の基板搬送機構と、当該第1の
基板搬送機構を取り囲むように配設され、基板に対して
薬液を供給することにより当該基板を薬液処理する複数
の薬液ユニットとを有する第1の基板処理部と、 水平方向を向く搬送路を往復移動可能な基板搬送アーム
を備えた第2の基板搬送機構と、当該第2の基板搬送機
構の搬送路に沿って配設された少なくとも加熱ユニット
を含む複数の熱処理ユニットとを有し、前記第1の基板
処理部の上方または下方に配置された第2の基板処理部
と、 前記第1の基板搬送機構と第2の基板搬送機構との間で
基板を受け渡しするための受渡部と、 を備えたことを特徴とする基板処理装置。 - 【請求項3】 請求項2に記載の基板処理装置におい
て、 前記第2の基板処理部は前記第1の基板処理部の上方に
配置される基板処理装置。 - 【請求項4】 請求項1乃至3いずれかに記載の基板処
理装置において、 前記受渡部は、基板を冷却処理する冷却ユニットから構
成される基板処理装置。 - 【請求項5】 請求項1乃至4いずれかに記載の基板処
理装置において、 前記第1基板搬送機構または前記第2基板搬送機構のう
ち、上方に配置される基板搬送機構の下方にフィルタユ
ニットを配設した基板処理装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11633897A JP3847895B2 (ja) | 1997-04-17 | 1997-04-17 | 基板処理装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11633897A JP3847895B2 (ja) | 1997-04-17 | 1997-04-17 | 基板処理装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH10294352A true JPH10294352A (ja) | 1998-11-04 |
| JP3847895B2 JP3847895B2 (ja) | 2006-11-22 |
Family
ID=14684488
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP11633897A Expired - Lifetime JP3847895B2 (ja) | 1997-04-17 | 1997-04-17 | 基板処理装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3847895B2 (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2000331907A (ja) * | 1999-05-18 | 2000-11-30 | Tokyo Electron Ltd | 処理システム |
| CN104617025A (zh) * | 2015-01-12 | 2015-05-13 | 北京七星华创电子股份有限公司 | 多腔室堆栈式晶圆处理设备及晶圆处理方法 |
| CN104662651A (zh) * | 2012-09-26 | 2015-05-27 | 斯克林集团公司 | 基板处理装置 |
-
1997
- 1997-04-17 JP JP11633897A patent/JP3847895B2/ja not_active Expired - Lifetime
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2000331907A (ja) * | 1999-05-18 | 2000-11-30 | Tokyo Electron Ltd | 処理システム |
| CN104662651A (zh) * | 2012-09-26 | 2015-05-27 | 斯克林集团公司 | 基板处理装置 |
| CN104617025A (zh) * | 2015-01-12 | 2015-05-13 | 北京七星华创电子股份有限公司 | 多腔室堆栈式晶圆处理设备及晶圆处理方法 |
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| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP3847895B2 (ja) | 2006-11-22 |
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